JP2002183712A - Method and device for visual inspection - Google Patents
Method and device for visual inspectionInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、外観検査方法お
よび外観検査装置に関する。この発明は特に、プリント
基板などの被検査体に搭載される電子部品の実装状態を
検査する技術に関する。The present invention relates to a visual inspection method and a visual inspection device. The present invention particularly relates to a technique for inspecting a mounting state of an electronic component mounted on an object to be inspected such as a printed circuit board.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、情報化社会の急激な発展ととも
に、パーソナルコンピュータや携帯電話が爆発的に普及
してきている。普及の背景には、単にこれらの製品価格
が低下してきたこと以外に、多様化したデザインとこれ
を実現するための機器のコンパクト化が進んだことも重
要な要素のひとつとして挙げられる。電子機器のコンパ
クト化は機器の携帯性に対する影響も大きく、電子部品
の高集積化の開発競争に一層拍車をかけている。2. Description of the Related Art In recent years, with the rapid development of the information society, personal computers and mobile phones have exploded. In addition to simply lowering the price of these products, one of the important factors behind the spread is the diversified designs and the downsizing of the equipment for realizing them. The downsizing of electronic devices has a great influence on the portability of the devices, and further accelerates the development competition for higher integration of electronic components.
【0003】電子部品の高密度設計を支えるためには、
部品の実装技術そのものだけでなく、その実装状態を検
査する技術の実現が欠かせない。こうした技術のひとつ
として、従来は、部品実装後のプリント基板(以下、単
に「基板」という。)の外観検査に、接触型の試験を行
うICT(In-Circuit Tester)などが用いられたが、
たとえばBGA(Ball Grid Array)やCSP(Chip Si
ze Package, Chip Scale Package)といった技術が登場
したように実装方法の変化と高密度化が一層進んだ結
果、接触型の検査装置による対応が困難になりつつあ
る。したがって、非接触型、特に画像認識技術を用いた
外観検査装置の需要が伸びてきている。To support high-density design of electronic components,
It is indispensable to realize not only the component mounting technology itself but also a technology for inspecting the mounting state. As one of such technologies, an ICT (In-Circuit Tester) for performing a contact-type test has been used for the appearance inspection of a printed circuit board (hereinafter, simply referred to as a “board”) after component mounting.
For example, BGA (Ball Grid Array) and CSP (Chip Si
As technologies such as ze Package and Chip Scale Package have emerged, the mounting method has changed and the density has been further increased, and as a result, it is becoming difficult to respond by a contact-type inspection device. Therefore, the demand for a non-contact type appearance inspection apparatus, particularly using an image recognition technique, is increasing.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】ここで、基板に搭載さ
れる部品の表面には、通常、型番やスペックなどを示す
文字が記載されている。従来より、この文字を認識する
ことによって搭載部品の正否などを検査する技術が知ら
れている。しかしながら、これらの文字の大きさや字の
間隔は部品に大きさによってまちまちであったり、ある
いは印字が滲んでいる場合もあるため、必ずしも読みや
すいとはいえない。こうした状況の中で、文字認識の精
度をいかにして上げられるかが大きな課題となってい
た。とくに、折角ほとんどの文字を正確に読みとってい
たとしても、ほんの一箇所読めなかったがためにその検
査ができなくなったり、ほんの一箇所の読み間違いによ
って誤搭載であると判断してしまうのはいかにも効率が
悪い。Here, characters indicating a model number, specifications, and the like are usually written on the surface of the component mounted on the board. 2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known a technology for inspecting whether or not a mounted component is correct by recognizing the character. However, the size of these characters and the space between the characters may vary depending on the size of the component, or the printing may be blurred, so that it is not always easy to read. Under these circumstances, how to improve the accuracy of character recognition has been a major issue. In particular, even if most characters are read correctly, it is impossible to inspect it because it could not be read at one place, and it is impossible to judge it as misinstallation due to only one mistake in reading. ineffective.
【0005】本発明者は以上の認識に基づき本発明をな
したもので、その目的は、柔軟な文字認識基準によって
基板検査の効率を高める技術の提供にある。The present inventor has made the present invention based on the above recognition, and an object of the present invention is to provide a technique for improving the efficiency of board inspection by a flexible character recognition standard.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明のある態様は、外
観検査方法に関する。この方法は、被検査体に搭載され
た部品の実装状態を検査するものであって、被検査体に
実装された部品が写し出されている画像を取得する過程
と、その部品に記されている文字を取得された画像から
抽出して認識する過程と、その認識された文字によって
形成される文字列と所定の期待される文字列との間で、
一致する文字の数を基準にして合否を判定する過程と、
を含む。One embodiment of the present invention relates to a visual inspection method. This method is for inspecting a mounting state of a component mounted on an object to be inspected, and includes a process of obtaining an image in which the component mounted on the object to be inspected is projected, and a description of the process. The process of extracting and recognizing characters from the acquired image, and between a character string formed by the recognized characters and a predetermined expected character string,
Determining pass / fail based on the number of matching characters;
including.
【0007】ここでいう「被検査体」は、主に各種電子
部品を搭載した基板を示す。「外観検査」には、たとえ
ば誤搭載部品の検出などの検査項目が含まれる。「部
品」には、たとえば「SJ27456NP」といった型
番が記載されたICなどのパッケージや、「103」な
どの抵抗値や容量値が記載された抵抗やコンデンサなど
が含まれる。「一致する文字の数を基準」は、たとえば
「9文字の文字列が記載されている場合に、最低でも8
文字が一致すれば合格とする」といった内容の基準を示
してもよい。[0007] The term "inspected object" as used herein mainly refers to a substrate on which various electronic components are mounted. “Appearance inspection” includes inspection items such as detection of erroneously mounted components. The “parts” include, for example, a package such as an IC in which a model number such as “SJ27456NP” is described, and a resistor or a capacitor in which a resistance value or a capacitance value such as “103” is described. "Based on the number of matching characters" is, for example, "when a character string of 9 characters is described, at least 8
If the characters match, the test is passed. "
【0008】この装置によれば、部品に記載された文字
を読みとることによってその部品の内部プログラムの動
作や部品種が正しいかどうかを確かめることができる。
また、一致すべき文字数を基準として合否判定するの
で、部品に応じて基準を緩めることが可能である。ま
た、たとえば、文字列の長さに応じて基準を緩めたり厳
しくするなどして合否判定することもできる。According to this device, by reading the characters described in the component, it is possible to confirm whether the operation of the internal program of the component or the component type is correct.
In addition, since the pass / fail judgment is made based on the number of characters to be matched, it is possible to relax the reference according to the component. In addition, for example, a pass / fail judgment can be made by loosening or strictening the criterion according to the length of the character string.
