JP2002222233A - テストパターン生成設備およびその方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 テストパターン自動生成設備において、テス
トパターン（検証用タスクモジュールのパラメータの組
合せ）の見落としがなく、作成が容易で論理検証の時間
を短縮できることを目的とする。 【解決手段】 検証対象回路２の検証に使用するＨＤＬ
記述の検証用タスクモジュール１の動作を決定するため
のパラメータの組み合わせを求める設備であって、検証
対象回路２が用いられる実システム１２の信号をサンプ
リングする入出力信号サンプリング装置１１と、このサ
ンプリング装置１１によりサンプリングした信号と検証
用タスクモジュール１の入出力信号を比較することによ
り、検証用タスクモジュール１のパラメータを生成する
比較検査装置１７と備える。この構成によれば、検証用
タスクモジュール１を用いた論理回路２の論理シミュレ
ーションにおいて、実システム１２に則したテストパタ
ーンを自動的に生成できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＶｅｒｉｌｏｇＨ
ＤＬ（Ｈａｒｄｗａｒｅ Ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ Ｌａ
ｎｇｕａｇｅ）などのハードウェア記述言語を使用して
設計された回路の論理シミュレーションに必要なテスト
パターンを生成するテストパターン自動生成設備および
その方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、ＨＤＬを用いて回路を設計する際
に行う回路機能検証のための論理シミュレーションで
は、「遅延の絶対値を記述したテストパターン、クロッ
クに同期した入力信号を記述したテストパターン、もし
くは、例えばバスの制御を行うバスマスタの回路などを
検証するような場合に、データ転送の中断や再開、割り
込み処理などの突発的に発生する動作にも対応できる、
検証対象の上記回路と信号の入出力を行うデバイスの動
作をシミュレートした“検証用のタスクモジュール（Ｈ
ＤＬ記述の機能回路）”」が使用される。

【０００３】そして図９に示すように、これら論理回路
検証手段である検証用タスクモジュール１と検証対象の
回路２の信号の入出力端子を、論理シミュレータ３上で
接続することによって、検証対象回路２の論理検証を実
現している。

【０００４】そして、そのような論理検証方法におい
て、検証対象回路２の全ての機能の検証を行うために
は、処理の中断やその再開と言うような異常処理機能も
含めて、その機能の分だけ、検証用タスクモジュール１
でその機能を検証するためのテストパターンを開発する
必要がある。テストパターンとは、「引数として検証用
タスクモジュール１に引き渡すことによって、検証用タ
スクモジュール１の動作を決定するためのパラメータの
組み合わせ」を指す。

【０００５】しかし、これらすべての機能を網羅しよう
とすると、必要なテストパターン（パラメータの組み合
わせ）が膨大な数になるため、人手で開発すると、必要
なテストパターンの見落としや記述ミスが発生する可能
性が高く、また手間もかかる。そのため、これまではテ
ストする内容をまとめて記述した情報テーブルを作り、
それを自動的にテストパターン４に変換するというよう
な対策が講じられてきた（図９参照）。

【０００６】また、開発した回路２をＦＰＧＡ（Ｆｉｅ
ｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａ
ｙ）を用いて実機上で検証している際にエラーが発生し
た場合、回路２のデバッグを試みてＨＤＬを修正する毎
に、ＨＤＬをコンパイルして、ＦＰＧＡに回路を書き込
み、実機に搭載し、再度動作させてみるというのでは非
効率的であるため、エラーの発生状況を解析し、エラー
の発生状況に対応したテストパターンを開発して、エラ
ーの発生状況をシミュレータ３上で再現し、ＨＤＬを修
正したものをそのままシミュレータ３上で論理検証を行
えるようにしていた。

【０００７】本発明は、後述の課題について、前記論理
回路検証手段として、検証用のタスクモジュール１を使
用した場合の解決手段を提案するものである。ここで、
論理回路（検証対象回路）のシミュレーションに検証用
タスクモジュール１を用いることの必要性を示す。

【０００８】例えば、図１０のように、検証対象回路Ａ
が、回路Ｂもしくは回路Ｃとデータの転送を行うシステ
ムがある場合に、検証対象回路Ａから回路Ｂへのデータ
転送が開始された場合、このシステム上で発生し得るデ
ータ転送のパターンは、図１１に示すように膨大な数に
なる。しかも、それぞれの分岐の発生する条件は、検証
対象回路Ａ、回路Ｂ、回路Ｃそれぞれの、データの送信
待ちである、内部処理中であるためにデータを受信する
ことはできない、というような内部状態に依存するた
め、実際に動作をする毎に処理の順序が変化することが
ある。

【０００９】そして、図１０のシステムを検証用のタス
クモジュール１を用いて実現した論理シミュレーション
システムが図１２である。ここで、検証用タスクモジュ
ールＢおよび検証用タスクモジュールＣは、パラメータ
によってそれぞれ図１０の回路Ｂ、回路Ｃの動作特性を
与えることができるため、２種類の検証用タスクモジュ
ールを開発する必要はなく、同一のＨＤＬ記述である検
証用タスクモジュールを使用することができる。そし
て、検証用タスクモジュール１とは、上述した通り、デ
ータ転送の中断や再開、割り込み処理等の突発的に発生
する動作にも対応できる、“検証対象回路２と信号の入
出力を行うデバイスの動作をシミュレートしたもの”で
あるため、図１０と同様の構成で、同様に動作の検証を
行うことができる。

【００１０】さらに、図１０の上記システムを検証用タ
スクモジュール１を用いずに実現した論理シミュレーシ
ョンシステムが図１３である。これは、検証パターン
ａ，ｂ，ｃが、時系列、もしくはデータ転送の基準とな
るクロック信号にのっとって検証対象回路Ａへのデータ
／信号の入出力のみを行うものであるため、図１１に示
す、全ての状態の検証パターン（テストパターン）を開
発する必要が出てくる。

【００１１】そのため、図１０に示すような、例えば、
複数のデータ／信号の入出力ターゲットを持ち、そのデ
ータ／入出力信号の制御を行うような回路（検証対象回
路）Ａを開発する場合の論理検証には、検証用タスクモ
ジュール１を開発する必要がある。

【００１２】次に、検証用タスクモジュール１を使用し
て回路を検証する場合の手順を図１４を参照しながら説
明する。まず、開発目的の回路２の仕様を策定し、仕様
に合うようにＨＤＬで回路２を記述する。それと平行し
て、開発目的回路２を検証するための検証用タスクモジ
ュール１の仕様を検討し、ＨＤＬで記述する。

【００１３】そして、検証目的回路である検証対象回路
２と検証用タスクモジュール１の両方のＨＤＬ記述が終
了した段階で、お互いの信号の入出力端子をシミュレー
タ３上で接続し、検証用に開発したテストパターン（パ
ラメータの組合せ）を使用して、論理検証を行う。

【００１４】この段階でエラーが発生した場合には、図
１４の処理ｄのように、まずエラーの原因が検証対象回
路２にあるのか検証用タスクモジュール１にあるのかを
解析し、エラーの原因が検証対象回路２であった場合に
は、検証対象回路２を修正して、エラーの原因が検証用
タスクモジュール１であった場合には、検証用タスクモ
ジュール１を修正して、すなわちバグを取り除いて再度
論理検証を行う。

【００１５】そして、論理検証でのエラーがなくなる
と、今度は、検証対象回路２をＦＰＧＡへ書き込んで実
機上で検証する。そしてその段階で実機にエラーが発生
した場合には、図１４の処理ｅのように、エラーの発生
状況を解析し、エラーの発生状況に対応したテストパタ
ーン（検証用タスクモジュール１におけるパラメータの
組合せ）を開発して、エラーの発生状況をシミュレータ
３上で再現し、ＨＤＬを修正した検証対象回路２をシミ
ュレータ３上で論理検証を行い、回路２のバグ修正を終
え、論理検証をパスした段階で、再度実機検証を行う。

【００１６】そして、実機検証でのエラーが無くなる
と、検証対象回路２は完成である。

【００１７】

【発明が解決しようとする課題】しかし従来の方法で
は、テストパターン（パラメータの組合せ）を手作業で
直接記述した場合だけでなく、情報テーブルを作りテス
トパターンへ変換したような場合でも、検証対象回路２
の機能が複雑になればなるほど、パターンを見落として
しまう可能性が増加するという問題が発生し、また重複
した内容の検証や、実際のシステムの動作に即していな
い（検証する必要の無い）内容の検証用テストパターン
が混入した場合に、それを発見することが難しくなり、
論理検証にかかる時間が延びてしまう、というような問
題が発生する。

【００１８】しかも、既存の機器と組み合わせて使用す
る回路２を開発している場合、その機器の特有な、一般
的でない動作をもシミュレーションで再現する必要があ
り、そのようなテストパターンの作成は容易でない。

【００１９】また、検証対象回路２を実機上で検証して
いる時にエラーが発生した場合に、それをシミュレータ
上で再現するためのテストパターンを作成する場合に
は、ロジックアナライザ等の機器を用いてその時の検証
対象回路２の入出力端子の動作を解析して、テストパタ
ーン（検証用タスクモジュール１におけるパラメータの
組合せ）を検討しなければならず、非常に手間がかか
る。

【００２０】さらに、検証用タスクモジュール１の開発
時において、複雑な動作をシミュレートする検証用タス
クモジュール１を人手で開発する以上、検証対象回路２
だけではなく検証用タスクモジュール１にもバグが多く
含まれる。そのため、検証中に発生したバグについて解
析した結果、それが検証用タスクモジュール１のバグだ
った場合には、検証用タスクモジュール１のバグを修正
するまでは、本来検証すべき検証対象回路２の検証を進
めることもできず、検証対象回路２の検証に余分な時間
がかかる。しかも、検証用タスクモジュール１は検証対
象回路２と組み合わせることによって初めて動作するも
のであるため、検証対象回路２が検証可能な段階になる
までは、検証用タスクモジュールのデバッグも行うこと
ができない。そのため、検証対象回路２よりも規模の小
さい検証用タスクモジュール１の方が早く開発を終えた
としても、検証用タスクモジュール１のデバッグは検証
対象回路２の論理検証中に行うことになり、その間は検
証対象回路２の論理検証も中断しなければならなくなっ
てしまう。

【００２１】これらの問題を解決する手段として、ロジ
ックアナライザを使用して実システムからサンプリング
した波形データを用いて、それを波形データからテスト
パターンを生成する装置へ入力してテストパターンを得
る、という方法も考えられているが、これまでの方法で
は、検証用タスクモジュール１を用いた場合の検証用の
パラメータの組合せを生成することはできなかった。

【００２２】本発明は、このようなテストパターン自動
生成設備において、テストパターン（検証用タスクモジ
ュールのパラメータの組合せ）の見落としがなく、作成
が容易で論理検証の時間を短縮できることを目的とす
る。

【００２３】

【課題を解決するための手段】本発明のテストパターン
自動生成設備においては、検証対象の論理回路の検証に
使用する、ハードウェア記述言語で記述された検証用タ
スクモジュールの動作を決定するためのパラメータの組
み合わせを求める設備であって、前記論理回路が用いら
れる実システムの信号をサンプリングするサンプリング
装置と、前記サンプリング装置によりサンプリングした
信号と、前記検証用タスクモジュールの入出力信号を比
較することによって、前記検証用タスクモジュールのパ
ラメータを生成する比較検査装置と備えたことを特徴と
するものである。

【００２４】この本発明によれば、テストパターン（検
証用タスクモジュールのパラメータの組合せ）の見落と
しがなく、作成が容易で論理検証の時間を短縮できるテ
ストパターン自動生成設備が得られる。

【００２５】

【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、検証対象の論理回路の検証に使用する、ハードウェ
ア記述言語で記述された検証用タスクモジュールの動作
を決定するためのパラメータの組み合わせを求める設備
であって、前記論理回路が用いられる実システムの信号
をサンプリングするサンプリング装置と、前記サンプリ
ング装置によりサンプリングした信号と、前記検証用タ
スクモジュールの入出力信号を比較することによって、
前記検証用タスクモジュールのパラメータを生成する比
較検査装置と備えたことを特徴としたものであり、検証
対象の回路の論理検証を行うためのタスクモジュールの
パラメータの組合せは、実際にその検証対象の論理回路
が用いられる実システムの信号をサンプリングし、サン
プリングした信号と検証用タスクモジュールの入出力信
号を比較することによって得られる、という作用を有す
る。

【００２６】上記信号のサンプリングを行う場所は、例
えば、開発する回路がＰＣＩバスに接続されるデバイス
である場合には、サンプリングをするのはＰＣＩバス、
というように、開発する回路が実際に使用される場所で
ある。

【００２７】請求項２に記載の発明は、上記請求項１に
記載の発明であって、サンプリング装置によりサンプリ
ングした信号を、信号の入出力動作において主導権をに
ぎる側が出力するマスタ信号と、信号の入出力動作にお
いて主導権をにぎらない側が出力するスレーブ信号に分
けて、分類する検証用タスクモジュール解析装置を備
え、比較検査装置は、検証用タスクモジュールのマスタ
信号と前記サンプリングした信号のマスタ信号、または
検証用タスクモジュールのスレーブ信号と前記サンプリ
ングした信号のスレーブ信号が同じ動作をするように検
証用タスクモジュールのパラメータを調整し、検証用タ
スクモジュールのマスタ信号が前記サンプリングした信
号のスレーブ信号に応答して変化しないとき、または検
証用タスクモジュールのスレーブ信号が前記サンプリン
グした信号のマスタ信号に応答して変化しないとき検証
用タスクモジュールにバグがあると判定することを特徴
としたものである。

【００２８】この構成による作用を説明する。まず、サ
ンプリングした信号を、検証対象回路と検証用タスクモ
ジュールの、データの入出力動作において主導権をにぎ
る側が出力するマスタ信号（データおよび制御信号；図
１５のｆ）と、データの入出力動作において主導権をに
ぎらない側が出力するスレーブ信号（データおよび制御
信号；図１５のｇ）に分ける。

【００２９】次に、検証用タスクモジュールがマスタ動
作を行うものである場合には、検証用タスクモジュール
が図１５のｆのようなサンプル信号のマスタ信号と同じ
動作をするように検証タスクモジュールのパラメータを
調整し、また調整された検証用タスクモジュールが、図
１５のｇのようなサンプル信号のスレーブ信号を入力信
号として正しく応答するか否かをテストし、正しく応答
しないとき検証用タスクモジュールにバグがあると判定
する。

【００３０】また検証用タスクモジュールがスレーブ動
作を行うものである場合には、検証用タスクモジュール
がサンプルデータのスレーブ信号と同じ動作をするよう
に検証用タスクモジュールのパラメータを調整し、調整
された検証用タスクモジュールが、サンプルデータのマ
スタ信号を入力信号として正しく応答するか否かをテス
トし、正しく応答しないとき検証用タスクモジュールに
バグがあると判定する。

【００３１】このとき、調整されたパラメータが、テス
トパターンである。また請求項３に記載の発明は、上記
請求項１または請求項２に記載の発明であって、比較検
査装置は、論理回路の実機検証中に発生したエラーを、
シミュレータ上で再現するための検証用タスクモジュー
ルのパラメータを生成することを特徴とするものであ
り、検証用タスクモジュールのパラメータの調整により
実機検証中に発生したエラーが、シミュレータ上で再現
される、という作用を有する。

【００３２】また請求項４に記載の発明は、上記請求項
１〜請求項３のいずれかに記載の発明であって、比較検
査装置は、論理回路と組合せて使用する既存の機器の特
性をシミュレータ上で再現するための検証用タスクモジ
ュールのパラメータを生成することを特徴とするもので
あり、検証用タスクモジュールのパラメータの調整によ
り既存の機器の特性がシミュレータ上で再現される、と
いう作用を有する。

【００３３】また請求項５に記載の発明は、検証対象の
論理回路の検証に使用する、ハードウェア記述言語で記
述された検証用タスクモジュールの動作を決定するため
のパラメータの組み合わせを求める方法であって、前記
論理回路が用いられる実システムからデータをサンプリ
ングし、このサンプリングした信号と、前記検証用タス
クモジュールの入出力信号を比較することによって、前
記検証用タスクモジュールのパラメータを生成すること
を特徴とするものであり、検証用タスクモジュールのパ
ラメータが、実システムからサンプリングした信号と、
前記検証用タスクモジュールの入出力信号を比較するこ
とによって生成される、という作用を有する。

【００３４】また請求項６に記載の発明は、上記請求項
５に記載の発明であって、サンプリングした信号を、信
号の入出力動作において主導権をにぎる側が出力するマ
スタ信号と、信号の入出力動作において主導権をにぎら
ない側が出力するスレーブ信号に分けて、分類し、検証
用タスクモジュールのマスタ信号とサンプリングした信
号のマスタ信号、または検証用タスクモジュールのスレ
ーブ信号とサンプリングした信号のスレーブ信号が同じ
動作をするように検証用タスクモジュールのパラメータ
を調整し、検証用タスクモジュールのマスタ信号がサン
プリングした信号のスレーブ信号に応答して変化しない
とき、または検証用タスクモジュールのスレーブ信号が
サンプリングした信号のマスタ信号に応答して変化しな
いとき検証用タスクモジュールにバグがあると判定する
ことを特徴とするものであり、検証用タスクモジュール
のパラメータが、検証用タスクモジュールのマスタ信号
とサンプリングした信号のマスタ信号、または検証用タ
スクモジュールのスレーブ信号とサンプリングした信号
のスレーブ信号が同じ動作をするように調整され、また
検証用タスクモジュールのバグが、検証用タスクモジュ
ールのマスタ信号がサンプリングした信号のスレーブ信
号に応答して変化しないとき、または検証用タスクモジ
ュールのスレーブ信号がサンプリングした信号のマスタ
信号に応答して変化しないときに検出される。

【００３５】以下、本発明の実施の形態を図面に基づい
て説明する。なお、従来例の図９と同一の構成には同一
の符号を付して説明を省略する。図１は本発明の実施の
形態におけるテストパターン生成設備を備えた論理検証
システムの構成図、図２は同テストパターン生成設備の
動作フローチャートである。

【００３６】図１において、１１はロジックアナライザ
やデバッガ、もしくは専用の機器からなる、検証対象回
路２が用いられる実システム１２の入出力信号サンプリ
ング装置であり、このサンプリング装置１１において実
システム１２からサンプリングされた信号（データおよ
び制御信号；以下、サンプリングデータと称す）１３
は、検証用タスクモジュール解析装置１４へ入力され
る。

【００３７】また図３に示す検証用タスクモジュール１
の入出力信号宣言部１６において信号（ｓｉｇｎａｌ）
が入力信号（ｉｎｐｕｔ）か出力信号（ｏｕｔｐｕｔ）
かが宣言されており、上記検証用タスクモジュール解析
装置１４において、検証用タスクモジュール１の入出力
信号宣言部１６によって信号の入出力の方向を解析した
結果から、それに対応したサンプリングデータ（図３参
照）が、信号の入出力動作において主導権をにぎる側が
出力するマスタ信号と、信号の入出力動作において主導
権をにぎらない側が出力するスレーブ信号に分類され、
サンプリングデータ／検証用タスクモジュール比較検査
装置１７へ出力される。

【００３８】このサンプリングデータ／検証用タスクモ
ジュール比較検査装置１７における動作を図２を参照し
ながら説明する。 ステップ−１ 図３に示す検証用タスクモジュール１のパラメータ１８
のとることのできる値の範囲を設定する。 ステップ−２ そして、サンプリングデータの、１つの、信号の入出力
サイクルの最初のデータ入出力のタイミング（たとえ
ば、図３において信号Ａの入出力タイミング）で、検証
用タスクモジュール１の最初の信号（たとえば、信号
Ａ）の入出力動作を実行する（タイミングを合わせ
る）。 ステップ−３ 以降の検証用タスクモジュール１のデータの出力（たと
えば、信号Ｂ）が、対応したサンプリングデータ（たと
えば、信号Ｂ）と同じタイミングで出力されているかど
うかを比較する（詳細は後述する）。 ステップ−４，−５ そして、上記比較の結果がイコールでない場合（図３の
場合では信号ＢのparameterB=0およびparameterB=1の場
合）には、検証用タスクモジュール１のパラメータ１８
を変更してステップ−２へ戻り、再度比較を行う。そし
て、比較の結果がイコールとなった場合（図３において
信号ＢのparameterB=2の場合）には、比較中のサイクル
が終了するまで、以降全ての信号の比較を繰り返す。 ステップ−６ 上記ステップ−３において、全ての信号の比較が終了し
た時点で、全ての比較の結果がイコールであった場合に
は、その際のパラメータの組み合わせが、比較に使用し
たサンプリングデータを、検証用タスクモジュール１を
用いてシミュレータ上で再現するためのパラメータであ
り、また、その検証用タスクモジュール１で、比較に使
用したサンプリングデータを正しく再現することが可能
である、つまり検証用タスクモジュールにバグもしくは
機能不足が含まれていないと判定する。 ステップ−７ また上記ステップ−４において、１つ以上の比較の結果
がイコールにならなかった場合には、検証用タスクモジ
ュール１にバグもしくは機能不足が含まれていると言え
るため、検証用タスクモジュール１のデバッグが必要と
判定する。

【００３９】上記ステップ−３における、信号の比較に
ついて図４〜図７を用いて詳細に説明する。図４〜図７
において、検証用タスクモジュール１がマスタ信号を出
力するものであって、信号Ａ、信号Ｂをサンプリングデ
ータのマスタ信号、信号Ｃをサンプリングデータのスレ
ーブ信号であるとする。そして、上記ステップ−２にお
けるサイクル開始のタイミングは信号Ａで合わせてい
る。

【００４０】図４の場合、検証用タスクモジュール１は
信号Ｂにロー信号を出力しているが、サンプリングデー
タの信号Ｂでは、同じタイミングで信号Ｂにロー信号を
出力していないため、比較の結果がイコールとならず、
検証用タスクモジュールの信号Ｂに関するパラメータ１
８の変更が必要である。なお、サンプリングデータの信
号Ｂに出力があるにも関わらず、検証用タスクモジュー
ル１が信号Ｂに出力を行っていない場合も同様である。

【００４１】そこで、検証用タスクモジュール１の信号
Ｂに関するパラメータ１８を変更することによって、図
５のように、サンプリングデータの信号Ｂと検証用タス
クモジュール１の出力Ｂの出力のタイミングが同じにな
れば、比較の結果はイコールとなる。

【００４２】しかし、図６に示すように信号Ｂがスレー
ブ信号Ｃに応答して出力を変化する場合、もしくは図７
に示すように、サンプリングデータで信号Ｂの出力され
るタイミングを、検証用タスクモジュール１のパラメー
タ１８の設定可能範囲（図７の斜線部、上記ステップ−
２で設定した範囲、もしくは検証用タスクモジュール１
の仕様のために制限されている範囲）がカバーしきれな
い場合には、検証用タスクモジュール１のパラメータ１
８の変更では、信号出力タイミングを合わせることがで
きないため、比較の結果はイコールにはならない。

【００４３】なお、マスタ／スレーブ両方から出力され
る双方向信号については、マスタ信号であると分類すれ
ば、前記の方法で本発明の実施方法を適用することが可
能である。また、検証用タスクモジュール１がスレーブ
信号を出力するものであるときも同様である。

【００４４】このように、実システム１２に則した検証
用タスクモジュール１のパラメータの組合せ（テストパ
ターン）を、実際にその検証対象回路２が用いられる実
システム１２の信号をサンプリングし、比較方法を用い
て調整することにより自動的に生成することができ、ま
た検証用タスクモジュール１のバグを取り除くことがで
きる。ただし、漏れのない、十分な検証を行うためのテ
ストパターンを抽出するためには、その実システム１２
の始動時からサンプリングを開始し、システム上で行う
ことのできる全ての動作を実行し、システムの終了時ま
でサンプリングを行う必要がある。さらに、こうするこ
とで、システム上では発生することの無い動作について
の検証を避けることも可能となる。

【００４５】また前記パラメータ１８の抽出のためのサ
ンプリングデータと検証用タスクモジュール１の入出力
信号との比較において、検証用タスクモジュール１の動
作をサンプリングデータと、全てのパラメータ１８の組
み合わせを試しても一致させることができない場合に
は、前述のように検証用タスクモジュール１にバグがあ
る、もしくは検証用タスクモジュール１の、検証のため
の入出力信号発生手段としての機能が不十分であること
がわかるため、検証対象回路２なしに検証用タスクモジ
ュール１のデバッグを行うことができる。

【００４６】また、既存の機器あるいは回路に特有な、
一般的でない動作を実現するためのテストパターン（固
有の動作を行う既存のデバイスの動作をシミュレートす
るためのテストパターン）は、検証対象回路２が用いら
れる実システム１２にその機器を搭載し、実システム１
２上でその機器あるいは回路を実際に使用しながら、そ
の機器あるいは回路が入出力している信号をサンプリン
グすることにより、自動的に生成することができる。

【００４７】以上の結果として、検証対象の論理回路２
の開発を効率的に行うことができ、開発期間の短縮を図
ることができる。次に、検証用タスクモジュール１を使
用して開発目的の回路２を検証する場合の手順を図８を
参照しながら説明する。

【００４８】まず、開発目的の回路２の仕様を策定し、
仕様に合うようにＨＤＬで回路２を記述する。それと平
行して、開発目的回路２を検証するためのタスクモジュ
ール１の仕様を検討し、ＨＤＬで記述し、上記テストパ
ターン生成設備を使用してバグを取り除いてテストパタ
ーン（パラメータ１８の組合せ）を生成する。

【００４９】そして、検証目的回路である検証対象回路
２と検証用タスクモジュール１の互いの信号の入出力端
子をシミュレータ３上で接続し、上記生成したテストパ
ターン（パラメータ１８の組合せ）を使用して、論理検
証を行う。

【００５０】この段階でエラーが発生した場合には、検
証対象回路２を修正して、すなわちバグを取り除いて再
度論理検証を行う。そして、検証対象回路２の論理検証
でのエラーがなくなると、今度は、検証対象回路２をＦ
ＰＧＡへ書き込んで実機上で検証する。そしてその段階
で実機にエラーが発生した場合には、エラーの発生状況
を解析し、エラー再現のためのテストパターン（検証用
タスクモジュール１におけるパラメータの組合せ）を生
成して、エラーの発生状況をシミュレータ３上で再現
し、ＨＤＬを修正した検証対象回路２をシミュレータ３
上で論理検証を行い、回路２のバグ修正を終え、論理検
証をパスした段階で、再度実機検証を行う。

【００５１】そして、実機検証でのエラーが無くなる
と、検証対象回路２は完成である。このとき、実機検証
でのエラーの、論理シミュレータ３での再現のためのテ
ストパターンは、エラー発生時の、実機検証システムの
検証対象回路２の入出力端子のデータをサンプリングす
ることによって自動的に生成することができ、容易に得
ることができる。

【００５２】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、検証用タ
スクモジュールを用いた論理回路の論理シミュレーショ
ンにおいて、実際のシステムに則したパラメータの組合
せ（テストパターン）を自動的に生成することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明におけるテストパターン生成設備を使用
した論理検証システムの構成図である。

【図２】同テストパターン生成設備における動作フロー
チャートである。

【図３】同テストパターン生成設備における検証用タス
クモジュールおよびその出力信号とサンプリングデータ
とを比較した図である。

【図４】同テストパターン生成設備における検証用タス
クモジュール出力信号とサンプリングデータとの比較を
示す特性図である。

【図５】同テストパターン生成設備における検証用タス
クモジュール出力信号とサンプリングデータとの比較を
示す特性図である。

【図６】同テストパターン生成設備における検証用タス
クモジュール出力信号とサンプリングデータとの比較を
示す特性図である。

【図７】同テストパターン生成設備における検証用タス
クモジュール出力信号とサンプリングデータとの比較を
示す特性図である。

【図８】同テストパターン生成設備を使用した論理回路
検証手順を示すフローチャートである。

【図９】従来の論理検証システムの構成図である。

【図１０】検証対象回路を実システムで使用した例であ
る。

【図１１】図１０のシステムの動作例である。

【図１２】図１０の検証対象回路を検証用タスクモジュ
ールを用いて検証する場合の論理検証システム図であ
る。

【図１３】図１０の検証対象回路を検証用タスクモジュ
ールを用いずに検証する場合の論理検証システム図であ
る。

【図１４】従来の検証用タスクモジュールを用いた論理
回路検証手順を示すフローチャートである。

【図１５】サンプリングしたデータの特性図である。

【符号の説明】

１ 検証用タスクモジュール ２ 検証対象回路 ３ 論理シミュレータ ４ テストパターン １１ 入出力信号サンプリング装置 １２ 実システム １３ サンプリングデータ １４ 検証用タスクモジュール解析装置 １６ 検証用タスクモジュールの入出力信号の宣言 １７ サンプリングデータ／検証用タスクモジュール比
較検証装置 １８ 検証用タスクモジュールのパラメータの宣言

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０６Ｆ 11/25 Ｇ０１Ｒ 31/28 Ａ Ｇ０６Ｆ 11/26 ３１０

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 検証対象の論理回路の検証に使用する、
   ハードウェア記述言語で記述された検証用タスクモジュ
   ールの動作を決定するためのパラメータの組み合わせを
   求める設備であって、 前記論理回路が用いられる実システムの信号をサンプリ
   ングするサンプリング装置と、 前記サンプリング装置によりサンプリングした信号と、
   前記検証用タスクモジュールの入出力信号を比較するこ
   とによって、前記検証用タスクモジュールのパラメータ
   を生成する比較検査装置とを備えたことを特徴とするテ
   ストパターン生成設備。
2. 【請求項２】 サンプリング装置によりサンプリングし
   た信号を、信号の入出力動作において主導権をにぎる側
   が出力するマスタ信号と、信号の入出力動作において主
   導権をにぎらない側が出力するスレーブ信号に分けて、
   分類する検証用タスクモジュール解析装置を備え、 比較検査装置は、検証用タスクモジュールのマスタ信号
   と前記サンプリングした信号のマスタ信号、または検証
   用タスクモジュールのスレーブ信号と前記サンプリング
   した信号のスレーブ信号が同じ動作をするように検証用
   タスクモジュールのパラメータを調整し、検証用タスク
   モジュールのマスタ信号が前記サンプリングした信号の
   スレーブ信号に応答して変化しないとき、または検証用
   タスクモジュールのスレーブ信号が前記サンプリングし
   た信号のマスタ信号に応答して変化しないとき検証用タ
   スクモジュールにバグがあると判定することを特徴とす
   る請求項１に記載のテストパターン生成設備。
3. 【請求項３】 比較検査装置は、論理回路の実機検証中
   に発生したエラーを、シミュレータ上で再現するための
   検証用タスクモジュールのパラメータを生成することを
   特徴とする請求項１または請求項２に記載のテストパタ
   ーン生成設備。
4. 【請求項４】 比較検査装置は、論理回路と組合せて使
   用する既存の機器の特性をシミュレータ上で再現するた
   めの検証用タスクモジュールのパラメータを生成するこ
   とを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれかに記載の
   テストパターン生成設備。
5. 【請求項５】 検証対象の論理回路の検証に使用する、
   ハードウェア記述言語で記述された検証用タスクモジュ
   ールの動作を決定するためのパラメータの組み合わせを
   求める方法であって、 前記論理回路が用いられる実システムからデータをサン
   プリングし、このサンプリングした信号と、前記検証用
   タスクモジュールの入出力信号を比較することによっ
   て、前記検証用タスクモジュールのパラメータを生成す
   ることを特徴とするテストパターン生成方法。
6. 【請求項６】 サンプリングした信号を、信号の入出力
   動作において主導権をにぎる側が出力するマスタ信号
   と、信号の入出力動作において主導権をにぎらない側が
   出力するスレーブ信号に分けて、分類し、 検証用タスクモジュールのマスタ信号とサンプリングし
   た信号のマスタ信号、または検証用タスクモジュールの
   スレーブ信号とサンプリングした信号のスレーブ信号が
   同じ動作をするように検証用タスクモジュールのパラメ
   ータを調整し、検証用タスクモジュールのマスタ信号が
   サンプリングした信号のスレーブ信号に応答して変化し
   ないとき、または検証用タスクモジュールのスレーブ信
   号がサンプリングした信号のマスタ信号に応答して変化
   しないとき検証用タスクモジュールにバグがあると判定
   することを特徴とする請求項５に記載のテストパターン
   生成方法。