JP2002133653A - Ru target material for magnetic recording medium and magnetic recording medium - Google Patents
Ru target material for magnetic recording medium and magnetic recording mediumInfo
- Publication number
- JP2002133653A JP2002133653A JP2000324559A JP2000324559A JP2002133653A JP 2002133653 A JP2002133653 A JP 2002133653A JP 2000324559 A JP2000324559 A JP 2000324559A JP 2000324559 A JP2000324559 A JP 2000324559A JP 2002133653 A JP2002133653 A JP 2002133653A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target material
- recording medium
- magnetic recording
- crystal grain
- ppm
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Abandoned
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装置
用等の磁気記録媒体の反強磁性カップリング(以後AF
Cとする)層を形成するために用いられる磁気記録媒体
用Ruターゲット材および磁気記録媒体に関するもので
ある。The present invention relates to an antiferromagnetic coupling (hereinafter referred to as AF) of a magnetic recording medium for a magnetic disk drive or the like.
C) The present invention relates to a Ru target material for a magnetic recording medium and a magnetic recording medium used for forming a layer.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、磁気ディスクの小型化・高記録密
度化に伴い、磁気記録媒体の研究・開発が行われ、特に
Co系磁性層や下地層の改良は種々行われてきた。最近
では、第23回日本応用磁気学会学術講演概要集(19
99)p.442に、Co系磁性層間にRu層を入れて
Co系磁性層/Ru層/Co系磁性層と積層することに
より、Co磁性層間のAFCにより、磁性の熱安定性が
優れるといったことが報告されている。2. Description of the Related Art In recent years, with the miniaturization and high recording density of magnetic disks, research and development of magnetic recording media have been carried out, and various improvements have been made especially on Co-based magnetic layers and underlayers. Recently, the 23rd Annual Meeting of the Japan Society of Applied Magnetism (19
99) p. No. 442, it has been reported that, by inserting a Ru layer between Co-based magnetic layers and laminating it with a Co-based magnetic layer / Ru layer / Co-based magnetic layer, AFC between the Co magnetic layers provides excellent thermal stability of magnetism. ing.
【0003】また、上記のようなRu層はRuターゲッ
ト材をスパッタリングなどにより形成することが可能で
ある。Ruターゲット材については半導体用のRuター
ゲット材の製造方法として特開平8−311641号に
開示されるような粉末を仮成形後、EB等で溶解・凝固
する方法や、特開2000−144395号に提案され
るような粉末をホットプレスや熱間静水圧プレス(以後
HIPと称する)で焼結させる方法がある。Further, the Ru layer as described above can be formed by sputtering a Ru target material. As for the Ru target material, as a method of manufacturing a Ru target material for a semiconductor, a method of temporarily forming a powder as disclosed in JP-A-8-311641, followed by melting and solidifying with EB or the like, or a method disclosed in JP-A-2000-144395. There is a method of sintering a powder as proposed by hot pressing or hot isostatic pressing (hereinafter referred to as HIP).
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】本発明者らは、上述の
特開平8−311641号に開示されるような方法にて
ターゲット材を作製したところ、純度を高めることの効
果は大きいが凝固組織を有しているため結晶粒が粗大と
なり、抗折力が著しく低下しスパッタ中に破断しやすい
ことがわかった。また、スパッタ中のパーティクル発生
も多く、さらに、結晶粒径に依存するスパッタの経時変
化が大きかった。このように、粉末を仮成形後、EB等
で溶解・凝固する方法では結晶粒径が大きく、抗折力が
低いため磁気記録媒体用のRuターゲット材の製造方法
としては不適であることがわかった。SUMMARY OF THE INVENTION The present inventors have prepared a target material by the method disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-311641. It was found that the crystal grains became coarse due to the presence of, and the transverse rupture strength was remarkably reduced, so that it was easily broken during sputtering. In addition, a large number of particles were generated during the sputtering, and the time-dependent change of the sputtering depending on the crystal grain size was large. As described above, the method in which the powder is temporarily molded and then melted and solidified by EB or the like is not suitable as a method for manufacturing a Ru target material for a magnetic recording medium because the crystal grain size is large and the transverse rupture strength is low. Was.
