JP2002175634A - Integrated optical member and optical pickup device - Google Patents

Integrated optical member and optical pickup device

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JP2002175634A
JP2002175634A JP2001266991A JP2001266991A JP2002175634A JP 2002175634 A JP2002175634 A JP 2002175634A JP 2001266991 A JP2001266991 A JP 2001266991A JP 2001266991 A JP2001266991 A JP 2001266991A JP 2002175634 A JP2002175634 A JP 2002175634A
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receiving
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雅春 深草
Shogo Horinouchi
昇吾 堀之内
Hiroshi Goto
博志 後藤
Fuminobu Furukawa
文信 古川
Eizo Ono
栄三 小野
Jirou Mitsumasa
治郎 三政
Toshihiro Koga
稔浩 古賀
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an integrated optical member and an optical pickup device that prevent a detecting optical system from being affected by the change in temperature to use. SOLUTION: The integrated optical member 20 is such that it guides the emitted light flux of a laser element to an optical disk and that it separates a required light flux among reflected light beams from the optical disk. The member 20 contains a plurality of optical surfaces inside and is characterized by forming a third diffraction grating 40 that extracts the light flux required for tracking control and focusing control from he reflected light beams on a first inclined surface 36. In addition to this integrated optical member 20, an optical pickup device using this member and an optical disk apparatus using this optical pickup device are provided.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクの記録
及び再生に使用する集積光学部材及びこの集積光学部材
を用いた光ピックアップ装置、並びにこの光ピックアッ
プ装置を用いた光ディスク装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an integrated optical member used for recording and reproduction of an optical disk, an optical pickup device using the integrated optical member, and an optical disk device using the optical pickup device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の光ピックアップは、幾種類ものビ
ームスプリッタを多用して、発光光源側と検出光学系と
を分離することに、工夫が重ねられてきた。ところが、
光ピックアップを小型にすることに対する市場の要請が
高まった結果、光源と検出光学系とを同一のパッケージ
に収容した光学ユニットとして提供する試みが成され
た。
2. Description of the Related Art In conventional optical pickups, many attempts have been made to separate a light emitting light source side and a detection optical system by using many types of beam splitters. However,
As the market demand for downsizing the optical pickup has increased, attempts have been made to provide the light source and the detection optical system as an optical unit housed in the same package.

【0003】この光学ユニットを具現化するために回折
格子を形成した光学部材が使用された。この光学部材の
具体例については特開平10−154344に詳しい技
術開示が成されている。こうして、光学部材を実現した
ことにより光ピックアップは大幅な小型化が進行し、小
型の光ピックアップを搭載した小型の光ディスク装置が
市場に普及することとなった。
[0003] To realize this optical unit, an optical member having a diffraction grating is used. A detailed technical disclosure of this optical member is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-154344. Thus, the realization of the optical member has led to a significant reduction in the size of the optical pickup, and a small optical disk device equipped with the small optical pickup has become widespread in the market.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、小型化の進
行と光ディスク装置の普及は以下のような新たな課題を
包含することとなった。例えば、当然に小型化によって
発光光源と検出素子、光学部材とが接近する。また、長
時間の使用や記録用途の拡大によって、発光光源の光出
力が増大すると共に使用温度も上昇する。さらにノート
ブックPCの普及に見られるように、より小型の筐体に
収容したり使用する環境温度もさらに拡大している。
However, the progress of miniaturization and the spread of optical disk devices have included the following new problems. For example, the light emitting light source, the detecting element, and the optical member approach each other due to the miniaturization. Further, due to long-term use and expansion of recording applications, the light output of the light-emitting light source increases and the use temperature also increases. Furthermore, as seen in the spread of notebook PCs, the environmental temperature for housing and using in smaller housings is further increasing.

【0005】このように、使用温度範囲が拡大すると、
光学ユニットを構成する各部品の熱膨張係数の影響が表
面化することとなる。例えば、回折格子を形成した光学
部材の寸法や位置が影響を受けると、サーボ制御に誤差
やオフセットを生じる原因が増えることとなる。
As described above, when the operating temperature range is expanded,
The effect of the coefficient of thermal expansion of each component constituting the optical unit will surface. For example, if the size and position of the optical member on which the diffraction grating is formed are affected, the causes of errors and offsets in servo control will increase.

【0006】本発明は、このような課題を解決するため
になされたものであって、使用温度の変動が検出光学系
に影響を与えることがなく、クロストークの影響を受け
にくい信号の検出動作を実現することができる集積光学
部材、及びこの集積光学部材を用いた光ピックアップ装
置、並びにこの光ピックアップ装置併せて、フォーカス
エラー検出方法、トラッキングエラー検出方法を用いた
光ディスク装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem, and a detection operation of a signal which is hardly affected by crosstalk without a fluctuation of a use temperature affecting a detection optical system. And an optical pickup device using the integrated optical member, and an optical disc device using the focus error detection method and the tracking error detection method. And

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するためになされたものであって、発光素子の発光光束
を光ディスクへ導くと共に光ディスクからの反射光のう
ちから必要な光束を分離する集積光学部材であって、集
積光学手段はその内部に複数の光学面を含み、反射光の
うちからトラッキング制御とフォーカス制御に必要な光
束を抽出する回折格子が前記光学面のいずれかに形成さ
れたことを特徴とする集積光学部材、及びこの集積光学
部材を用いた光ピックアップ装置、並びにこの光ピック
アップ装置を用いた光ディスク装置を提供するものであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and is directed to guiding a light beam emitted from a light emitting element to an optical disk and separating a required light beam from light reflected from the optical disk. An integrated optical member, wherein the integrated optical means includes a plurality of optical surfaces therein, and a diffraction grating for extracting a light beam necessary for tracking control and focus control from reflected light is formed on any of the optical surfaces. An integrated optical member, an optical pickup device using the integrated optical member, and an optical disk device using the optical pickup device.

【0008】本発明によれば、以上の構成により使用温
度の変動によって検出光学系が影響を受けることがな
く、クロストークの影響を受けにくい信号の検出動作を
実現することができる集積光学部材、及びこの集積光学
部材を用いた光ピックアップ装置、並びにこの光ピック
アップ装置を用いた光ディスク装置併せて、フォーカス
エラー検出方法、トラッキングエラー検出方法を提供す
ることができる。
According to the present invention, there is provided an integrated optical member capable of realizing a signal detecting operation which is hardly affected by crosstalk, without the detection optical system being affected by the fluctuation of the operating temperature by the above-mentioned structure. In addition, it is possible to provide a focus error detection method and a tracking error detection method together with an optical pickup device using the integrated optical member and an optical disk device using the optical pickup device.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1から請求項5に
記載の発明は、発光素子の発光光束を光ディスクへ導く
と共に光ディスクからの反射光のうちから必要な光束を
分離する集積光学部材であって、集積光学手段はその内
部に複数の光学面を含み、反射光のうちからトラッキン
グ制御とフォーカス制御に必要な光束を抽出する回折格
子が光学面のいずれかに形成されたことを特徴とする集
積光学部材である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to the first to fifth aspects of the present invention is directed to an integrated optical member for guiding a light beam emitted from a light emitting element to an optical disk and separating a required light beam from light reflected from the optical disk. Wherein the integrated optical means includes a plurality of optical surfaces therein, and a diffraction grating for extracting a light beam required for tracking control and focus control from the reflected light is formed on one of the optical surfaces. Integrated optical member.

【0010】本発明によれば、以上の構成により使用温
度の変動によって検出光学系が影響を受けることのない
集積光学部材を提供することができ、クロストークの影
響を受けにくい信号の検出動作を実現することができる
集積光学部材、光ピックアップ装置およびそれを用いた
光ディスク装置を提供することができる。
According to the present invention, it is possible to provide an integrated optical member in which the detection optical system is not affected by a change in the operating temperature by the above-described configuration, and a signal detection operation that is not easily affected by crosstalk can be provided. It is possible to provide an integrated optical member, an optical pickup device, and an optical disk device using the same that can be realized.

【0011】本発明の請求項6から請求項12および請
求項13に記載の発明は、発光素子と、発光素子の発光
光束を光ディスクへ導くと共に光ディスクからの反射光
のうちから必要な光束を分離する集積光学部材と、光を
受光して電気信号に変換する受光手段と、発光素子と集
積光学部材と受光手段とを相互の位置に保持する結合手
段とを有する光ピックアップ装置であって、集積光学部
材はその内部に複数の光学面を含み、反射光のうちから
トラッキング制御とフォーカス制御に必要な光束を抽出
する回折格子が光学面のいずれかに形成されたことを特
徴とする光ピックアップ装置であり、これらの光ピック
アップ装置を使用した光ディスク装置である。
According to a sixth aspect of the present invention, a light emitting element and a light beam emitted from the light emitting element are guided to an optical disk and a required light beam is separated from light reflected from the optical disk. An optical pickup device comprising: an integrated optical member for receiving light; light receiving means for receiving light and converting the light into an electric signal; and coupling means for holding the light emitting element, the integrated optical member, and the light receiving means at mutual positions. An optical pickup device, wherein the optical member includes a plurality of optical surfaces therein, and a diffraction grating for extracting a light beam necessary for tracking control and focus control from the reflected light is formed on one of the optical surfaces. And an optical disc device using these optical pickup devices.

【0012】本発明によれば、以上の構成により使用温
度の変動によって検出光学系が影響を受けることのな
く、クロストークの影響を受けにくい信号の検出動作を
実現することができる光ピックアップ装置、およびこれ
らの光ピックアップ装置を使用した光ディスク装置を提
供することができる。
According to the present invention, there is provided an optical pickup device capable of realizing a signal detecting operation which is hardly affected by crosstalk without affecting a detecting optical system due to a change in a use temperature by the above-described configuration. And an optical disk device using these optical pickup devices.

