JP2002340719A - ペルチエ素子を用いた真空計 - Google Patents

ペルチエ素子を用いた真空計

Info

Publication number
JP2002340719A
JP2002340719A JP2001370910A JP2001370910A JP2002340719A JP 2002340719 A JP2002340719 A JP 2002340719A JP 2001370910 A JP2001370910 A JP 2001370910A JP 2001370910 A JP2001370910 A JP 2001370910A JP 2002340719 A JP2002340719 A JP 2002340719A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
peltier element
vacuum
bridge circuit
vacuum gauge
pressure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001370910A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3452913B2 (ja
Inventor
Yoon-Hee Jeong
綸 ▲ヘ▼ 鄭
Dae-Hwa Jung
大 和 鄭
Suk-Min Chung
錫 ▲ミン▼ 鄭
Chong-Do Park
鍾 ▲ド▼ 朴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pohang Univ Of Science & Techn
Pohang University of Science and Technology Foundation POSTECH
Original Assignee
Pohang Univ Of Science & Techn
Pohang University of Science and Technology Foundation POSTECH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pohang Univ Of Science & Techn, Pohang University of Science and Technology Foundation POSTECH filed Critical Pohang Univ Of Science & Techn
Publication of JP2002340719A publication Critical patent/JP2002340719A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3452913B2 publication Critical patent/JP3452913B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L21/00Vacuum gauges
    • G01L21/10Vacuum gauges by measuring variations in the heat conductivity of the medium, the pressure of which is to be measured
    • G01L21/14Vacuum gauges by measuring variations in the heat conductivity of the medium, the pressure of which is to be measured using thermocouples
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L21/00Vacuum gauges
    • G01L21/10Vacuum gauges by measuring variations in the heat conductivity of the medium, the pressure of which is to be measured
    • G01L21/12Vacuum gauges by measuring variations in the heat conductivity of the medium, the pressure of which is to be measured measuring changes in electric resistance of measuring members, e.g. of filaments; Vacuum gauges of the Pirani type

