JP2002187175A - Method for taking out semiconductor resin sealed molded article - Google Patents

Method for taking out semiconductor resin sealed molded article

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JP2002187175A
JP2002187175A JP2000390492A JP2000390492A JP2002187175A JP 2002187175 A JP2002187175 A JP 2002187175A JP 2000390492 A JP2000390492 A JP 2000390492A JP 2000390492 A JP2000390492 A JP 2000390492A JP 2002187175 A JP2002187175 A JP 2002187175A
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JP
Japan
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mold
resin
molding
resin molded
semiconductor element
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JP2000390492A
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Japanese (ja)
Inventor
Katsunao Takehara
克尚 竹原
Yoshihisa Kawamoto
佳久 川本
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Towa Corp
Original Assignee
Towa Corp
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Publication date
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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To smoothly release the resin sealed molded objects 11 and 13 of a semiconductor element 7 from the molding surface of a mold without using an ejector pin. SOLUTION: After the resin sealing molding of the semiconductor element 7, preparatory mold opening is performed in a state forming a gap 30 of several ten - several hundred μm between the molding surfaces (parting line) of molds. Thereafter, compressed air 21 is introduced into the gap between the molding surfaces under pressure and guided to the gaps between the resin molded objects 11 and 13 and the molding surfaces to release the resin molded objects 11 and 13 by the pressure of compressed air 21.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体樹脂封止成
形用の金型を用いて半導体素子を樹脂により封止成形す
る方法に係り、特に、半導体素子を樹脂封止成形した後
に、その半導体樹脂封止成形体を金型の型面から確実に
離型させることにより半導体樹脂封止成形品を金型から
簡易に取り出すことができる半導体樹脂封止成形品の取
出方法の改良に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of sealing and molding a semiconductor element with a resin using a mold for molding and sealing a semiconductor resin. The present invention relates to an improvement in a method for removing a semiconductor-resin-encapsulated molded product, which allows a semiconductor-resin-encapsulated molded product to be easily removed from a mold by reliably releasing a resin-encapsulated molded product from a mold surface.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体樹脂封止成形用の金型を装備した
半導体樹脂封止成形装置を用いて半導体素子を樹脂によ
り封止成形する方法としては、所謂、トランスファ成形
方法が広く知られている。この半導体樹脂封止成形装置
の一般的な構成としては、例えば、図3(A)及び図3
(B)に示すように、固定側の上型1と、該固定上型1の
下方に対設した可動側の下型2と、該可動下型2に配置
したポット3と、該ポット3に嵌合させる樹脂材料加圧
用のプランジャ4とを備えており、また、ポット3と該
ポット3の近辺に配設したキャビティ5とは、図3(A)
に示す上下両型1・2の型締時において、溶融樹脂材料
移送用の通路6を介して連通するように設けられてい
る。このような成形装置を用いる半導体素子の樹脂封止
成形は、通常、次のようにして行われる。まず、可動下
型2を下動させて上下両型1・2の型開きを行った状態
〔図3の(B)参照〕で、該上下両型1・2の型面におけ
る所定位置に半導体素子7を装着した基板やリードフレ
ーム8等を供給してセットすると共に、ポット3内に樹
脂材料9を供給する。次に、可動下型2を上動させて該
上下両型1・2の型締めを行う〔図3の(A)参照〕。な
お、このとき、ポット3内に供給された樹脂材料9は該
上下両型1・2に設けたヒータ10によって加熱溶融化
される。次に、ポット3部で溶融化された樹脂材料をプ
ランジャ4にて加圧すると、該溶融樹脂材料は、ポット
3位置からその移送用通路6を通してキャビティ5内に
加圧注入され且つ充填されることになる。次に、所要の
キュアタイム後に可動下型2を再び下動させて上下両型
1・2を型開きすると共に、移送用通路6内及びキャビ
ティ5内の樹脂成形体11をエジェクターピン12等の
離型機構を介して型外に突き出して離型させる。次に、
上記樹脂成形体11の不要部分及びリードフレーム8等
の不要部分を除去することによって、キャビティ5形状
に対応して成形される樹脂成形体(モールドパッケー
ジ)13内に半導体素子7を封止した樹脂封止成形品を
得ることができる。
2. Description of the Related Art A so-called transfer molding method is widely known as a method for molding a semiconductor element with a resin using a semiconductor resin molding apparatus equipped with a mold for semiconductor resin molding. . As a general configuration of this semiconductor resin sealing molding apparatus, for example, FIG.
As shown in (B), a fixed upper mold 1, a movable lower mold 2 opposed to below the fixed upper mold 1, a pot 3 disposed on the movable lower mold 2, The pot 3 and the cavity 5 disposed in the vicinity of the pot 3 are provided with a plunger 4 for pressing a resin material to be fitted into
When the upper and lower dies 1 and 2 are closed as shown in FIG. Resin encapsulation of a semiconductor element using such a molding apparatus is generally performed as follows. First, in a state in which the movable lower mold 2 is moved downward to open the upper and lower molds 1 and 2 (see FIG. 3B), the semiconductor is placed at a predetermined position on the mold surface of the upper and lower molds 1 and 2. A board on which the element 7 is mounted, a lead frame 8 and the like are supplied and set, and a resin material 9 is supplied into the pot 3. Next, the movable lower mold 2 is moved upward to clamp the upper and lower molds 1 and 2 (see FIG. 3A). At this time, the resin material 9 supplied into the pot 3 is heated and melted by the heaters 10 provided in the upper and lower molds 1 and 2. Next, when the resin material melted in the pot 3 is pressurized by the plunger 4, the molten resin material is injected into the cavity 5 from the position of the pot 3 through the transfer passage 6 and filled therein. Will be. Next, after a required curing time, the movable lower mold 2 is moved down again to open the upper and lower molds 1 and 2, and the resin molded body 11 in the transfer passage 6 and the cavity 5 is removed by the ejector pins 12 and the like. It protrudes out of the mold via the mold release mechanism and is released. next,
By removing unnecessary portions of the resin molded body 11 and unnecessary parts such as the lead frame 8, the resin in which the semiconductor element 7 is sealed in a resin molded body (mold package) 13 molded corresponding to the shape of the cavity 5. A sealed molded product can be obtained.

