JP2002288048A - One chip micro-controller and system thereof - Google Patents

One chip micro-controller and system thereof

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JP2002288048A
JP2002288048A JP2001092997A JP2001092997A JP2002288048A JP 2002288048 A JP2002288048 A JP 2002288048A JP 2001092997 A JP2001092997 A JP 2001092997A JP 2001092997 A JP2001092997 A JP 2001092997A JP 2002288048 A JP2002288048 A JP 2002288048A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a one chip micro-controller and a system thereof capable accurately diagnosing normality and abnormality of a memory. SOLUTION: After a logic part 2 of the micro-controller 1 writes a first check data 55H on an address for carrying out a diagnosis of an internal RAM 4, it writes a second check data AAH on a reversal address in which the highest level bit from the lowest level bit of the diagnosis address are reversed every by one bit. Thereafter, a check data written in the diagnosis address is read out and it is judged whether or not the read out check data is the first check data 55H.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、同一半導体チップ
内にプロセッサとメモリとを備えたワンチップマイクロ
コントローラ及びそのシステムに関し、特に、メモリの
状態を正確に診断できるワンチップマイクロコントロー
ラ及びそのシステムに関する。
The present invention relates to a one-chip microcontroller having a processor and a memory in the same semiconductor chip and a system thereof, and more particularly to a one-chip microcontroller capable of accurately diagnosing a state of a memory and a system thereof. .

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、鉄道交通等の高い安全性が要求さ
れるシステムの制御を行う場合、例えばバス同期2重系
装置を使用してシステムの信頼性を高めることが行われ
ている。前記バス同期2重系装置は、例えば、外部メモ
リ等がバス接続された互いに同期して動作する2つのC
PU(Central Processing Uni
t)と、前記CPUと外部メモリとを繋ぐバスに接続さ
れる1つのフェールセーフ照合回路と、を備えて構成さ
れる。
2. Description of the Related Art Conventionally, when controlling a system requiring high safety such as railway traffic, it has been practiced to improve the reliability of the system by using, for example, a bus synchronous double system device. The bus synchronous dual system includes, for example, two C buses connected to an external memory or the like and operating in synchronization with each other.
PU (Central Processing Uni)
t) and one fail-safe verification circuit connected to the bus connecting the CPU and the external memory.

【0003】このような構成のバス同期2重系装置にお
ける外部メモリの故障診断は、CPUによりメモリチェ
ック用データを外部メモリに対して書き込み、読み出し
することによって行われる。すなわち、CPUが外部メ
モリに対してメモリチェック用データの読み書きを行う
ときにフェールセーフ照合回路が各系のバスに流れる前
記メモリチェック用データを取り込み、取り込んだ各系
のデータが一致していれば外部メモリは正常、不一致な
らば外部メモリは異常であると判定する。
The failure diagnosis of the external memory in the bus synchronous duplex system having such a configuration is performed by writing and reading memory check data to and from the external memory by the CPU. That is, when the CPU reads / writes the memory check data from / to the external memory, the fail-safe verification circuit fetches the memory check data flowing through the bus of each system, and if the fetched data of each system matches. It is determined that the external memory is normal, and if they do not match, the external memory is abnormal.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年のLS
I技術の発展により、半導体回路の高集積化が可能とな
り、CPU、メモリ及び各種周辺機能を1チップ内に集
積化したワンチップマイクロコントローラが実現できる
ようになった。しかしながら、前記ワンチップマイクロ
コントローラでは、CPUとメモリとが同一チップ内に
形成されるため、バスに流れるデータを直接取り出すこ
とができず、上述のようなバス同期2重系装置で適用さ
れる方法でメモリの故障診断を行うことができない。し
たがって、例えばCPUが指定したアドレスにアクセス
できず、それ以外のアドレスにアクセスしてしまうよう
な場合でもその様な故障を発見できなかった。
The recent LS
With the development of I technology, high integration of semiconductor circuits has become possible, and a one-chip microcontroller in which a CPU, a memory, and various peripheral functions have been integrated in one chip has been realized. However, in the one-chip microcontroller, since the CPU and the memory are formed in the same chip, the data flowing on the bus cannot be directly taken out, and the method applied to the bus synchronous dual system as described above. Can not diagnose the memory failure. Therefore, for example, even when the CPU cannot access the address specified and accesses another address, such a failure cannot be found.

【0005】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
ので、メモリの正常、異常を正確に診断できるワンチッ
プマイクロコントローラ及びそのシステムを提供するこ
とを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a one-chip microcontroller capable of accurately diagnosing a normal or abnormal state of a memory and a system thereof.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】このため、請求項1に係
る発明は、アドレス毎にデータを記憶するメモリと、該
メモリにアクセスして動作するプロセッサと、を同一半
導体チップ内に備えたワンチップマイクロコントローラ
において、前記プロセッサは、前記メモリの診断を行う
アドレスに第1チェックデータを書き込んだ後、前記診
断アドレスと異なる少なくとも1つのアドレスに前記第
1チェックデータと異なる第2チェックデータを書き込
むチェックデータ書き込み手段と、前記診断アドレスに
書き込まれているチェックデータを読み出すチェックデ
ータ読み出し手段と、該チェックデータ読み出し手段で
読み出したチェックデータが、前記診断アドレスに書き
込んだ第1チェックデータと一致するか否かを判定し、
一致のときに正常、不一致のときに異常であると判定す
る判定手段と、を備えて構成した。
For this reason, the present invention according to a first aspect of the present invention provides a one-piece semiconductor device having a memory for storing data for each address and a processor operating by accessing the memory in the same semiconductor chip. In the chip microcontroller, the processor writes first check data to an address for performing a diagnosis of the memory, and then writes a second check data different from the first check data to at least one address different from the diagnostic address. Data write means, check data read means for reading check data written to the diagnostic address, and whether the check data read by the check data read means matches the first check data written to the diagnostic address Judge
A determination unit that determines that the state is normal when the values match and determines an abnormality when the values do not match.