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ペルチエ素子を用いた真空計を提供する。 【解決手段】 本発明の真空槽の圧力を測定するための
ペルチエ素子を用いた真空計は、ペルチエ素子に流入す
る電流を生じるための信号発生器1と、前記信号発生器
に接続され、電流を測定するための電流計3と、前記電
流計に接続され、相異なる金属線の一方の接合が前記真
空槽の内部に挿入されるペルチエ素子の形に形成される
熱伝対線からなるブリッジ回路10と、前記ブリッジ回
路の両対称点に接続され、前記ペルチエ素子における温
度振動により生じる電圧信号を検出し前記真空槽の圧力
を測定するためのロックイン増幅器2とを含むことを特
徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は熱伝導型真空計に係
り、特に、ペルチエ素子を用いた真空計に関する。
【0002】
【従来の技術】AVS(American Vacum
m Society、1958)の定義によれば、真空
とは、大気圧以下の圧力、例えば、2.5×1019/c
3よりも小さい分子密度を有するガスで満たされた空
間を言う。真空技術の発展に伴い、有効真空領域は、大
気圧(760Torr)から約10-13Torrまでで
ある。圧力(真空度)は、測定される圧力範囲により相
異なる原理で作動する真空計を使って測定される。熱伝
導型真空計は大気圧から約10-4Torrまでの範囲の
圧力を測定するのに主として用いられる。
【0003】真空中で加熱されたフィラメントは金属線
を通じての熱伝導、気体による熱伝導、熱輻射によりエ
ネルギーを失う。熱伝導型真空計は、フィラメントから
の気体による熱伝導損失及びそれによるフィラメントの
温度が圧力により変化するという原理を用いる。現在用
いられる熱伝導型真空計には、ピラニ真空計、熱電対真
空計、対流型真空計がある。
【0004】ピラニ真空計ではフィラメントの温度がそ
の抵抗から測定されるのに対し、熱電対真空計では相異
なる金属の接合が温度に依存する出力電圧を提供する。
根本的に、ピラニ及び熱電対真空計はフィラメント温度
を観察する手段が異なるだけである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記熱伝導型
真空計は、主として10-2Torrから100Torr
までの範囲では高い感度を示すが、10-2Torr以下
では圧力に関係ない輻射損失が気体による熱伝導よりも
良くなるため、その感度が著しく落ちる。さらに、10
0Torr以上では気体分子の自由移動距離が短くなっ
てフィラメントの周りに熱い熱層が形成され、これによ
り気体による伝導が妨げられるため、やはりその感度が
落ちる。
【0006】対流型真空計は100Torr以上での感
度を向上させるために強制対流を導入したピラニ真空計
であって、さらなる複雑性及び高コストが要求される。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目
的は、広い真空領域に亘って高感度をもって作動し、構
造が簡単であるほか、ミクロンサイズの新しい熱伝導型
真空計を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本願第1発明は、真空槽の圧力を測定するためのペ
ルチエ素子を用いた真空計を提供する。この真空計は、
以下を含むことを特徴とする。ペルチエ素子に流入する
電流を生じるための信号発生器、前記信号発生器に接続
され、電流を測定するための電流計、前記電流計に接続
され、相異なる金属線の一方の接合が前記真空槽の内部
に挿入されるペルチエ素子の形に形成される熱伝対線か
らなるブリッジ回路、及び前記ブリッジ回路の両対称点
に接続され、前記ペルチエ素子における温度振動により
生じる電圧信号を検出し前記真空槽の圧力を測定するた
めのロックイン増幅器。
【0008】相異なる熱電対線の1接合点だけをヒータ
ー及びセンサーとして用いるので、すなわち、接合点が
熱源及び温度センサーとして同時に作用するので、真空
計を全体的にコンパクト化でき、しかも、感度を向上で
きる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面を参照し、本
発明の好ましい実施形態について詳細に説明する。従来
の熱伝導型真空計は、フィラメント及びその温度を測定
するための温度センサーを含む。フィラメントはジュー
ル発熱により加熱され、熱電対またはフィラメントの抵
抗は温度センサーとして用いられる。その一方、本発明
による熱伝導型真空計は一つの熱電対だけを含み、熱電
対は熱源及び温度センサーとして作用するので、真空計
を全体的にコンパクト化でき、しかも、感度を向上でき
る。
【0010】図1を参照すると、本発明に係るペルチエ
素子及びそれによる測定回路を用いた真空計は、信号発
生器1と、ロックイン増幅器2と、電流計3と、ブリッ
ジ回路10とを含む。ブリッジ回路10は、具体的に
は、相異なる金属線6、7及び可変抵抗Rvを含む。ま
た、相異なる金属線6、7の両接合点c、eがブリッジ
回路10に形成される。
【0011】具体的には、出力抵抗Rsを有する信号発
生器1は内部抵抗Raを有する電流計3の一側端子に接
続される。電流計3の他側端子は銅線5を通じて金属線
6の中心点(図1のa)に接続される。ブリッジ回路1
0の他の接点(図1のc)はペルチエ素子の形である。
金属線7の中心点dは接地される。オーム電圧の降下を
除去するために、ブリッジ回路10の点dとeとの間に
可変抵抗Rvが付加される。
【0012】ロックイン増幅器2はペルチエ素子4のb
点及びf点に接続され、ペルチエ素子4は圧力が測定さ
れる真空槽8の内部に挿入される。ブリッジ回路10に
おいて、ロックイン増幅器2に接続される接点位置につ
いて説明すれば、下記の通りである。一般に、電流が流
れる抵抗両端の交流電圧を測定するに当たって、基本周
波数信号だけではなく、2次高調波信号及び3次高調波
信号などがジュール加熱により生じる。2次高調波信号
及び3次高調波信号は抵抗の温度係数に比例する小さい
振幅を有する。測定しようとする信号が極めて小さい場
合、このような逓次高調波信号が測定に影響を及ぼす場
合がある。同様に、周波数が高くなれば、回路構成要素
のインピーダンスにより生じる高調波の振幅が周波数に
比例して大きくなる。したがって、このような不要な高
調波信号を除去するために、b点及びブリッジ回路10
の対称点であるf点をロックイン増幅器2に接続させる
ことが基本である。
【0013】図2は、図1に示されたペルチエ素子を用
いた真空計の温度振動等価回路を示した回路図である。
図2の等価回路において、温度振動はゼーベック効果に
よる電圧振動に変換されるので、ペルチエ素子4の接合
点(図1のc)は熱信号発生器9に取り替えられる。
【0014】図1の接合点eが熱的に接地されているな
らば、b点及びf点の間の電圧を測定するロックイン増
幅器2は真空槽8の圧力に対応するペルチエ素子の温度
振動を読み取る。ここで、R1は図1の接合点b及びc
の間の金属線6の抵抗であり、R2は図1の接合点a及
びbの間の金属線6の抵抗であり、R3は図1の接合点
a及びfの間の金属線6の抵抗であり、R4は図1の接
合点e及びfの間の金属線6の抵抗であり、R5は図1
における接合点d及びeの間の金属線7の抵抗であり、
R6は図1における接合点c及びdの間の金属線7の抵
抗である。Ra、Rs及びRvは各々電流計3の内部抵
