JP2002512680A - ドライ軸受け検出装置 - Google Patents

ドライ軸受け検出装置

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JP2002512680A JP52686098A JP52686098A JP2002512680A JP 2002512680 A JP2002512680 A JP 2002512680A JP 52686098 A JP52686098 A JP 52686098A JP 52686098 A JP52686098 A JP 52686098A JP 2002512680 A JP2002512680 A JP 2002512680A
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ビランジャー、デイヴィッッド・ジェイ
ビーム、パーマー・エイチ
アイラーズ、ジョージ・ジェイ
モーバシャー、ダニエル・アール
ミラー、ダグラス・ピー
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サンドストランド・フルイド・ハンドリング・コーポレイション
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Abstract

(57)【要約】 ドライ軸受け状態を検出する装置は、マイクロプロセッサおよび関連回路によってパルスを特定回数間欠的に発生する超音波トランスジューサ(40、70)を利用している。超音波トランスジューサが受け取る戻しパルスの数をマクロプロセッサが検出し、それを利用してドライ軸受け状態の存在の有無を決定する。

Description

【発明の詳細な説明】 ドライ軸受け検出装置技術分野 本発明は、概して検出器、特に機械の軸受けがドライ状態にある時を検出する 装置に関する。背景技術 相対移動可能な部品を有する機械は軸受けを設けている。相対移動する部品間 の直接的接触がある状況では、摩耗の問題を考慮しなければならない。一般的に 、十分な運用寿命が得られるように、また壊滅的故障の危険性を最小限に抑える ように、軸受け材料の選択および潤滑剤の使用の両方またはいずれか一方が行わ れる。機械によっては、潤滑が処理流体によって行われる。そのような機械の一 例は、周囲環境から隔離しなければならない流体を汲み上げるために使用される シールレスポンプ(キャンドモータポンプまたは磁気駆動ポンプとも呼ばれる) である。シールレスポンプの一例では、モータステージおよびポンプステージが 単一ハウジング内に配置されており、共通のロータがポンプインペラに連結され ている。ロータは、処理流体で潤滑された半径方向ジャーナルおよび軸方向スラ スト軸受けで支持されている。これらの軸受けは、比較的軟質の炭素または耐摩 耗セラミック材料で形成されている。一般的に、処理流体による潤滑は十分とは 言えず、間欠的なドライ作動に直面する。実質的な潤滑がなくても短時間の作動 には耐えることができるが、ドライ軸受け作動が長期化すると、高コストで潜在 的危険がある状態が発生する可能性がある。 従来より、モータが消費する電力を測定するために電力計を使用している。処 理流体がポンプステージにない場合、モータで消費される電力が低下し、この状 態を電圧計で感知することによって、ドライ軸受け状態の可能性が検出される。 しかし、処理流体がポンプインペラには存在するが、軸受けの一方に存在しない 状況も発生する可能性がある。この場合、電力計ではドライ軸受け状態を表すこ とができないであろう。発明の概要 ドライ軸受け状態を検出する装置は、軸受け内の流体の存在を直接的に検出す るため、検出の信頼度が改善される。 さらに具体的に言うと、本発明の1つの態様によれば、軸受けハウジング内に 配置された軸受けがドライ軸受け状態で作動している時を検出する装置は、軸受 けハウジングに向けられた超音波センサと、超音波センサを励起して超音波エネ ルギーを軸受けハウジングに向けて送らせる励起回路と、軸受けハウジングから の反射超音波エネルギーを検出する検出回路とを備えている。 好ましくは、励起回路は、超音波センサに超音波エネルギーのパルスを軸受け ハウジングに向けて送らせるマイクロプロセッサを有している。