JP2002277753A - Inspecting device - Google Patents

Inspecting device

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JP2002277753A
JP2002277753A JP2001081121A JP2001081121A JP2002277753A JP 2002277753 A JP2002277753 A JP 2002277753A JP 2001081121 A JP2001081121 A JP 2001081121A JP 2001081121 A JP2001081121 A JP 2001081121A JP 2002277753 A JP2002277753 A JP 2002277753A
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JP
Japan
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relay
image
lens
mirror
barrel
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP2001081121A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomohiro Kitahara
友博 北原
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To insert and pull out a mirror for guiding an image obtained by a microscopic head part to a relay lens in/from an optical axis. SOLUTION: A cylindrical slider 50 integrally provided with a mirror 32 on the optical axis a1 side of the microscopic head part 20 is moved in the optical axis a2 direction of an extended relay lens barrel with respect to a rely lens barrel 10 by the driving of a direct driving source 53, and the mirror 32 is set on the optical axis a1 of the head part 20 or the mirror 32 is removed from the optical axis a1 and retreated into the lens barrel 10.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば大型の液晶
ディスプレイ(LCD)のガラス基板などの被検査物の
検査に適用される検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection apparatus applied to an inspection object such as a glass substrate of a large liquid crystal display (LCD).

【0002】[0002]

【従来の技術】かかる検査として顕微鏡を通して観察す
る方法では、例えば特開平5−127088号公報及び
特開平10−111253号公報に記載されているよう
に、対物レンズを含む対物光学系により得られた被検査
物の像をリレーレンズ光学系を通して接眼レンズを含む
観察光学系に送り、対物レンズを被検査物の平面に沿っ
て一方向に移動させるとともに、被検査物を載置するス
テージを対物レンズの一方向と交差する他方向に移動し
て被検査物の全体を観察可能にしている。
2. Description of the Related Art In such a method of observing through a microscope as such an inspection, for example, as described in Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 5-127088 and 10-111253, an objective optical system including an objective lens is used. The image of the test object is sent to the observation optical system including the eyepiece through the relay lens optical system, the objective lens is moved in one direction along the plane of the test object, and the stage on which the test object is mounted is mounted on the objective lens. In the other direction that intersects the one direction, so that the entire inspection object can be observed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記顕微鏡では、対物
レンズと結像レンズからなる対物光学系により得られた
被検査物の像を反射鏡(ミラー)で反射(偏向)してリ
レーレンズを組み込んだ延長リレー鏡筒に導き、リレー
レンズ光学系により伝送された被検査物の像を観察光学
系の接眼レンズを介して目視により観察するようにして
いる。この観察光学系の接眼鏡筒にCCDカメラ等の撮
像装置を取り付けて、この撮像装置により撮像された被
検査物の像をモニター表示して観察することが行なわれ
ている。
In the above-mentioned microscope, a relay lens is incorporated by reflecting (deflecting) an image of an object to be inspected obtained by an objective optical system comprising an objective lens and an imaging lens by a reflecting mirror (mirror). The image is guided to an extension relay barrel, and the image of the inspection object transmitted by the relay lens optical system is visually observed through an eyepiece of the observation optical system. An imaging device such as a CCD camera is attached to the eyepiece tube of the observation optical system, and an image of the inspection object captured by the imaging device is displayed on a monitor and observed.

【0004】特に、検査対象となる液晶ディスプレイの
ガラス基板は、大型化が進んでおり、現在では、100
0mmを超えるものが現われている。このような大型の
ガラス基板を目視により検査するためには、対物光学系
により得られた像を観察光学系に伝送する延長リレー鏡
筒を長くする必要がある。この延長リレー鏡筒を長くす
るには、対物光学系により得られた被検査物の像を伝送
する複数のリレーレンズ光学系が必要で、リレーレンズ
が増えることにより光の透過率が低下する。
In particular, the size of a glass substrate of a liquid crystal display to be inspected has been increasing, and at present, 100
Some of them exceed 0 mm. In order to visually inspect such a large glass substrate, it is necessary to lengthen the extension relay barrel that transmits an image obtained by the objective optical system to the observation optical system. In order to lengthen the extension relay barrel, a plurality of relay lens optical systems for transmitting an image of the object to be inspected obtained by the objective optical system are required, and light transmittance is reduced by increasing the number of relay lenses.

【0005】このように複数のリレーレンズ光学系を介
して撮像する光量が低下して暗い画像となり、見えが低
下すると共に、分光計等のように適切な光量を必要とす
る各種計測装置では使用に耐えられないという問題が生
じる。
As described above, the amount of light to be imaged via a plurality of relay lens optical systems is reduced, resulting in a dark image, which reduces the appearance, and is used in various measuring devices requiring an appropriate amount of light such as a spectrometer. The problem that it cannot tolerate.

