JP2002105428A - Adhesive film for die bond and semiconductor device using the same - Google Patents

Adhesive film for die bond and semiconductor device using the same

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JP2002105428A
JP2002105428A JP2000299276A JP2000299276A JP2002105428A JP 2002105428 A JP2002105428 A JP 2002105428A JP 2000299276 A JP2000299276 A JP 2000299276A JP 2000299276 A JP2000299276 A JP 2000299276A JP 2002105428 A JP2002105428 A JP 2002105428A
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adhesive film
integer
film
adhesive
polycarbodiimide
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JP2000299276A
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Japanese (ja)
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Sadahito Misumi
貞仁 三隅
Yuji Hotta
祐治 堀田
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Nitto Denko Corp
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Nitto Denko Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an adhesive film for die bond which can form readily a uniform adhesive layer on an electrode member, fix at a low temperature such as an ordinary temperature and maintain easily quality. SOLUTION: An adhesive film for a die bond comprises a polycarbodiimide copolymer represented by the following formula (wherein k is an integer of 0 to 30; m is an integer of 2 to 100; n is an integer of 0 to 30; R1 is a 2-10C alkylene group; R2 is an aromatic diisocyanate residue; and R3 is an aromatic monoisocyanate residue).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の背景】本発明は半導体チップと電極部材との固
着材料である、ダイボンド用接着フィルムに関する。ま
た、本発明はこのフィルムを用いた半導体装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to an adhesive film for die bonding, which is a material for fixing a semiconductor chip and an electrode member. The present invention also relates to a semiconductor device using the film.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体装置の製造過程においてリ
−ドフレ−ムや電極部材への半導体チップの固着には、
銀ペ−ストが用いられている。かかる固着処理は、リ−
ドフレ−ムのダイパッド等の上にペ−ストを塗工し、こ
れに半導体チップを搭載してペ−スト層を硬化させて行
う。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a process of manufacturing a semiconductor device, a semiconductor chip is fixed to a lead frame or an electrode member by a conventional method.
Silver paste is used. Such a fixing process is performed by
A paste is applied on a die frame die pad or the like, a semiconductor chip is mounted on the paste, and the paste layer is cured.

【0003】しかしながら、ペ−ストの粘度挙動や劣化
等により塗工量や塗工形状等に大きなバラツキを生じる
結果、形成されるペ−スト厚が不均一で半導体チップの
固着強度に信頼性が乏しい。すなわち、ペ−ストの塗工
量が不足して半導体チップと電極部材との間の固着強度
が低いと、後続のワイヤ−ボンディング工程で半導体チ
ップが剥離する。一方、ペ−ストの塗工量が多すぎると
半導体チップの上までペ−ストが流延して特性不良を生
じ、歩留まりや信頼性が低下する。このような固着処理
における問題は、半導体チップの大型化に伴って特に顕
著なものとなっている。そのため、ペ−スト塗工量の制
御を頻繁に行う必要があり、しばしば作業性や生産性に
支障をきたす。
[0003] However, as a result of large variations in the coating amount and the coating shape due to the viscosity behavior and deterioration of the paste, the formed paste thickness is not uniform and the bonding strength of the semiconductor chip is unreliable. poor. That is, if the amount of paste applied is insufficient and the bonding strength between the semiconductor chip and the electrode member is low, the semiconductor chip peels in the subsequent wire bonding step. On the other hand, if the coating amount of the paste is too large, the paste is cast over the semiconductor chip, causing poor characteristics, and the yield and reliability are reduced. Such a problem in the fixing process has become particularly remarkable as the size of the semiconductor chip increases. Therefore, it is necessary to frequently control the amount of paste applied, which often impairs workability and productivity.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、半導
体チップと電極部材との固着にあたり、塗工量のバラツ
キがなく安定した固着強度を与えると共に、塗工時の作
業性、生産性に優れたダイボンド用接着フィルムを提供
することにある。本発明者らは、かかる課題について種
々検討を重ねた結果、特定のポリカルボジイミドフィル
ムを用いることにより、前記の課題が解消し得るとの知
見を得て本発明を完成した。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a semiconductor chip and an electrode member with a stable bonding strength with no variation in the coating amount and a workability and productivity during coating. An object of the present invention is to provide an excellent adhesive film for die bonding. The present inventors have conducted various studies on such problems, and as a result, obtained the knowledge that the above problems can be solved by using a specific polycarbodiimide film, and completed the present invention.

【0005】本発明のダイボンド用接着フィルムを用い
ると、電極部材上に厚さ等が均一な優れた接着剤層を形
成することができ、前記問題点を解消することができ
る。また、低温で半導体チップの固着処理ができ、後続
のワイヤ−ボンディング接続や樹脂モ−ルド封止等の処
理に耐え得る。
When the adhesive film for die bonding of the present invention is used, an excellent adhesive layer having a uniform thickness and the like can be formed on an electrode member, and the above problem can be solved. Further, the semiconductor chip can be fixed at a low temperature and can withstand subsequent processing such as wire bonding connection and resin mold sealing.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、下式:According to the present invention, there is provided the following formula:

【0007】[0007]

【化2】 (式中、kは0〜30の整数、mは2〜100の整数、
nは0〜30の整数、R は2〜10の炭素数アルキレ
ン基、Rは芳香族ジイソシアネ−ト残基、Rは芳香
族モノイソシアネ−ト残基を意味する。)で表されるポ
リカルボジイミド共重合体からなるダイボンド用接着フ
ィルム。を提供するものである。
Embedded image(Where k is an integer of 0 to 30, m is an integer of 2 to 100,
n is an integer of 0 to 30, R 1Is alkylene having 2 to 10 carbon atoms
Group, R2Is an aromatic diisocyanate residue, R3Is aromatic
A group monoisocyanate residue is meant. )
Adhesive die for die bonding consisting of recarbodiimide copolymer
Film. Is provided.