【0003】また、樹脂成形体を離型させるその他の方
法としては、例えば、キャビティ位置にバルブピンを配
設して(図示なし)、樹脂封止成形後に、該キャビティ
内に圧縮エアを導入することによって、樹脂成形体を強
制的に離型させることが知られている。
As another method of releasing the resin molded body, for example, a valve pin is provided at a cavity position (not shown), and compressed air is introduced into the cavity after resin molding. It is known that the resin molding is forcibly released from the mold.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、この種の金
型構成においては、前記したように、キャビティ5や移
送用通路6の位置にエジェクタ−ピン12を備えた離型
機構や、圧縮エアを用いる離型機構が採用されており、
従って、型開時にはこれらの離型機構を介して、樹脂成
形体11を型面から強制的に突き出すことができる構造
となっている。このような離型機構においては樹脂成形
体を確実に突き出すことができると云う作用効果が得ら
れるものであるが、その反面、次のような問題点が指摘
されている。例えば、エジェクタ−ピンを用いるとき
は、樹脂成形体の表面にピン先端面による傷痕やクラッ
クが生じることがあり、この場合は、製品不良となると
云った樹脂成形上の問題がある。更に、エジェクタ−ピ
ンを用いるときは、半導体樹脂封止成形品が小形物であ
ることとも相俟て、金型構造がきわめて複雑化すると共
に、エジェクタ−ピンによる樹脂成形体の突出時期の調
整等に手数がかかり、金型設計・製作等のコストが高く
なる等の問題がある。また、前記した圧縮エアを用いる
離型機構を用いるときは、金型構造を簡略化することが
可能となると云った利点があるが、樹脂成形体を型面か
ら強制的に突き出す点においては前記エジェクタ−ピン
を用いる場合と同様であって、何ら特別の対応策が講じ
られていないため、現状では、樹脂成形体が型面から離
型される際に、該樹脂成形体の表面にマイクロクラック
が生じたり、その一部が欠損して製品不良となると云っ
た樹脂成形上の問題点を確実に解消することができてい
ない。
In this type of mold configuration, as described above, a release mechanism having an ejector pin 12 at the position of the cavity 5 or the transfer passage 6, or a compressed air is used. The release mechanism used is adopted,
Therefore, when the mold is opened, the resin molded body 11 can be forcibly protruded from the mold surface via these release mechanisms. In such a release mechanism, the function and effect that the resin molded body can be reliably projected can be obtained. However, the following problems have been pointed out. For example, when an ejector pin is used, a scar or a crack may be generated on the surface of the resin molded body due to a pin tip surface, and in this case, there is a problem in resin molding that the product is defective. Further, when the ejector pin is used, the mold structure becomes extremely complicated due to the small size of the semiconductor resin-encapsulated molded product, and the timing of projecting the resin molded body by the ejector pin is adjusted. And the cost of designing and manufacturing the mold is increased. Further, when using the release mechanism using the above-described compressed air, there is an advantage that the mold structure can be simplified, but in that the resin molded body is forcibly protruded from the mold surface, It is similar to the case of using an ejector pin, and no special countermeasures have been taken. Therefore, at present, when the resin molded product is released from the mold surface, a micro crack is formed on the surface of the resin molded product. However, it has not been possible to reliably solve the problems in resin molding, such as the occurrence of defects or partial loss of the product, resulting in defective products.

