JP2002210652A - Polishing jig and polishing device using it - Google Patents

Polishing jig and polishing device using it

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JP2002210652A
JP2002210652A JP2001007738A JP2001007738A JP2002210652A JP 2002210652 A JP2002210652 A JP 2002210652A JP 2001007738 A JP2001007738 A JP 2001007738A JP 2001007738 A JP2001007738 A JP 2001007738A JP 2002210652 A JP2002210652 A JP 2002210652A
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JP
Japan
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polishing
plate
jig
polishing jig
recess
Prior art date
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Application number
JP2001007738A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroaki Inoue
裕昭 井上
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SpeedFam Co Ltd
Original Assignee
SpeedFam Co Ltd
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Publication date
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To replace an O-ring without inserting the upper body or an arm into the under space of a lifted pressurizing plate or working upwardly from the downside, and thus to easily and safely exchange the O-ring. SOLUTION: This polishing jig 28 comprises a disk part 281, a cylindrical wall plate part 282 disposed around the disk part 281, and a plurality of annular grooves 20 formed concentrically to the disk part in the bottom parts of a recessed part 28a and a recessed part 28b formed with the disk part 281 and the cylindrical wall plate part 282. The polishing jig 28 in which O-rings 21 are selectively mounted to the annular grooves 20 is engaged under the pressurizing plate 8. A splash preventing skirt 41 is provided for preventing intrusion of polishing liquid, and can be turned up during working.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は研磨装置、及び、特
に半導体ウェーハのための平面研磨装置において使用す
るのに適した研磨治具に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a polishing apparatus and, more particularly, to a polishing jig suitable for use in a planar polishing apparatus for semiconductor wafers.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体デバイスの高集積化とパターンサ
イズの極小化への要求に伴って、半導体ウェーハ表面の
平面度にはますます高い精度が要求されるようになって
きている。このため、このウェーハの表面を研磨するた
めのポリシング工程ではより高精度の平面度を得ること
ができる技術が必要となってきている。
2. Description of the Related Art Along with a demand for higher integration of semiconductor devices and minimization of a pattern size, higher precision is required for flatness of a semiconductor wafer surface. For this reason, in the polishing step for polishing the surface of the wafer, a technique capable of obtaining a more accurate flatness is required.

【0003】ポリシング工程では、遊離砥粒を懸濁した
研磨液(スラリー)を滴下供給するとともに、ワーク
(半導体ウェーハ)を定盤あるいはこの上面に貼付され
た研磨パッドの研磨面に向けて適宜の荷重で押し付けな
がら、ワークと定盤又は研磨パッドとの間に与えられた
相対運動によりワークが研磨される。
In the polishing step, a polishing liquid (slurry) in which free abrasive grains are suspended is supplied dropwise, and a work (semiconductor wafer) is appropriately directed toward a polishing surface of a surface plate or a polishing pad attached to the upper surface thereof. The work is polished by the relative motion given between the work and the surface plate or the polishing pad while being pressed by the load.

【0004】定盤又は研磨パッドの研磨面が、加工時間
の経過とともに研磨液によって摩耗することによって、
その平面度がしだいに失われ、きわめて小さいけれども
ある程度の曲りをもつようになる。研磨面の形状は加工
されるワークの表面形状に転写されるので、このような
研磨面を用いた研磨によって得られるワークの形状も必
要な精度からしだいに外れたものとなる。
When the polishing surface of the platen or polishing pad is worn by the polishing liquid with the lapse of processing time,
It gradually loses its flatness and has a very small but certain degree of curvature. Since the shape of the polished surface is transferred to the surface shape of the work to be processed, the shape of the work obtained by polishing using such a polished surface gradually deviates from the required precision.

【0005】一方、研磨面を絶えず削り直す、あるいは
研磨パッドを新しいものと交換することにより、常に真
の平面に保つことが、精度の上からは最も好ましいこと
ではあるが、能率の観点からこれを許容することはでき
ない。このため、研磨面がある程度曲がっている場合で
も、この影響を少なくすることによって、ワークを必要
な形状精度の範囲に入るように研磨する技術が考えられ
ている。特許第2612012号は、このような技術
(以下、従来技術という。)を開示するものである。
On the other hand, it is the most preferable from the viewpoint of accuracy that the polishing surface is constantly re-cut or the polishing pad is replaced with a new one to always maintain a true flat surface. Cannot be tolerated. For this reason, a technique has been considered in which, even when the polished surface is curved to some extent, the work is polished so as to fall within a required shape accuracy range by reducing the influence. Japanese Patent No. 2612012 discloses such a technique (hereinafter, referred to as a conventional technique).

【0006】図1は、上記従来技術の研磨装置の要部に
ついて説明するための一部断面図である。研磨装置15
は、定盤1、キャリアプレート2、研磨液供給管4、加
圧盤8、環状溝10、Oリング11、加圧軸12を備え
ている。
FIG. 1 is a partial sectional view for explaining a main part of the above-mentioned conventional polishing apparatus. Polishing device 15
The table includes a platen 1, a carrier plate 2, a polishing liquid supply pipe 4, a pressure plate 8, an annular groove 10, an O-ring 11, and a pressure shaft 12.