【0008】[0008]

【発明の詳細な開示】つぎに本発明のダイボンド用接着
フィルムに用いられるポリカルボジイミド共重合体及び
その製造法について説明する。前記式(I)のポリカルボ
ジイミドを製造するには、下式(II):
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Next, the polycarbodiimide copolymer used in the adhesive film for die bonding of the present invention and a method for producing the same will be described. To prepare the polycarbodiimide of the formula (I), the following formula (II):

【0009】[0009]

【化3】 (式中、mは2〜100の整数、Rは炭素数2〜10
のアルキレン基を意味する。)で表されるポリカ−ボネ
−トジオ−ルを、芳香族ジイソシアネ−トと反応させて
ポリウレタンを得る。ついで、カルボジイミド化触媒の
存在下、末端のイソシアネ−ト基と芳香族ジイソシアネ
−トとによりカルボジイミド化を行い、芳香族モノイソ
シアネ−トにより末端封鎖してポリカルボジイミド共重
合体を得るのが好ましい。
Embedded image (In the formula, m is an integer of 2 to 100, and R 1 has 2 to 10 carbon atoms.
Means an alkylene group. ) Is reacted with an aromatic diisocyanate to obtain a polyurethane. Then, in the presence of a carbodiimidization catalyst, it is preferable to carry out carbodiimidation with a terminal isocyanate group and an aromatic diisocyanate, and to block the end with an aromatic monoisocyanate to obtain a polycarbodiimide copolymer.

【0010】すなわち、式(II)のポリカ−ボネ−トジオ
−ル1モルに対して2倍モル以上、好ましくは4〜80
倍モル、より好ましくは5〜50倍モルの芳香族ジイソ
シアネ−トを用い、溶媒の存在下、通常0〜120℃、
好ましくは20〜100℃にて1分〜5時間程度反応す
る。系中に水酸基が殆ど存在しなくなった点を両末端N
CO含有ポリウレタン生成反応の終点とする。
That is, 2 moles or more, preferably 4 to 80 moles per mole of the polycarbonate of the formula (II).
Times, more preferably 5 to 50 times by mole of aromatic diisocyanate, usually in the presence of a solvent, usually at 0 to 120 ° C,
The reaction is preferably performed at 20 to 100 ° C. for about 1 minute to 5 hours. The point that almost no hydroxyl group was present in the system
This is the end point of the reaction for producing the CO-containing polyurethane.

【0011】ついで、カルボジイミド化触媒の存在下、
このポリウレタンと系中に過剰に存在する芳香族ジイソ
シアネ−トとを通常40〜150℃、好ましくは50〜
140℃にて反応し、前記式(I)の共重合体を得る。
Then, in the presence of a carbodiimidation catalyst,
The polyurethane and the aromatic diisocyanate present in the system in excess are usually at 40 to 150 ° C, preferably at 50 to 150 ° C.
The reaction is carried out at 140 ° C. to obtain the copolymer of the formula (I).

【0012】ここで、必要な芳香族ジイソシアネ−ト
は、前記ポリカ−ボネ−ト1モルに対して2倍モル以上
であり、この反応段階で追加してもよく、反応初期より
存在するものであってもよい。また、芳香族モノイソシ
アネ−トによる末端封鎖は、カルボジイミド化の初期、
中期、末期又は全般にわたり芳香族モノイソシアネ−ト
を加えて行うのが好ましい。
Here, the required aromatic diisocyanate is at least twice the mole of 1 mole of the above-mentioned polycarbonate, and may be added at this reaction stage. There may be. In addition, terminal blocking by aromatic monoisocyanate is carried out at the beginning of carbodiimidation,
It is preferred to add aromatic monoisocyanate during the middle stage, end stage or overall.

【0013】反応の終点は、IR測定によるカルボジイ
ミド基由来の吸収(2140cm )の観測およびイソ
シアネ−ト基由来の吸収(2280cm−1)の消失によ
り確認することができる。
[0013] The end point of the reaction, the absorption derived from the carbodiimide group by IR measurement can be confirmed by the disappearance of absorption attributable to preparative groups (2280cm -1) - (2140cm - 1) observation and isocyanate.

【0014】(ポリカ−ボネ−トジオ−ル)式(II)におい
て、Rは炭素数2〜10のアルキレン基であり、たと
えば、エチレン、テトラメチレン、ヘキサメチレン、オ
クタメチレン基などが挙げられる。また、mは2〜10
0の整数であり、好ましくは5〜80である。
(Polycarbonatediol) In the formula (II), R 1 is an alkylene group having 2 to 10 carbon atoms, and examples thereof include ethylene, tetramethylene, hexamethylene, and octamethylene. Also, m is 2 to 10
It is an integer of 0, preferably 5 to 80.

【0015】ポリカ−ボネ−トジオ−ルは、カ−ボネ−
ト基を含むポリカ−ボネ−トジオ−ルであればよく、具
体的にはポリエチレンカ−ボネ−トジオ−ル、ポリテト
ラメチレンカ−ボネ−トジオ−ル、ポリヘキサメチレン
カ−ボネ−トジオ−ル、ポリオクタメチレンカ−ボネ−
トジオ−ル、ポリドデカメチレンカ−ボネ−トジオ−ル
などが挙げられ、特にポリヘキサメチレンカ−ボネ−ト
ジオ−ルが好ましい。なお、これらのポリカ−ボネ−ト
ジオ−ルは単独で用いてもよく、2種以上を混合して使
用してもよい。
Polycarbonate todiol is carbonate
Polycarbonate diols containing a thiol group may be used. Specific examples include polyethylene carbonate diols, polytetramethylene carbonate diols, and polyhexamethylene carbonate diols. , Polyoctamethylene carbonate
Toditol, polydodecamethylene carbonate and the like can be mentioned, and polyhexamethylene carbonate todiol is particularly preferred. These polycarbonate diols may be used alone or in combination of two or more.

【0016】(芳香族ジイソシアネ−ト)式(II)中でR
は芳香族ジイソシアネ−ト残基であり、Rとしては、
たとえば、トリレンジイソシアネ−ト残基、ジフェニル
メタンジイソシアネ−ト残基などが挙げられる。また、
kは0〜30の整数であり、好ましくは2〜20であ
る。また、nは0〜30の整数であり、好ましくは2〜
20である。
(Aromatic diisocyanate) In the formula (II), R 2
Is an aromatic diisocyanate residue, and R 2 is
For example, tolylene diisocyanate residue, diphenylmethane diisocyanate residue and the like can be mentioned. Also,
k is an integer of 0 to 30, and preferably 2 to 20. N is an integer of 0 to 30, preferably 2 to 30.
20.

【0017】したがって、芳香族ジイソシアネ−トは、
具体的には、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネ
−ト、2,6−トリレンジイソシアネ−ト、2,4−トリ
レンジイソシアネ−ト、1−メトキシフェニル−2,4
−ジイソシアネ−ト、3,3’−ジメトキシ−4,4’−
ジフェニルメタンジイソシアネ−ト、4,4’−ジフェ
ニルエ−テルジイソシアネ−ト、3,3’−ジメチル−
4,4’−ジフェニルエ−テルジイソシアネ−ト、2,2
−ビス[4−(4−イソシアネ−トフェノキシ)フェニル]
ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス[4−(4−イソ
シアネ−トフェノキシ)フェニル]プロパンなどが挙げら
れ、特にトリレンジイソシアネ−トが好適に使用でき
る。なお、これらのジイソシアネ−トは単独で用いても
2種以上を混合して使用してもよい。
Therefore, the aromatic diisocyanate is
Specifically, 4,4'-diphenylmethane diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, 2,4-tolylene diisocyanate, 1-methoxyphenyl-2,4
-Diisocyanate, 3,3'-dimethoxy-4,4'-
Diphenylmethane diisocyanate, 4,4'-diphenyl ether diisocyanate, 3,3'-dimethyl-
4,4'-diphenyl ether diisocyanate, 2,2
-Bis [4- (4-isocyanate-tophenoxy) phenyl]
Hexafluoropropane, 2,2-bis [4- (4-isocyanate-tophenoxy) phenyl] propane and the like can be mentioned, and tolylene diisocyanate can be particularly preferably used. These diisocyanates may be used alone or in combination of two or more.

【0018】(芳香族モノイソシアネ−ト)また、重合反
応の末期、中期、初期のいずれか、もしくは全般にわた
り、その分子内にR基を有する芳香族モノイソシアネ
−トを加えて末端封鎖処理をするのが好ましい。このよ
うな末端封鎖処理に用いられる芳香族モノイソシアネ−
トとしては、具体的には、フェニルイソシアネ−ト、p
−ニトロフェニルイソシアネ−ト、p−及びm−トリル
イソシアネ−ト、p−ホルミルフェニルイソシアネ−
ト、p−イソプロピルフェニルイソシアネ−トなどを用
いることができる。特にp−イソプロピルフェニルイソ
シアネ−トが好適に用いられる。このようにして末端封
鎖したポリカルボジイミド共重合体溶液は、溶液の保存
安定性に優れている。
(Aromatic Monoisocyanate) Also, during any one of the last, middle and early stages of the polymerization reaction, or the whole, an aromatic monoisocyanate having an R 3 group in the molecule is added to perform a terminal blocking treatment. Is preferred. Aromatic monoisocyanate used for such terminal blocking treatment
Specifically, phenyl isocyanate, p
-Nitrophenyl isocyanate, p- and m-tolyl isocyanate, p-formylphenyl isocyanate
And p-isopropylphenyl isocyanate. Particularly, p-isopropylphenyl isocyanate is preferably used. The polycarbodiimide copolymer solution whose terminal is blocked in this way has excellent storage stability of the solution.

【0019】(反応)重合の温度は40〜150℃が好ま
しく、50〜140℃がより好ましい。反応温度が40
℃より低いと反応時間が長くなりすぎ実用的でない。ま
た150℃を越える反応温度は溶媒の選択が困難であ
る。
(Reaction) The polymerization temperature is preferably from 40 to 150 ° C, more preferably from 50 to 140 ° C. Reaction temperature 40
If the temperature is lower than ℃, the reaction time becomes too long and is not practical. If the reaction temperature exceeds 150 ° C., it is difficult to select a solvent.

【0020】反応溶液中のジイソシアネ−トモノマ−濃
度は5〜80重量%(以下、単に%という)である。濃度
が5%より低いとカルボジイミド化反応が進行しない場
合がある。また80%を越えると反応の制御が困難にな
る可能性がある。
The concentration of diisocyanate monomer in the reaction solution is 5 to 80% by weight (hereinafter simply referred to as%). If the concentration is lower than 5%, the carbodiimidization reaction may not proceed. If it exceeds 80%, the control of the reaction may be difficult.

【0021】ポリカルボジイミドの製造に用いられる溶
媒、及びポリカルボジイミド溶液に用いられる有機溶媒
は、従来公知のものであってよい。具体的にはテトラク
ロロエチレン、1,2−ジクロロエタン、クロロホルム
などのハロゲン化炭化水素;アセトン、メチルエチルケ
トン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノンなど
のケトン系溶媒;テトラヒドロフラン、ジオキサンなど
の環状エ一テル系溶媒;トルエン、キシレンなどの芳香
族炭化水素系溶媒が挙げられる。これら溶媒は単独で用
いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。
The solvent used for producing the polycarbodiimide and the organic solvent used for the polycarbodiimide solution may be those conventionally known. Specifically, halogenated hydrocarbons such as tetrachloroethylene, 1,2-dichloroethane and chloroform; ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone and cyclohexanone; cyclic ether solvents such as tetrahydrofuran and dioxane; toluene, xylene And other aromatic hydrocarbon solvents. These solvents may be used alone or as a mixture of two or more.

【0022】また、カルボジイミド化に用いる触媒とし
ては、公知のリン系触媒がいずれも好適に用いられ、例
えば1−フェニル−2−ホスホレン−1−オキシド、3
−メチル−2−ホスホレン−1−オキシド、1−エチル
−2−ホスホレン−1−オキシド、3−メチル−1−フ
ェニル−2−ホスホレン−1−オキシド、あるいはこれ
らの3−ホスホレン異性体などのホスホレンオキシドが
挙げられる。
As the catalyst used for the carbodiimidization, any of the known phosphorus catalysts is suitably used. For example, 1-phenyl-2-phospholene-1-oxide, 3
-Methyl-2-phospholene-1-oxide, 1-ethyl-2-phospholene-1-oxide, 3-methyl-1-phenyl-2-phospholene-1-oxide, or phosphodies such as 3-phospholene isomers thereof And lenoxide.

