JP2002228916A - Range finder - Google Patents

Range finder

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JP2002228916A
JP2002228916A JP2001022109A JP2001022109A JP2002228916A JP 2002228916 A JP2002228916 A JP 2002228916A JP 2001022109 A JP2001022109 A JP 2001022109A JP 2001022109 A JP2001022109 A JP 2001022109A JP 2002228916 A JP2002228916 A JP 2002228916A
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JP
Japan
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light
sensor array
subject
image
distance
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP2001022109A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Osamu Nonaka
修 野中
Koichi Nakada
康一 中田
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a range finder which can correctly determine an object distance even if an additional object of high luminance besides an object image is present like a back light scene. SOLUTION: It is judged whether or not a noise signal component made incident from other than an object image is superposed in the picture signal of the object image detected from a sensor array, and a ranging method is then selected. Triangular ranging is performed when there is the reliability of a passive AF. When unreliable, active ranging using an IRED(infrared- emitting diode) or a stroboscope is performed according to object luminance, and then pulsed light is projected on the object to detect the object distance by regularly removing an image signal based on incident signal light in the sensor array.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、オートフォーカス
(AF)カメラ等に用いられる測距装置に係り、特に逆
光シーン等の被写体像よりも明るい光が混入した場合に
も正しく測距を行う測距装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a distance measuring apparatus used in an autofocus (AF) camera and the like, and more particularly to a distance measuring apparatus which can correctly measure a distance even when light brighter than a subject image such as a backlight scene is mixed. It relates to a distance device.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、カメラに搭載されるAF技術は
大分すると、1つは、被写体像を利用するパッシブタイ
プと、もう1つはカメラから投射した測距用光を利用す
るアクティブタイプの2つの測距方式が知られている。
これらの方式は、各々、その方式の原理に基づく欠点を
有しており、これらの両方式を組み合わせて、欠点を補
ったハイブリッド方式、又はコンビネーション方式が提
案されている。
2. Description of the Related Art Generally, AF technology mounted on a camera can be roughly classified into two types: a passive type using a subject image, and an active type using a distance measuring light projected from the camera. Two ranging methods are known.
Each of these methods has a drawback based on the principle of the method, and a hybrid method or a combination method that compensates for the drawbacks by combining these two methods has been proposed.

【0003】通常、視差を有する2つの光路から得た2
つの像信号の相対位置等によって、被写体距離を求め
る、所謂パッシブAFにおいては、正確に被写体像を検
出する必要がある。具体的には、2つの光路は、2つ設
けた受光レンズによってそれぞれ形成され、それらの光
路を通った光は、受光素子となるセンサアレイでそれぞ
れ受光し、光電変換により電気的な像信号が生成され
る。この像信号の中には、被写体像以外からの光も重畳
して生成される。このパッシブAFは、測距範囲(受光
範囲)の被写体像以外からの光が混入していると、得ら
れた測距データが主要被写体における測距データとは限
らず、周囲の雑被写体(主要被写体以外の被写体)も含
んでいる可能性があり、正確な測距とはいえなかった。
[0003] Generally, two light paths obtained from two light paths having parallax are used.
In a so-called passive AF in which a subject distance is obtained based on a relative position of two image signals or the like, it is necessary to accurately detect a subject image. Specifically, two light paths are formed by two light receiving lenses provided, respectively, and light passing through those light paths is respectively received by a sensor array serving as a light receiving element, and an electric image signal is formed by photoelectric conversion. Generated. In this image signal, light from other than the subject image is also superimposed and generated. In the passive AF, if light from a subject other than the subject image in the distance measurement range (light receiving range) is mixed, the obtained distance measurement data is not limited to the distance measurement data for the main subject, and the surrounding rough subject (main (The subject other than the subject), and the distance measurement was not accurate.

【0004】これに対して本出願人により、例えば特開
平10−122855号公報において、上記被写体以外
からの光の成分を訂正して、正確な距離測定を実現する
方法を提案している。
On the other hand, the applicant of the present invention has proposed, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 10-122855, a method of correcting a light component other than the above-mentioned subject to realize accurate distance measurement.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】前述した特開平10−
122855号公報を用いたとしても、例えば、逆光シ
ーンのように強い太陽光が直接測距装置のレンズに入射
している構図では、被写体像の光量よりも、重畳する光
の方が光量が大きくなる可能性が高い。このような場
合、回路のダイナミックレンジの関係から相対的に主要
被写体像が弱まってしまうため、十分な効果を奏するこ
とが期待できなかった。
SUMMARY OF THE INVENTION The above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No.
Even if the Japanese Patent Application Laid-Open No. 122855 is used, for example, in a composition in which strong sunlight is directly incident on the lens of the distance measuring device as in a backlight scene, the amount of light to be superimposed is larger than the amount of light to the subject image. Likely to be. In such a case, the main subject image is relatively weakened due to the relationship of the dynamic range of the circuit, so that a sufficient effect cannot be expected.

【0006】そこで本発明は、逆光シーンのような被写
体像の他に高輝度の雑被写体が存在しても正しく被写体
距離を求められる測距装置を提供することを目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a distance measuring apparatus which can correctly obtain a subject distance even when a high-luminance miscellaneous subject exists in addition to a subject image such as a backlight scene.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、被写体像をモニタして像信号を出力するセ
ンサアレイと、上記像信号に上記被写体部以外から入射
するノイズ信号成分が重畳していることを判定する判定
手段と、上記判定手段の判定結果に応じて上記被写体に
パルス光を投射する投射手段と、上記センサアレイに定
常的に入射する信号光に基づく像信号を除去し、上記パ
ルス光に応じた信号を抽出する抽出手段とを備え、上記
抽出手段を作動させて、上記抽出信号を用いて、上記被
写体距離を検出する測距装置を提供する。
To achieve the above object, the present invention provides a sensor array for monitoring a subject image and outputting an image signal, and a noise signal component incident on the image signal from a portion other than the subject portion. Judgment means for judging that they are superimposed, projection means for projecting pulsed light to the object according to the judgment result of the judgment means, and removal of an image signal based on signal light constantly entering the sensor array And an extracting means for extracting a signal corresponding to the pulse light, wherein the extracting means is operated to provide a distance measuring apparatus for detecting the subject distance using the extracted signal.

【0008】上記センサアレイは、光電流積分手段を有
し、上記判定手段は、上記像信号のコントラスト及び上
記積分手段の積分量に応じて、上記ノイズ信号成分の重
畳を判定する。または、上記センサアレイは、ノイズ信
号成分検出用画素を併設し、上記ノイズ成分検出用画素
の出力と、上記センサアレイの出力とを比較して、上記
ノイズ信号成分の重畳を判定する。
The sensor array has a photocurrent integrating means, and the determining means determines the superposition of the noise signal component according to the contrast of the image signal and the amount of integration of the integrating means. Alternatively, the sensor array includes a noise signal component detection pixel and compares the output of the noise component detection pixel with the output of the sensor array to determine the superposition of the noise signal component.

【0009】さらに、被写体像をモニタして像信号を出
力する第1のセンサアレイと、上記像信号に上記被写体
部以外から入射するノイズ信号成分が重畳していること
を判定する判定手段とを備え、上記判定手段の判定結果
に応じて上記第1のセンサアレイに隣接する第2のセン
サアレイを作動させて上記被写体距離を検出する測距装
置を提供する。
Further, a first sensor array for monitoring a subject image and outputting an image signal, and a judging means for judging that a noise signal component incident from other than the subject portion is superimposed on the image signal. A distance measuring device for detecting the subject distance by activating a second sensor array adjacent to the first sensor array in accordance with a determination result of the determination means.

【0010】以上のような構成の測距装置は、センサア
レイから検出された被写体像の像信号をに被写体像以外
から入射するノイズ信号成分が重畳しているか否かを判
定して、測距方式を選択し、パッシブAFの信頼性があ
れば像信号による三角測距を行い、信頼性がなければ、
被写体輝度により、IRED若しくはストロボ等のパル
ス光を用いたアクティブ測距を行うことにより、被写体
の像信号からセンサアレイに定常的に入射する信号光に
基づく像信号分を除去して、被写体距離を検出する。
The distance measuring apparatus having the above-described configuration determines whether or not a noise signal component incident from other than the object image is superimposed on the image signal of the object image detected from the sensor array, and measures the distance. Select the method, perform the triangulation with the image signal if the passive AF is reliable, and if not,
By performing active distance measurement using pulse light such as an IRED or a strobe according to the luminance of the subject, an image signal component based on the signal light that is constantly incident on the sensor array is removed from the image signal of the subject, thereby reducing the subject distance. To detect.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態について詳細に説明する。本発明は、逆光シーン
のようなパッシブAFが不得手とするフレア光検出時
に、このフレア光成分を除去するアクティブAFの定常
光除去機能を利用するものである。まず、本発明による
定常光除去の概念について図2(a)を参照して、説明
する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. The present invention utilizes the stationary light removal function of the active AF, which removes the flare light component when the flare light detected by the passive AF, such as a backlight scene, is not good. First, the concept of stationary light removal according to the present invention will be described with reference to FIG.

【0012】この定常光除去回路の構成において、受光
素子21は、トランジスタ22の電流通路(ソース/ド
レイン)を介して接地されている。トランジスタ22の
ゲートは、他方が接地されたホールド用コンデンサ23
の一方を介して、電流検出回路24に接続される。さら
に、電流検出回路24はスイッチ25を介して、積分ア
ンプ26の負入力端子(−)に接続され、正入力端子
(+)には電源電圧が印加される。また積分アンプ26
の出力端と負入力端子の間には、積分コンデンサ27及
びリセットSW28が並列接続されている。積分アンプ
26の出力端は、コンパレータ29の正入力端子(+)
に接続され、負入力端子(−)には、基準となる所定レ
ベルVcが印加されている。さらに、赤外発光ダイオー
ド9と集光レンズ8を備えている。
In the configuration of the stationary light removing circuit, the light receiving element 21 is grounded via the current path (source / drain) of the transistor 22. The gate of the transistor 22 is connected to a holding capacitor 23 whose other end is grounded.
Is connected to the current detection circuit 24 via one of the two. Further, the current detection circuit 24 is connected to the negative input terminal (-) of the integration amplifier 26 via the switch 25, and the power supply voltage is applied to the positive input terminal (+). In addition, the integrating amplifier 26
, An integrating capacitor 27 and a reset SW 28 are connected in parallel between the output terminal and the negative input terminal. The output terminal of the integrating amplifier 26 is connected to the positive input terminal (+) of the comparator 29.
, And a predetermined level Vc serving as a reference is applied to the negative input terminal (-). Further, an infrared light emitting diode 9 and a condenser lens 8 are provided.

【0013】このような構成において、例えば、受光素
子21における像信号検出用のセンサアレイを構成する
1つの画素に相当する入射光量に応じ、ここから出力さ
れる光電流Ipは、定常光除去トランジスタ22を介し
て接地(GND)に流され、積分アンプ26、積分コン
デンサ27、リセットSW28等からなる積分回路に、
電流が流れないように、電流検出回路24が、トランジ
スタ22のゲート電圧を制御している。
In such a configuration, for example, in accordance with the amount of incident light corresponding to one pixel constituting a sensor array for detecting an image signal in the light receiving element 21, the photocurrent Ip output therefrom is controlled by a steady light removing transistor. 22 to the ground (GND), and to an integrating circuit including an integrating amplifier 26, an integrating capacitor 27, a reset SW 28, and the like.
The current detection circuit 24 controls the gate voltage of the transistor 22 so that no current flows.

【0014】またホールド用コンデンサ23に蓄積され
た電位により、トランジスタ22のゲート電圧が固定さ
れる。この状態で、例えば赤外発光ダイオード(IRE
D)9を発光させて、集光レンズ8を介して被写体に対
して測距用光をパルス投光し、且つ電流検出回路24を
非作動にすると、パルス光の急激な変化にはコンデンサ
23の両端の電圧変化は応答できず、この時、スイッチ
25をオン(導通)させておくと、パルス光に応じた光
電流のみが、上記積分回路に入力され、積分アンプ26
の出力には、上記測距用パルス光に基づく光電変換電圧
が出力される。この出力をA/D変換すれば、定常光が
除去された即ち、反射信号光に応じた反射光量データが
検出可能となる。
The gate voltage of the transistor 22 is fixed by the potential stored in the holding capacitor 23. In this state, for example, an infrared light emitting diode (IRE)
D) When the light 9 is emitted, the light for distance measurement is pulse-projected to the subject through the condenser lens 8 and the current detection circuit 24 is deactivated, the capacitor 23 prevents sudden changes in the pulse light. Can not respond to the voltage change at both ends. If the switch 25 is turned on (conducting) at this time, only the photocurrent corresponding to the pulsed light is input to the integration circuit, and the integration amplifier 26
Outputs a photoelectric conversion voltage based on the pulse light for distance measurement. If this output is subjected to A / D conversion, the steady light is removed, that is, the reflected light amount data corresponding to the reflected signal light can be detected.

【0015】また、測距用光を投射せず、被写体の像の
明暗に従った信号を出力する時には、この定常光除去回
路を非作動とし、センサの光電流を直接、積分回路に入
力し、所定時間積分すれば、像の明暗に従った積分出力
が生じるので、これをCPUの制御によりA/D変換す
れば、像信号が得られる。このような測距用光を投射す
る測距モードは、一般に暗い時に利用され、明るいシー
ンでは、測距用光投射なしでよい。
When outputting a signal in accordance with the brightness of the image of the object without projecting the distance measuring light, the stationary light removing circuit is deactivated and the photocurrent of the sensor is directly input to the integrating circuit. If the integration is performed for a predetermined time, an integrated output corresponding to the brightness of the image is generated. If the integrated output is subjected to A / D conversion under the control of the CPU, an image signal can be obtained. Such a distance measuring mode for projecting the distance measuring light is generally used when the image is dark, and in a bright scene, the distance measuring light need not be projected.

【0016】この時の明暗の判定は、電流検出回路24
を非作動状態にして、図2(b)に示すように、リセッ
トSW28を一旦オンした後、積分アンプ26に、定常
光電流Ipを流しこみ、積分電圧が所定レベルVcになる
までの待ち時間tINTの間、コンパレータ29を利用
して検出する。ここで、明るいシーンでは、この待ち時
間tINTが短く、暗いシーンでは待ち時間tINTが
長くなる。この待ち時間tINTをカウントするだけで
明暗判定することができる。但し、この時、発光ダイオ
ード9は非作動にしておく。
At this time, the brightness is determined by the current detection circuit 24.
Is turned off, and as shown in FIG. 2B, after the reset SW 28 is once turned on, a steady light current Ip is supplied to the integration amplifier 26, and a waiting time until the integration voltage reaches the predetermined level Vc. During tINT, detection is performed using the comparator 29. Here, the waiting time tINT is short in a bright scene, and the waiting time tINT is long in a dark scene. Brightness / darkness can be determined only by counting the waiting time tINT. However, at this time, the light emitting diode 9 is kept inactive.

【0017】次に図1には、本発明による第1の実施形
態に係るカメラに搭載される測距装置の構成例を示し説
明する。この測距装置は、測距に関わる演算処理と各構
成部位の制御を行うワンチップマイコン等からなる演算
制御部(CPU)1と、被写体4の像を結像させるため
の2つの測距用レンズ2a,2bと、結像された被写体
像を受光して光電変換により像信号を生成するための受
光素子画素が並んだセンサアレイ3a,3bと、前述し
た定常光除去回路7と、それぞれに定常光が除去された
像信号をディジタル信号に変換するA/D変換回路16
と、定常光が除去された像信号を取り込み後述する積分
判定を行う積分判定回路7と、投光用レンズを通してア
クティブAFに用いる測距光を投光するIRED9と、
IRED9の投光制御を行うドライバ部10と、撮影時
の補助光となるストロボ光を投光するストロボ発光部1
1と、ストロボ発光を制御するストロボ部12と、図示
しない撮影レンズのピントを合わせるためのピント合わ
せ部21とで構成される。
FIG. 1 shows an example of the configuration of a distance measuring device mounted on a camera according to a first embodiment of the present invention. This distance measuring device includes an arithmetic control unit (CPU) 1 composed of a one-chip microcomputer or the like for performing arithmetic processing relating to distance measurement and controlling each component, and two distance measuring devices for forming an image of a subject 4. The lenses 2a and 2b, the sensor arrays 3a and 3b in which light receiving element pixels for receiving the formed subject image and generating an image signal by photoelectric conversion are arranged, and the above-described stationary light removing circuit 7, respectively. A / D conversion circuit 16 for converting an image signal from which stationary light has been removed into a digital signal
An integration determination circuit 7 that takes in the image signal from which the stationary light has been removed and performs integration determination described below, and an IRED 9 that projects ranging light used for active AF through a projection lens.
A driver unit 10 for controlling light emission of the IRED 9 and a strobe light emitting unit 1 for projecting strobe light as auxiliary light at the time of photographing
1, a strobe unit 12 for controlling strobe light emission, and a focusing unit 21 for focusing a photographic lens (not shown).

【0018】また、演算制御部1は、2つのセンサアレ
イ3a,3bから検出された被写体像が同じものである
か否かを判定するパターン判定部14と、信頼性の判定
に用いるための相関演算を行う相関演算部15と、定常
光除去時に測距用光を投射し、被写体で反射し入射した
入射光量を判定する光量判定部16と、光量判定部16
へ光量判定に用いられる比較定数を制御部18の指示に
より与える比較定数部19と、その比較定数を記憶する
EEPROM等からなるメモリ20と、レリーズスイッ
チ13と、測距の信頼性を判定する信頼性判定部17
と、信頼性における種々の制御を行う制御部18とで構
成される。
The arithmetic and control unit 1 has a pattern determining unit 14 for determining whether or not the subject images detected from the two sensor arrays 3a and 3b are the same, and a correlation for use in determining reliability. A correlation calculating unit 15 for performing calculations, a light amount determining unit 16 that projects distance measuring light when stationary light is removed, determines the amount of incident light reflected and incident on the subject, and a light amount determining unit 16
A comparison constant unit 19 for giving a comparison constant used for light amount determination according to an instruction from the control unit 18, a memory 20 such as an EEPROM for storing the comparison constant, a release switch 13, and a reliability for determining the reliability of distance measurement. Sex determination unit 17
And a control unit 18 that performs various controls on reliability.

【0019】このような構成において、測距用レンズ2
a,2bは、センサアレイ3a,3bの受光面上に被写
体像を結像させるために受光レンズの焦点距離fだけ離
して配置され、また受光レンズ間に視差bを持たせて配
置し、三角測距の原理を用いて被写体距離Lを求めるこ
とができる。この被写体距離Lの長短によって、2つの
センサアレイ3a,3bに結像する被写体像は、各レン
ズ光軸基準の相対位置を変化させる。
In such a configuration, the distance measuring lens 2
a and 2b are arranged at a distance of a focal length f of a light receiving lens to form a subject image on the light receiving surfaces of the sensor arrays 3a and 3b, and are arranged with a parallax b between the light receiving lenses; The subject distance L can be obtained using the principle of distance measurement. Depending on the length of the subject distance L, the relative positions of the subject images formed on the two sensor arrays 3a and 3b with respect to the optical axis of each lens are changed.

【0020】この相対位置の変化を検出するために、A
/D変換部6は、センサアレイから得た像信号に処理を
施した積分出力をディジタル信号に変換し、ワンチップ
マイコン等からなる演算制御部1において、この2つの
センサアレイのディジタル像信号を比較して、相対位置
差検出及び距離算出を行う。また、パターン判定回路1
4は、2つのセンサアレイから検出された像が同じ被写
体のものであるか、即ち、像のパターンが測距に適正か
否かを調べる。信頼性判定部17は、相対位置差を検出
した時の像の一致度及び、像のパターン判定結果から低
コントラストや繰り返しパターン、単調増加、単調減少
のパターンである時には、測距の信頼性が低いと判定す
る。
In order to detect the change in the relative position, A
The / D converter 6 converts an integrated output obtained by processing the image signal obtained from the sensor array into a digital signal, and converts the digital image signals of the two sensor arrays in the arithmetic control unit 1 including a one-chip microcomputer or the like. In comparison, relative position difference detection and distance calculation are performed. Also, the pattern determination circuit 1
4 checks whether the images detected from the two sensor arrays are of the same subject, that is, whether the image pattern is appropriate for distance measurement. The reliability determination unit 17 determines the reliability of the distance measurement when it is a low contrast, a repetitive pattern, a monotonically increasing, or a monotonically decreasing pattern based on the matching degree of the image when the relative position difference is detected and the pattern determination result of the image. Judge as low.

【0021】そして、演算制御部1は、これらの各機能
の結果に、さらに光量判定部16による入射光量の判定
結果を加えて、ピント合わせ部21の制御量を決定す
る。また、レリーズスイッチ13の入力状態を検出し、
その他、カメラ撮影シーケンスの従い、測距等の必要に
応じて、ドライバ部10を介して、IRED9の投光を
制御したり、ストロボ部12を介してストロボ発光部1
1の発光を制御する。
Then, the arithmetic and control unit 1 determines the control amount of the focusing unit 21 by further adding the result of determination of the incident light amount by the light amount determination unit 16 to the results of these functions. Also, the input state of the release switch 13 is detected,
In addition, according to the camera photographing sequence, as necessary for distance measurement, etc., the light emission of the IRED 9 is controlled via the driver unit 10, and the strobe light emitting unit 1 is controlled via the strobe unit 12.
1 is controlled.

【0022】次に図3(a)乃至図3(g)を参照し
て、本実施形態における測距について説明する。図3
(a)に示すように、測距用レンズ2aから太陽光等が
照射される撮影シーンにおいては、測距用レンズ2aで
光の散乱が起こり、そのフレア成分がセンサ3aに入射
するため、被写体4の像信号が十分検出できない状況と
なる。つまり、図2に示したような積分回路等によるダ
イナミックレンジの関係で、図3(b)に示すように、
フレア成分が多く相対的に、被写体の像による光量が少
ない場合、十分な像のコントラストを得ることができ
ず、正しい測距が不可能となる。
Next, with reference to FIGS. 3A to 3G, a description will be given of distance measurement in the present embodiment. FIG.
As shown in (a), in a shooting scene in which sunlight or the like is irradiated from the distance measuring lens 2a, light is scattered by the distance measuring lens 2a, and its flare component enters the sensor 3a. 4 cannot sufficiently be detected. That is, as shown in FIG. 3B, the relationship of the dynamic range by the integration circuit and the like as shown in FIG.
If the amount of flare components is large and the amount of light due to the image of the subject is relatively small, sufficient image contrast cannot be obtained, and correct distance measurement becomes impossible.

【0023】従って、図3(c)に示すようなセンサア
レイに入射する光は、図3(d)に示すように、大部分
がフレア成分となり像信号としては、ローコントラスト
となる。このセンサアレイ3aに入射する光はすべて、
定常光除去回路5で除去されてしまい、この場合には、
パルス信号光を投光して測距するアクティブAFによる
測距の方が高精度となる。測距用レンズの前方にはパタ
ーン形成用のマスクをおいてもよいし、発光部そのもの
のパターンを用いてもよいが、前者の場合、得られる像
信号は、図3(e)に示すようになる。
Therefore, as shown in FIG. 3D, most of the light incident on the sensor array as shown in FIG. 3C becomes a flare component and has low contrast as an image signal. All the light incident on the sensor array 3a is
It is removed by the stationary light removal circuit 5, and in this case,
Active AF, which measures distance by projecting pulse signal light, has higher accuracy. A mask for pattern formation may be provided in front of the lens for distance measurement, or a pattern of the light emitting unit itself may be used. In the former case, an obtained image signal is as shown in FIG. become.

【0024】また、このIRED9による反射信号光の
光量が少ない場合には、より光量が多いストロボ光投射
による測距を行なう。但し、この場合、反射信号光には
特定のパターンがないので被写体が平面の場合、図3
(f)に示すように、平坦でコントラストの低い信号光
分布となる。しかし、被写体と背景をモニタしている時
には、図3(g)に示すようなピークを持つ信号光分布
となる。
When the amount of reflected signal light from the IRED 9 is small, the distance measurement is performed by projecting a strobe light with a larger amount of light. However, in this case, there is no specific pattern in the reflected signal light.
As shown in (f), the signal light distribution is flat and has low contrast. However, when monitoring the subject and the background, the signal light distribution has a peak as shown in FIG.

【0025】このセンサアレイ3aと投光パターンの位
置関係をカメラに適用した例として、図8(a)には、
カメラの画面を基準にした例を示す。この画面31は、
センサアレイ3の画面中心にモニタエリア32が配置さ
れる。この場合、ストロボ光は画面全体を照射して露出
を制御しなければならず、広いパターン34が必要とな
る。
FIG. 8A shows an example in which the positional relationship between the sensor array 3a and the projection pattern is applied to a camera.
An example based on a camera screen is shown. This screen 31
A monitor area 32 is arranged at the center of the screen of the sensor array 3. In this case, the exposure must be controlled by irradiating the entire screen with the strobe light, and a wide pattern 34 is required.

【0026】しかし、図8(b)に示すような構図であ
れば、人物4からは反射光4aがセンサのモニタ域32
に返って来るが、背景からは反射光4b,4cは戻って
こないので、モニタ32に入射せず、図3(g)に示す
ような1つのピークだけ持つ像信号が得られる。一方、
IRED9により図8(a)に示すように所定エリア内
に複数のピークを持つ光33が投射されるため、図3
(e)のような反射光分布が得られる。
However, if the composition is as shown in FIG. 8 (b), the reflected light 4a from the person 4 is reflected by the monitor area 32 of the sensor.
However, since the reflected lights 4b and 4c do not return from the background, they do not enter the monitor 32, and an image signal having only one peak as shown in FIG. 3 (g) is obtained. on the other hand,
Since the light 33 having a plurality of peaks is projected in a predetermined area by the IRED 9 as shown in FIG.
The reflected light distribution as shown in FIG.

【0027】このような測距装置において、IRED9
等による測距用光投射なしで、対象物の像信号の相対位
置差によって測距するモードをパッシブAFモードと称
するが、この方式は被写体の距離による精度劣化がない
というメリットがあるものの、前述したように、フレア
光の混入によって著しく精度が劣化する。
In such a distance measuring device, the IRED 9
A mode in which distance measurement is performed based on a relative position difference between image signals of a target object without projecting light for distance measurement using a method such as the passive AF mode is called a passive AF mode. As described above, the accuracy deteriorates remarkably due to the mixing of the flare light.

【0028】また、定常光除去動作を伴いIREDやス
トロボ等の光投射を伴う測距モードをアクティブAFモ
ードと称するが、この方式は測距用光の到達距離の関係
で遠距離の測距は不得手であるが、前述したフレアを除
去した測距が可能であり、また、暗い所などもパッシブ
AF以上の効果を有している。
A ranging mode that involves an operation of removing light such as an IRED or a strobe with a stationary light removing operation is referred to as an active AF mode. Although it is inferior, it is possible to perform distance measurement with the above-mentioned flare removed, and the effect is higher than that of passive AF even in a dark place.

【0029】図4に示すフローチャートを参照して、測
距装置による測距動作について説明する。まず、パッシ
ブAFモードによる測距を行う(ステップS1)。これ
は、所定のレベルまで像信号が積分された時の積分時間
tINTを求める(ステップS2)。そして前述したパ
ターン判定によって、又は相関演算の結果によってパッ
シブAFの信頼性があるか否かを判断し(ステップS
3)、信頼性が高い場合(YES)、2つの像信号位置
より三角測距によって、距離算出を行い(ステップS2
0)、リターンする。一方、信頼性が低ければ(N
O)、IRED9を用いたプリ測距を行う(ステップS
4)。この時、所定時間のパルス光をn回投光し、A/
D変換回路6によって積分電圧VINTを求める。この
積分電圧VINTが大きければ十分IRED9の光が届
いていると判断できるが、積分電圧VINTが少ないと
IRED9の光量では不十分であるとし、より強力なス
トロボ光投射を行なう。この時、前述したように被写体
を照らしている太陽光や人工照明のような定常光成分を
考慮しなければ、正しい判定はできない。
With reference to the flowchart shown in FIG. 4, the distance measuring operation by the distance measuring device will be described. First, distance measurement in the passive AF mode is performed (step S1). For this, an integration time tINT when the image signal is integrated to a predetermined level is obtained (step S2). Then, it is determined whether or not the passive AF is reliable based on the above-described pattern determination or the result of the correlation operation (Step S).
3) If the reliability is high (YES), the distance is calculated by triangulation from the two image signal positions (step S2).
0), return. On the other hand, if the reliability is low (N
O), pre-ranging using the IRED 9 is performed (step S)
4). At this time, pulse light for a predetermined time is emitted n times, and A / A
An integrated voltage VINT is obtained by the D conversion circuit 6. If the integrated voltage VINT is large, it can be determined that the light of the IRED 9 has sufficiently arrived. However, if the integrated voltage VINT is small, the amount of light of the IRED 9 is insufficient, and more powerful strobe light projection is performed. At this time, as described above, a correct determination cannot be made unless a steady light component such as sunlight illuminating the subject or artificial lighting is considered.

【0030】従って、その定常光成分を検出するため
に、ステップS2のパッシブAFで得られた積分時間t
INTの結果を用いて、明るさの判断を行う。この判断
は、所定時間t0 と積分時間tINTの比較によっ
て、前段で求めたIRED9によるプリ積分時の積分電
圧VINTの大小を判断するための判定電圧V1 ,V
2を決定する。即ち、tINT>t0を判断し(ステッ
プS5)、積分時間tINTが所定時間t0よりも短く
(NO)、「明るい」と判断された場合には、判定電圧
V1 より大きな判定電圧V2 と積分電圧VINTを
比較( VINT>V2)する(ステップS6)。この
比較は、IRED9による測距を行うか、ストロボ発光
部11による測距を行うかを決めるためのものである。
また、この積分電圧VINTは、センサアレイを構成す
る全センサのうち、最も入射光量の大きいものの電圧を
選ぶようにしてもよいし、センサアレイの所定のエリア
のうち、最も入射光量の大きいものを選ぶようにしても
よい。尚、後述するステップS10においても同様であ
る。
Therefore, in order to detect the stationary light component, the integration time t obtained by the passive AF in step S2 is used.
The brightness is determined using the result of the INT. This determination is made by comparing the predetermined time t0 and the integration time tINT with the determination voltages V1 and V for determining the magnitude of the integrated voltage VINT at the time of pre-integration by the IRED 9 obtained in the preceding stage.
Determine 2. That is, it is determined that tINT> t0 (step S5), and when it is determined that the integration time tINT is shorter than the predetermined time t0 (NO) and “bright”, the determination voltage V2 and the integration voltage VINT are higher than the determination voltage V1. Are compared (VINT> V2) (step S6). This comparison is for determining whether to perform the distance measurement using the IRED 9 or the strobe light emitting unit 11.
Further, as the integrated voltage VINT, a voltage of the sensor having the largest incident light amount may be selected from among all the sensors constituting the sensor array, or a voltage having the largest incident light amount among the predetermined areas of the sensor array may be selected. You may choose. The same applies to step S10 described later.

