JP2002164765A - Piezoelectric substrate and saw filter - Google Patents
Piezoelectric substrate and saw filterInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、圧電性基板及びS
AWフィルタに係り、特にSAWフィルタに用いるのに
好適な圧電性基板及びその圧電性基板上に形成したSA
Wフィルタに関するものである。The present invention relates to a piezoelectric substrate and a piezoelectric substrate.
AW filter, in particular, a piezoelectric substrate suitable for use in a SAW filter and an SA formed on the piezoelectric substrate
It relates to a W filter.
【0002】[0002]
【従来の技術】携帯電話やPHSなどの通信機器が急速
に普及しているが、これらのようなデジタル化が進む通
信機器分野においては、フィルタや振動子といった素子
の高性能化が要望されている。従来、例えば携帯電話用
のSAW(Surface Acoustic Wav
e)フィルタには、水晶振動子が多く用いられている。
ところが、水晶は、圧電特性が十分でないため、帯域幅
が狭いという不都合があり、小型化にも十分対応できな
い。2. Description of the Related Art Communication devices such as portable telephones and PHSs are rapidly spreading. In the field of communication devices which are being digitized, there is a demand for higher performance of elements such as filters and vibrators. I have. Conventionally, for example, SAW (Surface Acoustic Wav) for mobile phones
e) Quartz crystal units are often used for filters.
However, since quartz has insufficient piezoelectric characteristics, it has a disadvantage of a narrow bandwidth, and cannot respond sufficiently to miniaturization.
【0003】これに対し、通信システムの高周波化、広
帯域化に対応する目的でダイヤモンド上に圧電性薄膜を
積層したSAWフィルタ用の圧電性基板が提案されてい
る。ダイヤモンドは最も高い弾性定数を持つ物質であ
り、その上に圧電性薄膜を積層することで高周波に対応
したSAWフィルタ用基板が実現できるとするものであ
る。圧電性薄膜として例えば、特開平3−198412
号公報に開示されている酸化亜鉛(ZnO)や、「機能
材料」(2000年7月号、Vol.20、No.7
p28−p35)に開示されている窒化アルミニウム
(AlN)がある。On the other hand, a piezoelectric substrate for a SAW filter in which a piezoelectric thin film is laminated on diamond has been proposed in order to cope with a higher frequency and a wider band of a communication system. Diamond is a substance having the highest elastic constant, and it is said that by laminating a piezoelectric thin film thereon, a SAW filter substrate compatible with high frequencies can be realized. As a piezoelectric thin film, see, for example,
Zinc oxide (ZnO) disclosed in Japanese Unexamined Patent Publication (KOKAI) No. 7 (July 2000, Vol. 20, No. 7).
aluminum nitride (AlN) disclosed in p28-p35).
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】ところで、圧電性薄膜
としてZnOやAlNを用いた圧電性基板では、電気機
械結合係数や周波数温度安定性といった電気特性が不十
分であることや、圧電性薄膜の成膜プロセスが複雑であ
るという課題があった。By the way, a piezoelectric substrate using ZnO or AlN as a piezoelectric thin film has insufficient electric characteristics such as an electromechanical coupling coefficient and a frequency temperature stability, and has a problem in that the piezoelectric thin film cannot be used. There was a problem that the film forming process was complicated.
【0005】そこで本発明は、通信システムの高周波
化、広帯域化に十分対応した、形成の容易なSAWフィ
ルタ用の圧電性基板及びSAWフィルタを提供すること
を目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a piezoelectric substrate for a SAW filter and a SAW filter which can easily be formed and which can sufficiently cope with a higher frequency and a wider band of a communication system.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の手段として、第1の発明は、基板と前記基板上に形成
された圧電性薄膜とを有する圧電性基板において、前記
基板をダイヤモンド基板より構成し、前記圧電性薄膜を
ランガサイト型結晶の薄膜より構成したことを特徴とす
る圧電性基板である。According to a first aspect of the present invention, there is provided a piezoelectric substrate having a substrate and a piezoelectric thin film formed on the substrate, wherein the substrate is a diamond substrate. A piezoelectric substrate, wherein the piezoelectric thin film is made of a langasite-type crystal thin film.
【0007】また、第2の発明は、第1の発明におい
て、前記ランガサイト結晶をLa3Ga5SiO14の化学
量論組成を有する結晶、La3Ta0.5Ga5.5O14の化
学量論組成を有する結晶またはLa3Nb0.5Ga5.5O
14の化学量論組成を有する結晶のいずれかとしたことを
特徴とするものである。According to a second aspect, in the first aspect, the langasite crystal is a crystal having a stoichiometric composition of La 3 Ga 5 SiO 14 and a stoichiometric composition of La 3 Ta 0.5 Ga 5.5 O 14. Or La 3 Nb 0.5 Ga 5.5 O
A crystal having any one of 14 stoichiometric compositions.
【0008】また、第3の発明は、基板と、前記基板上
に形成された圧電性薄膜と、前記圧電性薄膜上に形成さ
れた所定形状を有する電極とを有するSAWフィルタに
おいて、前記基板をダイヤモンド基板より構成し、前記
圧電性薄膜をランガサイト型結晶の薄膜より構成したこ
とを特徴とするSAWフィルタである。According to a third aspect of the present invention, there is provided a SAW filter having a substrate, a piezoelectric thin film formed on the substrate, and an electrode having a predetermined shape formed on the piezoelectric thin film. A SAW filter comprising a diamond substrate, wherein the piezoelectric thin film comprises a langasite-type crystal thin film.
【0009】[0009]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につ
き、好ましい実施例により、添付図面を参照して説明す
る。本発明は、圧電性結晶として、カット面を選択する
ことにより極めて小さな周波数温度依存性を示し、広い
帯域と低挿入損失を持った高性能圧電結晶であるランガ
サイト型結晶の薄膜をダイアモンド基板に形成したもの
である。Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. According to the present invention, a thin film of a langasite-type crystal, which is a high-performance piezoelectric crystal having a very wide frequency band and a low insertion loss, exhibiting a very small frequency temperature dependency by selecting a cut plane as a piezoelectric crystal, is formed on a diamond substrate. It is formed.
【0010】<第1実施例>図1は、本発明の圧電性基
板の第1実施例を示す構成図である。まず、いずれも純
度4Nである酸化ランタン(La2O3)、酸化ガリウム
(Ga2O3)、酸化シリコン(SiO2)の各粉末を、
ランガサイト型結晶の化学量論的組成比La3Ga5Si
O14(この組成のランガサイト型結晶を、単にLGSと
もいう)になるように秤量混合して粉末原料を得る。こ
の粉末原料をIrるつぼに充填し、窒素に酸素を1%程
度混合した雰囲気中で、高周波加熱により,加熱溶解
し、その後冷却してランガサイト型結晶のインゴットを
得る。このインゴットをクラッシャーで粉砕し、ランガ
サイト結晶粉末を作製する。<First Embodiment> FIG. 1 is a structural view showing a first embodiment of a piezoelectric substrate according to the present invention. First, powders of lanthanum oxide (La 2 O 3 ), gallium oxide (Ga 2 O 3 ), and silicon oxide (SiO 2 ), each having a purity of 4N,
Stoichiometric composition ratio of Langasite-type crystal La 3 Ga 5 Si
A powder raw material is obtained by weighing and mixing so that O 14 (the langasite-type crystal of this composition is also simply referred to as LGS). This powdery raw material is filled into an Ir crucible, heated and dissolved by high frequency heating in an atmosphere in which oxygen is mixed with about 1% of nitrogen, and then cooled to obtain an ingot of a langasite-type crystal. This ingot is pulverized with a crusher to produce a langasite crystal powder.
【0011】この粉末よりターゲットを形成し、基板と
して直径3インチのダイアモンド基板1を用い、高周波
スパッタリング法によって、ダイアモンド基板1上にラ
ンガサイト型結晶(LGS)薄膜2を形成する。このと
きのスパッタリング条件は、例えば、RFパワー:20
0W、スパッタリング雰囲気ガス:30%O2を含むA
rガス、ガス圧力:2Pa、基板加熱温度:300度
C、成膜時間:100分である。これにより、約1μm
の厚さを有するLGS薄膜2がダイアモンド基板1上に
形成される。A target is formed from the powder, and a diamond substrate 1 having a diameter of 3 inches is used as a substrate, and a langasite-type crystal (LGS) thin film 2 is formed on the diamond substrate 1 by a high frequency sputtering method. The sputtering conditions at this time are, for example, RF power: 20
0 W, sputtering atmosphere gas: A containing 30% O 2
r gas, gas pressure: 2 Pa, substrate heating temperature: 300 ° C., film formation time: 100 minutes. Thereby, about 1 μm
An LGS thin film 2 having a thickness of 2 mm is formed on the diamond substrate 1.
【0012】次に、このLGS薄膜2を酸素雰囲気中に
おいて、900度C、1時間の熱処理を施する。この
後、このLGS薄膜のX線回折により結晶解析を行っ
た。図2は、第1実施例におけるLGS薄膜のX線回折
パターンを示すグラフ図である。図2には、7つのピー
クが示されるが、これらは、低角側より順に、ランガサ
イト型結晶の(110)、(200)、(111)、
(021)、(120)、(002)、(211)の各
面の回折ピークであり、ランガサイト型結晶薄膜(すな
わち、La3Ga5SiO14薄膜2)が形成されているこ
とが分かる。Next, the LGS thin film 2 is subjected to a heat treatment at 900 ° C. for one hour in an oxygen atmosphere. Thereafter, crystal analysis was performed on the LGS thin film by X-ray diffraction. FIG. 2 is a graph showing an X-ray diffraction pattern of the LGS thin film in the first example. FIG. 2 shows seven peaks, which are (110), (200), (111), and (111) of the langasite-type crystal in order from the lower angle side.
The diffraction peaks of the (021), (120), (002), and (211) planes indicate that a langasite-type crystal thin film (ie, La 3 Ga 5 SiO 14 thin film 2) is formed.
【0013】以上により、ダイアモンド基板1上に形成
されたLa3Ga5SiO14薄膜2を有する圧電性基板1
0Aが得られる。La3Ga5SiO14薄膜2はSAWフ
ィルタ用に好適な、極めて小さな周波数温度依存性を示
し、広い帯域と低挿入損失を有しており、スパッタリン
グ法により容易に形成できる。また、この圧電性基板1
0AのLa3Ga5SiO14薄膜2の上に所定形状の電極
部を形成することによって、高周波数に対応した、効率
の良い且つ周波数温度依存性の小さいSAWフィルタを
形成できる。As described above, the piezoelectric substrate 1 having the La 3 Ga 5 SiO 14 thin film 2 formed on the diamond substrate 1
0A is obtained. The La 3 Ga 5 SiO 14 thin film 2 exhibits an extremely small frequency-temperature dependency suitable for a SAW filter, has a wide band and low insertion loss, and can be easily formed by a sputtering method. Also, the piezoelectric substrate 1
By forming an electrode portion having a predetermined shape on the La 3 Ga 5 SiO 14 thin film 2 of 0 A, an efficient SAW filter corresponding to a high frequency and having small frequency temperature dependency can be formed.
【0014】<第2実施例>図3は、本発明の圧電性基
板の第2実施例を示す構成図である。まず、いずれも純
度4Nである酸化ランタン(La2O3)、酸化タンタル
(Ta2O5),酸化ガリウム(Ga2O3)の各粉末
を、ランガサイト型結晶の化学量論的組成比La3Ta
0.5Ga5.5O14(この組成のランガサイト型結晶を、単
にLTGともいう)になるように秤量混合して粉末原料
を得る。この粉末原料をIrるつぼに充填し、窒素に酸
素を1%程度混合した雰囲気中で、高周波加熱により,
加熱溶解し、その後冷却してランガサイト型結晶のイン
ゴットを得る。このインゴットを粉砕し、ランガサイト
結晶粉末を作製する。<Second Embodiment> FIG. 3 is a structural view showing a second embodiment of the piezoelectric substrate of the present invention. First, each powder of lanthanum oxide (La 2 O 3 ), tantalum oxide (Ta 2 O 5 ), and gallium oxide (Ga 2 O 3 ), each having a purity of 4N, was mixed with a stoichiometric composition ratio La 3 Ta of a langasite-type crystal.
A powder raw material is obtained by weighing and mixing so as to obtain 0.5 Ga 5.5 O 14 (the langasite-type crystal having this composition is simply referred to as LTG). This powder raw material is filled in an Ir crucible, and is heated by high frequency heating in an atmosphere in which oxygen is mixed with nitrogen at about 1%.
The mixture is heated and melted, and then cooled to obtain an ingot of a langasite type crystal. This ingot is pulverized to produce a langasite crystal powder.
【0015】この粉末よりターゲットを形成し、基板と
して直径3インチのダイアモンド基板1を用い、高周波
スパッタリング法によって、ダイアモンド基板上に、第
1実施例と同様のスパッタリング条件で、LTG薄膜3
を形成する。これにより、約1μmの厚さを有するLT
G薄膜3がダイアモンド基板1上に形成される。A target is formed from the powder, and a diamond substrate 1 having a diameter of 3 inches is used as a substrate. The LTG thin film 3 is formed on the diamond substrate by high frequency sputtering under the same sputtering conditions as in the first embodiment.
To form Thus, an LT having a thickness of about 1 μm
G thin film 3 is formed on diamond substrate 1.
【0016】次に、このLTG薄膜3を酸素雰囲気中に
おいて、900度C、1時間の熱処理を施した。この
後、このLTG薄膜のX線回折により結晶解析を行っ
た。図4は、第2実施例におけるLTG薄膜のX線回折
パターンを示すグラフ図である。図4には、7つのピー
クが示されるが、これらは、低角側より順に、ランガサ
イト型結晶の(110)、(200)、(111)、
(021)、(120)、(002)、(211)の各
面の回折ピークであり、ランガサイト型結晶薄膜(すな
わち、La3Ta0.5Ga5.5O14薄膜3)が形成されて
いることが分かる。Next, the LTG thin film 3 was subjected to a heat treatment at 900 ° C. for 1 hour in an oxygen atmosphere. Thereafter, crystal analysis was performed on the LTG thin film by X-ray diffraction. FIG. 4 is a graph showing an X-ray diffraction pattern of the LTG thin film in the second example. FIG. 4 shows seven peaks, which are (110), (200), (111), and (111) of the langasite-type crystal in order from the lower angle side.
(021), (120), (002), and (211) are the diffraction peaks on the respective surfaces, indicating that a langasite-type crystal thin film (ie, La 3 Ta 0.5 Ga 5.5 O 14 thin film 3) is formed. I understand.
【0017】以上により、ダイアモンド基板1上に形成
されたLa3Ta0.5Ga5.5O14薄膜3を有する圧電性
基板10Bが得られる。La3Ta0.5Ga5.5O14薄膜
3はSAWフィルタ用に好適な、極めて小さな周波数温
度依存性を示し、広い帯域と低挿入損失を有しており、
スパッタリング法により容易に形成できる。また、この
圧電性基板10BのLa3Ta0.5Ga5.5O14薄膜3の
上に所定形状の電極部を形成することによって、高周波
数に対応した、効率の良い且つ周波数温度依存性の小さ
いSAWフィルタを形成できる。As described above, the piezoelectric substrate 10B having the La 3 Ta 0.5 Ga 5.5 O 14 thin film 3 formed on the diamond substrate 1 is obtained. The La 3 Ta 0.5 Ga 5.5 O 14 thin film 3 has a very small frequency temperature dependency, is suitable for SAW filters, has a wide band and low insertion loss,
It can be easily formed by a sputtering method. In addition, by forming an electrode portion having a predetermined shape on the La 3 Ta 0.5 Ga 5.5 O 14 thin film 3 of the piezoelectric substrate 10B, a high-frequency-adaptive, efficient and small temperature-dependent SAW filter is provided. Can be formed.
【0018】<第3実施例>図5は、本発明の圧電性基
板の第3実施例を示す構成図である。まず、いずれも純
度4Nである酸化ランタン(La2O3)、酸化ニオブ
(Nb 2O5),酸化ガリウム(Ga2O3)の各粉末を、
ランガサイト型結晶の化学量論的組成比La3Nb0.5G
a5.5O14(この組成のランガサイト型結晶を、単にL
NGともいう)になるように秤量混合して粉末原料を得
る。この粉末原料をIrるつぼに充填し、窒素に酸素を
1%程度混合した雰囲気中で、高周波加熱により,加熱
溶解し、その後冷却してランガサイト型結晶のインゴッ
トを得る。このインゴットを粉砕し、ランガサイト結晶
粉末を作製する。<Third Embodiment> FIG. 5 shows a piezoelectric substrate according to the present invention.
It is a block diagram showing a third embodiment of the plate. First, all are pure
Lanthanum oxide (LaTwoOThree), Niobium oxide
(Nb TwoOFive), Gallium oxide (GaTwoOThree) Each powder
Stoichiometric composition ratio La of langasite-type crystalThreeNb0.5G
a5.5O14(Langasite-type crystals of this composition are simply referred to as L
NG) to obtain powdered raw materials.
You. This powder material is filled in an Ir crucible, and oxygen is added to nitrogen.
Heated by high frequency heating in an atmosphere mixed about 1%
Dissolve and then cool to remove the ingot of the langasite-type crystal.
Get This ingot is crushed and langasite crystals
Make powder.
【0019】この粉末よりターゲットを形成し、基板と
して直径3インチのダイアモンド基板1を用い、高周波
スパッタリング法によって、ダイアモンド基板上に、第
1実施例と同様のスパッタリング条件で、LNG薄膜4
を形成する。これにより、約1μmの厚さを有するLN
G薄膜4がダイアモンド基板1上に形成される。A target is formed from this powder, and a diamond substrate 1 having a diameter of 3 inches is used as a substrate. The LNG thin film 4 is formed on the diamond substrate by high frequency sputtering under the same sputtering conditions as in the first embodiment.
To form Thus, the LN having a thickness of about 1 μm
A G thin film 4 is formed on the diamond substrate 1.
【0020】次に、このLNG薄膜4を酸素雰囲気中に
おいて、900度C、1時間の熱処理を施した。この
後、このLNG薄膜4のX線回折により結晶解析を行っ
た。図6は、第3実施例におけるLNG薄膜のX線回折
パターンを示すグラフ図である。図6には、6つのピー
クが示されるが、これらは、低角側より順に、ランガサ
イト型結晶の(110)、(200)、(111)、
(021)、(120)、(211)の各面の回折ピー
クであり、ランガサイト型結晶薄膜(すなわち、La3
Nb0.5Ga5.5O14薄膜4)が形成されていることが分
かる。Next, the LNG thin film 4 was subjected to a heat treatment at 900 ° C. for 1 hour in an oxygen atmosphere. Thereafter, crystal analysis of the LNG thin film 4 was performed by X-ray diffraction. FIG. 6 is a graph showing an X-ray diffraction pattern of the LNG thin film in the third example. FIG. 6 shows six peaks, which are (110), (200), (111), and (111) of the langasite-type crystal in order from the lower angle side.
(021), (120), and (211) are the diffraction peaks on each plane, and are the langasite-type crystal thin films (that is, La 3
It can be seen that an Nb 0.5 Ga 5.5 O 14 thin film 4) was formed.
【0021】以上により、ダイアモンド基板1上に形成
されたLa3Nb0.5Ga5.5O14薄膜4を有する圧電性
基板10Cが得られる。La3Nb0.5Ga5.5O14薄膜
4はSAWフィルタ用に好適な、極めて小さな周波数温
度依存性を示し、広い帯域と低挿入損失を有しており、
スパッタリング法により容易に形成できる。また、この
圧電性基板10CのLa3Nb0.5Ga5.5O14薄膜4の
上に所定形状の電極部を形成することによって、高周波
数に対応した、効率の良い且つ周波数温度依存性の小さ
いSAWフィルタを形成できる。As described above, a piezoelectric substrate 10C having the La 3 Nb 0.5 Ga 5.5 O 14 thin film 4 formed on the diamond substrate 1 is obtained. The La 3 Nb 0.5 Ga 5.5 O 14 thin film 4 exhibits an extremely small frequency temperature dependency, is suitable for SAW filters, has a wide band and low insertion loss,
It can be easily formed by a sputtering method. In addition, by forming an electrode portion having a predetermined shape on the La 3 Nb 0.5 Ga 5.5 O 14 thin film 4 of the piezoelectric substrate 10C, a SAW filter that can handle high frequencies, is efficient, and has little frequency temperature dependence. Can be formed.
【0022】なお、本発明は上述の実施態様に限定され
るものではなく、上述のスパッタリングや熱処理の条件
は適宜変更して良い。また、ランガサイト型結晶の粉末
をターゲットとして用いたが、ランガサイト型結晶の粉
末を焼成して形成したターゲットを用いることで、スパ
ッタリングプロセスを改善できることはいうまでもな
い。The present invention is not limited to the above-described embodiment, and the conditions for the above-mentioned sputtering and heat treatment may be changed as appropriate. Further, although the langasite-type crystal powder is used as the target, it goes without saying that the sputtering process can be improved by using a target formed by firing the langasite-type crystal powder.
【0023】[0023]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の圧電性基
板において、請求項1及び2記載によれば、基板をダイ
ヤモンド基板より構成し、圧電性薄膜をランガサイト型
結晶の薄膜より構成したことにより、通信システムの高
周波化、広帯域化に十分対応した、形成の容易なSAW
フィルタ用の圧電性基板を提供することができるという
効果がある。As described above, according to the first and second aspects of the piezoelectric substrate of the present invention, the substrate is formed of a diamond substrate, and the piezoelectric thin film is formed of a langasite-type crystal thin film. This makes it easy to form a SAW that is fully compatible with high frequency and broadband communication systems.
There is an effect that a piezoelectric substrate for a filter can be provided.
【0024】また、本発明のSAWフィルタにおいて、
請求項3記載によれば、基板をダイヤモンド基板より構
成し、圧電性薄膜をランガサイト型結晶の薄膜より構成
したことにより、通信システムの高周波化、広帯域化に
十分対応した、形成の容易なSAWフィルタを提供する
ことができるという効果がある。In the SAW filter according to the present invention,
According to the third aspect of the present invention, the substrate is formed of a diamond substrate, and the piezoelectric thin film is formed of a langasite-type crystal thin film. There is an effect that a filter can be provided.
【図1】本発明の圧電性基板の第1実施例を示す構成図
である。FIG. 1 is a configuration diagram showing a first embodiment of a piezoelectric substrate of the present invention.
【図2】第1実施例におけるLGS薄膜のX線回折パタ
ーンを示すグラフ図である。FIG. 2 is a graph showing an X-ray diffraction pattern of the LGS thin film in the first embodiment.
【図3】本発明の圧電性基板の第2実施例を示す構成図
である。FIG. 3 is a configuration diagram showing a second embodiment of the piezoelectric substrate of the present invention.
【図4】第2実施例におけるLTG薄膜のX線回折パタ
ーンを示すグラフ図である。FIG. 4 is a graph showing an X-ray diffraction pattern of an LTG thin film in a second example.
【図5】本発明の圧電性基板の第3実施例を示す構成図
である。FIG. 5 is a configuration diagram showing a third embodiment of the piezoelectric substrate of the present invention.
【図6】第3実施例におけるLNG薄膜のX線回折パタ
ーンを示すグラフ図である。FIG. 6 is a graph showing an X-ray diffraction pattern of an LNG thin film in a third example.
1…ダイヤモンド基板、2…LGS(La3Ga5SiO
14)薄膜、3…LGT(La3Ga0.5Ta5.5O14)薄
膜、4…LNT(La3Nb0.5Ta5.5O14)薄膜。1: Diamond substrate, 2: LGS (La 3 Ga 5 SiO)
14) a thin film, 3 ... LGT (La 3 Ga 0.5 Ta 5.5 O 14) thin film, 4 ... LNT (La 3 Nb 0.5 Ta 5.5 O 14) thin film.
Claims (3)
とを有する圧電性基板において、前記基板をダイヤモン
ド基板より構成し、前記圧電性薄膜をランガサイト型結
晶の薄膜より構成したことを特徴とする圧電性基板。1. A piezoelectric substrate having a substrate and a piezoelectric thin film formed on the substrate, wherein the substrate is formed of a diamond substrate, and the piezoelectric thin film is formed of a langasite-type crystal thin film. Characteristic piezoelectric substrate.
O14の化学量論組成を有する結晶、La3Ta0.5Ga
5.5O14の化学量論組成を有する結晶またはLa3Nb
0.5Ga5 .5O14の化学量論組成を有する結晶のいずれか
としたことを特徴とする請求項1記載の圧電性基板。2. The method according to claim 1, wherein said langasite-type crystal is La 3 Ga 5 Si.
A crystal having a stoichiometric composition of O 14 , La 3 Ta 0.5 Ga
5.5 Crystals having a stoichiometric composition of O 14 or La 3 Nb
Piezoelectric substrate according to claim 1, characterized in that either of the crystals having a stoichiometric composition of 0.5 Ga 5 .5 O 14.
膜と、前記圧電性薄膜上に形成された所定形状を有する
電極とを有するSAWフィルタにおいて、前記基板をダ
イヤモンド基板より構成し、前記圧電性薄膜をランガサ
イト型結晶の薄膜より構成したことを特徴とするSAW
フィルタ。3. A SAW filter having a substrate, a piezoelectric thin film formed on the substrate, and an electrode having a predetermined shape formed on the piezoelectric thin film, wherein the substrate is formed of a diamond substrate, SAW characterized in that said piezoelectric thin film is composed of a langasite-type crystal thin film.
filter.
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-
2000
- 2000-11-24 JP JP2000357178A patent/JP2002164765A/en active Pending
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JPWO2016068096A1 (en) * | 2014-10-30 | 2017-08-10 | 株式会社村田製作所 | Filter parts with passive elements and high-frequency modules |
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