【0009】本発明の別の態様は、外観検査装置に関す
る。この装置は、被検査体に搭載された部品の実装状態
を検査するものであって、被検査体を走査することによ
り、その被検査体に実装された部品が写し出された撮影
画像を取得する走査ユニットと、その部品に記されてい
る文字を撮影画像から抽出して認識する認識ユニット
と、その認識された文字によって形成される文字列と所
定の期待される文字列との間で、対応する文字の比較結
果に基づいて合否を判断する判定ユニットと、を含む。
そして、判定ユニットは、比較において一致した文字の
数が、一致すべき最低限の文字数を定めた所定の判定条
件を満たしたときに合格と判断してもよい。Another embodiment of the present invention relates to a visual inspection apparatus. This apparatus inspects a mounting state of a component mounted on an inspection object, and acquires a captured image in which the component mounted on the inspection object is projected by scanning the inspection object. A scanning unit, a recognition unit that extracts and recognizes characters written on the component from the captured image, and a correspondence between a character string formed by the recognized characters and a predetermined expected character string. And a determination unit for determining whether or not the character is acceptable based on the result of the comparison of the characters.
Then, the determination unit may determine a pass when the number of characters matched in the comparison satisfies a predetermined determination condition that defines a minimum number of characters to be matched.
【0010】本発明のさらに別の態様の外観検査方法
は、被検査体に実装された部品が写し出されている画像
を取得する過程と、その部品に記されている文字を撮影
画像から抽出して認識する認識ユニットと、その認識さ
れた文字によって形成される文字列がその部品の属性情
報を示す文字列であることを前提とした上で、文字列を
単位として認識の結果を解析する過程と、を含む。According to another aspect of the present invention, there is provided a visual inspection method for obtaining an image of a component mounted on an object to be inspected, and extracting a character written on the component from a photographed image. Recognition unit and the process of analyzing the recognition result in units of character strings on the assumption that the character string formed by the recognized characters is a character string indicating attribute information of the part And
【0011】ここでいう「属性情報」は、たとえばIC
の型番や、抵抗値、容量値などの定数コードを示しても
よい。The "attribute information" here is, for example, an IC
And a constant code such as a resistance value and a capacitance value.
【0012】本発明のさらに別の態様の外観検査装置
は、被検査体を走査することにより、その被検査体に実
装された部品が写し出された撮影画像を取得する走査ユ
ニットと、その部品に記されている文字を撮影画像から
抽出して認識する認識ユニットと、その認識の結果を解
析する解析ユニットと、部品に記されるべき文字列の候
補を複数保持する候補辞書と、を含む。そして、解析ユ
ニットは、認識された文字によって形成される文字列が
候補のうちいずれかに合致することを前提とした上で、
文字列を単位として解析してもよい。A visual inspection apparatus according to yet another aspect of the present invention includes a scanning unit that scans an object to be inspected to obtain a photographed image of a component mounted on the object to be inspected, The recognition unit includes a recognition unit that extracts written characters from a captured image and recognizes the extracted characters, an analysis unit that analyzes a result of the recognition, and a candidate dictionary that holds a plurality of character string candidates to be written on components. Then, the analysis unit assumes that a character string formed by the recognized characters matches any of the candidates,
The analysis may be performed using a character string as a unit.
【0013】なお、以上の構成要素の任意の組合せや、
本発明の構成要素や表現を方法、装置、システム、コン
ピュータプログラムなどの間で相互に置換したものもま
た、本発明の態様として有効である。Any combination of the above components,
What replaced the components and expressions of the present invention among methods, apparatuses, systems, computer programs, and the like is also effective as an aspect of the present invention.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】(第1実施形態)本実施形態の外
観検査装置は、部品に記された文字を認識し、その文字
によって形成された文字列と、認識結果として期待され
る文字列とを比較してその部品の搭載状態の合否を判定
する。そして、その合否判定は、一致する文字の数を基
準にして行われる。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS (First Embodiment) A visual inspection apparatus according to the present embodiment recognizes a character written on a component, and a character string formed by the character and a character string expected as a recognition result. And whether the mounting state of the component is acceptable or not is determined. The pass / fail judgment is made based on the number of matching characters.
【0015】図1は、電子部品とその表面に記載された
文字列を例示する。(a)は、ICパッケージの外観例
であり、その表面には「SJ27456NP」というI
Cの型番を示す定数コードの文字列が記載されている。
(b)は、抵抗の外観例であり、その表面には「10
3」という抵抗値を示す定数コードの文字列が記載され
ている。本実施形態の外観検査装置は、部品に記載され
たこれらの文字列を読みとる。FIG. 1 shows an example of an electronic component and a character string described on the surface thereof. (A) is an example of the external appearance of an IC package.
A character string of a constant code indicating the model number of C is described.
(B) is an example of the appearance of the resistor, and the surface of the resistor has “10”.
A character string of a constant code indicating a resistance value of “3” is described. The visual inspection device according to the present embodiment reads these character strings described on the parts.
【0016】図2は、外観検査装置の構成を示す。この
装置は、被検査体の検査面をラインセンサで走査して画
像を形成し、画像認識によって部品搭載状態の合否を判
定するものである。ラインセンサによる走査方向に対し
て垂直に走査ヘッドを駆動させることで順次ラインごと
の画像が得られ、走査ヘッドの一次元運動で検査が完了
する。外観検査装置の別のタイプとして、検査面を二次
元的に移動させて停止し、これを繰り返して次々にスポ
ット撮影をするものもあるが、その場合、一般に機構系
が複雑になり、検査時間も長い場合が多い。その点で、
本実施形態のように一次元センサを用いる方が有利であ
る。FIG. 2 shows the configuration of the appearance inspection apparatus. This apparatus scans an inspection surface of an object to be inspected by a line sensor to form an image, and determines whether the component mounting state is acceptable or not by image recognition. By driving the scanning head perpendicular to the scanning direction by the line sensor, images for each line are sequentially obtained, and the inspection is completed by one-dimensional movement of the scanning head. Another type of visual inspection device is to move the inspection surface two-dimensionally, stop it, and repeat this process to take spots one after another. In that case, however, the mechanism system is generally complicated, and the inspection time is generally increased. Is often long. In that respect,
It is more advantageous to use a one-dimensional sensor as in the present embodiment.
【0017】外観検査装置10は、メインユニット12
と試験ユニット14を備える。試験ユニット14の下部
には支持台22が設けられ、被検査体である基板1が把
持されている。試験ユニット14の上部には、走査ヘッ
ド16と、それを駆動するステッピングモータ20と、
走査ヘッド16を支持するリニアガイド等のガイド18
が設けられている。The appearance inspection apparatus 10 includes a main unit 12
And a test unit 14. A support table 22 is provided below the test unit 14, and holds the substrate 1 as an object to be inspected. A scanning head 16 and a stepping motor 20 for driving the scanning head 16 are provided above the test unit 14.