【0007】定盤1はその上面に平面の研磨面1aを備
えており、定盤1に固定された定盤軸13を中心にして
回転駆動される。加圧盤8は、その上部中央に加圧軸1
2が連結され、この加圧軸12に対して首振り自在、か
つ回転自在となっている。加圧盤8は、また、その下面
に円形の凹所8aを備えており、この凹所8aの底部に
は、複数の環状溝10が加圧軸12とそれぞれ同心に設
けられている。環状溝10の一つあるいは複数の溝内に
は、ゴム等の軟質弾性材からできた断面円形のOリング
11が装着される。
The surface plate 1 has a flat polishing surface 1a on its upper surface, and is driven to rotate about a surface plate shaft 13 fixed to the surface plate 1. The pressing plate 8 has a pressing shaft 1 at its upper center.
2 are connected to each other, and are swingable and rotatable with respect to the pressing shaft 12. The pressure plate 8 also has a circular recess 8a on its lower surface, and a plurality of annular grooves 10 are provided concentrically with the pressure shaft 12 at the bottom of the recess 8a. An O-ring 11 having a circular cross section made of a soft elastic material such as rubber is mounted in one or more of the annular grooves 10.

【0008】凹所8a内にキャリアプレート2が納めら
れ、キャリアプレート2の下面には通常複数枚の半導体
ウェーハ5が、キャリアプレート2に適宜の手段(例え
ばワックス、真空吸着など)により固定される。
The carrier plate 2 is accommodated in the recess 8a, and a plurality of semiconductor wafers 5 are generally fixed to the lower surface of the carrier plate 2 by appropriate means (eg, wax, vacuum suction, etc.). .

【0009】この研磨装置15を用いてウェーハ5は以
下のように研磨される。まず、環状溝10の一つあるい
は複数にOリング11を装着し、複数のウェーハ5を固
着したキャリアプレート2を図1のように凹所8a内に
嵌装する。ついで、空気圧シリンダ、油圧シリンダある
いはウェイト等により加圧盤8の上部に連結されている
加圧軸12を下方に押圧して、ウェーハ5を定盤1の研
磨面1aに押圧する。
The wafer 5 is polished using the polishing apparatus 15 as follows. First, the O-ring 11 is mounted on one or more of the annular grooves 10, and the carrier plate 2 to which the plurality of wafers 5 are fixed is fitted in the recess 8a as shown in FIG. Then, the pressing shaft 12 connected to the upper portion of the pressing plate 8 is pressed downward by a pneumatic cylinder, a hydraulic cylinder, a weight, or the like, and the wafer 5 is pressed against the polishing surface 1 a of the platen 1.

【0010】この状態で、定盤1の研磨面1aに研磨液
供給管4から研磨液を供給しながら、定盤1を軸線Oを
中心として矢印a方向に回転させる。このとき、キャリ
アプレート2は加圧盤8とともに矢印b方向に回転す
る。このようにして、ウェーハ5の下面が定盤1の研磨
面1aと相対運動しながら、研磨液と研磨面1aの相互
作用によってウェーハ5の下面が研磨される。
In this state, the platen 1 is rotated about the axis O in the direction of arrow a while supplying the polishing liquid from the polishing liquid supply pipe 4 to the polishing surface 1a of the platen 1. At this time, the carrier plate 2 rotates in the direction of arrow b together with the pressure plate 8. Thus, the lower surface of the wafer 5 is polished by the interaction between the polishing liquid and the polishing surface 1a while the lower surface of the wafer 5 moves relative to the polishing surface 1a of the platen 1.

【0011】先に説明したように、ウェーハ5の下表面
が研磨されると同時に、定盤1の研磨面1aも摩耗す
る。したがって、研磨面1aの平面度がしだいに失わ
れ、きわめて小さいけれどもある程度の曲りをもつよう
になる。この結果、キャリアプレート2の外側と内側で
は、ウェーハ5の研磨の程度が異なってくるため、均等
な厚さに仕上がらず、平坦度が落ちてくる。なお、この
とき、キャリアプレート2の下方向への押圧力が、上記
研磨面1aの曲がりに応じて、キャリアプレート2の中
側あるいは外側に偏りをもってかかることから、それぞ
れ中押し傾向あるいは外押し傾向と呼ぶ。
As described above, at the same time that the lower surface of the wafer 5 is polished, the polished surface 1a of the platen 1 also wears. Therefore, the flatness of the polished surface 1a is gradually lost, and the polished surface 1a has a very small degree of curvature. As a result, the degree of polishing of the wafer 5 is different between the outside and the inside of the carrier plate 2, so that the thickness is not uniform and the flatness is reduced. At this time, the downward pressing force of the carrier plate 2 is biased toward the inside or outside of the carrier plate 2 in accordance with the bending of the polishing surface 1a. Call.

【0012】このような場合、複数の環状溝10の中か
ら、Oリング11を装着するものを選び直すことにより
落ちた平坦度をある程度回復することができる。つま
り、研磨面1aからキャリアプレート2が受ける力は、
Oリング11とキャリアプレート2との狭いリング状の
接触面によって支持されている。このため、キャリアプ
レート2がある程度の変形をするので、Oリング11を
装着する位置を変えれば、ウェーハ5にかかる面圧(研
磨圧)を場所によって異ならせる、つまり中押し傾向あ
るいは外押し傾向へと変えることができる。研磨圧は研
磨量に影響を及ぼすので、Oリング11の装着位置(環
状溝10)を適宜変更することにより落ちた平坦度を相
殺させることができる。
In such a case, the dropped flatness can be recovered to some extent by re-selecting the annular groove 10 to which the O-ring 11 is to be mounted. That is, the force that the carrier plate 2 receives from the polishing surface 1a is
It is supported by a narrow ring-shaped contact surface between the O-ring 11 and the carrier plate 2. For this reason, since the carrier plate 2 deforms to some extent, if the position at which the O-ring 11 is mounted is changed, the surface pressure (polishing pressure) applied to the wafer 5 varies depending on the location, that is, it tends to push inward or push outward. Can be changed. Since the polishing pressure affects the amount of polishing, the dropped flatness can be offset by appropriately changing the mounting position (the annular groove 10) of the O-ring 11.

【0013】上記技術は、平坦度を維持する上で非常に
有効であるが、環状溝10が加圧盤8の下面にあるた
め、Oリングの交換、位置変えの際には、作業に困難が
伴うという問題があった。つまり、この作業は、加圧盤
8を持ち上げてできた狭い空間に上体又は腕を入れ、し
かも下方から上向きに行う作業となるため、非常に困難
であり、しかも、万が一でも起こりうる重い加圧盤8の
落下による作業者の負傷という危険があった。
Although the above technique is very effective in maintaining flatness, since the annular groove 10 is located on the lower surface of the pressure plate 8, it is difficult to replace or change the position of the O-ring. There was a problem of accompanying. In other words, this operation is an operation in which the upper body or the arm is put into the narrow space formed by lifting the pressurizing plate 8 and the operation is performed upward from below, so that it is very difficult. There was a danger of worker injury due to the fall of No. 8.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述のよう
な問題を解消することを課題とするものであって、持ち
上げた加圧盤の下方空間に上体又は腕を入れることな
く、しかも下方から上向きに作業を行うことなくOリン
グの交換ができるようにすること、及びこれによりOリ
ングの交換を容易に且つ安全に行えるようにすることを
課題とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to solve the above-mentioned problems, and it is possible to prevent the upper body or the arm from being inserted into the space below the lifted pressurizing plate. It is an object of the present invention to make it possible to replace an O-ring without working upward from above, and to make it possible to easily and safely replace the O-ring.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】上記課題は、以下の手段
によって解決される。すなわち、第1番目の発明の研磨
治具は、円板部分と、上記円板部分の周囲に設けられた
円筒壁板部分と、上記円板部分と上記円筒壁板部分とに
よって形成される凹所の底部に、この円板部分と同心に
形成された複数の環状溝とを備えている。これにより環
状溝にOリングを装着、調整するとき、研磨治具を取り
出して作業を行うことができるので、作業を容易に且つ
安全に行うことができる。
The above object is achieved by the following means. That is, the polishing jig of the first invention comprises a disc portion, a cylindrical wall plate portion provided around the disc portion, and a concave portion formed by the disc portion and the cylindrical wall plate portion. A plurality of annular grooves formed concentrically with the disc portion are provided at the bottom of the place. Thereby, when attaching and adjusting the O-ring in the annular groove, the work can be performed by taking out the polishing jig, so that the work can be performed easily and safely.

【0016】第2番目の発明の研磨治具は、第1番目の
発明の研磨治具において、上記複数の環状溝が、弾性材
からなるOリングを選択的に装着するためのものであ
る。Oリングの装着場所を適宜選ぶことにより、研磨の
中押し傾向、外押し傾向を調整することができる。
According to a second aspect of the present invention, in the polishing jig of the first aspect, the plurality of annular grooves are for selectively mounting an O-ring made of an elastic material. By appropriately selecting the mounting location of the O-ring, it is possible to adjust the tendency of the middle press and the outside push of the polishing.

【0017】第3番目の発明の研磨治具は、第1番目又
は第2番目の発明の研磨治具において、上記複数の環状
溝が、上記円板部分の両面に形成されている。このた
め、多くの環状溝を設けることができ、Oリングを装着
するための選択の範囲が広がる。
According to a third aspect of the present invention, in the polishing jig of the first or second aspect, the plurality of annular grooves are formed on both surfaces of the disk portion. For this reason, many annular grooves can be provided, and the range of options for mounting the O-ring is widened.

