JP2002196067A - Frequency modulation data determining device - Google Patents

Frequency modulation data determining device

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JP2002196067A
JP2002196067A JP2001295844A JP2001295844A JP2002196067A JP 2002196067 A JP2002196067 A JP 2002196067A JP 2001295844 A JP2001295844 A JP 2001295844A JP 2001295844 A JP2001295844 A JP 2001295844A JP 2002196067 A JP2002196067 A JP 2002196067A
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Japan
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time
frequency modulation
circuit
frequency
value
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Kazuo Kawashima
一夫 川島
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To carry out high performance computing for input signal frequency modulation determination, a chirp inclination (frequency fluctuation ratio), the number of encoding phase modulation bits and the like without causing any frequency error due to temperature fluctuation. SOLUTION: This frequency modulation data determination device is provided with a DRFM circuit sampling an input signal and storing a digital amplitude value measured by this sampling, a reading circuit sequentially reading the digital amplitude values stored in the DRFM circuit and outputting them in time sequence, an amplitude memory circuit storing the digital amplitude values outputted from the reading circuit in time sequence, and a frequency modulation data computing circuit determining frequency modulation data of the input signal on the basis of the digital amplitude values stored in the amplitude memory circuit.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明はレーダ等の電波を
受信して、周波数変調諸元の判定を行う周波数変調諸元
判定装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a frequency modulation specification judging device which receives radio waves from a radar or the like and judges frequency modulation specifications.

【0002】[0002]

【従来の技術】図12は従来のIF信号周波数測定装置
(IFM:Instantaneous FrequancyMeasurment)の1
構成図例であり、図において1はIF信号を入力する入
力端子,17は入力信号を複数の遅延回路に分配する分
波器,18〜21は各々遅延長が1:m:m2:m3とな
る遅延回路,22は位相検波器,23は周波数算出回
路,24は出力端子である。
2. Description of the Related Art FIG. 12 shows a conventional IF signal frequency measuring device (IFM: Instantaneous Frequancy Measurement).
1 is an input terminal for inputting an IF signal, 17 is a duplexer for distributing an input signal to a plurality of delay circuits, and 18 to 21 are delay lengths of 1: m: m 2 : m, respectively. 3 , a delay circuit, 22 is a phase detector, 23 is a frequency calculation circuit, and 24 is an output terminal.

【0003】次に図12に示される従来例の動作につい
て説明する。入力端子1に入力した電波は分波器17に
よって、8本の信号ラインに分波され、うち4本の信号
は各遅延回路18〜21に出力される。各遅延回路は所
定の時間遅延(1:m:m2:m3)与えたのち、各々4
個の位相検波器22に出力する。
Next, the operation of the conventional example shown in FIG. 12 will be described. The radio wave input to the input terminal 1 is split by the splitter 17 into eight signal lines, of which four signals are output to the delay circuits 18-21. Each of the delay circuits gives a predetermined time delay (1: m: m 2 : m 3 ), and then outputs 4
It outputs to the two phase detectors 22.

【0004】分波器17で出力された他の4本の信号は
直接4個の位相検波器22に出力される。位相検波器2
2は分波器17からの直接信号と遅延回路18〜21か
らの遅延波を比較し、正弦波の位相差を検出する。次い
で、周波数算出回路23が各位相検波器22の出力した
位相差情報から周波数値を算出し、出力端子24に周波
数値を出力する。
The other four signals output from the demultiplexer 17 are directly output to four phase detectors 22. Phase detector 2
Numeral 2 compares the direct signal from the duplexer 17 with the delayed waves from the delay circuits 18 to 21 to detect the phase difference between the sine waves. Next, the frequency calculation circuit 23 calculates a frequency value from the phase difference information output from each phase detector 22 and outputs the frequency value to the output terminal 24.

【0005】図22は従来のIF信号パルス内周波数変
調測定装置の1構成図例であり、特にチャネライズド受
信機を使用したパルス内周波数変調判定する場合であ
る。図において1はIF信号を入力する入力端子,38
は入力信号を複数のフィルタ回路に分配する分波器,3
9は各々中心周波数が異なるフィルタ回路,40はA/
D変換器,41はA/D変換された信号から瞬間周波数
を算出する瞬間周波数算出回路,42は瞬間周波数を記
憶する瞬間周波数記憶メモリ,43はデジタル値に変換
された各々のフィルタ回路出力情報からパルス内(また
はCW信号)周波数変調判定を行うパルス内変調判定回
路,44はパルス内変調諸元格納メモリである。
FIG. 22 shows an example of a configuration of a conventional IF signal intra-pulse frequency modulation measuring apparatus, particularly in a case where intra-pulse frequency modulation using a channelized receiver is determined. In the figure, 1 is an input terminal for inputting an IF signal, 38
Is a duplexer that distributes an input signal to a plurality of filter circuits.
9 is a filter circuit having different center frequencies, and 40 is an A /
D converter, 41 is an instantaneous frequency calculation circuit for calculating an instantaneous frequency from the A / D converted signal, 42 is an instantaneous frequency storage memory for storing the instantaneous frequency, 43 is output information of each filter circuit converted into a digital value. , An intra-pulse modulation determining circuit 44 for performing intra-pulse (or CW signal) frequency modulation determination, and 44 is an intra-pulse modulation specification storage memory.

【0006】次に図22に示される従来例の動作につい
て説明する。入力端子1に入力した電波は分波器38に
よって複数の信号ラインに分波され、各々中心周波数の
異なるフィルタ回路39を通過する。
Next, the operation of the conventional example shown in FIG. 22 will be described. The radio wave input to the input terminal 1 is split into a plurality of signal lines by a splitter 38 and passes through filter circuits 39 having different center frequencies.

【0007】各フィルタを通過したIF信号は、フィル
タの特性(中心周波数,帯域幅,フィルタのパターン)
に従い、振幅が変化する。つまり、フィルタ中心周波数
が入力信号に近接しているフィルタの通過出力は振幅が
低下しないが、フィルタ中心周波数が入力信号から離れ
ているフィルタの通過出力は振幅が低下する。
[0007] The IF signal that has passed through each filter is the characteristic of the filter (center frequency, bandwidth, filter pattern).
, The amplitude changes. That is, the amplitude of the passing output of a filter whose filter center frequency is close to the input signal does not decrease, but the amplitude of the passing output of a filter whose filter center frequency is far from the input signal decreases.

【0008】各フィルタの通過信号はA/D変換器40
によって振幅値,測定時刻がデジタル値に変換される。
次いで瞬間周波数算出回路41が、同一時刻の各フィル
タ通過後の振幅値(デジタル値)から当該時刻の瞬間周
波数を算出し、瞬間周波数を時刻と対にして瞬間周波数
記憶メモリに出力する。
A signal passed through each filter is converted by an A / D converter 40
As a result, the amplitude value and the measurement time are converted into digital values.
Next, the instantaneous frequency calculation circuit 41 calculates the instantaneous frequency at the time from the amplitude value (digital value) after passing through each filter at the same time, and outputs the instantaneous frequency to the instantaneous frequency storage memory in pair with the time.

【0009】次いで、パルス内周波数変調判定回路43
がパルス内の各時刻について、1単位時間前周波数変化
量からチャープ信号傾斜を算出し、パルス内変調諸元格
納メモリ44に出力する。
Next, an intra-pulse frequency modulation determination circuit 43
Calculates the chirp signal slope from the frequency change amount one unit time before at each time in the pulse, and outputs it to the intra-pulse modulation specification storage memory 44.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】従来の周波数変調諸元
判定装置は以上のように構成されているので、波形の位
相反転(バーカ信号等の符号化位相変調)を検出するこ
とができないといった問題点があった。また、複数のフ
ィルタの応答特性を中心周波数以外は均一(中心周波数
を基準にした相対周波数対応の出力振幅値応答特性)に
すべきであるが、これが非常に困難であり、中間段階で
の瞬間周波数算出誤差が大きくなり、結果として変調諸
元誤差が大きいといった問題点があった。更には、フィ
ルタの特性が装置自体の温度変化の影響を受けるといっ
た問題点があった。また、入力信号をサンプリングする
技術は、500kHz程度であり、レーダ等のIF信号等
のように数100MHzの信号のサンプリングは後段の分
析の為には目的を満たさないという問題点があった。
Since the conventional frequency modulation specification judging device is constructed as described above, it is impossible to detect phase inversion of a waveform (encoded phase modulation of a Barker signal or the like). There was a point. The response characteristics of a plurality of filters should be uniform except for the center frequency (output amplitude value response characteristics corresponding to the relative frequency with respect to the center frequency). There has been a problem that a frequency calculation error increases and as a result, a modulation specification error increases. Further, there is a problem that the characteristics of the filter are affected by the temperature change of the device itself. In addition, the technique of sampling an input signal is about 500 kHz, and there has been a problem that sampling of a signal of several hundred MHz, such as an IF signal of a radar or the like, does not satisfy the purpose for the subsequent analysis.

【0011】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたもので、温度変化による周波数誤差が
生じることがなく、入力信号の周波数変調判定,チャー
プ傾斜(周波数変化率),符号化位相変調ビット数等を
高性能で算出する周波数変調諸元判定装置を得ることを
目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and there is no occurrence of a frequency error due to a temperature change, frequency modulation determination of an input signal, chirp gradient (frequency change rate), code It is an object of the present invention to obtain a frequency modulation specification judging device for calculating the number of generalized phase modulation bits and the like with high performance.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】第1の発明に係る周波数
変調諸元測定装置は、入力信号をサンプルし、当該サン
プリングにより計測されたディジタル振幅値を記憶する
DRFM回路と、前記DRFM回路に記憶されたディジ
タル振幅値を逐次読み出し、時系列に出力する読み出し
回路と、前記読み出し回路より出力されたディジタル振
幅値を時系列に記憶する振幅メモリ回路と、前記振幅メ
モリ回路に記憶されたディジタル振幅値に基づいて当該
入力信号の周波数変調諸元を判定する周波数変調諸元算
出回路とを備えたものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a frequency modulation specification measuring apparatus which samples an input signal and stores a digital amplitude value measured by the sampling, and stores the digital amplitude value in the DRFM circuit. A readout circuit that sequentially reads out the read digital amplitude values and outputs the digital amplitude values in a time series, an amplitude memory circuit that stores the digital amplitude values output from the readout circuit in a time series, and a digital amplitude value stored in the amplitude memory circuit. And a frequency modulation specification calculation circuit that determines the frequency modulation specification of the input signal based on the

【0013】第2の発明に係る周波数変調諸元判定回路
は、第1の発明に係る周波数変調諸元算出回路におい
て、複数の前記ディジタル振幅値より振幅値がゼロとな
る時刻を算出し、当該時刻に基づいて周波数変調諸元を
判定するものである。
The frequency modulation specification determining circuit according to a second aspect of the present invention, in the frequency modulation specification calculating circuit according to the first aspect, calculates a time at which an amplitude value becomes zero from a plurality of the digital amplitude values. The frequency modulation data is determined based on the time.

【0014】第3の発明に係る周波数変調諸元判定回路
は、第1の発明に係る周波数変調諸元算出回路におい
て、複数の前記ディジタル振幅値より振幅値がピーク値
をとる時刻を算出し、当該時刻に基づいて周波数変調諸
元を判定するものである。
The frequency modulation specification determining circuit according to a third aspect of the present invention is the frequency modulation specification calculating circuit according to the first aspect of the present invention, wherein a time at which an amplitude value has a peak value is calculated from a plurality of the digital amplitude values. The frequency modulation data is determined based on the time.