【0005】本発明は、樹脂成形体を型面から離型する
際にその表面にマイクロクラック等を生じることがな
く、また、装置構造の簡略化とコストダウンを図ること
ができる半導体樹脂封止成形品の取出方法を提供するこ
とによって、上述したような従来の問題点を解消するこ
とを目的とするものである。
According to the present invention, there is provided a semiconductor resin encapsulation that does not cause microcracks or the like on the surface of a resin molded product when it is released from a mold surface, and that can simplify the device structure and reduce costs. An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems by providing a method for removing a molded article.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体樹脂
封止成形品の取出方法は、溶融化した樹脂材料を金型の
型面に対設したキャビティ内に加圧注入して該キャビテ
ィ内に嵌装セットした半導体素子を樹脂封止成形した後
に前記金型の型面から樹脂成形体を離型することによっ
て前記半導体樹脂封止成形品を前記金型から取り出す半
導体樹脂封止成形品の取出方法であって、前記した半導
体素子の樹脂封止成形後に前記型面間に若干の間隙を構
成する状態の予備的な型開きを行う予備型開工程と、前
記予備型開工程後に前記型面間に気体を圧入して前記半
導体素子の樹脂封止成形体を前記金型の型面から離型さ
せる樹脂成形体離型工程とを含むことを特徴とするもの
である。また、前記予備型開工程における前記型面間の
間隙を数十μm〜数百μmに設定したことを特徴とする
ものである。従って、この方法によれば、型面間に若干
の間隙が構成された予備型開工程において型面間に気体
を圧入すると共に、その気体を樹脂成形体と型面との間
に案内することによって、該気体の圧力にて樹脂成形体
を型面からスムーズに離型させることができる。
According to the present invention, there is provided a method for removing a molded article of a semiconductor resin encapsulation, wherein a molten resin material is injected under pressure into a cavity opposed to a mold surface of a mold. After the semiconductor element fitted and set in the resin mold is molded with the resin, the resin molded body is released from the mold surface of the mold to remove the semiconductor resin mold from the mold. A removal method, wherein a preliminary mold opening step of performing a preliminary mold opening in a state in which a slight gap is formed between the mold surfaces after resin sealing molding of the semiconductor element, and the mold after the preliminary mold opening step A step of releasing a resin molded product of the semiconductor element from the mold surface of the mold by injecting gas between the surfaces. Further, the gap between the mold surfaces in the preliminary mold opening step is set to several tens μm to several hundred μm. Therefore, according to this method, a gas is press-fitted between the mold surfaces in the preliminary mold opening step in which a slight gap is formed between the mold surfaces, and the gas is guided between the resin molded body and the mold surface. Thereby, the resin molded body can be smoothly released from the mold surface by the pressure of the gas.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】以下に示す本発明の実施形態の特
徴は、圧縮エアを用いる離型機構を採用した半導体樹脂
封止成形品の取出方法であって、半導体素子の樹脂封止
成形後に型面間に若干の間隙を構成する状態の予備的な
型開きを行う予備型開工程と、前記予備型開工程後に前
記型面間に気体を圧入して前記半導体素子の樹脂封止成
形体を前記金型の型面から離型させる樹脂成形体離型工
程とを行うものである。また、前記した予備型開工程に
おける前記型面間の間隙を数十μm〜数百μmに設定し
た点にある。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A feature of an embodiment of the present invention described below is a method for removing a semiconductor resin molded article employing a release mechanism using compressed air. A preliminary mold opening step of performing a preliminary mold opening in a state in which a slight gap is formed between mold surfaces, and after the preliminary mold opening step, gas is injected between the mold surfaces to form a resin-sealed molded body of the semiconductor element. From the mold surface of the mold. Further, the gap between the mold surfaces in the preliminary mold opening step is set to several tens μm to several hundred μm.