【0018】第4番目の発明の研磨治具は、第1番目か
ら第3番目までのいずれかの発明の研磨治具において、
この研磨治具が、一体又は異なる部材の組み立てによっ
てできたものである。
The polishing jig of the fourth invention is the polishing jig of any of the first to third inventions,
This polishing jig is formed by assembling one member or different members.

【0019】第5番目の発明の研磨装置は、平坦な研磨
面を備えた回転可能な定盤と、上記定盤の上方に配置さ
れた加圧盤と、上記加圧盤が首振り自在、かつ回転自在
に取り付けられる加圧軸と、上記研磨面に研磨液を供給
するための研磨液供給管とを備えており、上記加圧盤に
は、第1番目から第4番目までのいずれかの研磨治具の
凹所が嵌装される。これにより環状溝にOリングを装
着、調整するとき、研磨治具を取り出して作業を行うこ
とができるので、作業を容易に且つ安全に行うことがで
きる。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a polishing apparatus comprising: a rotatable surface plate having a flat polishing surface; a pressure plate disposed above the surface plate; A polishing shaft, which is freely mounted, and a polishing liquid supply pipe for supplying a polishing liquid to the polishing surface, wherein the pressing plate is provided with any one of first to fourth polishing treatments; The tool recess is fitted. Thereby, when attaching and adjusting the O-ring in the annular groove, the work can be performed by taking out the polishing jig, so that the work can be performed easily and safely.

【0020】第6番目の発明の研磨装置は、第5番目の
発明の研磨装置において、上記加圧盤の周囲には、跳ね
よけスカートが設けられているため、嵌装された上記研
磨治具の凹所に研磨液が侵入することが防止される。
The polishing apparatus according to a sixth aspect of the present invention is the polishing apparatus according to the fifth aspect of the present invention, wherein a jumping skirt is provided around the pressure plate, so that the fitted polishing jig is provided. The polishing liquid is prevented from entering the recess.

【0021】第7番目の発明の研磨装置は、第6番目の
発明の研磨装置において、上記跳ねよけスカートは、フ
レキシブルな部分を有しており、このフレキシブルな部
分によって上方にめくり上げることができるとともに、
めくり上げた状態を維持することができる。このため、
これにより環状溝にOリングを装着調整した後、研磨治
具を加圧盤に嵌装するとき、跳ねよけスカートに視界を
遮られないので作業を容易に行うことができる。
A polishing apparatus according to a seventh aspect of the present invention is the polishing apparatus according to the sixth aspect, wherein the splash skirt has a flexible portion, and the flexible skirt can be turned up by the flexible portion. As well as
The flipped up state can be maintained. For this reason,
Thus, when the polishing jig is fitted to the pressure plate after the O-ring is mounted and adjusted in the annular groove, the field of view is not obstructed by the splash skirt, so that the work can be easily performed.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下本発明の実施形態を図2以下
を用いて説明する。ここで、従来技術を説明するために
図1において使用されている符号のうち、これから説明
する実施例においても実質的に共通する場合には、これ
らの符号と同じ符号が用いられる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. Here, among the reference numerals used in FIG. 1 for describing the related art, in the case where they are substantially common to the embodiments described below, the same reference numerals are used.

【0023】図2は、本発明における実施形態の研磨装
置を要部について説明するための一部断面図である。ま
た、図3は、図2の一部を拡大した部分断面図である。
研磨装置35は、定盤1、キャリアプレート2、研磨液
供給管4、加圧盤8、加圧軸12を備えている。
FIG. 2 is a partial sectional view for explaining a main part of the polishing apparatus according to the embodiment of the present invention. FIG. 3 is an enlarged partial cross-sectional view of a part of FIG.
The polishing device 35 includes a surface plate 1, a carrier plate 2, a polishing liquid supply pipe 4, a pressure plate 8, and a pressure shaft 12.

【0024】定盤1の上面には研磨パッド3が貼り付け
られており、研磨パッド3の上面は平面の研磨面1aと
される。研磨パッド3が貼り付けられた定盤1は定盤軸
13を中心にして回転駆動される。加圧盤8は、その上
部中央に加圧軸12が連結され、この加圧軸12に対し
て首振り自在、かつ回転自在となっている。
A polishing pad 3 is attached to the upper surface of the surface plate 1, and the upper surface of the polishing pad 3 is a flat polishing surface 1a. The platen 1 to which the polishing pad 3 is attached is driven to rotate about a platen shaft 13. The pressurizing plate 8 is connected to a pressurizing shaft 12 at the upper center thereof, and is swingable and rotatable with respect to the pressurizing shaft 12.