【0007】かかる構成では、プロセッサがメモリの診
断アドレスに正しくアクセスできていない場合、診断ア
ドレスから読み出したチェックデータが診断アドレスに
書き込んだ第1チェックデータと一致しなくなる。ま
た、請求項2に記載の発明では、前記チェックデータ書
き込み手段は、前記診断アドレスのいずれか1つのビッ
トを反転させたアドレスに前記第2チェックデータを書
き込む構成とした。
In such a configuration, if the processor cannot correctly access the diagnostic address of the memory, the check data read from the diagnostic address does not match the first check data written to the diagnostic address. Further, in the invention according to claim 2, the check data writing means writes the second check data to an address obtained by inverting any one bit of the diagnostic address.

【0008】かかる構成では、メモリのアドレスを指定
する隣り合うアドレスラインのうち予め定められた2本
のアドレスラインが接触した場合等にプロセッサが他の
アドレスを診断アドレスと見誤ってアクセスしてしまう
ようなメモリの異常を発見できるようになる。また、請
求項3に記載の発明では、前記チェックデータ書き込み
手段は、前記診断アドレスの最下位ビットから最上位ビ
ットまでを1ビットずつ反転させた複数のアドレスに前
記第2チェックデータを書き込む構成とした。
In such a configuration, when two predetermined address lines out of adjacent address lines for designating a memory address come into contact with each other, the processor mistakenly accesses another address as a diagnostic address and accesses the address. It will be possible to discover such memory abnormalities. Further, in the invention according to claim 3, the check data writing means writes the second check data into a plurality of addresses obtained by inverting a least significant bit to a most significant bit of the diagnostic address one bit at a time. did.

【0009】かかる構成では、メモリのアドレスを指定
する隣り合うアドレスラインのうちいずれか2本のアド
レスラインが接触した場合等にプロセッサが他のアドレ
スを診断アドレスと見誤ってアクセスしてしまうような
メモリの異常を発見できるようになる。また、請求項4
に記載の発明では、前記第1チェックデータに基づく判
定結果が正常であると判定された後、前記診断アドレス
と前記少なくとも1つのアドレスに書き込むチェックデ
ータを入れ替えて書き込み、前記診断アドレスからチェ
ックデータを読み出し、読み出したチェックデータが前
記第2チェックデータと一致するか否かを判定する構成
とした。
In such a configuration, when any two address lines out of adjacent address lines for designating a memory address come into contact with each other, the processor may mistakenly access another address as a diagnostic address and access it. You will be able to discover memory anomalies. Claim 4
In the invention described in the above, after it is determined that the determination result based on the first check data is normal, the diagnostic address and the check data to be written to the at least one address are replaced and written, and check data is written from the diagnostic address. The read check data is configured to determine whether the read check data matches the second check data.

【0010】かかる構成では、プロセッサは、診断アド
レスに第1チェックデータを書き込んだ後、当該診断ア
ドレスと異なる少なくとも1つのアドレスに第2チェッ
クデータを書き込む。そして、チェックアドレスから読
み出したチェックデータが第1チェックデータであるか
否かを判定する。次に、プロセッサは、診断アドレスに
第2チェックデータを書き込んだ後、前記少なくとも1
つのアドレスに第1チェックデータを書き込む。そし
て、チェックアドレスから読み出したチェックデータが
第2チェックデータであるか否かを判定する。
In this configuration, the processor writes the first check data to the diagnostic address and then writes the second check data to at least one address different from the diagnostic address. Then, it is determined whether or not the check data read from the check address is the first check data. Next, the processor writes the second check data to the diagnostic address, and then writes the second check data to the diagnostic address.
First check data is written to two addresses. Then, it is determined whether the check data read from the check address is the second check data.

【0011】また、請求項5に記載の発明では、互いに
同期して動作する請求項1〜4に記載の2つのワンチッ
プマイクロコントローラを備え、各コントローラのプロ
セッサは、判定手段によって一致と判定されたとき、診
断アドレスから読み出したチェックデータ及び当該診断
アドレスに記憶されていた本来のデータを他方のコント
ローラへ出力する出力手段と、他方の出力手段から入力
された前記チェックデータ及び本来のデータを、自身の
診断アドレスから読み出したチェックデータ及び本来の
データとそれぞれ照合し、一致のときに正常、不一致の
ときに異常であると判定する照合手段と、を備えて構成
した。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the two one-chip microcontrollers according to the first to fourth aspects, which operate in synchronization with each other, and the processor of each controller is determined to be coincident by the determination means. When the check data read from the diagnostic address and the original data stored at the diagnostic address are output to the other controller, the check data and the original data input from the other output means are A check unit that checks each of the check data and the original data read from its own diagnostic address, and determines that the data is normal if the data matches and is abnormal if the data does not match.