A guide 18 such as a linear guide for supporting the scanning head 16
Is provided.
【0018】走査ヘッド16は照明ユニット30、レン
ズ32およびラインセンサ34を有する。これらの部材
はフレーム36上に固定されている。照明ユニット30
は、ハーフミラーなどを内蔵する。基板1から垂直上方
への反射光はハーフミラーでレンズ32へ導かれ、レン
ズ32を通過した後、一次元CCDセンサであるライン
センサ34へ入力される。ラインセンサ34はライン単
位に基板1を走査してその画像データ54を出力する。The scanning head 16 has an illumination unit 30, a lens 32 and a line sensor 34. These members are fixed on a frame 36. Lighting unit 30
Incorporates a half mirror and the like. Light reflected vertically upward from the substrate 1 is guided to the lens 32 by the half mirror, passes through the lens 32, and is input to the line sensor 34, which is a one-dimensional CCD sensor. The line sensor 34 scans the substrate 1 line by line and outputs the image data 54 thereof.
【0019】メインユニット12は、本装置全体を統括
的に制御するもので、ハードウェア的には、任意のコン
ピュータのCPU、メモリ、その他のLSIで実現で
き、ソフトウェア的にはメモリにロードされた外観検査
機能のあるプログラムなどによって実現されるが、ここ
ではそれらの連携によって実現される機能ブロックを描
いている。したがって、これらの機能ブロックがハード
ウェアのみ、ソフトウェアのみ、またはそれらの組合せ
によっていろいろなかたちで実現できることは、当業者
には理解されるところである。The main unit 12 controls the entire apparatus in its entirety, and can be realized by a CPU, a memory, or other LSI of an arbitrary computer in terms of hardware, and is loaded into the memory in terms of software. It is realized by a program having an appearance inspection function or the like. Here, functional blocks realized by their cooperation are illustrated. Therefore, it is understood by those skilled in the art that these functional blocks can be realized in various forms by hardware only, software only, or a combination thereof.
【0020】メインユニット12のヘッド制御ユニット
40はまず、照明制御信号50を照明ユニット30へ出
力し、試験の内容に応じて異なる点灯状態を実現する。
ヘッド制御ユニット40はさらに、モータ制御信号52
をステッピングモータ20へ、試験開始信号56をメモ
リ制御ユニット42へそれぞれ出力する。モータ制御信
号52によってステッピングモータ20のステップ制御
がなされ、検査の開始に際し、走査ヘッド16が基板1
の端部へ移動する。以降、1ライン走査されるたびにモ
ータ制御信号52によって走査ヘッド16が1ライン分
進行する。一方、試験開始信号56を参照し、メモリ制
御ユニット42はメモリ44へ画像データ54の書込を
制御し、以降、画像データ54がライン単位で記録され
ていく。The head control unit 40 of the main unit 12 first outputs a lighting control signal 50 to the lighting unit 30 to realize different lighting states according to the contents of the test.
The head control unit 40 further includes a motor control signal 52
To the stepping motor 20 and the test start signal 56 to the memory control unit 42. Step control of the stepping motor 20 is performed by the motor control signal 52, and when the inspection is started, the scanning head 16
Move to the end of. Thereafter, each time one line is scanned, the scanning head 16 advances by one line by the motor control signal 52. On the other hand, with reference to the test start signal 56, the memory control unit 42 controls the writing of the image data 54 to the memory 44, and thereafter, the image data 54 is recorded line by line.
【0021】検査ユニット46は、走査と並行して、ま
たは走査完了後にメモリ44から画像データ54を読み
出し、検査基準記憶部48にあらかじめ記録された検査
基準に照らして、検査項目ごとに合否を判断する。検査
項目として、部品の位置ずれ、欠品、ハンダのヌレの判
定、ハンダブリッジの有無、極性の反転の判定などがあ
る。検査基準記憶部48にはあらかじめ検査すべき基板
1の部品搭載について、合否に関する判断基準または基
準画像が記録され、実際にラインセンサ34で取得され
た画像にそれらの基準または画像を適用して合否判定が
行われる。The inspection unit 46 reads the image data 54 from the memory 44 in parallel with the scanning or after the scanning is completed, and judges pass / fail of each inspection item based on an inspection standard recorded in the inspection standard storage unit 48 in advance. I do. Inspection items include determination of misalignment of parts, missing parts, and missing solder, presence / absence of a solder bridge, and determination of polarity reversal. In the inspection reference storage unit 48, a judgment criterion or a reference image regarding pass / fail of the component mounting of the board 1 to be inspected is recorded in advance, and the pass / fail judgment is performed by applying the criterion or the image to the image actually acquired by the line sensor 34. A determination is made.
【0022】文字処理ユニット49は、基板画像から文
字を認識することにより判定可能な検査を担当する。文
字処理ユニット49は、メモリ44から画像データ54
を読み出し、その画像に写し出された部品の領域から文
字を認識し、その文字に基づいて合否を判定する。文字
処理ユニット49は、たとえば、部品内部のプログラム
や搭載部品の正否などを検出する。The character processing unit 49 performs an inspection which can be determined by recognizing characters from the board image. The character processing unit 49 stores the image data 54 from the memory 44.
Is read out, characters are recognized from the component area shown in the image, and pass / fail is determined based on the characters. The character processing unit 49 detects, for example, the correctness of a program inside a component or a mounted component.
【0023】図3は、文字処理ユニット49の詳細な構
成を示す。文字処理ユニット49は、位置指定部62、
期待データ保持部60、および認識ユニット66を含
む。位置指定部62は、基板とその部品が写し出された
画像において文字を抽出すべき位置を指定する。この位
置を、たとえば「(20、30)−(60、200)、
180度」というように、座標と角度によって指定して
もよい。このような位置データをあらかじめ期待データ
保持部60が保持し、位置指定部62はこれを参照す
る。認識ユニット66は、位置指定部62によって指定
された位置から文字を抽出して認識する。FIG. 3 shows a detailed configuration of the character processing unit 49. The character processing unit 49 includes a position designation unit 62,
An expected data holding unit 60 and a recognition unit 66 are included. The position specifying unit 62 specifies a position where a character is to be extracted in an image in which the board and its components are projected. This position is, for example, "(20, 30)-(60, 200),
For example, "180 degrees" may be designated by coordinates and angles. The expected data holding unit 60 holds such position data in advance, and the position specifying unit 62 refers to this. The recognition unit 66 extracts and recognizes a character from the position specified by the position specifying unit 62.
【0024】期待文字列指定部64は、認識結果として
期待される期待文字列を指定する。この期待文字列はあ
らかじめ期待データ保持部60が位置データと対応づけ
て保持し、期待文字列指定部64はこれを参照する。The expected character string specification section 64 specifies an expected character string expected as a recognition result. The expected character string is held in advance by the expected data holding unit 60 in association with the position data, and the expected character string designation unit 64 refers to this.
【0025】文字処理ユニット49は、判定ユニット6
8および判定条件保持部70をさらに保持する。判定ユ
ニット68は、認識ユニット66が認識した文字によっ
て形成される文字列と、期待文字列指定部64によって
指定された期待文字列との間で、対応する文字同士を比
較する。判定ユニット68は、その比較結果に基づいて
合否を判断する。合否判断は、2つの文字列を比較した
ときに一致した文字の数を基準になされる。判定条件保
持部70は、一致すべき最低限の文字数を定めた所定の
判定条件をあらかじめ記憶する。たとえば、「8文字ま
たは9文字」という判定条件が設定されている場合に、
期待文字列が「SJ27456NP」で、認識文字列が
「5I21456NP」であったとする。これらの文字
列の比較結果における一致する文字数は6文字であり、
判定条件を満たさないので「不合格」と判断される。The character processing unit 49 includes a judgment unit 6
8 and the judgment condition holding unit 70 are further held. The determination unit 68 compares corresponding characters between a character string formed by the characters recognized by the recognition unit 66 and the expected character string specified by the expected character string specifying unit 64. The determination unit 68 determines pass / fail based on the comparison result. The pass / fail judgment is made based on the number of matching characters when comparing two character strings. The determination condition holding unit 70 stores in advance a predetermined determination condition that defines the minimum number of characters to be matched. For example, if the judgment condition of “8 or 9 characters” is set,
It is assumed that the expected character string is “SJ27456NP” and the recognized character string is “5I2456NP”. The number of matching characters in the result of comparing these strings is 6 characters,
Since the judgment condition is not satisfied, it is judged as “fail”.
【0026】部品に応じて異なる基準を判定条件として
設定してもよい。たとえば、「SJ27456NP」の
ように比較的文字数の多い文字列が記載された部品に対
しては、全文字数ではなく、若干少ない文字数を最低限
一致すべき文字数として設定してもよい。一方、「10
3」のように比較的文字数の少ない文字列が記載された
部品に対しては、全文字数を最低限一致すべき文字数と
して設定してもよい。検査のたびにユーザの操作によっ
て判定条件を設定できる構成としてもよい。Different criteria may be set as the judgment conditions depending on the component. For example, for a component in which a character string with a relatively large number of characters is described, such as “SJ27456NP”, a slightly smaller number of characters may be set as the minimum number of characters to be matched instead of the total number of characters. On the other hand, "10
For a component in which a character string having a relatively small number of characters, such as “3”, the total number of characters may be set as the minimum number of characters to be matched. The configuration may be such that the determination condition can be set by the user's operation each time the inspection is performed.
【0027】図4は、本実施形態における検査の手順を
示すフローチャートである。この検査の手順は、前処理
段階と主処理段階とに分かれる。まず、文字を抽出すべ
き位置を位置指定部62が指定する(S10)。次い
で、期待文字列を期待文字列指定部64が指定する(S
12)。次いで、判定条件を設定する(S14)。以上
の各事項を設定するステップが前処理段階である。FIG. 4 is a flowchart showing the procedure of the inspection in this embodiment. This inspection procedure is divided into a pre-processing stage and a main processing stage. First, the position specifying unit 62 specifies a position from which a character is to be extracted (S10). Next, the expected character string specifying unit 64 specifies the expected character string (S
12). Next, a determination condition is set (S14). The step of setting the above items is a preprocessing stage.
【0028】以下のステップが主処理段階である。ま
ず、位置指定部62によって指定された位置から認識ユ
ニット66が文字を抽出して認識する(S16)。次い
で、判定ユニット68が認識文字列と期待文字列とを比
較する(S18)。また、一致した文字数を判定ユニッ
ト68が算出する(S20)。そして、算出された文字
数が判定条件を満たした場合(S22Y)に「合格」と
判断し(S24)、満たさなかった場合(S22N)に
「不合格」と判断する(S26)。The following steps are the main processing steps. First, the recognition unit 66 extracts and recognizes a character from the position specified by the position specifying unit 62 (S16). Next, the determination unit 68 compares the recognized character string with the expected character string (S18). Also, the determination unit 68 calculates the number of matching characters (S20). Then, when the calculated number of characters satisfies the determination condition (S22Y), it is determined to be “pass” (S24), and when it is not satisfied (S22N), it is determined to be “fail” (S26).
【0029】(第2実施形態)本実施形態の外観検査装
置においては、文字認識の結果に基づく合否の判定条件
をさらに緩めることが可能な点で第1実施形態と異な
る。(Second Embodiment) The appearance inspection apparatus of the present embodiment is different from the first embodiment in that the pass / fail judgment conditions based on the result of character recognition can be further relaxed.
【0030】図5は、本実施形態における文字処理ユニ
ット49の詳細な構成を示す。文字処理ユニット49
は、第1実施形態における文字処理ユニット49がもつ
構成の他に、緩和条件保持部72および緩和設定部74
をさらに含む。緩和条件保持部72は、認識文字列と期
待文字列との比較において同一視することを許容する複
数種の文字のセットを緩和条件として保持する。同一視
を許容する文字は、形が近似するがゆえに誤認識しやす
いような2つ以上の文字が該当する。緩和設定部74
は、その緩和条件を設定する。緩和設定部74は、緩和
条件を部品の種類に応じて設定してもよい。緩和設定部
74は、検査のたびにユーザの操作によって緩和条件を
設定する構成としてもよい。判定ユニット68は、緩和
条件を加味した上で比較した結果に基づいて合否を判断
する。FIG. 5 shows a detailed configuration of the character processing unit 49 in this embodiment. Character processing unit 49
Are the configuration of the character processing unit 49 in the first embodiment, the relaxation condition holding unit 72 and the relaxation setting unit 74.
Further included. The mitigation condition holding unit 72 holds, as the mitigation condition, a set of a plurality of types of characters that are allowed to be identified in the comparison between the recognized character string and the expected character string. Characters that allow identification are two or more characters that are likely to be misrecognized due to their approximate shape. Relaxation setting section 74
Sets the relaxation conditions. The mitigation setting unit 74 may set the mitigation condition according to the type of the component. The mitigation setting unit 74 may be configured to set the mitigation condition by the operation of the user every time the examination is performed. The determination unit 68 determines pass / fail based on the result of the comparison in consideration of the relaxation condition.