【0025】研磨治具28の上下両面には凹所28a及
び凹所28bを備えており、この凹所(図2の例では凹
所28b)には、加圧盤8の下方が嵌装されている。加
圧盤8の下面と凹所28bの底面との間には、固体同士
の接触を避けて着座を安定させるため、また、誤って侵
入した研磨液によってこれらの面が研磨され難くするた
め、布、ネット、プラスチックフィルムなどの厚くない
緩衝シート23が介在させられている。
The upper and lower surfaces of the polishing jig 28 are provided with a recess 28a and a recess 28b. In this recess (the recess 28b in the example of FIG. 2), the lower part of the pressure plate 8 is fitted. I have. A cloth between the lower surface of the pressure plate 8 and the bottom surface of the recess 28b is used to stabilize seating by avoiding contact between solids and to make it difficult for these surfaces to be polished by a polishing liquid that has entered by mistake. , A non-thick buffer sheet 23 such as a net or a plastic film is interposed.

【0026】凹所28aの平坦な底にはキャリアプレー
ト2と同心の複数の環状溝20が形成されている。環状
溝20の一つあるいは複数の溝内には、ゴム等の軟質弾
性材からできた断面円形のOリング21が装着される。
A plurality of annular grooves 20 concentric with the carrier plate 2 are formed in the flat bottom of the recess 28a. An O-ring 21 having a circular cross section made of a soft elastic material such as rubber is mounted in one or more of the annular grooves 20.

【0027】下方の凹所28a内にはキャリアプレート
2が納められ、キャリアプレート2の下面には通常複数
枚の半導体ウェーハ5が、キャリアプレート2に適宜の
手段(例えばワックス、真空吸着など)により固定され
る。
The carrier plate 2 is accommodated in the lower recess 28a, and a plurality of semiconductor wafers 5 are usually placed on the lower surface of the carrier plate 2 by appropriate means (eg, wax, vacuum suction, etc.). Fixed.

【0028】図3に示されるように、加圧盤8には、加
圧盤8の周囲を取り囲むように跳ねよけスカート41が
設けられている。この跳ねよけスカート41は、これを
加圧盤8に、ねじ止め、接着、はめ込み等の適宜の固着
手段で取り付けるとともに加圧盤8の上部から侵入して
くる研磨液を遮るための取付円筒部44、取付円筒部4
4に連続して円錐状に広がった傘状部43、及び、傘状
部43に更に連続し、研磨治具28の外形よりも大きな
内径を有する跳ねよけ円筒部42を備えている。なお、
図2では、跳ねよけスカート41の描写は省略されてい
る。
As shown in FIG. 3, the pressing plate 8 is provided with a jump skirt 41 so as to surround the pressing plate 8. The repelling skirt 41 is attached to the pressing plate 8 by an appropriate fixing means such as screwing, bonding, fitting, or the like, and a mounting cylindrical portion 44 for blocking a polishing liquid entering from above the pressing plate 8. , Mounting cylinder 4
The polishing jig 28 further includes an umbrella-shaped portion 43 that is conical and spreads out continuously from the polishing jig 28. In addition,
In FIG. 2, the illustration of the jump skirt 41 is omitted.

【0029】跳ねよけスカート41は、全体をゴム、合
成樹脂等のフレキシブルな材料で一体的に作ることも、
あるいは、少なくとも傘状部43をこのようなフレキシ
ブルな材料で作り、取付円筒部44あるいは跳ねよけ円
筒部42を他の材料、例えば金属で作ることができる。
この跳ねよけスカート41は、傘状部43がフレキシブ
ルな材料であるため、図3の点線で示すように簡単にめ
くり上げることができるとともに、めくり上げた状態を
手を離しても維持することができる。このような構造は
後述するように作業を容易にするためにとられている。
The jumping skirt 41 may be integrally made of a flexible material such as rubber or synthetic resin.
Alternatively, at least the umbrella-shaped portion 43 can be made of such a flexible material, and the mounting cylindrical portion 44 or the repelling cylindrical portion 42 can be made of another material, for example, metal.
Since the umbrella-shaped portion 43 is made of a flexible material, the jumping skirt 41 can be easily flipped up as shown by a dotted line in FIG. Can be. Such a structure is employed to facilitate the operation as described later.

【0030】図4は、研磨治具28の一例を示してお
り、その要部の拡大断面図である。研磨治具28はアル
ミニウム等の円板281とこの円板281が嵌合可能な
円筒壁板282から成っており、円板281の側面に開
けたねじ孔284にねじ283をねじ込むことにより組
み立てられる。なお、研磨治具28はこのように組み立
てる必要はなく、円板281と円筒壁板282を最初か
ら一体成型あるいは削り出しによって作ることも可能で
ある。
FIG. 4 shows an example of the polishing jig 28, and is an enlarged sectional view of a main part thereof. The polishing jig 28 includes a disk 281 made of aluminum or the like and a cylindrical wall plate 282 to which the disk 281 can be fitted. The polishing jig 28 is assembled by screwing a screw 283 into a screw hole 284 formed in a side surface of the disk 281. . It is not necessary to assemble the polishing jig 28 in this way, and the disc 281 and the cylindrical wall plate 282 can be formed integrally or cut out from the beginning.

【0031】円板281と円筒壁板282とで形成され
た凹所28a及び凹所28bのそれぞれの底部には、複
数の環状溝20がこの研磨治具と同心に形成されてい
る。なお、図2及び図3では、凹所28bの環状溝20
が省略されて描かれている。それぞれの環状溝20の径
は異なるため、それぞれの環状溝20内にはそれぞれの
周長をもったOリング21をはめ込むことができる。
A plurality of annular grooves 20 are formed concentrically with the polishing jig at the bottoms of the recesses 28a and 28b formed by the disk 281 and the cylindrical wall plate 282, respectively. 2 and 3, the annular groove 20 of the recess 28b is shown.
Are omitted. Since the diameters of the respective annular grooves 20 are different, O-rings 21 having respective circumferential lengths can be fitted in the respective annular grooves 20.

【0032】この研磨装置35を用いてウェーハ5は以
下のように研磨される。まず、研磨治具28を取り出
し、Oリング21を装着すべき凹所28a(又は28
b)を上にして作業机等適宜の場所に置き、この状態で
Oリング21を装着する。この装着は作業者が通常行う
他の作業と同様に下を向いて行うため、従来に比べては
るかに楽になる上、上体あるいは腕を、従来のように持
ち上げられている加圧盤の真下に曝すことがなく、万一
の落下によっても作業者がけがをするような危険性はな
い。
The wafer 5 is polished using the polishing apparatus 35 as follows. First, the polishing jig 28 is taken out, and the recess 28 a (or 28
b) is placed on an appropriate place such as a work desk with the top facing up, and the O-ring 21 is mounted in this state. This mounting is performed downward as in the case of other tasks normally performed by the worker, so it is much easier than before, and the upper body or arm is placed directly below the pressure plate that has been lifted as before. Without exposure, there is no danger of injury to workers in case of a fall.

【0033】複数のウェーハ5を固着したキャリアプレ
ート2を定盤1の上に置き、反転させた研磨治具28の
凹所28a(又は28b)をかぶせる。こうしてOリン
グ21は下方にあるので、研磨治具28はOリングを介
してキャリアプレート2上に載せられたことになる。つ
いで、図2に示されるように、もう一方の上向きの凹所
28b(又は28a)内に、加圧盤8を嵌装する。この
作業に先立って、予め跳ねよけスカート41を図3の点
線で示すようにめくり上げておく。こうすると、跳ねよ
け円筒部42が上方に上がっているので、研磨治具28
を視認することができ、作業性が改善される。
The carrier plate 2 to which the plurality of wafers 5 are fixed is placed on the surface plate 1 and covered with the inverted recess 28a (or 28b) of the polishing jig 28. Since the O-ring 21 is located below, the polishing jig 28 is placed on the carrier plate 2 via the O-ring. Then, as shown in FIG. 2, the pressure plate 8 is fitted into the other upward recess 28b (or 28a). Prior to this operation, the jumping skirt 41 is turned up in advance as shown by the dotted line in FIG. Then, the bouncing cylinder 42 is raised upward, and the polishing jig 28
Can be visually recognized, and workability is improved.

【0034】跳ねよけスカート41の跳ねよけ円筒部4
2を再び実線のように下げた後、空気圧シリンダ、油圧
シリンダあるいはウェイト等により加圧盤8の上部に連
結されている加圧軸12を下方に押圧して、ウェーハ5
を研磨パッド3の研磨面1aに押圧する。
The bouncing cylindrical portion 4 of the bouncing skirt 41
2 is again lowered as shown by the solid line, and the pressing shaft 12 connected to the upper part of the pressing plate 8 is pressed downward by a pneumatic cylinder, a hydraulic cylinder,
Is pressed against the polishing surface 1a of the polishing pad 3.

【0035】この状態で、研磨パッド3の研磨面1aに
研磨液供給管4から研磨液を供給しながら、定盤1を軸
線Oを中心として矢印a方向に回転させる。このとき、
研磨治具28及びキャリアプレート2は加圧盤8ととも
に矢印b方向に回転する。このようにして、ウェーハ5
の下面が研磨パッド3の研磨面1aと相対運動しなが
ら、研磨液と研磨面1aの相互作用によってウェーハ5
の下面が研磨される。時間の経過とともに、研磨された
ウェーハ5に中押し傾向、外押し傾向がみられるように
なったとき、上に説明した手順に従って、Oリングの装
着場所を適宜選択調整することにより、これらの傾向を
是正することができる。
In this state, the platen 1 is rotated about the axis O in the direction of arrow a while the polishing liquid is supplied from the polishing liquid supply pipe 4 to the polishing surface 1a of the polishing pad 3. At this time,
The polishing jig 28 and the carrier plate 2 rotate together with the pressure plate 8 in the direction of arrow b. Thus, the wafer 5
The lower surface of the wafer 5 moves relative to the polishing surface 1a of the polishing pad 3, and the wafer 5
Is polished. With the passage of time, when the polished wafer 5 starts to have a middle-pressing tendency and an externally-pressing tendency, by appropriately selecting and adjusting the mounting place of the O-ring according to the procedure described above, these tendencies are reduced. Can be corrected.