また好ましくは 、励起回路はさらに、マイクロプロセッサに接続されたワンショット回路と、こ のワンショット回路に接続されたドライバ回路とを有している。 検出回路は、超音波センサが超音波エネルギーの戻しパルスを受け取ったこと を決定する、上記のものと同一か、別のマイクロプロセッサを有することができ る。またさらに、マイクロプロセッサは、超音波センサが戻しパルスを受け取る と予想される期間を定めるタイマを有することができる。検出回路はさらに、超 音波センサに接続された比較器と、この比較器とマイクロプロセッサとの間に接 続されたワンショット回路とを有している。 またさらに、好適な実施の形態によれば、超音波センサは、多数の超音波エネ ルギーパルスを軸受けハウジングに向けて送るように作動し、マイクロプロセッ サは、超音波センサが特定数の超音波エネルギー戻しパルスを受け取ったか否か を決定する手段を有している。 他の実施の形態によれば、超音波センサは軸受けから半径方向または軸方向に 間隔を置いて配置されている。 本発明の別の態様によれば、回転軸受けがドライ軸受け状態で作動している時 を検出する装置は、軸受け付近に配置されて、軸受けの近傍に向けられたトラン スジューサ面を有している圧電トランスジューサと、この圧電トランスジューサ を励起して超音波エネルギーを軸受け近傍に向けて送らせる励起回路とを備えて いる。超音波エネルギーが軸受け近傍から反射されたか否かを検出する検出回路 も設けられている。 本発明のさらに別の態様によれば、回転軸受けがドライ軸受け状態で作動して いる時を検出する装置は、軸受け付近に配置されて、電気エネルギーおよび音波 エネルギー間の変換を行う手段と、変換手段を励起して超音波エネルギーのパル スを軸受けに向けて送らせる手段と、変換手段に接続されて、超音波エネルギー のパルスが軸受けから反射されたか否かを検出する手段とを備えている。 他の特徴および利点は、本出願の明細書および図面から明らかになるであろう 。図面では、同一の参照番号は同様の部材を示している。図面の簡単な説明 第1図は、本発明を組み込んだシールレスポンプの概略図を含み、 第2図は、第1図のシールレスポンプの一部分の拡大破断断面図を含み、これ は本発明の第1実施の形態を示しており、 第3図は、第2図と同様な図面を含み、これは本発明の第2実施の形態を示し ており、 第4図は、第3図の4−4線にほぼ沿った第3図のセンサハウジングの立面図 を含み、 第5図は、第3図の圧電トランスジューサに接続された回路のブロック図を含 み、 第6a図および第6b図は、同一文字を記した線に沿って結合した時、本発明 の好適な実施の形態を実施するために第5図のプロセッサによって実行されるフ ローチャートを含んでいる。好適な実施の形態の説明 第1図を参照すると、シールレスポンプ10は、モータステージ12と、ポン プステージ14と、ロータ構造部16とを備えている。図示のポンプ10では、 ロータ構造部16はステージ12および14に共通であって、モータステージ部 分18とポンプステージ部分20とを含み、ポンプステージ部分20はポンプ1 0のポンプ入口24に流入する処理流体を加圧するインペラ22を備えている。 加圧された処理流体はポンプ出口26から送り出される。ロータ構造部16は、 それぞれ前後軸受け28、30に回転運動のために取り付けられている。処理流 体は、軸受け28、30の近傍に導き入れられてそれらを潤滑する。モータステ ージ12のステータ構造部32が、外側ハウジング34と内側スリーブ36との 間に封入されて、ステータ構造部を処理流体から隔離できるようにしている。 ポンプ10は第1図に示されている構造である必要はないことに注意されたい 。例えば、ポンプ10は、完全に分離したモータおよびポンプステージを軸で相 互に連結するようにしてもよい。実際に、本発明は、機械式軸受けの潤滑および 液体の存在(の有無)の検出の両方またはいずれか一方が必要である環境で有用 性が認められる限り、まったく異なった機械にも使用できるであろう。 第2図は、圧電素子40の形態の超音波トランスジューサが後軸受け30の半 径方向外側に配置されている第1実施の形態を示している。本実施の形態では、 素子40はパッド42に固着されており、このパッド42は今度は内側スリーブ 36に設けられたリセス44内に取り付けられている。