JP2002156397A - Spectrum-measuring method, spectrum analyzer and spectrum-measuring system - Google Patents

Spectrum-measuring method, spectrum analyzer and spectrum-measuring system

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JP2002156397A JP2000354937A JP2000354937A JP2002156397A JP 2002156397 A JP2002156397 A JP 2002156397A JP 2000354937 A JP2000354937 A JP 2000354937A JP 2000354937 A JP2000354937 A JP 2000354937A JP 2002156397 A JP2002156397 A JP 2002156397A
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sweep
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten measuring time and to surely measure during intermittent operation, without causing a device to be measured which operates intermittently to operates continuously during measurement of a spectrum. SOLUTION: When measuring the spectrum of the device to be measured which operates intermittently at a prescribed cycle, the spectrum is measured by setting sweep time for the spectrum measurement, based on the cycle and time of the intermittent operation. In addition, a repeating times of measurement is set based on a measuring frequency band width, the cycle and time of the intermittent operation, and the spectrum is measured, corresponding to the set sweep time and the number of times of measurement repeated.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、スペクトラム測定
方法、スペクトラムアナライザおよびスペクトラム測定
システムに係り、特に間欠動作している被測定装置のス
ペクトラム測定を行うスペクトラム測定方法、スペクト
ラムアナライザおよびスペクトラム測定システムに関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a spectrum measuring method, a spectrum analyzer and a spectrum measuring system, and more particularly to a spectrum measuring method, a spectrum analyzer and a spectrum measuring system for measuring a spectrum of a device under test which is operating intermittently.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、被測定装置の電磁スペクトラ
ムを測定するに際しては、スペクトラムアナライザ(sp
ectrum analyser)が用いられている。スペクトラムア
ナライザは、信号の周波数分析を行う測定装置であり、
被計測信号を各周波数成分に分解し、振幅−周波数の関
係として表示するものである。図9にスペクトラムアナ
ライザの測定概念の説明図を示す。スペクトラムアナラ
イザは、掃引型の測定装置であり、測定対象の周波数帯
域80を測定分解能周波数帯域81毎に順次掃引し、測
定分解能周波数帯域幅81に対応する測定対象周波数信
号83の振幅の最大値あるいは最小値を検出する。この
ときの掃引時間は、図9中、符号Lに対応するものとし
て表される。そして、測定周波数帯域80に対応する振
幅−周波数特性グラフ84を、図10に示すように、C
RT(Cathode Ray Tube)等の表示装置の表示画面上に
表示する。また、同一周波数帯域を繰り返し測定するこ
とができ、複数回測定した測定値の最大値あるいは最小
値を更新する機能も有している。ところで、間欠動作を
行う被測定装置について電磁スペクトラムを測定する方
法には以下のものがある。
2. Description of the Related Art Conventionally, when measuring the electromagnetic spectrum of a device under test, a spectrum analyzer (sp
ectrum analyzer). A spectrum analyzer is a measuring device that analyzes the frequency of a signal.
The measured signal is decomposed into frequency components and displayed as an amplitude-frequency relationship. FIG. 9 is an explanatory diagram of the measurement concept of the spectrum analyzer. The spectrum analyzer is a sweep-type measuring device, which sequentially sweeps the frequency band 80 to be measured for each measurement resolution frequency band 81 and obtains the maximum value of the amplitude of the frequency signal 83 to be measured corresponding to the measurement resolution frequency bandwidth 81 or Find the minimum value. The sweep time at this time is represented as that corresponding to the symbol L in FIG. Then, an amplitude-frequency characteristic graph 84 corresponding to the measurement frequency band 80, as shown in FIG.
It is displayed on the display screen of a display device such as a RT (Cathode Ray Tube). In addition, it has a function of repeatedly measuring the same frequency band and updating a maximum value or a minimum value of measurement values measured a plurality of times. By the way, there are the following methods for measuring the electromagnetic spectrum of a device under test that performs an intermittent operation.

【0003】[1]第1従来例 測定対象の周波数帯域80に対して測定を繰り返し、複
数回測定した測定値の最大値を更新する構成とし、長時
間繰り返して測定を行う方法である。 [2]第2従来例 測定対象の周波数帯域80を複数の周波数帯域に分割
し、分割した各周波数帯域を間欠周期に相当する時間だ
け測定する。 [3]第3従来例 上記第1従来例および第2従来例と比較して測定時間を
短縮し、かつ、全測定周波数帯域において、被測定装置
が動作していることを保証するために、被測定装置の間
欠動作を止めて、連続動作モードに移行させ、連続動作
状態でスペクトラムアナライザによりスペクトラムを測
定する。
[1] First Conventional Example This is a method in which measurement is repeated for a frequency band 80 to be measured and the maximum value of measured values measured a plurality of times is updated, and measurement is repeated for a long time. [2] Second Conventional Example The frequency band 80 to be measured is divided into a plurality of frequency bands, and each divided frequency band is measured for a time corresponding to an intermittent period. [3] Third Conventional Example In order to shorten the measurement time as compared with the first conventional example and the second conventional example, and to ensure that the device under test is operating in the entire measurement frequency band, The intermittent operation of the device under test is stopped, the mode is shifted to the continuous operation mode, and the spectrum is measured by the spectrum analyzer in the continuous operation state.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記第1従来例によれ
ば、全測定周波数帯域において、被測定装置が動作して
いることが保証される訳ではないので、目的とする測定
結果が得られることが保証されないという問題点があっ
た。また、上記第2従来例によれば、測定対象の周波数
帯域80の全周波数帯域において、被測定装置が動作し
ている期間が含まれることとなる。しかしながら、スペ
クトラムアナライザの掃引時間が長く設定されてしまう
という問題点があった。上記第3従来例によれば、測定
時に被測定装置を連続動作させる必要があり、当該被測
定装置が通常動作時に間欠動作しかしないような装置の
場合には、測定のためだけに連続動作モードに移行する
ための機構を設ける必要があり、冗長な構成となってし
まうという問題点があった。
According to the first conventional example, it is not guaranteed that the device under test is operating in all the measurement frequency bands, so that a desired measurement result can be obtained. Is not guaranteed. Further, according to the second conventional example, the entire period of the frequency band 80 to be measured includes a period during which the device under measurement is operating. However, there is a problem that the sweep time of the spectrum analyzer is set long. According to the third conventional example, it is necessary to operate the device under test continuously during measurement, and if the device under test only intermittently operates during normal operation, the continuous operation mode is used only for measurement. It is necessary to provide a mechanism for shifting to the above, and there is a problem that the configuration becomes redundant.

【0005】そこで、本発明の目的は、間欠動作を行う
被測定装置にスペクトル測定時に連続動作を行わせる必
要なく、測定時間を短縮化し、確実に間欠動作時に測定
を行うことが可能なスペクトラム測定方法、スペクトラ
ムアナライザおよびスペクトラム測定システムを提供す
ることにある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a spectrum measurement system capable of shortening the measurement time and making sure that the measurement can be performed during the intermittent operation without having to make the device under test performing the intermittent operation perform the continuous operation at the time of spectrum measurement. It is to provide a method, a spectrum analyzer and a spectrum measurement system.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1記載の構成は、所定の周期で間欠動作を行
う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペクトラム測
定方法において、前記周期および前記間欠動作の時間に
基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間Lを設定
する掃引時間設定過程と、設定された掃引時間Lに基づ
いてスペクトラム測定を行う測定過程と、を備えたこと
を特徴としている。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a spectrum measuring method for measuring a spectrum of a device under test which performs an intermittent operation at a predetermined cycle. A sweep time setting step of setting the sweep time L at the time of the spectrum measurement based on the operation time, and a measurement step of performing a spectrum measurement based on the set sweep time L are provided.

【0007】請求項2記載の構成は、請求項1記載の構
成において、前記掃引時間設定過程は、前記間欠動作の
周期をTとし、前記間欠動作における動作時間をMと
し、(1)式の関係が満たされる場合に、(2)式によ
り掃引時間Lを算出し、設定することを特徴としてい
る。 T=K×M (Kは2以上の整数) ……(1) L=(K−1)×M ……(2)
According to a second aspect of the present invention, in the configuration of the first aspect, in the sweep time setting step, the cycle of the intermittent operation is T, the operating time in the intermittent operation is M, and When the relationship is satisfied, the sweep time L is calculated and set by the equation (2). T = K × M (K is an integer of 2 or more) (1) L = (K−1) × M (2)

【0008】請求項3記載の構成は、所定の周期で間欠
動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペク
トラム測定方法において、前記周期および前記間欠動作
の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間
Lを設定する掃引時間設定過程と、測定周波数帯域幅、
前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、測定繰
り返し回数Yを設定する繰り返し回数設定過程と、設定
された掃引時間Lおよび繰り返し回数Yに基づいてスペ
クトラム測定を行う測定過程と、を備えたことを特徴と
している。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a spectrum measuring method for measuring a spectrum of a device under test which performs an intermittent operation at a predetermined cycle, wherein the sweep at the time of the spectrum measurement is performed based on the cycle and the time of the intermittent operation. Sweep time setting process for setting time L, measurement frequency bandwidth,
A repetition number setting step of setting the number of measurement repetitions Y based on the period and the time of the intermittent operation; and a measurement step of performing spectrum measurement based on the set sweep time L and repetition number Y. It is characterized by.

【0009】請求項4記載の構成は、請求項3記載の構
成において、前記掃引時間設定過程は、間欠動作の周期
をTとし、間欠動作における動作時間をMとし、Nを任
意の自然数とした場合に、(3)式により、掃引時間L
を算出し、設定することを特徴としている。 L=T×N−Δt ……(3) ここで、0<|Δt|≦Mである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the configuration of the third aspect, in the sweep time setting step, the cycle of the intermittent operation is T, the operation time in the intermittent operation is M, and N is an arbitrary natural number. In this case, the sweep time L
Is calculated and set. L = T × N−Δt (3) where 0 <| Δt | ≦ M.

【0010】請求項5記載の構成は、請求項4記載の構
成において、前記繰り返し回数設定過程は、(4)式あ
るいは(5)式に基づいて、繰り返し回数Yの最小値を
算出することを特徴としている。 Y=f((T−M)/Δt)+2 (分数式(T−M)/Δtの余りが0ではない場合) ……(4) Y=f((T−M)/Δt)+1 (分数式(T−M)/Δtの余りが0の場合) ……(5) ここで、f((T−M)/Δt)は、分数式(T−M)
/Δtの商を表す。
According to a fifth aspect of the present invention, in the configuration of the fourth aspect, the step of setting the number of repetitions calculates the minimum value of the number of repetitions Y based on equation (4) or (5). Features. Y = f ((T−M) / Δt) +2 (when the remainder of the fractional expression (T−M) / Δt is not 0) (4) Y = f ((T−M) / Δt) +1 ( When the remainder of the fractional expression (TM) / Δt is 0: (5) where f ((TM) / Δt) is the fractional expression (TM)
/ Δt.

【0011】請求項6記載の構成は、所定の周期で間欠
動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペク
トラムアナライザにおいて、前記周期および前記間欠動
作の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時
間Lを設定する掃引時間設定部と、設定された掃引時間
Lに基づいてスペクトラム測定を行う測定部と、を備え
たことを特徴としている。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a spectrum analyzer for performing a spectrum measurement of a device under test that performs an intermittent operation at a predetermined cycle, wherein the sweep time at the time of the spectrum measurement is based on the cycle and the time of the intermittent operation. It is characterized by comprising a sweep time setting unit for setting L, and a measuring unit for performing spectrum measurement based on the set sweep time L.

【0012】請求項7記載の構成は、請求項6記載の構
成において、前記掃引時間設定部は、前記間欠動作の周
期をTとし、前記間欠動作における動作時間をMとし、
(1)式の関係が満たされる場合に、(2)式により掃
引時間Lを算出し、設定することを特徴としている。 T=K×M (Kは2以上の整数) ……(1) L=(K−1)×M ……(2)
According to a seventh aspect of the present invention, in the configuration of the sixth aspect, the sweep time setting unit sets a cycle of the intermittent operation to T, sets an operation time in the intermittent operation to M,
When the relationship of Expression (1) is satisfied, the sweep time L is calculated and set by Expression (2). T = K × M (K is an integer of 2 or more) (1) L = (K−1) × M (2)

【0013】請求項8記載の構成は、所定の周期で間欠
動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペク
トラムアナライザにおいて、前記周期および前記間欠動
作の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時
間Lを設定する掃引時間設定部と、測定周波数帯域幅、
前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、測定繰
り返し回数Yを設定する繰り返し回数設定部と、設定さ
れた掃引時間Lおよび繰り返し回数Yに基づいてスペク
トラム測定を行う測定部と、を備えたことを特徴として
いる。
In a spectrum analyzer for performing a spectrum measurement of a device under test that performs an intermittent operation at a predetermined cycle, the sweep time at the time of the spectrum measurement is based on the cycle and the time of the intermittent operation. A sweep time setting unit for setting L, a measurement frequency bandwidth,
A repetition number setting unit that sets the number of measurement repetitions Y based on the period and the time of the intermittent operation; and a measurement unit that performs spectrum measurement based on the set sweep time L and the number of repetitions Y. It is characterized by.

【0014】請求項9記載の構成は、請求項8記載の構
成において、前記掃引時間設定部は、間欠動作の周期を
Tとし、間欠動作における動作時間をMとし、Nを任意
の自然数とした場合に、(3)式により、掃引時間Lを
算出し、設定することを特徴としている。 L=T×N−Δt ……(3) ここで、0<|Δt|≦Mである。
According to a ninth aspect of the present invention, in the configuration of the eighth aspect, the sweep time setting section sets the cycle of the intermittent operation to T, sets the operation time in the intermittent operation to M, and sets N to any natural number. In this case, the sweep time L is calculated and set by the equation (3). L = T × N−Δt (3) where 0 <| Δt | ≦ M.

【0015】請求項10記載の構成は、請求項9記載の
構成において、前記繰り返し回数設定部は、(4)式あ
るいは(5)式に基づいて、繰り返し回数Yの最小値を
算出することを特徴としている。 Y=f((T−M)/Δt)+2 (分数式(T−M)/Δtの余りが0ではない場合) ……(4) Y=f((T−M)/Δt)+1 (分数式(T−M)/Δtの余りが0の場合) ……(5) ここで、f((T−M)/Δt)は、分数式(T−M)
/Δtの商を表す。
According to a tenth aspect of the present invention, in the configuration of the ninth aspect, the repetition number setting unit calculates the minimum value of the number of repetitions Y based on the equation (4) or (5). Features. Y = f ((T−M) / Δt) +2 (when the remainder of the fractional expression (T−M) / Δt is not 0) (4) Y = f ((T−M) / Δt) +1 ( When the remainder of the fractional expression (TM) / Δt is 0: (5) where f ((TM) / Δt) is the fractional expression (TM)
/ Δt.

【0016】請求項11記載の構成は、所定の周期で間
欠動作を行う被測定装置のスペクトラム測定をスペクト
ラムアナライザを用いて行うスペクトラム測定システム
において、前記被測定装置の間欠動作の周期および前記
間欠動作の動作時間を設定する外部制御装置と、前記外
部制御装置により設定された間欠動作の周期および間欠
動作の動作時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の
掃引時間Lを前記スペクトラムアナライザに対して設定
する制御指示装置と、を備えたことを特徴としている。
According to another aspect of the present invention, there is provided a spectrum measuring system for performing a spectrum measurement of a device under test that performs an intermittent operation at a predetermined period by using a spectrum analyzer. An external control device for setting the operation time of the device, and a sweep time L at the time of the spectrum measurement is set for the spectrum analyzer based on the period of the intermittent operation and the operation time of the intermittent operation set by the external control device. And a control instruction device.

【0017】請求項12記載の構成は、請求項11記載
の構成において、前記制御指示装置は、 測定周波数帯
域幅、前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、
測定繰り返し回数Yを前記スペクトラムアナライザに対
して設定することを特徴としている。
According to a twelfth aspect of the present invention, in the configuration of the eleventh aspect, the control instruction device is configured to determine, based on a measured frequency bandwidth, the period, and the time of the intermittent operation,
It is characterized in that the number of measurement repetitions Y is set for the spectrum analyzer.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】次に本発明の好適な実施形態につ
いて図面を参照して説明する。 [1]第1実施形態 まず第1実施形態について説明する。図1に測定時の概
要構成ブロック図を示す。スペクトラムアナライザ10
には、間欠動作を行う被測定装置20が接続されてい
る。この場合において、スペクトラムアナライザ10
は、測定周波数帯域のスペクトラムの最大値を更新しつ
つ、繰り返し測定するものとする。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. [1] First Embodiment First, a first embodiment will be described. FIG. 1 shows a schematic configuration block diagram at the time of measurement. Spectrum analyzer 10
Is connected to the device under test 20 that performs an intermittent operation. In this case, the spectrum analyzer 10
Shall be repeatedly measured while updating the maximum value of the spectrum of the measurement frequency band.

【0019】図2にスペクトラムアナライザの概要構成
図を示す。図2は、リアルタイム型スペクトラムアナラ
イザの概要構成図である。スペクトラムアナライザ10
は、入力端子11と、複数のバンドパスフィルタ部12
-1〜12-nと、複数のピーク検出器13-1〜13-nと、
高速切替スイッチ14と、掃引信号発生部15と、表示
部16と、を備えて構成されている。入力端子には、複
数のバンドパスフィルタ部が並列に接続されている。各
バンドパスフィルタ部12-1〜12-nは、通過帯域幅が
相互に重なり合うように設定されており、全バンドパス
フィルタ部12-1〜12-nを合わせた通過帯域幅が測定
対象の周波数帯域幅と等しくなるようになっている。ピ
ーク検出器13-1〜13-nは対応するバンドパスフィル
タ部12-1〜12-nの出力信号のピーク値(最大値ある
いは最小値)を検出し、更新しつつ保持する。高速切替
スイッチ14は、掃引信号発生部15の制御下で、ピー
ク検出器13-1〜13-nのうちいずれか一つのピーク検
出器の出力信号を順次切り換えて表示部16に出力す
る。表示部16は、高速切替スイッチ14からの出力信
号に基づいて入力信号(被計測信号)の振幅−周波数の
関係を表示する。次に動作を説明する。
FIG. 2 shows a schematic configuration diagram of the spectrum analyzer. FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a real-time spectrum analyzer. Spectrum analyzer 10
Represents an input terminal 11 and a plurality of bandpass filter units 12
-1 to 12-n, a plurality of peak detectors 13-1 to 13-n,
It is provided with a high-speed changeover switch 14, a sweep signal generator 15, and a display 16. A plurality of band pass filter units are connected in parallel to the input terminal. Each band-pass filter unit 12-1 to 12-n is set so that the pass bandwidths overlap each other, and the pass bandwidth of all the band-pass filter units 12-1 to 12-n is the measurement target. It is designed to be equal to the frequency bandwidth. The peak detectors 13-1 to 13-n detect peak values (maximum values or minimum values) of the output signals of the corresponding band-pass filter units 12-1 to 12-n, and hold the updated values. The high-speed changeover switch 14 sequentially switches the output signal of any one of the peak detectors 13-1 to 13-n and outputs the output signal to the display unit 16 under the control of the sweep signal generator 15. The display unit 16 displays the relationship between the amplitude and the frequency of the input signal (measured signal) based on the output signal from the high-speed switch 14. Next, the operation will be described.

【0020】図3に被測定装置の動作説明図を示す。被
測定装置20は、間欠動作周期Tごとに動作し、その動
作時間はMとなっている。これにより、間欠動作周期T
ごとに動作時間Mの間だけ、スペクトラムが観測される
こととなる。この場合において、測定周波数帯域につい
ての掃引時間をLとし、 T=K×M (Kは2以上の整数) ……(1) L=(K−1)×M ……(2) の関係を満たすことが可能であれば、効率よく測定が行
える。より具体的にK=5の場合について図4を参照し
て説明する。この場合、 T=5×M L=(5−1)×M =4×M となる。この場合、掃引時間Lは動作時間Mの4倍の期
間であるので、測定周波数帯域を4つの周波数帯域(低
域6、中低域7、中高域8、高域9)に分け、4回の測
定で測定周波数帯域の測定を完了することとなる。な
お、図4の例は、被測定装置の動作開始時刻と掃引開始
時刻(時刻t0)が一致する場合であるが、ずれている
場合には、4+1=5回の測定で測定周波数帯域の測定
を完了することとなる。同様に掃引時間Lが動作時間M
のX倍の期間であれば、最大でX+1回の測定で測定周
波数帯域の測定を完了することとなる。すなわち、第1
回目の測定である第1回目の掃引動作時には、掃引開始
時刻時刻t0〜時刻t1(=t0+M)の期間中に、被
測定装置20が動作しているので、掃引開始時刻t0〜
時刻t1の期間中に低域6の周波数帯域の測定を行う。
そして、測定結果の時間軸−周波数軸変換を行うことに
より実際の測定結果は、図5(A)に示すようなものと
なる。
FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of the device under test. The device under test 20 operates every intermittent operation cycle T, and its operation time is M. Thereby, the intermittent operation cycle T
Each time, the spectrum is observed only during the operation time M. In this case, the sweep time for the measurement frequency band is L, and T = K × M (K is an integer of 2 or more) (1) L = (K−1) × M (2) If it can be satisfied, measurement can be performed efficiently. More specifically, the case where K = 5 will be described with reference to FIG. In this case, T = 5 × ML = (5-1) × M = 4 × M. In this case, since the sweep time L is a period four times as long as the operation time M, the measurement frequency band is divided into four frequency bands (low band 6, middle low band 7, middle high band 8, high band 9), and four times. This completes the measurement of the measurement frequency band. In the example of FIG. 4, the operation start time of the device under test and the sweep start time (time t0) coincide with each other. If the operation start time deviates, the measurement frequency band is measured by 4 + 1 = 5 measurements. Will be completed. Similarly, the sweep time L is equal to the operation time M
In this case, the measurement of the measurement frequency band is completed with a maximum of X + 1 measurements. That is, the first
During the first sweep operation, which is the second measurement, since the device under measurement 20 is operating during the sweep start time t0 to the time t1 (= t0 + M), the sweep start time t0 to t0
During the period of time t1, the measurement of the frequency band of the low band 6 is performed.
Then, by performing the time axis-frequency axis conversion of the measurement result, the actual measurement result is as shown in FIG.

【0021】続いて、第2回目の測定である第2回目の
掃引動作時には、時刻t1〜時刻t2(=t0+2・
M)の期間中に、被測定装置20が動作しているので、
掃引開始時刻時刻t1〜時刻t2の期間中に中低域7の
周波数帯域の測定を行う。そして、測定結果の時間軸−
周波数軸変換を行うことにより、第2回目の測定完了時
点における実際の測定結果は、図5(B)に示すような
ものとなる。次に第3回目の測定である第3回目の掃引
動作時には、時刻t2〜時刻t3(=t0+3・M)の
期間中に、被測定装置20が動作しているので、掃引開
始時刻時刻t2〜時刻t3の期間中に中高域8の周波数
帯域の測定を行う。そして、測定結果の時間軸−周波数
軸変換を行うことにより、第3回目の測定完了時点にお
ける実際の測定結果は、図5(C)に示すようなものと
なる。続いて第4回目の測定である第4回目の掃引動作
時には、時刻t3〜時刻t4(=t0+4・M)の期間
中に、被測定装置20が動作しているので、掃引開始時
刻時刻t3〜時刻t4の期間中に高域9の周波数帯域の
測定を行う。そして、測定結果の時間軸−周波数軸変換
を行うことにより、第4回目の測定完了時点における実
際の測定結果は、図5(D)に示すようなものとなり、
測定周波数帯域全域にわたって測定が完了することとな
る。
Subsequently, at the time of the second sweep operation, which is the second measurement, from time t1 to time t2 (= t0 + 2 ·
Since the device under measurement 20 is operating during the period of M),
During the period from the sweep start time t1 to the time t2, the measurement of the frequency band of the middle / low range 7 is performed. And the time axis of the measurement result-
By performing the frequency axis conversion, the actual measurement result at the time of completion of the second measurement is as shown in FIG. 5B. Next, during the third sweep operation, which is the third measurement, since the device under measurement 20 is operating during the period from time t2 to time t3 (= t0 + 3 · M), the sweep start time t2 During the period of time t3, the measurement of the frequency band of the middle-high band 8 is performed. Then, by performing the time axis-frequency axis conversion of the measurement result, the actual measurement result at the time of completion of the third measurement is as shown in FIG. 5C. Subsequently, in the fourth sweep operation, which is the fourth measurement, since the device under measurement 20 is operating during the period from time t3 to time t4 (= t0 + 4 · M), the sweep start time t3 to During the period of time t4, the frequency band of the high frequency band 9 is measured. Then, by performing the time axis-frequency axis conversion of the measurement result, the actual measurement result at the time of completion of the fourth measurement is as shown in FIG.
The measurement is completed over the entire measurement frequency band.

【0022】[2]第2実施形態 次に図6を参照して第2実施形態について説明する。上
記第1実施形態は、間欠周期Tが動作時間Mの2以上の
整数倍である場合について説明したが、実際の間欠周期
Tは動作時間Mに対し、このような関係を満たすとは限
らない。そこで、本第2実施形態は、より実際的な測定
方法を提供するものである。本第2実施形態において、
装置構成は第1実施形態と同様であるので、図1ないし
図3を参照して説明する。図6に第2実施形態の動作説
明図を示す。被測定装置20の間欠動作の周期をTと
し、間欠動作における動作時間をMとし、Nを任意の自
然数とし、Δtをパラメータとする。この場合において
も、第1実施形態と同様に、周期Tごとに動作時間Mの
間だけ、スペクトラムが観測されるものとする。
[2] Second Embodiment Next, a second embodiment will be described with reference to FIG. In the first embodiment, the case where the intermittent cycle T is an integral multiple of 2 or more of the operating time M has been described. However, the actual intermittent cycle T does not always satisfy the relationship with the operating time M. . Therefore, the second embodiment provides a more practical measurement method. In the second embodiment,
Since the device configuration is the same as that of the first embodiment, it will be described with reference to FIGS. FIG. 6 shows an operation explanatory diagram of the second embodiment. The period of the intermittent operation of the device under test 20 is T, the operation time in the intermittent operation is M, N is an arbitrary natural number, and Δt is a parameter. In this case, as in the first embodiment, it is assumed that the spectrum is observed only during the operation time M for each cycle T.

【0023】この場合において、測定周波数帯域につい
ての掃引時間をLとし、 L=T×N−Δt ……(3) 0<|Δt|≦M ……(4) の関係を満たすように掃引時間Lを設定する。より具体
的にN=2、0<Δt≦M5の場合について図6を参照
して説明する。この場合において、測定に最低限必要な
測定繰り返し回数Yは、(5)式あるいは(6)式によ
り表すことができる。以下の説明において、Zは、分数
式であり、f(Z)は、分数式の商を表すものとする。 Y=f((T−M)/Δt)+2 (分数式Zの余りが0ではない場合) ……(5) Y=f((T−M)/Δt)+1 (分数式Zの余りが0の場合) ……(6)
In this case, the sweep time for the measurement frequency band is L, and the sweep time is such that L = T × N−Δt (3) 0 <| Δt | ≦ M (4) Set L. More specifically, a case where N = 2 and 0 <Δt ≦ M5 will be described with reference to FIG. In this case, the minimum number of measurement repetitions Y required for measurement can be expressed by equation (5) or equation (6). In the following description, Z is a fractional expression, and f (Z) represents a quotient of the fractional expression. Y = f ((T−M) / Δt) +2 (when the remainder of the fraction formula Z is not 0) (5) Y = f ((T−M) / Δt) +1 (the remainder of the fraction formula Z is 0) ............ (6)

【0024】このように、測定繰り返し回数Yを設定す
ることにより、測定周波数帯域の全域にわたって測定を
完了することとなる。従って、測定周波数帯域の測定を
完了するための時間としては、 Y×L の時間が必要となる。この場合に、設定可能な時間Δt
をできる限り大きな値に設定すれば、測定繰り返し回数
Yを小さくすることができ、測定周波数帯域の測定を完
了するための時間(=Y×L)を短縮することができ
る。上記構成に依れば、図6に示すように、掃引時間L
に対する被測定装置の動作時間の相対的な期間をΔtだ
けずらしつつ、掃引時間Lの期間中に1回あるいは複数
回測定することができ、図7(A)〜図7(D)に示す
ように、順次測定周波数帯域内の測定を行え、最終的に
は測定周波数帯域の全域にわたって測定が完了すること
となる。
As described above, by setting the number Y of measurement repetitions, the measurement is completed over the entire measurement frequency band. Therefore, the time for completing the measurement of the measurement frequency band requires Y × L times. In this case, the settable time Δt
Is set as large as possible, the number of measurement repetitions Y can be reduced, and the time (= Y × L) for completing the measurement of the measurement frequency band can be shortened. According to the above configuration, as shown in FIG.
Can be measured once or plural times during the sweep time L while shifting the relative time of the operation time of the device under test by Δt, as shown in FIGS. 7A to 7D. Then, the measurement within the measurement frequency band can be sequentially performed, and the measurement is finally completed over the entire measurement frequency band.

【0025】[3]第3実施形態 上記各実施形態においては、被測定装置の間欠動作周期
Tおよび動作時間Mは固定となっていたが、本第3実施
形態は、被測定装置の間欠動作周期Tおよび動作時間M
を外部から設定可能な被測定装置の場合の実施形態であ
る。図8に第3実施形態のスペクトラム測定システムの
概要構成ブロック図を示す。スペクトラム測定システム
50は、被測定装置51と、スペクトラムアナライザ5
2と、外部制御装置53と、制御指示装置54と、を備
えて構成されている。被測定装置51は、外部制御装置
53からの制御信号Aに基づいて間欠動作周期Tおよび
動作時間Mを設定し、設定された間欠動作周期および動
作時間Mに基づいて動作する。制御指示装置54は、受
信部55と、制御部56と、計算部57と、送信部58
と、を備えて構成されている。
[3] Third Embodiment In each of the above embodiments, the intermittent operation cycle T and the operation time M of the device under test are fixed. However, in the third embodiment, the intermittent operation of the device under test is performed. Period T and operating time M
Is an embodiment in the case of a device under test in which can be set externally. FIG. 8 shows a schematic configuration block diagram of a spectrum measurement system according to the third embodiment. The spectrum measurement system 50 includes a device under test 51 and a spectrum analyzer 5.
2, an external control device 53, and a control instruction device 54. The device under test 51 sets an intermittent operation cycle T and an operation time M based on a control signal A from the external control device 53, and operates based on the set intermittent operation cycle and operation time M. The control instruction device 54 includes a reception unit 55, a control unit 56, a calculation unit 57, and a transmission unit 58
And is provided.

【0026】受信部55は、制御信号Aを受信し、計算
部57に出力する。制御部56は、計算部57を制御す
る。計算部57は、制御部56の制御下で、制御信号A
に対応する間欠動作周期Tおよび動作時間Mに最適な掃
引時間Lおよび測定繰り返し回数Yを計算し、送信部5
8に出力する。これにより送信部58は、入力された掃
引時間Lおよび測定繰り返し回数Yをスペクトラムアナ
ライザ52に設定するための制御信号Bを出力する。ス
ペクトラムアナライザ52は、制御信号Bに対応する掃
引時間Lおよび測定繰り返し回数Yに基づいて測定を行
う。具体的な測定については、第1実施形態あるいは第
2実施形態と同様である。
The receiving section 55 receives the control signal A and outputs it to the calculating section 57. The control unit 56 controls the calculation unit 57. The calculation unit 57 controls the control signal A under the control of the control unit 56.
The optimum sweep time L and the number of measurement repetitions Y for the intermittent operation cycle T and operation time M corresponding to
8 is output. As a result, the transmission unit 58 outputs the control signal B for setting the input sweep time L and the number of measurement repetitions Y to the spectrum analyzer 52. The spectrum analyzer 52 performs measurement based on the sweep time L and the number of measurement repetitions Y corresponding to the control signal B. The specific measurement is the same as in the first embodiment or the second embodiment.

【0027】[4]実施形態の効果 上記各実施形態によれば、被測定装置において、測定の
ためだけに連続動作モードを実装する必要がなく、回路
構成あるいは装置構成を簡略化できるとともに、製造コ
ストの低減も図ることができる。また、測定時間の最適
化がはかれ、実質的に測定時間を短縮化することができ
る。さらに確実に掃引時間中に被測定装置の動作時間が
含まれることとなり、所望の測定結果を確実に得ること
ができる。
[4] Effects of the Embodiments According to the above embodiments, it is not necessary to implement the continuous operation mode only for the measurement in the device to be measured, so that the circuit configuration or the device configuration can be simplified and the manufacturing can be simplified. Cost can also be reduced. Further, the measurement time can be optimized, and the measurement time can be substantially reduced. Further, the operation time of the device to be measured is surely included in the sweep time, and a desired measurement result can be reliably obtained.

【0028】[0028]

【発明の効果】本発明によれば、測定時間の最適化がは
かれ、実質的に測定時間を短縮化することができる。ま
た、確実に掃引時間中に被測定装置の動作時間が含まれ
ることとなり、所望の測定結果を確実に得ることができ
る。さらに被測定装置において、測定のためだけに連続
動作モードを実装する必要がなく、回路構成あるいは装
置構成を簡略化できるとともに、製造コストの低減も図
ることができる。
According to the present invention, the measurement time can be optimized, and the measurement time can be substantially reduced. In addition, the operation time of the device to be measured is reliably included in the sweep time, and a desired measurement result can be reliably obtained. Further, in the device under test, it is not necessary to implement the continuous operation mode only for the measurement, so that the circuit configuration or the device configuration can be simplified and the manufacturing cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 第1実施形態における測定時の概要構成ブロ
ック図である。
FIG. 1 is a schematic configuration block diagram at the time of measurement according to a first embodiment.

【図2】 スペクトラムアナライザの概要構成図であ
る。
FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a spectrum analyzer.

【図3】 被測定装置の動作説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of the operation of the device under test.

【図4】 第1実施形態における具体的測定動作の説明
図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of a specific measurement operation in the first embodiment.

【図5】 第1実施形態における具体的測定結果の説明
図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of a specific measurement result in the first embodiment.

【図6】 第2実施形態における具体的測定動作の説明
図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of a specific measurement operation in the second embodiment.

【図7】 第2実施形態における具体的測定結果の説明
図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram of a specific measurement result in the second embodiment.

【図8】 第3実施形態のスペクトル測定システムの概
要構成ブロック図である。
FIG. 8 is a schematic configuration block diagram of a spectrum measurement system according to a third embodiment.

【図9】 スペクトラムアナライザの測定概念の説明図
である。
FIG. 9 is an explanatory diagram of a measurement concept of the spectrum analyzer.

【図10】 測定周波数帯域に対応する振幅−周波数特
性グラフの表示例の説明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram of a display example of an amplitude-frequency characteristic graph corresponding to a measurement frequency band.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10、52…スペクトラムアナライザ 20、51…被測定装置 11…入力端子 12-1〜12-n…バンドパスフィルタ部 13-1〜13-n…ピーク検出部 14…高速切換スイッチ 15…掃引信号発生部 16…表示部 53…外部制御装置 54…制御指示装置 55…受信部 56…制御部 57…計算部 58…送信部 10, 52: Spectrum analyzer 20, 51: Device under test 11: Input terminal 12-1 to 12-n: Bandpass filter unit 13-1 to 13-n: Peak detection unit 14: High-speed switch 15: Sweep signal generation Unit 16: Display unit 53: External control device 54: Control instruction device 55: Receiving unit 56: Control unit 57: Calculation unit 58: Transmission unit

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定の周期で間欠動作を行う被測定装置
のスペクトラム測定を行うスペクトラム測定方法におい
て、 前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記ス
ペクトラム測定時の掃引時間Lを設定する掃引時間設定
過程と、 設定された掃引時間Lに基づいてスペクトラム測定を行
う測定過程と、 を備えたことを特徴とするスペクトラム測定方法。
1. A spectrum measuring method for performing a spectrum measurement of a device under test that performs an intermittent operation at a predetermined cycle, comprising: setting a sweep time L at the time of the spectrum measurement based on the cycle and the time of the intermittent operation. A spectrum measuring method, comprising: a time setting step; and a measuring step of performing spectrum measurement based on a set sweep time L.
【請求項2】 請求項1記載のスペクトラム測定方法に
おいて、 前記掃引時間設定過程は、前記間欠動作の周期をTと
し、前記間欠動作における動作時間をMとし、(1)式
の関係が満たされる場合に、(2)式により掃引時間L
を算出し、設定することを特徴とするスペクトラム測定
方法。 T=K×M (Kは2以上の整数) ……(1) L=(K−1)×M ……(2)
2. The spectrum measuring method according to claim 1, wherein in the sweep time setting step, the cycle of the intermittent operation is T, the operating time in the intermittent operation is M, and the relationship of the formula (1) is satisfied. In this case, the sweep time L
Calculating and setting the spectrum. T = K × M (K is an integer of 2 or more) (1) L = (K−1) × M (2)
【請求項3】 所定の周期で間欠動作を行う被測定装置
のスペクトラム測定を行うスペクトラム測定方法におい
て、 前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記ス
ペクトラム測定時の掃引時間Lを設定する掃引時間設定
過程と、 測定周波数帯域幅、前記周期および前記間欠動作の時間
に基づいて、測定繰り返し回数Yを設定する繰り返し回
数設定過程と、 設定された掃引時間Lおよび繰り返し回数Yに基づいて
スペクトラム測定を行う測定過程と、 を備えたことを特徴とするスペクトラム測定方法。
3. A spectrum measuring method for performing a spectrum measurement of a device under test that performs an intermittent operation at a predetermined period, wherein a sweeping time L at the time of the spectrum measurement is set based on the period and the time of the intermittent operation. A time setting step, a repetition number setting step of setting a measurement repetition number Y based on the measurement frequency bandwidth, the period and the intermittent operation time, and a spectrum measurement based on the set sweep time L and the repetition number Y. And a spectrum measuring method, comprising:
【請求項4】 請求項3記載のスペクトラム測定方法に
おいて、 前記掃引時間設定過程は、間欠動作の周期をTとし、間
欠動作における動作時間をMとし、Nを任意の自然数と
した場合に、(3)式により、掃引時間Lを算出し、設
定することを特徴とするスペクトラム測定方法。 L=T×N−Δt ……(3) ここで、0<|Δt|≦Mである。
4. The spectrum measuring method according to claim 3, wherein in the sweep time setting step, when a cycle of the intermittent operation is T, an operation time in the intermittent operation is M, and N is an arbitrary natural number, 3) A spectrum measuring method, wherein a sweep time L is calculated and set according to equation (3). L = T × N−Δt (3) where 0 <| Δt | ≦ M.
【請求項5】 請求項4記載のスペクトラム測定方法に
おいて、 前記繰り返し回数設定過程は、(4)式あるいは(5)
式に基づいて、繰り返し回数Yの最小値を算出すること
を特徴とするスペクトラム測定方法。 Y=f((T−M)/Δt)+2 (分数式(T−M)/Δtの余りが0ではない場合) ……(4) Y=f((T−M)/Δt)+1 (分数式(T−M)/Δtの余りが0の場合) ……(5) ここで、f((T−M)/Δt)は、分数式(T−M)
/Δtの商を表す。
5. The spectrum measuring method according to claim 4, wherein the step of setting the number of repetitions is performed by using equation (4) or (5).
A spectrum measuring method, wherein a minimum value of the number of repetitions Y is calculated based on an equation. Y = f ((T−M) / Δt) +2 (when the remainder of the fractional expression (T−M) / Δt is not 0) (4) Y = f ((T−M) / Δt) +1 ( When the remainder of the fractional expression (TM) / Δt is 0: (5) where f ((TM) / Δt) is the fractional expression (TM)
/ Δt.
【請求項6】 所定の周期で間欠動作を行う被測定装置
のスペクトラム測定を行うスペクトラムアナライザにお
いて、 前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記ス
ペクトラム測定時の掃引時間Lを設定する掃引時間設定
部と、 設定された掃引時間Lに基づいてスペクトラム測定を行
う測定部と、 を備えたことを特徴とするスペクトラムアナライザ。
6. A spectrum analyzer for performing a spectrum measurement of a device under test that performs an intermittent operation at a predetermined cycle, wherein a sweep time for setting a sweep time L at the time of the spectrum measurement based on the cycle and the time of the intermittent operation. A spectrum analyzer, comprising: a setting unit; and a measurement unit that performs spectrum measurement based on a set sweep time L.
【請求項7】 請求項6記載のスペクトラムアナライザ
において、 前記掃引時間設定部は、前記間欠動作の周期をTとし、
前記間欠動作における動作時間をMとし、(1)式の関
係が満たされる場合に、(2)式により掃引時間Lを算
出し、設定することを特徴とするスペクトラムアナライ
ザ。 T=K×M (Kは2以上の整数) ……(1) L=(K−1)×M ……(2)
7. The spectrum analyzer according to claim 6, wherein the sweep time setting unit sets a cycle of the intermittent operation to T,
A spectrum analyzer, wherein the operating time in the intermittent operation is M, and when the relationship of the expression (1) is satisfied, the sweep time L is calculated and set by the expression (2). T = K × M (K is an integer of 2 or more) (1) L = (K−1) × M (2)
【請求項8】 所定の周期で間欠動作を行う被測定装置
のスペクトラム測定を行うスペクトラムアナライザにお
いて、 前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記ス
ペクトラム測定時の掃引時間Lを設定する掃引時間設定
部と、 測定周波数帯域幅、前記周期および前記間欠動作の時間
に基づいて、測定繰り返し回数Yを設定する繰り返し回
数設定部と、 設定された掃引時間Lおよび繰り返し回数Yに基づいて
スペクトラム測定を行う測定部と、 を備えたことを特徴とするスペクトラムアナライザ。
8. A spectrum analyzer for performing a spectrum measurement of a device under test that performs an intermittent operation at a predetermined cycle, wherein a sweep time for setting a sweep time L at the time of the spectrum measurement based on the cycle and the time of the intermittent operation. A setting unit, a repetition number setting unit that sets the number of measurement repetitions Y based on the measurement frequency bandwidth, the period, and the time of the intermittent operation; and a spectrum measurement based on the set sweep time L and repetition number Y. A spectrum analyzer, comprising: a measurement unit for performing measurement;
【請求項9】 請求項8記載のスペクトラムアナライザ
において、 前記掃引時間設定部は、間欠動作の周期をTとし、間欠
動作における動作時間をMとし、Nを任意の自然数とし
た場合に、(3)式により、掃引時間Lを算出し、設定
することを特徴とするスペクトラムアナライザ。 L=T×N−Δt ……(3) ここで、0<|Δt|≦Mである。
9. The spectrum analyzer according to claim 8, wherein the sweep time setting unit sets (3) when a cycle of the intermittent operation is T, an operation time in the intermittent operation is M, and N is an arbitrary natural number. A spectrum analyzer which calculates and sets the sweep time L according to the following equation: L = T × N−Δt (3) where 0 <| Δt | ≦ M.
【請求項10】 請求項9記載のスペクトラムアナライ
ザにおいて、 前記繰り返し回数設定部は、(4)式あるいは(5)式
に基づいて、繰り返し回数Yの最小値を算出することを
特徴とするスペクトラムアナライザ。 Y=f((T−M)/Δt)+2 (分数式(T−M)/Δtの余りが0ではない場合) ……(4) Y=f((T−M)/Δt)+1 (分数式(T−M)/Δtの余りが0の場合) ……(5) ここで、f((T−M)/Δt)は、分数式(T−M)
/Δtの商を表す。
10. The spectrum analyzer according to claim 9, wherein the number-of-repetitions setting unit calculates a minimum value of the number of repetitions Y based on Expression (4) or (5). . Y = f ((T−M) / Δt) +2 (when the remainder of the fractional expression (T−M) / Δt is not 0) (4) Y = f ((T−M) / Δt) +1 ( When the remainder of the fractional expression (TM) / Δt is 0: (5) where f ((TM) / Δt) is the fractional expression (TM)
/ Δt.
【請求項11】 所定の周期で間欠動作を行う被測定装
置のスペクトラム測定をスペクトラムアナライザを用い
て行うスペクトラム測定システムにおいて、 前記被測定装置の間欠動作の周期および前記間欠動作の
動作時間を設定する外部制御装置と、 前記外部制御装置により設定された間欠動作の周期およ
び間欠動作の動作時間に基づいて、前記スペクトラム測
定時の掃引時間Lを前記スペクトラムアナライザに対し
て設定する制御指示装置と、 を備えたことを特徴とするスペクトラム測定システム。
11. A spectrum measurement system for performing spectrum measurement of a device under test that performs an intermittent operation at a predetermined cycle using a spectrum analyzer, wherein a period of the intermittent operation of the device under test and an operation time of the intermittent operation are set. An external control device, and a control instruction device for setting the sweep time L at the time of the spectrum measurement to the spectrum analyzer based on the period of the intermittent operation and the operation time of the intermittent operation set by the external control device. A spectrum measurement system, comprising:
【請求項12】 請求項11記載のスペクトラム測定シ
ステムにおいて、 前記制御指示装置は、 測定周波数帯域幅、前記周期お
よび前記間欠動作の時間に基づいて、測定繰り返し回数
Yを前記スペクトラムアナライザに対して設定すること
を特徴とするスペクトラム測定システム。
12. The spectrum measurement system according to claim 11, wherein the control instruction device sets a measurement repetition count Y to the spectrum analyzer based on a measurement frequency bandwidth, the cycle, and a time of the intermittent operation. A spectrum measurement system characterized in that:
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