【0013】本発明の請求項14に記載の発明は、発光
素子の発光光束を光ディスクへ導くと共に光ディスクか
らの反射光のうちから必要な光束を分離する集積光学部
材と、光を受光して電気信号に変換する受光手段とを有
し、集積光学部材はその内部に複数の光学面を含み、反
射光のうちからトラッキング制御とフォーカス制御に必
要な光束を抽出する回折格子を光学面のいずれかに形成
すると共に、回折格子をタンジェンシャル方向に分離し
た第1の弓形領域と第2の弓形領域と、第1の略D字状
領域と第2の略D字状領域とに4分割し、受光手段は、
第1の弓形領域の回折光を受光する2個の受光手段と、
第2の弓形領域の回折光を受光する2個の受光手段と、
第1の略D字状領域の回折光を受光する3個の受光手段
と、第2の略D字状領域の回折光を受光する3個の受光
手段とを形成した光ピックアップ装置のフォーカスエラ
ー検出方法であって、第1の弓形領域の回折光を受光す
る2個の受光手段の検出信号をそれぞれIA、IBと
し、第2の弓形領域の回折光を受光する逆順に配置した
2個の受光手段の検出信号をそれぞれIa、Ibとした
とき、フォーカスエラー信号(FA)を、 FA={(IA+Ia)−(IB+Ib)} なる関係式により算出することを特徴とするフォーカス
エラー検出方法である。
According to a fourteenth aspect of the present invention, there is provided an integrated optical member for guiding a light beam emitted from a light emitting element to an optical disk and separating a required light beam from reflected light from the optical disk, Light receiving means for converting into a signal, the integrated optical member includes a plurality of optical surfaces therein, and a diffraction grating for extracting a light flux necessary for tracking control and focus control from among the reflected light is provided on one of the optical surfaces. And the diffraction grating is divided into four parts: a first arcuate region, a second arcuate region, and a first substantially D-shaped region and a second substantially D-shaped region, which are separated in the tangential direction. The light receiving means is
Two light receiving means for receiving the diffracted light in the first arcuate region;
Two light receiving means for receiving the diffracted light in the second arcuate region;
Focus error of an optical pickup device formed with three light receiving means for receiving the diffracted light in the first substantially D-shaped area and three light receiving means for receiving the diffracted light in the second substantially D-shaped area A detection method, wherein detection signals of two light receiving units that receive the diffracted light of the first arcuate region are IA and IB, respectively, and two signals arranged in reverse order of receiving the diffracted light of the second arcuate region are provided. A focus error detection method characterized by calculating a focus error signal (FA) by a relational expression of FA = {(IA + Ia) − (IB + Ib)}, where Ia and Ib are detection signals of the light receiving unit, respectively. .

【0014】本発明によれば、以上の構成により使用温
度の変動によって引き起こされる検出信号のドリフトや
オフセットが打ち消されて、検出光学系が使用温度の変
動影響を受けることのない光ピックアップ装置のフォー
カスエラー検出方法を提供することができる。
According to the present invention, the drift and offset of the detection signal caused by the fluctuation of the operating temperature are canceled by the above configuration, and the focus of the optical pickup device does not affect the detecting optical system by the fluctuation of the operating temperature. An error detection method can be provided.

【0015】本発明の請求項15に記載の発明は、発光
素子の発光光束を光ディスクへ導くと共に光ディスクか
らの反射光のうちから必要な光束を分離する集積光学部
材と、光を受光して電気信号に変換する受光手段とを有
し、集積光学部材はその内部に複数の光学面を含み、反
射光のうちからトラッキング制御とフォーカス制御に必
要な光束を抽出する回折格子を光学面のいずれかに形成
すると共に、回折格子をタンジェンシャル方向に分離し
た第1の弓形領域と第2の弓形領域と、第1の略D字状
領域と第2の略D字状領域とに4分割し、受光手段は、
第1の弓形領域の回折光を受光する2個の前記受光手段
と、第2の弓形領域の回折光を受光する2個の受光手段
と、第1の略D字状領域の回折光を受光する3個の受光
手段と、第2の略D字状領域の回折光を受光する3個の
受光手段とを形成した光ピックアップ装置のトラッキン
グエラー検出方法であって、第1の略D字状領域の回折
光を受光する3個の受光手段の検出信号をそれぞれI
C、IE、IGとし、第2の略D字状領域の回折光を受
光する3個の受光手段の検出信号をそれぞれID、I
F、IHとしたとき、トラッキングエラー信号(TA)
を、 TE=IC−ID−k{(IE+IG)−(IF+I
H)}(但し、kは動作設定に応じて定まる定数)なる
関係式により算出することを特徴とするトラッキングエ
ラー検出方法である。
According to a fifteenth aspect of the present invention, there is provided an integrated optical member for guiding a light beam emitted from a light emitting element to an optical disk and separating a required light beam from light reflected from the optical disk, Light receiving means for converting into a signal, the integrated optical member includes a plurality of optical surfaces therein, and a diffraction grating for extracting a light flux necessary for tracking control and focus control from among the reflected light is provided on one of the optical surfaces. And the diffraction grating is divided into four parts: a first arcuate region, a second arcuate region, and a first substantially D-shaped region and a second substantially D-shaped region, which are separated in the tangential direction. The light receiving means is
Two light receiving means for receiving the diffracted light in the first arcuate area, two light receiving means for receiving the diffracted light in the second arcuate area, and receiving the diffracted light in the first substantially D-shaped area A tracking error detecting method for an optical pickup device, comprising: three light receiving means for detecting the diffracted light in the second substantially D-shaped region; and a first substantially D-shaped light receiving means. The detection signals of the three light receiving means for receiving the diffracted light in the region
C, IE, and IG, and the detection signals of the three light receiving units that receive the diffracted light in the second substantially D-shaped region are ID, I, and I, respectively.
F, IH, tracking error signal (TA)
TE = IC−ID−k {(IE + IG) − (IF + I
H) A tracking error detection method characterized in that the tracking error is calculated by a relational expression of な る (where k is a constant determined according to the operation setting).

【0016】本発明によれば、以上の構成により使用温
度の変動によって引き起こされる検出信号のドリフトや
オフセットが打ち消されて、検出光学系が使用温度の変
動影響を受けることのない光ピックアップ装置のトラッ
キングエラー検出方法を提供することができる。
According to the present invention, the drift of the detection signal and the offset caused by the fluctuation of the use temperature are canceled by the above configuration, and the tracking of the optical pickup device does not affect the detection optical system by the fluctuation of the use temperature. An error detection method can be provided.

【0017】以下、本発明の実施の形態について、図に
基づいて説明する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0018】(実施の形態1)図1は光ピックアップの
全体を表す斜視図である。図1において、全体を光ピッ
クアップ1と総称し、以下の主要構成部品を有する。複
合素子2は光ビーム3を射出する。光ビーム3はミラー
4で方向を曲げて対物レンズ5で集光されて光ディスク
6の情報記録層に焦点を結ぶ。情報記録層から反射した
光は逆の順をたどって複合素子2によって検出される。
(Embodiment 1) FIG. 1 is a perspective view showing the entire optical pickup. In FIG. 1, the whole is collectively referred to as an optical pickup 1 and has the following main components. The composite device 2 emits a light beam 3. The light beam 3 is bent by the mirror 4 and condensed by the objective lens 5 to focus on the information recording layer of the optical disk 6. The light reflected from the information recording layer is detected by the composite device 2 in the reverse order.

【0019】他方、光ディスク6の情報記録層は同心円
状(より厳密にはスパイラル状)に情報トラックが形成
されている。そこで、複合素子2から射出する光ビーム
3を光ディスク6のタンジェンシャル(トラックの接
線)方向となるように配置する。アクチュエータ7は対
物レンズ5を微少に変位可能に支持する。光ディスク6
の情報記録層に光ビーム3を合焦させる(フォーカシン
グ)ためと微小なトラック方向の追従(トラッキング)
をするためである。以上の複合素子2、ミラー4、対物
レンズ5、アクチュエータ7はキャリッジ8に搭載され
る。そこで、トラッキング範囲を超える移動はキャリッ
ジ8全体を光ディスク6の半径(ラジアル)方向に移動
させて対応する。
On the other hand, the information recording layer of the optical disk 6 has information tracks formed concentrically (more precisely, spirally). Therefore, the light beam 3 emitted from the composite element 2 is arranged so as to be in the tangential (tangential to the track) direction of the optical disk 6. The actuator 7 supports the objective lens 5 so as to be slightly displaceable. Optical disk 6
For focusing the light beam 3 on the information recording layer (focusing) and fine tracking in the track direction (tracking)
It is to do. The above-described composite element 2, mirror 4, objective lens 5, and actuator 7 are mounted on a carriage 8. Therefore, the movement beyond the tracking range is dealt with by moving the entire carriage 8 in the radius (radial) direction of the optical disc 6.

【0020】次に、複合素子2を説明する。図2は複合
素子の全体を表す斜視図である。図2において、複合素
子2は光源10と集積光学部材20と受光器60、及び
結合部材80とを有する構成である。これらの構成要素
を順に説明する。
Next, the composite device 2 will be described. FIG. 2 is a perspective view showing the entire composite device. In FIG. 2, the composite element 2 has a configuration including a light source 10, an integrated optical member 20, a light receiver 60, and a coupling member 80. These components will be described in order.

【0021】まず、光源10は汎用半導体レーザ11を
ベース部材12に固定したものである。極めて一般的な
汎用半導体レーザ11を使用することができるから、最
も高価な必須部品を最も安価に調達することができ、安
価な光ピックアップ装置を提供することができる。
First, the light source 10 has a general-purpose semiconductor laser 11 fixed to a base member 12. Since an extremely general-purpose semiconductor laser 11 can be used, the most expensive essential parts can be procured at the lowest cost, and an inexpensive optical pickup device can be provided.

【0022】なお、詳細な図示による説明は省略する
が、汎用半導体レーザ11は当然にその内部にレーザ素
子13を収容し、幾何光学シュミレーションに使用する
仮想の発光点19を有する。レーザ素子13の発光点1
9から射出されたレーザ光は汎用半導体レーザ11の射
出口16から射出される。また、18は汎用半導体レー
ザ11のリードであり、65は受光器60へ接続するた
めのフレキシブルケーブルである。
Although a detailed description is omitted, the general-purpose semiconductor laser 11 naturally accommodates the laser element 13 therein and has a virtual light emitting point 19 used for geometrical optical simulation. Light emitting point 1 of laser element 13
The laser light emitted from 9 is emitted from the emission port 16 of the general-purpose semiconductor laser 11. Reference numeral 18 denotes a lead of the general-purpose semiconductor laser 11, and reference numeral 65 denotes a flexible cable for connecting to the light receiver 60.

【0023】次に、本発明の主題である光学部材であっ
て集積光学部材20の全体を説明する。図3は集積光学
部材20の分解斜視図である。図3において、集積光学
部材20は第1から第4の導光部材で構成される。各導
光部材の材質は高透過性樹脂材料や光学ガラスが用いら
れる。
Next, the whole of the integrated optical member 20, which is an optical member which is the subject of the present invention, will be described. FIG. 3 is an exploded perspective view of the integrated optical member 20. 3, the integrated optical member 20 includes first to fourth light guide members. As a material of each light guide member, a highly transparent resin material or optical glass is used.

【0024】第1導光部材21は平行平板状に形成され
る。第1導光部材21が射出口16に対向する面に第1
回折格子22が形成される。回折された0次光と±1次
光とを用いてトラッキング制御に使用する主及び副ビー
ム(以下3ビームと総称する)を生成するためである。
このとき、第1回折格子22のピッチと格子の深さは、
光ビームの波長と、3ビームのそれぞれの光パワとに応
じて、最適な数値に設定される。23は光吸収膜であっ
て、乱反射等の不要な光や迷光が集積光学部材20に侵
入するのを防止する。
The first light guide member 21 is formed in a parallel plate shape. The first light guide member 21 has a first light guide
A diffraction grating 22 is formed. This is to generate main and sub-beams (hereinafter collectively referred to as three beams) used for tracking control using the diffracted zero-order light and ± first-order light.
At this time, the pitch of the first diffraction grating 22 and the depth of the grating are:
The optimum numerical value is set according to the wavelength of the light beam and the optical power of each of the three beams. A light absorbing film 23 prevents unnecessary light such as diffuse reflection and stray light from entering the integrated optical member 20.

【0025】第2導光部材25は略直角三角形の断面を
有する略三角柱状に形成される。略直角三角形の斜面2
6には所要の領域に第2回折格子27(往路光抽出手
段)が形成される。第2回折格子27の形成加工は前述
の第1回折格子22と同様である。第1導光部材21か
ら第2導光部材25に入射した光ビームは拡散光である
から第2回折格子27で反射させると共に光パワ検出手
段66(後述する図5参照)に結像させるために収束光
に変換するためである。さらに第2回折格子27の格子
ピッチと格子の深さについての設定条件も前述の第1回
折格子22と同様である。なお、特に第2回折格子27
は+1次光を反射回折光の主成分となるように設定され
る。光パワ検出手段66により多くの光を収束させて、
検出する光パワを高めて、光パワの検出に正確さを期す
ためである。
The second light guide member 25 is formed in a substantially triangular prism shape having a substantially right triangular cross section. Substantially right triangle slope 2
6, a second diffraction grating 27 (outgoing light extraction means) is formed in a required area. The forming process of the second diffraction grating 27 is the same as that of the first diffraction grating 22 described above. Since the light beam that has entered the second light guide member 25 from the first light guide member 21 is diffused light, it is reflected by the second diffraction grating 27 and formed on the optical power detection means 66 (see FIG. 5 described later). This is because the light is converted into convergent light. Further, the setting conditions for the grating pitch and the grating depth of the second diffraction grating 27 are the same as those of the first diffraction grating 22 described above. In particular, the second diffraction grating 27
Is set so that the + 1st-order light becomes the main component of the reflected diffracted light. More light is converged by the optical power detection means 66,
This is to increase the optical power to be detected and to ensure the accuracy of the optical power detection.

【0026】さらに斜面26は第2回折格子27を含む
全面に往復路分離膜28をコーティングする。往復路分
離膜28は、第1導光部材21から入射した光ビーム
(往路)を略100%透過させ、逆に光ディスク6から
反射して第2導光部材25に戻って来た光ビーム(復
路)を略100%反射する機能を有する。
Further, the slope 26 is coated with a reciprocating path separation film 28 on the entire surface including the second diffraction grating 27. The reciprocating path separation film 28 transmits the light beam (outgoing path) incident from the first light guide member 21 substantially 100%, and conversely, reflects the light beam reflected from the optical disk 6 and returned to the second light guide member 25 ( (Return path) is reflected almost 100%.

【0027】第2導光部材25の他の面である側面31
は所定の領域に側面反射膜32が形成される。第2回折
格子27で反射された回折光を再び反射して光パワ検出
手段66へ結像させるためである。なお、集積光学部材
20の形成過程で、側面反射膜32を含む側面31全体
は光吸収膜でコーティングする。不要な内部反射を吸収
すると共に迷光の侵入を防止し、さらに雰囲気による腐
食の影響から反射膜コーティングを保護するためであ
る。
A side surface 31 which is another surface of the second light guide member 25
The side reflection film 32 is formed in a predetermined region. This is because the diffracted light reflected by the second diffraction grating 27 is reflected again to form an image on the optical power detection means 66. In the process of forming the integrated optical member 20, the entire side surface 31 including the side reflection film 32 is coated with a light absorbing film. This is for absorbing unnecessary internal reflection, preventing stray light from entering, and protecting the reflective film coating from the influence of corrosion due to the atmosphere.

【0028】第3導光部材35は、略台形状の断面を有
する略台形柱状に形成される。各々の面は第1斜面36
と第2斜面37と透過面38と射出面39とを有する。
第1斜面36と第2斜面37とは互いに向かい合う平行
平面をなし、第1斜面36の所定の領域には第3回折格
子40が形成されている。第3回折格子40の形成加工
および格子ピッチと格子の深さについての設定条件も前
述の第1回折格子22と同様である。
The third light guide member 35 is formed in a substantially trapezoidal column shape having a substantially trapezoidal cross section. Each side is the first slope 36
, A second inclined surface 37, a transmission surface 38, and an emission surface 39.
The first slope 36 and the second slope 37 form a parallel plane facing each other, and a third diffraction grating 40 is formed in a predetermined area of the first slope 36. The conditions for forming the third diffraction grating 40 and for setting the grating pitch and the grating depth are the same as those of the first diffraction grating 22 described above.

【0029】第3導光部材35は前述の第2導光部材2
5に接合したとき、往復路分離膜28で反射した復路光
が第3回折格子40へ入射する。さらに、第3回折格子
40で+1次光の反射回折光となって第2導光部材25
へ向かうが、再び斜面26の後述する補助反射膜30で
反射して、射出面39から射出して光パワ検出手段66
へ向かう。このとき、反射回折光が往復路分離膜28で
反射する領域に対応する第2導光部材25の斜面26
(つまり斜面26の対応領域と往復路分離膜28との
間)に補助反射膜30を形成することが有効である。こ
うして、反射回折光に対する往復路分離膜28の反射能
力を向上することができ、光パワ検出手段66の信号検
出のレベル変動を抑制することができる。
The third light guide member 35 is the same as the second light guide member 2 described above.
5, the return light reflected by the reciprocating path separation film 28 enters the third diffraction grating 40. Further, the third diffraction grating 40 becomes + 1st-order reflected and diffracted light to form the second light guide member 25.
However, the light is reflected by the auxiliary reflection film 30 described later on the slope 26 again, exits from the exit surface 39, and exits from the optical power detection unit 66.
Head to. At this time, the slope 26 of the second light guide member 25 corresponding to the area where the reflected diffracted light is reflected by the round-trip separation film 28
It is effective to form the auxiliary reflection film 30 (that is, between the corresponding area of the slope 26 and the round trip separation film 28). Thus, the ability of the round-trip path separation film 28 to reflect reflected diffracted light can be improved, and the level fluctuation of signal detection by the optical power detection means 66 can be suppressed.

【0030】第4導光部材45は直角三角形の断面を有
する略三角柱状に形成される。各々の面は斜面46と第
1面47および第2面48である。第1面47と第2面
48とは直角に交わり、集積光学部材20の基準面とな
る。斜面46には全面に光吸収膜が形成される。
The fourth light guide member 45 is formed in a substantially triangular prism shape having a right triangular cross section. Each surface is a slope 46, a first surface 47, and a second surface 48. The first surface 47 and the second surface 48 intersect at a right angle and serve as a reference surface of the integrated optical member 20. A light absorbing film is formed on the entire slope 46.

【0031】図4は受光器60の全体斜視図である。入
射口62を有するパッケージ61にOE素子63が収納
される。OE素子63の信号端子はリード端子64に接
続されてパッケージ61の外部へ導かれる。さらにリー
ド端子64にはフレキシブルケーブル65を接続して、
検査や実装に使用する。
FIG. 4 is an overall perspective view of the light receiver 60. The OE element 63 is housed in a package 61 having an entrance 62. The signal terminal of the OE element 63 is connected to the lead terminal 64 and guided to the outside of the package 61. Furthermore, a flexible cable 65 is connected to the lead terminal 64,
Used for inspection and implementation.

【0032】図5は入射口62から見たOE素子63の
パターン図である。図5において、66は光パワ検出手
段に相当するOE素子パターンである。また、67は受
光手段に相当するOE素子のパターンであって、全体で
10個のOE素子パターンで構成される。なお、OE素
子パターン上に点描表示された領域は第3回折格子40
による回折光が入射した様子を表す。
FIG. 5 is a pattern diagram of the OE element 63 viewed from the entrance 62. In FIG. 5, reference numeral 66 denotes an OE element pattern corresponding to the optical power detection means. Reference numeral 67 denotes an OE element pattern corresponding to the light receiving means, which is composed of ten OE element patterns in total. It should be noted that the stippled area on the OE element pattern is the third diffraction grating 40
FIG. 4 shows a state in which diffracted light due to is incident.

【0033】受光手段67のそれぞれは、光ピックアッ
プとしての光学的なタンジェンシャル方向に順に受光手
段67E、67C、67G、中央部に受光手段67B、
67A、続けて受光手段67F、67D、67Hの8個
のOE素子パターンが形成され、中央部のラジアル方向
にシフトして受光手段67a、67bの2個のOE素子
パターンが形成される。中央部の4個のOE素子パター
ンは主ビームのディスク反射光が格子A41と格子B4
2で回折して入射する。中央部の4個のOE素子パター
ンは逆順に名付けられ、後述する信号処理又は電気的配
線が行われる。受光手段67E、67C、67Gは副ビ
ームのディスク反射光が格子C43と格子D44で回折
して入射する。同様に、受光手段67F、67D、67
Hは他の副ビームのディスク反射光が格子C43と格子
D44で回折して入射する。
Each of the light receiving means 67 includes light receiving means 67E, 67C, 67G in the optical tangential direction as an optical pickup, and light receiving means 67B at the center.
Eight OE element patterns of the light receiving means 67A, 67D, 67H are formed, and two OE element patterns of the light receiving means 67a, 67b are shifted in the radial direction at the center. The four OE element patterns in the central part are such that the disk reflected light of the main beam has a grating A41 and a grating B4.
The light is diffracted by 2 and incident. The four OE element patterns at the center are named in reverse order, and signal processing or electrical wiring described later is performed. The light receiving means 67E, 67C, and 67G make the disk reflected light of the sub beam diffracted by the grating C43 and the grating D44 to enter. Similarly, the light receiving means 67F, 67D, 67
As for H, the disk reflected light of the other sub-beams is diffracted by the grating C43 and the grating D44 to enter.

【0034】光パワ検出手段66には、前述の第2導光
部材25に設けられた側面反射膜32で反射した再生・
記録に寄与しない領域の往路光が結像する。受光手段6
7には、前述の復路光のうち第3回折格子40で反射し
た+1次の反射回折光が結像する。これらのOE素子6
3は受光した光量に応じた検出電流を生じ、後段に接続
される増幅器(図示省略)を伴って、電気信号として取
り出される。
The optical power detecting means 66 has the reproduction / reflection light reflected by the side reflection film 32 provided on the second light guide member 25 described above.
The outward light in an area that does not contribute to recording forms an image. Light receiving means 6
The image of the + 1st-order reflected diffracted light reflected by the third diffraction grating 40 out of the return light described above forms an image on 7. These OE elements 6
Reference numeral 3 generates a detection current corresponding to the amount of received light, and is extracted as an electric signal with an amplifier (not shown) connected to the subsequent stage.

【0035】図5を用いて、第3回折格子40と受光手
段67(A〜H、a、b)のOE素子パターン10個の
関係を説明する。第3回折格子40には4種類の格子領
域が設けられている。先ず、第3回折格子40は光ディ
スク6のラジアル(半径)方向(X軸)に平行な2本の
分割線で3分割され、その弓形に分割されタンジェンシ
ャル(トラックの接線:Y軸)方向に分離した領域の1
つが格子A41であり、他の1つが格子B42である。
格子A41の面積と格子B42の面積とは等しく、第3
回折格子40の全領域面積に対して略1/4(従って格
子A41の面積と格子B42の面積との合計は第3回折
格子40の全領域の略1/2)に相当する。
The relationship between the third diffraction grating 40 and ten OE element patterns of the light receiving means 67 (A to H, a, b) will be described with reference to FIG. The third diffraction grating 40 is provided with four types of grating regions. First, the third diffraction grating 40 is divided into three parts by two dividing lines parallel to the radial (radius) direction (X axis) of the optical disk 6, and is divided into an arcuate shape in the tangential (tangential line of the track: Y axis) direction. One of the isolated areas
One is lattice A41 and the other is lattice B42.
The area of the grid A41 is equal to the area of the grid B42,
The area of the entire area of the diffraction grating 40 corresponds to about 4 (the sum of the area of the grating A41 and the area of the grating B42 is about の of the entire area of the third diffraction grating 40).

【0036】格子A41の反射回折光が結像する領域
は、受光手段67の中央部に設けられた受光手段67A
および受光手段67Bに結像する。また、格子B42の
反射回折光が結像する領域は、受光手段67の中央下部
に設けられた受光手段67aおよび受光手段67bに結
像する。即ち、フォーカス検出用の主ビームとなる。な
お、図5に示すように、中央部の受光手段67Aと受光
手段67Bとは中央下部の受光手段67aと受光手段6
7bの逆順である。また、図中受光手段67A、B、
a、bの左右に設けられた空白領域は第1回折格子22
で生成された副ビームが格子A41と格子B42とによ
って結像する領域となる。つまり、第1回折格子22で
生成された3ビームはディスク面で反射して、復路光3
ビームとなって第3回折格子40に入射し、回折した復
路光3ビームのうち主ビームの回折光だけが受光手段6
7A、B、a、bに結像することになる。
The area where the reflected and diffracted light from the grating A41 forms an image is the light receiving means 67A provided at the center of the light receiving means 67.
And an image is formed on the light receiving means 67B. Further, the area where the reflected and diffracted light of the grating B42 forms an image is formed on the light receiving means 67a and 67b provided at the lower center of the light receiving means 67. That is, it becomes a main beam for focus detection. As shown in FIG. 5, the light receiving means 67A and the light receiving means 67B at the center are different from the light receiving means 67a and the light receiving means 6 at the lower center.
7b is the reverse order. Also, light receiving means 67A, B,
Blank areas provided on the left and right of a and b are the first diffraction gratings 22.
Is an area where the sub-beam generated in step (1) forms an image by the grating A41 and the grating B42. In other words, the three beams generated by the first diffraction grating 22 are reflected by the disk surface and return light 3
Only the diffracted light of the main beam out of the three returning light beams which are incident on the third diffraction grating 40 as a beam,
7A, B, a and b are imaged.

【0037】いま、OE変換された検出電流を記号Iで
表すと、それぞれの受光手段によってIA、IB、I
a、Ibが得られる。そこで、フォーカス検出のために
次のように検出電流を論理構成することができる。即
ち、フォーカスエラー(以下FEと略称する)検出論理
として、 FE={(IA+Ia)−(IB+Ib)} ・・・(数式1) とする。また、受光手段67Aと受光手段67aとをO
E素子63上で結線することもできる。その結果両受光
手段の和を新たにIAと表すことができる。同様に、受
光手段67Bと受光手段67bとを結線すると、両受光
手段の和を新たにIBと表すことができる。従って数式
1に代入して整理すると、 FE=IA−IB ・・・(数式2) が得られる。
Now, when the detected current obtained by the OE conversion is represented by a symbol I, IA, IB, I
a and Ib are obtained. Therefore, the detection current can be logically configured as follows for focus detection. That is, as a focus error (hereinafter abbreviated as FE) detection logic, FE = {(IA + Ia)-(IB + Ib)} (Equation 1). The light receiving means 67A and the light receiving means 67a are
The connection can be made on the E element 63. As a result, the sum of the two light receiving means can be newly expressed as IA. Similarly, when the light receiving means 67B and the light receiving means 67b are connected, the sum of the two light receiving means can be newly expressed as IB. Therefore, by substituting into Equation 1, FE = IA-IB (Equation 2) is obtained.

【0038】数式2によってFE検出論理とすることは
以下のような作用をもたらす。元来、格子A41と格子
B42とは第3回折格子40のタンジェンシャル方向に
対向した弓形領域である。そのため、集積光学部材20
がレーザ素子13の発熱の影響を受けて熱膨張を起こし
たとすると、第3回折格子40の中心部から離れて格子
A41と格子B42とを配置したから、その熱膨張によ
って最も大きな位置変化を起こしやすい。ところが、そ
の格子A41と格子B42との回折光を受光する受光手
段67A、B、a、bはそれぞれ逆順に配置して和をと
り、その逆順和の差(たすき掛け差動)をFE検出論理
としたから、前述の位置変化が引き起こす検出信号のド
リフトやオフセットが数式2によって打ち消されてしま
うことになる。
The use of the FE detection logic according to Equation 2 has the following effects. Originally, the grating A41 and the grating B42 are arcuate regions of the third diffraction grating 40 that face each other in the tangential direction. Therefore, the integrated optical member 20
Suppose that thermal expansion occurs due to the heat generated by the laser element 13, since the grating A 41 and the grating B 42 are arranged apart from the center of the third diffraction grating 40, the largest change in position occurs due to the thermal expansion. Cheap. However, the light receiving means 67A, B, a, and b for receiving the diffracted lights of the grating A41 and the grating B42 are respectively arranged in reverse order to obtain the sum, and the difference of the inverted sum (crossing differential) is determined by the FE detection logic. Therefore, the drift and offset of the detection signal caused by the position change described above are canceled out by Expression 2.

【0039】また、残りの分割領域であって中央の分割
領域は光ディスク6のタンジェンシャル(トラックの接
線:Y軸)方向に平行な分割線でさらに2分割(つまり
4分割領域)され、それぞれが格子C43並びに格子D
44である。即ち格子C43と格子D44との領域は略
D字状に形成される。また、換言すると、第3回折格子
40の分割線はH字状に形成されている。格子C43の
面積と格子D44の面積とは等しく、第3回折格子40
の全領域面積に対してそれぞれ略1/4(従って格子A
41から格子D44の面積はそれぞれ第3回折格子40
の全領域の略1/4)に相当する。
The remaining divided area and the central divided area are further divided into two (that is, four divided areas) by dividing lines parallel to the tangential (tangent to the track: Y axis) direction of the optical disk 6. Lattice C43 and Lattice D
44. That is, the area of the lattice C43 and the lattice D44 is formed in a substantially D shape. In other words, the dividing line of the third diffraction grating 40 is formed in an H shape. The area of the grating C43 is equal to the area of the grating D44, and the third diffraction grating 40
Are approximately 4 of the total area of the
41 to the area of the grating D44 are the third diffraction gratings 40, respectively.
(Approximately 4 of the entire area).

【0040】以上のように格子A41から格子D44の
面積を構成することにより、それぞれの格子(A41〜
D44)に入射する光ビームのパワーを各格子の面積に
ついて積分すると、それぞれの格子がほぼ同量の光パワ
ーを受光することになる。
By configuring the areas of the gratings A41 to D44 as described above, each of the gratings (A41 to A41 to A44) is formed.
If the power of the light beam incident on D44) is integrated over the area of each grating, each grating will receive approximately the same amount of optical power.

【0041】格子C43で回折した復路光3ビームの回
折光は、同様にして、受光手段67の一方の側に設けら
れた受光手段67C、受光手段67E、および受光手段
67Gに結像する。また、同様に、格子D44で回折し
た復路光3ビームの回折光が、受光手段67の他方の側
に設けられた受光手段67D、受光手段67F、および
受光手段67Hに結像する。これら6種類の受光領域
は、トラッキング制御用の3ビームとして検出される。
Similarly, the diffracted light of the three returning light beams diffracted by the grating C43 forms an image on the light receiving means 67C, 67E, and 67G provided on one side of the light receiving means 67. Similarly, the diffracted light of the three returning light beams diffracted by the grating D44 forms an image on the light receiving means 67D, 67F, and 67H provided on the other side of the light receiving means 67. These six types of light receiving areas are detected as three beams for tracking control.

【0042】前述のFE検出論理と同様に、6種類の格
子領域による検出電流を論理構成することができる。即
ち、トラッキングエラー(以下TEと略称する)検出論
理として、 TE=IC−ID−k{(IE+IG)−(IF+IH)} ・・・(数式3 ) (但し、kは動作設定に応じて定まる定数)が得られ
る。
Similarly to the FE detection logic described above, it is possible to logically configure the detection currents by the six types of lattice regions. That is, as a tracking error (hereinafter abbreviated as TE) detection logic, TE = IC-ID-k {(IE + IG)-(IF + IH)} (Equation 3) (where k is a constant determined according to the operation setting) ) Is obtained.

【0043】数式3によってTE検出論理とすることは
以下のような作用をもたらす。先ず、受光手段67C、
67Dは主ビームの検出を行うから、数式3の第1項と
第2項は通常のTE検出である。
The use of the TE detection logic according to Equation 3 has the following effects. First, the light receiving means 67C,
Since 67D detects the main beam, the first and second terms of Expression 3 are normal TE detection.

【0044】次に、数式3の大かっこに表す第3項は、
第3回折格子40の格子C43と格子D44から得られ
るそれぞれの副ビーム検出電流の和を得て差動すること
を意味する。従って、前述のFE検出論理と同様に、前
述の位置変化が引き起こす検出信号のドリフトやオフセ
ットが数式3によって打ち消されてしまうことになる。
Next, the third term expressed by the brackets in Expression 3 is as follows:
This means that the sum of the respective sub-beam detection currents obtained from the grating C43 and the grating D44 of the third diffraction grating 40 is obtained and differentiated. Therefore, similarly to the above-described FE detection logic, the drift and offset of the detection signal caused by the above-described position change are canceled out by Expression 3.

【0045】特に、格子A41と格子B42とを弓形の
領域に分割したので、2分割受光手段の受光手段67A
と受光手段67Bおよび受光手段67aと受光手段67
bのセンサ面積に対する入射形状を無駄なく配光するこ
とができる。同様に、格子C43と格子D44とをD字
状の領域にに分割したので、独立した受光手段の受光手
段67Cから受光手段67Hのセンサ面積に対する入射
形状を無駄なく配光することもできる。さらに加えて、
格子A41から格子D44の面積を第3回折格子40の
全領域を4等分するように構成したので、第3回折格子
40を容易に形成することができる。
In particular, since the grating A41 and the grating B42 are divided into arcuate regions, the light receiving means 67A of the two-divided light receiving means is divided.
And light receiving means 67B and light receiving means 67a and light receiving means 67
It is possible to distribute the incident shape with respect to the sensor area b without waste. Similarly, since the grating C43 and the grating D44 are divided into D-shaped regions, it is possible to distribute the light from the light receiving means 67C of the independent light receiving means to the sensor area of the light receiving means 67H without waste. In addition,
Since the area from the grating A41 to the grating D44 is configured to divide the entire region of the third diffraction grating 40 into four, the third diffraction grating 40 can be easily formed.

【0046】また、以上のような回折格子の領域分割の
構成とすることにより、 (IA+IB)+(Ia+Ib)≒(IC+ID) ・・・(数式4) RF信号検出や、FE、TEの各信号検出にバランスよ
く光パワーを供給することができる。
Further, by adopting the above-described structure of dividing the area of the diffraction grating, (IA + IB) + (Ia + Ib) ≒ (IC + ID) (Equation 4) RF signal detection and each signal of FE and TE Optical power can be supplied in a well-balanced manner for detection.

【0047】なお、本実施の形態における動作設定の詳
細を説明する。定数kは、 k=(IC+ID)/(IE+IF+IG+IH) ・・・(数式5) として表され、通常k≒1.0になるように、それぞれ
の受光手段をOE変換するときの増幅度を調整する。こ
こで、前述のように、第1回折格子22によって形成さ
れた3ビームは、0次光の主ビームの光パワーが10
で、±1次光の副ビームの光パワーが1となるような比
率に形成されている。
The operation setting in this embodiment will be described in detail. The constant k is expressed as: k = (IC + ID) / (IE + IF + IG + IH) (Equation 5), and usually adjusts the degree of amplification at the time of OE conversion of each light receiving means so that k ≒ 1.0. . Here, as described above, the three beams formed by the first diffraction grating 22 have an optical power of the main beam of the zero-order light of 10%.
Thus, the ratio is formed such that the optical power of the sub-beams of the ± 1st order light is 1.

【0048】そこで、上記数式5の各受光手段に光パワ
ーの比を代入した上で、k≒1.0の条件を満たすに
は、受光手段67A、67Bの増幅度に比べ、受光手段
67E、67F、67G、および67Hの増幅度を約5
倍に設定することで、解決される。
In order to satisfy the condition of k パ ワ ー 1.0 after substituting the ratio of the optical power into each of the light receiving means of the above equation (5), the light receiving means 67E, 67E are compared with the amplification degree of the light receiving means 67A, 67B. The amplification of 67F, 67G and 67H is about 5
Setting it to double solves it.

【0049】しかしながら、特に、副ビームが検出しよ
うとする領域はクロストークの影響を受けやすく、TE
信号はSN比の低下をもたらしたり、サーボのオフセッ
トが増えたりする恐れがある。従って、可能な限り前述
の5倍の増幅度は上げずに調整されるのが望ましい。
However, in particular, the region where the sub-beam is to be detected is easily affected by crosstalk, and TE
The signal may cause a decrease in the S / N ratio or increase the servo offset. Therefore, it is desirable that the above-mentioned five-fold amplification is adjusted without increasing as much as possible.

【0050】そこで、これらの条件を満たすために、3
ビームの特徴を活かした格子A41から格子D44の変
形例について説明する。図6は、格子の変形例とOE素
子の関係を説明する図である。図6において、70は第
3回折格子であって、図3及び図5に示す第3回折格子
40に相当する。従って、67は図5における受光手段
67に同じである。格子A71、格子B72、格子C7
3、及び格子D74のそれぞれは図5における格子A4
1から格子D44のそれぞれに相当する。格子A71か
ら格子74の分割線の方向(ラジアル方向X、タンジェ
ンシャル方向Y)もまた同様である。
Therefore, in order to satisfy these conditions, 3
Modified examples of the gratings A41 to D44 utilizing the characteristics of the beam will be described. FIG. 6 is a diagram for explaining the relationship between the modified example of the grating and the OE element. In FIG. 6, reference numeral 70 denotes a third diffraction grating, which corresponds to the third diffraction grating 40 shown in FIGS. Therefore, 67 is the same as the light receiving means 67 in FIG. Lattice A71, Lattice B72, Lattice C7
3 and the grid D74 are each a grid A4 in FIG.
1 to the lattice D44. The same applies to the directions (radial direction X and tangential direction Y) of the dividing lines from the lattice A71 to the lattice 74.

【0051】異なる点は、格子C73に相当する分離格
子A75を格子A71の領域に設けた点にある。同様
に、格子C73に相当する分離格子B76を格子B72
の領域に設け、格子D74に相当する分離格子C77を
格子A71の領域に設け、格子D74に相当する分離格
子D78を格子B72の領域にそれぞれ設けたものであ
る。そして、格子C73と分離格子A75と分離格子B
76とが同一の方向(換言すれば、同一のOE素子の位
置)に回折し、格子D74と分離格子C77と分離格子
D78とが同一の方向(同様に、同一のOE素子の位
置)に回折をするように、それぞれの分離格子A75か
ら分離格子D78が形成されている。分離格子A75か
ら分離格子D78のそれぞれは面積、回折する光パワー
の条件はすべて同じである。
The difference is that a separation grid A75 corresponding to the grid C73 is provided in the area of the grid A71. Similarly, a separation grid B76 corresponding to the grid C73 is replaced with a grid B72.
, A separation grating C77 corresponding to the grating D74 is provided in the region of the grating A71, and a separation grating D78 corresponding to the grating D74 is provided in the region of the grating B72. Then, the grating C73, the separating grating A75, and the separating grating B
76 diffracts in the same direction (in other words, the position of the same OE element), and the grating D74, the separation grating C77, and the separation grating D78 diffract in the same direction (similarly, the position of the same OE element). A separation grating D78 is formed from the respective separation gratings A75. Each of the separation gratings A75 to D78 has the same area and the same condition of the diffracted light power.

【0052】以上の条件を各検出信号に当てはめて、動
作を検証する。上述のように、格子C73と分離格子A
75と分離格子B76とが同一の方向に回折するから、
主ビームの格子C73による回折光は受光手段67Cに
入射する。また同時に、主ビームの分離格子A75と分
離格子B76とによる回折光は受光手段67Cに入射す
る。同様にして、±1次光の副ビームの回折光は受光手
段67Eと67Gとにそれぞれ入射する。また、同様に
格子D74と分離格子C77と分離格子D78とが同一
の方向に回折するから、主ビームの格子D74による回
折光は受光手段67Dに入射する。また同時に、主ビー
ムの分離格子C77と分離格子D78とによる回折光は
受光手段67Dに入射する。同様にして、±1次光の副
ビームの回折光は受光手段67Fと67Hとにそれぞれ
入射する。
The above conditions are applied to each detection signal to verify the operation. As described above, the grating C73 and the separation grating A
Since 75 and the separation grating B76 diffract in the same direction,
The light diffracted by the main beam grating C73 enters the light receiving means 67C. At the same time, the diffracted light of the main beam by the separation gratings A75 and B76 enters the light receiving means 67C. Similarly, the diffracted light of the sub-beam of the ± 1st-order light enters the light receiving means 67E and 67G, respectively. Similarly, since the grating D74, the separation grating C77, and the separation grating D78 are diffracted in the same direction, the diffracted light of the main beam by the grating D74 is incident on the light receiving means 67D. At the same time, the diffracted light of the main beam by the separation grating C77 and the separation grating D78 enters the light receiving means 67D. Similarly, the diffracted light of the sub-beam of the ± 1st-order light enters the light receiving means 67F and 67H, respectively.

【0053】以上の入射条件を考慮すると、数式1、2
におけるFE信号は、分離格子を設けた面積が等しいか
らFE検出機能に影響がない。数式3におけるTE信号
は、第1項と第2項および大かっこの第3項共に、分離
格子を設けた面積が等しいからTE検出機能に影響がな
い。
Taking the above incident conditions into consideration, Equations 1 and 2
Have no effect on the FE detection function because the areas where the separation gratings are provided are equal. The TE signal in Equation 3 does not affect the TE detection function because the first and second terms and the third term of the brackets have the same area where the separation grating is provided.

【0054】次に、数式4について、検証する。分離格
子A75から分離格子D78のそれぞれは第3回折格子
70の周辺領域にあたるから、0次光の主ビームに対し
て、影響は小さく、数式4の条件はほとんど影響を受け
ずに維持される。数式5において、同様に、分子はほと
んど影響を受けずに維持される。他方、±1次光の副ビ
ームの光パワーは第3回折格子70の周辺領域に入射す
るから、格子C73と格子D74との光パワーに加え、
分離格子A75から分離格子D78の光パワーが加算さ
れる。そして、分母は増加する。その結果、受光手段6
7E、67F、67G、および67Hの増幅度は5倍よ
りも遙かに低く設定することができる。従って、クロス
トークの影響を受けにくい信号の検出動作を実現するこ
とができる。
Next, Expression 4 will be verified. Since each of the separation grating A75 to the separation grating D78 corresponds to the peripheral region of the third diffraction grating 70, the influence on the main beam of the zero-order light is small, and the condition of Expression 4 is maintained almost unaffected. In Equation 5, similarly, the numerator remains almost unaffected. On the other hand, since the optical power of the sub beam of the ± 1st-order light is incident on the peripheral region of the third diffraction grating 70, in addition to the optical power of the grating C73 and the grating D74,
The optical power of the separation grating D78 is added from the separation grating A75. And the denominator increases. As a result, the light receiving means 6
The amplification of 7E, 67F, 67G and 67H can be set much lower than 5 times. Therefore, it is possible to realize a signal detection operation that is not easily affected by crosstalk.

【0055】以上のように構成された複合素子2の全体
の動作について図7に基づいて説明する。図7は複合素
子2の動作説明図である。先ず、リード18に所要の接
続がなされ、レーザ素子13は発光点19から拡散光1
01を出射する。そして、カバーガラス17を通過し
て、第1導光部材21に入射する。
The overall operation of the composite device 2 configured as described above will be described with reference to FIG. FIG. 7 is an explanatory diagram of the operation of the composite device 2. First, the required connection is made to the lead 18, and the laser element 13 emits the diffused light 1 from the light emitting point 19.
01 is emitted. Then, the light passes through the cover glass 17 and enters the first light guide member 21.

【0056】第1導光部材21では、不要な外乱光や所
定の拡散角度以上に拡がった光を光吸収膜23によって
吸収すると共に、第1回折格子22によって拡散光10
1を3ビームの往路光102に変換する。
In the first light guide member 21, unnecessary disturbance light or light spread beyond a predetermined diffusion angle is absorbed by the light absorbing film 23, and the diffused light 10
1 is converted into three-beam outward light 102.

【0057】往路光102は第1導光部材21から第2
導光部材25に入射する。第2導光部材25中を進行し
た往路光102は斜面26に到達する。往路光102の
うちほとんどの光量は往復路分離膜28を透過し、第3
導光部材35へ入射する。さらに、第3導光部材35の
透過面38を透過して、ミラー4によって光ディスク6
に向かって進路変更して、対物レンズ5によって収束光
となって、光ディスク6に入射する。
The outward light 102 is transmitted from the first light guide member 21 to the second light guide member 21.
The light enters the light guide member 25. The outward light 102 traveling in the second light guide member 25 reaches the slope 26. Most of the outgoing light 102 is transmitted through the reciprocating path separation film 28,
The light enters the light guide member 35. Further, the light passes through the transmission surface 38 of the third light guide member 35 and is reflected by the mirror 4 on the optical disk 6.
, And is changed to a convergent light by the objective lens 5 to be incident on the optical disk 6.

【0058】斜面26に到達した拡散光である往路光1
02のうち再生・記録に寄与しない領域の往路光102
は第2回折格子27に入射する。そして、収束光のモニ
タ反射回折光103となって側面反射膜32へ進行し、
再び反射して第2導光部材25と第3導光部材35とを
透過貫通して射出面39から射出する。モニタ反射回折
光103は受光器60の光パワ検出手段66に結像す
る。こうして、往路光102の一部であってしかも再生
・記録に寄与しない領域の往路光102を光パワの検出
に使用するから、レーザ素子13の光パワに正確に比例
した光パワの検出を行うことができ、しかも本来の再生
・記録に光量の影響を与えることのないきわめて優れた
フロントモニタ方式を提供することができる。
Outgoing light 1 which is diffused light that has reached the slope 26
02 outgoing light 102 in an area that does not contribute to reproduction / recording
Are incident on the second diffraction grating 27. Then, the converged light becomes the monitor reflected diffraction light 103, which travels to the side reflection film 32,
The light is reflected again, passes through the second light guide member 25 and the third light guide member 35, and exits from the exit surface 39. The monitor reflected diffraction light 103 forms an image on the optical power detection means 66 of the light receiver 60. Thus, the outgoing light 102 which is a part of the outgoing light 102 and which does not contribute to reproduction / recording is used for detecting the optical power, so that the optical power that is accurately proportional to the optical power of the laser element 13 is detected. Thus, it is possible to provide an extremely excellent front monitor system that does not affect the original reproduction / recording by the light amount.

【0059】次に、光ディスク6の記録層から反射した
復路光104は、逆順に対物レンズ5、ミラー4を経て
第3導光部材35の透過面38に入射する。復路光10
4は往復路分離膜28によって反射され、第3導光部材
35の第3回折格子40へ進行する。第3回折格子40
では+1次回折光を主成分とする復路反射回折光105
となる。復路反射回折光105は第2導光部材25の補
助反射膜30で再び反射して、射出面39から受光器6
0に向かって射出する。しかも、それぞれの格子A41
から格子D44の格子領域から反射された復路反射回折
光105がそれぞれの受光手段67Aから受光手段67
Hに結像する。こうして、受光手段67Aから受光手段
67Hの検出信号を組み合わせて、フォーカス制御とト
ラッキング制御を行うことができる。
Next, the return light 104 reflected from the recording layer of the optical disk 6 is incident on the transmission surface 38 of the third light guide member 35 through the objective lens 5 and the mirror 4 in reverse order. Return light 10
4 is reflected by the reciprocating path separation film 28 and proceeds to the third diffraction grating 40 of the third light guide member 35. Third diffraction grating 40
The return-path reflected diffracted light 105 mainly composed of the + 1st-order diffracted light
Becomes The return-path reflected diffracted light 105 is reflected again by the auxiliary reflection film 30 of the second light guide member 25,
Inject toward 0. Moreover, each grid A41
The return-path reflected diffracted light 105 reflected from the grating area of the grating D44 from the light receiving means 67A to the light receiving means 67, respectively.
H is imaged. Thus, the focus control and the tracking control can be performed by combining the detection signals from the light receiving means 67A to 67H.

【0060】[0060]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の光
ピックアップ装置によれば、汎用の発光素子を用いて光
ピックアップ装置を小型で、安価に構成すると共に精度
よく組み立てることができ、併せて、発光素子の光パワ
を正確かつ効率よく検出することのできる光ピックアッ
プ装置を提供することができる。
As described in detail above, according to the optical pickup device of the present invention, the optical pickup device can be constructed small and inexpensively using a general-purpose light emitting element and can be assembled with high accuracy. Thus, it is possible to provide an optical pickup device that can accurately and efficiently detect the optical power of the light emitting element.

【0061】また、集積光学部材がレーザ素子の発熱の
影響を受けて熱膨張を起こしたとしても、受光手段はそ
れぞれ逆順に配置して和をとり、その逆順和の差(たす
き掛け差動)をFE検出論理としたから、熱膨張による
位置変化が引き起こすFE検出信号のドリフトやオフセ
ットが数式2によって打ち消されてしまうことになる。
また同様に、前述の熱膨張による位置変化が引き起こす
TE検出信号のドリフトやオフセットが数式3によって
打ち消されてしまうことになる。
Even if the integrated optical member undergoes thermal expansion under the influence of heat generated by the laser element, the light receiving means are arranged in the reverse order to obtain a sum, and the difference of the reverse order sum (cross differential). Is used as the FE detection logic, the drift and offset of the FE detection signal caused by the position change due to the thermal expansion are canceled out by Expression 2.
Similarly, the drift and offset of the TE detection signal caused by the above-described position change due to thermal expansion are canceled out by Expression 3.

【0062】特に、格子Aと格子Bとを弓形の領域に分
割し、格子Cと格子DとをD字状の領域に分割したの
で、受光手段の各センサ面積に対する入射形状を無駄な
く配光することもできる。
In particular, since the grating A and the grating B are divided into arcuate regions, and the grating C and the grating D are divided into D-shaped regions, the incident shape with respect to each sensor area of the light receiving means is lightly distributed. You can also.

【0063】さらに加えて、格子Aから格子Dの面積を
第3回折格子の全領域を4等分するように構成したの
で、回折格子を容易に形成することができる。さらに、
格子Cに相当する分離格子Aと分離格子Bを格子Aと格
子Bとの領域に設け、格子Dに相当する分離格子Cと分
離格子Dを格子Aと格子Bの領域にそれぞれ設けたもの
である。
In addition, since the area of the grating A to the grating D is configured so that the entire area of the third diffraction grating is divided into four equal parts, the diffraction grating can be easily formed. further,
Separation gratings A and B corresponding to the grating C are provided in the regions of the gratings A and B, and separation gratings C and D corresponding to the grating D are provided in the regions of the gratings A and B, respectively. is there.

【0064】こうして、使用温度の変動によって検出光
学系が影響を受けることのなく、クロストークの影響を
受けにくい信号の検出動作を実現することができる集積
光学部材、及びこの集積光学部材を用いた光ピックアッ
プ装置、並びにこの光ピックアップ装置を用いた光ディ
スク装置併せて、フォーカスエラー検出方法、トラッキ
ングエラー検出方法を提供することができる。
As described above, the integrated optical member capable of realizing the signal detecting operation which is hardly affected by the crosstalk without affecting the detecting optical system due to the change of the use temperature, and the integrated optical member. It is possible to provide a focus error detection method and a tracking error detection method in addition to an optical pickup device and an optical disk device using the optical pickup device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】光ピックアップの全体を表す斜視図FIG. 1 is a perspective view showing an entire optical pickup.

【図2】複合素子の全体を表す斜視図FIG. 2 is a perspective view showing the entire composite device.

【図3】集積光学部材の分解斜視図FIG. 3 is an exploded perspective view of the integrated optical member.

【図4】受光器の全体斜視図FIG. 4 is an overall perspective view of a light receiver.

【図5】入射口から見たOE素子のパターン図FIG. 5 is a pattern diagram of the OE element viewed from the entrance.

【図6】格子の変形例とOE素子の関係を説明する図FIG. 6 is a view for explaining the relationship between a modified example of the grating and the OE element.

【図7】複合素子の動作説明図FIG. 7 is an explanatory diagram of the operation of the composite device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光ピックアップ 2 複合素子 3 光ビーム 4 ミラー 5 対物レンズ 6 光ディスク 7 アクチュエータ 8 キャリッジ 10 光源 11 汎用半導体レーザ 12 ベース部材 13 レーザ素子 16 射出口 17 カバーガラス 18 リード 19 発光点 20 集積光学部材 21 第1導光部材 22 第1回折格子 23 光吸収膜 25 第2導光部材 26 斜面 27 第2回折格子 28 往復路分離膜 29 光路有効領域 30 補助反射膜 31 側面 32 側面反射膜 35 第3導光部材 36 第1斜面 37 第2斜面 38 透過面 39 射出面 40、70 第3回折格子 41、71 格子A 42、72 格子B 43、73 格子C 44、74 格子D 45 第4導光部材 46 斜面 47 第1面 48 第2面 60 受光器 61 パッケージ 62 入射口 63 OE素子 64 リード端子 65 フレキシブルケーブル 66 光パワ検出手段 67A〜67H 受光手段 75 分離格子A 76 分離格子B 77 分離格子C 78 分離格子D 101 拡散光 102 往路光 103 モニタ反射回折光 104 復路光 105 復路反射回折光 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical pickup 2 Composite element 3 Light beam 4 Mirror 5 Objective lens 6 Optical disk 7 Actuator 8 Carriage 10 Light source 11 General-purpose semiconductor laser 12 Base member 13 Laser element 16 Exit 17 Cover glass 18 Lead 19 Light emitting point 20 Integrated optical member 21 First Light guide member 22 First diffraction grating 23 Light absorption film 25 Second light guide member 26 Slope 27 Second diffraction grating 28 Reciprocating path separation film 29 Optical path effective area 30 Auxiliary reflection film 31 Side surface 32 Side reflection film 35 Third light guide member 36 first slope 37 second slope 38 transmission plane 39 exit plane 40, 70 third diffraction grating 41, 71 grating A 42, 72 grating B 43, 73 grating C 44, 74 grating D 45 fourth light guide member 46 slope 47 First surface 48 Second surface 60 Light receiver 61 Package 62 Entrance port 63 OE element 6 Lead terminals 65 flexible cable 66 optical power detecting means 67A~67H light receiving means 75 separating grating A 76 separation grating B 77 backward separation grating C 78 separation grating D 101 diffused light 102 outgoing light 103 monitors reflected diffraction light 104 backward light 105 reflected diffraction light

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 後藤 博志 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 古川 文信 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 小野 栄三 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 三政 治郎 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 古賀 稔浩 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 2H049 AA02 AA06 AA45 AA50 AA57 AA64 AA66 5D118 AA14 CD02 CD03 CF17 CG02 DA20 DA33 DA35 DB16 DB27 5D119 AA36 EA02 EA03 JA24  ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (72) Inventor Hiroshi Goto 1006 Kadoma Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Inventor Eizo Ono 1006 Kadoma Kadoma, Osaka Pref.Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Hiroshi 1006 Kadoma, Kadoma, Osaka Prefecture F-term (reference) 2H049 AA02 AA06 AA45 AA50 AA57 AA64 AA66 5D118 AA14 CD02 CD03 CF17 CG02 DA20 DA33 DA35 DB16 DB27 5D119 AA36 EA02 EA03 JA24

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】発光素子の発光光束を光ディスクへ導くと
共に光ディスクからの反射光のうちから必要な光束を分
離する集積光学部材であって、 前記集積光学手段はその内部に複数の光学面を含み、前
記反射光のうちからトラッキング制御とフォーカス制御
に必要な光束を抽出する回折格子が前記光学面のいずれ
かに形成されたことを特徴とする集積光学部材。
An integrated optical member for guiding a light beam emitted from a light emitting element to an optical disk and separating a required light beam from reflected light from the optical disk, wherein the integrated optical means includes a plurality of optical surfaces therein. An integrated optical member, wherein a diffraction grating for extracting a light beam required for tracking control and focus control from the reflected light is formed on any of the optical surfaces.
【請求項2】前記回折格子は、光ディスクの半径方向に
平行な2本の分割線で3分割された中央領域とタンジェ
ンシャル方向に分離した2つの弓形領域とに分割され、
さらに前記中央領域は光ディスクのタンジェンシャル方
向に平行な分割線でさらに2分割された略D字状領域に
分割されていることを特徴とする請求項1記載の集積光
学部材。
2. The diffraction grating is divided into a central region divided into three by two division lines parallel to a radial direction of the optical disk and two arcuate regions separated in a tangential direction.
2. The integrated optical member according to claim 1, wherein the central area is further divided into a substantially D-shaped area further divided into two by a dividing line parallel to a tangential direction of the optical disc.
【請求項3】2つの前記弓形領域と2つの前記略D字状
領域とはそれぞれ前記回折格子の全領域を略4等分する
面積に形成されていることを特徴とする請求項2記載の
集積光学部材。
3. The device according to claim 2, wherein each of the two arc-shaped regions and the two substantially D-shaped regions are formed to have an area that divides the entire region of the diffraction grating into approximately four equal parts. Integrated optics.
【請求項4】前記回折格子は、H字状の分割線により前
記回折格子の全領域を2つの弓形領域と2つの略D字状
領域とに略4等分する面積に分割形成されていることを
特徴とする請求項1記載の集積光学部材。
4. The diffraction grating is formed by dividing an entire region of the diffraction grating into two arc-shaped regions and two substantially D-shaped regions by an H-shaped dividing line into approximately four equal parts. The integrated optical member according to claim 1, wherein:
【請求項5】前記2つの弓形領域にはそれぞれ前記略D
字状領域と同一の方向に回折する分離格子が形成されて
いることを特徴とする請求項2から請求項4のいずれか
1に記載の集積光学部材。
5. Each of the two arcuate regions has the substantially D shape.
The integrated optical member according to any one of claims 2 to 4, wherein a separation grating that diffracts in the same direction as the character-shaped region is formed.
【請求項6】発光素子と、前記発光素子の発光光束を光
ディスクへ導くと共に光ディスクからの反射光のうちか
ら必要な光束を分離する集積光学部材と、光を受光して
電気信号に変換する受光手段と、前記発光素子と前記集
積光学部材と前記受光手段とを相互の位置に保持する結
合手段とを有する光ピックアップ装置であって、 前記集積光学部材はその内部に複数の光学面を含み、前
記反射光のうちからトラッキング制御とフォーカス制御
に必要な光束を抽出する回折格子が前記光学面のいずれ
かに形成されたことを特徴とする光ピックアップ装置。
6. A light-emitting element, an integrated optical member for guiding a light beam emitted from the light-emitting element to an optical disk and separating a required light beam from reflected light from the optical disk, and a light-receiving element for receiving light and converting the light into an electric signal Means, and an optical pickup device having coupling means for holding the light emitting element, the integrated optical member, and the light receiving means in a mutual position, wherein the integrated optical member includes a plurality of optical surfaces therein, An optical pickup device, wherein a diffraction grating for extracting a light beam necessary for tracking control and focus control from the reflected light is formed on one of the optical surfaces.
【請求項7】前記回折格子は、光ディスクの半径方向に
平行な2本の分割線で3分割された中央領域とタンジェ
ンシャル方向に分離した2つの弓形領域とに分割され、
さらに前記中央領域は光ディスクのタンジェンシャル方
向に平行な分割線でさらに2分割された略D字状領域に
分割され、2つの前記弓形領域と2つの前記略D字状領
域とはそれぞれ前記回折格子の全領域を略4等分する面
積に形成されていることを特徴とする請求項6記載の光
ピックアップ装置。
7. The diffraction grating is divided into a central area divided into three by two dividing lines parallel to a radial direction of the optical disc and two arcuate areas separated in a tangential direction.
Further, the central area is further divided into two substantially D-shaped areas by a dividing line parallel to the tangential direction of the optical disk, and the two arc-shaped areas and the two substantially D-shaped areas are each a diffraction grating. 7. The optical pickup device according to claim 6, wherein the optical pickup device is formed in an area that divides the entire region into approximately four equal parts.
【請求項8】前記回折格子は、H字状の分割線により前
記回折格子の全領域を2つの弓形領域と2つの略D字状
領域とに略4等分する面積に分割形成されていることを
特徴とする請求項6記載の光ピックアップ装置。
8. The diffraction grating is formed by dividing an entire area of the diffraction grating into two arc-shaped areas and two substantially D-shaped areas by an H-shaped dividing line. 7. The optical pickup device according to claim 6, wherein:
【請求項9】前記2つの弓形領域にはそれぞれ前記略D
字状領域と同一の方向に回折する分離格子が形成されて
いることを特徴とする請求項7または請求項8に記載の
光ピックアップ装置。
9. Each of the two arcuate regions has the substantially D shape.
9. The optical pickup device according to claim 7, wherein a separation grating diffracting in the same direction as the character-shaped region is formed.
【請求項10】発光素子と、前記発光素子の発光光束を
光ディスクへ導くと共に光ディスクからの反射光のうち
から必要な光束を分離する集積光学部材と、光を受光し
て電気信号に変換する受光手段と、前記発光素子と前記
集積光学部材と前記受光手段とを相互の位置に保持する
結合手段とを有する光ピックアップ装置であって、 前記集積光学部材はその内部に複数の光学面を含み、前
記反射光のうちからトラッキング制御とフォーカス制御
に必要な光束を抽出する回折格子を前記光学面のいずれ
かに形成すると共に、前記回折格子をタンジェンシャル
方向に分離した第1の弓形領域と第2の弓形領域と、第
1の略D字状領域と第2の略D字状領域とに4分割し、 前記受光手段は、前記第1の弓形領域の回折光を受光す
る2個の前記受光手段と、前記第2の弓形領域の回折光
を受光する2個の前記受光手段と、前記第1の略D字状
領域の回折光を受光する3個の前記受光手段と、前記第
2の略D字状領域の回折光を受光する3個の前記受光手
段とを有することを特徴とする光ピックアップ装置。
10. A light-emitting element, an integrated optical member for guiding a light beam emitted from the light-emitting element to an optical disk and separating a required light beam from light reflected from the optical disk, and a light-receiving element for receiving light and converting the light into an electric signal Means, and an optical pickup device having coupling means for holding the light emitting element, the integrated optical member, and the light receiving means in a mutual position, wherein the integrated optical member includes a plurality of optical surfaces therein, A diffraction grating for extracting a light beam necessary for tracking control and focus control from the reflected light is formed on one of the optical surfaces, and a first arcuate region in which the diffraction grating is separated in a tangential direction and a second arcuate region. And a first substantially D-shaped region and a second substantially D-shaped region are divided into four, and the light receiving means receives the diffracted light of the first arcuate region. hand And two light receiving means for receiving the diffracted light in the second arcuate region; three light receiving means for receiving the diffracted light in the first substantially D-shaped region; An optical pickup device comprising: three of the light receiving means for receiving diffracted light in a D-shaped region.
【請求項11】前記第1の弓形領域の回折光を受光する
2個の前記受光手段の検出信号をそれぞれIA、IBと
し、前記第2の弓形領域の回折光を受光する逆順に配置
した2個の前記受光手段の検出信号をそれぞれIa、I
bとしたとき、フォーカスエラー信号(FA)を、 FA={(IA+Ia)−(IB+Ib)} なる関係式により算出することを特徴とする請求項10
記載の光ピックアップ装置。
11. The detection signals of the two light receiving means for receiving the diffracted light of the first arcuate region are respectively IA and IB, and are arranged in reverse order of receiving the diffracted light of the second arcuate region. The detection signals of the light receiving means are Ia and Ia, respectively.
11. The focus error signal (FA) is calculated by a relational expression of FA = {(IA + Ia)-(IB + Ib)} where b.
An optical pickup device as described in the above.
【請求項12】前記第1の略D字状領域の回折光を受光
する3個の前記受光手段の検出信号をそれぞれIC、I
E、IGとし、前記第2の略D字状領域の回折光を受光
する3個の前記受光手段の検出信号をそれぞれID、I
F、IHとしたとき、トラッキングエラー信号(TA)
を、 TE=IC−ID−k{(IE+IG)−(IF+I
H)} (但し、kは動作設定に応じて定まる定数)なる関係式
により算出することを特徴とする請求項10記載の光ピ
ックアップ装置。
12. The detection signals of the three light receiving means for receiving the diffracted light in the first substantially D-shaped area are respectively represented by IC and I.
E and IG, and the detection signals of the three light receiving means for receiving the diffracted light in the second substantially D-shaped region are ID and I, respectively.
F, IH, tracking error signal (TA)
TE = IC−ID−k {(IE + IG) − (IF + I
The optical pickup device according to claim 10, wherein the optical pickup device is calculated by a relational expression H) H (where k is a constant determined according to an operation setting).
【請求項13】請求項6から請求項12に記載の光ピッ
クアップ装置を使用したことを特徴とする光ディスク装
置。
13. An optical disk device using the optical pickup device according to claim 6.
【請求項14】発光素子の発光光束を光ディスクへ導く
と共に光ディスクからの反射光のうちから必要な光束を
分離する集積光学部材と、光を受光して電気信号に変換
する受光手段とを有し、 前記集積光学部材はその内部に複数の光学面を含み、前
記反射光のうちからトラッキング制御とフォーカス制御
に必要な光束を抽出する回折格子を前記光学面のいずれ
かに形成すると共に、前記回折格子をタンジェンシャル
方向に分離した第1の弓形領域と第2の弓形領域と、第
1の略D字状領域と第2の略D字状領域とに4分割し、 前記受光手段は、前記第1の弓形領域の回折光を受光す
る2個の前記受光手段と、前記第2の弓形領域の回折光
を受光する2個の前記受光手段と、前記第1の略D字状
領域の回折光を受光する3個の前記受光手段と、前記第
2の略D字状領域の回折光を受光する3個の前記受光手
段とを形成した光ピックアップ装置のフォーカスエラー
検出方法であって、 前記第1の弓形領域の回折光を受光する2個の前記受光
手段の検出信号をそれぞれIA、IBとし、前記第2の
弓形領域の回折光を受光する逆順に配置した2個の前記
受光手段の検出信号をそれぞれIa、Ibとしたとき、
フォーカスエラー信号(FA)を、 FA={(IA+Ia)−(IB+Ib)} なる関係式により算出することを特徴とするフォーカス
エラー検出方法。
14. An integrated optical member for guiding a light beam emitted from a light emitting element to an optical disk and separating a required light beam from reflected light from the optical disk, and a light receiving means for receiving light and converting the light into an electric signal. The integrated optical member includes a plurality of optical surfaces therein, and forms a diffraction grating on one of the optical surfaces for extracting a light flux required for tracking control and focus control from the reflected light, and the diffraction grating The grating is divided into a first arcuate region and a second arcuate region separated in the tangential direction, a first substantially D-shaped region, and a second substantially D-shaped region. Two light receiving means for receiving the diffracted light in the first arcuate region, two light receiving means for receiving the diffracted light in the second arcuate region, and diffraction of the first substantially D-shaped region Three light receiving means for receiving light; A focus error detection method for an optical pickup device, comprising: three light receiving means for receiving the diffracted light in the second substantially D-shaped region, wherein the light receiving device receives the diffracted light in the first arcuate region. When the detection signals of the two light receiving units are IA and IB, respectively, and the detection signals of the two light receiving units arranged in reverse order to receive the diffracted light in the second arcuate region are Ia and Ib, respectively,
A focus error detection method, wherein a focus error signal (FA) is calculated by a relational expression of FA = {(IA + Ia)-(IB + Ib)}.
【請求項15】発光素子の発光光束を光ディスクへ導く
と共に光ディスクからの反射光のうちから必要な光束を
分離する集積光学部材と、光を受光して電気信号に変換
する受光手段とを有し、 前記集積光学部材はその内部に複数の光学面を含み、前
記反射光のうちからトラッキング制御とフォーカス制御
に必要な光束を抽出する回折格子を前記光学面のいずれ
かに形成すると共に、前記回折格子をタンジェンシャル
方向に分離した第1の弓形領域と第2の弓形領域と、第
1の略D字状領域と第2の略D字状領域とに4分割し、 前記受光手段は、前記第1の弓形領域の回折光を受光す
る2個の前記受光手段と、前記第2の弓形領域の回折光
を受光する2個の前記受光手段と、前記第1の略D字状
領域の回折光を受光する3個の前記受光手段と、前記第
2の略D字状領域の回折光を受光する3個の前記受光手
段とを形成した光ピックアップ装置のトラッキングエラ
ー検出方法であって、 前記第1の略D字状領域の回折光を受光する3個の前記
受光手段の検出信号をそれぞれIC、IE、IGとし、
前記第2の略D字状領域の回折光を受光する3個の前記
受光手段の検出信号をそれぞれID、IF、IHとした
とき、トラッキングエラー信号(TA)を、 TE=IC−ID−k{(IE+IG)−(IF+I
H)} (但し、kは動作設定に応じて定まる定数)なる関係式
により算出することを特徴とするトラッキングエラー検
出方法。
15. An integrated optical member for guiding a light beam emitted from a light emitting element to an optical disk and separating a required light beam from reflected light from the optical disk, and a light receiving means for receiving light and converting the light into an electric signal. The integrated optical member includes a plurality of optical surfaces therein, and forms a diffraction grating on one of the optical surfaces for extracting a light flux required for tracking control and focus control from the reflected light, and the diffraction grating The grating is divided into a first arcuate region and a second arcuate region separated in the tangential direction, a first substantially D-shaped region, and a second substantially D-shaped region. Two light receiving means for receiving the diffracted light in the first arcuate area, two light receiving means for receiving the diffracted light in the second arcuate area, and diffraction of the first substantially D-shaped area Three light receiving means for receiving light; A tracking error detecting method for an optical pickup device, comprising: three light receiving means for receiving the diffracted light in the second substantially D-shaped region; The detection signals of the three light receiving means for receiving light are respectively IC, IE and IG,
When the detection signals of the three light receiving units that receive the diffracted light in the second substantially D-shaped region are ID, IF, and IH, respectively, the tracking error signal (TA) is expressed as TE = IC-ID-k {(IE + IG)-(IF + I
H) ト ラ ッ キ ン グ (where k is a constant determined in accordance with the operation setting).
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