JP2002290046A - Wiring board and manufacturing method thereof - Google Patents

Wiring board and manufacturing method thereof

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JP2002290046A
JP2002290046A JP2001085071A JP2001085071A JP2002290046A JP 2002290046 A JP2002290046 A JP 2002290046A JP 2001085071 A JP2001085071 A JP 2001085071A JP 2001085071 A JP2001085071 A JP 2001085071A JP 2002290046 A JP2002290046 A JP 2002290046A
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Japan
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wiring board
hole
base material
wiring
manufacturing
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Application number
JP2001085071A
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Japanese (ja)
Inventor
Kimiteru Tagawa
公照 田川
Ichiro Nakayama
一郎 中山
Koichi Yabuuchi
広一 藪内
Yoshito Uehara
義人 上原
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PURINTEKKU KK
Mitsui Chemicals Inc
Original Assignee
PURINTEKKU KK
Mitsui Chemicals Inc
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent such a faultiness as a faulty disconnection and to realize the high reliability of such a wiring board as a printed wiring circuit board, by improving the state of the inside of its through hole. SOLUTION: In a manufacturing method of a wiring board, there are laminated and molded via prepregs boards in each of which wiring layers are provided on both the surfaces of an insulating base material and conductive layers having respectively circuit patterns, etc. A through hole is so formed in the obtained laminated body by using an NC drilling as to subject then it to a metal-plating. When forming the through hole, the circumferential speed of the NC drilling is so set as to be not higher than 150 m/min. and the feed speed of the NC drilling is so set as to be not higher than 1.0 m/min., and thereby, the metal- plated-off maximum roughness Rmax of the inner-wall surface of the through hole is so set as to be not larger than 50 μm.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品の実装に
用いられるプリント配線板に関し、特に高速電送性、高
周波特性に優れた電子部品の基板に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board used for mounting electronic components, and more particularly to a substrate for electronic components having excellent high-speed transmission and high-frequency characteristics.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、インターネット、LAN等のIT
関連の技術革新に伴い、光ケーブルを利用した大量のデ
ータ通信や、携帯電話等の基地局を利用したデジタル無
線通信、衛星を利用した通信が広く利用されるようにな
ってきた。これらのデータ通信では、多量のデータが送
受信される関係上、使用される電子機器に対し、周波数
の高周波化が求められることとなる。通信に必要な電子
機器は多岐に及び、ネットワークに使用されるルータ
ー、サーバー、LANスイッチ等、電子部品として使用
されるPLLシンセサイザー、VCO、BPフィルター
等、および、通信に使用される基地局、レーダー、ナビ
ゲーター、ダウンコンバーター、アンテナ等の電子機
器、部品が挙げられる。
2. Description of the Related Art In recent years, IT such as Internet, LAN, etc.
Along with the related technical innovation, a large amount of data communication using an optical cable, digital wireless communication using a base station such as a mobile phone, and communication using a satellite have been widely used. In these data communications, since a large amount of data is transmitted and received, a higher frequency is required for an electronic device to be used. The electronic devices required for communication are diverse, such as routers, servers, LAN switches, etc. used for networks, PLL synthesizers used as electronic components, VCOs, BP filters, etc., and base stations and radars used for communication , Navigator, down converter, antenna and other electronic devices and components.

【0003】これらの電子機器等の高周波化に伴い、配
線基板に対しても優れた高周波特性が望まれる。くわえ
て、多チャンネル化の為には多量の部品の搭載が必要と
されることから、配線の高密度化および多層化の要請に
充分に応え得る基板が求められている。
[0003] With the increase in the frequency of these electronic devices and the like, excellent high-frequency characteristics are also required for wiring boards. In addition, since it is necessary to mount a large number of components in order to increase the number of channels, there is a demand for a substrate that can sufficiently respond to the demands for higher density and multilayer wiring.