【0036】供給される研磨液は研磨面1aに当ったと
きどうしても跳ね飛ぶが、飛んだ研磨液は跳ねよけスカ
ート41によって遮られるため、研磨治具28の凹所2
8a又は28bに侵入するおそれがない。また仮に、研
磨液が誤って凹所28a又は28bに侵入したときで
も、緩衝シート23が介在することによって、加圧盤8
の下面と研磨治具28の凹所28b(又は28a)の底
面がこの研磨液によって研磨されるようなことがない。
When the supplied polishing liquid hits the polishing surface 1 a, the polishing liquid inevitably flies off. However, since the flying polishing liquid is blocked by the repelling skirt 41, the polishing jig 28 has a recess 2.
There is no risk of intrusion into 8a or 28b. Even if the polishing liquid accidentally enters the recess 28a or 28b, the pressure plate 8
And the bottom surface of the recess 28b (or 28a) of the polishing jig 28 are not polished by the polishing liquid.

【0037】研磨治具28は環状溝20を除いて上下対
称であり、上下で環状溝の半径位置が交互にしてある。
このため、必要なOリング21の大きさに応じて、研磨
治具28のどちらかの面と環状溝20を選択することが
できる。なお、環状溝20は必ずしも研磨治具28の両
側に設ける必要はなく片方のみとすることもできる。
The polishing jig 28 is vertically symmetrical except for the annular groove 20, and the radial positions of the annular groove are alternately arranged vertically.
For this reason, either surface of the polishing jig 28 and the annular groove 20 can be selected according to the required size of the O-ring 21. Note that the annular groove 20 does not necessarily need to be provided on both sides of the polishing jig 28, and may be provided on only one side.

【0038】また、上記したような研磨液の侵入等の問
題が生じなければ、跳ねよけスカート41は特に必須と
いうものではなく、場合によりこれを設けないようにす
ることもできる。更に、緩衝シート23は、これを設け
る方が好ましいが、必須というほどでもない。また、従
来技術を説明するために使用されている図1に示される
ように、定盤1の上面を研磨面とし、研磨パッド3を使
用しない形式の研磨装置においても本発明の研磨治具を
使用することができることはいうまでもない。
If there is no problem such as intrusion of the polishing liquid as described above, the jumping skirt 41 is not particularly essential, and may not be provided in some cases. Furthermore, it is preferable to provide the buffer sheet 23, but it is not essential. Further, as shown in FIG. 1 which is used for explaining the prior art, the polishing jig of the present invention is also used in a polishing apparatus in which the upper surface of the surface plate 1 is used as a polishing surface and the polishing pad 3 is not used. It goes without saying that it can be used.

【0039】[0039]

【発明の効果】本発明は、持ち上げた加圧盤の下方空間
に上体又は腕を入れることなく、しかも下方から上向き
に作業を行うことなく、Oリングの交換ができるという
効果を奏する。また、これによりOリングの交換が容易
に、且つ、安全に行えるという効果を奏する。
According to the present invention, the O-ring can be exchanged without putting the upper body or the arm in the space below the lifted pressure plate and without working upward from below. This also has the effect that the O-ring can be easily and safely replaced.

【0040】本発明の研磨治具は、両面に環状溝を備え
ているので、多くの環状溝を設けることができ、最適の
Oリングを使用することができるという効果を奏する。
さらに、加圧盤は跳ねよけスカートを備えているため、
研磨液が加圧盤と研磨治具の間に侵入することがなく、
これらが研磨されるおそれがないという効果を奏する。
更にまた、仮に誤って研磨液が侵入したとしても、緩衝
シートが介在するため、研磨作用をほとんど生じないと
いう効果を奏する。更に、跳ねよけスカートは上にめく
り上げることができるとともに、めくり上げた状態を手
を離しても維持することができるるので、研磨治具交換
作業の際には作業の障害にはならないという効果を奏す
る。
Since the polishing jig of the present invention has annular grooves on both surfaces, it is possible to provide many annular grooves and to use an optimal O-ring.
In addition, because the pressure plate has a jumping skirt,
Polishing liquid does not enter between the pressure plate and the polishing jig,
There is an effect that there is no possibility that these are polished.
Furthermore, even if the polishing liquid inadvertently intrudes, the buffer sheet is interposed, so that there is an effect that the polishing action hardly occurs. Furthermore, since the jumping skirt can be flipped up and can be maintained even if it is lifted up, it does not hinder the work when replacing the polishing jig. It works.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】従来技術の研磨装置の要部について説明するた
めの一部断面図である。
FIG. 1 is a partial cross-sectional view for explaining a main part of a conventional polishing apparatus.