パッド42は、接着剤ま たは他の適当な手段で素子40が固着される平坦な上表面と、リセス44の底面 にはめ付けられる形状の湾曲下表面とを有している。パッド42は、いずれかの 適当な方法で、例えば溶接で内側スリーブ36に取り付けられている。スリーブ 36への素子40およびパッド42の取り付けは、超音波エネルギーが適当な大 きさでスリーブ36を通って軸受け30の近傍に伝達されるようにして行われる 必要がある。 さらに、素子40をスリーブ36の形状に合わせて湾曲させてもよく、その場 合、素子をそれに直接的に固着できるため、パッド42を省くことができること に留意されたい。 穴46が軸受けハウジング48に貫設されており、超音波エネルギーを後軸受 け30の近傍に向けて伝える。軸受け30は、軸受けハウジング48の端面54 にボルトで固定された端部プレート52によって軸受けハウジング48に固定さ れている。内側軸受けスリーブ56が、適当な方法でロータ軸58に固着されて いる。ポンプ10の正常作動中、処理流体がロータ構造部と内側スリーブ36と の間の環状空間に流れ込んで外側室59に入る。流体は次に軸受け30と内側軸 受けスリーブ56との間の環状隙間を通って端部室60に流入する(わかりやす くするために、図面では軸受け30とスリーブ56との間の環状隙間が誇張され ている)。次に、処理流体はポート62に入り、ロータ軸58内の内孔64を通 ってポンプステージ部分20に戻る。 第3図および第4図の実施の形態は、圧電素子70の形態の超音波トランスジ ューサが後軸受け30から軸方向に間隔を置いて配置されている点で、第2図の 実施の形態と異なっている。素子70は、中央スリーブ76に形成されたリセス 74の下表面72に接着剤または他の適当な手段で取り付けられている。中央ス リーブ76は、適当な手段で外側プレート部材78内に固着されている。外側プ レート部材78は、適当な手段(ボルト等)でステータ構造部32に固着されて おり、これによって円筒形内側部材80の環状フランジをステータ構造部32に 当接した固定位置に締め付けることができる。従って、中央スリーブ76および 部材78、80はステータ構造部32に固く固定されて、共に軸受けハウジング 82を形成しており、これに後軸受け30が適当な方法で固着されている。第4 図に示されているように、円筒形内側部材80の壁に拡大リセス86が設けられ ており、これによって、素子70で発生して中央スリーブ76を通って伝達され た超音波エネルギーが軸受け30に到達することができる。 第3図および第4図の実施の形態は、素子70が平坦面に取り付けられており 、従ってパッドまたは他の介在部材を必要としないため、第2図の実施の形態よ り好ましい。 第5図は、上記実施の形態のいずれにも使用可能な回路のブロック図を示して いる。マイクロプロセッサ90が制御パルスを発生し、これはワンショット回路 すなわちパルス発生器92に与えられる。後者の回路は適当な持続時間のパルス を発生してドライバ回路94に送り、このドライバ回路94は、今度は適当な大 きさおよび波形のトリガパルスを圧電素子40または70に送る。これに応答し て、素子40または70は超音波パルスをそれぞれ軸受けハウジング48または 82に向ける。素子40または70の初期励起から生じる超音波エネルギーは反 射超音波エネルギーと共に、素子40または70によって電気信号(後者は戻し 信号とも呼ばれる)に戻される。素子40または70の初期励起によって発生す る信号の振幅を制限する振幅制限回路98が設けられている。利得/フィルタ回 路100と整流器/フィルタ回路102とが戻し信号を調整し、これによって得 られた信号が比較器104で基準電圧VREFと比較される。調整戻し信号が基準 電圧VREFを超える毎に、パルス発生器すなわちワンショット回路106が特定 の持続時間のパルスを発生する。ワンショット回路106の出力はマイクロプロ セッサ90によって検出される。 第6a図および第6b図は、本発明を実施するために第5図のマイクロプロセ ッサ90が実行するプログラミングを示している。プログラミングはブロック1 10で始まり、ここでループカウンタIが1に設定され、マイクロプロセッサカ ウンタCOUNTが0に設定される。次に、ブロック112でトリガパルスが発 生して、第5図の回路92および94に送られ、そこから素子40または70に 送られるため、超音波エネルギーのパルスが後軸受け30の近傍に向けて伝達さ れる。