【0004】高周波特性に優れた基板としては、PTF
E、PPOに代表されるテフロン(登録商標)系の樹脂
を絶縁層に使用することが知られている。しかしなが
ら、テフロン系樹脂基板では、層間の導通の為のスルー
ホールを形成を行った場合、穴あけが困難な他、金属メ
ッキによる導電層を形成する為には、金属ナトリウム等
の特殊薬品の処理が必要でとされ、スルーホールの製造
が困難であった。また、ポリブタジエン、ポリイソプレ
ン等の樹脂を用いた場合、高周波特性に優れるものの、
NCドリルで穴あけを行い金属メッキにより両面及び多
層の導体層の導電をスルーホールにより形成した場合、
スルーホール内にび酸化珪素粒子かすやガラスクロスか
す等の異物及び突起物が発生する為、金属メッキが不均
一となり、層間の導通信頼性にかける為に両面配線板及
び配線板を製造することが困難であった。
As a substrate having excellent high frequency characteristics, PTF
It is known to use a Teflon (registered trademark) resin represented by E or PPO for the insulating layer. However, in the case of using a Teflon-based resin substrate, if a through hole is formed for conduction between layers, it is difficult to make a hole, and in order to form a conductive layer by metal plating, processing of special chemicals such as metallic sodium is required. It was required and it was difficult to manufacture through-holes. In addition, when a resin such as polybutadiene and polyisoprene is used, although high frequency characteristics are excellent,
When drilling with an NC drill and conducting conductive on both sides and multiple conductor layers by metal plating by through holes,
Manufacture double-sided wiring boards and wiring boards in order to make metal plating non-uniform because foreign matter and projections such as silicon oxide particles and glass cloth debris are generated in through holes Was difficult.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】かかる事情に鑑み、本
発明は、プリント配線基板等の配線板において、スルー
ホール内部の状態を改善することにより、断線不良等の
不具合を防止して高い信頼性を実現し、同時に、優れた
高周波特性、機械的強度、加工性等を実現することを目
的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above circumstances, the present invention improves the state of the inside of a through-hole in a wiring board such as a printed wiring board, thereby preventing problems such as disconnection defects and achieving high reliability. And at the same time, to realize excellent high-frequency characteristics, mechanical strength, workability, and the like.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明者らは鋭意検討した結果、以下の発明に到達
した。 [1]絶縁基材の両面に配線層を備えた基板中に、金属
めっき膜で表面を覆われたスルーホールが設けられた配
線板であって、該スルーホールの内壁表面最大粗度R
maxが50μm以下であることを特徴とする配線板。 [2]絶縁基材の両面に配線層を備えた基板と、回路パ
ターンの設けられた導電層または絶縁基材の両面に配線
層を備えた他の基板とが、シート状基材に熱硬化性樹脂
を含浸させた絶縁樹脂層を介して積層してなる配線板で
あって、該配線板中に、金属めっき膜で表面を覆われた
スルーホールが設けられ、該スルーホールの内壁表面最
大粗度Rmaxが50μm以下であることを特徴とする配
線板。 [3][2]に記載の配線板において、前記絶縁樹脂層
は、ポリブタジエンまたはポリイソプレンを含むことを
特徴とする配線板。 [4][2]または[3]に記載の配線板において、前
記絶縁樹脂層は、酸化珪素粒子5〜60体積%およびガ
ラスクロス10〜40体積%を含有することを特徴とす
る配線板。 [5][1]乃至[4]いずれかに記載の配線板におい
て、前記絶縁基材が、ポリブタジエンまたはポリイソプ
レンを含むことを特徴とする配線板。 [6]絶縁基材の両面に配線層を備えた基板中に、NC
ドリルを用いてスルーホールを形成した後、該スルーホ
ールを金属めっきする工程を含む配線板の製造方法であ
って、金属めっき後のスルーホールの内壁表面最大粗度
maxを50μm以下とすることを特徴とする配線板の
製造方法。 [7]絶縁基材の両面に配線層を備えた基板と、回路パ
ターンの設けられた導電層または絶縁基材の両面に配線
層を備えた他の基板とを、シート状基材に熱硬化性樹脂
を含浸させたBステージ状態の絶縁樹脂シートを介して
積層成形した後、得られた積層体中にNCドリルを用い
てスルーホールを形成し、該スルーホールを金属めっき
する工程を含む配線板の製造方法であって、金属めっき
後のスルーホールの内壁表面最大粗度Rmaxが50μm
以下とすることを特徴とする配線板の製造方法。 [8][7]に記載の配線板の製造方法において、前記
絶縁樹脂シートは、ポリブタジエンまたはポリイソプレ
ンを含むことを特徴とする配線板の製造方法。 [9][6]乃至[8]いずれかに記載の配線板の製造
方法において、前記絶縁基材が、ポリブタジエンまたは
ポリイソプレンを含むことを特徴とする配線板の製造方
法。 [10][6]乃至[9]いずれかに記載の配線板の製
造方法において、NCドリルの周速度を150m/分以
下、NCドリルの送り速度を1.0m/分以下とするこ
とを特徴とする配線板の製造方法。 [11][6]乃至[10]いずれかに記載の配線板の
製造方法において、直径2mm以上のスルーホールを形
成する際、NCドリルの周速度を150m/分以下、N
Cドリルの送り速度0.2m/分以下とすることを特徴
とする配線板の製造方法。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the present inventors have conducted intensive studies and as a result have reached the following invention. [1] A wiring board in which a through-hole whose surface is covered with a metal plating film is provided in a substrate having a wiring layer on both surfaces of an insulating base material, and the inner wall surface maximum roughness R of the through-hole is provided.
A wiring board, wherein max is 50 μm or less. [2] A substrate provided with a wiring layer on both sides of an insulating base material and a conductive layer provided with a circuit pattern or another substrate provided with a wiring layer on both sides of the insulating base material are thermoset to a sheet-like base material. A wiring board laminated with an insulating resin layer impregnated with a conductive resin, wherein a through hole whose surface is covered with a metal plating film is provided in the wiring board, and the inner wall surface of the through hole has a maximum. A wiring board having a roughness R max of 50 μm or less. [3] The wiring board according to [2], wherein the insulating resin layer contains polybutadiene or polyisoprene. [4] The wiring board according to [2] or [3], wherein the insulating resin layer contains 5 to 60% by volume of silicon oxide particles and 10 to 40% by volume of glass cloth. [5] The wiring board according to any one of [1] to [4], wherein the insulating base material contains polybutadiene or polyisoprene. [6] In a substrate provided with wiring layers on both surfaces of an insulating base material, NC
A method for manufacturing a wiring board including a step of forming a through hole using a drill and then metal plating the through hole, wherein the maximum roughness R max of the inner wall surface of the through hole after metal plating is set to 50 μm or less. A method for manufacturing a wiring board, comprising: [7] A substrate provided with a wiring layer on both sides of an insulating base material and a conductive layer provided with a circuit pattern or another substrate provided with a wiring layer on both sides of the insulating base material are thermosetted into a sheet-like base material. After laminating and molding through an insulating resin sheet in a B-stage state impregnated with a conductive resin, forming a through hole in the obtained laminate using an NC drill, and metal plating the through hole. A method of manufacturing a plate, wherein the maximum roughness R max of the inner wall surface of a through hole after metal plating is 50 μm
A method for manufacturing a wiring board, comprising: [8] The method for manufacturing a wiring board according to [7], wherein the insulating resin sheet contains polybutadiene or polyisoprene. [9] The method for manufacturing a wiring board according to any one of [6] to [8], wherein the insulating base material contains polybutadiene or polyisoprene. [10] The method for manufacturing a wiring board according to any one of [6] to [9], wherein the peripheral speed of the NC drill is 150 m / min or less, and the feed speed of the NC drill is 1.0 m / min or less. Method for manufacturing a wiring board. [11] In the method for manufacturing a wiring board according to any one of [6] to [10], when forming a through hole having a diameter of 2 mm or more, the peripheral speed of the NC drill is set to 150 m / min or less,
A method for manufacturing a wiring board, wherein the feed rate of a C drill is 0.2 m / min or less.

【0007】本発明においては、スルーホールの内面表
面粗度Rmaxを50μm以下としているため、スルーホ
ール内部のめっき膜厚が均一となり、各層間の導通が良
好となる。本発明において、Rmaxは、25μm以下と
することがより好ましい。このようにすれば層間の導通
信頼性が一層良好となり、長期使用にも耐え得る配線板
となる。
In the present invention, since the inner surface roughness R max of the through hole is set to 50 μm or less, the plating film thickness inside the through hole becomes uniform, and the conduction between the layers becomes good. In the present invention, R max is more preferably 25 μm or less. In this way, the reliability of conduction between the layers is further improved, and the wiring board can withstand long-term use.

【0008】穴あけに使用するNCドリルは、当業界で
使用されるドリルであれば使用できるが、ドリルの消耗
度を考慮するとWC等の超硬刃のドリルが好ましい。ド
リルの回転数と送り速度は、ドリルの周速度が150m
/分以下及び送り速度1m/分以下が好ましい。直径2
mm以上のドリルでは、周速度が150m/分以下及び
送り速度0.2m/分以下が更に好ましい。穴あけを生
産効率良く行う為には、回転数及び送り速度が直径2m
m未満のドリルでは、周速度50m/分以上送り速度
0.3m/分以上が好ましい。また直径2mm以上のド
リルでは、周速度50m/分以上、送り速度0.1m/
分以上が好ましい。このようにすれば、金属めっき後の
スルーホールの内壁表面最大粗度Rmaxを安定的に低減
でき、Rmaxを50μm以下、特には25μm以下とす
ることができる。
An NC drill used for drilling can be used as long as it is a drill used in the art, but a carbide blade such as WC is preferable in consideration of the degree of wear of the drill. The rotation speed and feed rate of the drill are such that the peripheral speed of the drill is 150 m.
/ Min and a feed rate of 1 m / min or less are preferred. Diameter 2
For drills of mm or more, the peripheral speed is more preferably 150 m / min or less and the feed speed is 0.2 m / min or less. In order to perform drilling with high production efficiency, the number of revolutions and feed rate should be 2m in diameter.
For drills less than m, the peripheral speed is preferably 50 m / min or more and the feed speed is 0.3 m / min or more. For drills with a diameter of 2 mm or more, the peripheral speed is 50 m / min or more and the feed speed is 0.1 m / min.
Minutes or more are preferred. In this way, the maximum roughness R max of the inner wall surface of the through hole after metal plating can be stably reduced, and R max can be reduced to 50 μm or less, particularly 25 μm or less.

【0009】なお、スルーホール内面表面粗度は以下の
ようにして測定することができる。まず基板を切断して
スルーホール内部を露出させる。次いで、スルーホール
内面を光学顕微鏡で観察し、最大凹凸量を測定する。こ
の最大凹凸量をRmaxとする。
The inner surface roughness of the through hole can be measured as follows. First, the substrate is cut to expose the inside of the through hole. Next, the inner surface of the through hole is observed with an optical microscope, and the maximum amount of unevenness is measured. This maximum unevenness amount is defined as Rmax .

