JP2002168915A - Connection structure of inspection equipment to electronic unit and method of inspecting electronic unit - Google Patents

Connection structure of inspection equipment to electronic unit and method of inspecting electronic unit

Info

Publication number
JP2002168915A
JP2002168915A JP2000365033A JP2000365033A JP2002168915A JP 2002168915 A JP2002168915 A JP 2002168915A JP 2000365033 A JP2000365033 A JP 2000365033A JP 2000365033 A JP2000365033 A JP 2000365033A JP 2002168915 A JP2002168915 A JP 2002168915A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic unit
inspection
microcomputer
probe
inspection machine
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000365033A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3608506B2 (en
Inventor
Takeshi Hosono
剛 細野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Wiring Systems Ltd filed Critical Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority to JP2000365033A priority Critical patent/JP3608506B2/en
Publication of JP2002168915A publication Critical patent/JP2002168915A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3608506B2 publication Critical patent/JP3608506B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make an electronic unit inspected by information communication, even when an input and output circuit for the information communication is not connected to a connector for external connection of the electronic unit, or when the input and output circuit for the information communication is not provided in the electronic unit. SOLUTION: In this connection structure for the inspection equipment and the electronic unit, a probe 37 of the inspection equipment 31 is brought into contact with a pad part 27 provided in a circuit board 25 of the electronic unit 21 to be connected, a communication signal is directly transferred between the probe 37 and a terminal (UART port) 23a of a microcomputer 23 through the probe 37, the pad part 27 and a printed wiring 29, so as to conduct inspection.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、マイコンを備えた
電子ユニットを検査機により検査する際の検査機と電子
ユニットとの接続構造および電子ユニットの検査方法に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a connection structure between an inspection unit and an electronic unit when an electronic unit having a microcomputer is inspected by the inspection unit, and a method of inspecting the electronic unit.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4は、従来の検査機と電子ユニットと
の接続構造の構成を示すブロック図である。この接続構
造では、図4に示すように、電子ユニット1に設けられ
たコネクタ3を介して、検査機(出荷検査機)5が電子
ユニット1に接続されるようになっている。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is a block diagram showing the structure of a conventional connection structure between an inspection machine and an electronic unit. In this connection structure, as shown in FIG. 4, an inspection machine (shipping inspection machine) 5 is connected to the electronic unit 1 via a connector 3 provided on the electronic unit 1.

【0003】この電子ユニット1には、マイコン7と、
外部入力を受け付けてマイコン7に入力する各種入力回
路(9,11等)と、マイコン7の出力を受け付けて外
部に出力する各種出力回路(13等)とが少なくとも設
けられている。そして、この電子ユニット1では、入力
回路としては、エントリ波形入力回路9、通信入力回路
11などが設けられており、出力回路としては、通信出
力回路13などが設けられている。
The electronic unit 1 includes a microcomputer 7 and
At least a variety of input circuits (9, 11, etc.) for receiving external inputs and inputting them to the microcomputer 7, and various output circuits (13, etc.) for receiving outputs of the microcomputer 7 and outputting them to the outside are provided. In the electronic unit 1, an input circuit includes an entry waveform input circuit 9, a communication input circuit 11, and the like, and an output circuit includes a communication output circuit 13 and the like.

【0004】エントリ波形入力回路9は、マイコン7の
動作モードを通常モードと検査モードとの間で切り替え
るためのエントリ波形(エントリ信号)の入力を受け付
けてマイコン7に与える。通信入力回路11は、入力さ
れる通信信号を受け付けてマイコン7に与える。通信出
力回路13は、マイコン7が出力する通信信号を受け付
けて外部に出力する。各回路9,11,13への入出力
は、コネクタ3を介して行われる。マイコン7は、通信
機能を有しており、通信信号の入出力のためのポート7
a,7b、およびエントリ波形受け入れ用のポート7c
を少なくとも有している。
The entry waveform input circuit 9 receives an input of an entry waveform (entry signal) for switching the operation mode of the microcomputer 7 between the normal mode and the inspection mode, and gives the input to the microcomputer 7. The communication input circuit 11 receives an input communication signal and supplies the communication signal to the microcomputer 7. The communication output circuit 13 receives a communication signal output by the microcomputer 7 and outputs the communication signal to the outside. Input / output to / from each of the circuits 9, 11, 13 is performed via the connector 3. The microcomputer 7 has a communication function, and has a port 7 for inputting and outputting communication signals.
a, 7b, and port 7c for receiving an entry waveform
At least.