ブロック114で、マイクロプロセッサ90の第1タイマTIMER1を 初期化して開始する。次に、第1タイマーの限度に達するまで、制御はブロック 116で一時中断する。第1タイマーの限度は、素子40または70が戻しパル スを受け取ると予想されるまでの最短時間を表す。第1タイマー限度に達すると 、ブロック118でマイクロプロセッサ90は捕捉作動モードに入り、ここでマ イクロプロセッサ90はワンショット回路106の出力を検出する。マイクロプ ロセッサ90がパルスを受け取ると、マイクロプロセッサ内の捕捉レジスタに非 ゼロ値をロードする。ブロック120で(素子40または70が戻しパルスを受 け取る最長時間を表す)第2タイマ限度に達したと決定されるまで、マイクロプ ロセッサは捕捉モードのままである。 ブロック120に続いて、ブロック122で、捕捉レジスタが非ゼロ値である か否かを決定するチェックが行われる。そうである場合、ブロック124でカウ ンタCOUNTが増分される。そうでない場合、ブロック124をスキップする 。次に、制御は第6b図のブロック126に進み、ここでループカウンタIが増 分される。ブロック128で、Iの現在値が特定値IL、好適な実施の形態では 100より小さいか否かを決定するチェックが行われる。そうであることがわか っ た場合、制御は第6a図のブロック112に戻る。そうでない場合、素子40ま たは70がILの値で表される特定数のパルスを発生したと決定されて、制御は ブロック130に進む。 ブロック130で、COUNTの現在値が閾値THRより小さいか否かが決定 される。そうでない場合、素子40または70にILのトリガパルスを与えた結 果としてそれらが実際に受け取った戻しパルスの数は、軸受けがドライ軸受け状 態にないことを表していると決定される。従って、ブロック132で、マイクロ プロセッサ90が制御しているドライ軸受けインジケータを使用不能にして、マ イクロプロセッサタイマTIMER2を不作動化する。次に、制御は第6a図の ブロック110に戻る。 ブロック130でCOUNTの現在値がTHRより小さいと決定された場合、 受け取られた戻しパルスの数がドライ軸受け状態を表していると決定される。従 って、ブロック134で、タイマTIMER2が作動中か否かを決定するチェッ クが行われる。そうでない場合、タイマTIMER2を初期化して開始させ、ド ライ軸受けインジケータを作動させる。タイマTIMER2がすでに作動中であ る場合、プログラミングの先回のパスでドライ軸受け状態が検出されており、従 ってブロック136および138をスキップする。次に、制御はブロック140 に渡り、ここでタイマTIMER2の時間限度に到達しているか否かを決定する 。否の場合、制御は第6a図のブロック110に戻る。達している場合、ドライ 軸受け状態が許容できない時間長さにわたって継続的に存在していると決定され て、従ってブロック142でアラームの作動およびポンプ10の作動停止の両方 またはいずれか一方の形の保護動作が実行される。 いずれの実施の形態の単一の超音波トランスジューサ40または70も、所望 ならば個別の受信および送信超音波トランスジューサに代えることもできること に注意されたい。また、単一のマイクロプロセッサ90の代わりに、それぞれト ランスジューサ40または70にパルスを発生させ、戻しパルスを供給する別の 単一または複数の回路か、個別の第1および第2マイクロプロセッサ(または他 の個別回路)を用いてもよい。 以上の説明を鑑みて、当業者には多くの本発明の変形例および他の実施の形態 が明らかになるであろう。従って、本記載は単に説明的として解釈されるべきで あり、本発明を実施する最良の態様を当業者に教示するためのものである。本発 明の精神から逸脱することなく構造の詳細を大幅に変更することもでき、添付の 請求の範囲に入るすべての変形例の排他的使用を確保している。