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明における基板は、絶縁基材
(以下、適宜、「コア層」と称する)の両面に配線層を
備えた構成とする。コア層は、たとえばシート状基材に
熱硬化性樹脂を含浸させたもの等が用いられる。この熱
硬化性樹脂はBステージ状態ではなく完全硬化した状態
となっている。コア層は、たとえば、酸化珪素粒子、ガ
ラスクロス、ポリブタジエンまたはポリイソプレンを主
成分とする熱硬化性樹脂を含む構成とすることができ
る。熱硬化性樹脂としては種々のものを用いることがで
き、ポリブタジエンや、ブタジエン由来の構造単位を含
有する共重合体が好ましく、特に、2,2−ポリブタジ
エンが好ましい。このような樹脂を用いれば、高周波特
性が顕著に改善される。この場合、熱硬化性樹脂全体に
対するポリブタジエンまたはポリイソプレンの含有量
は、50質量%以上とすることが好ましい。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The substrate according to the present invention has a structure in which wiring layers are provided on both surfaces of an insulating base material (hereinafter, appropriately referred to as a "core layer"). As the core layer, for example, a sheet-like base material impregnated with a thermosetting resin is used. This thermosetting resin is not in the B-stage state but in a completely cured state. The core layer can be configured to contain, for example, a thermosetting resin containing silicon oxide particles, glass cloth, polybutadiene or polyisoprene as a main component. Various thermosetting resins can be used, and polybutadiene or a copolymer containing a structural unit derived from butadiene is preferable, and 2,2-polybutadiene is particularly preferable. When such a resin is used, the high-frequency characteristics are significantly improved. In this case, the content of polybutadiene or polyisoprene with respect to the entire thermosetting resin is preferably 50% by mass or more.

【0011】本発明における基板の具体的態様として
は、たとえば、酸化珪素粒子を5〜60体積%、ガラス
クロスを10〜40体積%含有するものが挙げられる。
ポリブタジエンまたはポリイソプレン以外の樹脂成分と
しては、たとえばスチレン樹脂を副成分とすることがで
きる。
As a specific embodiment of the substrate in the present invention, for example, a substrate containing 5 to 60% by volume of silicon oxide particles and 10 to 40% by volume of glass cloth can be mentioned.
As a resin component other than polybutadiene or polyisoprene, for example, a styrene resin can be used as an auxiliary component.

【0012】本発明者の検討によれば、ポリブタジエン
またはポリイソプレンを含む絶縁基材を有する基板を使
用すると、スルーホール内の金属めっきが不均一になり
やすいということが確認されている。この点、本発明に
よれば、このような課題を有効に解決され、良好なスル
ーホール導通特性と優れた高周波特性を兼ね備える配線
板が提供される。
According to the study of the present inventors, it has been confirmed that when a substrate having an insulating base material containing polybutadiene or polyisoprene is used, the metal plating in the through holes tends to be uneven. In this regard, according to the present invention, such a problem is effectively solved, and a wiring board having both good through-hole conduction characteristics and excellent high-frequency characteristics is provided.

【0013】基板を構成する絶縁基材は以下の特性を有
することが好ましい。すなわち、2.4GHz〜70G
Hzの周波数領域における誘電率は、好ましくは3.0
以上4.0以下とし、上記周波数領域における誘電正接
は、好ましくは0.0001以上0.01以下、より好
ましくは0.0001以上0.007以下とする。この
ような絶縁基材を用いることにより、高周波信号の減衰
率を低減し、信号の電送を良好に行うことができる。絶
縁基材の比誘電率と誘電正接は、空洞共振器法および進
行波共振法により測定される。
The insulating base material constituting the substrate preferably has the following characteristics. That is, 2.4 GHz to 70 G
The dielectric constant in the frequency range of Hz is preferably 3.0
The dielectric loss tangent in the frequency region is preferably 0.0001 or more and 0.01 or less, more preferably 0.0001 or more and 0.007 or less. By using such an insulating base material, the attenuation rate of a high-frequency signal can be reduced and signal transmission can be performed favorably. The relative permittivity and the dielectric loss tangent of the insulating substrate are measured by a cavity resonator method and a traveling wave resonance method.

【0014】本発明における絶縁樹脂層および絶縁樹脂
シートは、シート状基材に熱硬化性樹脂を含浸させたも
のであり、充填材や各種添加剤を含んでいてもよい。具
体的態様としては、プリプレグが挙げられる。本発明に
おいては、「絶縁樹脂シート」はBステージ状態のもの
を指し、これを加熱加圧下で積層成形した後の状態のも
のを「絶縁樹脂層」と称する。
The insulating resin layer and the insulating resin sheet of the present invention are obtained by impregnating a sheet-shaped base material with a thermosetting resin, and may contain a filler and various additives. A specific example is prepreg. In the present invention, the “insulating resin sheet” refers to a B-stage state, and the state after laminating and forming the same under heating and pressure is referred to as an “insulating resin layer”.

【0015】絶縁樹脂層および絶縁樹脂シートを構成す
る熱硬化性樹脂としては種々のものを用いることがで
き、エポキシ樹脂、ポリブタジエンや、ブタジエン由来
の構造単位を含有する共重合体等を用いることができ
る。ポリブタジエンを用いる場合は、2,2−ポリブタ
ジエンが好ましい。また、PPE、PPO、フェノール
系樹脂を副成分とした、低誘電率と低誘電正接の特性を
有する樹脂組成物も使用できる。このような樹脂を用い
れば、高周波特性が顕著に改善される。また、絶縁樹脂
層および絶縁樹脂シート中の熱硬化性樹脂含有率は、好
ましくは30〜70質量%とする。
Various thermosetting resins can be used as the insulating resin layer and the insulating resin sheet. Epoxy resins, polybutadienes, copolymers containing structural units derived from butadiene, and the like can be used. it can. When polybutadiene is used, 2,2-polybutadiene is preferred. In addition, a resin composition having low dielectric constant and low dielectric loss tangent using PPE, PPO, and phenolic resin as subcomponents can also be used. When such a resin is used, the high-frequency characteristics are significantly improved. The content of the thermosetting resin in the insulating resin layer and the insulating resin sheet is preferably 30 to 70% by mass.

【0016】本発明における絶縁樹脂層および絶縁樹脂
シートの具体的態様としては、たとえば、酸化珪素粒子
を5〜60体積%、ガラスクロスを10〜40体積%含
有するものが挙げられる。なお、本発明において、絶縁
樹脂層および絶縁樹脂シートは、単数であっても複数で
あってもよい。
As a specific embodiment of the insulating resin layer and the insulating resin sheet in the present invention, for example, one containing 5 to 60% by volume of silicon oxide particles and 10 to 40% by volume of glass cloth can be mentioned. In the present invention, the insulating resin layer and the insulating resin sheet may be singular or plural.

【0017】本発明において、絶縁樹脂層は以下の特性
を有することが好ましい。すなわち、2.4GHz〜7
0GHzの周波数領域における誘電率は、好ましくは
3.0以上4.5以下とし、上記周波数領域における誘
電正接は、好ましくは0.0001以上0.018以下
とする。このような絶縁樹脂層を用いることにより、高
周波信号の減衰率を低減し、信号の電送を良好に行うこ
とができる。絶縁樹脂層の比誘電率と誘電正接は、空洞
共振器法および進行波共振法により測定される結果によ
り測定することができる。
In the present invention, the insulating resin layer preferably has the following characteristics. That is, 2.4 GHz to 7
The dielectric constant in the frequency region of 0 GHz is preferably 3.0 or more and 4.5 or less, and the dielectric loss tangent in the frequency region is preferably 0.0001 or more and 0.018 or less. By using such an insulating resin layer, the attenuation rate of a high-frequency signal can be reduced, and signal transmission can be performed favorably. The relative permittivity and the dielectric loss tangent of the insulating resin layer can be measured based on the results measured by the cavity resonator method and the traveling wave resonance method.