【0031】図6は、緩和条件のテーブルを示す。設定
項目欄84には、「設定1」、「設定2」といった設定
項目の名称が定められる。第1文字欄86および第2文
字欄88には、互いに外観上紛らわしい2つの文字がそ
れぞれ設定される。設定状態欄90には、各設定項目ご
とにその設定が有効であるか無効であるかの状態が示さ
れる。たとえば図においては、「設定1」としてアルフ
ァベットの「I」と数字の「1」とを同一視する設定が
「有効」にされ、「設定2」として数字の「7」と数字
の「1」とを同一視する設定が「無効」にされている。
その他、「5」と「S」、「Q」と「O」、「0」と
「O」のような紛らわしい文字に関してそれぞれ設定が
なされている。FIG. 6 shows a table of relaxation conditions. In the setting item column 84, names of setting items such as “setting 1” and “setting 2” are defined. In the first character column 86 and the second character column 88, two characters that are confusing in appearance from each other are set. The setting state column 90 indicates a state of whether the setting is valid or invalid for each setting item. For example, in the figure, the setting for identifying the alphabet “I” and the number “1” as “setting 1” is set to “valid”, and the number “7” and the number “1” as “setting 2”. Is set to “invalid”.
In addition, settings are made for confusing characters such as “5” and “S”, “Q” and “O”, and “0” and “O”.
【0032】ここで、図6に示す設定2と設定3を有効
にした場合を想定する。もし、第1実施形態で例示した
ICの型番「SJ27456NP」が「5I21456
NP」と認識された場合にも、「S」と「5」、「7」
と「1」が同一視されるので、一致文字数は8文字とさ
れる。したがって、判定条件が「8文字または9文字」
であっても「合格」と判断される点で、第1実施形態よ
りも基準が柔軟である。Here, it is assumed that the settings 2 and 3 shown in FIG. 6 are validated. If the model number “SJ27456NP” of the IC exemplified in the first embodiment is “5I21456”
Even if it is recognized as "NP", "S" and "5", "7"
And “1” are identified, so the number of matching characters is eight. Therefore, the judgment condition is "8 or 9 characters"
However, the standard is more flexible than in the first embodiment in that it is determined to be “passed”.
【0033】図7は、本実施形態における検査の手順を
示すフローチャートである。まず、S30〜S34の各
ステップは、第1実施形態のS10〜S14の各ステッ
プと同じである。判定条件を設定(S34)した後、緩
和条件を設定すべきか否かをユーザに問い合わせ、ユー
ザが設定を希望した場合に(S36Y)、緩和設定部7
4が緩和条件を設定する(S38)。以上の各事項を設
定するステップが前処理段階である。FIG. 7 is a flowchart showing the procedure of the inspection in this embodiment. First, each step of S30 to S34 is the same as each step of S10 to S14 of the first embodiment. After the determination condition is set (S34), the user is inquired whether or not the relaxation condition should be set. If the user desires the setting (S36Y), the relaxation setting unit 7
4 sets the relaxation condition (S38). The step of setting the above items is a preprocessing stage.
【0034】以下のステップが主処理段階である。ま
ず、位置指定部62によって指定された位置から認識ユ
ニット66が文字を抽出して認識する(S40)。次い
で、判定ユニット68が認識文字列と期待文字列とを比
較する(S42)。また、一致した文字数を判定ユニッ
ト68が算出する(S44)。そして、算出された文字
数が判定条件を満たした場合(S46Y)に「合格」と
判断する(S60)。一方、判定条件を満たさず(S4
6N)、かつ、緩和条件が設定されていなかった場合は
(S48N)「不合格」と判断する(S58)。また、
判定条件は満たさないが、緩和条件が設定されている場
合には(S48Y)、その緩和条件に基づき、不一致で
あった文字を近似する文字で入れ替える(S50)。そ
して、入替後の認識文字列と期待文字列とを比較する
(S52)。次いで、一致する文字数を判定ユニット6
8が算出する(S54)。そして、算出された文字数が
判定条件を満たした場合(S56Y)に「合格」と判断
し(S60)、判定条件を満たさなかった場合に(S5
6N)「不合格」と判断する(S58)。The following steps are the main processing steps. First, the recognition unit 66 extracts and recognizes a character from the position specified by the position specifying unit 62 (S40). Next, the determination unit 68 compares the recognized character string with the expected character string (S42). Further, the determination unit 68 calculates the number of matching characters (S44). Then, when the calculated number of characters satisfies the determination condition (S46Y), it is determined to be "passed" (S60). On the other hand, the determination condition is not satisfied (S4
6N), and when the relaxation condition is not set (S48N), it is determined as "fail" (S58). Also,
If the criterion condition is not satisfied, but the relaxation condition is set (S48Y), the mismatched character is replaced with an approximate character based on the relaxation condition (S50). Then, the recognition character string after the replacement is compared with the expected character string (S52). Next, the number of matching characters is determined by the determination unit 6.
8 is calculated (S54). Then, when the calculated number of characters satisfies the determination condition (S56Y), it is determined to be "pass" (S60), and when the determination condition is not satisfied (S5).
6N) It is determined as "fail" (S58).
【0035】(第3実施形態)本実施形態の外観検査装
置においては、文字認識の結果を解析し、その解析結果
に応じて認識結果を補足する点で第1および第2実施形
態と異なる。たとえば、抵抗やコンデンサの場合、抵抗
値や容量値として記載する数値には規則性があり、その
規則に従った文字以外は記載されることがない。よっ
て、その規則に基づいて認識結果を解析して手直しする
ことにより、認識しにくい文字に対しても認識結果の信
頼度を高めることができる。(Third Embodiment) The appearance inspection apparatus of the present embodiment is different from the first and second embodiments in that the result of character recognition is analyzed and the recognition result is supplemented according to the analysis result. For example, in the case of a resistor or a capacitor, numerical values described as a resistance value or a capacitance value have a regularity, and characters other than characters according to the rules are not described. Therefore, by analyzing the recognition result based on the rule and modifying the recognition result, the reliability of the recognition result can be increased even for characters that are difficult to recognize.
【0036】図8は、本実施形態における文字処理ユニ
ット49の詳細な構成を示す。文字処理ユニット49
は、第1実施形態における文字処理ユニット49がもつ
構成の他に、解析ユニット76および候補辞書保持部7
8をさらに含む。解析ユニット76は、認識文字列がそ
の部品の属性情報を示す文字列であることを前提とした
上で、文字列を単位として認識結果を解析する。解析ユ
ニット76は、候補辞書保持部78がもつ候補辞書を参
照して解析する。FIG. 8 shows a detailed configuration of the character processing unit 49 in this embodiment. Character processing unit 49
Is the analysis unit 76 and the candidate dictionary holding unit 7 in addition to the configuration of the character processing unit 49 in the first embodiment.
