JP2002261590A - Delay unit - Google Patents

Delay unit

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JP2002261590A
JP2002261590A JP2001055729A JP2001055729A JP2002261590A JP 2002261590 A JP2002261590 A JP 2002261590A JP 2001055729 A JP2001055729 A JP 2001055729A JP 2001055729 A JP2001055729 A JP 2001055729A JP 2002261590 A JP2002261590 A JP 2002261590A
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delay
circuit
signal
oscillation
input
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Akio Maruo
章郎 丸尾
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Asahi Kasei Microsystems Co Ltd
Asahi Kasei Microdevices Corp
Original Assignee
Asahi Kasei Microsystems Co Ltd
Asahi Kasei Microdevices Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a delay unit which is capable of improving the delay time in accuracy, when it generates delay signals on the basis of input signals and enabling a delay time to cope easily with a frequency difference, even if input signals have arbitrary frequencies. SOLUTION: A ring oscillation circuit 28 comprises delay elements 21, 23 to 25. An oscillation control circuit 29 controls a switching circuit 22, on the basis of input signals and the output signals from a comparator 30 so as to stop the oscillation of the ring oscillation circuit 28. The comparator 30 binarizes analog signal which are inputted into the delay element 23, outputs the binarized signal as reference signals, and supplies the reference signals to the oscillation control circuit 29. A comparator 31 turns analog signals which are outputted from a delay element 26 into binary signals, and the binary signals are outputted as delay signals.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、PLL(Phas
e Locked Loop)回路によるクロック・デ
ータ・リカバリ(データストローブ回路)などに適用さ
れる遅延装置に関する。
The present invention relates to a PLL (Phas).
The present invention relates to a delay device applied to clock / data recovery (data strobe circuit) using an e-locked loop (e-locked loop) circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】クロック・データ・リカバリは、例えば
CDプレーヤなどのピックアップで検出されたデータに
基づき、そのデータ中に含まれるクロック成分を再生す
るものである。例えば、図7(A)に示すようなデータ
があるとすれば、本来、このデータに対応して図7
(B)に示すようなクロックが存在するはずである。ク
ロック・データ・リカバリは、そのクロックをデータか
ら再生するのである。
2. Description of the Related Art Clock data recovery is for recovering a clock component contained in data based on data detected by a pickup such as a CD player. For example, if there is data as shown in FIG. 7A, the data shown in FIG.
There should be a clock as shown in (B). Clock data recovery regenerates the clock from the data.

【0003】ところで、そのクロックを生成する場合
に、PLL回路を使用して行うことが行われている。し
かし、入力データとクロックとは、図7(A)(B)に
示すように、その周期が異なる(入力データは図7
(A)のように「1」や「0」が連続する場合があるた
めに歯抜けとなる)。このため、入力データは、そのク
ロックとそのエッジ数が異なるので、その各クロックと
の位相を比較してPLL動作を実現するこができない。
[0003] When the clock is generated, it is performed using a PLL circuit. However, the input data and the clock have different periods as shown in FIGS. 7A and 7B.
As shown in (A), there is a case where “1” and “0” are continuous, resulting in omission. For this reason, since the clock of the input data is different from the number of edges of the clock, the PLL operation cannot be realized by comparing the phases of the respective clocks.

【0004】そこで、PLL回路によるクロック・デー
タ・リカバリは、図8に示すように、位相比較器1、ル
ープフィルタ2、VCO(電圧制御発振器)3の一般的
な構成に加え、遅延装置4、およびパルスマスク回路5
を含んでいる。このようなクロック・データ・リカバリ
では、図9(A)に示すような入力データが遅延装置4
に入力されると、その入力データは図9(B)に示すよ
うに遅延装置4で遅延される。
Therefore, the clock and data recovery by the PLL circuit is performed by adding a delay device 4 and a general configuration of a phase comparator 1, a loop filter 2 and a VCO (voltage controlled oscillator) 3 as shown in FIG. And pulse mask circuit 5
Contains. In such a clock data recovery, input data as shown in FIG.
, The input data is delayed by the delay device 4 as shown in FIG.

【0005】パルスマスク回路5は、VCO3から出力
されるリカバリクッロクと遅延装置4の入力データとに
基づき比較クロックを生成する。すなわち、パルスマス
ク回路5は、図9(C)に示すようなリカバリクロック
の立ち上がりから次の立ち上がりまでの間に、図9
(A)に示す入力データのエッジが検出されない場合
に、そのリカバリクロックをマスクした図9(D)に示
すような比較クロックを生成する。
[0005] The pulse mask circuit 5 generates a comparison clock based on the recovery clock output from the VCO 3 and the input data of the delay device 4. In other words, the pulse mask circuit 5 operates between the rising edge of the recovery clock and the next rising edge as shown in FIG.
When the edge of the input data shown in (A) is not detected, a comparison clock as shown in FIG. 9 (D) is generated by masking the recovery clock.

【0006】位相比較器1は、パルスマスク回路5で生
成された比較クロックの各立ち下がりエッジと、遅延装
置4で遅延された入力データの両エッジとを比較し、そ
の比較結果に応じた信号を出力する。ループフィルタ2
は、位相比較器1からの出力信号の平滑化を行い、それ
をVCO3に出力する。VCO3は、そのループフィル
タ2からの出力に応じて発信周波数が変化するリカバリ
クロックを生成する。このような一連の動作によりPL
L動作が実現される。
The phase comparator 1 compares each falling edge of the comparison clock generated by the pulse mask circuit 5 with both edges of the input data delayed by the delay device 4, and outputs a signal corresponding to the comparison result. Is output. Loop filter 2
Performs smoothing of the output signal from the phase comparator 1 and outputs it to the VCO 3. The VCO 3 generates a recovery clock whose transmission frequency changes according to the output from the loop filter 2. By such a series of operations, PL
L operation is realized.

【0007】以上説明したように、図8に示すようなP
LL回路によるクロック・データ・リカバリでは、比較
クロックを生成するパルスマスク回路5が必要となる。
さらに、その比較クロックを生成するには、入力データ
よりも早いタイミングで入力データと同じ信号が必要と
なるために、入力データを例えばT/2(Tは入力デー
タのビットレート)だけ遅らす遅延装置4が必要とな
る。
As described above, P as shown in FIG.
The clock data recovery by the LL circuit requires a pulse mask circuit 5 that generates a comparison clock.
Further, since the same clock as the input data is required at a timing earlier than the input data to generate the comparison clock, a delay device for delaying the input data by, for example, T / 2 (T is the bit rate of the input data) 4 is required.

【0008】そこで、従来からの遅延装置の一例につい
て、図10を参照して説明する。この遅延装置は、図1
0に示すように、セッティング回路11と、複数の遅延
素子12〜17と、遅延回路18と、比較器19、20
とを備えている。ここで、図8に示すVCO3は、等価
な遅延素子を用いたリング発振回路で構成され、そのV
CO3を構成する遅延素子に与えられるバイアス電圧と
等価なバイアス電圧が、図10の遅延素子12〜17に
与えられることで、遅延素子12〜17の遅延時間が決
定されている。
Therefore, an example of a conventional delay device will be described with reference to FIG. This delay device is shown in FIG.
0, a setting circuit 11, a plurality of delay elements 12 to 17, a delay circuit 18, and comparators 19 and 20.
And Here, the VCO 3 shown in FIG. 8 is configured by a ring oscillation circuit using an equivalent delay element,
The delay time of the delay elements 12 to 17 is determined by applying the bias voltage equivalent to the bias voltage applied to the delay elements constituting CO3 to the delay elements 12 to 17 in FIG.

【0009】このため、VCO3を図12に示すように
例えば4つの遅延素子から構成し、VCO3が入力デー
タのビットレートTで発振しているときには、そのVC
O3を構成する遅延素子の1つあたりの遅延時間はT/
8となる。従って、図10の遅延素子12〜17の1つ
あたりの遅延時間はT/8となる。このような遅延装置
では、セッティング回路11に図11(A)に示すよう
な入力信号が入力されると、セッティング回路11は、
その入力信号の立ち上がりで、遅延素子13の入力信号
(比較器19の入力信号)をHレベルからLレベルにな
るようにセットする。これにより、その入力信号は、図
11(B)に示すようにHレベルからLレベルになる。
For this reason, the VCO 3 is composed of, for example, four delay elements as shown in FIG. 12, and when the VCO 3 oscillates at the bit rate T of the input data, the VCO
The delay time of one of the delay elements constituting O3 is T /
It becomes 8. Therefore, the delay time per one of the delay elements 12 to 17 in FIG. 10 is T / 8. In such a delay device, when an input signal as shown in FIG. 11A is input to the setting circuit 11, the setting circuit 11
At the rising edge of the input signal, the input signal of the delay element 13 (the input signal of the comparator 19) is set to change from H level to L level. As a result, the input signal changes from H level to L level as shown in FIG.

【0010】その後、その入力信号が遅延素子13、1
4と遅延回路18とで遅延時間T1(T1=T/2)だ
け遅延されてセッティング回路11に入力されると、セ
ッティング回路11は、その入力されたタイミングで、
その遅延素子13の入力信号の「L」レベルの固定を解
除するためのリセット動作を行う。これにより、その入
力信号は、図11(B)に示すようにLレベルからHレ
ベルに戻ろうとし、これが4つの遅延素子13〜16を
通過して遅延時間T2(T2=T/2)だけ遅延し、こ
の遅延信号が図11(C)に示すような遅延素子16の
出力信号として生成される。
Thereafter, the input signal is applied to the delay elements 13, 1
4 and the delay circuit 18 are delayed by the delay time T1 (T1 = T / 2) and input to the setting circuit 11, and the setting circuit 11
A reset operation is performed to release the fixed “L” level of the input signal of the delay element 13. As a result, the input signal attempts to return from the L level to the H level as shown in FIG. 11B, which passes through the four delay elements 13 to 16 for a delay time T2 (T2 = T / 2). The delay signal is generated as an output signal of the delay element 16 as shown in FIG.

【0011】ここで、遅延回路18は、セッティング回
路11などに遅延があるので、その遅延量を等価的に表
現したものであり、実際に具体的な回路が存在するもの
ではない。
Since the setting circuit 11 and the like have a delay, the delay circuit 18 expresses the amount of the delay equivalently, and there is no actual concrete circuit.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
従来の遅延装置では、遅延素子の初期状態、入力信号の
遷移状態の違いにより、遅延時間T1にずれを生ずる。
これは、セッティング回路11が、遅延素子13の入力
信号をLレベルにセットしてからリセットがかかるまで
の遅延時間T1が、遅延時間T/2と一致しないために
生ずる(図11(B)参照)。その原因は、遅延時間T
1が遅延素子13、14の遅延時間T/4と、等価的に
表現される遅延回路18の固定的な遅延時間とによって
決まるためである。
In such a conventional delay device, the delay time T1 is shifted due to the difference between the initial state of the delay element and the transition state of the input signal.
This occurs because the delay time T1 from when the setting circuit 11 sets the input signal of the delay element 13 to the L level until the reset is applied does not match the delay time T / 2 (see FIG. 11B). ). The cause is the delay time T
This is because 1 is determined by the delay time T / 4 of the delay elements 13 and 14 and the fixed delay time of the delay circuit 18 expressed equivalently.

【0013】さらに、従来の遅延装置では、遅延時間T
1を決定する要素に固定的な遅延時間を有する遅延回路
18が含まれるので、入力信号が任意の周波数の場合に
はその遅延時間が周波数の違いに容易に対応できないと
いう不具合があった。そこで、本発明の目的は、上記の
点に鑑み、入力信号に基づいて遅延信号を生成する際の
遅延時間の精度の向上を図るとともに、入力信号が任意
の周波数であってもその遅延時間が周波数の違いに容易
に対応できる遅延装置を提供することにある。
Further, in the conventional delay device, the delay time T
Since the delay circuit 18 having a fixed delay time is included in the element for determining 1, there is a problem that when the input signal has an arbitrary frequency, the delay time cannot easily cope with a difference in frequency. In view of the above, an object of the present invention is to improve the accuracy of a delay time when a delay signal is generated based on an input signal, and to reduce the delay time even if the input signal has an arbitrary frequency. An object of the present invention is to provide a delay device that can easily cope with a difference in frequency.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決し、本発
明の目的を達成するために、請求項1および請求項2に
記載の発明は以下のように構成した。すなわち、請求項
1に記載の発明は、複数の遅延素子を縦続接続させ、そ
のうちの所定の遅延素子の出力側を初段の遅延素子の入
力側に帰還させて自己発振するリング発振回路を構成
し、このリング発振回路を含む遅延回路と、前記複数の
遅延素子のうち少なくとも2つの遅延素子の各出力信号
に基づき、基準信号と、この基準信号から所定の遅延時
間を有する遅延信号とを出力する出力回路と、前記リン
グ発振回路を構成する複数の遅延素子のうちの所定の遅
延素子の入力端子の信号を所定レベルに固定するととも
に、入力信号に基づいて所定時間にわたって前記固定を
解除する発振制御を行う発振制御回路と、を備えるよう
にしたことを特徴とするものである。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems and to achieve the object of the present invention, the inventions according to claims 1 and 2 are configured as follows. In other words, the invention according to claim 1 constitutes a ring oscillation circuit in which a plurality of delay elements are cascaded, and an output side of a predetermined delay element is fed back to an input side of a first-stage delay element to perform self-oscillation. A delay circuit including the ring oscillation circuit, and a reference signal based on each output signal of at least two of the plurality of delay elements, and a delay signal having a predetermined delay time from the reference signal. Oscillation control for fixing a signal at an input terminal of a predetermined delay element of a plurality of delay elements constituting the output circuit and the ring oscillation circuit to a predetermined level and releasing the fixation for a predetermined time based on the input signal And an oscillation control circuit for performing the above operation.

【0015】また、請求項2に記載の発明は、請求項1
に記載の遅延装置において、前記発振制御回路は、前記
入力信号と前記基準信号とに基づき、前記発振制御を行
うようになっていることを特徴とするものである。この
ように本発明では、遅延素子を利用してリング発振回路
を形成し、そのリング発振回路の発振を発振制御回路に
より制御するようにした。このため、本発明によれば、
入力信号に基づいて遅延信号を生成する際の遅延時間が
従来のように固定の遅延量に依存しなくなるので、その
遅延時間の精度を向上することができる。
The invention described in claim 2 is the first invention.
Wherein the oscillation control circuit performs the oscillation control based on the input signal and the reference signal. As described above, in the present invention, the ring oscillation circuit is formed by using the delay element, and the oscillation of the ring oscillation circuit is controlled by the oscillation control circuit. Therefore, according to the present invention,
Since the delay time when the delay signal is generated based on the input signal does not depend on the fixed delay amount as in the related art, the accuracy of the delay time can be improved.

【0016】また、本発明では、従来のように固定の遅
延量に依存しないので、入力信号が任意の周波数であっ
ても、その遅延時間が周波数の違いに対して容易に対応
できる。
Further, according to the present invention, since the input signal does not depend on a fixed delay amount as in the prior art, even if the input signal has an arbitrary frequency, the delay time can easily cope with a difference in frequency.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。まず、本発明の遅延装置の実
施形態の構成について、図1を参照しながら説明する。
この実施形態に係る遅延装置は、図1に示すように、遅
延素子21、スイッチ回路22、および遅延素子23〜
27が縦続に接続され、これらにより遅延回路を構成し
ている。そして、遅延素子25の出力を初段の遅延素子
21に帰還することにより、遅延素子21、スイッチ回
路22、および遅延素子23〜25でリング発振回路2
8を形成するようにしている。従って、リング発振回路
28は遅延回路に含まれるようになっている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. First, the configuration of an embodiment of the delay device of the present invention will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 1, the delay device according to this embodiment includes a delay element 21, a switch circuit 22, and delay elements 23 to 23.
27 are connected in cascade, and these constitute a delay circuit. Then, the output of the delay element 25 is fed back to the delay element 21 at the first stage, so that the ring oscillation circuit 2 is formed by the delay element 21, the switch circuit 22, and the delay elements 23 to 25.
8 is formed. Therefore, the ring oscillation circuit 28 is included in the delay circuit.

【0018】ここで、このような構成からなる遅延装置
は、図8に示すようなPLL回路に適用され、この場合
には、図8の遅延装置4が図1に示す遅延装置に置き代
わったものとなる。また、図8に示すVCO3は、等価
な遅延素子を用いたリング発振回路で構成され、そのV
CO3を構成する各遅延素子と図1の各遅延素子21、
23〜27とには、等価なバイアス電圧が与えられるよ
うになっている。
Here, the delay device having such a configuration is applied to a PLL circuit as shown in FIG. 8, and in this case, the delay device 4 in FIG. 8 is replaced with the delay device shown in FIG. It will be. The VCO 3 shown in FIG. 8 is constituted by a ring oscillation circuit using an equivalent delay element.
Each delay element constituting CO3 and each delay element 21 in FIG.
23 to 27 are provided with equivalent bias voltages.

【0019】従って、図8に示すVCO3を、例えば図
12に示すように4つの遅延素子から構成し、VCO3
が入力データのビットレートTで発振しているときに
は、そのVCO3を構成する遅延素子の1つあたりの遅
延時間はT/8となる。従って、図1の遅延素子21、
23〜27の1つあたりの遅延時間はT/8となる。リ
ング発振回路28は、発振制御回路29により後述のよ
うに発振の停止が制御されるようになっている。すなわ
ち、発振制御回路29は、後述のように入力信号と比較
器30の出力信号に基づき、スイッチ回路22を制御す
ることでリング発振回路28の発振を停止制御するよう
になっている。
Therefore, the VCO 3 shown in FIG. 8 is composed of, for example, four delay elements as shown in FIG.
Is oscillating at the bit rate T of the input data, the delay time per one of the delay elements constituting the VCO 3 is T / 8. Therefore, the delay element 21 of FIG.
The delay time per one of 23 to 27 is T / 8. The ring oscillation circuit 28 is controlled to stop oscillation by an oscillation control circuit 29 as described later. That is, the oscillation control circuit 29 stops the oscillation of the ring oscillation circuit 28 by controlling the switch circuit 22 based on the input signal and the output signal of the comparator 30 as described later.

【0020】また、この実施形態に係る遅延装置では、
遅延素子23の入力側に接続する比較器30と、遅延素
子26の出力側に接続する比較器31とを、出力回路と
して備えている。比較器30は、遅延素子23に入力さ
れるアナログ信号を2値化し、この2値化信号を基準信
号として出力するとともに、発振制御回路29に供給す
るようになっている。比較器31は、遅延素子26から
出力されるアナログ信号を2値化し、この2値化信号を
遅延素子23〜26で遅延された遅延信号として出力す
るようになっている。
In the delay device according to this embodiment,
A comparator 30 connected to the input side of the delay element 23 and a comparator 31 connected to the output side of the delay element 26 are provided as output circuits. The comparator 30 binarizes the analog signal input to the delay element 23, outputs the binarized signal as a reference signal, and supplies the reference signal to the oscillation control circuit 29. The comparator 31 binarizes the analog signal output from the delay element 26, and outputs the binarized signal as a delay signal delayed by the delay elements 23 to 26.

【0021】次に、このような構成からなる図1に示す
実施形態の動作例について、図2を参照して説明する。
いま、図2(A)に示すような入力信号が発振制御回路
29に入力され、その入力信号が時刻t1において立ち
上がると、発振制御回路29は、その入力信号の立ち上
がり後に、遅延素子23の入力信号(比較器30の入力
信号)をHレベルからLレベルになるようにスイッチ回
路22を制御する。
Next, an operation example of the embodiment shown in FIG. 1 having such a configuration will be described with reference to FIG.
Now, when an input signal as shown in FIG. 2A is input to the oscillation control circuit 29 and the input signal rises at time t1, the oscillation control circuit 29 outputs the input signal of the delay element 23 after the input signal rises. The switch circuit 22 is controlled so that a signal (input signal of the comparator 30) changes from H level to L level.

【0022】この結果、スイッチ回路22がその指示の
ように動作し、リング発振回路28は発振の停止が解除
されて発振状態になるので、遅延素子23の入力信号
は、図2(B)に示すようにHレベルからLレベルに変
化したのち、再びHレベルに変化する。この遅延素子2
3の入力信号のレベルの変動に応じて、比較器30の出
力はHレベル、Lレベル、およびHレベルと変化し、そ
の変化が発振制御回路29に伝達される。
As a result, the switch circuit 22 operates as instructed, and the ring oscillation circuit 28 is released from the stop of the oscillation and enters the oscillation state. Therefore, the input signal of the delay element 23 becomes as shown in FIG. As shown, the level changes from the H level to the L level, and then changes to the H level again. This delay element 2
The output of the comparator 30 changes to the H level, the L level, and the H level in accordance with the level change of the input signal of No. 3, and the change is transmitted to the oscillation control circuit 29.

【0023】図2(B)に示すように、遅延素子23の
入力信号がHレベルに変化後の時刻t2において、発振
制御回路29は、遅延素子23の入力信号がHレベルに
固定されるようにスイッチ回路22を制御する。この結
果、スイッチ回路22がその指示のように動作し、遅延
素子23の入力信号は、図2(B)に示すように「H」
レベルに固定され、リング発振回路28は発振が停止し
た状態になる。
As shown in FIG. 2B, at time t2 after the input signal of the delay element 23 changes to the H level, the oscillation control circuit 29 sets the input signal of the delay element 23 to the H level. To control the switch circuit 22. As a result, the switch circuit 22 operates as instructed, and the input signal of the delay element 23 becomes “H” as shown in FIG.
The level is fixed to the level, and the ring oscillation circuit 28 is in a state where the oscillation is stopped.

【0024】このような遅延素子23の入力信号の変化
は、遅延素子23〜26により例えばT/2(Tは入力
信号のビットレート)だけ遅延されて伝達され、遅延素
子26の出力信号は図2(C)に示すようになる。上記
の遅延素子23の入力信号のHレベルの固定は、時刻t
3まで継続され、時刻t3において発振制御回路2の入
力信号がHレベルに立ち上がると、発振制御回路29
は、その入力信号の立ち上がり後に、遅延素子23の入
力信号のHレベルの固定を解除するようにスイッチ回路
22を制御する。この結果、リング発振回路28は発振
の停止が解除されて発振状態になる。
Such a change in the input signal of the delay element 23 is transmitted after being delayed by, for example, T / 2 (T is the bit rate of the input signal) by the delay elements 23 to 26, and the output signal of the delay element 26 is shown in FIG. 2 (C). The H level of the input signal of the delay element 23 is fixed at time t
3 when the input signal of the oscillation control circuit 2 rises to the H level at time t3.
Controls the switch circuit 22 so that the H level of the input signal of the delay element 23 is released after the rise of the input signal. As a result, the stop of the oscillation of the ring oscillation circuit 28 is released and the ring oscillation circuit 28 enters the oscillation state.

【0025】このような動作を繰り返すことにより、遅
延素子23の入力信号と、遅延素子26の出力信号と
は、例えばT/2だけ遅延される。そして、比較器30
は、遅延素子23の入力信号を2値化し、この2値化信
号を基準信号として出力する。また、比較器31は、遅
延素子26の出力信号を2値化し、この2値化信号を遅
延信号として出力する。
By repeating such an operation, the input signal of the delay element 23 and the output signal of the delay element 26 are delayed by, for example, T / 2. And the comparator 30
Converts the input signal of the delay element 23 into a binary signal and outputs the binary signal as a reference signal. The comparator 31 binarizes the output signal of the delay element 26 and outputs the binarized signal as a delay signal.

【0026】以上説明したように、この実施形態では、
遅延素子を利用してリング発振回路28を形成し、その
リング発振回路28の発振を発振制御回路29により制
御するようにした。このため、この実施形態によれば、
発振制御回路29に入力される入力信号に基づいて遅延
信号を生成する際の遅延時間が従来のように固定の遅延
量に依存しなくなるので、その遅延時間の精度を向上す
ることができる。
As described above, in this embodiment,
A ring oscillation circuit 28 is formed using a delay element, and the oscillation of the ring oscillation circuit 28 is controlled by an oscillation control circuit 29. Therefore, according to this embodiment,
Since the delay time when the delay signal is generated based on the input signal input to the oscillation control circuit 29 does not depend on the fixed delay amount as in the related art, the accuracy of the delay time can be improved.

【0027】また、この実施形態では、従来のように固
定の遅延量に依存しないので、その入力信号が任意の周
波数であっても、その遅延時間が周波数の違いに容易に
対応できる。なお、図1の実施形態では、遅延素子が6
つの場合について説明したが、その遅延素子の接続個数
は遅延時間などに応じて任意の個数とすることができ
る。また、リング発振回路28を構成する遅延素子の個
数も所望の発振周波数に応じて任意の個数とすることが
できる。さらに、比較器30で基準信号を出力する位置
や、比較器31で遅延信号を出力する位置も遅延時間に
応じて任意の位置とすることができる。
Also, in this embodiment, since the input signal does not depend on a fixed delay amount as in the prior art, even if the input signal has an arbitrary frequency, the delay time can easily cope with the difference in frequency. Note that, in the embodiment of FIG.
Although the description has been given of the case where the delay elements are connected, the number of connection of the delay elements can be set to an arbitrary number according to the delay time or the like. Further, the number of delay elements constituting the ring oscillation circuit 28 can be arbitrarily set according to a desired oscillation frequency. Furthermore, the position at which the comparator 30 outputs the reference signal and the position at which the comparator 31 outputs the delay signal can be set to any positions according to the delay time.

【0028】次に、図1に示す発振制御回路29の具体
化な構成と、それを含む全体の構成について、図3を参
照して説明する。発振制御回路29は、図3に示すよう
に、Dラッチ(Dフリップフロップ)291と、遅延バ
ッファ292と、2入力のナンド回路293と、Dラッ
チ294とから構成されている。
Next, a specific configuration of the oscillation control circuit 29 shown in FIG. 1 and an overall configuration including the same will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 3, the oscillation control circuit 29 includes a D latch (D flip-flop) 291, a delay buffer 292, a two-input NAND circuit 293, and a D latch 294.

【0029】Dラッチ291、294は、入力端子
(C)に入力される信号の立ち上がりで入力端子(D)
に入力される信号の状態を出力端子(Q)に出力する本
来のDラッチ機能の他に、セット端子(SN)を持ち、
このセット端子(SN)の入力がLレベルのときに、出
力端子(Q)をHレベルにセットする機能を備えたもの
である。
The D latches 291 and 294 are connected to the input terminal (D) at the rising edge of the signal input to the input terminal (C).
Has a set terminal (SN) in addition to the original D latch function of outputting the state of the signal input to the output terminal (Q),
It has a function of setting the output terminal (Q) to the H level when the input of the set terminal (SN) is at the L level.

【0030】さらに詳述すると、Dラッチ291は、そ
の入力端子(C)に入力信号S11が入力されるととも
に、その入力端子(D)は0Vに接地されている。ま
た、Dラッチ291の出力端子(Q)の出力信号は、遅
延バッファ292を介してDラッチ291のセット端子
(SN)に入力されるようになっている。さらに、Dラ
ッチ291の出力端子(Q)の出力信号S12は、ナン
ド回路293の一方の入力端子とDラッチ294のセッ
ト端子(SN)にそれぞれ供給されるとともに、外部に
出力されるようになっている。ナンド回路293の出力
信号S14は、スイッチ回路22に供給されるようにな
っている。
More specifically, the input signal S11 is input to the input terminal (C) of the D latch 291 and the input terminal (D) is grounded to 0V. The output signal of the output terminal (Q) of the D latch 291 is input to the set terminal (SN) of the D latch 291 via the delay buffer 292. Further, the output signal S12 of the output terminal (Q) of the D latch 291 is supplied to one input terminal of the NAND circuit 293 and the set terminal (SN) of the D latch 294, and is output to the outside. ing. The output signal S14 of the NAND circuit 293 is supplied to the switch circuit 22.

【0031】Dラッチ294は、その入力端子(C)に
比較器30の出力である基準信号が入力されるととも
に、その入力端子(D)は0Vに接地されている。ま
た、Dラッチ294の反転出力端子(QN)の出力信号
は、ナンド回路293の他方の入力端子に供給されるよ
うになっている。また、図3の遅延素子21、23〜2
7には、その遅延素子の遅延量を調整するために、正負
のバイアス電圧が供給されるようになっている。このバ
イアス電圧は、上記のように、図8に示すVCO3を構
成する各遅延素子(図12参照)に与えるバイアス電圧
と同一のものが供給される。
The D-latch 294 has its input terminal (C) supplied with a reference signal which is the output of the comparator 30, and its input terminal (D) grounded to 0V. The output signal of the inverted output terminal (QN) of the D latch 294 is supplied to the other input terminal of the NAND circuit 293. Also, the delay elements 21, 23-2 in FIG.
7 is supplied with positive and negative bias voltages in order to adjust the delay amount of the delay element. As described above, the same bias voltage as that applied to each delay element (see FIG. 12) constituting the VCO 3 shown in FIG. 8 is supplied.

【0032】なお、図3の回路の他の部分の構成は、図
1の回路の構成と同様であるので、同一の構成要素に同
一符号を付してその説明は省略する。次に、このような
構成からなる発振制御回路29の動作の一例について、
図4を参照して説明する。いま、Dラッチ291の入力
端子(C)に対して、図4(A)に示すような入力信号
S11が入力されているものとする。そして、その入力
信号S11が、図示のように立ち上がると、Dラッチ2
91の出力端子(Q)の出力信号S12は、その入力端
子(C)のLレベルが出力されるために、図4(B)に
示すようにHレベルからLレベルに変化する。
Since the configuration of the other parts of the circuit of FIG. 3 is the same as that of the circuit of FIG. 1, the same components are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted. Next, an example of the operation of the oscillation control circuit 29 having such a configuration will be described.
This will be described with reference to FIG. Now, it is assumed that an input signal S11 as shown in FIG. 4A is input to the input terminal (C) of the D latch 291. When the input signal S11 rises as shown in FIG.
The output signal S12 of the output terminal (Q) 91 changes from the H level to the L level as shown in FIG. 4B because the L level of the input terminal (C) is output.

【0033】ここで、その出力信号12がLレベルとな
る期間は、遅延バッファ292によるパルス幅により規
定される。上記のような出力信号S12の変化は、Dラ
ッチ294のセット端子(SN)にも伝達されるので、
これによりDラッチ294の出力端子(Q)はHレベル
にセットされ、その結果、Dラッチ294の反転出力端
子(QN)の出力信号S13は、図4(C)に示すよう
にLレベルにセットされる。
Here, the period during which the output signal 12 is at the L level is defined by the pulse width of the delay buffer 292. The change in the output signal S12 as described above is also transmitted to the set terminal (SN) of the D latch 294.
As a result, the output terminal (Q) of the D latch 294 is set to the H level, and as a result, the output signal S13 of the inverted output terminal (QN) of the D latch 294 is set to the L level as shown in FIG. Is done.

【0034】ナンド回路293では、図4(B)に示す
Dラッチ291の出力信号S12と、図4(C)に示す
Dラッチ294の出力信号S13との論理積の演算がな
される。そのため、ナンド回路293の出力信号S14
は、図4(D)に示すようにLレベルからHレベルに変
化する。このナンド回路293の出力信号S14の変化
に基づき、スイッチ回路22は、現在、発振が停止して
いるリング発振回路28の発振の停止を解除する動作を
行う。その結果、遅延素子23の正の入力信号S15
は、図4(E)に示すように発振の停止が解除されてそ
のレベルの変化を開始するとともに、遅延素子24の負
の入力信号S16は、図4(F)に示すように発振の停
止が解除されてそのレベルの変化を開始する。
In the NAND circuit 293, the logical product of the output signal S12 of the D latch 291 shown in FIG. 4B and the output signal S13 of the D latch 294 shown in FIG. 4C is calculated. Therefore, the output signal S14 of the NAND circuit 293
Changes from L level to H level as shown in FIG. On the basis of the change of the output signal S14 of the NAND circuit 293, the switch circuit 22 performs an operation of canceling the stop of the oscillation of the ring oscillation circuit 28 which has stopped the oscillation. As a result, the positive input signal S15 of the delay element 23
4E, the stop of the oscillation is released as shown in FIG. 4 (E) and the level starts to change, and the negative input signal S16 of the delay element 24 causes the stop of the oscillation as shown in FIG. Is released and the level starts to change.

【0035】このような遅延素子23の入力信号S1
5、S16の変化に基づき、比較器30の出力信号(基
準信号)S17は、図4(G)に示すように変化する。
そして、比較器30の出力信号S17が図4(G)に示
すように立ち上がると、これにより、Dラッチ294の
出力端子(Q)にはその入力端子(D)のLレベルが出
力される。その結果、Dラッチ294の反転出力端子
(QN)の出力信号S13は、図4(C)に示すように
LレベルからHレベルに変化する。
The input signal S1 of such a delay element 23
5, based on the change in S16, the output signal (reference signal) S17 of the comparator 30 changes as shown in FIG.
Then, when the output signal S17 of the comparator 30 rises as shown in FIG. 4G, the L level of the input terminal (D) is output to the output terminal (Q) of the D latch 294. As a result, the output signal S13 of the inverted output terminal (QN) of the D latch 294 changes from L level to H level as shown in FIG.

【0036】この変化の結果、ナンド回路293の出力
信号S14もHレベルからLレベルに変化する。この変
化に基づき、スイッチ回路22は、現在、発振している
リング発振回路28の発振を停止する動作を行う。その
結果、遅延素子23の正の入力信号S15は、図4
(E)に示すように発振を停止してHレベルに固定され
るとともに、遅延素子24の負の入力信号S16は、図
4(F)に示すように発振を停止してLレベルに固定さ
れる。
As a result of this change, the output signal S14 of the NAND circuit 293 also changes from H level to L level. Based on this change, the switch circuit 22 performs an operation of stopping the oscillation of the ring oscillation circuit 28 that is currently oscillating. As a result, the positive input signal S15 of the delay element 23 is
As shown in (E), the oscillation is stopped and fixed at the H level, and the negative input signal S16 of the delay element 24 is stopped and fixed at the L level as shown in FIG. You.

【0037】以後、発振制御回路29は、Dラッチ29
1に入力される入力信号S11が立ち上がるたびに上述
の各動作を繰り返し、リング発振回路28の発振の停止
制御を繰り返す。次に、図3に示す遅延素子21、23
〜27の具体的な構成について説明するが、この遅延素
子21、23〜27はいずれもその構成が同様であるの
で、遅延素子23の構成を図5に示す。
Thereafter, the oscillation control circuit 29
Each time the input signal S11 input to 1 rises, the above operations are repeated, and the stop control of the oscillation of the ring oscillation circuit 28 is repeated. Next, the delay elements 21 and 23 shown in FIG.
The configuration of the delay element 23 is shown in FIG. 5, since the configuration of each of the delay elements 21 and 23 to 27 is the same.

【0038】遅延素子23は、図5に示すように、差動
対からなるNMOSトランジスタQ1、Q2を備え、そ
のMOSトランジスタQ1のゲートに−入力信号(反転
入力信号)が印加され、MOSトランジスタQ2のゲー
トに+入力信号(非反転入力信号)が印加されるように
なっている。MOSトランジスタQ1のドレインには、
負荷用のPMOSトランジスタQ3が接続されるととも
に、そのドレインからは+出力信号(非反転出力信号)
が出力されるようになっている。また、MOSトランジ
スタQ2のドレインには、負荷用のPMOSトランジス
タQ4が接続されるとともに、そのドレインからは−出
力信号(反転出力信号)が出力されるようになってい
る。
As shown in FIG. 5, the delay element 23 includes NMOS transistors Q1 and Q2 formed of a differential pair. A negative input signal (inverted input signal) is applied to the gate of the MOS transistor Q1, and the MOS transistor Q2 The + input signal (non-inverted input signal) is applied to the gate of. The drain of the MOS transistor Q1
A load PMOS transistor Q3 is connected, and a + output signal (a non-inverted output signal) is output from the drain thereof.
Is output. A load PMOS transistor Q4 is connected to the drain of the MOS transistor Q2, and a negative output signal (inverted output signal) is output from the drain of the PMOS transistor Q4.

【0039】MOSトランジスタQ3、Q4の各ゲート
には、共通のバイアス電圧が印加されるようになってい
る。MOSトランジスタQ1、Q2の各ゲートとアース
との間には、電流源を構成するNMOSトランジスタQ
5が接続されている。このMOSトランジスタQ5に流
れる電流は、そのゲートに印加されるバイアス電圧によ
り変化するようになっている。そして、そのバイアス電
圧は、発振周波数に応じて変化するようになっている。
A common bias voltage is applied to each gate of the MOS transistors Q3 and Q4. An NMOS transistor Q constituting a current source is connected between the gates of the MOS transistors Q1 and Q2 and the ground.
5 is connected. The current flowing through the MOS transistor Q5 changes according to the bias voltage applied to its gate. Then, the bias voltage changes according to the oscillation frequency.

【0040】MOSトランジスタQ1のドレインとアー
スとの間には、NMOSトランジスタからなるコンデン
サC1が接続されている。同様に、MOSトランジスタ
Q2のドレインとアースとの間には、NMOSトランジ
スタからなるコンデンサC2が接続されている。これら
各コンデンサC1、C2は、遅延素子23の遅延量を決
定する所定の時定数を得るために、所定の容量を持って
いる。
A capacitor C1 formed of an NMOS transistor is connected between the drain of the MOS transistor Q1 and the ground. Similarly, a capacitor C2 composed of an NMOS transistor is connected between the drain of the MOS transistor Q2 and the ground. Each of these capacitors C1 and C2 has a predetermined capacitance in order to obtain a predetermined time constant for determining the amount of delay of the delay element 23.

【0041】次に、図3に示すスイッチ回路22の具体
的な構成を遅延素子23とともに図6に示す。このスイ
ッチ回路22は、図6に示すように、図3の発振制御回
路29のナンド回路293の出力信号S14によりオン
オフ制御されるスイッチ用のMOSトランジスタQ11
〜Q13と、ダミー用のスイッチとして機能するMOS
トランジスタQ14と、電流源として機能するMOSト
ランジスタQ15とを備え、出力端子221から+出力
信号を取り出すとともに、出力端子222から−出力信
号を取り出すようになっている。
Next, FIG. 6 shows a specific configuration of the switch circuit 22 shown in FIG. As shown in FIG. 6, the switch circuit 22 includes a switch MOS transistor Q11 that is turned on / off by an output signal S14 of a NAND circuit 293 of the oscillation control circuit 29 of FIG.
To Q13 and MOS functioning as a dummy switch
The transistor Q14 includes a transistor Q14 and a MOS transistor Q15 functioning as a current source. The transistor Q14 extracts a positive output signal from the output terminal 221 and a negative output signal from the output terminal 222.

【0042】さらに詳述すると、MOSトランジスタQ
11は、そのゲートに出力信号S14が印加されるとと
もに、そのソースに電源電圧VDDが印加され、そのド
レインが出力端子221に接続されている。また、MO
SトランジスタQ12は、そのゲートに出力信号S14
が印加されるとともに、そのソースが出力端子222に
接続され、そのドレインがMOSトランジスタQ13の
ソースとMOSトランジスタQ14のドレインにそれぞ
れ接続されている。
More specifically, the MOS transistor Q
In reference numeral 11, the output signal S14 is applied to the gate, the power supply voltage VDD is applied to the source, and the drain is connected to the output terminal 221. Also, MO
S transistor Q12 has output signal S14 at its gate.
Is applied, its source is connected to the output terminal 222, and its drain is connected to the source of the MOS transistor Q13 and the drain of the MOS transistor Q14, respectively.

【0043】さらに、MOSトランジスタQ13は、そ
のゲートに出力信号S14が印加されるとともに、その
ドレインがMOSトランジスタQ14のゲートに接続さ
れ、その共通接続部に電源電圧VDDが印加されるよう
になっている。また、MOSトランジスタQ14のソー
スは、MOSトランジスタQ15を介して接地されてい
る。MOSトランジスタQ15のゲートには、そこに流
れる電流を決定するためのバイアス電圧を印加するよう
になっている。
Further, the output signal S14 is applied to the gate of the MOS transistor Q13, the drain is connected to the gate of the MOS transistor Q14, and the power supply voltage VDD is applied to the common connection. I have. The source of the MOS transistor Q14 is grounded via the MOS transistor Q15. A bias voltage for determining the current flowing therethrough is applied to the gate of the MOS transistor Q15.

【0044】このような構成からなるスイッチ回路22
では、図4(D)に示すように発振制御回路29の出力
信号S14がLレベルの場合には、図6のMOSトラン
ジスタQ11、Q12の各ゲート電圧はLレベルとな
る。このため、MOSトランジスタQ11、Q12がオ
ンになり、出力端子221出力端子221の出力信号が
Hレベルに固定されるとともに、出力端子222の出力
信号がLレベルに固定され(図4(E)(F)参照)、
リング発振回路28の発振が停止状態になる。
The switch circuit 22 having such a configuration
When the output signal S14 of the oscillation control circuit 29 is at the L level as shown in FIG. 4D, the gate voltages of the MOS transistors Q11 and Q12 in FIG. 6 are at the L level. Therefore, the MOS transistors Q11 and Q12 are turned on, the output signal of the output terminal 221 is fixed at the H level, and the output signal of the output terminal 222 is fixed at the L level (FIG. 4E). F)))
The oscillation of the ring oscillation circuit 28 is stopped.

【0045】一方、図4(D)に示すように発振制御回
路29の出力信号S14がHレベルの場合には、MOS
トランジスタQ11、Q12がオフになり、上記の状態
が解除されてリング発振回路28の発振の停止状態が解
除される(図4(E)(F)参照)。
On the other hand, when the output signal S14 of the oscillation control circuit 29 is at the H level as shown in FIG.
The transistors Q11 and Q12 are turned off, the above state is released, and the oscillation stop state of the ring oscillation circuit 28 is released (see FIGS. 4E and 4F).

【0046】[0046]

【発明の効果】以上述べたように、本発明では、遅延素
子を利用してリング発振回路を形成し、そのリング発振
回路の発振を発振制御回路により制御するようにした。
このため、本発明によれば、入力信号に基づいて遅延信
号を生成する際の遅延時間が従来のように固定の遅延量
に依存しなくなるので、その遅延時間の精度を向上する
ことができる。
As described above, in the present invention, a ring oscillation circuit is formed using a delay element, and the oscillation of the ring oscillation circuit is controlled by the oscillation control circuit.
Therefore, according to the present invention, the delay time when generating the delay signal based on the input signal does not depend on the fixed delay amount as in the related art, so that the accuracy of the delay time can be improved.

【0047】また、本発明では、従来のように固定の遅
延量に依存しないので、入力信号が任意の周波数であっ
ても、その遅延時間が周波数の違いに対して容易に対応
できる。
Further, according to the present invention, since the input signal does not depend on a fixed delay amount as in the prior art, even if the input signal has an arbitrary frequency, the delay time can easily cope with a difference in frequency.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の遅延装置の実施形態の構成例を示す回
路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram illustrating a configuration example of an embodiment of a delay device of the present invention.

【図2】その実施形態の動作を説明する波形図である。FIG. 2 is a waveform chart for explaining the operation of the embodiment.

【図3】発振制御回路の具体化構成と、それを含む全体
の構成を示す回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a specific configuration of an oscillation control circuit and an overall configuration including the configuration.

【図4】発振制御回路の動作の一例を示すタイムチャー
トである。
FIG. 4 is a time chart showing an example of the operation of the oscillation control circuit.

【図5】遅延素子の具体的な構成を示す回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram showing a specific configuration of a delay element.

【図6】スイッチ回路の具体的な構成を示す回路図であ
る。
FIG. 6 is a circuit diagram showing a specific configuration of a switch circuit.

【図7】クッロク・データ・リカバリに入力されるデー
タと、そのデータに含まれるクロックの一例を示す図で
ある。
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of data input to clock data recovery and a clock included in the data.

【図8】PLL回路によるクロック・データ・リカバリ
の構成の一例を示すブロック図である。
FIG. 8 is a block diagram illustrating an example of a configuration of clock data recovery by a PLL circuit.

【図9】そのクロック・データ・リカバリの動作例を示
すタイムチャートである。
FIG. 9 is a time chart showing an operation example of the clock data recovery.

【図10】従来の遅延装置の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 10 is a block diagram showing a configuration of a conventional delay device.

【図11】その遅延装置の動作を説明する波形図であ
る。
FIG. 11 is a waveform chart for explaining the operation of the delay device.

【図12】図8のVCOの構成の一例を示す図である。12 is a diagram illustrating an example of the configuration of the VCO in FIG. 8;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21、23〜27 遅延素子 22 スイッチ回路 28 リング発振回路 29 発振制御回路 30、31 比較器 291、294 Dラッチ 292 遅延バッファ 293 ナンド回路 21, 23 to 27 Delay element 22 Switch circuit 28 Ring oscillation circuit 29 Oscillation control circuit 30, 31 Comparator 291, 294 D latch 292 Delay buffer 293 NAND circuit

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の遅延素子を縦続接続させ、そのう
ちの所定の遅延素子の出力側を初段の遅延素子の入力側
に帰還させて自己発振するリング発振回路を構成し、こ
のリング発振回路を含む遅延回路と、 前記複数の遅延素子のうち少なくとも2つの遅延素子の
各出力信号に基づき、基準信号と、この基準信号から所
定の遅延時間を有する遅延信号とを出力する出力回路
と、 前記リング発振回路を構成する複数の遅延素子のうちの
所定の遅延素子の入力端子の信号を所定レベルに固定す
るとともに、入力信号に基づいて所定時間にわたって前
記固定を解除する発振制御を行う発振制御回路と、 を備えるようにしたことを特徴とする遅延装置。
1. A ring oscillation circuit in which a plurality of delay elements are connected in cascade, and an output side of a predetermined delay element is fed back to an input side of a delay element of a first stage to perform self-oscillation. A delay circuit including: a reference signal based on each output signal of at least two delay elements of the plurality of delay elements; and an output circuit that outputs a delay signal having a predetermined delay time from the reference signal; An oscillation control circuit for fixing the signal at the input terminal of the predetermined delay element of the plurality of delay elements constituting the oscillation circuit to a predetermined level, and performing an oscillation control for releasing the fixing for a predetermined time based on the input signal; and A delay device, comprising:
【請求項2】 前記発振制御回路は、前記入力信号と前
記基準信号とに基づき、前記発振制御を行うようになっ
ていることを特徴とする請求項1に記載の遅延装置。
2. The delay device according to claim 1, wherein the oscillation control circuit performs the oscillation control based on the input signal and the reference signal.
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CN104734699A (en) * 2015-03-27 2015-06-24 灿芯半导体(上海)有限公司 Delay unit with starting circuit and self-adaptive starting type ring oscillator

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