【0015】第4の発明に係る周波数変調諸元判定回路
は、第1の発明に係る周波数変調諸元算出回路におい
て、前記ディジタル振幅値がゼロとなる第1の時刻と、
前記ディジタル振幅値がゼロとなる第2の時刻との時間
差の変化に基づき、位相の反転を検出し周波数変調諸元
を判定するものである。
A frequency modulation specification determining circuit according to a fourth invention is the frequency modulation specification calculation circuit according to the first invention, wherein the first time at which the digital amplitude value becomes zero is:
Based on a change in a time difference from the second time at which the digital amplitude value becomes zero, phase inversion is detected to determine frequency modulation specifications.

【0016】第5の発明に係る周波数変調諸元判定回路
は、第1の発明に係る周波数変調諸元算出回路におい
て、前記ディジタル振幅値がピーク値をとる第1の時刻
と、前記ディジタル振幅値がピーク値をとる第2の時刻
との時間差の変化に基づき、位相の反転を検出し周波数
変調諸元を判定するものである。
A frequency modulation specification determining circuit according to a fifth invention is the frequency modulation specification calculation circuit according to the first invention, wherein the first time at which the digital amplitude value has a peak value, and the digital amplitude value Is to detect phase inversion based on a change in time difference from the second time at which a peak value is reached, and determine frequency modulation specifications.

【0017】第6の発明に係る周波数変調諸元判定回路
は、第1の発明に係る周波数変調諸元算出回路におい
て、前記ディジタル振幅値がゼロとなる第1の時刻と、
前記ディジタル振幅値がゼロとなる第2の時刻との時間
差の変化と、前記ディジタル振幅値がピーク値をとる第
1の時刻と、前記ディジタル振幅値がピーク値をとる第
2の時刻との時間差の変化に基づき、位相の反転を検出
し周波数変調諸元を判定するものである。
The frequency modulation specification determining circuit according to a sixth invention is the frequency modulation specification calculation circuit according to the first invention, wherein the first time at which the digital amplitude value becomes zero is:
A change in time difference from a second time at which the digital amplitude value becomes zero, a time difference between a first time at which the digital amplitude value has a peak value, and a second time at which the digital amplitude value has a peak value. Is used to detect the inversion of the phase and determine the frequency modulation specifications.

【0018】第7の発明に係る周波数変調諸元判定回路
は、第1の発明に係る周波数変調諸元算出回路は、前記
ディジタル振幅値に基づいて周期を算出する周期算出回
路と、前記周期算出回路により算出された周期に基づい
て、位相の反転の時刻及び反転の方向を推定する反転推
定回路と、前記反転推定回路において推定された反転時
刻における反転の方向と同時刻におけるディジタル振幅
値に基づき算出された反転の方向とを比較することによ
り周波数変調諸元を判定する回路とを有するものであ
る。
According to a seventh aspect of the invention, there is provided a frequency modulation specification determining circuit, wherein the frequency modulation specification calculating circuit includes a period calculating circuit for calculating a period based on the digital amplitude value; An inversion estimating circuit for estimating the time and direction of the inversion of the phase based on the cycle calculated by the circuit; and a digital amplitude value at the same time as the inversion direction at the inversion time estimated by the inversion estimation circuit. And a circuit for comparing the calculated inversion direction to determine frequency modulation data.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】実施の形態1.以下、この発明の
一実施の形態に係る周波数測定装置を図について説明す
る。尚、実施の形態1〜10は周波数測定装置に関する
発明、実施の形態11〜18は周波数変調諸元判定装置
に関する発明につき説明されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 Hereinafter, a frequency measuring apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The first to tenth embodiments relate to an invention relating to a frequency measuring apparatus, and the first to eleventh embodiments relate to an invention relating to a frequency modulation specification determining apparatus.

【0020】図1において、1はIF信号を入力する入
力端子,2は入力端子1より入力された入力信号を高速
でサンプルし振幅値を記憶するDRFM(Digital RF M
emory)回路,3はタイマ,4はDRFM回路2の記憶
内容を逐次読み込み,振幅情報を時刻情報とともに出力
する読み出し回路,5は読み出し回路4が出力した振幅
値及び時刻に関する情報を時系列で記憶する振幅メモ
リ,6は振幅メモリ5に記憶した振幅値及び時刻を高速
フーリエ変換するFFT回路,7は高速フーリエ変換後
の規定スペクトラムレベル以上の値を記憶するFメモリ
である。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an input terminal for inputting an IF signal, and 2 denotes a DRFM (Digital RF M) for sampling an input signal input from the input terminal 1 at a high speed and storing an amplitude value.
emory) circuit, 3 is a timer, 4 is a readout circuit for sequentially reading the storage contents of the DRFM circuit 2 and outputting amplitude information together with time information, and 5 is a time-series storing information on the amplitude value and time output by the readout circuit 4 An FFT circuit for fast Fourier transforming the amplitude value and time stored in the amplitude memory 5, and an F memory 7 for storing values equal to or higher than a specified spectrum level after the fast Fourier transform.

【0021】次に動作について説明する。入力端子1に
IF信号が入力されると、DRFM回路2は入力信号を
高速にサンプル、即ち、規定時間間隔で正弦波信号の振
幅を計測し、nビットのデジタル値(nは2以上の整
数)に変換し、デジタルメモリに記憶する。この時のサ
ンプリング周波数はIF周波数帯域幅の2倍以上とす
る。
Next, the operation will be described. When an IF signal is input to the input terminal 1, the DRFM circuit 2 samples the input signal at high speed, that is, measures the amplitude of the sine wave signal at specified time intervals, and obtains an n-bit digital value (n is an integer of 2 or more). ) And store it in digital memory. The sampling frequency at this time is twice or more the IF frequency bandwidth.

【0022】次いで、読み出し回路4が即座にDRFM
回路2に記憶された振幅値を読みとり、同時にタイマ3
の時刻を読みとって、振幅値及び時刻を一対のデータと
して振幅メモリ5に書き込む。この時読み出し回路4は
一対のデータを振幅メモリ5に書き込む度に振幅メモリ
の書き込みアドレスを逐次更新する。
Next, the read circuit 4 immediately receives the DRFM signal.
The amplitude value stored in the circuit 2 is read and the timer 3
Is read and the amplitude value and the time are written to the amplitude memory 5 as a pair of data. At this time, the read circuit 4 sequentially updates the write address of the amplitude memory each time a pair of data is written to the amplitude memory 5.

【0023】上記の動作を所定時間(T)の間繰り返す
と、振幅メモリ5には図2に示す例のように時系列の振
幅及び時刻の情報が入力される。図2の上図は、縦軸に
振幅、横軸に時間をとった場合の入力信号を示し、それ
らをDRFM回路2により所定時刻においてサンプル
し、求めた振幅値を示したのが図2の下図である。
When the above operation is repeated for a predetermined time (T), time-series amplitude and time information is input to the amplitude memory 5 as shown in FIG. The upper diagram of FIG. 2 shows input signals when the vertical axis represents amplitude and the horizontal axis represents time, and the input signals are sampled at predetermined times by the DRFM circuit 2 and the obtained amplitude values are shown in FIG. It is a figure below.

【0024】次いでFFT回路6が振幅メモリ5の情報
を高速フーリエ変換を行う。高速フーリエ変換の結果、
規定スペクトラムレベル以上の周波数値があれば、この
周波数値(複数あれば複数個)を当該時間(T)の周波
数値としてFメモリ7に出力する。これにより、第1時
間区分(時刻0〜T)の周波数値が算出される。同様に
第2時間区分(時刻T〜2×T)以降の周波数値を算出
し、Fメモリに逐次出力する。
Next, the FFT circuit 6 performs a fast Fourier transform on the information in the amplitude memory 5. As a result of the fast Fourier transform,
If there is a frequency value equal to or higher than the specified spectrum level, this frequency value (if there is more than one) is output to the F memory 7 as the frequency value of the time (T). Thereby, the frequency value of the first time section (time 0 to T) is calculated. Similarly, the frequency values after the second time interval (time T to 2 × T) are calculated and sequentially output to the F memory.

【0025】以上のようにこの実施の形態1に記載され
た発明によれば、入力したIF信号の正弦波形をデジタ
ル化した振幅値列により再現し、もとの正弦波の周波数
値を時間区分毎に算出する構成としており、また温度条
件等で変動する要素が装置内に存在しないので、複数信
号の正弦波成分を弁別できるとともに装置温度の影響を
受けない高信頼性を保有した周波数測定が可能となる。
As described above, according to the invention described in the first embodiment, the sine waveform of the input IF signal is reproduced by a digitized amplitude value sequence, and the frequency value of the original sine wave is time-divided. Each component is calculated separately, and since there is no element that fluctuates due to temperature conditions in the device, it is possible to discriminate sine wave components of multiple signals and to measure frequency with high reliability that is not affected by device temperature. It becomes possible.

【0026】実施の形態2.実施の形態1では、振幅メ
モリ5の(振幅値,時刻)を高速フーリエ変換すること
により周波数値を算出していたが、この実施の形態2で
は、ゼロポイントを検出等し正弦波の周期を算出し周波
数に変換することにより周波数を求めている。図3はこ
の実施の形態2に係る周波数測定装置を示すブロック図
であり、図において、8は振幅メモリ5と接続されたゼ
ロ検出回路、9はゼロ検出回路8と接続されたゼロポイ
ント履歴メモリ、10はゼロポイント履歴メモリ9及び
Fメモリ7と接続されたF算出回路である。
Embodiment 2 FIG. In the first embodiment, the frequency value is calculated by subjecting the (amplitude value, time) of the amplitude memory 5 to fast Fourier transform. In the second embodiment, the zero point is detected and the cycle of the sine wave is calculated. The frequency is obtained by calculating and converting the frequency. FIG. 3 is a block diagram showing a frequency measuring apparatus according to the second embodiment. In the drawing, reference numeral 8 denotes a zero detection circuit connected to the amplitude memory 5 and 9 denotes a zero point history memory connected to the zero detection circuit 8. Reference numeral 10 denotes an F calculation circuit connected to the zero point history memory 9 and the F memory 7.

【0027】実施の形態2の動作について説明する。入
力IF信号の振幅値及び時刻に関するデータを振幅メモ
リ5に出力するまでは実施の形態1で説明した周波数測
定装置と同一である。次いでゼロ検出回路8が振幅メモ
リ5上の区分開始時刻(第1時間区分であれば時刻=
0)から区分終了時刻(第1時間区分であれば時刻=
T)までの間で、1単位時間(サンプリング間隔)前の
振幅値から正負符号が変化した時刻を検索し振幅ゼロの
クロスポイントを内挿して算出する。
The operation of the second embodiment will be described. Until the data on the amplitude value and the time of the input IF signal is output to the amplitude memory 5, the configuration is the same as that of the frequency measuring apparatus described in the first embodiment. Next, the zero detection circuit 8 sets the section start time on the amplitude memory 5 (the time =
0) to the end time of the section (for the first time section, the time =
Until T), the time at which the sign changes from the amplitude value one unit time (sampling interval) earlier is searched for, and the calculation is performed by interpolating the cross point of zero amplitude.

【0028】具体的要領は以下のとおりである。 (1)サンプル間隔をtとし、また、時刻0、t、2t
・・・における振幅値をP0,P1,P2としたときに、
Pm>0,Pm+1<0となるmを検索する。 (2)(Pm,m×t),(Pm+1,(m+1)×t)を直
線で近似し、振幅ゼロ相当時刻を算出する。 ゼロポイント時刻=m×t+(t×Pm)/|Pm+1−P
m|
The specific procedure is as follows. (1) Let t be a sample interval, and time 0, t, 2t
When the amplitude values in ... are P0, P1, and P2,
An m that satisfies Pm> 0 and Pm + 1 <0 is searched. (2) Approximate (Pm, m × t) and (Pm + 1, (m + 1) × t) with a straight line to calculate a time corresponding to zero amplitude. Zero point time = m × t + (t × Pm) / | Pm + 1−P
m |

【0029】ゼロポイント時刻として求めた時刻を逐次
ゼロポイント履歴メモリ9に出力する。こうして時刻0
から時刻Tまでのゼロポイント時刻を全て記憶する。0
〜Tのゼロポイント時刻をZ0,Z1,Z2とし、次いでF
算出回路10がゼロポイント時刻同士の間隔(Z1−Z
0,Z2−Z1,‥)を計算し、これらの代表値(平均
値,中央値等)を半周期とする周波数を算出し、Fメモ
リ7に出力する。
The time obtained as the zero point time is sequentially output to the zero point history memory 9. Thus time 0
From the time T to the time T are stored. 0
Let the zero point times of ~ T be Z0, Z1, Z2 and then F
The calculation circuit 10 calculates the interval between the zero point times (Z1-Z
0, Z2-Z1,...), Calculate a frequency having a half cycle of these representative values (average value, median value, etc.), and output it to the F memory 7.