【0018】本発明において、層間接着に用いる絶縁樹
脂層および絶縁樹脂シートは、構成要素としてシート状
基材を含み、また、基板を構成する絶縁基材もシート状
基材を含む構成とすることができる。このようなシート
状基材としては、ガラス繊維、紙、アラミド繊維等を例
示できる。また、充填材としては、有機フィラーおよび
無機フィラーが挙げられる。有機フィラーの具体例とし
ては、粉体エポキシ樹脂(例えばTEPIC)、メラミ
ン樹脂、ベンゾグアナミン樹脂、尿素樹脂、架橋アクリ
ルポリマー等が挙げられ、また、無機フィラーの具体例
としては、酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、珪酸ジ
ルコニウム、酸化ジルコニウム、珪酸カルシウム、水酸
化カルシウム、酸化珪素等が挙げられる。また、各種添
加剤としては、硫酸バリウム、硫化珪素、タルク、クレ
ー、ベントナイト、カオリン、ガラス繊維、炭素繊維、
雲母、石綿等の充填剤、アエロジル等のチクソトロピー
性付与剤、フタロシアニン、フタロシアニングリーン、
フタロシアニンブルー、酸化チタン、カーボンブラック
等の着色用顔料、難燃剤、難燃助剤、消泡剤、密着性付
与剤、レベリング剤などが挙げられる。
In the present invention, the insulating resin layer and the insulating resin sheet used for interlayer bonding include a sheet-like base material as a constituent element, and the insulating base material forming the substrate also includes a sheet-like base material. Can be. Examples of such a sheet-like substrate include glass fiber, paper, and aramid fiber. The filler includes an organic filler and an inorganic filler. Specific examples of the organic filler include a powder epoxy resin (for example, TEPIC), a melamine resin, a benzoguanamine resin, a urea resin, a crosslinked acrylic polymer, and the like. Specific examples of the inorganic filler include magnesium oxide, calcium carbonate, Zirconium silicate, zirconium oxide, calcium silicate, calcium hydroxide, silicon oxide and the like can be mentioned. In addition, as various additives, barium sulfate, silicon sulfide, talc, clay, bentonite, kaolin, glass fiber, carbon fiber,
Mica, filler such as asbestos, thixotropic agent such as Aerosil, phthalocyanine, phthalocyanine green,
Examples include coloring pigments such as phthalocyanine blue, titanium oxide and carbon black, flame retardants, flame retardant aids, defoamers, adhesion promoters, and leveling agents.

【0019】本発明において、基板を構成する絶縁基材
や、層間接着に用いる絶縁樹脂層および絶縁樹脂シート
は、低吸水率であることが好ましい。吸水率の範囲とし
ては、0.3%以下の範囲が好ましい。このようにすれ
ば、吸湿する水分量による組成物の誘電率、誘電正接の
変化を抑制し、高周波の信号の電送特性に再現性が失わ
れることを防止できる。
In the present invention, it is preferable that the insulating base material constituting the substrate, the insulating resin layer and the insulating resin sheet used for interlayer bonding have a low water absorption. The range of the water absorption is preferably 0.3% or less. In this way, the change in the dielectric constant and the dielectric loss tangent of the composition due to the amount of moisture absorbed can be suppressed, and loss of reproducibility in the transmission characteristics of high-frequency signals can be prevented.

【0020】本発明に係る配線板の製造方法において、
加熱加圧下で積層成形を行う際の条件は、たとえば、加
熱温度を100℃〜250℃、加熱圧力を10kg重/
cm 2〜60kg重/cm2、加熱時間を5分〜300分
とする。また、層間接着力を高めるため、以下の(i)
〜(iii)のようにすることもできる。 (i)加熱温度を100℃〜250℃、加熱圧力を10
kg重/cm2〜60kg重/cm2、加熱時間を10分
〜180分とする。 (ii)加熱温度を100℃〜200℃、より好ましく
は100℃〜150℃、加熱圧力を10kg重/cm2
〜60kg重/cm2、加熱時間を10分〜180分と
する条件で第一の加熱処理を行った後、加熱温度を15
0℃〜250℃、より好ましくは160℃〜250℃と
し、加熱圧力を10kg重/cm2〜60kg重/c
2、加熱時間を10分〜180分とする条件で第二の
加熱処理を行う。第二の加熱処理は第一の加熱処理より
も高い温度で処理することが好ましい。また、第二の加
熱処理は第一の加熱処理よりも長時間、処理することが
好ましい。 (iii) (ii)の処理の後、加熱温度を180℃
〜250℃、加熱圧力を10kg重/cm2〜60kg
重/cm2、加熱時間を10分〜180分とする条件で
第三の加熱処理を行う。
In the method for manufacturing a wiring board according to the present invention,
Conditions for performing laminating under heat and pressure include, for example,
Heating temperature 100 ° C ~ 250 ° C, heating pressure 10kgf /
cm Two~ 60kg weight / cmTwo, Heating time from 5 minutes to 300 minutes
And In order to enhance the interlayer adhesion, the following (i)
To (iii). (I) A heating temperature of 100 ° C. to 250 ° C. and a heating pressure of 10
kg weight / cmTwo~ 60kg weight / cmTwo10 minutes heating time
To 180 minutes. (Ii) a heating temperature of 100 ° C to 200 ° C, more preferably
Is 100 ° C to 150 ° C, heating pressure is 10kgf / cmTwo
~ 60kg weight / cmTwoAnd heating time from 10 minutes to 180 minutes
After performing the first heat treatment under the following conditions, the heating temperature is reduced to 15
0 ° C to 250 ° C, more preferably 160 ° C to 250 ° C
And the heating pressure is 10 kgf / cmTwo~ 60kg weight / c
mTwo, The second heating condition is 10 minutes to 180 minutes.
A heat treatment is performed. The second heat treatment is more than the first heat treatment
It is also preferable to perform the treatment at a high temperature. In addition, the second module
Heat treatment may be longer than the first heat treatment
preferable. (Iii) After the treatment of (ii), the heating temperature is set to 180 ° C.
~ 250 ° C, heating pressure 10kgf / cmTwo~ 60kg
Weight / cmTwoUnder the condition that the heating time is 10 minutes to 180 minutes.
A third heat treatment is performed.

【0021】上記の条件を採用することにより、層間接
着強度を充分に高くすることができる。特に(ii)や
(iii)のように多段階の工程とすれば、高い接着強
度を安定的に発現させることができる。また、2段階方
式、3段階方式で加熱することにより、加熱圧着時の積
層間のずれを最小にすることができる。
By adopting the above conditions, the interlayer adhesive strength can be sufficiently increased. In particular, if a multi-step process is performed as in (ii) or (iii), high adhesive strength can be stably exhibited. In addition, by heating in a two-stage system and a three-stage system, it is possible to minimize the displacement between the laminations during thermocompression bonding.

【0022】本発明の配線板の製造方法において、加熱
加圧下で積層成形する工程の前に、黒化処理を実施する
工程を行い、この工程の後、48時間以内に上記加熱加
圧下で積層成形する工程を行う構成とすることもでき
る。
In the method for manufacturing a wiring board of the present invention, a step of performing a blackening treatment is performed before the step of laminating under heat and pressure, and after this step, the step of laminating under the above heat and pressure is performed within 48 hours. It is also possible to adopt a configuration in which a molding step is performed.

