JP2002155381A - Coating type etching method and apparatus therefor - Google Patents
Coating type etching method and apparatus thereforInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウェーハ
(以下、単にウェーハと称することがある。)等のワー
クのエッチング方法および装置に関する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a method and an apparatus for etching a work such as a semiconductor wafer (hereinafter sometimes simply referred to as a wafer).
【0002】[0002]
【関連技術】従来、ウェットエッチングの一態様である
スピンエッチング処理では、ワーク、例えばウェーハを
回転円盤のウェーハ保持部に真空吸引或いは機械的にチ
ャッキングし、これを回転させながら、チューブ状の部
材から薬液(エッチング液ともいう。)を流下させるこ
とにより、ウェーハ表面のエッチングを行なっている。2. Description of the Related Art Conventionally, in a spin etching process, which is one mode of wet etching, a work, for example, a wafer is vacuum-sucked or mechanically chucked on a wafer holding portion of a rotating disk, and a tubular member is rotated while rotating. The wafer surface is etched by flowing a chemical solution (also referred to as an etching solution) from the wafer.
【0003】しかし、この様なスピンエッチング方法で
は、薬液がウェーハの全面に流下されてしまうので、ウ
ェーハの面内の部分的なエッチングや所望形状でのエッ
チング等を行なう場合には、エッチング処理の不要部分
を保護するために、ウェーハの面上にレジスト膜や保護
テープ等によるマスクを形成しておかなければならなか
った。However, in such a spin etching method, a chemical solution flows down over the entire surface of the wafer. Therefore, when performing partial etching in the surface of the wafer or etching in a desired shape, etc., the etching process is performed. In order to protect unnecessary portions, a mask such as a resist film or a protective tape had to be formed on the surface of the wafer.
【0004】そのため、マスキングのための手間がかか
り時間的及びコスト的に不利であるのみならず、マスキ
ング不良で歩留り低下の原因ともなっている。[0004] For this reason, masking is troublesome and time and cost disadvantageous. In addition, poor masking causes a reduction in yield.
【0005】また、薬液を単に流下させているために、
薬液の使用量の調整が非常に困難であり、多量の薬液の
浪費してしまう等の欠点もある。[0005] Also, since the chemical is simply allowed to flow down,
It is very difficult to adjust the amount of the chemical used, and there is a drawback that a large amount of the chemical is wasted.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記した問
題点に鑑みてなされたものであり、ワークの面の部分的
なエッチングを行なう場合に、エッチング処理の不要部
分を保護するためのワークの面のマスクを形成する必要
を無くして、製造時間の短縮、製造コストの低減及び歩
留り向上を図ることができ、しかも最小限の薬液使用量
でのエッチング処理を実現して、薬液を効率的に使用す
ることができる塗布式エッチング方法及び装置を提供す
ることを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems, and has been made in consideration of the above circumstances. Eliminates the need to form a mask on the surface, shortening the manufacturing time, reducing the manufacturing cost and improving the yield, and realizing the etching process with the minimum amount of the chemical solution to efficiently use the chemical solution. It is an object of the present invention to provide a coating type etching method and apparatus which can be used for the above.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の第1の態様の塗布式エッチング方法は、薬
液が含浸された塗布手段をワークの面に接触せしめた状
態で該塗布手段を摺動することにより、薬液を該ワーク
の面に塗布して該ワークの面をエッチングすることを特
徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided a coating type etching method in which a coating solution impregnated with a chemical is brought into contact with a surface of a workpiece. By sliding the means, a chemical solution is applied to the surface of the work and the surface of the work is etched.
【0008】すなわち、塗布手段をワークの面に接触し
つつ摺動せしめることで、ワークの面に薬液を直接に塗
布し、塗布手段が当接する部分だけをエッチングするこ
ととしている。そのため、エッチング不要部分の保護の
ためのマスキングを行なう必要がなく、また、塗布手段
に含浸された薬液を用いるので、必要最小限の薬液使用
量でのエッチングが可能である。That is, the application means is slid while being in contact with the surface of the work, so that the chemical is applied directly to the surface of the work, and only the portion where the application means abuts is etched. Therefore, it is not necessary to perform masking for protecting an unnecessary portion of etching, and since a chemical solution impregnated in the application unit is used, etching can be performed with a minimum necessary amount of the chemical solution.
【0009】当該態様では、塗布手段を摺動しているの
で、ワークの面の所望部位に所望形状でエッチングを施
したい場合等に好適な態様となる。In this aspect, since the application means is slid, this is a suitable aspect, for example, when it is desired to etch a desired portion of the surface of the work in a desired shape.
【0010】次に、本発明の第2の態様の塗布式エッチ
ング方法は、薬液が含浸された塗布手段をワークの面に
接触せしめた状態で該ワークを運動させることにより、
薬液を該ワークの面に塗布して該ワークの面をエッチン
グすることを特徴とする。Next, in a coating type etching method according to a second aspect of the present invention, the work is moved while the coating means impregnated with the chemical is in contact with the surface of the work.
It is characterized in that a chemical is applied to the surface of the work and the surface of the work is etched.
【0011】すなわち、塗布手段とワークの面を摺接し
た状態で、ワークを運動せしめることで、塗布手段が当
接している部分のみをエッチングすることとしている。That is, by moving the work while the surface of the work is in sliding contact with the application means, only the portion where the application means is in contact is etched.
【0012】当該態様では、ワークを運動させるので、
例えば回転運動等のような所定運動を繰り返す場合に好
適である。In this aspect, since the work is moved,
For example, it is suitable when a predetermined motion such as a rotation motion is repeated.
【0013】前記ワークを回転させることにより、該ワ
ークの面を円環状にエッチングするようにすれば、ワー
クの面の縁部或いはワークの端部などの円環状の部位の
みを均等且つ迅速にエッチングすることができ良好な態
様となる。If the surface of the work is circularly etched by rotating the work, only the circular portion such as the edge of the surface of the work or the end of the work is uniformly and rapidly etched. This is a good mode.
【0014】前記塗布手段を薬液が含浸される塗布部材
と該塗布部材を保持する保持部材とから構成することが
好ましい。[0014] It is preferable that the coating means is composed of a coating member impregnated with a chemical solution and a holding member for holding the coating member.
【0015】前記保持手段に薬液供給手段を接続し、該
塗布部材に薬液を供給するするようにすれば、連続して
安定した薬液供給が可能となるので好ましい態様とな
る。It is preferable that a chemical liquid supply means is connected to the holding means to supply a chemical liquid to the coating member, so that a stable and continuous supply of the chemical liquid is possible.
【0016】前記ワークはウェーハであることが好適で
ある。近年益々、ウェーハ、特に半導体ウェーハは高精
度な微細加工を施される傾向にあることから、柔軟なエ
ッチング態様を実現することのできる本発明をウェーハ
に適用することは、極めて有用である。The work is preferably a wafer. In recent years, since wafers, particularly semiconductor wafers, have a tendency to be subjected to high-precision fine processing, it is extremely useful to apply the present invention to a wafer capable of realizing a flexible etching mode.
【0017】また、本発明の塗布式エッチング装置は、
回転円盤と、該回転円盤の上面中央部に設けられたワー
ク保持部と、該ワーク保持部に保持されているワークに
薬液を塗布する塗布手段と、該塗布手段に薬液を供給す
る薬液供給手段と、該塗布手段を任意位置に移動せしめ
るための移動手段とを有することを特徴とする。Further, the coating type etching apparatus of the present invention comprises:
A rotating disk, a work holding part provided at the center of the upper surface of the rotating disk, an application unit for applying a chemical to the work held by the work holding unit, and a chemical supply unit for supplying a chemical to the application unit And a moving means for moving the applying means to an arbitrary position.
【0018】前記移動手段が、X軸方向、Y軸方向及び
Z軸方向に移動可能なXYZテーブルであることとすれ
ば、塗布部材をX軸方向、Y軸方向及びZ軸方向に自由
自在に移動させることができるようになるので好まし
い。If the moving means is an XYZ table movable in the X-axis direction, the Y-axis direction and the Z-axis direction, the coating member can be freely moved in the X-axis direction, the Y-axis direction and the Z-axis direction. This is preferable because it can be moved.
【0019】前記塗布手段が薬液が含浸される塗布部材
と、該塗布部材を保持する保持部材とから構成されるこ
とが好適である。It is preferable that the application means is constituted by an application member impregnated with a chemical solution, and a holding member for holding the application member.
【0020】[0020]
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて説明するが、本発明の技術思想から逸脱
しない限りこれらの実施の形態について種々の変更又は
変形が可能なことはいうまでもない。なお、以下の説明
は、ワークがウェーハである場合の説明である。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. However, various changes or modifications can be made to these embodiments without departing from the technical idea of the present invention. Needless to say. The following description is for the case where the workpiece is a wafer.
【0021】図1及び図2に示されるように、本発明の
塗布式エッチング装置1は、移動手段10及び回転円盤
2を具備しており、回転円盤2の上面中央部にはウェー
ハ保持部4が設けられ、該ウェーハ保持部4は、ウェー
ハWを真空チャックより保持している。As shown in FIGS. 1 and 2, the coating type etching apparatus 1 of the present invention includes a moving unit 10 and a rotating disk 2, and a wafer holding unit 4 is provided at the center of the upper surface of the rotating disk 2. The wafer holding unit 4 holds the wafer W from a vacuum chuck.
【0022】移動手段10は、例えばXYZテーブルで
あり、X軸移動手段10x、Y軸移動手段10y、Z軸
移動手段10z及びアームAを備え、X軸、Y軸及びZ
軸の夫々の方向にアームAを移動自在に操作可能となっ
ている。The moving means 10 is, for example, an XYZ table, and includes an X-axis moving means 10x, a Y-axis moving means 10y, a Z-axis moving means 10z, and an arm A.
The arm A can be movably operated in each direction of the shaft.
【0023】塗布手段は、塗布手段12と保持手段14
とから構成される手段である。当該塗布手段としては、
筆記具の技術分野において、フェルトペン、サインペン
乃至マーカーペン等と呼ばれるペン類と構造的に近似し
たペン状の手段が好適に用いられる。The application means includes an application means 12 and a holding means 14
This is a means composed of As the coating means,
In the technical field of writing instruments, pen-shaped means that are structurally similar to pens, such as felt pens, felt pens, and marker pens, are preferably used.
【0024】保持部材14には、薬液供給手段16が接
続され、該薬液供給手段16から薬液が該保持部材14
に適宜供給される。A chemical liquid supply means 16 is connected to the holding member 14, and a chemical liquid is supplied from the chemical liquid supply means 16 to the holding member 14.
Is supplied as appropriate.
【0025】保持部材14は、内部中空の筒状体であ
り、薬液を充填及び流通せしめることができるように構
成される。The holding member 14 is a tubular body having a hollow inside, and is configured so that a chemical solution can be filled and circulated.
【0026】塗布部材12は、保持部材14の下端部に
取り付けられ、薬液供給手段16からの薬液を保持部材
14を介して供給される。The application member 12 is attached to the lower end of the holding member 14, and a chemical solution from a chemical solution supply unit 16 is supplied through the holding member 14.
【0027】塗布部材12は、フェルト等の繊毛素材か
らなり、毛細管現象と重力作用により、保持部材14を
介して供給される薬液を吸い出し、薬液が塗布部材12
の外部表面に滲出されるように構成されている。なお、
該塗布部材12は、薬液を含浸し且つ連続的にウェーハ
等のワーク面に塗布供給する機能を有すればよいもの
で、上記構造に限定されるものではない。The coating member 12 is made of a ciliary material such as felt, and sucks out the chemical supplied through the holding member 14 by the capillary action and the gravitational action.
Is configured to be exuded on the outer surface of the. In addition,
The coating member 12 is only required to have a function of impregnating a chemical solution and continuously applying and supplying it to a work surface such as a wafer, and is not limited to the above structure.
【0028】当該塗布手段(塗布部材12及び保持部材
14)は、移動手段10とアームAを介して連結されて
いる。これにより、移動手段10を操作して塗布手段を
所望位置に移動自在とすることができる。The applying means (the applying member 12 and the holding member 14) is connected to the moving means 10 via the arm A. Thereby, the application means can be freely moved to a desired position by operating the movement means 10.
【0029】次に、本発明の塗布式エッチング方法を説
明する。図3に示されるように、ウェーハWの縁部を円
環状にエッチングする場合には、塗布手段(塗布部材1
2及び保持部材14)をアームAにより所定位置に移動
し、塗布部材14をウェーハWの表面に摺接した状態で
アームAを停止する。Next, the coating type etching method of the present invention will be described. As shown in FIG. 3, when the edge of the wafer W is etched in an annular shape, the coating means (the coating member 1) is used.
2 and the holding member 14) are moved to a predetermined position by the arm A, and the arm A is stopped in a state where the coating member 14 is in sliding contact with the surface of the wafer W.
【0030】そして、回転円盤2を回転駆動せしめる
と、ウェーハWの表面を塗布部材12が摺動して薬液を
塗布し、ウェーハの表面に円環状のエッチング処理がな
されることとなる。When the rotating disk 2 is driven to rotate, the coating member 12 slides on the surface of the wafer W to apply a chemical solution, and an annular etching process is performed on the surface of the wafer.
【0031】このようにして、ウェーハWの表面に円環
状のエッチング部位20aを形成することが可能とな
る。In this way, it is possible to form the annular etching portion 20a on the surface of the wafer W.
【0032】また、図4に示されるように、ウェーハW
の任意部位を任意形状でエッチングする場合には、ま
ず、回転円盤2を停止する。Further, as shown in FIG.
In the case of etching an arbitrary part of the above with an arbitrary shape, first, the rotating disk 2 is stopped.
【0033】そして、塗布手段(塗布部材12及び保持
部材14)をアームAにより所望部位に移動し、ウェー
ハWの表面に摺接せしめる。次いで、該塗布手段をアー
ムAによりウェーハWの表面に所望形状を描画するよう
に摺動せしめ、薬液を塗布する。Then, the application means (the application member 12 and the holding member 14) is moved to a desired portion by the arm A, and is brought into sliding contact with the surface of the wafer W. Next, the application means is slid by the arm A so as to draw a desired shape on the surface of the wafer W, and a chemical solution is applied.
【0034】このようにして、ウェーハWの表面の任意
部位に任意形状のエッチング部位20b,20cを形成
することが可能となる。In this manner, it is possible to form the etching portions 20b and 20c of an arbitrary shape at arbitrary positions on the surface of the wafer W.
【0035】[0035]
【発明の効果】以上述べたごとく、本発明の塗布式エッ
チング方法及び装置によれば、ワークの面の部分的なエ
ッチングを行なう場合に、エッチング処理の不要部分を
保護するためのワークの面のマスクを形成する必要を無
くして、製造時間の短縮、製造コストの低減及び歩留り
向上を図ることができ、しかも最小限の薬液使用量での
エッチング処理を実現して、薬液を効率的に使用するこ
とができるという大きな効果を奏する。As described above, according to the coating type etching method and apparatus of the present invention, when performing partial etching of the work surface, the work surface for protecting the unnecessary portion of the etching process is protected. Eliminating the necessity of forming a mask can shorten the manufacturing time, reduce the manufacturing cost and improve the yield, and realize the etching process with the minimum amount of the chemical solution, and efficiently use the chemical solution. It has a great effect that it can be done.
【図1】 本発明の塗布式エッチング装置の概略斜視説
明図である。FIG. 1 is a schematic perspective explanatory view of a coating type etching apparatus of the present invention.
【図2】 図1の概略側面説明図である。FIG. 2 is a schematic side view of FIG. 1;
【図3】 円環状のエッチングを施す場合の模式説明図
である。FIG. 3 is a schematic explanatory view in the case of performing annular etching.
【図4】 任意部位に任意形状のエッチングを施す場合
の模式説明図である。FIG. 4 is a schematic explanatory view in a case where an arbitrary portion is etched in an arbitrary shape.
2:回転円盤、4:ウェーハ保持部、10:移動手段、
10x:X軸移動手段、10y:Y軸移動手段、10
z:Z軸移動手段、16:薬液供給手段、14:保持部
材、12:塗布部材、20a,20b,20c:エッチ
ング部位、A:アーム、W:ウェーハ。2: rotating disk, 4: wafer holding unit, 10: moving means,
10x: X-axis moving means, 10y: Y-axis moving means, 10
z: Z-axis moving means, 16: chemical liquid supply means, 14: holding member, 12: coating member, 20a, 20b, 20c: etching portion, A: arm, W: wafer.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) B05D 1/40 B05D 1/40 A 3/00 3/00 D 3/10 3/10 C H01L 21/306 H01L 21/306 J Fターム(参考) 4D075 AC57 AC65 AC84 AC93 BB66X DA08 DB14 DC22 EA06 4F040 AA12 AB20 AC01 BA04 BA07 CA13 CA17 4F042 AA07 BA08 DD11 DF28 4K057 WA20 WB17 WM11 WM20 WN01 5F043 AA01 EE08 EE40 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) B05D 1/40 B05D 1/40 A 3/00 3/00 D 3/10 3/10 C H01L 21/306 H01L 21/306 J F term (reference) 4D075 AC57 AC65 AC84 AC93 BB66X DA08 DB14 DC22 EA06 4F040 AA12 AB20 AC01 BA04 BA07 CA13 CA17 4F042 AA07 BA08 DD11 DF28 4K057 WA20 WB17 WM11 WM20 WN01 5F043 AA01
Claims (10)
に接触せしめた状態で該塗布手段を摺動することによ
り、薬液を該ワークの面に塗布して該ワークの面をエッ
チングすることを特徴とする塗布式エッチング方法。1. A method in which a chemical solution is applied to a surface of a work by sliding the application device in a state in which the application device impregnated with the chemical solution is brought into contact with the surface of the work to etch the surface of the work. Coating type etching method characterized by the above-mentioned.
に接触せしめた状態で該ワークを運動させることによ
り、薬液を該ワークの面に塗布して該ワークの面をエッ
チングすることを特徴とする塗布式エッチング方法。2. The method according to claim 1, wherein the work is moved while the application means impregnated with the chemical is in contact with the surface of the work, whereby the chemical is applied to the surface of the work and the surface of the work is etched. Coating type etching method.
ワークの面を円環状にエッチングすることを特徴とする
請求項2記載の塗布式エッチング方法。3. The coating type etching method according to claim 2, wherein the surface of the work is circularly etched by rotating the work.
材と該塗布部材を保持する保持部材とから構成すること
を特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載の塗布式
エッチング方法。4. The coating etching method according to claim 1, wherein said coating means comprises a coating member impregnated with a chemical and a holding member for holding said coating member. .
該塗布部材に薬液を供給するするようにしたことを特徴
とする請求項4記載の塗布式エッチング方法。5. A chemical liquid supply means is connected to the holding means,
The coating type etching method according to claim 4, wherein a chemical solution is supplied to the coating member.
とする請求項1〜5のいずれか1項記載の塗布式エッチ
ング方法。6. The coating type etching method according to claim 1, wherein the workpiece is a wafer.
設けられたワーク保持部と、該ワーク保持部に保持され
ているワークに薬液を塗布する塗布手段と、該塗布手段
に薬液を供給する薬液供給手段と、該塗布手段を任意位
置に移動せしめるための移動手段とを有することを特徴
とする塗布式エッチング装置。7. A rotating disk, a work holding part provided at the center of the upper surface of the rotating disk, an application means for applying a chemical to the work held by the work holding part, and a chemical liquid applied to the applying means. A coating type etching apparatus comprising: a chemical solution supply unit for supplying; and a moving unit for moving the coating unit to an arbitrary position.
びZ軸方向に移動可能なXYZテーブルであることを特
徴とする請求項7記載の塗布式エッチング装置。8. The coating type etching apparatus according to claim 7, wherein said moving means is an XYZ table movable in an X-axis direction, a Y-axis direction and a Z-axis direction.
材と、該塗布部材を保持する保持部材とから構成される
ことを特徴とする請求項7又は8記載の塗布式エッチン
グ装置。9. The coating type etching apparatus according to claim 7, wherein said coating means comprises a coating member impregnated with a chemical solution, and a holding member for holding said coating member.
徴とする請求項7〜9のいずれか1項記載の塗布式エッ
チング装置。10. The coating type etching apparatus according to claim 7, wherein the workpiece is a wafer.
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