【0006】そこで本発明は、顕微鏡ヘッド部により得
られた像をリレーレンズに導くミラーを光軸に対して挿
脱できる検査装置を提供することを目的とする。
Accordingly, an object of the present invention is to provide an inspection apparatus capable of inserting and removing a mirror for guiding an image obtained by a microscope head to a relay lens with respect to an optical axis.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1記載による本発
明は、被検査物の像を得るための対物光学系を備えた顕
微鏡ヘッド部と、この顕微鏡ヘッド部により得られた像
を再結像する複数のリレーレンズ光学系を有し、リレー
連結部を介して互いに回動自在に廉潔された第1と第2
の延長リレー鏡筒と、これら第1と第2の延長リレー鏡
筒により再結像された前記像を観察するための位置固定
された観察光学系とを備え、前記対物光学系により得ら
れた像を前記第1と第2の延長リレー鏡筒側に偏向する
光路偏向光学素子と、前記顕微鏡ヘッド部が取り付けら
れる側の前記第1又は第2の延長リレー鏡筒の先端部に
前記光路偏向光学素子を、前記偏向方向に移動可能に保
持する移動保持体と、この移動保持体を前記光路偏向光
学素子が前記顕微鏡ヘッド部の光軸から退避する位置ま
で移動させる駆動手段とを具備したことを特徴とする検
査装置である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a microscope head provided with an objective optical system for obtaining an image of an object to be inspected, and an image obtained by the microscope head is reconstructed. A first and a second relay lens optics having a plurality of relay lens optics for imaging and being rotatably insulated from each other via a relay connecting portion;
And an observation optical system whose position is fixed for observing the image re-formed by the first and second extension relay barrels, and obtained by the objective optical system. An optical path deflecting optical element for deflecting an image toward the first and second extension relay barrels; and an optical path deflection optical element at a tip end of the first or second extension relay barrel on the side where the microscope head is mounted. A moving holder for holding the optical element movably in the deflection direction; and a driving unit for moving the moving holder to a position where the optical path deflecting optical element is retracted from the optical axis of the microscope head. An inspection apparatus characterized by the following.

【0008】請求項2記載による本発明は、請求項1記
載の検査装置において、前記光路偏向光学素子は、ミラ
ー又はプリズムであることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in the inspection apparatus of the first aspect, the optical path deflecting optical element is a mirror or a prism.

【0009】請求項3記載による本発明は、請求項1記
載の検査装置において、前記光路偏向光学素子が退避し
た前記顕微鏡ヘッド部の光軸上に各種計測装置を取り付
けることを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the inspection apparatus according to the first aspect, various measuring devices are mounted on the optical axis of the microscope head portion where the optical path deflecting optical element is retracted.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。図1及び図2は検査装置
の構成図であって、図1は側面図、図2は上面図であ
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 and 2 are configuration diagrams of the inspection apparatus. FIG. 1 is a side view, and FIG. 2 is a top view.

【0011】先ず、検査装置の構造から説明する。検査
装置本体の基台又は門型アーム49の支柱部に観察鏡筒
用の固定台1が設けられている。この固定台1上には、
観察鏡筒2が位置固定されている。この観察鏡筒2の上
部には、接眼鏡筒部3が設けられている。
First, the structure of the inspection apparatus will be described. The fixed base 1 for the observation lens barrel is provided on the base of the inspection apparatus main body or on the column of the portal arm 49. On this fixed base 1,
The observation lens barrel 2 is fixed in position. An eyepiece tube section 3 is provided above the observation tube 2.

【0012】観察鏡筒2の側面には、複数のリレー鏡筒
例えば3つのリレー鏡筒4、5、5aを介して回動自在
なリレー連結鏡筒部6が接続され、さらにこのリレー連
結鏡筒部6から複数のリレー鏡筒例えば4つのリレー鏡
筒7〜10が連結されている。
A rotatable relay connecting barrel 6 is connected to the side of the observation barrel 2 via a plurality of relay barrels, for example, three relay barrels 4, 5, and 5a. A plurality of relay barrels, for example, four relay barrels 7 to 10 are connected from the barrel 6.

【0013】リレー連結鏡筒部6は、3つのリレー鏡筒
4、5、5aを連結した第1の延長リレー鏡筒と4つの
リレー鏡筒7〜10を連結した第2の延長リレー鏡筒と
の間にあって、これらリレー鏡筒4、5、5aとリレー
鏡筒7〜10とのなす角度を相互に変更可能にするよう
に回動自在に設けられている。このリレー連結鏡筒部6
は、第1の連結部11と第2の連結部12とからなり、
第1の連結部11にはリレー鏡筒4、5、5aが連結さ
れ、第2の連結部12にはリレー鏡筒7〜10が連結さ
れている。これら連結部11と12とは、例えばボール
ベアリング13を介して互いに回動自在に設けられてい
る。
The relay connection barrel 6 is composed of a first extension relay barrel connecting three relay barrels 4, 5, and 5a and a second extension relay barrel connecting four relay barrels 7 to 10. Are provided rotatably so that the angles formed by the relay barrels 4, 5, 5a and the relay barrels 7 to 10 can be changed mutually. This relay connection lens barrel 6
Consists of a first connecting portion 11 and a second connecting portion 12,
Relay barrels 4, 5, and 5a are connected to the first connecting portion 11, and relay barrels 7 to 10 are connected to the second connecting portion 12. These connecting portions 11 and 12 are provided rotatably with respect to each other, for example, via a ball bearing 13.

【0014】第2の連結部12の底部には、連結支持ア
ーム14を介して移動摺動部15が設けられている。こ
の移動摺動部15は、互いに平行に所定間隔をおいて設
けられた2本のリニアガイド16、17上を移動する移
動支持体18に対して例えばボールベアリング19を介
して回動自在に設けられている。移動支持体18は、図
2に示すように2本のリニアガイド16、17上を矢印
ロ方向に移動自在に設けられ、かつ移動摺動部15は、
同図に示すように移動支持体18上を矢印ハ方向に移動
自在に設けられている。
A movable sliding portion 15 is provided at the bottom of the second connecting portion 12 via a connecting support arm 14. The movable sliding portion 15 is rotatably provided, for example, via a ball bearing 19 with respect to a movable support 18 which moves on two linear guides 16 and 17 provided at a predetermined interval in parallel with each other. Have been. The moving support 18 is provided movably on the two linear guides 16 and 17 in the direction of arrow B as shown in FIG.
As shown in the drawing, the movable support 18 is provided so as to be movable in the direction of arrow C.

【0015】2本のリニアガイド16、17は、一方向
(矢印X方向)に移動可能なステージ48を跨ぐ門型ア
ーム49の水平アーム部の上面に敷設されている。
The two linear guides 16 and 17 are laid on the upper surface of a horizontal arm portion of a portal arm 49 that straddles a stage 48 that can move in one direction (the direction of arrow X).

【0016】第2の延長リレー鏡筒を構成するリレー鏡
筒10の先端部には、対物光学系を構成する顕微鏡ヘッ
ド部20が設けられている。この顕微鏡ヘッド部20
は、電動レボルバに複数の対物レンズ21、22が取り
付けられたもので、これら対物レンズ21、22のうち
1つの対物レンズ21又は22が光軸上に交換可能にな
っている。この顕微鏡ヘッド部20は、リレー鏡筒10
の先端部に設けられた保持体23に対して嵌合部24を
介して回動可能に嵌合している。
A microscope head 20 constituting an objective optical system is provided at the tip of the relay barrel 10 constituting the second extension relay barrel. This microscope head 20
Has a plurality of objective lenses 21 and 22 attached to an electric revolver, and one of the objective lenses 21 and 22 is replaceable on the optical axis. The microscope head unit 20 includes the relay barrel 10
Is rotatably fitted via a fitting portion 24 to a holding body 23 provided at the tip of the.

【0017】顕微鏡ヘッド部20は、図2に示すように
顕微鏡ヘッド用架台30に載せられている。この顕微鏡
ヘッド用架台30は、2本のリニアガイド16、17上
に乗せられ、上記矢印ロ方向と同一方向に移動可能にな
っている。
The microscope head section 20 is mounted on a microscope head base 30 as shown in FIG. The microscope head base 30 is mounted on the two linear guides 16 and 17 and is movable in the same direction as the arrow B.

【0018】従って、例えば、顕微鏡ヘッド用架台30
を図示しない駆動部により図2に示す矢印ロ方向に往復
移動させると、この顕微鏡ヘッド用架台30の往復移動
に連動して移動支持体18がリニアガイド16、17に
沿って往復移動すると共に、この移動支持体18に連動
して移動摺動部15が移動支持体18上を矢印ハ方向に
往復移動する。図3は顕微鏡ヘッド部20が図面上左側
に移動しているところを示す図である。
Therefore, for example, the microscope head base 30
Is reciprocated in the direction of arrow B shown in FIG. 2 by a driving unit (not shown), and the moving support 18 reciprocates along the linear guides 16 and 17 in conjunction with the reciprocation of the microscope head base 30. The moving sliding portion 15 reciprocates on the moving support 18 in the direction of arrow C in conjunction with the moving support 18. FIG. 3 is a diagram showing the microscope head unit 20 moving to the left in the drawing.

【0019】次に光学系について説明する。対物レンズ
21を通る光軸a上には、この対物レンズ21により得
られる像を結像するための結像レンズ31が第2の延長
リレー鏡筒の先端部に設けられた保持体23に設けられ
ている。この結像レンズ31は、対物レンズ21により
得られる像が平行光に整形されて結像レンズ31に入射
するので、この入射した平行光の像を1次像として結像
位置Qにて再結像する。
Next, the optical system will be described. On the optical axis a passing through the objective lens 21, an imaging lens 31 for imaging an image obtained by the objective lens 21 is provided on a holding body 23 provided at the tip of the second extension relay barrel. Have been. Since the image obtained by the objective lens 21 is shaped into parallel light and enters the image forming lens 31, the image formed by the image forming lens 31 is re-formed at the image forming position Q 1 as a primary image. Form an image.

【0020】又、保持体23内には、光軸a上に光路偏
向光学素子としてのミラー32が配置されている。この
ミラー32は、結像レンズ31により結像される像を各
リレー鏡筒10〜7(第2の延長リレー鏡筒)内に向け
て反射(偏向)するものである。リレー鏡筒9、8内に
は、結像レンズ31により結像位置Qに結像された像
を結像位置Qに伝送する第1のリレーレンズ光学系を
構成するリレーレンズ33〜34が設けられている。な
お、ミラー32は、プリズムに代えてもその作用が変わ
るものでない。
In the holder 23, a mirror 32 as an optical path deflecting optical element is disposed on the optical axis a. The mirror 32 reflects (deflects) an image formed by the imaging lens 31 toward each of the relay barrels 10 to 7 (second extended relay barrel). In the relay lens barrel 9,8, relay lenses constituting the first relay lens optical system for transmitting the imaged into an imaging position Q 1 image on the imaging position Q 2 by the imaging lens 31 33-34 Is provided. The operation of the mirror 32 does not change even if it is replaced with a prism.