【0031】この比較において、 VINT>V2であ
れば(YES)、後述するステップS11に移行する。
しかし、VINT>V2ではない(VINT≦V2)場
合(NO)、ストロボAFを行い(ステップS7)、積
分終了か否かを判断する(ステップS8)。終了であれ
ば(YES)、光量判定Pを行う(ステップS14)。
この光量判定は、所定位置のセンサにより、回数も考慮
する。一方積分がまだ終了でなければ(NO)、所定の
積分回数n2まで行われたか否かを判断する(ステップ
S9)。所定積分回数まで達しなければ(NO)、ステ
ップS7に戻り、繰り返しストロボAFを実施する。一
方、所定積分回数に達したならば(YES)、ステップ
S14に移行する。
In this comparison, if VINT> V2 (YES), the flow shifts to step S11 described later.
However, if VINT> V2 is not satisfied (VINT ≦ V2) (NO), strobe AF is performed (step S7), and it is determined whether or not integration is completed (step S8). If completed (YES), light amount determination P is performed (step S14).
This light amount determination also takes into account the number of times by a sensor at a predetermined position. On the other hand, if the integration has not been completed yet (NO), it is determined whether the integration has been performed up to a predetermined number of integrations n2 (step S9). If the predetermined number of integrations has not been reached (NO), the process returns to step S7, and the flash AF is repeatedly performed. On the other hand, if the predetermined number of integrations has been reached (YES), the flow proceeds to step S14.

【0032】また、上記ステップS5の判断において、
暗いシーンで定常光が少なくて積分時間tINTが所定
時間t0よりも長く(YES)、「暗い」と判断された
場合には、判定電圧V2 より小さい判定電圧V1と積
分電圧VINTを比較( VINT>V1)する(ステ
ップS10)。この比較は、IRED9による測距を行
うか、ストロボ発光部11による測距を行うかを決める
ためのものである。この比較において、積分電圧VIN
Tが判定電圧V1よりも大きければ(YES)、IRE
D9の発光によるIREDAFを行う(ステップS1
1)。
Also, in the determination in step S5,
When the integration time tINT is longer than the predetermined time t0 in a dark scene and the integration time tINT is longer than the predetermined time t0 (YES), and it is determined to be “dark”, the determination voltage V1 smaller than the determination voltage V2 is compared with the integration voltage VINT (VINT> V1) (Step S10). This comparison is for determining whether to perform the distance measurement using the IRED 9 or the strobe light emitting unit 11. In this comparison, the integration voltage VIN
If T is greater than the determination voltage V1 (YES), IRE
IREDAF is performed by light emission of D9 (step S1).
1).

【0033】次に、積分終了か否かを判断する(ステッ
プS12)。終了であれば(YES)、ステップS14
に移行して、光量判定Pを行う。一方積分がまだ終了で
なければ(NO)、所定の積分回数n1まで行われたか
否かを判断する(ステップS13)。所定積分回数まで
達しなければ(NO)、ステップS11に戻り、繰り返
しIREDAFを実施する。一方、所定積分回数に達し
たならば(YES)、ステップS14に移行する。
Next, it is determined whether or not the integration is completed (step S12). If completed (YES), step S14
Then, the light amount determination P is performed. On the other hand, if the integration has not been completed yet (NO), it is determined whether the integration has been performed up to a predetermined number of integrations n1 (step S13). If the number has not reached the predetermined number of integrations (NO), the process returns to step S11 to repeatedly execute IREDAF. On the other hand, if the predetermined number of integrations has been reached (YES), the flow proceeds to step S14.

【0034】このように決定された投光源によって、ス
テップS11、S7にて、本測距AとなるIRED、又
はストロボの光を利用したアクティブモードによる測距
が行われる。これは、所定時間の発光で所定の電圧に到
るまで投光積分をくり返していくもので、IREDの場
合はステップS11、S12、S13のループにて制御
され、ストロボの場合は、ステップS7、S8、S9の
ループにて制御される。また、所定回数以上の投光積分
が行われるとエネルギーが無駄になり、タイムラグにも
影響するので、ステップS9、S13にて積分回数リミ
ッタを規定している。
With the light source thus determined, in steps S11 and S7, the distance measurement in the active mode using the light of the IRED or the strobe as the distance measurement A is performed. This is a process in which light emission integration is repeated until a predetermined voltage is reached with light emission for a predetermined time. In the case of the IRED, control is performed in a loop of steps S11, S12, and S13. Control is performed in a loop of S8 and S9. Further, if the light projection integration is performed a predetermined number of times or more, energy is wasted and a time lag is affected. Therefore, the integration number limiter is defined in steps S9 and S13.

【0035】次に前述したパターン判定を行う(ステッ
プS15)。そして、ステップS14による反射光量を
積分された結果P(積分電圧VINTを積分回数で割っ
たもの)と、このパターン判定の結果より、三角測距が
できるか否かを判断する(ステップS16)。この判断
で三角測距が可能な反射光像信号であれば(YES)、
三角測距を行ない(ステップS18)、得られた結果に
信頼性かあるか否かを判断する(ステップS19)。信
頼性があれば(YES)、リターンする。
Next, the above-described pattern determination is performed (step S15). Then, it is determined whether or not triangulation can be performed based on the result P (integrated voltage VINT divided by the number of integration times) obtained by integrating the amount of reflected light in step S14 and the result of this pattern determination (step S16). If it is determined that the reflected light image signal allows the triangulation (YES),
Triangulation is performed (step S18), and it is determined whether or not the obtained result is reliable (step S19). If there is reliability (YES), the process returns.

【0036】また、信頼性がない場合(NO)、及びス
テップS16の判断で三角測距ができないと判断された
場合(NO)、先に行った反射光量Pによる光量AFを
行う(ステップS17)。これは、光を投射して反射光
量を調べた時、近距離のものからは多くの光量が、遠距
離のものからは少ない光量が返ってくることを利用した
距離測定方式で、コントラストのない被写体にとっても
有効な測距方式となる。但し、被写体の反射率は、所定
の範囲に入っているものと仮定する。
If there is no reliability (NO), and if it is determined in step S16 that triangulation cannot be performed (NO), light amount AF using the reflected light amount P is performed (step S17). . This is a distance measurement method that utilizes the fact that when projecting light and examining the amount of reflected light, a large amount of light is returned from a short distance object and a small amount of light is returned from a long distance object. This is an effective distance measurement method for the subject. However, it is assumed that the reflectance of the subject falls within a predetermined range.

【0037】以上説明した測距シーケンスを図5及び図
6に示すようなタイミングチャートで表す。図5に示す
例では、IREDAFでは、IRED9により三回の投
光を行い、得られたプリ測距結果(n0=3の時のVI
NT)が判定電圧V1 であったため、IRED9の光
では測距できないと判断し、ストロボ光による測距に移
行した例を示している。ストロボAFでは、5回の投光
を行い、積分判定電圧Vcに達したので、発光を終了し
ている。
The distance measurement sequence described above is represented by timing charts as shown in FIGS. In the example shown in FIG. 5, in the IREDAF, light is projected three times by the IRED9, and the obtained pre-ranging results (VI when n0 = 3) are obtained.
Since NT) is the determination voltage V1, it is determined that distance measurement cannot be performed using the light of the IRED 9, and the example shifts to distance measurement using strobe light. In the strobe AF, the light emission is performed five times, and the light emission ends because the light reaches the integral determination voltage Vc.

【0038】また、図6に示す例では、3回のIRED
発光で同じ積分量積分しても、パッシブAF時の積分時
間tINTが所定時間to より大きかった時「暗い
時」と、所定時間t0 以下だった時「明るい時」で、
判定電圧がV2 、若しくは判定電圧V1 のいずれか
に切りかわることによって、シーケンス後半に行われる
本測距AがIRED9又はストロボ発光部11に切りか
わる様子を示している。
In the example shown in FIG. 6, three IREDs
Even when the same integration amount is integrated in the light emission, when the integration time tINT in the passive AF is longer than the predetermined time to, "dark" and when it is shorter than the predetermined time t0, "light".
This shows a state in which the actual distance measurement A performed in the latter half of the sequence is switched to the IRED 9 or the strobe light emitting unit 11 when the determination voltage is switched to either V2 or the determination voltage V1.

【0039】「明るい時」には、光電流Ipが増加し
て、センサやホールドトランジスタにノイズが重畳しや
すく、これが積分されて、実際より多く積分されること
が防止される。このような処理を実施しないと、実際に
はIRED9による測距ができないシーンであっても、
IREDAFが選択され、本測距で誤測距してしまう。
このような場合でも本実施形態を適用することにより、
測距方式が正しく選択されて、ストロボAFに切り換え
られ、十分な反射光量による正確な測距が可能となる。
また、不必要な時には、より消費電力の少ないIRED
測距を行うため、電源のエネルギー消費を低くすること
ができる。
In a "bright time", the photocurrent Ip increases, and noise is liable to be superimposed on the sensor and the hold transistor, and this is integrated and prevented from being integrated more than actually. If such processing is not performed, even in a scene where distance measurement by the IRED 9 cannot be actually performed,
IREDAF is selected, and erroneous distance measurement is performed in the actual distance measurement.
Even in such a case, by applying the present embodiment,
The distance measurement method is correctly selected, the mode is switched to the strobe AF, and accurate distance measurement with a sufficient amount of reflected light becomes possible.
Also, when unnecessary, IREDs with lower power consumption
Since the distance measurement is performed, the energy consumption of the power supply can be reduced.

【0040】次に図7に示すフローチャートを参照し
て、本測距における高輝度等のノイズ誤差による誤測距
を防止した測距動作について説明する。
Next, with reference to a flowchart shown in FIG. 7, a description will be given of a distance measuring operation for preventing erroneous distance measurement due to a noise error such as high luminance in the actual distance measurement.

【0041】まず、パッシブ測距時の積分時間tINT
によって、光量AFの訂正係数Kの値を選択するため
に、所定時間t0<判定時間t1として、tINT<t
0か否かを判断する(ステップS30)、この判断で積
分時間tINTが所定時間t0よりも短ければ(YE
S)、非常に明るいシーンであると判断し、訂正係数K
=1/4とする(ステップS32)。一方、積分時間t
INTが所定時間t0よりも長ければ(NO)、暗いシ
ーンであると判断し、次にtINT<t1か否かを判断
する(ステップS31)、この判断で、積分時間tIN
Tが判定時間t1よりも長ければ(NO)、暗いシーン
であると判断し、訂正係数K=1とする(ステップS3
3)。一方、積分時間tINTが判定時間t1よりも短
ければ(YES)、中間の明るさのシーンであるものと
判断して、訂正係数K=1/2とする(ステップS3
4)。
First, the integration time tINT at the time of passive distance measurement
In order to select the value of the correction coefficient K of the light amount AF, the predetermined time t0 <the determination time t1, and tINT <t
It is determined whether the integration time tINT is shorter than a predetermined time t0 (YE) (step S30).
S), it is determined that the scene is very bright, and the correction coefficient K
= 1/4 (step S32). On the other hand, the integration time t
If INT is longer than the predetermined time t0 (NO), it is determined that the scene is a dark scene, and then it is determined whether or not tINT <t1 (step S31).
If T is longer than the determination time t1 (NO), it is determined that the scene is a dark scene, and the correction coefficient K = 1 (step S3).
3). On the other hand, if the integration time tINT is shorter than the determination time t1 (YES), it is determined that the scene has an intermediate brightness, and the correction coefficient K is set to 1/2 (step S3).
4).

【0042】これらの判断は、非常に明るいシーン、暗
いシーン、その中間の明るさのシーンに分岐する。訂正
係数Kにおいて、暗いシーンでは、ノイズ誤差を考慮す
る必要がないので、訂正係数Kは「1」であるが、明る
くなるにつれ、これを「1/2」、「1/4」と小さく
する。そして、決定された訂正係数Kを用いて、1/x
=K√(P/n)/P0の計算を行い距離を算出する
(ステップS35)。
These judgments are branched into a very bright scene, a dark scene, and a scene of intermediate brightness. In the correction coefficient K, in a dark scene, it is not necessary to consider a noise error. Therefore, the correction coefficient K is "1". However, as the brightness increases, the correction coefficient K is reduced to "1/2" and "1/4". . Then, using the determined correction coefficient K, 1 / x
= K√ (P / n) / P0 to calculate the distance (step S35).

【0043】これは明るいシーンではノイズやオフセッ
ト分が積分されて、近距離側の出力となりやすい事を対
策するもので、AFカメラでピント合せレンズのくり出
し量に比例する被写体距離の逆数1/2を算出する時、
1回の発光積分で1mの被写体から反射してくる光量P
0と、発光回数n、入射光量Pを利用する式に前述した
訂正係数Kを乗ずる事によって、明るい被写体の光量A
Fの誤差を少なくすることができる。
This is to prevent noise and offset components from being integrated in a bright scene to easily produce an output on the short distance side. In the AF camera, the reciprocal 1/2 of the object distance proportional to the amount of focusing lens extraction is used. When calculating
Light amount P reflected from a 1 m subject in one light emission integration
By multiplying the above-described correction coefficient K by an equation using 0, the number of times of light emission n, and the amount of incident light P, the light amount A of the bright object is obtained.
The error of F can be reduced.

【0044】本実施形態では、このように明るいシーン
でも正しく測距ができるアクティブAFモードを利用す
れば、逆光時においても、正確な距離検出が可能であ
る。そのためには、パッシブAFによる測距が困難であ
るシーンであることを図4に示したステップS3におけ
るパッシブAFの信頼性があるか否かを正確に判別しな
ければならない。
In the present embodiment, accurate distance detection is possible even in the case of backlight by using the active AF mode that can correctly measure the distance even in such a bright scene. For that purpose, it is necessary to accurately determine whether or not the passive AF is reliable in the step S3 shown in FIG. 4 indicating that the distance measurement by the passive AF is difficult.

【0045】パッシブAFの信頼性が低くなる状態と
は、暗いシーンやコントラストがない被写体を測距する
時だが、積分時間tINTの長短で前者は判定できる。
また、得られた像信号の最大値と最小値でコントラスト
の大小が求められる。
The state in which the reliability of the passive AF is low is when measuring the distance of a dark scene or a subject having no contrast. The former can be determined by the length of the integration time tINT.
Further, the magnitude of the contrast is determined by the maximum value and the minimum value of the obtained image signal.

【0046】図9に示すフローチャートを参照して、フ
レア検出方法について説明する。このフローチャート
は、前述した図4のステップS3のシーケンスに相当す
る。
The flare detection method will be described with reference to the flowchart shown in FIG. This flowchart corresponds to the sequence of step S3 in FIG. 4 described above.

【0047】まず、センサアレイの所定エリア内の像信
号の積分量の最大値と最小値の差ΔSDを検出する(ス
テップS41)。次に、t0<<t1の関係があるものと
して、図4に示したステップS2で求められた積分時間
tINTを判定値t1と比較して(ステップS42)、
積分時間tINTが判定値t1 よりも長ければ(YE
S)、前述の暗いシーンで、パッシブAFの不得手とす
る状況として、パッシブAFが適さない「パッシッブN
Gと判断」される(ステップS46)。一方、積分時間
tINTが判定値t1よりも短ければ(NO)、暗いシ
ーンであるものとして、積分時間tINTを所定値t0
と比較する(ステップS43)。
First, a difference ΔSD between the maximum value and the minimum value of the integration amount of the image signal in a predetermined area of the sensor array is detected (step S41). Next, assuming that there is a relationship of t0 << t1, the integration time tINT obtained in step S2 shown in FIG. 4 is compared with a determination value t1 (step S42).
If the integration time tINT is longer than the determination value t1, (YE
S) In the above-described dark scene, as a situation where passive AF is weak, “passive N” is not suitable for passive AF.
J is determined ”(step S46). On the other hand, if the integration time tINT is shorter than the determination value t1 (NO), it is determined that the scene is a dark scene, and the integration time tINT is set to the predetermined value t0.
And (Step S43).

【0048】この比較において、積分時間tINTが所
定値t0よりも短ければ(YES)、明るいシーンでフ
レアが発生していると思われる輝度に相当し、コントラ
ストΔSDが所定値ΔSDφより低いか否かを判断する
(ステップS44)。ここで、ΔSDが所定値ΔSDφ
より低いと判断されたならば(YES)、フレアが発生
しているとして判断してステップS46に移行する。一
方、ΔSDが所定値ΔSDφより高ければ(NO)、パ
ッシブAFに信頼性があるもの「パッシブOK」と判断
して、パッシブAFモードによる測距を行う(ステップ
S47)。
In this comparison, if the integration time tINT is shorter than the predetermined value t0 (YES), it corresponds to the luminance at which flare is considered to occur in a bright scene, and whether the contrast ΔSD is lower than the predetermined value ΔSDφ. Is determined (step S44). Here, ΔSD is a predetermined value ΔSDφ
If it is determined that it is lower (YES), it is determined that a flare has occurred, and the process proceeds to step S46. On the other hand, if ΔSD is higher than the predetermined value ΔSDφ (NO), it is determined that the passive AF is reliable and “passive OK”, and distance measurement is performed in the passive AF mode (step S47).

【0049】また、ステップS43において、積分時間
tINTが所定値t0 よりも長ければ(NO)、コン
トラストΔSDが所定値ΔSD1より低いか否かを判断
する(ステップS45)。ここで、ΔSDが所定値ΔS
D1より高い場合には(NO)、ステップS47に移行
し、低い場合にはステップS46に移行する。ステップ
S43からステップS45へ分岐した場合も、所定値Δ
SD1と比較してコントラスト判定を行うが、ΔSDφ
>ΔSD1 の関係となっており、これらは、コントラ
ストが比較的小さくても、ステップS47において、
「パッシブOK」判断をして、パッシブモードによる測
距を行うようにしている。
In step S43, if the integration time tINT is longer than the predetermined value t0 (NO), it is determined whether or not the contrast ΔSD is lower than the predetermined value ΔSD1 (step S45). Here, ΔSD is a predetermined value ΔS
If it is higher than D1 (NO), the process proceeds to step S47, and if it is lower, the process proceeds to step S46. When the process branches from step S43 to step S45, the predetermined value Δ
The contrast is determined by comparing with SD1.
> ΔSD1, and these are obtained in step S47 even if the contrast is relatively small.
It determines "passive OK" and performs distance measurement in the passive mode.

【0050】つまり、積分時間tINTが短い時には、
コントラスト判定レベルを厳しくして、フレア判定を行
い、より有利なアクティブ方式の測距を行うようにして
いる。本実施例によれば、逆光時にフレアが発生して
も、正しい測距ができる測距装置が提供できる。
That is, when the integration time tINT is short,
The contrast determination level is strict, flare determination is performed, and more advantageous active-type distance measurement is performed. According to the present embodiment, it is possible to provide a ranging device capable of performing a correct ranging even if a flare occurs at the time of backlight.

【0051】次に図10には、本発明による第2の実施
形態に係るカメラに搭載される測距装置の概念を示し説
明する。この実施形態では、図10(a)、(b)に示
すように、前述したセンサアレイ3a,3bの上下に、
センサアレイ41a、41b、42a、42aをそれぞ
れ併設し、受光レンズに太陽光が直射し、受光レンズ2
a全体が光るような状況では、これらすべてのセンサに
強い光が入射することを利用し、これらのセンサの積分
時間を比較部43にて比較し、共に短い時間で終了して
いる時は、フレア発生を判定する。図10(b)は、セ
ンサを前から見た所で、受光レンズ2a,2bとの関係
を明示している。
Next, FIG. 10 shows and describes the concept of a distance measuring device mounted on a camera according to a second embodiment of the present invention. In this embodiment, as shown in FIGS. 10A and 10B, above and below the sensor arrays 3a and 3b,
The sensor arrays 41a, 41b, 42a, and 42a are provided side by side, and sunlight directly shines on the light receiving lens, and the light receiving lens 2
In a situation where the entire light glows, utilizing the fact that intense light is incident on all these sensors, the integration time of these sensors is compared by the comparison unit 43, and when both are completed in a short time, Determine the occurrence of flare. FIG. 10B shows the relationship between the sensor and the light receiving lenses 2a and 2b when the sensor is viewed from the front.

【0052】また、図11に示すフローチャートを参照
して、フレア検出方法について説明する。このフローチ
ャートは、前述した図4のステップS3のシーケンスに
相当する。
The flare detection method will be described with reference to the flowchart shown in FIG. This flowchart corresponds to the sequence of step S3 in FIG. 4 described above.

【0053】前述した図9のシーケンスと同様に、ま
ず、図4のステップS2で求めた積分時間tINTから
明暗を判定する(ステップS51、S52)。この判断
で、積分時間tINTが判定値t1よりも短ければ(Y
ES)、暗いシーンであるものと判断し、パッシブAF
は適さない「パッシブNG」と判断して(ステップS5
9)、アクティブAFを実行させる。一方、積分時間t
INTが判定値t1よりも長ければ(NO)、積分時間
tINTを所定値t0と比較する(ステップS52)。
この比較において、積分時間tINTが判定値t0より
も短ければ(YES)、明るいシーンであるものと判断
して、隣接センサ41aで、積分時間tINT41をモ
ニタし(ステップS53)、さらに、隣接センサ42a
で、積分時間tINT42をモニタする(ステップS5
4)。続いて、これらの積分時間tINT41がセンサ
アレイ3aの積分時間tINTと同様であるか否かを判
断して(ステップS55)、同様である場合(YE
S)、フレアが発生していると想定し、ステップS59
に移行して、パッシブAFは適さない「パッシブNG」
と判断し、リターンする。一方、同様でなければ(N
O)、積分時間tINT42がセンサアレイ3aの積分
時間tINTと同様であるか否かを判断して(ステップ
S56)、同様であれば(YES)、図10(a)に示
すように、被写体4の胸部からの像信号は逆光の影響を
受けていない可能性があるとして、隣接センサ41aの
コントラストがOKか否かを判断する(ステップS5
7)。ここで、この部分の像についてコントラスト判定
しOKであれば(YES)、センサアレイ3a,3bの
像信号ではなく、隣接センサアレイ41a、41bの像
データを採用する(ステップS58)。この像データを
利用した距離算出に切りかえるようにする。この制御に
より、最も逆光の影響を受けていない像信号での距離測
定を可能とした。その後、リターンする。しかし、OK
でなければ(NO)、ステップS59に移行する。
As in the sequence of FIG. 9 described above, first, the brightness is determined from the integration time tINT obtained in step S2 of FIG. 4 (steps S51 and S52). In this determination, if the integration time tINT is shorter than the determination value t1, (Y
ES), it is determined that the scene is dark, and the passive AF
Is determined to be unsuitable “passive NG” (step S5
9) Execute active AF. On the other hand, the integration time t
If INT is longer than the determination value t1 (NO), the integration time tINT is compared with a predetermined value t0 (step S52).
In this comparison, if the integration time tINT is shorter than the determination value t0 (YES), it is determined that the scene is a bright scene, and the adjacent sensor 41a monitors the integration time tINT41 (step S53).
Monitor the integration time tINT42 (step S5).
4). Subsequently, it is determined whether or not these integration times tINT41 are the same as the integration times tINT of the sensor array 3a (step S55).
S), assuming that a flare has occurred, and step S59
"Passive NG" is not suitable for passive AF
And return. On the other hand, if not the same (N
O), it is determined whether or not the integration time tINT42 is the same as the integration time tINT of the sensor array 3a (step S56). If the integration time tINT42 is the same (YES), as shown in FIG. It is determined that the image signal from the chest may not be affected by the backlight, and it is determined whether or not the contrast of the adjacent sensor 41a is OK (step S5).
7). Here, if the contrast of the image of this part is determined and it is OK (YES), the image data of the adjacent sensor arrays 41a and 41b is adopted instead of the image signals of the sensor arrays 3a and 3b (step S58). The calculation is switched to the distance calculation using the image data. With this control, distance measurement with an image signal that is least affected by backlight can be performed. Then, return. But OK
If not (NO), the process moves to step S59.

【0054】また、ステップS52の比較において、積
分時間tINTが判定値t0よりも長ければ(NO)、
及びステップS56において、積分時間tINT42が
センサアレイ3aの積分時間tINTと同様でなければ
(NO)、コントラストがOKか否かを判断する(ステ
ップS60)。ここでOKでなければ(NO)、ステッ
プS57に移行する。
In the comparison in step S52, if the integration time tINT is longer than the determination value t0 (NO),
In step S56, if the integration time tINT42 is not the same as the integration time tINT of the sensor array 3a (NO), it is determined whether or not the contrast is OK (step S60). If it is not OK (NO), the process proceeds to step S57.

【0055】以上説明したように、本実施形態によれ
ば、複数のセンサアレイを有し、フレアが大きい時はア
クテイブAFを採用し、一部、フレアの影響がないセン
サであれば、そのセンサの出力を採用するようにして逆
光時の距離測定をより正確にした。
As described above, according to the present embodiment, an active AF is employed when a plurality of sensor arrays are provided, and when the flare is large, and if the sensor is partially unaffected by flare, the sensor is used. By adopting the output, the distance measurement at the time of backlight was made more accurate.

【0056】[0056]

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、従
来ではパッシブAFにより測距することが困難だったシ
ーンの測距精度を向上させ、カメラに搭載すれば、シー
ンを選ばず測距及びピント合せが可能な測距装置を提供
することができる。
As described in detail above, according to the present invention, it is possible to improve the distance measurement accuracy of a scene where it was difficult to measure the distance by the passive AF in the past. A distance measuring device capable of distance and focusing can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による第1の実施形態に係るカメラに搭
載される測距装置の構成例を示す図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of a distance measuring device mounted on a camera according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明による定常光除去の概念について説明す
るための図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining the concept of stationary light removal according to the present invention.

【図3】第1の実施形態における測距について説明する
ための図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining distance measurement according to the first embodiment.

【図4】第1の実施形態における測距装置による測距動
作について説明するためのフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart illustrating a distance measuring operation performed by the distance measuring device according to the first embodiment.

【図5】測距シーケンスを説明するためのタイミングチ
ャートである。
FIG. 5 is a timing chart for explaining a distance measuring sequence.

【図6】測距シーケンスを説明するためのタイミングチ
ャートである。
FIG. 6 is a timing chart for explaining a distance measuring sequence.

【図7】本測距における高輝度等のノイズ誤差による誤
測距を防止した測距動作について説明するためのフロー
チャートである。
FIG. 7 is a flowchart for explaining a distance measurement operation in which erroneous distance measurement due to a noise error such as high luminance in the actual distance measurement is prevented.

【図8】センサアレイと投光パターンの位置関係をカメ
ラに適用した例について説明するための例を示す図であ
FIG. 8 is a diagram illustrating an example for describing an example in which a positional relationship between a sensor array and a light projection pattern is applied to a camera.

【図9】フレア検出方法について説明するためのタイミ
ングチャートである。
FIG. 9 is a timing chart for explaining a flare detection method.

【図10】第2の実施形態に係るカメラに搭載される測
距装置の概念を示す図である。
FIG. 10 is a diagram illustrating a concept of a distance measuring device mounted on a camera according to a second embodiment.

【図11】第2の実施形態における測距装置による測距
動作について説明するためのフローチャートである。
FIG. 11 is a flowchart for explaining a distance measuring operation by the distance measuring device according to the second embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…演算制御部(CPU) 2a,2b…測距用レンズ 3a,3b…センサアレイ 4…被写体 5…定常光除去回路 6…A/D変換回路 7…積分判定回路 8…集光レンズ 9…IRED 10…ドライバ部 11…ストロボ発光部 12…ストロボ部 13…レリーズスイッチ 14…パターン判定部制御部 15…相関演算部1 16…光量判定部 17…信頼性判定部 18…制御部 19…比較定数部 20…メモリ 21…ピント合わせ部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Operation control part (CPU) 2a, 2b ... Distance measuring lens 3a, 3b ... Sensor array 4 ... Subject 5 ... Steady-state light removal circuit 6 ... A / D conversion circuit 7 ... Integral judgment circuit 8 ... Condensing lens 9 ... IRED 10 ... Driver unit 11 ... Strobe light emitting unit 12 ... Strobe unit 13 ... Release switch 14 ... Pattern judgment unit control unit 15 ... Correlation calculation unit 1 16 ... Light amount judgment unit 17 ... Reliability judgment unit 18 ... Control unit 19 ... Comparison constant Unit 20: Memory 21: Focusing unit

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Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被写体像をモニタして像信号を出力する
センサアレイと、 上記像信号に上記被写体部以外から入射するノイズ信号
成分が重畳していることを判定する判定手段と、 上記判定手段の判定結果に応じて上記被写体にパルス光
を投射する投射手段と、 上記センサアレイに定常的に入射する信号光に基づく像
信号を除去し、上記パルス光に応じた信号を抽出する抽
出手段と、を具備し、 上記抽出手段を作動させて、上記抽出信号を用いて、上
記被写体距離を検出することを特徴とする測距装置。
A sensor array for monitoring a subject image and outputting an image signal; a determining unit for determining that a noise signal component incident from a portion other than the subject portion is superimposed on the image signal; Projecting means for projecting pulsed light on the subject in accordance with the determination result, and extracting means for removing an image signal based on signal light constantly incident on the sensor array and extracting a signal corresponding to the pulsed light; A distance measuring device comprising: operating the extracting means; and detecting the subject distance using the extracted signal.
【請求項2】 上記センサアレイは、光電流積分手段を
有し、上記判定手段は、上記像信号のコントラスト及び
上記積分手段の積分量に応じて、上記ノイズ信号成分の
重畳を判定することを特徴とする請求項1に記載の測距
装置。
2. The sensor array according to claim 1, wherein said sensor array has a photocurrent integration means, and said determination means determines the superposition of said noise signal component according to a contrast of said image signal and an integration amount of said integration means. The distance measuring device according to claim 1, wherein
【請求項3】 上記センサアレイは、ノイズ信号成分検
出用画素を併設し、 上記ノイズ成分検出用画素の出力と、上記センサアレイ
の出力とを比較して、 上記ノイズ信号成分の重畳を判定することを特徴とする
請求項1に記載の測距装置。
3. The sensor array further includes a noise signal component detection pixel, and compares the output of the noise component detection pixel with the output of the sensor array to determine the superposition of the noise signal component. The distance measuring apparatus according to claim 1, wherein:
【請求項4】 被写体像をモニタして像信号を出力する
第1のセンサアレイと、 上記像信号に上記被写体部以外から入射するノイズ信号
成分が重畳していることを判定する判定手段と、を具備
し、 上記判定手段の判定結果に応じて上記第1のセンサアレ
イに隣接する第2のセンサアレイを作動させて上記被写
体距離を検出することを特徴とする測距装置。
4. A first sensor array for monitoring a subject image and outputting an image signal, and determining means for determining that a noise signal component incident from other than the subject portion is superimposed on the image signal. A distance measuring device for detecting the subject distance by activating a second sensor array adjacent to the first sensor array in accordance with a result of the determination by the determination means.
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