【0012】かかる構成では、自身で読み出したチェッ
クデータと他方で読み出したチェックデータとを照合す
ることで他方のプロセッサの診断機能が正常であるか否
かを確認できるようになる。また、自身の診断アドレス
の本来のデータと他方の診断アドレスの本来のデータと
を照合することでプロセッサがお互いに同じアドレスを
診断しているか否かを確認できるようになる。
With this configuration, it is possible to confirm whether the diagnostic function of the other processor is normal by comparing the check data read by itself with the check data read by the other processor. Also, by comparing the original data of the own diagnostic address with the original data of the other diagnostic address, it becomes possible to confirm whether or not the processors have diagnosed the same address.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図1は、本発明に係るワンチップ
マイクロコントローラの一実施形態を示したブロック図
である。図1において、ワンチップマイクロコントロー
ラ1は、論理部2を備えたプロセッサ3と、データをア
ドレス毎に記憶するメモリとしてのRAM4と、外部装
置5とデータの授受を行うためのI/Oポート6と、を
同一半導体チップ内に備えて構成される。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of a one-chip microcontroller according to the present invention. In FIG. 1, a one-chip microcontroller 1 includes a processor 3 having a logic unit 2, a RAM 4 as a memory for storing data for each address, and an I / O port 6 for exchanging data with an external device 5. And are provided in the same semiconductor chip.

【0014】また、論理部2、RAM4及びI/Oポー
ト6は、内部バス7によって電気的に接続されている。
前記論理部2は、RAM4にアクセスしてRAM4に記
憶されているデータの処理を行ったりしてコントローラ
1の動作を制御すると共に、後述するようにしてRAM
4の診断を行う。
The logic unit 2, RAM 4, and I / O port 6 are electrically connected by an internal bus 7.
The logic unit 2 controls the operation of the controller 1 by accessing the RAM 4 and processing data stored in the RAM 4, and also controls the operation of the RAM 1 as described later.
Diagnose 4

【0015】図2は、診断される前のRAM4の概念図
であり、図3は診断中のRAM4の概念図である。例え
ばRAM4は、図2及び図3に示すように、8ビットの
データが書き込めるアドレス0000b〜1111bを
有するものとする。このようなRAM4において例えば
アドレス0110bを診断する場合の論理部2の動作に
ついて図3及び図4、図5のフローチャートを参照しな
がら説明する。
FIG. 2 is a conceptual diagram of the RAM 4 before diagnosis, and FIG. 3 is a conceptual diagram of the RAM 4 during diagnosis. For example, it is assumed that the RAM 4 has addresses 0000b to 1111b in which 8-bit data can be written, as shown in FIGS. The operation of the logic unit 2 when diagnosing, for example, the address 0110b in the RAM 4 will be described with reference to the flowcharts of FIGS. 3, 4, and 5.

【0016】ステップ1(図中S1で示し、以下同様と
する)において、診断アドレス0110bにアドレスデ
ータが書き込まれているか否かを判定する。判定の結
果、YESの場合は、ステップ2の動作に進み、NOの
場合は、ステップ2の動作を行わずにステップ3の動作
に進む。ステップ2において、診断アドレス0110b
のアドレスデータを例えば待避用アドレス1010bに
移す。
In step 1 (indicated by S1 in the figure, the same applies hereinafter), it is determined whether or not address data has been written to the diagnostic address 0110b. If the result of the determination is YES, the operation proceeds to the operation of step 2; if NO, the operation proceeds to the operation of step 3 without performing the operation of step 2. In step 2, the diagnostic address 0110b
Is moved to, for example, a save address 1010b.

【0017】ステップ3において、診断アドレス011
0bに第1チェックデータ55Hを書き込む(Hは16
進数を表す)。ステップ4において、診断アドレス01
10bの最下位ビットを反転させた反転アドレス011
1bにアドレスデータが書き込まれているか否かを判定
する。判定の結果、YESの場合はステップ5の動作に
進み、NOの場合はステップ5の動作を行わずにステッ
プ6の動作に進む。
In step 3, the diagnostic address 011
0b is written with the first check data 55H (H is 16
Hex). In step 4, the diagnostic address 01
Inversion address 011 in which the least significant bit of 10b is inverted
It is determined whether address data has been written to 1b. If the result of the determination is YES, the operation proceeds to the operation of step 5, and if NO, the operation proceeds to the operation of step 6 without performing the operation of step 5.

【0018】ステップ5において、反転アドレス011
1bに書き込まれているアドレスデータを例えば待避用
アドレス1001bに移す。ステップ6において、反転
アドレス0111bに第2チェックデータAAHを書き
込む。ステップ7〜ステップ15において、診断アドレ
ス0110bの最下位から2ビット目を反転させた反転
アドレス0100b、3ビット目を反転させた反転アド
レス0010b及び最上位ビットを反転させた反転アド
レス1110bについてそれぞれステップ4〜ステップ
6と同じ動作を行う。
In step 5, the inverted address 011
The address data written in 1b is moved to, for example, a save address 1001b. In step 6, the second check data AAH is written to the inverted address 0111b. In Steps 7 to 15, the inversion address 0100b obtained by inverting the second bit from the least significant bit of the diagnostic address 0110b, the inversion address 0010b obtained by inverting the third bit, and the inversion address 1110b obtained by inverting the most significant bit are described in Step 4 respectively. The same operation as Step 6 is performed.

【0019】このように、ステップ3、ステップ6、ス
テップ9、ステップ12及びステップ15がチェックデ
ータ書き込み手段の機能を奏する。ステップ16におい
て、診断アドレス0110bに書き込まれているチェッ
クデータを読み出す。このように、ステップ16がチェ
ックデータ読み出し手段の機能を奏する。
As described above, steps 3, 6, 9, 9, and 15 function as a check data writing unit. In step 16, the check data written in the diagnostic address 0110b is read. Thus, step 16 functions as the check data reading means.