【0023】共重合反応の終了後にメタノ−ル、エタノ
−ル、イソプロピルアルコ−ル、ヘキサンなどの貧溶媒
に反応液を投入し、ポリカルボジイミド共重合体を沈澱
として析出させ、未反応のモノマ−や触媒を取り除いて
もよい。
After the completion of the copolymerization reaction, the reaction solution is poured into a poor solvent such as methanol, ethanol, isopropyl alcohol or hexane to precipitate a polycarbodiimide copolymer as a precipitate. Or the catalyst may be removed.

【0024】ポリカルボジイミドの溶液を調製するに
は、沈澱として析出したポリマ−を所定の操作により洗
浄、乾燥を行い、再度有機溶媒に溶解する。このような
操作を行うことにより、ポリカルボジイミド共重合体の
溶液安定性を向上させることができる。
In order to prepare a polycarbodiimide solution, a polymer precipitated as a precipitate is washed and dried by a predetermined operation, and is dissolved again in an organic solvent. By performing such an operation, the solution stability of the polycarbodiimide copolymer can be improved.

【0025】また、ポリマ−溶液中に含まれる副生成物
は適当な吸着剤などに吸着させ、精製してもよい。吸着
剤としては例えばアルミナゲル、シリカゲル、活性炭、
ゼオライト、活性酸化マグネシウム、活性ボ−キサイ
ト、フラ−スア−ス、活性白土、分子ふるいカ−ボンな
どを単独もしくは併用して用いることができる。
Further, by-products contained in the polymer solution may be purified by adsorbing them on a suitable adsorbent or the like. As an adsorbent, for example, alumina gel, silica gel, activated carbon,
Zeolites, activated magnesium oxide, activated bauxite, flourace, activated clay, molecular sieve carbon and the like can be used alone or in combination.

【0026】本発明のポリカルボジイミド共重合体の平
均重合度は2〜160、好ましくは9〜120である。
ポリカルボジイミド共重合体の重合度がこれより高い
と、常温での放置においても数分から数時間で容易にゲ
ル化するため、実用上好ましくない。また、重合度が前
記の範囲より小さいと、皮膜の信頼性に欠けるので好ま
しくない。
The average degree of polymerization of the polycarbodiimide copolymer of the present invention is from 2 to 160, preferably from 9 to 120.
If the degree of polymerization of the polycarbodiimide copolymer is higher than this, gelation easily occurs within several minutes to several hours even at room temperature, which is not practically preferable. On the other hand, if the degree of polymerization is smaller than the above range, the reliability of the film is poor, which is not preferable.

【0027】(接着フィルムの製造)本発明のダイボンド
用接着フィルムを製造するには、ポリカルボジイミド共
重合体ワニスを公知の方法(キャスティング、スピンコ
−ティング、ロ−ルコ−ティングなど)を用い、適当な
厚さに製膜する。製膜された膜は、通常、溶媒の除去に
必要な温度で乾燥する。すなわち、硬化反応をあまり進
行させずに乾燥させるよう、塗工温度は例えば20〜3
50℃、好ましくは50〜250℃、最も好ましくは7
0〜200℃である。乾燥温度が20℃より低いと、フ
ィルム中に溶剤が残存し、フィルムの信頼性が乏しくな
り好ましくない。また乾燥温度が350℃より高いと、
フィルムの熱硬化が進みやすい。
(Production of Adhesive Film) In order to produce the adhesive film for die bonding of the present invention, a polycarbodiimide copolymer varnish is prepared by a known method (casting, spin coating, roll coating, etc.). The film is formed to an appropriate thickness. The formed film is usually dried at a temperature required for removing the solvent. That is, the coating temperature is, for example, 20 to 3 so that the curing reaction is dried without progressing much.
50 ° C., preferably 50-250 ° C., most preferably 7
0-200 ° C. If the drying temperature is lower than 20 ° C., the solvent remains in the film, and the reliability of the film becomes poor, which is not preferable. When the drying temperature is higher than 350 ° C.,
Thermal curing of the film is easy to proceed.

【0028】本発明の接着フィルムの製造にあたって
は、その加工性、耐熱性を損なわない範囲で微細な無機
充填剤を配合してよい。また表面平滑性を出すための平
滑剤、レベリング剤、脱泡剤などの各種添加剤を必要に
応じて添加してもよい。これらの配合量は、共重合体1
00重量部に対して、0.1〜100重量部、好ましく
は0.2〜50重量部である。
In producing the adhesive film of the present invention, a fine inorganic filler may be blended as long as the processability and heat resistance are not impaired. Various additives such as a smoothing agent, a leveling agent, and a defoaming agent for improving surface smoothness may be added as necessary. These blending amounts are based on the copolymer 1
The amount is 0.1 to 100 parts by weight, preferably 0.2 to 50 parts by weight based on 00 parts by weight.

【0029】本発明の接着フィルムの厚さは、ー般には
1〜200μmである。またシートの形状や大きさはリ
ードフレームや半導体チップなど、被着体に応じて適宜
に変更してよい。
The thickness of the adhesive film of the present invention is generally from 1 to 200 μm. Further, the shape and size of the sheet may be appropriately changed according to the adherend such as a lead frame or a semiconductor chip.

【0030】また、接着力向上のため、接着フィルムに
シランカップリング剤、チタン系カップリング剤、ノニ
オン系界面活性剤、フッ素系界面活性剤、シリコ−ン系
添加剤などの各種添加剤を必要に応じて添加してもよ
い。
Further, in order to improve the adhesive strength, various additives such as a silane coupling agent, a titanium coupling agent, a nonionic surfactant, a fluorine surfactant, and a silicone additive are required for the adhesive film. May be added according to

【0031】接着フィルムの製造にあたっては、導電性
の付与や熱伝導性の向上、弾性率の調節などをはかるた
め、例えばアルミニウム、銅、銀、金、ニッケル、クロ
ム、鉛、錫、亜鉛、パラジウム、半田などの金属、ある
いは合金、アルミナ、シリカ、マグネシア、窒化ケイ素
などのセラミック、その他カ−ボンなどからなる種々の
無機粉末を必要に応じ1種または2種以上配合してもよ
い。
In the production of the adhesive film, for example, aluminum, copper, silver, gold, nickel, chromium, lead, tin, zinc, palladium, etc. in order to impart conductivity, improve thermal conductivity, and adjust the elastic modulus. One or two or more of various inorganic powders composed of metals such as solder, alloys, ceramics such as alumina, silica, magnesia and silicon nitride, and other carbons may be added as necessary.

【0032】さらに、これらフィルムを支持体上に設け
た積層接着シ−トとしてもよい。このような積層接着シ
−トを製造するには、支持体上に前記ポリカルボジイミ
ドのワニスを塗工してもよく、また、あらかじめフィル
ムを形成しておき、これをプレスなどにより支持体にラ
ミネ−トしてもよい。
Further, these films may be used as a laminated adhesive sheet provided on a support. In order to manufacture such a laminated adhesive sheet, a varnish of the polycarbodiimide may be applied on a support, or a film may be formed in advance, and the film may be applied to the support by pressing or the like. -You may choose.

【0033】ここで用いられる支持体としては金属箔、
絶縁性フィルムなどが挙げられる。金属箔としてはアル
ミニウム、銅、銀、金、ニッケル、インジウム、クロ
ム、鉛、錫、亜鉛、パラジウム等がいずれも用いられて
よく、これらを単独で、あるいは合金として用いてもよ
い。また、絶縁性フィルムとしては、ポリイミド、ポリ
エステル、ポリエチレンテレフタレ−トなど、耐熱性や
耐薬品性を有するフィルムであればいずれも用いること
ができる。
The support used here is a metal foil,
Insulating films and the like can be mentioned. As the metal foil, any of aluminum, copper, silver, gold, nickel, indium, chromium, lead, tin, zinc, palladium and the like may be used, and these may be used alone or as an alloy. As the insulating film, any film having heat resistance and chemical resistance, such as polyimide, polyester, and polyethylene terephthalate, can be used.

【0034】前記の金属箔と絶縁性フィルムは、それぞ
れ単独で用いてもよく、また両者を2層以上積層した、
例えば金属箔/絶縁性フィルムなどの2層基材を用いて
もよい。このような2層基材としては、例えば銅/ポリ
イミド2層基材などが挙げられる。
The above-mentioned metal foil and insulating film may be used alone, or two or more layers may be laminated.
For example, a two-layer substrate such as a metal foil / insulating film may be used. Examples of such a two-layer substrate include a copper / polyimide two-layer substrate.

【0035】つぎに、本発明のダイボンド用接着フィル
ムを用いた接着方法について説明する。本発明のダイボ
ンド用接着フィルムは、リ−ル等の長尺状態の巻回した
リボンとするのが好ましい。これを、カッタ−など適宜
の手段により所定の寸法(長さや形状等)に切断し、厚さ
や量などの均一性に優れた接着剤層を供給する。
Next, a bonding method using the adhesive film for die bonding of the present invention will be described. The adhesive film for die bonding of the present invention is preferably a long wound ribbon such as a reel. This is cut into predetermined dimensions (length, shape, etc.) by an appropriate means such as a cutter, and an adhesive layer having excellent uniformity in thickness, amount, etc. is supplied.

【0036】このようにして形成した切断片は電極部
材、例えばリ−ドフレ−ムのダイパッド上に仮接着さ
れ、その上に半導体チップを載せて加熱する。
The cut piece thus formed is temporarily bonded to an electrode member, for example, a die pad of a lead frame, and a semiconductor chip is mounted thereon and heated.

【0037】加熱処理は、例えばヒ−タ−、超音波、紫
外線など、公知の適宜の手段を用いてよい。加熱温度は
通常は50〜300℃、好ましくは100〜250℃で
あり、加熱時間は1秒〜30分、好ましくは1秒〜3分
である。このような加熱により、接着剤層中のポリカル
ボジイミド共重合体を硬化させ、半導体チップと電極部
材とを固着する。
For the heat treatment, known appropriate means such as a heater, an ultrasonic wave, and an ultraviolet ray may be used. The heating temperature is usually 50 to 300C, preferably 100 to 250C, and the heating time is 1 second to 30 minutes, preferably 1 second to 3 minutes. By such heating, the polycarbodiimide copolymer in the adhesive layer is cured, and the semiconductor chip and the electrode member are fixed.

【0038】また、別法としては、まず、接着用フィル
ムをダイシング装置上に固定し、シリコンウェハの片面
を接着用フィルムに室温〜90℃にて仮接着して固定す
る。ついで、ダイシング装置により、接着用フィルムが
仮接着されたシリコンウェハを切断して、接着剤を保持
した半導体チップを得る。このようにして、接着剤が仮
接着された半導体チップを電極部材、例えばリ−ドフレ
−ムのダイパッド上に載せて加熱する。なお、加熱処理
は前記と同様の手段、処理条件で行うことができる。
As another method, first, the bonding film is fixed on a dicing apparatus, and one surface of the silicon wafer is temporarily bonded to the bonding film at room temperature to 90 ° C. and fixed. Next, the silicon wafer to which the bonding film has been temporarily bonded is cut by a dicing apparatus to obtain a semiconductor chip holding the adhesive. In this manner, the semiconductor chip to which the adhesive has been temporarily bonded is placed on an electrode member, for example, a die pad of a lead frame and heated. Note that the heat treatment can be performed under the same means and processing conditions as described above.

【0039】[0039]

【実施例】つぎに、本発明を実施例及び比較例によりさ
らに具体的に説明する。合成はすべて窒素気流下で行っ
た。なお、得られたポリカルボジイミドの特性は次のよ
うにして測定した。
Next, the present invention will be described more specifically with reference to examples and comparative examples. All syntheses were performed under a stream of nitrogen. In addition, the characteristic of the obtained polycarbodiimide was measured as follows.