【手続補正書】特許法第184条の8第1項 【提出日】平成10年7月9日(1998.7.9) 【補正内容】 請求の範囲 1.軸受けハウジング内に配置された軸受けの作動状態を検出する装置であって 、 軸受けハウジングに向けられ、且つそれより間隔を置いて配置された超音波セ ンサと、 該超音波センサを励起して超音波エネルギーを軸受けハウジングに向けて送ら せる励起回路と、 超音波エネルギーが軸受けハウジングに向けて送られ且つドライ軸受け状態の 表示を発生した後のある期間中超音波センサが反射超音波エネルギーを受けなか ったか否かを決定する検出回路と を備えている装置。 2.前記励起回路は、前記超音波センサに超音波エネルギーのパルスを軸受けハ ウジングに向けて送らせるマイクロプロセッサを有している請求の範囲第1項に 記載の装置。 3.前記励起回路はさらに、前記マイクロプロセッサに接続されたワンショット 回路と、該ワンショット回路に接続されたドライバ回路とを有している請求の範 囲第1項に記載の装置。 4.前記検出回路は、前記超音波センサが超音波エネルギーの戻しパルスを受け 取ったことを決定するマイクロプロセッサを有している請求の範囲第1項に記載 の装置。 5.前記マイクロプロセッサは、前記超音波センサが戻しパルスを受け取ると予 想される期間を定めるタイマを有している請求の範囲第4項に記載の装置。 6.前記検出回路はさらに、前記超音波センサに接続された比較器と、該比較器 と前記マイクロプロセッサとの間に接続されたワンショット回路とを有している 請求の範囲第5項に記載の装置。 7.前記超音波センサは、多数の超音波エネルギーパルスを軸受けハウジングに 向けて送るように作動し、前記マイクロプロセッサは、前記超音波センサが特定 数の超音波エネルギー戻しパルスを受け取ったか否かを決定する手段を有してい る請求の範囲第6項に記載の装置。 8.前記超音波センサは、軸受けから半径方向に間隔を置いて配置されている請 求の範囲第1項に記載の装置。 9.前記超音波センサは、軸受けから軸方向に間隔を置いて配置されている請求 の範囲第1項に記載の装置。 10.回転軸受けの作動状態を検出する装置であって、 軸受けから間隔を置いて配置されて、軸受けの近傍に向けられたトランスジュ ーサ面を有している圧電トランスジューサと、 該圧電トランスジューサを励起して超音波エネルギーを、軸受け流体を受ける ようになされた空間を横切って軸受け近傍に向けて送らせる励起回路と、 前記空間の軸受け流体の不足で起きたドライ軸受け状態により超音波エネルギ ーが軸受け近傍に向けて送られた後のある期間中前記圧電トランスジューサが反 射超音波エネルギーを受けなかったか否かを表示する回路と を備えている装置。 11.前記圧電トランスジューサは、軸受けから半径方向に間隔を置いて配置さ れている請求の範囲第10項に記載の装置。 12.前記圧電トランスジューサは、軸受けから軸方向に間隔を置いて配置され ている請求の範囲第10項に記載の装置。 13.前記励起回路は、前記圧電トランスジューサに超音波エネルギーのパルス を軸受けに向けるマイクロプロセッサを有している請求の範囲第12項に記載の 装置。 14.前記検出回路は、前記圧電トランスジューサが超音波エネルギーの戻しパ ルスを受け取ったことを決定するマイクロプロセッサを有している請求の範囲第 12項に記載の装置。 15.前記マイクロプロセッサは、前記圧電トランスジューサが戻しパルスを受 け取ると予想される期間を定めるタイマを有している請求の範囲第14項に記載 の装置。 16.回転軸受けの作動状態を検出する装置であって、 軸受けから間隔を置いて配置されて、電気エネルギーと音波エネルギーとの間 の変換を行う手段と、 該変換手段を励起して超音波エネルギーのパルスを、作動流体を受けるように なされた空間を横切る軸受けに向ける手段と、 前記変換手段に接続されて、前記空間の作動流体の不足で起きたドライ軸受け 状態により超音波エネルギーが軸受けハウジングに向けて送られた後のある期間 中前記変換手段が反射超音波エネルギーを受けなかったか否かを表示する手段と を備えている装置。 17.前記変換手段は、圧電素子を有している請求の範囲第16項に記載の装置 。 18.前記励起手段は、マイクロプロセッサを有している請求の範囲第17項に 記載の装置。 19.前記マイクロプロセッサは、前記圧電素子が戻しパルスを受け取ると予想 される時間長さを定めるタイマを有している請求の範囲第18項に記載の装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 アイラーズ、ジョージ・ジェイ アメリカ合衆国、コロラド州、エヴァーグ リーン、ダブリュ・メドー・ロード 1110 (72)発明者 モーバシャー、ダニエル・アール アメリカ合衆国、コロラド州、レイクウッ ド、リー・ストリート 890 (72)発明者 ミラー、ダグラス・ピー アメリカ合衆国、コロラド州、レイクウッ ド、エス・フィグ・ストリート 2264