【0020】ステップ17において、待避用アドレスに
移したアドレスデータを元のアドレスに書き戻す。ステ
ップ18において、ステップ16で読み出したチェック
データが第1チェックデータ55Hであるか否かを判定
する。このように、ステップ18が判定手段の機能を奏
する。
In step 17, the address data moved to the save address is written back to the original address. In step 18, it is determined whether the check data read in step 16 is the first check data 55H. Thus, step 18 functions as a determination unit.

【0021】ステップ18の動作で読み出したチェック
データが55Hでなかった場合、ステップ19におい
て、RAM4が異常であると判定し、コントローラ1を
安全側に動作させた後、全ての処理を停止する。ステッ
プ18の動作で読み出したチェックデータが55Hであ
りRAM4が正常であると判定した場合は、診断アドレ
ス0110bに書き込むデータを第2チェックデータA
AH、反転アドレス0111b、0100b、0010
b、1110bに書き込むデータを第1チェックデータ
55Hとしてアドレス0110bの診断動作を行う。
尚、この動作はステップ1〜19において、第1チェッ
クデータ55Hを第2チェックデータAAH、第2チェ
ックデータAAHを第1チェックデータ55Hに入れ替
えただけであるので動作フローチャートを省略する。
If the check data read out in the operation of step 18 is not 55H, it is determined in step 19 that the RAM 4 is abnormal, and after the controller 1 is operated on the safe side, all processing is stopped. If it is determined in the operation of step 18 that the read check data is 55H and the RAM 4 is normal, the data to be written to the diagnostic address 0110b is replaced with the second check data A
AH, inverted address 0111b, 0100b, 0010
b. The diagnostic operation of the address 0110b is performed using the data to be written to 1110b as the first check data 55H.
In this operation, the first check data 55H is replaced with the second check data AAH and the second check data AAH is replaced with the first check data 55H in steps 1 to 19, so that the operation flowchart is omitted.

【0022】以降、第1チェックデータ及び第2チェッ
クデータにより同様にしてRAM4内の全てのアドレス
について診断を行う。以上のように、診断アドレス01
10bに第1チェックデータ55Hを書き込んだ後、反
転アドレス0111b、0100b、0010b、11
10bに第2チェックデータAAHを書き込み、その後
診断アドレス0100bから読み出したチェックデータ
が第1チェックデータ55Hであるか否かを判定する構
成としたので、例えば診断アドレスの隣り合うアドレス
ラインのうちいずれか2本が接触した場合に論理部2が
診断アドレス0110bと見誤ってアクセスしてしまう
ような比較的発生頻度の高いRAM4の異常を確実に発
見できるようになる。
Thereafter, all addresses in the RAM 4 are similarly diagnosed based on the first check data and the second check data. As described above, the diagnostic address 01
After the first check data 55H is written in 10b, the inverted addresses 0111b, 0100b, 0010b, 11
Since the second check data AAH is written in 10b and then the check data read from the diagnostic address 0100b is determined to be the first check data 55H, for example, any one of the address lines adjacent to the diagnostic address When the two contacts, the logic unit 2 can reliably detect an abnormality in the RAM 4 that occurs relatively frequently, such as accessing the diagnostic address 0110b by mistake.

【0023】また、本実施形態のように55HとAAH
の両チェックデータとして用いて診断する構成にすれ
ば、診断アドレス0110bのメモリセルに全てにデー
タ0、1が書き込めるかを確認できるようになる。尚、
本実施形態ではチェックデータ55HとAAHとを入れ
替えて診断する構成としたが、前記2つのチェックデー
タは内容が異なるデータであればよく、さらに、2つの
チェックデータを入れ替えないで診断する構成としても
よい。この場合は、RAM4のアドレスを指定するアド
レスラインの異常を発見することを目的とした診断とな
る。
Also, as in this embodiment, 55H and AAH
With this configuration, it is possible to confirm whether data 0 and 1 can be written to all the memory cells at the diagnostic address 0110b. still,
In this embodiment, the check data 55H and the AAH are exchanged for diagnosis. However, the two check data may be data having different contents, and the diagnosis may be performed without exchanging the two check data. Good. In this case, the diagnosis is performed for the purpose of finding an abnormality in the address line that specifies the address of the RAM 4.

【0024】また、反転アドレスを診断アドレスの最下
位ビットから最上位ビットまでを1ビットずつ反転させ
たアドレスにしたが、診断アドレスと異なる少なくとも
1つのアドレスであれば、反転アドレスの種類はこれに
限らない。そして、反転アドレスに対するチェックデー
タの書き込み動作は、診断アドレスの最下位ビットを反
転させたアドレスから順次行う構成としたが、どのよう
な順序でチェックデータを書き込んでもよい。
The inverted address is an address obtained by inverting the least significant bit to the most significant bit of the diagnostic address one bit at a time. However, if at least one address is different from the diagnostic address, the type of the inverted address is Not exclusively. The write operation of the check data to the inverted address is performed sequentially from the address obtained by inverting the least significant bit of the diagnostic address. However, the check data may be written in any order.

