JP2002181718A - Method and apparatus for inspecting hologram sheet - Google Patents
Method and apparatus for inspecting hologram sheetInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、プラスチック製の
カード等に貼着されたホログラムシートの検査方法及び
検査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for inspecting a hologram sheet attached to a plastic card or the like.
【０００２】[0002]
【従来の技術】図１（Ａ）に示すように、ＩＣカード、
磁気カード等のカード１の表面には、偽造防止のための
ホログラムシート２が付される場合がある。ホログラム
シート２は転写等によりカード１上に接着される。この
カード１は正常なホログラムシート２を有しており、ホ
ログラムシート２には欠陥部分が存在しない。しかし、
同図（Ｂ）に示すカード３のように、ホログラムシート
４の印刷不良、転写不良等によりホログラムシート４の
中に汚れ、ピンホール、浮き上り等の欠陥部分５ａ，５
ｂ，５ｃが生じることがある。このためカード１，３は
出荷前に検査し、欠陥のあるカード３は予め除去してお
かなければならない。図１（Ｂ）に例示するカード３の
ホログラムシート４にはその背景部４ａに一つの黒点か
らなる欠陥部分５ａが発生し、絵柄部４ｂに黒点からな
る欠陥部分５ｂと白点からなる欠陥部分５ｃが発生して
いる。2. Description of the Related Art As shown in FIG.
A hologram sheet 2 for preventing forgery may be provided on the surface of a card 1 such as a magnetic card. The hologram sheet 2 is adhered onto the card 1 by transfer or the like. The card 1 has a normal hologram sheet 2, and the hologram sheet 2 has no defective portion. But,
As shown in FIG. 2B, the hologram sheet 4 has defective portions 5a and 5 such as stains, pinholes, and floating due to poor printing, poor transfer, and the like.
b, 5c may occur. Therefore, the cards 1 and 3 must be inspected before shipment, and the defective card 3 must be removed in advance. In the hologram sheet 4 of the card 3 exemplified in FIG. 1 (B), a defective portion 5a composed of one black point occurs in the background portion 4a, and a defective portion 5b composed of a black point and a defective portion composed of a white point in the picture portion 4b. 5c has occurred.
【０００３】従来、このような欠陥部分５ａ，５ｂ，５
ｃの検出には図５に示すような画像処理手段が採られて
いる。Conventionally, such defective portions 5a, 5b, 5
For detecting c, an image processing means as shown in FIG. 5 is employed.
【０００４】カード１上の正常なホログラムシート２を
ＣＣＤカメラで撮影して得た正常画２1と、検査すべき
カード３上のホログラムシート４を同様に撮影して得た
検査画４1とを用意する。この検査すべきホログラムシ
ート４には、図１（Ｂ）に示す如く、欠陥部分５ａ，５
ｂ，５ｃが複数箇所にわたって発生しているものとし、
これに対応して検査画４1上には黒点からなる欠陥部分
５ａが背景部４ａ1に画線部５ａ1となって現れ、黒点と
白点からなる欠陥部分５ｂ，５ｃとが絵柄部４ｂ1に画
線部５ｂ1，５ｃ1となって現れている。次に、正常画２
1から微分画６を求めると共に、正常画２1と検査画４1
とをパターンマッチングした後に両者の差分（差の絶対
値）を求めて差分画７を得る。差分画７には、欠陥部分
５ａ，５ｂ，５ｃが画線部５ａ2，５ｂ2，５ｃ2として
表示される。そして、差分画７から微分画６を引き算す
るか又は微分画６以外の部分を抽出して他の差分画８を
得、この差分画８上に明るい画線部５ａ3，５ｃ3が認め
られると、その部分を欠陥部分５ａ，５ｃとして判定す
る。[0004] a normal picture 2 1 obtained by photographing with a normal hologram sheet 2 on the card 1 CCD camera, inspection image 4 1 obtained by photographing the same manner the hologram sheet 4 on the card 3 to be examined Prepare The hologram sheet 4 to be inspected has defective portions 5a and 5a as shown in FIG.