8 is further included. The analysis unit 76 analyzes the recognition result on a character string basis, on the assumption that the recognition character string is a character string indicating attribute information of the component. The analysis unit 76 analyzes with reference to the candidate dictionaries of the candidate dictionary holding unit 78.
【0037】候補辞書保持部78は、部品に記されるべ
き文字列の候補を候補辞書に複数保持する。この候補
は、部品の属性情報を示す文字列であり、所定の規則に
したがって記述される。たとえば、抵抗値や容量値はE
系列とよばれる3桁〜4桁の定数コードに限定されてい
る。そして、たとえば、E24系列の数値の場合、上位
2桁の数値は、10、11、12、13、15、16、
18、20、22、24、27、30、33、36、3
9、43、47、51、56、62、68、75、8
2、91のいずれかに限定される。また、E24系列の
3桁目は通常、階乗数を示すので、0から6までの数字
に限られる。候補辞書保持部78は、これらの数値の組
合せを候補として保持する。候補辞書保持部78は、定
数コードを部品別で分類した複数の辞書を保持してもよ
い。解析ユニット76は、検査する部品に応じて参照す
る辞書を切り替えてもよい。The candidate dictionary holding unit 78 holds a plurality of character string candidates to be described in the parts in the candidate dictionary. This candidate is a character string indicating component attribute information, and is described according to a predetermined rule. For example, the resistance value and the capacitance value are E
It is limited to a 3-digit to 4-digit constant code called a series. Then, for example, in the case of the numerical value of the E24 series, the numerical values of the upper two digits are 10, 11, 12, 13, 15, 16,
18, 20, 22, 24, 27, 30, 33, 36, 3
9, 43, 47, 51, 56, 62, 68, 75, 8
2, 91. Also, the third digit of the E24 series usually indicates a factorial number, and is therefore limited to a number from 0 to 6. The candidate dictionary holding unit 78 holds combinations of these numerical values as candidates. The candidate dictionary holding unit 78 may hold a plurality of dictionaries in which constant codes are classified by component. The analysis unit 76 may switch the dictionary to be referred according to the component to be inspected.
【0038】解析ユニット76は、認識文字列が文字列
候補のうちいずれかに合致することを前提として解析す
るとともに、いずれの定数コードに最も近いかを判定す
ることによって候補を選択する。たとえば、部品に記さ
れた文字列が「103」とも「703」とも読める文字
列であった場合を想定する。ここで、上記のE24系列
によれば上位2桁が「70」になることはないので、解
析ユニット76は「103」の候補を選択する。このよ
うに、本実施形態においては、文字列の候補が限定され
ているので、認識が不確かな文字が含まれていても認識
結果の信頼度を高めることができる。The analysis unit 76 analyzes on the assumption that the recognized character string matches any of the character string candidates, and selects a candidate by determining which constant code is closest to the character string candidate. For example, it is assumed that a character string written on a component is a character string that can be read as both “103” and “703”. Here, according to the E24 series, the upper two digits do not become “70”, so the analysis unit 76 selects the candidate “103”. As described above, in the present embodiment, since character string candidates are limited, even if a character whose recognition is uncertain is included, the reliability of the recognition result can be increased.
【0039】また、解析ユニット76は、候補の規則に
合致しない文字が認識文字列の中に含まれていた場合、
その合致しなかった文字をユーザに通知してもよい。た
とえば、解析ユニット76は、規則に合致しなかった文
字を合致する文字に自動変換してもよい。たとえば、解
析ユニット76は、規則に合致させる自動変換を行うか
否かをユーザに確認してもよい。The analysis unit 76 determines whether a character that does not match the rule of the candidate is included in the recognized character string.
The unmatched character may be notified to the user. For example, the analysis unit 76 may automatically convert characters that did not match the rule to matching characters. For example, the analysis unit 76 may ask the user whether to perform an automatic conversion that matches the rule.
【0040】図9は、本実施形態における検査の手順を
示すフローチャートである。まず、前処理段階であるS
80〜S84は、第1実施形態における前処理段階と同
様のステップである。FIG. 9 is a flowchart showing the procedure of the inspection in this embodiment. First, in the preprocessing stage, S
Steps 80 to S84 are the same as the preprocessing steps in the first embodiment.
【0041】以下のステップが主処理段階である。ま
ず、位置指定部62によって指定された位置から認識ユ
ニット66が文字を抽出して認識する(S86)。次い
で、解析ユニット76が認識結果を解析して、辞書の中
から認識文字列に最も近い候補を選択する(S88)。
次いで、選択された候補と期待文字列とを比較し(S9
0)、一致した場合(S92Y)に「合格」と判断し
(S94)、一致しなかった場合(S92N)に「不合
格」と判断する(S96)。The following steps are the main processing steps. First, the recognition unit 66 extracts and recognizes a character from the position specified by the position specifying unit 62 (S86). Next, the analysis unit 76 analyzes the recognition result and selects a candidate closest to the recognized character string from the dictionary (S88).
Next, the selected candidate is compared with the expected character string (S9).
0), if they match (S92Y), it is determined as "pass"(S94); if they do not match (S92N), it is determined as "fail" (S96).
【0042】(第4実施形態)本実施形態の外観検査装
置においては、形が近似する文字のテーブルを設定し、
認識結果を解析する際に、近似する文字のテーブルを参
照する点で第3実施形態と異なる。(Fourth Embodiment) In the appearance inspection apparatus of this embodiment, a table of characters having similar shapes is set.
The third embodiment is different from the third embodiment in that a similar character table is referred to when analyzing a recognition result.
【0043】図10は、本実施形態における文字処理ユ
ニット49の詳細な構成を示す。文字処理ユニット49
は、第3実施形態における文字処理ユニット49がもつ
構成の他に、近似テーブル保持部80およびテーブル設
定部82をさらに含む。近似テーブル保持部80は、形
が近似する複数種の文字を定義した近似テーブルを保持
する。この近似テーブルは、前述した図6に示されるテ
ーブルとほぼ同じであり、「I」と「1」、「7」と
「1」、「5」と「S」などの近似する文字が対応付け
られている。解析ユニット76は、認識文字列がいずれ
の候補にも合致しないと判断した場合に、候補がもつ規
則に合致しない文字を近似する文字に入れ替えた上で候
補を選択する。FIG. 10 shows a detailed configuration of the character processing unit 49 in this embodiment. Character processing unit 49
Includes an approximate table holding unit 80 and a table setting unit 82 in addition to the configuration of the character processing unit 49 in the third embodiment. The approximation table holding unit 80 holds an approximation table defining a plurality of types of characters having similar shapes. This approximate table is almost the same as the table shown in FIG. 6 described above, and approximate characters such as “I” and “1”, “7” and “1”, and “5” and “S” are associated with each other. Have been. When the analysis unit 76 determines that the recognized character string does not match any of the candidates, the analysis unit 76 replaces characters that do not match the rules of the candidates with similar characters, and selects a candidate.
【0044】テーブル設定部82は、近似テーブルを設
定する。テーブル設定部82は部品種に応じて近似テー
ブルを設定してもよい。たとえば、抵抗やコンデンサな
ど数字のみが記載されるべき部品に対しては、アルファ
ベットを近似する数字に置き換える設定をしてもよい。
たとえば、「I」と「1」、「S」と「5」を同一視す
るよう設定してもよい。テーブル設定部82は、近似す
る文字のセットごとに有効/無効を設定してもよいし、
この設定をユーザの操作によって切り替えてもよい。The table setting section 82 sets an approximate table. The table setting unit 82 may set an approximation table according to the component type. For example, for components such as resistors and capacitors for which only numbers are to be described, a setting may be made to replace alphabets with numbers that approximate the alphabet.
For example, "I" and "1" and "S" and "5" may be set to be identified with each other. The table setting unit 82 may set valid / invalid for each similar character set,
This setting may be switched by a user operation.
【0045】図11は、本実施形態における検査の手順
を示すフローチャートである。まず、S100〜S10
4は、第3実施形態におけるS80〜S84と同じであ
る。判定条件の設定(S104)の後、近似テーブルの
設定をユーザが希望する場合(S106Y)、近似する
文字のセットごとに有効/無効を設定する(S10
8)。以上のステップが前処理段階である。FIG. 11 is a flowchart showing the procedure of the inspection in this embodiment. First, S100 to S10
4 is the same as S80 to S84 in the third embodiment. After the setting of the determination condition (S104), if the user desires to set the approximation table (S106Y), valid / invalid is set for each set of similar characters (S10).
8). The above steps are the preprocessing stage.
【0046】以下のステップが主処理段階である。ま
ず、位置指定部62によって指定された位置から認識ユ
ニット66が文字を抽出して認識する(S110)。次
いで、解析ユニット76が認識結果を解析し、認識文字
列に一致する文字列の候補が辞書に含まれていなかった
場合(S112N)、候補の規則に合致しない文字を近
似する文字で置き換える(S114)。そして、置換後
の文字列と一致する候補を辞書から選択する(S11
6)。次いで、選択された候補と期待文字列とを比較し
(S118)、一致した場合(S120Y)に「合格」
と判断し(S122)、満たさなかった場合(S120
N)に「不合格」と判断する(S124)。The following steps are the main processing steps. First, the recognition unit 66 extracts and recognizes a character from the position specified by the position specifying unit 62 (S110). Next, the analysis unit 76 analyzes the recognition result. If a candidate for a character string that matches the recognized character string is not included in the dictionary (S112N), a character that does not match the rule of the candidate is replaced with an approximate character (S114). ). Then, a candidate that matches the character string after replacement is selected from the dictionary (S11).
6). Next, the selected candidate is compared with the expected character string (S118).
(S122), and if not satisfied (S120)
N) is determined to be "fail" (S124).
【0047】以上、本発明をいくつかの実施の形態をも
とに説明した。これらの実施の形態は例示であり、それ
らの各構成要素や各処理プロセスの組合せにいろいろな
変形が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲
にあることは当業者に理解されるところである。以下、
変形例を挙げる。The present invention has been described based on several embodiments. These embodiments are exemplifications, and it is understood by those skilled in the art that various modifications can be made to the combination of each component and each processing process, and that such modifications are also within the scope of the present invention. is there. Less than,
Modifications will be described.
【0048】第3および第4実施形態における解析ユニ
ット76は、認識文字列は辞書に含まれる候補のいずれ
かに合致することを前提として解析するが、認識文字列
がいずれの候補にも合致しないと判断した場合に上記の
前提を解除する構成としてもよい。この場合、合致しな
かった旨をユーザへ通知してもよい。また、前提を解除
して解析した結果を一時的または恒久的なかたちで候補
辞書へ登録してもよい。さらに、候補辞書へ登録するか
否かをユーザに確認してもよい。The analysis unit 76 in the third and fourth embodiments analyzes on the assumption that the recognized character string matches any of the candidates included in the dictionary, but the recognized character string does not match any of the candidates. If it is determined that the above condition is satisfied, the above-mentioned premise may be released. In this case, the user may be notified that they did not match. Alternatively, the result of the analysis with the assumption canceled may be temporarily or permanently registered in the candidate dictionary. Furthermore, the user may be asked whether to register in the candidate dictionary.
【0049】[0049]
【発明の効果】本発明によれば、基板上の部品に記され
た文字を柔軟な基準で認識することによって効率的に基
板を検査することができる。According to the present invention, a board can be inspected efficiently by recognizing characters written on components on the board on a flexible basis.
【図1】 電子部品とその表面に記載された文字列を例
示する図である。FIG. 1 is a diagram exemplifying an electronic component and a character string described on a surface thereof.
【図2】 外観検査装置の構成を示す機能ブロック図で
ある。FIG. 2 is a functional block diagram illustrating a configuration of a visual inspection device.
【図3】 第1実施形態における文字処理ユニット49
の詳細な構成を示す機能ブロック図である。FIG. 3 is a character processing unit 49 according to the first embodiment.
FIG. 3 is a functional block diagram showing a detailed configuration of FIG.
【図4】 第1実施形態における検査の手順を示すフロ
ーチャートである。FIG. 4 is a flowchart illustrating an inspection procedure according to the first embodiment.
【図5】 第2実施形態における文字処理ユニット49
の詳細な構成を示す機能ブロック図である。FIG. 5 is a character processing unit 49 according to the second embodiment.
FIG. 3 is a functional block diagram showing a detailed configuration of FIG.
【図6】 緩和条件のテーブルを示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a table of relaxation conditions.
【図7】 第2実施形態における検査の手順を示すフロ
ーチャートである。FIG. 7 is a flowchart illustrating an inspection procedure according to the second embodiment.
【図8】 第3実施形態における文字処理ユニット49
の詳細な構成を示す機能ブロック図である。FIG. 8 shows a character processing unit 49 according to the third embodiment.
FIG. 3 is a functional block diagram showing a detailed configuration of FIG.
【図9】 第3実施形態における検査の手順を示すフロ
ーチャートである。FIG. 9 is a flowchart illustrating an inspection procedure according to the third embodiment.
【図10】 第4実施形態における文字処理ユニット4
9の詳細な構成を示す機能ブロック図である。FIG. 10 shows a character processing unit 4 according to a fourth embodiment.
9 is a functional block diagram showing a detailed configuration of No. 9.
【図11】 第4実施形態における検査の手順を示すフ
ローチャートである。FIG. 11 is a flowchart illustrating an inspection procedure according to a fourth embodiment.