【0025】さらに、診断アドレス及び反転アドレスの
アドレスデータを待避させる専用の待避用アドレスを設
ける構成にしたが、待避用アドレスを設けずに、論理部
2が診断アドレス及び反転アドレス以外のデータが書き
込まれていないアドレスを逐次検索してアドレスデータ
を個別に待避させる構成にしてもよい。図6は、上述し
たワンチップマイクロコントローラを用いた本発明に係
るワンチップマイクロコントローラシステムの一実施形
態を示したブロック図である。
Further, a configuration is provided in which a dedicated save address for saving the address data of the diagnostic address and the inverted address is provided. However, the logical unit 2 writes data other than the diagnostic address and the inverted address without providing the save address. It is also possible to adopt a configuration in which addresses not found are sequentially searched and address data is individually saved. FIG. 6 is a block diagram showing an embodiment of a one-chip microcontroller system according to the present invention using the above-described one-chip microcontroller.

【0026】図6において、ワンチップマイクロコント
ローラシステム8は、互いに同期して動作する同一構成
の2つのワンチップマイクロコントローラ9、10を備
えて構成される。ワンチップマイクロコントローラ9、
10は、論理部11、12、同期部13、14及び照合
部15、16を備えたプロセッサ17、18と、第1実
施形態と同じ構成のメモリとしてのRAM19、20
と、外部装置21とデータの授受を行うI/Oポート2
2、23と、をそれぞれ同一半導体チップ内に備えて構
成される。
Referring to FIG. 6, the one-chip microcontroller system 8 includes two one-chip microcontrollers 9 and 10 having the same configuration and operating in synchronization with each other. One-chip microcontroller 9,
Reference numeral 10 denotes processors 17 and 18 including logic units 11 and 12, synchronization units 13 and 14, and matching units 15 and 16, and RAMs 19 and 20 as memories having the same configuration as the first embodiment.
And an I / O port 2 for exchanging data with the external device 21
2 and 23 are provided in the same semiconductor chip.

【0027】尚、また、各コントローラ9、10の論理
部11、12、同期部13、14及び照合部15、16
は、それぞれ双方向の伝送ラインで電気的に接続され、
通信可能となっている。論理部11、12は、上述した
論理部2と同様、演算処理を行って自系のマイクロコン
トローラ9、10の動作を制御するが、処理しようとし
ているデータを互いに他系から入力し、入力したデータ
が自系で処理しようとしているデータと一致しているこ
とを確認してからデータの処理を開始する。また、後述
するようにして自系のRAM19、20の診断を行う。
The logic units 11 and 12 of the controllers 9 and 10, the synchronization units 13 and 14, and the comparison units 15 and 16.
Are electrically connected by two-way transmission lines, respectively.
Communication is possible. The logic units 11 and 12 perform arithmetic processing to control the operation of the microcontrollers 9 and 10 of the own system, similarly to the logic unit 2 described above, but input data to be processed from other systems and input them. After confirming that the data matches the data to be processed by the own system, processing of the data is started. In addition, the self-system RAMs 19 and 20 are diagnosed as described later.

【0028】同期部13、14は、割り込み信号を互い
に他系に出力し、当該割り込み信号に基づいて他系との
同期をとる。これにより、図6における2つのマイクロ
コントローラ9、10は、同期して動作する。照合部1
5、16は、自系のチェックデータが正規のものである
か否かを確認するために、診断アドレスから読み出した
チェックデータを互いに他系に出力すると共に、他系か
ら入力したチェックデータと自系の診断アドレスから読
み出したチェックデータとを照合する。また、自系と他
系とで同じ診断アドレスを診断していることを確認する
ために、自系の診断アドレスのアドレスデータを互いに
他系に出力すると共に、他系から入力したアドレスデー
タと自系の診断アドレスのアドレスデータとを照合す
る。
The synchronizing units 13 and 14 output the interrupt signal to each other and synchronize with the other system based on the interrupt signal. Thus, the two microcontrollers 9 and 10 in FIG. 6 operate in synchronization. Collation unit 1
Reference numerals 5 and 16 output check data read from the diagnostic address to each other to check whether the check data of the own system is normal, and also check data and check data input from the other system. The check data read from the system diagnostic address is collated. In addition, in order to confirm that the same diagnostic address has been diagnosed by the own system and the other system, the address data of the diagnostic address of the own system is mutually output to the other system, and the address data input from the other system is automatically compared with the address data input from the other system. Check with the address data of the system diagnostic address.

【0029】このような構成のプロセッサ17、18、
RAM19、20及びI/Oポート22、23は、内部
バス24、25によって電気的に接続されている。次
に、ワンチップマイクロコントローラ9の照合部15の
動作を図7〜図9のフローチャートを参照しながら説明
する。尚、ここでは一方の系のマイクロコントローラ9
の動作について説明するが、他方の系のマイクロコント
ローラ10の動作についても同じであるので説明を省略
する。また、図7及び図8におけるステップ20〜ステ
ップ38の論理部11の動作は、図4及び図5における
ステップ1〜ステップ19の動作と同じであるので説明
を省略する。さらに、本実施形態においても上述の実施
形態と同様、診断アドレスを0110bとした場合につ
いて説明する。
The processors 17 and 18 having such a configuration are described.
The RAMs 19 and 20 and the I / O ports 22 and 23 are electrically connected by internal buses 24 and 25. Next, the operation of the matching unit 15 of the one-chip microcontroller 9 will be described with reference to the flowcharts of FIGS. Here, the microcontroller 9 of one system is used.
Will be described, but the operation of the other microcontroller 10 is the same, and a description thereof will be omitted. The operations of the logic unit 11 in steps 20 to 38 in FIGS. 7 and 8 are the same as the operations in steps 1 to 19 in FIGS. Furthermore, in the present embodiment, a case will be described in which the diagnostic address is set to 0110b, as in the above-described embodiment.