【0008】[0008]

【実施例】図1は本発明に係る半導体樹脂封止成形品の
取出方法を実施するための金型構造例を示しており、図
2の(A)・(B)・(C)・(D)はその工程を説明するため
の工程図であり、以下、これを同各図に基づいて説明す
る。
FIG. 1 shows an example of a mold structure for carrying out a method for removing a semiconductor-resin-sealed molded product according to the present invention, and FIGS. 2A, 2B, 2C and 2C. D) is a process drawing for explaining the process, which will be described below with reference to the drawings.

【0009】図1は前記金型構造の要部を示しており、
固定側の上型1と、該固定上型の下方に対設した可動側
の下型2と、該可動下型に配置したポット3と、該ポッ
トに嵌合させる樹脂材料加圧用のプランジャ4とを備え
ている。また、ポット3と該ポットの近辺に配設したキ
ャビティ5とは、図1(A)に示す上下両型1・2の型締
時において、溶融樹脂材料移送用の通路6を介して連通
するように設けられている。なお、前記した従来金型の
構成と実質的に同じ構成部分には前記と同じ符号を付し
てあり、符号7は半導体素子を、同8はリードフレーム
を、同9は樹脂材料を、同10はヒータを、同11は樹
脂成形体を、同13は樹脂成形体(モールドパッケー
ジ)を、同14はリードフレーム8を供給セットするた
めの凹部を夫々示している。前記従来金型の構成と異な
る構成は次のとおりである。即ち、従来金型の構成にお
けるエジェクターピンを用いた離型機構に替えて、気体
圧力を用いる離型機構20が採用されている。この離型
機構20は、エアコンプレッサ(図示なし)側と連結さ
れた圧縮エア21の導入通路22と、上下両型1・2の
型締時〔図1(A)参照〕に該導入通路を通して供給され
る圧縮エア21が型面( P.L面)から外部に流出するの
を防止するためのシール部材23と、前記エアコンプレ
ッサと圧縮エアの導入通路22との間に装設されて該導
入通路を開閉するための制御弁(図示なし)等から構成
されている。
FIG. 1 shows a main part of the mold structure.
An upper die 1 on a fixed side, a lower die 2 on a movable side opposed to the lower part of the fixed upper die, a pot 3 arranged on the lower die, and a plunger 4 for pressurizing a resin material to be fitted into the pot. And The pot 3 and the cavity 5 disposed near the pot communicate with each other via a passage 6 for transferring the molten resin material when the upper and lower dies 1 and 2 shown in FIG. It is provided as follows. Components substantially the same as those of the conventional mold described above are denoted by the same reference numerals as those described above, reference numeral 7 denotes a semiconductor element, reference numeral 8 denotes a lead frame, reference numeral 9 denotes a resin material, and reference numeral 9 denotes a resin material. Reference numeral 10 denotes a heater, reference numeral 11 denotes a resin molded body, reference numeral 13 denotes a resin molded body (mold package), and reference numeral 14 denotes a concave portion for supplying and setting the lead frame 8. The configuration different from the configuration of the conventional mold is as follows. That is, a mold release mechanism 20 using gas pressure is employed instead of a mold release mechanism using an ejector pin in the configuration of a conventional mold. The release mechanism 20 is connected to an introduction passage 22 for compressed air 21 connected to an air compressor (not shown) and through the introduction passage when the upper and lower dies 1 and 2 are closed (see FIG. 1A). A sealing member 23 for preventing the supplied compressed air 21 from flowing out of the mold surface (PL surface) to the outside; and a sealing member 23 provided between the air compressor and the compressed air introduction passage 22 to be provided. And a control valve (not shown) for opening and closing the valve.

【0010】以下、該金型を用いる半導体素子の樹脂封
止成形作用について説明する。まず、可動下型2を下動
させて上下両型1・2の型開きを行った状態〔図1の
(B)参照〕で、該上下両型の型面における所定位置(図
例では、下型2の型面に形成されている凹部14)に、
適宜な搬送機構(図示なし)を介して、半導体素子7を
装着した基板やリードフレーム8等を供給セットすると
共に、ポット3内に樹脂材料9を供給する。次に、可動
下型2を上動させて上下両型1・2の型締めを行う。な
お、このとき、ポット3内に供給された樹脂材料9は該
上下両型に設けたヒータ10によって加熱溶融化され
る。次に、ポット3部で溶融化された樹脂材料をプラン
ジャ4にて加圧すると、該溶融樹脂材料は、ポット3位
置からその移送用通路6を通してキャビティ5内に加圧
注入され且つ充填されることになる。次に、所要のキュ
アタイム後において、後述するように、前記離型機構2
0を介して、移送用通路6内及びキャビティ5内の樹脂
成形体11・13を型面から離型させると共に、可動下
型2を再び下動させて上下両型1・2を型開きする。次
に、上下両型1・2の型開きを行うと共に、離型された
状態にある樹脂成形体11・13を、適宜な取出機構
(図示なし)を介して、外部へ搬出する。次に、上記樹
脂成形体11・13の不要部分及びリードフレーム8等
の不要部分を除去することによって、キャビティ5形状
に対応して成形される樹脂成形体(モールドパッケー
ジ)13内に半導体素子7を封止した樹脂封止成形品を
得ることができる。
Hereinafter, the resin sealing molding operation of a semiconductor element using the mold will be described. First, the movable lower mold 2 is moved down to open the upper and lower molds 1 and 2 [FIG.
(B)], at a predetermined position (a concave portion 14 formed on the mold surface of the lower mold 2 in the illustrated example) on both upper and lower mold surfaces.
A substrate on which the semiconductor element 7 is mounted, a lead frame 8, and the like are supplied and set via an appropriate transport mechanism (not shown), and a resin material 9 is supplied into the pot 3. Next, the movable lower mold 2 is moved upward to clamp the upper and lower molds 1 and 2. At this time, the resin material 9 supplied into the pot 3 is heated and melted by the heaters 10 provided in the upper and lower molds. Next, when the resin material melted in the pot 3 is pressurized by the plunger 4, the molten resin material is injected into the cavity 5 from the position of the pot 3 through the transfer passage 6 and filled therein. Will be. Next, after a required cure time, as described later, the release mechanism 2
0, the resin molded bodies 11 and 13 in the transfer passage 6 and the cavity 5 are released from the mold surface, and the movable lower mold 2 is moved down again to open the upper and lower molds 1 and 2. . Next, the upper and lower molds 1 and 2 are opened, and the resin molded bodies 11 and 13 in the released state are carried out to the outside via an appropriate take-out mechanism (not shown). Next, by removing unnecessary portions of the resin molded bodies 11 and 13 and unnecessary parts such as the lead frame 8, the semiconductor element 7 is placed in a resin molded body (mold package) 13 molded corresponding to the shape of the cavity 5. Can be obtained.

【0011】以下、前記した離型機構20による樹脂成
形体11・13の離型作用について更に詳述する。図2
(A)には、ポット部で溶融化された樹脂材料をプランジ
ャ4にて加圧してその溶融樹脂材料19を移送用通路6
を通してキャビティ5内に加圧注入・充填することによ
り、該キャビティ内に嵌装セットされたリードフレーム
8上の半導体素子7を樹脂封止成形する工程を示してい
る。なお、該樹脂封止成形工程時において、リードフレ
ーム8に対しては上下両型1・2による所要の型締圧力
が加えられており、従って、該リードフレームは型面の
セット用凹部14部に挟圧状態に支持されている。ま
た、溶融樹脂材料19に対してはプランジャ4による所
要の樹脂加圧力が加えられている。図2(B)には、前記
樹脂封止成形工程後のキュアタイム工程を示しており、
該キュアタイム工程によって、移送用通路6内及びキャ
ビティ5内では樹脂成形体11・13が硬化する。図2
(C)には、上下両型1・2の型面( P.L面)間に若干の
間隙30を構成するための予備的な型開き状態となる予
備型開工程を示している。なお、該予備型開工程におい
て、前記間隙30を構成するには、例えば、型面( P.L
面)間が数十μm〜数百μm程度離れる状態となる位置
にまで下型2を下動させるように型開きすればよいが、
少なくとも、上下両型1・2による型締圧力を解除する
ことにより、前記した型面とリードフレーム8及び成形
された樹脂成形体11・13との圧着状態が解かれた状
態として設定されておればよい。また、次に述べるよう
に、前記間隙30が構成されているときに、シール部材
23を介して、上下両型1・2の型面( P.L面)間と外
気とが遮断されている状態に設定されていることが好ま
しい。更に、前記した間隙30の度合いは、使用される
樹脂材料や成形条件の変更等に伴って、適宜にその広狭
調整を行うことができるものである。図2(D)には、前
記予備型開工程後に、前記型面( P.L面)間に気体(図
例においては、圧縮エア21)を圧入して、前記樹脂成
形体11・13を該型面におけるキャビティ5及び移送
用通路6の内面から離型させる樹脂成形体離型工程を示
している。なお、該樹脂成形体離型工程においては、前
記したように、上下両型1・2による型締圧力は解除さ
れると共に、該上下両型の型面( P.L面)間には若干の
間隙30が構成されている。従って、この状態で、エア
コンプレッサ側と連結された圧縮エア導入通路22上の
制御弁を開いて圧縮エア21を該導入通路を通して型面
間に供給すると、その圧縮エア21はシール部材23に
よって外部への流出が阻止されると共に、同図(D)に矢
印にて示すように、該型面におけるキャビティ5及び移
送用通路6の樹脂成形部側へ強制的に圧入されることに
なる。そして、この樹脂成形部側へ圧入された圧縮エア
21は、型面とリードフレーム8及び樹脂成形体11・
13との表面間に圧入されるため、その結果、リードフ
レーム8及び樹脂成形体11・13は該型面からスムー
ズに分離して離型状態となる。このため、樹脂成形体1
1・13の離型時に、その表面にマイクロクラック等を
生じたり、その一部が欠損することがない。また、金型
装置の全体的な構造を簡略化することができる。
Hereinafter, the release operation of the resin molded bodies 11 and 13 by the release mechanism 20 will be described in more detail. FIG.
(A), the resin material melted in the pot portion is pressurized by the plunger 4 and the molten resin material 19 is transferred to the transfer passage 6.
The step of resin-molding the semiconductor element 7 on the lead frame 8 fitted and set in the cavity by injecting and filling the cavity 5 under pressure is shown. At the time of the resin encapsulation molding step, a required mold clamping pressure is applied to the lead frame 8 by the upper and lower molds 1 and 2. Is supported in a pinched state. Further, a required resin pressing force by the plunger 4 is applied to the molten resin material 19. FIG. 2B shows a cure time step after the resin sealing molding step.
The resin moldings 11 and 13 are hardened in the transfer passage 6 and the cavity 5 by the curing time step. FIG.
(C) shows a preliminary mold opening step of forming a preliminary mold opening state for forming a slight gap 30 between the mold surfaces (PL surfaces) of the upper and lower molds 1 and 2. In the preliminary mold opening step, to form the gap 30, for example, a mold surface (PL
It is sufficient to open the mold so that the lower mold 2 is moved down to a position where the distance between the two surfaces is several tens μm to several hundred μm.
At least, by releasing the mold clamping pressure by the upper and lower molds 1 and 2, the crimped state between the mold surface and the lead frame 8 and the molded resin molded bodies 11 and 13 is set to a state where the crimped state is released. I just need. Further, as described below, when the gap 30 is formed, the space between the mold surfaces (PL surfaces) of the upper and lower molds 1 and 2 and the outside air are shut off via the seal member 23. Preferably, it is set. Further, the degree of the gap 30 can be appropriately adjusted in width according to a change in a resin material to be used or molding conditions. In FIG. 2D, after the preliminary mold opening step, a gas (in the illustrated example, compressed air 21) is press-fitted between the mold surfaces (PL surfaces) to remove the resin molded bodies 11 and 13 from the mold. 4 shows a resin molding release step of releasing the mold from the inner surface of the cavity 5 and the transfer passage 6 on the surface. In the resin molding release step, as described above, the clamping pressure by the upper and lower molds 1 and 2 is released, and a slight gap is formed between the mold surfaces (PL surfaces) of the upper and lower molds. 30 are configured. Therefore, in this state, when the control valve on the compressed air introduction passage 22 connected to the air compressor side is opened and the compressed air 21 is supplied between the mold surfaces through the introduction passage, the compressed air 21 is As a result, as shown by an arrow in FIG. 3D, the resin is forcibly pressed into the cavity 5 and the transfer passage 6 of the mold surface. Then, the compressed air 21 press-fitted into the resin molding part side is used for the mold surface, the lead frame 8 and the resin molded body 11.
As a result, the lead frame 8 and the resin moldings 11 and 13 are smoothly separated from the mold surface to be released. For this reason, the resin molding 1
When the molds 1 and 13 are released from the mold, no microcracks or the like are generated on the surface thereof, and a part thereof is not lost. Further, the overall structure of the mold apparatus can be simplified.