【0023】銅箔などの配線層の表面をそのままの状態
にしておくと、加熱や吸湿により変質し、層間剥離等を
引き起こす原因となる。このようなトラブルを防止する
ため、酸化剤を用いて配線層表面に黒色酸化被膜を形成
させる黒化処理が有効となる。これにより、層間接着強
度が向上する。
If the surface of the wiring layer such as a copper foil is left as it is, it is degraded by heating or moisture absorption, causing delamination or the like. In order to prevent such troubles, a blackening treatment for forming a black oxide film on the surface of the wiring layer using an oxidizing agent is effective. Thereby, the interlayer adhesive strength is improved.

【0024】本発明においては、層間接着強度を向上さ
せるため、黒化処理以外の表面処理を行っても良い。
In the present invention, a surface treatment other than the blackening treatment may be performed in order to improve the interlayer adhesion strength.

【0025】ところで、上記のような黒化処理を行った
場合、処理プロセスによっては、製品ごとに層間接着強
度のばらつきが生じることがある。本発明において、黒
化処理後、48時間以内に積層成形を行うというプロセ
スを採用すれば、このような層間接着強度のばらつきを
顕著に低減することができる。
By the way, when the above-described blackening treatment is performed, the interlayer adhesion strength may vary from product to product depending on the treatment process. In the present invention, if a process of performing lamination molding within 48 hours after the blackening treatment is employed, such a variation in interlayer adhesive strength can be significantly reduced.

【0026】本発明における配線層や導電層の材料は、
導電性を有する金属及び非金属であれば使用できるが、
安価に入手できる材料として銅箔及び銅合金箔が好まし
い。銅箔及び銅合金箔の表面をNi、Zn、Cr、M
o、Co、In等による酸化防止皮膜を形成した箔が更
に好ましい。また、酸化防止及び十分なピール強度を得
る目的から、黒化処理、CZ処理、NBD処理、MD処
理等を行うことも好ましい。
The material of the wiring layer and the conductive layer in the present invention is:
It can be used if it is a conductive metal or non-metal,
Copper foil and copper alloy foil are preferable as materials that can be obtained at low cost. Ni, Zn, Cr, M on the surface of copper foil and copper alloy foil
A foil having an antioxidant film formed of o, Co, In or the like is more preferable. For the purpose of preventing oxidation and obtaining a sufficient peel strength, it is also preferable to perform blackening treatment, CZ treatment, NBD treatment, MD treatment and the like.

【0027】配線層に回路を形成する方法については特
に制限はない。たとえば、配線層に露光現像可能なドラ
イフィルム(旭化成(株)製等)をラミネートした後、
露光・硬化・現像後、塩化鉄溶液、塩化銅溶液等でエッ
チングすることにより回路形成することができる。
There is no particular limitation on the method of forming a circuit on the wiring layer. For example, after laminating a dry film (manufactured by Asahi Kasei Corporation) that can be exposed and developed on the wiring layer,
After exposure, curing, and development, a circuit can be formed by etching with an iron chloride solution, a copper chloride solution, or the like.

【0028】配線板の配線層の層数に制限はないが、4
層〜30層程度が好ましい。層数を多くする場合は、適
宜、基板(コア材)の数を増やすこともこともできる、
基板と絶縁層樹脂層を交互に積層配置し、これらを加熱
加圧下で成形すれば、所望の層数の配線板を得ることが
できる。
The number of wiring layers of the wiring board is not limited.
About 30 to 30 layers are preferable. When increasing the number of layers, the number of substrates (core materials) can be increased as appropriate.
If a board and an insulating resin layer are alternately laminated and formed under heat and pressure, a wiring board having a desired number of layers can be obtained.

【0029】絶縁層間の配線方法としては、基板をNC
ドリルで穴あけを行い、無電解メッキ、電解メッキによ
り導電性金属の皮膜を形成し配線することができる。C
2レーザー、エキシマレーザー等により、絶縁層樹脂
に穴あけを行い、無電解メッキ、電解メッキ等により導
電性金属の皮膜を形成することもできる。また、導電性
シートに導電性バンプを形成し、この上にプリプレグを
積層し、貫通・熱圧着により貫通形配線を形成すること
もできる。
As a wiring method between the insulating layers, the substrate may be NC
Drilling is performed, and a conductive metal film is formed by electroless plating or electrolytic plating, and wiring can be performed. C
The insulating layer resin may be perforated by an O 2 laser, an excimer laser, or the like, and a conductive metal film may be formed by electroless plating, electrolytic plating, or the like. Alternatively, a conductive bump may be formed on a conductive sheet, a prepreg may be laminated thereon, and a through-type wiring may be formed by through-bonding and thermo-compression bonding.

【0030】配線板形成後はプリント配線板の通常の方
法により製造できる。詳細には、ソルダーインキ(田村
化研製、太陽インキ製)の塗布、露光・硬化・現像後N
I−Auメッキ、Agメッキ、フラックス等の電極形
成、シルク印刷による部品等の表示を行うことが好まし
い。
After forming the wiring board, the printed wiring board can be manufactured by an ordinary method. In detail, after applying, exposing, curing and developing solder ink (manufactured by Tamura Kaken, Taiyo Ink)
It is preferable to perform electrode formation such as I-Au plating, Ag plating, and flux, and display parts and the like by silk printing.

【0031】[0031]

【実施例】以下、本発明を実施例により詳細に説明す
る。実施例中、Rmaxはスルーホール内面の光学顕微鏡
観察により測定した。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in detail with reference to embodiments. In the examples, Rmax was measured by observing the inner surface of the through hole with an optical microscope.

【0032】実施例1 コア層の表面および裏面に厚み18μmの銅箔が設けら
れた基板を用意した。コア層は、コア層全体に対して、
酸化珪素粒子50体積%、ガラスクロス25体積%、熱
硬化性樹脂25体積%を含有する構成となっている。熱
硬化性樹脂は、ポリブタジエン樹脂を主体とするもので
ある。コア層の厚みは約0.20mmである。
Example 1 A substrate having a copper foil having a thickness of 18 μm provided on the front and back surfaces of a core layer was prepared. The core layer, with respect to the entire core layer,
It is configured to contain 50% by volume of silicon oxide particles, 25% by volume of glass cloth, and 25% by volume of thermosetting resin. The thermosetting resin is mainly composed of a polybutadiene resin. The thickness of the core layer is about 0.20 mm.

