JP2002202607A - Positive type photoresist composition for exposure with far ultraviolet ray - Google Patents

Positive type photoresist composition for exposure with far ultraviolet ray

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JP2002202607A
JP2002202607A JP2000402246A JP2000402246A JP2002202607A JP 2002202607 A JP2002202607 A JP 2002202607A JP 2000402246 A JP2000402246 A JP 2000402246A JP 2000402246 A JP2000402246 A JP 2000402246A JP 2002202607 A JP2002202607 A JP 2002202607A
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alkyl group
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carbon atoms
atom
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Kenichiro Sato
健一郎 佐藤
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a positive type photoresist composition for exposure with far UV having improved exposure margin and defocus latitude in the resolution of a contact hole pattern. SOLUTION: The positive type photoresist composition contains a compound which generates a perfluoroalkanesulfonic acid when irradiated with active rays or radiation and a resin having a specified structure and a velocity of dissolution in an alkali developing solution increased by the action of the acid.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、超LSIや高容量
マイクロチップの製造などの超マイクロリソグラフィプ
ロセスやその他のフォトファブリケ−ションプロセスに
使用する遠紫外線露光用ポジ型フォトレジスト組成物に
関するものである。更に詳しくは、エキシマレ−ザ−光
を含む遠紫外線領域、特に250nm以下の波長の光を
使用して高精細化したパターンを形成しうる遠紫外線露
光用ポジ型フォトレジスト組成物に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a positive photoresist composition for deep ultraviolet exposure used in an ultra microlithography process such as the production of an ultra LSI or a high-capacity microchip and other photofabrication processes. It is. More specifically, the present invention relates to a positive photoresist composition for deep ultraviolet exposure which can form a high-definition pattern by using light having a wavelength of not more than 250 nm, particularly a deep ultraviolet region including excimer laser light.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、集積回路はその集積度を益々高め
ており、超LSIなどの半導体基板の製造に於いてはハ
ーフミクロン以下の線幅から成る超微細パターンの加工
が必要とされるようになってきた。その必要性を満たす
ためにフォトリソグラフィーに用いられる露光装置の使
用波長は益々短波化し、今では、遠紫外線の中でも短波
長のエキシマレーザー光(XeCl、KrF、ArFな
ど)を用いることが検討されるまでになってきている。
この波長領域におけるリソグラフィーのパターン形成に
用いられるものとして、化学増幅系レジストがある。
2. Description of the Related Art In recent years, the degree of integration of integrated circuits has been increasing more and more, and in the manufacture of semiconductor substrates such as VLSIs, processing of ultrafine patterns having a line width of less than half a micron is required. It has become In order to meet the need, the wavelength used in an exposure apparatus used for photolithography is becoming shorter and shorter, and now it is considered to use excimer laser light (XeCl, KrF, ArF, etc.) having a short wavelength among far ultraviolet rays. Up to now.
A chemically amplified resist is used for forming a pattern in lithography in this wavelength region.

【0003】一般に化学増幅系レジストは、通称2成分
系、2.5成分系、3成分系の3種類に大別することが
できる。2成分系は、光分解により酸を発生する化合物
(以後、光酸発生剤という)とバインダー樹脂とを組み
合わせている。該バインダー樹脂は、酸の作用により分
解して、樹脂のアルカリ現像液中での溶解性を増加させ
る基(酸分解性基ともいう)を分子内に有する樹脂であ
る。2.5成分系はこうした2成分系に更に酸分解性基
を有する低分子化合物を含有する。3成分系は光酸発生
剤とアルカリ可溶性樹脂と上記低分子化合物を含有する
ものである。
In general, chemically amplified resists can be broadly classified into three types: so-called two-component, 2.5-component and three-component resists. The two-component system combines a compound that generates an acid by photolysis (hereinafter referred to as a photoacid generator) and a binder resin. The binder resin is a resin having in its molecule a group (also referred to as an acid-decomposable group) that decomposes under the action of an acid to increase the solubility of the resin in an alkaline developer. The 2.5-component system further contains a low-molecular compound having an acid-decomposable group in such a two-component system. The three-component system contains a photoacid generator, an alkali-soluble resin, and the above low molecular compound.

【0004】上記化学増幅系レジストは紫外線や遠紫外
線照射用のフォトレジストに適しているが、その中でさ
らに使用上の要求特性に対応する必要がある。ArF光
源用のフォトレジスト組成物としては、部分的にヒドロ
キシ化したスチレン系樹脂よりもさらに吸収の少ない
(メタ)アクリル系樹脂を光によつて酸を発生する化合
物と組み合わせたフォトレジスト組成物が提案されてい
る。例えば特開平7−199467号、同7−2523
24号等がある。中でも特開平6−289615号では
アクリル酸のカルボキシル基の酸素に3級炭素有機基が
エステル結合した樹脂が開示されている。
The above-mentioned chemically amplified resist is suitable for a photoresist for irradiating ultraviolet rays or far ultraviolet rays, but among them, it is necessary to further meet the required characteristics in use. As a photoresist composition for an ArF light source, a photoresist composition obtained by combining a (meth) acrylic resin having a lower absorption than a partially hydroxylated styrene resin with a compound capable of generating an acid by light is used. Proposed. For example, JP-A-7-199467 and JP-A-7-2523
No. 24 etc. Among them, JP-A-6-289615 discloses a resin in which a tertiary carbon organic group is ester-bonded to oxygen of a carboxyl group of acrylic acid.

【0005】さらに特開平7−234511号ではアク
リル酸エステルやフマル酸エステルを繰り返し構造単位
とする酸分解性樹脂が開示されているが、パターンプロ
ファイル、基板密着性等が不十分であり、満足な性能が
得られていないのが実情である。
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 7-234511 discloses an acid-decomposable resin having an acrylic ester or a fumaric ester as a repeating structural unit. The fact is that performance has not been obtained.

【0006】0.18μm及び0.13μmのデザイン
ルールを用いたデバイスを製造するリソグラフィプロセ
スは露光放射として波長193nmの光を使用すること
が多いため、エチレン系不飽和性をあまり含まないレジ
ストポリマーが所望される。
Since lithography processes for manufacturing devices using 0.18 μm and 0.13 μm design rules often use light having a wavelength of 193 nm as exposure radiation, a resist polymer which does not contain much ethylenic unsaturation is required. Is desired.

【0007】ArF光源用のフォトレジスト組成物とし
ては、ドライエッチング耐性付与の目的で脂環式炭化水
素部位が導入された樹脂が提案されているが、脂環式炭
化水素部位導入の弊害として系が極めて疎水的になるが
ために、従来レジスト現像液として幅広く用いられてき
たテトラメチルアンモニウムヒドロキシド(以下TMA
H)水溶液での現像が困難となったり、現像中に基板か
らレジストが剥がれてしまうなどの現象が見られる。
As a photoresist composition for an ArF light source, a resin into which an alicyclic hydrocarbon moiety is introduced for the purpose of imparting dry etching resistance has been proposed. Is extremely hydrophobic, so that tetramethylammonium hydroxide (hereinafter referred to as TMA), which has been widely used as a resist developing solution in the past,
H) There are phenomena such as difficulty in developing with an aqueous solution and peeling of the resist from the substrate during development.

【0008】特開平10−10739号公報には、ノル
ボルネン環等の脂環式構造を主鎖に有するモノマー、無
水マレイン酸、カルボキシル基を有するモノマーを重合
して得られる重合体を含むエネルギー感受性レジスト材
料を開示している。特開平10−111569号公報に
は、主鎖に脂環式骨格を有する樹脂と感放射線性酸発生
剤とを含有する感放射線性樹脂組成物が開示されてい
る。特開平11−202491号公報には、ノルボルネ
ン誘導体を含有する重合体と、アンドロスタン−17−
カルボン酸エステル系化合物を含有する感放射線性樹脂
組成物を開示している。
JP-A-10-10739 discloses an energy-sensitive resist containing a polymer obtained by polymerizing a monomer having an alicyclic structure such as a norbornene ring in its main chain, maleic anhydride, and a monomer having a carboxyl group. Materials are disclosed. JP-A-10-111569 discloses a radiation-sensitive resin composition containing a resin having an alicyclic skeleton in the main chain and a radiation-sensitive acid generator. JP-A-11-202491 discloses a polymer containing a norbornene derivative, and androstan-17-
A radiation-sensitive resin composition containing a carboxylic acid ester compound is disclosed.

【0009】また、特開平9−73173号、特開平9
−90637号、特開平10−161313号公報に
は、脂環式基を含む構造で保護されたアルカリ可溶性基
と、そのアルカリ可溶性基が酸により脱離して、アルカ
リ可溶性とならしめる構造単位を含む酸感応性化合物を
用いたレジスト材料が記載されている。
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-73173,
JP-A-90637 and JP-A-10-161313 contain an alkali-soluble group protected by a structure containing an alicyclic group, and a structural unit which is made to be alkali-soluble by the removal of the alkali-soluble group by an acid. A resist material using an acid-sensitive compound is described.

【0010】また、特開平9−90637号、同10−
207069号、同10−274852号公報には、特
定ラクトン構造を有する酸分解性樹脂を含むレジスト組
成物が記載されている。特開平10−130340号公
報には、ノルボルネン構造を主鎖に有する特定の繰り返
し構造単位を有するターポリマーを含有する化学増幅型
のレジストが開示されている。特開平11−30544
4号公報には、アダマンタン構造を側鎖に有する繰り返
し構造単位と、無水マレイン酸を繰り返し構造単位とし
て含有する樹脂が開示されている。EP1048983
A1は、保存安定性、透明性、ドライエッチング性、感
度、解像度、パターン形状等の改良を目的として、特定
の酸分解性基を有するノルボルネンからなる繰り返し単
位、無水物からなる繰り返し単位、及び脂環式基を有す
る繰り返し単位を有する樹脂を含有する組成物を開示し
ている。
[0010] Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-90637 and 10-
JP-A-2070769 and JP-A-10-274852 describe resist compositions containing an acid-decomposable resin having a specific lactone structure. JP-A-10-130340 discloses a chemically amplified resist containing a terpolymer having a specific repeating structural unit having a norbornene structure in a main chain. JP-A-11-30544
No. 4 discloses a resin containing a repeating structural unit having an adamantane structure in a side chain and a resin containing maleic anhydride as a repeating structural unit. EP1048983
A1 is a repeating unit composed of norbornene having a specific acid-decomposable group, a repeating unit composed of anhydride, and a fatty acid for the purpose of improving storage stability, transparency, dry etching property, sensitivity, resolution, pattern shape and the like. A composition comprising a resin having a repeating unit having a cyclic group is disclosed.

【0011】しかしながら、これまでのレジスト組成物
は、コンタクトホールパターンの解像における露光マー
ジン及びデフォーカスラチチュードについて、十分改善
されているものではなかった。露光マージンとは、露光
量の変動に伴いコンタクトホールの径が変動する現象、
デフォーカスラチチュードとは、焦点ずれに伴いコンタ
クトホールの径が変動する現象を言う。
However, conventional resist compositions have not been sufficiently improved in exposure margin and defocus latitude in resolving a contact hole pattern. The exposure margin is a phenomenon that the diameter of the contact hole fluctuates with the fluctuation of the exposure amount,
Defocus latitude refers to a phenomenon in which the diameter of a contact hole fluctuates due to defocus.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、遠紫外光、とくにArFエキシマレーザー光を使用
する上記ミクロフォトファブリケ−ション本来の性能向
上及び従来技術の課題を解決することであり、具体的に
は、コンタクトホールの解像における露光マージン及び
デフォーカスラチチュードが改善された遠紫外線露光用
ポジ型フォトレジスト組成物を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to improve the original performance of the above-mentioned microphotofabrication using far ultraviolet light, especially ArF excimer laser light, and to solve the problems of the prior art. In particular, it is an object of the present invention to provide a positive photoresist composition for deep ultraviolet exposure with improved exposure margin and defocus latitude in resolving contact holes.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明者等は、ポジ型化
学増幅系におけるレジスト組成物の構成材料を鋭意検討
した結果、特定の光酸発生剤と特定の樹脂を用いること
により、本発明の目的が達せられることを見出し、本発
明に至った。即ち、上記目的は、下記構成によって達成
される。
Means for Solving the Problems The present inventors have made intensive studies on the constituent materials of a resist composition in a positive-type chemical amplification system, and as a result, have found that the present invention uses a specific photoacid generator and a specific resin. It has been found that the object of the present invention can be achieved, and the present invention has been achieved. That is, the above object is achieved by the following configuration.

【0014】(1)(A)活性光線又は放射線の照射に
よりスルホン酸を発生する、下記一般式(I’)〜(I
II’)で表される化合物、及び、(B)下記一般式
(I)で示される繰り返し構造単位、一般式(II)で示
される繰り返し構造単位、及び一般式(III)で示され
る繰り返し構造を含み、酸の作用によりアルカリ現像液
に対する溶解速度が増加する樹脂、を含有することを特
徴とする遠紫外線露光用ポジ型フォトレジスト組成物。
(1) (A) The following general formulas (I ') to (I) which generate sulfonic acids upon irradiation with actinic rays or radiation.
II ′), and (B) a repeating structural unit represented by the following general formula (I), a repeating structural unit represented by the following general formula (II), and a repeating structure represented by the following general formula (III) And a resin whose dissolution rate in an alkali developing solution is increased by the action of an acid.

【0015】[0015]

【化10】 Embedded image

【0016】[0016]

【化11】 Embedded image

【0017】[0017]

【化12】 Embedded image

【0018】[0018]

【化13】 Embedded image

【0019】上記一般式(I')〜(III')中:R51
87は、各々独立に、水素原子、直鎖状、分岐状あるい
は環状アルキル基、直鎖状、分岐状あるいは環状アルコ
キシ基、ヒドロキシル基、ハロゲン原子、又は−S−R
88基を表す。R88は、直鎖状、分岐状あるいは環状アル
キル基又はアリール基を表す。また、R51〜R65、R66
〜R77、R78〜R87のうち、2つ以上が結合して、単結
合、炭素、酸素、イオウ、及び窒素から選択される1種
又は2種以上を含む環を形成していてもよい。X-は、
FSO3 -を表す。ここでRFは、炭素数2以上のフッ素
置換された直鎖状、分岐状あるいは環状アルキル基であ
る。
The above general formula (I ') ~ (III' ) in: R 51 ~
R 87 each independently represents a hydrogen atom, a linear, branched or cyclic alkyl group, a linear, branched or cyclic alkoxy group, a hydroxyl group, a halogen atom, or -SR.
Represents 88 groups. R 88 represents a linear, branched or cyclic alkyl group or aryl group. R 51 to R 65 , R 66
Of to R 77, R 78 to R 87, 2 or more are bonded, a single bond, carbon, oxygen, sulfur, and also form a ring containing one or more selected from nitrogen Good. X - is,
Represents R F SO 3 . Here, R F is a fluorine-substituted linear, branched or cyclic alkyl group having 2 or more carbon atoms.

【0020】一般式(I)中:R11〜R14は、各々独立
に、酸の作用により分解する基、水素原子、ハロゲン原
子、シアノ基、−COOH、−COOR15、−C(=
O)−X−A−R16、又はアルキル基或いは環状炭化水
素基を表し、且つR11〜R14の内少なくとも1つは酸の
作用により分解する基を表す。また、R11〜R14のうち
少なくとも2つが結合して環を形成してもよい。nは0
又は1を表す。ここで、R15は、アルキル基、環状炭化
水素基又は下記の−Y基を表す。Xは、酸素原子、硫黄
原子、−NH−、−NHSO2−、又は−NHSO2NH
−を表す。Aは、単結合、アルキレン基、シクロアルキ
レン基、エーテル基、チオエーテル基、カルボニル基、
エステル基よりなる群から選択される単独或いは2つ以
上の基の組み合わせを表す。R16は、−COOH、−C
OOR15、−CN、水酸基、アルコキシ基、−CO−N
H−R17、−CO−NH−SO2−R17又は下記の−Y
基を表す。R17は、アルキル基又は環状炭化水素基を表
す。 −Y基;
In the general formula (I), R 11 to R 14 are each independently a group capable of decomposing under the action of an acid, a hydrogen atom, a halogen atom, a cyano group, —COOH, —COOR 15 , —C (=
O) —XA—R 16 , or an alkyl group or a cyclic hydrocarbon group, and at least one of R 11 to R 14 represents a group decomposed by the action of an acid. Further, at least two members out of R 11 to R 14 may combine to form a ring. n is 0
Or represents 1. Here, R 15 represents an alkyl group, a cyclic hydrocarbon group or the following —Y group. X represents an oxygen atom, a sulfur atom, -NH -, - NHSO 2 - , or -NHSO 2 NH
Represents-. A is a single bond, an alkylene group, a cycloalkylene group, an ether group, a thioether group, a carbonyl group,
It represents a single or a combination of two or more groups selected from the group consisting of ester groups. R 16 is -COOH, -C
OOR 15 , -CN, hydroxyl group, alkoxy group, -CO-N
HR 17 , -CO-NH-SO 2 -R 17 or the following -Y
Represents a group. R 17 represents an alkyl group or a cyclic hydrocarbon group. A —Y group;

【0021】[0021]

【化14】 Embedded image

【0022】−Y基中、R21〜R30は、各々独立に、水
素原子又はアルキル基を表す。a、bは、1又は2を表
す。
In the —Y group, R 21 to R 30 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group. a and b represent 1 or 2.

【0023】一般式(II)中:Z2は、−O−又は−
N(R41)−を表す。ここでR41は、水素原子、水酸
基、アルキル基、ハロアルキル基又は−OSO2−R42
を表す。R42は、アルキル基、ハロアルキル基、シクロ
アルキル基又は樟脳残基を表す。 一般式(III)中:R91は、水素原子、低級アルキル
基、ハロゲン原子又は−CNを表す。X5は、−O−、
−S−、−NR93−、又は−NR93SO2−を表す。R
93は、水素原子、鎖状又は環状アルキル基を表す。B
は、単結合または連結基を表す。R92は、水素原子、鎖
状又は環状アルキル基、アルコキシ基、水酸基、カルボ
キシ基、シアノ基、−COOR94、又は下記一般式(I
V)〜(X)のいずれかで表される基を表す。R94は、
水素原子、または鎖状又は環状アルキル基を表す。
In the general formula (II): Z 2 is -O- or-
N (R 41 )-. Here, R 41 is a hydrogen atom, a hydroxyl group, an alkyl group, a haloalkyl group, or —OSO 2 —R 42
Represents R 42 represents an alkyl group, a haloalkyl group, a cycloalkyl group or a camphor residue. In the general formula (III): R 91 represents a hydrogen atom, a lower alkyl group, a halogen atom or —CN. X 5 is —O—,
-S -, - NR 93 -, or -NR 93 SO 2 - represents a. R
93 represents a hydrogen atom, a chain or a cyclic alkyl group. B
Represents a single bond or a linking group. R 92 represents a hydrogen atom, a chain or cyclic alkyl group, an alkoxy group, a hydroxyl group, a carboxy group, a cyano group, —COOR 94 , or the following general formula (I
V) represents a group represented by any of (X) to (X). R 94 is
Represents a hydrogen atom, or a chain or cyclic alkyl group.

【0024】[0024]

【化15】 Embedded image

【0025】 −N+(R95)(R96)(R97)・X- (VIII) −R98−A50−R99 (IX) −SO3100 (X)[0025] -N + (R 95) (R 96) (R 97) · X - (VIII) -R 98 -A 50 -R 99 (IX) -SO 3 R 100 (X)

【0026】式(IV)において、Ra1、Rb1、R
1、Rd1、及びRe1は、各々独立に、水素原子又は
炭素数1〜4のアルキル基を表す。m、nは各々独立に
0〜3の整数を表し、m+nは、2以上6以下である。
式(V−1)〜(V−4)において、R1b〜R5bは、各
々独立に、水素原子、アルキル基、シクロアルキル基又
はアルケニル基を表す。R1b〜R5bの内の2つは、結合
して環を形成してもよい。式(VII)において、R1d
8dは、各々独立に、水素原子又はアルキル基を表す。
d0は、水素原子、鎖状または環状アルキル基、アリー
ル基又はアラルキル基を表す。mは、1〜10の整数を
表す。式(VIII)中、R95〜R97は、各々独立に、水
素原子、鎖状または環状アルキル基、アルケニル基、ア
リール基、又はアラルキル基を表す。但し、R95〜R 97
は互いに結合して非芳香環、芳香環を形成しても良い。
-は、R−SO3 -を表す。Rは脂肪族炭化水素基又は
芳香族炭化水素基を表す。式(IX)中、R98は、単結
合、アルキレン基、アリーレン基、又はこれらを組み合
わせた2価の基を表す。A50は、下記に示す官能基のい
ずれかを表す。
In the formula (IV), Ra1, Rb1, R
c1, Rd1, And Re1Is independently a hydrogen atom or
Represents an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms. m and n are each independently
Represents an integer of 0 to 3, and m + n is 2 or more and 6 or less.
In the formulas (V-1) to (V-4), R1b~ R5bIs each
Each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group or
Represents an alkenyl group. R1b~ R5bTwo of the
To form a ring. In the formula (VII), R1d~
R8dRepresents a hydrogen atom or an alkyl group each independently.
Rd0Represents a hydrogen atom, a chain or cyclic alkyl group,
Represents an alkyl group or an aralkyl group. m is an integer of 1 to 10
Represent. In the formula (VIII), R95~ R97Are each independently water
Atom, chain or cyclic alkyl group, alkenyl group,
Represents a reel group or an aralkyl group. Where R95~ R 97
May combine with each other to form a non-aromatic ring or an aromatic ring.
X-Is R-SOThree -Represents R is an aliphatic hydrocarbon group or
Represents an aromatic hydrocarbon group. In the formula (IX), R98Is simple
Alkylene group, arylene group, or a combination thereof.
Represents a divalent group. A50Is the functional group shown below
Indicates the difference.

【0027】[0027]

【化16】 Embedded image

【0028】R99は、水素原子またはアルキル基を表
す。式(X)中、R100は、鎖状又は環状アルキル基、
アリール基又はアラルキル基を表す。
R 99 represents a hydrogen atom or an alkyl group. In the formula (X), R 100 is a chain or cyclic alkyl group,
Represents an aryl group or an aralkyl group.

【0029】(2)(B)成分の樹脂が、更に下記式
(XI)で表される繰り返し単位を含有することを特徴
とする上記(1)に記載の遠紫外線露光用ポジ型フォト
レジスト組成物。
(2) The positive photoresist composition for deep ultraviolet exposure according to the above (1), wherein the resin of the component (B) further contains a repeating unit represented by the following formula (XI). object.

【0030】[0030]

【化17】 Embedded image

【0031】一般式(XI)において、R91c、X5c及
びBcは、各々、上記一般式(III)においてのR91、X5
及びBと同様である。R92cは下記一般式(XI’)で
表される基を表す。
[0031] In the general formula (XI), R 91 c, X 5 c and Bc, respectively, R 91, X 5 in the above general formula (III)
And B. R 92c represents a group represented by the following general formula (XI ′).

【0032】[0032]

【化18】 Embedded image

【0033】一般式(XI’)において、R2c〜R4c
は、各々独立に水素原子又は水酸基を表す。ただし、R
2c〜R4cのうち少なくとも1つは水酸基を表す。 (3)更にフッ素系及び/叉はシリコン系界面活性剤を
含有することを特徴とする上記(1)又は(2)に記載
の遠紫外線露光用ポジ型フォトレジスト組成物。 (4) 更に有機塩基性化合物を含有することを特徴と
する上記(1)〜(3)のいずれかに記載の遠紫外線露
光用ポジ型フォトレジスト組成物。
In the general formula (XI ′), R 2 c to R 4 c
Each independently represents a hydrogen atom or a hydroxyl group. Where R
At least one of 2 c to R 4 c represents a hydroxyl group. (3) The positive photoresist composition for deep ultraviolet exposure according to the above (1) or (2), further comprising a fluorine-based and / or silicon-based surfactant. (4) The positive photoresist composition for deep UV exposure according to any one of the above (1) to (3), further comprising an organic basic compound.

【0034】更に、以下の態様も好ましい。 (5)X-のRFがCF3(CF2)y(ここで、yは1〜1
5の整数である)で示されるフッ素置換直鎖状アルキル
基であることを特徴とする上記(1)〜(4)のいずれ
かに記載のポジ型レジスト組成物。 (6)yが1〜9の整数であることを特徴とする上記
(5)に記載のポジ型レジスト組成物。 (7)yが1〜5の整数であることを特徴とする上記
(5)に記載のポジ型レジスト組成物。
Further, the following embodiments are also preferable. (5) X - R F is CF 3 (CF 2) of y (where, y is 1 to 1
The positive resist composition according to any one of the above (1) to (4), wherein the positive resist composition is a fluorine-substituted linear alkyl group represented by the following formula: (6) The positive resist composition according to the above (5), wherein y is an integer of 1 to 9. (7) The positive resist composition according to the above (5), wherein y is an integer of 1 to 5.

【0035】[0035]

【発明の実施の形態】以下、本発明に使用する化合物に
ついて詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, the compounds used in the present invention will be described in detail.

【0036】〔1〕光酸発生剤 本発明にでは、光酸発生剤として、(A)活性光線又は
放射線の照射によりスルホン酸を発生する、上記一般式
(I’)〜(III’)で表される化合物を使用する。
[1] Photoacid Generator In the present invention, as the photoacid generator, (A) a sulfonic acid which is generated by irradiation with an actinic ray or radiation; The compounds represented are used.

【0037】一般式(I')〜(III')において、R51
〜R88の直鎖状、分岐状アルキル基としては、置換基を
有してもよい、メチル基、エチル基、プロピル基、n−
ブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基、t−アミ
ル基のような炭素数1〜5個のものが挙げられる。環状
アルキル基としては、置換基を有してもよい、シクロプ
ロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基のよう
な炭素数3〜8個のものが挙げられる。R51〜R87の直
鎖状、分岐状アルコキシ基としては、例えば、メトキシ
基、エトキシ基、ヒドロキシエトキシ基、プロポキシ
基、n−ブトキシ基、イソブトキシ基、sec−ブトキ
シ基、t−ブトキシ基のような炭素数1〜4個のものが
挙げられる。
In the general formulas (I ′) to (III ′), R 51
To R 88 linear, as the branched alkyl group may have a substituent, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, n-
Examples thereof include those having 1 to 5 carbon atoms such as a butyl group, a sec-butyl group, a t-butyl group and a t-amyl group. Examples of the cyclic alkyl group include those having 3 to 8 carbon atoms which may have a substituent, such as a cyclopropyl group, a cyclopentyl group and a cyclohexyl group. Examples of the linear or branched alkoxy group represented by R 51 to R 87 include a methoxy group, an ethoxy group, a hydroxyethoxy group, a propoxy group, an n-butoxy group, an isobutoxy group, a sec-butoxy group and a t-butoxy group. Such a C1-C4 thing is mentioned.

【0038】環状アルコキシ基としては、例えば、シク
ロペンチルオキシ基、シクロヘキシルオキシ基が挙げら
れる。R51〜R87のハロゲン原子としては、フッ素原
子、塩素原子、臭素原子、沃素原子を挙げることができ
る。R88のアリール基としては、例えば、フェニル基、
トリル基、メトキシフェニル基、ナフチル基のような置
換基を有してもよい炭素数6〜14個のものが挙げられ
る。これらの置換基として好ましくは、炭素数1〜4個
のアルコキシ基、ハロゲン原子(例えば、フッ素原子、
塩素原子、沃素原子)、炭素数6〜10個のアリール
基、炭素数2〜6個のアルケニル基、シアノ基、ヒドロ
キシ基、カルボキシ基、アルコキシカルボニル基、ニト
ロ基等が挙げられる。
Examples of the cyclic alkoxy group include a cyclopentyloxy group and a cyclohexyloxy group. Examples of the halogen atom for R 51 to R 87 include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom and an iodine atom. Examples of the aryl group for R 88 include a phenyl group,
Those having 6 to 14 carbon atoms which may have a substituent such as a tolyl group, a methoxyphenyl group and a naphthyl group are exemplified. As these substituents, an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, a halogen atom (for example, a fluorine atom,
A chlorine atom, an iodine atom), an aryl group having 6 to 10 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 6 carbon atoms, a cyano group, a hydroxy group, a carboxy group, an alkoxycarbonyl group, and a nitro group.

【0039】また、R51〜R65、R66〜R77、R78〜R
87のうち、2つ以上が結合して形成する、単結合、炭
素、酸素、イオウ、及び窒素から選択される1種又は2
種以上を含む環としては、例えば、フラン環、ジヒドロ
フラン環、ピラン環、トリヒドロピラン環、チオフェン
環、ピロール環等を挙げることができる。
R 51 to R 65 , R 66 to R 77 , R 78 to R
87 or one or more selected from the group consisting of a single bond, carbon, oxygen, sulfur, and nitrogen, formed by bonding two or more of them;
Examples of the ring containing more than one kind include a furan ring, a dihydrofuran ring, a pyran ring, a trihydropyran ring, a thiophene ring, a pyrrole ring, and the like.

【0040】一般式(I')〜(III')において、X
-は、RFSO3 -で表されるアニオンである。ここでRF
は、炭素数が2以上、好ましくは炭素数2〜10、より
好ましくは炭素数2〜8、より好ましくは炭素数2〜5
のフッ素置換された直鎖状、分岐状あるいは環状アルキ
ル基である。好ましいRFとしては、CF3(CF2)yで
表され、yが1〜15の整数であるフッ素置換直鎖状ア
ルキル基であり、より好ましくはyが1〜9の整数、さ
らに好ましくはyが1〜5の整数のフッ素置換直鎖状ア
ルキル基である。これらのフッ素置換直鎖状アルキル基
〔CF3(CF2)y〕を用いることにより、感度、解像力
のバランスに優れ、また露光から後加熱までの経時によ
っても性能変化が小さくなる。RFとしては、具体的に
は、CF3CF2−、CF3(CF22−、CF3(C
23−、CF3(CF24−、CF3(CF25−、C
3(CF27−、CF3(CF29−、CF3(CF2
11−、CF3(CF213−、CF3(CF215−であ
り、好ましくはCF3CF2−、CF3(CF22−、C
3(CF23−、CF 3(CF24−、CF3(CF2
5−、CF3(CF27−、CF3(CF29−であり、
更に好ましくはCF3CF2−、CF3(CF22−、C
3(CF23−、CF3(CF24−、CF3(CF2
5−である。特に好ましくはCF3(CF2 3−である。
In the general formulas (I ') to (III'), X
-Is RFSOThree -Is an anion represented by Where RF
Has 2 or more carbon atoms, preferably 2 to 10 carbon atoms,
Preferably it has 2 to 8 carbon atoms, more preferably 2 to 5 carbon atoms.
Fluorine-substituted linear, branched or cyclic alkyl
Group. Preferred RFAs CFThree(CFTwo) y
Wherein y is an integer of 1 to 15,
A alkyl group, more preferably y is an integer of 1 to 9,
More preferably, y is an integer of 1 to 5 and
Is a alkyl group. These fluorine-substituted linear alkyl groups
[CFThree(CFTwo) y], sensitivity and resolution
Excellent balance between exposure and post-heating.
However, the performance change is small. RFAs a specific
Is CFThreeCFTwo-, CFThree(CFTwo)Two-, CFThree(C
FTwo)Three-, CFThree(CFTwo)Four-, CFThree(CFTwo)Five-, C
FThree(CFTwo)7-, CFThree(CFTwo)9-, CFThree(CFTwo)
11-, CFThree(CFTwo)13-, CFThree(CFTwo)15-
And preferably CFThreeCFTwo-, CFThree(CFTwo)Two-, C
FThree(CFTwo)Three-, CF Three(CFTwo)Four-, CFThree(CFTwo)
Five-, CFThree(CFTwo)7-, CFThree(CFTwo)9-
More preferably CFThreeCFTwo-, CFThree(CFTwo)Two-, C
FThree(CFTwo)Three-, CFThree(CFTwo)Four-, CFThree(CFTwo)
Five-. Particularly preferably CFThree(CFTwo) Three-.

【0041】特に好ましい光酸発生剤は、一般式
(I')で表され、かつX-がCF3(CF2) 3SO3 -であ
る化合物である。
Particularly preferred photoacid generators have the general formula
(I ′) and X-Is CFThree(CFTwo) ThreeSOThree -In
Compound.

【0042】このようなアニオン部がフッ素置換された
アルキル基を有するスルホン酸アニオンで構成されてい
る一般式(I')〜(III')で表される化合物を光酸発
生剤として用い、かつ前記特定構造の樹脂(B)と組み
合わせることにより、本発明のポジ型レジスト組成物
は、遠紫外光、とくにArFエキシマレーザー光(波長
193nm)の露光に対する十分な感度及び解像力を有
し、しかも露光マージンの改善効果が優れる。
The compounds represented by the general formulas (I ') to (III') in which such an anion portion is constituted by a sulfonate anion having a fluorine-substituted alkyl group are used as a photoacid generator, and When combined with the resin (B) having the specific structure, the positive resist composition of the present invention has sufficient sensitivity and resolution for exposure to far ultraviolet light, particularly ArF excimer laser light (wavelength: 193 nm), and Excellent margin improvement effect.

【0043】一般式(I')〜(III')で表される光酸
発生剤の具体例として、下記の化合物(I−1)〜(I
−32)、(II−1)〜(II−11)、(III−1)〜
(III−22)を挙げることができる。
As specific examples of the photoacid generators represented by the general formulas (I ') to (III'), the following compounds (I-1) to (I)
-32), (II-1) to (II-11), (III-1) to
(III-22).

【0044】[0044]

【化19】 Embedded image

【0045】[0045]

【化20】 Embedded image

【0046】[0046]

【化21】 Embedded image

【0047】[0047]

【化22】 Embedded image

【0048】[0048]

【化23】 Embedded image

【0049】[0049]

【化24】 Embedded image

【0050】[0050]

【化25】 Embedded image

【0051】[0051]

【化26】 Embedded image

【0052】[0052]

【化27】 Embedded image

【0053】[0053]

【化28】 Embedded image

【0054】上記一般式(I')〜(III')で表される
光酸発生剤の添加量は、組成物中の固形分を基準とし
て、通常0.001〜20重量%の範囲で用いられ、好
ましくは0.01〜15重量%、更に好ましくは0.1
〜10重量%の範囲で使用される。光酸発生剤の添加量
が、0.001重量%より少ないと感度が低くなり、ま
た添加量が20重量%より多いとレジストの光吸収が高
くなりすぎ、プロファイルの悪化や、プロセス(特にベ
ーク)マージンが狭くなり好ましくない。尚、スルフォ
ニウム塩の使用がデフォーカスラチチュードの点でやや
好ましい。
The amount of the photoacid generators represented by the above general formulas (I ′) to (III ′) is usually in the range of 0.001 to 20% by weight based on the solid content in the composition. And preferably 0.01 to 15% by weight, more preferably 0.1 to 15% by weight.
It is used in the range of 10 to 10% by weight. If the amount of the photoacid generator is less than 0.001% by weight, the sensitivity becomes low. If the amount is more than 20% by weight, the light absorption of the resist becomes too high, and the profile deteriorates and the process (especially baking) ) The margin is undesirably narrow. Note that the use of a sulfonium salt is slightly preferable in terms of defocus latitude.

【0055】一般式(I')、一般式(II')で表される
化合物は、例えば、アリールマグネシウムブロミドなど
のアリールグリニャール試薬と置換又は無置換のフェニ
ルスルホキシドを反応させ、得られたトリアリールスル
ホニウムハライドを対応するスルホン酸と塩交換する方
法で合成できる。また、置換又は無置換のフェニルスル
ホキシドと対応する芳香族化合物をメタンスルホン酸/
五酸化二リンあるいは塩化アルミニウムなどの酸触媒を
用いて縮合、塩交換する方法、ジアリールヨードニウム
塩とジアリールスルフィドを酢酸銅などの触媒を用いて
縮合、塩交換する方法などによって合成できる。塩交換
は、いったんハライド塩に導いた後に酸化銀などの銀試
薬を用いてスルホン酸塩に変換する方法、あるいはイオ
ン交換樹脂を用いることでも塩交換できる。また、塩交
換に用いるスルホン酸あるいはスルホン酸塩は、市販の
ものを用いるか、あるいは市販のスルホン酸ハライドの
加水分解などによって得ることができる。一般式(II
I')で表される化合物は、過ヨウ素酸塩を用いて芳香族
化合物を反応させ、得られたヨードニウム塩を対応する
スルホン酸に塩交換することにより合成可能である。
The compounds represented by the general formulas (I ') and (II') are obtained by reacting an aryl Grignard reagent such as arylmagnesium bromide with a substituted or unsubstituted phenyl sulfoxide to obtain a triaryl compound. It can be synthesized by salt exchange of a sulfonium halide with a corresponding sulfonic acid. Further, a substituted or unsubstituted phenyl sulfoxide and an aromatic compound corresponding to
It can be synthesized by a method of condensation and salt exchange using an acid catalyst such as diphosphorus pentoxide or aluminum chloride, and a method of condensation and salt exchange between a diaryliodonium salt and a diarylsulfide using a catalyst such as copper acetate. The salt exchange can be performed by a method of once converting to a halide salt and then converting it to a sulfonate using a silver reagent such as silver oxide, or by using an ion exchange resin. The sulfonic acid or sulfonic acid salt used for the salt exchange may be a commercially available one, or may be obtained by hydrolysis of a commercially available sulfonic acid halide. General formula (II
The compound represented by I ') can be synthesized by reacting an aromatic compound with periodate and subjecting the obtained iodonium salt to salt exchange with the corresponding sulfonic acid.

【0056】本発明のポジ型レジスト組成物には、上記
一般式(I')〜(III')で表される化合物以外の光酸
発生剤を併用することができる。併用してもよい光酸発
生剤の添加量は、上記一般式(I')〜(III')で表さ
れる光酸発生剤に対して1000重量%以下であり、好
ましくは700重量%以下であり、更に好ましくは50
0重量%以下である。併用することができる光酸発生剤
としては、光カチオン重合の光開始剤、光ラジカル重合
の光開始剤、色素類の光消色剤、光変色剤、あるいはマ
イクロレジスト等に使用されている公知の光(400〜
200nmの紫外線、遠紫外線、特に好ましくは、g
線、h線、i線、KrFエキシマレーザー光)、ArF
エキシマレーザー光、電子線、X線、分子線又はイオン
ビームにより酸を発生する化合物及びそれらの混合物を
適宜に選択して使用することができる。
In the positive resist composition of the present invention, a photoacid generator other than the compounds represented by formulas (I ') to (III') can be used in combination. The amount of the photoacid generator that may be used in combination is 1000% by weight or less, preferably 700% by weight or less based on the photoacid generators represented by the above general formulas (I ′) to (III ′). And more preferably 50
0% by weight or less. Known photoacid generators that can be used in combination include photoinitiators for photocationic polymerization, photoinitiators for photoradical polymerization, photodecolorants for dyes, photochromic agents, and microresists. Light (400 ~
200 nm ultraviolet light, far ultraviolet light, particularly preferably g
Line, h line, i line, KrF excimer laser light), ArF
A compound capable of generating an acid by excimer laser light, electron beam, X-ray, molecular beam or ion beam and a mixture thereof can be appropriately selected and used.

【0057】また、その他の本発明に用いられる併用可
能な光酸発生剤としては、たとえばジアゾニウム塩、ア
ンモニウム塩、ホスホニウム塩、ヨードニウム塩、スル
ホニウム塩、セレノニウム塩、アルソニウム塩等のオニ
ウム塩、有機ハロゲン化合物、有機金属/有機ハロゲン
化物、o−ニトロベンジル型保護基を有する光酸発生
剤、イミノスルフォネ−ト等に代表される光分解してス
ルホン酸を発生する化合物、ジスルホン化合物、ジアゾ
ケトスルホン、ジアゾジスルホン化合物等を挙げること
ができる。また、これらの光により酸を発生する基、あ
るいは化合物をポリマーの主鎖又は側鎖に導入した化合
物を用いることができる。
Other photoacid generators which can be used in combination in the present invention include, for example, onium salts such as diazonium salts, ammonium salts, phosphonium salts, iodonium salts, sulfonium salts, selenonium salts, arsonium salts, and the like, and organic halides. Compounds, organometallic / organic halides, photoacid generators having an o-nitrobenzyl-type protecting group, compounds that generate sulfonic acid upon photolysis represented by iminosulfonate, disulfone compounds, diazoketosulfones, diazo Disulfone compounds and the like can be mentioned. Further, a group in which an acid is generated by such light or a compound in which a compound is introduced into a main chain or a side chain of a polymer can be used.

【0058】さらにV.N.R.Pillai,Synthesis,(1),1(198
0)、A.Abad etal,Tetrahedron Lett.,(47)4555(1971)、
D.H.R.Barton etal,J.Chem.Soc.,(C),329(1970)、米国
特許第3,779,778号、欧州特許第126,712号等に記載の光
により酸を発生する化合物も使用することができる。
Further, VNRPillai, Synthesis, (1), 1 (198
0), A. Abad etal, Tetrahedron Lett., (47) 4555 (1971),
Compounds that generate an acid by light described in DHR Barton et al., J. Chem. Soc., (C), 329 (1970), U.S. Pat. No. 3,779,778, and EP 126,712 can also be used.

【0059】上記併用可能な酸を発生する化合物の中
で、特に有効に用いられるものについて以下に説明す
る。 (1)トリハロメチル基が置換した下記一般式(PAG
1)で表されるオキサゾール誘導体又は一般式(PAG
2)で表されるS−トリアジン誘導体。
Among the above-mentioned compounds capable of generating an acid which can be used in combination, those which are particularly effectively used are described below. (1) The following general formula (PAG) substituted with a trihalomethyl group
The oxazole derivative represented by 1) or the general formula (PAG)
An S-triazine derivative represented by 2).

【0060】[0060]

【化29】 Embedded image

【0061】式中、R201は置換もしくは未置換のアリ
ール基、アルケニル基、R202は置換もしくは未置換の
アリール基、アルケニル基、アルキル基、−C(Y)3
をしめす。Yは塩素原子又は臭素原子を示す。具体的に
は以下の化合物を挙げることができるがこれらに限定さ
れるものではない。
In the formula, R 201 is a substituted or unsubstituted aryl group or alkenyl group, and R 202 is a substituted or unsubstituted aryl group, alkenyl group, alkyl group, —C (Y) 3
Show Y represents a chlorine atom or a bromine atom. Specific examples include the following compounds, but the present invention is not limited thereto.

【0062】[0062]

【化30】 Embedded image

【0063】(2)下記の一般式(PAG3)で表され
るヨードニウム塩、又は一般式(PAG4)で表される
スルホニウム塩。
(2) An iodonium salt represented by the following formula (PAG3) or a sulfonium salt represented by the following formula (PAG4).

【0064】[0064]

【化31】 Embedded image

【0065】ここで式Ar1、Ar2は、各々独立に、置
換もしくは未置換のアリール基を示す。R203、R204
205は、各々独立に、置換もしくは未置換のアルキル
基、アリール基を示す。
Here, the formulas Ar 1 and Ar 2 each independently represent a substituted or unsubstituted aryl group. R 203 , R 204 ,
R 205 each independently represents a substituted or unsubstituted alkyl group or aryl group.

【0066】Z-は、対アニオンを示し、例えばB
4 -、AsF6 -、PF6 -、SbF6 -、SiF6 2-、Cl
4 -、CF3SO3 -、ペンタフルオロベンゼンスルホン
酸アニオン、ナフタレン−1−スルホン酸アニオン等の
縮合多核芳香族スルホン酸アニオン、アントラキノンス
ルホン酸 アニオン、スルホン酸基含有染料等を挙げる
ことができるがこれらに限定されるものではない。
Z - represents a counter anion, for example, B
F 4 , AsF 6 , PF 6 , SbF 6 , SiF 6 2− , Cl
Condensed polynuclear aromatic sulfonic acid anions such as O 4 , CF 3 SO 3 , pentafluorobenzene sulfonic acid anion, naphthalene-1-sulfonic acid anion, anthraquinone sulfonic acid anion, and sulfonic acid group-containing dyes. Is not limited to these.

【0067】またR203、R204、R205のうちの2つ及
びAr1、Ar2はそれぞれの単結合又は置換基を介して
結合してもよい。
Further, two of R 203 , R 204 and R 205 and Ar 1 and Ar 2 may be bonded through a single bond or a substituent.

【0068】具体例としては以下に示す化合物が挙げら
れるが、これらに限定されるものではない。
Specific examples include the following compounds, but are not limited thereto.

【0069】[0069]

【化32】 Embedded image

【0070】[0070]

【化33】 Embedded image

【0071】[0071]

【化34】 Embedded image

【0072】[0072]

【化35】 Embedded image

【0073】[0073]

【化36】 Embedded image

【0074】[0074]

【化37】 Embedded image

【0075】[0075]

【化38】 Embedded image

【0076】[0076]

【化39】 Embedded image

【0077】[0077]

【化40】 Embedded image

【0078】上記において、Phはフェニル基を表す。
一般式(PAG3)、(PAG4)で示される上記オニ
ウム塩は公知であり、例えば、米国特許第2,807,648 号
及び同4,247,473号、特開昭53-101,331号等に記載の方
法により合成することができる。
In the above, Ph represents a phenyl group.
The onium salts represented by the general formulas (PAG3) and (PAG4) are known and can be synthesized, for example, by the methods described in U.S. Pat. Nos. 2,807,648 and 4,247,473 and JP-A-53-101,331. .

【0079】(3)下記一般式(PAG5)で表される
ジスルホン誘導体又は一般式(PAG6)で表されるイ
ミノスルホネート誘導体。
(3) Disulfone derivatives represented by the following formula (PAG5) or iminosulfonate derivatives represented by the following formula (PAG6).

【0080】[0080]

【化41】 Embedded image

【0081】式中、Ar3、Ar4は、各々独立に、置換
もしくは未置換のアリール基を示す。R206は置換もし
くは未置換のアルキル基、アリール基を示す。Aは置換
もしくは未置換のアルキレン基、アルケニレン基、アリ
ーレン基を示す。具体例としては以下に示す化合物が挙
げられるが、これらに限定されるものではない。
In the formula, Ar 3 and Ar 4 each independently represent a substituted or unsubstituted aryl group. R 206 represents a substituted or unsubstituted alkyl group or aryl group. A represents a substituted or unsubstituted alkylene group, alkenylene group, or arylene group. Specific examples include the following compounds, but are not limited thereto.

【0082】[0082]

【化42】 Embedded image

【0083】[0083]

【化43】 Embedded image

【0084】[0084]

【化44】 Embedded image

【0085】[0085]

【化45】 Embedded image

【0086】[0086]

【化46】 Embedded image

【0087】(4)下記一般式(PAG7)で表される
ジアゾジスルホン誘導体。
(4) A diazodisulfone derivative represented by the following general formula (PAG7).

【0088】[0088]

【化47】 Embedded image

【0089】ここでRは、直鎖、分岐又は環状アルキル
基、あるいは置換していてもよいアリール基を表す。具
体例としては以下に示す化合物が挙げられるが、これら
に限定されるものではない。
Here, R represents a linear, branched or cyclic alkyl group or an optionally substituted aryl group. Specific examples include the following compounds, but are not limited thereto.

【0090】[0090]

【化48】 Embedded image

【0091】[0091]

【化49】 Embedded image

【0092】〔2〕樹脂((B)成分) 次に、(B)上記一般式(I)で表される繰り返し単位
と、上記一般式(II)で表される繰り返し単位と、上
記一般式(III)で表される繰り返し単位とを有する酸
分解性樹脂(以下「本発明に係わる酸分解性樹脂」と略
称する)について説明する。
[2] Resin (component (B)) Next, (B) a repeating unit represented by the above general formula (I), a repeating unit represented by the above general formula (II), An acid-decomposable resin having a repeating unit represented by (III) (hereinafter, abbreviated as “acid-decomposable resin according to the present invention”) will be described.

【0093】上記一般式(I)に於いて、R11〜R
14は、各々独立に、酸の作用により分解する基、水素原
子、ハロゲン原子、シアノ基、−COOH、−COOR
15、−C(=O)−X−A−R16、又はアルキル基或い
は環状炭化水素基を表し、且つR 11〜R14の内少なくと
も1つは酸の作用により分解する基(酸分解性基)を表
す。また、R11〜R14のうち少なくとも2つが結合して
環を形成してもよい。nは0又は1を表す。ここで、R
15は、アルキル基、環状炭化水素基又は上記の−Y基を
表す。Xは、酸素原子、硫黄原子、−NH−、−NHS
2−、又は−NHSO2NH−を表す。Aは、単結合、
アルキレン基、シクロアルキレン基、エーテル基、チオ
エーテル基、カルボニル基、エステル基よりなる群から
選択される単独或いは2つ以上の基の組み合わせを表
す。R16は、−COOH、−COOR 15、−CN、水酸
基、アルコキシ基、−CO−NH−R17、−CO−NH
−SO 2−R17又は上記の−Y基を表す。R17は、アル
キル基又は環状炭化水素基を表す。上記の−Y基に於い
て、R21〜R30は、各々独立に、水素原子又はアルキル
基を表す。a、bは、1又は2を表す。
In the above general formula (I), R11~ R
14Are each independently a group that decomposes under the action of an acid,
, Halogen atom, cyano group, -COOH, -COOR
15, -C (= O) -XA-R16Or an alkyl group
Represents a cyclic hydrocarbon group, and R 11~ R14At least
One is a group decomposed by the action of an acid (acid-decomposable group).
You. Also, R11~ R14At least two of
A ring may be formed. n represents 0 or 1. Where R
15Represents an alkyl group, a cyclic hydrocarbon group or the above-described -Y group.
Represent. X represents an oxygen atom, a sulfur atom, -NH-, -NHS
OTwo-Or-NHSOTwoRepresents NH-. A is a single bond,
Alkylene group, cycloalkylene group, ether group, thio
From the group consisting of ether, carbonyl, and ester groups
Displays the selected single or combination of two or more groups.
You. R16Are -COOH, -COOR 15, -CN, hydroxyl
Group, alkoxy group, -CO-NH-R17, -CO-NH
-SO Two-R17Alternatively, it represents the above-described -Y group. R17Is al
Represents a kill group or a cyclic hydrocarbon group. In the above -Y group
And Rtwenty one~ R30Is each independently a hydrogen atom or an alkyl
Represents a group. a and b represent 1 or 2.

【0094】酸の作用により分解する基の構造として
は、−C(=O)−X1−Rp で表される。式中、Rp
としては、t−ブチル基、t−アミル基等の3級アルキ
ル基、イソボロニル基、1−エトキシエチル基、1−ブ
トキシエチル基、1−イソブトキシエチル基、1−シク
ロヘキシロキシエチル基等の1−アルコキシエチル基、
1−メトキシメチル基、1−エトキシメチル基等のアル
コキシメチル基、3−オキソアルキル基、テトラヒドロ
ピラニル基、テトラヒドロフラニル基、トリアルキルシ
リルエステル基、3−オキソシクロヘキシルエステル
基、2−メチル−2−アダマンチル基、メバロニックラ
クトン残基、2−(γ−ブチロラクトニルオキシカルボ
ニル)−2−プロピル基等を挙げることができる。X1
は、酸素原子、硫黄原子、−NH−、−NHSO2 −又
は−NHSO2 NH−を表す。
The structure of the group decomposed by the action of an acid is represented by —C (= O) —X 1 —R p . Where R p
A tertiary alkyl group such as a t-butyl group and a t-amyl group, an isobornyl group, a 1-ethoxyethyl group, a 1-butoxyethyl group, a 1-isobutoxyethyl group, and a 1-cyclohexyloxyethyl group. -An alkoxyethyl group,
1-methoxymethyl group, 1-ethoxymethyl group and other alkoxymethyl group, 3-oxoalkyl group, tetrahydropyranyl group, tetrahydrofuranyl group, trialkylsilyl ester group, 3-oxocyclohexyl ester group, 2-methyl-2 -Adamantyl group, mevalonic lactone residue, 2- (γ-butyrolactonyloxycarbonyl) -2-propyl group and the like. X 1
It represents an oxygen atom, a sulfur atom, -NH -, - NHSO 2 - or an -NHSO 2 NH-.

【0095】上記R11〜R14におけるハロゲン原子とし
ては、塩素原子、臭素原子、フッ素原子、沃素原子等を
挙げることができる。上記R11〜R14におけるアルキル
基としては、炭素数1〜10個の直鎖状あるいは分岐状
アルキル基が好ましく、より好ましくは炭素数1〜6個
の直鎖状あるいは分岐状アルキル基であり、更に好まし
くはメチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル
基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、
t−ブチル基である。上記R11〜R14における環状炭化
水素基としては、例えば環状アルキル基、有橋式炭化水
素であり、シクロプロピル基、シクロペンチル基、シク
ロヘキシル基、アダマンチル基、2−メチル−2−アダ
マンチル基、ノルボルニル基、ボロニル基、イソボロニ
ル基、トリシクロデカニル基、ジシクロペンテニル基、
ノボルナンエポキシ基、メンチル基、イソメンチル基、
ネオメンチル基、テトラシクロドデカニル基等を挙げる
ことができる。
Examples of the halogen atom in R 11 to R 14 include a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom and an iodine atom. As the alkyl group for R 11 to R 14, a linear or branched alkyl group having 1 to 10 carbon atoms is preferable, and a linear or branched alkyl group having 1 to 6 carbon atoms is more preferable. More preferably methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, sec-butyl group,
t-butyl group. Examples of the cyclic hydrocarbon group for R 11 to R 14 include a cyclic alkyl group and a bridged hydrocarbon group, such as a cyclopropyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, an adamantyl group, a 2-methyl-2-adamantyl group, and norbornyl. Group, boronyl group, isobornyl group, tricyclodecanyl group, dicyclopentenyl group,
Nobornane epoxy group, menthyl group, isomenthyl group,
Examples include a neomenthyl group and a tetracyclododecanyl group.