【0030】ステップ39において、ステップ35で読
み出した第1チェックデータ55Hを他系の照合部16
に出力する。ステップ40において、他系の照合部16
から第1チェックデータを入力する。ステップ41にお
いて、他系の照合部16から入力した第1チェックデー
タが55Hであるか否かを判定する。判定の結果、YE
Sの場合は、ステップ42の動作に進み、NOの場合
は、後述のステップ46の動作に進む。
In step 39, the first check data 55H read in step 35 is compared with the collation unit 16 of the other system.
Output to In step 40, the collation unit 16 of the other system
Input the first check data. In step 41, it is determined whether the first check data input from the collation unit 16 of the other system is 55H. As a result of the determination, YE
In the case of S, the process proceeds to the operation of Step 42, and in the case of NO, the process proceeds to the operation of Step 46 described later.

【0031】ステップ42において、ステップ40で他
系の照合部16から入力第1したチェックデータの内容
と、ステップ35で論理部11が診断アドレス0110
bから読み出した第1チェックデータの内容とが一致す
るか否かを判定する。判定の結果、YESの場合は、ス
テップ43の動作に進み、NOの場合は、後述のステッ
プ46の動作に進む。
At step 42, the contents of the first check data input from the collation unit 16 of the other system at step 40, and at step 35 the logic unit 11
It is determined whether or not the contents of the first check data read from b match. If the result of determination is YES, the operation proceeds to the operation of step 43, and if NO, the operation proceeds to the operation of step 46 described later.

【0032】ステップ43において、ステップ36で診
断アドレス0110bに書き戻したアドレスデータを読
み出し、他系の照合部16に当該アドレスデータを出力
する。このように、ステップ39とステップ43が出力
手段の機能を奏する。ステップ44において、他系の照
合部16からアドレスデータを入力する。
In step 43, the address data written back to the diagnostic address 0110b in step 36 is read, and the address data is output to the collation unit 16 of the other system. Thus, steps 39 and 43 function as an output unit. In step 44, address data is input from the collation unit 16 of the other system.

【0033】ステップ45において、他系の照合部16
から入力したアドレスデータと、ステップ36で診断ア
ドレス0110bに書き戻したアドレスデータとが一致
するか否かを判定する。このように、ステップ41、ス
テップ42、及びステップ45が照合手段の機能を奏す
る。
In step 45, the collation unit 16 of the other system
Then, it is determined whether or not the address data input from the address data and the address data written back to the diagnostic address 0110b in step 36 match. As described above, steps 41, 42, and 45 function as a collating unit.

【0034】ステップ41、ステップ42、及びステッ
プ45で照合したデータが不一致であると判定すると、
ステップ46において、他系のプロセッサ18が異常で
あると判定し、論理部11に故障情報を送信する。故障
情報を受信した論理部11は、自系のマイクロコントロ
ーラ9を安全側に動作させるのと同時に、他系の論理部
12にワンチップマイクロコントローラ10を安全側に
動作させるための制御信号を送信する。そして、論理部
11、12はシステム8の全ての処理を停止させる。
If it is determined that the data collated in steps 41, 42, and 45 do not match,
In step 46, the processor 18 of the other system is determined to be abnormal, and the failure information is transmitted to the logic unit 11. The logic unit 11 that has received the failure information transmits the control signal for operating the one-chip microcontroller 10 to the safe side to the logic unit 12 of the other system at the same time as operating the microcontroller 9 of the own system to the safe side. I do. Then, the logic units 11 and 12 stop all processing of the system 8.

【0035】ステップ45の動作で自系と他系のアドレ
スデータが一致し、他系のプロセッサ18が正常である
と判定した場合は、診断アドレス0110bに書き込む
データを第2チェックデータAAH、反転アドレス01
11b、0100b、0010b、1110bに書き込
むデータを第1チェックデータ55Hとして他系のプロ
セッサ18の診断動作を行う。尚、この動作はステップ
20〜46において、第1チェックデータ55Hを第2
チェックデータAAH、第2チェックデータAAHを第
1チェックデータ55Hに入れ替えただけであるので動
作フローチャートを省略する。
If the address data of the own system and the address of the other system match in the operation of step 45 and it is determined that the processor 18 of the other system is normal, the data to be written to the diagnostic address 0110b is replaced with the second check data AAH and the inverted address. 01
The diagnostic operation of the processor 18 of the other system is performed using the data to be written to 11b, 0100b, 0010b, and 1110b as the first check data 55H. In this operation, the first check data 55H is transferred to the second
Since only the check data AAH and the second check data AAH are replaced with the first check data 55H, the operation flowchart is omitted.

【0036】以降、第1チェックデータ及び第2チェッ
クデータにより同様にしてRAM19内の全てのアドレ
スについて診断を行う。以上のように、互いのプロセッ
サ17、18が自系で読み出したチェックデータと他系
で読み出したチェックデータとを照合する構成としたの
で、他系のプロセッサ18、17の診断機能が正常であ
るか否かを確認できるようになる。また、自系の診断ア
ドレスのアドレスデータと他系の診断アドレスのアドレ
スデータとを照合する構成としたのでプロセッサ17、
18が互いに同じアドレスを診断しているか否かを確認
できるようになる。したがって、他系のプロセッサ1
8、17の異常を検出できるようになり、より一層確実
にRAMを診断できるようになる。
Thereafter, diagnosis is performed for all the addresses in the RAM 19 in the same manner based on the first check data and the second check data. As described above, the configuration is such that the check data read by the own system and the check data read by the other system are collated by the processors 17 and 18, so that the diagnostic functions of the processors 18 and 17 of the other system are normal. You can check whether or not. Further, since the configuration is such that the address data of the diagnostic address of the own system and the address data of the diagnostic address of the other system are compared, the processor 17,
18 can check whether the same address has been diagnosed. Therefore, the other processor 1
The abnormalities 8 and 17 can be detected, and the diagnosis of the RAM can be performed more reliably.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1に係る発
明によれば、プロセッサが指定したアドレスにアクセス
できず、それ以外のアドレスにアクセスしてしまうよう
なメモリの故障を発見できるようになり、メモリの正
常、異常を正確に診断できるようになる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, it is possible to find a memory failure in which a processor cannot access a specified address and accesses another address. This makes it possible to accurately diagnose whether the memory is normal or abnormal.

【0038】請求項2に係る発明によれば、メモリのア
ドレスを指定する隣り合うアドレスラインのうち予め定
められた2本のアドレスラインが接触した場合等、比較
的発生頻度の高いメモリの異常を発見できるようにな
る。請求項3に係る発明によれば、メモリのアドレスを
指定する隣り合うアドレスラインのうちいずれか2本の
アドレスラインが接触した場合等のメモリの異常を発見
でき、比較的発生頻度の高いメモリの異常を確実に発見
できるようになる。
According to the second aspect of the present invention, an abnormality in the memory which occurs relatively frequently, for example, when two predetermined address lines of adjacent address lines for designating an address of the memory come into contact with each other. Be able to discover. According to the third aspect of the present invention, it is possible to detect an abnormality in the memory such as a case where any two address lines out of adjacent address lines that specify an address of the memory are in contact with each other, and to detect a memory abnormality that occurs relatively frequently. Abnormalities can be reliably detected.

【0039】請求項4に係る発明によれば、診断アドレ
スに2種類のチェックデータを書き込んでメモリの診断
を行うので、診断アドレスのメモリセルにデータが正し
く書き込めなくなる等のメモリの異常を発見できるよう
になる。請求項5に係る発明によれば、他方のプロセッ
サの診断機能に異常がある場合や、自身と他方のプロセ
ッサが互いに同じアドレスを診断していない場合に他方
のプロセッサの異常を検出できるようになる。したがっ
て、より一層確実にメモリを診断できるようになる。
According to the fourth aspect of the present invention, since two types of check data are written to the diagnostic address to diagnose the memory, it is possible to find an abnormality in the memory such that data cannot be correctly written to the memory cell at the diagnostic address. Become like According to the invention according to claim 5, when the diagnostic function of the other processor has an abnormality, or when the other processor and the other processor have not diagnosed the same address, the abnormality of the other processor can be detected. . Therefore, the memory can be diagnosed more reliably.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るワンチップマイクロコントローラ
の一実施形態を示したブロック図
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a one-chip microcontroller according to the present invention.

【図2】同上実施形態に適用される診断前のRAMの概
念図
FIG. 2 is a conceptual diagram of a RAM before diagnosis applied to the embodiment;

【図3】同上実施形態に適用される診断中のRAMの概
念図
FIG. 3 is a conceptual diagram of a RAM during diagnosis applied to the embodiment;

【図4】同上実施形態の論理部の動作フローチャートFIG. 4 is an operation flowchart of a logic unit according to the embodiment.

【図5】図4に続く論理部の動作フローチャートFIG. 5 is an operation flowchart of the logic unit following FIG. 4;

【図6】本発明に係るワンチップマイクロコントローラ
システムの一実施形態を示したブロック図
FIG. 6 is a block diagram showing one embodiment of a one-chip microcontroller system according to the present invention.

【図7】同上実施形態の論理部及び照合部の動作フロー
チャート
FIG. 7 is an operation flowchart of a logic unit and a matching unit of the embodiment.

【図8】図7に続く論理部及び照合部の動作フローチャ
ート
FIG. 8 is a flowchart of the operation of the logic unit and the matching unit following FIG. 7;

【図9】図8に続く論理部及び照合部の動作フローチャ
ート
FIG. 9 is an operation flowchart of a logic unit and a collation unit following FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、9、10 ワンチップマイクロコントローラ 2、11、12 論理部 3、17、18 プロセッサ 4、19、20 RAM 15、16 照合部 1, 9, 10 One-chip microcontroller 2, 11, 12 Logic unit 3, 17, 18 Processor 4, 19, 20 RAM 15, 16 Collation unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G11C 29/00 675 G11C 29/00 675M ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G11C 29/00 675 G11C 29/00 675M

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】アドレス毎にデータを記憶するメモリと、
該メモリにアクセスして動作するプロセッサと、を同一
半導体チップ内に備えたワンチップマイクロコントロー
ラにおいて、 前記プロセッサは、 前記メモリの診断を行うアドレスに第1チェックデータ
を書き込んだ後、前記診断アドレスと異なる少なくとも
1つのアドレスに前記第1チェックデータと異なる第2
チェックデータを書き込むチェックデータ書き込み手段
と、 前記診断アドレスに書き込まれているチェックデータを
読み出すチェックデータ読み出し手段と、 該チェックデータ読み出し手段で読み出したチェックデ
ータが、前記診断アドレスに書き込んだ第1チェックデ
ータと一致するか否かを判定し、一致のときに正常、不
一致のときに異常であると判定する判定手段と、 を備えて構成したことを特徴とするワンチップマイクロ
コントローラ。
A memory for storing data for each address;
A one-chip microcontroller comprising a processor operating by accessing the memory in the same semiconductor chip, wherein the processor writes first check data to an address for diagnosing the memory, A second address different from the first check data is assigned to at least one different address.
Check data writing means for writing check data; check data reading means for reading check data written to the diagnostic address; check data read by the check data reading means; first check data written to the diagnostic address And a determining means for determining whether or not the values match with each other, and determining that the values are normal when the values match and abnormal when the values do not match.
【請求項2】前記チェックデータ書き込み手段は、前記
診断アドレスのいずれか1つのビットを反転させたアド
レスに前記第2チェックデータを書き込む構成としたこ
とを特徴とする請求項1に記載のワンチップマイクロコ
ントローラ。
2. The one-chip device according to claim 1, wherein said check data writing means writes the second check data to an address obtained by inverting any one bit of the diagnostic address. Microcontroller.
【請求項3】前記チェックデータ書き込み手段は、前記
診断アドレスの最下位ビットから最上位ビットまでを1
ビットずつ反転させた複数のアドレスに前記第2チェッ
クデータを書き込む構成としたことを特徴とする請求項
2に記載のワンチップマイクロコントローラ。
3. The diagnostic data writing means according to claim 1, wherein the least significant bit to the most significant bit of the diagnostic address is 1
The one-chip microcontroller according to claim 2, wherein the second check data is written to a plurality of addresses that are inverted bit by bit.
【請求項4】前記第1チェックデータに基づく判定結果
が正常であると判定された後、前記診断アドレスと前記
少なくとも1つのアドレスとに書き込むチェックデータ
を入れ替えて書き込み、前記診断アドレスからチェック
データを読み出し、読み出したチェックデータが前記第
2チェックデータと一致するか否かを判定する構成とし
たことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載
のワンチップマイクロコントローラ。
4. A method according to claim 1, wherein after the determination result based on said first check data is determined to be normal, the check data to be written into said diagnostic address and said at least one address are replaced and written, and check data is written from said diagnostic address. The one-chip microcontroller according to any one of claims 1 to 3, wherein the read check data is configured to determine whether the read check data matches the second check data.
【請求項5】互いに同期して動作する請求項1〜4に記
載の2つのワンチップマイクロコントローラを備え、各
コントローラのプロセッサは、 判定手段によって一致と判定されたとき、診断アドレス
から読み出したチェックデータ及び当該診断アドレスに
記憶されていた本来のデータを他方のコントローラへ出
力する出力手段と、 他方の出力手段から入力された前記チェックデータ及び
本来のデータを、自身の診断アドレスから読み出したチ
ェックデータ及び本来のデータとそれぞれ照合し、一致
のときに正常、不一致のときに異常であると判定する照
合手段と、 を備えて構成したことを特徴とするワンチップマイクロ
コントローラシステム。
5. The two one-chip microcontrollers according to claim 1, which operate in synchronization with each other, wherein the processor of each controller reads out from the diagnosis address when the judgment is made by the judging means that they match. Output means for outputting the data and the original data stored at the diagnostic address to the other controller; and check data read from the diagnostic address of the check data and the original data input from the other output means And a collating means for collating with the original data and judging normal when there is a match and determining abnormal when there is no match, a one-chip microcontroller system characterized by comprising:
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009140011A (en) * 2007-12-03 2009-06-25 Fujitsu Component Ltd Inspection method for memory
JP2012524334A (en) * 2009-04-16 2012-10-11 フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド Method and apparatus for testing memory

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57120161A (en) * 1981-01-19 1982-07-27 Fujitsu Ltd Fault detecting system
JPS613256A (en) * 1984-06-16 1986-01-09 Fujitsu Ltd Memory test system
JPH05158804A (en) * 1991-12-10 1993-06-25 Fujitsu Ltd Ram checking method
JPH05334202A (en) * 1992-06-03 1993-12-17 Fuji Electric Co Ltd Check method for ram
JPH086863A (en) * 1994-06-21 1996-01-12 Mitsubishi Electric Corp Method and device for testing memory
JPH08234922A (en) * 1994-10-25 1996-09-13 Hewlett Packard Co <Hp> Error detection system for reflected image memory
JPH11120087A (en) * 1997-10-20 1999-04-30 Fujitsu Ltd Dual-memory processor
JPH11143783A (en) * 1997-11-07 1999-05-28 Hitachi Ltd Dual memory diagnostic method in computer system
JP2000347948A (en) * 1999-06-02 2000-12-15 Advantest Corp Memory check system

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57120161A (en) * 1981-01-19 1982-07-27 Fujitsu Ltd Fault detecting system
JPS613256A (en) * 1984-06-16 1986-01-09 Fujitsu Ltd Memory test system
JPH05158804A (en) * 1991-12-10 1993-06-25 Fujitsu Ltd Ram checking method
JPH05334202A (en) * 1992-06-03 1993-12-17 Fuji Electric Co Ltd Check method for ram
JPH086863A (en) * 1994-06-21 1996-01-12 Mitsubishi Electric Corp Method and device for testing memory
JPH08234922A (en) * 1994-10-25 1996-09-13 Hewlett Packard Co <Hp> Error detection system for reflected image memory
JPH11120087A (en) * 1997-10-20 1999-04-30 Fujitsu Ltd Dual-memory processor
JPH11143783A (en) * 1997-11-07 1999-05-28 Hitachi Ltd Dual memory diagnostic method in computer system
JP2000347948A (en) * 1999-06-02 2000-12-15 Advantest Corp Memory check system

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009140011A (en) * 2007-12-03 2009-06-25 Fujitsu Component Ltd Inspection method for memory
JP2012524334A (en) * 2009-04-16 2012-10-11 フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド Method and apparatus for testing memory

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