【0033】この基板を500×400mmに切り出
し、10枚重ねにし、捨て板と当て板で挟み込みNC穴
あけ機(日立ビアメカニクス製、ドリル:東芝タンガロ
イ製)にセットし、直径0.4mmのドリル、直径2.
5mmのドリルを使用し穴あけ加工を行った。穴あけ条
件としては、直径0.4mmのドリルの回転数を10万
回転/分、周速125m/分、送り速度、0.8m/分
とした。直径2.5mmのドリルの回転数は、1.8万
回転/分、周速140m/分、送り速度0.18m/分
とした。ついで、デスミヤ、無電解銅メッキ、電解銅メ
ッキを行い、スルーホールを形成した。スルーホール形
成後、直径0.4mmと直径2.5mmのスルーホール
部の一部を切断し、表面形状を焦点顕微鏡により観察し
た。その結果、直径0.4mmのスルーホール内の表面
最大粗度(Rmax)は18μmであり、直径2.5mm
の内面粗度は、15μmであり、平滑な内壁表面であっ
た。
This substrate is cut into a size of 500 × 400 mm, stacked into 10 sheets, sandwiched between a discard plate and a backing plate, and set on an NC drilling machine (Hitachi Via Mechanics, drill: Toshiba Tungaloy). Diameter 2.
Drilling was performed using a 5 mm drill. The drilling conditions were as follows: a drill having a diameter of 0.4 mm was rotated at 100,000 rpm, a peripheral speed was 125 m / min, a feed speed was 0.8 m / min. The rotation speed of the drill having a diameter of 2.5 mm was 18,000 rotations / minute, the peripheral speed was 140 m / minute, and the feed speed was 0.18 m / minute. Next, desmearing, electroless copper plating, and electrolytic copper plating were performed to form through holes. After the formation of the through holes, a part of the through holes having a diameter of 0.4 mm and a diameter of 2.5 mm was cut, and the surface shape was observed with a focus microscope. As a result, the maximum surface roughness (R max ) in the through hole having a diameter of 0.4 mm was 18 μm, and the maximum roughness was 2.5 mm.
Had an inner surface roughness of 15 μm and a smooth inner wall surface.

【0034】次いで、バフ研磨、ソフトエッチングを行
いドライフィルム(サンフォートAQ−3058:旭化
成製)をラミネートした。露光機を使用し、あらかじめ
銀塩フィルムに信号ライン等の配線パターンを印刷した
フィルムを使いドライフィルムの露光を行った。その後
現像により不要なドライフィルムを除去し、エッチング
により不要な銅箔を除去し、次いでドライフィルムを除
去し回路形成した基板を作製した。その後ソルダーレジ
スト(田村化研製)塗布、露光・現像により、所定の電
極部のソルダーレジスト除去を行った。その後、Ni−
Auメッキを行い部品実装部の電極を作製した。
Next, buffing and soft etching were performed to laminate a dry film (Sunfort AQ-3058: manufactured by Asahi Kasei). The exposure of the dry film was performed using a film in which a wiring pattern such as a signal line was previously printed on a silver halide film using an exposure machine. Thereafter, an unnecessary dry film was removed by development, an unnecessary copper foil was removed by etching, and then the dry film was removed to prepare a circuit-formed substrate. Thereafter, the solder resist was removed from a predetermined electrode portion by applying a solder resist (manufactured by Tamura Kaken), exposing and developing. After that, Ni-
Au plating was performed to produce an electrode for the component mounting portion.

【0035】製造した基板は、はがれフクレもなく良好
な基板が得られた。基板の信頼性評価として、熱衝撃試
験(260℃20秒と25℃20秒の繰り返し試験)を
400回行った結果、信号回路の抵抗の変化率0.1%
未満でありスルーホールの導電接続信頼性が十分に反映
された基板であった。また出来た基板を煮沸し吸湿後半
田槽に288℃10秒間浸漬した半田耐熱試験を実施し
た結果、はがれ膨れが見られず、部品実装特性について
も十分な特性を有していた。スルーホールの内壁表面粗
度(Rmax)が50μm以下のスルーホールを形成した
ことにより、層間の導電信頼性が十分なプリント配線板
が得られた。
A good substrate was obtained from the manufactured substrate without peeling. As a reliability evaluation of the substrate, a thermal shock test (repeated test of 260 ° C. for 20 seconds and 25 ° C. for 20 seconds) was performed 400 times, and as a result, the rate of change of the resistance of the signal circuit was 0.1%.
It was less than that, and the substrate sufficiently reflected the conductive connection reliability of the through hole. Further, as a result of performing a soldering heat test in which the formed substrate was boiled and absorbed and then immersed in a solder bath at 288 ° C. for 10 seconds, no peeling and swelling was observed, and the component mounting characteristics were sufficient. By forming a through hole having an inner wall surface roughness (R max ) of 50 μm or less, a printed wiring board with sufficient inter-layer conductive reliability was obtained.

【0036】実施例2 コア層の表面および裏面に厚み18μmの銅箔が設けら
れたコア材(基板)を用意した。コア層は、コア層全体
に対して、酸化珪素粒子50体積%、ガラスクロス25
体積%、熱硬化性樹脂25体積%を含有する構成となっ
ている。熱硬化性樹脂は、熱硬化性樹脂は、ポリブタジ
エン樹脂を主体とするものである。コア層の厚みは約
0.20mmである。
Example 2 A core material (substrate) having an 18 μm-thick copper foil provided on the front and back surfaces of a core layer was prepared. The core layer is composed of 50% by volume of silicon oxide particles and glass cloth 25 with respect to the entire core layer.
The composition contains 25% by volume and 25% by volume of a thermosetting resin. The thermosetting resin is mainly composed of a polybutadiene resin. The thickness of the core layer is about 0.20 mm.

【0037】基板を500mm×400mmに切り出
し、バフ研磨、ソフトエッチングを行いドライフィルム
(サンフォートAQ−3058:旭化成製)をラミネー
トした。露光機を使用し、あらかじめ銀塩フィルムに信
号ライン等の配線パターンを印刷したフィルムを使いド
ライフィルムの露光を行った。その後現像により不要な
ドライフィルムを除去し、エッチングにより不要な銅箔
を除去し、ついでドライフィルムを除去して、回路形成
した基板を作製した。ついで、黒化還元処理により、銅
箔の表面層を還元処理した。
The substrate was cut into a size of 500 mm × 400 mm, subjected to buffing and soft etching, and laminated with a dry film (Sunfort AQ-3058: manufactured by Asahi Kasei). The exposure of the dry film was performed using a film in which a wiring pattern such as a signal line was previously printed on a silver halide film using an exposure machine. Thereafter, the unnecessary dry film was removed by development, the unnecessary copper foil was removed by etching, and then the dry film was removed to produce a circuit-formed substrate. Next, the surface layer of the copper foil was subjected to a reduction treatment by a blackening reduction treatment.

【0038】つづいて樹脂組成物の熱硬化前のBステー
ジ樹脂(プリプレグ)、500mm×400mm、厚み
0.1mmを用意し、該回路形成したコア基板2枚の内
側にプリプレグ2枚使用し積層を行い、熱プレス機によ
り、180℃、30kg/cm2、2時間加熱圧着し
た。
Subsequently, a B-stage resin (prepreg) having a size of 500 mm × 400 mm and a thickness of 0.1 mm before the thermosetting of the resin composition was prepared, and two prepregs were used inside the two core substrates on which the circuit was formed to laminate. Then, it was heated and pressed by a hot press at 180 ° C. and 30 kg / cm 2 for 2 hours.