【0030】この実施の形態2の場合、当該時間区分
(T)での出力周波数は1つであるが、フーリエ変換を
行わないので、実施の形態1より当該時間区分(T)を
小さく設定することができ、細分化した区分毎の周波数
を算出することができる。
In the second embodiment, the output frequency in the time section (T) is one, but since the Fourier transform is not performed, the time section (T) is set smaller than in the first embodiment. It is possible to calculate the frequency for each subdivided section.

【0031】実施の形態3.実施の形態2では、DRF
M回路2の出力のゼロクロスポイントを内挿して求め、
正弦波の半周期から周波数に変換したが、この実施の形
態3では、ピークを検出等し、正弦波の周期を算出し周
波数に変換する。図4はこの実施の形態3に係る周波数
測定装置を示すブロック図であり、図において、11は
振幅メモリ5と接続されたピーク検出回路,12はピー
ク検出回路11と接続されたピーク履歴メモリ、13は
ピーク履歴メモリ12と接続されたF算出回路である。
Embodiment 3 In the second embodiment, the DRF
Interpolating the zero cross point of the output of the M circuit 2,
Although the half cycle of the sine wave is converted to the frequency, in the third embodiment, the peak is detected and the cycle of the sine wave is calculated and converted to the frequency. FIG. 4 is a block diagram showing a frequency measuring apparatus according to the third embodiment. In the figure, reference numeral 11 denotes a peak detection circuit connected to the amplitude memory 5, reference numeral 12 denotes a peak history memory connected to the peak detection circuit 11, Reference numeral 13 denotes an F calculation circuit connected to the peak history memory 12.

【0032】実施の形態3に係る周波数測定装置の動作
について説明する。入力IF信号の(振幅値,時刻)デ
ータを振幅メモリ5に出力するまでは実施の形態1で説
明した周波数測定装置の動作と同一である。次いでピー
ク検出回路11が振幅メモリ5上の区分開始時刻(第1
時間区分であれば時刻=0)から区分終了時刻(第1時
間区分であれば時刻=T)までの間で、1単位時間(サ
ンプリング間隔)前の振幅値からの差分の正負符号が変
化した時刻を検索し振幅値極大/極小ポイント(ピーク
ポイント)とする。
The operation of the frequency measuring device according to the third embodiment will be described. The operation until the (amplitude value, time) data of the input IF signal is output to the amplitude memory 5 is the same as the operation of the frequency measuring apparatus described in the first embodiment. Next, the peak detection circuit 11 causes the section start time (the first
The sign of the difference from the amplitude value one unit time (sampling interval) has changed from the time = 0 in the case of the time section to the end time of the section (time = T in the case of the first time section). The time is searched and set as the maximum / minimum amplitude value point (peak point).

【0033】ピークポイント時刻として求めた時刻を逐
次ピーク履歴メモリ12に出力する。こうして時刻0か
ら時刻Tまでのピーク時刻を全て記憶する。0〜Tのゼ
ロポイント時刻をZ0,Z1,Z2とし、次いでF算出回路
13が極大ピーク時刻同士の間隔(Z2−Z0,Z3−Z
1,Z4−Z2,‥)を計算し、これらの代表値(平均
値,中央値等)を周期とする周波数を算出し、Fメモリ
7に出力する。
The time obtained as the peak point time is sequentially output to the peak history memory 12. In this way, all peak times from time 0 to time T are stored. The zero point times of 0 to T are defined as Z0, Z1, and Z2, and then the F calculation circuit 13 determines the interval between the maximum peak times (Z2-Z0, Z3-Z).
1, Z4-Z2,...), Calculate a frequency having a cycle of these representative values (average value, median value, etc.), and output it to the F memory 7.

【0034】この実施の形態3の場合も、当該時間区分
(T)での出力周波数は1つであるが、フーリエ変換を
行わないので、Tを実施の形態1より小さく設定するこ
とができ、細分化した区分毎の周波数を算出することが
できる。
Also in the case of the third embodiment, although the output frequency in the time section (T) is one, since the Fourier transform is not performed, T can be set smaller than that of the first embodiment. The frequency for each subdivided section can be calculated.

【0035】実施の形態4.実施の形態1では、振幅メ
モリ5の(振幅値,時刻)を高速フーリエ変換すること
により周波数値を算出していたが、この実施の形態4で
はFFT回路の代わりにカルマンフィルタ回路を設け
て、正弦波の周期を算出し周波数に変換している。図5
は、この実施の形態4に係る周波数測定装置を示すブロ
ック図であり、図において、14は、振幅メモリ5及び
Fメモリ7と接続されたカルマンフィルタ回路である。
Embodiment 4 FIG. In the first embodiment, the frequency value is calculated by subjecting the (amplitude value, time) of the amplitude memory 5 to fast Fourier transform. In the fourth embodiment, a Kalman filter circuit is provided instead of the FFT circuit, and the sine wave is calculated. The wave period is calculated and converted to frequency. FIG.
Is a block diagram showing a frequency measuring apparatus according to the fourth embodiment. In the figure, reference numeral 14 denotes a Kalman filter circuit connected to the amplitude memory 5 and the F memory 7.

【0036】実施の形態4に係る周波数測定装置の動作
について説明する。入力IF信号の(振幅値,時刻)デ
ータを振幅メモリ5に出力するまでは実施の形態1で説
明した周波数測定装置の動作と同一である。次いでカル
マンフィルタ回路14が以下の式を同定モデルとする拡
張カルマンフィルタにより振幅データ列から正弦波周期
(Tk)を算出する。 P=sin{(2πt/Tk)+α} 正弦波周期Tkを周波数に変換しFメモリ7に出力す
る。
The operation of the frequency measuring device according to the fourth embodiment will be described. The operation until the (amplitude value, time) data of the input IF signal is output to the amplitude memory 5 is the same as the operation of the frequency measuring apparatus described in the first embodiment. Next, the Kalman filter circuit 14 calculates a sine wave period (Tk) from the amplitude data sequence by an extended Kalman filter using the following equation as an identification model. P = sin {(2πt / Tk) + α} The sine wave cycle Tk is converted into a frequency and output to the F memory 7.

【0037】以上のように、ディジタル振幅値をカルマ
ンフィルタ回路に基づき、周波数を算出するものなの
で、フーリエ変換を行わないので、時間区分(T)を小
さく設定することができ、細分化した区分毎の周波数を
算出することができる。
As described above, since the frequency is calculated based on the digital amplitude value based on the Kalman filter circuit, the Fourier transform is not performed. Therefore, the time section (T) can be set small, and each of the subdivided sections can be set. The frequency can be calculated.

【0038】実施の形態5.実施の形態1では、1時間
区分(時刻0〜T)の振幅値を単一の振幅メモリ5に記
憶し、高速フーリエ変換することにより周波数値を算出
していたが、振幅メモリ5を複数設けて第1の振幅メモ
リに時刻0〜Tの振幅値を、第2の振幅メモリに時刻t
〜T+tの振幅値を、‥‥と記憶し、それぞれの区間
(0〜T,t〜T+t,2×t〜T+2×t,‥)を高
速フーリエ変換し、各区間毎の周波数値を算出し、隣接
区間の周波数一致を検出し、当該両区間の周波数値とす
る構成としてもよい。図6はこの実施の形態5に係る周
波数測定装置の構成を示すブロック図である。図におい
て、15はFFT回路6に接続された区間Fメモリ、1
6は区間Fメモリ15及びFメモリ7に接続された隣接
F算出回路16である。
Embodiment 5 In the first embodiment, the amplitude value of one time section (time 0 to T) is stored in the single amplitude memory 5 and the frequency value is calculated by performing the fast Fourier transform. However, a plurality of amplitude memories 5 are provided. In the first amplitude memory, the amplitude values at times 0 to T are stored in the first amplitude memory, and at the time t
The amplitude value of T to t + t is stored as ‥‥, and each section (0 to T, t to T + t, 2 × t to T + 2 × t, ‥) is subjected to fast Fourier transform to calculate a frequency value for each section. Alternatively, a configuration may be adopted in which a frequency match between adjacent sections is detected, and the frequency values of both sections are detected. FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of the frequency measuring device according to the fifth embodiment. In the figure, reference numeral 15 denotes a section F memory connected to the FFT circuit 6, 1
Reference numeral 6 denotes an adjacent F calculation circuit 16 connected to the section F memory 15 and the F memory 7.

【0039】実施の形態5の動作について説明する。入
力IF信号の(振幅値,時刻)データを振幅メモリ5に
出力するのは実施の形態1と同様であるが、この際時刻
0は振幅メモリ1に、時刻tは振幅メモリ1及び2に出
力する。このようにして振幅メモリ1には時刻0〜Tの
振幅履歴を、振幅メモリ2には時刻t〜T+tの振幅履
歴を出力し振幅メモリiには時刻(iー1)×t〜T+
(i−1)×tの振幅履歴を出力する。
The operation of the fifth embodiment will be described. Outputting the (amplitude value, time) data of the input IF signal to the amplitude memory 5 is the same as in the first embodiment. At this time, time 0 is output to the amplitude memory 1 and time t is output to the amplitude memories 1 and 2. I do. In this manner, the amplitude history from time 0 to time T is output to the amplitude memory 1, the amplitude history from time t to time T + t is output to the amplitude memory 2, and the time (i-1) × t to time T + is output to the amplitude memory i.
(I-1) × t amplitude history is output.

【0040】次いでFFT回路6が各区間の高速フーリ
エ変換結果を実施の形態1と同様に、区間Fメモリ15
に出力する。次いで隣接F算出回路16が隣接区間の算
出Fが一致する場合、当該周波数を連続区間Fとして、
Fメモリ7に出力する。
Next, the FFT circuit 6 converts the result of the fast Fourier transform of each section into the section F memory 15 as in the first embodiment.
Output to Next, when the calculation F of the adjacent section matches, the adjacent F calculation circuit 16 sets the frequency as a continuous section F.
Output to the F memory 7.

【0041】この実施の形態により特定部分の周波数成
分の影響を低減し、かつ各周波数成分の発生開始,終了
時刻が算出することができる。
According to this embodiment, it is possible to reduce the influence of the frequency component of the specific portion and calculate the start and end times of the occurrence of each frequency component.

【0042】実施の形態6.実施の形態2では、1時間
区分(時刻0〜T)のゼロクロスポイントを検索し、ゼ
ロクロスポイント間隔の代表値(平均値,中央値等)1
個から周波数値を算出していたが、図7に示すように区
間Fメモリ15を複数設けて第1の区間Fメモリに時刻
0〜TのF代表値を、第2の区間Fメモリに時刻t〜T
+tのF代表値を、‥‥と記憶し、この後で実施の形態
5と同様に連続区間Fを算出してもよい。
Embodiment 6 FIG. In the second embodiment, a zero cross point in one hour section (time 0 to T) is searched, and a representative value (average value, median value, etc.) of the zero cross point interval is set to 1
Although the frequency value was calculated from the number, as shown in FIG. 7, a plurality of section F memories 15 were provided, and the F representative values of times 0 to T were stored in the first section F memory, and the time F was stored in the second section F memory. t ~ T
The F representative value of + t may be stored as ‥‥, and thereafter the continuous section F may be calculated as in the fifth embodiment.

【0043】この場合F代表値算出のサンプル数を変更
するだけでは、DRFMの性能に応じてフレキシブルに
F精度,ノイズ低減性能調整が可能となる。
In this case, only by changing the number of samples for calculating the F representative value, the F accuracy and the noise reduction performance can be flexibly adjusted according to the performance of the DRFM.

【0044】実施の形態7.実施の形態3では、1時間
区分(時刻0〜T)のピーク(極大/極小ポイントを検
索し、ピークポイント間隔の代表値(平均値,中央値
等)1個から周波数値を算出していたが、図7に示すよ
うに区間Fメモリ15を複数設けて第1の区間Fメモリ
に時刻0〜TのF代表値を、第2の区間Fメモリに時刻
t〜T+tのF代表値を、‥‥と記憶し、この後で実施
の形態5と同様に連続区間Fを算出してもよい。
Embodiment 7 FIG. In the third embodiment, the frequency value is calculated from one representative value (average value, median value, etc.) of the peaks (maximum value / minimum value, etc.) of the peak (maximum / minimum point) in one hour section (time 0 to T). However, as shown in FIG. 7, a plurality of section F memories 15 are provided, a first section F memory has F representative values at times 0 to T, a second section F memory has F representative values at times t to T + t, ‥‥ may be stored, and thereafter the continuous section F may be calculated as in the fifth embodiment.

【0045】この場合実施の形態6と同様にF代表値算
出のサンプル数を変更するだけでは、DRFMの性能に
応じてフレキシブルにF精度,ノイズ低減性能調整が可
能となる。
In this case, just by changing the number of samples for calculating the F representative value as in the sixth embodiment, the F precision and the noise reduction performance can be flexibly adjusted according to the performance of the DRFM.

【0046】実施の形態8.実施の形態4では、1時間
区分(時刻0〜T)の振幅値履歴を拡張カルマンフィル
タを用いて周波数値を1データを算出していたが、図9
に示すように振幅メモリ5及び、区間Fメモリ15を各
々複数設けて第1の振幅メモリに時刻0〜Tの振幅値
を、第2の振幅メモリに時刻t〜T+tの振幅値を、‥
‥と記憶し、それぞれの区間(0〜T,t〜T+t,2
×t〜T+2×t,‥)で拡張カルマンフィルタによ
り、各区間毎の周波数値を算出し、隣接区間の周波数一
致を検出し、当該両区間の周波数値とする(各区間周波
数算出後は実施の形態5と同様)構成としてもよい。
Embodiment 8 FIG. In the fourth embodiment, the amplitude value history of one time section (time 0 to T) is calculated as one frequency value using the extended Kalman filter.
, A plurality of amplitude memories 5 and a plurality of section F memories 15 are provided, and the first amplitude memory stores the amplitude values at times 0 to T, the second amplitude memory stores the amplitude values at times t to T + t, and
、, and each section (0 to T, t to T + t, 2
× t to T + 2 × t, ‥) by the extended Kalman filter to calculate a frequency value for each section, detect a frequency match between adjacent sections, and use the frequency value for both sections (after calculating the frequency for each section, (Similar to Embodiment 5).

【0047】実施の形態9.実施の形態5では、複数区
間の周波数値を1個のFFT回路6が逐次F算出を行
い、各区間周波数を複数の区間Fメモリ15に出力して
いたが、図10に示すように振幅メモリ5,区間Fメモ
リ15と同数のFFT回路6を設けて、該当振幅メモリ
5への入力が終了し次第、高速フーリエ変換を各々実行
(まだ他の振幅メモリへの出力が実行されているうち
に)する構成としてもよい。
Embodiment 9 FIG. In the fifth embodiment, one FFT circuit 6 sequentially calculates the frequency value of a plurality of sections and outputs each section frequency to the plurality of section F memories 15. However, as shown in FIG. 5, the same number of FFT circuits 6 as the section F memory 15 are provided, and as soon as the input to the corresponding amplitude memory 5 is completed, the fast Fourier transform is executed (while the output to the other amplitude memories is still being executed). ) May be adopted.

【0048】この構成を用いると、高速フーリエ変換処
理が複数並列に実行され、高速に周波数が算出できると
いう効果がある。
When this configuration is used, there is an effect that a plurality of fast Fourier transform processes are executed in parallel, and the frequency can be calculated at a high speed.

【0049】実施の形態10.実施の形態8では、複数
区間の周波数値を1個のカルマンフィルタ回路14が逐
次F算出を行い、各区間周波数を複数の区間Fメモリ1
5に出力していたが、図11に示すように振幅メモリ
5,区間Fメモリ15と同数のカルマンフィルタ回路1
4を設けて、該当振幅メモリ5への入力が終了し次第、
拡張カルマンフィルタリングを各々実行(まだ他の振幅
メモリへの出力が実行されているうちに)する構成とし
てもよい。
Embodiment 10 FIG. In the eighth embodiment, one Kalman filter circuit 14 sequentially calculates the frequency values of a plurality of sections, and stores each section frequency in a plurality of section F memories 1.
5, the same number of Kalman filter circuits 1 as the amplitude memory 5 and the section F memory 15 as shown in FIG.
4 as soon as the input to the corresponding amplitude memory 5 is completed.
The configuration may be such that each of the extended Kalman filterings is executed (while output to another amplitude memory is still being executed).

【0050】この構成を用いると、拡張カルマンフィル
タ処理が複数並列に実行され、高速に周波数が算出でき
るという効果がある。
When this configuration is used, there is an effect that a plurality of extended Kalman filter processes are executed in parallel, and the frequency can be calculated at high speed.

【0051】実施の形態11.以下、この発明の一実施
の形態を図について説明する。図13はこの実施の形態
11に係る周波数変調諸元判定装置を示すブロック図で
ある。図13において1はIF信号を入力する入力端
子,2は入力信号を高速でサンプルし振幅値を記憶する
DRFM(Digital RF Memory)回路,3はタイマ,4
はDRFMの記憶内容を逐次読み込,振幅情報を時刻情
報とともに出力する読み出し回路,5は読み出し回路が
出力した(振幅値,時刻)情報を時系列で記憶する振幅
メモリである。
Embodiment 11 FIG. Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 13 is a block diagram showing a frequency modulation specification determining apparatus according to the eleventh embodiment. In FIG. 13, 1 is an input terminal for inputting an IF signal, 2 is a DRFM (Digital RF Memory) circuit for sampling an input signal at high speed and storing an amplitude value, 3 is a timer, 4
Is a reading circuit for sequentially reading the stored contents of the DRFM and outputting the amplitude information together with the time information, and 5 is an amplitude memory for storing (amplitude value, time) information output by the reading circuit in time series.

【0052】6は振幅メモリに記憶した(振幅値,時
刻)を高速フーリエ変換するFFT回路,7は高速フー
リエ変換後の規定スペクトラムレベル以上の範囲の中心
値を時系列で記憶するFメモリ,25は時系列の(時
刻,周波数)を一定速度で周波数変化するモデルに基づ
き周波数変化率を算出する最小自乗近似回路,26は最
小自乗近似結果である周波数変化率を格納するチャープ
諸元格納メモリである。
Reference numeral 6 denotes an FFT circuit for performing a fast Fourier transform of the (amplitude value, time) stored in the amplitude memory, 7 an F memory for storing, in a time series, a center value in a range equal to or higher than a specified spectrum level after the fast Fourier transform. Is a least squares approximation circuit for calculating a frequency change rate based on a model in which a time series (time, frequency) changes at a constant speed, and 26 is a chirp specification storage memory for storing a frequency change rate which is a least squares approximation result. is there.

【0053】次に動作について説明する。入力端子1に
IF信号が入力されると、DRFM(Digital RF Memor
y)は入力信号を高速にサンプル(規定時間間隔で正弦
波信号の振幅を計測)し、nビットのデジタル値(nは
2以上の整数)に変換し、デジタルメモリに記憶する。
この時のサンプリング周波数はIF周波数帯域幅の整数
倍以上とする。
Next, the operation will be described. When an IF signal is input to the input terminal 1, a DRFM (Digital RF Memor
y) samples the input signal at a high speed (measures the amplitude of the sine wave signal at specified time intervals), converts it into an n-bit digital value (n is an integer of 2 or more), and stores it in a digital memory.
The sampling frequency at this time is set to an integer multiple of the IF frequency bandwidth or more.

【0054】次いで、読み出し回路4が即座にDRFM
の振幅値を読みとり、同時にタイマ3の時刻を読みとっ
て、(振幅値,時刻)を一対のデータとして振幅メモリ
5に書き込む。この時読み出し回路4は一対のデータを
振幅メモリ5に書き込む度に振幅メモリの書き込みアド
レスを逐次更新する。
Next, the read circuit 4 immediately receives the DRFM signal.
And the time of the timer 3 is read at the same time, and (amplitude value, time) is written to the amplitude memory 5 as a pair of data. At this time, the read circuit 4 sequentially updates the write address of the amplitude memory each time a pair of data is written to the amplitude memory 5.

【0055】上記の動作を所定時間(T)の間繰り返す
と、振幅メモリ5には図14に示す例のように時系列の
(振幅,時刻)情報が入力される。次いでFFT回路6
が振幅メモリ5の情報を高速フーリエ変換を行う。高速
フーリエ変換の結果、規定スペクトラムレベル以上の周
波数値があれば、この周波数範囲の中心値を当該時間区
分(FFT対象時間帯)の中心時刻の周波数値としてF
メモリ7に出力する。
When the above operation is repeated for a predetermined time (T), time-series (amplitude, time) information is input to the amplitude memory 5 as in the example shown in FIG. Next, the FFT circuit 6
Performs a fast Fourier transform of the information in the amplitude memory 5. As a result of the fast Fourier transform, if there is a frequency value equal to or higher than the specified spectrum level, the center value of this frequency range is set as the frequency value of the center time of the time section (FFT target time zone) as F
Output to the memory 7.

【0056】サンプリング周期Δt(Δtはサンプリン
グ周波数の逆数になる)に対し、第1時間区分(時刻0
〜m×Δt)のFFT結果の周波数範囲の中心周波数
(f1)を時刻 m×Δt/2 の周波数値とする。FF
T回路はこの結果をFメモリ7に出力する。 出力内容
は、(時刻:m×Δt/2,周波数:f1)である。
For the sampling period Δt (Δt is the reciprocal of the sampling frequency), the first time interval (time 0
The center frequency (f1) of the frequency range of the FFT result of (.about.m.times..DELTA.t) is defined as the frequency value at time m.times..DELTA.t / 2. FF
The T circuit outputs this result to the F memory 7. The output content is (time: m × Δt / 2, frequency: f1).

【0057】FFT回路は更に、第2時間区分(時刻Δ
t〜(m+1)×Δt),第3時間区分(時刻2×Δt
〜(m+2)×Δt),‥‥についても高速フーリエ変
換を行い、Fメモリに逐次出力する。こうしてFメモリ
7には時系列で(f1,m/2×Δt),(f2,(m+
1)/2×Δt),(f3,(m+2)/2×Δt),
‥‥が出力される。
The FFT circuit further includes a second time section (time Δ
t to (m + 1) × Δt), third time interval (time 2 × Δt)
高速 (m + 2) × Δt) and ‥‥ are also subjected to fast Fourier transform and are sequentially output to the F memory. Thus, in the F memory 7, (f1, m / 2 × Δt), (f2, (m +
1) / 2 × Δt), (f3, (m + 2) / 2 × Δt),
‥‥ is output.