【0040】本発明を実施例及び比較例によりさらに具
体的に説明する。合成はすべて窒素気流下で行った。な
お、得られたポリカルボジイミドの特性は次のようにし
て測定した。IR FT/IR−230(日本電子製)を用いて測定した。数平均分子量 装置としてHLC8120((株)東ソ−製)、カラムにG
MHHR−H+GMH R−H+G2000H
HR((株)東ソ−製)を用い、テトラヒドロフランを展開
溶媒として用いて測定した。
The present invention is further embodied by Examples and Comparative Examples.
Explain physically. All syntheses were performed under a stream of nitrogen. What
The properties of the obtained polycarbodiimide are as follows.
Measured.IR  It measured using FT / IR-230 (made by JEOL).Number average molecular weight  HLC8120 (manufactured by Toso Co., Ltd.) as an apparatus, and G
MHHR-H+ GMHH RH+ G2000H
HR(Toso Co., Ltd.) to develop tetrahydrofuran
The measurement was performed using the solvent.

【0041】[製造例1](ポリカルボジイミドの製造) 攪拌装置、滴下漏斗、還流冷却器、温度計を取り付けた
500mLの四つ口フラスコにトリレンジイソシアネ−
ト(100g,0.57mol)(武田薬品工業(株)製タケ
ネ−ト80)、ポリヘキサメチレンカ−ボネ−トジオ−
ル(100g、0.10mol)(宇部興産(株)製UH−C
ARB100)、キシレン75g、シクロヘキサノン2
5gを仕込み、100℃で3時間ウレタン化を行った。
[Production Example 1] (Production of polycarbodiimide) Tolylene diisocyanate was placed in a 500 mL four-necked flask equipped with a stirrer, a dropping funnel, a reflux condenser, and a thermometer.
(100 g, 0.57 mol) (Takenate 80 manufactured by Takeda Pharmaceutical Co., Ltd.), polyhexamethylene carbonate
(100 g, 0.10 mol) (UH-C manufactured by Ube Industries, Ltd.)
ARB100), xylene 75 g, cyclohexanone 2
5 g was charged and urethanization was performed at 100 ° C. for 3 hours.

【0042】溶液を室温に戻した後、カルボジイミド化
触媒(3−メチル−1−フェニル−2−ホスホレン−1
−オキシド)(0.883g,4.59mmol)、p−イソ
プロピルフェニルイソシアネ−ト(6.4793g,40.
2mmol)を仕込み、100℃で2時間、攪拌して重
合を行った。IRスペクトルによりカルボジイミド化を
確認した。このポリカルボジイミド共重合体の数平均分
子量(Mn)は6300であった。
After returning the solution to room temperature, the carbodiimidation catalyst (3-methyl-1-phenyl-2-phospholene-1) was used.
-Oxide) (0.883 g, 4.59 mmol), p-isopropylphenyl isocyanate (6.4793 g, 40.
2 mmol) and stirred at 100 ° C. for 2 hours to carry out polymerization. Carbodiimidization was confirmed by IR spectrum. The number average molecular weight (Mn) of this polycarbodiimide copolymer was 6,300.

【0043】[製造例2](ポリカルボジイミドの製造) 攪拌装置、滴下漏斗、還流冷却器、温度計を取り付けた
500mLの四つ口フラスコにトリレンジイソシアネ−
ト(100g,0.57mol)(武田薬品工業(株)製タケ
ネ−ト80)、ポリヘキサメチレンカ−ボネ−トジオ−
ルUH−CARB200(100g,0.05mol)(宇
部興産(株)製UH−CARB200)、キシレン75
g、シクロヘキサノン25gを仕込み、100℃で3時
間ウレタン化を行った。
[Production Example 2] (Production of polycarbodiimide) Tolylene diisocyanate was placed in a 500 mL four-necked flask equipped with a stirrer, a dropping funnel, a reflux condenser, and a thermometer.
(100 g, 0.57 mol) (Takenate 80 manufactured by Takeda Pharmaceutical Co., Ltd.), polyhexamethylene carbonate
UH-CARB200 (100 g, 0.05 mol) (UH-CARB200 manufactured by Ube Industries, Ltd.), xylene 75
g, and 25 g of cyclohexanone, and urethanized at 100 ° C. for 3 hours.

【0044】溶液を室温に戻した後、カルボジイミド化
触媒(3−メチル−1−フェニル−2−ホスホレン−1
−オキシド)(0.883g,4.59mmol)、p−イソ
プロピルフェニルイソシアネ−ト(6.4793g,40.
2mmol)を仕込み、100℃で1時間、攪拌して重
合を行った。IRスペクトルによりカルボジイミド化を
確認した。このポリカルボジイミドの数平均分子量(M
n)は6000であった。
After returning the solution to room temperature, the carbodiimidation catalyst (3-methyl-1-phenyl-2-phospholene-1) was used.
-Oxide) (0.883 g, 4.59 mmol), p-isopropylphenyl isocyanate (6.4793 g, 40.
2 mmol) and stirred at 100 ° C. for 1 hour to carry out polymerization. Carbodiimidization was confirmed by IR spectrum. The number average molecular weight of this polycarbodiimide (M
n) was 6000.

【0045】[製造例3](ポリカルボジイミドの製造) 攪拌装置、滴下漏斗、還流冷却器、温度計を取り付けた
500mLの四つ口フラスコにトリレンジイソシアネ−
ト(100g,0.57mol)(武田薬品工業(株)製タケ
ネ−ト80)、ポリヘキサメチレンカ−ボネ−トジオ−
ル(100g,0.034mol)(宇部興産(株)製UH−
CARB300)、キシレン112.5g、シクロヘキサ
ノン37.5gを仕込み、100℃で3時間ウレタン化
を行った。
[Production Example 3] (Production of polycarbodiimide) Tolylene diisocyanate was placed in a 500 mL four-necked flask equipped with a stirrer, a dropping funnel, a reflux condenser, and a thermometer.
(100 g, 0.57 mol) (Takenate 80 manufactured by Takeda Pharmaceutical Co., Ltd.), polyhexamethylene carbonate
(100 g, 0.034 mol) (UH-san manufactured by Ube Industries, Ltd.)
CARB300), 112.5 g of xylene and 37.5 g of cyclohexanone were charged and urethanized at 100 ° C. for 3 hours.

【0046】溶液を室温に戻した後、カルボジイミド化
触媒(3−メチル−1−フェニル−2−ホスホレン−1
−オキシド)(0.883g,4.59mmol)、p−イソ
プロピルフェニルイソシアネ−ト(6.4793g,40.
2mmol)を仕込み、100℃で1時間、攪拌して重
合を行った。IRスペクトルによりカルボジイミド化を
確認した。このポリカルボジイミドの数平均分子量(M
n)は5400であった。
After returning the solution to room temperature, the carbodiimidation catalyst (3-methyl-1-phenyl-2-phospholene-1) was used.
-Oxide) (0.883 g, 4.59 mmol), p-isopropylphenyl isocyanate (6.4793 g, 40.
2 mmol) and stirred at 100 ° C. for 1 hour to carry out polymerization. Carbodiimidization was confirmed by IR spectrum. The number average molecular weight of this polycarbodiimide (M
n) was 5,400.

【0047】[実施例1]製造例1で製造したワニスを
剥離剤で処理したポリエチレンテレフタレ−トフィルム
からなるセパレ−タ(厚さ50μm)の上に塗布した。こ
れを、90℃にて30分間加熱した後、150℃で30
分間加熱して接着フィルム(接着フィルム層の厚さ50
μm)を得た。
Example 1 The varnish produced in Production Example 1 was applied on a separator (thickness: 50 μm) composed of a polyethylene terephthalate film treated with a release agent. This was heated at 90 ° C. for 30 minutes and then at 150 ° C. for 30 minutes.
Heat the adhesive film (thickness of adhesive film layer 50
μm).

【0048】得られた接着フィルムとシリコンチップと
の接着力をつぎのようにして測定した。すなわち、得ら
れた接着フィルムをセパレ−タから剥離除去した後、3
cm□に切断した。このフィルムを2mm×2mm×7
60μmにダイシングしたシリコンチップ(パッシベ−
ション:窒化ケイ素)と3cm×5cmの大きさのガラ
スエポキシ基板の間に挟み、フリップチップボンダ−
(渋谷工業製DB100)を用いて50〜200℃の温度
下で荷重(2.94MPa)をかけて、40秒加熱して接
着し、そのせん断接着力を測定した。結果を表1にまと
めた。
The adhesive strength between the obtained adhesive film and the silicon chip was measured as follows. That is, after peeling off the obtained adhesive film from the separator, 3
It was cut into cm □. This film is 2mm x 2mm x 7
Silicon chips (passive base) diced to 60 μm
Flip chip bonder sandwiched between a 3cm x 5cm glass epoxy substrate.
Using (Shibuya Kogyo DB100), a load (2.94 MPa) was applied at a temperature of 50 to 200 ° C., and heating was performed for 40 seconds for bonding, and the shear adhesive strength was measured. The results are summarized in Table 1.

【0049】[実施例2]製造例2で製造したワニスを
用いたこと以外は、実施例1と同様にして、接着フィル
ムを得た。接着フィルムとシリコンチップとの接着力も
実施例1と同様にして測定した。結果を表1にまとめ
た。
Example 2 An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the varnish produced in Production Example 2 was used. The adhesive force between the adhesive film and the silicon chip was measured in the same manner as in Example 1. The results are summarized in Table 1.

【0050】[実施例3]製造例3で製造したワニスを
用いたこと以外は、実施例1と同様にして、接着フィル
ムを得た。接着フィルムとシリコンチップとの接着力も
実施例1と同様にして測定した。結果を表1にまとめ
た。
Example 3 An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the varnish produced in Production Example 3 was used. The adhesive force between the adhesive film and the silicon chip was measured in the same manner as in Example 1. The results are summarized in Table 1.

【0051】[比較例1]攪拌装置、滴下漏斗、還流冷
却器、温度計を取り付けた500mLの四つ口フラスコ
にトリレンジイソシアネ−ト(100g,0.57mol)
(武田薬品工業(株)製タケネ−ト80)、キシレン75
g、シクロヘキサノン25gを仕込んだ。
Comparative Example 1 Tolylene diisocyanate (100 g, 0.57 mol) was placed in a 500 mL four-necked flask equipped with a stirrer, a dropping funnel, a reflux condenser, and a thermometer.
(Takenate 80 manufactured by Takeda Pharmaceutical Co., Ltd.), xylene 75
g, and 25 g of cyclohexanone.

【0052】カルボジイミド化触媒(3−メチル−1−
フェニル−2−ホスホレン−1−オキシド)(0.883
g,4.59mmol)、p−イソプロピルフェニルイソ
シアネ−ト(6.4793g,40.2mmol)を仕込
み、100℃で1時間、攪拌して重合を行った。IRス
ペクトルによりカルボジイミド化を確認した。このポリ
カルボジイミドの数平均分子量(Mn)は4800であっ
た。このワニスを用いたこと以外は、実施例1と同様に
して、接着フィルムを得た。接着フィルムとシリコンチ
ップとの接着力も実施例1と同様にして測定した。結果
を表1にまとめた。
Carbodiimidization catalyst (3-methyl-1-
Phenyl-2-phospholene-1-oxide) (0.883)
g, 4.59 mmol) and p-isopropylphenyl isocyanate (6.4793 g, 40.2 mmol), and the mixture was stirred at 100 ° C. for 1 hour to carry out polymerization. Carbodiimidization was confirmed by IR spectrum. The number average molecular weight (Mn) of this polycarbodiimide was 4,800. An adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1 except that this varnish was used. The adhesive force between the adhesive film and the silicon chip was measured in the same manner as in Example 1. The results are summarized in Table 1.

【0053】[比較例2]攪拌装置、滴下漏斗、還流冷
却器、温度計を取り付けた500mLの四つ口フラスコ
にトリレンジイソシアネ−ト(100g,0.57mol)
(武田薬品工業(株)製タケネ−ト80)、ポリエチレング
リコ−ル(100g,0.10mol)(三洋化成(株)製P
EG−1000)、キシレン112.5g、シクロヘキサ
ノン37.5gを仕込み、100℃で3時間ウレタン化
を行った。
Comparative Example 2 Tolylene diisocyanate (100 g, 0.57 mol) was placed in a 500 mL four-necked flask equipped with a stirrer, a dropping funnel, a reflux condenser, and a thermometer.
(Takenate 80 manufactured by Takeda Pharmaceutical Co., Ltd.), polyethylene glycol (100 g, 0.10 mol) (P manufactured by Sanyo Chemical Co., Ltd.)
EG-1000), 112.5 g of xylene and 37.5 g of cyclohexanone were charged and urethanized at 100 ° C. for 3 hours.

【0054】溶液を室温に戻した後、カルボジイミド化
触媒(3−メチル−1−フェニル−2−ホスホレン−1
−オキシド)(0.883g,4.59mmol)、p−イソ
プロピルフェニルイソシアネ−ト(6.4793g,40.
2mmol)を仕込み、100℃で1時間、攪拌して重
合を行った。
After returning the solution to room temperature, the carbodiimidation catalyst (3-methyl-1-phenyl-2-phospholene-1) was used.
-Oxide) (0.883 g, 4.59 mmol), p-isopropylphenyl isocyanate (6.4793 g, 40.
2 mmol) and stirred at 100 ° C. for 1 hour to carry out polymerization.

【0055】IRスペクトルによりカルボジイミド化を
確認した。このポリカルボジイミドの数平均分子量(M
n)は5800であった。
The carbodiimidization was confirmed by IR spectrum. The number average molecular weight of this polycarbodiimide (M
n) was 5,800.

【0056】このワニスを用いたこと以外は、実施例1
と同様にして、接着フィルムを得た。接着フィルムとシ
リコンチップとの接着力も実施例1と同様にして測定し
た。結果を表1にまとめた。
Example 1 was repeated except that this varnish was used.
In the same manner as in the above, an adhesive film was obtained. The adhesive force between the adhesive film and the silicon chip was measured in the same manner as in Example 1. The results are summarized in Table 1.

【0057】以上の結果を表1に示す。表1より明らか
なように、実施例はいずれも比較例に比べ低温から高温
にわたるすべての温度で優れた接着力を示す。
Table 1 shows the above results. As is clear from Table 1, all of the examples show excellent adhesive strength at all temperatures from low to high temperatures as compared with the comparative examples.

【0058】[0058]

【表1】ポリカルボジイミド共重合体の接着フィルムの
物性
[Table 1] Physical properties of adhesive film of polycarbodiimide copolymer

【0059】[0059]

【発明の効果】本発明のダイボンド用接着フィルムは、
電極部材の上に、厚さ、形状等の均一な接着剤層を容易
に形成でき、かつ常温等の低温での固定が可能であり品
質の維持が容易である。さらに、高温、高圧を要するこ
となく半導体チップを固着処理できて、後続のワイヤ−
ボンディング接続や樹脂モ−ルド封止等に耐え得る耐熱
性を有す。
The adhesive film for die bonding of the present invention is
An adhesive layer having a uniform thickness and shape can be easily formed on the electrode member, can be fixed at a low temperature such as a normal temperature, and quality can be easily maintained. Further, the semiconductor chip can be fixed without requiring high temperature and high pressure, and the subsequent wire
It has heat resistance enough to withstand bonding connection and resin mold sealing.

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成13年4月4日(2001.4.4)[Submission date] April 4, 2001 (2001.4.4)

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0016[Correction target item name] 0016

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【0016】(芳香族ジイソシアネ−ト)式()中でR2
は芳香族ジイソシアネ−ト残基であり、Rとしては、
たとえば、トリレンジイソシアネ−ト残基、ジフェニル
メタンジイソシアネ−ト残基などが挙げられる。また、
kは0〜30の整数であり、好ましくは2〜20であ
る。また、nは0〜30の整数であり、好ましくは2〜
20である。
(Aromatic diisocyanate) In the formula ( I ), R2
Is an aromatic diisocyanate residue, and R 2 is
For example, tolylene diisocyanate residue, diphenylmethane diisocyanate residue and the like can be mentioned. Also,
k is an integer of 0 to 30, and preferably 2 to 20. N is an integer of 0 to 30, preferably 2 to 30.
20.

フロントページの続き Fターム(参考) 4J004 AA14 AB05 BA02 CA06 CA08 CB03 EA01 FA05 FA08 4J040 EF121 EF351 JA09 JB02 LA06 LA08 MA02 MB03 NA19 PA30 5F047 AA11 AA17 BA23 BA39 BB03 BB16 Continued on the front page F-term (reference) 4J004 AA14 AB05 BA02 CA06 CA08 CB03 EA01 FA05 FA08 4J040 EF121 EF351 JA09 JB02 LA06 LA08 MA02 MB03 NA19 PA30 5F047 AA11 AA17 BA23 BA39 BB03 BB16

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 下式: 【化1】 (式中、kは0〜30の整数、mは2〜100の整数、
nは0〜30の整数、R は炭素数2〜10のアルキレ
ン基、Rは芳香族ジイソシアネ−ト残基、Rは芳香
族モノイソシアネ−ト残基を意味する。)で表されるポ
リカルボジイミド共重合体からなるダイボンド用接着フ
ィルム。
1. The following formula:(Where k is an integer of 0 to 30, m is an integer of 2 to 100,
n is an integer of 0 to 30, R 1Is alkylene having 2 to 10 carbon atoms
Group, R2Is an aromatic diisocyanate residue, R3Is aromatic
A group monoisocyanate residue is meant. )
Adhesive die for die bonding consisting of recarbodiimide copolymer
Film.
【請求項2】 式(I)において、Rがヘキサメチレン
基であり、Rがトリレンジイソアネ−ト残基又はジフ
ェニルメタンジイソシアネ−ト残基である請求項1のダ
イボンド用接着フィルム。
2. The adhesive film for die bonding according to claim 1, wherein, in the formula (I), R 1 is a hexamethylene group, and R 2 is a tolylene diisocyanate residue or a diphenylmethane diisocyanate residue. .
【請求項3】 式(I)において、Rがp−イソプロピ
ルフェニルイソシアネ−ト残基である請求項2のダイボ
ンド用接着フィルム。
3. The adhesive film for die bonding according to claim 2, wherein in the formula (I), R 3 is a p-isopropylphenyl isocyanate residue.
【請求項4】 請求項1〜3のいずれかのダイボンド用
接着フィルムにより半導体チップと電極とを固着してな
る半導体装置。
4. A semiconductor device comprising a semiconductor chip and electrodes fixed by the die-bonding adhesive film according to claim 1.
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