【0012】前記した樹脂成形体離型工程においては、
常温や冷却したエアーを型面間に圧入するようにしても
よい。この場合は、前記した気体圧入によるリードフレ
ーム及び樹脂成形体の離型作用に加えて、リードフレー
ム及び樹脂成形体の表面冷却による相乗的な離型作用効
果を期待することができる。また、前記した圧縮エアー
や冷却エアー等と同様の作用を得ることができるその他
の適当な気体を型面間に圧入するようにしてもよい。
In the above-mentioned resin molded product releasing step,
Room temperature or cooled air may be pressed between the mold surfaces. In this case, a synergistic mold release effect by cooling the surfaces of the lead frame and the resin molded body can be expected in addition to the mold release function of the lead frame and the resin molded body by the gas injection described above. Further, another appropriate gas capable of obtaining the same effect as the above-described compressed air or cooling air may be press-fitted between the mold surfaces.

【0013】[0013]

【発明の効果】本発明方法によれば、樹脂成形体を型面
からスムーズに離型させることができるので、離型時に
該樹脂成形体の表面等にマイクロクラック等を生じるよ
うなことがなく、また、その一部が欠損して成形不良品
が発生する等の弊害を未然に防止することができる。ま
た、樹脂成形体を型面からスムーズに離型させることが
できるので、離型時に樹脂成形体の一部が欠損して型面
に残存付着し、型面のクリーニング工程等に手数を要す
ると云った弊害を未然に解消することができる。更に、
本発明方法を実施するための金型装置の全体的構造を、
従来の金型構造と較べて簡略化することができると共
に、そのコストダウンを図ることができる等の優れた実
用的な効果を奏するものである。
According to the method of the present invention, the resin molded body can be smoothly released from the mold surface, so that microcracks and the like do not occur on the surface of the resin molded body at the time of mold release. In addition, it is possible to prevent adverse effects such as the occurrence of defective molding due to partial loss. In addition, since the resin molded body can be smoothly released from the mold surface, a part of the resin molded body is lost at the time of mold release and remains on and adheres to the mold surface. Such adverse effects can be eliminated beforehand. Furthermore,
The overall structure of a mold apparatus for performing the method of the present invention is
The present invention has excellent practical effects such as simplification as compared with the conventional mold structure and cost reduction.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明方法を実施するための半導体樹脂封止成
形装置における金型要部の一部切欠縦断正面図で、図1
(A)は該金型の型締状態を、図1(B)は該金型の型開状
態を示している。
FIG. 1 is a partially cutaway front view of a main part of a mold in a semiconductor resin encapsulation molding apparatus for carrying out a method of the present invention.
FIG. 1A shows a mold clamping state of the mold, and FIG. 1B shows a mold open state of the mold.

【図2】図2の(A)・(B)・(C)・(D)は、本発明方法
の各工程を説明するための工程図である。
2 (A), 2 (B), 2 (C), 2 (D) are process diagrams for explaining each process of the method of the present invention.

【図3】半導体樹脂封止成形装置における一般的な金型
構造の要部を示す一部切欠縦断正面図で、図3(A)は該
金型の型締状態を、図3(B)は該金型の型開状態を示し
ている。
FIG. 3 is a partially cut-away longitudinal front view showing a main part of a general mold structure in a semiconductor resin encapsulation molding apparatus. FIG. 3 (A) shows a mold clamping state of the mold, and FIG. Indicates a mold open state of the mold.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 上 型 2 下 型 3 ポット 4 プランジャ 5 キャビティ 6 移送用通路 7 半導体素子 8 リードフレーム 9 樹脂材料 10 ヒータ 11 樹脂成形体 13 樹脂成形体(モールドパッケージ) 14 凹部 19 溶融樹脂材料 20 離型機構 21 圧縮エア 22 導入通路 23 シール部材 30 間 隙 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Upper mold 2 Lower mold 3 Pot 4 Plunger 5 Cavity 6 Transfer passage 7 Semiconductor element 8 Lead frame 9 Resin material 10 Heater 11 Resin molding 13 Resin molding (mold package) 14 Concave 19 Molten resin material 20 Release mechanism 21 Compressed air 22 Introducing passage 23 Seal member 30 Gap

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 溶融化した樹脂材料を金型の型面に対設
したキャビティ内に加圧注入して該キャビティ内に嵌装
セットした半導体素子を樹脂封止成形した後に、前記金
型の型面から樹脂成形体を離型することによって、前記
半導体樹脂封止成形品を前記金型から取り出す半導体樹
脂封止成形品の取出方法であって、 前記した半導体素子の樹脂封止成形後に、前記型面間に
若干の間隙を構成する状態の予備的な型開きを行う予備
型開工程と、 前記予備型開工程後に、前記型面間に気体を圧入して前
記半導体素子の樹脂封止成形体を前記金型の型面から離
型させる樹脂成形体離型工程とを含むことを特徴とする
半導体樹脂封止成形品の取出方法。
1. A molten resin material is injected under pressure into a cavity facing a mold surface of a mold, and a semiconductor element fitted and set in the cavity is subjected to resin sealing molding. By releasing the resin molded body from the mold surface, a method for removing a semiconductor resin molded article from the mold, the semiconductor resin molded article, after the resin sealing molding of the semiconductor element, A preliminary mold opening step of performing a preliminary mold opening in a state where a slight gap is formed between the mold surfaces; and after the preliminary mold opening step, gas is injected between the mold surfaces to seal the semiconductor element with a resin. A resin molding release step of releasing the molding from the mold surface of the mold.
【請求項2】 予備型開工程における前記型面間の間隙
を、数十μm〜数百μmに設定したことを特徴とする請
求項1に記載の半導体樹脂封止成形品の取出方法。
2. The method according to claim 1, wherein a gap between the mold surfaces in the preliminary mold opening step is set to several tens μm to several hundred μm.
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