JP2002244027A - Range-finding device - Google Patents

Range-finding device

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JP2002244027A
JP2002244027A JP2001353532A JP2001353532A JP2002244027A JP 2002244027 A JP2002244027 A JP 2002244027A JP 2001353532 A JP2001353532 A JP 2001353532A JP 2001353532 A JP2001353532 A JP 2001353532A JP 2002244027 A JP2002244027 A JP 2002244027A
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JP
Japan
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light
distance
sensor array
distance measuring
output
Prior art date
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Application number
JP2001353532A
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Japanese (ja)
Inventor
Osamu Nonaka
修 野中
Koichi Nakada
康一 中田
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a range-finding device realizing stable range-finding regardless of luminance and a distance. SOLUTION: First light for range-finding is projected to a subject 12 from an IRED 1, and second light for range-finding stronger than that of the IRED 1 is projected to the subject 12 from a strobe light emitting part 15. The distribution of incident light from the subject 12 is converted into an electrical signal by sensor arrays 3a and 3b. Then, a CPU 10 decides a distance to the subject 12 from output from the sensor arrays 3a and 3b in the case of projecting the first light for range-finding. It decides the distance to the subject 12 from the output from the sensor arrays 3a and 3b in the case of projecting the second light for range-finding. Whether range-finding is performed by the first light for range-finding or the second light for range-finding is selected based on the output level of the sensor arrays 3a and 3b in the case of not projecting the first and the second light for range-finding.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は測距装置に関し、
より詳細には、オートフォーカス(AF)カメラ等に用
いられる測距装置の改良に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a distance measuring device,
More specifically, the present invention relates to an improvement in a distance measuring device used for an autofocus (AF) camera or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】カメラのAF技術は大きく2つに分けら
れるもので、被写体像を利用するパッシブタイプと、カ
メラから投射した測距用光を利用するアクティブタイプ
の2つの方式がある。
2. Description of the Related Art The AF technology of a camera is roughly classified into two types, a passive type using a subject image and an active type using a distance measuring light projected from the camera.

【0003】しかし、これらの方式には、各々その方式
の原理に基く欠点を有している。そのため、例えば特開
昭63−49738号公報等に開示されているように、
両方の方式を組合わせたAF方式が、ハイブリッド方式
またはコンビネーション方式として、種々提案されてい
る。
However, each of these methods has a drawback based on the principle of the method. Therefore, for example, as disclosed in JP-A-63-49738 and the like,
Various AF methods combining both methods have been proposed as a hybrid method or a combination method.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のパッシブAF方式及びアクティブAF方式を組
合わせた提案では、例えばパッシブAF方式でもアクテ
ィブAF方式でも不得意とするシーンに対する改善につ
いては十分に述べられていないものであった。
However, in the above-mentioned proposal combining the conventional passive AF system and the active AF system, a sufficient description has been given of, for example, an improvement to a scene in which the passive AF system and the active AF system are not good at. Had not been done.

【0005】例えば、被写体が遠く、コントラストが低
く、且つ明るいシーンである場合、像を利用するパッシ
ブAFでは、コントラストが低いゆえに、アクティブA
F方式では、遠距離であるが故に正しい測距が困難とな
る。つまり、ハイブリッドAFのカメラといえども、正
しいピント合わせが困難なシーンがあった。
For example, when the subject is a distant, low-contrast, and bright scene, the passive AF using an image has a low active contrast because the contrast is low.
In the F system, correct distance measurement is difficult because of the long distance. In other words, even with a hybrid AF camera, there were scenes in which correct focusing was difficult.

【0006】この発明は、上記課題に鑑みてなされたも
ので、輝度や距離によらず安定した測距を可能とした測
距装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a distance measuring apparatus capable of performing stable distance measurement regardless of luminance and distance.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】すなわち、第1の発明
は、対象物に対して第1の測距用光を投射する第1の投
光源と、上記対象物に対し、上記第1の測距用光よりも
強い第2の測距用光を投射する第2の投光源と、対象物
からの入射光分布を電気信号に変換するセンサアレイ
と、上記第1の測距用光を投射した際の上記センサアレ
イ出力から、上記対象物までの距離を決定する第1の距
離決定手段と、上記第2の測距用光を投射した際の上記
センサアレイ出力から、上記対象物までの距離を決定す
る第2の距離決定手段と、上記第1及び第2の測距用光
を投射しない場合の上記センサアレイの出力レベルに基
いて、上記第1の距離決定手段、若しくは上記第2の距
離決定手段の何れかを選択する選択手段と、を具備する
ことを特徴とする。
That is, a first aspect of the present invention provides a first light source for projecting a first distance measuring light to an object, and the first light source to the object. A second projection light source for projecting a second distance measurement light stronger than the distance measurement light, a sensor array for converting an incident light distribution from an object into an electric signal, and projecting the first distance measurement light First distance determining means for determining a distance to the object from the output of the sensor array at the time of performing the above operation, and a distance from the sensor array at the time of projecting the second distance measuring light to the object. Second distance determining means for determining a distance, and the first distance determining means or the second distance determining means based on an output level of the sensor array when the first and second distance measuring lights are not projected. And selecting means for selecting any of the distance determining means.

【0008】また、第2の発明は、対象物から入射する
光の分布を電気信号に変換するセンサアレイと、上記対
象物に対して測距用光を投射する投光源と、上記投光源
を投射した時の反射信号光を上記センサアレイ出力より
抽出する反射信号光抽出手段と、上記抽出手段、及び上
記投光源非作動時の上記センサアレイ出力レベルを判定
する判定手段と、を具備する測距装置に於いて、上記抽
出手段非作動時の上記センサアレイによる像信号出力、
若しくは上記判定手段の出力によって切換えられた判定
レベルと、上記投光源及び抽出手段作動時の上記センサ
アレイ出力レベルを比較した結果に従った反射光量信号
に従って距離決定を行うことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a sensor array for converting a distribution of light incident from an object into an electric signal, a light source for projecting distance measuring light to the object, and a light source for the light source. A reflection signal light extraction means for extracting a reflection signal light at the time of projection from the sensor array output; a determination means for judging the sensor array output level when the projection light source is not operating; In the distance device, an image signal output by the sensor array when the extracting means is not operated,
Alternatively, the distance is determined in accordance with a reflected light amount signal according to a result of comparing the determination level switched by the output of the determination means with the sensor array output level when the projection light source and the extraction means are operated.

【0009】この発明の測距装置にあっては、対象物に
対して第1の光源から第1の測距用光が投射され、上記
対象物に対し、上記第1の測距用光よりも強い第2の測
距用光が第2の投光源から投射される。対象物からの入
射光分布は、センサアレイにて電気信号に変換される。
そして、第1の距離決定手段に於いて、上記第1の測距
用光を投射した際の上記センサアレイ出力から、上記対
象物までの距離が決定される。また、第2の距離決定手
段に於いて、上記第2の測距用光を投射した際の上記セ
ンサアレイ出力から、上記対象物までの距離が決定され
る。そして、上記第1及び第2の測距用光を投射しない
場合の上記センサアレイの出力レベルに基いて、上記第
1の距離決定手段、若しくは上記第2の距離決定手段の
何れかが、選択手段によって選択される。
In the distance measuring apparatus according to the present invention, a first light source for measuring distance is projected from a first light source to the object, and the first light for measuring distance is projected onto the object. Strong second distance measuring light is projected from the second projection light source. The distribution of incident light from the object is converted into an electric signal by the sensor array.
Then, the first distance determining means determines the distance to the object from the output of the sensor array when the first light for distance measurement is projected. Further, in a second distance determining means, a distance to the object is determined from an output of the sensor array when the second light for distance measurement is projected. Then, based on the output level of the sensor array when the first and second distance measuring lights are not projected, one of the first distance determining means and the second distance determining means selects one of them. Selected by means.

【0010】またこの発明の測距装置では、対象物に対
して投光源から測距用光が投射され、センサアレイによ
って上記対象物から入射する光の分布が電気信号に変換
される。更に、上記投光源を投射した時の反射信号光
が、反射信号光抽出手段によって上記センサアレイ出力
より抽出される。上記抽出手段、及び上記投光源非作動
時の上記センサアレイ出力レベルは、判定手段によって
判定される。そして、上記抽出手段非作動時の上記セン
サアレイによる像信号出力、若しくは上記判定手段の出
力によって切換えられた判定レベルと、上記投光源及び
抽出手段作動時の上記センサアレイ出力レベルとが、比
較された結果に従った反射光量信号に従って、距離決定
が行われる。
In the distance measuring apparatus of the present invention, distance measuring light is projected from the projecting light source to the object, and the distribution of light incident from the object is converted into an electric signal by the sensor array. Further, the reflected signal light when the projection light source is projected is extracted from the sensor array output by the reflected signal light extracting means. The determination means determines the output level of the sensor array when the extraction means and the projection light source are not operated. Then, the image signal output by the sensor array when the extracting means is not operated or the determination level switched by the output of the determining means is compared with the output level of the sensor array when the light emitting source and the extracting means are operated. The distance is determined according to the reflected light amount signal according to the result.

【0011】これにより、アクティブAFに於いて特有
の動作である定常光除去時の、誤差による測距判断や計
算の失敗を防止することができる。
This makes it possible to prevent errors in distance measurement determination and calculation due to an error when stationary light is removed, which is a specific operation in active AF.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施の形態を説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】初めに、図2を参照して、定常光除去の機
能について説明する。
First, the function of removing steady light will be described with reference to FIG.

【0014】図2に於いて、投光手段である赤外発光ダ
イオード(IRED)1から発光された光は、集光レン
ズ2を介して図示されない被写体に照射される。そし
て、図示されない被写体からの反射光は、図示されない
受光レンズを介して受光素子3a1 に入射される。この
受光素子3a1 は、例えば像信号検出用のセンサアレイ
を構成する1つの画素に相当する。
In FIG. 2, light emitted from an infrared light emitting diode (IRED) 1 as a light projecting means is applied to a subject (not shown) via a condenser lens 2. Then, light reflected from an object, not shown, is incident on the light receiving elements 3a 1 via a not shown light receiving lens. The light receiving element 3a 1, for example corresponding to one pixel of the sensor array for the image signal detection.

【0015】入射光量に応じて、ここから出力される光
電流IP は、電流検出回路4a、ホールド用コンデンサ
4cと共に定常光除去回路を構成する定常光除去トラン
ジスタ4bを介してグラウンド(GND)に流される。
その一方で、積分アンプ5a、積分コンデンサ5b、リ
セットスイッチ(SW)5c等から成る積分回路5には
電流が流れないように、電流検出回路4aによって上記
トランジスタ4bのゲート電圧が制御される。
In accordance with the amount of incident light, the photocurrent I P output therefrom goes to ground (GND) via a stationary light removing transistor 4b constituting a stationary light removing circuit together with a current detecting circuit 4a and a holding capacitor 4c. Swept away.
On the other hand, the gate voltage of the transistor 4b is controlled by the current detection circuit 4a so that no current flows through the integration circuit 5 including the integration amplifier 5a, the integration capacitor 5b, the reset switch (SW) 5c, and the like.

【0016】上記ホールド用コンデンサ4cは、上記ゲ
ート電位を固定するためのものである。この状態で、例
えばIRED1を発光させて、集光レンズ2を介して被
写体に対して測距用光をパルス投光し、且つ、電流検出
回路4aを非作動とすると、パルス光の急激な変化には
上記コンデンサ4cの両端の電圧変化は応答できない。
そこで、スイッチ5dをオンさせておくと、上記パルス
光に応じた光電流のみが積分回路5に入力され、積分ア
ンプ5aの出力には、上記測距用パルス光に基く光電変
換電圧が出力される。この出力をA/D変換すれば、反
射信号光成分のみに応じた反射光量データが検出可能と
なる。
The holding capacitor 4c is for fixing the gate potential. In this state, if, for example, the IRED 1 is caused to emit light and the distance measuring light is pulse-projected to the subject via the condenser lens 2 and the current detection circuit 4a is deactivated, the pulse light changes rapidly. Does not respond to a voltage change across the capacitor 4c.
Therefore, when the switch 5d is turned on, only the photocurrent corresponding to the pulse light is input to the integration circuit 5, and the output of the integration amplifier 5a outputs the photoelectric conversion voltage based on the pulse light for distance measurement. You. If this output is subjected to A / D conversion, reflected light amount data corresponding to only the reflected signal light component can be detected.

【0017】しかしながら、明るいシーンで定常光電流
P が大きくなるにつれ、熱雑音やシャットノイズ等の
影響で、誤って積分回路に入力される誤差成分が増加し
てしまう。また、回路のオフセット誤差の影響なども受
けやすくなる。
However, as the steady-state light current I P increases in a bright scene, an error component erroneously input to the integration circuit increases due to the influence of thermal noise, shut noise, and the like. In addition, the circuit is easily affected by the offset error of the circuit.

【0018】したがって、従来は、明るいシーンでは正
確な反射光量検出が困難となっていた。
Therefore, conventionally, it has been difficult to accurately detect the amount of reflected light in a bright scene.

【0019】定常光の明暗を判定するためには、上記電
流検出回路4aを非作動として、図3に示されるよう
に、リセットスイッチ5cを一旦オンした後、積分アン
プ5aに上記定常光電流IP が流し込み、積分電圧が所
定レベルVc になるまでの時間tINT をコンパレータ6
を利用して検出すればよい。明るいシーンでは、この時
間tINT が短く、暗いシーンではtINT が長くなるた
め、この時間tINT をカウントするだけで明暗判定する
ことができる。この時、IRED1は非作動としてお
く。
In order to determine the brightness of the steady light, the current detection circuit 4a is deactivated and the reset switch 5c is once turned on as shown in FIG. P is poured, the time t INT until the integral voltage reaches a predetermined level V c the comparator 6
The detection may be performed by using. In a bright scene, the time tINT is short, and in a dark scene, tINT is long. Therefore, the brightness can be determined only by counting the time tINT . At this time, the IRED 1 is not operated.

【0020】図1は、この発明の一実施の形態に係る測
距装置の構成を示した図である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a distance measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.

【0021】図1に於いて、CPU10は、ワンチップ
マイクロコンピュータ等から構成される演算制御手段で
ある。このCPU10には、上述した積分回路5からの
出力信号を判定する積分判定部6と、A/D変換部7
と、上記IRED1を駆動するためのドライバ11と、
ストロボ発光部15を駆動するためのストロボ回路14
と、ピント合わせ部16と、記憶手段としてのEEPR
OM17と、レリーズスイッチ18とが接続されてい
る。
In FIG. 1, a CPU 10 is an arithmetic and control means composed of a one-chip microcomputer or the like. The CPU 10 includes an integration judging unit 6 for judging an output signal from the integrating circuit 5 and an A / D converter 7
A driver 11 for driving the IRED1,
Strobe circuit 14 for driving strobe light emitting section 15
, Focusing unit 16 and EEPR as storage means
The OM 17 and the release switch 18 are connected.

【0022】また、CPU10は、演算制御部20と、
パターン判定部21と、相関演算部22と、信頼性判定
部23と、光量判定部24及び比較定数回路25を有し
ている。
The CPU 10 includes an arithmetic control unit 20 and
It has a pattern determination unit 21, a correlation calculation unit 22, a reliability determination unit 23, a light amount determination unit 24, and a comparison constant circuit 25.

【0023】センサアレイ3a及び3bは、上述した受
光素子画素が並んで配置されたものである。上記センサ
アレイ3a及び3bには、被写体12からの反射光が受
光レンズ13a及び13bを介して入射される。センサ
アレイ3a及び3bに上記被写体12の像を結像させる
ために、各センサアレイの前方に2つの受光レンズ13
a及び13bが、焦点距離fだけ離間して設けられてい
る。これらのレンズに視差Bを持たせて、三角測距の原
理にて被写体距離Lを求める。
The sensor arrays 3a and 3b have the above-described light receiving element pixels arranged side by side. Light reflected from the subject 12 is incident on the sensor arrays 3a and 3b via light receiving lenses 13a and 13b. In order to form an image of the subject 12 on the sensor arrays 3a and 3b, two light receiving lenses 13 are provided in front of each sensor array.
a and 13b are provided separated by a focal length f. The parallax B is given to these lenses, and the subject distance L is obtained based on the principle of triangulation.

【0024】被写体距離Lの大小によって、2つのセン
サアレイ3a、3bに結像する被写体12の像は、各レ
ンズ光軸基準の相対位置を変化させる。これを検出する
ために、A/D変換部7では、センサアレイ3a、3b
からの積分出力(ここで積分回路5は、各センサアレイ
3a、3bの各画素に含められており、図1では省略さ
れている)がデジタル信号に変換される。
Depending on the magnitude of the subject distance L, the image of the subject 12 formed on the two sensor arrays 3a and 3b changes the relative position with respect to each lens optical axis. In order to detect this, the A / D conversion unit 7 uses the sensor arrays 3a, 3b
(Here, the integration circuit 5 is included in each pixel of each of the sensor arrays 3a and 3b, and is omitted in FIG. 1), and is converted into a digital signal.

【0025】そして、CPU10にて、これら2つのセ
ンサアレイ3a、3bのデジタル像信号が比較されて、
上記相対位置差検出及び距離算出が行われる。2つのセ
ンサアレイ3a、3bから検出された像が同じ被写体の
ものであるか否かを調べるために、CPU1は、その像
のパターンが測距にふさわしいか否かを調べるパターン
判定部21や、像の相対位置差を検出するための相関演
算部22等の機能を有している。
Then, the CPU 10 compares the digital image signals of these two sensor arrays 3a and 3b,
The relative position difference detection and the distance calculation are performed. In order to check whether or not the images detected from the two sensor arrays 3a and 3b are of the same object, the CPU 1 determines whether or not the pattern of the image is suitable for distance measurement, It has a function such as a correlation operation unit 22 for detecting a relative position difference between images.

【0026】上記信頼性判定部23は、上記相対位置差
を検出した時の像の一致度や上記像のパターン判定結
果、低コントラストや繰り返しパターン、単調増加、単
調減少のパターンである時に、上記パターン判定部21
及び相関演算部22の出力から、測距の信頼性について
判定するものである。また、上記光量判定部24は、上
記定常光除去時に測距用光を投射し、被写体12で反射
されて入射してきた入射光量を判定する。これらの判定
結果は、演算制御部20に供給される。
The reliability judging section 23 judges the degree of coincidence of the image when the relative position difference is detected, the pattern judgment result of the image, the low contrast, the repetitive pattern, the monotone increase, and the monotone decrease pattern. Pattern determination unit 21
The reliability of the distance measurement is determined from the output of the correlation calculation unit 22. In addition, the light quantity determination unit 24 projects the light for distance measurement at the time of the removal of the steady light, and determines the amount of incident light reflected and incident on the subject 12. These determination results are supplied to the arithmetic and control unit 20.

【0027】更に、比較定数回路25は、上記光量判定
部24にて光量を判定する際に、予めEEPROM17
に記憶されている比較定数を読出して設定するための回
路である。
Further, the comparison constant circuit 25 determines the light amount by the light amount determination unit 24 beforehand in the EEPROM 17.
Is a circuit for reading out and setting the comparison constant stored in.

【0028】CPU10内のこれらの各機能の結果よ
り、ピント合わせ部16の制御量が決定される。
The control amount of the focusing unit 16 is determined from the results of these functions in the CPU 10.

【0029】また、CPU10は、レリーズスイッチ1
8の入力状態を検出し、その他、カメラ撮影シーケンス
を司るものである。更に、測距時にも、必要に応じて、
ドライバ11を介して上記IRED1を投光制御した
り、ストロボ回路14を介してストロボ発光部15を発
光制御する。
The CPU 10 has a release switch 1
8 to control the camera shooting sequence. Furthermore, at the time of distance measurement, if necessary,
The light emission control of the IRED 1 is controlled through the driver 11, and the light emission of the strobe light emitting unit 15 is controlled through the strobe circuit 14.

【0030】この発明では、図4(a)に示されるよう
に配列された測距センサ(センサアレイ)3aにて、所
定エリアから出力される像信号が図4(b)に示される
ようにローコントラストであったり、図4(c)に示さ
れるように繰り返しパターンであったり、或いは図4
(d)に示されるように単調変化パターンであった場
合、更には相関演算の結果の信頼性が低い場合には、I
RED1を投射して反射信号光のパターンによって測距
を行う。図4(e)は、IRED1を投射させた時の投
光パターンに応じた出力パターンである。
In the present invention, an image signal output from a predetermined area is obtained by a distance measuring sensor (sensor array) 3a arranged as shown in FIG. 4 (a) as shown in FIG. 4 (b). It has a low contrast, a repetitive pattern as shown in FIG.
If the pattern is a monotonic change pattern as shown in (d), and if the reliability of the result of the correlation operation is low, I
The RED 1 is projected, and the distance is measured by the pattern of the reflected signal light. FIG. 4E shows an output pattern corresponding to the light projection pattern when the IRED 1 is projected.

【0031】また、集光レンズ2の前方にはパターン形
成用のマスクをおいてもよいし、発光部そのもののパタ
ーンを用いてもよい。
Further, a mask for forming a pattern may be provided in front of the condenser lens 2, or a pattern of the light emitting section itself may be used.

【0032】更に、このIRED1による反射信号光が
少ない場合には、より光量の多いストロボ発光部15を
用いた光投射による測距が行われる。但し、この場合、
反射信号光には特定のパターンがないので、多くの場
合、図4(f)に示されるように、コントラストの低い
信号光分布となる。但し、画面中央部にのみ被写体が存
在すれば、図4(g)に示されるようにコントラストが
生じ、この像によって測距ができる。
Further, when the signal light reflected by the IRED 1 is small, the distance measurement is performed by light projection using the strobe light emitting section 15 having a larger light amount. However, in this case,
Since there is no specific pattern in the reflected signal light, a signal light distribution with low contrast is often obtained as shown in FIG. However, if the subject exists only in the center of the screen, a contrast is generated as shown in FIG. 4G, and the distance can be measured by this image.

【0033】このセンサアレイと投光パターンの位置関
係について、この発明を応用したカメラの画面を基準に
すると、図5のように示される。
FIG. 5 shows the positional relationship between the sensor array and the projection pattern with reference to the screen of a camera to which the present invention is applied.

【0034】センサアレイのモニタエリア27は画面2
6の中心部となり、ストロボ光は画面全体を照射して露
出を制御しなければならず、広いパターン28となる。
そして、IREDのパターン光は、パターン29で表さ
れるような明暗パターンを形成する。
The monitor area 27 of the sensor array is the screen 2
6 and the exposure must be controlled by irradiating the entire screen with the strobe light, resulting in a wide pattern 28.
The pattern light of the IRED forms a light and dark pattern as represented by a pattern 29.

【0035】このような測距装置に於いて、上記測距用
光投射なしで、対象物の像信号の相対位置差で測距する
モードをパッシブAFと称する。これに対し、上記定常
光除去動作を伴い、IREDやストロボ等の光投射を伴
う測距モードをアクティブAFと称する。
In such a distance measuring apparatus, a mode in which the distance is measured by the relative position difference of the image signal of the object without projecting the distance measuring light is referred to as passive AF. On the other hand, a ranging mode that involves the above-described steady light removal operation and that involves light projection such as an IRED or a strobe is referred to as active AF.

【0036】次に、図6のフローチャートを参照して、
本実施の形態に於ける測距装置の動作について説明す
る。
Next, referring to the flowchart of FIG.
The operation of the distance measuring apparatus according to the present embodiment will be described.

【0037】先ず、ステップS1に於いて、上述したパ
ッシブモードによる測距が行われるれ。次いで、ステッ
プS2にて、所定のレベルまで像信号が積分された時の
積分時間tINT が求められる。そして、ステップS3に
於いて、パッシブAFの信頼性が判断される。
First, in step S1, the distance measurement in the above-described passive mode is performed. Next, in step S2, an integration time tINT when the image signal is integrated to a predetermined level is obtained. Then, in step S3, the reliability of the passive AF is determined.

【0038】ここで、上述したパターン判定に、または
相関演算の結果によって、パッシブAFの信頼性が高い
場合は、ステップS4へ移行して、2つの像信号位置よ
り三角測距によって距離算出が行われる。一方、パッシ
ブAFの信頼性が低い場合は、ステップS5に移行し
て、IRED1を用いたプリ測距が行われる。この時、
所定時間のパルス光がn0 回投光され、A/D変換部6
によって積分電圧VINTが求められる。
Here, if the reliability of the passive AF is high due to the above-described pattern determination or the result of the correlation operation, the flow shifts to step S4 to calculate the distance from the two image signal positions by triangulation. Is On the other hand, when the reliability of the passive AF is low, the process proceeds to step S5, and the pre-ranging using the IRED1 is performed. At this time,
The pulse light for a predetermined time is emitted n 0 times, and the A / D converter 6
The integral voltage V INT is obtained by the following.

【0039】この積分電圧VINT が大きければ、十分I
RED1からの光が被写体12に到達していると判断で
きるが、VINT が小さいとIRED1の光量では不十分
であるとして、より強力なストロボ光投射が行われるこ
とになる。しかしながら、この時、上述したように被写
体12を照らしている太陽光や人工照明のような定常光
成分を考慮しなければ、正しい判定にはならない。
If the integrated voltage V INT is large, I
Although it can be determined that the light from the RED 1 has reached the subject 12, if the V INT is small, it is determined that the amount of light of the IRED 1 is not sufficient, and a stronger strobe light is projected. However, at this time, as described above, unless the steady light component such as sunlight or artificial lighting illuminating the subject 12 is taken into consideration, a correct determination cannot be made.

【0040】したがって、その定常光成分を検出するた
めに、上記ステップS1のパッシブAF時の積分時間モ
ニタの結果(tINT )(ステップS2参照)が用いられ
て、ステップS6に於いて明るさの判断が行われる。つ
まり、この積分時間tINT と所定時間t0 との比較によ
って、上記ステップS4に於けるIREDプリ積分時の
積分電圧VINT の大小を判断する判定電圧V1 、V2
決定される。
Therefore, in order to detect the steady light component, the result (t INT ) of the integration time monitor at the time of the passive AF in step S1 (see step S2) is used. A decision is made. That is, by comparing the integration time t INT with the predetermined time t 0 , the determination voltages V 1 and V 2 for determining the magnitude of the integration voltage V INT during the IRED pre-integration in the step S4 are determined.

【0041】上記ステップS6に於いて、上記積分時間
INT が所定時間t0 よりも短い、すなわち、明るいと
判断された場合には、ステップS11に移行して、V1
より大きな判定電圧V2 とVINT が比較される。これに
よって、IRED1による測距を行うか、ストロボ発光
部15による測距を行うかが判断される。その結果、該
積分電圧VINT が判定電圧V2 よりも大きければステッ
プS8へ移行し、該積分電圧VINT が判定電圧V2 より
も小さければステップS12へ移行する。
If it is determined in step S6 that the integration time t INT is shorter than the predetermined time t 0 , that is, it is determined that the light is bright, the process proceeds to step S11, where V 1 is set.
Greater determination voltage V 2 and V INT is compared. Thus, it is determined whether the distance measurement using the IRED 1 or the distance measurement using the strobe light emitting unit 15 is performed. As a result, if the integrated voltage V INT is higher than the determination voltage V 2 , the process proceeds to step S8, and if the integrated voltage V INT is lower than the determination voltage V 2 , the process proceeds to step S12.

【0042】また、上記ステップS6にて、暗いシーン
で定常光が少なく、上記積分時間t INT が所定時間t0
よりも長い場合には、ステップS7へ移行する。そし
て、このステップS7にて、上記判定電圧V2 より小さ
い電圧V1 とIREDプリ積分時の積分電圧VINT とが
比較される。これによって、IRED1による測距を行
うか、ストロボ発光部15による測距を行うかが判断さ
れる。その結果、該積分電圧VINT が判定電圧V1 より
も大きければステップS8へ移行し、該積分電圧VINT
が判定電圧V1 よりも小さければステップS12へ移行
する。
In step S6, a dark scene
And the integration time t INTIs a predetermined time t0
If it is longer, the process proceeds to step S7. Soshi
In step S7, the determination voltage VTwoSmaller
Voltage V1And integrated voltage V during IRED pre-integrationINTAnd
Be compared. As a result, distance measurement by IRED1 is performed.
To determine whether or not to perform distance measurement with the flash emission unit 15.
It is. As a result, the integrated voltage VINTIs the judgment voltage V1Than
If the value of the integral voltage VINT
Is the judgment voltage V1If smaller than, proceed to step S12
I do.

【0043】この積分電圧VINT は、センサアレイを構
成する全センサのうち、最も入射光量の大きいものの積
分電圧を選択するようにしてもよいし、センサアレイの
所定のエリアのうち最も入射光量の大きいものを選択す
るようにしてもよい。
As the integrated voltage V INT , the integrated voltage of the sensor having the largest incident light amount may be selected from all the sensors constituting the sensor array, or the integrated voltage V INT may be selected from the predetermined area of the sensor array. A larger one may be selected.

【0044】こうして決定された投光源により、ステッ
プS8またはステップS12にて、IRED1またはス
トロボ発光部15の光を利用したアクティブモードによ
る測距がなされる(本測距)。これは、所定時間の発光
で所定の電圧に到るまで投光積分が繰り返されていくも
のである。
In step S8 or step S12, the distance measurement is performed in the active mode using the light of the IRED 1 or the strobe light emitting unit 15 in the step S8 or step S12 (main distance measurement). In this method, light emission integration is repeated until light emission reaches a predetermined voltage during light emission for a predetermined time.

【0045】すなわち、IRED1による測距の場合
は、ステップS8にてIRED1による測距が行われ
る。次いで、ステップS9にて積分終了の判定が行わ
れ、終了でない場合はステップS10にて、積分回数が
比較される。ここで、積分回数がリミッタのn1 に達し
ていなければ、上記ステップS8に移行してステップS
8〜S10の処理が繰返される。そして、ステップS9
で積分終了、或いはステップS10で積分回数がリミッ
タのn1 に達したならば、ステップS15に移行する。
That is, in the case of distance measurement by IRED1, distance measurement by IRED1 is performed in step S8. Next, it is determined in step S9 whether the integration is completed. If the integration is not completed, the number of integrations is compared in step S10. If the number of integrations has not reached the limiter n 1 , the process proceeds to step S8, and the process proceeds to step S8.
The processes from 8 to S10 are repeated. Then, step S9
In integration end, or if the number of integrations in step S10 has reached n 1 of the limiter, the process proceeds to step S15.

【0046】一方、ストロボ発光部15による測距の場
合は、ステップS12にてストロボ発光部15による測
距が行われる。次いで、ステップS13にて積分終了の
判定が行われ、終了でない場合はステップS14にて、
積分回数が比較される。ここで、積分回数がリミッタの
2 に達していなければ、上記ステップS12に移行し
てステップS12〜S14の処理が繰返される。そし
て、ステップS13で積分終了、或いはステップS14
で積分回数がリミッタのn2 に達したならば、ステップ
S15に移行する。
On the other hand, in the case of distance measurement by the strobe light emitting section 15, the distance measurement by the strobe light emitting section 15 is performed in step S12. Next, it is determined in step S13 whether the integration is completed. If the integration is not completed, in step S14,
The integration times are compared. Here, integration count has not reached the n 2 of the limiter, the process of step S12~S14 proceeds to step S12 are repeated. Then, integration is completed in step S13, or step S14.
In the integral number if reached n 2 of the limiter, the process proceeds to step S15.

【0047】IRED1による測距、ストロボ発光部1
5による測距の何れの場合も、所定回数以上投光積分が
行われると、エネルギーが無駄になり、タイムラグにも
影響する。そのため、上述したように、ステップS1
0、S14にて、積分回数リミッタ(n1 、n2 )が設
けられている。
Distance measurement by IRED1, strobe light emitting unit 1
In any case of the distance measurement by 5, if light integration is performed a predetermined number of times or more, energy is wasted and a time lag is affected. Therefore, as described above, step S1
At 0, S14, integration count limiter (n 1, n 2) is provided.

【0048】ステップS15では、このようにして反射
光量が積分された結果P(積分電圧VINT を積分回数で
除したもの)が求められる。次いで、ステップS16に
て、パターン判定が行われる。そして、上記ステップS
15及びS16にて得られた結果より、ステップS17
に於いて、三角測距が可能か否かが判断される。
In step S15, the result P (integrated voltage V INT divided by the number of integrations) obtained by integrating the amount of reflected light is obtained. Next, a pattern determination is performed in step S16. Then, the above step S
From the results obtained in steps S15 and S16,
It is determined whether or not triangulation is possible.

【0049】ここで、三角測距が可能な反射光像信号に
なっていれば、ステップS18に移行して三角測距が行
われる。そして、この三角測距の結果について、ステッ
プS19に於いて信頼性が判断される。その結果、三角
測距の信頼性が高い場合は、本測距が終了する。
Here, if the reflected light image signal allows triangulation, the process proceeds to step S18 to perform triangulation. Then, the reliability of the result of the triangulation is determined in step S19. As a result, when the reliability of the triangulation is high, the main ranging is completed.

【0050】これに対し、三角測距の信頼性が低い場
合、及び上記ステップS17にて、パターンが十分でな
い(三角測距はNG)と判断された場合は、ステップS
20に移行して、先の反射光量Pによる光量AFが行わ
れる。これは、光を投射して反射光量を調べた場合、近
距離のものからは多くの光が、遠距離のものからは少な
い光が返ってくることを利用した距離測定方式であり、
コントラストのない被写体にとっても有効な測距方式と
なる。但し、被写体の反射率は所定の範囲に入っている
ものと仮定している。
On the other hand, if the reliability of the triangulation is low, or if it is determined in step S17 that the pattern is not sufficient (triangulation is NG), the process proceeds to step S17.
The process proceeds to 20, and the light amount AF based on the reflected light amount P is performed. This is a distance measurement method that utilizes the fact that when projecting light and examining the amount of reflected light, more light is returned from a short distance and less light is returned from a longer distance.
This is an effective distance measurement method even for a subject having no contrast. However, it is assumed that the reflectance of the subject falls within a predetermined range.

【0051】図7及び図8は、以上のフローチャートに
従って動作する、IRED、積分、ストロボのタイミン
グチャートである。
FIGS. 7 and 8 are timing charts of the IRED, the integration, and the strobe, which operate according to the above flow chart.

【0052】図7は、IRED1を3回発光させてのプ
リ測距結果(n0 =3の時のVINT)がV1 以下であっ
て、IRED1の光では測距できないと判断し、ストロ
ボ光による測距に移行した例の動作を示している。
FIG. 7 shows that the pre-ranging result (V INT when n 0 = 3) obtained by causing the IRED 1 to emit light three times is V 1 or less, and that it is determined that the distance cannot be measured with the light of the IRED 1 , The operation of an example in which a shift to distance measurement by light is shown is shown.

【0053】すなわち、IRED1によるプリ測距が行
われる(ステップS5)。ここで、IRED1を3回発
光させてのプリ測距時は、積分電圧VINT はV1 以下で
あるのでIRED1の光では測距できないと判断される
(ステップS6、S7)。したがって、ストロボ発光部
15によるストロボAFが行われる(ステップS1
2)。そして、この場合、ストロボは5回の発光で積分
判定電圧Vc に達したので発光を終了している(ステッ
プS13、S14)。
That is, pre-ranging by the IRED 1 is performed (step S5). Here, during pre-distance measurement with the IRED 1 emitting three times, it is determined that the distance cannot be measured with the light of the IRED 1 because the integrated voltage V INT is equal to or less than V 1 (steps S6 and S7). Therefore, strobe AF is performed by the strobe light emitting unit 15 (step S1).
2). In this case, the flash has finished the emission so reaches the integral determination voltage V c at five emission (step S13, S14).

【0054】或いは、IRED1を3回発光させてのプ
リ測距時の積分電圧VINT はV2 以下であるとした場合
でも、IRED1の光では測距できないと判断される
(ステップS6、S11)。その結果、ストロボ発光部
15によるストロボAFが行われることになる(ステッ
プS12)。
Alternatively, it is determined that the distance cannot be measured with the light of the IRED 1 even if the integrated voltage V INT at the time of the pre-distance measurement with the IRED 1 emitting three times is equal to or less than V 2 (steps S 6 and S 11). . As a result, strobe AF is performed by the strobe light emitting unit 15 (step S12).

【0055】また、図8(a)は、3回のIRED発光
で同じ積分量積分しても、パッシブAF時の積分時間t
INT が所定時間t0 より大きかった時(暗時)のタイミ
ングチャートである。
FIG. 8A shows that the integration time t during the passive AF is obtained even when the same integration amount is integrated in three IRED emission times.
5 is a timing chart when INT is greater than a predetermined time t 0 (dark).

【0056】すなわち、IRED1によるプリ測距が行
われる(ステップS5)。そして、該IRED1を3回
発光させてのプリ測距時の測距時間tINT が所定時間t
0 より大きく、積分電圧VINT が所定電圧V1 を越えた
と判断される(ステップS6、S7)。したがって、I
RED1によるAFが行われる(ステップS8)。その
後、IRED1は、6回の発光で積分判定電圧Vc に達
したので発光を終了している(ステップS9、S1
0)。
That is, pre-ranging by the IRED 1 is performed (step S5). The distance measuring time t INT at the time of pre-ranging with the IRED 1 emitting light three times is equal to a predetermined time t.
Greater than 0, the integral voltage V INT is judged it exceeds the predetermined voltage V 1 (step S6, S7). Therefore, I
AF by RED1 is performed (step S8). Thereafter, IRED1 has ended light emission so reaches the integral determination voltage V c at six emission (step S9, S1
0).

【0057】図8(b)は、3回のIRED発光で同じ
積分量積分しても、パッシブAF時の積分時間tINT
所定時間t0 以下だった時(明時)のタイミングチャー
トである。
FIG. 8B is a timing chart when the integration time t INT during the passive AF is less than or equal to the predetermined time t 0 (during light) even when the same integration amount is integrated in three IRED emission times. .

【0058】すなわち、IRED1によるプリ測距が行
われる(ステップS5)。ここで、IRED1を3回発
光させてのプリ測距時は、積分電圧VINT はV2 以下で
あるのでIRED1の光では測距できないと判断される
(ステップS6、S11)。したがって、ストロボ発光
部15によるストロボAFが行われる(ステップS1
2)。そして、この場合、ストロボは3回の発光で積分
判定電圧Vc に達したので発光を終了している(ステッ
プS13、S14)。
That is, pre-ranging by the IRED 1 is performed (step S5). Here, during pre-distance measurement with the IRED 1 emitting three times, it is determined that the distance cannot be measured with the light of the IRED 1 because the integrated voltage V INT is equal to or less than V 2 (steps S6 and S11). Therefore, strobe AF is performed by the strobe light emitting unit 15 (step S1).
2). In this case, the flash has finished the emission so reaches the integral determination voltage V c at three emission (step S13, S14).

【0059】このように、図7及び図8のタイミングチ
ャートは、判定電圧がV2 、V1 と切替わることによっ
て、図6のフローチャートに於いて破線内に示される後
半の本測距が、IREDまたはストロボに切替わる様子
が、対応して示されている。
[0059] Thus, the timing charts of FIGS. 7 and 8, by the judgment voltage is changed V 2, V 1 and switching, is present ranging second half shown in broken line in the flowchart of FIG. 6, Switching to IRED or strobe is shown correspondingly.

【0060】明るい時には、上述したように光電流IP
が増加して、センサやホールドトランジスタにノイズが
重畳されやすく、それが積分されて実際より多く積分さ
れることを、このような工夫にて対策している。このよ
うな策を講じないと、実際にはIREDでは測距できな
いシーンでIREDが選択されたりして、本測距で誤測
距してしまうことがある。
When bright, as described above, the photocurrent I P
With such a measure, noise is likely to be superimposed on the sensor and the hold transistor due to an increase in the noise, and the noise is integrated and integrated more than actually. If such a measure is not taken, the IRED may be selected in a scene where the distance cannot be actually measured by the IRED, and the distance may be erroneously measured in the actual distance measurement.

【0061】このような場合でも、上述したこの発明の
ような工夫にて、正しくストロボ利用の測距に切替わ
り、十分な反射光量による正確な測距が可能となる。ま
た、不必要な時には、より消費電力の少ないIRED測
距を行うので、消エネルギー効果もある。
Even in such a case, with the above-described device of the present invention, the distance is correctly switched to the strobe-based distance measurement, and accurate distance measurement with a sufficient amount of reflected light can be performed. Also, when unnecessary, IRED ranging with less power consumption is performed, so that there is also an energy dissipation effect.

【0062】次に、本測距に於いてもこの高輝度時のノ
イズ誤差が測距に影響することを対策する動作について
説明する。
Next, an operation for taking measures to prevent the noise error at the time of high luminance from affecting the distance measurement in the actual distance measurement will be described.

【0063】図9は、図6のフローチャートに於けるス
テップS20のサブルーチン“光量AF”を説明するフ
ローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart for explaining the subroutine "light amount AF" of step S20 in the flowchart of FIG.

【0064】ステップS31、S32に於いて、パッシ
ブ測距時の積分時間tINT によって光量AFの補正係数
Kを切換える時の判断が行われる。ここで、所定時間t
0 <t1 とすると、非常に明るいシーンの場合(tINT
<t0 )はステップS33へ、暗いシーンの場合(t
INT ≧t1 )はステップS34へ、そして両者の間の明
るさのシーンの場合(t0 ≦tINT <t1 )はステップ
S35へ、それぞれ移行する。
[0064] In step S31, S32, determination of when to switch the correction coefficient K of the light amount AF by integration time t INT during passive range finding is performed. Here, the predetermined time t
If 0 <t 1 , a very bright scene (t INT
<T 0 ) proceeds to step S33, in the case of a dark scene (t
To INT ≧ t 1) is the step S34, and if the brightness of the scene between them (t 0 ≦ t INT <t 1) is to step S35, the process proceeds respectively.

【0065】暗いシーンではノイズ誤差を考慮する必要
がないので、ステップS34に於ける補正係数Kは
“1”である。そして、シーンが明るくなるにつれて、
この補正係数Kを“1/2”、“1/4”と小さくす
る。すなわち、ステップS33の明るいシーンの場合
は、補正係数に“1/4”が設定される。同様に、ステ
ップS34の暗いシーンでは補正係数に“1”が、両者
の間の明るさのシーンでは補正係数に“1/2”が設定
される。
Since it is not necessary to consider noise errors in a dark scene, the correction coefficient K in step S34 is "1". And as the scene gets brighter,
This correction coefficient K is reduced to “1 /” or “1 /”. That is, in the case of a bright scene in step S33, "1/4" is set as the correction coefficient. Similarly, in the dark scene of step S34, the correction coefficient is set to "1", and in the scene of brightness between the two, "1/2" is set to the correction coefficient.

【0066】その後、ステップS36に移行して、下記
(1)式によって遠距離が算出される。
Thereafter, the flow shifts to step S36, where a long distance is calculated by the following equation (1).

【0067】[0067]

【数1】 (Equation 1)

【0068】これは、明るいシーンではノイズやオフセ
ット分が積分されて、近距離側の出力となりやすいこと
を対策するものである。AFカメラでピント合わせレン
ズの繰出し量に比例する被写体距離の逆数1/Lを算出
する時、1回の発光積分で1mの被写体から反射されて
くる光量P0 と、発光回数n、入射光量Pを利用する式
に、上述した補正係数Kを乗ずることによって、明るい
被写体の光量AFの誤差を対策している。
This countermeasures that in a bright scene, noise and offset components are integrated and the output is likely to be on the short distance side. When calculating the reciprocal 1 / L of the subject distance proportional to the extension amount of the focusing lens by the AF camera, the light quantity P 0 reflected from the 1 m subject in one light emission integration, the number of times of light emission n, and the incident light quantity P Is multiplied by the above-described correction coefficient K to take measures against errors in the light amount AF of a bright subject.

【0069】また、前記光量P0 は、IRED1を光源
とした場合と、ストロボ発光部15を光源とした場合と
では、異なった値となる。したがって、異なる値の2つ
のP 0 が、予めEEPROM17に記憶されている。
The light amount P0Uses IRED1 as the light source
And when the strobe light emitting unit 15 is used as a light source.
Will have different values. Therefore, two of the different values
P 0Are stored in the EEPROM 17 in advance.

【0070】このように、上述した実施の形態によれ
ば、被写体に応じて、下記の測距モードを使い分けて、
苦手な対象物のない測距装置を提供することができる。
As described above, according to the above-described embodiment, the following ranging modes are selectively used according to the subject,
It is possible to provide a distance measuring device that does not have a weak object.

【0071】すなわち、像信号にて測距可能な対象物に
対しては、図6のステップS1で得られたパッシブAF
の値を使用してステップS4の三角測距を行う、パッシ
ブモードによる測距が行われる。
That is, for an object whose distance can be measured by the image signal, the passive AF obtained in step S1 of FIG.
The distance measurement in the passive mode, in which the triangular distance measurement in step S4 is performed using the value of (1), is performed.

【0072】また、IREDで測距可能な被写体でも明
確なパターン判定ができるものは、同ステップS8で得
られたIRED1によるAFの値を使用してステップS
18の三角測距を行う、アクティブ三角測距モードが実
行される。
In the case of an object whose distance can be clearly measured by the IRED, a pattern that can be clearly determined is used in step S8 by using the AF value of the IRED1 obtained in step S8.
An active triangulation mode for performing triangulation of 18 is executed.

【0073】更に、被写体が遠距離ならば、同ステップ
S8のIRED1によるAFの値を使用してステップS
20の光量AFを行うIREDの光量測距モード、また
は、ステップS12のストロボ発光によるAFの値を使
用してステップS18の三角測距を行うストロボ三角測
距モード、更には、ステップS12のストロボ発光によ
るAFの値を使用してステップS20の光量AFを行う
ストロボ光量測距モードが実行される。
Further, if the subject is at a long distance, the process proceeds to step S8 using the AF value by the IRED 1 in step S8.
The light amount ranging mode of the IRED in which the light amount AF of 20 is performed, the flash triangulation distance measurement mode in which the triangulation is performed in step S18 using the value of the AF by the flash emission in step S12, and the flash emission in step S12 The flash light amount ranging mode in which the light amount AF is performed in step S20 using the AF value according to (1) is executed.

【0074】これらの測距モードを使い分けることによ
り、明るいシーンでも切換えの誤判定をしたり誤った光
量判定のない正確な測距が可能となる。
By properly using these distance measurement modes, accurate distance measurement without erroneous switching determination or erroneous light amount determination is possible even in a bright scene.

【0075】尚、上記の説明に於いては、定常光の明暗
を判断するのにステップS2にて所定レベルまで像信号
が積分されたときの積分時間tINT を求め、ステップS
6にてこの積分時間を用いて明るさ判定した。この変形
例として、ステップS2に於いて、所定時間中に積分さ
れた電圧を求め、ステップS6にて前記積分電圧を用い
て明るさ判定してもよい。
In the above description, the integration time t INT when the image signal is integrated to a predetermined level is determined in step S2 to determine the brightness of the stationary light, and the step S2 is performed.
At 6, the brightness was determined using the integration time. As a modified example, in step S2, a voltage integrated during a predetermined time may be obtained, and in step S6, the brightness may be determined using the integrated voltage.

【0076】[0076]

【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
従来、パッシブAFでもアクティブAFでも測距が困難
だったシーンの測距精度を向上させたので、輝度や距離
によらず安定した測距を可能とした測距装置を提供する
ことができる。また、この発明の測距装置を搭載したカ
メラは、シーンを選ばす測距及びピント合せが可能なも
のとなる。
As described above, according to the present invention,
Conventionally, the distance measurement accuracy of a scene in which distance measurement was difficult in both passive AF and active AF has been improved, so that it is possible to provide a distance measurement device capable of performing stable distance measurement regardless of luminance and distance. Further, the camera equipped with the distance measuring apparatus of the present invention can perform distance measuring and focusing for selecting a scene.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施の形態に係る測距装置の構成
を示した図である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a distance measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】定常光除去の機能について説明する図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a function of removing steady light.

【図3】定常光の明暗を判定するための動作を説明する
タイミングチャートである。
FIG. 3 is a timing chart for explaining an operation for determining the brightness of the stationary light.

【図4】測距センサと該測距センサから出力される像信
号の例を示した図である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a distance measuring sensor and an image signal output from the distance measuring sensor.

【図5】この発明を応用したカメラの画面を基準した場
合のセンサアレイと投光パターンの位置関係について示
した図である。
FIG. 5 is a diagram showing a positional relationship between a sensor array and a light projection pattern on the basis of a camera screen to which the present invention is applied.

【図6】この発明の一実施の形態に於ける測距装置の動
作について説明するフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart illustrating an operation of the distance measuring apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図7】IRED、積分、ストロボの動作を説明するタ
イミングチャートである。
FIG. 7 is a timing chart illustrating operations of the IRED, the integration, and the strobe.

【図8】IRED、積分、ストロボの動作を説明するも
ので、(a)は3回のIRED発光で同じ積分量積分し
ても、パッシブAF時のtINT がt0 より大きかった時
(暗時)のタイミングチャート、(b)は同パッシブA
F時のtINT がt0 以下だった時(明時)のタイミング
チャートである。
FIGS. 8A and 8B illustrate the operations of the IRED, the integration, and the strobe light. FIG. 8A illustrates a case in which t INT is larger than t 0 during passive AF even when the same integration amount is integrated in three IRED emission (dark). ) Timing chart, (b) is the same passive A
T INT at the time of F is a timing chart of the time (at the time of Akira) was t 0 or less.

【図9】図6のフローチャートに於けるステップS20
のサブルーチン“光量AF”を説明するフローチャート
である。
FIG. 9 is a step S20 in the flowchart of FIG. 6;
9 is a flowchart for explaining a subroutine "light amount AF".

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 赤外発光ダイオード(IRED)、 2 集光レンズ、 3a、3b センサアレイ、 3a1 受光素子、 4a 電流検出回路、 4b 定常光除去トランジスタ、 4c ホールド用コンデンサ、 5 積分回路、 5a 積分アンプ、 5b 積分コンデンサ、 5c リセットスイッチ(SW)、 6 コンパレータ、 7 A/D変換部、 10 CPU、 11 ドライバ、 12 被写体、 13a、13b 受光レンズ、 14 ストロボ回路、 15 ストロボ発光部、 16 ピント合わせ部、 17 EEPROM、 18 レリーズスイッチ、 20 演算制御部、 21 パターン判定部、 22 相関演算部、 23 信頼性判定部、 24 光量判定部、 25 比較定数回路。Reference Signs List 1 infrared light emitting diode (IRED), 2 condenser lens, 3a, 3b sensor array, 3a 1 light receiving element, 4a current detection circuit, 4b steady light removal transistor, 4c hold capacitor, 5 integration circuit, 5a integration amplifier, 5b Integration capacitor, 5c reset switch (SW), 6 comparator, 7 A / D converter, 10 CPU, 11 driver, 12 subject, 13a, 13b light receiving lens, 14 strobe circuit, 15 strobe light emitting unit, 16 focusing unit, 17 EEPROM, 18 release switch, 20 operation control section, 21 pattern judgment section, 22 correlation operation section, 23 reliability judgment section, 24 light quantity judgment section, 25 comparison constant circuit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03B 13/36 G03B 3/00 A Fターム(参考) 2F112 AA07 AC03 BA03 CA02 EA07 FA07 FA14 FA29 FA45 2H011 AA01 BA05 BA14 BB04 DA08 2H051 BB07 BB09 BB20 CB20 CC10 CC11 CC12 CC16 CC18 CE07 CE21 DB01 EB07 EB19 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G03B 13/36 G03B 3/00 A F term (Reference) 2F112 AA07 AC03 BA03 CA02 EA07 FA07 FA14 FA29 FA45 2H011 AA01 BA05 BA14 BB04 DA08 2H051 BB07 BB09 BB20 CB20 CC10 CC11 CC12 CC16 CC18 CE07 CE21 DB01 EB07 EB19

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 対象物に対して第1の測距用光を投射す
る第1の投光源と、 上記対象物に対し、上記第1の測距用光よりも強い第2
の測距用光を投射する第2の投光源と、 対象物からの入射光分布を電気信号に変換するセンサア
レイと、 上記第1の測距用光を投射した際の上記センサアレイ出
力から、上記対象物までの距離を決定する第1の距離決
定手段と、 上記第2の測距用光を投射した際の上記センサアレイ出
力から、上記対象物までの距離を決定する第2の距離決
定手段と、 上記第1及び第2の測距用光を投射しない場合の上記セ
ンサアレイの出力レベルに基いて、上記第1の距離決定
手段、若しくは上記第2の距離決定手段の何れかを選択
する選択手段と、 を具備することを特徴とする測距装置。
1. A first light source for projecting a first distance measuring light to an object, and a second light source which is stronger than the first distance measuring light to the object.
A second light source for projecting the distance measuring light, a sensor array for converting an incident light distribution from an object into an electric signal, and a sensor array output when the first distance measuring light is projected. First distance determining means for determining the distance to the object; and second distance for determining the distance to the object from the sensor array output when the second distance measuring light is projected. Determining means, based on an output level of the sensor array when not projecting the first and second distance measuring lights, the first distance determining means or the second distance determining means. A distance measuring device comprising: selecting means for selecting.
【請求項2】 上記対象物に向けて上記第1の測距用光
を投射した際の上記センサアレイの出力信号から、上記
第1の測距用光の反射光成分のみを抽出する抽出手段を
更に具備し、 上記選択手段が、上記抽出手段の出力と、上記第1及び
第2の測距用光を投射しない場合の上記センサアレイの
出力レベルに基いて、上記第1の距離決定手段、若しく
は上記第2の距離決定手段の何れかを選択することを特
徴とする請求項1に記載の測距装置。
2. Extraction means for extracting only a reflected light component of the first distance measuring light from an output signal of the sensor array when projecting the first distance measuring light toward the object. The first distance determining means based on an output of the extracting means and an output level of the sensor array when not projecting the first and second distance measuring lights. 2. The distance measuring apparatus according to claim 1, wherein one of the first and second distance determining means is selected.
【請求項3】 対象物から入射する光の分布を電気信号
に変換するセンサアレイと、 上記対象物に対して測距用光を投射する投光源と、 上記投光源を投射した時の反射信号光を上記センサアレ
イ出力より抽出する反射信号光抽出手段と、 上記抽出手段、及び上記投光源非作動時の上記センサア
レイ出力レベルを判定する判定手段と、 を具備する測距装置に於いて、 上記抽出手段非作動時の上記センサアレイによる像信号
出力、若しくは上記判定手段の出力によって切換えられ
た判定レベルと、上記投光源及び抽出手段作動時の上記
センサアレイ出力レベルを比較した結果に従った反射光
量信号に従って距離決定を行うことを特徴とする測距装
置。
3. A sensor array for converting a distribution of light incident from an object into an electric signal, a light source for projecting light for distance measurement to the object, and a reflected signal when the light source is projected. A reflected signal light extracting means for extracting light from the output of the sensor array, a determining means for determining the output level of the sensor array when the light projecting light source is not operated, and a extracting means; According to the result of comparing the image signal output by the sensor array when the extracting means is not operated or the determination level switched by the output of the determining means with the sensor array output level when the light emitting source and the extracting means are operated. A distance measuring device for determining a distance according to a reflected light amount signal.
【請求項4】 上記投光源は、投射に必要なエネルギー
が異なる第1及び第2の投光源を含み、上記判定手段の
出力結果に従って、上記第1及び第2の投光源を切換え
ることを特徴とする請求項3に記載の測距装置。
4. The projection light source includes a first projection light source and a second projection light source having different energies required for projection, and switches the first projection light source and the second projection light source according to an output result of the determination unit. The distance measuring apparatus according to claim 3, wherein
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