抗、信号発生器1の出力抵抗、及び可変抵抗を表わす。
【0015】ペルチエ効果とは、任意の一定温度Tで相
異なる特性を有する金属線よりなる熱電対に電流を流せ
ば、両伝導体の電気化学的なポテンシャルの差により熱
電対の接合点で下記の式で表わされる電力Pが生じる現
象を言う。 P=TSI ここで、Sは両金属線の間の熱起電力の差であり、Iは
電流である。このため、熱電対の接合点は電流Iの方向
により加熱または冷却できる。したがって、任意の温度
で各種の金属線対(熱電対)に対してテーブル化したS
より、特定の電流による熱振動を正確に求めることがで
きる。
【0016】ペルチエ効果により生じる熱源は、熱電対
の接合部分だけで熱交換が起こる点熱源であるという点
に留意しなければならない。ペルチエ熱源の他の重要な
特徴は、電流方向により接合点が加熱または冷却される
という点である。したがって、AC加熱の場合、ジュー
ル加熱、光加熱などの他の加熱方式とは異なって、DC
オフセットがない。
【0017】相異なる特性を有する金属線6、7よりな
る熱電対の例としては、鉄(Fe)及びコンスタンタン
(Cu-Ni)の接合であるJ-タイプの熱電対、クロメ
ル(Ni-Cr)及びアルメル(Ni-Al)の接合であ
るK-タイプの熱電対、銅(Cu)及びコンスタンタン
(Cu-Ni)の接合であるT-タイプの熱電対、クロメ
ル(Ni-Cr)及びコンスタンタン(Cu-Ni)の接
合であるE-タイプの熱電対、ニコシル(Ni-Cr-S
i)及びニシル(Ni-Si-Mg)の接合であるN-タ
イプの熱電対、プラチニウム(Pt)及びプラチニウム
(Pt)-ロジウム(Rh)合金の接合であるR-及びS
-タイプの熱電対、タングステン(W)及びタングステ
ン(W)-レニウム(Re)合金の接合であるG-、C
-、D-タイプの熱電対などがある。これらの熱電対は、
与えられた温度範囲における感度により選択される。
【0018】ブリッジ回路10のペルチエ素子4は、数
〜数十マイクロメーター(μm)の直径を有する相異な
る金属線6、7から形成される。そして、信号発生器
1、ロックイン増幅器2及び電流計3は銅線5を通じて
ブリッジ回路10と接続され、銅線5は十分に太くて無
視できる抵抗を有する。信号発生器1が特定の周波数で
電流を生じれば、この電流は電流計3を通じてブリッジ
回路10に入力される。ブリッジ回路10において、電
流は2種類の経路、すなわち、a-f-e-d及びa-b-
c-dを経て接地に流れる。
【0019】相異なる金属線6、7の接合はc点及びe
点で形成される。一方、接合点a、b、d、fは銅線5
と金属線6との間の接合により形成される。熱振動は、
相異なる金属線6、7の接合点a、c、d及びeでペル
チエ効果により生じる。これらの温度振動の強度は金属
線の比熱及び伝導度、熱振動周波数及び接合の周囲の熱
的環境により変化する。ここで、接合点a、b、d及び
fは高い熱伝導度を有する銅線5と金属線6及び金属線
7のうちいずれかとの接合により形成される。また、接
合点a、b、d及びfは良好な熱伝導度を有する金属
(金、銀、銅など)に熱接地されて、これらの接合点
a、b、d及びfにおける温度振動を除去する。
【0020】このような熱接地は接合点a、b、d及び
fにおける好ましくない信号を抑えるのに十分である
が、接合点eの熱接地は2種類の方法により行われう
る。一つの方法は、接合点a、b、d及びfと同様に、
接合点eを熱接地することである。この場合、温度振動
は接合点cだけで起こる。温度振動は、接合点cにおけ
るゼーベック効果により電圧振動として現れる。ロック
イン増幅器2は接合点bと接合点fとの電圧差を読み取
る。図1に示されたように、ロックイン増幅器2により
測定される電圧差は、ペルチエ素子4における温度振動
によってだけではなく、オーム電圧によっても生じる。
しかし、金属線6、7におけるオーム電圧の降下により
生じるこの電圧は可変抵抗Rvでブリッジ回路10を注
意深くバランシングすることにより除去できる。このた
め、ペルチエ素子4における温度振動により誘導される
電圧だけが測定可能になる。
【0021】もう一つの方法は、接合点eを接合点cの
ようにペルチエ素子の形にする方法である。この場合、
真空槽8に位置した検針接合点c及び大気圧に位置した
検針接合点eのどちらでも温度振動が起こる。ロックイ
ン増幅器2は接合点c及びeの間の温度振動の差だけを
読み取るので、接合点c及びeの圧力差による温度振動
が得られる。このような差動モードにおいては、10-2
Torr以下の圧力を高い感度で測定できる。
【0022】本発明によるペルチエ素子を用いた真空計
は、DCモードまたはACモードで作動できる。一般
に、ACモードは、与えられた圧力範囲で高い感度が得
られる動作周波数を選択できるということから好まし
い。また、本発明によるペルチエ素子を用いた真空計
は、下記の2種類の方法のうちいずれかにより作動され
うる。すなわち、真空計は、ペルチエ素子に一定量の電
圧が与えられるとき(圧力により決まる)温度を測定し
たり、あるいは圧力が変動するにつれてペルチエ素子の
温度を一定に保つのに必要な電圧を検出する。
【0023】本発明によるペルチエ素子を用いた真空計
は、下記のような長所を有する。最初に、単一の熱電対
が熱源及び温度センサーとして同時に用いられるので、
その構造の単純化が可能となる。第二に、従来の真空計
の円筒状の熱拡散に比べて本発明による真空計の球面状
の熱拡散がより効果的であるので、100Torrから
大気圧に至るまで高感度の圧力測定が可能となる。ま
た、ペルチエ効果により接合が加熱または冷却されうる
ので、熱い熱層の形成が防止される。
【0024】第三に、従来の熱伝導型真空計において気
体による熱伝導が輻射による熱伝導よりも格段に落ちる
現象により感度が低下していた10-4から10-2の範囲
の圧力測定が従来の真空計に比べてより高い感度でなさ
れる。一方、本発明によるペルチエ素子を用いる真空計
は真空槽の内部及び大気圧における両熱電対を各々使用
できるので、輻射熱損失を相殺することにより気体によ
る伝導だけを測定する差動モードにおいて、低い圧力範
囲で高い感度が得られる。
【0025】第四に、真空計が単一の熱電対よりなるの
で数十ナノメートル(nm)の大きさで製作でき、真空
槽の局部的な真空測定が可能となる。最後に、熱源及び
温度センサーができる限り小型化できるので、圧力の変
化の迅速な測定が可能となる。
【0026】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によるペルチ
エ素子を用いた熱伝導型真空計は、構造が簡単であり、
ミクロン単位の大きさを有するほか、広い真空領域に亘
って高感度で作動するので局部的な真空測定が容易にな
り、その結果、高い解像度で迅速に圧力を測定すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】ペルチエ素子及びそれによる測定回路を用いた
本発明による真空計の構成を示した構成図。
【図2】図1に示されたペルチエ素子を用いた真空計の
温度振動等価回路を示した回路図。
フロントページの続き (72)発明者 鄭 錫 ▲ミン▼ 大韓民国慶尚北道浦項市南区孝子洞山31番 地 浦項工科大学校 物理学科 (72)発明者 朴 鍾 ▲ド▼ 大韓民国慶尚北道浦項市南区孝子洞山31番 地 浦項工科大学校 加速機研究所 Fターム(参考) 2F055 AA14 BB08 CC43 DD19 EE40 FF11 GG49