【0005】また、本発明者らは、特開2000−14
4395号に開示されるような方法でターゲット材を作
製したところ、粉末焼結法であるため、使用粉末を3N
以上の高純度粉末を用いて焼結したところ、焼結条件が
高温(1300℃以上)・高圧(100MPa以上)と
なるに伴い、結晶粒径の粗大化が起こり、この結晶粒粗
大化によりスパッタ時の異物の発生や経時変化が大きく
なり磁気記録媒体用のRuターゲット材の製造方法とし
ては不適であることがわかった。本発明は、結晶粒径が
微細均一、高密度および高抗折力であり、かつ、磁気記
録媒体のAFC層に適したRuターゲット材を提供する
ことを目的とする。Further, the present inventors have disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-14 / 2000.
When a target material was prepared by the method disclosed in No. 4395, the powder used was 3N because of the powder sintering method.
When sintering is performed using the above high-purity powder, as the sintering conditions become high temperature (1300 ° C. or more) and high pressure (100 MPa or more), the crystal grain size becomes coarse. As a result, the generation of foreign matter and the change with time became large, which proved to be unsuitable as a method for manufacturing a Ru target material for a magnetic recording medium. An object of the present invention is to provide a Ru target material having a fine and uniform crystal grain size, a high density and a high transverse rupture force, and suitable for an AFC layer of a magnetic recording medium.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明者が磁気記録媒体
のAFC層を形成するためのRuターゲット材について
検討を行った結果、平均結晶粒径を制御し微細化するこ
とにより、スパッタ時の異物の発生や経時変化を著しく
低減することが可能となり、さらに高抗折力のターゲッ
ト材が作製可能であることを見出し、本発明に到達し
た。The present inventors have studied the Ru target material for forming the AFC layer of the magnetic recording medium. It has been found that it is possible to significantly reduce the generation of foreign substances and changes over time, and it has been found that a target material having a high bending strength can be produced.
【0007】すなわち、本発明は平均結晶粒径が100
μm以下である磁気記録媒体用Ruターゲット材であ
る。That is, according to the present invention, the average crystal grain size is 100
It is a Ru target material for a magnetic recording medium having a size of μm or less.
【0008】また、本発明のターゲット材は炭素量が5
〜200ppmであることが好ましく、さらに、純度が
3N以上であることが好ましい。そして、相対密度が9
7%以上および抗折力が350MPa以上であることが
好ましいものである。Further, the target material of the present invention has a carbon content of 5%.
It is preferable that the purity is 3 to 200 ppm. And the relative density is 9
Preferably, it is 7% or more and the bending strength is 350 MPa or more.
【0009】さらに、本発明のRuターゲット材を用い
て成膜したRu層を一層以上成膜されている磁気記録媒
体とすることができる。Further, a magnetic recording medium having one or more Ru layers formed using the Ru target material of the present invention can be provided.
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。本発明の最も重要な特徴は、Ruターゲット
材の平均結晶粒径を100μm以下としたことである。Embodiments of the present invention will be described below. The most important feature of the present invention is that the average crystal grain size of the Ru target material is 100 μm or less.
【0011】スパッタリング時のスパッタレートおよび
スパッタ粒子の飛び出し方向は、結晶方位に依存するた
め結晶粒径が大きいと、ターゲット材のスパッタ表面の
凹凸が大きくなり、凹凸が大きくなることにより、スパ
ッタ時の異物の発生原因であるノジュールが出来易い状
態となる。さらに、膜特性の面では結晶粒径に依存する
経時変化が磁気特性へ反映されてしまい磁気特性が不均
一となる。また、結晶粒径が粗大化すると、抗折力が低
下する。これにより、バッキングプレートを用いず、間
接冷却型のターゲット材が主流となっている磁気記録媒
体用ターゲットでは、スパッタ中のターゲット材の破断
が問題となる。The sputter rate during sputtering and the direction in which sputtered particles fly out depend on the crystal orientation. Therefore, if the crystal grain size is large, the irregularities on the sputter surface of the target material become large, and the irregularities become large. Nodules, which are the cause of generation of foreign matter, are likely to be formed. Further, in terms of film characteristics, a temporal change depending on the crystal grain size is reflected on the magnetic characteristics, and the magnetic characteristics become non-uniform. Further, when the crystal grain size becomes coarse, the transverse rupture strength decreases. Accordingly, in a target for a magnetic recording medium in which an indirect cooling type target material is mainly used without using a backing plate, breakage of the target material during sputtering becomes a problem.