【0039】得られた基材をNCドリル(NC:日立ビ
アメカニクス製、ドリル:東芝タンガロイ製)により、
0.5mm、1mm、2mm径の穴あけを行い、デスミ
ア処理、無電解メッキと電解メッキにより厚み20μm
銅メッキを行った。NCドリルの条件は以下のようにし
た。 (i)直径0.5mmの穴あけ 8万回転/分、周速125m/分 (ii)直径1mmの穴あけ 4万回転/分、周速125m/分 送り速度:0.8m/分 (iii)直径2mmの穴あけ 2万回転/分、周速125m/分 送り速度:0.18m/分 銅メッキ後のスルーホールをモデル的に切断し断面を顕
微鏡により内面表面粗度を測定した結果、最大表面粗度
(Rmax)は、直径0.5mmスルーホールは18μ
m、直径1mmは15μm、直径2mmは、12μmで
あった。その後、基材の銅表面をバフ研磨及びソフトエ
ッチングを実施後、ドライフィルム(サンフォートAQ
−3058:旭化成製)をラミネート後、基板の回路を
印刷した銀塩フィルムを使用して露光を行い、その後、
現像により不要なドライフィルム除去しエッチングによ
り銅箔の除去および硬化したドライフィルムの除去を行
い、所定の回路形成を行った。その後ソルダーレジスト
(田村化研製)塗布、露光・現像により、所定の電極部
のソルダーレジスト除去を行った。その後、Ni−Au
メッキを行い部品実装部の電極を作製した。製造した基
板は、はがれフクレもなく良好な基板が得られた。基板
の信頼性評価として、熱衝撃試験(260℃20秒と2
5℃20秒の繰り返し試験)を400回行った結果、信
号回路の抵抗の変化率0.1%未満でありスルーホール
の導電接続信頼性が十分に反映された基板であった。ま
た出来た基板を煮沸し吸湿後半田槽に288℃10秒間
浸漬した半田耐熱試験を実施した結果、はがれ膨れが見
られず、部品実装特性についても十分な特性を有してい
た。スルーホールの内壁表面粗度(Rmax)が、50μ
m以下であったことから、層間の導電接続信頼性を有す
るには、十分な特性であった。
The obtained substrate was subjected to NC drilling (NC: manufactured by Hitachi Via Mechanics, drill: Toshiba Tungaloy).
Drill 0.5mm, 1mm, 2mm diameter, 20μm thick by desmearing, electroless plating and electrolytic plating
Copper plating was performed. The conditions of the NC drill were as follows. (i) Drilling 0.5 mm diameter 80,000 revolutions / min, peripheral speed 125 m / min (ii) Drilling 1 mm diameter 40,000 revolutions / min, peripheral speed 125 m / min Feeding speed: 0.8 m / min (iii) Diameter Drilling of 2mm 20,000 rotations / min, peripheral speed 125m / min Feeding speed: 0.18m / min The through hole after copper plating was modeled and the cross section was measured with a microscope for inner surface roughness. The degree (R max ) is 0.5μ in diameter and 18μ in through hole.
m, 1 mm in diameter was 15 μm, and 2 mm in diameter was 12 μm. Then, after buffing and soft etching the copper surface of the base material, dry film (Sunfort AQ)
-3058: manufactured by Asahi Kasei), and then exposed using a silver halide film on which the circuit of the substrate was printed.
Unnecessary dry film was removed by development, copper foil was removed by etching, and cured dry film was removed, and a predetermined circuit was formed. Thereafter, the solder resist was removed from a predetermined electrode portion by applying a solder resist (manufactured by Tamura Kaken), exposing and developing. Then, Ni-Au
Plating was performed to produce an electrode for the component mounting portion. A good substrate without peeling was obtained from the manufactured substrate. A thermal shock test (260 ° C. for 20 seconds and 2
(Repetition test at 5 ° C. for 20 seconds) was performed 400 times. As a result, the substrate had a change rate of the resistance of the signal circuit of less than 0.1% and sufficiently reflected the reliability of the conductive connection of the through hole. Further, as a result of performing a soldering heat test in which the formed substrate was boiled and absorbed and then immersed in a solder bath at 288 ° C. for 10 seconds, no peeling and swelling was observed, and the component mounting characteristics were sufficient. The inner wall surface roughness (R max ) of the through hole is 50μ
m or less, the characteristics were sufficient to have the reliability of conductive connection between layers.

【0040】実施例3〜5 実施例1と同様のコア材(基板)を使用した。回路形成
したコア材の枚数を変更し、それに伴いプリプレグの枚
数を変更し、またNC穴あけ条件を変更した以外は、実
施例2と同様な方法によりプリント回路基板を製造し
た。製造条件とNCドリルの条件及びスルーホール内壁
面の表面粗度の測定結果を第1表に示す。信頼性評価と
して、実施例1同様に熱衝撃試験と半田耐熱試験を実施
した結果、電気抵抗の変化率0.1%未満で、半田ふく
れはがれのない信頼性の高い基板であった。スルーホー
ル内壁面の表面粗度(Rmax)が、50μm以下の平滑
な表面が得られた結果、層間の導通信頼性の優れるプリ
ント回路基板であった。
Examples 3 to 5 The same core material (substrate) as in Example 1 was used. A printed circuit board was manufactured in the same manner as in Example 2 except that the number of core members formed with circuits was changed, the number of prepregs was changed accordingly, and the conditions for drilling NC were changed. Table 1 shows the manufacturing conditions, the conditions of the NC drill, and the measurement results of the surface roughness of the inner wall surface of the through hole. As a reliability evaluation, a thermal shock test and a solder heat resistance test were carried out in the same manner as in Example 1. As a result, the change in electric resistance was less than 0.1%, and the substrate was highly reliable without solder blistering. As a result of obtaining a smooth surface having a surface roughness (R max ) of 50 μm or less on the inner wall surface of the through hole, the printed circuit board had excellent conduction reliability between layers.

【0041】[0041]

【表1】 [Table 1]

【0042】比較例1 実施例1同様のコア材を使用した。NC穴あけ機(日立
ビアメカニクス製、ドリル:東芝タンガロイ製)を使用
し、0.5mm、1mm、2mm径の穴あけ加工を行っ
た。ドリル条件は以下のようにした。 (i)直径0.5mmの穴あけ 回転数160,000回転/分 週速度250m/分 送り速度1.6m/分 (ii)直径1mmの穴あけ 回転数80,000回転/分 周速度250m/分 送り速度1.6m/分 (iii)直径2mmの穴あけ 回転数40,000回転/分 周速度250m/分 送り速度0.36m/分 実施例1同様に、デスミア処理およびめっき処理を行い
スルーホールを作製した。実施例1と同様にスルーホー
ル部で基板を裁断し、スルーホール部の内壁表面粗度R
maxを観察した結果、直径0.5mmで75μm、直径
1mmで95μm、直径2mmで105μmであり、内
壁面の平滑性が悪い状態であった。次いで、実施例1同
様に回路形成した。スルーホールの信頼性試験として、
実施例1同様に、熱衝撃試験とハンダ耐熱試験をおこな
った。熱衝撃試験の結果、400回実施後の初期抵抗値
からの変化率は、10%の抵抗の増加が見られ、信頼性
に欠ける結果であった。ハンダ耐熱試験では特に異常は
見られなかった。スルーホール内壁面の表面粗度50μ
mを超える平滑度であることにより、層間の導通信頼性
の乏しいプリント配線板となっていた。
Comparative Example 1 The same core material as in Example 1 was used. Using an NC drilling machine (Hitachi Via Mechanics, drill: Toshiba Tungaloy), drilling of 0.5 mm, 1 mm, and 2 mm diameter was performed. The drill conditions were as follows. (i) Drilling of 0.5 mm diameter Rotation speed of 160,000 rotations / minute Weekly speed of 250 m / min Feeding speed of 1.6 m / min (ii) Drilling of 1 mm diameter Rotation speed of 80,000 rotations / minute Circumferential speed of 250 m / min Feeding Speed: 1.6 m / min (iii) Drilling of 2 mm diameter Rotation speed: 40,000 revolutions / min Circumferential speed: 250 m / min Feeding speed: 0.36 m / min As in Example 1, desmearing and plating are performed to create through holes. did. The substrate is cut at the through hole in the same manner as in Example 1, and the inner wall surface roughness R of the through hole is cut.
As a result of observing the maximum , it was 75 μm at a diameter of 0.5 mm, 95 μm at a diameter of 1 mm, and 105 μm at a diameter of 2 mm, indicating that the smoothness of the inner wall surface was poor. Next, a circuit was formed in the same manner as in Example 1. As a through hole reliability test,
As in Example 1, a thermal shock test and a solder heat resistance test were performed. As a result of the thermal shock test, the rate of change from the initial resistance value after 400 times was increased by 10%, and the reliability was poor. No abnormalities were found in the solder heat test. Surface roughness of the inner wall surface of the through hole 50μ
m, the printed wiring board had poor conduction reliability between layers.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ス
ルーホール内部の平坦性が改善され、ホール内のめっき
厚が均一となり、配線版の各層間の導通信頼性が向上す
る。
As described above, according to the present invention, the flatness inside the through hole is improved, the plating thickness inside the hole becomes uniform, and the reliability of conduction between the layers of the wiring plate is improved.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中山 一郎 神奈川県厚木市戸室五丁目32番1号 株式 会社プリンテック内 (72)発明者 藪内 広一 千葉県袖ヶ浦市長浦580−32 三井化学株 式会社内 (72)発明者 上原 義人 千葉県袖ヶ浦市長浦580−32 三井化学株 式会社内 Fターム(参考) 5E346 AA02 AA06 AA43 BB16 CC04 CC08 CC46 DD25 DD32 DD48 EE09 EE20 FF15 GG15 GG17 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Ichiro Nakayama 5-32-1, Tomuro, Atsugi-shi, Kanagawa Prefecture Inside Printtech Co., Ltd. (72) Inventor Hiroichi Yabuuchi 580-32 Nagaura Sodegaura-shi, Chiba Mitsui Chemicals (72) Inventor Yoshito Uehara 580-32 Nagaura, Sodegaura-shi, Chiba F-term in Mitsui Chemicals Co., Ltd.