【0005】そして、検査の際には、検査機5側のコネ
クタ15と電子ユニット1側のコネクタ3とを接続し、
検査機5から電子ユニット1にエントリ波形を入力して
マイコン7の動作モードを検査モードに切り替えた後、
通信入力回路11および出力回路13を介した情報通信
を用いて電子ユニット1の各種検査を行うようになって
いる。
At the time of inspection, the connector 15 on the inspection machine 5 and the connector 3 on the electronic unit 1 are connected.
After inputting an entry waveform from the inspection machine 5 to the electronic unit 1 and switching the operation mode of the microcomputer 7 to the inspection mode,
Various tests of the electronic unit 1 are performed using information communication via the communication input circuit 11 and the output circuit 13.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来の接続構造では、検査の際の通信信号の送受をコネ
クタ3を介して行うようになっているため、コネクタ3
と通信入力回路11および通信出力回路13とが接続さ
れていない電子ユニット1や、そもそも通信入力回路1
1および通信出力回路13が備えられていない電子ユニ
ット1では、情報通信による検査を行うことができない
という問題がある。
However, in the above-described conventional connection structure, transmission and reception of communication signals at the time of inspection are performed via the connector 3.
The electronic unit 1 to which the communication input circuit 11 and the communication output circuit 13 are not connected, or the communication input circuit 1
In the electronic unit 1 not provided with the communication output circuit 1 and the communication output circuit 13, there is a problem that the inspection by the information communication cannot be performed.

【0007】そこで、本発明は前記問題点に鑑み、電子
ユニットの外部接続用のコネクタに情報通信のための入
出力回路が接続されていない場合や、情報通信のための
入出力回路が電子ユニットに設けられていない場合で
も、情報通信による電子ユニットの検査が可能な検査機
と電子ユニットとの接続構造および電子ユニットの検査
方法を提供することを目的とする。
[0007] In view of the above problems, the present invention provides a case where an input / output circuit for information communication is not connected to a connector for external connection of the electronic unit, or a case where the input / output circuit for information communication is provided in the electronic unit. An object of the present invention is to provide a connection structure between an inspection machine and an electronic unit capable of inspecting an electronic unit by information communication even when the electronic unit is not provided, and a method of inspecting the electronic unit.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の技術的手段は、情報通信の可能なポートを有するマイ
コンを備えた電子ユニットを検査機により検査する際の
検査機と電子ユニットとの接続構造であって、前記マイ
コンの前記ポートと配線接続されたパッド部が、前記マ
イコンが配設された回路基板に設けられ、前記パッド部
に接触接続可能であり、情報通信を用いて前記電子ユニ
ットの検査を行う前記検査機の検査回路と接続されたプ
ローブが、前記検査機側に設けられることを特徴とす
る。
A technical means for achieving the above object is to provide a method for inspecting an electronic unit having a microcomputer having a port through which information can be communicated, by using the inspector and the electronic unit. A connection structure, wherein a pad portion wired and connected to the port of the microcomputer is provided on a circuit board on which the microcomputer is provided, and can be contact-connected to the pad portion, and the electronic device can be connected to the electronic device using information communication. A probe connected to an inspection circuit of the inspection machine for inspecting a unit is provided on the inspection machine side.

【0009】好ましくは、前記プローブが、検査時に前
記電子ユニットの前記回路基板が設置される検査機の設
置台に突設されており、前記回路基板が前記設置台上の
所定位置に設置されるのに伴って前記パッド部に当接す
るように位置決めされているのがよい。
Preferably, the probe is protruded from an installation table of an inspection machine on which the circuit board of the electronic unit is installed at the time of inspection, and the circuit board is installed at a predetermined position on the installation table. Accordingly, it is preferable that the positioning is performed so as to contact the pad portion.

【0010】また、好ましくは、前記パッド部は、前記
回路基板上に配設されたプリント配線のランド部である
のがよい。
Preferably, the pad portion is a land portion of a printed wiring arranged on the circuit board.

【0011】さらに、好ましくは、前記マイコンは、U
ARTを有しており、前記パッド部が接続される前記マ
イコンの前記ポートは、UARTポートであるのがよ
い。
Further, preferably, the microcomputer comprises a U
It is preferable that the microcomputer has an ART, and the port of the microcomputer to which the pad section is connected is a UART port.