b, 5c occur over a plurality of locations,
It appeared defect 5a made of black dots on the test image 4 1 correspond becomes the image portion 5a 1 in the background portion 4a 1, black spot and made from white point defect portion 5b, and the 5c pattern portion 4b In FIG. 1 , the image portions 5b 1 and 5c 1 appear. Next, normal image 2
With obtaining the differential image 6 from 1, normal picture 2 1 and the inspection image 4 1
After pattern matching is performed, the difference between the two (the absolute value of the difference) is obtained to obtain a difference image 7. The difference picture 7, the defective portion 5a, 5b, 5c are displayed as image area 5a 2, 5b 2, 5c 2 . Then, the differential image 6 is subtracted from the differential image 7 or a portion other than the differential image 6 is extracted to obtain another differential image 8, on which bright image portions 5a 3 and 5c 3 are recognized. Is determined as defective portions 5a and 5c.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ホログラムでは微妙な
光の角度によって画像の形状が変化するため、特に絵柄
部４ｂのエッジ４ｃにおいて過剰に欠陥ありと判定され
やすい。すなわち、図５に示すように、差分画７には絵
柄部２ｂ1と絵柄部４ｂ1のエッジ２ｃ1、４ｃ1同士がマ
ッチングしきれず、図示したように差が画線部９として
出やすい。そのため通常の検査処理では、微分画６の画
線部１０を膨張させることで絵柄部４ｂのエッジ４ｃに
おける欠陥検査を甘くしている。In the hologram, since the shape of an image changes depending on a subtle angle of light, it is easy to determine that there is an excessive defect, particularly at the edge 4c of the picture portion 4b. That is, as shown in FIG. 5, the edge 2c 1 of the pattern portion 2b 1 and the picture portion 4b 1, 4c 1 each other not completely match the difference image 7, the difference as shown prone as image area 9. For this reason, in the normal inspection processing, the defect inspection at the edge 4c of the picture portion 4b is reduced by expanding the image portion 10 of the differential image 6.
【０００６】しかし、それではホログラムシート３の絵
柄４ｂのエッジ４ｃ上又はその近傍に生じた欠陥部分５
ｂが微分画６の画線部１０上に含まれてしまい、欠陥部
分５ｂの検出が事実上困難になってしまう。However, in this case, the defective portion 5 generated on or near the edge 4c of the picture 4b of the hologram sheet 3
b is included on the image portion 10 of the differential image 6, and it becomes practically difficult to detect the defective portion 5b.
【０００７】従って、本発明は、ホログラムシートの絵
柄のエッジ上又はその近傍に生じた欠陥であっても確実
に検出することができるホログラムシートの検査方法及
び装置を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a method and an apparatus for inspecting a hologram sheet capable of reliably detecting even a defect occurring on or near an edge of a picture of a hologram sheet.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め、請求項１に係る発明は、基材（１）上の正常なホロ
グラムシート（２）を撮影して得た正常画（２1）を多
数のブロックに仕切って各ブロック内の画素の明るさの
うち最小値をとるよう処理した第一の基準画（２２）
と、上記各ブロック内の画素の明るさのうち最大値をと
るよう処理した第二の基準画（２３）とを用意し、第一
の基準画（２２）から検査されるホログラムシート
（４）を撮影して得た検査画（４1）をパターンマッチ
ング後に引き算すると共に、上記検査画（４1）から上
記第二の基準画（２３）をパターンマッチング後に引き
算し、それぞれの引き算後の差分画（２４）（２５）内
において予め決定された閾値より明るさが大きい画素の
部分（５ａ4，５ｂ4，５ｃ4）を欠陥部分（５ａ，５
ｂ，５ｃ）として認識するホログラムシートの検査方法
を採用する。Means for Solving the Problems To solve the above problems, the invention according to claim 1 is directed to a normal image (2 1 ) obtained by photographing a normal hologram sheet (2) on a substrate (1). ) Is divided into a number of blocks, and the first reference image (22) is processed so as to take the minimum value of the brightness of the pixels in each block.
And a second reference image (23) processed so as to take the maximum value of the brightness of the pixels in each block, and a hologram sheet (4) inspected from the first reference image (22) inspection image obtained by photographing a (4 1) with subtraction after pattern matching, the inspection image (4 1) from by subtracting the second reference image (23) after the pattern matching, the difference between the after each subtraction Pixel portions (5a 4 , 5b 4 , 5c 4 ) in the images (24) and (25) whose brightness is higher than a predetermined threshold are replaced with defective portions (5a, 5).
The inspection method of the hologram sheet recognized as b, 5c) is adopted.
