JP2002259204A - Storage processing method for flash memory - Google Patents

Storage processing method for flash memory

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JP2002259204A JP2001061723A JP2001061723A JP2002259204A JP 2002259204 A JP2002259204 A JP 2002259204A JP 2001061723 A JP2001061723 A JP 2001061723A JP 2001061723 A JP2001061723 A JP 2001061723A JP 2002259204 A JP2002259204 A JP 2002259204A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To access data in a short time without increasing the memory capacity of a flash memory. SOLUTION: Data are written to the flash memory 4, and the last address of the data stored in the flash memory 4 is also stored in a nonvolatile memory 8. In the case of reading data, the last address of the data is detected from the nonvolatile memory 8 to read the data of the flash memory 4. The flash memory 4 has to store only data, does not have to store an address, etc., and therefore, does not need memory capacity so much. The data of the flash memory 4 can be read in a short period of time because the data can be read from the last address stored in the nonvolatile memory 8. For service interruption, etc., in particular, the data are stored in the above manner, the data of the flash memory 4 can be quickly read when a CPU 1 is restarted in the case the service is restored.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明はフラッシュメモリ
の記憶処理方法に関し、特に停電時のデータの保持など
に有用である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flash memory storage processing method, and is particularly useful for retaining data during a power failure.

【0002】[0002]

【従来の技術】図9は、例えば特開平8−17192号
公報に示された従来のフラッシュメモリのメモリブロッ
ク図、図10は図9のフラッシュメモリのデータが書込
まれているアドレスにデータを上書きする方法について
の説明図である。
2. Description of the Related Art FIG. 9 is a memory block diagram of a conventional flash memory disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-17192. FIG. FIG. 9 is an explanatory diagram of a method of overwriting.

【0003】図10(a)は、図9の1つのメモリブロ
ックを取り出して説明しており、最初の停電時に第1の
データ(1stとして図示部分)をブロックの頭から書
込み、ポインタをビット(単位)でブロックの尾部に置
き、1ビットづつ落として行くことで、データ位置を表
示するものである。
FIG. 10 (a) shows one memory block of FIG. 9 taken out. At the first power failure, the first data (shown as 1st) is written from the beginning of the block, and the pointer is set to a bit ( The data position is displayed by placing it at the tail of the block (unit) and dropping one bit at a time.

【0004】図10(b)は、図10(a)で書込んだ
データに続いて、次回の停電において第2のデータ(2
ndとして図示部分)が第1のデータの次に書込まれ、
そのポインタは第1のデータポインタの直ぐ左隣の位置
に”1”から”0”に落とされて、そのアドレスが書込
まれる。
FIG. 10 (b) shows the second data (2) in the next power failure following the data written in FIG. 10 (a).
nd) is written next to the first data,
The pointer is dropped from "1" to "0" at the position immediately to the left of the first data pointer, and the address is written.

【0005】同様に第3回の停電事故時についての図1
0(c)は、第2のデータの次に第3のデータ(3rd
として図示部分)が書込まれ、そのポインタは第2のデ
ータポインタのすぐ左隣の位置に”1”から”0”に落
とされて格納される。
[0005] Similarly, FIG.
0 (c) is the third data (3rd
Is written, and the pointer is dropped from “1” to “0” and stored at the position immediately to the left of the second data pointer.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】従来のフラッシュメモ
リの記憶処理方法は以上のように形成され、メモリブロ
ック(セクタ)内に複数のデータとそのデータのアドレ
スを記憶させておいて、該アドレスに基づいてデータに
アクセスするようにしているのでメモリブロック(セク
タ)内のデータ容量が多くなると共に、データへのアク
セス時間が長くなるという問題があった。
A conventional flash memory storage processing method is formed as described above. A plurality of data and an address of the data are stored in a memory block (sector), and the address is stored in the address. Since data is accessed based on this, there is a problem that the data capacity in a memory block (sector) increases and the access time to data increases.

【0007】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、メモリブロック(セクタ)のメ
モリ容量を大きくすることなく、データに短時間でアク
セスすると共に、電源遮断時や停電時後の復旧における
CPUの再立上げ時においては、フラッシュメモリに最
後に記憶されたデータのアドレスに短時間でアクセスで
きるフラッシュメモリの記憶処理方法を得ることを目的
とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and provides a method of accessing data in a short time without increasing the memory capacity of a memory block (sector), and at the time of power interruption or power failure. It is an object of the present invention to provide a flash memory storage processing method in which the address of data lastly stored in the flash memory can be accessed in a short time when the CPU is restarted in a recovery after an hour.

【0008】また、この発明ではフラッシュメモリとは
別に不揮発メモリを使用するが、この不揮発メモリの許
容書き込み回数を超えないようにして、長寿命化を図る
必要がある。不揮発メモリの長寿命化を図って安定した
フラッシュメモリの記憶処理方法を得ることが第2の目
的である。
In the present invention, a nonvolatile memory is used separately from the flash memory. However, it is necessary to extend the life of the nonvolatile memory so as not to exceed the allowable number of times of writing. A second object is to obtain a stable flash memory storage processing method by extending the life of a nonvolatile memory.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】この発明に係わるフラッ
シュメモリの記憶処理方法は、不揮発性メモリに各デー
タの最終アドレスを書き込むステップは、上記不揮発性
メモリのメモリ領域に複数個のアドレスを、任意のデー
タの最終アドレスを書き込むアドレスとして割り当て、
上記複数個のアドレスをリング状にして順次上記任意の
データの最終アドレスを書き込み、連続的書き込みを可
能としたステップとし、上記不揮発性メモリが記憶した
読み出し対象データの最終アドレスを検出するステップ
は、リング状にした複数アドレスの内、一番最後に書き
込んだアドレスに記憶された最終アドレスを検出するス
テップとしたものである。
According to the storage processing method of a flash memory according to the present invention, the step of writing the last address of each data into the nonvolatile memory includes the steps of: writing a plurality of addresses in a memory area of the nonvolatile memory; Assign the final address of the data as the write address,
The step of allowing the plurality of addresses to be written in a ring and sequentially writing the final address of the arbitrary data to enable continuous writing, and the step of detecting the final address of the data to be read stored in the nonvolatile memory, This is a step of detecting the last address stored in the last written address among the plurality of addresses in a ring shape.

【0010】また、不揮発性メモリに各データの最終ア
ドレスを書き込むステップは、上記不揮発性メモリのメ
モリ領域に複数個のアドレスを、任意のデータの最終ア
ドレスを書き込むアドレスとして割り当て、上記複数個
のアドレスをリング状にして順次上記任意のデータの最
終アドレスを書き込み、連続的書き込みを可能としたス
テップとし、上記不揮発性メモリが記憶した読み出し対
象データの最終アドレスを検出するステップは、リング
状にした複数アドレスの内、一番最後に書き込んだアド
レスに記憶された最終アドレスを検出するステップとし
たものである。
The step of writing the last address of each data to the nonvolatile memory includes allocating a plurality of addresses to the memory area of the nonvolatile memory as addresses for writing the last address of any data, In the form of a ring and sequentially writing the final address of the arbitrary data to enable continuous writing. The step of detecting the final address of the data to be read stored in the non-volatile memory includes a plurality of ring-shaped steps. This is a step of detecting the last address stored in the last written address among the addresses.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】実施の形態1.図1はこの発明の
実施の形態1に係るフラッシュメモリ記憶方法を説明す
る回路ブロック図である。図1において、1はCPU
(中央処理演算装置)で、外部から入力されたデータ2
を内部のバッファ3に記憶し、アドレスバス5とデータ
バス6で接続されたフラッシュメモリ(Fush.El
ectrically.Erasable.Progr
amable.Read.Only.Memory)4
をコントロール信号7で制御する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 FIG. 1 is a circuit block diagram illustrating a flash memory storage method according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 1, 1 is a CPU.
(Central processing unit), externally input data 2
Is stored in an internal buffer 3 and a flash memory (Fush. El.) Connected by an address bus 5 and a data bus 6
electricallyly. Erasable. Progr
available. Read. Only. Memory) 4
Is controlled by the control signal 7.

【0012】8は不揮発性メモリ(Electrica
lly.Erasable.Programable.
Read.Only.Memory)で、シリアル信号
9でCPUとのデータ送受信を行い、コントロール信号
10で制御される。11は停電時のデータ処理を行うた
めのコンデンサである。
Reference numeral 8 denotes a nonvolatile memory (Electrica)
lly. Erasable. Programmable.
Read. Only. Memory), data is transmitted and received to and from the CPU by a serial signal 9, and is controlled by a control signal 10. Reference numeral 11 denotes a capacitor for performing data processing during a power failure.

【0013】図2はこの発明の実施の形態1に係るデー
タの書込み動作を説明するフローチャートで、図3はフ
ラッシュメモリと不揮発性メモリのデータ書き込み時の
メモリ領域を示す図である。以下、図1乃至図3を用い
てデータの書込み動作を説明する。 (1)CPU1は外部データ2(nバイトデータXおよ
びmバイトデータY)を読取り、バッファ3へ記憶す
る。(ステップ201)
FIG. 2 is a flowchart for explaining a data write operation according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a diagram showing a memory area of the flash memory and the nonvolatile memory at the time of data write. Hereinafter, the data write operation will be described with reference to FIGS. (1) The CPU 1 reads the external data 2 (n-byte data X and m-byte data Y) and stores them in the buffer 3. (Step 201)

【0014】(2)CPU1はフラッシュメモリ4をコ
ントロール信号7で制御しながら、アドレスバス5によ
り書込みアドレス(A−n)番地を指定し、データバス
6によりデータXを書込みA番地にデータXを記憶する
までn回繰返す。(ステップ202、ステップ203)
(2) While controlling the flash memory 4 by the control signal 7, the CPU 1 designates a write address (An) by the address bus 5, writes data X by the data bus 6, and writes data X to the address A. Repeat n times until memorizing. (Step 202, Step 203)

【0015】(3)不揮発性メモリ8のあらかじめ決め
られたa番地にフラッシュメモリ4の最終アドレスAを
記憶する。(ステップ204) (4)バッファ3で記憶しているmバイトデータYを同
様にA+1番地に書込む。A+m+1番地にデータYを
記憶するまでm回繰返す。(ステップ205、ステップ
206) (5)不揮発性メモリ4のあらかじめ決められたb番地
にフラッシュメモリ4の最終アドレスA+m+1を記憶
する。(ステップ207) 図3に示すようにデータ及び各データの最終アドレスが
記憶される。なお、これらのデータは通常、所定のセク
タ内でバイト毎に書き込まれる。
(3) The last address A of the flash memory 4 is stored at a predetermined address a of the nonvolatile memory 8. (Step 204) (4) The m-byte data Y stored in the buffer 3 is similarly written to the address A + 1. The processing is repeated m times until the data Y is stored at the address A + m + 1. (Step 205, Step 206) (5) The last address A + m + 1 of the flash memory 4 is stored at a predetermined address b in the nonvolatile memory 4. (Step 207) As shown in FIG. 3, the data and the final address of each data are stored. Note that these data are usually written byte by byte in a predetermined sector.

【0016】図4はこの発明の実施の形態1に係るデー
タの読出し動作を説明するフローチャートで、図5はフ
ラッシュメモリと不揮発性メモリのデータ書き込み時の
メモリ領域を示す図である。図1及び図4・図5を用い
て、データの読み出し動作を説明する。 (11)CPU1は不揮発性メモリ4のa番地よりフラ
ッシュメモリ4の最終アドレスAを読出す。(ステップ
301)
FIG. 4 is a flowchart for explaining a data read operation according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a diagram showing a memory area of the flash memory and the nonvolatile memory when data is written. The data read operation will be described with reference to FIG. 1, FIG. 4 and FIG. (11) The CPU 1 reads the last address A of the flash memory 4 from the address a of the nonvolatile memory 4. (Step 301)

【0017】(12)CPU1はフラッシュメモリ4を
コントロール信号7で制御しながら、アドレスバス5に
より読出しアドレス(A−n)番地を指定し、データバ
ス6によりデータXを読出す。A番地のデータXを読出
すまでn回繰返す。(ステップ302、ステップ30
3) なお、CPU1はアドレス(A−n)からアドレスA番
地まで読み出すことを認識してデータXの読み出し動作
を行う。
(12) While controlling the flash memory 4 by the control signal 7, the CPU 1 designates a read address (An) by the address bus 5 and reads data X by the data bus 6. This operation is repeated n times until the data X at the address A is read. (Step 302, Step 30
3) The CPU 1 recognizes that data is read from the address (An) to the address A, and performs the operation of reading the data X.

【0018】(13)バッファ3に読出したnバイトデ
ータXを記憶する。(ステップ304) (14)同様にCPU1は不揮発性メモリ4のb番地よ
りフラッシュメモリ4の最終アドレスA+m+1を読出
す。(ステップ305)
(13) The read n-byte data X is stored in the buffer 3. (Step 304) (14) Similarly, the CPU 1 reads the last address A + m + 1 of the flash memory 4 from the address b of the nonvolatile memory 4. (Step 305)

【0019】(15)CPU1はフラッシュメモリ4を
コントロール信号7で制御しながら、アドレスバス5に
より読出しアドレス(A+m+1)番地を指定し、デー
タバス6によりデータYを読出す。A+1番地のデータ
Yを読出すまで、m−1回繰返す。(ステップ306、
307) (16)バッファ3に読出したmバイトデータYを記憶
する。(ステップ308)図5に示すようにデータの最
終アドレス及びそのデータが読み出される。
(15) While controlling the flash memory 4 with the control signal 7, the CPU 1 specifies a read address (A + m + 1) by the address bus 5 and reads data Y by the data bus 6. The processing is repeated m-1 times until the data Y at the address A + 1 is read. (Step 306,
307) (16) Store the read m-byte data Y in the buffer 3. (Step 308) As shown in FIG. 5, the final address of the data and the data are read.

【0020】このように実施の形態1によれば、メモリ
ブロック(セクタ)のメモリ容量を大きくすることな
く、データに短時間でアクセスすることができる。特に
停電時においては、コンデンサ11の蓄積電力によりデ
ータを記憶させておいて、復電時に不揮発性メモリ8に
書込んだフラッシュメモリ4の最終アドレスから、フラ
ッシュメモリ4に記憶させたデータを読出すことができ
るので、フラッシュメモリはデータのみを記憶するため
メモリ容量を大きくする必要がなく、データのアクセス
を短時間で行うことができる。
As described above, according to the first embodiment, data can be accessed in a short time without increasing the memory capacity of a memory block (sector). In particular, at the time of a power failure, data is stored by the stored power of the capacitor 11, and the data stored in the flash memory 4 is read from the last address of the flash memory 4 written in the nonvolatile memory 8 at the time of power recovery. Since the flash memory stores only data, it is not necessary to increase the memory capacity, and data can be accessed in a short time.

【0021】実施の形態2.実施の形態1で不揮発メモ
リに各データの最終アドレスを記憶するようにしたが、
不揮発メモリは寿命があり、書き込み回数が所定の制限
回数を超えると記憶できなくなる。例えば、同じメモリ
領域に書き込む制限回数は10万回と言われる。この発
明の実施の形態2は不揮発性メモリが許容する書込み回
数を超過して記憶不能になることを防止するものであ
る。
Embodiment 2 FIG. Although the last address of each data is stored in the non-volatile memory in the first embodiment,
Non-volatile memories have a lifetime, and cannot be stored when the number of times of writing exceeds a predetermined number of times. For example, the number of times of writing to the same memory area is said to be 100,000 times. The second embodiment of the present invention is intended to prevent the memory from becoming unstorable due to exceeding the number of times of writing permitted by the nonvolatile memory.

【0022】図6はこの発明の実施の形態2に係る不揮
発性メモリのメモリ領域を説明する図で、図7はこの発
明の実施の形態2に係る不揮発性メモリからのデータの
読出し動作を説明するフローチャートである。また、図
8は実施の形態1の不揮発メモリのメモリ領域との関係
を示す図である。以下、この発明の実施の形態2に係わ
る不揮発性メモリからのデータの読み出し動作について
説明する。
FIG. 6 is a diagram for explaining a memory area of the nonvolatile memory according to the second embodiment of the present invention. FIG. 7 is a diagram for explaining a data read operation from the nonvolatile memory according to the second embodiment of the present invention. FIG. FIG. 8 is a diagram showing a relationship with the memory area of the nonvolatile memory according to the first embodiment. Hereinafter, an operation of reading data from the nonvolatile memory according to the second embodiment of the present invention will be described.

【0023】図6において、1つのデータの最終アドレ
スを記憶する不揮発メモリ8のメモリ領域として、アド
レスc番地からc+2番地までの複数のアドレスを使用
し、これらの複数アドレスをリング状にして最終アドレ
スを書き込む毎に順次アドレスを進める。そして図6
(a)から(b)のようにデータの更新時、アドレスc
+1番地にデータを書込み完了すると、前アドレスc番
地は消去(オール1)して、連続的に書き込み可能にす
る。このようにすると同じメモリ領域を使用する回数が
少なくなり不揮発メモリの寿命を長くすることができ
る。
In FIG. 6, a plurality of addresses from address c to address c + 2 are used as a memory area of the nonvolatile memory 8 for storing the last address of one data, and these addresses are formed into a ring shape to form the final address. Each time is written, the address is sequentially advanced. And FIG.
When updating data as shown in (a) to (b), the address c
When writing of data to the address +1 is completed, the previous address c is erased (all 1s) to enable continuous writing. By doing so, the number of times the same memory area is used is reduced, and the life of the nonvolatile memory can be extended.

【0024】また、停電時にデータをフラッシュメモリ
4にデータを記憶し、そのデータの最終アドレスを不揮
発メモリ8に記憶した場合、次に復電した時のデータの
読み出しを、図7のフローチャートに示す。
When data is stored in the flash memory 4 at the time of a power failure and the last address of the data is stored in the nonvolatile memory 8, reading of data at the next power recovery is shown in the flowchart of FIG. .

【0025】(101)不揮発性メモリのc番地のデー
タを読出し(ステップ401)、オール1であることを
確認する。(ステップ402) (102)オール1以外であれば、フラッシュメモリの
最終アドレスとし(ステップ407)、上述したフラッ
シュメモリ4からの読出し処理(図4のステップ30
2、306)を行う。 (103)オール1であれば、c+1番地を読出し(ス
テップ403)、オール1であることを確認する。(ス
テップ404)
(101) The data at the address c in the non-volatile memory is read (step 401), and it is confirmed that the data is all 1s. (Step 402) (102) If the address is other than all 1, the last address of the flash memory is set (Step 407), and the above-described read processing from the flash memory 4 (Step 30 in FIG. 4)
2, 306). (103) If it is all 1, address c + 1 is read out (step 403), and it is confirmed that it is all 1. (Step 404)

【0026】(104)オール1以外であれば、フラッ
シュメモリの最終アドレスとし(ステップ407)、上
述したフラッシュメモリ4からの読出し処理(図4のス
テップ302、306)を行う。 (105)以降同様にc+2番地を読出し1以外のデー
タを確認する。(ステップ405、406)
(104) If the address is other than all 1, the last address of the flash memory is set (step 407), and the above-described read processing from the flash memory 4 (steps 302 and 306 in FIG. 4) is performed. (105) Thereafter, similarly, address c + 2 is read and data other than 1 is confirmed. (Steps 405 and 406)

【0027】以上のように、不揮発性メモリ8に記憶さ
せるデータの最終アドレスをリング状に連続的に書込む
ようにしたので、不揮発性メモリ8の同一場所への書込
み回数を低減することができ、メモリの長寿命化を図る
ことができる。
As described above, since the final address of the data to be stored in the nonvolatile memory 8 is continuously written in a ring shape, the number of times of writing to the same location of the nonvolatile memory 8 can be reduced. Thus, the life of the memory can be extended.

【0028】なお、図8は実施の形態1で説明したデー
タX、データYの最終アドレスが不揮発性メモリ8のア
ドレスa,アドレスbに記憶されているが、これと図4
に示すアドレスcとの関係を示す一例である。図8で
は、データX,データYの最終アドレスが不揮発性メモ
リ8のアドレスa,アドレスbに書き込まれ、次のデー
タ(例えば、データZ)を書き込んだとき、その最終ア
ドレスを不揮発性メモリ8のアドレスcに書き込み、次
にアドレスcに書き込む場合は、アドレスc+1に書き
込む。
FIG. 8 shows that the final addresses of the data X and data Y described in the first embodiment are stored in the address a and the address b of the nonvolatile memory 8, respectively.
Is an example showing the relationship with the address c shown in FIG. In FIG. 8, the final addresses of the data X and data Y are written to the addresses a and b of the nonvolatile memory 8, and when the next data (for example, data Z) is written, the final addresses of the nonvolatile memory 8 are written. When writing to address c and then writing to address c, write to address c + 1.

【0029】また、図8において、不揮発性メモリ8の
アドレスaもアドレスa+1,a+2とメモリ領域を割
り当て、アドレスbもアドレスb+1,b+2とメモリ
領域の割り当て、それぞれリング状にして使用してもよ
い。
In FIG. 8, the address a of the nonvolatile memory 8 is also assigned to the addresses a + 1 and a + 2 and the memory area, and the address b is assigned to the addresses b + 1 and b + 2 and the memory area. .

【0030】[0030]

【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、フラッ
シュメモリのメモリ容量を大きくすることなく、データ
に短時間でアクセスすることができる。特に停電時にデ
ータを記憶し、復電時にデータを読み出す場合に有用で
ある。
As described above, according to the present invention, data can be accessed in a short time without increasing the memory capacity of the flash memory. This is particularly useful when data is stored during a power outage and data is read out when the power is restored.

【0031】また、不揮発性メモリの長寿命化を図るこ
とができる。
Further, the life of the nonvolatile memory can be extended.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の実施の形態1に係るフラッシュメ
モリ記憶方法を説明する回路ブロック図である。
FIG. 1 is a circuit block diagram illustrating a flash memory storage method according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 この発明の実施の形態1に係るデータの書込
み動作を説明するフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart illustrating a data write operation according to the first embodiment of the present invention.

【図3】 この発明の実施の形態1に係るフラッシュメ
モリと不揮発性メモリのデータ書き込み時のメモリ領域
を説明する図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a memory area when writing data in the flash memory and the nonvolatile memory according to the first embodiment of the present invention;

【図4】 この発明の実施の形態1に係るデータの読出
し動作を説明するフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart illustrating a data read operation according to the first embodiment of the present invention.

【図5】 この発明の実施の形態1に係るフラッシュメ
モリと不揮発性メモリのデータ読み込み時のメモリ領域
を説明する図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a memory area at the time of data reading of the flash memory and the nonvolatile memory according to the first embodiment of the present invention.

【図6】 この発明の実施の形態2に係る不揮発性メモ
リのメモリ領域を説明する図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating a memory area of a nonvolatile memory according to a second embodiment of the present invention.

【図7】 この発明の実施の形態2に係る不揮発性メモ
リのメモリ領域を説明する図である。説明するフローチ
ャートである。
FIG. 7 is a diagram illustrating a memory area of a nonvolatile memory according to a second embodiment of the present invention. It is a flowchart explaining.

【図8】 この発明の実施の形態2に係る不揮発性メモ
リのメモリ領域を説明する図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a memory area of a nonvolatile memory according to a second embodiment of the present invention.

【図9】 従来のフラッシュメモリのメモリブロック図
である。
FIG. 9 is a memory block diagram of a conventional flash memory.

【図10】 図9のフラッシュメモリのデータが書込ま
れているアドレスにデータを上書き方法について説明す
る図である。
FIG. 10 is a diagram illustrating a method of overwriting data at an address of the flash memory in FIG. 9 where data is written.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 CPU、2 外部データ入力、3 バッファ、4
フラッシュメモリ、5 アドレスバス、6 データバ
ス、7 コントロール信号、8 不揮発性メモリ、9
シリアルデータ、10 コントロール信号、11 コン
デンサ。
1 CPU, 2 external data inputs, 3 buffers, 4
Flash memory, 5 address bus, 6 data bus, 7 control signal, 8 nonvolatile memory, 9
Serial data, 10 control signals, 11 capacitors.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 CPUの指令に基づいてフラッシュメモ
リにデータの読み書きを行うフラッシュメモリの記憶処
理方法において、上記フラッシュメモリにデータを書き
込む際は、上記フラッシュメモリのセクタ内にバイト毎
に各データを書き込むステップと、不揮発性メモリを用
意して、上記フラッシュメモリに書き込まれた各データ
の最終アドレスを書込むステップとを有し、上記フラッ
シュメモリからデータを読み出す際は、上記不揮発性メ
モリが記憶した読み出し対象データの最終アドレスを検
出するステップと、検出した最終アドレスに基づいて上
記フラッシュメモリの対応するデータを読み出すステッ
プとを有することを特徴とするフラッシュメモリの記憶
処理方法。
In a flash memory storage processing method for reading and writing data in a flash memory based on a command from a CPU, when writing data in the flash memory, each data is stored in a sector of the flash memory for each byte. A writing step, and a step of preparing a nonvolatile memory and writing a final address of each data written in the flash memory. When reading data from the flash memory, the nonvolatile memory stores the data. A flash memory storage processing method, comprising: detecting a last address of data to be read; and reading corresponding data of the flash memory based on the detected last address.
【請求項2】 上記不揮発性メモリに各データの最終ア
ドレスを書き込むステップは、上記不揮発性メモリのメ
モリ領域に複数個のアドレスを、任意のデータの最終ア
ドレスを書き込むアドレスとして割り当て、上記複数個
のアドレスをリング状にして順次上記任意のデータの最
終アドレスを書き込み、連続的書き込みを可能としたス
テップとし、上記不揮発性メモリが記憶した読み出し対
象データの最終アドレスを検出するステップは、リング
状にした複数アドレスの内、一番最後に書き込んだアド
レスに記憶された最終アドレスを検出するステップとし
たことを特徴とする請求項1記載のフラッシュメモリの
記憶処理方法。
2. The step of writing the last address of each data to the nonvolatile memory includes allocating a plurality of addresses to a memory area of the nonvolatile memory as addresses to write the last address of arbitrary data, The step of making the address a ring shape and sequentially writing the last address of the arbitrary data to enable continuous writing is performed, and the step of detecting the last address of the data to be read stored in the nonvolatile memory is formed in a ring shape. 2. The flash memory storage method according to claim 1, further comprising the step of detecting the last address stored in the last written address among the plurality of addresses.
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