【図2】本発明における実施形態の研磨装置を要部につ
いて説明するための一部断面図である。
FIG. 2 is a partial cross-sectional view for explaining a main part of the polishing apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図3】図2の一部を拡大した部分断面図である。FIG. 3 is an enlarged partial cross-sectional view of a part of FIG. 2;

【図4】本発明の研磨治具28の一例を示しており、そ
の要部の拡大断面図である。
FIG. 4 is an enlarged sectional view showing an example of a main part of the polishing jig 28 according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 定盤 2 キャリアプレート 3 研磨パッド 4 研磨液供給管 5 半導体ウェーハ 8 加圧盤 10、20 環状溝 11、21 Oリング 12 加圧軸 13 定盤軸 15、35 研磨装置 1a 研磨面 23 緩衝シート 28 研磨治具 41 跳ねよけスカート 42 跳ねよけ円筒部 43 傘状部 44 取付円筒部 8a、28a、28b 凹所 281 円板 282 円筒壁板 283 ねじ 284 ねじ孔 O 軸線 Reference Signs List 1 surface plate 2 carrier plate 3 polishing pad 4 polishing liquid supply pipe 5 semiconductor wafer 8 pressure plate 10, 20 annular groove 11, 21 O-ring 12 pressure shaft 13 surface plate shaft 15, 35 polishing device 1a polishing surface 23 buffer sheet 28 Polishing jig 41 Bouncing skirt 42 Bouncing cylindrical portion 43 Umbrella-shaped portion 44 Mounting cylindrical portion 8a, 28a, 28b Recess 281 Disk 282 Cylindrical wall plate 283 Screw 284 Screw hole O axis

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 円板部分と、 上記円板部分の周囲に設けられた円筒壁板部分と、 上記円板部分と上記円筒壁板部分とによって形成される
凹所の底部に、この円板部分と同心に形成された複数の
環状溝とを備えたことを特徴とする研磨治具。
1. A disk portion, a cylindrical wall plate portion provided around the disk portion, and a disk formed on the bottom of a recess formed by the disk portion and the cylindrical wall plate portion. A polishing jig comprising a portion and a plurality of annular grooves formed concentrically.
【請求項2】 請求項1に記載された研磨治具におい
て、 上記複数の環状溝は、弾性材からなるOリングを選択的
に装着するためのものであることを特徴とする研磨治
具。
2. The polishing jig according to claim 1, wherein the plurality of annular grooves are for selectively mounting an O-ring made of an elastic material.
【請求項3】 請求項1又は請求項2に記載された研磨
治具において、 上記複数の環状溝は、上記円板部分の両面に形成されて
いることを特徴とする研磨治具。
3. The polishing jig according to claim 1, wherein said plurality of annular grooves are formed on both surfaces of said disc portion.
【請求項4】 請求項1から請求項3までのいずれかに
記載された研磨治具において、 この研磨治具は、一体又は異なる部材の組み立てによっ
てできたものであることを特徴とする研磨治具。
4. The polishing jig according to claim 1, wherein the polishing jig is formed by integrally or differently assembling the polishing jig. Utensils.
【請求項5】 平坦な研磨面を備えた回転可能な定盤
と、 上記定盤の上方に配置された加圧盤と、 上記加圧盤が首振り自在、かつ回転自在に取り付けられ
る加圧軸と、 上記研磨面に研磨液を供給するための研磨液供給管とを
備えた研磨装置であって、 上記加圧盤は、請求項1から請求項4までのいずれかに
記載された研磨治具の凹所が嵌装されるものであること
を特徴とする研磨装置。
5. A rotatable surface plate having a flat polishing surface, a pressure plate disposed above the surface plate, and a pressure shaft on which the pressure plate is swingably and rotatably mounted. A polishing apparatus comprising a polishing liquid supply pipe for supplying a polishing liquid to the polishing surface, wherein the pressurizing plate is a polishing jig according to any one of claims 1 to 4. A polishing apparatus characterized in that a recess is fitted therein.
【請求項6】 請求項5に記載された研磨装置におい
て、 上記加圧盤の周囲には、嵌装された上記研磨治具の凹所
に研磨液が侵入することを防止するための跳ねよけスカ
ートが設けられていることを特徴とする研磨装置。
6. A repelling device according to claim 5, wherein a splash is provided around the pressure plate to prevent a polishing liquid from entering a recess of the fitted polishing jig. A polishing apparatus comprising a skirt.
【請求項7】 請求項6に記載された研磨装置におい
て、 上記跳ねよけスカートは、フレキシブルな部分を有して
おり、このフレキシブルな部分によって上方にめくり上
げることができるとともに、めくり上げた状態を維持す
ることができるものであることを特徴とする研磨装置。
7. The polishing apparatus according to claim 6, wherein the jumping skirt has a flexible portion, and the flexible skirt can be turned up by the flexible portion and can be turned up. A polishing apparatus characterized in that the polishing apparatus can be maintained.
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH01135464A (en) * 1987-11-16 1989-05-29 Mitsubishi Metal Corp Polishing device

Patent Citations (1)

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