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】真空槽の圧力を測定するためのペルチエ素
    子を用いた真空計であって、 ペルチエ素子に流入する電流を生じるための信号発生器
    と、 前記信号発生器に接続され、電流を測定するための電流
    計と、 前記電流計に接続され、相異なる金属線の一方の接合が
    前記真空槽の内部に挿入されるペルチエ素子の形に形成
    される熱伝対線からなるブリッジ回路と、 前記ブリッジ回路の両対称点に接続され、前記ペルチエ
    素子における温度振動により生じる電圧信号を検出し前
    記真空槽の圧力を測定するためのロックイン増幅器と、 を含むペルチエ素子を用いた真空計。
  2. 【請求項2】前記熱電対線の抵抗により引き起こされる
    オーム電圧降下を除去するために前記ブリッジ回路の片
    方のアームに並列に付加される校正抵抗をさらに備える
    ことを特徴とする請求項1に記載のペルチエ素子を用い
    た真空計。
  3. 【請求項3】それぞれ二つのペルチエ素子が取り付けら
    れた2つの真空槽の間の圧力差を測定するため、前記ブ
    リッジ回路は熱電対線を備えており、相異なる金属線の
    両方の接合がペルチエ素子の形に形成されることを特徴
    とする請求項1に記載のペルチエ素子を用いた真空計。
JP2001370910A 2001-05-04 2001-12-05 ペルチエ素子を用いた真空計 Expired - Fee Related JP3452913B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2001-24372 2001-05-04
KR10-2001-0024372A KR100407815B1 (ko) 2001-05-04 2001-05-04 펠티어 효과를 이용한 열전도형 진공 게이지