【0096】上記R11〜R14のうち少なくとも2つが結
合して形成する環としては、シクロペンテン、シクロヘ
キセン、シクロヘプタン、シクロオクタン等の炭素数5
〜12の環が挙げられる。上記R16におけるアルコキシ
基としては、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、
ブトキシ基等の炭素数1〜4個のものを挙げることがで
きる。上記アルキル基、環状炭化水素基、アルコキシ基
は、更に置換基を有していてもよく、置換基として、例
えば、水酸基、カルボキシル基、シアノ基、ハロゲン原
子(例えば塩素原子、臭素原子、フッ素原子、沃素原子
等)、アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜4、例え
ば、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ
基等)、アシル基(例えばホルミル基、アセチル基
等)、アシルオキシ基(例えばアセトキシ基等)等を挙
げることができる。
The ring formed by bonding at least two members out of R 11 to R 14 is preferably a ring having 5 carbon atoms such as cyclopentene, cyclohexene, cycloheptane and cyclooctane.
To 12 rings. Examples of the alkoxy group for R 16 include a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group,
Examples thereof include those having 1 to 4 carbon atoms such as a butoxy group. The alkyl group, cyclic hydrocarbon group, and alkoxy group may further have a substituent. Examples of the substituent include a hydroxyl group, a carboxyl group, a cyano group, and a halogen atom (eg, a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom). , An iodine atom, etc.), an alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms, such as methoxy group, ethoxy group, propoxy group, butoxy group, etc.), an acyl group (eg, formyl group, acetyl group, etc.), an acyloxy group (eg, acetoxy group) And the like).

【0097】上記Aにおけるアルキレン基としては、下
記式で表される基を挙げることができる。 −〔C(Rb )(Rc )〕r − 式中、Rb 、Rc は、水素原子、アルキル基、置換アル
キル基、ハロゲン原子、水酸基、アルコキシ基を表し、
両者は同一でも異なっていてもよい。アルキル基として
は、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル
基、ブチル基等の低級アルキル基が好ましく、更に好ま
しくはメチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル
基から選択される。置換アルキル基の置換基としては、
水酸基、ハロゲン原子、アルコキシ基(好ましくは炭素
数1〜4)を挙げることができる。アルコキシ基として
は、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ
基等の炭素数1〜4個のものを挙げることができる。ハ
ロゲン原子としては、塩素原子、臭素原子、フッ素原
子、沃素原子等を挙げることができる。rは1〜10の
整数を表す。
Examples of the alkylene group in the above A include groups represented by the following formula. -[C (R b ) (R c )] r-wherein R b and R c represent a hydrogen atom, an alkyl group, a substituted alkyl group, a halogen atom, a hydroxyl group, an alkoxy group,
Both may be the same or different. As the alkyl group, a lower alkyl group such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, and a butyl group is preferable, and a methyl group, an ethyl group, a propyl group, and an isopropyl group are more preferable. As the substituent of the substituted alkyl group,
Examples include a hydroxyl group, a halogen atom, and an alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms). Examples of the alkoxy group include those having 1 to 4 carbon atoms such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group and a butoxy group. Examples of the halogen atom include a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, and an iodine atom. r represents an integer of 1 to 10.

【0098】上記−Y基に於いて、R21〜R30は、各々
独立に、水素原子又はアルキル基を表す。a、bは、1
又は2を表す。上記R21〜R30に於けるアルキル基とし
ては、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、イソプ
ロピル基、ブチル基等を挙げることができる。R21〜R
30としてのアルキル基は置換基を有していてもよい。こ
の置換基としては、例えば、水酸基、カルボキシル基、
シアノ基、ハロゲン原子(例えば、塩素原子、臭素原
子、フッソ素原子、沃素原子)、アルコキシ基(好まし
くは炭素数1〜4、例えばメトキシ基、エトキシ基、プ
ロポキシ基、ブトキシ基等)、アシル基(好ましくは炭
素数2〜5、例えば、ホルミル基、アセチル基等)、ア
シルオキシ基(好ましくは炭素数2〜5、例えばアセト
キシ基)、アリール基(好ましくは炭素数6〜14、例
えばフェニル基)等を挙げることができる。
In the above -Y group, R 21 to R 30 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group. a and b are 1
Or 2 is represented. Examples of the alkyl group for R 21 to R 30 include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, and a butyl group. R 21 to R
The alkyl group as 30 may have a substituent. Examples of the substituent include a hydroxyl group, a carboxyl group,
Cyano group, halogen atom (for example, chlorine atom, bromine atom, fluorine atom, iodine atom), alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms, for example, methoxy group, ethoxy group, propoxy group, butoxy group, etc.), acyl group (Preferably having 2 to 5 carbon atoms, for example, formyl group, acetyl group, etc.), acyloxy group (preferably having 2 to 5 carbon atoms, for example, acetoxy group), aryl group (preferably having 6 to 14 carbon atoms, for example, phenyl group) And the like.

【0099】上記一般式(I)で表される繰り返し単位
の具体例として次の下記のものが挙げられるが、本発明
はこれらの具体例に限定されるものではない。
The following are specific examples of the repeating unit represented by the above general formula (I), but the present invention is not limited to these specific examples.

【0100】[0100]

【化50】 Embedded image

【0101】[0101]

【化51】 Embedded image

【0102】上記一般式(II)に於いて、Z2は、−
O−又は−N(R41)−を表す。ここでR41は、水素原
子、水酸基、アルキル基、ハロアルキル基又は−OSO
2−R42を表す。R42は、アルキル基、ハロアルキル
基、シクロアルキル基又は樟脳残基を表す。
In the general formula (II), Z 2 represents-
Represents O- or -N ( R41 )-. Here, R 41 represents a hydrogen atom, a hydroxyl group, an alkyl group, a haloalkyl group, or —OSO
Representing a 2 -R 42. R 42 represents an alkyl group, a haloalkyl group, a cycloalkyl group or a camphor residue.

【0103】上記R41及びR42におけるアルキル基とし
ては、炭素数1〜10個の直鎖状あるいは分岐状アルキ
ル基が好ましく、より好ましくは炭素数1〜6個の直鎖
状あるいは分岐状アルキル基であり、更に好ましくはメ
チル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−
ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、t−ブチ
ル基である。上記R41及びR42 におけるハロアルキル
基としてはトリフルオロメチル基、ナノフルオロブチル
基、ペンタデカフルオロオクチル基、トリクロロメチル
基等を挙げることができる。上記R42 におけるシクロ
アルキル基としては、シクロペンチル基、シクロヘキシ
ル基、シクロオクチル基等を挙げることができる。
The alkyl group for R 41 and R 42 is preferably a linear or branched alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, more preferably a linear or branched alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. And more preferably methyl, ethyl, propyl, isopropyl, n-
A butyl group, an isobutyl group, a sec-butyl group and a t-butyl group. Examples of the haloalkyl group for R 41 and R 42 include a trifluoromethyl group, a nanofluorobutyl group, a pentadecafluorooctyl group, and a trichloromethyl group. Examples of the cycloalkyl group for R 42 include a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, and a cyclooctyl group.

【0104】R41及びR42としてのアルキル基、ハロア
ルキル基、R42としてのシクロアルキル基又は樟脳残基
は置換基を有していてもよい。このような置換基として
は、例えば、水酸基、カルボキシル基、シアノ基、ハロ
ゲン原子(例えば、塩素原子、臭素原子、フッソ素原
子、沃素原子)、アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜
4、例えばメトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブ
トキシ基等)、アシル基(好ましくは炭素数2〜5、例
えば、ホルミル基、アセチル基等)、アシルオキシ基
(好ましくは炭素数2〜5、例えばアセトキシ基)、ア
リール基(好ましくは炭素数6〜14、例えばフェニル
基)等を挙げることができる。
The alkyl group, haloalkyl group as R 41 and R 42 , the cycloalkyl group as R 42 or the camphor residue may have a substituent. Examples of such a substituent include a hydroxyl group, a carboxyl group, a cyano group, a halogen atom (for example, a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, an iodine atom), and an alkoxy group (preferably having 1 to 1 carbon atoms).
4, for example, a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, a butoxy group, etc., an acyl group (preferably having 2 to 5 carbon atoms, for example, a formyl group, an acetyl group, etc.), an acyloxy group (preferably having 2 to 5 carbon atoms, for example, An acetoxy group) and an aryl group (preferably having 6 to 14 carbon atoms, for example, a phenyl group).

【0105】上記一般式(II)で表される繰り返し単
位の具体例として次の[I'−1]〜[I'−7]が挙げ
られるが、本発明はこれらの具体例に限定されるもので
はない。
Specific examples of the repeating unit represented by the general formula (II) include the following [I'-1] to [I'-7], but the present invention is limited to these specific examples. Not something.

【0106】[0106]

【化52】 Embedded image

【0107】[0107]

【化53】 Embedded image

【0108】次に、一般式(III)で表される繰り返し
単位について説明する。式(III)において、R91は、
水素原子、低級アルキル基、ハロゲン原子、又はシアノ
基を表す。R91の低級アルキル基としては、炭素数1〜
5のものが好ましく、メチル基、エチル基、プロピル
基、ブチル基、ペンチル基などが挙げられる。この低級
アルキル基は、更に置換基を有していてもよい。このよ
うな置換基としては、例えば、水酸基、カルボキシル
基、シアノ基、ハロゲン原子(例えば、塩素原子、臭素
原子、フッソ素原子、沃素原子)、アルコキシ基(好ま
しくは炭素数1〜4、例えばメトキシ基、エトキシ基、
プロポキシ基、ブトキシ基等)、アシル基(好ましくは
炭素数2〜5、例えば、ホルミル基、アセチル基等)、
アシルオキシ基(好ましくは炭素数2〜5、例えばアセ
トキシ基)、アリール基(好ましくは炭素数6〜14、
例えばフェニル基)等を挙げることができる。
Next, the repeating unit represented by formula (III) will be described. In the formula (III), R 91 is
Represents a hydrogen atom, a lower alkyl group, a halogen atom, or a cyano group. As the lower alkyl group for R 91 ,
5 are preferable, and examples thereof include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, and a pentyl group. This lower alkyl group may further have a substituent. Examples of such a substituent include a hydroxyl group, a carboxyl group, a cyano group, a halogen atom (eg, a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, an iodine atom) and an alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms, for example, methoxy group). Group, ethoxy group,
A propoxy group, a butoxy group and the like), an acyl group (preferably having 2 to 5 carbon atoms, such as a formyl group and an acetyl group),
An acyloxy group (preferably having 2 to 5 carbon atoms, for example, an acetoxy group), an aryl group (preferably having 6 to 14 carbon atoms,
For example, a phenyl group).

【0109】X5は、−O−、−S−、−NR93−、又
は−NR93SO2−を表す。R93は、水素原子、鎖状又
は環状アルキル基を表す。R93としての鎖状アルキル基
としては、低級アルキル基であり、炭素数1〜5のもの
が好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル
基、ペンチル基などが挙げられる。環状アルキル基とし
ては、例えば炭素数3〜12のものが挙げられる。これ
らは更に置換基を有していてもよく、置換基としては、
例えば、水酸基、カルボキシル基、シアノ基、ハロゲン
原子(例えば、塩素原子、臭素原子、フッソ素原子、沃
素原子)、アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜4、例
えばメトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ
基等)、アシル基(好ましくは炭素数2〜5、例えば、
ホルミル基、アセチル基等)、アシルオキシ基(好まし
くは炭素数2〜5、例えばアセトキシ基)、アリール基
(好ましくは炭素数6〜14、例えばフェニル基)等を
挙げることができる。
[0109] X 5 is, -O -, - S -, - NR 93 -, or -NR 93 SO 2 - it represents a. R 93 represents a hydrogen atom, a chain or a cyclic alkyl group. The chain alkyl group for R 93 is a lower alkyl group, preferably having 1 to 5 carbon atoms, and includes a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group and the like. Examples of the cyclic alkyl group include those having 3 to 12 carbon atoms. These may further have a substituent, as a substituent,
For example, a hydroxyl group, a carboxyl group, a cyano group, a halogen atom (eg, a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, an iodine atom), an alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms, for example, a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, Butoxy group), an acyl group (preferably having 2 to 5 carbon atoms, for example,
Examples thereof include a formyl group, an acetyl group and the like, an acyloxy group (preferably having 2 to 5 carbon atoms, for example, an acetoxy group), and an aryl group (preferably having 6 to 14 carbon atoms, for example, a phenyl group).

【0110】Bは、単結合または連結基を表す。Bの連
結基としては、例えばアルキレン基、シクロアルキレン
基、エーテル基、チオエーテル基、カルボニル基、エス
テル基よりなる群から選択される単独或いは2つ以上の
基の組み合わせを挙げることができる。Bのシクロアル
キレン基としては、好ましくは炭素数3〜10のものが
挙げられ、例えばシクロペンチレン基、シクロヘキシレ
ン基、シクロオクチレン基を挙げることができる。
B represents a single bond or a linking group. Examples of the linking group of B include a single or a combination of two or more groups selected from the group consisting of an alkylene group, a cycloalkylene group, an ether group, a thioether group, a carbonyl group, and an ester group. As the cycloalkylene group for B, those having 3 to 10 carbon atoms are preferable, and examples thereof include a cyclopentylene group, a cyclohexylene group, and a cyclooctylene group.

【0111】Bのアルキレン基としては、下記式で表さ
れる基を挙げることができる。 −〔C(RX )(RY )〕Z − Rx及びRyは、各々独立に、水素原子、水酸基、ハロゲ
ン原子、置換基を有していても良い、鎖状又は環状アル
キル基、アルコキシ基、アルケニル基、アリール基、又
はアラルキル基を表す。但し、Rx及びRyは互いに結合
して環状アルキル環を形成しても良い。
Examples of the alkylene group represented by B include groups represented by the following formula. -[C (R x ) ( RY )] Z -R x and R y are each independently a hydrogen atom, a hydroxyl group, a halogen atom, a linear or cyclic alkyl group, an alkoxy group which may have a substituent. , An alkenyl group, an aryl group, or an aralkyl group. However, Rx and Ry may combine with each other to form a cyclic alkyl ring.

【0112】Rx又はRyの鎖状アルキル基としては、直
鎖状あるいは分岐状のアルキル基が挙げられ、置換基を
有していてもよい。直鎖状、分岐状のアルキル基として
は、炭素数1〜12個の直鎖状あるいは分岐状アルキル
基が好ましく、より好ましくは炭素数1〜10個の直鎖
状あるいは分岐状アルキル基であり、更に好ましくはメ
チル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−
ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、ペンチル
基、ネオペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチ
ル基、ノニル基、デシル基である。環状のアルキル基と
しては、炭素数3〜30個のものが挙げられ、酸素原
子、窒素原子等のヘテロ原子を含んでいてもよい。具体
的には、シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロ
ヘキシル基、アダマンチル基、ノルボルニル基、ボロニ
ル基、トリシクロデカニル基、ジシクロペンテニル基、
ノボルナンエポキシ基、メンチル基、イソメンチル基、
ネオメンチル基、テトラシクロドデカニル基、ステロイ
ド残基、テトラヒドロピラニル基、モルホリノ基等を挙
げることができる。
Examples of the linear alkyl group for Rx or Ry include a linear or branched alkyl group, which may have a substituent. As the linear or branched alkyl group, a linear or branched alkyl group having 1 to 12 carbon atoms is preferable, and a linear or branched alkyl group having 1 to 10 carbon atoms is more preferable. , More preferably methyl, ethyl, propyl, isopropyl, n-
Butyl, isobutyl, sec-butyl, pentyl, neopentyl, hexyl, heptyl, octyl, nonyl, and decyl. Examples of the cyclic alkyl group include those having 3 to 30 carbon atoms, and may include a hetero atom such as an oxygen atom or a nitrogen atom. Specifically, a cyclopropyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, an adamantyl group, a norbornyl group, a boronyl group, a tricyclodecanyl group, a dicyclopentenyl group,
Nobornane epoxy group, menthyl group, isomenthyl group,
Examples include a neomenthyl group, a tetracyclododecanyl group, a steroid residue, a tetrahydropyranyl group, and a morpholino group.

【0113】アルコキシ基としては、一般的には炭素数
1〜12個、好ましくは炭素数1〜10個、更に好まし
くは1〜4個のものが挙げられ、例えば、メトキシ基、
エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基等を挙げること
ができる。アルケニル基としては、炭素数2〜6個のア
ルケニル基が挙げられ、置換基を有していてもよい。具
体的にはビニル基、プロペニル基、アリル基、ブテニル
基、ペンテニル基、ヘキセニル基、シクロペンテニル
基、シクロヘキセニル基、3−オキソシクロヘキセニル
基、3−オキソシクロペンテニル基、3−オキソインデ
ニル基等が挙げられる。これらのうち環状のアルケニル
基は酸素原子を含んでいてもよい。アリール基として
は、炭素数6〜10個のものが挙げられ、置換基を有し
ていてもよい。具体的にはフェニル基、トリル基、ナフ
チル基等が挙げられる。アラルキル基としては、ベンジ
ル基、フェネチル基、ナフチルメチル基、ナフチルエチ
ル基、メシチルメチル基を挙げることができる。
Examples of the alkoxy group include those having 1 to 12 carbon atoms, preferably 1 to 10 carbon atoms, and more preferably 1 to 4 carbon atoms.
An ethoxy group, a propoxy group, a butoxy group and the like can be mentioned. Examples of the alkenyl group include an alkenyl group having 2 to 6 carbon atoms, which may have a substituent. Specifically, a vinyl group, a propenyl group, an allyl group, a butenyl group, a pentenyl group, a hexenyl group, a cyclopentenyl group, a cyclohexenyl group, a 3-oxocyclohexenyl group, a 3-oxocyclopentenyl group, a 3-oxoindenyl group, and the like. No. Among these, the cyclic alkenyl group may contain an oxygen atom. The aryl group includes those having 6 to 10 carbon atoms, and may have a substituent. Specific examples include a phenyl group, a tolyl group, and a naphthyl group. Examples of the aralkyl group include a benzyl group, a phenethyl group, a naphthylmethyl group, a naphthylethyl group, and a mesitylmethyl group.

【0114】上記鎖状又は環状アルキル基、アルコキシ
基、アルケニル基、アリール基、又はアラルキル基が有
していてもよい置換基としては、例えば、カルボキシル
基、シアノ基、水酸基、ハロゲン原子(塩素原子、臭素
原子、フッ素原子、沃素原子等)、アルコキシ基(好ま
しくは炭素数1〜4、例えばメトキシ基、エトキシ基、
プロポキシ基、ブトキシ基)、アセチルアミド基、アル
コキシカルボニル基、アシル基(好ましくは炭素数2〜
10、例えば、ホルミル基、アセチル基、プロピオニル
基)、アシルオキシ基(好ましくは炭素数2〜10、例
えばアセトキシ基)、アリール基(好ましくは炭素数6
〜14、例えばフェニル基)が挙げられる。Rx又はRy
としてアリール基又はアラルキル基については、置換基
として、更にアルキル基(好ましくは炭素数1〜5、例
えばメチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル
基、ブチル基、シクロプロピル基、シクロブチル基、シ
クロペンチル基等)を有していてもよい。この置換基と
してのアルキル基は、更に水酸基、ハロゲン原子、アル
コキシ基(好ましくは炭素数1〜4、例えばメトキシ
基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基)等の置換
基を有していてもよい。Zは1〜10の整数であり、好
ましくは、1〜4である。
Examples of the substituent which the chain or cyclic alkyl group, alkoxy group, alkenyl group, aryl group or aralkyl group may have include, for example, a carboxyl group, a cyano group, a hydroxyl group, a halogen atom (a chlorine atom , A bromine atom, a fluorine atom, an iodine atom, etc.), an alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms, for example, a methoxy group, an ethoxy group,
Propoxy group, butoxy group), acetylamide group, alkoxycarbonyl group, acyl group (preferably having 2 to 2 carbon atoms)
10, for example, a formyl group, an acetyl group, a propionyl group), an acyloxy group (preferably having 2 to 10 carbon atoms, for example, an acetoxy group), and an aryl group (preferably having 6 carbon atoms)
To 14, for example, a phenyl group). Rx or Ry
The aryl group or the aralkyl group as the substituent, further includes an alkyl group (preferably having 1 to 5 carbon atoms, for example, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group) Etc.). The alkyl group as the substituent may further have a substituent such as a hydroxyl group, a halogen atom, an alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms, for example, a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, a butoxy group). . Z is an integer of 1 to 10, preferably 1 to 4.

【0115】R92は、水素原子、鎖状又は環状アルキル
基、アルコキシ基、水酸基、カルボキシ基、シアノ基、
−COOR94、又は上記一般式(IV)〜(X)のいず
れかで表される基を表す。R92及びR94としての鎖状ア
ルキル基としては、一般的には炭素数1〜30、好まし
くは6〜20のものが挙げられる。例えば、メチル基、
エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル
基、イソブチル基、sec−ブチル基、ペンチル基、ネ
オペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、
ノニル基、デシル基、ウンデシル基、ドデシル基、トリ
デシル基、テトラデシル基、ペンタデシル基、ヘキサデ
シル基、ヘプタデシル基、オクタデシル基、ノナデシル
基、エイコシル基等を挙げることができる。R92及びR
94としての環状アルキル基としては、一般的に炭素数3
〜40、好ましくは6〜20のものが挙げられる。例え
ば、シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキ
シル基、アダマンチル基、ノルボルニル基、ボロニル
基、トリシクロデカニル基、ジシクロペンテニル基、ノ
ボルナンエポキシ基、メンチル基、イソメンチル基、ネ
オメンチル基、テトラシクロドデカニル基、ステロイド
残基、テトラヒドロピラニル基、モルホリノ基等を挙げ
ることができる。
R 92 represents a hydrogen atom, a chain or cyclic alkyl group, an alkoxy group, a hydroxyl group, a carboxy group, a cyano group,
—COOR 94 or a group represented by any of the above formulas (IV) to (X). Examples of the chain alkyl group as R 92 and R 94 generally include those having 1 to 30 carbon atoms, preferably 6 to 20 carbon atoms. For example, a methyl group,
Ethyl group, propyl group, isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, sec-butyl group, pentyl group, neopentyl group, hexyl group, heptyl group, octyl group,
Nonyl, decyl, undecyl, dodecyl, tridecyl, tetradecyl, pentadecyl, hexadecyl, heptadecyl, octadecyl, nonadecyl, eicosyl and the like can be mentioned. R 92 and R
The cyclic alkyl group as 94 generally has 3 carbon atoms.
To 40, preferably 6 to 20. For example, cyclopropyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, adamantyl group, norbornyl group, boronyl group, tricyclodecanyl group, dicyclopentenyl group, nobornane epoxy group, menthyl group, isomenthyl group, neomenthyl group, tetracyclododecanyl Group, steroid residue, tetrahydropyranyl group, morpholino group and the like.

【0116】R92及びR94としての鎖状アルキル基は置
換基を有していてもよい。置換基としては、例えば、水
酸基、カルボキシル基、シアノ基、ハロゲン原子(例え
ば、塩素原子、臭素原子、フッソ素原子、沃素原子)、
アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜4、例えばメトキ
シ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基等)、ア
ルコキシカルボニル基、アシル基(好ましくは炭素数2
〜5、例えば、ホルミル基、アセチル基等)、アシルオ
キシ基(好ましくは炭素数2〜5、例えばアセトキシ
基)、アリール基(好ましくは炭素数6〜14、例えば
フェニル基)、アセチルアミド基等を挙げることができ
る。ここでアルコキシカルボニル基におけるアルコキシ
基としては、例えばメトキシ基、エトキシ基、プロポキ
シ基、ブトキシ基等の炭素数1〜4個のものを挙げるこ
とができる。R92及びR94としての環状アルキル基は、
置換基として、カルボキシル基、シアノ基、ハロゲン原
子(塩素原子、臭素原子、フッソ素原子、沃素原子)、
アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜4、例えばメトキ
シ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基等)、ア
ルコキシカルボニル基、アシル基(好ましくは炭素数2
〜5、例えば、ホルミル基、アセチル基等)、アシルオ
キシ基(好ましくは炭素数2〜5、例えばアセトキシ
基)、アリール基(好ましくは炭素数6〜14、例えば
フェニル基)、アセチルアミド基を有していてもよい。
ここでアルコキシカルボニル基におけるアルコキシ基と
しては、例えばメトキシ基、エトキシ基、プロポキシ
基、ブトキシ基等の炭素数1〜4個のものを挙げること
ができる。
The chain alkyl group as R 92 and R 94 may have a substituent. Examples of the substituent include a hydroxyl group, a carboxyl group, a cyano group, a halogen atom (eg, a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, an iodine atom),
An alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms, for example, methoxy group, ethoxy group, propoxy group, butoxy group, etc.), an alkoxycarbonyl group, an acyl group (preferably having 2 carbon atoms)
To 5, for example, a formyl group, an acetyl group, etc.), an acyloxy group (preferably, having 2 to 5 carbon atoms, for example, an acetoxy group), an aryl group (preferably having 6 to 14 carbon atoms, for example, a phenyl group), and an acetylamide group. Can be mentioned. Here, examples of the alkoxy group in the alkoxycarbonyl group include those having 1 to 4 carbon atoms such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group and a butoxy group. The cyclic alkyl group as R 92 and R 94 is
As a substituent, a carboxyl group, a cyano group, a halogen atom (a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, an iodine atom),
An alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms, for example, methoxy group, ethoxy group, propoxy group, butoxy group, etc.), an alkoxycarbonyl group, an acyl group (preferably having 2 carbon atoms)
To 5, for example, a formyl group, an acetyl group and the like), an acyloxy group (preferably having 2 to 5 carbon atoms, for example, an acetoxy group), an aryl group (preferably having 6 to 14 carbon atoms, for example, a phenyl group), and an acetylamide group. It may be.
Here, examples of the alkoxy group in the alkoxycarbonyl group include those having 1 to 4 carbon atoms such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group and a butoxy group.

【0117】R92が環状アルキル基である上記一般式
(III)で表される繰り返し単位として、下記の一般
式(IIIa)又は上記一般式(IIIb)で表される
繰り返し単位が好ましい。
As the repeating unit represented by the above formula (III) wherein R 92 is a cyclic alkyl group, a repeating unit represented by the following formula (IIIa) or (IIIb) is preferable.

【0118】[0118]

【化54】 Embedded image

【0119】一般式(IIIa)及び一般式(III
b)中、R0は、水素原子、低級アルキル基、ハロゲン
原子、シアノ基を表す。R61及びR62は、低級アルキル
基を表す。R63〜R68は、各々独立に水素原子、低級ア
ルキル基、低級アルコキシ基又はハロゲン原子を表す。
63とR64或いはR65とR66は、一緒になってカルボニ
ル基を形成してもよい。R63とR65は、連結してアルキ
レン鎖を形成してもよい。k及びlは、2〜5の整数で
ある。
The formula (IIIa) and the formula (III)
In b), R 0 represents a hydrogen atom, a lower alkyl group, a halogen atom, or a cyano group. R 61 and R 62 represent a lower alkyl group. R 63 to R 68 each independently represent a hydrogen atom, a lower alkyl group, a lower alkoxy group or a halogen atom.
R 63 and R 64 or R 65 and R 66 may together form a carbonyl group. R 63 and R 65 may be linked to form an alkylene chain. k and l are integers of 2 to 5.

【0120】上記一般式(IIIa)及び(IIIb)
で表される繰り返し単位においては、R61が結合してい
る3級炭素原子の存在により酸分解性を示す。R0は好
ましくは水素原子である。R0、R61〜R68としての低
級アルキル基は、炭素数1〜6であり、好ましくは炭素
数1〜4である。具体例として、例えば、メチル基、エ
チル基、直鎖又は分岐プロピル基、直鎖又は分岐ブチル
基を挙げることができる。R63〜R68としての低級アル
コキシ基は、炭素数1〜6であり、好ましくは炭素数1
〜4である。具体例として、例えば、メトキシ基、エト
キシ基、直鎖又は分岐プロポキシ基、直鎖又は分岐ブト
キシ基を挙げることができる。R0、R61〜R68として
の低級アルキル基及びR63〜R68としての低級アルコキ
シ基は、置換基を有していてもよい。置換基としては、
例えば、塩素原子、臭素原子等のハロゲン原子、メトキ
シ基、エトキシ基等のアルコキシ基(好ましくは炭素数
1〜3)等を挙げることができる。
The above general formulas (IIIa) and (IIIb)
In the repeating unit represented by, acid-decomposability is exhibited by the presence of a tertiary carbon atom to which R61 is bonded. R 0 is preferably a hydrogen atom. The lower alkyl group represented by R 0 and R 61 to R 68 has 1 to 6 carbon atoms, and preferably has 1 to 4 carbon atoms. Specific examples include, for example, a methyl group, an ethyl group, a linear or branched propyl group, and a linear or branched butyl group. The lower alkoxy group represented by R 63 to R 68 has 1 to 6 carbon atoms, preferably 1 carbon atom.
~ 4. Specific examples include a methoxy group, an ethoxy group, a linear or branched propoxy group, and a linear or branched butoxy group. The lower alkyl groups as R 0 and R 61 to R 68 and the lower alkoxy groups as R 63 to R 68 may have a substituent. As the substituent,
Examples thereof include a halogen atom such as a chlorine atom and a bromine atom, and an alkoxy group (preferably having 1 to 3 carbon atoms) such as a methoxy group and an ethoxy group.

【0121】R63とR64、又はR65とR66とは、一緒に
なってカルボニル基を形成してもよい。kとlは、好ま
しくは2〜4、更に好ましくは2又は3である。R63
65とが連結して形成してもよいアルキレン鎖として
は、メチレン鎖、エチレン鎖、プロピレン鎖等好ましく
は炭素数3以下である。
R 63 and R 64 , or R 65 and R 66 may together form a carbonyl group. k and l are preferably 2 to 4, more preferably 2 or 3. The alkylene chain which may be formed by linking R 63 and R 65 preferably has 3 or less carbon atoms, such as a methylene chain, an ethylene chain and a propylene chain.

【0122】R92のアルコキシ基としては、一般的には
炭素数1〜30、好ましくは3〜20、更に好ましくは
4〜15のものであり、例えば、メトキシ基、エトキシ
基、プロポキシ基、ブトキシ基等を挙げることができ
る。R92のアルコキシ基は、更に置換基を有していても
よく、置換基としては、例えば、R92としての鎖状又は
環状アルキル基への置換基として説明したものと同様で
ある。
The alkoxy group represented by R 92 generally has 1 to 30, preferably 3 to 20, more preferably 4 to 15 carbon atoms. Examples thereof include methoxy, ethoxy, propoxy and butoxy. And the like. The alkoxy group for R 92 may further have a substituent. Examples of the substituent are the same as those described as the substituent for the chain or cyclic alkyl group as R 92 .

【0123】以下、R92がアルキル基、アルコキシ基、
水素原子である一般式(III)で表される繰り返し単位、
及び一般式(IIIa)及び一般式(IIIb)で表さ
れる繰り返し単位の具体例を挙げるが、これらに限定さ
れるものではない。
In the following, R 92 is an alkyl group, an alkoxy group,
A repeating unit represented by the general formula (III), which is a hydrogen atom,
And specific examples of the repeating unit represented by general formula (IIIa) and general formula (IIIb), but are not limited thereto.

【0124】[0124]

【化55】 Embedded image

【0125】[0125]

【化56】 Embedded image

【0126】[0126]

【化57】 Embedded image

【0127】[0127]

【化58】 Embedded image

【0128】[0128]

【化59】 Embedded image

【0129】[0129]

【化60】 [Of 60]

【0130】*)括弧内の基の数が異なる単位の混合で
あり、平均で括弧内の基を1.4個有していることを表
す。
*) Units differing in the number of groups in parentheses are a mixture of units, and have an average of 1.4 groups in parentheses.

【0131】さらに、式(III)におけるR92が下記の
一般式(IV)で表される構造である繰り返し構造単位
について説明する。
Further, a repeating structural unit in which R 92 in the formula (III) is a structure represented by the following general formula (IV) will be described.

【0132】[0132]

【化61】 Embedded image

【0133】Ra1,Rb1,Rc1,Rd1,Re1は各
々独立に、水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基を表
す。m,nは各々独立に0〜3の整数を表し、m+n
は、2以上6以下である。Ra1〜Re1の炭素数1〜4
のアルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル
基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、s
ec−ブチル基、t−ブチル基等を挙げることができ
る。これらのアルキル基はアルコキシ基(好ましくは炭
素数1〜4)などの置換基で置換されていてもよい。
Ra 1 , Rb 1 , Rc 1 , Rd 1 , and Re 1 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms. m and n each independently represent an integer of 0 to 3;
Is 2 or more and 6 or less. Ra 1 to Re 1 having 1 to 4 carbon atoms
Examples of the alkyl group include methyl, ethyl, propyl, isopropyl, n-butyl, isobutyl, and s.
Examples thereof include an ec-butyl group and a t-butyl group. These alkyl groups may be substituted with a substituent such as an alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms).

【0134】以下、一般式(IV)の構造を有する繰り返
し構造単位の具体例を示すが、これらに限定されるもの
ではない。
Hereinafter, specific examples of the repeating structural unit having the structure of the general formula (IV) will be shown, but it should not be construed that the invention is limited thereto.

【0135】[0135]

【化62】 Embedded image

【0136】[0136]

【化63】 Embedded image

【0137】[0137]

【化64】 Embedded image

【0138】上記一般式(IV)の構造を有する繰り返
し単位の具体例において、露光マージンがより良好にな
るという点から(IV−17)〜(IV−36)が好ま
しい。更に一般式(IV)の構造としては、エッジラフ
ネスが良好になるという点からアクリレート構造を有す
るものが好ましい。
In the specific examples of the repeating unit having the structure of the general formula (IV), (IV-17) to (IV-36) are preferable in that the exposure margin becomes better. Further, as the structure of the general formula (IV), a structure having an acrylate structure is preferable from the viewpoint that edge roughness is improved.

【0139】さらに式(III)におけるR92が下記の一
般式(V−1)〜(V−4)のいずれかで表される基を
有する繰り返し単位構造について説明する。
The repeating unit structure in which R 92 in the formula (III) has a group represented by any of the following formulas (V-1) to (V-4) will be described.

【0140】[0140]

【化65】 Embedded image

【0141】一般式(V−1)〜(V−4)において、
1b〜R5bは、各々独立に水素原子、アルキル基、シク
ロアルキル基又はアルケニル基を表す。R1b〜R5bの内
の2つは、結合して環を形成してもよい。
In the general formulas (V-1) to (V-4),
R 1b to R 5b each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group or an alkenyl group. Two of R 1b to R 5b may combine to form a ring.

【0142】一般式(V−1)〜(V−4)において、
1b〜R5bにおけるアルキル基としては、直鎖状、分岐
状のアルキル基が挙げられる。直鎖状、分岐状のアルキ
ル基としては、炭素数1〜12個の直鎖状あるいは分岐
状アルキル基が好ましく、より好ましくは炭素数1〜1
0個の直鎖状あるいは分岐状アルキル基であり、更に好
ましくはメチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピ
ル基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル
基、t−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル
基、オクチル基、ノニル基、デシル基である。R1b〜R
5bにおけるシクロアルキル基としては、シクロプロピル
基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプ
チル基、シクロオクチル基等の炭素数3〜8個のものが
好ましい。R1b〜R5bにおけるアルケニル基としては、
例えばビニル基、プロペニル基、ブテニル基、ヘキセニ
ル基等の炭素数2〜6個のものが好ましい。また、R1b
〜R5bの内の2つが結合して形成する環としては、シク
ロプロパン環、シクロブタン環、シクロペンタン環、シ
クロヘキサン環、シクロオクタン環等の3〜8員環が挙
げられる。
In the general formulas (V-1) to (V-4),
Examples of the alkyl group for R 1b to R 5b include a linear or branched alkyl group. As the linear or branched alkyl group, a linear or branched alkyl group having 1 to 12 carbon atoms is preferable, and more preferably a linear or branched alkyl group having 1 to 12 carbon atoms.
0 linear or branched alkyl groups, more preferably methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, sec-butyl group, t-butyl group, pentyl group, Hexyl group, heptyl group, octyl group, nonyl group and decyl group. R 1b to R
The cycloalkyl group in 5b is preferably a cycloalkyl group having 3 to 8 carbon atoms such as a cyclopropyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a cycloheptyl group, and a cyclooctyl group. As the alkenyl group for R 1b to R 5b ,
For example, those having 2 to 6 carbon atoms such as a vinyl group, a propenyl group, a butenyl group and a hexenyl group are preferred. Also, R 1b
Examples of the ring formed by combining two of R to R5b include a 3- to 8-membered ring such as a cyclopropane ring, a cyclobutane ring, a cyclopentane ring, a cyclohexane ring, and a cyclooctane ring.

【0143】また、R1b〜R5bとしてのアルキル基、シ
クロアルキル基、アルケニル基及びR1b〜R5bの内の2
つが結合して形成する環は、それぞれ置換基を有してい
てもよい。好ましい置換基としては、水酸基、カルボキ
シ基、ニトロ基、シアノ基、ハロゲン原子(フッ素原
子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子)、炭素数1〜4
個のアルコキシ基、炭素数2〜5個のアルコキシカルボ
ニル基、炭素数2〜5個のアシル基、炭素数2〜5個の
アシロキシ基等を挙げることができる。なお、一般式
(V−1)〜(V−4)におけるR1b〜R5bは、環状骨
格を構成している炭素原子のいずれに連結していてもよ
い。
[0143] The alkyl group as R 1b to R 5b, cycloalkyl group, of the alkenyl group, and R 1b to R 5b 2
The rings formed by the bonding may each have a substituent. Preferred substituents include a hydroxyl group, a carboxy group, a nitro group, a cyano group, a halogen atom (a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom), and having 1 to 4 carbon atoms.
And C2 to C5 alkoxycarbonyl groups, C2 to C5 acyl groups, and C2 to C5 acyloxy groups. Note that R 1b to R 5b in the general formulas (V-1) to (V-4) may be connected to any of the carbon atoms constituting the cyclic skeleton.

【0144】一般式(V−1)〜(V−4)で表される
基を有する繰り返し単位として好ましいものとして、下
記一般式(AI)で表される繰り返し単位が挙げられ
る。
Preferred as a repeating unit having a group represented by any of formulas (V-1) to (V-4) is a repeating unit represented by the following formula (AI).

【0145】[0145]

【化66】 Embedded image

【0146】一般式(AI)中、Rb0は、水素原子、ハ
ロゲン原子、又は炭素数1〜4の置換もしくは非置換の
アルキル基を表す。Rb0のアルキル基が有していてもよ
い好ましい置換基としては、前記一般式(V−1)〜
(V−4)におけるR1bとしてのアルキル基が有してい
てもよい好ましい置換基として先に例示したものが挙げ
られる。Rb0のハロゲン原子としては、フッ素原子、塩
素原子、臭素原子、沃素原子を挙げることができる。R
b0は水素原子が好ましい。B2は、一般式(V−1)〜
(V−4)のうちのいずれかで示される基を表す。A’
は、式(III)におけるBの定義と同様である。A’に
おいて、該組み合わせた2価の基としては、例えば下記
式のものが挙げられる。
In the general formula (AI), R b0 represents a hydrogen atom, a halogen atom, or a substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 4 carbon atoms. Preferred substituents which the alkyl group of Rb0 may have are those represented by the general formulas (V-1) to (V-1).
Preferred examples of the substituent which may be possessed by the alkyl group as R 1b in (V-4) include those exemplified above. Examples of the halogen atom for R b0 include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom and an iodine atom. R
b0 is preferably a hydrogen atom. B 2 is represented by the general formula (V-1)
And represents a group represented by any of (V-4). A '
Is the same as defined for B in formula (III). In A ′, examples of the combined divalent group include those represented by the following formula.

【0147】[0147]

【化67】 Embedded image

【0148】上記式において、Rab、Rbbは、水素原
子、アルキル基、置換アルキル基、ハロゲン原子、水酸
基、アルコキシ基を表し、両者は同一でも異なっていて
もよい。アルキル基としては、メチル基、エチル基、プ
ロピル基、イソプロピル基、ブチル基等の低級アルキル
基が好ましく、更に好ましくはメチル基、エチル基、プ
ロピル基、イソプロピル基から選択される。置換アルキ
ル基の置換基としては、水酸基、ハロゲン原子、炭素数
1〜4のアルコキシ基を挙げることができる。アルコキ
シ基としては、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ
基、ブトキシ基等の炭素数1〜4個のものを挙げること
ができる。ハロゲン原子としては、塩素原子、臭素原
子、フッ素原子、沃素原子等を挙げることができる。r
1は1〜10の整数、好ましくは1〜4の整数を表す。
mは1〜3の整数、好ましくは1又は2を表す。
In the above formula, Rab and Rbb represent a hydrogen atom, an alkyl group, a substituted alkyl group, a halogen atom, a hydroxyl group, or an alkoxy group, and they may be the same or different. As the alkyl group, a lower alkyl group such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, and a butyl group is preferable, and a methyl group, an ethyl group, a propyl group, and an isopropyl group are more preferable. Examples of the substituent of the substituted alkyl group include a hydroxyl group, a halogen atom, and an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms. Examples of the alkoxy group include those having 1 to 4 carbon atoms such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group and a butoxy group. Examples of the halogen atom include a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, and an iodine atom. r
1 represents an integer of 1 to 10, preferably an integer of 1 to 4.
m represents an integer of 1 to 3, preferably 1 or 2.

【0149】以下に、一般式(AI)で表される繰り返
し単位の具体例を挙げるが、本発明の内容がこれらに限
定されるものではない。
Hereinafter, specific examples of the repeating unit represented by the formula (AI) will be shown, but the present invention is not limited thereto.

【0150】[0150]

【化68】 Embedded image

【0151】[0151]

【化69】 Embedded image

【0152】[0152]

【化70】 Embedded image

【0153】[0153]

【化71】 Embedded image

【0154】[0154]

【化72】 Embedded image

【0155】[0155]

【化73】 Embedded image

【0156】[0156]

【化74】 Embedded image

【0157】次に、式(III)におけるR92が下記の一
般式(VI)で表される構造を有する繰り返し構造単位
について説明する。
Next, a repeating structural unit in which R 92 in the formula (III) has a structure represented by the following general formula (VI) will be described.

【0158】[0158]

【化75】 [Of 75]

【0159】Zを含む有橋式脂環式環は、置換基を有し
ていてもよい。置換基としては、例えば、カルボキシル
基、水酸基、ハロゲン原子、アルキル基(好ましくは炭
素数1〜4)、アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜
4)、アルコキシカルボニル基(好ましくは炭素数2〜
5)、アシル基(例えば、ホルミル基、ベンゾイル
基)、アシロキシ基(例えば、プロピルカルボニルオキ
シ基、ベンゾイルオキシ基)、アルキルスルホニルスル
ファモイル基(-CONHSO2CH3等)が挙げられ
る。尚、置換基としてのアルキル基は、更に水酸基、ハ
ロゲン原子、アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜4)
等で置換されていてもよい。
The bridged alicyclic ring containing Z may have a substituent. Examples of the substituent include a carboxyl group, a hydroxyl group, a halogen atom, an alkyl group (preferably having 1 to 4 carbon atoms), and an alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms).
4), an alkoxycarbonyl group (preferably having 2 to 2 carbon atoms)
5), acyl groups (eg, formyl group, benzoyl group), acyloxy groups (eg, propylcarbonyloxy group, benzoyloxy group), and alkylsulfonylsulfamoyl groups (—CONHSO 2 CH 3 and the like). In addition, the alkyl group as a substituent further includes a hydroxyl group, a halogen atom, and an alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms).
And so on.

【0160】一般式(III)におけるBは、一般式(V
I)におけるZを含む有橋式脂環式環構造を構成する炭
素原子のいずれの位置で結合してもよい。
In the general formula (III), B represents the general formula (V
It may be bonded at any position of the carbon atom constituting the bridged alicyclic structure containing Z in I).

【0161】以下に、一般式(VI)で表される構造を
有する繰り返し単位の具体例を挙げるが、これらに限定
されるものではない。
Hereinafter, specific examples of the repeating unit having the structure represented by formula (VI) will be shown, but the invention is not limited thereto.

【0162】[0162]

【化76】 Embedded image

【0163】[0163]

【化77】 Embedded image

【0164】さらに、式(III)におけるR92が下記の
一般式(VII)で表される構造を有する繰り返し構造単
位について説明する。
Further, a repeating structural unit in which R 92 in the formula (III) has a structure represented by the following general formula (VII) will be described.

【0165】[0165]

【化78】 Embedded image

【0166】一般式(VII)において、R1d〜R8dは、
各々独立に、水素原子または鎖状アルキル基を表す。R
d0は、水素原子あるいは、鎖状又は環状アルキル基、ア
リール基又はアラルキル基を表す。mは、1〜10の整
数を表す。
In the general formula (VII), R 1d to R 8d are
Each independently represents a hydrogen atom or a chain alkyl group. R
d0 represents a hydrogen atom, a chain or cyclic alkyl group, an aryl group or an aralkyl group. m represents an integer of 1 to 10.

【0167】一般式(VII)におけるR1d〜R8d、Rd0
の鎖状アルキル基としては、直鎖状、分岐状あるいは環
状のアルキル基が挙げられ、置換基を有していてもよ
い。直鎖状、分岐状のアルキル基としては、炭素数1〜
12個の直鎖状あるいは分岐状アルキル基が好ましく、
より好ましくは炭素数1〜10個の直鎖状あるいは分岐
状アルキル基であり、更に好ましくはメチル基、エチル
基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソ
ブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基、ペンチル
基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、
デシル基である。Rd0の環状のアルキル基としては、炭
素数3〜30個のものが挙げられ、具体的には、シクロ
プロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、ア
ダマンチル基、ノルボルニル基、ボロニル基、トリシク
ロデカニル基、ジシクロペンテニル基、ノボルナンエポ
キシ基、メンチル基、イソメンチル基、ネオメンチル
基、テトラシクロドデカニル基、ステロイド残基等を挙
げることができる。
R 1d to R 8d and R d0 in the general formula (VII)
Examples of the chain alkyl group include a linear, branched or cyclic alkyl group, which may have a substituent. The linear or branched alkyl group has 1 to 1 carbon atoms.
Twelve linear or branched alkyl groups are preferred,
More preferably, it is a linear or branched alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and still more preferably, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, an isobutyl group, a sec-butyl group, and t -Butyl group, pentyl group, hexyl group, heptyl group, octyl group, nonyl group,
Decyl group. Examples of the cyclic alkyl group for R d0 include those having 3 to 30 carbon atoms, and specific examples thereof include a cyclopropyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, an adamantyl group, a norbornyl group, a boronyl group, and a tricyclodecanyl. Group, dicyclopentenyl group, nobornane epoxy group, menthyl group, isomenthyl group, neomenthyl group, tetracyclododecanyl group, steroid residue and the like.

【0168】Rd0のアリール基としては、炭素数6〜2
0個のものが挙げられ、置換基を有していてもよい。具
体的にはフェニル基、トリル基、ナフチル基等が挙げら
れる。Rd0のアラルキル基としては、炭素数7〜20個
のものが挙げられ、置換基を有していてもよい。ベンジ
ル基、フェネチル基、クミル基等が挙げられる。本発明
において、R1d〜R8dとしては、水素原子、メチル基が
好ましい。Rd0としては、水素原子、炭素数1〜4個の
アルキル基が好ましい。mは、1〜6が好ましい。
The aryl group represented by R d0 has 6 to 2 carbon atoms.
Zero thing is mentioned, and it may have a substituent. Specific examples include a phenyl group, a tolyl group, and a naphthyl group. The aralkyl group for R d0 includes those having 7 to 20 carbon atoms, and may have a substituent. Examples thereof include a benzyl group, a phenethyl group, and a cumyl group. In the present invention, R 1d to R 8d are preferably a hydrogen atom or a methyl group. As R d0 , a hydrogen atom and an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms are preferable. m is preferably 1 to 6.

【0169】上記鎖状又は環状アルキル基、アリール
基、アラルキル基、アルキレン基、環状アルキレン基、
アリーレン基における更なる置換基としては、カルボキ
シル基、シアノ基、水酸基、ハロゲン原子(例えば塩素
原子、臭素原子、フッ素原子、沃素原子等)、アルキル
基、置換アルキル基、アルコキシ基(好ましくは炭素数
1〜4、例えばメトキシ基、エトキシ基、プロポキシ
基、ブトキシ基等)、アルコキシカルボニル基、アシル
基、アシルオキシ基(例えばアセトキシ基)、アセチル
アミド基が挙げられる。ここでアルキル基としては、メ
チル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチ
ル基、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペン
チル基等の低級アルキル基を挙げることができる。置換
アルキル基の置換基としては、水酸基、ハロゲン原子、
アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜4)を挙げること
ができる。
The above-mentioned chain or cyclic alkyl group, aryl group, aralkyl group, alkylene group, cyclic alkylene group,
Further substituents in the arylene group include a carboxyl group, a cyano group, a hydroxyl group, a halogen atom (eg, a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, an iodine atom, etc.), an alkyl group, a substituted alkyl group, an alkoxy group (preferably having 1-4, for example, a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, a butoxy group, etc., an alkoxycarbonyl group, an acyl group, an acyloxy group (for example, an acetoxy group), and an acetylamide group. Here, examples of the alkyl group include lower alkyl groups such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, and a cyclopentyl group. Examples of the substituent of the substituted alkyl group include a hydroxyl group, a halogen atom,
An alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms) can be mentioned.

【0170】以下に、一般式(VII)で表される構造を
有する繰り返し単位の具体例を挙げるが、これらに限定
されるものではない。
Specific examples of the repeating unit having the structure represented by formula (VII) are shown below, but it should not be construed that the invention is limited thereto.

【0171】[0171]

【化79】 Embedded image

【0172】[0172]

【化80】 Embedded image

【0173】[0173]

【化81】 Embedded image

【0174】[0174]

【化82】 Embedded image

【0175】[0175]

【化83】 Embedded image

【0176】[0176]

【化84】 Embedded image

【0177】次に、式(III)におけるR92が下記の一
般式(VIII)で表される構造を有する繰り返し構造単
位について説明する。 −N+(R95)(R96)(R97)・X- (VIII)
Next, a description will be given of a repeating structural unit in which R 92 in the formula (III) has a structure represented by the following formula (VIII). −N + (R 95 ) (R 96 ) (R 97 ) · X (VIII)

【0178】一般式(VIII)中:R95〜R97は、各々
独立に、水素原子、置換基を有して良いアルキル基、ア
ルケニル基、アリール基、アラルキル基、環状アルキル
基を表す。但し、R95〜R 97は互いに結合して非芳香
環、芳香環を形成しても良い。
In the general formula (VIII): R95~ R97Are each
Independently, a hydrogen atom, an alkyl group which may have a substituent,
Lucenyl group, aryl group, aralkyl group, cyclic alkyl
Represents a group. Where R95~ R 97Are non-aromatic
A ring or an aromatic ring may be formed.

【0179】R95〜R97は、各々独立に、水素原子、鎖
状または環状アルキル基、アルケニル基、アリール基、
又はアラルキル基を表す。但し、R95〜R97は互いに結
合して非芳香環、芳香環を形成しても良い。鎖状アルキ
ル基としては、直鎖状あるいは分岐状のアルキル基が挙
げられ、置換基を有していてもよい。炭素数1〜12個
の直鎖状あるいは分岐状アルキル基が好ましく、より好
ましくは炭素数1〜10個の直鎖状あるいは分岐状アル
キル基であり、更に好ましくはメチル基、エチル基、プ
ロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル
基、sec−ブチル基、ペンチル基、ネオペンチル基、
ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、デシ
ル基である。
R 95 to R 97 each independently represent a hydrogen atom, a chain or cyclic alkyl group, an alkenyl group, an aryl group,
Or an aralkyl group. However, R 95 to R 97, taken together non-aromatic ring, may form an aromatic ring. Examples of the chain alkyl group include a linear or branched alkyl group, which may have a substituent. A linear or branched alkyl group having 1 to 12 carbon atoms is preferable, a linear or branched alkyl group having 1 to 10 carbon atoms is more preferable, and a methyl group, an ethyl group, and a propyl group are more preferable. , Isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, sec-butyl group, pentyl group, neopentyl group,
Hexyl group, heptyl group, octyl group, nonyl group and decyl group.

【0180】環状のアルキル基としては、炭素数3〜3
0個のものが挙げられ、酸素原子、窒素原子等のヘテロ
原子を含んでいてもよい。具体的には、シクロプロピル
基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、アダマンチ
ル基、ノルボルニル基、ボロニル基、トリシクロデカニ
ル基、ジシクロペンテニル基、ノボルナンエポキシ基、
メンチル基、イソメンチル基、ネオメンチル基、テトラ
シクロドデカニル基、ステロイド残基、テトラヒドロピ
ラニル基、モルホリノ基等を挙げることができる。
The cyclic alkyl group may have 3 to 3 carbon atoms.
Zero atoms are mentioned, and they may contain a hetero atom such as an oxygen atom or a nitrogen atom. Specifically, cyclopropyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, adamantyl group, norbornyl group, boronyl group, tricyclodecanyl group, dicyclopentenyl group, nobornane epoxy group,
Menthyl, isomenthyl, neomenthyl, tetracyclododecanyl, steroid residues, tetrahydropyranyl, morpholino and the like can be mentioned.

【0181】アルケニル基としては、炭素数2〜6個の
アルケニル基が挙げられ、置換基を有していてもよい。
具体的にはビニル基、プロペニル基、アリル基、ブテニ
ル基、ペンテニル基、ヘキセニル基、シクロペンテニル
基、シクロヘキセニル基、3−オキソシクロヘキセニル
基、3−オキソシクロペンテニル基、3−オキソインデ
ニル基等が挙げられる。これらのうち環状のアルケニル
基は酸素原子を含んでいてもよい。アリール基として
は、炭素数6〜10個のものが挙げられ、置換基を有し
ていてもよい。具体的にはフェニル基、トリル基、ナフ
チル基等が挙げられる。
Examples of the alkenyl group include alkenyl groups having 2 to 6 carbon atoms, which may have a substituent.
Specifically, a vinyl group, a propenyl group, an allyl group, a butenyl group, a pentenyl group, a hexenyl group, a cyclopentenyl group, a cyclohexenyl group, a 3-oxocyclohexenyl group, a 3-oxocyclopentenyl group, a 3-oxoindenyl group, and the like. No. Among these, the cyclic alkenyl group may contain an oxygen atom. The aryl group includes those having 6 to 10 carbon atoms, and may have a substituent. Specific examples include a phenyl group, a tolyl group, and a naphthyl group.

【0182】アラルキル基としては、ベンジル基、フェ
ネチル基、ナフチルメチル基、ナフチルエチル基、メシ
チルメチル基を挙げることができる。
Examples of the aralkyl group include a benzyl group, a phenethyl group, a naphthylmethyl group, a naphthylethyl group and a mesitylmethyl group.

【0183】R95〜R97としての鎖状又は環状アルキル
基、アルケニル基、アリール基、又はアラルキル基、及
びR95〜R97が結合して形成してもよい非芳香環、芳香
環が有していてもよい置換基としては、例えば、カルボ
キシル基、シアノ基、水酸基、ハロゲン原子(塩素原
子、臭素原子、フッ素原子、沃素原子等)、アルコキシ
基(好ましくは炭素数1〜4、例えばメトキシ基、エト
キシ基、プロポキシ基、ブトキシ基)、アセチルアミド
基、アルコキシカルボニル基、アシル基(好ましくは炭
素数2〜10、例えば、ホルミル基、アセチル基、プロ
ピオニル基)、アシルオキシ基(好ましくは炭素数2〜
10、例えばアセトキシ基)、アリール基(好ましくは
炭素数6〜14、例えばフェニル基)が挙げられる。R
95〜R97としてのアリール基又はアラルキル基及びR95
〜R97が結合して形成してもよい非芳香環、芳香環につ
いては、置換基として、アルキル基(好ましくは炭素数
1〜5、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、イソ
プロピル基、ブチル基、シクロプロピル基、シクロブチ
ル基、シクロペンチル基等)を有していてもよい。この
置換基としてのアルキル基は、更に水酸基、ハロゲン原
子、アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜4、例えばメ
トキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基)等
の置換基を有していてもよい。
[0183] chain or cyclic alkyl group as R 95 to R 97, an alkenyl group, an aryl group, or an aralkyl group, and R 95 to R 97 are bonded may form a non-aromatic ring, the aromatic ring is Yes Examples of the optionally substituted substituent include a carboxyl group, a cyano group, a hydroxyl group, a halogen atom (a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, an iodine atom, etc.) and an alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms, for example, methoxy Group, ethoxy group, propoxy group, butoxy group), acetylamide group, alkoxycarbonyl group, acyl group (preferably having 2 to 10 carbon atoms, for example, formyl group, acetyl group, propionyl group), acyloxy group (preferably having 2 carbon atoms) Two
10, for example, an acetoxy group) and an aryl group (preferably having 6 to 14 carbon atoms, for example, a phenyl group). R
95 to R 97 as an aryl group or an aralkyl group and R 95
To R 97 are combined to form non-aromatic ring may be, for the aromatic ring, as a substituent, an alkyl group (preferably having from 1 to 5 carbon atoms, such as methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, butyl Group, a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, etc.). The alkyl group as the substituent may further have a substituent such as a hydroxyl group, a halogen atom, an alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms, for example, a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, a butoxy group). .

【0184】X-は、上記のように特定の構造R−SO3
-を有する。Rの脂肪族炭化水素基としては、好ましく
は置換基を有していてもよい炭素数1〜20個の直鎖あ
るいは分岐アルキル基又は環状のアルキル基を挙げるこ
とができる。また、Rの芳香族炭化水素基としては、好
ましくは置換基を有してもよい炭素数6〜14の芳香族
基を挙げることができる。
X - has a specific structure R-SO 3 as described above.
- with a. As the aliphatic hydrocarbon group for R, preferably a linear or branched alkyl group or a cyclic alkyl group having 1 to 20 carbon atoms which may have a substituent can be exemplified. The aromatic hydrocarbon group for R is preferably an aromatic group having 6 to 14 carbon atoms which may have a substituent.

【0185】上記のRのアルキル基としては、置換基を
有してもよい、メチル基、エチル基、プロピル基、n−
ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−オク
チル基、2−エチルヘキシル基、デシル基、ドデシル基
等が挙げられ、環状アルキル基としては、置換基を有し
てもよい、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シク
ロオクチル基、シクロドデシル基、アダマンチル基、ノ
ルボルニル基、樟脳基、トリシクロデカニル基、メンチ
ル基等を挙げることができる。芳香族基としては、置換
基を有してもよい、フェニル基、ナフチル基等を挙げる
ことができる。
Examples of the alkyl group represented by R include a methyl group, an ethyl group, a propyl group and an n-
Butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group, n-octyl group, 2-ethylhexyl group, decyl group, dodecyl group and the like, and as the cyclic alkyl group, a cyclopentyl group which may have a substituent , Cyclohexyl, cyclooctyl, cyclododecyl, adamantyl, norbornyl, camphor, tricyclodecanyl, menthyl and the like. Examples of the aromatic group include a phenyl group and a naphthyl group which may have a substituent.

【0186】上記脂肪族炭化水素基、芳香族炭化水素基
が有してもよい置換基としては、例えば、ハロゲン原
子、水酸基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、
樟脳基等が挙げられ、具体的には、メチル基、t-ブチル
基、メトキシ基、エトキシ基、t−ブトキシ基、フッ素
原子、塩素原子、臭素原子、シアノ基、水酸基、メトキ
シカルボニル基、エトキシカルボニル基、t−ブトキシ
カルボニル基、t−アミロキシカルボニル基等が挙げら
れる。更に、脂肪族炭化水素基については、アリール基
(好ましくは炭素数6〜14)、芳香族炭化水素基につ
いてはアルキル基(炭素数1〜15)を置換基として挙
げることができる。
Examples of the substituent which the aliphatic hydrocarbon group and the aromatic hydrocarbon group may have include, for example, a halogen atom, a hydroxyl group, an alkoxy group, an alkoxycarbonyl group,
Examples include a camphor group, and specifically, methyl, t-butyl, methoxy, ethoxy, t-butoxy, fluorine, chlorine, bromine, cyano, hydroxyl, methoxycarbonyl, ethoxy Examples include a carbonyl group, a t-butoxycarbonyl group, a t-amyloxycarbonyl group, and the like. Further, an aryl group (preferably having 6 to 14 carbon atoms) can be cited as a substituent for an aliphatic hydrocarbon group, and an alkyl group (1 to 15 carbon atoms) can be cited as a substituent for an aromatic hydrocarbon group.

【0187】以下、一般式(VIII)で表される構造を
有する繰り返し単位の具体例を示す。しかし、本発明の
内容がこれらに限定されるものではない。
Hereinafter, specific examples of the repeating unit having the structure represented by formula (VIII) will be shown. However, the content of the present invention is not limited to these.

【0188】[0188]

【化85】 Embedded image

【0189】[0189]

【化86】 Embedded image

【0190】[0190]

【化87】 Embedded image

【0191】[0191]

【化88】 Embedded image

【0192】[0192]

【化89】 Embedded image

【0193】さらに、式(III)におけるR92が下記の
一般式(IX)又は(X)で表される構造を有する繰り
返し構造単位について説明する。 −R98−A50−R99 (IX) −SO3100 (X)
Further, a repeating structural unit in which R 92 in the formula (III) has a structure represented by the following formula (IX) or (X) will be described. -R 98 -A 50 -R 99 (IX) -SO 3 R 100 (X)

【0194】一般式(IX)中、R98は、単結合、アル
キレン基、アリーレン基、又はこれらを組み合わせた2
価の基を表す。アリーレン基としては、炭素数6〜10
のものが挙げられ、置換基を有していてもよい。具体的
にはフェニレン基、トリレン基、ナフチレン基等が挙げ
られる。
In the general formula (IX), R 98 represents a single bond, an alkylene group, an arylene group, or a combination thereof.
Represents a valence group. The arylene group has 6 to 10 carbon atoms.
And may have a substituent. Specific examples include a phenylene group, a tolylene group, and a naphthylene group.

【0195】アルキレン基としては、下記で示される基
を挙げることができる。 −〔C(Rf)(Rg)〕r− 式中、Rf、Rg:水素原子、アルキル基、置換アルキ
ル基、ハロゲン原子、水酸基、アルコキシ基を表し、両
者は同一でも異なっていてもよく、アルキル基としては
メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブ
チル基等の低級アルキル基が好ましく、更に好ましくは
メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基より
なる群から選択された置換基を表す。置換アルキル基の
置換基としては、水酸基、ハロゲン原子、アルコキシ基
を挙げることができる。アルコキシ基としてはメトキシ
基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基等の炭素数
1〜4個のものを挙げることができる。rは1〜10の
整数を表す。上記において、ハロゲン原子としては塩素
原子、臭素原子、フッ素原子、沃素原子等を挙げること
ができる。
Examples of the alkylene group include the following groups. -[C (Rf) (Rg)] r- wherein Rf and Rg represent a hydrogen atom, an alkyl group, a substituted alkyl group, a halogen atom, a hydroxyl group, or an alkoxy group, and they may be the same or different; The group is preferably a lower alkyl group such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group and a butyl group, and more preferably represents a substituent selected from the group consisting of a methyl group, an ethyl group, a propyl group and an isopropyl group. . Examples of the substituent of the substituted alkyl group include a hydroxyl group, a halogen atom, and an alkoxy group. Examples of the alkoxy group include those having 1 to 4 carbon atoms such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group and a butoxy group. r represents an integer of 1 to 10. In the above, examples of the halogen atom include a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, and an iodine atom.

【0196】A50は、下記に示す官能基のいずれかを表
す。
A 50 represents any of the following functional groups.

【0197】[0197]

【化90】 Embedded image

【0198】R99は、水素原子またはアルキル基を表
す。R99の鎖状アルキル基は、直鎖状、分岐状いずれで
もよく、また置換基を有していてもよい。直鎖状あるい
は分岐状のアルキル基としては、炭素数1〜12のもの
が好ましく、より好ましくは炭素数1〜10のものであ
り、具体的にメチル基、エチル基、プロピル基、イソプ
ロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブチ
ル基、t−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチ
ル基、オクチル基、ノニル基、デシル基を好ましく挙げ
ることができる。
R 99 represents a hydrogen atom or an alkyl group. The chain alkyl group for R 99 may be linear or branched, and may have a substituent. The linear or branched alkyl group preferably has 1 to 12 carbon atoms, more preferably has 1 to 10 carbon atoms, and specifically includes a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, Preferable examples include n-butyl group, isobutyl group, sec-butyl group, t-butyl group, pentyl group, hexyl group, heptyl group, octyl group, nonyl group, and decyl group.

【0199】一般式(X)におけるR100は、置換基を
有していてもよい、鎖状又は環状アルキル基、アリール
基又はアラルキル基を表す。R100の鎖状アルキル基
は、直鎖状、分岐状いずれでもよく、また置換基を有し
ていてもよい。直鎖状あるいは分岐状のアルキル基とし
ては、炭素数1〜12のものが好ましく、より好ましく
は炭素数1〜10のものであり、具体的にメチル基、エ
チル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、
イソブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基、ペン
チル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル
基、デシル基を好ましく挙げることができる。R100
環状のアルキル基としては、炭素数3〜30のものが挙
げられ、具体的には、シクロプロピル基、シクロペンチ
ル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基、ノルボルニ
ル基、ボロニル基、トリシクロデカニル基、ジシクロペ
ンテニル基、ノボルナンエポキシ基、メンチル基、イソ
メンチル基、ネオメンチル基、テトラシクロドデカニル
基、ステロイド残基等を挙げることができる。
R 100 in the general formula (X) represents a linear or cyclic alkyl group, aryl group or aralkyl group which may have a substituent. The chain alkyl group of R 100 may be linear or branched, and may have a substituent. The linear or branched alkyl group preferably has 1 to 12 carbon atoms, more preferably has 1 to 10 carbon atoms, and specifically includes a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, n-butyl group,
Preferred examples include an isobutyl group, a sec-butyl group, a t-butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group, an octyl group, a nonyl group, and a decyl group. Examples of the cyclic alkyl group represented by R 100 include those having 3 to 30 carbon atoms, and specifically include a cyclopropyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, an adamantyl group, a norbornyl group, a boronyl group, and a tricyclodecanyl group. , Dicyclopentenyl group, nobornane epoxy group, menthyl group, isomenthyl group, neomenthyl group, tetracyclododecanyl group, steroid residue and the like.

【0200】R100のアリール基としては、炭素数6〜
20のものが挙げられ、置換基を有していてもよい。具
体的にはフェニル基、トリル基、ナフチル基等が挙げら
れる。R100のアラルキル基としては、炭素数7〜20
のものが挙げられ、置換基を有していてもよい。具体的
には、ベンジル基、フェネチル基、クミル基等が挙げら
れる。
The aryl group represented by R 100 has 6 to 6 carbon atoms.
20, and may have a substituent. Specific examples include a phenyl group, a tolyl group, and a naphthyl group. The aralkyl group for R 100 has 7 to 20 carbon atoms.
And may have a substituent. Specific examples include a benzyl group, a phenethyl group, and a cumyl group.

【0201】R99の鎖状アルキル基及びR100の鎖状又
は環状アルキル基、アルコキシ基、アリール基、又はア
ラルキル基が有していてもよい置換基としては、例え
ば、カルボキシル基、シアノ基、水酸基、ハロゲン原子
(塩素原子、臭素原子、フッ素原子、沃素原子等)、ア
ルコキシ基(好ましくは炭素数1〜4、例えばメトキシ
基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基)、アセチ
ルアミド基、アルコキシカルボニル基、アシル基(好ま
しくは炭素数2〜10、例えば、ホルミル基、アセチル
基、プロピオニル基)、アシルオキシ基(好ましくは炭
素数2〜10、例えばアセトキシ基)、アリール基(好
ましくは炭素数6〜14、例えばフェニル基)が挙げら
れる。R100としてアリール基又はアラルキル基につい
ては、置換基として、更にアルキル基(好ましくは炭素
数1〜5、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、イ
ソプロピル基、ブチル基、シクロプロピル基、シクロブ
チル基、シクロペンチル基等)を有していてもよい。こ
の置換基としてのアルキル基は、更に水酸基、ハロゲン
原子、アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜4、例えば
メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基)
等の置換基を有していてもよい。
Examples of the substituent which the chain alkyl group of R 99 and the chain or cyclic alkyl group, alkoxy group, aryl group or aralkyl group of R 100 may have include, for example, carboxyl group, cyano group, Hydroxyl group, halogen atom (chlorine atom, bromine atom, fluorine atom, iodine atom, etc.), alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms, for example, methoxy group, ethoxy group, propoxy group, butoxy group), acetylamide group, alkoxycarbonyl Group, acyl group (preferably having 2 to 10 carbon atoms, for example, formyl group, acetyl group, propionyl group), acyloxy group (preferably having 2 to 10 carbon atoms, for example, acetoxy group), aryl group (preferably having 6 to 10 carbon atoms) 14, for example, a phenyl group). As for the aryl group or the aralkyl group as R 100, as a substituent, an alkyl group (preferably having 1 to 5 carbon atoms, for example, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, A cyclopentyl group). The alkyl group as the substituent further includes a hydroxyl group, a halogen atom, and an alkoxy group (preferably having 1 to 4 carbon atoms, such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, and a butoxy group).
And the like.

【0202】以下、−NH−SO2−を含有する一般式
(III)で表される繰り返し単位に対応するモノマーの具
体例(2)〜(5)、及び、一般式(IX)で示される
構造を有する繰り返し構造単位に相当するモノマーの具
体例(6)〜(15)を示すが、これらに限定されるも
のではない。
[0202] Hereinafter, -NH-SO 2 - formula containing
Specific examples (2) to (5) of the monomer corresponding to the repeating unit represented by (III), and specific examples (6) of the monomer corresponding to the repeating structural unit having the structure represented by the general formula (IX) To (15), but are not limited thereto.

【0203】[0203]

【化91】 Embedded image

【0204】[0204]

【化92】 Embedded image

【0205】[0205]

【化93】 Embedded image

【0206】以下、一般式(X)で表される構造を有す
る繰り返し構造単位に相当するモノマーの具体例を示す
が、これらに限定されるものではない。
Hereinafter, specific examples of the monomer corresponding to the repeating structural unit having the structure represented by formula (X) will be shown, but the invention is not limited thereto.

【0207】[0207]

【化94】 Embedded image

【0208】[0208]

【化95】 Embedded image

【0209】[0209]

【化96】 Embedded image

【0210】本発明で使用される酸分解性樹脂は、更
に、下記式(XI)で表される繰り返し単位を含有する
こともできる。
The acid-decomposable resin used in the present invention may further contain a repeating unit represented by the following formula (XI).

【0211】[0211]

【化97】 Embedded image

【0212】一般式(XI)に関して、R91c、X5c、
93c、Bcは、各々、上記一般式(III)についての
91、X5、R93、Bと同様である。R92cは下記一般式
(XI’)で表される基を表す。
With respect to the general formula (XI), R 91 c, X 5 c,
R 93 c and B c are the same as R 91 , X 5 , R 93 and B in the formula (III), respectively. R 92c represents a group represented by the following general formula (XI ′).

【0213】[0213]

【化98】 Embedded image

【0214】一般式(XI’)において、R2c〜R4c
は、各々独立に水素原子又は水酸基を表す。ただし、R
2c〜R4cのうち少なくとも1つは水酸基を表す。
In the general formula (XI ′), R 2 c to R 4 c
Each independently represents a hydrogen atom or a hydroxyl group. Where R
At least one of 2 c to R 4 c represents a hydroxyl group.

【0215】一般式(XI)で表される構造は、好まし
くはジヒドロキシ体、モノヒドロキシ体であり、より好
ましくはジヒドロキシ体である。
The structure represented by formula (XI) is preferably a dihydroxy form or a monohydroxy form, more preferably a dihydroxy form.

【0216】以下に、一般式(XI)で表される構造を
有する繰り返し単位の具体例を挙げるが、これらに限定
されるものではない。
Specific examples of the repeating unit having the structure represented by formula (XI) are shown below, but it should not be construed that the invention is limited thereto.

【0217】[0219]

【化99】 Embedded image

【0218】[0218]

【化100】 Embedded image

【0219】本発明の酸分解性樹脂には、更に下記の一
般式(XI−A)又は(XI−B)で表される繰り返し
単位を含有させることができる。
The acid-decomposable resin of the present invention may further contain a repeating unit represented by the following formula (XI-A) or (XI-B).

【0220】[0220]

【化101】 Embedded image

【0221】上記一般式(XI−A)中、 R13h〜R16h
は、各々独立に、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、
−COOH、−COOR17h、−C(=O)−Xh−Ah
−R1 8h、又は置換基を有していてもよいアルキル基あ
るいは環状炭化水素基を表す。また、Rl3h〜R16hのう
ち少なくとも2つが結合して環を形成してもよい。nは
0又は1を表す。ただし、R13h〜R16hはいずれも酸に
より分解する基を有しない。R17hは、置換基を有して
いてもよい、アルキル基、環状炭化水素基又は前記−Y
基を表す。Xhは、酸素原子、硫黄原子、−NH−、−
NHSO2−又は−NHSO2NH−を表す。Ahは単結
合又は2価の連結基を表す。R18hは、−COOH、−
COOR17h、−CN、水酸基、置換基を有していても
よいアルコキシ基、−CO−NH−R19h、−CO−N
H−SO2−R19h又は前記の−Y基を表す。R19hは、
置換基を有していてもよい、アルキル基又は環状炭化水
素基を表す。
In the above formula (XI-A), R 13h to R 16h
Is independently a hydrogen atom, a halogen atom, a cyano group,
-COOH, -COOR 17h , -C (= O) -X h -A h
-R represents a 1 8h, or may have a substituent alkyl or cyclic hydrocarbon group. Further, at least two members out of R 13h to R 16h may combine to form a ring. n represents 0 or 1. However, none of R 13h to R 16h has a group that can be decomposed by an acid. R 17h represents an alkyl group, a cyclic hydrocarbon group or the above-mentioned -Y which may have a substituent.
Represents a group. X h is an oxygen atom, a sulfur atom, -NH-,-
Represents NHSO 2 — or —NHSO 2 NH—. A h represents a single bond or a divalent linking group. R 18h represents -COOH,-
COOR 17h , -CN, a hydroxyl group, an optionally substituted alkoxy group, -CO-NH-R 19h , -CO-N
Represents an H-SO 2 -R 19h or said -Y groups. R 19h is
Represents an alkyl group or a cyclic hydrocarbon group which may have a substituent.

【0222】上記R13h〜R16hにおけるハロゲン原子と
しては、塩素原子、臭素原子、フッ素原子、沃素原子等
を挙げることができる。
Examples of the halogen atom in R 13h to R 16h include a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom and an iodine atom.

【0223】上記R13h〜R16hにおけるアルキル基とし
ては、炭素数1〜10個の直鎖状あるいは分岐状アルキ
ル基が好ましく、より好ましくは炭素数1〜6個の直鎖
状あるいは分岐状アルキル基であり、更に好ましくはメ
チル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−
ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、t−ブチ
ル基である。
The alkyl group for R 13h to R 16h is preferably a linear or branched alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, more preferably a linear or branched alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. And more preferably methyl, ethyl, propyl, isopropyl, n-
A butyl group, an isobutyl group, a sec-butyl group and a t-butyl group.

【0224】上記R13h〜R16hにおける環状炭化水素基
としては、例えば環状アルキル基、有橋式炭化水素であ
り、シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキ
シル基、アダマンチル基、2−メチル−2−アダマンチ
ル基、ノルボルニル基、ボロニル基、イソボロニル基、
トリシクロデカニル基、ジシクロペンテニル基、ノボル
ナンエポキシ基、メンチル基、イソメンチル基、ネオメ
ンチル基、テトラシクロドデカニル基等を挙げることが
できる。上記R13h〜R16hのうち少なくとも2つが結合
して形成する環としては、シクロペンテン、シクロヘキ
セン、シクロヘプタン、シクロオクタン等の炭素数5〜
12の環が挙げられる。
Examples of the cyclic hydrocarbon group for R 13h to R 16h include a cyclic alkyl group and a bridged hydrocarbon group, such as a cyclopropyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, an adamantyl group, and a 2-methyl-2-adamantyl. Group, norbornyl group, boronyl group, isobornyl group,
Examples include a tricyclodecanyl group, a dicyclopentenyl group, a nobornane epoxy group, a menthyl group, an isomenthyl group, a neomenthyl group, and a tetracyclododecanyl group. The ring formed by combining at least two of the above R 13h to R 16h is a ring having 5 to 5 carbon atoms such as cyclopentene, cyclohexene, cycloheptane and cyclooctane.
Twelve rings.

【0225】上記R18hにおけるアルコキシ基として
は、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ
基等の炭素数1〜4個のものを挙げることができる。
Examples of the alkoxy group for R 18h include those having 1 to 4 carbon atoms such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group and a butoxy group.

【0226】上記アルキル基、環状炭化水素基、アルコ
キシ基における更なる置換基としては、水酸基、ハロゲ
ン原子、カルボキシル基、アルコキシ基、アシル基、シ
アノ基、アシルオキシ基等を挙げることができる。ハロ
ゲン原子としては、塩素原子、臭素原子、フッ素原子、
沃素原子等を挙げることができる。アルコキシ基として
は、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ
基等の炭素数1〜4個のものが挙げることができ、アシ
ル基としてはホルミル基、アセチル基等を挙げることが
でき、アシルオキシ基としてはアセトキシ基等を挙げる
ことができる。
Further substituents in the above alkyl group, cyclic hydrocarbon group and alkoxy group include a hydroxyl group, a halogen atom, a carboxyl group, an alkoxy group, an acyl group, a cyano group and an acyloxy group. As the halogen atom, a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom,
And iodine atoms. Examples of the alkoxy group include those having 1 to 4 carbon atoms such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, and a butoxy group. Examples of the acyl group include a formyl group and an acetyl group. Examples thereof include an acetoxy group.

【0227】上記Ahの2価の連結基としては、単結
合、アルキレン基、置換アルキレン基、エーテル基、チ
オエーテル基、カルボニル基、エステル基、アミド基、
スルフォンアミド基、ウレタン基、ウレア基よりなる群
から選択される単独あるいは2つ以上の基の組み合わせ
が挙げられる。
Examples of the divalent linking group for A h include a single bond, an alkylene group, a substituted alkylene group, an ether group, a thioether group, a carbonyl group, an ester group, an amide group,
A single one selected from the group consisting of a sulfonamide group, a urethane group, and a urea group, or a combination of two or more groups is exemplified.

【0228】上記Ahにおけるアルキレン基、置換アル
キレン基としては、下記式で表される基を挙げることが
できる。 −〔C(Rbh )(Rch )〕r − 式中、Rbh、Rchは、水素原子、アルキル基、置換アル
キル基、ハロゲン原子、水酸基、アルコキシ基を表し、
両者は同一でも異なっていてもよい。アルキル基として
は、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル
基、ブチル基等の低級アルキル基が好ましく、更に好ま
しくはメチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル
基から選択される。置換アルキル基の置換基としては、
水酸基、ハロゲン原子、アルコキシ基を挙げることがで
きる。アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ
基、プロポキシ基、ブトキシ基等の炭素数1〜4個のも
のを挙げることができる。ハロゲン原子としては、塩素
原子、臭素原子、フッ素原子、沃素原子等を挙げること
ができる。rは1〜10の整数を表す。
[0228] Alkylene groups represented by A h, as the substituted alkylene group include a group represented by the following formula. -[C (R bh ) (R ch )] r-wherein R bh and R ch represent a hydrogen atom, an alkyl group, a substituted alkyl group, a halogen atom, a hydroxyl group, an alkoxy group,
Both may be the same or different. As the alkyl group, a lower alkyl group such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, and a butyl group is preferable, and a methyl group, an ethyl group, a propyl group, and an isopropyl group are more preferable. As the substituent of the substituted alkyl group,
Examples include a hydroxyl group, a halogen atom and an alkoxy group. Examples of the alkoxy group include those having 1 to 4 carbon atoms such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group and a butoxy group. Examples of the halogen atom include a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, and an iodine atom. r represents an integer of 1 to 10.

【0229】一般式(XI−B)中、 R13i〜R16iは、
各々独立に、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、−C
OOH、−COOR17i、酸の作用により分解する基、
−C(=O)−Xi−Ai−R18i、又は置換基を有して
いてもよいアルキル基あるいは環状炭化水素基を表す。
また、Rl3i〜R16iのうち少なくとも2つが結合して環
を形成してもよい。nは0又は1を表す。R17iは、置
換基を有していてもよい、アルキル基、環状炭化水素基
又は前記の−Y基を表す。Xiは、酸素原子、硫黄原
子、−NH−、−NHSO2−又は−NHSO2NH−を
表す。Aiは単結合又は2価の連結基を表す。R18iは、
−COOH、−COOR17i、−CN、水酸基、置換基
を有していてもよいアルコキシ基、−CO−NH−R
19i、−CO−NH−SO2−R19i又は前記の−Y基を
表す。R19iは、置換基を有していてもよい、アルキル
基又は環状炭化水素基を表す。上記−Y基中、R21〜R
30は、各々独立に、水素原子又は置換基を有していても
よいアルキル基を表す。a,bは1又は2を表す。
In the general formula (XI-B), R 13i to R 16i are
Each independently represents a hydrogen atom, a halogen atom, a cyano group, -C
OOH, -COOR 17i , a group decomposed by the action of an acid,
—C (= O) —X i —A i —R 18i , or an alkyl group or a cyclic hydrocarbon group which may have a substituent.
In addition, at least two members out of R 13i to R 16i may combine to form a ring. n represents 0 or 1. R 17i represents an optionally substituted alkyl group, cyclic hydrocarbon group or the above-mentioned —Y group. X i represents an oxygen atom, a sulfur atom, -NH -, - NHSO 2 - or an -NHSO 2 NH-. A i represents a single bond or a divalent linking group. R 18i is
-COOH, -COOR 17i , -CN, a hydroxyl group, an optionally substituted alkoxy group, -CO-NH-R
19i, represents a -CO-NH-SO 2 -R 19i or said -Y groups. R 19i represents an alkyl group or a cyclic hydrocarbon group which may have a substituent. In the above-mentioned -Y group, R 21 to R
Each 30 independently represents a hydrogen atom or an alkyl group which may have a substituent. a and b represent 1 or 2.

【0230】酸の作用により分解する基の構造として
は、−C(=O)−X1i−Rpiで表される。式中、Rpi
としては、t−ブチル基、t−アミル基等の3級アルキ
ル基、イソボロニル基、1−エトキシエチル基、1−ブ
トキシエチル基、1−イソブトキシエチル基、1−シク
ロヘキシロキシエチル基等の1−アルコキシエチル基、
1−メトキシメチル基、1−エトキシメチル基等のアル
コキシメチル基、3−オキソアルキル基、テトラヒドロ
ピラニル基、テトラヒドロフラニル基、トリアルキルシ
リルエステル基、3−オキソシクロヘキシルエステル
基、2−メチル−2−アダマンチル基、メバロニックラ
クトン残基、2−(γ−ブチロラクトニルオキシカルボ
ニル)−2−プロピル基等を挙げることができる。X1i
は、酸素原子、硫黄原子、−NH−、−NHSO2−又
は−NHSO2NH−を表す。
The structure of the group decomposed by the action of an acid is represented by -C (= O) -X 1i -R pi . Where R pi
A tertiary alkyl group such as a t-butyl group and a t-amyl group, an isobornyl group, a 1-ethoxyethyl group, a 1-butoxyethyl group, a 1-isobutoxyethyl group, and a 1-cyclohexyloxyethyl group. -An alkoxyethyl group,
1-methoxymethyl group, 1-ethoxymethyl group and other alkoxymethyl group, 3-oxoalkyl group, tetrahydropyranyl group, tetrahydrofuranyl group, trialkylsilyl ester group, 3-oxocyclohexyl ester group, 2-methyl-2 -Adamantyl group, mevalonic lactone residue, 2- (γ-butyrolactonyloxycarbonyl) -2-propyl group and the like. X 1i
It represents an oxygen atom, a sulfur atom, -NH -, - NHSO 2 - or an -NHSO 2 NH-.

【0231】上記R13i〜R16iにおけるハロゲン原子と
しては、塩素原子、臭素原子、フッ素原子、沃素原子等
を挙げることができる。
Examples of the halogen atom for R 13i to R 16i include a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom and an iodine atom.

【0232】上記R13i〜R16iにおけるアルキル基とし
ては、炭素数1〜10個の直鎖状あるいは分岐状アルキ
ル基が好ましく、より好ましくは炭素数1〜6個の直鎖
状あるいは分岐状アルキル基であり、更に好ましくはメ
チル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−
ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、t−ブチ
ル基である。
The alkyl group for R 13i to R 16i is preferably a linear or branched alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, more preferably a linear or branched alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. And more preferably methyl, ethyl, propyl, isopropyl, n-
A butyl group, an isobutyl group, a sec-butyl group and a t-butyl group.

【0233】上記R13i〜R16iにおける環状炭化水素基
としては、例えば環状アルキル基、有橋式炭化水素であ
り、シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキ
シル基、アダマンチル基、2−メチル−2−アダマンチ
ル基、ノルボルニル基、ボロニル基、イソボロニル基、
トリシクロデカニル基、ジシクロペンテニル基、ノボル
ナンエポキシ基、メンチル基、イソメンチル基、ネオメ
ンチル基、テトラシクロドデカニル基等を挙げることが
できる。上記R13i〜R16iのうち少なくとも2つが結合
して形成する環としては、シクロペンテン、シクロヘキ
セン、シクロヘプタン、シクロオクタン等の炭素数5〜
12の環が挙げられる。
Examples of the cyclic hydrocarbon group for R 13i to R 16i include a cyclic alkyl group and a bridged hydrocarbon group, such as cyclopropyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, adamantyl group, 2-methyl-2-adamantyl. Group, norbornyl group, boronyl group, isobornyl group,
Examples include a tricyclodecanyl group, a dicyclopentenyl group, a nobornane epoxy group, a menthyl group, an isomenthyl group, a neomenthyl group, and a tetracyclododecanyl group. The ring formed by combining at least two of the above R 13i to R 16i is a ring having 5 to 5 carbon atoms such as cyclopentene, cyclohexene, cycloheptane, cyclooctane and the like.
Twelve rings.

【0234】上記R18iにおけるアルコキシ基として
は、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ
基等の炭素数1〜4個のものを挙げることができる。
Examples of the alkoxy group for R 18i include those having 1 to 4 carbon atoms such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group and a butoxy group.

【0235】上記アルキル基、環状炭化水素基、アルコ
キシ基における更なる置換基としては、水酸基、ハロゲ
ン原子、カルボキシル基、アルコキシ基、アシル基、シ
アノ基、アシルオキシ基等を挙げることができる。ハロ
ゲン原子としては、塩素原子、臭素原子、フッ素原子、
沃素原子等を挙げることができる。アルコキシ基として
は、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ
基等の炭素数1〜4個のものが挙げることができ、アシ
ル基としてはホルミル基、アセチル基等を挙げることが
でき、アシルオキシ基としてはアセトキシ基等を挙げる
ことができる。
Further substituents in the above alkyl group, cyclic hydrocarbon group and alkoxy group include a hydroxyl group, a halogen atom, a carboxyl group, an alkoxy group, an acyl group, a cyano group and an acyloxy group. As the halogen atom, a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom,
And iodine atoms. Examples of the alkoxy group include those having 1 to 4 carbon atoms such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, and a butoxy group. Examples of the acyl group include a formyl group and an acetyl group. Examples thereof include an acetoxy group.

【0236】上記Aiの2価の連結基としては、単結
合、アルキレン基、置換アルキレン基、エーテル基、チ
オエーテル基、カルボニル基、エステル基、アミド基、
スルフォンアミド基、ウレタン基、ウレア基よりなる群
から選択される単独あるいは2つ以上の基の組み合わせ
が挙げられる。
Examples of the divalent linking group for A i include a single bond, an alkylene group, a substituted alkylene group, an ether group, a thioether group, a carbonyl group, an ester group, an amide group,
A single one selected from the group consisting of a sulfonamide group, a urethane group, and a urea group, or a combination of two or more groups is exemplified.

【0237】上記Aiにおけるアルキレン基、置換アル
キレン基としては、下記式で表される基を挙げることが
できる。 −〔C(Rbi )(Rci )〕r − 式中、Rbi、Rciは、水素原子、アルキル基、置換アル
キル基、ハロゲン原子、水酸基、アルコキシ基を表し、
両者は同一でも異なっていてもよい。アルキル基として
は、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル
基、ブチル基等の低級アルキル基が好ましく、更に好ま
しくはメチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル
基から選択される。置換アルキル基の置換基としては、
水酸基、ハロゲン原子、アルコキシ基を挙げることがで
きる。アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ
基、プロポキシ基、ブトキシ基等の炭素数1〜4個のも
のを挙げることができる。ハロゲン原子としては、塩素
原子、臭素原子、フッ素原子、沃素原子等を挙げること
ができる。rは1〜10の整数を表す。
[0237] Alkylene groups represented by A i, as the substituted alkylene group include a group represented by the following formula. -[C (R bi ) (R ci )] r-wherein R bi and R ci represent a hydrogen atom, an alkyl group, a substituted alkyl group, a halogen atom, a hydroxyl group, an alkoxy group,
Both may be the same or different. As the alkyl group, a lower alkyl group such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, and a butyl group is preferable, and a methyl group, an ethyl group, a propyl group, and an isopropyl group are more preferable. As the substituent of the substituted alkyl group,
Examples include a hydroxyl group, a halogen atom and an alkoxy group. Examples of the alkoxy group include those having 1 to 4 carbon atoms such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group and a butoxy group. Examples of the halogen atom include a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, and an iodine atom. r represents an integer of 1 to 10.

【0238】上記一般式(XI−A)又は(XI−B)で表
される繰り返し単位の具体例としては、次の下記のもの
が挙げられるが、本発明はこれらの具体例に限定される
ものではない。
Specific examples of the repeating unit represented by the general formula (XI-A) or (XI-B) include the following, but the present invention is limited to these specific examples. Not something.

【0239】[0239]

【化102】 Embedded image

【0240】[0240]

【化103】 Embedded image

【0241】本発明に係る酸分解性樹脂が更に含んでも
よい好ましい共重合成分として、下記一般式(XII−
A)叉は(XII−B)で表される繰り返し単位を挙げる
ことができる。
As preferred copolymer components which may be further contained in the acid-decomposable resin according to the present invention, the following general formula (XII-
A) or a repeating unit represented by (XII-B).

【0242】[0242]

【化104】 Embedded image

【0243】ここで式中、Zjは酸素原子、−NH−、
−N(−R50j)−、−N(−OSO 250j)−を表
し、R50jは(置換)アルキル基、(置換)環状炭化水
素基を意味を有する。
In the formula, ZjIs an oxygen atom, -NH-,
-N (-R50j)-, -N (-OSO TwoR50j)-
Then R50jIs (substituted) alkyl group, (substituted) cyclic hydrocarbon
Has a meaning.

【0244】上記R50jにおけるアルキル基としては、
炭素数1〜10個の直鎖状あるいは分岐状アルキル基が
好ましく、より好ましくは炭素数1〜6個の直鎖状ある
いは分岐状アルキル基であり、更に好ましくはメチル
基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチ
ル基、イソブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基
である。
As the alkyl group for R 50j ,
A linear or branched alkyl group having 1 to 10 carbon atoms is preferable, a linear or branched alkyl group having 1 to 6 carbon atoms is more preferable, and a methyl group, an ethyl group, and a propyl group are more preferable. Isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, sec-butyl group and t-butyl group.

【0245】上記R50jにおける環状炭化水素基として
は、例えば環状アルキル基、有橋式炭化水素であり、シ
クロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル
基、アダマンチル基、2−メチル−2−アダマンチル
基、ノルボルニル基、ボロニル基、イソボロニル基、ト
リシクロデカニル基、ジシクロペンテニル基、ノボルナ
ンエポキシ基、メンチル基、イソメンチル基、ネオメン
チル基、テトラシクロドデカニル基等を挙げることがで
きる。上記一般式(XII−A)叉は(XII−B)で表さ
れる繰り返し単位の具体例として次の[XII−A−9]
〜[XII−A−16]、[XII−B−9]〜[XII−B
−16]が挙げられるが、これらの具体例に限定される
ものではない。
Examples of the cyclic hydrocarbon group for R 50j include a cyclic alkyl group and a bridged hydrocarbon group, such as a cyclopropyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, an adamantyl group, a 2-methyl-2-adamantyl group, and a norbornyl group. Group, boronyl group, isobornyl group, tricyclodecanyl group, dicyclopentenyl group, nobornane epoxy group, menthyl group, isomenthyl group, neomenthyl group, tetracyclododecanyl group and the like. As specific examples of the repeating unit represented by formula (XII-A) or (XII-B), the following [XII-A-9]
To [XII-A-16], [XII-B-9] to [XII-B]
-16], but is not limited to these specific examples.

【0246】[0246]

【化105】 Embedded image

【0247】[0247]

【化106】 Embedded image

【0248】本発明に係る酸分解性樹脂は、本発明の効
果が有効に得られる範囲内で、更に以下のような単量体
が該樹脂を構成する繰り返し単位を与えるものとして共
重合されていてもよいが、下記単量体に限定されるもの
ではない。これにより、前記樹脂に要求される性能、特
に(1)塗布溶剤に対する溶解性、(2)製膜性(ガラ
ス転移点)、(3)アルカリ現像性、(4)膜べり(親
疎水性、アルカリ可溶性基選択)、(5)未露光部の基
板への密着性、(6)ドライエッチング耐性、の微調整
が可能となる。このような共重合単量体としては、例え
ば、アクリル酸エステル類、メタクリル酸エステル類、
アクリルアミド類、メタクリルアミド類、アリル化合
物、ビニルエーテル類、ビニルエステル類等から選ばれ
る付加重合性不飽和結合を1個有する化合物などを挙げ
ることができる。
In the acid-decomposable resin according to the present invention, the following monomers are further copolymerized so as to give a repeating unit constituting the resin within a range where the effects of the present invention can be effectively obtained. However, the present invention is not limited to the following monomers. Thereby, the performance required for the resin, particularly (1) solubility in a coating solvent, (2) film forming property (glass transition point), (3) alkali developability, and (4) film loss (hydrophobicity, alkali (Selection of a soluble group), (5) adhesion of the unexposed portion to the substrate, and (6) dry etching resistance can be finely adjusted. Examples of such a comonomer include acrylates, methacrylates,
Examples thereof include compounds having one addition-polymerizable unsaturated bond selected from acrylamides, methacrylamides, allyl compounds, vinyl ethers, vinyl esters, and the like.

【0249】具体的には、例えばアクリル酸エステル
類、例えばアルキル(アルキル基の炭素原子数は1〜1
0のものが好ましい)アクリレート(例えば、アクリル
酸メチル、アクリル酸エチル、アクリル酸プロピル、ア
クリル酸アミル、アクリル酸シクロヘキシル、アクリル
酸エチルヘキシル、アクリル酸オクチル、アクリル酸−
t−オクチル、クロルエチルアクリレート、2−ヒドロ
キシエチルアクリレート2,2−ジメチルヒドロキシプ
ロピルアクリレート、5−ヒドロキシペンチルアクリレ
ート、トリメチロールプロパンモノアクリレート、ペン
タエリスリトールモノアクリレート、ベンジルアクリレ
ート、メトキシベンジルアクリレート、フルフリルアク
リレート、テトラヒドロフルフリルアクリレートな
ど);
Specifically, for example, acrylic esters such as alkyl (the alkyl group has 1 to 1 carbon atoms)
Acrylates (for example, methyl acrylate, ethyl acrylate, propyl acrylate, amyl acrylate, cyclohexyl acrylate, ethylhexyl acrylate, octyl acrylate, acrylate-
t-octyl, chloroethyl acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate 2,2-dimethylhydroxypropyl acrylate, 5-hydroxypentyl acrylate, trimethylolpropane monoacrylate, pentaerythritol monoacrylate, benzyl acrylate, methoxybenzyl acrylate, furfuryl acrylate, Tetrahydrofurfuryl acrylate, etc.);

【0250】メタクリル酸エステル類、例えばアルキル
(アルキル基の炭素原子数は1〜10のものが好まし
い。)メタクリレート(例えばメチルメタクリレート、
エチルメタクリレート、プロピルメタクリレート、イソ
プロピルメタクリレート、アミルメタクリレート、ヘキ
シルメタクリレート、シクロヘキシルメタクリレート、
ベンジルメタクリレート、クロルベンジルメタクリレー
ト、オクチルメタクリレート、2−ヒドロキシエチルメ
タクリレート、4−ヒドロキシブチルメタクリレート、
5−ヒドロキシペンチルメタクリレート、2,2−ジメ
チル−3−ヒドロキシプロピルメタクリレート、トリメ
チロールプロパンモノメタクリレート、ペンタエリスリ
トールモノメタクリレート、フルフリルメタクリレー
ト、テトラヒドロフルフリルメタクリレートなど);
Methacrylic esters, for example, alkyl (alkyl having preferably 1 to 10 carbon atoms) methacrylate (for example, methyl methacrylate,
Ethyl methacrylate, propyl methacrylate, isopropyl methacrylate, amyl methacrylate, hexyl methacrylate, cyclohexyl methacrylate,
Benzyl methacrylate, chlorobenzyl methacrylate, octyl methacrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, 4-hydroxybutyl methacrylate,
5-hydroxypentyl methacrylate, 2,2-dimethyl-3-hydroxypropyl methacrylate, trimethylolpropane monomethacrylate, pentaerythritol monomethacrylate, furfuryl methacrylate, tetrahydrofurfuryl methacrylate, etc.);

【0251】アクリルアミド類、例えばアクリルアミ
ド、N−アルキルアクリルアミド、(アルキル基として
は炭素原子数1〜10のもの、例えばメチル基、エチル
基、プロピル基、ブチル基、t−ブチル基、ヘプチル
基、オクチル基、シクロヘキシル基、ヒドロキシエチル
基などがある。)、N,N−ジアルキルアクリルアミド
(アルキル基としては炭素原子数1〜10のもの、例え
ばメチル基、エチル基、ブチル基、イソブチル基、エチ
ルヘキシル基、シクロヘキシル基などがある。)、N−
ヒドロキシエチル−N−メチルアクリルアミド、N−2
−アセトアミドエチル−N−アセチルアクリルアミドな
ど;
Acrylamides, for example, acrylamide, N-alkylacrylamide, (where the alkyl group has 1 to 10 carbon atoms, for example, methyl, ethyl, propyl, butyl, t-butyl, heptyl, octyl Group, cyclohexyl group, hydroxyethyl group, etc.), N, N-dialkylacrylamide (alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, for example, methyl group, ethyl group, butyl group, isobutyl group, ethylhexyl group, A cyclohexyl group, etc.), N-
Hydroxyethyl-N-methylacrylamide, N-2
-Acetamidoethyl-N-acetylacrylamide and the like;

【0252】メタクリルアミド類、例えばメタクリルア
ミド、N−アルキルメタクリルアミド(アルキル基とし
ては炭素原子数1〜10のもの、例えばメチル基、エチ
ル基、t−ブチル基、エチルヘキシル基、ヒドロキシエ
チル基、シクロヘキシル基などがある。)、N,N−ジ
アルキルメタクリルアミド(アルキル基としてはエチル
基、プロピル基、ブチル基などがある。)、N−ヒドロ
キシエチル−N−メチルメタクリルアミドなど;
Methacrylamides, for example, methacrylamide, N-alkyl methacrylamide (alkyl having 1 to 10 carbon atoms, for example, methyl, ethyl, t-butyl, ethylhexyl, hydroxyethyl, cyclohexyl) Groups, etc.), N, N-dialkylmethacrylamide (an alkyl group includes an ethyl group, a propyl group, a butyl group, etc.), N-hydroxyethyl-N-methylmethacrylamide and the like;

【0253】アリル化合物、例えばアリルエステル類
(例えば酢酸アリル、カプロン酸アリル、カプリル酸ア
リル、ラウリン酸アリル、パルミチン酸アリル、ステア
リン酸アリル、安息香酸アリル、アセト酢酸アリル、乳
酸アリルなど)、アリルオキシエタノールなど;
Allyl compounds such as allyl esters (eg, allyl acetate, allyl caproate, allyl caprylate, allyl laurate, allyl palmitate, allyl stearate, allyl benzoate, allyl acetoacetate, allyl lactate), allyloxy Ethanol, etc .;

【0254】ビニルエーテル類、例えばアルキルビニル
エーテル(例えばヘキシルビニルエーテル、オクチルビ
ニルエーテル、デシルビニルエーテル、エチルヘキシル
ビニルエーテル、メトキシエチルビニルエーテル、エト
キシエチルビニルエーテル、クロルエチルビニルエーテ
ル、1−メチル−2,2−ジメチルプロピルビニルエー
テル、2−エチルブチルビニルエーテル、ヒドロキシエ
チルビニルエーテル、ジエチレングリコールビニルエー
テル、ジメチルアミノエチルビニルエーテル、ジエチル
アミノエチルビニルエーテル、ブチルアミノエチルビニ
ルエーテル、ベンジルビニルエーテル、テトラヒドロフ
ルフリルビニルエーテルなど);
Vinyl ethers such as alkyl vinyl ethers (eg, hexyl vinyl ether, octyl vinyl ether, decyl vinyl ether, ethylhexyl vinyl ether, methoxyethyl vinyl ether, ethoxyethyl vinyl ether, chloroethyl vinyl ether, 1-methyl-2,2-dimethylpropyl vinyl ether, 2-ethyl Butyl vinyl ether, hydroxyethyl vinyl ether, diethylene glycol vinyl ether, dimethylaminoethyl vinyl ether, diethylaminoethyl vinyl ether, butylaminoethyl vinyl ether, benzyl vinyl ether, tetrahydrofurfuryl vinyl ether, etc.);

【0255】ビニルエステル類、例えばビニルブチレー
ト、ビニルイソブチレート、ビニルトリメチルアセテー
ト、ビニルジエチルアセテート、ビニルバレート、ビニ
ルカプロエート、ビニルクロルアセテート、ビニルジク
ロルアセテート、ビニルメトキシアセテート、ビニルブ
トキシアセテート、ビニルアセトアセテート、ビニルラ
クテート、ビニル−β−フェニルブチレート、ビニルシ
クロヘキシルカルボキシレートなど;
Vinyl esters such as vinyl butyrate, vinyl isobutyrate, vinyl trimethyl acetate, vinyl diethyl acetate, vinyl valate, vinyl caproate, vinyl chloroacetate, vinyl dichloroacetate, vinyl methoxy acetate, vinyl butoxy acetate, Vinyl acetoacetate, vinyl lactate, vinyl-β-phenylbutyrate, vinylcyclohexylcarboxylate and the like;

【0256】イタコン酸ジアルキル類(例えばイタコン
酸ジメチル、イタコン酸ジエチル、イタコン酸ジブチル
など);アクリル酸、メタクリル酸、クロトン酸、イタ
コン酸、アクリロニトリル、メタクリロニトリル等があ
る。
Dialkyl itaconates (eg, dimethyl itaconate, diethyl itaconate, dibutyl itaconate, etc.); acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, itaconic acid, acrylonitrile, methacrylonitrile and the like.

【0257】各繰り返し単位の割合は、所望のレジスト
のドライエッチング耐性、感度、パターンのクラッキン
グ防止、基板密着性、レジストプロファイル、さらには
一般的なレジストの必要要件である解像力、耐熱性、等
を勘案して適宜設定することができる。
The proportion of each repeating unit depends on the desired dry etching resistance of the resist, sensitivity, prevention of pattern cracking, substrate adhesion, resist profile, and resolution, heat resistance, etc. which are necessary requirements of general resists. It can be set appropriately in consideration of the situation.

【0258】酸分解性樹脂中の一般式(I)で示される
繰り返し構造単位の含有量は、全繰り返し構造単位中、
10〜60モル%が好ましく、より好ましくは15〜5
5モル%、更に好ましくは20〜50モル%である。酸
分解性樹脂中、一般式(II)で示される繰り返し構造単
位の含有量は、全繰り返し構造単位中10〜70モル%
が好ましく、より好ましくは15〜60モル%、更に好
ましくは20〜50モル%である。酸分解性樹脂中、一
般式(III)で示される繰り返し構造単位の含有量は、
全繰り返し構造単位中、1〜80モル%が好ましく、よ
り好ましくは2〜75モル%、更に好ましくは5〜70
モル%である。
The content of the repeating structural unit represented by the general formula (I) in the acid-decomposable resin is as follows:
It is preferably from 10 to 60 mol%, more preferably from 15 to 5 mol%.
It is 5 mol%, more preferably 20 to 50 mol%. In the acid-decomposable resin, the content of the repeating structural unit represented by the general formula (II) is 10 to 70 mol% in all the repeating structural units.
Is more preferable, more preferably 15 to 60 mol%, and still more preferably 20 to 50 mol%. In the acid-decomposable resin, the content of the repeating structural unit represented by the general formula (III) is
It is preferably 1 to 80 mol%, more preferably 2 to 75 mol%, and still more preferably 5 to 70 mol% in all the repeating structural units.
Mol%.

【0259】酸分解性樹脂中、一般式(I)及び(II
I)で示される繰り返し構造単位等の酸分解性基を有す
る繰り返し単位の合計は、15〜90モル%が好まし
く、より好ましくは15〜85モル%であり、さらに好
ましくは20〜80モル%である。
In the acid-decomposable resin, the compounds represented by the general formulas (I) and (II)
The total of the repeating units having an acid-decomposable group such as the repeating structural unit represented by I) is preferably from 15 to 90 mol%, more preferably from 15 to 85 mol%, even more preferably from 20 to 80 mol%. is there.

【0260】また、上記(I)、(II)又は(III)で示され
る繰り返し構造単位以外の更なる共重合成分の単量体に
基づく繰り返し構造単位の樹脂中の含有量も、所望のレ
ジストの性能に応じて適宜設定することができるが、一
般的に、一般式(I)、(II)、及び(III)で示され
る繰り返し構造単位を合計した総モル数に対して、他の
更なる繰り返し構造単位を合計したモル数が、99モル
%以下が好ましく、より好ましくは90モル%以下、さ
らに好ましくは80モル%以下である。また、本発明の
組成物がArF露光用であるとき、ArF光に対する透
明性の点から酸分解性樹脂は芳香族環を含まないことが
好ましい。
Further, the content of the repeating structural unit based on the monomer of the further copolymerization component other than the repeating structural unit represented by the above (I), (II) or (III) in the resin may be adjusted to a desired value. Although it can be appropriately set according to the performance of the above, generally, other additional units are added to the total number of moles of the repeating structural units represented by the general formulas (I), (II) and (III). The total number of repeating structural units is preferably 99 mol% or less, more preferably 90 mol% or less, and still more preferably 80 mol% or less. When the composition of the present invention is used for ArF exposure, the acid-decomposable resin preferably does not contain an aromatic ring from the viewpoint of transparency to ArF light.

【0261】本発明に用いる酸分解性樹脂は、常法に従
って(例えばラジカル重合)合成することができる。例
えば、一般的合成方法としては、モノマー種を、一括で
あるいは反応途中で反応容器に仕込み、これを必要に応
じ反応溶媒、例えばテトラヒドロフラン、1,4−ジオ
キサン、ジイソプロピルエーテルなどのエーテル類やメ
チルエチルケトン、メチルイソブチルケトンのようなケ
トン類、酢酸エチルのようなエステル溶媒、さらには後
述のプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテー
トのような本発明の組成物を溶解する溶媒に溶解させ均
一とした後、窒素やアルゴンなど不活性ガス雰囲気下で
必要に応じ加熱、市販のラジカル開始剤(アゾ系開始
剤、パーオキサイドなど)を用いて重合を開始させる。
所望により開始剤を追加、あるいは分割で添加し、反応
終了後、溶剤に投入して粉体あるいは固形回収等の方法
で所望のポリマーを回収する。反応の濃度は20重量%
以上であり、好ましくは30重量%以上、さらに好まし
くは40重量%以上である。反応温度は10℃〜150
℃であり、好ましくは30℃〜120℃、さらに好まし
くは50〜100℃である。
The acid-decomposable resin used in the present invention can be synthesized according to a conventional method (for example, radical polymerization). For example, as a general synthesis method, monomer species are charged into a reaction vessel at once or in the middle of a reaction, and if necessary, a reaction solvent such as tetrahydrofuran, 1,4-dioxane, ethers such as diisopropyl ether and methyl ethyl ketone, Ketones such as methyl isobutyl ketone, ester solvents such as ethyl acetate, and further dissolved in a solvent that dissolves the composition of the present invention such as propylene glycol monomethyl ether acetate described below, and then homogenized. Under an inert gas atmosphere, if necessary, heating is performed, and polymerization is started using a commercially available radical initiator (such as an azo initiator or a peroxide).
If desired, an initiator is added or added in portions, and after completion of the reaction, the mixture is poured into a solvent and a desired polymer is recovered by a method such as powder or solid recovery. Reaction concentration is 20% by weight
It is preferably at least 30% by weight, more preferably at least 40% by weight. Reaction temperature is 10 ° C. to 150
° C, preferably from 30 ° C to 120 ° C, more preferably from 50 to 100 ° C.

【0262】本発明に係る酸分解性樹脂の重量平均分子
量は、GPC法によりポリスチレン換算値として、好ま
しくは1,000〜200,000である。重量平均分
子量が1,000未満では耐熱性やドライエッチング耐
性の劣化が見られるため余り好ましくなく、200,0
00を越えると現像性が劣化したり、粘度が極めて高く
なるため製膜性が劣化するなど余り好ましくない結果を
生じる。
The weight-average molecular weight of the acid-decomposable resin according to the present invention is preferably from 1,000 to 200,000 in terms of polystyrene by the GPC method. When the weight average molecular weight is less than 1,000, heat resistance and dry etching resistance are deteriorated, so that it is not preferable.
If it exceeds 00, the development property is deteriorated and the viscosity becomes extremely high, so that a film formation property is deteriorated.

【0263】本発明の遠紫外線露光用ポジ型フォトレジ
スト組成物において、本発明に係わる酸分解性樹脂の組
成物全体中の配合量は、全レジスト固形分中40〜9
9.99重量%が好ましく、より好ましくは50〜9
9.97重量%である。
In the positive photoresist composition for deep ultraviolet exposure according to the present invention, the compounding amount of the acid-decomposable resin according to the present invention in the whole composition is 40 to 9 in the total solid content of the resist.
9.99% by weight is preferable, and more preferably 50 to 9% by weight.
9.97% by weight.

【0264】上記(A)光酸発生剤や(B)樹脂等の固
形分を、上記溶剤に固形分濃度として、3〜25重量%
溶解することが好ましく、より好ましくは5〜22重量
%、更に好ましくは7〜20重量%である。
The solid content of (A) the photoacid generator or (B) the resin is added to the above solvent in a solid concentration of 3 to 25% by weight.
It is preferably dissolved, more preferably 5 to 22% by weight, and still more preferably 7 to 20% by weight.

【0265】〔3〕界面活性剤 本発明の遠紫外線露光用ポジ型フォトレジスト組成物
は、フッ素系及び/又はシリコン系界面活性剤を含有す
ることが好ましい。フッ素系及び/又はシリコン系界面
活性剤としては、フッ素系界面活性剤、シリコン系界面
活性剤及びフッ素原子と珪素原子の両方を含有する界面
活性剤の少なくとも1種の界面活性剤である。本発明の
遠紫外線露光用ポジ型フォトレジスト組成物が上記酸分
解性樹脂と上記界面活性剤とを含有することにより、2
50nm以下、特に220nm以下の露光光源の使用時
に、感度、解像力、基板密着性、耐ドライエッチング性
が優れ、更に現像欠陥とスカムの少ないレジストパター
ンが得られる。これらの界面活性剤として、例えば特開
昭62-36663号、特開昭61-226746号、特開昭61-226745
号、特開昭62-170950号、特開昭63-34540号、特開平7-2
30165号、特開平8-62834号、特開平9-54432号、特開平9
-5988号、米国特許5405720号、同5360692号、同5529881
号、同5296330号、同5436098号、同5576143号、同52945
11号、同5824451号記載の界面活性剤を挙げることがで
き、下記市販の界面活性剤をそのまま用いることもでき
る。使用できる市販の界面活性剤として、例えばエフト
ップEF301、EF303、(新秋田化成(株)製)、フロラードFC
430、431(住友スリーエム(株)製)、メガファックF171、
F173、F176、F189、R08(大日本インキ化学工業(株)
製)、サーフロンS−382、SC101、102、103、104、10
5、106(旭硝子(株)製)等のフッ素系界面活性剤又は
シリコン系界面活性剤を挙げることができる。またポリ
シロキサンポリマーKP−341(信越化学工業(株)製)
もシリコン系界面活性剤として用いることができる。
[3] Surfactant The positive photoresist composition for deep ultraviolet exposure according to the present invention preferably contains a fluorine-based and / or silicon-based surfactant. The fluorine-based and / or silicon-based surfactant is at least one of a fluorine-based surfactant, a silicon-based surfactant, and a surfactant containing both a fluorine atom and a silicon atom. The positive photoresist composition for deep ultraviolet exposure of the present invention contains the acid-decomposable resin and the surfactant,
When an exposure light source of 50 nm or less, particularly 220 nm or less is used, a resist pattern having excellent sensitivity, resolution, substrate adhesion, and dry etching resistance, and having less development defects and scum can be obtained. As these surfactants, for example, JP-A-62-36663, JP-A-61-226746, JP-A-61-226745
No., JP-A-62-170950, JP-A-63-34540, JP-A-7-2
No. 30165, JP-A-8-62834, JP-A-9-54432, JP-A-9
No.-5988, U.S. Pat.Nos. 5,405,720, 5,306,692, 5,529,881
Nos. 5296330, 5436098, 5576143, 52945
Nos. 11 and 5824451, and the following commercially available surfactants can be used as they are. As commercially available surfactants that can be used, for example, F-top EF301, EF303, (manufactured by Shin-Akita Chemical Co., Ltd.), Florad FC
430, 431 (Sumitomo 3M Limited), Mega Fuck F171,
F173, F176, F189, R08 (Dainippon Ink Chemical Industry Co., Ltd.)
Manufactured), Surflon S-382, SC101, 102, 103, 104, 10
5, 106 (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) or a fluorine-based surfactant or a silicon-based surfactant. In addition, polysiloxane polymer KP-341 (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)
Can also be used as a silicon-based surfactant.

【0266】界面活性剤の配合量は、本発明の組成物中
の固形分を基準として、通常0.001重量%〜2重量
%、好ましくは0.01重量%〜1重量%である。これ
らの界面活性剤は1種単独であるいは2種以上を組み合
わせて用いることができる。
The amount of the surfactant is usually 0.001% by weight to 2% by weight, preferably 0.01% by weight to 1% by weight, based on the solid content in the composition of the present invention. These surfactants can be used alone or in combination of two or more.

【0267】上記他の界面活性剤としては、具体的に
は、ポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポリオキシ
エチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチレンセチ
ルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエーテル等の
ポリオキシエチレンアルキルエーテル類、ポリオキシエ
チレンオクチルフェノールエーテル、ポリオキシエチレ
ンノニルフェノールエーテル等のポリオキシエチレンア
ルキルアリルエーテル類、ポリオキシエチレン・ポリオ
キシプロピレンブロックコポリマー類、ソルビタンモノ
ラウレート、ソルビタンモノパルミテート、ソルビタン
モノステアレート、ソルビタンモノオレエート、ソルビ
タントリオレエート、ソルビタントリステアレート等の
ソルビタン脂肪酸エステル類、ポリオキシエチレンソル
ビタンモノラウレート、ポリオキシエチレンソルビタン
モノパルミテ−ト、ポリオキシエチレンソルビタンモノ
ステアレート、ポリオキシエチレンソルビタントリオレ
エート、ポリオキシエチレンソルビタントリステアレー
ト等のポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル類
等のノニオン系界面活性剤等を挙げることができる。こ
れらの界面活性剤の配合量は、本発明の組成物中の固形
分100重量部当たり、通常、2重量部以下、好ましく
は1重量部以下である。これらの界面活性剤は単独で添
加してもよいし、また、いくつかの組み合わせで添加す
ることもできる。
Examples of the other surfactants include polyoxyethylene alkyl ethers such as polyoxyethylene lauryl ether, polyoxyethylene stearyl ether, polyoxyethylene cetyl ether, and polyoxyethylene oleyl ether; Polyoxyethylene alkyl allyl ethers such as oxyethylene octyl phenol ether, polyoxyethylene nonyl phenol ether, polyoxyethylene / polyoxypropylene block copolymers, sorbitan monolaurate, sorbitan monopalmitate, sorbitan monostearate, sorbitan monooleate Fatty acid esters such as sorbitan trioleate, sorbitan tristearate, polyoxyethylene sorbitan monolaurate Nonionic surfactants such as polyoxyethylene sorbitan monopalmitate, polyoxyethylene sorbitan monostearate, polyoxyethylene sorbitan trioleate, polyoxyethylene sorbitan fatty acid esters such as polyoxyethylene sorbitan tristearate, etc. Can be mentioned. The amount of these surfactants is usually 2 parts by weight or less, preferably 1 part by weight or less, per 100 parts by weight of the solids in the composition of the present invention. These surfactants may be added alone or in some combination.

【0268】〔4〕有機塩基性化合物 本発明で用いることのできる好ましい有機塩基性化合物
は、フェノールよりも塩基性の強い化合物である。中で
も含窒素塩基性化合物が好ましい。
[4] Organic Basic Compound A preferable organic basic compound that can be used in the present invention is a compound that is more basic than phenol. Among them, a nitrogen-containing basic compound is preferable.

【0269】[0269]

【化107】 Embedded image

【0270】ここで、R250、R251およびR252は、同
一または異なり、水素原子、炭素数1〜6のアルキル
基、炭素数1〜6のアミノアルキル基、炭素数1〜6の
ヒドロキシアルキル基または炭素数6〜20の置換もし
くは非置換のアリール基であり、ここでR251とR252
互いに結合して環を形成してもよい。
Here, R 250 , R 251 and R 252 are the same or different and each represent a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an aminoalkyl group having 1 to 6 carbon atoms, or a hydroxyalkyl having 1 to 6 carbon atoms. Or a substituted or unsubstituted aryl group having 6 to 20 carbon atoms, wherein R 251 and R 252 may be bonded to each other to form a ring.

【0271】[0271]

【化108】 Embedded image

【0272】(式中、R253、R254、R255およびR256
は、同一または異なり、炭素数1〜6のアルキル基を示
す) 更に好ましい化合物は、一分子中に異なる化学的環境の
窒素原子を2個以上有する含窒素塩基性化合物であり、
特に好ましくは、置換もしくは未置換のアミノ基と窒素
原子を含む環構造の両方を含む化合物もしくはアルキル
アミノ基を有する化合物である。好ましい具体例として
は、置換もしくは未置換のグアニジン、置換もしくは未
置換のアミノピリジン、置換もしくは未置換のアミノア
ルキルピリジン、置換もしくは未置換のアミノピロリジ
ン、置換もしくは未置換のインダーゾル、置換もしくは
未置換のピラゾール、置換もしくは未置換のピラジン、
置換もしくは未置換のピリミジン、置換もしくは未置換
のプリン、置換もしくは未置換のイミダゾリン、置換も
しくは未置換のピラゾリン、置換もしくは未置換のピペ
ラジン、置換もしくは未置換のアミノモルフォリン、置
換もしくは未置換のアミノアルキルモルフォリン等が挙
げられる。好ましい置換基は、アミノ基、アミノアルキ
ル基、アルキルアミノ基、アミノアリール基、アリール
アミノ基、アルキル基、アルコキシ基、アシル基、アシ
ロキシ基、アリール基、アリールオキシ基、ニトロ基、
水酸基、シアノ基である。
Wherein R 253 , R 254 , R 255 and R 256
Are the same or different and represent an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms.) Further preferred compounds are nitrogen-containing basic compounds having two or more nitrogen atoms having different chemical environments in one molecule,
Particularly preferred are compounds containing both a substituted or unsubstituted amino group and a ring structure containing a nitrogen atom, or compounds having an alkylamino group. Preferred specific examples include substituted or unsubstituted guanidine, substituted or unsubstituted aminopyridine, substituted or unsubstituted aminoalkylpyridine, substituted or unsubstituted aminopyrrolidine, substituted or unsubstituted indazol, substituted or unsubstituted Pyrazole, substituted or unsubstituted pyrazine,
Substituted or unsubstituted pyrimidine, substituted or unsubstituted purine, substituted or unsubstituted imidazoline, substituted or unsubstituted pyrazoline, substituted or unsubstituted piperazine, substituted or unsubstituted aminomorpholine, substituted or unsubstituted amino And alkyl morpholine. Preferred substituents are an amino group, an aminoalkyl group, an alkylamino group, an aminoaryl group, an arylamino group, an alkyl group, an alkoxy group, an acyl group, an acyloxy group, an aryl group, an aryloxy group, a nitro group,
A hydroxyl group and a cyano group.

【0273】好ましい具体的化合物として、グアニジ
ン、1,1−ジメチルグアニジン、1,1,3,3,−
テトラメチルグアニジン、2−アミノピリジン、3−ア
ミノピリジン、4−アミノピリジン、2−ジメチルアミ
ノピリジン、4−ジメチルアミノピリジン、2−ジエチ
ルアミノピリジン、2−(アミノメチル)ピリジン、2
−アミノ−3−メチルピリジン、2−アミノ−4−メチ
ルピリジン、2−アミノ−5−メチルピリジン、2−ア
ミノ−6−メチルピリジン、3−アミノエチルピリジ
ン、4−アミノエチルピリジン、3−アミノピロリジ
ン、ピペラジン、N−(2−アミノエチル)ピペラジ
ン、N−(2−アミノエチル)ピペリジン、4−アミノ
−2,2,6,6−テトラメチルピペリジン、4−ピペ
リジノピペリジン、2−イミノピペリジン、1−(2−
アミノエチル)ピロリジン、ピラゾール、3−アミノ−
5−メチルピラゾール、5−アミノ−3−メチル−1−
p−トリルピラゾール、ピラジン、2−(アミノメチ
ル)−5−メチルピラジン、ピリミジン、2,4−ジア
ミノピリミジン、4,6−ジヒドロキシピリミジン、2
−ピラゾリン、3−ピラゾリン、N−アミノモルフォリ
ン、N−(2−アミノエチル)モルフォリン、1,5−
ジアザビシクロ〔4,3,0〕ノナ−5−エン、1,8
−ジアザビシクロ〔5,4,0〕ウンデカ−7−エン、
2,4,5−トリフェニルイミダゾール、N−メチルモ
ルホリン、N−エチルモルホリン、N−ヒドロキシエチ
ルモルホリン、N−ベンジルモルホリン、シクロヘキシ
ルモルホリノエチルチオウレア(CHMETU)等の3
級モルホリン誘導体、特開平11−52575号公報に
記載のヒンダードアミン類(例えば該公報〔0005〕
に記載のもの)等が挙げられるがこれに限定されるもの
ではない。
Preferred specific compounds are guanidine, 1,1-dimethylguanidine, 1,1,3,3,-
Tetramethylguanidine, 2-aminopyridine, 3-aminopyridine, 4-aminopyridine, 2-dimethylaminopyridine, 4-dimethylaminopyridine, 2-diethylaminopyridine, 2- (aminomethyl) pyridine,
-Amino-3-methylpyridine, 2-amino-4-methylpyridine, 2-amino-5-methylpyridine, 2-amino-6-methylpyridine, 3-aminoethylpyridine, 4-aminoethylpyridine, 3-amino Pyrrolidine, piperazine, N- (2-aminoethyl) piperazine, N- (2-aminoethyl) piperidine, 4-amino-2,2,6,6-tetramethylpiperidine, 4-piperidinopiperidine, 2-imino Piperidine, 1- (2-
Aminoethyl) pyrrolidine, pyrazole, 3-amino-
5-methylpyrazole, 5-amino-3-methyl-1-
p-tolylpyrazole, pyrazine, 2- (aminomethyl) -5-methylpyrazine, pyrimidine, 2,4-diaminopyrimidine, 4,6-dihydroxypyrimidine,
-Pyrazoline, 3-pyrazoline, N-aminomorpholine, N- (2-aminoethyl) morpholine, 1,5-
Diazabicyclo [4,3,0] non-5-ene, 1,8
-Diazabicyclo [5,4,0] undec-7-ene,
3,4,5-triphenylimidazole, N-methylmorpholine, N-ethylmorpholine, N-hydroxyethylmorpholine, N-benzylmorpholine, cyclohexylmorpholinoethylthiourea (CHMETU)
Grade morpholine derivatives, hindered amines described in JP-A-11-52575 (for example, [0005]
), But is not limited thereto.

【0274】特に好ましい具体例は、1,5−ジアザビ
シクロ[4.3.0]−5−ノネン、1,8−ジアザビシク
ロ[5.4.0]−7−ウンデセン、1,4−ジアザビシク
ロ[2.2.2]オクタン、4−ジメチルアミノピリジン、
ヘキサメチレンテトラミン、4,4−ジメチルイミダゾ
リン、ピロール類、ピラゾール類、イミダゾール類、ピ
リダジン類、ピリミジン類、CHMETU等の3級モル
ホリン類、ビス(1,2,2,6,6−ペンタメチル−
4−ピペリジル)セバゲート等のヒンダードアミン類等
を挙げることができる。これらを用いることにより、疎
密依存性が優れるようになる。
Particularly preferred specific examples are 1,5-diazabicyclo [4.3.0] -5-nonene, 1,8-diazabicyclo [5.4.0] -7-undecene, 1,4-diazabicyclo [2 .2.2] octane, 4-dimethylaminopyridine,
Hexamethylenetetramine, 4,4-dimethylimidazoline, pyrroles, pyrazoles, imidazoles, pyridazines, pyrimidines, tertiary morpholines such as CHMETU, bis (1,2,2,6,6-pentamethyl-
Hindered amines such as (4-piperidyl) sebagate and the like can be mentioned. By using these, the density dependency becomes excellent.

【0275】中でも、1,5−ジアザビシクロ〔4,
3,0〕ノナ−5−エン、1,8−ジアザビシクロ
〔5,4,0〕ウンデカ−7−エン、1,4−ジアザビ
シクロ〔2,2,2〕オクタン、4−ジメチルアミノピ
リジン、ヘキサメチレンテトラミン、CHMETU、ビ
ス(1,2,2,6,6−ペンタメチル−4−ピペリジ
ル)セバゲートが好ましい。
Among them, 1,5-diazabicyclo [4,
3,0] non-5-ene, 1,8-diazabicyclo [5,4,0] undec-7-ene, 1,4-diazabicyclo [2,2,2] octane, 4-dimethylaminopyridine, hexamethylene Preferred are tetramine, CHMETU, and bis (1,2,2,6,6-pentamethyl-4-piperidyl) sebacate.

【0276】これらの含窒素塩基性化合物は、単独であ
るいは2種以上組み合わせて用いられる。含窒素塩基性
化合物の使用量は、感光性樹脂組成物の全組成物の固形
分に対し、通常、0.001〜10重量%、好ましくは
0.01〜5重量%である。0.001重量%未満では
上記含窒素塩基性化合物の添加の効果が得られない。一
方、10重量%を超えると感度の低下や非露光部の現像
性が悪化する傾向がある。
These nitrogen-containing basic compounds are used alone or in combination of two or more. The amount of the nitrogen-containing basic compound to be used is generally 0.001 to 10% by weight, preferably 0.01 to 5% by weight, based on the solid content of the entire photosensitive resin composition. If the amount is less than 0.001% by weight, the effect of the addition of the nitrogen-containing basic compound cannot be obtained. On the other hand, if it exceeds 10% by weight, the sensitivity tends to decrease and the developability of the unexposed portion tends to deteriorate.

【0277】〔5〕その他の添加剤 本発明のポジ型フォトレジスト組成物には、必要に応じ
て更に酸分解性溶解阻止化合物、染料、可塑剤、増感剤
及び現像液に対する溶解性を促進させる化合物等を含有
させることができる。
[5] Other Additives The positive photoresist composition of the present invention may further enhance the solubility in an acid-decomposable dissolution inhibiting compound, a dye, a plasticizer, a sensitizer and a developer, if necessary. And the like can be contained.

【0278】本発明のポジ型レジスト組成物は、上記各
成分を溶解する溶剤に溶かして支持体上に塗布する。こ
こで使用する溶剤としては、エチレンジクロライド、シ
クロヘキサノン、シクロペンタノン、2−ヘプタノン、
γ−ブチロラクトン、メチルエチルケトン、エチレング
リコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノ
エチルエーテル、2−メトキシエチルアセテート、エチ
レングリコールモノエチルエーテルアセテート、プロピ
レングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコ
ールモノメチルエーテルアセテート、トルエン、酢酸エ
チル、乳酸メチル、乳酸エチル、メトキシプロピオン酸
メチル、エトキシプロピオン酸エチル、ピルビン酸メチ
ル、ピルビン酸エチル、ピルビン酸プロピル、N,N−
ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、N−メ
チルピロリドン、テトラヒドロフラン等が好ましく、こ
れらの溶剤を単独あるいは混合して使用する。
The positive resist composition of the present invention is applied to a support by dissolving the above components in a solvent capable of dissolving the above components. As the solvent used here, ethylene dichloride, cyclohexanone, cyclopentanone, 2-heptanone,
γ-butyrolactone, methyl ethyl ketone, ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, 2-methoxyethyl acetate, ethylene glycol monoethyl ether acetate, propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monomethyl ether acetate, toluene, ethyl acetate, methyl lactate, lactic acid Ethyl, methyl methoxypropionate, ethyl ethoxypropionate, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, propyl pyruvate, N, N-
Dimethylformamide, dimethylsulfoxide, N-methylpyrrolidone, tetrahydrofuran and the like are preferable, and these solvents are used alone or in combination.

【0279】上記の中でも、好ましい溶剤としてはプロ
ピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、2−
ヘプタノン、γ−ブチロラクトン、エチレングリコール
モノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエ
ーテル、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテ
ート、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロ
ピレングリコールモノエチルエーテル、乳酸メチル、乳
酸エチル、メトキシプロピオン酸メチル、エトキシプロ
ピオン酸エチル、N−メチルピロリドン、テトラヒドロ
フランを挙げることができる。
Of the above, preferred solvents are propylene glycol monomethyl ether acetate, 2-
Heptanone, γ-butyrolactone, ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether acetate, propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monoethyl ether, methyl lactate, ethyl lactate, methyl methoxypropionate, ethyl ethoxypropionate , N-methylpyrrolidone and tetrahydrofuran.

【0280】本発明のこのようなポジ型フォトレジスト
組成物は基板上に塗布され、薄膜を形成する。この塗膜
の膜厚は0.2〜1.2μmが好ましい。本発明におい
ては、必要により、市販の無機あるいは有機反射防止膜
を使用することができる。
Such a positive photoresist composition of the present invention is applied on a substrate to form a thin film. The thickness of this coating film is preferably from 0.2 to 1.2 μm. In the present invention, if necessary, a commercially available inorganic or organic antireflection film can be used.

【0281】反射防止膜としては、チタン、二酸化チタ
ン、窒化チタン、酸化クロム、カーボン、α−シリコン
等の無機膜型と、吸光剤とポリマー材料からなる有機膜
型が用いることができる。前者は膜形成に真空蒸着装
置、CVD装置、スパッタリング装置等の設備を必要と
する。有機反射防止膜としては、例えば特公平7−69
611記載のジフェニルアミン誘導体とホルムアルデヒ
ド変性メラミン樹脂との縮合体、アルカリ可溶性樹脂、
吸光剤からなるものや、米国特許5294680記載の
無水マレイン酸共重合体とジアミン型吸光剤の反応物、
特開平6−118631記載の樹脂バインダーとメチロ
ールメラミン系熱架橋剤を含有するもの、特開平6−1
18656記載のカルボン酸基とエポキシ基と吸光基を
同一分子内に有するアクリル樹脂型反射防止膜、特開平
8−87115記載のメチロールメラミンとベンゾフェ
ノン系吸光剤からなるもの、特開平8−179509記
載のポリビニルアルコール樹脂に低分子吸光剤を添加し
たもの等が挙げられる。また、有機反射防止膜として、
ブリューワーサイエンス社製のDUV30シリーズや、
DUV−40シリーズ、シプレー社製のAC−2、AC
−3等を使用することもできる。
As the antireflection film, an inorganic film type such as titanium, titanium dioxide, titanium nitride, chromium oxide, carbon and α-silicon, and an organic film type made of a light absorbing agent and a polymer material can be used. The former requires equipment such as a vacuum deposition apparatus, a CVD apparatus, and a sputtering apparatus for film formation. As the organic antireflection film, for example, Japanese Patent Publication No. 7-69
611, a condensate of a formaldehyde-modified melamine resin with a diphenylamine derivative, an alkali-soluble resin,
A light absorbing agent or a reaction product of a maleic anhydride copolymer and a diamine type light absorbing agent described in US Pat. No. 5,294,680;
JP-A-6-118631, containing a resin binder and a methylolmelamine-based thermal crosslinking agent;
Acrylic resin type antireflection film having a carboxylic acid group, an epoxy group and a light absorbing group in the same molecule described in 18656, a film comprising a methylolmelamine and a benzophenone-based light absorbing agent described in JP-A-8-87115, and a method described in JP-A-8-179509 Examples thereof include those obtained by adding a low-molecular-weight light absorbing agent to a polyvinyl alcohol resin. Also, as an organic anti-reflection film,
DUV30 series manufactured by Brewer Science,
DUV-40 series, Shipley's AC-2, AC
-3 can also be used.

【0282】上記レジスト液を精密集積回路素子の製造
に使用されるような基板(例:シリコン/二酸化シリコ
ン被覆)上に(必要により上記反射防止膜を設けられた
基板上に)、スピナー、コーター等の適当な塗布方法に
より塗布後、所定のマスクを通して露光し、ベークを行
い現像することにより良好なレジストパターンを得るこ
とができる。ここで露光光としては、好ましくは150
nm〜250nmの波長の光である。具体的には、Kr
Fエキシマレーザー(248nm)、ArFエキシマレ
ーザー(193nm)、F2エキシマレーザー(157
nm)、X線、電子ビーム等が挙げられる。
The above-mentioned resist solution is coated on a substrate (eg, a silicon / silicon dioxide coating) used for the production of precision integrated circuit devices (on a substrate provided with the above antireflection film if necessary), a spinner, a coater, and the like. After coating by an appropriate coating method such as that described above, exposure through a predetermined mask, baking and development can provide a good resist pattern. Here, the exposure light is preferably 150
It is light having a wavelength of nm to 250 nm. Specifically, Kr
F excimer laser (248 nm), ArF excimer laser (193 nm), F 2 excimer laser (157
nm), X-rays, electron beams and the like.

【0283】現像液としては、水酸化ナトリウム、水酸
化カリウム、炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタ
ケイ酸ナトリウム、アンモニア水等の無機アルカリ類、
エチルアミン、n−プロピルアミン等の第一アミン類、
ジエチルアミン、ジ−n−ブチルアミン等の第二アミン
類、トリエチルアミン、メチルジエチルアミン等の第三
アミン類、ジメチルエタノールアミン、トリエタノール
アミン等のアルコールアミン類、テトラメチルアンモニ
ウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキ
シド等の第四級アンモニウム塩、ピロール、ピヘリジン
等の環状アミン類等のアルカリ性水溶液を使用すること
ができる。更に、上記アルカリ性水溶液にアルコール
類、界面活性剤を適当量添加して使用することもでき
る。
Examples of the developing solution include inorganic alkalis such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, sodium silicate, sodium metasilicate and aqueous ammonia;
Primary amines such as ethylamine and n-propylamine;
Secondary amines such as diethylamine and di-n-butylamine, tertiary amines such as triethylamine and methyldiethylamine, alcoholamines such as dimethylethanolamine and triethanolamine, tetramethylammonium hydroxide, tetraethylammonium hydroxide and the like An alkaline aqueous solution such as a quaternary ammonium salt, a cyclic amine such as pyrrole, or pyrhelidine can be used. Further, an appropriate amount of an alcohol or a surfactant may be added to the above alkaline aqueous solution.

【0284】[0284]

【実施例】以下、本発明を実施例によって更に具体的に
説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるもので
はない。
EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples, but the present invention is not limited to the following examples.

【0285】〔酸分解性樹脂の合成〕ノルボルネンカル
ボン酸tブチルエステル、無水マレイン酸、2−メチル
−2−アダマンチルアクリレート、ノルボルネンラクト
ンアクリレートをモル比で20/20/35/25で反
応容器に仕込み、メチルエチルケトン/テトラヒドロフ
ラン=1/1溶媒に溶解し、固形分60%の溶液を調製
した。これを窒素気流下65℃で加熱した。反応温度が
安定したところで和光純薬社製ラジカル開始剤V−60
1を3mol%加え反応を開始させた。12時間加熱し
た後、反応混合物を5倍量のヘキサンに投入し白色粉体
を析出させた。析出した粉体を再度メチルエチルケトン
/テトラヒドロフラン=1/1溶媒に溶解させ5倍量の
ヘキサン/メチルtBuエ−テルに投入し白色粉体を析
出させ、濾過取り出した。この作業を再度繰り返し、乾
燥、目的物である樹脂(1)を得た。得られた樹脂
(1)のGPCによる分子量分析(RI分析)を試みた
ところ、ポリスチレン換算で11600(重量平均)、
残留モノマーの量は0.4%であった。また、NMRス
ペクトルより樹脂(1)の組成は本発明のノルボルネン
/無水マレイン酸/、2−メチル−2−アダマンチルア
クリレート、ノルボルネンラクトンアクリレートをモル
比で18/23/34/25であった。以下同様の方法
で樹脂(2)〜(25)を合成した。以下に上記酸分解
性樹脂(1)〜(25)の構造を示す。
[Synthesis of Acid-Decomposable Resin] A reaction vessel was charged with t-butyl norbornene carboxylate, maleic anhydride, 2-methyl-2-adamantyl acrylate and norbornene lactone acrylate in a molar ratio of 20/20/35/25. , Methyl ethyl ketone / tetrahydrofuran = 1/1 solvent to prepare a solution having a solid content of 60%. This was heated at 65 ° C. under a stream of nitrogen. When the reaction temperature becomes stable, radical initiator V-60 manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.
1 was added at 3 mol% to start the reaction. After heating for 12 hours, the reaction mixture was poured into 5 times the amount of hexane to precipitate a white powder. The precipitated powder was dissolved again in a solvent of methyl ethyl ketone / tetrahydrofuran = 1/1 and poured into a 5-fold amount of hexane / methyl tBu ether to precipitate a white powder, which was filtered and taken out. This operation was repeated again, and drying was performed to obtain the target resin (1). When molecular weight analysis (RI analysis) of the obtained resin (1) by GPC was attempted, 11600 (weight average) in terms of polystyrene,
The amount of residual monomer was 0.4%. From the NMR spectrum, the composition of the resin (1) was 18/23/34/25 in molar ratio of norbornene / maleic anhydride / 2-methyl-2-adamantyl acrylate and norbornene lactone acrylate of the present invention. Hereinafter, resins (2) to (25) were synthesized in the same manner. The structures of the acid-decomposable resins (1) to (25) are shown below.

【0286】[0286]

【化109】 Embedded image

【0287】[0287]

【化110】 Embedded image

【0288】[0288]

【化111】 Embedded image

【0289】[0289]

【化112】 Embedded image

【0290】[0290]

【化113】 Embedded image

【0291】また、上記酸分解性樹脂(1)〜(25)
の各繰り返し単位のモル比率と重量平均分子量を表1に
示す。
The acid-decomposable resins (1) to (25)
Table 1 shows the molar ratio and the weight average molecular weight of each repeating unit.

【0292】[0292]

【表1】 [Table 1]

【0293】実施例1〜30及び比較例1 (ポジ型フォトレジスト組成物の調製と評価)表2に示
すように、上記合成例で合成した表1に示す酸分解性樹
脂1.4g、光酸発生剤(添加量は表2に示した)、有
機塩基性化合物(アミン)5mg、必要により界面活性
剤10mgを配合し、それぞれ固形分14重量%の割合
で溶剤に溶解した後、0.1μmのミクロフィルターで
濾過し、表2に示す実施例1〜30のポジ型フォトレジ
スト組成物を調製した。また、比較例1として、下記樹
脂(R)と下記光酸発生剤を用いる以外は、上記実施例
1〜30と同様にして表2に示すポジ型フォトレジスト
組成物を調製した。
Examples 1 to 30 and Comparative Example 1 (Preparation and Evaluation of Positive Photoresist Composition) As shown in Table 2, 1.4 g of the acid-decomposable resin synthesized in the above synthesis example and shown in Table 1, An acid generator (the amount of addition is shown in Table 2), 5 mg of an organic basic compound (amine), and 10 mg of a surfactant, if necessary, were dissolved in a solvent at a solid content of 14% by weight. After filtration through a 1 μm microfilter, positive photoresist compositions of Examples 1 to 30 shown in Table 2 were prepared. Further, as Comparative Example 1, a positive photoresist composition shown in Table 2 was prepared in the same manner as in Examples 1 to 30, except that the following resin (R) and the following photoacid generator were used.

【0294】表2中に於ける各化合物は、次の通りであ
る。 〔溶剤〕 S1:プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテ
ート S2:乳酸エチル S3:酢酸ブチル S4:2−ヘプタノン S5:プロピレングリコールモノメチルエーテル S6:エトキシプロピオン酸エチル S7:γ−ブチロラクトン S8:エチレンカーボネート S9:プロピレンカーボネート S10:プロピレングリコールモノエチルエーテルアセ
テート
Each compound in Table 2 is as follows. [Solvent] S1: Propylene glycol monomethyl ether acetate S2: Ethyl lactate S3: Butyl acetate S4: 2-Heptanone S5: Propylene glycol monomethyl ether S6: Ethyl ethoxypropionate S7: γ-butyrolactone S8: Ethylene carbonate S9: Propylene carbonate S10: Propylene glycol monoethyl ether acetate

【0295】〔界面活性剤〕 W−1:メガファックF176(大日本インキ化学工業
(株)製)(フッ素系) W−2:メガファックR08(大日本インキ化学工業
(株)製)(フッ素及びシリコン系) W−3:ポリシロキサンポリマーKP−341(信越化
学工業(株)製) W−4:ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル W−5:トロイゾルS−366(トロイケミカル(株)
製)
[Surfactant] W-1: Megafac F176 (manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.) (fluorine) W-2: Megafac R08 (manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.) (fluorine) W-3: Polysiloxane polymer KP-341 (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) W-4: Polyoxyethylene nonyl phenyl ether W-5: Troysol S-366 (Troy Chemical Co., Ltd.)
Made)

【0296】〔有機塩基性化合物〕 1:DBU(1,8−ジアザビシクロ〔5.4.0〕−
7−ウンデセン) 2:4−DMAP(4−ジメチルアミノピリジン) 3:TPI(2,4,5−トリフェニルイミダゾール) 4:2,6−ジイソプロピルアニリン 5:アンチピリン 6:1−(2’−ヒドロキシエチル)ピペラジン
[Organic basic compound] 1: DBU (1,8-diazabicyclo [5.4.0]-
7-undecene) 2: 4-DMAP (4-dimethylaminopyridine) 3: TPI (2,4,5-triphenylimidazole) 4: 2,6-diisopropylaniline 5: antipyrine 6: 1- (2′-hydroxy Ethyl) piperazine

【0297】〔比較例で使用した樹脂〕 樹脂R:EP1048983A1の実施例3で使用され
た下記構造の樹脂
[Resin used in Comparative Example] Resin R: a resin having the following structure used in Example 3 of EP1048983A1

【0298】[0298]

【化114】 Embedded image

【0299】[0299]

【表2】 [Table 2]

【0300】[0300]

【表3】 [Table 3]

【0301】(評価試験)初めに Brewer Sc
ience社製ARC−25をスピンコーターを利用し
てシリコンウエハー上に30nm塗布、乾燥した後、そ
の上に得られたポジ型フォトレジスト組成物を塗布し、
140℃で90秒間乾燥、約0.4μmのポジ型フォト
レジスト膜を作成し、それにArFエキシマレーザー
(波長193nm、NA=0.6のISI社製ArFス
テッパー)で1/2ピッチのコンタクトホールパターン
(マスクサイズ0.16ミクロン)により露光量と焦点
を変化させながら露光した。露光後の加熱処理を145
℃で90秒間行い、2.38重量%のテトラメチルアン
モニウムヒドロキシド水溶液で現像、蒸留水でリンス
し、レジストパターンプロファイルを得た。このように
して得られたシリコンウエハーのレジストパターンを走
査型顕微鏡で観察し、レジストを下記のように評価し
た。
(Evaluation Test) First, Brewer Sc
ARC-25 manufactured by ICE Co., Ltd. was coated on a silicon wafer by using a spin coater at a thickness of 30 nm, dried, and then coated with the obtained positive photoresist composition.
After drying at 140 ° C. for 90 seconds, a positive photoresist film having a thickness of about 0.4 μm was formed. Exposure was performed while changing the exposure amount and focus according to (mask size 0.16 μm). 145 heat treatment after exposure
Performed at 90 ° C. for 90 seconds, developed with a 2.38 wt% aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide, and rinsed with distilled water to obtain a resist pattern profile. The resist pattern on the silicon wafer thus obtained was observed with a scanning microscope, and the resist was evaluated as follows.

【0302】〔露光マージン〕: 各々のレジストにつ
いて、直径0.16μmのコンタクトホールパターンを
再現する最小露光量を±5%変動させて、直径0.16
μmのコンタクトホールパターンを露光、現像したとき
に得られるコンタクトホールパターンの直径の変動率
[(変動幅/0.16)×100](%)を露光マージン
の指標とした。この値が小さいほど好ましい。 〔デフォーカスラチチュード〕:デフォーカスラチチュ
ードは、0.16μmのコンタクトホールマスクパター
ンの寸法が±10%の範囲で許容できるフォーカスの幅
で表した。これらの評価結果を表3に示す。
[Exposure Margin]: For each resist, the minimum exposure amount for reproducing a contact hole pattern having a diameter of 0.16 μm was varied by ± 5% to obtain a diameter of 0.16 μm.
Variation of the diameter of the contact hole pattern obtained when exposing and developing a contact hole pattern of μm
[(Variation width / 0.16) × 100] (%) was used as an index of the exposure margin. The smaller this value is, the better. [Defocus latitude]: The defocus latitude is represented by an allowable focus width in a range of ± 10% of the dimension of the 0.16 μm contact hole mask pattern. Table 3 shows the evaluation results.

【0303】[0303]

【表4】 [Table 4]

【0304】[0304]

【表5】 [Table 5]

【0305】表3から明らかなように、本発明に係わる
紫外線露光用ポジ型フォトレジスト組成物は、コンタク
トホールパターンの解像において露光マージン及びデフ
ォーカスラチチュードが改善されている。
As is clear from Table 3, the positive photoresist composition for ultraviolet exposure according to the present invention has improved exposure margin and defocus latitude in resolving a contact hole pattern.

【0306】[0306]

【発明の効果】本発明に依れば、コンタクトホールパタ
ーンの解像において、露光マージン及びデフォーカスラ
チチュードが改善された遠紫外線露光用ポジ型フォトレ
ジスト組成物を提供することができる。
According to the present invention, it is possible to provide a positive photoresist composition for deep ultraviolet exposure, which has improved exposure margin and defocus latitude in resolving a contact hole pattern.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C08K 5/16 C08K 5/16 5/42 5/42 C08L 33/00 C08L 33/00 35/00 35/00 45/00 45/00 G03F 7/004 501 G03F 7/004 501 7/033 7/033 H01L 21/027 H01L 21/30 502R Fターム(参考) 2H025 AA02 AA04 AB16 AC04 AC08 AD03 BE07 BE10 BG00 CB08 CB10 CB14 CB41 CB42 CB45 CB48 CC04 CC20 FA17 4J002 BG071 BG121 BH021 BK001 ER028 EU028 EU048 EU078 EU098 EU108 EU118 EU128 EU138 EU238 EV236 EV256 FD206 FD208 FD317 GP03 4J100 AJ02R AK32Q AL03R AL04R AL08R AL08S AM21R AM43Q AM45Q AM47Q AR09P AR11P BA02P BA02R BA03Q BA03R BA03S BA05P BA05R BA06P BA11P BA11Q BA11R BA12R BA15P BA15R BA16R BA28R BA32R BA34R BA37R BA38R BA40R BA55Q BA55R BA58R BA59R BB01R BB07Q BB18Q BC02R BC03P BC03R BC04P BC04R BC08P BC08Q BC08R BC09P BC09R BC09S BC12R BC23R BC43R BC48R BC53P BC53R BC58R CA03 CA05 JA38 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) C08K 5/16 C08K 5/16 5/42 5/42 C08L 33/00 C08L 33/00 35/00 35 / 00 45/00 45/00 G03F 7/004 501 G03F 7/004 501 7/033 7/033 H01L 21/027 H01L 21/30 502R F term (reference) 2H025 AA02 AA04 AB16 AC04 AC08 AD03 BE07 BE10 BG00 CB08 CB10 CB14 CB41 CB42 CB45 CB48 CC04 CC20 FA17 4J002 BG071 BG121 BH021 BK001 ER028 EU028 EU048 EU078 EU098 EU108 EU118 EU128 EU138 EU238 EV236 EV256 FD206 FD208 FD317 GP03 4J100 AJ02R AK32Q AL03R AL04 AM03 AR03 AM03 AR03P BA11Q BA11R BA12R BA15P BA15R BA16R BA28R BA32R BA34R BA37R BA38R BA40R BA55Q BA55R BA58R BA59R BB01R BB07Q BB18Q BC02R BC03P BC03R B C04P BC04R BC08P BC08Q BC08R BC09P BC09R BC09S BC12R BC23R BC43R BC48R BC53P BC53R BC58R CA03 CA05 JA38

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】(A)活性光線又は放射線の照射によりス
ルホン酸を発生する、下記一般式(I’)〜(III’)
で表される化合物、及び(B)下記一般式(I)で示さ
れる繰り返し構造単位、一般式(II)で示される繰り返
し構造単位、及び一般式(III)で示される繰り返し構
造単位を含み、酸の作用によりアルカリ現像液に対する
溶解速度が増加する樹脂を含有することを特徴とする遠
紫外線露光用ポジ型フォトレジスト組成物。 【化1】 【化2】 【化3】 【化4】 上記一般式(I')〜(III')中:R51〜R87は、各々
独立に、水素原子、直鎖状、分岐状あるいは環状アルキ
ル基、直鎖状、分岐状あるいは環状アルコキシ基、ヒド
ロキシル基、ハロゲン原子、又は−S−R88基を表す。
88は、直鎖状、分岐状あるいは環状アルキル基又はア
リール基を表す。また、R51〜R65、R66〜R77、R78
〜R87のうち、2つ以上が結合して、単結合、炭素、酸
素、イオウ、及び窒素から選択される1種又は2種以上
を含む環を形成していてもよい。X-は、RFSO3 -を表
す。ここでRFは、炭素数2以上のフッ素置換された直
鎖状、分岐状あるいは環状アルキル基である。 一般式(I)中:R11〜R14は、各々独立に、酸の作用
により分解する基、水素原子、ハロゲン原子、シアノ
基、−COOH、−COOR15、−C(=O)−X−A
−R16、又はアルキル基或いは環状炭化水素基を表し、
且つR11〜R14の内少なくとも1つは酸の作用により分
解する基を表す。また、R11〜R14のうち少なくとも2
つが結合して環を形成してもよい。nは0又は1を表
す。ここで、R15は、アルキル基、環状炭化水素基又は
下記の−Y基を表す。Xは、酸素原子、硫黄原子、−N
H−、−NHSO2−、又は−NHSO2NH−を表す。
Aは、単結合、アルキレン基、シクロアルキレン基、エ
ーテル基、チオエーテル基、カルボニル基、エステル基
よりなる群から選択される単独或いは2つ以上の基の組
み合わせを表す。R16は、−COOH、−COOR15
−CN、水酸基、アルコキシ基、−CO−NH−R17
−CO−NH−SO2−R17又は下記の−Y基を表す。
17は、アルキル基又は環状炭化水素基を表す。 −Y基; 【化5】 −Y基中、R21〜R30は、各々独立に、水素原子又はア
ルキル基を表す。a、bは、1又は2を表す。 一般式(II)中:Z2は、−O−又は−N(R41)−
を表す。ここでR41は、水素原子、水酸基、アルキル
基、ハロアルキル基又は−OSO2−R42を表す。R42
は、アルキル基、ハロアルキル基、シクロアルキル基又
は樟脳残基を表す。 一般式(III)中:R91は、水素原子、低級アルキル
基、ハロゲン原子又は−CNを表す。X5は、−O−、
−S−、−NR93−、又は−NR93SO2−を表す。R
93は、水素原子、鎖状又は環状アルキル基を表す。B
は、単結合または連結基を表す。R92は、水素原子、鎖
状又は環状アルキル基、アルコキシ基、水酸基、カルボ
キシ基、シアノ基、−COOR94、又は下記一般式(I
V)〜(X)のいずれかで表される基を表す。R94は、
水素原子、または鎖状又は環状アルキル基を表す。 【化6】 −N+(R95)(R96)(R97)・X- (VIII) −R98−A50−R99 (IX) −SO3100 (X) 式(IV)において、Ra1、Rb1、Rc1、Rd1、及
びRe1は、各々独立に、水素原子又は炭素数1〜4の
アルキル基を表す。m、nは各々独立に0〜3の整数を
表し、m+nは、2以上6以下である。式(V−1)〜
(V−4)において、R1b〜R5bは、各々独立に、水素
原子、アルキル基、シクロアルキル基又はアルケニル基
を表す。R1b〜R5bの内の2つは、結合して環を形成し
てもよい。式(VII)において、R1d〜R8dは、各々独
立に、水素原子又はアルキル基を表す。Rd0は、水素原
子、鎖状または環状アルキル基、アリール基又はアラル
キル基を表す。mは、1〜10の整数を表す。式(VII
I)中、R95〜R97は、各々独立に、水素原子、鎖状ま
たは環状アルキル基、アルケニル基、アリール基、又は
アラルキル基を表す。但し、R95〜R 97は互いに結合し
て非芳香環、芳香環を形成しても良い。X-は、R−S
3 -を表す。Rは脂肪族炭化水素基又は芳香族炭化水素
基を表す。式(IX)中、R98は、単結合、アルキレン
基、アリーレン基、又はこれらを組み合わせた2価の基
を表す。A50は、下記に示す官能基のいずれかを表す。 【化7】 99は、水素原子またはアルキル基を表す。式(X)
中、R100は、鎖状又は環状アルキル基、アリール基又
はアラルキル基を表す。
(1) A method comprising the steps of:
The following general formulas (I ') to (III') which generate sulfonic acid
And (B) a compound represented by the following general formula (I)
Repeating unit represented by general formula (II)
And a repeating unit represented by the general formula (III).
Incorporated in the alkaline developer by the action of acid
Characterized by containing a resin that increases the dissolution rate
A positive photoresist composition for UV exposure. Embedded imageEmbedded imageEmbedded imageEmbedded imageIn the above general formulas (I ′) to (III ′): R51~ R87Are each
Independently hydrogen, linear, branched or cyclic alkyl
Group, linear, branched or cyclic alkoxy group, hydr
Roxyl group, halogen atom, or -SR88Represents a group.
R88Represents a linear, branched or cyclic alkyl group or
Represents a reel group. Also, R51~ R65, R66~ R77, R78
~ R87Two or more of which combine to form a single bond, carbon, acid
One or more selected from nitrogen, sulfur, and nitrogen
May be formed. X-Is RFSOThree -The table
You. Where RFIs a fluorine-substituted straight-chain having 2 or more carbon atoms
It is a chain, branched or cyclic alkyl group. In the general formula (I): R11~ R14Is, independently of each other, the action of an acid
Groups decomposed by hydrogen atom, halogen atom, cyano
Group, -COOH, -COOR15, -C (= O) -XA
-R16Or represents an alkyl group or a cyclic hydrocarbon group,
And R11~ R14At least one of them is separated by the action of an acid.
Represents a group to be understood. Also, R11~ R14At least two of
Two may combine to form a ring. n represents 0 or 1
You. Where R15Is an alkyl group, a cyclic hydrocarbon group or
Represents the following -Y group. X represents an oxygen atom, a sulfur atom, -N
H-, -NHSOTwo-Or-NHSOTwoRepresents NH-.
A is a single bond, an alkylene group, a cycloalkylene group,
-Tel group, thioether group, carbonyl group, ester group
A single or a group of two or more groups selected from the group consisting of
Indicates a combination. R16Are -COOH, -COOR15,
-CN, hydroxyl group, alkoxy group, -CO-NH-R17,
-CO-NH-SOTwo-R17Alternatively, it represents the following -Y group.
R17Represents an alkyl group or a cyclic hydrocarbon group. —Y group;In the -Y group, Rtwenty one~ R30Are each independently a hydrogen atom or
Represents a alkyl group. a and b represent 1 or 2. In the general formula (II): ZTwoIs -O- or -N (R41)-
Represents Where R41Represents a hydrogen atom, a hydroxyl group, an alkyl
Group, haloalkyl group or -OSOTwo-R42Represents R42
Represents an alkyl group, a haloalkyl group, a cycloalkyl group or
Represents a camphor residue. In the general formula (III): R91Is a hydrogen atom, lower alkyl
Represents a group, a halogen atom or -CN. XFiveIs -O-,
-S-, -NR93-Or -NR93SOTwoRepresents-. R
93Represents a hydrogen atom, a chain or a cyclic alkyl group. B
Represents a single bond or a linking group. R92Is a hydrogen atom, a chain
Or cyclic alkyl group, alkoxy group, hydroxyl group, carbo
Xy group, cyano group, -COOR94Or the following general formula (I
V) represents a group represented by any of (X) to (X). R94Is
Represents a hydrogen atom, or a chain or cyclic alkyl group. Embedded image-N+(R95) (R96) (R97) ・ X- (VIII) -R98-A50-R99 (IX) -SOThreeR100 (X) In the formula (IV), Ra1, Rb1, Rc1, Rd1,
And Re1Are each independently a hydrogen atom or a group having 1 to 4 carbon atoms.
Represents an alkyl group. m and n each independently represent an integer of 0 to 3
M + n is 2 or more and 6 or less. Formula (V-1)
In (V-4), R1b~ R5bIs, independently of each other, hydrogen
Atom, alkyl group, cycloalkyl group or alkenyl group
Represents R1b~ R5bTwo of which combine to form a ring
You may. In the formula (VII), R1d~ R8dIs German
In addition, it represents a hydrogen atom or an alkyl group. Rd0Is a hydrogen source
Child, chain or cyclic alkyl group, aryl group or aral
Represents a kill group. m represents an integer of 1 to 10. Equation (VII
I) Medium, R95~ R97Are each independently a hydrogen atom or a chain
Or a cyclic alkyl group, an alkenyl group, an aryl group, or
Represents an aralkyl group. Where R95~ R 97Are connected to each other
To form a non-aromatic ring or an aromatic ring. X-Is R-S
OThree -Represents R is an aliphatic hydrocarbon group or an aromatic hydrocarbon
Represents a group. In the formula (IX), R98Is a single bond, alkylene
Group, arylene group, or divalent group combining these
Represents A50Represents any of the functional groups shown below. Embedded imageR99Represents a hydrogen atom or an alkyl group. Formula (X)
Medium, R100Is a chain or cyclic alkyl group, aryl group or
Represents an aralkyl group.
【請求項2】(B)成分の樹脂が、更に下記式(XI)
で表される繰り返し単位を含有することを特徴とする請
求項1に記載の遠紫外線露光用ポジ型フォトレジスト組
成物。 【化8】 一般式(XI)中:R91cは、水素原子、低級アルキル
基、ハロゲン原子又は−CNを表す。X5cは、−O−、
−S−、−NR93c−、又は−NR93cSO2−を表す。
93cは、水素原子、鎖状又は環状アルキル基を表す。
Bcは、単結合または連結基を表す。R92cは下記一般式
(XI’)で表される基を表す。 【化9】 一般式(XI’)において、R2c〜R4cは、各々独立に
水素原子又は水酸基を表す。ただし、R2c〜R4cのうち
少なくとも1つは水酸基を表す。
2. The resin of component (B) further comprises the following formula (XI)
The positive photoresist composition for deep ultraviolet exposure according to claim 1, comprising a repeating unit represented by the following formula: Embedded image In the general formula (XI), R 91 c represents a hydrogen atom, a lower alkyl group, a halogen atom or —CN. X 5 c is —O—,
-S -, - NR 93 c-, or -NR 93 CSO 2 - represents a.
R 93c represents a hydrogen atom, a chain or a cyclic alkyl group.
Bc represents a single bond or a linking group. R 92c represents a group represented by the following general formula (XI ′). Embedded image In the general formula (XI '), R 2 c~R 4 c represents a hydrogen atom or a hydroxyl group independently. Provided that at least one of R 2 c to R 4 c represents a hydroxyl group.
【請求項3】 更にフッ素系及び/又はシリコン系界面
活性剤を含有することを特徴とする請求項1又は2に記
載の遠紫外線露光用ポジ型フォトレジスト組成物。
3. The positive photoresist composition for deep ultraviolet exposure according to claim 1, further comprising a fluorine-based and / or silicon-based surfactant.
【請求項4】 更に有機塩基性化合物を含有することを
特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の遠紫外線露
光用ポジ型フォトレジスト組成物。
4. The positive photoresist composition for deep UV exposure according to claim 1, further comprising an organic basic compound.
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