【０００９】また、請求項２に係る発明は、基材（１，
３）上のホログラムシート（２，４）を撮影するカメラ
（１１）と、正常なホログラムシート（２）を撮影して
得た正常画（２1）を多数のブロックに仕切って各ブロ
ック内の画素の明るさのうち最小値をとるよう処理した
第一の基準画（２２）から上記カメラ（１１）で撮影し
たホログラムシート（４）の検査画（４1）をパターン
マッチング後に引き算して第一の差分画（２４）を得、
この第一の差分画（２４）内において予め決定された閾
値より明るさが低い画素の部分（５ａ4，５ｂ4）を欠陥
部分（５ａ，５ｂ）として認識する第一の欠陥認識手段
と、上記各ブロック内の画素の明るさのうち最大値をと
るよう処理した第二の基準画（２３）を上記検査画（４
1）からパターンマッチング後に引き算して第二の差分
画（２５）を得、この第二の差分画（２５）内において
予め決定された閾値より明るさが大きい画素の部分（５
ｃ 4）を欠陥部分（５ｃ）として認識する第二の欠陥認
識手段とを具備したホログラムシートの検査装置を採用
する。[0009] The invention according to claim 2 provides the base material (1, 1)
3) Camera for photographing the hologram sheet (2, 4) above
(11) and photograph the normal hologram sheet (2)
The obtained normal image (21) Is divided into many blocks and each block
Processed to take the minimum value of the brightness of the pixels in the
The first reference image (22) is taken by the camera (11).
Hologram sheet (4)1) The pattern
Subtract after matching to get the first difference image (24),
A predetermined threshold value in the first difference image (24)
Pixel portion with lower brightness than the value (5aFour, 5bFour) Defective
First defect recognizing means for recognizing parts (5a, 5b)
And the maximum value of the brightness of the pixels in each block
The second reference image (23) processed as described above is used for the inspection image (4).
1) And subtract after pattern matching to get the second difference
Image (25), and in this second difference image (25)
A portion of a pixel having a brightness larger than a predetermined threshold (5
c Four) As a defective part (5c)
Hologram sheet inspection device equipped with
I do.
【００１０】[0010]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面を参照して説明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
【００１１】図１（Ａ）（Ｂ）に示すように、ホログラ
ムシート２，４は、プラスチック製の基材であるカード
１，３上に転写等の手段により貼着されている。ホログ
ラムシート２，４は例えば長方形に形成されたシート材
であり、その表面には例えば絵柄部２ａ，４ａと背景部
２ｂ，４ｂとが表示されている。図１（Ｂ）に例示する
カード１のホログラムシート２は正常であり、汚れ、ピ
ンホール等の欠陥部分は発生していない。図１（Ｂ）に
例示するカード３のホログラムシート４には欠陥部分５
ａ，５ｂ，５ｃが含まれており、その背景部４ａに欠陥
部分５ａに対応する一つの黒点が発生し、絵柄部４ｂに
欠陥部分５ｂ，５ｃに夫々対応する黒点と白点が発生し
ている。As shown in FIGS. 1A and 1B, the hologram sheets 2 and 4 are adhered to cards 1 and 3 which are plastic substrates by means such as transfer. The hologram sheets 2 and 4 are, for example, rectangular sheet materials, and display, for example, picture portions 2a and 4a and background portions 2b and 4b on the surface thereof. The hologram sheet 2 of the card 1 exemplified in FIG. 1B is normal, and no defective portion such as dirt or pinholes has occurred. The hologram sheet 4 of the card 3 illustrated in FIG.
a, 5b, and 5c, one black point corresponding to the defective portion 5a is generated in the background portion 4a, and a black point and a white point corresponding to the defective portions 5b and 5c are generated in the picture portion 4b. I have.
【００１２】図２に示すように、ホログラムシートの検
査装置は、カード１，３上のホログラムシート２，４を
撮影するカメラ１１と、明るさの程度が低い黒点等の欠
陥部分５ａ，５ｂを検出するための第一の欠陥認識手段
と、明るさの程度が高い白点等の欠陥部分５ｃを検出す
るための第二の欠陥認識手段と、この検査装置の処理内
容等を表示するモニタ１４とを具備し、コンピュータの
機能も有している。その他図示しないがホログラムシー
ト１，３を照明する照明装置、マン−マシンインターフ
ェイスとなる操作部、カード１，３をカメラ１１下で一
方向に間欠的に搬送する搬送装置等も具備する。As shown in FIG. 2, the hologram sheet inspection apparatus includes a camera 11 for photographing the hologram sheets 2 and 4 on the cards 1 and 3, and a defect portion 5a and 5b such as a black spot having a low brightness. A first defect recognizing means for detecting, a second defect recognizing means for detecting a defective portion 5c such as a white point having a high degree of brightness, and a monitor 14 for displaying the processing contents of the inspection apparatus. And a computer function. In addition, although not shown, an illumination device for illuminating the hologram sheets 1 and 3, an operation unit serving as a man-machine interface, and a transport device for intermittently transporting the cards 1 and 3 in one direction under the camera 11 are also provided.
【００１３】カメラ１１は、例えばＣＣＤカメラで構成
される。カメラ１１はカード１，３上のホログラムシー
ト２，４を撮影し、ホログラムシート２，４上の絵柄部
２ａ，４ａ及び背景部２ｂ，４ｂからなる画像を検査装
置本体内に入力する。この画像は二値化処理部２１によ
り処理され、二値画像とされる。カメラ１１は、カード
１，３を搬送しながら走査するラインセンサーカメラで
あっても良く、カード１，３を搬送しながら又は搬送を
停止させて撮像するエリアセンサーカメラであっても良
い。カメラ１１で撮像する際はホログラムシート２，４
の全面が均一な明るさになるように、照明装置により照
明される。The camera 11 is, for example, a CCD camera. The camera 11 photographs the hologram sheets 2 and 4 on the cards 1 and 3 and inputs an image composed of the picture portions 2a and 4a and the background portions 2b and 4b on the hologram sheets 2 and 4 into the main body of the inspection apparatus. This image is processed by the binarization processing unit 21 to be a binary image. The camera 11 may be a line sensor camera that scans while transporting the cards 1 and 3, or may be an area sensor camera that captures an image while transporting or stopping the transport of the cards 1 and 3. When taking an image with the camera 11, the hologram sheets 2, 4
Is illuminated by a lighting device so that the entire surface of the device has a uniform brightness.
【００１４】第一の欠陥認識手段は、正常画を記憶する
記憶部１６と、検査画を記憶する記憶部１７と、第一の
基準画を記憶する記憶部１８と、第一の基準画から検査
画を引き算し差分画を得る第一の減算部１９と、差分画
から欠陥の存否を判定する第一の判定部２０とを有す
る。The first defect recognizing means includes a storage unit 16 for storing a normal image, a storage unit 17 for storing an inspection image, a storage unit 18 for storing a first reference image, and a first reference image. It has a first subtraction unit 19 that subtracts the inspection image to obtain a difference image, and a first determination unit 20 that determines the presence or absence of a defect from the difference image.
【００１５】正常画２1、検査画４1、第一の基準画２２
及び第一の差分画２４は図４に示される。正常画２
1は、検査に先立ち上記カメラ１１で図１（Ａ）に示し
た正常なホログラムシート２を撮影し、これを二値化処
理部２１で処理することにより得られる二値画像であ
る。第一の基準画２２は、この正常画２1を多数のブロ
ックに仕切って各ブロック内の画素の明るさのうち最小
値をとるよう処理することにより得られる。この処理に
より各ブロック内は夫々の最小値の明るさに統一され、
その結果第一の基準画２２の絵柄部２ｂ2は多少膨張す
る。ブロックは例えば５ドット×５ドットの一定の大き
さに設定される。検査画４1は、検査されるべきカード
３に貼着されたホログラムシート４を上記カメラ１１で
撮影して得た二値画像である。この検査画４1は、検査
されるカード３を搬送装置によりカメラ１１下へ送るこ
とにより撮影される。各種記憶部１６，１７，１８は、
このような正常画２1、検査画４1、第一の基準画２２及
び第一の差分画２４を夫々記憶する。Normal image 2 1 , inspection image 4 1 , first reference image 22
The first difference image 24 is shown in FIG. Normal image 2
1 is a binary image obtained by photographing a normal hologram sheet 2 shown by the camera 11 prior to the inspection in FIG. 1 (A), treating this in binarization unit 21. The first reference image 22 is obtained by treating to take the minimum value of brightness of pixels in each block partitions the normal picture 2 1 into a large number of blocks. By this process, the inside of each block is unified to the brightness of the minimum value,
Consequently pattern portion 2b 2 of the first reference image 22 is slightly inflated. The block is set to a fixed size of, for example, 5 dots × 5 dots. Inspection image 4 1, the hologram sheet 4 adhered to the card 3 to be examined is a binary image obtained by photographing by the camera 11. The test image 4 1 is photographed by sending a card 3 to be examined to the camera 11 under the conveying device. The various storage units 16, 17, 18
Such normal image 2 1, the inspection image 4 1, a first reference image 22 and the first differential image 24 respectively store.
【００１６】第一の減算部１９は、差分演算手段であ
り、第一の基準画２２から検査画４1をパターンマッチ
ング後に引き算して第一の差分画２４を得るようになっ
ている。この第一の差分画２４には、ホログラムシート
４の背景部４ａの黒点からなる欠陥部分５ａと、絵柄部
４ｂの黒点からなる欠陥部分５ｂとが画線部５ａ4、５
ｂ4として現れている。絵柄部４ｂ内の黒点は絵柄部４
ｂのエッジ４ｃ上又はその近傍に存在するが、本発明で
は検査画４1を多少膨張した第一の基準画２２とマッチ
ングさせるので、図５の差分画７に示したようなエッジ
４ｃに対応した画線部９が明確に生ぜず、従って絵柄部
４ｂのエッジ４ｃ上又はその近傍に存在する欠陥部分５
ｂが第一の差分画２４上に画線部５ｂ4となって現れ
る。The first subtracting unit 19, a difference calculation unit, adapted to obtain a first difference image 24 by subtracting the inspection image 4 1 from the first reference image 22 after the pattern matching. This is the first difference image 24, and the defect portion 5a made of black dots in the background portion 4a of the hologram sheet 4, the defective portion 5b Togae line portion 5a 4 consisting of black dots of the pattern portion 4b, 5
It has emerged as a b 4. The black dots in the pattern part 4b are the pattern part 4
present in edge 4c on or near a b, but because in the present invention for matching a first reference image 22 which has been somewhat expanded inspection image 4 1, corresponding to the edge 4c as shown in the difference image 7 of FIG. 5 The image portion 9 does not clearly appear, and therefore the defective portion 5 existing on or near the edge 4c of the pattern portion 4b
b appears as a image portion 5b 4 on the first differential image 24.
【００１７】第一の判定部２０は、第一の減算部１９で
得られた第一の差分画２４内において予め決定された閾
値より明るさが大きい画素の部分を欠陥部分５ａ，５ｂ
として認識するようになっている。第一の判定部２０
は、第一の差分画２４の画像における画線部５ａ4，５
ｂ4の明るさがこの場合閾値を超えているものとして
「欠陥部分あり」との信号を出力する。この出力信号は
モニタ１４等に出力され、モニタ１４等は警報を発す
る。The first judging section 20 judges the pixels of the first differential image 24 obtained by the first subtracting section 19 whose brightness is higher than a predetermined threshold value as defective portions 5a and 5b.
It is to be recognized as. First judgment unit 20
Are image portions 5a 4 , 5 in the image of the first difference image 24.
brightness of b 4 outputs a signal of "Yes defect" as exceeds this case threshold. This output signal is output to the monitor 14 or the like, and the monitor 14 or the like issues an alarm.
【００１８】第二の欠陥認識手段は、正常画２1を記憶
する記憶部１６と、検査画４1を記憶する記憶部１７
と、第二の基準画２３を記憶する記憶部２６と、検査画
４1から第二の基準画２３を引き算して第二の差分画２
５を得る第二の減算部２７と、差分画２５から欠陥の存
否を判定する第二の判定部２８とを有する。The second defect recognizing unit includes a storage unit 16 for storing a normal image 2 1, storage unit 17 for storing the test image 4 1
When a storage unit 26 for storing a second reference image 23, a second differential image from the inspection image 4 1 by subtracting the second reference image 23 2
5 and a second determination unit 28 that determines whether or not a defect exists from the difference image 25.
【００１９】検査画４1及び正常画２1は既に説明したの
で省略する。第二の基準画２３及び第二の差分画２５は
図４に示される。第二の基準画２３は、正常画２1を多
数のブロックに仕切って各ブロック内の画素の明るさの
うち最大値をとるよう処理することにより得られる二値
画像である。この処理により各ブロック内は夫々の最大
値の明るさに統一され、その結果第二の基準画２３は多
少膨張する。ブロックの大きさは第一の基準画２２を得
る場合と同様に設定される。記憶部２６は、第二の基準
画２３を記憶する。The inspection image 4 1 and the normal picture 2 1 is omitted already described. The second reference image 23 and the second difference image 25 are shown in FIG. The second reference image 23 is a binary image obtained by processing so that the maximum value of the brightness of pixels in each block partitions the normal picture 2 1 into a large number of blocks. By this processing, the brightness in each block is unified to the maximum brightness, and as a result, the second reference image 23 slightly expands. The size of the block is set in the same manner as when the first reference image 22 is obtained. The storage unit 26 stores the second reference image 23.
【００２０】第二の減算部２７は、差分演算手段であ
り、検査画４1から第二の基準画２３をパターンマッチ
ング後に引き算して第二の差分画２５を得るようになっ
ている。この第二の差分画２５には、ホログラムシート
４の絵柄部４ｂの白点からなる欠陥部分５ｃが画線部５
ｃ4として現れている。本発明では検査画４1を多少膨張
した第二の基準画２３とマッチングさせるので、図５の
差分画７に示したようなエッジ４ｃに対応した画線部９
が明確に生ぜず、従って絵柄部４ｂのエッジ４ｃ上又は
その近傍に明るさの高い欠陥部分が存在する場合であっ
ても第二の差分画２５上に画線部となって現れる。The second subtracting unit 27, a difference calculation unit, adapted to obtain a second difference image 25 from the inspection image 4 1 by subtracting the second reference image 23 after the pattern matching. In the second difference image 25, a defective portion 5c consisting of a white point of the picture portion 4b of the hologram sheet 4 has an image portion 5c.
It has emerged as c 4. Since the present invention is matched with the second reference image 23 was slightly inflated test image 4 1, the image area 9 that corresponds to the edge 4c as shown in the difference image 7 of FIG. 5
Does not clearly appear, and therefore, even if a defect portion with high brightness exists on or near the edge 4c of the picture portion 4b, it appears as an image portion on the second difference image 25.
【００２１】第二の判定部２８は、第二の減算部２７で
得られた第二の差分画２５内において予め決定された閾
値より明るさが大きい画素の部分５ｃ4を欠陥部分５ｃ
として認識するようになっている。第二の判定部２８
は、上記第二の差分画２５の画像における画線部５ｃ4
の明るさがこの場合閾値を超えているものとして「欠陥
部分あり」との信号を出力する。この出力信号はモニタ
１４等に出力され、モニタ１４等は警報を発する。The second judging section 28 replaces the pixel portion 5c 4 having a brightness higher than a predetermined threshold value in the second difference image 25 obtained by the second subtracting section 27 with the defective portion 5c.
It is to be recognized as. Second determination unit 28
Is the image portion 5c 4 in the image of the second difference image 25.
In this case, it is determined that the brightness exceeds the threshold value, and a signal indicating "there is a defective portion" is output. This output signal is output to the monitor 14 or the like, and the monitor 14 or the like issues an alarm.
【００２２】次に、上記構成のホログラムシートの検査
装置の作用について説明する。Next, the operation of the hologram sheet inspection apparatus having the above configuration will be described.
【００２３】検査に先立ち、図１（Ａ）に示したような
カード１をカメラ１１で撮影して、正常画２1、第一の
基準画２２、第二の基準画２３の各二値画像を予め作成
し、各記憶部１６，１７，１８，２６内に記憶させてお
く。Prior to the inspection, the card 1 as shown in FIG. 1A is photographed by the camera 11, and each binary image of the normal image 2 1 , the first reference image 22 and the second reference image 23 is obtained. Is created in advance and stored in each of the storage units 16, 17, 18, and 26.
【００２４】検査に際しては、検査すべき図１（Ｂ）に
示したようなカード３をカメラ１１へと搬送し、このカ
ード３のホログラムシートをカメラで撮影する。At the time of inspection, a card 3 to be inspected as shown in FIG. 1B is conveyed to a camera 11, and a hologram sheet of the card 3 is photographed by a camera.
【００２５】この検査装置内のコンピュータは図３に示
す手順で画像処理を行う。The computer in the inspection apparatus performs image processing according to the procedure shown in FIG.
【００２６】まず、カメラ１１から入力したホログラム
シート４の検査画４1より座標を抽出する（ステップＳ
１）。検査するべきカード３が図１（Ｂ）に示すように
欠陥部分５ａ，５ｂ，５ｃを含むものであれば、検査画
４1は図４のように抽出される。Firstly, extracts the coordinates from the test image 4 1 of the hologram sheet 4 which is input from the camera 11 (step S
1). Defective portion 5a so that the card 3 to be inspected shown in FIG. 1 (B), 5b, as long as it contains 5c, test images 4 1 are extracted as in FIG.
【００２７】次に、ホログラムシート４内の特徴的な部
分を用いて、検査画４1と第一の基準画２２とのパター
ンマッチングを行うと共に、検査画４1と第二の基準画
２３とのパターンマッチングを行う（ステップＳ２）。Next, using a characteristic portion of the hologram sheet 4, performs pattern matching of the inspection image 4 1 and the first reference image 22, the inspection image 4 1 and the second reference picture 23 Is performed (step S2).
【００２８】パターンマッチングが完了した後、第一の
基準画２２から検査画４1を引き算すると共に、検査画
４1から第二の基準画２３を引き算し、第一と第二の差
分画２４，２５を得る（ステップＳ３）。これにより、
正常画２1よりも暗く現れた画線部５ａ1，５ｂ1は第一
の差分画２４内に画線部５ａ4，５ｂ4として抽出され、
正常画２1よりも明るく現れた画線部５ｃ1は第二の差分
画２５内に画線部５ｃ 4として抽出される。After the pattern matching is completed, the first
Reference image 22 to inspection image 41And the inspection
41From the second reference image 23 to obtain the difference between the first and second
Fractions 24 and 25 are obtained (step S3). This allows
Normal image 21Image area 5a that appears darker than1, 5b1Is first
Image portion 5a in the difference image 24 ofFour, 5bFourExtracted as
Normal image 21Image area 5c that appeared brighter than1Is the second difference
Image area 5c in image 25 FourIs extracted as
【００２９】第一と第二の差分画２４，２５内におい
て、予め決定された閾値より明るさが大きい画素の部分
５ａ4，５ｂ4，５ｃ4を欠陥部分５ａ，５ｂ，５ｃとし
て認識し、抽出する（ステップＳ４）。これにより、図
１（Ｂ）に示すカード３は不良品として排除される。第
一と第二の差分画２４，２５内において、予め決定され
た閾値より明るさが大きい画素部分が抽出されなかった
場合は、欠陥部分なしとして認識され、そのカードは良
品として扱われる。In the first and second difference images 24 and 25, the portions 5a 4 , 5b 4 and 5c 4 of the pixels whose brightness is larger than a predetermined threshold value are recognized as defective portions 5a, 5b and 5c. Extract (step S4). Thus, the card 3 shown in FIG. 1B is rejected as a defective product. If a pixel portion having a brightness higher than a predetermined threshold value is not extracted from the first and second difference images 24 and 25, it is recognized as having no defective portion, and the card is treated as a good card.
【００３０】[0030]
【発明の効果】本発明によれば、基材上の正常なホログ
ラムシートを撮影して得た正常画を多数のブロックに仕
切って各ブロック内の画素の明るさのうち最小値をとる
よう処理した第一の基準画と、各ブロック内の画素の明
るさのうち最大値をとるよう処理した第二の基準画とを
用意し、第一の基準画から検査されるホログラムシート
を撮影して得た検査画をパターンマッチング後に引き算
すると共に、検査画から第二の基準画をパターンマッチ
ング後に引き算し、それぞれの引き算後の差分画内にお
いて予め決定された閾値より明るさが大きい画素の部分
を欠陥部分として認識するように画像を処理することか
ら、ホログラムシートの検査にあたりホログラムシート
の絵柄部のエッジ上又はその近傍に生じた欠陥部分であ
っても確実に検知することができる。According to the present invention, a normal image obtained by photographing a normal hologram sheet on a base material is divided into a large number of blocks, and the processing is performed so as to take the minimum value of the brightness of the pixels in each block. Prepare the first reference image and a second reference image processed to take the maximum value of the brightness of the pixels in each block, and photograph a hologram sheet to be inspected from the first reference image The obtained inspection image is subtracted after the pattern matching, and the second reference image is subtracted from the inspection image after the pattern matching, and a portion of a pixel having a brightness larger than a predetermined threshold value in each subtracted difference image is determined. Since the image is processed so as to be recognized as a defective part, even when a hologram sheet is inspected, even if it is a defect part on or near the edge of the picture part of the hologram sheet, it is reliably detected. Rukoto can.
【図１】検査すべきホログラムシートが貼着されたカー
ドを示す平面図であり、（Ａ）は正常なホログラムシー
トを有するカードを示し、（Ｂ）は欠陥部分を含むホロ
グラムシートを有するカードを示す。FIG. 1 is a plan view showing a card to which a hologram sheet to be inspected is stuck, (A) showing a card having a normal hologram sheet, and (B) showing a card having a hologram sheet including a defective portion. Show.
【図２】本発明に係るホログラムシートの検査装置を示
すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a hologram sheet inspection apparatus according to the present invention.
【図３】図２に示す検査装置による検査手順を示すフロ
ーチャートである。3 is a flowchart showing an inspection procedure by the inspection device shown in FIG.
【図４】図２に示す検査装置による画像処理の内容を示
す模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram showing the contents of image processing by the inspection device shown in FIG. 2;
【図５】従来の検査装置による画像処理の内容を示す模
式図である。FIG. 5 is a schematic diagram showing the contents of image processing by a conventional inspection device.
１、３…カード ２，４…ホログラムシート ２1…正常画 ４1…検査画 ５ａ，５ｂ，５ｃ…欠陥部分 ５ａ4，５ｂ4，５ｃ4…欠陥部分に対応した画線部 １１…カメラ ２２…第一の基準画 ２３…第二の基準画 ２４…第一の差分画 ２５…第二の差分画1,3 ... Card 2,4 ... hologram sheet 2 1 ... normal picture 4 1 ... inspection image 5a, 5b, 5c ... defect portion 5a 4, 5b 4, 5c 4 ... image area 11 ... camera 22 corresponding to the defective portion ... first reference image 23 ... second reference image 24 ... first difference image 25 ... second difference image
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G051 AA41 AA90 AB01 AB02 AB04 BA20 CA03 CA04 DA01 DA06 EA08 EA11 EA14 EB01 EB02 ED07 ED15 FA10 5B057 AA11 BA02 CA08 CA12 CA16 CB08 CB12 CB16 CC01 CH08 DA03 DB02 DB09 DC33 5C054 AA01 EA01 EA05 FC01 FC03 FC05 FC12 FE28 HA05 5L096 AA06 BA03 CA14 DA03 EA17 FA14 GA08 GA51 HA08 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page F term (reference) 2G051 AA41 AA90 AB01 AB02 AB04 BA20 CA03 CA04 DA01 DA06 EA08 EA11 EA14 EB01 EB02 ED07 ED15 FA10 5B057 AA11 BA02 CA08 CA12 CA16 CB08 CB12 CB16 CC01 CH08 DA03 DB05 ACO3 FC01 FC03 FC05 FC12 FE28 HA05 5L096 AA06 BA03 CA14 DA03 EA17 FA14 GA08 GA51 HA08
Claims (2)
して得た正常画を多数のブロックに仕切って各ブロック
内の画素の明るさのうち最小値をとるよう処理した第一
の基準画と、上記各ブロック内の画素の明るさのうち最
大値をとるよう処理した第二の基準画とを用意し、第一
の基準画から検査されるホログラムシートを撮影して得
た検査画をパターンマッチング後に引き算すると共に、
上記検査画から上記第二の基準画をパターンマッチング
後に引き算し、それぞれの引き算後の差分画内において
予め決定された閾値より明るさが大きい画素の部分を欠
陥部分として認識することを特徴とするホログラムシー
トの検査方法。1. A first reference image in which a normal image obtained by photographing a normal hologram sheet on a base material is divided into a number of blocks and processed so as to take the minimum value of the brightness of pixels in each block. And a second reference image processed to take the maximum value of the brightness of the pixels in each of the blocks, and an inspection image obtained by photographing a hologram sheet inspected from the first reference image is prepared. Subtract after pattern matching,
The second reference image is subtracted from the inspection image after pattern matching, and a portion of a pixel having a brightness larger than a predetermined threshold value in each subtracted difference image is recognized as a defective portion. Hologram sheet inspection method.
メラと、正常なホログラムシートを撮影して得た正常画
を多数のブロックに仕切って各ブロック内の画素の明る
さのうち最小値をとるよう処理した第一の基準画から上
記カメラで撮影したホログラムシートの検査画をパター
ンマッチング後に引き算して第一の差分画を得、この第
一の差分画内において予め決定された閾値より明るさが
低い画素の部分を欠陥部分として認識する第一の欠陥認
識手段と、上記各ブロック内の画素の明るさのうち最大
値をとるよう処理した第二の基準画を上記検査画からパ
ターンマッチング後に引き算して第二の差分画を得、こ
の第二の差分画内において予め決定された閾値より明る
さが大きい画素の部分を欠陥部分として認識する第二の
欠陥認識手段とを具備したことを特徴とするホログラム
シートの検査装置。2. A camera for photographing a hologram sheet on a base material, and a normal image obtained by photographing a normal hologram sheet is divided into a large number of blocks, and a minimum value of brightness of pixels in each block is obtained. The inspection image of the hologram sheet photographed by the camera is subtracted from the first reference image processed as described above after pattern matching to obtain a first difference image, and the brightness of the first difference image is higher than a predetermined threshold value. The first defect recognition means for recognizing a low pixel portion as a defective portion, and the second reference image processed to take the maximum value of the brightness of the pixels in each block after pattern matching from the inspection image A second difference image is obtained by subtraction, and a second defect recognizing means for recognizing, as a defective portion, a portion of a pixel having a brightness higher than a predetermined threshold value in the second difference image. An inspection device for a hologram sheet, comprising:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000379671A JP2002181718A (en) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | Method and apparatus for inspecting hologram sheet |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000379671A JP2002181718A (en) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | Method and apparatus for inspecting hologram sheet |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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ID=18847988
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002181718A (en) |
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