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁基材の両面に配線層を備えた基板中
に、金属めっき膜で表面を覆われたスルーホールが設け
られた配線板であって、該スルーホールの内壁表面最大
粗度Rmaxが50μm以下であることを特徴とする配線
板。
1. A wiring board provided with a through hole whose surface is covered with a metal plating film in a substrate provided with wiring layers on both surfaces of an insulating base material, wherein the maximum roughness of the inner wall surface of the through hole is provided. A wiring board, wherein R max is 50 μm or less.
【請求項2】 絶縁基材の両面に配線層を備えた基板
と、回路パターンの設けられた導電層または絶縁基材の
両面に配線層を備えた他の基板とが、シート状基材に熱
硬化性樹脂を含浸させた絶縁樹脂層を介して積層してな
る配線板であって、該配線板中に、金属めっき膜で表面
を覆われたスルーホールが設けられ、該スルーホールの
内壁表面最大粗度Rmaxが50μm以下であることを特
徴とする配線板。
2. A sheet-like base material comprising: a substrate provided with wiring layers on both surfaces of an insulating base material; and a conductive layer provided with a circuit pattern or another substrate provided with wiring layers on both surfaces of the insulating base material. A wiring board laminated via an insulating resin layer impregnated with a thermosetting resin, wherein a through hole whose surface is covered with a metal plating film is provided in the wiring board, and an inner wall of the through hole is provided. A wiring board having a maximum surface roughness R max of 50 μm or less.
【請求項3】 請求項2に記載の配線板において、前記
絶縁樹脂層は、ポリブタジエンまたはポリイソプレンを
含むことを特徴とする配線板。
3. The wiring board according to claim 2, wherein the insulating resin layer contains polybutadiene or polyisoprene.
【請求項4】 請求項2または3に記載の配線板におい
て、前記絶縁樹脂層は、酸化珪素粒子5〜60体積%お
よびガラスクロス10〜40体積%を含有することを特
徴とする配線板。
4. The wiring board according to claim 2, wherein the insulating resin layer contains 5 to 60% by volume of silicon oxide particles and 10 to 40% by volume of glass cloth.
【請求項5】 請求項1乃至4いずれかに記載の配線板
において、前記絶縁基材が、ポリブタジエンまたはポリ
イソプレンを含むことを特徴とする配線板。
5. The wiring board according to claim 1, wherein said insulating base material contains polybutadiene or polyisoprene.
【請求項6】 絶縁基材の両面に配線層を備えた基板中
に、NCドリルを用いてスルーホールを形成した後、該
スルーホールを金属めっきする工程を含む配線板の製造
方法であって、金属めっき後のスルーホールの内壁表面
最大粗度Rma xを50μm以下とすることを特徴とする
配線板の製造方法。
6. A substrate provided with wiring layers on both surfaces of an insulating base material.
After forming a through hole using an NC drill,
Manufacture of wiring boards including the step of metal plating through holes
The method, wherein the inner wall surface of the through hole after metal plating
Maximum roughness Rma xIs not more than 50 μm
Manufacturing method of wiring board.
【請求項7】 絶縁基材の両面に配線層を備えた基板
と、回路パターンの設けられた導電層または絶縁基材の
両面に配線層を備えた他の基板とを、シート状基材に熱
硬化性樹脂を含浸させたBステージ状態の絶縁樹脂シー
トを介して積層成形した後、得られた積層体中にNCド
リルを用いてスルーホールを形成し、該スルーホールを
金属めっきする工程を含む配線板の製造方法であって、
金属めっき後のスルーホールの内壁表面最大粗度Rmax
が50μm以下とすることを特徴とする配線板の製造方
法。
7. A sheet-like base material comprising: a substrate provided with wiring layers on both sides of an insulating base material; and a conductive layer provided with a circuit pattern or another substrate provided with wiring layers on both sides of the insulating base material. After laminating and molding through an insulating resin sheet in a B-stage state impregnated with a thermosetting resin, a through-hole is formed in the obtained laminate using an NC drill, and the through-hole is metal-plated. A method for manufacturing a wiring board, comprising:
Inner wall surface maximum roughness R max of through hole after metal plating
Is not more than 50 μm.
【請求項8】 請求項7に記載の配線板の製造方法にお
いて、前記絶縁樹脂シートは、ポリブタジエンまたはポ
リイソプレンを含むことを特徴とする配線板の製造方
法。
8. The method for manufacturing a wiring board according to claim 7, wherein the insulating resin sheet contains polybutadiene or polyisoprene.
【請求項9】 請求項6乃至8いずれかに記載の配線板
の製造方法において、前記絶縁基材が、ポリブタジエン
またはポリイソプレンを含むことを特徴とする配線板の
製造方法。
9. The method for manufacturing a wiring board according to claim 6, wherein said insulating base material contains polybutadiene or polyisoprene.
【請求項10】 請求項6乃至9いずれかに記載の配線
板の製造方法において、NCドリルの周速度を150m
/分以下、NCドリルの送り速度を1.0m/分以下と
することを特徴とする配線板の製造方法。
10. The method for manufacturing a wiring board according to claim 6, wherein the peripheral speed of the NC drill is set to 150 m.
A method for manufacturing a wiring board, wherein the feed rate of an NC drill is 1.0 m / min or less.
【請求項11】 請求項6乃至10いずれかに記載の配
線板の製造方法において、直径2mm以上のスルーホー
ルを形成する際、NCドリルの周速度を150m/分以
下、NCドリルの送り速度0.2m/分以下とすること
を特徴とする配線板の製造方法。
11. The method for manufacturing a wiring board according to claim 6, wherein when forming a through hole having a diameter of 2 mm or more, the peripheral speed of the NC drill is 150 m / min or less, and the feed speed of the NC drill is 0. .2 m / min or less.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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