【0012】本発明では、これらの現象に対してRuタ
ーゲット材の平均結晶粒径を100μm以下とすること
により、ターゲット材の結晶粒径に依存するスパッタ時
の異物の発生や経時変化を著しく低減し、強度も保持さ
れる。また、ターゲット材中の結晶粒径のバラツキは、
膜特性の安定性の面から少ない方が好ましく、最大結晶
粒径が平均結晶粒径の3倍を越えないことが好適であ
る。In the present invention, the generation of foreign matter and the change with time during sputtering depending on the crystal grain size of the target material are significantly reduced by setting the average crystal grain size of the Ru target material to 100 μm or less against these phenomena. In addition, strength is maintained. Also, the variation of the crystal grain size in the target material is
From the viewpoint of stability of the film characteristics, it is preferable that the number is small, and it is preferable that the maximum crystal grain size does not exceed three times the average crystal grain size.
【0013】また、本発明のRuターゲット材は、炭素
量を5〜200ppmとすることが好ましい。Ruター
ゲット材の純度を高くするのに従って、例えばHIP法
などにより焼結する際に結晶粒の粗大化が進み、上記の
ような問題が発生する。このため、炭素を一定量含有さ
せることにより、粉末を焼結する際の結晶粒成長を抑制
することができる。The Ru target material of the present invention preferably has a carbon content of 5 to 200 ppm. As the purity of the Ru target material is increased, for example, when sintering by the HIP method or the like, the crystal grains become coarser, and the above-described problem occurs. Therefore, by containing a certain amount of carbon, it is possible to suppress the growth of crystal grains when sintering the powder.
【0014】含有させる炭素量の下限を5ppm以上と
したのは、5ppm以下ではターゲット材の結晶粒成長
を抑制する効果がほとんど得られないためである。ま
た、上限を200ppm以下としたのは、炭素が200
ppmを越えて含有するRuターゲット材で成膜したR
u膜のAFC層を用いた磁気記録媒体は熱安定性が著し
く低下するという問題が発生するためである。The lower limit of the amount of carbon to be contained is set to 5 ppm or more because the effect of suppressing the crystal grain growth of the target material is hardly obtained at 5 ppm or less. Further, the upper limit is set to 200 ppm or less because carbon is 200 ppm or less.
R formed by Ru target material containing more than ppm
This is because the magnetic recording medium using the AFC layer of the u film has a problem that the thermal stability is significantly reduced.
【0015】本発明のRuターゲット材は、その純度が
3N以上であることが好ましい。本発明のRuターゲッ
ト材を用いて形成した膜を、磁気記録媒体の例えばAF
C層に用いた場合、純度が低いと磁気特性が低下し、特
に純度が3N未満であると、その特性が著しく低下する
ため、ターゲット材の純度は3N以上であることが好ま
しい。The Ru target material of the present invention preferably has a purity of 3N or more. A film formed by using the Ru target material of the present invention is formed on a magnetic recording medium such as AF
When used for the C layer, if the purity is low, the magnetic properties are degraded. In particular, if the purity is less than 3N, the properties are significantly degraded. Therefore, the purity of the target material is preferably 3N or more.
【0016】また、水素や酸素や窒素といったガス成分
元素は合計で2000ppm以下であることが好まし
く、より好ましくは1000ppm以下、さらに好まし
くは100ppm以下である。また、FeやCoやNi
といった強磁性元素および希土類元素は特に少ない方が
好ましく、Fe、CoおよびNiは合計で200ppm
以下が好ましく、より好ましくは100ppm以下、さ
らに好ましくは10ppm以下である。また、希土類元
素は合計で10ppm以下が好ましく、より好ましくは
5ppm以下、さらに好ましくは1ppm以下である。The total content of gaseous components such as hydrogen, oxygen and nitrogen is preferably 2000 ppm or less, more preferably 1000 ppm or less, and further preferably 100 ppm or less. In addition, Fe, Co, Ni
It is preferable that the ferromagnetic element and the rare earth element are particularly small. Fe, Co and Ni are 200 ppm in total.
The following is preferable, More preferably, it is 100 ppm or less, More preferably, it is 10 ppm or less. Further, the total amount of rare earth elements is preferably 10 ppm or less, more preferably 5 ppm or less, and further preferably 1 ppm or less.
【0017】本発明のRuターゲット材は、相対密度が
97%以上であることが好ましく、より好ましくは相対
密度が99%以上であり、さらに好ましくは相対密度が
100%である。相対密度が97%未満であると、例え
ばターゲット材作製時に行う機械加工時の切削油や洗浄
時の洗浄液がターゲット材中に残存する可能性が著しく
高くなる。これらがスパッタ中に気化し、スパッタ雰囲
気が汚れることにより、磁気特性を著しく低下させるた
め、相対密度は97%以上とした。The Ru target material of the present invention preferably has a relative density of 97% or more, more preferably has a relative density of 99% or more, and still more preferably has a relative density of 100%. When the relative density is less than 97%, for example, there is a great possibility that cutting oil at the time of machining performed at the time of manufacturing the target material and a cleaning liquid at the time of cleaning remain in the target material. Since these are vaporized during sputtering and contaminate the sputtering atmosphere, the magnetic properties are remarkably deteriorated. Therefore, the relative density is set to 97% or more.
【0018】また、本発明のRuターゲット材は、抗折
力が350MPa以上であることが好ましい。現在、磁
気記録媒体をスパッタにより成膜する際には、生産性向
上のためスパッタ電力を増加させる傾向にあり、さら
に、ターゲット材の固定方式も間接冷却のクランプ方式
が主流となっている。このため、ターゲット材の熱応力
が増加する。抗折力が350MPa未満のRuターゲッ
ト材を用いた場合、上記のような現象によりターゲット
材の破断が発生してしまう。このため、本発明では、R
uターゲット材の抗折力を350MPa以上とした。The Ru target material of the present invention preferably has a transverse rupture force of 350 MPa or more. At present, when a magnetic recording medium is formed by sputtering, the sputtering power tends to be increased in order to improve the productivity, and the clamping method of indirect cooling is also predominant in fixing the target material. For this reason, the thermal stress of the target material increases. When a Ru target material having a transverse rupture force of less than 350 MPa is used, breakage of the target material occurs due to the above phenomenon. Therefore, in the present invention, R
The bending strength of the u target material was set to 350 MPa or more.
【0019】本発明の磁気記録媒体用Ruターゲット材
は、例えば、HIPやホットプレスを用いた、粉末焼結
法により作製することが可能である。粉末焼結法によっ
てRuターゲット材を作製するためには、ホットプレス
法では1500℃以上の焼結温度、HIP法においても
1300℃以上の焼結温度が必要となる。このような温
度域において、通常、純度3N以上の純Ruは結晶粒の
粗大化が著しくなり、さらに、圧力分布や温度分布によ
っては局所的に結晶粒の粗大化が発生する。The Ru target material for a magnetic recording medium of the present invention can be manufactured by, for example, a powder sintering method using HIP or hot pressing. In order to manufacture a Ru target material by a powder sintering method, a sintering temperature of 1500 ° C. or more is required in the hot press method, and a sintering temperature of 1300 ° C. or more in the HIP method. In such a temperature range, pure Ru having a purity of 3N or more usually has remarkable coarsening of crystal grains, and further, depending on pressure distribution and temperature distribution, coarsening of crystal grains locally occurs.
【0020】粉末焼結によって作製されたターゲット材
の結晶粒径は、原料粉末および焼結条件に大きく依存す
るが、本発明のように、原料粉末に一定量の炭素を添加
することにより、粉末焼結中の結晶粒成長の抑制がなさ
れる。また、酸素や窒素等は磁気記録媒体の磁気特性を
考慮すると低減させた方が好ましい。ターゲット材作製
に用いる粉末は、化学的に還元して作製されたRu粉末
を樹脂製のポットおよびボールを用いてボールミル粉砕
を行って作製することができる。これにより、Ru粉末
自体の微細化と同時に炭素を添加することが可能とな
る。また、粉砕時間を制御することにより、粉末粒径お
よび炭素量を制御することが可能となる。Although the crystal grain size of the target material produced by powder sintering largely depends on the raw material powder and the sintering conditions, as in the present invention, by adding a certain amount of carbon to the raw material powder, Grain growth during sintering is suppressed. Further, it is preferable to reduce oxygen, nitrogen and the like in consideration of the magnetic characteristics of the magnetic recording medium. The powder used for producing the target material can be produced by subjecting Ru powder produced by chemically reducing to a ball mill using a resin pot and balls. This makes it possible to add carbon simultaneously with miniaturization of the Ru powder itself. Further, by controlling the pulverization time, it becomes possible to control the powder particle size and the carbon content.
【0021】[0021]
【実施例】表1に示す不純物および粒径の原料Ru粉末
を、樹脂製ボールミルを用いAr雰囲気において1時
間、10時間および20時間の各時間粉砕を行いRu粉
末を作製した。作製したRu粉末の化学分析による不純
物および粒径を表1に示す。表1に示す粉末を表2に示
す条件で焼結を行いターゲット材を作製した。作製した
ターゲット材の平均結晶粒径、密度、抗折力を表3に示
す。ただし、平均結晶粒径は切断法、密度はアルキメデ
ス法により、抗折力は三点曲げ試験によりそれぞれ測定
した。EXAMPLE Ru powder having the impurities and particle diameters shown in Table 1 was pulverized for 1 hour, 10 hours and 20 hours in an Ar atmosphere using a resin ball mill to produce Ru powder. Table 1 shows impurities and particle diameters of the produced Ru powder by chemical analysis. The powder shown in Table 1 was sintered under the conditions shown in Table 2 to produce a target material. Table 3 shows the average crystal grain size, density, and transverse rupture strength of the produced target material. However, the average crystal grain size was measured by a cutting method, the density was measured by an Archimedes method, and the transverse rupture strength was measured by a three-point bending test.
【0022】表3より、C添加および粒度調整を行った
粉末を用いて焼結したRuターゲット材は、平均粒径を
100μm以下と制御可能であることがわかる。また、
ターゲット材のガス成分および不純物量は、ガス成分元
素は合計で2000ppm以下、FeやCoやNiとい
った強磁性元素は合計で200ppm以下であることを
確認した。ターゲット材の分析値の一例として表4に試
料1のGD−MS分析による分析結果を示す。From Table 3, it can be seen that the average particle diameter of the Ru target material sintered using the powder to which C is added and the particle diameter is adjusted can be controlled to 100 μm or less. Also,
It was confirmed that the gas component and the impurity amount of the target material were 2000 ppm or less in total for the gas component elements and 200 ppm or less for the ferromagnetic elements such as Fe, Co, and Ni. Table 4 shows the results of the GD-MS analysis of Sample 1 as an example of the analysis values of the target material.
【0023】[0023]
【表1】 [Table 1]
【0024】[0024]
【表2】 [Table 2]
【0025】[0025]
【表3】 [Table 3]
【0026】[0026]
【表4】 [Table 4]
【0027】NiPメッキを施したAl基板を用い、基
板上に、基板温度150℃、Ar圧0.66Pa、DC
電力500Wの条件でCr下地層、Co−20Cr−1
0Pt−5B(at%)磁性層、RuAFC層、Co−
20Cr−10Pt−5B(at%)磁性層の順に成膜
を行った。Ru層成膜の際には、表3に示すRuターゲ
ット材を用いて行った。Using an Al substrate plated with NiP, a substrate temperature of 150 ° C., an Ar pressure of 0.66 Pa, a DC
Cr underlayer, Co-20Cr-1 under the condition of power 500W
0Pt-5B (at%) magnetic layer, RuAFC layer, Co-
Film formation was performed in the order of the 20Cr-10Pt-5B (at%) magnetic layer. The Ru layer was formed using a Ru target material shown in Table 3.
【0028】作製した成膜基板をVSM(振動試料型磁
力計)で測定した保磁力Hcの計測結果を表5に示す。
表4は、試料1のRuターゲット材を用いた際の保磁力
を100とした相対値で表した。また、表3に示すRu
ターゲット材を用いて成膜した際におけるパーティクル
発生比率を測定した結果を表5に併せて示す。ただし、
パーティクル発生比率は試料1のRuターゲットのパー
ティクル数を100とした時の値である。Table 5 shows the measurement results of the coercive force Hc of the formed film-forming substrate measured by a VSM (vibrating sample magnetometer).
Table 4 shows the relative values when the coercive force when the Ru target material of Sample 1 is used is set to 100. In addition, Ru shown in Table 3
Table 5 also shows the measurement results of the particle generation ratio when the film was formed using the target material. However,
The particle generation ratio is a value when the number of particles of the Ru target of Sample 1 is 100.