【0021】リレー連結鏡筒部6内には、互いに対向す
る位置にそれぞれミラー36、37が設けられ、このう
ちミラー36はリレーレンズ35からの像をミラー37
に向けて反射(偏向)し、ミラー37はミラー36から
の像を各リレー鏡筒5a、5、4内に向けて反射するも
のである。リレー鏡筒7、5a、5内には、第1のリレ
ーレンズ光学系により結像位置Qに結像された2次像
を結像位置Qに伝送する第2のリレーレンズ光学系を
構成するリレーレンズ35、38a、38が設けられて
いる。
Mirrors 36 and 37 are provided at positions opposing each other in the relay connection lens barrel 6, and the mirror 36 transfers an image from the relay lens 35 to the mirror 37.
The mirror 37 reflects the image from the mirror 36 toward the inside of each of the relay barrels 5a, 5 and 4. Relay barrel 7,5A, the 5, the first second relay lens optical system to transmit secondary image formed on the imaging position Q 2 in the imaging position Q 3 by the relay lens optical system Constituting relay lenses 35, 38a, 38 are provided.

【0022】観察鏡筒2内には、光軸a上にミラー45
が設けられている。このミラー45は、リレーレンズ3
9aからの像を接眼鏡筒部3内に向けて反射するもので
ある。リレー鏡筒4内には、第2のリレーレンズ光学系
により結像位置Q3に結像された3次像を接眼レンズの
結像位置に伝送する第3のリレーレンズ光学系を構成す
るリレーレンズ39、39aが設けられている。
In the observation lens barrel 2, a mirror 45 is provided on the optical axis a.
Is provided. This mirror 45 is used for the relay lens 3
The image from 9a is reflected toward the inside of the eyepiece tube part 3. A relay lens constituting a third relay lens optical system for transmitting the tertiary image formed at the image forming position Q3 by the second relay lens optical system to the image forming position of the eyepiece in the relay lens barrel 4. 39 and 39a are provided.

【0023】これら第1〜第3のリレーレンズ光学系に
より対物光学系の一次像が結像位置Q、結像位置
、接眼レンズ内に再結像される。
With these first to third relay lens optical systems, the primary images of the objective optical system are re-imaged in the imaging position Q 2 , the imaging position Q 3 , and the eyepiece.

【0024】又、上記第1〜第3のリレーレンズ光学系
のそれぞれ結像レンズ31側には、それぞれ絞り41〜
44が設けられている。
Further, apertures 41 to 41 are provided on the image forming lens 31 side of the first to third relay lens optical systems, respectively.
44 are provided.

【0025】観察鏡筒2の内部には、ミラー45が設け
られ、上記リレーレンズ33〜35、38a、38、3
9、39aを通ってきた像を接眼鏡筒部3の接眼レンズ
46に送るものとなっている。
A mirror 45 is provided inside the observation lens barrel 2, and the relay lenses 33 to 35, 38a, 38, 3
9 and 39a are sent to the eyepiece 46 of the eyepiece tube 3.

【0026】一方、被検査物としての大型の液晶ディス
プレイのガラス基板47は、ステージ48上に載置され
ている。顕微鏡ヘッド部20が上記矢印Y方向に往復移
動し、ガラス基板47を載置したステージ48を顕微鏡
ヘッド部20の移動方向と直交する矢印X方向に移動さ
せることにより、ガラス基板47の全面を観察できる。
On the other hand, a glass substrate 47 of a large liquid crystal display as an object to be inspected is mounted on a stage 48. The microscope head unit 20 reciprocates in the arrow Y direction, and the stage 48 on which the glass substrate 47 is mounted is moved in the arrow X direction orthogonal to the moving direction of the microscope head unit 20, so that the entire surface of the glass substrate 47 is observed. it can.

【0027】次に、顕微鏡ヘッド部20及び保持体23
の具体的な構成について図4を参照して説明する。
Next, the microscope head 20 and the holder 23
Will be described with reference to FIG.

【0028】上記ミラー32は、顕微鏡ヘッド部20に
より得られた像を結像する結像レンズ31とこの結像レ
ンズ31による一次像の結像位置Qとの間の光軸a
にあって、この光軸aを中心軸にして回転可能でかつ
第2の延長リレー鏡筒に組み込まれた第1のリレーレン
ズ光学系(リレーレンズ33〜34)の光軸aと同一
方向に挿脱可能に配置されている。
The mirror 32 has an optical axis a 1 between an image forming lens 31 for forming an image obtained by the microscope head unit 20 and an image forming position Q 1 of a primary image formed by the image forming lens 31.
In the same the optical axis a 2 of the optical axis a 1 rotatable about axis and first relay lens optical system incorporated in the second extension relay barrel (relay lens 33-34) It is arranged so that it can be inserted and removed in the direction.

【0029】すなわち、顕微鏡ヘッド部2が取り付けら
れる第2の延長リレー鏡筒の先端部であるリレー鏡筒1
0内には、円筒状の移動保持体としての円筒スライダ5
0が移動可能に設けられている。この円筒スライダ50
の顕微鏡ヘッド部20の光軸a側にはミラー32がこ
の光軸aに対して角度45°に傾斜して設けられ、か
つ1次像の結像位置Q側には絞り51が形成されてい
る。図5はリレー鏡筒10及び円筒スライダ50の光軸
方向から見た図である。リレー鏡筒10の内周側に
円筒スライダ50が移動可能に設けられ、円筒スライダ
50の下部のリレー鏡筒10と接触する部分に例えばプ
ラスチック等の樹脂により形成された耐摩耗部分52が
設けられている。
That is, the relay barrel 1 which is the tip of the second extension relay barrel to which the microscope head 2 is attached.
0, there is a cylindrical slider 5 as a cylindrical moving holder.
0 is provided movably. This cylindrical slider 50
Microscope mirror 32 to the optical axis a 1 of the head portion 20 is provided obliquely at an angle 45 ° with respect to the optical axis a 1, and the primary image of the imaging position Q 1 side in the aperture 51 of Is formed. Figure 5 is a view from the optical axis a 2 direction of the relay lens barrel 10 and the cylindrical slider 50. A cylindrical slider 50 is movably provided on the inner peripheral side of the relay barrel 10, and a wear-resistant portion 52 made of, for example, a resin such as plastic is provided at a portion below the cylindrical slider 50 that contacts the relay barrel 10. ing.

【0030】リレー鏡筒9、10の外側上部には、円筒
スライダ50をリレー鏡筒10、9に対して移動させる
駆動手段としての直動駆動源53が設けられている。こ
の直動駆動源53の駆動軸54には、連結体55を介し
て円筒スライダ50が連結されている。この直動駆動源
53は、駆動軸54を光軸aと同一方向に直動させる
ものとなっている。従って、直動駆動源53が駆動軸5
4を直動動作させると、連結体55を介して円筒スライ
ダ50がリレー鏡筒10内を移動するものとなり、直動
駆動源53よる直動の方向によりミラー32を図4中で
実線で示すように光軸a上にセットしたり、又はミラ
ー32を図4中で2点鎖線で示すように同光軸a上か
らリレー鏡筒10内に退避させたりするものとなる。
A linear drive source 53 as a driving means for moving the cylindrical slider 50 with respect to the relay barrels 10, 9 is provided on the upper outside of the relay barrels 9, 10. The cylindrical slider 50 is connected to the drive shaft 54 of the linear drive source 53 via a connector 55. The linear motion drive source 53 has a one which linear motion of the drive shaft 54 to the optical axis a 2 in the same direction. Therefore, the linear drive source 53 is
When the linear motion 4 is performed, the cylindrical slider 50 moves in the relay lens barrel 10 via the coupling body 55, and the mirror 32 is indicated by a solid line in FIG. becomes to or retracted or set on the optical axis a 1, or the mirror 32 from above the optical axis a 1 as indicated by the two-dot chain line in FIG. 4 to the relay barrel 10 as.

【0031】ミラー32を顕微鏡ヘッド部20の光軸a
上にセットする位置は、図6に示すようにセットする
位置に対応して設けられたクリック機構56が連結体5
5に対して係止されることにより当該位置に停止するも
のとなっている。
The mirror 32 is connected to the optical axis a of the microscope head 20.
As shown in FIG. 6, the click mechanism 56 provided corresponding to the setting position on the connecting body 5
5 stops at that position.

【0032】上記リレー鏡筒10の先端部に設けられた
保持体23の上部には、各種計測装置として例えばCC
D等の撮像装置60が取り付けられている。すなわち、
ミラー32がリレー鏡筒10内に退避されると、顕微鏡
ヘッド部20の対物レンズ21からの像は、結像レンズ
31を通して直進し、光軸b上の結像位置Qにて結像
する。従って、撮像装置60は、結像位置Qにてガラ
ス基板47の像を撮像するように光軸b上に一致させて
保持体23に取り付けられる。
On the upper part of the holding member 23 provided at the tip of the relay barrel 10, various measuring devices such as CC
An imaging device 60 such as D is attached. That is,
When the mirror 32 is retracted into the relay barrel 10, the image from the objective lens 21 of the microscope head 20 goes straight through the imaging lens 31 and forms an image at an imaging position Q 4 on the optical axis b. . Thus, the imaging device 60 is attached to the holding member 23 by matching on the optical axis b to image an image of the glass substrate 47 at the imaging position Q 4.

【0033】保持体23の上部には、撮像装置60に限
らず各種計測装置、例えば分光計、ガラス基板47の像
を観察するための観察用ヘッドなどを交換し取り付ける
ことが可能である。
On the upper part of the holder 23, not only the imaging device 60 but also various measuring devices such as a spectrometer and an observation head for observing an image on the glass substrate 47 can be replaced and mounted.

【0034】次に、上記の如く構成された装置の作用に
ついて説明する。
Next, the operation of the device configured as described above will be described.

【0035】大型の液晶ディスプレイのガラス基板47
の欠陥検査を行なう場合、顕微鏡ヘッド用架台30が例
えば図示しない駆動部により図2に示す矢印ロ方向に往
復移動されると、この顕微鏡ヘッド用架台30の往復移
動に連動して移動支持体18がリニアガイド16、17
に沿って矢印ロ方向に往復移動すると共に、この移動支
持体18に連動して移動摺動部15が移動支持体18上
を矢印ハ方向に往復移動し、第1及び第2の延長リレー
鏡筒は、保持体23、リレー連結鏡筒部6、観察鏡筒2
を回転させて所定の角度に屈曲する。これにより、接眼
レンズ46から対物レンズ21までの光路長が変らずに
対物レンズ21をY方向に走査することが可能になる。
Glass substrate 47 for large liquid crystal display
When the microscope head base 30 is reciprocated in the direction of arrow B shown in FIG. 2 by, for example, a drive unit (not shown), the movable support 18 is interlocked with the reciprocation of the microscope head base 30. Are linear guides 16 and 17
Reciprocating in the direction of the arrow B along with the arrow, and the movable sliding portion 15 reciprocates in the direction of the arrow C on the movable support 18 in conjunction with the movable support 18, and the first and second extension relay mirrors. The tube is composed of the holder 23, the relay connection lens barrel 6, and the observation lens barrel 2.
Is rotated to bend at a predetermined angle. Thus, it is possible to scan the objective lens 21 in the Y direction without changing the optical path length from the eyepiece 46 to the objective lens 21.

【0036】この対物レンズ21のY方向の走査と共に
ステージ48をX方向に走査することによりガラス基板
47の全面を観察するものとなる。
By scanning the stage 48 in the X direction together with the scanning of the objective lens 21 in the Y direction, the entire surface of the glass substrate 47 is observed.

【0037】この顕微鏡ヘッド部20の対物レンズ21
を通して得られたガラス基板47の像は、平行光として
結像レンズ31に入射し、ミラー32で反射してリレー
鏡筒10内に入り、1次像として結像位置Qにて結像
する。さらに、この1次像は、第1のリレーレンズ光学
系の各リレーレンズ33〜34により2次像として結像
位置Qに結像される。この2次像は、第2のリレーレ
ンズ光学系のリレーレンズ35、リレー連結鏡筒部6内
の各ミラー36、37、各リレーレンズ38a、38に
より3次像として結像位置Q3に結像される。この3次
像は、第3のリレーレンズ光学系の各リレーレンズ3
9、39a、ミラー45により観察光学系の接眼レンズ
46内に結像される。
The objective lens 21 of the microscope head 20
Image of the glass substrate 47 obtained through is incident on the imaging lens 31 as parallel light, enters the relay lens barrel 10 is reflected by the mirror 32, forms an image at the imaging position Q 1 as a primary image . Furthermore, the primary image is imaged at an imaging position Q 2 by the relay lens 33-34 of the first relay lens optical system as a second image. This secondary image is formed as a tertiary image at the image forming position Q3 by the relay lens 35 of the second relay lens optical system, the mirrors 36 and 37 in the relay connection lens barrel 6, and the relay lenses 38a and 38. Is done. This tertiary image is transmitted to each relay lens 3 of the third relay lens optical system.
An image is formed in the eyepiece 46 of the observation optical system by the mirrors 45, 9, 39a.

【0038】そして、対物レンズ21によりガラス基板
47の像は、第1〜第3のリレーレンズ光学系を組み込
んだ第1及び第2の延長リレー鏡筒を通して観察鏡筒2
内のミラー45で反射して接眼鏡筒部3に入射し、接眼
レンズ46を通して観察される。
Then, the image of the glass substrate 47 by the objective lens 21 is passed through the first and second extension relay lens barrels incorporating the first to third relay lens optical systems, and the observation lens barrel 2 is displayed.
The light is reflected by a mirror 45 inside, enters the eyepiece tube 3, and is observed through an eyepiece 46.

【0039】ガラス基板47の欠陥検査に応じて顕微鏡
ヘッド部20により得られたガラス基板47の像を直接
に撮像装置60により撮像することが要求される。この
場合、保持体23の上部に撮像装置60が取り付けられ
る。
It is required that the image of the glass substrate 47 obtained by the microscope head unit 20 be directly taken by the imaging device 60 in accordance with the defect inspection of the glass substrate 47. In this case, the imaging device 60 is attached to the upper part of the holder 23.

【0040】一方、直動駆動源53は、駆動軸54を直
動動作する。この直動動作は、連結体55を介して円筒
スライダ50に伝達されるので、この円筒スライダ50
は、リレー鏡筒10内を移動、図面上では左側方向に移
動する。これにより、ミラー32は、顕微鏡ヘッド部2
0の光軸a上から外れ、リレー鏡筒10内に退避す
る。
On the other hand, the linear drive source 53 linearly operates the drive shaft 54. Since this linear motion is transmitted to the cylindrical slider 50 via the connecting body 55, the cylindrical slider 50
Moves in the relay barrel 10 and moves leftward in the drawing. Thereby, the mirror 32 is connected to the microscope head 2.
0 deviates from the optical axis a 1 of retreats to relay barrel 10.

【0041】この状態であれば、顕微鏡ヘッド部20に
より得られたガラス基板47の像は、結像レンズ31に
より光軸b上の撮像装置60内で結像する。しかるに、
この撮像装置60は、結像レンズ31により結像された
ガラス基板47の像を撮像する。
In this state, the image of the glass substrate 47 obtained by the microscope head 20 is formed by the imaging lens 31 in the image pickup device 60 on the optical axis b. However,
The imaging device 60 captures an image of the glass substrate 47 formed by the imaging lens 31.

【0042】保持体23の上部に撮像装置60に代えて
分光計が取り付けられると、この分光計は、結像レンズ
31により結像されたガラス基板47の像の分光を計測
するものとなる。
When a spectrometer is attached to the upper part of the holder 23 instead of the imaging device 60, the spectrometer measures the spectrum of the image of the glass substrate 47 formed by the imaging lens 31.

【0043】又、ガラス基板47の欠陥検査では、当該
ガラス基板47の種類や検査の方法に応じて顕微鏡ヘッ
ド部20が交換される。この顕微鏡ヘッド部20が交換
されても、上記同様に、顕微鏡ヘッド部20の無限遠の
対物レンズ21を通して得られたガラス基板47の像
は、平行光として結像レンズ31に入射する。従って、
延長リレー鏡筒の先端に結像レンズ31を配置しておけ
ば、リレーレンズ光学系での像位置の同焦が取れるの
で、接眼レンズ46を通してガラス基板47の像を良好
に観察できる。
In the defect inspection of the glass substrate 47, the microscope head unit 20 is replaced according to the type of the glass substrate 47 and the inspection method. Even when the microscope head unit 20 is replaced, the image of the glass substrate 47 obtained through the infinity objective lens 21 of the microscope head unit 20 is incident on the imaging lens 31 as parallel light, as described above. Therefore,
If the imaging lens 31 is arranged at the tip of the extension relay barrel, the image position in the relay lens optical system can be brought into focus, so that the image on the glass substrate 47 can be favorably observed through the eyepiece 46.

【0044】このように上記一実施の形態においては、
顕微鏡ヘッド部20の光軸a側にミラー32を一体に
設けた円筒スライダ50を直動駆動源53の駆動により
リレー鏡筒10に対して延長リレー鏡筒の光軸a方向
に移動させ、ミラー32を顕微鏡ヘッド部20の光軸a
上にセットしたり、又はミラー32を同光軸a上か
ら外してリレー鏡筒10内に退避させるようにしたの
で、顕微鏡ヘッド部20で得られた像を直接例えばCC
Dカメラ等の撮像装置60や分光計等の各種計測装置で
撮像又はその像の分光測定などを行なうことができ、ガ
ラス基板47に対する観察、検査、測定などの幅を広げ
ることができる。特に、高精度な測定を行なう顕微鏡ヘ
ッド部20が上記矢印ロ方向と同一方向に往復移動した
ときにリレー鏡筒10に対して顕微鏡ヘッド部20及び
撮像装置60が回動したとしても、顕微鏡ヘッド部20
からの光軸b上の撮像装置60や各計測装置はずれるこ
とがなく、かつリレーレンズ光学系による収差の影響を
殆ど受けず、高精度な撮像ができる。
As described above, in one embodiment,
Moving the cylindrical slider 50 having a mirror 32 integrally with the optical axis a 2 direction of extension relay barrel to the relay lens barrel 10 by the driving of the linear motion drive source 53 to the optical axis a 1 side of the microscope head portion 20 And the mirror 32 to the optical axis a of the microscope head 20.
Or set on 1, or since so as to retract the relay barrel 10 of the mirror 32 removed from above the optical axis a 1, directly e.g. CC images obtained by the microscope head portion 20
The imaging device 60 such as a D camera or various measuring devices such as a spectrometer can perform imaging or spectroscopic measurement of the image, and can broaden the observation, inspection, and measurement of the glass substrate 47. In particular, even if the microscope head unit 20 and the imaging device 60 rotate with respect to the relay barrel 10 when the microscope head unit 20 that performs high-precision measurement reciprocates in the same direction as the arrow B, the microscope head Part 20
The imaging device 60 and the measuring devices on the optical axis b are not displaced from each other, and are hardly affected by aberration by the relay lens optical system, so that high-precision imaging can be performed.

【0045】又、液晶ディスプレイのライン検査におい
て、撮像装置60により取り込まれたガラス基板47の
画像をモニタに表示して常時観察し、問題のあるときだ
け接眼レンズで目視観察することが望まれている。この
場合、常時使用する撮像装置を顕微鏡ヘッド部20に取
り付けたことにより、リレーレンズ光学系による光量損
失がなくなるので、接眼鏡筒部に取り付けた場合と比べ
て光源の電圧を低く抑えることができ、光源の寿命を延
ばすことができる。
In the line inspection of the liquid crystal display, it is desired that the image of the glass substrate 47 captured by the image pickup device 60 is displayed on a monitor and constantly observed, and only when there is a problem, it is visually observed with an eyepiece. I have. In this case, since the imaging device that is always used is attached to the microscope head unit 20, the light amount loss due to the relay lens optical system is eliminated, so that the voltage of the light source can be suppressed lower than when attached to the eyepiece tube unit. As a result, the life of the light source can be extended.

【0046】又、ミラー32を顕微鏡ヘッド部20の光
軸a上に再セットするときは、再セットする位置に対
応して設けられたクリック機構56により当該位置に停
止するので、再セットするときのミラー32の位置調整
を行なわなくてもよい。
[0046] Also, when re-setting the mirror 32 on the optical axis a 1 of the microscope head unit 20, since the click mechanism 56 provided corresponding to a position to re-set to stop in that position, to re-set It is not necessary to adjust the position of the mirror 32 at that time.

【0047】なお、本発明は、上記一実施の形態に限定
されるものでなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない
範囲で種々に変形することが可能である。
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be variously modified in the practical stage without departing from the scope of the invention.

【0048】さらに、上記実施形態には、種々の段階の
発明が含まれており、開示されている複数の構成要件に
おける適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出でき
る。例えば、実施形態に示されている全構成要件から幾
つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとす
る課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で
述べられている効果が得られる場合には、この構成要件
が削除された構成が発明として抽出できる。
Further, the above embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent features. For example, even if some components are deleted from all the components shown in the embodiment, the problem described in the column of the problem to be solved by the invention can be solved, and the problem described in the column of the effect of the invention can be solved. In the case where the effect is obtained, a configuration from which this configuration requirement is deleted can be extracted as an invention.

【0049】[0049]

【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、顕
微鏡ヘッド部により得られた像をリレーレンズに導くミ
ラーを光軸に対して挿脱できる検査装置を提供できる。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide an inspection apparatus capable of inserting and removing a mirror for guiding an image obtained by a microscope head to a relay lens with respect to an optical axis.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係わる検査装置の一実施の形態を示す
側面から見た構成図。
FIG. 1 is a side view showing a configuration of an embodiment of an inspection apparatus according to the present invention.

【図2】本発明に係わる検査装置の一実施の形態を示す
上方から見た構成図。
FIG. 2 is a configuration diagram showing one embodiment of the inspection apparatus according to the present invention, viewed from above.

【図3】本発明に係わる検査装置の一実施の形態におけ
る顕微鏡ヘッド部の移動を示す図。
FIG. 3 is a diagram showing a movement of a microscope head in an embodiment of the inspection apparatus according to the present invention.

【図4】本発明に係わる検査装置の一実施の形態におけ
る顕微鏡ヘッド部の具体的な構成図。
FIG. 4 is a specific configuration diagram of a microscope head unit in one embodiment of the inspection device according to the present invention.

【図5】本発明に係わる検査装置の一実施の形態におけ
るリレー鏡筒及び円筒スラスダの光軸方向から見た図。
FIG. 5 is a view of a relay barrel and a cylindrical thruster according to an embodiment of the inspection apparatus according to the present invention, as viewed from the optical axis direction.

【図6】本発明に係わる検査装置の一実施の形態におけ
るクリック機構の構成図。
FIG. 6 is a configuration diagram of a click mechanism in an embodiment of the inspection device according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:固定台 2:観察鏡筒 3:接眼鏡筒部 4,5,5a,7,8,9,10:リレー鏡筒 6:リレー連結鏡筒部 11:連結部 12:連結部 13,19:ボールベアリング 14:連結支持アーム 15:移動摺動部 16,17:リニアガイド 18:移動支持体 20:顕微鏡ヘッド部 21,22:対物レンズ 23:保持体 24:嵌合部 30:顕微鏡ヘッド用架台 31:結像レンズ 32:ミラー 33〜35,38,38a,39,39a:リレーレン
ズ 36,37:ミラー 40〜44:絞り 46:接眼レンズ 47:ガラス基板 48:ステージ 49:門型アーム 50:円筒スライダ 51:絞り 52:耐摩耗部分 53:直動駆動源 54:駆動軸 55:連結体 56:クリック機構 60:撮像装置
1: Fixed stage 2: Observation lens barrel 3: Eyepiece tube part 4, 5, 5a, 7, 8, 9, 10: Relay lens tube 6: Relay connection lens tube part 11: Connection part 12: Connection part 13, 19 : Ball bearing 14: Connection support arm 15: Moving sliding part 16, 17: Linear guide 18: Moving support 20: Microscope head 21, 22: Objective lens 23: Holder 24: Fitting part 30: Microscope head Mount 31: imaging lens 32: mirror 33-35, 38, 38a, 39, 39a: relay lens 36, 37: mirror 40-44: aperture 46: eyepiece 47: glass substrate 48: stage 49: portal arm 50 : Cylinder slider 51: Aperture 52: Abrasion resistant part 53: Direct drive source 54: Drive shaft 55: Connected body 56: Click mechanism 60: Imaging device

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被検査物の像を得るための対物光学系を
備えた顕微鏡ヘッド部と、この顕微鏡ヘッド部により得
られた像を再結像する複数のリレーレンズ光学系を有
し、リレー連結部を介して互いに回動自在に廉潔された
第1と第2の延長リレー鏡筒と、これら第1と第2の延
長リレー鏡筒により再結像された前記像を観察するため
の位置固定された観察光学系とを備え、 前記対物光学系により得られた像を前記第1と第2の延
長リレー鏡筒側に偏向する光路偏向光学素子と、 前記顕微鏡ヘッド部が取り付けられる側の前記第1又は
第2の延長リレー鏡筒の先端部に前記光路偏向光学素子
を、前記偏向方向に移動可能に保持する移動保持体と、 この移動保持体を前記光路偏向光学素子が前記顕微鏡ヘ
ッド部の光軸から退避する位置まで移動させる駆動手段
と、を具備したことを特徴とする検査装置。
1. A relay comprising: a microscope head provided with an objective optical system for obtaining an image of an object to be inspected; and a plurality of relay lens optical systems for re-forming an image obtained by the microscope head. First and second extension relay barrels rotatably insulated from each other via a connecting portion, and a position for observing the image re-imaged by the first and second extension relay barrels. A fixed observation optical system, an optical path deflecting optical element for deflecting an image obtained by the objective optical system toward the first and second extension relay barrels, A moving holder for holding the optical path deflecting optical element at the distal end of the first or second extension relay barrel so as to be movable in the deflection direction; From the optical axis of the An inspection apparatus comprising:
【請求項2】 前記光路偏向光学素子は、ミラー又はプ
リズムであることを特徴とする請求項1記載の検査装
置。
2. The inspection apparatus according to claim 1, wherein the optical path deflecting optical element is a mirror or a prism.
【請求項3】 前記光路偏向光学素子が退避した前記顕
微鏡ヘッド部の光軸上に各種計測装置を取り付けること
を特徴とする請求項1記載の検査装置。
3. The inspection apparatus according to claim 1, wherein various measuring devices are mounted on an optical axis of the microscope head portion in which the optical path deflecting optical element is retracted.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7008819B2 (en) 2001-01-10 2006-03-07 Silverbrook Research Pty Ltd Method of fabricating an array of wafer scale polymeric caps

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