JP2002180241A - Film forming apparatus - Google Patents

Film forming apparatus

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JP2002180241A
JP2002180241A JP2000387000A JP2000387000A JP2002180241A JP 2002180241 A JP2002180241 A JP 2002180241A JP 2000387000 A JP2000387000 A JP 2000387000A JP 2000387000 A JP2000387000 A JP 2000387000A JP 2002180241 A JP2002180241 A JP 2002180241A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a film forming apparatus capable of continuously forming film so as to have a sufficiently dense structure in the initial stage of a film forming process. SOLUTION: The apparatus is provided with an electrode 8, which is arranged in a vacuum container 2 and generates a high frequency electric field inside the vacuum container 2, an evaporation source 7 to contain a film material M, a transport apparatus 9 to transport a substrate, a plasma generating space 3 and a transport space 4 of the substrate formed in the vacuum container 2 and a boundary wall 6, which is arranged between the plasma generating space 3 and the transport space 4 and in which a film forming slit 5 is opened, the film forming slit 5 is successively constituted of a first slit 51 of a small area, a second slit 52 of a large area, and a third slit 53 of a small area in order from the upstream side along an advancing direction of the substrate W.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は成膜装置に関する。
さらに詳しくは、イオンプレーティング等によって基材
に膜を形成(成膜)するための成膜装置に関する。
[0001] The present invention relates to a film forming apparatus.
More specifically, the present invention relates to a film forming apparatus for forming (forming) a film on a substrate by ion plating or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、イオンプレーティングの装置とし
ては、特公平1−48347号公報に記載された装置が
知られている。この装置は真空チャンバ内に成膜対象基
材を保持する基材ホルダおよび膜材料を蒸発させる蒸発
源を有しており、基材ホルダが電極を構成している。そ
して、基材ホルダとチャンバの内壁との間、または、基
材ホルダと蒸発源との間に高周波電力および直流電圧を
印加するための高周波電源および直流電源等を備えてい
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, as an apparatus for ion plating, an apparatus described in Japanese Patent Publication No. 1-48347 is known. This apparatus includes a substrate holder for holding a substrate to be formed in a vacuum chamber and an evaporation source for evaporating a film material, and the substrate holder constitutes an electrode. A high-frequency power supply and a DC power supply for applying high-frequency power and DC voltage between the substrate holder and the inner wall of the chamber or between the substrate holder and the evaporation source are provided.

【0003】そして、膜材料を蒸発させるとともに、基
材ホルダとチャンバの内壁との間、または、基材ホルダ
と蒸発源との間に高周波電力および直流電圧を印加する
ことにより、蒸発した膜材料をイオン化および励起して
基材に付着させる。
[0003] The film material is evaporated by applying high frequency power and DC voltage between the substrate holder and the inner wall of the chamber or between the substrate holder and the evaporation source while evaporating the film material. Is ionized and excited to adhere to the substrate.

【0004】かかる装置によって基材に形成される膜の
うち、金属酸化物からなる薄膜は物理的な強度に優れて
おり、ガラス等からなる基板の表面の保護層等として用
いられる。その他にも、ディスプレイデバイス用のガラ
ス基板の保護層として形成されるものがある。とくに、
ガス中での放電によって発光動作させるプラズマディス
プレイパネルの保護層では、放電ガス中のイオンの衝撃
に対する耐スパッタ性が要求される。耐スパッタ性は膜
の性状に大きく依存するため、この要求を満足するため
には膜の組織が緻密に形成されていること、すなわち高
品質な膜質を有していることが必要である。すなわち、
膜と基板との界面から膜の表面の方向に延びるように成
長した柱状組織の一つを単位とし、かかる柱状組織が多
数充填された構造に形成すること、換言すれば、この柱
状組織の数密度を大きくすることが必要である。このた
めには膜の形成初期の段階で十分に緻密な組織となって
いる必要がある。
[0004] Among films formed on a substrate by such an apparatus, a thin film made of a metal oxide has excellent physical strength and is used as a protective layer on the surface of a substrate made of glass or the like. Others are formed as a protective layer of a glass substrate for a display device. In particular,
In a protective layer of a plasma display panel that emits light by discharge in a gas, sputter resistance to the impact of ions in the discharge gas is required. Since the sputter resistance largely depends on the properties of the film, it is necessary that the structure of the film is formed densely, that is, the film has high quality in order to satisfy this requirement. That is,
One of the columnar structures grown so as to extend in the direction of the surface of the film from the interface between the film and the substrate is used as a unit to form a structure filled with a large number of such columnar structures, in other words, the number of the columnar structures. It is necessary to increase the density. For this purpose, it is necessary that the structure be sufficiently dense at the initial stage of film formation.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の成膜装
置によってこのような緻密な組織の膜を形成しようとす
ると、成膜速度を遅くする必要があるので所定の膜厚に
まで組織を成長させるのに十分に長い時間がかかる。結
果的に生産効率が低下してしまう。また、膜の形成速度
をコントロールすることはやっかいな作業である。
However, in order to form a film having such a fine structure with a conventional film forming apparatus, it is necessary to slow down the film forming speed. It takes a long enough time to let it. As a result, production efficiency is reduced. Also, controlling the film formation rate is a cumbersome task.

【0006】本発明は、かかる課題を解決するためにな
されたものであり、基材表面に対する膜の形成過程の初
期段階において十分に緻密な組織とするように連続的に
成膜することができる成膜装置を提供することを目的と
する。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem, and it is possible to continuously form a film with a sufficiently dense structure in an initial stage of a process of forming a film on a substrate surface. It is an object to provide a film forming apparatus.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明にかかる成膜装置
は、その内部に高周波電界が生じうる成膜用真空容器
と、該成膜用真空容器内に形成されたプラズマ生成空間
および成膜対象基材の搬送空間と、成膜対象基材を搬送
するための搬送装置と、プラズマ生成空間内に配設され
た膜材料を含む蒸発源と、上記プラズマ生成空間と搬送
空間との間に配設された、蒸発膜材料通過スリットが開
口された境界壁とを備えており、上記蒸発膜材料通過ス
リットが、成膜対象基材の進行方向に沿って上流側から
順に配設された小面積の第一スリットと大面積の第二ス
リットとから構成されている。
According to the present invention, there is provided a film forming apparatus comprising: a film forming vacuum vessel in which a high-frequency electric field can be generated; a plasma generating space formed in the film forming vacuum vessel; A transport space for the target substrate, a transport device for transporting the film-forming target substrate, an evaporation source including a film material disposed in the plasma generation space, and a space between the plasma generation space and the transport space. And a boundary wall in which an evaporating film material passage slit is opened, wherein the evaporating film material passage slits are arranged in order from the upstream side along the traveling direction of the film formation target base material. It is composed of a first slit having an area and a second slit having a large area.

【0008】この成膜装置によれば、小面積の第一スリ
ットを通過する蒸発膜材料による膜形成は緩やかに行わ
れ、大面積の第二スリットを通過する蒸発膜材料による
膜形成は相対的に速く行われる。その結果、第一スリッ
トによって膜の形成初期の段階で十分に緻密な組織が得
られる。ついで、第二スリットによって従来と変わらな
い通常の速度で膜が形成されるが、基材の表面に接した
初期形成組織が十分に緻密に整列した結晶であるため、
そこから成長する結晶によって従来に較べると緻密に整
列した組織が得られる。このように形成された膜は従来
の膜に較べると結晶性がよくなるのでその膜質が大幅に
向上する。
According to this film forming apparatus, the film formation by the evaporation film material passing through the small slit of the first slit is performed slowly, and the film formation by the evaporation film material passing through the large area of the second slit is relatively small. Done faster. As a result, a sufficiently dense structure can be obtained at the initial stage of film formation by the first slit. Next, a film is formed at a normal speed which is not different from the conventional one by the second slit, but since the initial formation structure in contact with the surface of the base material is a crystal which is sufficiently densely aligned,
A crystal that is grown therefrom provides a texture that is more closely aligned than before. The film thus formed has better crystallinity than the conventional film, so that the film quality is greatly improved.

【0009】そして、上記蒸発膜材料通過スリットが、
第二スリットの下流側に小面積の第三スリットをさらに
有してなる成膜装置にあっては、第三スリットによって
膜形成の最終段階でさらに十分緻密な組織が得られるの
で、膜質が一層向上するので好ましい。
Then, the above-mentioned slit for passing the evaporating film material,
In a film forming apparatus further including a third slit having a small area on the downstream side of the second slit, a sufficiently dense structure can be obtained at the final stage of film formation by the third slit. It is preferable because it improves.

【0010】また、上記蒸発膜材料通過スリットに、成
膜対象基材の搬送方向に移動可能な調整板が配設されて
おり、該調整板が移動することにより蒸発膜材料通過ス
リットの開口面積が変更されるように構成されてなる成
膜装置にあっては、簡易な構成によって膜の形成速度を
変更することができるので好ましい。この場合の小面積
および大面積は調整板によって達成されるもの故、境界
壁に形成された開口は全て同一面積であってもよい。
An adjusting plate is provided in the evaporating film material passage slit so as to be movable in the direction of transport of the substrate to be film-formed. When the adjusting plate moves, the opening area of the evaporating film material passage slit is increased. It is preferable that the film forming apparatus is configured so that the film forming speed can be changed with a simple configuration. Since the small area and the large area in this case are achieved by the adjustment plate, all the openings formed in the boundary wall may have the same area.

【0011】また、上記成膜用真空容器内における搬送
空間の上流側に、搬送空間と隔離および連通可能に配設
されたイオンボンバード室を備えており、該イオンボン
バード室が真空化可能であり且つその内部に高周波電界
が生じるように構成されており、イオンボンバード室に
プラズマソースガス供給装置が配設されてなる成膜装置
にあっては、基材に対する成膜処理に先だってイオンボ
ンバード処理を施して基材の表面を清浄にすることが可
能となる。
An ion bombard chamber is provided upstream of the transfer space in the film forming vacuum vessel so as to be isolated from and communicate with the transfer space, and the ion bombard chamber can be evacuated. In addition, in a film forming apparatus in which a high frequency electric field is generated therein and a plasma source gas supply device is provided in an ion bombarding chamber, an ion bombarding process is performed prior to a film forming process on a substrate. To clean the surface of the substrate.

【0012】上記の本発明にかかる成膜装置であって、
その成膜用真空容器に隣接して、それぞれが成膜用真空
容器と隔離および連通可能に配設された真空化可能な成
膜対象基材供給室および成膜対象基材送出室を備えてお
り、上記搬送装置が、成膜対象基材を成膜対象基材供給
室から成膜用真空容器を通して成膜対象基材送出室に搬
送するように構成されてなる成膜装置にあっては、基材
を順次基材供給室から成膜用真空容器を通して成膜しつ
つ基材送出室に送り出すことができる。いわゆるインラ
イン式の成膜装置が実現する。
[0012] In the film forming apparatus according to the present invention,
Adjacent to the film-forming vacuum container, a vacuum-forming film-forming substrate supply chamber and a film-forming substrate sending chamber, each of which is provided so as to be separable and communicable with the film forming vacuum container, are provided. In the film forming apparatus, the transfer device is configured to transfer the substrate to be deposited from the supply chamber for the substrate to be deposited to a deposition-substrate delivery chamber through a vacuum chamber for deposition. The substrate can be sequentially sent out from the substrate supply chamber to the substrate delivery chamber while forming a film through the film forming vacuum vessel. A so-called in-line type film forming apparatus is realized.

【0013】また、前述した搬送装置が、成膜対象の基
材を保持するための保持装置と、該保持装置を移動させ
て成膜用スリット上を通過させるための移動装置と、上
記保持装置に高周波電力を供給するための給電装置とを
備えており、上記保持装置が高周波電界を生じさせるた
めの電極としての機能を有してなる成膜装置にあって
は、保持装置が成膜対象の基材を成膜用スリット上を通
過させるときに保持装置に給電されることによって高周
波電界が生じるので(上記保持装置が電極として機能す
るので)、基材の成膜面にとって効果的な範囲にプラズ
マが生じるため、効率のよい成膜装置が実現する。
[0013] Further, the above-mentioned transport device is a holding device for holding a substrate on which a film is to be formed, a moving device for moving the holding device to pass over a film forming slit, and And a power supply device for supplying high-frequency power to the film-forming apparatus, wherein the holding device has a function as an electrode for generating a high-frequency electric field. Since a high-frequency electric field is generated by supplying power to the holding device when the base material passes over the film forming slit (since the holding device functions as an electrode), an effective range for the film forming surface of the base material Since a plasma is generated during the process, an efficient film forming apparatus is realized.

【0014】なお、上記搬送装置としては以下のごとき
種々の好ましい形態がある。
There are various preferred embodiments of the above-mentioned transport device as described below.

【0015】第一に、保持装置が電極板とこの電極板の
下面に成膜対象基材を把持するためのクランプとを有す
るもの。
First, the holding device has an electrode plate and a clamp on the lower surface of the electrode plate for holding the substrate to be formed.