【0029】表5より、C量が200ppmまでは、磁
気特性に大きな影響を及ぼしていないことがわかり、ま
た、ターゲット材の平均結晶粒径が100μmを越える
とパーティクル発生に影響を及ぼしていることがわか
る。From Table 5, it can be seen that the magnetic properties are not significantly affected up to a C content of 200 ppm, and that the average crystal grain size of the target material exceeding 100 μm affects the generation of particles. I understand.
【0030】[0030]
【表5】 [Table 5]
【0031】[0031]
【発明の効果】本発明により、スパッタリング中の異物
および経時変化を低減した磁気記録媒体用Ruターゲッ
ト材を提供でき、磁気記録媒体を製造する上で極めて有
効な技術となる。According to the present invention, it is possible to provide a Ru target material for a magnetic recording medium with reduced foreign matter and aging during sputtering, and this is an extremely effective technique for manufacturing a magnetic recording medium.
フロントページの続き (72)発明者 谷口 繁 島根県安来市安来町2107番地2 日立金属 株式会社安来工場内 (72)発明者 上野 英 島根県安来市安来町2107番地2 日立金属 株式会社安来工場内 Fターム(参考) 4K029 BA02 BC00 BD11 DC03 DC09 5D006 BB01 EA03 5D112 AA05 BB01 FA04 FB02 Continued on the front page (72) Inventor Shigeru Taniguchi 2107-2 Yasugi-cho, Yasugi City, Shimane Prefecture Inside Hitachi Metals Yasugi Plant (72) Inventor Ei Eno 2107-2 Yasugi-cho Yasugi City, Shimane Prefecture Hitachi Metals Yasugi Plant F term (reference) 4K029 BA02 BC00 BD11 DC03 DC09 5D006 BB01 EA03 5D112 AA05 BB01 FA04 FB02
Claims (6)
とを特徴とする磁気記録媒体用Ruターゲット材。1. A Ru target material for a magnetic recording medium having an average crystal grain size of 100 μm or less.
特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体用Ruターゲ
ット材。2. The Ru target material for a magnetic recording medium according to claim 1, wherein the carbon content is 5 to 200 ppm.
請求項1または2に記載の磁気記録媒体用Ruターゲッ
ト材。3. The Ru target material for a magnetic recording medium according to claim 1, wherein the purity is 3 N or more.
とする請求項1ないし3のいずれかに記載の磁気記録媒
体用Ruターゲット材。4. The Ru target material for a magnetic recording medium according to claim 1, wherein the relative density is 97% or more.
上であることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか
に記載の磁気記録媒体用Ruターゲット材。5. The Ru target material for a magnetic recording medium according to claim 1, wherein the bending strength of the target material is 350 MPa or more.
ーゲット材を用いて成膜したRu膜が1層以上成膜され
ていることを特徴とする磁気記録媒体。6. A magnetic recording medium comprising at least one Ru film formed using the target material according to claim 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000324559A JP2002133653A (en) | 2000-10-24 | 2000-10-24 | Ru target material for magnetic recording medium and magnetic recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000324559A JP2002133653A (en) | 2000-10-24 | 2000-10-24 | Ru target material for magnetic recording medium and magnetic recording medium |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002133653A true JP2002133653A (en) | 2002-05-10 |
Family
ID=18802070
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000324559A Abandoned JP2002133653A (en) | 2000-10-24 | 2000-10-24 | Ru target material for magnetic recording medium and magnetic recording medium |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002133653A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005336583A (en) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Hitachi Metals Ltd | SINTERED Ru TARGET MATERIAL |
WO2007043215A1 (en) * | 2005-10-14 | 2007-04-19 | Nippon Mining & Metals Co., Ltd. | HIGH-PURITY Ru ALLOY TARGET, PROCESS FOR PRODUCING THE SAME AND SPUTTERED FILM |
WO2014021139A1 (en) * | 2012-07-30 | 2014-02-06 | Jx日鉱日石金属株式会社 | Ruthenium sputtering target and ruthenium alloy sputtering target |
-
2000
- 2000-10-24 JP JP2000324559A patent/JP2002133653A/en not_active Abandoned
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005336583A (en) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Hitachi Metals Ltd | SINTERED Ru TARGET MATERIAL |
WO2007043215A1 (en) * | 2005-10-14 | 2007-04-19 | Nippon Mining & Metals Co., Ltd. | HIGH-PURITY Ru ALLOY TARGET, PROCESS FOR PRODUCING THE SAME AND SPUTTERED FILM |
JP4800317B2 (en) * | 2005-10-14 | 2011-10-26 | Jx日鉱日石金属株式会社 | High purity Ru alloy target, method for producing the same, and sputtered film |
WO2014021139A1 (en) * | 2012-07-30 | 2014-02-06 | Jx日鉱日石金属株式会社 | Ruthenium sputtering target and ruthenium alloy sputtering target |
KR20140128356A (en) | 2012-07-30 | 2014-11-05 | 제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤 | Ruthenium sputtering target and ruthenium alloy sputtering target |
JP5706035B2 (en) * | 2012-07-30 | 2015-04-22 | Jx日鉱日石金属株式会社 | Ruthenium sputtering target and ruthenium alloy sputtering target |
US20150129422A1 (en) * | 2012-07-30 | 2015-05-14 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Ruthenium Sputtering Target and Ruthenium Alloy Sputtering Target |
KR101638270B1 (en) * | 2012-07-30 | 2016-07-08 | 제이엑스금속주식회사 | Ruthenium sputtering target and ruthenium alloy sputtering target |
US10319571B2 (en) | 2012-07-30 | 2019-06-11 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Ruthenium sputtering target and ruthenium alloy sputtering target |
US10943773B2 (en) | 2012-07-30 | 2021-03-09 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Ruthenium sputtering target and ruthenium alloy sputtering target |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6406600B1 (en) | CoPt-base sputtering target, method of making same, magnetic recording film and Co-Pt-base magnetic recording medium | |
US20080083616A1 (en) | Co-Fe-Zr BASED ALLOY SPUTTERING TARGET MATERIAL AND PROCESS FOR PRODUCTION THEREOF | |
US6159625A (en) | Target of intermetallic compound with B2-ordered lattice structure, production method thereof and magnetic recording medium having B2-structured underlayer | |
US10325762B2 (en) | Sputtering target for forming magnetic recording film and process for producing same | |
US7494617B2 (en) | Enhanced formulation of cobalt alloy matrix compositions | |
US9605339B2 (en) | Sputtering target for magnetic recording film and process for production thereof | |
US20130306471A1 (en) | Sputtering target for forming magnetic recording medium film and method for producing same | |
JP4016399B2 (en) | Method for producing Fe-Co-B alloy target material | |
JP5705993B2 (en) | Fe-Pt-Ag-C based sputtering target in which C particles are dispersed and method for producing the same | |
TW201313934A (en) | Fe-Pt-C sputtering target | |
JP2006265653A (en) | Fe-Co-BASED ALLOY TARGET MATERIAL AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME | |
JP3973857B2 (en) | Manufacturing method of manganese alloy sputtering target | |
EP1783748A1 (en) | Deposition of enhanced seed layer using tantalum alloy based sputter target | |
US8158276B2 (en) | FePtP-alloy magnetic thin film | |
JPH02229406A (en) | Soft magnetic alloy film | |
JP2008115461A (en) | Co-Fe-Zr-BASED ALLOY SPUTTERING TARGET MATERIAL AND PROCESS FOR PRODUCTION THEREOF | |
JP2023144067A (en) | Sputtering target, granular film, and vertical magnetic recording medium | |
JP2008260970A (en) | SINTERED SPUTTERING-TARGET MATERIAL OF Co-Zr-BASED ALLOY AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR | |
US5069983A (en) | Magnetic recording member | |
JP2007310986A (en) | Perpendicular magnetic recording medium and manufacturing method | |
JP2002133653A (en) | Ru target material for magnetic recording medium and magnetic recording medium | |
JP3076141B2 (en) | Magnetic thin film target material and method of manufacturing the same, Fe-MC soft magnetic film and method of manufacturing the same, and magnetic head and magnetic recording / reproducing apparatus using the same | |
JP2009203537A (en) | Co-Fe-BASED ALLOY SPUTTERING TARGET MATERIAL, AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME | |
US20080166255A1 (en) | High density, low oxygen re and re-based consolidated powder materials for use as deposition sources & methods of making same | |
JP3997527B2 (en) | Method for producing Ru-Al intermetallic compound target, Ru-Al intermetallic compound target, and magnetic recording medium |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20050201 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050204 |
|
A762 | Written abandonment of application |
Effective date: 20050404 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762 |