【0058】次いで最小自乗近似回路25がFメモリ7
の内容を以下の式をモデルとして最小自乗近似を行う。 式 f=k×t+f0 f:時刻tの周波数 f0:周波数初期値 k:周波数変化率 最小自乗近似回路25は最小自乗近似の結果(上式の
k)をチャープ信号傾斜として、チャープ諸元格納メモ
リ26に出力する。尚、入力信号が非チャープ信号の場
合には、チャープ信号傾斜=0と設定される。
Next, the least-squares approximation circuit 25 outputs the F memory 7
Is subjected to least squares approximation using the following equation as a model. Equation f = k × t + f0 f: frequency at time t f0: initial frequency value k: frequency change rate The least squares approximation circuit 25 uses the result of the least squares approximation (k in the above equation) as a chirp signal slope and stores chirp specification data. 26. If the input signal is a non-chirp signal, the chirp signal slope is set to zero.

【0059】以上のようにこの実施の形態に記載された
発明によれば、温度変化による周波数誤差が生じること
がなく、入力信号の周波数変調判定を行うことができ
る。
As described above, according to the invention described in this embodiment, it is possible to determine the frequency modulation of an input signal without causing a frequency error due to a temperature change.

【0060】実施の形態12.実施の形態11では、振
幅メモリ5の(振幅値,時刻)を高速フーリエ変換する
ことにより周波数値を算出し、後段の最小自乗近似回路
の入力をしていたが、この実施の形態12ではゼロポイ
ントを検出等し正弦波の周期を算出し周波数に変換す
る。図15はこの実施の形態12に係る周波数変調諸元
判定装置を示すブロック図である。図15はおいて、8
はゼロ検出回路、9はゼロポイント履歴メモリである。
Embodiment 12 FIG. In the eleventh embodiment, the frequency value is calculated by subjecting the (amplitude value, time) of the amplitude memory 5 to fast Fourier transform and input to the least square approximation circuit at the subsequent stage. A point is detected and the cycle of a sine wave is calculated and converted to a frequency. FIG. 15 is a block diagram showing a frequency modulation specification determining apparatus according to the twelfth embodiment. In FIG.
Is a zero detection circuit, and 9 is a zero point history memory.

【0061】実施の形態12に係る周波数変調諸元判定
装置の動作について説明する。入力IF信号の(振幅
値,時刻)データを振幅メモリ5に出力するまでは実施
の形態11で説明した周波数変調諸元判定装置の動作と
同一である。次いでゼロ検出回路8が振幅メモリ5上の
区分開始時刻(第1時間区分であれば時刻=0)から区
分終了時刻(第1時間区分であれば時刻=T)までの間
で、1単位時間(サンプリング間隔)前の振幅値から正
負符号が変化した時刻を検索し振幅ゼロのクロスポイン
トを内挿して算出する。
The operation of the frequency modulation specification determining apparatus according to Embodiment 12 will be described. The operation until the (amplitude value, time) data of the input IF signal is output to the amplitude memory 5 is the same as the operation of the frequency modulation specification determining apparatus described in the eleventh embodiment. Next, the zero detection circuit 8 performs one unit time from the section start time (time = 0 for the first time section) to the section end time (time = T for the first time section) on the amplitude memory 5. (Sampling interval) The time at which the sign changes from the previous amplitude value is searched, and the calculated value is obtained by interpolating the cross point of zero amplitude.

【0062】具体的には以下のとおり動作する。 (1)サンプル間隔をt,時刻0,Δt,2Δt‥にお
ける振幅値をP0、P1、P2とした時に、Pm>0,Pm+
1<0のmを検索する。 (2)(Pm,m×Δt),(Pm+1,(m+1)×Δt)
を直線で近似し、振幅ゼロ相当時刻を算出する。 ゼロポイント時刻=m×Δt+Δt×Pm/|Pm+1−P
m|
Specifically, the operation is performed as follows. (1) When the sample interval is t and the amplitude values at time 0, Δt, 2Δt} are P0, P1, and P2, Pm> 0, Pm +
Search for m where 1 <0. (2) (Pm, m × Δt), (Pm + 1, (m + 1) × Δt)
Is approximated by a straight line, and a time equivalent to zero amplitude is calculated. Zero point time = m × Δt + Δt × Pm / | Pm + 1−P
m |

【0063】ゼロポイント時刻として求めた時刻を逐次
ゼロポイント履歴メモリ9に出力する。こうして時刻0
から時刻Tまでのゼロポイント時刻を全て記憶する。0
〜Tのゼロポイント時刻をZ0,Z1,Z2‥‥とし、次い
で最小自乗近似回路25がゼロポイント履歴メモリ9の
内容を以下の式をモデルとして最小自乗近似を行う。
The time obtained as the zero point time is sequentially output to the zero point history memory 9. Thus time 0
From the time T to the time T are stored. 0
The zero point time of T is set to Z0, Z1, Z2}, and then the least squares approximation circuit 25 performs the least squares approximation of the contents of the zero point history memory 9 using the following equation as a model.

【0064】 式 f=k×t+f0 f:時刻tの周波数 f0:周波数初期値 k:周波数変化率 ti=(Zi-1+Zi)/2 fi=1/2(Zi−Zi-1)Expression f = k × t + f0 f: frequency at time t f0: initial frequency value k: frequency change rate ti = (Zi−1 + Zi) / 2 fi = 1/2 (Zi−Zi−1)

【0065】最小自乗近似回路25は最小自乗近似の結
果(上式のk)をチャープ信号傾斜として、チャープ諸
元格納メモリ26に出力する。尚、入力信号が非チャー
プ信号の場合には、チャープ信号傾斜=0と設定され
る。この実施の形態12場合、実施の形態11のような
フーリエ変換を行わないので、Tを実施の形態11より
小さく設定することができ、細分化した区分毎のチャー
プ諸元を算出することができる。
The least squares approximation circuit 25 outputs the result of the least squares approximation (k in the above equation) to the chirp specification storage memory 26 as a chirp signal gradient. If the input signal is a non-chirp signal, the chirp signal slope is set to zero. In the twelfth embodiment, since Fourier transform is not performed as in the eleventh embodiment, T can be set smaller than that in the eleventh embodiment, and chirp specifications for each subdivided section can be calculated. .

【0066】実施の形態13.実施の形態12では、D
RFM出力のゼロクロスポイントを内挿して求め、正弦
波の半周期相当時間(Zi−Zi-1)から最小自乗近似に
よってチャープ信号傾斜を算出したが、図16に示すよ
うにゼロ検出回路8,ゼロポイント履歴メモリ9の代わ
りにピーク検出回路11,ピーク履歴メモリ12を設け
て、正弦波の1周期相当時間から最小自乗近似によっ
て、チャープ信号傾斜を算出してもよい。
Embodiment 13 FIG. In the twelfth embodiment, D
The zero-cross point of the RFM output is obtained by interpolation, and the chirp signal slope is calculated by the least squares approximation from the half cycle equivalent time (Zi-Zi-1) of the sine wave. As shown in FIG. A peak detection circuit 11 and a peak history memory 12 may be provided instead of the point history memory 9, and the chirp signal slope may be calculated from the time corresponding to one cycle of the sine wave by least square approximation.

【0067】実施の形態13の動作について説明する。
入力IF信号の(振幅値,時刻)データを振幅メモリ
(5)に出力するまでは実施の形態1と同一である。次
いでピーク検出回路11が振幅メモリ(5)上の区分開
始時刻(第1時間区分であれば時刻=0)から区分終了
時刻(第1時間区分であれば時刻=T)までの間で、1
単位時間(サンプリング間隔)前の振幅値からの差分の
正負符号が変化した時刻を検索し振幅値極大/極小ポイ
ント(ピークポイント)とする。
The operation of the thirteenth embodiment will be described.
It is the same as the first embodiment until the (amplitude value, time) data of the input IF signal is output to the amplitude memory (5). Next, the peak detection circuit 11 sets a value of 1 between the segment start time (time = 0 for the first time segment) and the segment end time (time = T for the first time segment) on the amplitude memory (5).
The time at which the sign of the difference from the amplitude value before the unit time (sampling interval) has changed is retrieved, and is set as the maximum / minimum amplitude value point (peak point).

【0068】ピークポイント時刻として求めた時刻を逐
次ピーク履歴メモリ12に出力する。こうして時刻0か
ら時刻Tまでのピーク時刻を全て記憶する。0〜Tのピ
ークポイント時刻をP0,P1,P2‥‥とし、次いで最小
自乗近似回路25がピーク履歴メモリ12の内容を以下
の式をモデルとして最小自乗近似を行う。この時、極小
ポイントの時刻列,極大ポイントの時刻列で各々最小自
乗近似を行い、平均値を用いる。
The time obtained as the peak point time is sequentially output to the peak history memory 12. In this way, all peak times from time 0 to time T are stored. The peak point times of 0 to T are defined as P0, P1, P2}, and then the least squares approximation circuit 25 performs the least squares approximation on the contents of the peak history memory 12 using the following equation as a model. At this time, the least squares approximation is performed on the time series of the minimum point and the time series of the maximum point, and the average value is used.

【0069】 式 f=k×t+f0 f : 時刻tの周波
数 f0 : 周波数初期値 k : 周波数変化率 ti=(Pi-1+Pi)/2 fi=1/(Pi−Pi-1)
Equation f = k × t + f0 f: frequency at time t f0: initial frequency value k: frequency change rate ti = (Pi-1 + Pi) / 2 fi = 1 / (Pi-Pi-1)

【0070】最小自乗近似回路25は最小自乗近似の結
果(上式のk)をチャープ信号傾斜として、チャープ諸
元格納メモリ26に出力する。
The least squares approximation circuit 25 outputs the result of the least squares approximation (k in the above equation) to the chirp specification storage memory 26 as a chirp signal gradient.

【0071】尚、入力信号が非チャープ信号の場合に
は、チャープ信号傾斜=0と設定される。この実施の形
態13場合も、実施の形態11のようなフーリエ変換を
行わないので、Tを実施の形態11より小さく設定する
ことができ、細分化した区分毎のチャープ諸元を算出す
ることができる。
When the input signal is a non-chirp signal, the chirp signal slope is set to zero. In the thirteenth embodiment as well, the Fourier transform as in the eleventh embodiment is not performed, so that T can be set smaller than that in the eleventh embodiment, and the chirp specifications for each subdivided section can be calculated. it can.

【0072】実施の形態14.実施の形態12では、D
RFM出力のゼロクロスポイントを内挿して求め、正弦
波の半周期相当時間(Zi−Zi-1)から最小自乗近似に
よってチャープ信号傾斜を算出したが、図17に示すよ
うに最小自乗近似回路25,チャープ諸元格納メモリ2
6の代わりに周期変化検出回路27,位相反転ポイント
履歴メモリ28,符号化位相変調判定回路29,符号化
位相変調諸元格納メモリ30を設ければ、半周期相当時
間の時系列での変化を検出して、位相化符号変調を判定
することができる。
Embodiment 14 FIG. In the twelfth embodiment, D
The zero-cross point of the RFM output is obtained by interpolation, and the chirp signal slope is calculated by the least squares approximation from the half cycle equivalent time (Zi-Zi-1) of the sine wave. As shown in FIG. Chirp specification storage memory 2
If a period change detection circuit 27, a phase inversion point history memory 28, an encoded phase modulation determination circuit 29, and an encoded phase modulation specification storage memory 30 are provided instead of 6, a change in time series corresponding to a half cycle can be obtained. Upon detection, phased code modulation can be determined.

【0073】実施の形態14の動作について説明する。
入力IF信号の(振幅値,時刻)データを振幅メモリ5
に出力し、ゼロポイント履歴メモリ9にゼロクロス時刻
を出力するまでは実施の形態2と同一である。次いで周
期変化検出回路27が正弦波の半周期相当時間の変化
(周期値のJUMP)を判定する。判定方法は以下のと
おりである。
The operation of the fourteenth embodiment will be described.
(Amplitude value, time) data of the input IF signal is stored in an amplitude memory 5
To the zero point history memory 9 until the zero crossing time is output. Next, the cycle change detection circuit 27 determines a change (JUMP of the cycle value) of the sine wave for a half cycle. The determination method is as follows.