【0012】また、前記目的を達成するための技術的手
段は、情報通信の可能なポートを有するマイコンを備え
た電子ユニットを検査機により検査する電子ユニットの
検査方法であって、前記マイコンの前記ポートと配線接
続されたパッド部を、前記マイコンが配設された回路基
板に設け、前記パッド部に接触接続可能であり、情報通
信を用いて前記電子ユニットの検査を行う前記検査機の
検査回路と接続されたプローブを、前記検査機側に設
け、前記プローブを前記パッド部に接触接続させて、前
記プローブおよび前記パッド部を介した前記マイコンと
前記検査回路との間の情報通信を用いて前記電子ユニッ
トの検査を行うことを特徴とする。
According to another aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting an electronic unit having a microcomputer having a port through which information can be communicated, using an inspection machine. An inspection circuit of the inspection machine which is provided on a circuit board on which the microcomputer is provided, and which can be contact-connected to the pad portion, and which inspects the electronic unit using information communication. A probe connected to the tester is provided on the tester side, and the probe is contacted and connected to the pad portion, using information communication between the microcomputer and the test circuit via the probe and the pad portion. The electronic unit is inspected.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】図1は本発明の一実施形態に係る
検査機と電子ユニットとの接続構造の電子ユニット側の
構成を示す斜視図であり、図2は本発明の一実施形態に
係る検査機と電子ユニットとの接続構造の検査機側の構
成を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing the structure of a connection structure between an inspection machine and an electronic unit according to an embodiment of the present invention on the electronic unit side, and FIG. 2 is a view showing an embodiment of the present invention. It is a perspective view showing composition of the inspection machine side of the connection structure of such an inspection machine and an electronic unit.

【0014】まず、図1を参照して電子ユニット1の構
成について説明する。図1に示す電子ユニット21は、
車両に搭載され、スイッチ等から入力される各種入力に
基づいて、制御対象の各種車載機器を制御するようにな
っている。電子ユニット21に設けられるマイコン23
は、UART(Universal Asynchronous Receiver Tran
sceiver:非同期シリアル通信用送受信回路)を備えて
おり、マイコン23の端子23aがUARTポートとな
っている。すなわち、このマイコン23には、通常の制
御動作のための制御プログラムと、UARTによる通信
のための通信プログラムと、UARTを用いた情報通信
を用いて電子ユニット21の各種機能の検査を行う検査
プログラムとが備えられている。まお、このマイコン2
3には、車載LANのための通信機能は設けられていな
い。
First, the configuration of the electronic unit 1 will be described with reference to FIG. The electronic unit 21 shown in FIG.
It is mounted on a vehicle and controls various on-vehicle devices to be controlled based on various inputs input from a switch or the like. Microcomputer 23 provided in electronic unit 21
Is a UART (Universal Asynchronous Receiver Tran
sceiver: a transmission / reception circuit for asynchronous serial communication), and the terminal 23a of the microcomputer 23 is a UART port. That is, the microcomputer 23 includes a control program for a normal control operation, a communication program for communication by UART, and an inspection program for inspecting various functions of the electronic unit 21 by using information communication using UART. And are provided. Well, this microcomputer 2
No. 3 is not provided with a communication function for the in-vehicle LAN.

【0015】また、電子ユニット21のマイコン23が
配設される回路基板25上には、端子23aと配線接続
されたパッド部27がマイコン23の近傍に設けられて
いる。端子23aとパッド部27との配線接続は、プリ
ント配線(配線部)29によって行われ、パッド部27
は、そのプリント配線29の末端部に設けられたランド
部によって構成されている。このようなパッド部27
は、回路基板25が電気接続箱に組み込まれたり、ケー
スに収められたりした後には使用できなくなる。
Further, on a circuit board 25 on which the microcomputer 23 of the electronic unit 21 is disposed, a pad portion 27 connected to the terminal 23a by wiring is provided near the microcomputer 23. The wiring connection between the terminal 23a and the pad portion 27 is made by a printed wiring (wiring portion) 29,
Is constituted by a land portion provided at the end of the printed wiring 29. Such a pad portion 27
Cannot be used after the circuit board 25 is assembled in the electric connection box or housed in the case.

【0016】次に、図2を参照して検査機(出荷検査
機)31の構成について説明する。図2に示す検査機3
1は、出荷時に電子ユニット21の各種機能を検査する
ためのものであり、大略的に検査機本体(検査回路)3
3と、設置台35と、プローブ37とを備えて構成され
ている。
Next, the configuration of the inspection machine (shipment inspection machine) 31 will be described with reference to FIG. Inspection machine 3 shown in FIG.
1 is for inspecting various functions of the electronic unit 21 at the time of shipment, and generally includes an inspection machine main body (inspection circuit) 3.
3, an installation table 35, and a probe 37.

【0017】設置台35は、検査の際に電子ユニット2
1の回路基板25が設置される台である。この設置台3
5の回路基板25が設置される設置面35aには、プロ
ーブ37が突設されている。このプローブ37は、検査
の際の情報通信の通信信号の送出口および取込口となる
ものであり、設置面35a上の所定位置に位置決めされ
ている。そして、図3に示すように回路基板25がその
パッド部27が設けられる面を設置台35側に向けて設
置台35上の所定位置に設置されると、それに伴ってプ
ローブ37の先端部がパッド部27に当接して、プロー
ブ37とパッド部27とが接続されるようになってい
る。
The mounting table 35 holds the electronic unit 2 during inspection.
This is a table on which one circuit board 25 is installed. This installation table 3
A probe 37 protrudes from an installation surface 35a on which the fifth circuit board 25 is installed. The probe 37 serves as a sending port and a receiving port of a communication signal for information communication at the time of inspection, and is positioned at a predetermined position on the installation surface 35a. Then, as shown in FIG. 3, when the circuit board 25 is installed at a predetermined position on the installation base 35 with the surface on which the pad portions 27 are provided facing the installation base 35, the tip of the probe 37 is accordingly moved. The probe 37 and the pad portion 27 are connected to come into contact with the pad portion 27.

【0018】プローブ37と検査機本体33との間は、
通信信号の伝送に必要な回路(通信回路および接続ケー
ブル等を含む)39によって接続されている。
Between the probe 37 and the main body 33 of the inspection machine,
They are connected by a circuit (including a communication circuit and a connection cable) 39 necessary for transmitting a communication signal.

【0019】検査機本体33は、プローブ37がパッド
部27に接続されると、回路39、プローブ37、パッ
ド部27およびプリント配線29からなる接続経路を介
してマイコン23の端子23aと接続され、前記接続経
路を介してマイコン23と検査のための通信信号の送受
を行って、各種の検査を行うようになっている。なお、
検査機本体33には、マイコン23の端子23aとの間
でUARTによる通信を実現するための回路および機能
が備えられており、プローブ37から出力される信号の
電圧等は、マイコン23の端子23aに直接入力可能な
状態(値等)に調節されている。
When the probe 37 is connected to the pad section 27, the inspection apparatus main body 33 is connected to the terminal 23a of the microcomputer 23 via a connection path including the circuit 39, the probe 37, the pad section 27 and the printed wiring 29. Various kinds of inspections are performed by transmitting and receiving a communication signal for inspection with the microcomputer 23 via the connection path. In addition,
The inspection machine main body 33 is provided with a circuit and a function for realizing UART communication with the terminal 23a of the microcomputer 23, and the voltage of a signal output from the probe 37 is output to the terminal 23a of the microcomputer 23. Is adjusted to a state (value, etc.) that can be directly input to.

【0020】なお、電子ユニット21と検査機31との
間における検査時の情報通信を行うための接続形態(パ
ッド部27およびプローブ37による接続形態)以外の
接続形態は、従来と同様であり、コネクタ等により接続
される。
The connection modes other than the connection mode (connection mode by the pad portion 27 and the probe 37) for performing information communication at the time of the inspection between the electronic unit 21 and the inspection machine 31 are the same as those in the related art. It is connected by a connector or the like.

【0021】検査内容としては、例えば、電子ユニット
21の入力端子(図示せず)から検査機31によりオ
ン、オフのスイッチ信号を入力し、マイコン23の入力
ポート(図示せず)の状態をプローブ37およびパッド
部27を介した情報通信により読み出し、電子ユニット
21の入力端子への信号が正しくマイコン23の入力ポ
ートに伝わっているか否かの検査がある。
As the inspection contents, for example, an on / off switch signal is inputted from an input terminal (not shown) of the electronic unit 21 by the inspection machine 31 and the state of the input port (not shown) of the microcomputer 23 is probed. There is a check as to whether or not a signal to the input terminal of the electronic unit 21 is correctly transmitted to the input port of the microcomputer 23 by reading out by information communication through the 37 and the pad section 27.

【0022】また、マイコン23の出力ポート(図示せ
ず)にハイ、ローの出力を行うようにプローブ37およ
びパッド部27を介した情報通信によりマイコン23に
指示するとともに、マイコン23の出力ポートあるいは
その出力ポートに接続された電子ユニット21の出力端
子(図示せず)の出力内容を検査機31に入力し、その
出力内容が指示した指示内容に適合しているか否かの検
査がある。
The microcomputer 23 is instructed to output high and low to an output port (not shown) of the microcomputer 23 by information communication via the probe 37 and the pad 27, and the output port of the microcomputer 23 or The output content of an output terminal (not shown) of the electronic unit 21 connected to the output port is input to the inspection machine 31 to check whether or not the output content conforms to the instructed content.

【0023】さらに、プローブ37およびパッド部27
を介した情報通信により、ROM(図示せず)あるいは
RAM(図示せず)の読み出し/書き込みをマイコン2
3に指示し、それが正しく実行されるか否かの検査や、
ROM内に格納されているプログラムの種類を判別する
検査などがある。
Further, the probe 37 and the pad 27
Read / write of ROM (not shown) or RAM (not shown) by microcomputer 2
Instruct 3 to check if it is performed correctly,
There is an inspection for determining the type of the program stored in the ROM.

【0024】なお、本実施形態では、検査機31と電子
ユニット21の図示しない入力端子および出力端子との
接続は、コネクタ等により行われるようにしたが、マイ
コン23の検査の必要な入力ポートおよび出力ポートご
とに同様なパッド部27およびプローブ37を設け、そ
のパッド部27およびプローブ37を介して検査信号の
入出力を行うようにしてもよい。
In the present embodiment, the connection between the tester 31 and the input terminals and output terminals (not shown) of the electronic unit 21 is made by a connector or the like. A similar pad portion 27 and probe 37 may be provided for each output port, and input / output of inspection signals may be performed via the pad portion 27 and probe 37.

【0025】以上のように、本実施形態によれば、検査
機31のプローブ37を電子ユニット21の回路基板2
5に設けられたパッド部27に接触させて接続し、その
プローブ37、パッド部27およびプリント配線29を
介して、プローブ37とマイコン23の端子23aとの
間で通信信号を直接授受して検査が行えるようになって
いるため、電子ユニット21の外部接続用のコネクタに
情報通信のための入出力回路が接続されていない場合
や、情報通信のための入出力回路が電子ユニット21に
設けられていない場合でも、情報通信を用いて電子ユニ
ット21の検査を行うことができる。
As described above, according to the present embodiment, the probe 37 of the inspection machine 31 is connected to the circuit board 2 of the electronic unit 21.
5 through the probe 37, the pad portion 27, and the printed wiring 29 to directly send and receive a communication signal between the probe 37 and the terminal 23a of the microcomputer 23 for inspection. When the input / output circuit for information communication is not connected to the connector for external connection of the electronic unit 21 or the input / output circuit for information communication is provided in the electronic unit 21. Even if not, the electronic unit 21 can be inspected using information communication.

【0026】また、電子ユニット21の回路基板25を
検査機31の設置台35の所定位置に設置するのに伴っ
て、プローブ37がパッド部27に当接して接続される
ようになっているため、プローブ37とパッド部27と
の接続を容易に行うことができる。
In addition, as the circuit board 25 of the electronic unit 21 is installed at a predetermined position on the installation base 35 of the inspection machine 31, the probe 37 comes into contact with the pad 27 and is connected thereto. The connection between the probe 37 and the pad 27 can be easily performed.

【0027】さらに、パッド部27が回路基板25上に
配設されたプリント配線29の末端部に設けられるラン
ド部であるため、パッド部27を容易に形成することが
できる。
Furthermore, since the pad portion 27 is a land portion provided at the end of the printed wiring 29 disposed on the circuit board 25, the pad portion 27 can be easily formed.

【0028】また、パッド部27が接続されるマイコン
23の端子23aがUARTポートであるため、マイコ
ン23の汎用入出ポートを用いて通信を行う場合に比し
て検査の際の通信速度を向上させることができ、その結
果検査時間を短縮することができる。
Since the terminal 23a of the microcomputer 23 to which the pad 27 is connected is a UART port, the communication speed at the time of inspection is improved as compared with the case where communication is performed using the general-purpose input / output port of the microcomputer 23. As a result, the inspection time can be shortened.

【0029】また、マイコン23のUART機能を用い
て検査の際の情報通信を行うため、検査用の情報通信の
ための専用の通信プログラムを開発する必要がなく、ソ
フト開発工数を削減することができるとともに、その専
用の通信プログラムを電子ユニット内に記憶させておく
必要がなく、マイコン23のROM容量を削減すること
ができる。
Further, since information communication at the time of inspection is performed using the UART function of the microcomputer 23, there is no need to develop a dedicated communication program for information communication for inspection, and the number of software development steps can be reduced. In addition, the dedicated communication program does not need to be stored in the electronic unit, and the ROM capacity of the microcomputer 23 can be reduced.

【0030】なお、本実施形態では、検査時の情報通信
のための接続ポートとなるパッド部27をマイコン23
のUARTポート(端子23a)に接続するようにした
が、変形例として、パッド部27をマイコン23のスイ
ッチ信号の入出力等を行う汎用入力ポートあるいは汎用
出力ポートに接続し、それらのポートを介して検査時の
情報通信を行うようにしてもよい。この場合、パッド部
27およびプローブ37は、入力側ポートおよび出力側
ポートごとにそれぞれ設けるようにしてもよい。この変
形例は、UARTを持たないマイコン23を搭載した電
子ユニット21の検査の場合に有利である。
In this embodiment, the pad portion 27 serving as a connection port for information communication at the time of inspection is connected to the microcomputer 23.
As a modified example, the pad section 27 is connected to a general-purpose input port or a general-purpose output port for inputting / outputting a switch signal of the microcomputer 23, and is connected through these ports. Information communication at the time of inspection may be performed. In this case, the pad section 27 and the probe 37 may be provided for each of the input port and the output port. This modification is advantageous in the case of testing the electronic unit 21 equipped with the microcomputer 23 having no UART.

【0031】[0031]

【発明の効果】請求項1ないし5に記載の発明によれ
ば、検査機のプローブを電子ユニットの回路基板に設け
られたパッド部に接触させて接続し、そのプローブ、パ
ッド部およびパッド部とマイコンのポートとの間の配線
部を介して、プローブとマイコンのポートとの間で通信
信号を直接授受して検査が行えるようになっているた
め、電子ユニットの外部接続用のコネクタに情報通信の
ための入出力回路が接続されていない場合や、情報通信
のための入出力回路が電子ユニットに設けられていない
場合でも、情報通信を用いて電子ユニットの検査を行う
ことができる。
According to the first to fifth aspects of the present invention, the probe of the inspection machine is brought into contact with and connected to the pad provided on the circuit board of the electronic unit, and the probe, the pad and the pad are connected to the probe. Since the test can be performed by directly sending and receiving communication signals between the probe and the port of the microcomputer through the wiring section between the port of the microcomputer and the connector, the information communication to the connector for external connection of the electronic unit Even if the input / output circuit for the communication is not connected or the input / output circuit for the information communication is not provided in the electronic unit, the electronic unit can be inspected using the information communication.

【0032】請求項2に記載の発明によれば、電子ユニ
ットの回路基板を検査機の設置台の所定位置に設置する
のに伴って、プローブがパッド部に当接して接続される
ようになっているため、プローブとパッド部との接続を
容易に行うことができる。
According to the second aspect of the present invention, as the circuit board of the electronic unit is installed at a predetermined position on the installation table of the inspection machine, the probe comes into contact with and is connected to the pad portion. Therefore, the connection between the probe and the pad section can be easily performed.

【0033】請求項3に記載の発明によれば、パッド部
が回路基板上に配設されたプリント配線のランド部であ
るため、パッド部を容易に形成することができる。
According to the third aspect of the present invention, since the pad portion is a land portion of the printed wiring arranged on the circuit board, the pad portion can be easily formed.

【0034】請求項4に記載の発明によれば、パッド部
が接続されるマイコンのポートがUARTポートである
ため、マイコンの汎用入出ポートを用いて通信を行う場
合に比して検査の際の通信速度を向上させることがで
き、その結果検査時間を短縮することができる。
According to the fourth aspect of the present invention, since the port of the microcomputer to which the pad portion is connected is a UART port, it is possible to perform the inspection in comparison with the case of performing communication using the general-purpose input / output port of the microcomputer. The communication speed can be improved, and as a result, the inspection time can be reduced.

【0035】また、マイコンのUART機能を用いて検
査の際の情報通信を行うため、検査用の情報通信のため
の専用の通信プログラムを開発する必要がなく、ソフト
開発工数を削減することができるとともに、その専用の
通信プログラムを電子ユニット内に記憶させておく必要
がなく、マイコンのROM容量を削減することができ
る。
Further, since information communication at the time of inspection is performed using the UART function of the microcomputer, there is no need to develop a dedicated communication program for information communication for inspection, and the number of software development steps can be reduced. At the same time, it is not necessary to store the dedicated communication program in the electronic unit, and the ROM capacity of the microcomputer can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態に係る検査機と電子ユニッ
トとの接続構造の電子ユニット側の構成を示す斜視図で
ある。
FIG. 1 is a perspective view showing a configuration on a side of an electronic unit of a connection structure between an inspection machine and an electronic unit according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施形態に係る検査機と電子ユニッ
トとの接続構造の検査機側の構成を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a configuration of a connection structure between an inspection device and an electronic unit according to an embodiment of the present invention on the inspection device side.

【図3】電子ユニットのパッド部と検査機のプローブと
が接続された状態を示す斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing a state in which a pad portion of the electronic unit is connected to a probe of the inspection device.

【図4】従来の検査機と電子ユニットとの接続構造の構
成を示すブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a conventional connection structure between an inspection machine and an electronic unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21 電子ユニット 23 マイコン 23a 端子(UARTポート) 25 回路基板 27 パッド部 29 プリント配線 31 検査機 33 検査機本体 35 設置台 37 プローブ Reference Signs List 21 Electronic unit 23 Microcomputer 23a Terminal (UART port) 25 Circuit board 27 Pad section 29 Printed wiring 31 Inspection machine 33 Inspection machine main body 35 Installation table 37 Probe

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 情報通信の可能なポートを有するマイコ
ンを備えた電子ユニットを検査機により検査する際の検
査機と電子ユニットとの接続構造であって、 前記マイコンの前記ポートと配線接続されたパッド部
が、前記マイコンが配設された回路基板に設けられ、 前記パッド部に接触接続可能であり、情報通信を用いて
前記電子ユニットの検査を行う前記検査機の検査回路と
接続されたプローブが、前記検査機側に設けられること
を特徴とする検査機と電子ユニットとの接続構造。
1. A connection structure between an inspection unit and an electronic unit when an electronic unit including a microcomputer having a port capable of information communication is inspected by the inspection unit, wherein the connection unit is wired to the port of the microcomputer. A pad provided on a circuit board on which the microcomputer is provided, the pad being connectable to the pad, and connected to an inspection circuit of the inspection machine for inspecting the electronic unit using information communication; Is provided on the inspection machine side, wherein the connection structure between the inspection machine and the electronic unit is provided.
【請求項2】 前記プローブが、検査時に前記電子ユニ
ットの前記回路基板が設置される検査機の設置台に突設
されており、前記回路基板が前記設置台上の所定位置に
設置されるのに伴って前記パッド部に当接するように位
置決めされていることを特徴とする請求項1に記載の検
査機と電子ユニットとの接続構造。
2. The method according to claim 1, wherein the probe is protruded from an installation table of an inspection machine on which the circuit board of the electronic unit is installed at the time of inspection, and the circuit board is installed at a predetermined position on the installation table. 2. The connection structure between an inspection device and an electronic unit according to claim 1, wherein the positioning device is positioned so as to abut the pad portion in accordance with (1).
【請求項3】 前記パッド部は、前記回路基板上に配設
されたプリント配線のランド部であることを特徴とする
請求項1または2に記載の検査機と電子ユニットとの接
続構造。
3. The connection structure between an inspection machine and an electronic unit according to claim 1, wherein the pad portion is a land portion of a printed wiring disposed on the circuit board.
【請求項4】 前記マイコンは、UARTを有してお
り、 前記パッド部が接続される前記マイコンの前記ポート
は、UARTポートであることを特徴とする請求項1な
いし3のいずれかに記載の検査機と電子ユニットとの接
続構造。
4. The microcomputer according to claim 1, wherein the microcomputer has a UART, and the port of the microcomputer to which the pad unit is connected is a UART port. Connection structure between inspection machine and electronic unit.
【請求項5】 情報通信の可能なポートを有するマイコ
ンを備えた電子ユニットを検査機により検査する電子ユ
ニットの検査方法であって、 前記マイコンの前記ポートと配線接続されたパッド部
を、前記マイコンが配設された回路基板に設け、 前記パッド部に接触接続可能であり、情報通信を用いて
前記電子ユニットの検査を行う前記検査機の検査回路と
接続されたプローブを、前記検査機側に設け、 前記プローブを前記パッド部に接触接続させて、前記プ
ローブおよび前記パッド部を介した前記マイコンと前記
検査回路との間の情報通信を用いて前記電子ユニットの
検査を行うことを特徴とする電子ユニットの検査方法。
5. An electronic unit inspection method for inspecting an electronic unit provided with a microcomputer having a port capable of information communication by an inspection machine, wherein a pad portion wired to the port of the microcomputer is connected to the microcomputer. A probe connected to an inspection circuit of the inspection machine, which is provided on a circuit board on which is disposed, is connectable to the pad portion, and inspects the electronic unit using information communication, is provided on the inspection machine side. Wherein the probe is brought into contact with the pad portion, and the electronic unit is inspected using information communication between the microcomputer and the inspection circuit via the probe and the pad portion. Inspection method of electronic unit.
JP2000365033A 2000-11-30 2000-11-30 Inspection method of electronic unit Expired - Fee Related JP3608506B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000365033A JP3608506B2 (en) 2000-11-30 2000-11-30 Inspection method of electronic unit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000365033A JP3608506B2 (en) 2000-11-30 2000-11-30 Inspection method of electronic unit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002168915A true JP2002168915A (en) 2002-06-14
JP3608506B2 JP3608506B2 (en) 2005-01-12

Family

ID=18835877

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000365033A Expired - Fee Related JP3608506B2 (en) 2000-11-30 2000-11-30 Inspection method of electronic unit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3608506B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090100306A1 (en) * 2007-10-10 2009-04-16 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Electronic unit

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090100306A1 (en) * 2007-10-10 2009-04-16 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Electronic unit
DE102008050642A1 (en) 2007-10-10 2009-04-30 Sumitomo Wiring Systems, Ltd., Yokkaichi Electronic unit and test procedure
JP2009093484A (en) * 2007-10-10 2009-04-30 Sumitomo Wiring Syst Ltd Electronic unit
DE102008050642B4 (en) * 2007-10-10 2011-07-14 Sumitomo Wiring Systems, Ltd., Mie-ken Electronic unit and test procedure

Also Published As

Publication number Publication date
JP3608506B2 (en) 2005-01-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009204329A (en) Circuit board inspecting system and inspection method
US6856154B2 (en) Test board for testing IC package and tester calibration method using the same
WO2001063311A3 (en) Method and system for wafer and device-level testing of an integrated circuit
US7106081B2 (en) Parallel calibration system for a test device
KR100369022B1 (en) Integrated circuit with a self-test device
US20040257066A1 (en) Ancillary equipment for testing semiconductor integrated circuit
JPH10227830A (en) Test board for ic tester
JP2002168915A (en) Connection structure of inspection equipment to electronic unit and method of inspecting electronic unit
KR100683041B1 (en) Semiconductor device application test apparatus capable of testing many semiconductor devices simultaneously
JPH11231022A (en) Inspection method of semiconductor device and device thereof
JP3555679B2 (en) IC tester
JP2586335Y2 (en) IC tester for both manual measurement and wafer measurement
JP4066265B2 (en) Contact ring of semiconductor test equipment
JP3276888B2 (en) Equipment electrical physical quantity test equipment
JPH0718914B2 (en) LSI tester
KR20070055186A (en) Measurement apparatus for ability of mobile communication terminal
JPH11260869A (en) Inspection device of multi-pin device by probe card
JPH0349248A (en) Lsi socket
KR20040055125A (en) System for semiconductor test and method for operating the same
JPS6159849A (en) Test apparatus for semiconductor
JPH04225167A (en) Wiring cable
JPH0580119A (en) Logic circuit testing device
JPH1048289A (en) Test system for semiconductor integrated circuit
JPH02186281A (en) Semiconductor device
KR20000000940A (en) Test system for integrated circuit package use and timing error measuring method thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040618

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040622

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040820

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040921

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041004

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081022

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081022

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091022

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101022

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111022

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121022

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131022

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees