JP4081981B2 - Manufacturing method of optical disk medium - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク媒体の製造方法に関するものであり、更に詳細には成膜前の基板表面を平坦にし、常に一定の状態を有する低ノイズかつ高品質の光ディスク媒体を製造することのできる光ディスク媒体の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
レーザ光を用いた光情報記録方式は、大容量の情報の非接触かつ高速アクセスが可能であるため、大容量メモリとして実用化されている。このような光情報記録方式を用いた光学式記録再生媒体としては、コンパクトディスクやレーザディスクとして知られている再生専用型、ユーザ自身において記録することができる追記型、及びユーザ側において繰り返して記録再生が可能な書換型の記録再生媒体として分類することができる。
【0003】
前記追記型及び書換型の光学式情報記録再生媒体は、コンピュータの外部メモリや文書、画像ファイルとして使用されつつある。書換型の光学式情報再生媒体には、記録膜の相変化を利用して情報を記録する相変化型光ディスクと垂直磁化膜の磁化方向の変化を利用して情報を記録する光磁気ディスクとがある。上記のうち、相変化型光ディスクは、情報を記録する際に光磁気ディスクにおいて必要とされる外部磁界が必要でなく、さらに記録情報の重ね書き、即ちオーバーライトが容易に可能であることから、今後、書換型の光学式情報記録再生媒体の主流になると期待されている。
【0004】
従来より、レーザ光の照射により、記録膜の結晶−非晶質間の相変化を利用した書換可能な相変化型光ディスクが用いられている。相変化型光ディスクにおいては、記録膜に高パワーのレーザ光を照射し、記録膜の温度を局所的に上昇させることにより記録膜の結晶−非晶質間の相変化を発生させることにより情報の記録を行っている。記録された情報の再生は、記録時に比べ比較的低パワーのレーザ光を照射し、前記情報記録部の光学定数の変化を反射光強度差として検出することにより行われている。
【0005】
相変化型光ディスクの記録膜には、カルコゲナイド系の材料である、GeSbTe系、InSbTe系及びAgInSbTe系の材料が用いられており、これらの材料からなる記録膜は、いずれも抵抗加熱真空蒸着法、電子ビーム真空蒸着法又はスパッタリング法等の成膜方法により形成される。成膜直後の記録膜の状態は一種の非晶質状態にあり、この記録膜に情報の記録を行って、非晶質の記録部を形成するため、記録膜全体を結晶質にするための初期化処理が行われる。記録は、この結晶化された状態の中に非晶質部分を形成することにより行われている。
【0006】
一般的な相変化型光ディスクの記録再生方法は、レーザ光のパワーを2つのレベル間で変化させることにより、結晶化又は非晶質を行なうことにより実施される。すなわち、記録時には記録膜の温度を融点以上に上昇させることが可能なパワーのレーザ光を記録膜に照射し、その照射部分が冷却時に非晶質状態となり、一方、情報を消去する場合には、記録膜の温度が結晶化温度以上で融点以下の温度に達するようなパワーのレーザ光を記録膜に照射する。再生は低パワーのレーザ光を照射することにより反射光強度差として読みとっている。
【0007】
上述したような相変化型光ディスクを構成する記録膜は螺旋状又は同心円状の案内溝、すなわち記録トラック(ランド部:凹部及びグルーブ部:凸部)が予め配設された透明ディスク基板上に形成される。この記録トラックによって情報記録再生装置の光ヘッドから出射されるレーザ光が情報列に沿ってガイドされる。この記録トラックの形状は凹形と凸形方とが交互に配置されている。光ヘッドから見て凹形、すなわち遠い側をランド部と称し、逆に凸形、すなわち近い側をグルーブ部と称している。また、ランド部又はグルーブ部の中心から隣接するランド部又はグルーブ部の中心までの距離をトラックピッチと称している。
【0008】
上述したような、記録膜及び基板を用いて相変化形光ディスク媒体を形成するには、透明ディスク基板上に第1の誘電体層、記録膜及び第2の誘電体層が順次配設されるか、又は透明ディスク基板上に第1の誘電体層、記録膜、第2の誘電体層及び反射膜等が準備配設されるか、又は透明ディスク基板上に第1の誘電体層、第2の誘電体層、記録膜、第3の誘電体層及び反射膜等が順次配設されて形成されることが一般的である。
【0009】
また、上述したような層変化形光ディスク媒体は、通常、上述した透明ディスク基板側からレーザ光が入射されて前記記録膜に対して情報の記録及び再生が行われている。
【0010】
近年における記録密度の高密度化の要求に伴い、記録トラックのトラックピッチの狭トラック化及び案内溝の凹部(ランド部)と該ランド部の間にある凸部(グルーブ部)の両方に情報を記録するランド/グルーブ記録が一般的になりつつある。また、記録密度を向上させるために、レーザ光のスポット径の微少化が進められている。
【0011】
レーザ光のスポット径は、記録再生径のλ/NA(λ:レーザ光の波長、NA:対物レンズの開口数)に依存するため、レーザ光の波長を短波長化し、対物レンズの開口数を増加させることによりレーザ光のスポット径が微少化され、記録密度の高密度化が可能となる。
【0012】
しかしながら、上述したように対物レンズの開口数を増加させると、コマ収差が大きくなり、このため信号品質の劣化が懸念される。コマ収差はスキュー角(ディスクの光軸に対する傾斜角)とレーザ光が通過する透明基板の厚みと対物レンズの開口数の3乗の積に比例する量である。従って、コマ収差を抑制するための一手段としてレーザ光が通過する透明基板の厚みを薄くする方法が提案されている。
【0013】
このような、透明基板の厚みを薄くする方法としては、透明基板上に光反射層、記録層、薄い光透過層を順次形成し、薄い光透過層側からレーザ光を入射させて記録層に対して信号の記録及び再生を行なう方法が提案されている。この方法は、上述したような従来から広く用いられている、透明基板側からレーザ光を入射させて信号の記録及び再生を行なう方法とはレーザ光の入射方向が異なっている。
【0014】
上述した、光透過層を形成する方法としては、透明基板上に光反射層及び記録層を順次形成した後に、厚さが100μm程度の樹脂シートを厚さ数μmの接着剤層を介して貼り付ける方法や、記録層上に紫外線硬化樹脂を滴下し展開した後、紫外線を照射して紫外線硬化樹脂を硬化させ、薄い光透過膜を形成する方法等が知られている。
【0015】
一方、上述したように、透明基板上に光反射層、記録層(誘電体層及び相変化記録層を含む)を順次形成した後、前述したような薄い光透過層を形成した層変化記録媒体においては、信号を記録し再生した際の再生信号に、大きなノイズ成分が含まれるという問題が生じることが知られている。ノイズ成分が大きくなると、再生信号が劣化し、記録された信号を安定して再生することができないため、記録密度の向上に支障をきたす。この大きなノイズ成分は、光反射層成膜前の基板表面のミクロな荒れや基板表面に付着したミクロな有機物がその上に積層された光反射層に転写され、結果的に光反射層の表面があれてしまうこと、及びミクロな有機物の影響を受け手基板に対する光反射層の付着力が弱まり、膜が部分的に剥離することにより起こるものである。
【0016】
上述したようなノイズの上昇を抑制するために、光反射層を成膜する前に、大気中で低圧水銀ランプを用いて紫外線を照射する方法が特開平10-36536号公報に開示されている。低圧水銀ランプは波長が185nm及び254nmの光を主に発生し、この185nmの波長の紫外光が大気中の酸素に吸収されてオゾンを発生させる。このオゾンに254nmの紫外光が吸収されると、励起酸素原子が生成される。一方、185nmの短波長紫外光は光子エネルギーが強く、基板表面に付着した有機物の分子結合を切断する。この切断された分子に前記の非常に強い酸化力を有する励起酸素原子が反応して二酸化炭素(CO)や水分(H2O)等の気体となり飛散除去される。従って、基板表面の洗浄速度は上述した励起酸素原子の数に強く影響を受けることとなる。
【0017】
しかしながら、上記公報に開示された方法によっては、基板表面のミクロな荒れの平坦化や基板表面に付着したミクロな有機物等を除去するために、5分〜20分程度の比較的長い照射時間を要し、量産性に劣る。また、多数枚の基板を一度に処理することができるような大面積の低圧水銀では、パレットにセットできる基板全ての処理(通常は8枚〜10枚)が終わった後、基板がパレットに装着され、真空排気されることになる。従って、このような方法においては、最初に処理された基板は、処理後40分以上大気中に放置されることになり、その間の基板表面の有機物による汚染は避けられない。更に、上述した低圧水銀ランプの分光特性を考慮すると、主には185nm及び254nmの紫外光が照射されるが、この他にも波長の長い赤外光も照射される。このため、上述したような比較的長時間の照射が行われると、基板の温度が上昇し基板が変形してしまうという問題がある。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】
従って、本発明の目的は、成膜前の基板表面を平坦にし、常に一定の状態を有する低ノイズかつ高品質の光ディスク媒体を製造することのできる光ディスク媒体の製造方法を提供することにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決する本発明の光ディスク媒体の製造方法は、成膜予備排気室内で基板の光記録層形成面に行う真空紫外光照射を、前記成膜予備排気室内に酸素ガスを導入しながら行ない、次いで真空紫外光照射を行った基板を、前記成膜予備排気室と真空環境下に連接されているチャンバーに移送し、該チャンバー内で前記基板の光記録層形成面に光記録層を形成することを特徴とする。
【0019】
かかる構成とすることにより、真空紫外光照射を、前記成膜予備排気室内に酸素ガスを導入しながら行なうので、紫外光照射によって基板表面に付着した有機物の分子結合が切断され、フリーラジカルが発現し、これに対して、積極的に酸素を導入することで、CO やH Oなどの気体となり飛散除去され、ノイズの低下した光ディスク媒体を製造する ことができる。しかも成膜予備排気室とチャンバーとが真空環境下で連接されているので、紫外光照射された基板が大気暴露されずにチャンバー内に移送され、成膜前の基板表面を平坦にし、常に一定の状態を有する低ノイズかつ高品質の光ディスク媒体を製造することができる。
【0020】
前記成膜予備排気室内の酸素ガス圧を10〜5000Paとすることができ、さらに前記基板の光記録層形成面への真空紫外光照射を、紫外光をパルス照射して行なうことにより、複数枚の基板を処理する場合に、複数枚の基板を均一にエッチングすることが可能となる。
【0021】
【発明の実施の形態】
以下、先ず本発明の光ディスク媒体の製造方法に適用される光ディスク媒体製造装置について図面を参照して説明する。
図1は、本発明の光ディスク媒体の製造方法に適用される光ディスク媒体製造装置の一実施の形態についての断面構成図を示す図である。図1に示すように、本発明の光ディスク媒体製造装置は、導入された基板1を支持するパレット2、及び前記基板1を支持したパレット2に対向して波長が180nm以下の単一真空紫外光照射装置6を備えた成膜予備排気室3を備えている。図1に示す光ディスク媒体製造装置においては、前記パレット2は自公転式パレットであり、回転モータによって回転するようになされている。
前記基板1は、プリピットを有する基板であることが好ましい。
【0022】
また、前記単一真空紫外光照射装置6が有するランプ5から単一真空紫外光が照射されるようになっている。図1に示す光ディスク媒体製造装置が備えている単一真空紫外光照射装置から照射される真空紫外光の波長は180nm以下の波長のものであればよく、例えば172の波長を有する単一紫外光が照射されるようになっている。
また、図1には示していないが、本発明の光ディスク媒体製造装置は、基板1上に少なくとも1層の薄膜、例えば光記録層を形成するチャンバーを備えている。
【0023】
なお、前記真空予備排気室2と前記チャンバーとは、真空環境下で連接されていることが好ましい。
このように構成されているので、紫外光照射された基板1が大気暴露されずにチャンバー内に位相されるので、成膜前の基板1の表面を平坦にし、常に一定の状態を有する低ノイズかつ高品質の光ディスク媒体を製造することが可能となる。
【0024】
また、前記パレット2は回転可能になされており、前記単一真空紫外光照射装置6が前記パレット2に支持された基板1に単一真空紫外光を照射可能に配設されている。図1に示す光ディスク媒体製造装置においてはパレット2は自公転式パレットであり、一度に8枚の基板1を支持できるように構成されている。そして、前記単一真空紫外光照射装置6は、前記パレット2に支持された基板1に単一真空紫外光を照射可能に配設されている。
【0025】
また、前記単一真空紫外光照射装置6の紫外光発光面7と前記基板1を支持するパレット2との距離は30mm以下となっている。このような距離にされていることにより、更にノイズの低下した光ディスク媒体を製造することが可能となる。また、前記距離は更に好ましくは1mm〜30mmである。この距離が30mmを超えると急激にノイズが増加する場合がある。
【0026】
また、図1に示す光ディスク媒体製造装置においては、前記単一真空紫外光照射装置6は、紫外光4をパルス照射し得るようにされている。このように、紫外光4をパルス照射することにより、複数枚の基板1を処理する場合に、複数枚の基板1を均一にエッチングすることが可能となる。
【0027】
また、図1には示していないが、図1に示される本発明の光ディスク媒体製造装置は成膜予備排気室3に酸素ガス導入部を備えている。このような酸素ガス導入部が備えられていることにより、基板1の表面に付着した有機物の分子結合が紫外光照射によって切断され、これに対して積極的に酸素を導入することで、CO やH Oなどの気体となり飛散除去されやすくなり、さらにノイズの低下した光ディスク媒体を製造することが可能となる。
なお、前記酸素ガス導入部から前記成膜予備排気室3に導入した際の酸素ガス圧が10〜5000Paになるようにされていることが好ましい。
【0028】
次に、本発明の光ディスク媒体の製造方法の一実施の形態について説明する。
本発明の光ディスク媒体の製造方法は、上述した光ディスク媒体製造装置を用いて実施することができる。本発明の光ディスク媒体の製造方法は、成膜予備排気室3内で基板1の光記録層形成面に真空紫外光照射を行い、次いで真空紫外光照射を行った基板1を大気暴露せずに、前記基板の光記録層形成面に光記録層を形成することからなる。
【0029】
前記基板としては、光ディスク媒体を製造するために通常に用いられる材料からなる基板を用いることができ、例えばポリカーボネートからなる透明樹脂基板を用いることができる。また、前記光記録層としては、光ディスク媒体の光記録層を形成するために通常に用いられる材料を用いることができ、例えば紫外線硬化樹脂からなるものを用いることができる。
【0030】
前記基板に真空紫外光照射を行なう前に、成膜予備排気室3内を先ず真空にし、酸素ガスを導入しながら行なうことが好ましい。真空にする場合、その真空度は1×10-4Pa〜1×10-3Paであることが好ましい。また、酸素ガスの導入量は50SCCM程度であることが好ましく、前記成膜予備排気室3内の酸素ガス圧は10〜5000Paであることが好ましい。
酸素ガスを導入しながら真空紫外光照射を行なうのは、基板1の表面に付着した有機物の分子結合が紫外光照射によって切断され、フリーラジカルが発現し、これに対して、積極的に酸素を導入することで、CO やH Oなどの気体となり飛散除去されやすくして、さらにノイズの低下した光ディスク媒体を製造するためである。
【0031】
また、真空紫外光照射は紫外光をパルス照射して行なうことが好ましい。真空紫外光照射を紫外光をパルス照射して行なうことにより、複数枚の基板を処理する場合であっても複数枚の基板を均一にエッチングすることができる。
また、本発明の光ディスク媒体の製造方法においては、基板に真空紫外光照射を行った後、該基板を大気暴露せずに、基板の光記録層形成面に光記録層を形成する。このように真空紫外光照射を行った基板を大気暴露せずに光記録層を形成しているので、基板を大気中に放置することがなく、大気中の有機物により基板表面が汚染されることがない。従って、成膜前の基板の表面を平坦にし、常に一定の状態を有する低ノイズかつ高品質の光ディスク媒体を製造することが可能となる。
【0032】
本発明の光ディスク媒体の製造方法においては、光記録層が形成された後、順次所望の反射膜層、誘電体層及び相変化記録層等を適宜成膜し、最後に基板を回収して光ディスク媒体を得る。前記反射膜層としては例えばAlTi合金、誘電体層としては例えばZnS・SiO、層変化層としては例えばGeSbTeからなるものを材料として用いて形成することができる。
【0033】
次に、本発明の光ディスク媒体の製造方法の他の実施形態について説明する。
本発明の光ディスク媒体の製造方法の他の実施形態は、成膜予備排気室内で基板の光記録層形成面に真空紫外光照射を行い、次いで真空紫外光照射を行った基板を、前記成膜予備排気室と真空環境下に連接されているチャンバーに移送し、該チャンバー内で前記基板の光記録層形成面に光記録層を形成することからなる。
この実施形態は、上述した実施形態とは、真空紫外光照射を行った基板を、成膜予備排気室と真空環境下に連接されているチャンバーに移送し、該チャンバー内で前記基板の光記録層形成面に光記録層を形成する点において異なっている。その他の点については、上述した実施形態と同様である。
【0034】
本実施の形態においては、真空紫外光照射を行った基板を、成膜予備排気室と真空環境下に連接されているチャンバーに移送し、該チャンバー内で前記基板の光記録層形成面に光記録層を形成するので、真空紫外光照射を行った基板が大気に暴露されずに光記録層が形成されるので、基板が大気中に放置されることがなく、大気中の有機物により基板表面が汚染されることがない。
【0035】
【実施例】
以下、本発明を実施例により更に詳細に説明する。なお、本発明の範囲は、かかる実施例に限定されないことはいうまでもない。
実施例1
図1に示すような光ディスク媒体製造装置を用いて光ディスク媒体を製造した。自公転式パレットに透明樹脂基板を8枚セットし、Xeガスを封入した誘電体バリア放電エキシマランプを用いて波長172nm(放射照度7mW/cm)の単一真空紫外光を前記8枚の基板に照射した。
【0036】
まず、図1に示す光ディスク媒体製造装置に、レーザ光をガイドする案内溝が形成された8枚の透明樹脂基板1(厚さ0.6mm、直径120mm)を自公転式パレット2に支持し、該自公転式パレット2を予備排気室3に導入した。次いで、予備排気室3内を1×10−4〜1×10−3Paの圧力まで予備排気した後、前記自公転式パレット2を回転させながら酸素ガスを50SCCM導入し、酸素ガス圧を100Paにした。次いで、基板に波長172nmの単一紫外光4を30秒間照射した。
【0037】
次いで、単一紫外光が照射された基板を支持した自公転式パレット2を真空環境下で連接されている次のチャンバーである、インライン方のスパッタ装置に移送した。
図2は、本実施例で製造される光ディスク媒体の断面図を示すものである。図2を用いて、順次説明する。
【0038】
先ず、基板1上に、Tiを2質量%含有するAlTi合金ターゲットを用いてアルゴンガス雰囲気中でターゲットと基板との間の距離を15cmにしてパワー密度1.6W/cm、ガス圧0.08Paにて100nmの厚みの反射膜層11を形成した。
次いで、ZnS・SiOターゲットを用いてアルゴンガス雰囲気中でターゲットと基板との間の距離を15cmにしてパワー密度2.2W/cm、ガス圧0.1Paにて35nmの厚みの第1誘電体層12を形成した。
【0039】
次いで、GeSbTeターゲットを用いてアルゴンガス雰囲気中でターゲットと基板との間の距離を15cmにしてパワー密度0.27W/cm、ガス圧1.0Paにて15nmの厚みの相変化記録層13を形成した。
次いで、ZnS・SiOターゲットを用いてアルゴンガス雰囲気中でターゲットと基板との間の距離を15cmにしてパワー密度2.2W/cm、ガス圧0.1Paにて130nmの厚みの第2誘電体層14を形成した。
【0040】
なお、各層の成膜時間は、適宜所望の厚みになるように調整した。第2誘電体層14を成膜した後、第2誘電体層14の上に紫外線硬化樹脂を塗布及び展開し、紫外線を照射して該紫外線硬化樹脂を硬化させて100μmの厚みの光透過層15を形成し、光ディスク媒体を得た。なお、ここで用いられる紫外線硬化樹脂の塗布量及び展開時間は、適宜所望の膜厚になるように調整した。図2に示した光ディスク媒体の断面図においては、真空紫外光照射面10を示してあるが、実際には該真空紫外光照射面10の厚みは測定することはできないが、図2においては、概念的に真空紫外光照射面を示した。
【0041】
試験例1
基板に単一真空紫外光照射した後に、該基板を一旦大気暴露し、大気中に60分間放置した。大気暴露した直後の基板及び大気中に60分間放置した基板について、濡れ性の一指標である水の接触角を測定したところ、大気暴露した直後の基板の水の接触角は5度程度であったのに対し、大気中に60分間放置したものの水の接触角は15度程度であった。従って、一旦、単一紫外光照射を行った基板を大気暴露したり、大気中で照射した後長時間放置することが好ましくないことがわかる。以下の実施例においては、単一紫外光照射を行った基板については真空度を下げることなく、以下の成膜プロセスを行っている。
【0042】
実施例2
単一紫外光照射装置の発光面と透明樹脂基板1の最表面との間の距離dを1〜50mmの範囲で変化させて実施例1と同様に操作を行って光ディスク媒体を作成し、それぞれの光ディスク媒体について媒体ノイズを測定した。図3は、発光面と透明樹脂基板の最表面との間の距離dと媒体ノイズレベルとの関係を示すグラフである。図3に示されるように、媒体ノイズレベルは、前記距離が1〜30mmの間では、照射距離の増加に伴いわずかに増加するが、30mmを超えると急激に増加することがわかる。図3には、紫外光未照射の媒体のノイズレベルも示した。
【0043】
図3に示されるように、前記距離が50mmの場合は、真空紫外光を照射しない媒体と同程度のノイズレベルを示している。これは、単一真空紫外光発光面と基板表面との間の距離が大きくなると、基板表面に紫外光が到達する前に酸素原子に吸収され、エネルギーが低下し、基板表面に付着している有機物の分子結合の切断が行われなくなるため、基板表面のエッチング能力が失われることによるものである。従って、単一紫外光の発光面と透明樹脂基板の最表面との間の距離は30mm以下であることが好ましい。
【0044】
実施例3
真空予備排気室内の酸素ガス圧を1Pa〜1×10Paの間で変化させ、真空紫外光を基板に照射し、その後実施例1と同様に操作を行って光ディスク媒体を製造した。なお、真空紫外光の発光面と基板の最表面との間の距離は5mmに固定して行った。得られた光ディスク媒体について媒体ノイズを測定した。
【0045】
図4は、真空予備排気室内の酸素ガス圧と光ディスク媒体のノイズレベルとの関係を示すグラフである。図4に示されるように、真空予備排気室内の酸素ガス圧が10Pa〜5×10Paの範囲では、媒体ノイズは比較的低かったが、それ以外の範囲では媒体ノイズが上昇する傾向が見られた。1Paにおいてはノイズが高い要因は、真空紫外光が吸収される酸素量が少なくため、励起酸素原子の生成量が少なく、そのため基板表面のエッチング能力が低下したことによるものである。一方、1×10Paにおいては、低真空のために酸素原子過多となり、基板表面に紫外光が到達する前に酸素原子に吸収されてしまい、紫外光のエネルギーが低下し、基板表面に付着した有機物の分子結合の切断が積極的に行われなくなり、基板表面のエッチング能力が失われ、ノイズが増加する。従って、真空紫外光を照射する際の真空予備排気室内の真空度は10〜5×10Paであることが好ましい。
【0046】
なお、上述した方法によって製造された光ディスク媒体には、いずれも反りや変形等は認められなかった。
【0047】
上記実施例においては、真空紫外光の照射は連続光の照射により行ったが、自公転パレットの回転数と照射時間とのかねあいによっては、多数の基板に対して均一に紫外光を照射することが困難な場合がある。このような場合には、比較的長い時間の照射時間を設定し、複数枚の基板を均一にエッチングするためにパルス照射を行ってもよい。パルス照射を行った場合にも同様の効果が得られた。
【0048】
また、上記実施例においては、Xeガスを封入した誘電体バリア放電エキシマランプを用いて波長が172nmの単一真空紫外光を照射しているが、封入ガスとしてArを用いた波長126nm、又はKrガスを用いた波長146nmの単一真空紫外光を照射した場合にも同様の効果が得られた。また、真空紫外光の照射照度は上述のものに限定されず、成膜タクト等のかねあいによって適宜最適な照射照度を選定してもよい。
【0049】
上述した実施例における、記録膜、反射膜、誘電体層の材料や層の数、各々の膜の成膜方法は上述したものに限定されず、所望の記録再生特性及び用途に応じて適宜選択される。また、各膜の成膜方法や材料、層の数等によって、効果が変わるものではない。また、基板の材料及び厚みも上述のものに限定されず、適宜選択してもよい。また、上記実施例では光透過層15として紫外線硬化樹脂を用いたが、例えば厚みが100μmのPCフィルムを用いても同様の効果が得られた。
【0050】
【発明の効果】
以上詳述した通り、本発明の光ディスク製造方法によれば、成膜前の基板表面を平坦にし、しかも紫外光照射によって分子結合が切断された有機物が除去されやすくして、常に一定の状態を有する低ノイズかつ高品質の光ディスク媒体を製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の光ディスク媒体の製造方法に適用される光ディスク媒体製造装置の一実施の形態についての断面構成図を示す図である。
【図2】 本実施例で製造される光ディスク媒体の断面図を示すものである。
【図3】 発光面と透明樹脂基板の最表面との間の距離dと媒体ノイズレベルとの関係を示すグラフである。
【図4】 真空予備排気室内の酸素ガス圧と光ディスク媒体のノイズレベルとの関係を示すグラフである。
【符号の説明】
1 基板
2 パレット
3 真空予備排気室
4 真空紫外光
5 ランプ
6 真空紫外光照射装置
7 紫外光発光面
8 回転モータ
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
  The present invention relates to a method for manufacturing an optical disk medium, and more specifically, it is possible to manufacture a low-noise and high-quality optical disk medium having a constant state by flattening the substrate surface before film formation.The present invention relates to an optical disk medium manufacturing method.
[0002]
[Prior art]
  An optical information recording method using laser light has been put to practical use as a large-capacity memory because it enables non-contact and high-speed access to a large amount of information. As an optical recording / reproducing medium using such an optical information recording method, a read-only type known as a compact disc or a laser disc, a write-once type that can be recorded by the user himself, and a repetitive recording on the user side. It can be classified as a rewritable recording / reproducing medium that can be reproduced.
[0003]
  The recordable and rewritable optical information recording / reproducing media are being used as an external memory of a computer, a document, and an image file. The rewritable optical information reproducing medium includes a phase change type optical disk that records information by using a phase change of a recording film and a magneto-optical disk that records information by using a change in the magnetization direction of a perpendicular magnetization film. is there. Among the above, the phase change type optical disc does not require an external magnetic field required for the magneto-optical disc when recording information, and moreover, overwriting of recorded information, that is, overwriting can be easily performed. In the future, it is expected to become the mainstream of rewritable optical information recording / reproducing media.
[0004]
  Conventionally, a rewritable phase change type optical disk using a phase change between a crystal and an amorphous layer of a recording film by irradiation with a laser beam has been used. In a phase change optical disc, the recording film is irradiated with high-power laser light, and the temperature of the recording film is locally increased to generate a phase change between the crystal and the amorphous state of the recording film. We are recording. Reproduction of recorded information is performed by irradiating laser light having a relatively low power as compared with recording and detecting a change in optical constant of the information recording unit as a reflected light intensity difference.
[0005]
  The recording film of the phase change optical disc uses chalcogenide-based materials, such as GeSbTe-based, InSbTe-based, and AgInSbTe-based materials. It is formed by a film forming method such as an electron beam vacuum deposition method or a sputtering method. The state of the recording film immediately after film formation is a kind of amorphous state, and information is recorded on this recording film to form an amorphous recording portion, so that the entire recording film is made crystalline. Initialization processing is performed. Recording is performed by forming an amorphous portion in the crystallized state.
[0006]
  A general recording / reproducing method for a phase change optical disc is performed by performing crystallization or amorphous by changing the power of laser light between two levels. That is, at the time of recording, when the recording film is irradiated with a laser beam having a power capable of raising the temperature of the recording film above the melting point, and the irradiated portion becomes an amorphous state when cooled, on the other hand, when erasing information The recording film is irradiated with a laser beam having such a power that the temperature of the recording film reaches a temperature not lower than the crystallization temperature and not higher than the melting point. Reproduction is read as reflected light intensity difference by irradiating with low power laser light.
[0007]
  The recording film constituting the phase change type optical disc as described above is formed on a transparent disc substrate on which a spiral or concentric guide groove, that is, a recording track (land portion: concave portion and groove portion: convex portion) is previously arranged. Is done. Laser light emitted from the optical head of the information recording / reproducing apparatus is guided along the information row by the recording track. The recording track has a concave shape and a convex shape alternately arranged. When viewed from the optical head, a concave shape, that is, a far side is referred to as a land portion, and conversely, a convex shape, that is, a near side is referred to as a groove portion. The distance from the center of the land portion or groove portion to the center of the adjacent land portion or groove portion is called a track pitch.
[0008]
  In order to form a phase change optical disk medium using a recording film and a substrate as described above, a first dielectric layer, a recording film, and a second dielectric layer are sequentially disposed on a transparent disk substrate. Or a first dielectric layer, a recording film, a second dielectric layer, and a reflective film are prepared on the transparent disk substrate, or the first dielectric layer, the first dielectric layer, In general, the second dielectric layer, the recording film, the third dielectric layer, the reflective film, and the like are sequentially disposed.
[0009]
  Further, in the layer change type optical disk medium as described above, information is recorded on and reproduced from the recording film by the incidence of laser light from the transparent disk substrate side.
[0010]
  With the recent demand for higher recording density, information is recorded on both the track pitch of the recording track and the concave portion (land portion) of the guide groove and the convex portion (groove portion) between the land portions. Land / groove recording for recording is becoming common. Further, in order to improve the recording density, the spot diameter of the laser beam is being miniaturized.
[0011]
  Since the spot diameter of the laser beam depends on λ / NA of the recording / reproducing diameter (λ: wavelength of the laser beam, NA: numerical aperture of the objective lens), the wavelength of the laser beam is shortened and the numerical aperture of the objective lens is reduced. By increasing the size, the spot diameter of the laser beam is reduced, and the recording density can be increased.
[0012]
  However, as described above, when the numerical aperture of the objective lens is increased, coma aberration increases, and there is a concern that the signal quality is deteriorated. The coma aberration is an amount proportional to the product of the skew angle (tilt angle with respect to the optical axis of the disk), the thickness of the transparent substrate through which the laser light passes, and the third power of the numerical aperture of the objective lens. Therefore, a method for reducing the thickness of the transparent substrate through which the laser beam passes has been proposed as one means for suppressing coma.
[0013]
  As a method for reducing the thickness of the transparent substrate, a light reflection layer, a recording layer, and a thin light transmission layer are sequentially formed on the transparent substrate, and laser light is incident from the thin light transmission layer side to the recording layer. On the other hand, methods for recording and reproducing signals have been proposed. This method is different from the above-described method, which has been widely used in the past, in which the laser beam is incident from the transparent substrate side and the signal is recorded and reproduced.
[0014]
  As a method for forming the light transmission layer described above, a light reflection layer and a recording layer are sequentially formed on a transparent substrate, and then a resin sheet having a thickness of about 100 μm is pasted through an adhesive layer having a thickness of several μm. There are known a method of applying a thin film, a method of forming a thin light-transmitting film, etc. by applying an ultraviolet ray curable resin onto a recording layer and then spreading the ultraviolet curable resin and then irradiating the ultraviolet ray to cure the ultraviolet curable resin.
[0015]
  On the other hand, as described above, a layer change recording medium in which a light reflection layer and a recording layer (including a dielectric layer and a phase change recording layer) are sequentially formed on a transparent substrate and then a thin light transmission layer as described above is formed. Is known to cause a problem that a large noise component is included in a reproduction signal when a signal is recorded and reproduced. When the noise component increases, the reproduced signal deteriorates and the recorded signal cannot be reproduced stably, which hinders improvement in recording density. This large noise component is transferred to the light reflecting layer on which the micro roughness of the substrate surface before deposition of the light reflecting layer and the micro organic matter adhering to the substrate surface are laminated, and as a result, the surface of the light reflecting layer is transferred. This occurs when the film is partially peeled off and the adhesion of the light reflecting layer to the hand substrate is weakened due to the influence of micro organic substances.
[0016]
  Japanese Patent Laid-Open No. 10-36536 discloses a method of irradiating ultraviolet rays using a low-pressure mercury lamp in the atmosphere before forming the light reflection layer in order to suppress the noise increase as described above. . The low-pressure mercury lamp mainly generates light having wavelengths of 185 nm and 254 nm, and ultraviolet light having a wavelength of 185 nm is absorbed by oxygen in the atmosphere to generate ozone. When ultraviolet light of 254 nm is absorbed by this ozone, excited oxygen atoms are generated. On the other hand, short wavelength ultraviolet light of 185 nm has strong photon energy and breaks molecular bonds of organic substances attached to the substrate surface. The cleaved molecule reacts with the excited oxygen atom having a very strong oxidizing power to react with carbon dioxide (CO2) And moisture (H 2 O) or the like and are scattered and removed. Therefore, the cleaning speed of the substrate surface is strongly influenced by the number of excited oxygen atoms described above.
[0017]
  However, depending on the method disclosed in the above publication, a relatively long irradiation time of about 5 to 20 minutes may be used in order to remove the microscopic surface roughness of the substrate surface and the micro organic matter adhering to the substrate surface. In short, it is inferior in mass productivity. Also, with low-pressure mercury with a large area that can process many substrates at once, after all the substrates that can be set on the pallet (usually 8 to 10) have been processed, the substrate is mounted on the pallet. And evacuated. Therefore, in such a method, the substrate processed first is left in the atmosphere for 40 minutes or more after the treatment, and contamination of the substrate surface with organic substances during that time is inevitable. Furthermore, considering the spectral characteristics of the low-pressure mercury lamp described above, ultraviolet light of 185 nm and 254 nm is mainly irradiated, but infrared light having a longer wavelength is also irradiated. For this reason, when irradiation as described above is performed for a relatively long time, there is a problem that the temperature of the substrate rises and the substrate is deformed.
[0018]
[Problems to be solved by the invention]
  Accordingly, an object of the present invention is to produce a low-noise and high-quality optical disk medium that has a flat substrate surface before film formation and always has a constant state.Manufacturing method of optical disk mediumIs to provide.
[0019]
[Means for Solving the Problems]
  A book that solves the problemIn the method of manufacturing an optical disk medium according to the invention, the vacuum ultraviolet light irradiation performed on the optical recording layer forming surface of the substrate in the film formation preliminary exhaust chamber is performed while oxygen gas is introduced into the film formation preliminary exhaust chamber, and then the vacuum ultraviolet light irradiation is performed. The substrate subjected to the above is transferred to a chamber connected to the film forming preliminary exhaust chamber in a vacuum environment, and an optical recording layer is formed on the optical recording layer forming surface of the substrate in the chamber. .
[0019]
By adopting such a configuration, vacuum ultraviolet light irradiation is performed while introducing oxygen gas into the film-formation preliminary exhaust chamber, so that the molecular bonds of organic substances attached to the substrate surface by ultraviolet light irradiation are cut and free radicals are expressed. In contrast, by actively introducing oxygen, CO 2 And H 2 Manufactures optical disk media with reduced noise by being scattered and removed as gas such as O be able to. In addition, since the film formation preliminary exhaust chamber and the chamber are connected in a vacuum environment, the substrate irradiated with ultraviolet light is transferred into the chamber without being exposed to the atmosphere, and the substrate surface before film formation is flattened and always constant. It is possible to manufacture a low-noise and high-quality optical disc medium having the above state.
[0020]
The oxygen gas pressure in the film-formation preliminary exhaust chamber can be set to 10 to 5000 Pa, and further, vacuum ultraviolet light irradiation to the optical recording layer forming surface of the substrate is performed by irradiating the ultraviolet light with a plurality of sheets. When processing these substrates, it becomes possible to etch a plurality of substrates uniformly.
[0021]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
  Hereinafter, first of the present inventionApplied to optical disk medium manufacturing methodAn optical disk medium manufacturing apparatus will be described with reference to the drawings.
  FIG. 1 illustrates the present invention.Applied to optical disk medium manufacturing methodIt is a figure which shows the cross-sectional block diagram about one Embodiment of an optical disk medium manufacturing apparatus. As shown in FIG. 1, the optical disk medium manufacturing apparatus of the present invention has a pallet 2 that supports an introduced substrate 1 and a single vacuum ultraviolet light having a wavelength of 180 nm or less facing the pallet 2 that supports the substrate 1. A film formation preliminary exhaust chamber 3 including an irradiation device 6 is provided. In the optical disk medium manufacturing apparatus shown in FIG. 1, the pallet 2 is a self-revolving pallet and is rotated by a rotary motor.
  The substrate 1 is preferably a substrate having prepits.
[0022]
  Further, the single vacuum ultraviolet light is irradiated from the lamp 5 included in the single vacuum ultraviolet light irradiation device 6. The wavelength of the vacuum ultraviolet light emitted from the single vacuum ultraviolet light irradiation device provided in the optical disk medium manufacturing apparatus shown in FIG. 1 only needs to be 180 nm or less, for example, a single ultraviolet light having a wavelength of 172 Will be irradiated.
  Although not shown in FIG. 1, the optical disk medium manufacturing apparatus of the present invention includes a chamber for forming at least one thin film, for example, an optical recording layer, on a substrate 1.
[0023]
  The vacuum preliminary exhaust chamber 2 and the chamber are preferably connected in a vacuum environment.
  Since it is configured in this way, the substrate 1 irradiated with ultraviolet light is phased in the chamber without being exposed to the atmosphere, so that the surface of the substrate 1 before film formation is flattened and the noise is always constant. In addition, a high-quality optical disk medium can be manufactured.
[0024]
  The pallet 2 is rotatable, and the single vacuum ultraviolet light irradiation device 6 is disposed so as to be able to irradiate the substrate 1 supported by the pallet 2 with a single vacuum ultraviolet light. In the optical disk medium manufacturing apparatus shown in FIG. 1, the pallet 2 is a self-revolving pallet and is configured to support eight substrates 1 at a time. And the said single vacuum ultraviolet light irradiation apparatus 6 is arrange | positioned so that a single vacuum ultraviolet light can be irradiated to the board | substrate 1 supported by the said pallet 2. As shown in FIG.
[0025]
  The distance between the ultraviolet light emitting surface 7 of the single vacuum ultraviolet light irradiation device 6 and the pallet 2 supporting the substrate 1 is 30 mm or less. By using such a distance, it becomes possible to manufacture an optical disk medium with further reduced noise. The distance is more preferably 1 mm to 30 mm. When this distance exceeds 30 mm, noise may increase rapidly.
[0026]
  In the optical disk medium manufacturing apparatus shown in FIG. 1, the single vacuum ultraviolet light irradiation device 6 is configured to be able to pulse the ultraviolet light 4. Thus, by irradiating the ultraviolet light 4 in a pulsed manner, when processing a plurality of substrates 1, the plurality of substrates 1 can be uniformly etched.
[0027]
  Although not shown in FIG. 1, the optical disk medium manufacturing apparatus of the present invention shown in FIG. 1 includes an oxygen gas introduction unit in the film formation preliminary exhaust chamber 3. By providing such an oxygen gas introduction part, molecular bonds of organic substances attached to the surface of the substrate 1Is cut by irradiation with ultraviolet light, and by actively introducing oxygen to this, CO 2 And H 2 O and other gases are scattered and removedIt becomes easy to manufacture an optical disc medium with further reduced noise.
  In addition, it is preferable that the oxygen gas pressure when it introduces into the said film-formation preliminary exhaust chamber 3 from the said oxygen gas introduction part shall be 10-5000Pa.
[0028]
  Next, an embodiment of the optical disk medium manufacturing method of the present invention will be described.
The method for producing an optical disk medium of the present invention can be carried out using the above-described optical disk medium production apparatus. In the manufacturing method of the optical disk medium of the present invention, the surface of the substrate 1 on which the optical recording layer is formed is irradiated with vacuum ultraviolet light in the film formation preliminary exhaust chamber 3, and then the substrate 1 subjected to vacuum ultraviolet light irradiation is not exposed to the atmosphere. And forming an optical recording layer on the optical recording layer forming surface of the substrate.
[0029]
  As the substrate, a substrate made of a material usually used for manufacturing an optical disk medium can be used, and for example, a transparent resin substrate made of polycarbonate can be used. Further, as the optical recording layer, a material usually used for forming an optical recording layer of an optical disk medium can be used, and for example, a material made of an ultraviolet curable resin can be used.
[0030]
  Before the substrate is irradiated with vacuum ultraviolet light, it is preferable that the film formation preliminary exhaust chamber 3 is first evacuated and oxygen gas is introduced. When the vacuum is applied, the degree of vacuum is preferably 1 × 10 −4 Pa to 1 × 10 −3 Pa. The amount of oxygen gas introduced is preferably about 50 SCCM, and the oxygen gas pressure in the film formation preliminary exhaust chamber 3 is preferably 10 to 5000 Pa.
  The organic material adhering to the surface of the substrate 1 is irradiated with vacuum ultraviolet light while introducing oxygen gas.The molecular bond of is broken by irradiation with ultraviolet light, and free radicals are expressed. On the other hand, by actively introducing oxygen, CO 2 And H 2 It becomes a gas such as O and it is easy to be scattered and removed.This is because an optical disk medium with further reduced noise is manufactured.
[0031]
  The vacuum ultraviolet light irradiation is preferably performed by pulsed irradiation of ultraviolet light. By performing vacuum ultraviolet light irradiation by irradiating with ultraviolet light, even when processing a plurality of substrates, the plurality of substrates can be uniformly etched.
  In the method for producing an optical disk medium of the present invention, after the substrate is irradiated with vacuum ultraviolet light, the optical recording layer is formed on the optical recording layer forming surface of the substrate without exposing the substrate to the atmosphere. Since the optical recording layer is formed without exposing the substrate irradiated with vacuum ultraviolet light to the atmosphere in this way, the substrate surface is not left in the atmosphere, and the substrate surface is contaminated by organic substances in the atmosphere. There is no. Accordingly, it is possible to produce a low-noise and high-quality optical disk medium that has a flat substrate surface before film formation and always has a constant state.
[0032]
  In the optical disk medium manufacturing method of the present invention, after the optical recording layer is formed, a desired reflective film layer, dielectric layer, phase change recording layer, and the like are sequentially formed as appropriate, and finally the substrate is collected to recover the optical disk. Get the medium. The reflective film layer is, for example, an AlTi alloy, and the dielectric layer is, for example, ZnS · SiO.2As the layer change layer, for example, Ge2Sb2Te5It can be formed using what consists of.
[0033]
  Next, another embodiment of the method for producing an optical disk medium of the present invention will be described.
  In another embodiment of the method for producing an optical disk medium of the present invention, the substrate on which the optical recording layer forming surface of the substrate is irradiated with vacuum ultraviolet light in the film formation preliminary exhaust chamber and then the substrate subjected to vacuum ultraviolet light irradiation is formed on the film. It is transferred to a chamber connected to the preliminary exhaust chamber in a vacuum environment, and an optical recording layer is formed on the optical recording layer forming surface of the substrate in the chamber.
  This embodiment is different from the above-described embodiment in that a substrate subjected to vacuum ultraviolet light irradiation is transferred to a chamber connected to a film formation preliminary exhaust chamber in a vacuum environment, and the optical recording of the substrate is performed in the chamber. The difference is that an optical recording layer is formed on the layer forming surface. About another point, it is the same as that of embodiment mentioned above.
[0034]
  In this embodiment, the substrate that has been subjected to vacuum ultraviolet light irradiation is transferred to a chamber connected to the deposition preliminary exhaust chamber in a vacuum environment, and light is applied to the optical recording layer forming surface of the substrate in the chamber. Since the recording layer is formed, the optical recording layer is formed without exposing the substrate irradiated with vacuum ultraviolet light to the atmosphere, so that the substrate is not left in the atmosphere, and the surface of the substrate is caused by organic substances in the atmosphere. Will not be contaminated.
[0035]
【Example】
  Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples. Needless to say, the scope of the present invention is not limited to such examples.
  Example 1
  An optical disk medium was manufactured using an optical disk medium manufacturing apparatus as shown in FIG. Wavelength 172 nm (irradiance 7 mW / cm) using a dielectric barrier discharge excimer lamp with 8 transparent resin substrates set on a self-revolving pallet and filled with Xe gas2) Was applied to the eight substrates.
[0036]
  First, in the optical disk medium manufacturing apparatus shown in FIG. 1, eight transparent resin substrates 1 (thickness 0.6 mm, diameter 120 mm) on which guide grooves for guiding laser light are formed are supported on a self-revolving pallet 2; The self-revolving pallet 2 was introduced into the preliminary exhaust chamber 3. Then, the inside of the preliminary exhaust chamber 3 is 1 × 10-4~ 1x10-3After preliminary evacuation to a pressure of Pa, 50 SCCM of oxygen gas was introduced while rotating the self-revolving pallet 2 to bring the oxygen gas pressure to 100 Pa. Next, the substrate was irradiated with single ultraviolet light 4 having a wavelength of 172 nm for 30 seconds.
[0037]
  Next, the self-revolving pallet 2 supporting the substrate irradiated with single ultraviolet light was transferred to an in-line sputtering apparatus, which is the next chamber connected in a vacuum environment.
  FIG. 2 shows a cross-sectional view of the optical disk medium manufactured in this embodiment. Description will be made sequentially with reference to FIG.
[0038]
  First, using an AlTi alloy target containing 2% by mass of Ti on the substrate 1, the distance between the target and the substrate is 15 cm in an argon gas atmosphere, and the power density is 1.6 W / cm.2The reflective film layer 11 having a thickness of 100 nm was formed at a gas pressure of 0.08 Pa.
  Next, ZnS · SiO2Using the target, the power density is 2.2 W / cm with a distance of 15 cm between the target and the substrate in an argon gas atmosphere.2The first dielectric layer 12 having a thickness of 35 nm was formed at a gas pressure of 0.1 Pa.
[0039]
  Then Ge2Sb2Te5Using the target, the power density is 0.27 W / cm at a distance of 15 cm between the target and the substrate in an argon gas atmosphere.2The phase change recording layer 13 having a thickness of 15 nm was formed at a gas pressure of 1.0 Pa.
  Next, ZnS · SiO2Using the target, the power density is 2.2 W / cm with a distance of 15 cm between the target and the substrate in an argon gas atmosphere.2The second dielectric layer 14 having a thickness of 130 nm was formed at a gas pressure of 0.1 Pa.
[0040]
  The film formation time for each layer was adjusted to a desired thickness as appropriate. After forming the second dielectric layer 14, an ultraviolet curable resin is applied and spread on the second dielectric layer 14, and the ultraviolet curable resin is cured by irradiating with ultraviolet rays to form a light transmission layer having a thickness of 100 μm. 15 was formed to obtain an optical disk medium. In addition, the application amount and development time of the ultraviolet curable resin used here were adjusted so as to have a desired film thickness as appropriate. In the cross-sectional view of the optical disk medium shown in FIG. 2, the vacuum ultraviolet light irradiation surface 10 is shown. In practice, the thickness of the vacuum ultraviolet light irradiation surface 10 cannot be measured, but in FIG. Conceptually, the surface exposed to vacuum ultraviolet light is shown.
[0041]
  Test example 1
  After the substrate was irradiated with single vacuum ultraviolet light, the substrate was once exposed to the atmosphere and left in the atmosphere for 60 minutes. When the contact angle of water, which is an index of wettability, was measured on a substrate immediately after exposure to the atmosphere and a substrate left in the atmosphere for 60 minutes, the contact angle of water on the substrate immediately after exposure to the atmosphere was about 5 degrees. On the other hand, the contact angle of water after being left in the atmosphere for 60 minutes was about 15 degrees. Therefore, it can be seen that it is not preferable to expose the substrate once irradiated with a single ultraviolet light to the atmosphere or leave it for a long time after being irradiated in the atmosphere. In the following examples, the following film forming process is performed without lowering the degree of vacuum on the substrate subjected to the single ultraviolet light irradiation.
[0042]
  Example 2
  An optical disk medium is prepared by performing the same operation as in Example 1 while changing the distance d between the light emitting surface of the single ultraviolet light irradiation device and the outermost surface of the transparent resin substrate 1 within a range of 1 to 50 mm. The medium noise was measured for the optical disk medium. FIG. 3 is a graph showing the relationship between the distance d between the light emitting surface and the outermost surface of the transparent resin substrate and the medium noise level. As shown in FIG. 3, it can be seen that the medium noise level slightly increases with an increase in irradiation distance when the distance is between 1 and 30 mm, but rapidly increases when the distance exceeds 30 mm. FIG. 3 also shows the noise level of the medium not irradiated with ultraviolet light.
[0043]
  As shown in FIG. 3, when the distance is 50 mm, the noise level is the same as that of the medium not irradiated with vacuum ultraviolet light. This is because when the distance between the single vacuum ultraviolet light emitting surface and the substrate surface is increased, the ultraviolet light is absorbed by oxygen atoms before reaching the substrate surface, the energy is reduced, and the substrate surface is attached. This is due to the loss of the etching ability of the substrate surface because the molecular bonds of the organic substance are not cut. Therefore, the distance between the single ultraviolet light emitting surface and the outermost surface of the transparent resin substrate is preferably 30 mm or less.
[0044]
  Example 3
  The oxygen gas pressure in the vacuum pre-exhaust chamber is 1 Pa to 1 × 104The optical disk medium was manufactured by changing the pressure between Pa and irradiating the substrate with vacuum ultraviolet light, and then performing the same operation as in Example 1. The distance between the vacuum ultraviolet light emitting surface and the outermost surface of the substrate was fixed at 5 mm. Medium noise was measured for the obtained optical disk medium.
[0045]
  FIG. 4 is a graph showing the relationship between the oxygen gas pressure in the vacuum preliminary exhaust chamber and the noise level of the optical disk medium. As shown in FIG. 4, the oxygen gas pressure in the vacuum preliminary exhaust chamber is 10 Pa to 5 × 10 6.3In the range of Pa, the media noise was relatively low, but in other ranges, the media noise tended to increase. The reason why the noise is high at 1 Pa is that the amount of excited oxygen atoms generated is small because the amount of oxygen absorbed by vacuum ultraviolet light is small, and therefore the etching ability of the substrate surface is lowered. Meanwhile, 1 × 104In Pa, oxygen atoms are excessive due to the low vacuum, and the ultraviolet light is absorbed by the oxygen atoms before reaching the substrate surface, the energy of the ultraviolet light is reduced, and the molecular bonds of the organic substances attached to the substrate surface are reduced. Cutting is not actively performed, the etching ability of the substrate surface is lost, and noise increases. Therefore, the degree of vacuum in the vacuum pre-evacuation chamber when irradiating with vacuum ultraviolet light is 10 to 5 × 10.3Pa is preferred.
[0046]
  In addition, no warpage or deformation was observed in any of the optical disk media manufactured by the above-described method.
[0047]
  In the above embodiment, the irradiation with vacuum ultraviolet light was performed by continuous light irradiation. However, depending on the balance between the rotation speed of the revolving pallet and the irradiation time, it is possible to uniformly irradiate a large number of substrates with ultraviolet light. May be difficult. In such a case, a relatively long irradiation time may be set, and pulse irradiation may be performed to uniformly etch a plurality of substrates. Similar effects were obtained when pulsed irradiation was performed.
[0048]
  In the above embodiment, the dielectric barrier discharge excimer lamp in which Xe gas is sealed is used to irradiate single vacuum ultraviolet light having a wavelength of 172 nm, but the wavelength is 126 nm using Ar as the sealing gas, or Kr. Similar effects were obtained when single vacuum ultraviolet light having a wavelength of 146 nm using a gas was irradiated. Further, the irradiation illuminance of the vacuum ultraviolet light is not limited to the above-described one, and an optimal irradiation illuminance may be appropriately selected depending on the balance of film formation tact and the like.
[0049]
  In the above-described embodiments, the recording film, the reflective film, the dielectric layer material and the number of layers, and the method of forming each film are not limited to those described above, and are appropriately selected according to the desired recording / reproduction characteristics and application. Is done. In addition, the effect does not change depending on the film forming method and material of each film, the number of layers, and the like. Further, the material and thickness of the substrate are not limited to those described above, and may be appropriately selected. Moreover, although the ultraviolet curable resin was used as the light transmission layer 15 in the said Example, the same effect was acquired even if it used the PC film whose thickness is 100 micrometers, for example.
[0050]
【The invention's effect】
  As detailed above,Of the present inventionAccording to the optical disc manufacturing method, the substrate surface before film formation is flattened,Moreover, the organic matter whose molecular bond is broken by ultraviolet light irradiation is easily removed,A low-noise and high-quality optical disk medium that always has a constant state can be manufactured.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 of the present inventionApplied to optical disk medium manufacturing methodIt is a figure which shows the cross-sectional block diagram about one Embodiment of an optical disk medium manufacturing apparatus.
FIG. 2 is a cross-sectional view of an optical disk medium manufactured in this example.
FIG. 3 is a graph showing the relationship between the distance d between the light emitting surface and the outermost surface of the transparent resin substrate and the medium noise level.
FIG. 4 is a graph showing the relationship between the oxygen gas pressure in the vacuum preliminary exhaust chamber and the noise level of the optical disk medium.
[Explanation of symbols]
1 Substrate
2 Palette
3 Vacuum preliminary exhaust chamber
4 Vacuum ultraviolet light
5 lamps
6 Vacuum ultraviolet light irradiation equipment
7 Ultraviolet light emitting surface
8 Rotating motor

Claims (3)

成膜予備排気室内で基板の光記録層形成面に行う真空紫外光照射を、前記成膜予備排気室内に酸素ガスを導入しながら行ない、次いで真空紫外光照射を行った基板を、前記成膜予備排気室と真空環境下に連接されているチャンバーに移送し、該チャンバー内で前記基板の光記録層形成面に光記録層を形成することを特徴とする光ディスク媒体の製造方法。Vacuum ultraviolet light irradiation performed on the optical recording layer forming surface of the substrate in the film formation preliminary exhaust chamber is performed while introducing oxygen gas into the film formation preliminary exhaust chamber, and then the substrate subjected to vacuum ultraviolet light irradiation is formed on the film. A method for producing an optical disk medium, comprising: transferring to a chamber connected to a preliminary exhaust chamber in a vacuum environment, and forming an optical recording layer on the optical recording layer forming surface of the substrate in the chamber. 前記成膜予備排気室内の酸素ガス圧が10〜5000Paである、請求項1に記載の光ディスク媒体の製造方法。The method for producing an optical disk medium according to claim 1, wherein an oxygen gas pressure in the deposition preliminary exhaust chamber is 10 to 5000 Pa. 前記基板の光記録層形成面への真空紫外光照射を、紫外光をパルス照射して行なう、請求項2に記載の光ディスク媒体の製造方法。3. The method of manufacturing an optical disk medium according to claim 2, wherein the irradiation with vacuum ultraviolet light on the optical recording layer forming surface of the substrate is performed by pulse irradiation with ultraviolet light.
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