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002340719A true JP2002340719A (ja) 2002-11-27
JP3452913B2 JP3452913B2 (ja) 2003-10-06

Family

ID=19709076

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001370910A Expired - Fee Related JP3452913B2 (ja) 2001-05-04 2001-12-05 ペルチエ素子を用いた真空計

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6727709B2 (ja)
JP (1) JP3452913B2 (ja)
KR (1) KR100407815B1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100614674B1 (ko) * 2002-05-11 2006-08-21 주식회사 한국센시스 비열측정형 진공게이지
KR100682032B1 (ko) 2005-10-31 2007-02-12 포항공과대학교 산학협력단 측정 장치
US7322248B1 (en) * 2006-08-29 2008-01-29 Eastman Kodak Company Pressure gauge for organic materials
US8047711B2 (en) * 2008-08-06 2011-11-01 Heinz Ploechinger Thermocouple vacuum gauge
US10222285B2 (en) 2014-10-24 2019-03-05 Timothy G. Collins Portable graphing vacuum pressure gauge
US10845263B2 (en) 2018-04-17 2020-11-24 Mks Instruments, Inc. Thermal conductivity gauge
DE202022101804U1 (de) 2022-04-04 2022-07-26 Mohammad Israr Intelligentes System zur Erzeugung von elektrischer Energie aus Abfallenergie des Wärmegeräts mit Peletier-Effekt

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4959999A (en) * 1988-02-18 1990-10-02 Seiko Electronic Components Ltd. Vacuum gauge of thermo-conductive type with quartz oscillator
US6023979A (en) * 1997-07-21 2000-02-15 Helix Technology Apparatus and methods for heat loss pressure measurement
KR100334131B1 (ko) * 2000-05-10 2002-04-26 정명식 펠티어 검침을 이용한 시료 표면의 열특성 측정 및 열성형장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR20020085091A (ko) 2002-11-16
US6727709B2 (en) 2004-04-27
KR100407815B1 (ko) 2003-12-01
US20020163345A1 (en) 2002-11-07
JP3452913B2 (ja) 2003-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6508585B2 (en) Differential scanning calorimeter
JP3175887B2 (ja) 測定装置
EP2677283A1 (en) Heat conduction-type sensor having influence of temperature and kind of fluid corrected therein, and heat-type flow sensor and heat-type barometric sensor using the heat conduction-type sensor
JP3118459B2 (ja) 熱抵抗の変化を利用して被測定体の固有値を測定するセンシングシステム
US6883369B1 (en) Sensor and method of measuring mass flow non-intrusively
JP5076235B2 (ja) 熱電対ヒータとこれを用いた温度計測装置
Moffat Some experimental methods for heat transfer studies
JP2009210378A (ja) 薄膜試料のゼーベック係数および/または熱伝導率を測定する方法および装置
JP2004340964A (ja) 質量流量計
JP3226715B2 (ja) 計測装置
CN102692524A (zh) 一种基于原子力显微镜的纳米热电塞贝克系数原位定量表征装置
JP2002340719A (ja) ペルチエ素子を用いた真空計
JP4374597B2 (ja) 温度差の検出方法、温度センサおよびこれを用いた赤外線センサ
JP4474550B2 (ja) 熱電素子の特性評価方法
US6593760B2 (en) Apparatus for measuring thermal properties and making thermomechanical modification on sample surface with peltier tip
EP0187723A2 (fr) Procédé et capteur de mesure perfectionnés, basés sur l'utilisation d'un thermocouple
JP3468300B2 (ja) 薄膜熱電物質の熱的及び電気的特性を測定する方法及び装置
EP1215484A2 (en) Differential scanning calorimeter
JP2001165739A (ja) 測定装置の動作方法
Leclercq et al. Utilization of the Peltier effect for measuring a fluid property. Application for designing new sensors
KR100614674B1 (ko) 비열측정형 진공게이지
Machut et al. A new Peltier sensor for measuring the thermal conductivity of fluids
Gaiser et al. Temperature-measurement errors with capsule-type resistance thermometers
JPH0769221B2 (ja) 温度検知材料、温度センサー及び温度測定方法
CN116297647A (zh) 一种mems差热分析传感器及dta/dsc测试方法

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080718

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090718

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees