JP2002288005A - Trace data extracting method for debug and performance analysis - Google Patents

Trace data extracting method for debug and performance analysis

Info

Publication number
JP2002288005A
JP2002288005A JP2001092974A JP2001092974A JP2002288005A JP 2002288005 A JP2002288005 A JP 2002288005A JP 2001092974 A JP2001092974 A JP 2001092974A JP 2001092974 A JP2001092974 A JP 2001092974A JP 2002288005 A JP2002288005 A JP 2002288005A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
trace data
recording interval
registers
continuation
cycle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001092974A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3711884B2 (en
Inventor
浩一 ▲高▼山
Koichi Takayama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2001092974A priority Critical patent/JP3711884B2/en
Publication of JP2002288005A publication Critical patent/JP2002288005A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3711884B2 publication Critical patent/JP3711884B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To solve a problem in a conventional trace data extracting method that it is impossible to extract the registered data over a long time to analyze conditions of a LSI and a device. SOLUTION: A trace data storing means 8, an address counter 3 and a recording interval counter 4 are mounted, or an OR circuit 2, an AND circuit 21, a reading condition mode flag 6, a reading command flag 61 and the like of event flags 111-114 are mounted as a control means. The control means writes the condition of a group of registers 121-124 and a recording interval counter value on the storing means 8, in detecting the switching-on of any one of the event flags 111-114, and steps the address counter 3, and resets the recording interval counter 4, and the recording interval counter 4 counts up every cycle when the writing does not exist, whereby the conditions of the group of registers 121-124 only in a cycle during the operation is extracted with the recording interval.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、LSI内部のレジ
スタ状態或いは装置内部のレジスタ状態を採取する方式
に関し、特に大規模な処理機能を有するLSIの機能的
な最終デバッグ評価、や性能問題を解析する為のトレー
スデータを採取する方式に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for collecting a register state inside an LSI or a register state inside a device, and more particularly to a functional final debug evaluation of an LSI having a large-scale processing function and analysis of performance problems. And a method of collecting trace data for performing the operation.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、新規にLSIを開発する場合の機
能的なデバッグは主にその設計段階でLSIの機能記述
に対し、テストパターンを用いシミュレーションするこ
とで遂行される。
2. Description of the Related Art Conventionally, when a new LSI is developed, functional debugging is mainly performed by simulating a functional description of the LSI using a test pattern at the design stage.

【0003】例えば高速のプロセッサを実現する大規模
なLSI等においても、設計段階で上記基本機能の事前
デバッグを行ってからLSIを試作する。しかし、この
様なLSIでは、稀に発生するバグや性能上の問題を洗
い出す為に実使用環境に近い最終評価を量産前に行って
おくことが必要で、シミュレーションではモデル設定が
膨大となり結局試作LSIに対しオペレーティングシス
テムや多数のアプリケーションプログラムを用いた評価
を行うことになる。
For example, even in a large-scale LSI for realizing a high-speed processor, a prototype LSI is manufactured after the basic functions are debugged in advance in the design stage. However, in such an LSI, it is necessary to carry out final evaluation close to the actual use environment before mass production in order to identify rare bugs and performance problems. The LSI is evaluated using an operating system and a number of application programs.

【0004】この様な評価デバッグで、動作不良や性能
不足が検出された際に解析が容易に行える様にLSIに
レジスタ状態を採取するトレーサを内蔵させる(特にク
ロック周期が極めて小さい場合には、I/O端子よりプ
ローブを介して外部のトレーサに採取する方式では正確
に採取出来ない為)。
In such an evaluation debug, a tracer for sampling a register state is incorporated in an LSI so that analysis can be easily performed when an operation failure or insufficient performance is detected (especially when a clock cycle is extremely small, The method of sampling from an I / O terminal to an external tracer via a probe cannot be collected accurately.

【0005】ところが、従来のLSI内蔵のトレーサで
は、トレースデータ記憶部の容量がLSI内蔵のため限
りがあるにも拘わらず、問題となるプログラムの一連の
処理を実行させ、毎サイクルデータを記憶部に取り込む
為しばしば溢れが生じ一連の処理の一部しかトレース出
来ないこともある。
However, in a conventional tracer with a built-in LSI, a series of processing of a problematic program is executed and the data is stored every cycle, despite the limited capacity of the trace data storage unit because of the built-in LSI. In some cases, overflow may occur and only a part of a series of processes can be traced.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記従来のトレースデ
ータ採取方式では、LSI内に備えた複数のレジスタの
うち状態解析に必要なレジスタの出力をラップラウンド
で毎サイクル記録していた為、LSIに実装可能なハー
ドウェア量の制限によって、短時間間隔のレジスタ状態
データしか採取できないと言う問題があった。
In the above-described conventional trace data collection method, among the plurality of registers provided in the LSI, the output of the register necessary for state analysis is recorded every cycle in the wrap round. Due to the limitation of the amount of hardware that can be mounted, there is a problem that only register state data at short time intervals can be collected.

【0007】本発明は、ハードウェア規模を大幅に増大
することなくLSI内部のレジスタ状態のトレース時間
を長くすることを目的とし、主に、解析に必要の無いデ
ータを採取しない様に工夫することで長時間のレジスタ
状態を採取を実現する。
An object of the present invention is to extend the trace time of the register state inside the LSI without greatly increasing the hardware scale, and to devise mainly so as not to collect data unnecessary for analysis. Realizes sampling of register status for a long time.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明の第1のトレース
データ採取方式は、ロジック部に含まれるレジスタ類の
状態をトレースデータとして採取する方式であって、ト
レースデータ記憶手段とこの記憶手段へ書き込む際のア
ドレスを作成し保持するアドレス回路と制御手段とを備
え、制御手段は、前記レジスタ類を機能動作上複数のレ
ジスタ群にグループ化した場合、各レジスタ群について
それが動作中であることを示す前記レジスタ類の一部の
ビットをイベントフラグとし、イベントフラグの何れか
のビットがオンしたサイクルについてのみ前記レジスタ
類の状態をトレース記憶手段に書き込み、前記アドレス
回路を歩進し、動作中のサイクルのみレジスタ類の状態
を採取することを特徴とする。
According to a first trace data collecting method of the present invention, a state of registers included in a logic section is collected as trace data. An address circuit for creating and holding an address at the time of writing is provided, and a control means is provided. When the registers are grouped into a plurality of register groups for functional operation, each of the register groups is in operation. A part of the bits of the registers indicating an event flag is used as an event flag, and the state of the registers is written into the trace storage means only in a cycle in which any bit of the event flag is turned on, and the address circuit is advanced, The state of the registers is collected only in the cycle of (1).

【0009】本発明の第2のトレースデータ採取方式
は、前記第1のトレースデータ採取方式に於いて、前記
トレースデータ記憶手段と前記アドレス回路と記録間隔
カウンタと制御手段を備え、制御手段は、前記イベント
フラグの何れかがオンであることを検出すると前記レジ
スタ類の状態及び記録間隔カウンタ値を前記記憶手段に
書き込み、前記アドレス回路を歩進し、前記記録間隔カ
ウンタをリセットし、記録間隔カウンタは前記書込みが
なければ毎サイクルカウントアップし、動作中のサイク
ルのみレジスタ類の状態を記録間隔と共に採取すること
を特徴とする。
According to a second trace data collecting method of the present invention, in the first trace data collecting method, there is provided the trace data storing means, the address circuit, a recording interval counter, and a control means. When it is detected that any of the event flags is on, the state of the registers and the recording interval counter value are written to the storage means, the address circuit is incremented, the recording interval counter is reset, and the recording interval counter is reset. Is characterized in that, if there is no writing, the cycle counts up every cycle, and the states of the registers and the like are collected together with the recording interval only during the operating cycle.

【0010】本発明の第3のトレースデータ採取方式
は、ロジック部に含まれるレジスタ類の状態をトレース
データとして採取する方式であって、トレースデータ記
憶手段とこの記憶手段へ書き込む際のアドレスを作成し
保持するアドレス回路と記録間隔カウンタと制御手段と
を備え、制御手段は、前記レジスタ類を機能動作上複数
のレジスタ群にグループ化した場合、各レジスタ群につ
いてそれが動作中であることを示す、前記レジスタ類の
一部のビットをイベントフラグとし、イベントフラグの
何れかのビットのオン検出手段とイベントフラグ値の継
続を検出する継続検出手段と継続サイクル数のカウント
手段とを有し、動作中のサイクルのみレジスタ類の状態
を記録間隔と共に採取し且つイベントフラグ値が3サイ
クル以上継続する場合は、継続の先頭サイクルの記録と
最後のサイクルの記録に縮退させ採取することを特徴と
する。
A third method of collecting trace data of the present invention is a method of collecting the state of registers included in a logic section as trace data, and creates a trace data storage means and an address for writing to the storage means. An address circuit, a recording interval counter, and control means. The control means, when the registers are grouped into a plurality of register groups for functional operation, indicates that each register group is in operation. A part of bits of the registers as an event flag, comprising: an ON flag for detecting any bit of the event flag; a continuation detecting unit for detecting continuation of the event flag value; and a continuation cycle number counting unit. If the state of registers is collected together with the recording interval only during the middle cycle and the event flag value continues for 3 or more cycles, Is characterized in that collecting is degenerated to the recording of the record and the last cycle of the continuation of the first cycle.

【0011】本発明の第4のトレースデータ採取方式
は、前記第3のトレースデータ採取方式に於いて、トレ
ースデータ記憶手段と前記アドレス回路と前記記録間隔
カウンタと前記制御手段とを備え、前記制御手段は、イ
ベントフラグの何れかのビットのオン検出手段とイベン
トフラグ値の継続を検出する継続検出手段と継続サイク
ル数のカウント手段とを有し、前記オン検出し且つ前記
継続の3サイクル目以降でなければ、レジスタ類の状態
とカウントが記録間隔であることを示すフラグ値と記録
間隔カウントとをトレース記憶手段に書き込み、前記ア
ドレス回路を歩進し、記録間隔カウンタをリセットし、
前記オン検出し且つ継続の3サイクル目以降であれば、
前記アドレス回路の出力を継続の2サイクル目の書き込
みアドレスに差し替え、前記レジスタ類の状態とカウン
トが継続カウントであることを示すフラグ値と継続カウ
ントとをトレース記憶手段に書き込み、記録間隔カウン
タをリセットすることを特徴とする。
According to a fourth trace data collecting method of the present invention, in the third trace data collecting method, the trace data storing means, the address circuit, the recording interval counter, and the control means are provided. The means has ON detection means for any bit of the event flag, continuation detection means for detecting the continuation of the event flag value, and counting means for the number of continuation cycles. If not, the state of the registers and the flag value indicating that the count is the recording interval and the recording interval count are written into the trace storage means, the address circuit is stepped up, the recording interval counter is reset,
If it is the third cycle after the ON detection and continuation,
The output of the address circuit is replaced with the write address of the second cycle of continuation, the state of the registers and a flag value indicating that the count is a continuation count and the continuation count are written in the trace storage means, and the recording interval counter is reset. It is characterized by doing.

【0012】本発明の第5のトレースデータ採取方式
は、前記第3のトレースデータ採取方式に於いて、トレ
ースデータ記憶手段と前記アドレス回路と前記記録間隔
カウンタと前記制御手段とを備え、前記制御手段は、イ
ベントフラグの前記オン検出手段と前記継続検出手段と
継続サイクル数のカウント手段の他に縮退モードフラグ
を有し、この縮退モードフラグがセットされていればイ
ベントフラグ値が3サイクル以上継続する場合に継続の
先頭サイクルの記録と、最後のサイクルの記録に縮退さ
せてデータ採取することを特徴とする。
A fifth trace data collecting method according to the present invention is the third trace data collecting method, further comprising a trace data storage means, the address circuit, the recording interval counter, and the control means. The means has a degeneration mode flag in addition to the on detection means for the event flag, the continuation detection means, and the continuation cycle number counting means. If the degeneration mode flag is set, the event flag value continues for three or more cycles. In this case, data is collected by degenerating into the recording of the first cycle of the continuation and the recording of the last cycle.

【0013】本発明の第6のトレースデータ採取方式
は、前記第2、第3、第4、又は第5のトレースデータ
採取方式に於いて、前記ロジック部を含むLSIの中に
前記トレースデータ記憶手段と前記アドレス回路と前記
記録間隔カウンタと前記制御手段とを備えたことを特徴
とする。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided the trace data acquisition method according to the second, third, fourth, or fifth trace data acquisition method, wherein the trace data is stored in an LSI including the logic unit. Means, the address circuit, the recording interval counter, and the control means.

【0014】本発明の第7のトレースデータ採取方式
は、前記第6のトレースデータ採取方式に於いて、前記
ロジック部を含むLSIの中に前記トレースデータ記憶
手段と前記アドレス回路と前記記録間隔カウンタと前記
制御手段と、トレースデータ記憶手段の読出レジスタと
を備え、少なくとも前記アドレス回路と読出レジスタ
は、通常入力の他これと排他的にシフトモードで有効と
なるシフトパス入力を有し、制御手段はシフトモード時
のシフトインでのみ設定される読出状態フラグと、シフ
トモード時のシフトインで設定され、シフトモード解除
後のクロック信号でリセットされる読出指示フラグを有
し、読出レジスタのシフトアウト及び読出指示フラグの
シフトインと、シフトモードを解除しての記憶手段の読
出しとを交互に行ないトレースデータ記憶手段を読み出
すことを特徴とする。
According to a seventh trace data collecting method of the present invention, in the sixth trace data collecting method, the trace data storage means, the address circuit, and the recording interval counter are provided in an LSI including the logic part. And the readout register of the trace data storage means. At least the address circuit and the readout register have a normal path and a shift path input which is valid exclusively in the shift mode in addition to the normal input. It has a read state flag that is set only at shift-in in the shift mode, and a read instruction flag that is set at shift-in in the shift mode and is reset by a clock signal after the shift mode is released. Shift-in of the read instruction flag and reading of the storage means after releasing the shift mode are alternately performed. Wherein the reading the trace data storing means.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】次に、本発明の第1実施形態につ
いて図面を参照し説明する。図1は本実施形態のLSI
内蔵のトレースデータ採取方式を示すブロック図であ
る。
Next, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows an LSI of the present embodiment.
FIG. 3 is a block diagram showing a built-in trace data collection method.

【0016】本図を参照し、ロジック部1には多数のレ
ジスタ類(レジスタ、カウンタ、制御用のフリップフロ
ップ等のクロックで動作する順序回路)が存在する。こ
れらLSIの状態解析に必要なレジスタ類を、例えばL
SIにおける機能により複数のブロックに区切り、それ
ぞれをGRP(グループ)−Aレジスタ群121、GR
P−Bレジスタ群122、・・GRP−Dレジスタ群1
24とする。
Referring to FIG. 1, the logic section 1 includes a large number of registers (sequential circuits such as registers, counters, and control flip-flops that operate on a clock). Registers necessary for state analysis of these LSIs are, for example, L
Divided into a plurality of blocks by the function in SI, and each is divided into GRP (group) -A register group 121, GR
PB register group 122,... GRP-D register group 1
24.

【0017】LSIがプロセッサであれば例えば命令キ
ャッシュ部、命令コードデコード部、アドレス計算部、
オペランドデータ準備部、レジスタオペランド準備部、
ページング機構、オペランドキャッシュ、演算処理起動
部、各種演算部、レジスタ更新部、インストラクション
カウンタ部、プログラムステータスレジスタ部、割り込
み処理部等の機能上のブロックに区切られる。各ブロッ
クを一つのレジスタ群とする。
If the LSI is a processor, for example, an instruction cache unit, an instruction code decoding unit, an address calculation unit,
Operand data preparation unit, register operand preparation unit,
It is divided into functional blocks such as a paging mechanism, an operand cache, an operation processing start unit, various operation units, a register update unit, an instruction counter unit, a program status register unit, and an interrupt processing unit. Each block is one register group.

【0018】そして各ブロックについて、これが動作中
であることを示すイベントフラグを選定する。図1では
説明を簡潔にするため各グループのイベントフラグを1
ビットとしているがこれに限定するものでなく、イベン
トフラグの集合が、各ブロックの動作中表示をカバーし
ていればよい。
Then, for each block, an event flag indicating that it is operating is selected. In FIG. 1, the event flag of each group is set to 1 to simplify the description.
Although a bit is used, the present invention is not limited to this. It is only necessary that a set of event flags cover the in-operation display of each block.

【0019】本実施形態では制御手段として、OR回路
2と、AND回路21と、OR回路31、41と読出状
態フラグ6、読出指示フラグ61、AND回路22、6
2を有し、アドレス回路はアドレスカウンタ3とする。
In this embodiment, as the control means, the OR circuit 2, the AND circuit 21, the OR circuits 31, 41, the read state flag 6, the read instruction flag 61, and the AND circuits 22, 6
2 and the address circuit is an address counter 3.

【0020】複数ビットで構成されたAレジスタ群のう
ち、採取すべきあるイベントフラグが点灯した場合、該
イベントフラグの出力をOR(論理和)回路2に出力す
る。
When an event flag to be collected in the A register group composed of a plurality of bits is turned on, the output of the event flag is output to an OR (logical sum) circuit 2.

【0021】OR回路2は、各レジスタ群のイベントフ
ラグ111〜114を受信すると受信した各イベントフ
ラグをORし、トレースオン状態(トレース開始条件成
立から終了条件迄)であればAND回路21はデータ登
録指示を出力しトレースデータ、記録間隔の記憶手段8
への書込を指示する。又、記録間隔カウンタ4へのリセ
ット指示を出力する。
When the OR circuit 2 receives the event flags 111 to 114 of the respective register groups, the OR circuit 2 performs an OR operation on the received event flags, and if the trace ON state (from the start of the trace to the end of the trace), the AND circuit 21 outputs the data. Outputs a registration instruction and stores trace data and recording interval 8
Instructs writing to. Further, it outputs a reset instruction to the recording interval counter 4.

【0022】アドレスカウンタ3は出力が記憶手段8の
アドレスに接続され、データ登録時のアドレスを指定す
る。又、データ登録指示を受信すると、インクリメント
動作を行い次サイクルでアドレス出力が+1される。
The output of the address counter 3 is connected to the address of the storage means 8, and specifies the address at the time of data registration. When the data registration instruction is received, an increment operation is performed, and the address output is incremented by +1 in the next cycle.

【0023】記録間隔カウンタ4は、クロックに同期し
て毎サイクルカウントアップし、カウンタリセット指示
を受信した次サイクルで該カウンタをリセットするイン
クリメントカウンタである。
The recording interval counter 4 is an increment counter that counts up every cycle in synchronization with a clock and resets the counter in the next cycle after receiving a counter reset instruction.

【0024】記憶手段8は、AND回路21からの指示
信号を受信し、採取すべき各レジスタ群の出力と、記録
間隔カウンタ4の出力を記録する。
The storage means 8 receives the instruction signal from the AND circuit 21 and records the output of each register group to be collected and the output of the recording interval counter 4.

【0025】読出レジスタ9は記憶手段8に記憶された
データ、記録間隔を読み出す際に使用されるレジスタで
ある。例えば図示する様に、記憶手段8の上位データ、
下位データと言う様に順次読み出すことでビット数を低
減している。
The read register 9 is a register used when reading data and recording intervals stored in the storage means 8. For example, as shown in the figure, the upper data of the storage means 8
The number of bits is reduced by sequentially reading out lower-order data.

【0026】読出状態フラグ(RMDF)6は記憶手段
8の読出モードであることを示し、シフトインでのみオ
ン、オフされるフリップフロップであり、読出モードで
記憶手段8の書込を禁止している。
A read state flag (RMDF) 6 indicates a read mode of the storage means 8 and is a flip-flop which is turned on / off only at shift-in. I have.

【0027】読出指示フラグ(RDF)61は記憶手段
8の読み出しの1サイクルのみオンする、シフトイン可
能で且つ通常入力は「0」であるフリップフロップであ
る。
The read instruction flag (RDF) 61 is a flip-flop which is turned on for only one cycle of reading of the storage means 8 and which can be shifted in and whose normal input is "0".

【0028】ロジック部1の各レジスタ群、アドレスカ
ウンタ3、記録間隔カウンタ4、読出フラグ6、読出レ
ジスタ9を構成するフリップフロップは通常入力の他に
シフトイン入力も有し、又シフトモード信号が供給され
ておりシフトモード時は通常入力がディスエイブルさ
れ、シフトイン入力が有効(イネーブル)となり、クロ
ックに同期して上記レジスタ群、カウンタ、レジスタが
一つのシフトレジスタとして動作する。
The flip-flops constituting each register group, the address counter 3, the recording interval counter 4, the read flag 6, and the read register 9 of the logic section 1 have a shift-in input in addition to a normal input. In the shift mode, the normal input is disabled, the shift-in input is enabled (enabled), and the register group, counter, and register operate as one shift register in synchronization with the clock.

【0029】従って、読み出し動作は、アドレスカウン
タ3に読出す先頭アドレスを、読出指示61に「1」を
それぞれシフトインし、通常モード(シフトモードオ
フ)にしクロックを供給すると最初の1サイクルのみ読
出指示61がオンしているので読出レジスタ9に先頭ア
ドレスのデータが読み出され、アドレスカウンタ3が+
1される。
Therefore, in the read operation, when the leading address to be read into the address counter 3 is shifted into the read instruction 61 by "1", the normal mode (shift mode is turned off) and the clock is supplied, only the first one cycle is read. Since the instruction 61 is on, the data of the head address is read into the read register 9 and the address counter 3 counts +
1 is done.