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.軸受けハウジング内に配置された軸受けがドライ軸受け状態で作動している 時を検出する装置であって、 軸受けハウジングに向けられた超音波センサと、 該超音波センサを励起して超音波エネルギーを軸受けハウジングに向けて送ら せる励起回路と、 軸受けハウジングからの反射超音波エネルギーを検出する検出回路と を備えている装置。 2.前記励起回路は、前記超音波センサに超音波エネルギーのパルスを軸受けハ ウジングに向けて送らせるマイクロプロセッサを有している請求の範囲第1項に 記載の装置。 3.前記励起回路はさらに、前記マイクロプロセッサに接続されたワンショット 回路と、該ワンショット回路に接続されたドライバ回路とを有している請求の範 囲第1項に記載の装置。 4.前記検出回路は、前記超音波センサが超音波エネルギーの戻しパルスを受け 取ったことを決定するマイクロプロセッサを有している請求の範囲第1項に記載 の装置。 5.前記マイクロプロセッサは、前記超音波センサが戻しパルスを受け取ると予 想される期間を定めるタイマを有している請求の範囲第4項に記載の装置。 6.前記検出回路はさらに、前記超音波センサに接続された比較器と、該比較器 と前記マイクロプロセッサとの間に接続されたワンショット回路とを有している 請求の範囲第5項に記載の装置。 7.前記超音波センサは、多数の超音波エネルギーパルスを軸受けハウジングに 向けて送るように作動し、前記マイクロプロセッサは、前記超音波センサが特定 数の超音波エネルギー戻しパルスを受け取ったか否かを決定する手段を有してい る請求の範囲第6項に記載の装置。 8.前記超音波センサは、軸受けから半径方向に間隔を置いて配置されている請 求の範囲第1項に記載の装置。 9.前記圧電トランスジューサは、軸受けから軸方向に間隔を置いて配置されて いる請求の範囲第1項に記載の装置。 10.回転軸受けがドライ軸受け状態で作動している時を検出する装置であって 、軸受け付近に配置されて、軸受けの近傍に向けられたトランスジューサ面を有 している圧電トランスジューサと、 該圧電トランスジューサを励起して超音波エネルギーを軸受け近傍に向けて送 らせる励起回路と、 超音波エネルギーが軸受け近傍から反射されたか否かを検出する検出回路とを 備えている装置。 11.前記圧電トランスジューサは、軸受けから半径方向に間隔を置いて配置さ れている請求の範囲第10項に記載の装置。 12.前記圧電トランスジューサは、軸受けから軸方向に間隔を置いて配置され ている請求の範囲第10項に記載の装置。 13.前記励起回路は、前記圧電トランスジューサに超音波エネルギーのパルス を軸受けに向けるマイクロプロセッサを有している請求の範囲第12項に記載の 装置。 14.前記検出回路は、前記圧電トランスジューサが超音波エネルギーの戻しパ ルスを受け取ったことを決定するマイクロプロセッサを有している請求の範囲第 12項に記載の装置。 15.前記マイクロプロセッサは、前記圧電トランスジューサが戻しパルスを受 け取ると予想される期間を定めるタイマを有している請求の範囲第14項に記載 の装置。 16.回転軸受けがドライ軸受け状態で作動している時を検出する装置であって 、 軸受け付近に配置されて、電気エネルギーと音波エネルギーとの間の変換を行 う手段と、 該変換手段を励起して超音波エネルギーのパルスを軸受けに向ける手段と、 前記変換手段に接続されて、超音波エネルギーが軸受けから反射されたか否か を検出する手段と を備えている装置。 17.前記変換手段は、圧電素子を有している請求の範囲第16項に記載の装置 。 18.前記励起手段は、マイクロプロセッサを有している請求の範囲第17項に 記載の装置。 19.前記マイクロプロセッサは、前記圧電素子が戻しパルスを受け取ると予想 される時間長さを定めるタイマを有している請求の範囲第18項に記載の装置。
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