【0016】第二に、保持装置が、表面に電極が形成さ
れた成膜対象基材を保持するための装置であって、中央
部に開口を有する枠状の電極部材を有しており、この開
口部が、成膜対象基材における少なくとも成膜対象範囲
であるもの。
Secondly, the holding device is a device for holding a substrate on which an electrode is formed on the surface thereof, and has a frame-shaped electrode member having an opening in the center. The opening is at least a film formation target range in the film formation target substrate.

【0017】第三に、上記移動装置として、保持装置が
載置される複数個のローラを採用し、このローラのうち
の少なくとも一部を、保持装置を搬送する方向に回転す
る回転駆動ローラとして構成したもの。
Third, as the moving device, a plurality of rollers on which the holding device is mounted are employed, and at least a part of the rollers is used as a rotary driving roller which rotates in the direction of conveying the holding device. What you composed.

【0018】第四に、上記移動装置として、保持装置が
移動可能に係合されるレールと、このレールに係合した
保持装置に接続されて保持装置を移動させるワイヤとか
ら構成したもの。
Fourth, the moving device includes a rail on which the holding device is movably engaged, and a wire connected to the holding device engaged with the rail to move the holding device.

【0019】第五に、上記給電装置が移動装置を通して
保持装置に給電するように構成したもの。
Fifth, the power supply device is configured to supply power to the holding device through the moving device.

【0020】第六に、移動装置を通して保持装置に給電
される上記搬送装置のうち、上記移動装置が前述のロー
ラを用いた移動装置から構成されたものとしては、上記
ローラのうち、成膜空間の範囲に配列された全ローラま
たはこのうちの一部に給電されるように構成したものが
ある。または、移動装置を通して保持装置に給電される
上記搬送装置のうち、上記移動装置がレールとワイヤと
を用いた移動装置から構成されたものとしては、上記レ
ールのうち、成膜空間の範囲に給電されるように構成し
たものがある。たとえば、レール全長のうちの成膜空間
の範囲のみ導電性材料から形成する等である。
Sixth, among the above-mentioned transporting devices which are supplied with power to the holding device through the moving device, the one in which the moving device is constituted by a moving device using the above-mentioned roller is the film forming space in the above-mentioned roller. Are arranged so that power is supplied to all the rollers arranged in the range or a part of the rollers. Alternatively, among the transfer devices that are supplied with power to the holding device through the transfer device, the transfer device configured as a transfer device using a rail and a wire includes a power supply to a range of a film formation space among the rails. Some are configured to work. For example, a conductive material may be formed only in the film forming space within the entire length of the rail.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら本
発明の成膜装置の実施形態を説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an embodiment of a film forming apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

【0022】図1に示すのは、複数の成膜対象基材(以
下、単に基材という)Wを順次搬送しながら連続して各
基材Wの表面に成膜するためのいわゆるインライン式の
成膜装置1である。
FIG. 1 shows a so-called in-line type for continuously forming a film on the surface of each substrate W while sequentially transporting a plurality of substrates W (hereinafter simply referred to as substrates). It is a film forming apparatus 1.

【0023】この成膜装置1は真空容器2を備えてお
り、この内部には下部のプラズマ生成空間3と上部の基
材搬送空間4とが形成されている。両空間3、4ともに
真空に排気されるように構成されている。プラズマ生成
空間3と基材搬送空間4との境界には、両空間3、4同
士を連通する成膜用スリット5が開口された境界壁6が
形成されている。成膜用スリット5は、プラズマ生成空
間3で生じたプラズマ状の膜材料Mが通過して、基材搬
送空間4を移動する基材Wに到達させるためのものであ
る。
The film forming apparatus 1 includes a vacuum vessel 2 in which a lower plasma generation space 3 and an upper substrate transport space 4 are formed. Both spaces 3 and 4 are configured to be evacuated to a vacuum. At the boundary between the plasma generation space 3 and the substrate transport space 4, a boundary wall 6 is formed in which a film-forming slit 5 communicating the spaces 3 and 4 is opened. The film-forming slit 5 is for allowing the plasma-like film material M generated in the plasma generation space 3 to pass through and reach the substrate W moving in the substrate transport space 4.

【0024】また、上記プラズマ生成空間3には蒸発源
7と電極8とが配設されており、基材搬送空間4には基
材Wの搬送装置9と基材加熱用ヒータ10a、10bと
が配設されている。蒸発源7は膜材料Mと、この膜材料
Mを載置するための開放容器(以下、るつぼという)1
1と、るつぼ11上の膜材料Mを加熱して蒸発させるた
めの電子銃12とから構成される。符号13はガス供給
装置であり、必要に応じて反応ガス、プラズマ生成用ガ
ス等を真空容器2内へ供給するためのものである。符号
14は容器2内を真空にするための排気装置である。
An evaporating source 7 and an electrode 8 are provided in the plasma generation space 3, and a substrate W transport device 9 and substrate heaters 10 a and 10 b are provided in the substrate transport space 4. Are arranged. The evaporation source 7 includes a film material M and an open container (hereinafter, referred to as a crucible) 1 on which the film material M is placed.
1 and an electron gun 12 for heating and evaporating the film material M on the crucible 11. Reference numeral 13 denotes a gas supply device for supplying a reaction gas, a plasma generation gas, and the like to the inside of the vacuum vessel 2 as necessary. Reference numeral 14 denotes an exhaust device for evacuating the inside of the container 2.

【0025】電極8は境界壁6の直下に配設されてい
る。この電極8には、高周波電源15およびマッチング
回路16並びに直流電源17が接続されている。これに
より、電極8と真空容器2の内壁との間にプラズマを生
成させる高周波電力および直流バイアス電圧が印加され
る。プラズマ中でイオン化した膜材料がバイアス電圧に
よって加速されて基材表面に付着する。
The electrode 8 is provided immediately below the boundary wall 6. A high frequency power supply 15, a matching circuit 16, and a DC power supply 17 are connected to the electrode 8. Thereby, a high frequency power and a DC bias voltage for generating plasma are applied between the electrode 8 and the inner wall of the vacuum vessel 2. The film material ionized in the plasma is accelerated by the bias voltage and adheres to the substrate surface.

【0026】図2には上記成膜用スリット5が示されて
いる。成膜用スリット5は小面積の第一スリット51お
よび第三スリット53並びに大面積の第二スリット52
から構成されている。第一スリット51および第三スリ
ット53と第二スリット52とは、その幅方向の寸法は
同一にされているが、基材Wの搬送方向の寸法について
は第一スリット51および第三スリット53が小さく、
第二スリット52が大きくされている。
FIG. 2 shows the film forming slit 5. The film forming slit 5 has a first slit 51 and a third slit 53 having a small area and a second slit 52 having a large area.
It is composed of The first slit 51, the third slit 53, and the second slit 52 have the same width dimension, but the first slit 51 and the third slit 53 have the same dimension in the transport direction of the base material W. small,
The second slit 52 is enlarged.

【0027】基材Wが基材搬送空間4を等速度で移動す
る場合は、この基材Wの表面に対して、小面積のスリッ
ト51、53を通過する蒸発膜材料による膜形成は緩や
かに行われ、大面積のスリット52を通過する蒸発膜材
料による膜形成は相対的に速く行われる。このように、
基材Wの搬送速度、蒸発源等の制御に依ることなく膜の
形成速度を複数段に変更することが可能となる。その結
果、第一スリット51によって膜の形成初期の段階で十
分に緻密な組織が得られる。ついで、第二スリット52
によって従来と変わらない通常の速度で膜が形成される
が、基材W表面に接した初期形成組織が十分に緻密に整
列した結晶であるため、そこから成長する結晶によって
従来に較べると緻密に整列した組織が得られる。ついで
第三スリット53によって膜形成の最終段階でさらに十
分緻密な組織が得られる。
When the base material W moves in the base material transport space 4 at a constant speed, the film formation by the evaporation film material passing through the slits 51 and 53 having a small area gradually occurs on the surface of the base material W. The formation of the film by the evaporation film material passing through the large-area slit 52 is performed relatively quickly. in this way,
The film formation speed can be changed to a plurality of stages without depending on the control of the transport speed of the substrate W, the evaporation source, and the like. As a result, a sufficiently dense structure can be obtained by the first slit 51 at an early stage of film formation. Then, the second slit 52
A film is formed at a normal speed which is not different from the conventional one, but since the initial formation structure in contact with the surface of the base material W is a crystal which is sufficiently densely aligned, the crystal growing therefrom is denser than the conventional one. An aligned tissue is obtained. Then, a sufficiently dense structure is obtained by the third slit 53 at the final stage of film formation.

【0028】このように形成された膜は従来の膜に較べ
ると膜質が大幅に向上する。本発明ではとくに第三スリ
ット53を設ける必要もなく高い膜質が得られるが、第
三スリット53を設けることによって膜質が一層向上す
るので好ましい。たとえばプラズマディスプレイパネル
として用いる場合、保護膜の表面が特に高い耐スパッタ
性を示すので膜の長寿命化を図ることができる。
The quality of the thus formed film is greatly improved as compared with the conventional film. In the present invention, a high film quality can be obtained without the necessity of providing the third slit 53, but the provision of the third slit 53 is preferable because the film quality is further improved. For example, when used as a plasma display panel, the surface of the protective film exhibits particularly high sputter resistance, so that the life of the film can be extended.

【0029】図3には異なる成膜用スリット60が示さ
れている。この成膜用スリット60は、小面積の第一ス
リット61および第三スリット63並びに大面積の第二
スリット62の全てについてその開口面積を変更するこ
とができるものである。各スリット61、62、63の
幅寸法は同一であって変更できないが、長手方向(基材
の搬送方向)の寸法が増減しうるようにされている。具
体的には、各スリット61、62、63に対してその長
手方向に摺動して開口を開閉しうる調整板71、72、
73が配設されている。この構成により、各調整板7
1、72、73を個別に移動させて開口面積を変更す
る。この場合、三つのスリットを境界壁6に同一寸法で
開口しておいてもよい。
FIG. 3 shows a different film forming slit 60. The film forming slit 60 can change the opening area of all of the first slit 61 and the third slit 63 having a small area and the second slit 62 having a large area. The width dimensions of the slits 61, 62, 63 are the same and cannot be changed, but the length in the longitudinal direction (substrate transport direction) can be increased or decreased. Specifically, adjustment plates 71, 72, which can slide in the longitudinal direction with respect to each of the slits 61, 62, 63 to open and close the opening,
73 are provided. With this configuration, each adjustment plate 7
1, 72 and 73 are individually moved to change the opening area. In this case, three slits may be opened in the boundary wall 6 with the same dimensions.

【0030】図1に示すように、基材Wの搬送方向でい
う基材搬送空間4の上流側にはイオンボンバード室18
が配設されている。イオンボンバード室18と基材搬送
空間4との境界には、絶縁機能を有する開閉扉19が配
設されている。イオンボンバード室18は独立して真空
に排気されるように排気装置14に接続されている。イ
オンボンバード室18の内部には電極20およびガス供
給装置21が配設されており、電極20には高周波電源
22が接続されている。これにより、イオンボンバード
室18を真空排気したあとにアルゴンまたは酸素等のプ
ラズマソースガスを供給し、電極20とイオンボンバー
ド室18の内壁との間に高周波電力を印加してプラズマ
を形成する。発生した正イオンを直流バイアス電圧によ
って加速して基板に衝突させ(イオンボンバード)、基
材Wの表面の付着不純物などを除去する。
As shown in FIG. 1, an ion bombard chamber 18 is located upstream of the substrate transport space 4 in the transport direction of the substrate W.
Are arranged. An opening / closing door 19 having an insulating function is provided at a boundary between the ion bombard chamber 18 and the substrate transport space 4. The ion bombard chamber 18 is connected to the exhaust device 14 so as to be independently evacuated to a vacuum. An electrode 20 and a gas supply device 21 are provided inside the ion bombard chamber 18, and a high frequency power supply 22 is connected to the electrode 20. Thus, after the ion bombard chamber 18 is evacuated, a plasma source gas such as argon or oxygen is supplied, and high-frequency power is applied between the electrode 20 and the inner wall of the ion bombard chamber 18 to form plasma. The generated positive ions are accelerated by a DC bias voltage and collide with the substrate (ion bombardment) to remove impurities and the like attached to the surface of the substrate W.

【0031】イオンボンバード室18の上流側には基材
供給室24が配設され、基材搬送空間4の下流側には基
材送出室25が配設されている。基材供給室24とイオ
ンボンバード室18との境界、および、基材搬送空間4
と基材送出室25との境界には、それぞれ絶縁機能を有
する開閉扉26、27が配設されている。両室24、2
5ともに個別に真空に排気されるように排気装置14に
接続されている。
A base material supply chamber 24 is provided upstream of the ion bombard chamber 18, and a base material delivery chamber 25 is provided downstream of the base material transfer space 4. The boundary between the substrate supply chamber 24 and the ion bombard chamber 18 and the substrate transport space 4
Opening and closing doors 26 and 27 each having an insulating function are disposed at the boundary between the substrate sending chamber 25 and the base material sending chamber 25. Both rooms 24, 2
5 are connected to an exhaust device 14 so as to be individually evacuated to a vacuum.

【0032】かかる構成により、基材供給室24はそこ
に基材Wが搬入された後に真空にされ、その後扉26が
開かれて基材Wがイオンボンバード室18に搬入され、
扉26が閉止される。基材Wはイオンボンバード室18
においてイオンボンバード処理された後、扉19が開か
れて基材搬送空間4に搬入され、扉19が閉止される。
基材搬送空間4において成膜が終了した基材Wは、既に
真空状態にある基材送出室25との間の扉27が開かれ
たあとで基材送出室25に搬入される。その後、扉27
が閉じられてから基材Wは基材送出室25から搬出され
る。かかる動作が連続してなされる。以上説明した連続
処理工程における基材Wの搬送は搬送装置9によってな
される。
With this configuration, the substrate supply chamber 24 is evacuated after the substrate W is loaded therein, and then the door 26 is opened to transport the substrate W into the ion bombardment chamber 18.
The door 26 is closed. The substrate W is an ion bombard chamber 18
After the ion bombardment process is performed, the door 19 is opened and is carried into the substrate transport space 4, and the door 19 is closed.
The base material W on which the film formation is completed in the base material transport space 4 is carried into the base material delivery chamber 25 after the door 27 between the base material delivery chamber 25 which is already in a vacuum state is opened. Then, the door 27
Is closed, and the substrate W is carried out of the substrate delivery chamber 25. Such an operation is performed continuously. The transfer of the substrate W in the continuous processing step described above is performed by the transfer device 9.

【0033】図4に搬送装置の例が示されている。ま
ず、基材搬送空間4内に基材Wの進行方向に沿って多数
個のローラ29が配列されている。これらローラ29の
うち、成膜用スリット5の範囲に配列されたローラ29
bのみ左右両側に相互に間隔をおいて配列されている。
このローラ29の各列に支持されるように無端ベルト3
0が掛け回されている。ローラ列の両端のローラ29a
の一方または両方が回転駆動される駆動ローラである。
イオンボンバード室18、基材供給室24および基材送
出室25にも同様の搬送用のローラ29およびベルト3
0が配設されている。かかる構成により、基材Wはその
左右両辺が両側のベルト30に載置されたうえで、ベル
ト30がイオンボンバード室18側から基材送出室25
側へと回動することによって搬送される。成膜用スリッ
ト5の範囲における両側のベルト30同士の間隔および
ローラ29同士の間隔は、上記基材Wの所定の膜形成範
囲が確保されるような大きさとされている。なお、全て
のローラ29を左右両側に相互に間隔をおいて配列して
もよい。また、ベルト30を用いずに、全ローラ29、
または、一個おきまたは二個おき等のローラを駆動ロー
ラとして基材Wを搬送するようにしてもよい。
FIG. 4 shows an example of the transfer device. First, a number of rollers 29 are arranged in the base material transport space 4 along the traveling direction of the base material W. Among these rollers 29, the rollers 29 arranged in the range of the film forming slit 5
Only b is arranged at an interval on the left and right sides.
The endless belt 3 is supported by each row of the rollers 29.
It is multiplied by zero. Roller 29a at both ends of roller row
One or both are drive rollers that are driven to rotate.
The same transport roller 29 and belt 3 are also provided in the ion bombard chamber 18, the substrate supply chamber 24, and the substrate delivery chamber 25.
0 is provided. With such a configuration, the base material W is placed on the left and right sides of the belt 30 on both sides, and the belt 30 is moved from the ion bombard chamber 18 side to the base material delivery chamber 25.
It is conveyed by rotating to the side. The space between the belts 30 on both sides and the space between the rollers 29 in the range of the film forming slit 5 are sized so that a predetermined film forming range of the base material W is secured. Note that all the rollers 29 may be arranged on both the left and right sides with an interval therebetween. Also, without using the belt 30, all the rollers 29,
Alternatively, every other or every second roller may be used as a driving roller to convey the substrate W.

【0034】本発明においてはベルト30とローラ29
に限定されることはない。たとえば、図5に示すように
ローラに代えて左右両側にレール31を敷設し、基材W
を載置するための枠状のトレイ32を上記レール31に
移動可能に係合したものを用いてもよい。このトレイ3
2には基材Wの所定の膜形成範囲をカバーする開口33
が形成されている。また、トレイ32は、イオンボンバ
ード室18側および基材送出室25側に配設された図示
しない駆動ローラに掛け回されたワイヤ35に接続され
ており、イオンボンバード室18側と基材送出室25側
との間を往復動させられる。イオンボンバード室18、
基材供給室24および基材送出室25には前述の搬送用
のローラ29およびベルト30を配設しておけばよい。
In the present invention, the belt 30 and the roller 29
It is not limited to. For example, as shown in FIG.
A frame-shaped tray 32 on which a sheet is placed may be movably engaged with the rail 31. This tray 3
An opening 33 covers a predetermined film forming range of the base material W.
Are formed. The tray 32 is connected to a wire 35 wrapped around a drive roller (not shown) disposed on the side of the ion bombard chamber 18 and the side of the base material delivery chamber 25, and the tray 32 and the base material delivery chamber are connected to each other. It can be reciprocated between the 25 side. Ion bombard chamber 18,
In the base material supply chamber 24 and the base material delivery chamber 25, the above-described transport roller 29 and belt 30 may be provided.

【0035】図1において、符号10a、10bは基材
Wを加熱するためのヒータである。また、成膜用スリッ
ト5の上方のヒータ10aの下面に近接して、ヒータ1
0aを覆うようにヒータ防護部材40が配設されてい
る。このヒータ防護部材40はアースされたメッシュか
ら構成されており、プラズマを生成するときの高周波を
遮断してヒータ10aを防護するものである。
In FIG. 1, reference numerals 10a and 10b denote heaters for heating the substrate W. In addition, the heater 1 a is located near the lower surface of the heater 10 a above the film forming slit 5.
A heater protection member 40 is provided so as to cover Oa. The heater protection member 40 is formed of a grounded mesh, and protects the heater 10a by blocking high frequency when generating plasma.

【0036】以上の実施形態では電極8が真空容器2内
に固定されている。しかし、本発明はかかる構成に限定
されない。電極は、成膜対象である基材Wの膜形成面側
に有効なプラズマが生成されように高周波電界が生じる
ように配置され、また、イオン化された膜材料が上記膜
形成面に向けて加速されて衝突し、膜形成面での拡散が
促進するような直流電界が生じるように配置されるのが
好ましい。
In the above embodiment, the electrode 8 is fixed in the vacuum vessel 2. However, the present invention is not limited to such a configuration. The electrodes are arranged so that a high-frequency electric field is generated so that effective plasma is generated on the film forming surface side of the substrate W on which the film is to be formed, and the ionized film material is accelerated toward the film forming surface. Are preferably arranged so as to generate a direct-current electric field which collides and promotes diffusion on the film forming surface.

【0037】斜め下方から見た図6には、かかる観点か
ら良好に構成され且つ配置された電極41が示されてい
る。すなわち、真空容器内に固定された電極ではない。
図1の基材搬送空間4における電極8および搬送装置9
に代えて以下のごとく電極機能を有する搬送装置を備え
るものである。この電極41は基材Wを保持する保持装
置としての機能を有しており、電極板部42とその下面
に基材Wを把持するためのクリップ部43とを有してい
る。クリップ部43によって自動的に基材が把持され
る。クリップ部43による基材Wの把持部分は成膜対象
範囲外となるようにされている。この電極41は基材W
の進行方向に沿って配列された多数個のローラ29の上
に載置されて搬送される。ローラ29の配列は、クリッ
プ部43との干渉を避けるために基材Wの進行方向の左
右両側に相互に間隔をおいて配列されているが、左右の
ローラ同士の間隔は図2におけると同様である。全ロー
ラ29、または、一個おきまたは二個おき等のローラが
駆動ローラとして基材Wを搬送するようにされている。
FIG. 6, viewed obliquely from below, shows an electrode 41 which is well constructed and arranged from this point of view. That is, it is not an electrode fixed in the vacuum vessel.
Electrode 8 and transport device 9 in substrate transport space 4 of FIG.
Instead of the above, a transport device having an electrode function is provided as follows. The electrode 41 has a function as a holding device for holding the base material W, and has an electrode plate part 42 and a clip part 43 for gripping the base material W on the lower surface thereof. The base material is automatically gripped by the clip part 43. The gripping portion of the base material W by the clip portion 43 is set outside the film formation target range. This electrode 41 has a substrate W
Are transported while being placed on a number of rollers 29 arranged along the traveling direction of the roller. The arrangement of the rollers 29 is spaced from each other on both the left and right sides in the traveling direction of the base material W in order to avoid interference with the clip portion 43, but the interval between the left and right rollers is the same as in FIG. It is. All the rollers 29 or every other or every second roller is configured to convey the substrate W as a driving roller.

【0038】図7に示すように、成膜用スリット5の両
側に配列されたローラ29bの全て、または、そのうち
のいずれか(たとえば、成膜用スリット5範囲の上流端
および/または下流端)には給電用のシュー(給電シュ
ー)44が弾力的に押圧する状態で配設されている。こ
の給電シュー44には前述の高周波電源15およびマッ
チング回路16並びに直流電源17が接続されている。
これによってローラ29bを通して上記電極41に給電
される。この構成によれば、基材Wが成膜用スリット5
に至ったときに基材Wの上方の電極板部42と真空容器
2の内壁(またはるつぼ)との間に高周波電力および直
流電圧が印加される。
As shown in FIG. 7, all of the rollers 29b arranged on both sides of the film forming slit 5 or any of them (for example, the upstream end and / or the downstream end of the film forming slit 5 range). A power supply shoe (power supply shoe) 44 is disposed in a state of being elastically pressed. The high-frequency power supply 15, the matching circuit 16, and the DC power supply 17 are connected to the power supply shoe 44.
Thus, power is supplied to the electrode 41 through the roller 29b. According to this configuration, the substrate W is formed by the film forming slit 5
Is reached, a high-frequency power and a DC voltage are applied between the electrode plate portion 42 above the base material W and the inner wall (or crucible) of the vacuum vessel 2.

【0039】また、本発明においては電極41の搬送装
置としてはローラ29bに限定されることはない。たと
えば、図5に示したようにローラに代えて左右両側にレ
ール31を敷設し、このレール31に電極41を移動可
能に係合するようにしてもよい。そして、電極41に、
イオンボンバード室18側および基材送出室25側に配
設された図示しない駆動ローラに掛け回されたワイヤ3
5を接続し、イオンボンバード室18側と基材送出室2
5側との間を往復動させるようにすればよい。給電はレ
ール31またはワイヤ35を通して行えばよい。レール
31を通して給電する場合に、レール31を成膜用スリ
ット5の範囲のみ導電材から形成しておけば、基材Wが
成膜用スリット5に至ったときに電極板部42と真空容
器2の内壁(またはるつぼ)との間に高周波電力および
直流電圧が印加されることになる。
In the present invention, the device for transporting the electrode 41 is not limited to the roller 29b. For example, as shown in FIG. 5, rails 31 may be laid on both left and right sides instead of the rollers, and the electrodes 41 may be movably engaged with the rails 31. And, on the electrode 41,
The wire 3 wrapped around a drive roller (not shown) disposed on the ion bombard chamber 18 side and the base material delivery chamber 25 side
5 and the ion bombard chamber 18 side and the substrate delivery chamber 2
What is necessary is just to make it reciprocate between 5 sides. Power may be supplied through the rail 31 or the wire 35. When power is supplied through the rail 31, if the rail 31 is formed of a conductive material only in the range of the film forming slit 5, when the base material W reaches the film forming slit 5, the electrode plate portion 42 and the vacuum vessel 2 are formed. High-frequency power and a DC voltage are applied to the inner wall (or crucible) of the battery.

【0040】図8には、基材自体に電極が形成されてい
る基材、たとえばプラズマディスプレイパネルの前面板
(以下、単に基材という)Pを搬送するための搬送装置
45が示されている。この基材Pは、ガラス基板Paの
表面に左右両辺から櫛歯形状の表示電極(透明電極)T
a、Tbが相互にかみ合うように形成されたものであ
る。これらの透明電極Ta、Tbの上面にはバス電極と
しての金属電極(図示せず)が形成されている。この搬
送装置45は基材Pの上記電極Ta、Tbを利用して高
周波電力および直流電圧を印加するものである。
FIG. 8 shows a transport device 45 for transporting a substrate having electrodes formed on the substrate itself, for example, a front plate (hereinafter simply referred to as a substrate) P of a plasma display panel. . The base material P is a comb-shaped display electrode (transparent electrode) T on both sides of the surface of the glass substrate Pa.
a and Tb are formed so as to mesh with each other. Metal electrodes (not shown) as bus electrodes are formed on the upper surfaces of these transparent electrodes Ta and Tb. The transfer device 45 applies high-frequency power and DC voltage using the electrodes Ta and Tb of the base material P.

【0041】この搬送装置45は、基材Pを載置するた
めの枠状のトレイ46と、基材Pの進行方向に沿って配
列された多数個のローラ29とから構成されている。ロ
ーラ29のうち、成膜用スリット5の範囲に配列された
ローラ29bのみ左右両側に相互に間隔をおいて配列さ
れている。トレイ46はその左右両辺が両側のローラ2
9の上に載置されて搬送される。トレイ46には、その
上に載置される基材Pの所定の膜形成範囲をカバーする
開口47が形成されている。また、左右のローラ29b
同士の間隔等は図4および図6におけると同様である。
全ローラ29、または、一個おきまたは二個おき等のロ
ーラが駆動ローラとして基材Wを搬送するようにされて
いる。そして、成膜用スリット5の両側に配列されたロ
ーラ29bの全て、または、そのうちのいずれかには前
述の給電シュー44(図7)が弾力的に押圧する状態で
配設されている。この給電シュー44には前述の各電源
等15、16、17が接続されている。したがって、上
記トレイ46は、給電されたローラに接触すれば電極部
材となる。
This transport device 45 is composed of a frame-shaped tray 46 for placing the substrate P thereon, and a number of rollers 29 arranged along the direction of travel of the substrate P. Of the rollers 29, only the rollers 29b arranged in the range of the film forming slits 5 are arranged on both left and right sides with an interval therebetween. The left and right sides of the tray 46 are rollers 2 on both sides.
9 and transported. An opening 47 is formed in the tray 46 so as to cover a predetermined film forming range of the base material P placed thereon. Also, the left and right rollers 29b
The distance between them is the same as in FIGS.
All the rollers 29 or every other or every second roller is configured to convey the substrate W as a driving roller. The above-described power supply shoe 44 (FIG. 7) is disposed on all or any of the rollers 29b arranged on both sides of the film forming slit 5 in a state of being elastically pressed. The power supply shoe 44 is connected to the power supplies 15, 16, and 17 described above. Therefore, the tray 46 becomes an electrode member when it comes into contact with the supplied roller.

【0042】したがって、基材Pをトレイ46上に載置
すれば基材Pの電極Ta、Tbがトレイ46と接触して
いるので、このトレイ46が成膜用スリット5に至って
給電されているローラ29bに達すると基材Pと真空容
器2の内壁(またはるつぼ)との間に高周波電力および
直流電圧が印加される。
Therefore, when the substrate P is placed on the tray 46, the electrodes Ta and Tb of the substrate P are in contact with the tray 46, and the tray 46 is supplied with power to the film forming slit 5. Upon reaching the roller 29b, high-frequency power and DC voltage are applied between the base material P and the inner wall (or crucible) of the vacuum vessel 2.

【0043】本発明においては上記ローラ29に限定さ
れることはない。
The present invention is not limited to the rollers 29.

【0044】たとえば、図9に示すようにローラに代え
て左右両側にレール31を敷設し、各レール31にクラ
ンプ部材または載置部材48を移動可能に配設したもの
を用いてもよい。なお、図9では基材Pがその短手方向
に搬送される場合を例に取っている。基材Pはその両辺
の電極Ta、Tbが載置部材48に接触するように載置
される。両載置部材48は、イオンボンバード室18側
および基材送出室25側に配設された図示しない駆動ロ
ーラに掛け回されたワイヤ35に接続され、イオンボン
バード室18側と基材送出室25側との間を往復動させ
られる。
For example, as shown in FIG. 9, instead of the rollers, rails 31 may be laid on the left and right sides, and a clamp member or a mounting member 48 may be movably disposed on each rail 31. FIG. 9 shows an example in which the base material P is transported in the short direction. The base material P is placed so that the electrodes Ta and Tb on both sides thereof come into contact with the placement member 48. Both mounting members 48 are connected to wires 35 wrapped around driving rollers (not shown) disposed on the ion bombard chamber 18 side and the base material delivery chamber 25 side, and the ion bombard chamber 18 side and the base material delivery chamber 25 are connected. Reciprocating between the sides.

【0045】いずれにしても、基材Pの電極を効果的に
利用することができる。
In any case, the electrodes of the base material P can be used effectively.

【0046】以上説明した電極機能を有する搬送装置
は、基材搬送空間4における成膜用スリットの範囲で給
電されるように構成されている。しかし、イオンボンバ
ード室18内においてもこの電極機能を有する搬送装置
を用いることは可能である。そして、イオンボンバード
室18内においてもこの搬送装置に給電するようにすれ
ばよい。かかる構成によればイオンボンバード室18に
固設された電極20は不要となる。
The transfer device having the electrode function described above is configured to supply power in the range of the film forming slit in the substrate transfer space 4. However, it is possible to use the transfer device having the electrode function also in the ion bombard chamber 18. Then, power may be supplied to the transfer device also in the ion bombard chamber 18. According to this configuration, the electrode 20 fixed to the ion bombard chamber 18 becomes unnecessary.

【0047】[0047]

【発明の効果】本発明によれば、膜の形成過程の初期段
階において十分に緻密な組織とするように連続的に成膜
することができる。とくに酸化マグネシウム(MgO)
のように成膜初期の膜が薄い状態において結晶化しにく
い膜材料に対しては有効である。MgOに限らず、融点
が高い酸化金属、たとえば酸化珪素(SiO2)、二酸
化チタン(TiO2)酸化アルミニウム(Al25)など
も結晶化しにくいため、これらの膜を形成する場合も有
効である。
According to the present invention, a film can be continuously formed so as to have a sufficiently dense structure in an initial stage of the film formation process. Especially magnesium oxide (MgO)
This is effective for film materials that are difficult to crystallize when the film is thin at the initial stage of film formation. Not only MgO but also metal oxides having a high melting point, such as silicon oxide (SiO 2 ) and titanium dioxide (TiO 2 ) aluminum oxide (Al 2 O 5 ), are difficult to crystallize. is there.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の成膜装置の一実施形態を示す断面図で
ある。
FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of a film forming apparatus of the present invention.

【図2】図1の成膜装置における成膜用スリットの一例
を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing an example of a film forming slit in the film forming apparatus of FIG.

【図3】図1の成膜装置における成膜用スリットの他の
例を示す斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing another example of a film forming slit in the film forming apparatus of FIG.

【図4】本発明の成膜装置の他の実施形態における搬送
装置の一実施形態を示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing one embodiment of a transfer device in another embodiment of the film forming apparatus of the present invention.

【図5】本発明の搬送装置の他の実施形態を示す斜視図
である。
FIG. 5 is a perspective view showing another embodiment of the transport device of the present invention.

【図6】本発明の搬送装置のさらに他の実施形態を示
す、斜め下方から見た斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing a further alternative embodiment of the transport device of the present invention, as viewed obliquely from below.

【図7】図4のIIV−IIV線断面図である。FIG. 7 is a sectional view taken along line IIV-IIV of FIG. 4;

【図8】本発明の搬送装置のさらに他の実施形態を示す
平面図である。
FIG. 8 is a plan view showing still another embodiment of the transport device of the present invention.

【図9】本発明の搬送装置のさらに他の実施形態を示す
平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing still another embodiment of the transfer device of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 成膜装置 2 真空容器 3 プラズマ生成空間 4 基材搬送空間 5 成膜用スリット 51 第一スリット 52 第二スリット 53 第三スリット 6 境界壁 7 蒸発源 8 電極 9 搬送装置 10a、10b 基材加熱用ヒータ 11 るつぼ 12 電子銃 13 ガス供給装置 14 排気装置 15 高周波電源 16 マッチング回路 17 直流電源 18 イオンボンバード室 19 開閉扉 20 電極 21 ガス供給装置 22 高周波電源 24 基材供給室 25 基材送出室 26、27 扉 29 ローラ 29a 駆動ローラ 29b 両側ローラ 30 ベルト 31 レール 32 トレイ 33 開口 34 膜材料供給装置 35 ワイヤ 40 ヒータ防護部材 41 電極 42 電極板部 43 クリップ部 44 給電シュー 45 搬送装置 46 トレイ 47 開口 40 ガス供給装置 41 排気装置 60 成膜用スリット 61 第一スリット 62 第二スリット 63 第三スリット 71、72、73 調整板 P、W 基材 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Film-forming apparatus 2 Vacuum container 3 Plasma generation space 4 Substrate transport space 5 Film-forming slit 51 First slit 52 Second slit 53 Third slit 6 Boundary wall 7 Evaporation source 8 Electrode 9 Transport device 10a, 10b Substrate heating Heater 11 Crucible 12 Electron gun 13 Gas supply device 14 Exhaust device 15 High frequency power supply 16 Matching circuit 17 DC power supply 18 Ion bombard chamber 19 Opening door 20 Electrode 21 Gas supply device 22 High frequency power supply 24 Substrate supply chamber 25 Substrate delivery chamber 26 , 27 door 29 roller 29a drive roller 29b both-side roller 30 belt 31 rail 32 tray 33 opening 34 film material supply device 35 wire 40 heater protection member 41 electrode 42 electrode plate portion 43 clip portion 44 power supply shoe 45 transfer device 46 tray 47 opening 40 Gas supply device 41 Degasifier 60 film slit 61 first slit 62 a second slit 63 a third slit 71, 72, 73 adjusting plate P, W substrate

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 その内部に高周波電界が生じうる成膜用
真空容器と、該成膜用真空容器内に形成されたプラズマ
生成空間および成膜対象基材の搬送空間と、成膜対象基
材を搬送するための搬送装置と、プラズマ生成空間内に
配設された膜材料を含む蒸発源と、上記プラズマ生成空
間と搬送空間との間に配設された、蒸発膜材料通過スリ
ットが開口された境界壁とを備えており、 上記蒸発膜材料通過スリットが、成膜対象基材の進行方
向に沿って上流側から順に配設された小面積の第一スリ
ットと大面積の第二スリットとから構成されてなる成膜
装置。
1. A film forming vacuum container in which a high-frequency electric field can be generated, a plasma generating space formed in the film forming vacuum container and a space for transporting a film forming substrate, and a film forming substrate A transport device for transporting the film, an evaporation source including a film material disposed in the plasma generation space, and a vapor film material passage slit disposed between the plasma generation space and the transport space are opened. The evaporating film material passing slit, the first slit having a small area and the second slit having a large area, which are arranged in order from the upstream side along the traveling direction of the base material for film formation. A film forming apparatus comprising:
【請求項2】 上記蒸発膜材料通過スリットが、第二ス
リットの下流側に小面積の第三スリットをさらに有して
なる請求項1記載の成膜装置。
2. The film forming apparatus according to claim 1, wherein the evaporating film material passage slit further includes a small slit having a small area downstream of the second slit.
【請求項3】 上記蒸発膜材料通過スリットに、成膜対
象基材の搬送方向に移動可能な調整板が配設されてお
り、該調整板が移動することにより蒸発膜材料通過スリ
ットの開口面積が変更されるように構成されてなる請求
項1記載の成膜装置。
3. An evaporating film material passing slit is provided with an adjusting plate which is movable in a transport direction of the substrate to be film-formed, and the adjusting plate moves so that an opening area of the evaporating film material passing slit is provided. The film forming apparatus according to claim 1, wherein the film thickness is changed.
【請求項4】 上記成膜用真空容器内における搬送空間
の上流側に、搬送空間と隔離および連通可能に配設され
たイオンボンバード室を備えており、該イオンボンバー
ド室が真空化可能であり且つその内部に高周波電界が生
じるように構成されており、イオンボンバード室にプラ
ズマソースガス供給装置が配設されてなる請求項1記載
の成膜装置。
4. An ion bombard chamber, which is provided on the upstream side of the transfer space in the vacuum chamber for film formation so as to be isolated from and communicate with the transfer space, wherein the ion bombard chamber can be evacuated. 2. The film forming apparatus according to claim 1, wherein a high-frequency electric field is generated therein, and a plasma source gas supply device is provided in the ion bombardment chamber.
【請求項5】 上記成膜用真空容器に隣接して、それぞ
れが成膜用真空容器と隔離および連通可能に配設された
真空化可能な成膜対象基材供給室および成膜対象基材送
出室が配設されており、上記搬送装置が、成膜対象基材
を成膜対象基材供給室から成膜用真空容器を通して成膜
対象基材送出室に搬送するように構成されてなる請求項
1記載の成膜装置。
5. A vacuum-equipped film-forming substrate supply chamber and a film-forming substrate, which are arranged adjacent to and can communicate with the film-forming vacuum container, respectively. A delivery chamber is provided, and the transport device is configured to transport the substrate to be deposited from the supply chamber for the substrate to be deposited to the deposition chamber through the vacuum chamber for deposition. The film forming apparatus according to claim 1.
【請求項6】 上記搬送装置が、成膜対象の基材を保持
するための保持装置と、該保持装置を移動させて成膜用
スリット上を通過させるための移動装置と、上記保持装
置に高周波電力を供給するための給電装置とを備えてお
り、 上記保持装置が高周波電界を生じさせるための電極とし
ての機能を有してなる請求項1記載の成膜装置。
6. A holding device for holding a substrate on which a film is to be formed, a moving device for moving the holding device to pass over a film forming slit, and The film forming apparatus according to claim 1, further comprising a power supply device for supplying high-frequency power, wherein the holding device has a function as an electrode for generating a high-frequency electric field.
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