【0030】そして読出レジスタ9の値をシフトアウト
しデータを読み出す。以降読出指示フラグ61への
「1」のシフトイン、通常モードに戻してのクロックを
供給、読出レジスタ9のシフトアウトの一連の動作を繰
り返すことで記憶手段8のデータを順次読み出す。この
様にすることで、読み出しの為にLSIの入出力端子が
増加しない様に工夫している。
Then, the value of the read register 9 is shifted out and the data is read. Thereafter, data of the storage means 8 is sequentially read by repeating a series of operations of shifting in the read instruction flag 61 by “1”, returning to the normal mode, supplying a clock, and shifting out the read register 9. By doing so, it is devised that the number of input / output terminals of the LSI for reading does not increase.

【0031】次に本実施例の具体例について図2のタイ
ミングチャートと図3(A)の記憶手段8のイメージを
用いて説明する。レジスタ群A〜Dは先頭1ビットのイ
ベントフラグと2ビットのデータで構成されているもの
と仮定する(実際にはイベントフラグは1〜2ビット、
データは数十ビット以上であるが説明の便宜上簡素化す
る)。
Next, a specific example of this embodiment will be described with reference to the timing chart of FIG. 2 and the image of the storage means 8 of FIG. It is assumed that the register groups A to D are composed of a 1-bit event flag and 2-bit data (actually, the event flag has 1 to 2 bits,
The data is several tens of bits or more, but is simplified for convenience of explanation).

【0032】先ずトレースON状態のセットサイクルで
アドレスカウンタ3、記録間隔カウンタ4が共にリセッ
トされる。この次サイクルをクロック0とするとクロッ
ク0においてレジスタ群Bのイベントフラグがセットさ
れると、AND回路21は記憶手段8に対して登録指示
を出力すると共に、記録間隔カウンタ4のリセット指示
を出力する。この時、アドレスカウンタ3の示すアドレ
スが「00」番地であり、クロック0の時点で出力され
るレジスタ群A〜Dの出力と記録間隔カウンタ4の出力
「00」が記憶装置の「00」番地に登録される。
First, both the address counter 3 and the recording interval counter 4 are reset in the set cycle in the trace ON state. Assuming that the next cycle is clock 0, when the event flag of register group B is set at clock 0, AND circuit 21 outputs a registration instruction to storage means 8 and a reset instruction of recording interval counter 4. . At this time, the address indicated by the address counter 3 is “00”, and the outputs of the register groups A to D output at the time of clock 0 and the output “00” of the recording interval counter 4 are “00” of the storage device. Registered in.

【0033】アドレスカウンタ3は、AND回路21か
ら登録指示を受信すると、次サイクルにおいて+1され
て「01」となる。又、記録間隔カウンタ4は、登録指
示を受信すると、次サイクルにおいてリセットされて
「0」となる。
When the address counter 3 receives the registration instruction from the AND circuit 21, it is incremented by one in the next cycle to become "01". When receiving the registration instruction, the recording interval counter 4 is reset to “0” in the next cycle.

【0034】以降クロック1〜3のサイクルではいずれ
かのレジスタ群のイベントフラグがセットされており、
各サイクルの全レジスタ群のデータ、間隔カウント
「0」が記憶手段8のアドレス「01」から「03」に
順次書き込まれる。
Thereafter, in the cycles of clocks 1 to 3, the event flags of any of the register groups are set.
The data of all the register groups in each cycle and the interval count “0” are sequentially written to the addresses “01” to “03” of the storage means 8.

【0035】クロック4〜7のサイクルではいずれのイ
ベントフラグもリセット状態の為、登録指示はオフであ
りアドレスカウンタ3は「04」に保持され、登録間隔
カウンタ4は毎サイクルカウントアップする。
In the cycles of clocks 4 to 7, since all event flags are reset, the registration instruction is off, the address counter 3 is held at "04", and the registration interval counter 4 counts up every cycle.

【0036】クロック8において、レジスタ群Cのイベ
ントフラグがセットされると、AND回路21は登録指
示を出力し記憶手段8のアドレス「04」に同様に書き
込み、アドレスカウンタ3のカウントアップ、記録間隔
カウンタ4のリセット指示を出力する。クロック9〜1
1のサイクルではいずれかのレジスタ群のイベントフラ
グがセットされており、記憶手段8のアドレス「05」
〜「07」へ順次書き込まれる。
When the event flag of the register group C is set at the clock 8, the AND circuit 21 outputs a registration instruction and similarly writes it at the address "04" of the storage means 8, counts up the address counter 3, and sets the recording interval. The reset instruction of the counter 4 is output. Clock 9-1
In one cycle, the event flag of one of the register groups is set, and the address “05” of the storage unit 8 is set.
To "07".

【0037】尚、図3の(B)に従来方式によるトレー
スイメージを示す。図示の様にクロック0〜11の各サ
イクルのレジスタ値が記憶手段8のアドレス「00」〜
「11」に順次書き込まれる。
FIG. 3B shows a trace image according to the conventional method. As shown in the figure, the register values in each cycle of clocks 0 to 11 are stored at addresses “00” to
"11" is sequentially written.

【0038】従って、本実施例では、従来0〜11番地
を使用していたものを0〜7番地で採取することが可能
となり、従来方式より長時間のLSI内部データが採取
可能となる。
Therefore, in the present embodiment, what used to be addresses 0-11 in the past can be collected at addresses 0-7, and it is possible to collect LSI internal data for a longer time than in the conventional method.

【0039】本実施例ではレジスタ群A〜Dやアドレス
カウンタ3、記録間隔カウンタ4、読出状態フラグ6、
読出指示フラグ61、読出レジスタ9はシフトパスを有
し読出レジスタ9の出力はシフトパスによる読み出を行
うとしたが他の実施例ではシフトパスや、これによる読
み出しに限定するものではない。
In this embodiment, the register groups A to D, the address counter 3, the recording interval counter 4, the read state flag 6,
The read instruction flag 61 and the read register 9 have a shift path, and the output of the read register 9 is read by the shift path. However, in other embodiments, the present invention is not limited to the shift path and the reading by the shift path.

【0040】又、本実施形態の更に他の実施例は装置の
トレースデータ採取方式であり、構成は前記と同様であ
るが、ロジック部1やロジック部1のレジスタ類の状態
を採取する記憶手段8、アドレスカウンタ3、記録間隔
カウンタ4、制御手段はLSIである必要はなく配線基
板上の回路であってもよい。
Still another example of the present embodiment is a method of collecting trace data of an apparatus, which has the same configuration as that described above, but a storage means for collecting the states of the logic unit 1 and the registers of the logic unit 1. 8, the address counter 3, the recording interval counter 4, and the control means need not be LSIs, but may be circuits on a wiring board.

【0041】次に、本発明の第2実施形態について図面
を参照し説明する。本実施形態ではトレースモードを縮
退モードに切り替えると、イベントフラグの何れかがオ
ン状態で、イベントフラグ全体の値が変化せず連続する
場合に、イベントフラグが同一値の2回目以降のサイク
ルを1エントリに縮退して記録する機能を追加した方式
である。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In the present embodiment, when the trace mode is switched to the degenerate mode, if any one of the event flags is on and the value of the event flag as a whole continues without changing, the second and subsequent cycles of the event flag having the same value are set to 1 cycle. This is a method in which a function of recording in a reduced manner in an entry is added.

【0042】縮退時には、継続した回数(0オリジン)
を記録間隔カウントの代わりに記憶手段8に格納する。
従って記憶手段8への書き込みデータとして、カウント
フィールドの値が記録間隔、継続カウントの何れである
かを示す1ビットのフラグを追加し、カウント値が記録
間隔であればこのフラグを「0」とし、継続カウントで
あれば「1」として格納する。
At the time of degeneration, the number of continuations (0 origin)
Is stored in the storage means 8 instead of the recording interval count.
Therefore, a 1-bit flag indicating whether the value of the count field is a recording interval or a continuous count is added as write data to the storage means 8. If the count value is a recording interval, this flag is set to "0". If it is a continuous count, it is stored as "1".

【0043】図4は本実施形態のLSI内蔵のトレース
データ採取方式を示すブロック図である。本実施形態で
は制御手段として、OR回路2と、AND回路21と、
OR回路41と読出状態フラグ6、読出指示フラグ6
1、AND回路22、62の他、アドレスカウンタ3の
カウントアップ論理回路、控えアドレスレジスタ32の
ストローブ論理回路、セレクタ33、42の選択論理回
路を有する。
FIG. 4 is a block diagram showing a trace data collecting method built in an LSI according to the present embodiment. In the present embodiment, as the control means, an OR circuit 2, an AND circuit 21,
OR circuit 41, read state flag 6, read instruction flag 6
1, in addition to the AND circuits 22 and 62, a count-up logic circuit of the address counter 3, a strobe logic circuit of the spare address register 32, and a selection logic circuit of the selectors 33 and 42 are provided.

【0044】尚、論理回路は論理式のみ図示する。論理
式の#、・、+はそれぞれNOT(否定)、論理積、論
理和を意味する。
The logic circuit shows only the logic formula. The logical expressions #,..., + Represent NOT (negation), logical product, and logical sum, respectively.

【0045】又、制御手段は、イベントフラグ全ビット
値の継続を検出する手段として、前サイクルにおける各
レジスタ群のイベントフラグ値を保持する控えEFレジ
スタ51と、これと現サイクルのイベントフラグ値の一
致を検出するマッチャ52を有し、継続サイクル数のカ
ウント手段として、マッチャ52の一致出力でカウント
アップされ一致出力オフであればリセットされる継続カ
ウンタ5を有する。
The control means includes, as means for detecting the continuation of all bit values of the event flag, a copy EF register 51 for holding the event flag value of each register group in the previous cycle, It has a matcher 52 for detecting a match, and has a continuous counter 5 that counts up with a match output of the matcher 52 and is reset if the match output is off as a means for counting the number of continuous cycles.

【0046】継続カウンタ5の出力は、セレクタ42に
入力され、セレクタ42にて0−記録間隔カウント(−
はビット結合を示す)と1−継続カウントを切り替え、
記憶手段8に書き込む。これによりカウントとして記録
間隔を書き込む際には前記フラグを「0」とし、継続カ
ウントを書き込む場合は「1」とする。
The output of the continuation counter 5 is input to the selector 42, and the selector 42 counts the 0-recording interval count (−
Indicates bit combination) and 1-continuation count,
Write to the storage means 8. Accordingly, the flag is set to "0" when writing the recording interval as a count, and is set to "1" when writing a continuous count.

【0047】更に制御手段は、縮退モードを指示する縮
退モードフラグ(SMD)7を有する。
Further, the control means has a degeneration mode flag (SMD) 7 for indicating the degeneration mode.

【0048】アドレス回路として、アドレスカウンタ3
と、イベントフラグ値が継続する2サイクル目のアドレ
スカンタ3の値を控える控えアドレスレジスタ32、ア
ドレスカウンタ3の出力と控えアドレスレジスタ32出
力とを切り替えるセレクタ33を有している。
As an address circuit, an address counter 3
And a reserve address register 32 that keeps track of the value of the address counter 3 in the second cycle in which the event flag value continues, and a selector 33 that switches between the output of the address counter 3 and the output of the reserve address register 32.

【0049】アドレスカウンタ3のカウントアップ条件
は、縮退モードでなければ前記と同様の登録指示であ
り、縮退モードであれば、継続カウントが0(継続カウ
ンタ5の出力が0)或いは一致出力オフで登録指示され
た時となる。即ち、同一のイベントフラグ値が継続する
1回目、2回目のサイクルではカウントアップ指示し、
以降は抑止される。
The count-up condition of the address counter 3 is the same registration instruction as described above unless it is in the degenerate mode. In the degenerate mode, the continuous count is 0 (the output of the continuous counter 5 is 0) or the coincidence output is off. It is time to register. That is, in the first and second cycles in which the same event flag value continues, a count-up instruction is issued,
Thereafter, it is suppressed.

【0050】控えアドレスレジスタ32は継続カウント
が0、且つ一致(マッチャ52出力)がオンで登録指示
がある時にストローブする。即ち、同一のイベントフラ
グ値が連続する2回目のサイクルでストローブする。
The reserve address register 32 strobes when the continuation count is 0, the match (output of the matcher 52) is on, and there is a registration instruction. That is, the strobe is performed in the second cycle in which the same event flag value continues.

【0051】セレクタ33では、縮退モードで継続カウ
ントが0でなく、一致出力オンであれば控えアドレスレ
ジスタ32を選択し記憶手段8へのアドレスとする。即
ち、同一のイベントフラグ値が継続する3回目以降のサ
イクルでは控えアドレスレジスタ32を選択し、2回目
以降同一のアドレスに書込み継続カウントを更新する。
セレクタ42の選択論理もセレクタ33のそれと同様で
ある。
In the selector 33, if the continuous count is not 0 in the degenerate mode and the coincidence output is on, the spare address register 32 is selected and used as an address to the storage means 8. That is, in the third and subsequent cycles in which the same event flag value continues, the reserve address register 32 is selected, and the second and subsequent cycles update the write continuation count to the same address.
The selection logic of the selector 42 is the same as that of the selector 33.

【0052】次に本実施形態の具体例について図5のタ
イムチャート、図6(A)の記憶手段8のイメージを用
いて説明する。レジスタ群A〜Dの構成は前記と同様と
仮定する。
Next, a specific example of the present embodiment will be described with reference to the time chart of FIG. 5 and the image of the storage means 8 of FIG. 6A. It is assumed that the configurations of the register groups A to D are the same as described above.

【0053】先ずトレースONのセットサイクルでアド
レスカウンタ3、記録間隔カウンタ4が共にリセットさ
れ、次サイクルをクロック0とするとクロック0〜3に
おいてレジスタ群A、B、C、Dのイベントフラグが順
次セットされる。従ってクロック0〜3の各サイクルで
はAND回路21は記憶手段8に対して登録指示、アド
レスカウンタ3のインクリメント指示、記録間隔カウン
タ4のリセット指示を出力する。これにより各サイクル
のデータとカウント値の意味を示すフラグとしての
「0」、記録間隔カウントとしての「0」が記憶手段8
の「00」〜「03」番地に書き込まれる。
First, the address counter 3 and the recording interval counter 4 are both reset in the trace ON set cycle, and when the next cycle is clock 0, the event flags of the register groups A, B, C, and D are sequentially set in clocks 0-3. Is done. Therefore, in each cycle of clocks 0 to 3, the AND circuit 21 outputs a registration instruction, an increment instruction of the address counter 3 and a reset instruction of the recording interval counter 4 to the storage means 8. As a result, “0” as a flag indicating the meaning of the data and the count value of each cycle and “0” as the recording interval count are stored in the storage unit 8.
Are written to the addresses "00" to "03".