【0074】1.半周期相当時間(Zi−Zi-1)を各i
について算出する。(ゼロクロスポイント時刻の1階差
を算出する) 2.半周期時間の差[(Zi+1−Zi)−(Zi−Zi-
1)]を算出する(ゼロクロスポイント時刻の2階差を
算出する) 3.半周期時間差の絶対値が規定値以上の場合この期間
で位相反転が発生したと判定する。(Zi〜Zi-1 or
Zi+1〜Zi) 4.近傍で算出された半周期時間との差がより大きい区
間を位相反転発生時刻とする。
1. The half cycle equivalent time (Zi-Zi-1) is calculated for each i
Is calculated. (Calculate the first difference between the zero cross point times) Half cycle time difference [(Zi + 1−Zi) − (Zi−Zi−
1)] (Calculate the second difference between the zero crossing point times) If the absolute value of the half cycle time difference is equal to or greater than the specified value, it is determined that phase inversion has occurred during this period. (Zi ~ Zi-1 or
Zi + 1 to Zi) 4. A section where the difference from the half cycle time calculated in the vicinity is larger is set as the phase inversion occurrence time.

【0075】周期変化検出回路27は上記要領で位相反
転時刻を求め、位相反転ポイント履歴メモリ28に出力
(区間Zi〜Zi-1で反転した場合、区間の中心時刻
((Zi+Zi-1)/2)を変化ポイント時刻として出
力)する。次いで符号化位相変調判定回路29が位相反
転時刻間隔を符号化位相変調諸元格納メモリ30に出力
する。
The cycle change detection circuit 27 obtains the phase inversion time in the above manner and outputs it to the phase inversion point history memory 28 (when inverted in the sections Zi to Zi-1, the center time of the section ((Zi + Zi-1) / 2) ) Is output as the change point time. Next, the encoded phase modulation determination circuit 29 outputs the phase inversion time interval to the encoded phase modulation specification storage memory 30.

【0076】この実施の形態に記載された発明によれ
ば、フーリエ変換を行わないので、Tを実施の形態1よ
り小さく設定することができ、細分化した区分毎のチャ
ープ諸元を算出することができる。
According to the invention described in this embodiment, since the Fourier transform is not performed, T can be set smaller than that in the first embodiment, and the chirp specifications for each subdivided section can be calculated. Can be.

【0077】実施の形態15.実施の形態14では、D
RFM出力のゼロクロスポイントを内挿して求め、正弦
波の半周期相当時間(Zi−Zi-1)から時系列の周期値
のJUMPを判定し、位相反転時刻を算出したが、図1
8に示すようにゼロ検出回路8,ゼロポイント履歴メモ
リ9の代わりにピーク検出回路11,ピーク履歴メモリ
12を設けて、正弦波の1周期相当時間の時系列での変
化を検出して、位相化符号変調を判定することができ
る。
Embodiment 15 FIG. In the fourteenth embodiment, D
The zero cross point of the RFM output is obtained by interpolation, the JUMP of the time-series period value is determined from the half-cycle equivalent time (Zi-Zi-1) of the sine wave, and the phase inversion time is calculated.
As shown in FIG. 8, a peak detection circuit 11 and a peak history memory 12 are provided in place of the zero detection circuit 8 and the zero point history memory 9 to detect a change in a sine wave in a time series corresponding to one period of time, and Coding modulation can be determined.

【0078】実施の形態15の動作について説明する。
入力IF信号の(振幅値,時刻)データを振幅メモリ5
に出力し、振幅の極大,極小ポイントを判定しピーク履
歴メモリ12に出力するまでは実施の形態3と同一であ
る。次いで周期変化検出回路27が正弦波の1周期相当
時間(極小〜極小,極大〜極大の変化(周期値のJUM
P)を判定する。判定方法は以下のとおりである。
The operation of the fifteenth embodiment will be described.
(Amplitude value, time) data of the input IF signal is stored in an amplitude memory 5
Is the same as that of the third embodiment until the maximum and minimum points of the amplitude are determined and output to the peak history memory 12. Next, the cycle change detecting circuit 27 changes the time corresponding to one cycle of the sine wave (minimal to minimal, maximum to maximum change (JUM of cycle value).
P) is determined. The determination method is as follows.

【0079】1.1周期相当時間(Pi−Pi-1)を各i
について算出する。(ピークポイント時刻の1階差を算
出する) 2.1周期時間の差[(Pi+1−Pi)−(Pi−Pi-
1)]を算出する(ピークポイント時刻の2階差を算出
する) 3.1周期時間差の絶対値が規定値以上の場合この期間
で位相反転が発生したと判定する。(Pi〜Pi-1 or P
i+1〜Pi) 4.近傍で算出された1周期時間との差がより大きい区
間を位相反転発生時刻とする。 周期変化検出回路27は上記要領で位相反転時刻を求
め、位相反転ポイント履歴メモリ28に出力(区間Pi
〜Pi-1で反転した場合、区間の中心時刻((Pi+Pi-
1)/2)を変化ポイント時刻として出力)する。次い
で符号化位相変調判定回路29が位相反転時刻間隔を符
号化位相変調諸元格納メモリ30に出力する。
1.1 The period corresponding to the period (Pi−Pi−1) is calculated for each i
Is calculated. (Calculate the first-order difference of peak point time) 2.1 Difference of cycle time [(Pi + 1−Pi) − (Pi−Pi−
1)] (Calculate the second difference between the peak point times) 3. If the absolute value of the one-cycle time difference is equal to or greater than a specified value, it is determined that phase inversion has occurred during this period. (Pi ~ Pi-1 or P
i + 1 to Pi) 4. A section where the difference from the one cycle time calculated in the vicinity is larger is set as the phase inversion occurrence time. The cycle change detection circuit 27 obtains the phase inversion time in the manner described above and outputs it to the phase inversion point history memory 28 (section Pi).
To the time of the center of the section ((Pi + Pi-
1) / 2) is output as the change point time. Next, the encoded phase modulation determination circuit 29 outputs the phase inversion time interval to the encoded phase modulation specification storage memory 30.

【0080】この実施の形態に記載された発明によれ
ば、フーリエ変換を行わないので、Tを実施の形態1よ
り小さく設定することができ、細分化した区分毎のチャ
ープ諸元を算出することができる。
According to the invention described in this embodiment, since the Fourier transform is not performed, T can be set smaller than that in the first embodiment, and the chirp specifications for each subdivided section can be calculated. Can be.

【0081】実施の形態16.実施の形態14,15で
は、ゼロクロスポイントのみまたは、ピークポイントの
みの間隔から半周期または1周期を算出し、その周期J
UMPポイントから、位相反転ポイントを判定していた
が、図19に示すようにゼロ検出回路8,ピーク検出回
路9の両者を並列に保有し、ゼロポイント履歴メモリ
9,ピーク履歴メモリ12の代わりに1/2π時刻メモ
リ31を設けて、ゼロクロスポイント,極小/極大ポイ
ント時刻を出現順に1/2π時刻メモリ31に記憶し、
1/2πの周期値JUMPから位相反転時刻を判定し、
符号化位相変調諸元を算出してもよい。
Embodiment 16 FIG. In the fourteenth and fifteenth embodiments, a half cycle or one cycle is calculated from the interval of only the zero cross point or only the peak point.
Although the phase inversion point is determined from the UMP point, as shown in FIG. 19, both the zero detection circuit 8 and the peak detection circuit 9 are held in parallel, and the zero point history memory 9 and the peak history memory 12 are used instead. A 1 / 2π time memory 31 is provided, and the zero cross point and the minimum / maximum point times are stored in the 1 / 2π time memory 31 in the order of appearance,
The phase inversion time is determined from the period value JUMP of 1 / 2π,
The encoding phase modulation data may be calculated.

【0082】この実施の形態を用いれば、位相判定時刻
の時刻誤差が実施の形態14,実施の形態15の1/2
に低減することができる。
According to this embodiment, the time error of the phase determination time is 1 / of that in the fourteenth and fifteenth embodiments.
Can be reduced.

【0083】実施の形態17.実施の形態14では、対
象時間区分内全てについて、ゼロクロスポイント検出に
よる隣接する正弦波の半周期値の差が規定値以上のポイ
ントを位相反転ポイントとしたが、図20に示すように
周期算出回路32,周期外挿回路33,クロスポイント
推定メモリ34,クロス方向反転判定回路35を設け
て、対象時間区分内の一部で、半周期値の差が連続して
規定値以内の時間区分において、相加平均を算出し、以
降のゼロクロスポイント推定時刻を外挿により算出し、
クロス方向反転(推定値+→−に対し測定値−→+)の
ポイントを位相反転時刻と判定してもよい。
Embodiment 17 FIG. In the fourteenth embodiment, a point where the difference between the half cycle values of adjacent sine waves detected by the zero cross point is equal to or larger than a specified value is set as a phase inversion point in all of the target time segments. However, as shown in FIG. 32, a cycle extrapolation circuit 33, a cross point estimation memory 34, and a cross direction inversion determination circuit 35, and in a part of the target time section, the difference of the half cycle value is continuously less than the specified value in the time section. The arithmetic mean is calculated, and the subsequent zero crossing point estimation time is calculated by extrapolation,
The point of cross direction inversion (measured value − → + with respect to estimated value + → −) may be determined as the phase inversion time.

【0084】実施の形態17の動作について説明する。
入力IF信号の(振幅値,時刻)データを振幅メモリ
(5)に出力し、ゼロポイント履歴メモリ9にゼロクロ
ス時刻を出力するまでは実施の形態4と同一である。次
いで周期変化検出回路27が連続して半周期差が規定値
以内の時間区分(T1〜T2とする)を算出し、周期算出
回路32に出力する。
The operation of the seventeenth embodiment will be described.
Embodiment 4 is the same as Embodiment 4 until the (amplitude value, time) data of the input IF signal is output to the amplitude memory (5) and the zero-cross time is output to the zero point history memory 9. Next, the cycle change detection circuit 27 continuously calculates a time interval (T1 to T2) in which the half cycle difference is within a specified value, and outputs it to the cycle calculation circuit 32.

【0085】次いで、周期算出回路32がこの時間区分
の半周期値の相加平均値(tavとする)を算出する。次
いで周期外挿回路33がT2以降のゼロクロスポイント
推定時刻(T2+tav,T2+2×tav,‥‥),クロス
方向(振幅のマイナス→プラス or プラス→マイナス)
を順次推定し、クロスポイント推定メモリ34に出力す
る。
Next, the cycle calculating circuit 32 calculates the arithmetic mean value (referred to as tav) of the half cycle values of this time section. Next, the cycle extrapolation circuit 33 estimates the zero cross point after T2 (T2 + tav, T2 + 2 × tav, ‥‥) and the cross direction (minus → plus or plus → minus in amplitude).
Are sequentially estimated and output to the cross point estimation memory 34.

【0086】次いでクロス方向反転判定回路35がゼロ
ポイント履歴メモリ9上の当該時刻でのクロス方向と、
クロスポイント推定メモリ34のクロス方向を比較し、
方向が反転している時刻と1ポイント前のゼロクロスポ
イントの中間時刻を位相反転時刻と判定する。(位相が
180°反転するとゼロクロス方向が反転する。)ま
た、一旦反転した後は位相が元に戻る(クロス方向が同
一に戻る)時刻を位相反転時刻と同様にして判定し、反
転時間間隔を符号化位相変調緒言格納メモリ30に出力
する。
Next, the cross direction inversion determination circuit 35 determines the cross direction at the time in the zero point history memory 9 and
Compare the cross direction of the cross point estimation memory 34,
An intermediate time between the time when the direction is inverted and the zero cross point one point before is determined as the phase inversion time. (When the phase is inverted by 180 °, the zero-cross direction is inverted.) Also, once the phase is inverted, the time at which the phase returns to the original (the cross direction returns to the same) is determined in the same manner as the phase inversion time, and the inversion time interval is set. Output to the encoded phase modulation introduction storage memory 30.

【0087】実施の形態14では位相反転時刻がゼロ近
傍では、位相判定を判定できないことがあるのに対し、
当実施の形態では、判定可能という効果がある。
In the fourteenth embodiment, when the phase inversion time is near zero, the phase determination may not be able to be determined.
In the present embodiment, there is an effect that determination is possible.

【0088】実施の形態18.実施の形態17では、ゼ
ロクロスポイント履歴で求めた半周期値を外挿し、ゼロ
クロス方向の外挿推定方向との比較で位相反転時刻を算
出したが、図21に示すように、クロスポイント推定メ
モリ34,クロス方向反転判定回路35の代わりにピー
ク推定メモリ36,極小/極大反転判定回路37を設け
て、極小または極大ピークポイントで算出した1周期値
を用いて外挿を行い、推定極大ポイントがピーク履歴メ
モリ12で極小ピークポイント,推定極小ポイントがピ
ーク履歴メモリ12で極大ピークポイントとなる時刻を
位相反転時刻と判定してもよい。
Embodiment 18 FIG. In the seventeenth embodiment, the half-period value obtained from the zero-cross point history is extrapolated, and the phase inversion time is calculated by comparing the zero-cross direction with the extrapolation estimation direction. However, as shown in FIG. , A peak estimation memory 36 and a minimum / maximum inversion determination circuit 37 are provided in place of the cross direction inversion determination circuit 35, and extrapolation is performed using one cycle value calculated at the minimum or maximum peak point, and the estimated maximum point reaches the peak. The time when the minimum peak point and the estimated minimum point become the maximum peak point in the peak history memory 12 in the history memory 12 may be determined as the phase inversion time.

【0089】実施の形態18の動作について説明する。
入力IF信号の(振幅値,時刻)データを振幅メモリ
(5)に出力し、ピーク履歴メモリ12へ出力するまで
は実施の形態5と同様である。 次いで周期変化検出回
路27が連続して1周期差が規定値以内の時間区分(T
1〜T2とする)を算出し、周期算出回路32に出力す
る。
The operation of the eighteenth embodiment will be described.
The operation from the output of the (amplitude value, time) data of the input IF signal to the amplitude memory (5) to the output of the peak history memory 12 is the same as that of the fifth embodiment. Next, the cycle change detection circuit 27 continuously performs the time division (T
1 to T2), and outputs the result to the cycle calculation circuit 32.

【0090】次いで、周期算出回路32がこの時間区分
の1周期値の相加平均値(tavとする)を算出する。周
期算出は極小ポイント時刻列から,極大ポイント時刻列
から各々算出し、全ての周期値の相加平均を用いる。
T1〜T2間の最終極小ポイントをTV,最終極大ポイン
トをTHとすると、次いで周期外挿回路33がTV以降の
極小ポイント推定時刻(TV+tav,TV+2×tav,
‥),TH以降の極大ポイント推定時刻(TH+tav,T
H+2×tav,‥‥)を順次推定し、ピーク推定メモリ
36に出力する。
Next, the cycle calculation circuit 32 calculates an arithmetic mean value (referred to as tav) of one cycle value of this time section. The cycle is calculated from the minimum point time series and the maximum point time series, and the arithmetic mean of all cycle values is used.
Assuming that the last minimum point between T1 and T2 is TV and the last maximum point is TH, the periodic extrapolation circuit 33 then calculates the minimum point estimation time (TV + tav, TV + 2 × tav,
‥), the maximum point estimation time after TH (TH + tav, T
H + 2 × tav, ‥‥) are sequentially estimated and output to the peak estimation memory 36.

【0091】次いで極小/極大反転判定回路37がピー
ク履歴メモリ12上の極小/極大ポイント時刻とピーク
推定メモリ36の推定極小極大ポイント時刻を比較し、
極小と極大が反転している時刻と1ポイント前のゼロク
ロスポイントの中間時刻を位相反転時刻と判定する。
(位相が180°反転すると極小→極大,極大→極小と
なる。)
Next, the minimum / maximum inversion determination circuit 37 compares the minimum / maximum point time in the peak history memory 12 with the estimated minimum / maximum point time in the peak estimation memory 36,
An intermediate time between the time when the minimum and the maximum are inverted and the zero cross point one point before is determined as the phase inversion time.
(When the phase is inverted by 180 °, the minimum becomes minimum → maximum, the maximum becomes → minimum.)

【0092】また一旦反転した後は位相が元に戻る(推
定と履歴の極小/極大が再び一致する)時刻を位相反転
時刻と同様にして判定し、反転時間間隔を符号化位相変
調緒言格納メモリ30に出力する。
Also, the time when the phase returns to the original state after the inversion (the estimation / history minimum / maximum coincides again) is determined in the same manner as the phase inversion time, and the inversion time interval is stored in the coded phase modulation instruction storage memory. Output to 30.

【0093】実施の形態14では位相反転時刻がピーク
近傍では、位相判定を判定できないことがあるのに対
し、当実施の形態では、判定可能という効果がある。
In the fourteenth embodiment, the phase determination cannot be determined when the phase inversion time is near the peak. On the other hand, the present embodiment has an effect that the determination is possible.

【0094】[0094]

【発明の効果】以上のように、第1の発明に係る周波数
変調諸元測定装置は、入力信号をサンプルし、当該サン
プリングにより計測されたディジタル振幅値を記憶する
DRFM回路と、前記DRFM回路に記憶されたディジ
タル振幅値を逐次読み出し、時系列に出力する読み出し
回路と、前記読み出し回路より出力されたディジタル振
幅値を時系列に記憶する振幅メモリ回路と、前記振幅メ
モリ回路に記憶されたディジタル振幅値に基づいて当該
入力信号の周波数変調諸元を判定する周波数変調諸元算
出回路とを備えたものなので、温度変化による周波数誤
差が生じることがなく、入力信号の周波数変調判定を行
うことができる。
As described above, the frequency modulation specification measuring apparatus according to the first invention has a DRFM circuit that samples an input signal and stores a digital amplitude value measured by the sampling. A reading circuit for sequentially reading the stored digital amplitude values and outputting the digital amplitude values in a time series; an amplitude memory circuit for storing the digital amplitude values output from the reading circuit in a time series; and a digital amplitude stored in the amplitude memory circuit. A frequency modulation specification calculation circuit that determines the frequency modulation specification of the input signal based on the value; therefore, the frequency modulation of the input signal can be determined without causing a frequency error due to a temperature change. .

【0095】第2の発明に係る周波数変調諸元測定装置
は、第1の発明に係る周波数変調諸元算出回路におい
て、複数の前記ディジタル振幅値より振幅値がゼロとな
る時刻を算出し、当該時刻に基づいて周波数変調諸元を
判定するものなので、フーリエ変換を行わないため、時
間区分(T)を小さく設定することができ、細分化した
区分毎の諸元を判定することができる。
A frequency modulation specification measuring device according to a second aspect of the present invention is the frequency modulation specification calculating circuit according to the first aspect of the invention, which calculates a time at which the amplitude value becomes zero from a plurality of the digital amplitude values. Since the frequency modulation data is determined based on the time, the Fourier transform is not performed. Therefore, the time section (T) can be set small, and the data for each subdivided section can be determined.

【0096】第3の発明に係る周波数変調諸元測定装置
は、第1の発明に係る周波数変調諸元算出回路におい
て、複数の前記ディジタル振幅値より振幅値がピーク値
をとる時刻を算出し、当該時刻に基づいて周波数変調諸
元を判定するものなので、フーリエ変換を行わないた
め、時間区分(T)を小さく設定することができ、細分
化した区分毎の諸元を判定することができる。
A frequency modulation specification measuring device according to a third aspect of the present invention is the frequency modulation specification calculating circuit according to the first aspect of the present invention, wherein a time at which an amplitude value has a peak value is calculated from a plurality of the digital amplitude values. Since the frequency modulation data is determined based on the time, the Fourier transform is not performed, so that the time section (T) can be set small, and the data can be determined for each subdivided section.

【0097】第4の発明に係る周波数変調諸元測定装置
は、第1の発明に係る周波数変調諸元算出回路におい
て、前記ディジタル振幅値がゼロとなる第1の時刻と、
前記ディジタル振幅値がゼロとなる第2の時刻との時間
差の変化に基づき、位相の反転を検出し周波数変調諸元
を判定するものなので、フーリエ変換を行わないため、
時間区分(T)を小さく設定することができ、細分化し
た区分毎の諸元を判定することができる。
A frequency modulation specification measuring device according to a fourth invention is the frequency modulation specification calculation circuit according to the first invention, wherein the first time at which the digital amplitude value becomes zero is:
Based on the change in the time difference from the second time at which the digital amplitude value becomes zero, phase inversion is detected and frequency modulation parameters are determined, so that Fourier transform is not performed.
The time section (T) can be set small, and specifications for each subdivided section can be determined.

【0098】第5の発明に係る周波数変調諸元測定装置
は、第1の発明に係る周波数変調諸元算出回路におい
て、前記ディジタル振幅値がピーク値をとる第1の時刻
と、前記ディジタル振幅値がピーク値をとる第2の時刻
との時間差の変化に基づき、位相の反転を検出し周波数
変調諸元を判定するものなので、フーリエ変換を行わな
いため、時間区分(T)を小さく設定することができ、
細分化した区分毎の諸元を判定することができる。
The frequency modulation specification measuring device according to a fifth aspect of the present invention is the frequency modulation specification calculating circuit according to the first invention, wherein the first time at which the digital amplitude value has a peak value and the digital amplitude value Is to detect the phase inversion based on the change in the time difference from the second time at which the peak value is reached, and determine the frequency modulation specifications. Therefore, the time section (T) should be set small because Fourier transform is not performed. Can be
The specifications for each subdivided section can be determined.

【0099】第6の発明に係る周波数変調諸元測定装置
は、第1の発明に係る周波数変調諸元算出回路におい
て、前記ディジタル振幅値がゼロとなる第1の時刻と、
前記ディジタル振幅値がゼロとなる第2の時刻との時間
差の変化と、前記ディジタル振幅値がピーク値をとる第
1の時刻と、前記ディジタル振幅値がピーク値をとる第
2の時刻との時間差の変化に基づき、位相の反転を検出
し周波数変調諸元を判定するものなので、位相反転時刻
の誤差を低減することができる。
A frequency modulation specification measuring device according to a sixth aspect of the present invention is the frequency modulation specification calculating circuit according to the first aspect, wherein the first time at which the digital amplitude value becomes zero,
A change in time difference from a second time at which the digital amplitude value becomes zero, a time difference between a first time at which the digital amplitude value has a peak value, and a second time at which the digital amplitude value has a peak value. , The phase inversion is detected and the frequency modulation data is determined, so that the error of the phase inversion time can be reduced.

【0100】第7の発明に係る周波数変調諸元測定装置
は、第1の発明に係る周波数変調諸元算出回路におい
て、前記ディジタル振幅値に基づいて周期を算出する周
期算出回路と、前記周期算出回路により算出された周期
に基づいて、位相の反転の時刻及び反転の方向を推定す
る反転推定回路と、前記反転推定回路において推定され
た反転時刻における反転の方向と同時刻におけるディジ
タル振幅値に基づき算出された反転の方向とを比較する
ことにより周波数変調諸元を判定する回路とを有するも
のなので、位相反転時刻がゼロ近傍でも、位相の判定を
行うことができる。
A frequency modulation specification measuring device according to a seventh invention is the frequency modulation specification calculation circuit according to the first invention, wherein the period calculation circuit for calculating a period based on the digital amplitude value; An inversion estimating circuit for estimating the time and direction of the inversion of the phase based on the cycle calculated by the circuit; and a digital amplitude value at the same time as the inversion direction at the inversion time estimated by the inversion estimation circuit. Since it has a circuit for determining the frequency modulation data by comparing the calculated inversion direction, the phase can be determined even when the phase inversion time is near zero.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の一実施の形態による周波数測定装
置の構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a frequency measurement device according to an embodiment of the present invention.

【図2】 この発明の一実施の形態による振幅メモリ入
力例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of an amplitude memory input according to an embodiment of the present invention;

【図3】 この発明の他の実施の形態による周波数測定
装置の構成図である。
FIG. 3 is a configuration diagram of a frequency measuring device according to another embodiment of the present invention.

【図4】 この発明の他の実施の形態による周波数測定
装置の構成図である。
FIG. 4 is a configuration diagram of a frequency measuring device according to another embodiment of the present invention.

【図5】 この発明の他の実施の形態による周波数測定
装置の構成図である。
FIG. 5 is a configuration diagram of a frequency measuring device according to another embodiment of the present invention.

【図6】 この発明の他の実施の形態による周波数測定
装置の構成図である。
FIG. 6 is a configuration diagram of a frequency measurement device according to another embodiment of the present invention.

【図7】 この発明の他の実施の形態による周波数測定
装置の構成図である。
FIG. 7 is a configuration diagram of a frequency measurement device according to another embodiment of the present invention.

【図8】 この発明の他の実施の形態による周波数測定
装置の構成図である。
FIG. 8 is a configuration diagram of a frequency measurement device according to another embodiment of the present invention.

【図9】 この発明の他の実施の形態による周波数測定
装置の構成図である。
FIG. 9 is a configuration diagram of a frequency measurement device according to another embodiment of the present invention.

【図10】 この発明の他の実施の形態による周波数測
定装置の構成図である。
FIG. 10 is a configuration diagram of a frequency measurement device according to another embodiment of the present invention.

【図11】 この発明の他の実施の形態による周波数測
定装置の構成図である。
FIG. 11 is a configuration diagram of a frequency measuring device according to another embodiment of the present invention.

【図12】 従来の周波数測定装置の構成図である。FIG. 12 is a configuration diagram of a conventional frequency measurement device.

【図13】 この発明の一実施の形態による周波数変調
諸元判定装置の構成図である。
FIG. 13 is a configuration diagram of a frequency modulation specification determining device according to an embodiment of the present invention.

【図14】 この発明の一実施の形態による振幅メモリ
入力例を示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing an example of an amplitude memory input according to the embodiment of the present invention;

【図15】 この発明の他の実施の形態による周波数変
調諸元判定装置の構成図である。
FIG. 15 is a configuration diagram of a frequency modulation specification determining apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図16】 この発明の他の実施の形態による周波数変
調諸元判定装置の構成図である。
FIG. 16 is a configuration diagram of a frequency modulation specification determining apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図17】 この発明の他の実施の形態による周波数変
調諸元判定装置の構成図である。
FIG. 17 is a configuration diagram of a frequency modulation specification determining apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図18】 この発明の他の実施の形態による周波数変
調諸元判定装置の構成図である。
FIG. 18 is a configuration diagram of a frequency modulation specification determining apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図19】 この発明の他の実施の形態による周波数変
調諸元判定装置の構成図である。
FIG. 19 is a configuration diagram of a frequency modulation specification determining apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図20】 この発明の他の実施の形態による周波数変
調諸元判定装置の構成図である。
FIG. 20 is a configuration diagram of a frequency modulation specification determining apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図21】 この発明の他の実施の形態による周波数変
調諸元判定装置の構成図である。
FIG. 21 is a configuration diagram of a frequency modulation specification determining apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図22】 従来の周波数変調諸元判定装置の構成図で
ある。
FIG. 22 is a configuration diagram of a conventional frequency modulation specification determination device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 IF信号入力端子、2 DRFM回路、3 タイ
マ、4 読み出し回路、5 振幅メモリ、6 FFT回
路、7 Fメモリ、8 ゼロ検出回路、9 ゼロポイン
ト履歴メモリ、10 F算出回路、11 ピーク検出回
路、12 ピーク履歴メモリ、13 F算出回路(ピー
ク使用)、14 カルマンフィルタ回路、15 区間F
メモリ、16 隣接F算出回路、17 分波器、18
遅延回路A、19 遅延回路B、20 遅延回路C、2
1 遅延回路D、22 位相検波器、23 IFM周波
数算出回路、24 出力端子、25 最小自乗近似回
路、26 チャープ諸元格納メモリ、27 周期変化検
出回路、28 位相反転ポイント履歴メモリ、29 符
号化位相変調判定回路、30 符号化位相変調諸元格納
メモリ、31 π/2時刻メモリ、32 周期算出回
路、33 周期外挿回路、34 クロスポイント推定メ
モリ、35 クロス方向反転判定回路、36 ピーク推
定メモリ、37 極小/極大反転判定回路、37 分波
器、38 フィルタ回路、39 A/D変換器、40
瞬間周波数算出回路、41 瞬間周波数記憶メモリ、4
2 パルス内変調判定回路、43 パルス内変調諸元格
納メモリ。
1 IF signal input terminal, 2 DRFM circuit, 3 timer, 4 readout circuit, 5 amplitude memory, 6 FFT circuit, 7F memory, 8 zero detection circuit, 9 zero point history memory, 10 F calculation circuit, 11 peak detection circuit, 12 peak history memory, 13 F calculation circuit (using peak), 14 Kalman filter circuit, 15 section F
Memory, 16 adjacent F calculation circuit, 17 duplexer, 18
Delay circuit A, 19 Delay circuit B, 20 Delay circuit C, 2
1 delay circuit D, 22 phase detector, 23 IFM frequency calculation circuit, 24 output terminal, 25 least squares approximation circuit, 26 chirp specification storage memory, 27 period change detection circuit, 28 phase inversion point history memory, 29 encoding phase Modulation determination circuit, 30 encoded phase modulation specification storage memory, 31π / 2 time memory, 32 cycle calculation circuit, 33 cycle extrapolation circuit, 34 cross point estimation memory, 35 cross direction inversion determination circuit, 36 peak estimation memory, 37 minimum / maximum inversion judgment circuit, 37 duplexer, 38 filter circuit, 39 A / D converter, 40
Instantaneous frequency calculation circuit, 41 Instantaneous frequency storage memory, 4
2 Intra-pulse modulation determination circuit, 43 Intra-pulse modulation specification storage memory.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 入力信号をサンプルし、当該サンプリン
グにより計測されたディジタル振幅値を記憶するDRF
M回路と、 前記DRFM回路に記憶されたディジタル振幅値を逐次
読み出し、時系列に出力する読み出し回路と、 前記読み出し回路より出力されたディジタル振幅値を時
系列に記憶する振幅メモリ回路と、 前記振幅メモリ回路に記憶されたディジタル振幅値に基
づいて当該入力信号の周波数変調諸元を判定する周波数
変調諸元算出回路とを備えた周波数変調諸元判定装置。
1. A DRF that samples an input signal and stores a digital amplitude value measured by the sampling.
An M circuit; a read circuit for sequentially reading digital amplitude values stored in the DRFM circuit and outputting the digital amplitude values in a time series; an amplitude memory circuit for storing digital amplitude values output from the read circuit in a time series; A frequency modulation specification determining device comprising: a frequency modulation specification calculation circuit that determines frequency modulation specifications of the input signal based on a digital amplitude value stored in a memory circuit.
【請求項2】 前記周波数変調諸元算出回路は、複数の
前記ディジタル振幅値より振幅値がゼロとなる時刻を算
出し、当該時刻に基づいて周波数変調諸元を判定するこ
とを特徴とする請求項1記載の周波数変調諸元判定装
置。
2. The frequency modulation specification calculation circuit calculates a time at which the amplitude value becomes zero from a plurality of the digital amplitude values, and determines the frequency modulation specification based on the time. Item 3. The frequency modulation specification determining device according to Item 1.
【請求項3】 前記周波数変調諸元算出回路は、複数の
前記ディジタル振幅値より振幅値がピーク値をとる時刻
を算出し、当該時刻に基づいて周波数変調諸元を判定す
ることを特徴とする請求項1記載の周波数変調諸元判定
装置。
3. The frequency modulation specification calculating circuit calculates a time at which the amplitude value has a peak value from the plurality of digital amplitude values, and determines the frequency modulation specification based on the time. The apparatus for determining frequency modulation specifications according to claim 1.
【請求項4】 前記周波数変調諸元算出回路は、前記デ
ィジタル振幅値がゼロとなる第1の時刻と、前記ディジ
タル振幅値がゼロとなる第2の時刻との時間差の変化に
基づき、位相の反転を検出し周波数変調諸元を判定する
ことを特徴とする請求項1記載の周波数変調諸元判定装
置。
4. The frequency modulation specification calculation circuit, based on a change in a time difference between a first time at which the digital amplitude value becomes zero and a second time at which the digital amplitude value becomes zero, calculates a phase The frequency modulation specification determining apparatus according to claim 1, wherein the frequency modulation specification is determined by detecting the inversion.
【請求項5】 前記周波数変調諸元算出回路は、前記デ
ィジタル振幅値がピーク値をとる第1の時刻と、前記デ
ィジタル振幅値がピーク値をとる第2の時刻との時間差
の変化に基づき、位相の反転を検出し周波数変調諸元を
判定することを特徴とする請求項1記載の周波数変調諸
元判定装置。
5. The frequency modulation specification calculating circuit, based on a change in a time difference between a first time at which the digital amplitude value has a peak value and a second time at which the digital amplitude value has a peak value, The frequency modulation specification judging device according to claim 1, wherein the frequency modulation specification is determined by detecting a phase inversion.
【請求項6】 前記周波数変調諸元算出回路は、前記デ
ィジタル振幅値がゼロとなる第1の時刻と、前記ディジ
タル振幅値がゼロとなる第2の時刻との時間差の変化
と、前記ディジタル振幅値がピーク値をとる第1の時刻
と、前記ディジタル振幅値がピーク値をとる第2の時刻
との時間差の変化に基づき、位相の反転を検出し周波数
変調諸元を判定することを特徴とする請求項1記載の周
波数変調諸元判定装置。
6. The frequency modulation specification calculating circuit, comprising: a change in a time difference between a first time at which the digital amplitude value becomes zero, and a second time at which the digital amplitude value becomes zero; Detecting a phase inversion based on a change in a time difference between a first time at which the value takes a peak value and a second time at which the digital amplitude value takes a peak value, and determining frequency modulation specifications. The apparatus for determining frequency modulation specifications according to claim 1.
【請求項7】 前記周波数変調諸元算出回路は、前記デ
ィジタル振幅値に基づいて周期を算出する周期算出回路
と、前記周期算出回路により算出された周期に基づい
て、位相の反転の時刻及び反転の方向を推定する反転推
定回路と、前記反転推定回路において推定された反転時
刻における反転の方向と同時刻におけるディジタル振幅
値に基づき算出された反転の方向とを比較することによ
り周波数変調諸元を判定する回路とを有することを特徴
とする請求項1記載の周波数変調諸元判定装置。
7. The frequency modulation specification calculation circuit includes: a period calculation circuit that calculates a period based on the digital amplitude value; Inversion estimation circuit for estimating the direction of the inversion, the frequency modulation specifications by comparing the inversion direction at the inversion time estimated in the inversion estimation circuit and the inversion direction calculated based on the digital amplitude value at the same time, The frequency modulation specification judging device according to claim 1, further comprising a judging circuit.
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