JP2002278934A - セキュリティ管理装置およびセキュリティ管理方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】使用可能なハンディターミナルであるかのセキ
ュリティチェックをより確実なものとし、不正コピーに
よってアプリケーション・プログラムが他のハンディタ
ーミナルに移植されることを防止できるようにする。 【解決手段】ハンディターミナルは、複数のメモリブロ
ックによって構成されたＮＡＮＤチップ（ＣＭＯＳ・Ｎ
ＡＮＤ・ＥＥＰＲＯＭチップ）８を内蔵しており、この
ＮＡＮＤチップ８の製造時に発生され、ＮＡＮＤチップ
８の中に存在している各不良ブロックの位置を検出す
る。そして、この不良ブロックの位置情報に基づいてこ
のハンディターミナル対応の端末ＩＤを生成して設定す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、予め設定されて
いる装置識別情報を参照することによって、使用可能な
データ処理装置であるかを判定するセキュリティ管理装
置、そのセキュリティ管理装置に使用されるプログラ
ム、セキュリティ管理方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、ハンディターミナルにおいて
は、ハードウェアと開発キットを販売し、業務で使用す
るアプリケーション・プログラムは、ユーザやディーラ
ーが設計するようにしているため、例えば、ソフトウェ
ア込み製品をディーラーから購入し、量販店で購入した
製品にその中身をコピーするようにすれば、容易にアプ
リケーション・プログラムを不正コピーして移植するこ
とが可能となってしまう。そこで、従来、アプリケーシ
ョン・プログラムを不正コピーから保護する手段とし
て、ターミナル固有のＩＤ（端末識別情報）を不揮発性
のＲＯＭに書き込んでおき、アプリケーション自体がＲ
ＯＭ内の端末識別情報に基づいてアクセス可否を検証す
る方法や、消去や再書込みが可能なＥＥＰＲＯＭにユー
ザＩＤを設定しておき、アプリケーション自体がＥＥＰ
ＲＯＭ内のユーザＩＤに基づいてアクセス可否を検証す
る方法等が知られている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＲＯＭ
内に端末識別情報を個別に設定することは、コスト的に
不利であり、また、ＥＥＰＲＯＭ内にユーザＩＤを設定
することは、操作ミス等によって修理／交換の必要性が
生じるおそれがあった。一方、完全なコピープロテクト
を実現するには、アプリケーション・プログラム自体が
使用可能なハンディターミナルか、つまり、「ディーラ
ーが販売したハンディターミナル」であるか否かを検証
できるようにしなければならない。ところで、ＦＬＡＳ
Ｈデバイスの一種であるＣＭＯＳ・ＮＡＮＤ・ＥＥＰＲ
ＯＭチップは、１バイト毎に書き込みが可能であるが、
上書きは不可能であり、かつ消去は、消去ブロックと呼
ばれている単位毎に行われるという特徴の他、製造時
（シリコン再結晶時）のバラツキとして不良ブロックが
発生するという特徴を有している。例えば、１０２４ブ
ロックのチップには、通常１０程度の不良ブロックが存
在しているとされている。

【０００４】この発明の課題は、不揮発性メモリチップ
の製造時において、その中に不良ブロックが発生すると
いう特性に基づいて装置識別情報を生成使用することに
より、使用可能なデータ処理装置であるかのセキュリテ
ィチェックをより確実なものとするセキュリティ管理を
実現できるようにすることである。

【０００５】この発明の手段は、次の通りである。請求
項第１記載の発明は、予め設定されている装置識別情報
を参照することによって、使用可能なデータ処理装置で
あるかを判定する為のセキュリティチェックを行うセキ
ュリティ管理装置であって、データ処理装置に内蔵さ
れ、複数のメモリブロックによって構成された不揮発性
メモリチップを検出対象として、このメモリチップの中
に存在している不良ブロックの位置を検出する検出手段
と、この検出手段によって検出された不良ブロックの位
置情報に基づいて当該データ処理装置対応の装置識別情
報を生成する識別情報生成手段と、この識別情報生成手
段によって生成された装置識別情報を前記セキュリティ
チェック用の情報として設定する識別情報設定手段とを
具備するものである。したがって、請求項１記載の発明
においては、不揮発性メモリチップの中に存在している
不良ブロックの位置を検出して、その不良ブロックの位
置情報に基づいて装置識別情報を生成し、この装置識別
情報をセキュリティチェック用の情報として設定するよ
うにしたから、不揮発性メモリチップの製造時において
不良ブロックが発生するという特性に基づいて装置識別
情報を生成使用することにより、使用可能なデータ処理
装置であるかのセキュリティチェックをより確実なもの
とするセキュリティ管理を実現することができる。

【０００６】なお、この発明は次のようなものであって
もよい。前記不揮発性メモリチップは、ＮＡＮＤ型のＥ
ＥＰＲＯＭチップによって構成され、前記検出手段は、
この不揮発性メモリチップの製造過程で発生した不良ブ
ロックの位置を検出する（請求項２記載の発明）。

【０００７】前記識別情報生成手段は、前記検出手段に
よって複数の不良ブロックが検出された場合に、各不良
ブロックの位置情報を組み合わせてなるデータ構成の装
置識別情報を生成する（請求項３記載の発明）。

【０００８】前記検出手段は、複数の不良ブロックを検
出した場合に、各ブロックの位置情報を検出すると共
に、不良ブロックの個数を計数し、前記識別情報生成手
段は、前記検出手段によって検出された不良ブロックの
個数および各不良ブロック対応の位置情報を組み合わせ
てなるデータ構成の識別情報を生成する（請求項４記載
の発明）。

【０００９】使用可能なデータ処理装置であるかを判定
する為のセキュリティチェックを行う場合に、前記検出
手段によって検出された不良ブロックの位置と、前記設
定されている装置識別情報の各要素とを照合することに
よって、検出ブロック位置に対応する要素が全て不良ブ
ロックである場合には、使用可能なデータ処理装置であ
ると判別し、検出ブロック位置に対応する要素のいずれ
かが不良ブロックではない正常ブロックである場合に
は、使用不能なデータ処理装置であると判別するセキュ
リティ検証手段を設ける（請求項５記載の発明）。

【００１０】アプリケーション・プログラムの実行開始
時に、そのプログラムが始めて起動された初期起動時で
あるかを判別する判別手段を設け、この判別手段によっ
て初期起動時であるかことが判別された場合には、前記
検出ブロック位置に基づいて生成された装置識別情報を
設定し、初期起動時でないことが判別された場合には、
前記セキュリティ検証手段によって使用可能なデータ処
理装置であるかを判別する（請求項６記載の発明）。

【００１１】他の発明は、コンピュータに対して、上述
した請求項１記載の発明に示した主要機能を実現させる
ためのプログラムを提供し（請求項７記載の発明）、ま
た、上述した請求項１記載の発明に示した主要手順にし
たがった処理を行うセキュリティ管理方法を提供するも
のである（請求項８記載の発明）。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、図１〜図５を参照してこの
発明の一実施形態を説明する。図１は、この実施形態に
おけるハンディターミナルの全体構成を示したブロック
図である。なお、このハンディターミナルには、予め設
定されている装置識別情報を参照することによって、使
用可能なハンディターミナルであるかを判定するセキュ
リティ管理機能を有している。そして、このハンディタ
ーミナル本体には、複数のメモリブロックによって構成
された不揮発性メモリチップ（上述したＣＭＯＳ・ＮＡ
ＮＤ・ＥＥＰＲＯＭチップ）が内蔵されている。

【００１３】このハンディターミナルは、このＣＭＯＳ
・ＮＡＮＤ・ＥＥＰＲＯＭチップの中に存在している不
良ブロックの位置を検出し、この不良ブロックの位置情
報に基づいてこのハンディターミナル対応の装置識別情
報（端末ＩＤ）を生成して設定しておくことにより、こ
の端末ＩＤに基づいて確実なセキュリティ管理を実現
し、不正コピーによってアプリケーション・プログラム
が他のハンディターミナルに移植されることを効果的に
防止するようにしたものである。なお、この実施形態の
特徴部分を詳述する前に、この実施形態のハードウェア
上の構成について以下、説明しておく。

【００１４】ＣＰＵ１は、記憶装置２内のオペレーティ
ングシステムや各種アプリケーションソフトにしたがっ
てこのハンディターミナルの全体動作を制御する中央演
算処理装置である。記憶装置２は、オペレーティングシ
ステムや各種アプリケーションソフトの他、データベー
ス、文字フォント等が格納され、磁気的、光学的、半導
体メモリ等によって構成されている記録媒体３やその駆
動系を有している。この記録媒体３はハードディスク等
の固定的な媒体若しくは着脱自在に装着可能なＣＤ−Ｒ
ＯＭ、フロッピィデスク、ＲＡＭカード、磁気カード等
の可搬型の媒体である。また、この記録媒体３内のプロ
グラムやデータは、必要に応じてＣＰＵ１の制御により
ＲＡＭ（例えば、スタティックＲＡＭ）４にロードされ
たり、ＲＡＭ４内のデータが記録媒体３にセーブされ
る。更に、記録媒体はサーバ等の外部機器側に設けられ
ているものであってもよく、ＣＰＵ１は伝送制御部５を
介してこの記録媒体内のプログラム／データを直接アク
セスして使用することもできる。

【００１５】また、ＣＰＵ１は記録媒体３内に格納され
るその一部あるいは全部を他の機器側から伝送制御部５
を介して取り込み、記録媒体３に新規登録あるいは追加
登録することもできる。更に、プログラム／データはサ
ーバ等の外部機器側で記憶管理されているものであって
もよく、ＣＰＵ１は伝送制御部５を介して外部機器側の
プログラム／データを直接アクセスして使用することも
できる。一方、ＣＰＵ１にはその入出力周辺デバイスで
ある伝送制御部５、入力部６、表示部７、ＣＭＯＳ・Ｎ
ＡＮＤ・ＥＥＰＲＯＭチップ（以下、単にＮＡＮＤチッ
プと称する）８がバスラインを介して接続されており、
入出力プログラムにしたがってＣＰＵ１はそれらの動作
を制御する。

【００１６】このハンディターミナルに内蔵されている
ＮＡＮＤチップ８は、上述したようにＦＬＡＳＨデバイ
スの一種であり、１バイト毎に書き込みが可能である
が、上書きは不可能であり、かつ消去は、消去ブロック
と呼ばれている単位毎に行われるという特徴の他、製造
時（シリコン再結晶時）のバラツキとして不良ブロック
が発生するという特徴がある大容量のＮＡＮＤ型のＥＥ
ＰＲＯＭである。ここで、ＮＡＮＤチップ８が１０２４
ブロックのチップである場合には、通常１０個程度の不
良ブロックが存在している。なお、不正コピーを防止す
るために対象となるアプリケーション・プログラム等
は、ＮＡＮＤチップ８内に組み込んでおいてもよいが、
この実施形態においては、記録媒体３内に組み込まれて
いる。

【００１７】図２（Ａ）は、ＮＡＮＤチップ８内の不良
ブロック位置を検出してそれを数値化することによって
生成された端末ＩＤのデータ構成を示している。すなわ
ち、この端末ＩＤは、その先頭に「不良ブロックの個
数」の項目を有し、それ以降はＮＡＮＤチップ８内の不
良ブロックに対応して、その「不良ブロックの位置情
報」、「不良ブロックの位置情報」‥‥の項目を不良ブ
ロック個数分組み合わせたデータ構成となっている。な
お、「不良ブロックの位置情報」は、例えば、ＮＡＮＤ
チップ８内の１０２４ブロックに対して割り当てたブロ
ック番号によって表されており、また、「不良ブロック
の位置情報」の並びは、不良ブロックの検出順となって
いる。また、端末ＩＤの初期値としては、例えば、「Ｆ
Ｆｈ」を埋め込んだ値となっている。

【００１８】この場合、ＮＡＮＤチップ８内の不良ブロ
ックは、その製造時のバラツキによって発生するもので
あるから、その発生位置は、規則性のない自然発生的な
ものであり、不良ブロックの個数や位置はＮＡＮＤチッ
プ８毎にそれぞれ相違するものとなる。また、例えば、
１０２４ブロックのＮＡＮＤチップ８内に１０個の不良
ブロックが存在しているものと仮定すると、不良ブロッ
クの発生位置に応じて端末ＩＤの種類としては、３×１
０^２３種類の組み合わせが発生するようになる。したが
って、検出された各不良ブロックの位置に基づいて生成
された端末ＩＤは、そのＮＡＮＤチップ８が組み込まれ
ているハンディターミナル固有の値となる。

【００１９】図２（Ｂ）は、端末ＩＤのデータ内容を例
示したもので、この例では、「不良ブロックの個数」が
“１０”、「不良ブロックの位置情報」が“０１０
０”、“ ０５００”、“０７５０”‥‥“ｎｎｎｎ”
の場合である。ここで、「不良ブロックの位置情報」
は、そのブロック番号で表している。例えば、１０２４
ブロックチップの場合、最初のブロックを“０”とすれ
ば、１０ビット（１０２３＝３ＦＦｈ）で表現される。
したがって、「不良ブロックの個数」が“１０”の場
合、それを４ビットとすると、「不良ブロックの位置情
報」の合計は、１０×１０＝１００ビットとなり、端末
ＩＤの全体長は、１３バイト構成の数値、つまり、１０
進数で３２桁の数値で表現される。なお、生成された端
末ＩＤのデータは、記憶媒体３内のアプリケーション・
プログラムの実行ファイル内に記録保持される。

【００２０】次に、この実施形態におけるハンディター
ミナルの主要動作を図３〜図５に示すフローチャート
（アプリケーションプログラムの概要）を参照して説明
する。ここで、これらのフローチャートに記述されてい
る各機能を実現するためのプログラム、つまり、図３に
記述したアプリケーション実行処理、図４に記述した端
末ＩＤ生成処理、図５に記述した端末ＩＤ検証処理は、
読み取り可能なプログラムコードの形態で記録媒体３に
格納されており、ＣＰＵ１はこのプログラムコードにし
たがった動作を逐次実行する。また、ＣＰＵ１は伝送媒
体を介して伝送されてきた上述のプログラムコードにし
たがった動作を逐次実行することもできる。すなわち、
記録媒体の他、伝送媒体を介して外部供給されたプログ
ラム／データを利用してこの実施形態特有の動作を実行
することもできる。

【００２１】図３は、不正コピーを防止するために対象
となるアプリケーション・プログラムの実行処理を示し
たフローチャートである。先ず、ＣＰＵ１は、当該アプ
リケーション・プログラムをアクセスすることにより、
そのアプリケーション・プログラムの実行ファイル内に
設けられている端末ＩＤ設定領域から「端末ＩＤ変数」
を読み出す（ステップＡ１）。ここで、「端末ＩＤ変
数」として、最初は、初期値がセットされている。つま
り、その実行ファイルの中に確保されている１３バイト
領域内に予め初期セットされている初期値として、例え
ば、「ＦＦｈ」の値が１３バイト領域内にそれぞれ埋め
込まれている。

【００２２】このように「端末ＩＤ変数」を初期セット
しておく理由は、当該アプリケーション・プログラムが
始めて起動されたか否かを判別するためである。つま
り、アプリケーション・プログラムの実行ファイル内に
端末ＩＤ設定領域を設けておき、その領域内の値が「Ｆ
Ｆｈ」の場合には、アプリケーション・プログラムが始
めて起動されたと認識することができる。最初は、ステ
ップＡ２で「端末ＩＤ変数」が初期値であることが判別
されるので、ステップＡ３に移り、端末ＩＤ生成処理が
開始される。

【００２３】図４は、この端末ＩＤ生成処理を示したフ
ローチャートである。先ず、ＣＰＵ１は、ＲＡＭ４内に
設けられている各種のカウンタを初期化するイニシャラ
イズ処理を行う（ステップＢ１）。つまり、ＮＡＮＤチ
ップ８の各ブロックを１ブロック毎に順次指定する為の
Ｎカウンタ（ブロック指定カウンタ）に初期値“１”を
セットする他、ＮＡＮＤチップ８内に存在する不良ブロ
ックの個数を計数する為のＢＣカウンタ（不良ブロック
数カウンタ）の内容をクリアする初期化処理を行う。

【００２４】この状態において、ＣＰＵ１は、Ｎカウン
タの値が最終ブロック番号（１０２４）に達したかをチ
ェックするが（ステップＢ２）、いま、Ｎカウンタの値
は“１”であるから、次のステップＢ３に移り、ＢＣカ
ウンタの値が“１０”を超えたかをチェックする。すな
わち、上述したように、１０２４ブロックのチップの場
合には、通常１０程度の不良ブロックが存在しているの
で、１０個の不良ブロックを検出したかを判別する。こ
の場合、ＢＣカウンタの値が“１０”以下であれば、Ｎ
カウンタの値に対応するＮ番目ブロックが検出対象とし
て指定され、その指定ブロックは不良ブロックかをチェ
ックする（ステップＢ４）。

【００２５】いま、Ｎカウンタの値は、“１”であるか
ら、先頭ブロックが不良ブロックでなければ（ステップ
Ｂ５）、Ｎカウンタの値に“１”を加算してその値を更
新する（ステップＢ８）。そして、ステップＢ２に戻
り、以下、上述の動作を繰り返す。一方、Ｎ番目ブロッ
クが不良ブロックであれば（ステップＢ５）、ＢＣカウ
ンタの値に“１”を加算してその値を更新すると共に
（ステップＢ６）、その不良ブロック位置（Ｎカウンタ
の値）を端末ＩＤの構成データとして書き込む（ステッ
プＢ７）。

【００２６】以下、ＮＡＮＤチップ８内の不良ブロック
が検出される毎に、上述の動作を繰り返すことにより、
検出された不良ブロックの位置情報が端末ＩＤの構成デ
ータとして書き込まれる。これによってＮカウンタの値
が最終ブロック番号（１０２４）に達した場合（ステッ
プＢ２）あるいはＢＣカウンタの値が“１０”を超えた
場合には（ステップＢ３）、ＢＣカウンタの値を「不良
ブロック個数」として、端末ＩＤの構成データ（先頭項
目）に書き込むことにより（ステップＢ９）、図２に示
した構成の端末ＩＤが生成される。

【００２７】このようにして端末ＩＤ生成処理が終了す
ると、図３のステップＡ４に移り、当該プログラムファ
イルをオープンした後、新規生成した端末ＩＤをそのフ
ァイル内の「端末ＩＤ変数」の初期値に上書することに
よって、生成端末ＩＤをファイル内に設定しておく（ス
テップＡ５）。その後、このプログラムファイルをクロ
ーズした後（ステップＡ６）、このプログラムへのアク
セスが許可されて、通常のアプリケーション実行処理が
可能となる（ステップＡ７）。

【００２８】一方、図３において、プログラムファイル
から読み出した「端末ＩＤ変数」が初期値でないことが
判別された場合（ステップＡ２）、つまり、アプリケー
ション・プログラムを始めて起動した場合ではなく、２
回目以上の起動指定の場合には、ステップＡ８に移り、
端末ＩＤ検証処理に移る。この端末ＩＤ検証処理は、端
末ＩＤを参照することによって使用可能なハンディター
ミナルであるかを検証する処理である。

【００２９】図５は、この端末ＩＤ検証処理を示したフ
ローチャートである。先ず、ＣＰＵ１は、プログラムフ
ァイル内に記録保持されている生成端末ＩＤを読み出
し、その先頭の「不良ブロック個数」を取得する（ステ
ップＣ１）。そして、上述のＮカウンタに初期値“１”
をセットした後（ステップＣ２）、このＮカウンタの値
が「不良ブロック個数」を超えたかをチェックする（ス
テップＣ３）。いま、Ｎカウンタには初期値がセットさ
れているので、このＮカウンタの値で指定される生成端
末ＩＤの中からＮ番目の「不良ブロック位置情報」を取
得する（ステップＣ４）。

【００３０】次に、取得した「不良ブロック位置情報」
に基づいてＮＡＮＤチップ８の該当位置ブロックを指定
し、その指定ブロックは不良ブロックかをチェックする
（ステップＣ５）。ここで、不良ブロックであれば（ス
テップＣ６）、Ｎカウンタの値に“１”を加算してその
値を更新する（ステップＣ７）。以下、ステップＣ３に
戻り、このＮカウンタの値で指定される生成端末ＩＤの
中からＮ番目の「不良ブロック位置情報」を取得し、こ
の「不良ブロック位置情報」に該当するＮＡＮＤチップ
８の対応ブロックは不良ブロックかをチェックする処理
を繰り返す。

【００３１】この結果、Ｎカウンタの値が「不良ブロッ
ク個数」を超えた場合（ステップＣ３）、つまり、生成
端末ＩＤ内の各「不良ブロック位置情報」に該当するＮ
ＡＮＤチップ８の対応ブロックが全て不良ブロックであ
る場合には、使用可能なハンディターミナルであると判
断して正常表示を行う（ステップＣ８）。また、Ｎカウ
ンタの値が「不良ブロック個数」を超える前に、生成端
末ＩＤ内のいずれかの「不良ブロック位置情報」に該当
するＮＡＮＤチップ８の対応ブロックが正常不良ブロッ
クである場合ことが判別された場合には（ステップＣ
６）、使用不可能なハンディターミナルであると判断し
てエラー表示を行う（ステップＣ９）。

【００３２】このような端末ＩＤ検証処理が終了する
と、図３のステップＡ９に移り、上述した端末ＩＤ検証
の処理結果を判別し、正常表示による終了である場合に
は、そのアプリケーション・プログラムの起動を許可し
て、通常のプログラム実行処理に移るが（ステップＡ
７）、エラー表示による終了の場合には、このプログラ
ム実行処理が禁止されることにより、完全なコピープロ
テクトが可能となる。

【００３３】以上のように、この実施形態におけるハン
ディターミナルは、複数のメモリブロックによって構成
されたＮＡＮＤチップ８の中に存在している不良ブロッ
クの位置を検出し、このブロック位置情報に基づいてこ
のハンディターミナル対応の端末ＩＤを生成して設定す
るようにしたから、使用可能なハンディターミナルであ
るかのセキュリティチェックをより確実なものとするこ
とができる。これによって例えば、不正コピーによって
アプリケーション・プログラムが他のハンディターミナ
ルに移植されることを防止することが可能となる。

【００３４】また、生成された端末ＩＤをＮＡＮＤチッ
プ８に設定するようにしたから、それを記録するＥＥＰ
ＲＯＭ等の専用メモリが不要となり、コスト的に有利と
なる。ここで、１０２４ブロックのＮＡＮＤチップ８
に、１０個の不良ブロックが存在しているものと仮定す
ると、端末ＩＤのデータ内容としては、３×１０^２３種
類 の組み合わせが発生するため、端末ＩＤは、その
ＮＡＮＤチップ８が組み込まれているハンディターミナ
ル固有の値となる。この場合、端末ＩＤを構成するデー
タ内には、「不良ブロック位置情報」の他に、「不良ブ
ロックの個数」を含めたから、端末ＩＤ検証処理の実行
時には、この個数分の不良ブロックが含まれているかを
チェックすることができ、その検証がより確実なものと
なる。

【００３５】また、端末ＩＤ検証処理を行う場合に、検
出された不良ブロック位置と、端末ＩＤの各要素とを照
合することによって、検出ブロック位置に対応する要素
が全て不良ブロックである場合には、使用可能なハンデ
ィターミナルであると判別するが、検出ブロック位置に
対応する要素のいずれかが正常ブロックである場合、つ
まり、途中で不一致が検出された場合には、その時点で
使用不能なハンディターミナルであると判別するように
したから、端末ＩＤ検証処理を効率よく行うことができ
る。

【００３６】また、アプリケーション・プログラムの実
行開始時に、そのプログラムが始めて起動された初期起
動時であるかを判別し、初期起動時であれば、検出ブロ
ック位置に基づいて端末ＩＤを生成して設定し、初期起
動時でない場合には、端末ＩＤ検証処理を行うようにし
たから、アプリケーション・プログラムの不正コピーを
防止することができる。

【００３７】なお、上述した実施形態においては、１０
２４ブロックのチップに、１０個の不良ブロックが存在
しているものと仮定すると、端末ＩＤのデータ内容とし
ては、３×１０^２３種類の組み合わせが発生する為、不
良ブロック位置に基づいて生成された端末ＩＤは、その
ＮＡＮＤチップ８が組み込まれているハンディターミナ
ル固有の値となり、同一の端末ＩＤが発生される可能性
は極めて低いものとなるが、可能性が全くないとは言え
ず、また、ＮＡＮＤチップに不良ブロックが存在してい
ない場合も想定することができる。このことから、更な
る安全策として、図６に示すような端末ＩＤの生成方法
も考えられる。

【００３８】すなわち、上述した実施形態と同様に、
「不良ブロックの個数」が“１０”の場合、それを４ビ
ットとすると、「不良ブロックの位置情報」の合計は、
１０×１０＝１００ビットとなり、端末ＩＤの全体長
は、１３バイト構成の数値、つまり、１０進数で３２桁
の数値で表現できるが、更に、ユーザが任意に入力して
設定したユーザ入力値（３バイト）を加えた合計１６バ
イトの端末ＩＤとすれば、同一の端末ＩＤが発生される
可能性は確率的にほとんどなく、より確実な固有情報と
なる。なお、ユーザ入力値は、どのような種類のデータ
であってもよく、また、その桁数も問わない。

【００３９】また、上述した実施形態においては、生成
された端末ＩＤを記録媒体３内に設定するようにした
が、ＮＡＮＤチップ８に設定するようにしてもよい。メ
モリチップとして、ＦＬＡＳＨデバイスの一種であるＣ
ＮＯＳ・ＮＡＮＤ・ＥＥＰＲＯＭチップを例示したが、
製造時に不良ブロックが発生するメモリチップであれ
ば、同様に適用可能である。また、上述した実施形態に
おいては、アプリケーション・プログラムの実行開始時
に、そのプログラムが始めて起動された初期起動時であ
れば、端末ＩＤを生成して設定するようにしたが、端末
ＩＤの設定時期としては、製品出荷時に組み込んでおい
てもよい。また、端末ＩＤの生成設定プログラムをアプ
リケーション・プログラムから独立させてもよい。

【００４０】一方、コンピュータ（ハンディターミナ
ル）に対して、上述した各手段を実行させるためのプロ
グラムコードをそれぞれ記録した記録媒体（例えば、Ｃ
Ｄ−ＲＯＭ、フロッピィデスク、ＲＡＭカード等）を提
供するようにしてもよい。すなわち、コンピュータが読
み取り可能なプログラムコードを有する記録媒体であっ
て、データ処理装置に内蔵され、複数のメモリブロック
によって構成された不揮発性メモリチップを検出対象と
して、このメモリチップの中に存在している不良ブロッ
クの位置を検出する機能と、検出された不良ブロックの
位置情報に基づいて当該データ処理装置対応の装置識別
情報を生成する機能と、生成された装置識別情報を参照
することによって使用可能なデータ処理装置であるかを
判定する為のセキュリティチェック用の情報として、前
記生成された装置識別情報を設定する機能とを実現させ
るためのプログラムを記録したコンピュータが読み取り
可能な記録媒体を提供するようにしてもよい。

【００４１】

【発明の効果】この発明によれば、不揮発性メモリチッ
プの中に存在している不良ブロックの位置を検出して、
その不良ブロックの位置情報に基づいて装置識別情報を
生成し、この装置識別情報をセキュリティチェック用の
情報として設定するようにしたから、不揮発性メモリチ
ップの製造時において不良ブロックが発生するという特
性に基づいて装置識別情報を生成使用することにより、
使用可能なデータ処理装置であるかのセキュリティチェ
ックをより確実なものとするセキュリティ管理を実現す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】ハンディターミナルの全体構成を示したブロッ
ク図。

【図２】（Ａ）は、ＮＡＮＤチップ８内の不良ブロック
位置を検出してそれを数値化することによって生成され
た端末ＩＤのデータ構成を示した図、（Ｂ）は、端末Ｉ
Ｄのデータ内容を例示した図。

【図３】不正コピーを防止するために対象となるアプリ
ケーション・プログラムの実行処理を示したフローチャ
ート。

【図４】図３で示した端末ＩＤ生成処理を詳述する為の
フローチャート。

【図５】図３で示した端末ＩＤ検証処理を詳述する為の
フローチャート。

【図６】この実施形態の変形応用例を説明する端末ＩＤ
のデータ構成を示した図。

【符号の説明】

１ ＣＰＵ ２ 記憶装置 ３ 記録媒体 ５ 伝送制御部 ６ 入力部 ８ ＮＡＮＤチップ

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】予め設定されている装置識別情報を参照す
   ることによって、使用可能なデータ処理装置であるかを
   判定する為のセキュリティチェックを行うセキュリティ
   管理装置であって、 データ処理装置に内蔵され、複数のメモリブロックによ
   って構成された不揮発性メモリチップを検出対象とし
   て、このメモリチップの中に存在している不良ブロック
   の位置を検出する検出手段と、 この検出手段によって検出された不良ブロックの位置情
   報に基づいて当該データ処理装置対応の装置識別情報を
   生成する識別情報生成手段と、 この識別情報生成手段によって生成された装置識別情報
   を前記セキュリティチェック用の情報として設定する識
   別情報設定手段と、 を具備したことを特徴とするセキュリティ管理装置。
2. 【請求項２】前記不揮発性メモリチップは、ＮＡＮＤ型
   のＥＥＰＲＯＭチップによって構成され、前記検出手段
   は、この不揮発性メモリチップの製造過程で発生した不
   良ブロックの位置を検出する、ようにしたことを特徴と
   する請求項1記載のセキュリティ管理装置。
3. 【請求項３】前記識別情報生成手段は、前記検出手段に
   よって複数の不良ブロックが検出された場合に、各不良
   ブロックの位置情報を組み合わせてなるデータ構成の装
   置識別情報を生成する、 ようにしたことを特徴とする請求項1記載のセキュリテ
   ィ管理装置。
4. 【請求項４】前記検出手段は、複数の不良ブロックを検
   出した場合に、各ブロックの位置情報を検出すると共
   に、不良ブロックの個数を計数し、 前記識別情報生成手段は、前記検出手段によって検出さ
   れた不良ブロックの個数および各不良ブロック対応の位
   置情報を組み合わせてなるデータ構成の識別情報を生成
   する、 ようにしたことを特徴とする請求項３記載のセキュリテ
   ィ管理装置。
5. 【請求項５】使用可能なデータ処理装置であるかを判定
   する為のセキュリティチェックを行う場合に、前記検出
   手段によって検出された各不良ブロックの位置と、前記
   設定されている装置識別情報の各要素とを照合すること
   によって、検出ブロック位置に対応する要素が全て不良
   ブロックである場合には、使用可能なデータ処理装置で
   あると判別し、検出ブロック位置に対応する要素のいず
   れかが不良ブロックではない正常ブロックである場合に
   は、使用不能なデータ処理装置であると判別するセキュ
   リティ検証手段を設けた、 ことを特徴とする請求項１記載のセキュリティ管理装
   置。
6. 【請求項６】アプリケーション・プログラムの実行開始
   時に、そのプログラムが始めて起動された初期起動時で
   あるかを判別する判別手段を設け、 この判別手段によって初期起動時であるかことが判別さ
   れた場合には、前記検出ブロック位置に基づいて生成さ
   れた装置識別情報を設定し、初期起動時でないことが判
   別された場合には、前記セキュリティ検証手段によって
   使用可能なデータ処理装置であるかを判別する、 ようにしたことを特徴とする請求項５記載のセキュリテ
   ィ管理装置。
7. 【請求項７】コンピュータに対して、 データ処理装置に内蔵され、複数のメモリブロックによ
   って構成された不揮発性メモリチップを検出対象とし
   て、このメモリチップの中に存在している不良ブロック
   の位置を検出する機能と、 検出された不良ブロックの位置情報に基づいて当該デー
   タ処理装置対応の装置識別情報を生成する機能と、 生成された装置識別情報をセキュリティチェック用の情
   報として設定する機能と、 を実現させるためのプロ
   グラム。
8. 【請求項８】予め設定されている装置識別情報を参照す
   ることによって、使用可能なデータ処理装置であるかを
   判定する為のセキュリティチェックを行うセキュリティ
   管理方法であって、 データ処理装置に内蔵され、複数のメモリブロックによ
   って構成された不揮発性メモリチップを検出対象とし
   て、このメモリチップの中に存在している不良ブロック
   の位置を検出し、 検出された不良ブロックの位置情報に基づいて当該デー
   タ処理装置対応の装置識別情報を生成し、 生成された装置識別情報を前記セキュリティチェック用
   の情報として設定するようにしたことを特徴とするセキ
   ュリティ管理方法。