【0054】クロック3〜6では、レジスタ群A〜Dの
イベントフラグ値が「0011」でクロック4〜6では
前サイクルのイベントフラグ値が継続しているため一致
出力がオンする。この一致出力により継続カウンタ5
が、クロック5〜7にかけて1、2、3とカウントアッ
プされる。
At clocks 3 to 6, the coincidence output is turned on because the event flag values of the register groups A to D are "0011" and at clocks 4 to 6, the event flag values of the previous cycle continue. Based on the coincidence output, the continuous counter
Are counted up to 1, 2, and 3 from clocks 5 to 7.

【0055】アドレスカウンタ3のカウントアップ指示
は、クロック4ではオンとなるが、一致カウントが1以
上で且つ一致出力オンのクロック5、6では抑止され
る。又クロック8では全イベントフラグがオフのため登
録指示が出力されず抑止される。従って、アドレスカウ
ンタ3はクロック4で「4」となり、クロック5で
「5」となりクロック8で「6」にクロック10で
「7」になる。
The count-up instruction of the address counter 3 is turned on at the clock 4, but is suppressed at the clocks 5 and 6 where the coincidence count is 1 or more and the coincidence output is on. At clock 8, since all the event flags are off, the registration instruction is not output and is suppressed. Therefore, the address counter 3 becomes "4" at the clock 4, becomes "5" at the clock 5, becomes "6" at the clock 8, and becomes "7" at the clock 10.

【0056】又クロック4では、継続カウントが0で一
致出力がオンであり、アドレスカウンタ3の値「4」が
控えアドレスレジスタ32にストローブされる。
At the clock 4, the continuation count is 0 and the coincidence output is on, and the value “4” of the address counter 3 is strobed to the spare address register 32.

【0057】継続カウントが0でない(1以上)で且つ
一致出力がオンしている、クロック5、6のサイクルで
は、セレクタ33に控えアドレスレジスタ32の方を選
択させる。これによりクロック5、6のサイクルではク
ロック4のサイクルと同じ「04」番地への書込を行
う。
In the cycles of clocks 5 and 6 in which the continuation count is not 0 (1 or more) and the coincidence output is on, the selector 33 selects the copy address register 32. As a result, in the cycles of clocks 5 and 6, writing to the same address "04" as in the cycle of clock 4 is performed.

【0058】同様にクロック5、6のサイクルでは、セ
レクタ42に前記「1−継続カウント」の方を選択させ
る。これによりクロック5、6のサイクルでは「04」
番地のフラグのセット、継続カウントの更新を行う。
Similarly, in the cycles of clocks 5 and 6, the selector 42 is made to select the above-mentioned "1-continue count". As a result, "04" is obtained in the cycles of clocks 5 and 6.
The address flag is set and the continuation count is updated.

【0059】以上の動作により、記憶手段8には図6
(A)に示すデータや、フラグ、カウントが採取され
る。
By the above operation, the storage means 8 is stored in FIG.
Data, flags, and counts shown in (A) are collected.

【0060】図6(B)に前記第1実施形態の方式によ
るトレースイメージを示す。本図(A)と比較すると、
(B)の「04」番地〜「06」番地の記録が(A)で
は「04」番地に縮退し記録される。
FIG. 6B shows a trace image according to the method of the first embodiment. Compared to this figure (A),
In (B), the records at addresses “04” to “06” are reduced to “04” in (A) and recorded.

【0061】この様に、縮退モードでトレースすれば、
少なくともイベントフラグの状態についてはより長時間
に亘る採取が出来る。従って、動作不良の原因調査や、
性能解析の初期段階で調査、解析対象とする処理シーケ
ンスの全体が大規模であっても、縮退モードでトレース
を行なえばその結果で処理シーケンス全体の動作のアウ
トラインを把握出来る。
As described above, if tracing is performed in the degenerate mode,
At least the state of the event flag can be collected for a longer time. Therefore, investigation of the cause of malfunction,
Even if the entire processing sequence to be investigated and analyzed in the initial stage of performance analysis is large-scale, if the trace is performed in the degenerate mode, the outline of the operation of the entire processing sequence can be grasped from the result.

【0062】そして調査、解析対象の処理シーケンスを
絞り込み縮退モードオフで詳細なトレースするという様
にすれば、動作不良の原因調査や、性能問題の解析を効
率的進めることが出来る。
If the processing sequence to be investigated and analyzed is narrowed down and detailed tracing is performed with the degeneration mode turned off, it is possible to efficiently investigate the cause of the malfunction and analyze the performance problem.

【0063】本実施形態の他の実施例ではシフトパス
や、これによる読み出しに限定するものではない。又、
本実施形態の更に他の実施例は装置のトレースデータ採
取方式であり、構成は図4と同様であるが、ロジック部
1やロジック部1のレジスタ類の状態を採取する記憶手
段8、アドレスカウンタ3やその周辺回路、記録間隔カ
ウンタ4、継続カウンタ5やその周辺回路、制御手段は
LSIである必要はなく配線基板上の回路であってもよ
い。
In another embodiment of the present embodiment, the present invention is not limited to the shift path and the reading by this. or,
Still another example of the present embodiment is a method of collecting trace data of an apparatus, which has the same configuration as that of FIG. 4, but has a storage unit 8 for collecting the states of the logic unit 1 and registers of the logic unit 1, an address counter, and the like. 3 and its peripheral circuits, the recording interval counter 4, the continuation counter 5, its peripheral circuits, and the control means need not be LSIs, but may be circuits on a wiring board.

【0064】本実施形態ではイベントフラグに着目し、
その値が継続するときに縮退させる様にしている為、ト
レースデータの書込機能のゲート数の増加が少なくて済
む。又、一致検出回路等の遅延時間の増加も少なく、記
憶手段8の書込周期へ極力影響しないようにしている。
In this embodiment, focusing on the event flag,
Since the value is degenerated when the value continues, the increase in the number of gates of the trace data writing function can be reduced. In addition, the delay time of the coincidence detection circuit and the like does not increase so much that the writing cycle of the storage means 8 is not affected as much as possible.

【0065】[0065]

【発明の効果】本発明のトレースデータ採取方式は、L
SIや装置の多数のレジスタを複数のレジスタ群にグル
ープ化し、各グループでイベントフラグを選定し、いず
れかのイベントフラグがオンしている時のみ、レジスタ
群の値を記録間隔と共に記録するので有効なデータとそ
の発生タイミングのみが記録され、従来より長時間に亘
るトレースが可能という第1の効果を有する。
According to the trace data collection method of the present invention, L
It is effective because grouping many registers of SI and device into multiple register groups, selecting event flag in each group, and recording the register group value together with recording interval only when any event flag is ON The first effect is that only the data and its generation timing are recorded, and the tracing can be performed for a longer time than before.

【0066】本発明のトレースデータ採取方式の第2実
施形態は、上記に加え同一のイベントフラグ値が継続す
る場合には、継続するサイクルの記録を縮退させて記録
する手段も有しているので、対象とするLSIや装置の
レジスタ状態のアウトラインをより長時間に亘って採取
可能という第2の効果も有する。
In the second embodiment of the trace data collection method of the present invention, in addition to the above, when the same event flag value continues, there is also provided a means for degenerating the recording of the continuous cycle and recording it. The second effect is that the outline of the register state of the target LSI or device can be collected for a longer time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態のLSI内蔵のトレース
データ採取方式を示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing a trace data collection method with built-in LSI according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1実施形態のトレース具体例の登録
動作を説明する為のタイミングチャート。
FIG. 2 is a timing chart for explaining a registration operation of a specific example of a trace according to the first embodiment of the present invention.

【図3】(A)は具体例について本発明の第1実施形態
の方式で記憶手段8に採取したデータのイメージ図で、
(B)は従来方式で採取したデータのイメージ図。
FIG. 3A is an image diagram of data collected in a storage unit 8 by a method according to the first embodiment of the present invention for a specific example;
(B) is an image diagram of data collected by a conventional method.

【図4】本発明の第2実施形態のLSI内蔵のトレース
データ採取方式を示すブロック図。
FIG. 4 is a block diagram showing a trace data collection method with a built-in LSI according to a second embodiment of the present invention;

【図5】本発明の第2実施形態のトレース具体例の登録
動作を説明する為のタイミングチャート。
FIG. 5 is a timing chart for explaining a registration operation of a specific example of a trace according to the second embodiment of the present invention.

【図6】(A)は他の具体例について本発明の第2実施
形態の方式で記憶手段8に採取したデータのイメージ図
で、(B)は第2実施形態の方式で採取したデータのイ
メージ図。
FIG. 6A is an image diagram of data collected in the storage unit 8 according to the second embodiment of the present invention for another specific example, and FIG. 6B is an image diagram of data collected by the system of the second embodiment; .

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ロジック部 3 アドレスカウンタ 4 記録間隔カウンタ 5 継続カウンタ 6 読出状態フラグ 7 縮退モードフラグ 8 記憶手段 9 読出レジスタ 32 控えアドレスレジスタ 33、42 セレクタ 51 控えEFレジスタ 52 マッチャ 61 読出指示フラグ 111〜114 イベントフラグ 121〜124 レジスタ群 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Logic part 3 Address counter 4 Recording interval counter 5 Continuation counter 6 Read state flag 7 Degeneration mode flag 8 Storage means 9 Read register 32 Reserved address register 33, 42 Selector 51 Reserved EF register 52 Matcher 61 Read instruction flag 111-114 Event flag 121-124 register group

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ロジック部に含まれるレジスタ類の状態
をトレースデータとして採取する方式であって、トレー
スデータ記憶手段とこの記憶手段へ書き込む際のアドレ
スを作成し保持するアドレス回路と制御手段とを備え、
制御手段は、前記レジスタ類を機能動作上複数のレジス
タ群にグループ化した場合、各レジスタ群についてそれ
が動作中であることを示す前記レジスタ類の一部のビッ
トをイベントフラグとし、イベントフラグの何れかのビ
ットがオンしたサイクルについてのみ前記レジスタ類の
状態をトレース記憶手段に書き込み、前記アドレス回路
を歩進し、動作中のサイクルのみレジスタ類の状態を採
取することを特徴とするトレースデータ採取方式。
1. A method for collecting the state of registers included in a logic section as trace data, comprising a trace data storage means, an address circuit for creating and holding an address for writing to the storage means, and a control means. Prepared,
When the registers are grouped into a plurality of register groups for functional operation, the control unit sets a part of the bits of the registers indicating that each register group is operating as an event flag, and A trace data acquisition means for writing the state of the registers into the trace storage means only for a cycle in which any one of the bits is turned on, stepping through the address circuit, and collecting the state of the registers only during the operating cycle; method.
【請求項2】 前記トレースデータ記憶手段と前記アド
レス回路と記録間隔カウンタと制御手段を備え、制御手
段は、前記イベントフラグの何れかがオンであることを
検出すると前記レジスタ類の状態及び記録間隔カウンタ
値を前記記憶手段に書き込み、前記アドレス回路を歩進
し、前記記録間隔カウンタをリセットし、記録間隔カウ
ンタは前記書込みがなければ毎サイクルカウントアップ
し、動作中のサイクルのみレジスタ類の状態を記録間隔
と共に採取することを特徴とする請求項1記載のトレー
スデータ採取方式。
2. The apparatus according to claim 1, further comprising: a trace data storage unit, the address circuit, a recording interval counter, and a control unit, wherein the control unit detects a state of the registers and a recording interval when detecting that any of the event flags is on. The counter value is written into the storage means, the address circuit is incremented, the recording interval counter is reset, and the recording interval counter counts up every cycle if there is no writing, and the state of the registers and the like is changed only in the operating cycle. 2. The trace data collection method according to claim 1, wherein the data is collected together with the recording interval.
【請求項3】 ロジック部に含まれるレジスタ類の状態
をトレースデータとして採取する方式であって、トレー
スデータ記憶手段とこの記憶手段へ書き込む際のアドレ
スを作成し保持するアドレス回路と記録間隔カウンタと
制御手段とを備え、制御手段は、前記レジスタ類を機能
動作上複数のレジスタ群にグループ化した場合、各レジ
スタ群についてそれが動作中であることを示す、前記レ
ジスタ類の一部のビットをイベントフラグとし、イベン
トフラグの何れかのビットのオン検出手段とイベントフ
ラグ値の継続を検出する継続検出手段と継続サイクル数
のカウント手段とを有し、動作中のサイクルのみレジス
タ類の状態を記録間隔と共に採取し且つイベントフラグ
値が3サイクル以上継続する場合は、継続の先頭サイク
ルの記録と最後のサイクルの記録に縮退させ採取するこ
とを特徴とするトレースデータ採取方式。
3. A method for collecting the status of registers included in a logic section as trace data, comprising: a trace data storage means; an address circuit for creating and holding an address for writing to the storage means; a recording interval counter; Control means, the control means, when the registers are grouped into a plurality of register groups in terms of functional operation, for each register group, indicates that it is in operation, some bits of the registers, As an event flag, it has an ON detection means for any bit of the event flag, a continuation detection means for detecting the continuation of the event flag value, and a means for counting the number of continuous cycles, and records the state of the registers only in the operating cycle. If the sampling is performed at intervals and the event flag value continues for three or more cycles, the recording of the first cycle of the continuation and the last A trace data collection method characterized in that collection is performed by degenerating into the record of the cycle.
【請求項4】 トレースデータ記憶手段と前記アドレス
回路と前記記録間隔カウンタと前記制御手段とを備え、
前記制御手段は、イベントフラグの何れかのビットのオ
ン検出手段とイベントフラグ値の継続を検出する継続検
出手段と継続サイクル数のカウント手段とを有し、前記
オン検出し且つ前記継続の3サイクル目以降でなけれ
ば、レジスタ類の状態とカウントが記録間隔であること
を示すフラグ値と記録間隔カウントとをトレース記憶手
段に書き込み、前記アドレス回路を歩進し、記録間隔カ
ウンタをリセットし、前記オン検出し且つ継続の3サイ
クル目以降であれば、前記アドレス回路の出力を継続の
2サイクル目の書き込みアドレスに差し替え、前記レジ
スタ類の状態とカウントが継続カウントであることを示
すフラグ値と継続カウントとをトレース記憶手段に書き
込み、記録間隔カウンタをリセットすることを特徴とす
る請求項3記載のトレースデータ採取方式。
4. The apparatus according to claim 1, further comprising: a trace data storage unit, said address circuit, said recording interval counter, and said control unit.
The control means has on-detection means for detecting any bit of the event flag, continuation detection means for detecting continuation of the event flag value, and count means for counting the number of continuation cycles. If not, a flag value indicating that the state and count of the registers are the recording interval and a recording interval count are written in the trace storage means, the address circuit is incremented, the recording interval counter is reset, and If ON is detected and the third and subsequent cycles are continued, the output of the address circuit is replaced with the write address of the second cycle of the continuation, and the state of the registers and a flag value indicating that the count is a continuation count and a continuation 4. The method according to claim 3, wherein the count is written into the trace storage means, and the recording interval counter is reset. Sudeta collection system.
【請求項5】 トレースデータ記憶手段と前記アドレス
回路と前記記録間隔カウンタと前記制御手段とを備え、
前記制御手段は、イベントフラグの前記オン検出手段と
前記継続検出手段と継続サイクル数のカウント手段の他
に縮退モードフラグを有し、この縮退モードフラグがセ
ットされていればイベントフラグ値が3サイクル以上継
続する場合に継続の先頭サイクルの記録と、最後のサイ
クルの記録に縮退させてデータ採取することを特徴とす
る請求項3記載のトレースデータ採取方式。
5. The apparatus according to claim 1, further comprising a trace data storage unit, said address circuit, said recording interval counter, and said control unit.
The control means has a degeneration mode flag in addition to the event flag on detection means, the continuation detection means, and the continuation cycle number counting means. If the degeneration mode flag is set, the event flag value becomes three cycles. 4. The trace data collection method according to claim 3, wherein when the above continuation is performed, the data is collected by degenerating into the recording of the first cycle of the continuation and the recording of the last cycle.
【請求項6】 前記ロジック部を含むLSIの中に前記
トレースデータ記憶手段と前記アドレス回路と前記記録
間隔カウンタと前記制御手段とを備えたことを特徴とす
る請求項2、3、4、又は5記載のトレースデータ採取
方式。
6. An LSI including the logic unit, wherein the trace data storage means, the address circuit, the recording interval counter, and the control means are provided. 5. Trace data collection method described in 5.
【請求項7】 前記ロジック部を含むLSIの中に前記
トレースデータ記憶手段と前記アドレス回路と前記記録
間隔カウンタと前記制御手段と、トレースデータ記憶手
段の読出レジスタとを備え、少なくとも前記アドレス回
路と読出レジスタは、通常入力の他これと排他的にシフ
トモードで有効となるシフトパス入力を有し、制御手段
はシフトモード時のシフトインでのみ設定される読出状
態フラグと、シフトモード時のシフトインで設定され、
シフトモード解除後のクロック信号でリセットされる読
出指示フラグを有し、読出レジスタのシフトアウト及び
読出指示フラグのシフトインと、シフトモードを解除し
ての記憶手段の読出しとを交互に行ないトレースデータ
記憶手段を読み出すことを特徴とする請求項6記載のト
レースデータ採取方式。
7. An LSI including the logic unit includes the trace data storage means, the address circuit, the recording interval counter, the control means, and a read register of the trace data storage means. The read register has a normal input and a shift path input which is exclusively enabled in the shift mode. The control means includes a read state flag which is set only in the shift-in operation in the shift mode, and a shift-in flag in the shift mode. Set in
A read instruction flag which is reset by a clock signal after the shift mode is released, and alternately performs a shift-out of the read register and a shift-in of the read instruction flag, and a read of the storage means after the shift mode is released; 7. The trace data collection method according to claim 6, wherein the storage unit is read.
JP2001092974A 2001-03-28 2001-03-28 Trace data collection method Expired - Fee Related JP3711884B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001092974A JP3711884B2 (en) 2001-03-28 2001-03-28 Trace data collection method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001092974A JP3711884B2 (en) 2001-03-28 2001-03-28 Trace data collection method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002288005A true JP2002288005A (en) 2002-10-04
JP3711884B2 JP3711884B2 (en) 2005-11-02

Family

ID=18947364

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001092974A Expired - Fee Related JP3711884B2 (en) 2001-03-28 2001-03-28 Trace data collection method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3711884B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009042815A (en) * 2007-08-06 2009-02-26 Renesas Technology Corp Semiconductor integrated circuit and debugging system
JP2010044773A (en) * 2009-09-25 2010-02-25 Fujitsu Ltd Processor debugging device
JPWO2009022691A1 (en) * 2007-08-15 2010-11-18 株式会社アドバンテスト Test equipment

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5206417B2 (en) 2006-12-21 2013-06-12 日本電気株式会社 Signal measuring apparatus and signal measuring method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009042815A (en) * 2007-08-06 2009-02-26 Renesas Technology Corp Semiconductor integrated circuit and debugging system
JPWO2009022691A1 (en) * 2007-08-15 2010-11-18 株式会社アドバンテスト Test equipment
JP2010044773A (en) * 2009-09-25 2010-02-25 Fujitsu Ltd Processor debugging device

Also Published As

Publication number Publication date
JP3711884B2 (en) 2005-11-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6961872B2 (en) Microcomputer and debugging system
US5642478A (en) Distributed trace data acquisition system
US7461312B2 (en) Digital signature generation for hardware functional test
US6618775B1 (en) DSP bus monitoring apparatus and method
US20050138471A1 (en) Apparatus, method, and system for logging diagnostic information
US20070011492A1 (en) Generation of trace data
US6829751B1 (en) Diagnostic architecture using FPGA core in system on a chip design
JPH0738202B2 (en) Full event trace gatherer for logic simulation machines
JP2003006003A (en) Dma controller and semiconductor integrated circuit
US8819496B2 (en) Apparatus for collecting trace information and processing trace information, and method for collecting and processing trace information
CN109254883B (en) Debugging device and method for on-chip memory
CN112257358B (en) Method and device for accurately analyzing dynamic power consumption
JP3176482B2 (en) Logic simulation equipment
JP3711884B2 (en) Trace data collection method
EP2080098A1 (en) Detecting and recording performance events in a data processing system
US7617428B2 (en) Circuits and associated methods for improved debug and test of an application integrated circuit
JP2591825B2 (en) Logic circuit testing method and apparatus using compressed data
US20030126502A1 (en) Efficient word recognizer for a logic analyzer
EP3792770B1 (en) Trace-data processing device
JP2004170244A (en) Built-in self-checking circuit
JP4494899B2 (en) Processor debugging apparatus and processor debugging method
JP2005165825A (en) Trace information recorder
US7415643B2 (en) Coverage circuit for performance counter
US7275191B2 (en) Coverage decoder circuit for performance counter
SU1042023A1 (en) Microprocessor unit checking device

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040312

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040713

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040907

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20050315

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050426

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050621

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050726

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050808

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080826

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090826

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090826

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100826

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110826

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110826

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120826

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130826

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees