JP2002170282A - Optical disk and its manufacturing method - Google Patents

Optical disk and its manufacturing method

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JP2002170282A
JP2002170282A JP2000364437A JP2000364437A JP2002170282A JP 2002170282 A JP2002170282 A JP 2002170282A JP 2000364437 A JP2000364437 A JP 2000364437A JP 2000364437 A JP2000364437 A JP 2000364437A JP 2002170282 A JP2002170282 A JP 2002170282A
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JP
Japan
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layer
optical disk
protective film
transparent substrate
thickness
Prior art date
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Application number
JP2000364437A
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Japanese (ja)
Inventor
Katsunori Oshima
克則 大嶋
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Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical disk where a characteristic such as a jitter and a modulation degree is improved and to provide its manufacturing method. SOLUTION: A reflection layer 4, a first protection film 5, a phase transition recording layer 6, a second protection layer 7 are successively formed on the surface of a baseboard 2 where grooves G and lands L are formed in advance in the optical disk 1. A smooth layer 3 with a 5 nm-30 nm thickness consisting of a dielectric body is inserted between the baseboard 2 and the reflection layer 4 in the optical disk 1.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、高密度を有する光
ディスク及びその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disk having high density and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ディスクは、DVD−RAM、DVD
−RW等に広く用いられている。DVDで用いられた信
号フォーマットをそのまま用いて7〜8GB以上の高密
度を有する光ディスクやその記録再生装置を実現するた
めに、400nm付近に発振波長を有する半導体レーザ
の開発や大きなNA(開口数)を有するレンズの開発が
盛んに行われている。また、光ディスクは、チルト(レ
ーザ光軸からディスク面が垂直からずれる角度)マージ
ン等の都合から透明基板上に反射層を形成し、この反射
層上に相変化記録層を形成することが行われている。
2. Description of the Related Art Optical discs are DVD-RAM, DVD
-Widely used for RW and the like. In order to realize an optical disk having a high density of 7 to 8 GB or more and a recording / reproducing apparatus using the signal format used for DVD as it is, development of a semiconductor laser having an oscillation wavelength around 400 nm and a large NA (numerical aperture) Lenses having the following are being actively developed. On the other hand, in an optical disk, a reflection layer is formed on a transparent substrate for the purpose of a tilt margin (angle at which the disk surface deviates from the laser optical axis perpendicularly), and a phase change recording layer is formed on the reflection layer. ing.

【0003】このような従来の光ディスクについて図4
を用いて説明する。図4は、従来の光ディスクを示す断
面図である。従来の光ディスク9は、ポリカーボネー
ト、ポリオレフィン等の透明基板2上にグルーブGとラ
ンドLとがディスク半径方向に交互に形成され、この透
明基板2上に反射層4と、第1保護膜5と、相変化記録
層6と、第2保護膜7とを順次積層し、この第2保護膜
7表面に紫外線硬化型接着剤を用いて透明なシート状基
板8を貼り合わせたものである。そして、この光ディス
ク9のシート状基板8側からレーザ光を照射して記録再
生光を行うようにしたものである。シート状基板8の材
料としては、ポリカーボネート、ポリオレフィン等があ
る。
FIG. 4 shows such a conventional optical disk.
This will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a sectional view showing a conventional optical disc. In the conventional optical disk 9, grooves G and lands L are alternately formed in a disk radial direction on a transparent substrate 2 made of polycarbonate, polyolefin or the like, and a reflective layer 4, a first protective film 5, The phase change recording layer 6 and the second protective film 7 are sequentially laminated, and a transparent sheet-like substrate 8 is bonded to the surface of the second protective film 7 using an ultraviolet curable adhesive. Then, a laser beam is irradiated from the sheet-like substrate 8 side of the optical disk 9 to perform recording / reproducing light. Examples of the material of the sheet-like substrate 8 include polycarbonate and polyolefin.

【0004】次に、この光ディスク9の製造方法につい
て説明する。先ず始めに、溝又はピットをレーザ光を用
いて作製するマスタリング法及びNiを形成する電鋳法
により、微細なグルーブパターンが形成されたNiスタ
ンパを作製する。更に、ポリカーボネート等のプラステ
ィック材料を溶融し、前記したNiスタンパ部に流し、
射出成形して、このプラスティック材料にスタンパの型
を転写し、グルーブG及びランドLが形成された透明基
板2を作製する。この後、スパッタ法により、この透明
基板2上に反射層4と、第1保護膜5と、相変化記録層
6と、第2保護膜7とを順次形成した後、この第2保護
膜7上に紫外線硬化型接着剤を用いてシート状基板8を
貼り合わせて光ディスク9を作製する。
Next, a method of manufacturing the optical disk 9 will be described. First, a Ni stamper on which a fine groove pattern is formed is manufactured by a mastering method of forming grooves or pits using a laser beam and an electroforming method of forming Ni. Further, a plastic material such as polycarbonate is melted and poured into the Ni stamper described above,
Injection molding is performed, and a mold of a stamper is transferred to this plastic material, thereby producing a transparent substrate 2 on which grooves G and lands L are formed. Thereafter, a reflective layer 4, a first protective film 5, a phase change recording layer 6, and a second protective film 7 are sequentially formed on the transparent substrate 2 by a sputtering method, and then the second protective film 7 is formed. An optical disk 9 is manufactured by laminating a sheet-like substrate 8 thereon using an ultraviolet curable adhesive.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、スタン
パの表面状態、射出成形の条件や透明基板2の材料等に
起因して透明基板2のグルーブGやランドL上の凹凸が
粗くなるため、この上に形成される反射層4乃至第2保
護膜7の各層に、これに対応した凹凸が生じ、記録再生
の際、反射層4で散乱した光がノイズやジッタ等の特性
を悪化させるといった問題を生じていた。そこで、本発
明は上記問題を解消するためになされたもので、ジッタ
や変調度等の特性が改善された光ディスク及びその製造
方法を提供することを目的とする。
However, irregularities on the groove G and the land L of the transparent substrate 2 are roughened due to the surface condition of the stamper, the conditions of the injection molding, the material of the transparent substrate 2, and the like. The corresponding layers of the reflective layer 4 to the second protective film 7 are formed with corresponding irregularities, and the light scattered by the reflective layer 4 deteriorates characteristics such as noise and jitter during recording and reproduction. Had occurred. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an optical disk having improved characteristics such as jitter and modulation and a method of manufacturing the optical disk.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明の第1の発明は、
予めグルーブ及びランドが形成された基板面上に反射
層、第1保護膜、相変化記録層、第2保護膜を順次形成
してなる光ディスクにおいて、前記基板と前記反射層と
の間に誘電体からなる厚さ5nm〜30nmの平滑層を
挿入したことを特徴とする光ディスクを提供する。第2
の発明は、スパッタ法により、予めグルーブ及びランド
が形成された基板面上に反射層、第1保護膜、相変化記
録層、第2保護膜を順次形成する光ディスクの製造方法
において、前記反射層の形成前に、高周波スパッタし
て、基板面上に厚さ5nm〜30nmの平滑層を形成す
ることを特徴とする光ディスクの製造方法を提供する。
Means for Solving the Problems A first invention of the present invention is:
In an optical disc in which a reflective layer, a first protective film, a phase change recording layer, and a second protective film are sequentially formed on a substrate surface on which grooves and lands are formed in advance, a dielectric material is interposed between the substrate and the reflective layer. An optical disk characterized in that a smooth layer having a thickness of 5 nm to 30 nm is inserted. Second
The invention is directed to a method of manufacturing an optical disc, wherein a reflective layer, a first protective film, a phase change recording layer, and a second protective film are sequentially formed on a substrate surface on which grooves and lands are formed in advance by sputtering. A method for producing an optical disk, characterized in that a high-frequency sputtering is performed on a substrate surface to form a smooth layer having a thickness of 5 nm to 30 nm before the formation of the optical disk.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】本発明の光ディスク及びその製造
方法の実施形態について図面を用いて以下に説明する。
従来例と同一構成には同一符号を付し、その説明を省略
する。図1は、本発明の光ディスクを示す拡大断面図で
ある。図2は、本発明の光ディスクにおける透明基板の
断面形状を原子間力顕微鏡(Atomic Force
Microscope 略してAFM)で測定したグ
ルーブ及びランド表面の粗さを示す図である。図3は、
本発明の光ディスクにおける平滑層が形成された透明基
板の断面形状を原子間力顕微鏡で測定したグルーブ及び
ランド表面の粗さを示す図である。図2及び図3中、縦
軸は、グルーブの最も低い底部を基準として測定した時
のランド表面までの高さ(Å)、横軸は、トラック方向
の長さ(μm)である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of an optical disk and a method of manufacturing the same according to the present invention will be described below with reference to the drawings.
The same components as those of the conventional example are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. FIG. 1 is an enlarged sectional view showing the optical disc of the present invention. FIG. 2 shows the cross-sectional shape of the transparent substrate in the optical disc of the present invention, which is shown by an atomic force microscope (Atomic Force).
It is a figure which shows the roughness of the groove | channel and land measured by Microscope (AFM for short). FIG.
FIG. 3 is a view showing the roughness of the surface of a groove and a land measured by an atomic force microscope on the cross-sectional shape of a transparent substrate on which a smooth layer is formed in the optical disc of the present invention. 2 and 3, the vertical axis represents the height (Å) to the land surface when measured with the lowest bottom of the groove as a reference, and the horizontal axis represents the length (μm) in the track direction.

【0008】図1に示すように、本発明の光ディスク1
は、従来例の光ディスク9におけるグルーブG及びラン
ドLが形成された透明基板2と反射層4との間に所定厚
さの平滑層3を挿入するようにしたものであり、これ以
外は、同様である。この平滑層3の材料としては、Zn
S−SiO2(SiO2:20mol)、ZnS、SiO
2、窒化シリコン、酸化アルミニウム等の無機薄膜、S
i、Ge、Al、Ti、Zr、Ta等の金属或いは半導
体の窒化物、Ti、Zr、Hf、Si等の金属或いは半
導体炭化物、ZnS、In23、TaS4、GeS2等の
金属或いは半導体硫化物及びこれらの化合物の2種類以
上の混合物が耐熱性が高く、化学的に安定なことから好
ましい。
As shown in FIG. 1, the optical disk 1 of the present invention
In the conventional optical disc 9, a smooth layer 3 having a predetermined thickness is inserted between the transparent substrate 2 on which the grooves G and the lands L are formed and the reflective layer 4; It is. The material of the smoothing layer 3 is Zn
S-SiO 2 (SiO 2 : 20 mol), ZnS, SiO
2 , inorganic thin films such as silicon nitride and aluminum oxide, S
a metal such as i, Ge, Al, Ti, Zr, Ta or the like; a nitride of a semiconductor; a metal such as Ti, Zr, Hf, Si or a semiconductor carbide; a metal such as ZnS, In 2 S 3 , TaS 4 , GeS 2 or Semiconductor sulfides and mixtures of two or more of these compounds are preferred because of their high heat resistance and chemical stability.

【0009】ここで、平滑層3の厚さについて調べた結
果、以下の範囲が最適であることがわかった。平滑層3
の厚さが5nm以下の場合には、安定な記録再生ができ
なかった。これは、透明基板2のグルーブGやランドL
上の凹凸を平滑層3で吸収しきれないで、反射層4表面
にも凹凸が形成されることになり、この反射層4で乱反
射するためと思われる。平滑層3の厚さが30nm以上
の場合には、記録感度特性が悪くなった。これは、誘電
体層を形成する際、グルーブGの幅や深さが変形するこ
とや記録感度が低下することから、レーザ光による読み
取りが安定しないためと思われる。一方、厚さが5nm
〜30nmの範囲では、良好な記録再生ができ、また、
良好な記録感度特性が得られた。このため、平滑層3の
厚さは、5nm〜30nmの範囲が最適であることがわ
かった。
Here, as a result of examining the thickness of the smooth layer 3, it was found that the following range was optimal. Smooth layer 3
When the thickness was 5 nm or less, stable recording and reproduction could not be performed. This is because the groove G and the land L of the transparent substrate 2 are
The irregularities on the upper surface cannot be absorbed by the smoothing layer 3, and irregularities are formed on the surface of the reflective layer 4. When the thickness of the smoothing layer 3 was 30 nm or more, the recording sensitivity characteristics deteriorated. This is presumably because, when the dielectric layer is formed, the width and depth of the groove G are deformed and the recording sensitivity is lowered, so that reading by the laser beam is not stable. On the other hand, the thickness is 5 nm
In the range of 3030 nm, good recording and reproduction can be performed.
Good recording sensitivity characteristics were obtained. Therefore, it was found that the optimum thickness of the smoothing layer 3 was in the range of 5 nm to 30 nm.

【0010】次に、本発明の光ディスク1と従来の光デ
ィスク9の記録再生特性について比較した。この評価
は、シート状基板8側からグルーブGに、線速度4.6
m/sで8−16変調ランダムパターンによって記録を
行った後、この光ディスク1からの再生信号の振幅の中
心でスライスし、この再生信号のclock to d
atajitterを測定して行った。レーザ光の波長
は405nm、クロック周期は19.1nsである。グ
ルーブ検出には、タイムインターバルアナライザ(横河
電気社製、TA320)を用いた。記録条件は、ピーク
パワー8.0mW、消去パワー4.0mW、クーリング
パワー0.5mWである。
Next, the recording and reproducing characteristics of the optical disk 1 of the present invention and the conventional optical disk 9 were compared. In this evaluation, a linear velocity of 4.6 was applied to the groove G from the sheet-like substrate 8 side.
After recording at 8/16 modulation random pattern at m / s, the slice is sliced at the center of the amplitude of the reproduction signal from the optical disk 1 and the clock to d of the reproduction signal
The measurement was carried out by measuring atajitter. The wavelength of the laser light is 405 nm, and the clock cycle is 19.1 ns. For the groove detection, a time interval analyzer (TA320, manufactured by Yokogawa Electric Corporation) was used. The recording conditions are a peak power of 8.0 mW, an erasing power of 4.0 mW, and a cooling power of 0.5 mW.

【0011】この結果、従来の光ディスク9では、ジッ
タ値が11.5%、変調度49.6%であるのに対し
て、本発明の光ディスク1では、ジッタ値が7.4%、
変調度50.3%であり、ジッタ値や変調度が改善され
た。このように、本発明の実施形態によれば、従来例の
光ディスク9におけるグルーブG及びランドLが形成さ
れた透明基板2と反射層4との間に厚さ5nm〜30n
mの平滑層3を挿入するようにしたので、この平滑層3
によりグルーブGやランドL上の凹凸を吸収できるた
め、この上に形成される反射層4乃至第2保護膜7の各
層には、これに対応した凹凸が低減され、良好な記録感
度特性を有し、かつ安定な記録再生を有する光ディスク
1を得ることができる。また、従来に比較し、大幅にジ
ッタ値や変調度を改善することができる。
As a result, the conventional optical disk 9 has a jitter value of 11.5% and a modulation factor of 49.6%, while the optical disk 1 of the present invention has a jitter value of 7.4% and
The modulation factor was 50.3%, and the jitter value and the modulation factor were improved. As described above, according to the embodiment of the present invention, the thickness of the conventional optical disc 9 is 5 nm to 30 n between the transparent substrate 2 on which the groove G and the land L are formed and the reflective layer 4.
m smooth layer 3 is inserted.
Thus, the unevenness on the groove G and the land L can be absorbed, so that the reflective layer 4 to the second protective film 7 formed thereon have reduced unevenness corresponding to the unevenness, and have good recording sensitivity characteristics. In addition, the optical disc 1 having stable recording and reproduction can be obtained. In addition, the jitter value and the degree of modulation can be greatly improved as compared with the related art.

【0012】次に、本発明の光ディスク1の製造方法に
ついて説明する。 (透明基板準備工程)まず、深さ35nm、トラックピ
ッチ0.75μmのグルーブを設けたNiスタンパを用
いて、従来例と同様にして射出成形された透明基板2を
用意する。この際、透明基板2の厚さは、1.2mmで
ある。
Next, a method for manufacturing the optical disk 1 of the present invention will be described. (Transparent Substrate Preparation Step) First, using a Ni stamper provided with a groove having a depth of 35 nm and a track pitch of 0.75 μm, a transparent substrate 2 injection-molded in the same manner as in the conventional example is prepared. At this time, the thickness of the transparent substrate 2 is 1.2 mm.

【0013】(平滑層形成工程)透明基板2に対向配置
させて、Al合金ターゲット、ZnS−SiO2ターゲ
ット及びAgInSbTe(Ag:In:Sb:Te=
5:5:60:30)合金ターゲットを高周波(RF)
及び直流(DC)兼用のスパッタ装置内に導入する。こ
のスパッタ装置内を6×10-5Paまで排気した後、
1.6×10-1PaのArがスを導入し、高周波電源の
出力を400Wにした後、透明基板2を毎分60回転で
回転させながら、ZnS−SiO2ターゲットを高周波
スパッタ(RFスパッタ)して、0.2nm/sのスパ
ッタ速度で厚さ5nm〜30nmの平滑層3を形成す
る。この平滑層3は、透明基板2におけるグルーブGや
ランドL上に形成されている凹凸を吸収して、この表面
では平坦な面を形成することができる。このため、平滑
層3上に形成される各層には、この凹凸は生じない。
(Smooth Layer Forming Step) An Al alloy target, a ZnS—SiO 2 target and AgInSbTe (Ag: In: Sb: Te =
5: 5: 60: 30) High frequency (RF) alloy target
And into a sputtering device that is also used for direct current (DC). After evacuating the inside of the sputtering apparatus to 6 × 10 −5 Pa,
After introducing 1.6 × 10 −1 Pa of Ar gas and setting the output of the high frequency power supply to 400 W, the ZnS—SiO 2 target was subjected to high frequency sputtering (RF sputtering) while rotating the transparent substrate 2 at 60 revolutions per minute. ) To form a smooth layer 3 having a thickness of 5 nm to 30 nm at a sputtering rate of 0.2 nm / s. The smooth layer 3 absorbs irregularities formed on the grooves G and the lands L on the transparent substrate 2, and can form a flat surface on this surface. Therefore, this unevenness does not occur in each layer formed on the smooth layer 3.

【0014】(反射層形成工程)引き続いて、前記と同
様にして、Al合金ターゲットをスパッタして、平滑層
3上に厚さ110nmの反射層4を形成する。前記した
ように、平滑層3表面は平坦であるので、この上に形成
された反射層4は凹凸のない平坦な面を有する。
(Reflection Layer Forming Step) Subsequently, in the same manner as described above, an Al alloy target is sputtered to form a reflection layer 4 having a thickness of 110 nm on the smooth layer 3. As described above, since the surface of the smooth layer 3 is flat, the reflective layer 4 formed thereon has a flat surface without irregularities.

【0015】(第1保護膜形成工程)更に、前記と同様
にして、ZnS−SiO2ターゲットをスパッタして、
反射層4上に厚さ15nmの第1保護膜5を形成する。
(First Protective Film Forming Step) Further, similarly to the above, a ZnS-SiO 2 target is sputtered,
A first protection film 5 having a thickness of 15 nm is formed on the reflection layer 4.

【0016】(記録層形成工程)次に、前記と同様にし
て、AgInSbTe(Ag:In:Sb:Te=5:
5:60:30)合金ターゲットをスパッタして第1保
護膜5上に厚さ20nmの相変化記録層6を形成する。
(Recording layer forming step) Next, AgInSbTe (Ag: In: Sb: Te = 5:
5:60:30) A phase change recording layer 6 having a thickness of 20 nm is formed on the first protective film 5 by sputtering an alloy target.

【0017】(第2保護膜形成工程)この後、前記と同
様にしてZnS−SiO2ターゲットをスパッタして、
相変化記録層6上に厚さ50nmの第2保護膜7を形成
する。
(Second Protective Film Forming Step) After that, a ZnS-SiO 2 target is sputtered in the same manner as described above.
A second protective film 7 having a thickness of 50 nm is formed on the phase change recording layer 6.

【0018】(貼り合わせ工程)次に、平滑層3乃至第
2保護膜7までの各層が形成された透明基板2をスパッ
タ装置から取り出した後、第2保護膜7表面に厚さ0.
1mmのポリカーボネート製のシート状基板8を紫外線
硬化型接着剤を用いて貼り合わせて図1に示す光ディス
ク1を得る。この際、紫外線硬化型接着剤は405nm
付近に光の吸収の低いものを用いる。
(Laminating Step) Next, after the transparent substrate 2 on which the layers from the smooth layer 3 to the second protective film 7 are formed is taken out of the sputtering apparatus, the surface of the second protective film 7 has a thickness of 0.1 mm.
An optical disk 1 shown in FIG. 1 is obtained by laminating a 1 mm polycarbonate sheet-like substrate 8 using an ultraviolet curable adhesive. At this time, the UV curable adhesive is 405 nm.
A material having low light absorption is used in the vicinity.

【0019】ここで、(透明基板準備工程)で射出成形
された透明基板2の表面粗さと、(平滑層形成工程)終
了後の平滑層3の表面粗さについて原子間力顕微鏡を用
いて調べ、本発明の特徴である平滑層3の効果について
調べた。その結果を図2及び図3に示す。図2及び図3
に示すように、(透明基板準備工程)で射出成形された
透明基板2表面の粗さは、7nmであり、(平滑層形成
工程)終了後の平滑層3表面の粗さは3nmであった。
このように、透明基板2上に平滑層3を形成すれば、こ
の平滑層3表面をほぼ平坦にすることができることを示
している。また、この上に形成される層も平坦にできる
ことを示している。
Here, the surface roughness of the transparent substrate 2 injection-molded in the (transparent substrate preparing step) and the surface roughness of the smooth layer 3 after the completion of the (smooth layer forming step) are examined using an atomic force microscope. The effect of the smooth layer 3 which is a feature of the present invention was examined. The results are shown in FIGS. 2 and 3
As shown in (1), the roughness of the surface of the transparent substrate 2 injection-molded in the (transparent substrate preparation step) was 7 nm, and the roughness of the surface of the smooth layer 3 after the completion of the (smooth layer formation step) was 3 nm. .
As described above, if the smooth layer 3 is formed on the transparent substrate 2, the surface of the smooth layer 3 can be made substantially flat. It also shows that the layer formed thereon can be made flat.

【0020】このように、本発明の光ディスク1の製造
方法によれば、反射層4形成前に高周波スパッタして、
予めグルーブG及びランドLが形成された透明基板2上
に厚さ5nm〜30nmの平滑層3を形成するので、こ
の平滑層3の表面は、透明基板2におけるグルーブGや
ランドLの凹凸を吸収した平坦な面を形成することがで
きる。このため、記録再生の際、平滑層3上に形成され
た反射層4で発生する乱反射が低減され、ジッタや変調
度等の特性を向上させることができる。
As described above, according to the method for manufacturing the optical disk 1 of the present invention, the high-frequency sputtering is performed before the formation of the reflective layer 4.
Since the smooth layer 3 having a thickness of 5 nm to 30 nm is formed on the transparent substrate 2 on which the grooves G and the lands L are formed in advance, the surface of the smooth layer 3 absorbs the unevenness of the grooves G and the lands L on the transparent substrate 2. A flat surface can be formed. Therefore, at the time of recording / reproduction, irregular reflection generated in the reflection layer 4 formed on the smooth layer 3 is reduced, and characteristics such as jitter and modulation can be improved.

【0021】なお、この光ディスク1を記録用として使
用可能とするためには、以下のような初期化を行う。こ
の初期化は、特開平7−282475号公報に開示の初
期化装置と評価器を用いて行う。この初期化装置のスピ
ンドルに光ディスク1を装着した後、この光ディスク1
を線速度3m/sで回転しながら、波長830nmのレ
ーザ光をパワー300mWで内周から外周に向かって半
径方向に移動させて、相変化記録層6を照射して過熱
し、高反射率の状態に変化させて初期化を行う。評価器
は、反射率の測定するのに用いる。この際、レーザ光径
は、複数のトラックを照射できるようにトラック幅より
も大きく、好ましくは半径方向に長い方が良い。具体的
には、このレーザ光径の形状は、トラック方向が2μ
m、半径方向が20μmである。
In order to make the optical disk 1 usable for recording, the following initialization is performed. This initialization is performed using an initialization device and an evaluator disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-282475. After the optical disc 1 is mounted on the spindle of this initialization device,
While rotating at a linear velocity of 3 m / s, a laser beam having a wavelength of 830 nm is moved in the radial direction from the inner circumference to the outer circumference at a power of 300 mW to irradiate the phase change recording layer 6 and overheat to obtain a high reflectance. Initialize by changing to the state. The evaluator is used to measure the reflectance. At this time, the laser beam diameter is preferably larger than the track width so that a plurality of tracks can be irradiated, and preferably longer in the radial direction. Specifically, the shape of the laser beam diameter is 2 μm in the track direction.
m, 20 μm in the radial direction.

【0022】[0022]

【発明の効果】本発明の光ディスクによれば、予めグル
ーブ及びランドが形成された基板面上に反射層、第1保
護膜、相変化記録層、第2保護膜を順次形成してなる光
ディスクにおいて、前記基板と前記反射層との間に誘電
体からなる厚さ5nm〜30nmの平滑層を挿入したの
で、この平滑層によりグルーブやランド上の凹凸を吸収
できるため、この上に形成される前記反射層乃至前記第
2保護膜の各層には、これに対応した凹凸が低減され、
良好な記録感度特性を有し、安定な記録再生ができる光
ディスクを得ることができる。また、従来に比較し、大
幅にジッタ値や変調度を改善することができる。本発明
の光ディスクの製造方法によれば、スパッタ法により、
予めグルーブ及びランドが形成された基板面上に反射
層、第1保護膜、相変化記録層、第2保護膜を順次形成
する光ディスクの製造方法において、前記反射層の形成
前に、高周波スパッタして、基板面上に厚さ5nm〜3
0nmの平滑層を形成するので、この平滑層は、前記透
明基板におけるグルーブやランドの凹凸を吸収した平坦
な面を形成することができる。このため、記録再生の
際、前記平滑層上に形成された反射層で発生する乱反射
が低減され、ジッタや変調度等の特性を向上させること
ができる。
According to the optical disk of the present invention, there is provided an optical disk in which a reflective layer, a first protective film, a phase change recording layer, and a second protective film are sequentially formed on a substrate surface on which grooves and lands are formed in advance. Since a smooth layer made of a dielectric material having a thickness of 5 nm to 30 nm is inserted between the substrate and the reflective layer, the unevenness on the groove or land can be absorbed by the smooth layer. In each layer of the reflective layer or the second protective film, the corresponding unevenness is reduced,
An optical disc having good recording sensitivity characteristics and capable of stable recording and reproduction can be obtained. In addition, the jitter value and the degree of modulation can be greatly improved as compared with the related art. According to the optical disk manufacturing method of the present invention, the sputtering method
In a method for manufacturing an optical disk in which a reflective layer, a first protective film, a phase change recording layer, and a second protective film are sequentially formed on a substrate surface on which grooves and lands are formed in advance, high-frequency sputtering is performed before forming the reflective layer. And a thickness of 5 nm to 3
Since a smooth layer having a thickness of 0 nm is formed, the smooth layer can form a flat surface absorbing the unevenness of the grooves and lands on the transparent substrate. For this reason, at the time of recording / reproduction, irregular reflection generated in the reflective layer formed on the smooth layer is reduced, and characteristics such as jitter and modulation can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の光ディスクを示す拡大断面図である。FIG. 1 is an enlarged sectional view showing an optical disk of the present invention.

【図2】本発明の光ディスクにおける透明基板の断面形
状を原子間力顕微鏡で測定したグルーブ及びランド表面
の粗さを示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing roughness of a groove and a land surface obtained by measuring a cross-sectional shape of a transparent substrate in an optical disc of the present invention with an atomic force microscope.

【図3】本発明の光ディスクにおける平滑層が形成され
た透明基板の断面形状を原子間力顕微鏡で測定したグル
ーブ及びランド表面の粗さを示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing the roughness of grooves and lands measured by an atomic force microscope on a cross-sectional shape of a transparent substrate on which a smooth layer is formed in the optical disc of the present invention.

【図4】従来の光ディスクを示す断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view showing a conventional optical disc.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…光ディスク、2…透明基板(基板)、3…平滑層、
4…反射層、5…第1保護膜、6…相変化記録層、7…
第2保護膜、8…シート状基板、G…グルーブ、L…ラ
ンド
1 ... optical disk, 2 ... transparent substrate (substrate), 3 ... smooth layer,
4 reflective layer, 5 first protective film, 6 phase change recording layer, 7
Second protective film, 8: sheet substrate, G: groove, L: land

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】予めグルーブ及びランドが形成された基板
面上に反射層、第1保護膜、相変化記録層、第2保護膜
を順次形成してなる光ディスクにおいて、 前記基板と前記反射層との間に誘電体からなる厚さ5n
m〜30nmの平滑層を挿入したことを特徴とする光デ
ィスク。
1. An optical disk having a reflective layer, a first protective film, a phase-change recording layer, and a second protective film sequentially formed on a substrate surface on which grooves and lands are formed in advance, wherein the substrate, the reflective layer, 5n thickness of dielectric material between
An optical disc having a smooth layer of m to 30 nm inserted therein.
【請求項2】スパッタ法により、予めグルーブ及びラン
ドが形成された基板面上に反射層、第1保護膜、相変化
記録層、第2保護膜を順次形成する光ディスクの製造方
法において、 前記反射層の形成前に、高周波スパッタして、基板面上
に厚さ5nm〜30nmの平滑層を形成することを特徴
とする光ディスクの製造方法。
2. A method for manufacturing an optical disk, wherein a reflective layer, a first protective film, a phase change recording layer, and a second protective film are sequentially formed on a substrate surface on which grooves and lands are formed in advance by sputtering. A method for manufacturing an optical disc, comprising forming a smooth layer having a thickness of 5 nm to 30 nm on a substrate surface by high frequency sputtering before forming a layer.
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