1 基板、 10 外観検査装置、 12 メインユニ
ット、 14 試験ユニット、 49 文字処理ユニッ
ト、 60 期待データ保持部、 62 位置指定部、
64 期待文字列指定部、 66 認識ユニット、
68 判定ユニット、 70 判定条件保持部、 72
緩和条件保持部、 74 緩和設定部、 76 解析
ユニット、 78 候補辞書保持部、 80 近似テー
ブル保持部、 82 テーブル設定部。1 board, 10 appearance inspection device, 12 main unit, 14 test unit, 49 character processing unit, 60 expected data holding unit, 62 position designation unit,
64 expected character string specification part, 66 recognition unit,
68 judgment unit, 70 judgment condition holding unit, 72
Relaxation condition storage unit, 74 relaxation setting unit, 76 analysis unit, 78 candidate dictionary storage unit, 80 approximate table storage unit, 82 table setting unit.
Claims (7)
検査する方法であって、 被検査体に実装された部品が写し出されている画像を取
得する過程と、 前記部品に記されている文字を前記画像から抽出して認
識する過程と、 前記認識された文字によって形成される文字列と所定の
期待される文字列との間で、一致する文字の数を基準に
して合否を判定する過程と、 を含むことを特徴とする外観検査方法。1. A method for inspecting a mounted state of a component mounted on an object to be inspected, the method comprising: obtaining an image in which a component mounted on the object to be inspected is projected; Extracting a recognized character from the image and recognizing the character; determining whether the character is acceptable or not based on the number of matching characters between a character string formed by the recognized character and a predetermined expected character string Performing a visual inspection method.
検査する装置であって、 被検査体を走査することにより、その被検査体に実装さ
れた部品が写し出された撮影画像を取得する走査ユニッ
トと、 前記部品に記されている文字を前記撮影画像から抽出し
て認識する認識ユニットと、 前記認識された文字によって形成される文字列と所定の
期待される文字列との間で、対応する文字の比較結果に
基づいて合否を判断する判定ユニットと、 を含み、 前記判定ユニットは、前記比較において一致した文字の
数が、一致すべき最低限の文字数を定めた所定の判定条
件を満たしたときに合格と判断することを特徴とする外
観検査装置。2. An apparatus for inspecting a mounted state of a component mounted on an object to be inspected, wherein a scanned image of the part mounted on the object to be inspected is acquired by scanning the object to be inspected. A recognition unit that extracts and recognizes characters written on the component from the photographed image, between a character string formed by the recognized characters and a predetermined expected character string. A determination unit that determines pass / fail based on a comparison result of corresponding characters, wherein the determination unit determines a minimum number of characters to be matched by the number of characters matched in the comparison. A visual inspection apparatus characterized in that a pass is determined when the condition is satisfied.
する複数種の文字を緩和条件として設定する緩和設定部
と、 前記判定ユニットは、前記緩和条件を加味した上で比較
した結果に基づいて合否を判断することを特徴とする請
求項2に記載の外観検査装置。3. A relaxation setting unit configured to set a plurality of types of characters that are allowed to be identified in the comparison as a relaxation condition, and the determination unit determines a pass / fail based on a result of the comparison in consideration of the relaxation condition. The visual inspection device according to claim 2, wherein the determination is made.
検査する方法であって、 被検査体に実装された部品が写し出されている画像を取
得する過程と、 前記部品に記されている文字を前記撮影画像から抽出し
て認識する認識ユニットと、 前記認識された文字によって形成される文字列がその部
品の属性情報を示す文字列であることを前提とした上
で、文字列を単位として前記認識の結果を解析する過程
と、 を含むことを特徴とする外観検査方法。4. A method for inspecting a mounting state of a component mounted on an object to be inspected, the method comprising: obtaining an image in which a component mounted on the object to be inspected is projected; A recognition unit that extracts a character from the photographed image and recognizes the character string, on the assumption that a character string formed by the recognized character is a character string indicating attribute information of the part, Analyzing the recognition result as a unit.
検査する装置であって、 被検査体を走査することにより、その被検査体に実装さ
れた部品が写し出された撮影画像を取得する走査ユニッ
トと、 前記部品に記されている文字を前記撮影画像から抽出し
て認識する認識ユニットと、 前記認識の結果を解析する解析ユニットと、 前記部品に記されるべき文字列の候補を複数保持する候
補辞書と、 を含み、 前記解析ユニットは、前記認識された文字によって形成
される文字列が前記候補のうちいずれかに合致すること
を前提とした上で、文字列を単位として解析することを
特徴とする外観検査装置。5. An apparatus for inspecting a mounted state of a component mounted on an object to be inspected, wherein a scanned image of the part mounted on the object to be inspected is obtained by scanning the object to be inspected. A recognition unit that extracts and recognizes characters written on the component from the captured image, an analysis unit that analyzes the result of the recognition, and a candidate for a character string to be written on the component. A plurality of candidate dictionaries, wherein the analysis unit analyzes on a character string basis on the assumption that a character string formed by the recognized characters matches any of the candidates. A visual inspection device characterized by performing.
を前記候補として有し、 前記解析ユニットは、前記認識された文字によって形成
される文字列が、前記定数コードのいずれに最も近いか
を判定することによって候補を選択することを特徴とす
る請求項5に記載の外観検査装置。6. The candidate dictionary has a constant code of the component as the candidate, and the analysis unit determines which of the constant codes a character string formed by the recognized characters is closest to. The appearance inspection apparatus according to claim 5, wherein a candidate is selected by the determination.
ーブルを設定するテーブル設定部をさらに含み、 前記解析ユニットは、前記認識された文字によって形成
される文字列が前記候補のいずれにも合致しないと判断
した場合に、前記近似する複数種の文字を入れ替えた上
で候補を選択することを特徴とする請求項5、6のいず
れかに記載の外観検査装置。7. A table setting unit for setting a table defining a plurality of types of characters having similar shapes, wherein the analysis unit sets a character string formed by the recognized characters to any of the candidates. The visual inspection device according to claim 5, wherein when it is determined that the characters do not match, the plurality of similar characters are replaced and a candidate is selected.
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JP2000377877A JP4746740B2 (en) | 2000-12-12 | 2000-12-12 | Appearance inspection method and appearance inspection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000377877A JP4746740B2 (en) | 2000-12-12 | 2000-12-12 | Appearance inspection method and appearance inspection apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002183712A true JP2002183712A (en) | 2002-06-28 |
JP4746740B2 JP4746740B2 (en) | 2011-08-10 |
Family
ID=18846539
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000377877A Expired - Lifetime JP4746740B2 (en) | 2000-12-12 | 2000-12-12 | Appearance inspection method and appearance inspection apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4746740B2 (en) |
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Legal Events
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A977 | Report on retrieval |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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