JP2002083433A - Optical disk device - Google Patents

Optical disk device

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JP2002083433A
JP2002083433A JP2001185680A JP2001185680A JP2002083433A JP 2002083433 A JP2002083433 A JP 2002083433A JP 2001185680 A JP2001185680 A JP 2001185680A JP 2001185680 A JP2001185680 A JP 2001185680A JP 2002083433 A JP2002083433 A JP 2002083433A
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青児 西脇
Yoichi Saito
陽一 斉藤
Kazuo Momoo
和雄 百尾
Kenji Nagashima
賢治 長島
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress the asymmetry of a tracking error signal or the off-track at the time of track control accompanied with the displacement of the optical axis of an optical disk device and the center axis of an optical distribution means. SOLUTION: The optical disk device capable of housing the optical disk is provided with a light source for emitting the light, an objective lens for converging the light emitted from the light source to the optical disk, a 1st optical distribution means for outputting a transmission light and 1st and 2nd diffracted light beams while moving integrally with the objective lens, a transmission light detecting means for detecting the transmission light to output a TE1 signal showing the displacement of the detected transmission light, a 1st diffracted light detecting means for detecting the 1st and 2nd diffracted light beams to output a TE2 signal showing the difference between the detected amounts of 1st diffracted light and 2nd diffracted light, and a controller for producing the tracking error signal of the optical disk on the basis of the TE1 signal and the TE2 signal.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク装置に関
し、より詳細には光ディスクの正確なトラッキングエラ
ー信号を求める光ディスク装置に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to an optical disk device, and more particularly, to an optical disk device for obtaining an accurate tracking error signal of an optical disk.

【0002】[0002]

【従来の技術】大容量のデータを記録する情報記録媒体
として光ディスクが知られている。光ディスクはトラッ
ク上に情報を記録することができ、また、光ディスクに
記録された情報を再生することもできる。光ディスク装
置は、光ディスクを収容可能であり、光ディスクに情報
を記録する、および/または、光ディスクから情報を再
生するための装置である。光ディスク装置が、光ディス
クに情報を記録する、または、光ディスクから情報を再
生する際に、適切なトラック上で正確に記録または再生
を行なうためには、レーザビームが光ディスクのトラッ
クを正確に追跡(トラッキング)しなければならない。
トラッキングエラー信号は、レーザビームがトラックを
正確に追跡しているかどうかを示す。
2. Description of the Related Art An optical disk is known as an information recording medium for recording a large amount of data. The optical disc can record information on tracks, and can also reproduce information recorded on the optical disc. The optical disk device is a device that can accommodate an optical disk and records information on the optical disk and / or reproduces information from the optical disk. In order for an optical disk device to record information on an optical disk or to reproduce information from the optical disk, to accurately record or reproduce the information on an appropriate track, a laser beam accurately tracks a track of the optical disk. )Must.
The tracking error signal indicates whether the laser beam is tracking the track accurately.

【0003】以下に、従来の光ディスク装置およびトラ
ッキングエラー信号について説明する。
Hereinafter, a conventional optical disk device and a tracking error signal will be described.

【0004】図10Aは、従来の光ディスク装置100
0を示す。図10Aにおいて、光源1010から出射さ
れたレーザー光が光学系1015を介して光ディスク1
070に収束される。光ディスク1070によって反射
された光は光検出器1050によって検出される。光検
出器1050によって検出された結果に基づいて、制御
装置1085は、光源1010、光学系1015、光デ
ィスク1070のうちの任意のものを制御する。光学系
1015は、例えば、スプリット面1025を有する偏
光ビームスプリッター1020、コリメートレンズ10
30、1/4波長板1042、反射ミラー1040、対
物レンズ1060を含む。
FIG. 10A shows a conventional optical disk apparatus 100.
Indicates 0. 10A, a laser beam emitted from a light source 1010 is transmitted through an optical system 1015 to the optical disc 1.
070. Light reflected by the optical disk 1070 is detected by the photodetector 1050. Based on a result detected by the photodetector 1050, the control device 1085 controls any one of the light source 1010, the optical system 1015, and the optical disk 1070. The optical system 1015 includes, for example, a polarizing beam splitter 1020 having a split surface 1025,
30, a quarter-wave plate 1042, a reflection mirror 1040, and an objective lens 1060.

【0005】以下に、光ディスク装置1000のより具
体的な動作を説明する。光源1010から出射されたレ
ーザー光は偏光ビームスプリッター1020に入射し、
偏光ビームスプリッター1020のスプリット面102
5を透過してコリメートレンズ1030により平行光に
変換される。平行光は、1/4波長板1042を通過し
て、直線偏光(P波)から円偏光に変換され、その後、
反射ミラー1040によって反射される。反射光は対物
レンズ1060によって、光ディスク1070の信号面
1074上に収束される。光ディスク1070の信号面
1074は、基材1072と保護膜1076との間に形
成される。信号面1074には光ディスク1070の径
方向(すなわち、光ディスク1070に入射される光の
方向に対して垂直で、かつ、紙面に平行な方向)に沿っ
て、深さd、ピッチp、幅wの溝またはピットが形成さ
れている。信号面1074によって反射された光は、対
物レンズ1060、反射ミラー1040を経て1/4波
長板1042により直線偏光(S波)に変換される。そ
の後、コリメートレンズ1030により収束性の光とな
り、偏光ビームスプリッター1020のスプリット面1
025によって反射され、光1080として光検出器1
050上に集光される。光検出器1050で検出された
信号に基づいて、制御装置1085はレーザ光源101
0、光学系1015、光ディスク1070のうちの任意
のものを制御する。
Hereinafter, a more specific operation of the optical disk device 1000 will be described. The laser light emitted from the light source 1010 enters the polarization beam splitter 1020,
Split surface 102 of polarizing beam splitter 1020
5 and is converted into parallel light by a collimating lens 1030. The parallel light passes through the quarter-wave plate 1042 and is converted from linearly polarized light (P wave) to circularly polarized light.
The light is reflected by the reflection mirror 1040. The reflected light is converged on the signal surface 1074 of the optical disk 1070 by the objective lens 1060. The signal surface 1074 of the optical disc 1070 is formed between the base 1072 and the protective film 1076. The signal surface 1074 has a depth d, a pitch p, and a width w along the radial direction of the optical disk 1070 (that is, a direction perpendicular to the direction of light incident on the optical disk 1070 and parallel to the paper surface). Grooves or pits are formed. The light reflected by the signal surface 1074 passes through the objective lens 1060 and the reflection mirror 1040, and is converted into linearly polarized light (S wave) by the 波長 wavelength plate 1042. After that, the light becomes convergent light by the collimating lens 1030 and the split surface 1 of the polarizing beam splitter 1020 is split.
025 and reflected as light 1080 by photodetector 1
It is focused on 050. Based on the signal detected by the photodetector 1050, the control device 1085
0, any one of the optical system 1015 and the optical disk 1070 is controlled.

【0006】図10Bは、光検出器1050の構成を示
す。光検出器1050は、サブ光検出器1050Aおよ
び1050Bを含む。分割線1051は、サブ光検出器
1050Aと1050Bとの境界を示す。サブ光検出器
1050Aおよび1050Bのそれぞれによって検出さ
れる光の量を減算器1091によって差分してトラッキ
ングエラー信号1091s(TE1信号)を得ることが
でき、加算器1092によって加算して再生信号109
2sを得ることができる。分割線1051は光検出器1
050上の収束スポット1081をほぼ等分割してい
る。制御装置1085は、トラッキングエラーをなくす
ためにTE1信号がゼロになるように、レーザ光源10
10、光学系1015、光ディスク1070のうちの任
意のものを制御する。
FIG. 10B shows a configuration of the photodetector 1050. Photodetector 1050 includes sub photodetectors 1050A and 1050B. A dividing line 1051 indicates a boundary between the sub photodetectors 1050A and 1050B. A tracking error signal 1091s (TE1 signal) can be obtained by subtracting the amount of light detected by each of the sub-light detectors 1050A and 1050B by the subtractor 1091, and the added signal is added by the adder 1092 to obtain the reproduction signal 109.
2s can be obtained. The division line 1051 is the photodetector 1
The convergent spot 1081 on 050 is almost equally divided. The controller 1085 controls the laser light source 10 so that the TE1 signal becomes zero in order to eliminate a tracking error.
10, an optical system 1015 and an optical disk 1070 are controlled.

【0007】図11Aは、別の従来の光ディスク装置1
100を示す。光源1110から出射されたレーザー光
が光学系1115を介して光ディスク1170に収束さ
れる。光ディスク1170によって反射された光は光検
出器1190によって検出される。光検出器1190に
よって検出された結果に基づいて、制御装置1185
は、光源1110、光学系1115、光ディスク117
0のうちの任意のものを制御する。光学系1115は、
例えば、コリメートレンズ1130、1/4波長板11
42、偏光ホログラム素子1145、対物レンズ116
0を含む。
FIG. 11A shows another conventional optical disk apparatus 1.
100 is shown. Laser light emitted from the light source 1110 is converged on the optical disk 1170 via the optical system 1115. Light reflected by the optical disk 1170 is detected by the photodetector 1190. Based on the result detected by the light detector 1190, the controller 1185
Is a light source 1110, an optical system 1115, an optical disk 117
Control any of the zeros. The optical system 1115 is
For example, the collimating lens 1130, the 波長 wavelength plate 11
42, polarization hologram element 1145, objective lens 116
Contains 0.

【0008】以下に、光ディスク装置1100のより具
体的な動作を説明する。光源1110から出射される光
ビームは、コリメートレンズ1130によって平行光に
変換されて、偏光ホログラム素子1145に入射され
る。偏光ホログラム素子1145は対物レンズ1160
とともにレンズホルダー1165に一体に組み込まれて
いる。偏光ホログラム素子1145は、また、1/4波
長膜1142を有する。偏光ホログラム素子1145の
表面は、偏光ホログラム面1150である。偏光ホログ
ラム素子1145への入射光(P波)は偏光ホログラム
面1150を透過し、1/4波長膜1142により直線
偏光(P波)から円偏光に変換され、対物レンズ116
0により集光されて光ディスク1170の信号面117
4上に収束する。信号面1174は、光ディスク117
0の保護膜1172と基材1176との間に設けられ
る。信号面1174には光ディスク1170の回転方向
に沿って、深さd、ピッチp、幅wの溝またはピットが
形成されている。信号面1174によって反射された光
は対物レンズ1160を経て1/4波長膜1142によ
り直線偏光(S波)に変換され、偏光ホログラム面11
50で回折される。回折された光は、コリメートレンズ
1130を介して光検出器1190上に入射される。光
検出器1190によって検出された信号に基づいて、制
御装置1185は、光源1110、光学系1115、光
ディスク1170のうちの任意のものを制御する。
Hereinafter, a more specific operation of the optical disk device 1100 will be described. The light beam emitted from the light source 1110 is converted into parallel light by the collimator lens 1130 and is incident on the polarization hologram element 1145. The polarization hologram element 1145 has an objective lens 1160
Together with the lens holder 1165. The polarization hologram element 1145 also has a quarter-wave film 1142. The surface of the polarization hologram element 1145 is a polarization hologram surface 1150. The light (P wave) incident on the polarization hologram element 1145 passes through the polarization hologram surface 1150 and is converted from linearly polarized light (P wave) to circularly polarized light by the 1 / wavelength film 1142.
0 and the signal surface 117 of the optical disc 1170
4 converges. The signal surface 1174 is
0 between the protective film 1172 and the base material 1176. On the signal surface 1174, grooves or pits having a depth d, a pitch p, and a width w are formed along the rotation direction of the optical disk 1170. The light reflected by the signal surface 1174 is converted into linearly polarized light (S-wave) by the quarter-wave film 1142 through the objective lens 1160, and the polarization hologram surface 11
Diffracted at 50. The diffracted light is incident on the photodetector 1190 via the collimating lens 1130. Based on the signal detected by photodetector 1190, control device 1185 controls any of light source 1110, optical system 1115, and optical disk 1170.

【0009】図11Bは、ホログラム面1150の構成
を示す。ホログラム面1150は、分割線1152によ
って分割される2つの領域1150a、1150bを含
む。光ディスク1170によって反射された光1151
は、分割線1152によってほぼ等分割される。
FIG. 11B shows a configuration of the hologram surface 1150. The hologram surface 1150 includes two regions 1150a and 1150b divided by a division line 1152. Light 1151 reflected by optical disk 1170
Are substantially equally divided by a dividing line 1152.

【0010】図11Cは、光検出器1190の構成を示
す。光検出器1190は、2つのサブ光検出器1190
Aおよび1190Bを含む。サブ光検出器1190Aお
よび1190Bは、分割線1191によって分離され
る。図11Bに示されるホログラム面1150の領域1
150aを通って回折される光は、サブ光検出器119
0A上にスポット1181aとして集光される。また、
ホログラム面1150の領域1150bを通って回折さ
れる光は、サブ光検出器1190B上にスポット118
1bとして集光される。サブ光検出器1190Aおよび
1190Bのそれぞれによって検出された光の量を減算
器1101によって差分し、トラッキングエラー信号1
101s(TE2信号)を得ることができる。また、サ
ブ光検出器1190Aおよび1190Bのそれぞれによ
って検出された光の量を加算器1102によって加算
し、再生信号1102sを得ることができる。制御装置
1185は、トラッキングエラーをなくすためにTE2
信号がゼロになるように、レーザ光源1110、光学系
1115、光ディスク1170のうちの任意のものを制
御する。
FIG. 11C shows the structure of the photodetector 1190. The light detector 1190 includes two sub-light detectors 1190.
A and 1190B. The sub-light detectors 1190A and 1190B are separated by a dividing line 1191. Region 1 of hologram surface 1150 shown in FIG. 11B
The light diffracted through 150a is transmitted to the sub-light detector 119.
The light is focused on 0A as a spot 1181a. Also,
Light diffracted through the area 1150b of the hologram surface 1150 is spotted on the sub-light detector 1190B.
It is collected as 1b. The amount of light detected by each of the sub-light detectors 1190A and 1190B is subtracted by a subtractor 1101 to obtain a tracking error signal 1
101s (TE2 signal) can be obtained. Further, the amount of light detected by each of the sub-light detectors 1190A and 1190B can be added by the adder 1102 to obtain a reproduced signal 1102s. The controller 1185 controls TE2 to eliminate tracking errors.
An arbitrary one of the laser light source 1110, the optical system 1115, and the optical disk 1170 is controlled so that the signal becomes zero.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】従来の光ディスク装置
1000、1100よって求められたトラッキングエラ
ー信号(TE1信号、TE2信号)は、以下の問題があ
る。まず、光ディスク装置1000によって求められる
トラッキングエラー信号(TE1信号)について説明す
る。
The tracking error signals (TE1 signal, TE2 signal) obtained by the conventional optical disk devices 1000 and 1100 have the following problems. First, a tracking error signal (TE1 signal) obtained by the optical disc device 1000 will be described.

【0012】制御装置1085によりトラッキング制御
のかかった光ディスク装置1000では一般に光ディス
ク1070の芯振れに追従して対物レンズ1060が径
方向(図10Aの矢印Kの方向)に変位する。
In the optical disc apparatus 1000 that has been subjected to tracking control by the control device 1085, generally, the objective lens 1060 is displaced in the radial direction (in the direction of the arrow K in FIG. 10A) following the core runout of the optical disc 1070.

【0013】図12(a)〜(d)は、対物レンズ10
60の中心軸1220が光ディスク装置1000の光軸
1210に対して右側へ距離Xだけ変位している場合の
光ディスク1070の径方向断面の光強度分布を示して
いる。図12(e)に、光ディスク装置1000の光軸
1210と対物レンズ1060の中心軸1220との位
置関係を模式的に示す。
FIGS. 12A to 12D show the objective lens 10.
10 shows a light intensity distribution of a radial cross section of the optical disk 1070 when the central axis 1220 of the optical disk 60 is displaced rightward by a distance X with respect to the optical axis 1210 of the optical disk device 1000. FIG. 12E schematically shows the positional relationship between the optical axis 1210 of the optical disc apparatus 1000 and the central axis 1220 of the objective lens 1060.

【0014】図12(a)は、光源1010から出射し
た光が対物レンズ1060を通過する前の光強度分布1
231を示す。光強度分布1231は光軸1210を中
心とするガウシアン分布を示す。このとき、図12
(e)に示すように、対物レンズ1060の中心軸12
20は、光ディスク装置1000の光軸1210に対し
て変位Xを有している。
FIG. 12A shows a light intensity distribution 1 before light emitted from a light source 1010 passes through an objective lens 1060.
231 is shown. The light intensity distribution 1231 shows a Gaussian distribution centered on the optical axis 1210. At this time, FIG.
As shown in (e), the central axis 12 of the objective lens 1060
20 has a displacement X with respect to the optical axis 1210 of the optical disk device 1000.

【0015】図12(b)は、光が対物レンズ1060
を通過した後の光強度分布1232を示す。対物レンズ
1060の半径(開口径)が長さrの場合、対物レンズ
1060の中心軸1220から距離rより遠い位置での
光強度分布はゼロになる。すなわち、対物レンズ106
0の開口縁1240、1250の外側の光はカットされ
る。
FIG. 12 (b) shows that the light is
Shows the light intensity distribution 1232 after passing through the light source. When the radius (opening diameter) of the objective lens 1060 is the length r, the light intensity distribution at a position farther than the distance r from the central axis 1220 of the objective lens 1060 becomes zero. That is, the objective lens 106
Light outside the 0 opening edges 1240, 1250 is cut off.

【0016】図12(c)は、光が光ディスク1070
によって反射された後で対物レンズ1060に入射する
前の光強度分布1233を示す。光ディスク1070に
よって反射された反射光の中心軸1215は、対物レン
ズ1060の中心軸1220に対して右側にXだけ変位
している。すなわち、反射光の中心軸1215は、光デ
ィスク装置1000の光軸1210に対して変位Xの2
倍分シフトしている。また、信号面1074上の溝での
回折により、光強度分布1233は光ディスク1070
の径方向に広がった分布となる。
FIG. 12 (c) shows that the light is
FIG. 14 shows a light intensity distribution 1233 after being reflected by the light source and before being incident on the objective lens 1060. FIG. The central axis 1215 of the light reflected by the optical disc 1070 is displaced by X to the right with respect to the central axis 1220 of the objective lens 1060. That is, the central axis 1215 of the reflected light is equal to the displacement X of the optical axis 1210 of the optical disc apparatus 1000.
Shifted by a factor of two. The light intensity distribution 1233 is changed by the diffraction at the groove on the signal surface 1074 to the optical disk 1070.
Is spread in the radial direction.

【0017】図12(d)は、対物レンズ1060を通
過した後の光強度分布1234を示す。図12(b)の
場合と同様に、対物レンズ1060の開口縁1240、
1250の外側の光はカットされる。
FIG. 12D shows a light intensity distribution 1234 after passing through the objective lens 1060. As in the case of FIG. 12B, the opening edge 1240 of the objective lens 1060,
Light outside 1250 is cut off.

【0018】変位Xがゼロの場合、図10Bに示される
光検出器1050のトラッキングエラー信号(TE1)
をゼロにするように制御することで、光ディスクのトラ
ッキングは正確に制御される。しかし、変位Xがゼロで
ない場合、トラッキングのオフセットが生じる。
When the displacement X is zero, the tracking error signal (TE1) of the photodetector 1050 shown in FIG.
By controlling so that is zero, the tracking of the optical disk is accurately controlled. However, if the displacement X is not zero, a tracking offset occurs.

【0019】上述したように、図10Bに示される光検
出器1050のトラッキングエラー信号(TE1)は、
サブ光検出器1050A、1050Bによって検出され
る光の量の差を示す。光軸1210と対物レンズ106
0の中心軸1120との間に変位Xが存在する場合、サ
ブ光検出器1050Aおよび1050Bのそれぞれによ
って検出される光の量は、図12(d)に示される図形
ABCDの面積と図形CDEFの面積に相当する。
As described above, the tracking error signal (TE1) of the photodetector 1050 shown in FIG.
The difference in the amount of light detected by the sub-light detectors 1050A and 1050B is shown. Optical axis 1210 and objective lens 106
When there is a displacement X between the central axis 1120 and the center axis 1120, the amount of light detected by each of the sub-light detectors 1050A and 1050B is determined by the area of the figure ABCD and the area of the figure CDEF shown in FIG. It corresponds to the area.

【0020】なお、光ディスク装置1100の光検出器
1190によって検出されるTE2信号も、光ディスク
装置1100の光軸と対物レンズ1160の中心軸との
間に変位が存在する場合、同様のオフセットが生じる。
Note that the TE2 signal detected by the photodetector 1190 of the optical disk device 1100 also has the same offset when a displacement exists between the optical axis of the optical disk device 1100 and the center axis of the objective lens 1160.

【0021】上述したように、光検出器1190のトラ
ッキングエラー信号(TE2)は、サブ光検出器119
0A、1190Bによって検出される光の量の差を示
す。光ディスク装置1100の光軸と対物レンズ116
0の中心軸との間に変位Xが存在する場合、サブ光検出
器1190Aおよび1190Bによって検出される光の
量は、図12(d)に示される図形ABC’D’の面積
と図形C’D’EFの面積に相当する。光検出器119
0のトラッキングエラー信号(TE2)の場合、光検出
器1050のトラッキングエラー信号(TE1)ほどで
はないが大きな誤差が生じている。
As described above, the tracking error signal (TE2) of the photodetector 1190 is output from the sub photodetector 119.
0A and 1190B show the difference in the amount of light detected. Optical axis of optical disk device 1100 and objective lens 116
When there is a displacement X between the center X and the center axis of 0, the amount of light detected by the sub-light detectors 1190A and 1190B depends on the area of the figure ABC'D 'and the figure C' shown in FIG. It corresponds to the area of D'EF. Photodetector 119
In the case of the tracking error signal (TE2) of 0, a large error occurs although not as much as the tracking error signal (TE1) of the photodetector 1050.

【0022】図13Aは、光ディスク装置1000にお
いて、光ディスク装置1000の光軸1210と対物レ
ンズ1060の中心軸1220との間の変位Xを100
μmと仮定した場合、溝横断時(トラッキングオフ時)
のトラッキングエラー信号波形の非対称性を等高線化し
て示すグラフである。非対称性は式(H−L)/(H+
L)によって求められ、ここで、Hは、図13Bに示す
信号波形の信号出力のグランドレベルGNDより上の振
幅、Lは、図13Bに示す信号波形の信号出力のグラン
ドレベルGNDより下の振幅を意味する。
FIG. 13A shows that the displacement X between the optical axis 1210 of the optical disc apparatus 1000 and the central axis 1220 of the objective lens 1060 is 100
Assuming μm, when crossing a groove (when tracking off)
3 is a graph showing the asymmetry of the tracking error signal waveform of FIG. The asymmetry is given by the formula (HL) / (H +
L), where H is the amplitude above the ground level GND of the signal output of the signal waveform shown in FIG. 13B, and L is the amplitude below the ground level GND of the signal output of the signal waveform shown in FIG. 13B. Means

【0023】図13Aにおいて、横軸は光ディスク10
70の溝幅w、縦軸は溝深さ(=d×(光ディスク基材
1072の屈折率))を示す(図10A参照)。また、
図13Aは、対物レンズ1060のNA(開口数)=
0.60、光源1010の波長λ=0.66μm、光デ
ィスク1070の溝ピッチp=0.74μmと設定した
場合の計算結果である。溝幅w=0.30μm、溝深さ
=λ/10のポイントRでは、TE非対称性=0.52
であることが分かる。これは、上述した図12(d)に
おける図形ABCDと図形CDEFの面積差に対応す
る。すなわち、光検出器1050を用いた光ディスク装
置1000では、対物レンズ1060の中心軸1220
が光ディスク装置1000の光軸に対して径方向(X方
向)に変位を有する結果、大きなTE信号非対称性が生
じ、それにより、トラッキングの引き込みが不安定にな
る。あるいは、トラック制御時にも非常に大きなオフト
ラックが発生して隣接トラックの信号の漏れ込み(クロ
ストークの増大)による再生性能の劣化、もしくは、隣
接トラックの信号マークの一部をオーバーライトまたは
消去したりする問題も発生する。
In FIG. 13A, the horizontal axis represents the optical disk 10
The groove width w of 70 and the vertical axis indicate the groove depth (= d × (refractive index of the optical disc substrate 1072)) (see FIG. 10A). Also,
FIG. 13A shows the NA (numerical aperture) of the objective lens 1060 =
This is a calculation result when 0.60, the wavelength λ of the light source 1010 is set to 0.66 μm, and the groove pitch p of the optical disk 1070 is set to 0.74 μm. At a point R where the groove width w = 0.30 μm and the groove depth = λ / 10, TE asymmetry = 0.52
It turns out that it is. This corresponds to the area difference between the graphic ABCD and the graphic CDEF in FIG. That is, in the optical disc apparatus 1000 using the photodetector 1050, the central axis 1220 of the objective lens 1060 is used.
Has a displacement in the radial direction (X direction) with respect to the optical axis of the optical disc apparatus 1000, resulting in a large TE signal asymmetry, which makes tracking pull-in unstable. Alternatively, a very large off-track also occurs during track control, resulting in deterioration of reproduction performance due to leakage of a signal of an adjacent track (increase of crosstalk), or overwriting or erasing a part of a signal mark of an adjacent track. Problems also occur.

【0024】一方、図14は、光ディスク装置1100
の光検出器1190を使用した場合の溝横断時のTE信
号波形非対称性を同じ条件で示している。溝幅w=0.
30μm、溝深さ=λ/10のポイントRでは、TE非
対称性=0.18である。これは、上述した図12
(d)における図形ABC’D’と図形C’D’EFの
面積差に対応する。前述の光検出器1050を使用した
場合と比べると非対称性は小さいが、依然として大きな
トラッキングエラー信号の非対称性が発生し、トラッキ
ングの引き込みの不安定性またはトラッキング制御時で
の大きな制御誤差(オフトラック)の発生等、光検出器
1050を使用した場合と同様の問題が発生する。
FIG. 14 shows an optical disk device 1100
The TE signal waveform asymmetry at the time of crossing the groove when the photodetector 1190 is used is shown under the same conditions. Groove width w = 0.
At a point R of 30 μm and groove depth = λ / 10, TE asymmetry = 0.18. This corresponds to FIG.
This corresponds to the area difference between the figures ABC'D 'and C'D'EF in (d). Although the asymmetry is small as compared with the case where the above-mentioned photodetector 1050 is used, a large asymmetry of the tracking error signal still occurs, resulting in instability of tracking pull-in or a large control error (off-track) during tracking control. The same problem as that in the case where the photodetector 1050 is used occurs, such as the occurrence of a photodetector.

【0025】本発明はかかる問題点に鑑み、光ディスク
装置の光軸と光分配手段の中心軸との変位に伴うトラッ
キングエラー信号の非対称性またはトラック制御時のオ
フトラックが抑えられ、良好な再生または記録を安定し
て行える光ディスク装置を提供することを目的とする。
In view of the above problems, the present invention suppresses the asymmetry of the tracking error signal due to the displacement between the optical axis of the optical disc device and the central axis of the light distribution means or off-track during track control, thereby achieving good reproduction or reproduction. An object of the present invention is to provide an optical disk device capable of performing stable recording.

【0026】[0026]

【課題を解決するための手段】光ディスクを収容可能な
光ディスク装置は、光を出射する光源と、前記光源から
出射された前記光を前記光ディスクに集光する対物レン
ズと、前記対物レンズと一体に移動する第1の光分配手
段であって、前記第1の光分配手段は第1の領域と第2
の領域とを含み、前記光ディスクによって反射された反
射光のうち前記第1の領域または前記第2の領域を透過
した光を透過光として出力し、前記光ディスクによって
反射された反射光のうち前記第1の領域によって回折さ
れた光を第1の回折光として出力し、前記光ディスクに
よって反射された反射光のうち前記第2の領域によって
回折された光を第2の回折光として出力する、第1の光
分配手段と、前記透過光を検出し、前記検出された透過
光の変位を示すTE1信号を出力する透過光検出手段
と、前記第1の回折光と前記第2の回折光とを検出し、
前記検出された第1の回折光の量と第2の回折光の量と
の差を示すTE2信号を出力する第1の回折光検出手段
と、前記TE1信号と前記TE2信号とに基づいて、前
記光ディスクのトラッキングエラー信号を生成する制御
装置と、を備える。
An optical disk apparatus capable of storing an optical disk includes a light source for emitting light, an objective lens for condensing the light emitted from the light source on the optical disk, and an integrated lens with the objective lens. Moving first light distribution means, wherein the first light distribution means comprises a first region and a second region;
Out of the reflected light reflected by the optical disc, the light transmitted through the first area or the second area is output as transmitted light, and the reflected light reflected by the optical disc is the A first diffracted light output as light diffracted by the first area, and a light diffracted by the second area out of the reflected light reflected by the optical disc as a second diffracted light; A light distributing means, a transmitted light detecting means for detecting the transmitted light and outputting a TE1 signal indicating a displacement of the detected transmitted light, and detecting the first diffracted light and the second diffracted light And
A first diffracted light detecting unit that outputs a TE2 signal indicating a difference between the detected amount of the first diffracted light and the amount of the second diffracted light, and based on the TE1 signal and the TE2 signal, A control device for generating a tracking error signal for the optical disc.

【0027】前記透過光を前記透過光検出手段に方向付
け、前記第1の回折光と前記第2の回折光とを前記第1
の回折光検出手段に方向付ける第2の光分配手段をさら
に備えてもよい。
[0027] The transmitted light is directed to the transmitted light detecting means, and the first diffracted light and the second diffracted light are converted to the first diffracted light.
And a second light distribution means for directing the light to the diffracted light detection means.

【0028】前記透過光検出手段は、第1のサブ透過光
検出手段と、第2のサブ透過光検出手段とを含み、第1
の透過光は、前記透過光のうち前記第1のサブ透過光検
出手段によって検出された光として定義され、第2の透
過光は、前記透過光のうち前記第2のサブ透過光検出手
段によって検出された光として定義され、前記透過光の
変位は、前記第1の透過光の量と前記第2の透過光の量
との差として定義されてもよい。
The transmitted light detecting means includes a first sub transmitted light detecting means and a second sub transmitted light detecting means.
Is defined as light of the transmitted light detected by the first sub-transmitted light detection means, and second transmitted light is defined by the second sub-transmitted light detection means of the transmitted light. The displacement of the transmitted light may be defined as a detected light, and the displacement of the transmitted light may be defined as a difference between the amount of the first transmitted light and the amount of the second transmitted light.

【0029】前記第1の回折光検出手段は、前記第1の
回折光を検出する第1のサブ回折光検出手段と、前記第
2の回折光を検出する第2のサブ回折光検出手段とを含
んでもよい。
The first diffracted light detecting means includes first sub-diffraction light detecting means for detecting the first diffracted light, and second sub-diffraction light detecting means for detecting the second diffracted light. May be included.

【0030】前記制御装置は、前記トラッキングエラー
信号をTE2−k×TE1によって求めてもよい。
[0030] The control device may determine the tracking error signal by TE2-k × TE1.

【0031】前記透過光検出手段は、第3の領域と第4
の領域とを含み、前記第3の領域には前記第1のサブ透
過光検出手段が設けられており、前記第4の領域には前
記第2のサブ透過光検出手段が設けられており、前記第
3の領域と前記第4の領域との境界線は、前記光ディス
クの回転方向に平行であってもよい。
The transmitted light detecting means includes a third region and a fourth region.
Wherein the third area is provided with the first sub-transmitted light detecting means, and the fourth area is provided with the second sub-transmitted light detecting means, A boundary between the third area and the fourth area may be parallel to a rotation direction of the optical disc.

【0032】前記第1の回折光検出手段は、第5の領域
と第6の領域とを含み、前記第5の領域には前記第1の
サブ回折光検出手段が設けられており、前記第6の領域
には前記第2のサブ回折光検出手段が設けられており、
前記第5の領域と前記第6の領域との境界線は、前記光
ディスクの回転方向に平行であってもよい。
The first diffracted light detection means includes a fifth area and a sixth area, and the fifth area is provided with the first sub-diffraction light detection means. The area 6 is provided with the second sub-diffraction light detection means,
A boundary between the fifth area and the sixth area may be parallel to a rotation direction of the optical disc.

【0033】前記制御装置は、前記対物レンズの開口数
(NA)と前記光ディスクの径方向の溝ピッチ(P)と
の積(NA×P)に応じて前記kの値を更新してもよ
い。
The controller may update the value of k in accordance with the product (NA × P) of the numerical aperture (NA) of the objective lens and the radial groove pitch (P) of the optical disk. .

【0034】前記kの値は0.5×S2/S1以下であ
り、S1は前記透過光検出手段によって検出される透過
光の量を示し、S2は前記第1の回折光検出手段によっ
て検出される回折光の量を示してもよい。
The value of k is 0.5 × S2 / S1 or less, S1 indicates the amount of transmitted light detected by the transmitted light detecting means, and S2 is detected by the first diffracted light detecting means. May be indicated.

【0035】前記制御装置は、前記対物レンズの開口数
(NA)と前記光ディスクの径方向の溝ピッチ(P)の
積(NA×P)が前記光ディスクに入射する光の波長の
0.9倍以上の場合、前記kの値を0に設定してもよ
い。
The control device may determine that the product (NA × P) of the numerical aperture (NA) of the objective lens and the groove pitch (P) in the radial direction of the optical disk is 0.9 times the wavelength of light incident on the optical disk. In the above case, the value of k may be set to 0.

【0036】前記制御装置は、前記制御装置がトラッキ
ング制御をかけない状態で前記対物レンズを前記光ディ
スクの径方向に移動させた場合、TE2−k×TE1の
出力平均レベルがほぼゼロレベルとなるように前記kの
値を設定してもよい。
[0036] When the objective lens is moved in the radial direction of the optical disc without the tracking control being performed by the control device, the output average level of TE2−k × TE1 becomes substantially zero level. May be set to the value of k.

【0037】前記透過光に収差を与える収差手段をさら
に備え、前記透過光検出手段は、第3の領域と、第4の
領域と、第7の領域と、第8の領域とを含み、前記第3
の領域には第1のサブ透過光検出手段が設けられ、前記
第4の領域には第2のサブ透過光検出手段が設けられ、
前記第7の領域には第3のサブ透過光検出手段が設けら
れ、前記第8の領域には第4のサブ透過光検出手段が設
けられ、前記第3の領域と前記第4の領域との境界線は
前記光ディスクの回転方向に平行であり、前記第3の領
域と前記第8の領域との境界線は前記光ディスクの径方
向に平行であり、前記第4の領域と前記第7の領域との
境界線は前記光ディスクの径方向に平行であり、前記第
7の領域と前記第8の領域との境界線は前記光ディスク
の回転方向に平行であり、前記第3の領域は前記第7の
領域と対角するように位置し、前記第4の領域は前記第
8の領域と対角するように位置し、前記制御装置は、前
記収差を与えられた透過光のうち前記第1のサブ透過光
検出手段によって検出された透過光の量と前記第3のサ
ブ透過光検出手段とによって検出された透過光の量との
和と、前記収差を与えられた透過光のうち前記第2のサ
ブ透過光検出手段によって検出された透過光の量と前記
第4のサブ透過光検出手段によって検出された透過光の
量との和との差に基づいて前記光ディスクのフォーカス
エラー信号を求めてもよい。
The apparatus further comprises aberration means for giving an aberration to the transmitted light, wherein the transmitted light detection means includes a third area, a fourth area, a seventh area, and an eighth area, Third
Area is provided with first sub-transmitted light detection means, and in the fourth area, second sub-transmitted light detection means is provided,
The seventh area is provided with a third sub-transmitted light detecting means, and the eighth area is provided with a fourth sub-transmitted light detecting means, wherein the third area and the fourth area are provided. Is parallel to the rotation direction of the optical disk, the boundary between the third area and the eighth area is parallel to the radial direction of the optical disk, and the fourth area and the seventh area are parallel to the radial direction of the optical disk. The boundary between the region and the region is parallel to the radial direction of the optical disk, the boundary between the seventh region and the eighth region is parallel to the rotation direction of the optical disk, and the third region is the third region. 7, the fourth region is positioned diagonally to the eighth region, and the control device is configured to control the first among the aberration-transmitted lights. The amount of transmitted light detected by the sub-transmitted light detecting means and the third sub-transmitted light detecting means Sum of the amount of transmitted light detected by the second sub-transmitted light detector and the amount of transmitted light detected by the second sub-transmitted light detector of the aberration-imparted transmitted light. The focus error signal of the optical disc may be obtained based on the difference between the amount of transmitted light and the sum of the detected amounts of transmitted light.

【0038】前記第1の光分配手段は、第9の領域と第
10の領域とを含み、前記第1の光分配手段は、前記光
ディスクによって反射された反射光のうち前記第1の光
分配手段の前記第9の領域によって回折された光を第3
の回折光として出力し、前記光ディスクによって反射さ
れた反射光のうち前記第1の光分配手段の前記第10の
領域によって回折された光を第4の回折光として出力
し、前記第1の回折光検出手段は、第1のサブ回折光検
出手段と、第2のサブ回折光検出手段と、3サブ回折光
検出手段と、第4のサブ回折光検出手段と、第5のサブ
回折光検出手段と、第6のサブ回折光検出手段とを含
み、前記第1の回折光は前記第1のサブ回折光検出手段
と前記第2のサブ回折光検出手段とによって検出され、
前記第2の回折光は前記第5のサブ回折光検出手段と前
記第6のサブ回折光検出手段とによって検出され、前記
第3の回折光は前記第4のサブ回折光検出手段と前記第
5のサブ回折光検出手段とによって検出され、前記第4
の回折光は前記第2のサブ回折光検出手段と前記第3の
サブ回折光検出手段とによって検出され、前記制御装置
は、前記第1のサブ回折光検出手段と前記第3のサブ回
折光検出手段と前記第5のサブ回折光検出手段とによっ
て検出される回折光の量の和と、前記第2のサブ回折光
検出手段と前記第4のサブ回折光検出手段と前記第6の
サブ回折光検出手段とによって検出される回折光の量の
和との差に基づいて前記光ディスクのフォーカスエラー
信号を求めてもよい。
[0038] The first light distribution means includes a ninth area and a tenth area, and the first light distribution means is provided with the first light distribution part of the light reflected by the optical disk. The light diffracted by the ninth region of the means to a third
And the light diffracted by the tenth region of the first light distribution means out of the reflected light reflected by the optical disk is output as a fourth diffracted light, and the first diffraction light is output. The light detection means includes a first sub-diffraction light detection means, a second sub-diffraction light detection means, a three sub-diffraction light detection means, a fourth sub-diffraction light detection means, and a fifth sub-diffraction light detection means. Means, and sixth sub-diffraction light detection means, wherein the first diffraction light is detected by the first sub-diffraction light detection means and the second sub-diffraction light detection means,
The second diffracted light is detected by the fifth sub-diffracted light detecting means and the sixth sub-diffracted light detecting means, and the third diffracted light is detected by the fourth sub-diffracted light detecting means and the fourth sub-diffracted light detecting means. And the fourth sub-diffraction light detection means,
Is detected by the second sub-diffraction light detection means and the third sub-diffraction light detection means, and the control device controls the first sub-diffraction light detection means and the third sub-diffraction light detection means. The sum of the amounts of diffracted light detected by the detection means and the fifth sub-diffracted light detection means, the second sub-diffraction light detection means, the fourth sub-diffraction light detection means, and the sixth sub-diffraction light detection means The focus error signal of the optical disk may be obtained based on a difference from a sum of the amounts of the diffracted light detected by the diffracted light detecting means.

【0039】第2の回折光検出手段をさらに備え、前記
第1の光分配手段は、前記光ディスクによって反射され
た反射光のうち前記第1の光分配手段の前記第1の領域
によって前記第1の回折光とは別に回折された光を第5
の回折光として出力し、前記光ディスクによって反射さ
れた反射光のうち前記第1の光分配手段の前記第2の領
域によって前記第2の回折光とは別に回折された光を第
6の回折光として出力し、前記第2の回折光検出手段
は、第7のサブ回折検出手段および第8のサブ検出手段
を含み、前記制御装置は、前記第7のサブ回折検出手段
によって検出される前記第5の回折光の量と、前記第8
のサブ検出手段によって検出される前記第6の回折光の
量との差に基づいて前記光ディスクのフォーカスエラー
信号を求めてもよい。
[0039] The apparatus further comprises second diffracted light detecting means, wherein the first light distributing means is provided with the first light distributing means based on the first area of the first light distributing means of the light reflected by the optical disk. The light diffracted separately from the diffracted light
Out of the reflected light reflected by the optical disc, the light diffracted separately from the second diffracted light by the second region of the first light distribution means into a sixth diffracted light And the second diffracted light detection means includes a seventh sub-diffraction detection means and an eighth sub-detection means, and the control device is configured to output the second sub-diffraction light detected by the seventh sub-diffraction detection means. 5, the amount of the diffracted light,
The focus error signal of the optical disk may be obtained based on a difference from the amount of the sixth diffracted light detected by the sub-detecting means.

【0040】前記第1の光分配手段は、鋸波形状の断面
または鋸波形状に内接する3段以上の階段断面の構造を
有するホログラムを含み、前記第1の光分配手段は、前
記光ディスクによって反射された反射光のうち前記第1
の光分配手段の前記第1の領域によって前記第1の回折
光とは別に回折された光を第5の回折光として出力し、
前記光ディスクによって反射された反射光のうち前記第
1の光分配手段の前記第2の領域によって前記第2の回
折光とは別に回折された光を第6の回折光として出力
し、前記第1の光分配手段から出力される前記第1の回
折光の量と前記第5の回折光の量とが異なり、かつ、前
記第1の光分配手段から出力される前記第2の回折光の
量と前記第6の回折光の量とが異なってもよい。
The first light distribution means includes a hologram having a sawtooth-shaped cross-section or a structure having three or more steps cross-section inscribed in the sawtooth-shape. The first of the reflected light reflected
Outputting light diffracted separately from the first diffracted light by the first region of the light distribution means as fifth diffracted light;
Among the light reflected by the optical disc, light diffracted separately from the second diffracted light by the second region of the first light distribution means is output as sixth diffracted light, and the first And the amount of the fifth diffracted light output from the first light distributing means is different from the first diffracted light, and the amount of the second diffracted light output from the first light distributing means is different. And the amount of the sixth diffracted light may be different.

【0041】前記第1の光分配手段によって出力される
前記第1の回折光および前記第2の回折光は1次回折光
であり、前記第1の光分配手段によって出力される前記
第5の回折光および前記第6の回折光は−1次回折光で
あってもよい。
The first diffracted light and the second diffracted light outputted by the first light distribution means are first-order diffracted lights, and the fifth diffraction light outputted by the first light distribution means is provided. The light and the sixth diffracted light may be -1st-order diffracted light.

【0042】前記−1次回折光の光量がほぼゼロであっ
てもよい。
The amount of the -1st-order diffracted light may be substantially zero.

【0043】前記第1の光分配手段により出力される光
量が、前記−1次回折光、前記透過光、前記1次回折光
の順に大きくてもよい。
The amount of light output by the first light distribution means may be larger in the order of the -1st-order diffracted light, the transmitted light, and the first-order diffracted light.

【0044】前記第1の光分配手段により出力される光
量は、前記−1次回折光、前記1次回折光、前記透過光
の順に大きくてもよい。
The amount of light output by the first light distribution means may be larger in the order of the -1st order diffracted light, the 1st order diffracted light, and the transmitted light.

【0045】前記第1の光分配手段により出力される光
量は、前記1次回折光、前記−1次回折光、前記透過光
の順に大きくてもよい。
The amount of light output by the first light distribution means may be larger in the order of the first-order diffracted light, the -1st-order diffracted light, and the transmitted light.

【0046】第2の回折光検出手段をさらに備え、前記
第1の光分配手段は、第9の領域と、第10の領域とを
含み、前記光ディスクによって反射された反射光のうち
前記第1の光分配手段の前記第9の領域によって回折さ
れた光を第3の回折光として出力し、前記光ディスクに
よって反射された反射光のうち前記第1の光分配手段の
前記第10の領域によって回折された光を第4の回折光
として出力し、前記光ディスクによって反射された反射
光のうち前記第1の光分配手段の前記第1の領域によっ
て前記第1の回折光とは別に回折された光を第5の回折
光として出力し、前記光ディスクによって反射された反
射光のうち前記第1の光分配手段の前記第2の領域によ
って前記第2の回折光とは別に回折された光を第6の回
折光として出力し、前記第2の回折光検出手段は、第1
1の領域と、第12の領域と、第13の領域と、第14
の領域と、第15の領域と、第16の領域と含み、第1
1の領域には第7のサブ回折光検出手段が設けられ、第
12の領域には第8のサブ回折光検出手段が設けられ、
第13の領域には第9のサブ回折光検出手段が設けら
れ、第14の領域には第10のサブ回折光検出手段が設
けられ、第15の領域には第11のサブ回折光検出手段
が設けられ、第16の領域には第12のサブ回折光検出
手段が設けられ、前記第3の回折光は前記第7のサブ回
折光検出手段と前記第8のサブ回折光検出手段とによっ
て検出され、前記第4の回折光は前記第11のサブ回折
光検出手段と前記第12のサブ回折光検出手段とによっ
て検出され、前記第5の回折光は前記第10のサブ回折
光検出手段と前記第11のサブ回折光検出手段とによっ
て検出され、前記第6の回折光は前記第8のサブ回折光
検出手段と前記第9のサブ回折光検出手段とによって検
出され、前記制御装置は、前記第7のサブ回折光検出手
段と前記第9のサブ回折光検出手段と前記第11のサブ
回折光検出手段とによって検出される回折光の量と、前
記第8のサブ回折光検出手段と前記第10のサブ回折光
検出手段と前記第12のサブ回折光検出手段とによって
検出される回折光の量との差に基づいて前記光ディスク
のフォーカスエラー信号を求めてもよい。
[0046] The apparatus further comprises second diffracted light detecting means, wherein the first light distribution means includes a ninth area and a tenth area, and the first light distribution means includes a first light beam out of the light reflected by the optical disk. The light diffracted by the ninth region of the light distribution means is output as third diffracted light, and the light reflected by the optical disk is diffracted by the tenth region of the first light distribution means. And outputs the separated light as fourth diffracted light, of the reflected light reflected by the optical disk, the light diffracted separately from the first diffracted light by the first region of the first light distribution means. As the fifth diffracted light, and the light diffracted separately from the second diffracted light by the second area of the first light distribution means out of the reflected light reflected by the optical disc into the sixth diffracted light Output as diffracted light The second diffraction light detection means, first
Area 1, the twelfth area, the thirteenth area, and the fourteenth area.
Area, a fifteenth area, and a sixteenth area,
A first sub-diffraction light detection means is provided in the first area, an eighth sub-diffraction light detection means is provided in the twelfth area,
A ninth sub-diffraction light detecting means is provided in the thirteenth area, a tenth sub-diffraction light detecting means is provided in the fourteenth area, and an eleventh sub-diffraction light detecting means is provided in the fifteenth area. And a twelfth sub-diffraction light detecting means is provided in the sixteenth area, and the third diffracted light is separated by the seventh sub-diffraction light detecting means and the eighth sub-diffraction light detecting means. The fourth diffracted light is detected by the eleventh sub-diffracted light detecting means and the twelfth sub-diffracted light detecting means, and the fifth diffracted light is detected by the tenth sub-diffracted light detecting means. And the eleventh sub-diffraction light detection means, the sixth diffraction light is detected by the eighth sub-diffraction light detection means and the ninth sub-diffraction light detection means, and the control device , The seventh sub-diffraction light detecting means and the ninth sub-diffraction light detecting means. The amount of diffracted light detected by the folded light detecting means and the eleventh sub-diffracted light detecting means, the eighth sub-diffracted light detecting means, the tenth sub-diffracted light detecting means and the twelfth sub-diffraction light The focus error signal of the optical disk may be obtained based on a difference between the amount of the diffracted light detected by the light detecting unit and the amount of the diffracted light.

【0047】第2の回折光検出手段をさらに備え、前記
第1の光分配手段は、第9の領域と、第10の領域とを
含み、前記光ディスクによって反射された反射光のうち
前記第1の光分配手段の前記第9の領域によって回折さ
れた光を第3の回折光として出力し、前記光ディスクに
よって反射された反射光のうち前記第1の光分配手段の
前記第10の領域によって回折された光を第4の回折光
として出力し、前記光ディスクによって反射された反射
光のうち前記第1の光分配手段の前記第1の領域によっ
て前記第1の回折光とは別に回折された光を第5の回折
光として出力し、前記光ディスクによって反射された反
射光のうち前記第1の光分配手段の前記第2の領域によ
って前記第2の回折光とは別に回折された光を第6の回
折光として出力し、前記第2の回折光検出手段は、第1
1の領域と、第12の領域と、第13の領域と、第14
の領域と、第15の領域と、第16の領域と含み、第1
1の領域には第7のサブ回折光検出手段が設けられ、第
12の領域には第8のサブ回折光検出手段が設けられ、
第13の領域には第9のサブ回折光検出手段が設けら
れ、第14の領域には第10のサブ回折光検出手段が設
けられ、第15の領域には第11のサブ回折光検出手段
が設けられ、第16の領域には第12のサブ回折光検出
手段が設けられ、前記第3の回折光は前記第7のサブ回
折光検出手段と前記第8のサブ回折光検出手段とによっ
て検出され、前記第4の回折光は前記第8のサブ回折光
検出手段と前記第9のサブ回折光検出手段とによって検
出され、前記第5の回折光は前記第10のサブ回折光検
出手段と前記第11のサブ回折光検出手段とによって検
出され、前記第6の回折光は前記第11のサブ回折光検
出手段と前記第12のサブ回折光検出手段とによって検
出され、前記制御装置は、前記第7のサブ回折光検出手
段と前記第9のサブ回折光検出手段と前記第11のサブ
回折光検出手段とによって検出される回折光の量と、前
記第8のサブ回折光検出手段と前記第10のサブ回折光
検出手段と前記第12のサブ回折光検出手段とによって
検出される回折光の量との差に基づいて前記光ディスク
のフォーカスエラー信号を求めてもよい。
[0047] The apparatus further comprises second diffracted light detection means, wherein the first light distribution means includes a ninth area and a tenth area, and the first light distribution means includes a first light distribution section and a first light distribution section. The light diffracted by the ninth region of the light distribution means is output as third diffracted light, and the light reflected by the optical disk is diffracted by the tenth region of the first light distribution means. And outputs the separated light as fourth diffracted light, of the reflected light reflected by the optical disk, the light diffracted separately from the first diffracted light by the first region of the first light distribution means. As the fifth diffracted light, and the light diffracted separately from the second diffracted light by the second area of the first light distribution means out of the reflected light reflected by the optical disc into the sixth diffracted light Output as diffracted light The second diffraction light detection means, first
Area 1, the twelfth area, the thirteenth area, and the fourteenth area.
Area, a fifteenth area, and a sixteenth area,
A first sub-diffraction light detection means is provided in the first area, an eighth sub-diffraction light detection means is provided in the twelfth area,
A ninth sub-diffraction light detecting means is provided in the thirteenth area, a tenth sub-diffraction light detecting means is provided in the fourteenth area, and an eleventh sub-diffraction light detecting means is provided in the fifteenth area. And a twelfth sub-diffraction light detecting means is provided in the sixteenth area, and the third diffracted light is separated by the seventh sub-diffraction light detecting means and the eighth sub-diffraction light detecting means. The fourth diffracted light is detected by the eighth sub-diffracted light detecting means and the ninth sub-diffracted light detecting means, and the fifth diffracted light is detected by the tenth sub-diffracted light detecting means. And the eleventh sub-diffracted light detecting means, the sixth diffracted light is detected by the eleventh sub-diffracted light detecting means and the twelfth sub-diffracted light detecting means, and the control device , The seventh sub-diffraction light detecting means and the ninth sub-diffraction light detecting means. The amount of diffracted light detected by the folded light detecting means and the eleventh sub-diffracted light detecting means, the eighth sub-diffracted light detecting means, the tenth sub-diffracted light detecting means and the twelfth sub-diffraction light The focus error signal of the optical disk may be obtained based on a difference between the amount of the diffracted light detected by the light detecting unit and the amount of the diffracted light.

【0048】上記の様な構成により、対物レンズの変位
に対する信号TE1と信号TE2の間の特性差を利用す
る。例えば、演算値TE2−k×TE1をトラッキング
エラー信号とすることで対物レンズの変位に伴うTE信
号の溝横断時の非対称性が抑えられ、トラック制御時の
オフトラックもなくすことができる。また、第2の光分
配手段に鋸波形状の断面または鋸波形状に内接する3段
以上の階段断面の構造を有するホログラムを採用するこ
とで、再生信号に於けるS/Nも高く維持できる。
With the above configuration, the characteristic difference between the signal TE1 and the signal TE2 with respect to the displacement of the objective lens is used. For example, by using the calculated value TE2−k × TE1 as the tracking error signal, the asymmetry of the TE signal at the time of crossing the groove due to the displacement of the objective lens can be suppressed, and the off-track at the time of track control can be eliminated. Further, by using a hologram having a sawtooth-shaped cross section or a structure having three or more steps cross-section inscribed in the sawtooth shape for the second light distribution means, the S / N in the reproduced signal can be kept high. .

【0049】[0049]

【発明の実施の形態】(実施の形態1)以下、本発明の
実施の形態1を図1A〜1C、図2、図3、及び図13
A、13B、図14に基づいて説明する。
(Embodiment 1) Hereinafter, Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to FIGS. 1A to 1C, FIGS. 2, 3 and 13.
A, 13B and FIG.

【0050】図1Aは、本発明の実施の形態1における
光ディスク装置100を示す。光源110から出射され
たレーザー光が光学系115を介して光ディスク170
に収束される。光ディスク170によって反射された光
は光検出器200によって検出される。光検出器200
によって検出された結果に基づいて、制御装置185
は、光源110、光学系115、光ディスク170のう
ちの任意のものを制御する。光学系115は、例えば、
スプリット面125を有する偏光ビームスプリッター1
20、コリメートレンズ1030、1/4波長板14
2、反射ミラー140、偏光ホログラム素子145、対
物レンズ160を含む。
FIG. 1A shows an optical disk device 100 according to Embodiment 1 of the present invention. The laser light emitted from the light source 110 is transmitted to the optical disk 170 via the optical system 115.
Converges. The light reflected by the optical disk 170 is detected by the photodetector 200. Photodetector 200
Control device 185 based on the results detected by
Controls an arbitrary one of the light source 110, the optical system 115, and the optical disk 170. The optical system 115 is, for example,
Polarizing beam splitter 1 having split surface 125
20, collimating lens 1030, quarter wave plate 14
2, including the reflection mirror 140, the polarization hologram element 145, and the objective lens 160.

【0051】以下に、光ディスク装置100のより具体
的な動作を説明する。図1Aにおいて、光源110を出
射するレーザー光は偏光ビームスプリッター120に入
射し、偏光ビームスプリッター120のスプリット面1
25を透過してコリメートレンズ130により平行光に
変換される。光源110は例えば半導体レーザーであ
る。平行光は、反射ミラー140によって反射され、偏
光ホログラム素子145に入射する。
Hereinafter, a more specific operation of the optical disk device 100 will be described. 1A, a laser beam emitted from a light source 110 enters a polarizing beam splitter 120, and a split surface 1 of the polarizing beam splitter 120 is split.
The light passes through 25 and is converted by the collimating lens 130 into parallel light. The light source 110 is, for example, a semiconductor laser. The parallel light is reflected by the reflection mirror 140 and enters the polarization hologram element 145.

【0052】偏光ホログラム素子145は、対物レンズ
160と一緒にレンズホルダー165に一体で組み込ま
れている。偏光ホログラム素子145は1/4波長膜1
42を有する。偏光ホログラム素子145は、偏光ホロ
グラム面150を有する。偏光ホログラム素子145へ
の入射光(P波)は偏光ホログラム面150を透過し、
1/4波長膜142により直線偏光(P波)から円偏光
に変換される。その後、対物レンズ160により集光さ
れて光ディスク170の信号面174上に収束される。
信号面174は、光ディスク170の基材172と保護
膜176との間に設けられる。信号面174には光ディ
スク170の回転方向に沿って深さd、ピッチp、幅w
の溝またはピットが形成されている。信号面174によ
って反射された反射光は、対物レンズ160を経て偏光
ホログラム素子145の1/4波長膜142により直線
偏光(S波)に変換され、偏光ホログラム面150で回
折または透過する。なお、本明細書において、0次の回
折は透過を意味する。その後、反射ミラー140によっ
て反射され、コリメートレンズ130により収束性の光
となり、偏光ビームスプリッター120のスプリット面
125によって反射され、光180として光検出器20
0上に集光される。光検出器200で検出された信号に
基づいて、制御装置185はレーザ光源110、光学系
115、光ディスク170のうちの任意のものを制御す
る。光検出器200では、例えば、光ディスク170の
フォーカスエラー信号またはトラッキングエラー信号が
検出される。
The polarization hologram element 145 is integrated with the lens holder 165 together with the objective lens 160. The polarization hologram element 145 is a quarter-wave film 1
42. The polarization hologram element 145 has a polarization hologram surface 150. The light (P wave) incident on the polarization hologram element 145 passes through the polarization hologram surface 150,
The 偏光 wavelength film 142 converts the linearly polarized light (P wave) into circularly polarized light. Thereafter, the light is condensed by the objective lens 160 and converged on the signal surface 174 of the optical disk 170.
The signal surface 174 is provided between the base 172 of the optical disc 170 and the protective film 176. The signal surface 174 has a depth d, a pitch p, and a width w along the rotation direction of the optical disc 170.
Grooves or pits are formed. The reflected light reflected by the signal surface 174 is converted into linearly polarized light (S wave) by the quarter wavelength film 142 of the polarization hologram element 145 via the objective lens 160, and is diffracted or transmitted by the polarization hologram surface 150. Note that, in this specification, the zero-order diffraction means transmission. Thereafter, the light is reflected by the reflecting mirror 140, becomes convergent light by the collimating lens 130, is reflected by the split surface 125 of the polarizing beam splitter 120, and is converted into light 180 by the photodetector 20.
It is focused on zero. The controller 185 controls any one of the laser light source 110, the optical system 115, and the optical disk 170 based on the signal detected by the photodetector 200. The photodetector 200 detects, for example, a focus error signal or a tracking error signal of the optical disc 170.

【0053】本明細書において、ホログラム素子は第1
の光分配手段として機能する。また、偏光ビームスプリ
ッターは、第2の光分配手段として機能する。
In this specification, the hologram element is the first hologram element.
Function as light distribution means. The polarization beam splitter functions as a second light distribution unit.

【0054】図1Bは、偏光ホログラム面150の構成
を示す。偏光ホログラム面150は光ディスク170の
回転方向に平行な分割線152を境界として、ホログラ
ムパターンの異なる2つの領域150a、150bに分
割される。光ディスク170によって反射された光束1
51は分割線152によりほぼ等分割される。偏光ホロ
グラム面150を介した透過光(0次光)、および、回
折光(例えば、±1次回折光)は反射ミラー140によ
って反射された後、コリメートレンズ130によって収
束性の光となる。その後、偏光ビームスプリッター12
0のスプリット面125によって反射され、光180と
して光検出器200上に集光される。
FIG. 1B shows a configuration of the polarization hologram surface 150. The polarization hologram surface 150 is divided into two regions 150a and 150b having different hologram patterns with a division line 152 parallel to the rotation direction of the optical disk 170 as a boundary. Light flux 1 reflected by optical disc 170
51 is almost equally divided by the dividing line 152. The transmitted light (0th-order light) and the diffracted light (for example, ± 1st-order diffracted light) passing through the polarization hologram surface 150 are reflected by the reflection mirror 140 and then converged by the collimator lens 130. Then, the polarizing beam splitter 12
The light is reflected by the zero split surface 125 and collected as light 180 on the photodetector 200.

【0055】図1Cは、光検出器200の構成を示す。
光検出器200は、透過光を検出するための透過光検出
器210と、回折光を検出するための第1の回折光検出
器220および第2の回折光検出器230を備える。透
過光検出器210は、光検出器200の中心領域に設け
られる。第1の回折光検出器220および第2の回折光
検出器230は、透過光検出器210を挟むようにそれ
ぞれ外縁領域に設けられる。
FIG. 1C shows the structure of the photodetector 200.
The light detector 200 includes a transmitted light detector 210 for detecting transmitted light, a first diffracted light detector 220 and a second diffracted light detector 230 for detecting diffracted light. The transmitted light detector 210 is provided in a central region of the light detector 200. The first diffracted light detector 220 and the second diffracted light detector 230 are respectively provided in outer peripheral regions so as to sandwich the transmitted light detector 210.

【0056】透過光検出器210は、4つの領域210
C1、210C2、210C3、210C4を含む。透
過光検出器210は、4つのサブ透過光検出器210A
1、210A2、210B1、210B2を含む。領域
210C1には、サブ透過光検出器210A1が設けら
れる。領域210C2には、サブ透過光検出器210A
2が設けられる。領域210C3には、サブ透過光検出
器210B1が設けられる。領域210C4には、サブ
透過光検出器210B2が設けられる。領域210C
1、210C2、210C3、210C4は、直交する
分割線211及び212で分離されている。分割線21
1の方向は光ディスク170の回転方向に平行である。
The transmitted light detector 210 has four regions 210
C1, 210C2, 210C3, 210C4. The transmitted light detector 210 has four sub-transmitted light detectors 210A.
1, 210A2, 210B1, and 210B2. The sub-transmitted light detector 210A1 is provided in the area 210C1. The sub-transmission light detector 210A is provided in the region 210C2.
2 are provided. The sub-transmission light detector 210B1 is provided in the area 210C3. The sub-transmission light detector 210B2 is provided in the area 210C4. Area 210C
1, 210C2, 210C3, 210C4 are separated by orthogonal dividing lines 211 and 212. Dividing line 21
The direction 1 is parallel to the rotation direction of the optical disk 170.

【0057】第1の外縁領域は、領域220C1と領域
220C2とを含む。第1の外縁領域には第1の回折光
検出器220が設けられる。第1の回折光検出器220
は、2つのサブ回折光検出器220A、220Bを含
む。領域220C1には、サブ回折光検出器220Aが
設けられる。領域220C2には、サブ回折光検出器2
20Bが設けられる。
The first outer edge area includes an area 220C1 and an area 220C2. A first diffracted light detector 220 is provided in the first outer edge area. First diffracted light detector 220
Includes two sub-diffraction light detectors 220A and 220B. The sub-diffraction light detector 220A is provided in the area 220C1. The region 220C2 includes the sub-diffraction light detector 2
20B are provided.

【0058】第2の外縁領域は、領域230C1と領域
230C2とを含む。第2の外縁領域には第2の回折光
検出器230が設けられる。第2の回折光検出器230
は、2つのサブ回折光検出器230A、230Bを含
む。領域230C1には、サブ回折光検出器230Aが
設けられる。領域230C2には、サブ回折光検出器2
30Bが設けられる。
The second outer edge area includes an area 230C1 and an area 230C2. A second diffracted light detector 230 is provided in the second outer edge area. Second diffracted light detector 230
Includes two sub-diffraction light detectors 230A and 230B. The sub-diffraction light detector 230A is provided in the region 230C1. The region 230C2 includes the sub-diffraction light detector 2
30B is provided.

【0059】偏光ホログラム面150の領域150aに
よって回折される−1次回折光は光検出器230Aの奥
側で焦点をなして光検出器230A上にスポット183
aとして集光され、偏光ホログラム面150の領域15
0aによって回折される1次回折光は光検出器220A
上にスポット182aとして集光される。
The -1st-order diffracted light diffracted by the region 150a of the polarization hologram surface 150 forms a focal point on the far side of the photodetector 230A and a spot 183 on the photodetector 230A.
a, and the region 15 of the polarization hologram surface 150
0a is diffracted by the first order diffracted light
It is converged on the spot as a spot 182a.

【0060】偏光ホログラム面150の領域150bに
よって回折される1次回折光は光検出器220B上にス
ポット182bとして集光され、偏光ホログラム面15
0の領域150bによって回折される−1次回折光は光
検出器230Bの手前で焦点をなして光検出器230B
上にスポット183bとして集光される。さらに偏光ホ
ログラム面150を透過する光(0次光すなわち透過
光)は透過光検出器210の分割線211及び212の
ほぼ交点位置にスポット181として集光される。ただ
し、焦点位置は透過光検出器210の検出面の奥側に位
置する。
The first-order diffracted light diffracted by the region 150b of the polarization hologram surface 150 is collected as a spot 182b on the photodetector 220B,
The -1st-order diffracted light diffracted by the 0 region 150b forms a focal point before the photodetector 230B and
The light is focused on the spot as a spot 183b. Further, light transmitted through the polarization hologram surface 150 (zero-order light, that is, transmitted light) is condensed as a spot 181 substantially at the intersection of the dividing lines 211 and 212 of the transmitted light detector 210. However, the focal position is located on the far side of the detection surface of the transmitted light detector 210.

【0061】第1の回折光検出器220のサブ回折光検
出器220A、220Bのそれぞれによって検出される
光の量は、減算器243により差分され第2のトラッキ
ングエラー信号243s(TE2信号)が得られる。ま
た、サブ回折光検出器220A、220Bのそれぞれに
よって検出される光の量は、加算器244により加算さ
れ再生信号244sを得ることができる。TE2信号
は、図11Cに示される光検出器1190によって検出
されたTE2信号に相当する。
The amount of light detected by each of the sub-diffraction light detectors 220A and 220B of the first diffraction light detector 220 is subtracted by a subtractor 243 to obtain a second tracking error signal 243s (TE2 signal). Can be Further, the amounts of light detected by the respective sub-diffraction light detectors 220A and 220B are added by an adder 244 to obtain a reproduced signal 244s. The TE2 signal corresponds to the TE2 signal detected by the light detector 1190 shown in FIG. 11C.

【0062】演算器241は、サブ透過光検出器210
A1,210A2,210B1,210B2によって検
出された結果から、210A1+210A2−210B
1−210B2を出力する。演算器241の出力は、第
1のトラッキングエラー信号241s(TE1信号)で
ある。また、演算器242は、サブ透過光検出器210
A1,210A2,210B1,210B2によって検
出された結果から、210A1+210B2−210A
2−210B1を出力する。演算器242の出力は、第
3のトラッキングエラー信号242s(TE3信号)で
ある。一般に、TE3信号は位相差TE信号と呼ばれ
る。TE1信号は図10Bで示された光検出器1050
によって検出されたTE1信号に相当する。
The arithmetic unit 241 is provided with the sub-transmitted light detector 210
From the results detected by A1, 210A2, 210B1, 210B2, 210A1 + 210A2-210B
Output 1-210B2. The output of the calculator 241 is a first tracking error signal 241s (TE1 signal). The arithmetic unit 242 includes the sub-transmitted light detector 210
From the results detected by A1, 210A2, 210B1, 210B2, 210A1 + 210B2-210A
2-210B1 is output. The output of the calculator 242 is a third tracking error signal 242s (TE3 signal). Generally, the TE3 signal is called a phase difference TE signal. The TE1 signal is applied to the photodetector 1050 shown in FIG.
Corresponding to the detected TE1 signal.

【0063】このように、実質的に矩形状な透過光検出
器210を実質的に矩形状なサブ透過光検出器210A
1,210A2,210B1,210B2に分離して配
置した場合、光ディスク170の回転方向と平行な方向
に沿って隣接する2つのサブ透過光検出器(210A
1、210A2)によって検出される光の量と、他の2
つのサブ透過光検出器(210B1、210B2)によ
って検出される光の量との差がTE1信号である。ま
た、対角して配置される2つのサブ透過光検出器(21
0A1、210B2)によって検出される光の量と、他
の2つのサブ透過光検出器(210A2、210B1)
によって検出される光の量との差がTE3信号である。
As described above, the substantially rectangular transmission light detector 210 is replaced with the substantially rectangular sub transmission light detector 210A.
1, 210A2, 210B1, and 210B2, two sub-transmitted light detectors (210A) adjacent to each other along a direction parallel to the rotation direction of the optical disc 170 are provided.
1, 210A2) and the amount of light detected by the other 2
The difference from the amount of light detected by the two sub-transmitted light detectors (210B1, 210B2) is the TE1 signal. Also, two sub-transmitted light detectors (21
0A1, 210B2) and the amount of light detected by the other two sub-transmitted light detectors (210A2, 210B1).
Is the TE3 signal.

【0064】さらに、サブ回折光検出器230A,23
0Bによって検出された光の量は、減算器245により
差分され、フォーカスエラー信号245s(FE信号)
を得ることができる。
Further, the sub-diffraction light detectors 230A, 23
The amount of light detected by 0B is subtracted by a subtractor 245, and a focus error signal 245s (FE signal)
Can be obtained.

【0065】制御装置185は、TE1信号およびTE
2信号に基づいて、光ディスク170のトラッキングエ
ラー信号を生成する。
The control device 185 controls the TE1 signal and the TE1 signal.
A tracking error signal for the optical disk 170 is generated based on the two signals.

【0066】この実施の形態1において3種類のトラッ
キングエラー信号(TE1,TE2,TE3信号)を得
ることができるが、これらの信号はディスクの種類に応
じて使い分けられ得る。例えば、ピットの深さが1/4
波長程度の光ディスク(例えば、DVD−ROMディス
ク)の場合、制御装置185は、ピット信号(エンボス
信号)に対するトラッキングエラー信号としてTE3信
号を使用してもよい。
In the first embodiment, three types of tracking error signals (TE1, TE2, TE3 signals) can be obtained, and these signals can be used properly according to the type of the disk. For example, if the pit depth is 1/4
In the case of an optical disk (for example, a DVD-ROM disk) having a wavelength of about the wavelength, the control device 185 may use the TE3 signal as a tracking error signal for a pit signal (emboss signal).

【0067】一方、光ディスクがDVD−RAMまたは
DVD−Rディスク等の案内溝のあるディスクである場
合、制御装置185は、適切な定数kを用いた演算値T
E2−k×TE1の結果をトラッキングエラー信号とし
て使用してもよい。この場合、制御装置185は光ディ
スクの種類によりkの値を更新してもよい。
On the other hand, when the optical disk is a disk having a guide groove, such as a DVD-RAM or DVD-R disk, the control device 185 determines the calculated value T using an appropriate constant k.
The result of E2-k × TE1 may be used as a tracking error signal. In this case, the control device 185 may update the value of k according to the type of the optical disc.

【0068】例えば、光ディスク170の溝ピッチpが
0.74μmの場合、対物レンズ160が径方向(図1
Aの矢印Kの方向)に変位することで、TE1信号は図
10Bの光検出器1050で説明した様に図13AのT
E1信号非対称性を示し、TE2信号は図11Cの光検
出器1190で説明した様に図14のTE2信号非対称
性を示す。従って、レンズシフト量をX、真のトラッキ
ングエラー信号(レンズシフトの影響がないトラッキン
グエラー信号)をTE、透過光検出器210の全受光量
をS1、第1の回折光検出器220の全受光量をS2と
して次式が成り立つ。
For example, when the groove pitch p of the optical disk 170 is 0.74 μm, the objective lens 160 moves in the radial direction (FIG. 1).
A (in the direction of arrow K in FIG. 13A), the TE1 signal is converted to the T1 signal in FIG. 13A as described for the photodetector 1050 in FIG. 10B.
The E1 signal asymmetry and the TE2 signal exhibit the TE2 signal asymmetry of FIG. 14 as described for the photodetector 1190 of FIG. 11C. Therefore, the lens shift amount is X, the true tracking error signal (a tracking error signal not affected by the lens shift) is TE, the total light reception amount of the transmitted light detector 210 is S1, and the total light reception amount of the first diffracted light detector 220 is The following equation is satisfied when the quantity is S2.

【0069】 TE1/S1=TE+x ・・(式1) TE2/S2=TE+m×x ・・(式2) ただし、係数mは溝幅w=0.30μm、溝深さ=λ/
10のポイントRではm=0.18/0.52=1/
2.89であり、溝幅w=0.34μm、溝深さ=λ/
12のポイントR’ではm=0.22/0.62=1/
2.82であり、R以外のポイントでもほぼm=1/
2.89近傍の値に収まる(図13A,図14参照)。
TE1 / S1 = TE + x (Equation 1) TE2 / S2 = TE + m × x (Equation 2) where the coefficient m is groove width w = 0.30 μm, groove depth = λ /
At a point R of 10, m = 0.18 / 0.52 = 1 /
2.89, groove width w = 0.34 μm, groove depth = λ /
At a point R ′ of 12, m = 0.22 / 0.62 = 1 /
2.82, and at points other than R, almost m = 1 /
It falls within a value near 2.89 (see FIGS. 13A and 14).

【0070】(式1)、(式2)より次式が成立する。The following equation is established from (Equation 1) and (Equation 2).

【0071】 TE=(TE2−k×TE1)/S2(1−m) ・・(式3) ただし、係数kは次式で与えられる。TE = (TE2−k × TE1) / S2 (1-m) (Equation 3) where the coefficient k is given by the following equation.

【0072】k=m×S2/S1 ・・(式4) 従って、光ディスクの溝ピッチpが0.74μmの場合
には、(式4)を満たす係数値kを用いた演算値TE2
−k×TE1の結果をトラッキングエラー信号として使
用することでレンズシフトの影響がないトラッキングエ
ラー信号が得られ、対物レンズ160の変位に伴うトラ
ッキングエラー信号の非対称性が抑えられる。
K = m × S2 / S1 (Equation 4) Therefore, when the groove pitch p of the optical disk is 0.74 μm, the calculated value TE2 using the coefficient value k satisfying (Equation 4)
By using the result of −k × TE1 as the tracking error signal, a tracking error signal free from the influence of the lens shift can be obtained, and the asymmetry of the tracking error signal due to the displacement of the objective lens 160 can be suppressed.

【0073】図2には、光ディスクの溝ピッチpが1.
23μmの場合の(他の条件は図13Aの場合と全て同
じ)、実施の形態1における光ディスク装置100での
溝横断時のTE2信号波形の非対称性の等高線図を示す
グラフである。溝幅w=0.615μm、溝深さ=λ/
12のポイントSでは、TE非対称性=0.00であ
り、ポイントSから溝深さ、溝幅が多少ずれても、TE
非対称性はほとんどゼロである。これは溝ピッチp=
1.23μmの場合、図12(c)、(d)での光強度
分布1233、1234がほぼ一様の分布となり、図形
ABC’D’と図形C’D’EFの面積がほぼ等しくな
るためである。
FIG. 2 shows that the groove pitch p of the optical disk is 1.
FIG. 14B is a graph showing a contour map of the asymmetry of the TE2 signal waveform at the time of traversing the groove in the optical disc device 100 according to the first embodiment in the case of 23 μm (all other conditions are the same as those in FIG. 13A). Groove width w = 0.615 μm, groove depth = λ /
At the point S of No. 12, TE asymmetry = 0.00. Even if the groove depth and the groove width are slightly shifted from the point S, TE
The asymmetry is almost zero. This is the groove pitch p =
In the case of 1.23 μm, the light intensity distributions 1233 and 1234 in FIGS. 12C and 12D are substantially uniform, and the areas of the figures ABC′D ′ and C′D′EF are almost equal. It is.

【0074】従って、光ディスクの溝ピッチpが1.2
3μmの場合には、制御装置185がk=0と設定する
と演算TE信号(TE2−k×TE1)はTE2と等し
くなり、レンズシフトの影響がないTE信号が得られ、
対物レンズの変位に伴うTE信号の非対称性が抑えられ
る。
Therefore, the groove pitch p of the optical disk is 1.2
In the case of 3 μm, when the control device 185 sets k = 0, the calculated TE signal (TE2−k × TE1) becomes equal to TE2, and a TE signal that is not affected by the lens shift is obtained.
The asymmetry of the TE signal accompanying the displacement of the objective lens is suppressed.

【0075】従って、実施の形態1ではDVD−RAM
等の溝ピッチの大きい光ディスク170では、制御装置
185はk=0に設定する。また、DVD−RやDVD
−RW等の溝ピッチの小さい光ディスク170では、制
御装置185は、k=m×S2/S1に設定する。mの
値は、例えば1/2〜1/5の範囲のある一定値であ
り、最適値はディスクの溝ピッチや対物レンズの開口数
(NA)、及び対物レンズに入射する光のリム強度比
(ピーク強度に対するレンズ周縁部での光強度の比)等
により決めてもよい。制御装置185による定数kの更
新は、対物レンズの開口数(NA)と光ディスクの径方
向の溝ピッチ(P)(またはピットピッチ(P))の積
(NA×P)がある値(例えば波長の0.9倍)より大
きいか否かで決定してもよい。
Therefore, in the first embodiment, the DVD-RAM
In the optical disk 170 having a large groove pitch, such as the above, the control device 185 sets k = 0. DVD-R and DVD
In the optical disk 170 having a small groove pitch such as -RW, the control device 185 sets k = m × S2 / S1. The value of m is a certain constant value in the range of, for example, 1/2 to 1/5, and the optimum value is the groove pitch of the disc, the numerical aperture (NA) of the objective lens, and the rim intensity ratio of light incident on the objective lens. (The ratio of the light intensity at the periphery of the lens to the peak intensity) may be determined. The update of the constant k by the control device 185 is performed by updating the numerical value (NA × P) of the product (NA × P) of the numerical aperture (NA) of the objective lens and the groove pitch (P) (or pit pitch (P)) in the radial direction of the optical disk. 0.9 times).

【0076】この切り替えにより、異なるディスクに対
しても、対物レンズの変位に伴うTE信号の非対称性が
抑えられ、トラック制御時のオフトラックもなくすこと
ができる。なお、定数kの更新は上記実施の形態の様に
1回だけでなく、光ディスクのピッチに応じて複数回行
っても良い。さらに、定数kの最適値を学習によって決
定することもできる。この時、制御装置185がトラッ
キング制御をかけない状態で対物レンズ160を光ディ
スク170の径方向Xに移動させた時の演算信号TE2
−k×TE1の出力平均レベル(演算信号の最大値と最
小値の平均値)がほぼゼロレベル(グランドレベル)と
なる様に定数kを設定すればよい。
By this switching, the asymmetry of the TE signal due to the displacement of the objective lens is suppressed for different disks, and off-track during track control can be eliminated. The updating of the constant k may be performed not only once as in the above embodiment, but also plural times according to the pitch of the optical disk. Further, the optimum value of the constant k can be determined by learning. At this time, the arithmetic signal TE2 when the objective lens 160 is moved in the radial direction X of the optical disk 170 without the control device 185 performing tracking control.
The constant k may be set so that the output average level of −k × TE1 (the average value of the maximum value and the minimum value of the operation signal) becomes substantially zero level (ground level).

【0077】図3は本発明の実施の形態1における偏光
ホログラム素子145の回折光量比を示している。偏光
ホログラム素子145の偏光ホログラム面150は往路
光(P波)に対してはほとんど回折作用はないが、復路
光(S波)に対しては回折作用があり、偏光ホログラム
面150を透過した直後の波面の位相分布19を図3内
に並記している。位相分布19は鋸波形に内接する階段
形状をなし、一周期に対する1段目19a、2段目19
b、3段目19cの幅の比はそれぞれ37%、25%、
38%であり、1段目と2段目、2段目と3段目の間の
位相差はそれぞれ75度である。
FIG. 3 shows a diffraction light amount ratio of the polarization hologram element 145 according to Embodiment 1 of the present invention. The polarization hologram surface 150 of the polarization hologram element 145 has almost no diffractive effect on the outward light (P wave), but has a diffractive effect on the backward light (S wave), and immediately after passing through the polarization hologram surface 150. 3 is also shown in FIG. The phase distribution 19 has a stepped shape inscribed in the sawtooth waveform, and the first stage 19 a and the second stage 19 for one cycle.
b, the width ratio of the third stage 19c is 37%, 25%, respectively.
38%, and the phase difference between the first and second stages and the second and third stages is 75 degrees, respectively.

【0078】位相分布を図のような周期的な階段形状1
9にすることにより回折光が発生し、全透過・回折光量
を100%とすると、0次光(透過光)の光量は20
%、1次回折光の光量は47.6%、−1次回折光の光
量は12.4%となる。残りはさらに高次の項に割り当
てられる。光ディスク装置100では、サブ回折光検出
器220A、220Bによって検出された1次回折光1
82a,182bを用いて再生信号を検出する。したが
って、図3で示したように1次回折光の割合を増加させ
ると、S/Nの高い信号を得ることができる。一般にS
/Nは検出指数=検出光量/√(光を検出する検出器の
数)に比例し、実施の形態1の場合、検出指数=47.
6/√2=34である。また、ピット信号(エンボス信
号)に対する位相差TE信号(TE3信号)は一般に高
周波の信号処理が必要であるが、0次光の光量割り当て
を20%程度取れているので、S/Nの観点では問題な
い。
The phase distribution has a periodic staircase shape 1 as shown in the figure.
9, diffracted light is generated, and if the total transmitted and diffracted light amount is 100%, the light amount of the zero-order light (transmitted light) is 20.
%, The light quantity of the first-order diffracted light is 47.6%, and the light quantity of the -1st-order diffracted light is 12.4%. The rest are assigned to higher order terms. In the optical disc device 100, the first-order diffracted light 1 detected by the sub-diffraction light detectors 220A and 220B
A reproduced signal is detected using the signals 82a and 182b. Therefore, when the ratio of the first-order diffracted light is increased as shown in FIG. 3, a signal having a high S / N can be obtained. Generally S
/ N is proportional to detection index = detected light quantity / √ (the number of detectors that detect light), and in the case of the first embodiment, detection index = 47.
6 / √2 = 34. The phase difference TE signal (TE3 signal) with respect to the pit signal (emboss signal) generally requires high-frequency signal processing. However, since about 20% of the light intensity of the zero-order light is allocated, from the viewpoint of S / N. no problem.

【0079】また、本実施形態による光ディスク装置1
00では、従来の光ディスク装置1100と異なり、光
源110と検出器200とを別々に配置しているため、
トラッキングエラー信号を求めるために透過光を使用す
ることができる。
The optical disk device 1 according to the present embodiment
In 00, unlike the conventional optical disc apparatus 1100, since the light source 110 and the detector 200 are separately arranged,
The transmitted light can be used to determine a tracking error signal.

【0080】また、本実施形態による光ディスク装置1
00では、偏光ビームスプリッター120を設ける構成
を示したが、当業者であれば、偏光ビームスプリッター
120を設けない任意の構成を考えることができる。
The optical disk device 1 according to the present embodiment
In FIG. 00, the configuration in which the polarization beam splitter 120 is provided is shown. However, those skilled in the art can consider any configuration in which the polarization beam splitter 120 is not provided.

【0081】さらに、本実施形態による光ディスク装置
100では、光源110から出射された光が光ディスク
170によって反射された後に光の回折を行なうため、
光検出器200に効率的に光を入射することができる。
Further, in the optical disk device 100 according to the present embodiment, the light emitted from the light source 110 is diffracted after being reflected by the optical disk 170.
Light can be efficiently incident on the photodetector 200.

【0082】なお、上記説明では、回折光として±1次
回折光を使用する場合を説明したが、これに限定される
ものではなく、より高次(例えば、±2次、3次)の回
折光を使用することもできる。さらに、光スポット18
1の焦点位置は、透過光検出器210の検出面の手前で
あってもよい。この時、光分布は光軸に対して反転する
のでTE1信号の極性が変わるが、上述の説明でTE1
を−TE1に置きかえればよく、上記説明と同様に、全
く同じ効果が得られる。
In the above description, the case where the ± 1st-order diffracted light is used as the diffracted light is described. However, the present invention is not limited to this, and higher-order (eg, ± 2nd-order, 3rd-order) diffracted light is used. Can also be used. Further, the light spot 18
The first focus position may be before the detection surface of the transmitted light detector 210. At this time, since the light distribution is inverted with respect to the optical axis, the polarity of the TE1 signal changes.
May be replaced with -TE1, and the same effect can be obtained as in the above description.

【0083】(実施の形態2)図4Aは、本発明の実施
の形態2における光ディスク装置300を模式的に示
す。本発明の実施の形態2の光ディスク装置300は、
平行平板370が光検出器400の手前に配置されてい
ることと、光検出器400の構成が異なること以外は実
施の形態1で説明した光ディスク装置100と構成が同
一であり、同一部の説明を省略する。光ディスク装置3
00において平行平板370は収束光380の光軸に対
し傾斜して置かれており、この傾斜により光検出器40
0の面上で分割線411(図4B参照)に対し±45度
方向に焦線が現れるような収差(非点収差)が加えられ
る。平行平板370は、収差手段として機能する。
(Embodiment 2) FIG. 4A schematically shows an optical disk device 300 according to Embodiment 2 of the present invention. The optical disc device 300 according to the second embodiment of the present invention
Except that the parallel flat plate 370 is arranged before the photodetector 400 and the configuration of the photodetector 400 is different, the configuration is the same as that of the optical disc device 100 described in the first embodiment. Is omitted. Optical disk drive 3
At 00, the parallel plate 370 is inclined with respect to the optical axis of the convergent light 380, and this inclination causes the photodetector 40.
An aberration (astigmatism) is added such that a focal line appears in the direction of ± 45 degrees with respect to the division line 411 (see FIG. 4B) on the plane 0. The parallel plate 370 functions as an aberration unit.

【0084】図4Bは、本実施形態による光検出器40
0を示す。光検出器400は、透過光検出器410と回
折光検出器420を含む。
FIG. 4B shows a photodetector 40 according to the present embodiment.
Indicates 0. The light detector 400 includes a transmitted light detector 410 and a diffracted light detector 420.

【0085】透過光検出器410はサブ透過光検出器4
10A1、410A2、410B1、410B2を含
む。透過光検出器410は、領域410C1、410C
2、410C3、410C4を含む。領域410C1に
はサブ透過光検出器410A1が設けられる。領域41
0C2にはサブ透過光検出器410A2が設けられる。
領域410C3にはサブ透過光検出器410B1が設け
られる。領域410C4にはサブ透過光検出器410B
2が設けられる。領域410C1、410C2、410
C3、410C4は、お互いに直交する分割線411お
よび412によって分離されている。分割線411の方
向は光ディスク170の回転方向に平行である。
The transmitted light detector 410 is the sub-transmitted light detector 4
10A1, 410A2, 410B1, 410B2. The transmitted light detector 410 includes the areas 410C1, 410C.
2, 410C3 and 410C4. The sub-transmission light detector 410A1 is provided in the area 410C1. Area 41
A sub-transmission light detector 410A2 is provided at 0C2.
The sub-transmission light detector 410B1 is provided in the area 410C3. The sub-transmission light detector 410B is provided in the area 410C4.
2 are provided. Regions 410C1, 410C2, 410
C3, 410C4 are separated by dividing lines 411 and 412 which are orthogonal to each other. The direction of the dividing line 411 is parallel to the rotation direction of the optical disk 170.

【0086】回折光検出器420は、2つのサブ回折光
検出器420A、420Bを含む。回折光検出器420
は、領域420C1、420C2を含む。領域420C
1にはサブ回折光検出器420Aが設けられる。領域4
20C2にはサブ回折光検出器420Bが設けられる。
The diffracted light detector 420 includes two sub-diffraction light detectors 420A and 420B. Diffracted light detector 420
Includes regions 420C1 and 420C2. Area 420C
1 is provided with a sub-diffraction light detector 420A. Area 4
20C2 is provided with a sub-diffraction light detector 420B.

【0087】偏光ホログラム面150の領域150aを
回折する1次回折光はサブ回折光検出器420Aの手前
で焦点をなしてサブ回折光検出器420A上に集光する
スポット382aとなり、偏光ホログラム面150の領
域150bを回折する1次回折光はサブ回折光検出器4
20Bの後ろ側で焦点をなしサブ回折光検出器420B
上に集光するスポット382bとなる。本実施の形態で
は、焦点位置が検出面の手前にあるかまたは奥にあるか
は大きな問題ではなく、手前にあっても奥にあってもよ
い。
The first-order diffracted light diffracted in the region 150a of the polarization hologram surface 150 becomes a spot 382a focused before the sub-diffraction light detector 420A and focused on the sub-diffraction light detector 420A. The first-order diffracted light diffracted in the area 150b is transmitted to the
Sub-diffraction light detector 420B focusing behind the 20B
It becomes the spot 382b condensed on the upper side. In the present embodiment, it does not matter whether the focal position is located in front of or behind the detection surface, and may be located in front or behind.

【0088】さらに偏光ホログラム面150を透過する
光(0次光)はほぼ分割線411及び412の交点位置
にスポット381として集光される。この時の透過光検
出器410の検出面は、2つの焦線(縦焦線と横焦線)
のほぼ中間に位置する。従って、スポット381が、透
過光検出器410の検出面に到達する前に分割線412
に対して45°だけ時計方向に傾いた焦線を経ていると
すると、この焦線方向に対して対称な光分布となり、第
1の実施形態のスポット181と比べて、時計方向に9
0°回転した光分布と等価的となる。
Further, the light (zero-order light) transmitted through the polarization hologram surface 150 is condensed as a spot 381 substantially at the intersection of the dividing lines 411 and 412. At this time, the detection surface of the transmitted light detector 410 has two focal lines (vertical focal line and horizontal focal line).
It is located almost in the middle of. Therefore, before the spot 381 reaches the detection surface of the transmitted light detector 410, the dividing line 412
If the light passes through a focal line inclined clockwise by 45 ° with respect to the light, the light distribution becomes symmetrical with respect to this focal line direction, and the light distribution is 9 clockwise as compared with the spot 181 of the first embodiment.
This is equivalent to a light distribution rotated by 0 °.

【0089】サブ回折光検出器420A,420Bのそ
れぞれによって検出された光の量は、減算器443によ
って差分され、第2のトラッキングエラー信号443s
(TE2信号)が得られる。また、光検出器420a,
420bのそれぞれによって検出された光の量は、加算
器444によって加算され、再生信号444sを得るこ
とができる。TE2信号は図11Cで示される光検出器
1190によって検出された信号に相当する。
The amount of light detected by each of the sub-diffraction light detectors 420A and 420B is subtracted by a subtractor 443 to obtain a second tracking error signal 443s.
(TE2 signal) is obtained. Also, the photodetectors 420a,
The amount of light detected by each of the light sources 420b is added by the adder 444 to obtain a reproduced signal 444s. The TE2 signal corresponds to the signal detected by the light detector 1190 shown in FIG. 11C.

【0090】演算器441は、サブ透過光検出器410
A1,410A2,410B1,410B2によって検
出された結果から、410A1−410A2+410B
1−410B2を出力する。演算器441の出力は、第
1のトラッキングエラー信号441s(TE1信号)で
ある。また、演算器442は、サブ透過光検出器410
A1,410A2,410B1,410B2によって検
出された結果から、410A1+410B2−410A
2−410B1を出力する。演算器442の出力は、第
3のトラッキングエラー信号11B(TE3信号)であ
る。TE1信号は図10Bで示された光検出器1050
によって検出された信号に相当する。
The arithmetic unit 441 is provided with a sub-transmission light detector 410
From the results detected by A1, 410A2, 410B1, 410B2, 410A1-410A2 + 410B
1-410B2 is output. The output of the calculator 441 is a first tracking error signal 441s (TE1 signal). The arithmetic unit 442 includes a sub-transmission light detector 410
From the results detected by A1, 410A2, 410B1, 410B2, 410A1 + 410B2-410A
2-410B1 is output. The output of the calculator 442 is the third tracking error signal 11B (TE3 signal). The TE1 signal is applied to the photodetector 1050 shown in FIG.
Corresponding to the signal detected by

【0091】実施形態1で説明したのと同様に、実質的
に矩形状な透過光検出器410を実質的に矩形状なサブ
透過光検出器410A1,410A2,410B1,4
10B2に分離して配置した場合、光ディスク170の
回転方向に平行な方向(前述のとおり、時計方向に90
°回転した光分布となるため光ディスク170の回転方
向との対応も90°回転する)に沿って隣接する2つの
サブ透過光検出器(410A1、410B1)によって
検出される光の量と、他の2つのサブ透過光検出器(4
10A2、410B2)によって検出される光の量との
差がTE1信号である。また、対角して配置される2つ
のサブ透過光検出器(410A1、410B2)によっ
て検出される光の量と、他の2つのサブ透過光検出器
(410A2、410B1)によって検出される光の量
との差がTE3信号である。
As described in the first embodiment, the substantially rectangular transmitted light detector 410 is replaced by the substantially rectangular sub-transmitted light detectors 410A1, 410A2, 410B1, 4
10B2, the direction parallel to the rotation direction of the optical disk 170 (90 clockwise as described above).
The light amount detected by the two sub-transmitted light detectors (410A1 and 410B1) adjacent to each other along the rotation direction of the optical disc 170 is rotated by 90 ° because of the rotation of the light distribution. Two sub-transmission light detectors (4
10A2, 410B2) is the TE1 signal. The amount of light detected by the two sub-transmission light detectors (410A1 and 410B2) arranged diagonally and the amount of light detected by the other two sub-transmission light detectors (410A2 and 410B1) are different. The difference from the quantity is the TE3 signal.

【0092】さらに、対物レンズ160のフォーカスエ
ラーは収束光381の非点収差(±45度方向の広がり
の差)として反映されるので、410A1+410B2
−410A2−410B1を出力する演算器442によ
り得られる信号442sはフォーカスエラー信号(FE
信号)に相当する。
Further, the focus error of the objective lens 160 is reflected as astigmatism of the convergent light 381 (difference in spread in the direction of ± 45 degrees), so that 410A1 + 410B2
The signal 442s obtained by the calculator 442 that outputs −410A2 to 410B1 is a focus error signal (FE
Signal).

【0093】この実施の形態2においても3種類のトラ
ッキングエラー信号(TE1,TE2,TE3信号)を
得ることができるが、実施の形態1と同様にこれらの信
号はディスクの種類に応じて使い分けられる。例えば、
光ディスクがDVD−ROMディスク等の1/4波長深
さのピットを有する場合、制御装置185は、そのピッ
ト信号(エンボス信号)に対するトラッキングエラー信
号としてTE3信号を使用してもよい。
In the second embodiment, three types of tracking error signals (TE1, TE2, TE3 signals) can be obtained, but these signals can be selectively used according to the type of the disk as in the first embodiment. . For example,
When the optical disk has a pit having a quarter wavelength depth such as a DVD-ROM disk, the control device 185 may use the TE3 signal as a tracking error signal for the pit signal (emboss signal).

【0094】一方、光ディスクがDVD−RAMまたは
DVD−Rディスク等の案内溝がある場合、制御装置1
85は適切な定数kを用いた演算値TE2−k×TE1
をトラッキングエラー信号として使用してもよい。この
場合、制御装置185は、光ディスクに応じて定数kの
値を切り替えることができる。
On the other hand, if the optical disc has a guide groove such as a DVD-RAM or DVD-R disc,
85 is an operation value TE2-k × TE1 using an appropriate constant k
May be used as the tracking error signal. In this case, the control device 185 can switch the value of the constant k according to the optical disc.

【0095】従って実施の形態1と同様に、光ディスク
システムの光軸と対物レンズの中心軸との変位に伴うト
ラッキングエラー信号の非対称性が抑えられ、トラック
制御時のオフトラックが生じない。また、本実施形態で
は、−1次の回折光を利用しないので、偏光ホログラム
素子145のホログラム断面形状を変更して、−1次回
折光の割り当てをゼロにして、0次光、1次回折光に回
すことができ、実施の形態1に比べて再生信号や位相差
TE信号(すなわち、TE3信号)のS/Nを向上させ
ることもできる。
Therefore, as in the first embodiment, the asymmetry of the tracking error signal caused by the displacement between the optical axis of the optical disk system and the center axis of the objective lens is suppressed, and no off-track occurs during track control. Further, in the present embodiment, since the -1st-order diffracted light is not used, the hologram cross-sectional shape of the polarization hologram element 145 is changed so that the assignment of the -1st-order diffracted light becomes zero, and the 0th-order light and the 1st-order diffracted light are changed. It is possible to increase the S / N of the reproduction signal and the phase difference TE signal (that is, the TE3 signal) as compared with the first embodiment.

【0096】なお、実施の形態2の変形例として、サブ
透過光検出器410A1,410A2,410B1,4
10B2の和信号を再生信号として検出する方法もあ
る。この時、回折光量比は0次光に70%、1次回折光
に10%というように割り当てると、再生信号の検出指
数=35程度となる。このように、光量は、−1次光、
1次光、透過光の順に大きくすることができる。
As a modification of the second embodiment, the sub-transmission light detectors 410A1, 410A2, 410B1, 4
There is also a method of detecting the sum signal of 10B2 as a reproduction signal. At this time, if the diffraction light amount ratio is assigned to 70% for the 0th-order light and 10% for the 1st-order diffraction light, the detection index of the reproduced signal is about 35. As described above, the light amount is −1 order light,
Primary light and transmitted light can be increased in this order.

【0097】なお、上記説明では、収差手段として平行
平板を用いたが、本発明はこれに限定されるものでな
い。例えば、収差手段としてウエッジ状のプリズムを用
いてもよい。
In the above description, a parallel flat plate is used as the aberration means, but the present invention is not limited to this. For example, a wedge-shaped prism may be used as the aberration unit.

【0098】(実施の形態3)図5Aは本発明の実施の
形態3における偏光ホログラム面550の構成を示して
いる。図5Bは本発明の実施の形態3における光検出器
500の構成を示している。本発明の実施の形態3の光
ディスク装置は、偏光ホログラム面550の構成と光検
出器500の構成が異なる以外は実施の形態1の光ディ
スク装置と同一であり、他の部分の構成要素に関する記
述には図1Aの参照符号を引用する。
(Embodiment 3) FIG. 5A shows a configuration of a polarization hologram surface 550 according to Embodiment 3 of the present invention. FIG. 5B shows a configuration of photodetector 500 according to Embodiment 3 of the present invention. The optical disk device according to the third embodiment of the present invention is the same as the optical disk device according to the first embodiment except that the configuration of the polarization hologram surface 550 and the configuration of the photodetector 500 are different. Refers to the reference numbers in FIG. 1A.

【0099】図5Aにおいて偏光ホログラム面550
は、光ディスク170の回転方向に平行な分割線552
及びこれに直交する分割線553を境にホログラムパタ
ーンの異なる4つの領域(550a、550b、550
c、550d)に分けられる。光ディスク170によっ
て反射された反射光束551は、分割線552、553
によりほぼ4等分割される。第1の領域550aはさら
に分割線553に沿った短冊領域に分けられる(具体的
には、領域550F11、550B11、550F1
2、550B12、550F13)。第2の領域550
bは分割線553に沿った短冊領域に分けられる(具体
的には、領域550B21、550F21、550B2
2、550F22、550B23)。第3の領域550
cは分割線553に沿った短冊領域に分けられる(具体
的には、領域550F31、550B31、550F3
2、550B32、550F33)。第4の領域550
dは分割線553に沿った短冊領域に分けられる(具体
的には、領域550B41、550F41、550B4
2、550F42、550B43)。
In FIG. 5A, the polarization hologram surface 550
Is a dividing line 552 parallel to the rotation direction of the optical disc 170.
And four regions (550a, 550b, and 550) having different hologram patterns with a dividing line 553 orthogonal thereto as a boundary.
c, 550d). The reflected light beam 551 reflected by the optical disk 170 is divided into split lines 552 and 553.
Divides into approximately four equal parts. The first region 550a is further divided into strip regions along the division line 553 (specifically, the regions 550F11, 550B11, and 550F1).
2, 550B12, 550F13). Second area 550
b is divided into strip regions along the division line 553 (specifically, the regions 550B21, 550F21, 550B2
2, 550F22, 550B23). Third area 550
c is divided into strip regions along the division line 553 (specifically, the regions 550F31, 550B31, 550F3
2, 550B32, 550F33). Fourth region 550
d is divided into strip regions along the division line 553 (specifically, the regions 550B41, 550F41, 550B4
2, 550F42, 550B43).

【0100】第1〜第4の領域550a〜dにおいて、
「F」で示した領域(例えば、550F11、550F
22)を通る−1次回折光は光検出器500の手前で集
光する。一方、「B」で示した領域(例えば、550B
11、550B22)を通る−1次回折光は光検出器5
00の奥で集光する。
In the first to fourth regions 550a to 550d,
The area indicated by “F” (for example, 550F11, 550F
The -1st-order diffracted light passing through 22) is collected before the photodetector 500. On the other hand, the region indicated by “B” (for example, 550B
11, 550B22) is the first order diffracted light.
Light is collected at the depth of 00.

【0101】光検出器500は透過光検出器510と、
第1および第2の回折光検出器520、530とを含
む。透過光検出器510は光検出器500の中心領域に
設けられる。第1および第2の回折光検出器520、5
30は、透過光検出器510を挟む2つの外縁領域に設
けられる。
The light detector 500 includes a transmitted light detector 510,
And first and second diffracted light detectors 520, 530. The transmitted light detector 510 is provided in a central region of the light detector 500. First and second diffracted light detectors 520, 5
30 are provided in two outer edge regions sandwiching the transmitted light detector 510.

【0102】透過光検出器510は4つのサブ透過光検
出器510A1、510A2、510B1、510B2
を含む。透過光検出器510は、領域510C1、51
0C2、510C3、510C4を含む。領域510C
1にはサブ透過光検出器510A1が設けられる。領域
510C2にはサブ透過光検出器510A2が設けられ
る。領域510C3にはサブ透過光検出器510B1が
設けられる。領域510C4にはサブ透過光検出器51
0B2が設けられる。領域510C1、510C2、5
10C3、510C4は、お互いに直交する分割線51
1及び512で分離されている。分割線511の方向は
光ディスク170の回転方向に平行である。
The transmitted light detector 510 has four sub-transmitted light detectors 510A1, 510A2, 510B1, and 510B2.
including. The transmitted light detector 510 includes the regions 510C1, 51
0C2, 510C3, and 510C4. Area 510C
1 is provided with a sub-transmission light detector 510A1. The sub-transmission light detector 510A2 is provided in the area 510C2. The sub-transmission light detector 510B1 is provided in the area 510C3. The sub-transmission light detector 51 is provided in the area 510C4.
0B2 is provided. Regions 510C1, 510C2, 5
10C3 and 510C4 are dividing lines 51 orthogonal to each other.
1 and 512. The direction of the dividing line 511 is parallel to the rotation direction of the optical disk 170.

【0103】第1の回折光検出器520は第1の外縁領
域に設けられる。第1の回折光検出器520は、2つの
サブ回折光検出器520Aと520Bを含む。第1の回
折光検出器520は、領域520C1、520C2を含
む。領域520C1にはサブ回折光検出器520Aが設
けられる。領域520C2にはサブ回折光検出器520
Bが設けられる。
The first diffracted light detector 520 is provided in the first outer edge area. The first diffracted light detector 520 includes two sub-diffraction light detectors 520A and 520B. First diffracted light detector 520 includes regions 520C1 and 520C2. The sub-diffraction light detector 520A is provided in the area 520C1. The sub-diffraction light detector 520 is provided in the region 520C2.
B is provided.

【0104】第2の外縁領域に設けられる第2の回折光
検出器530は、6つのサブ回折光検出器530A1、
530A2、530A3、530B1、530B2、5
30B3を含む。サブ回折光検出器530A1、530
B2、530A3は導通しており、また、サブ回折光検
出器530B1、530A2、530B3も導通してい
る。第2の回折光検出器530は、領域530C1、5
30C2、530C3、530C4、530C5、53
0C6を含む。領域530C1にはサブ回折光検出器5
30A1が設けられる。領域530C2にはサブ回折光
検出器530A2が設けられる。領域530C3にはサ
ブ回折光検出器530A3が設けられる。領域530C
4にはサブ回折光検出器530B1が設けられる。領域
530C5にはサブ回折光検出器530B2が設けられ
る。領域530C6にはサブ回折光検出器530B3が
設けられる。
The second diffracted light detector 530 provided in the second outer edge area has six sub-diffraction light detectors 530A1,
530A2, 530A3, 530B1, 530B2, 5
30B3. Sub-diffraction light detectors 530A1, 530
B2 and 530A3 are conducting, and the sub-diffraction light detectors 530B1, 530A2 and 530B3 are also conducting. The second diffracted light detector 530 includes the regions 530C1 and 530C5.
30C2, 530C3, 530C4, 530C5, 53
0C6. The sub-diffraction light detector 5 is provided in the region 530C1.
30A1 is provided. The sub-diffraction light detector 530A2 is provided in the area 530C2. The sub-diffraction light detector 530A3 is provided in the area 530C3. Area 530C
4 is provided with a sub-diffraction light detector 530B1. The sub-diffraction light detector 530B2 is provided in the area 530C5. The sub-diffraction light detector 530B3 is provided in the area 530C6.

【0105】偏光ホログラム面550の第1の領域55
0a上において一つ置きに位置する短冊領域550B1
1、550B12を通って回折する1次回折光は、スポ
ット582B1としてサブ回折光検出器520B上に集
光され、−1次回折光はサブ回折光検出器530B2に
またがったスポット583B1としてサブ回折光検出器
530B3上に集光する。
First region 55 of polarization hologram surface 550
Strip area 550B1 located at every other position on 0a
The first-order diffracted light diffracted through the first and 550B12 is condensed on the sub-diffraction light detector 520B as a spot 582B1, and the -1st-order diffracted light is detected as a spot 583B1 straddling the sub-diffraction light detector 530B2. Focus on 530B3.

【0106】偏光ホログラム面550の第1の領域55
0aの残りの短冊領域550F11、550F12、5
50F13を通って回折する1次回折光は、サブ回折光
検出器520B上にスポット582F1として集光し、
−1次回折光はサブ回折光検出器530B3にまたがっ
たスポット583F1としてサブ回折光検出器530B
2上に集光する。
First region 55 of polarization hologram surface 550
0a remaining strip areas 550F11, 550F12, 5
The first-order diffracted light diffracted through the 50F13 is collected as a spot 582F1 on the sub-diffraction light detector 520B,
The -1st-order diffracted light is formed as a spot 583F1 over the sub-diffraction light detector 530B3.
Focus on 2

【0107】偏光ホログラム面550の第2の領域55
0b上において一つ置きに位置する短冊領域550B2
1、550B22、550B23を通って回折する1次
回折光は、スポット582B2としてサブ回折光検出器
520Aに集光し、−1次回折光は光検出器530A1
にまたがったスポット583B2としてサブ回折光検出
器530A2上に集光する。
Second region 55 of polarization hologram surface 550
0b, every other strip area 550B2
The first-order diffracted light diffracted through 1, 550B22, 550B23 is condensed on the sub-diffraction light detector 520A as a spot 582B2, and the -1st-order diffracted light is detected as the light detector 530A1
Is condensed on the sub-diffraction light detector 530A2 as a spot 583B2 straddling the.

【0108】偏光ホログラム面550の第2の領域55
0bの残りの短冊領域550F21、550F22を通
って回折する1次回折光は、スポット582F2として
サブ回折光検出器520A上に集光し、−1次回折光は
サブ回折光検出器530A2にまたがったスポット58
3F2としてサブ回折光検出器530A1上に集光す
る。
Second region 55 of polarization hologram surface 550
The first-order diffracted light diffracted through the remaining strip regions 550F21 and 550F22 of Ob is condensed on the sub-diffraction light detector 520A as a spot 582F2, and the −1st-order diffracted light is spot 58 across the sub-diffraction light detector 530A2.
The light is focused on the sub-diffraction light detector 530A1 as 3F2.

【0109】偏光ホログラム面550の第3の領域55
0c上において一つ置きに位置する短冊領域550B3
1、550B32を通って回折する1次回折光は、スポ
ット582B3としてサブ回折光検出器520Aに集光
し、−1次回折光はサブ回折光検出器530A3にまた
がったスポット583B3としてサブ回折光検出器53
0A2上に集光する。
Third region 55 of polarization hologram surface 550
0c, every other strip area 550B3
The first-order diffracted light diffracted through the first and fifth light beams 550B32 is condensed on the sub-diffraction light detector 520A as a spot 582B3, and the -1st-order diffracted light is detected as a spot 583B3 across the sub-diffraction light detector 530A3.
Focus on 0A2.

【0110】偏光ホログラム面550の第3の領域55
0cの残りの短冊領域550F31、550F32、5
50F33を通って回折する1次回折光は、サブ回折光
検出器520A上にスポット582F3として集光し、
−1次回折光はサブ回折光検出器530A2にまたがっ
たスポット583F3としてサブ回折光検出器530A
3上に集光する。
Third region 55 of polarization hologram surface 550
0c remaining strip areas 550F31, 550F32, 5
The first-order diffracted light diffracted through the 50F33 is collected as a spot 582F3 on the sub-diffraction light detector 520A,
The -1st-order diffracted light is formed as a spot 583F3 over the sub-diffraction light detector 530A2.
Focus on 3

【0111】偏光ホログラム面550の第4の領域55
0d上において一つ置きに位置する短冊領域550B4
1、550B42、550B43を通って回折する1次
回折光は、サブ回折光検出器520B上に集光するスポ
ット582B4となり、−1次回折光はサブ回折光検出
器530B2にまたがったスポット583B4としてサ
ブ回折光検出器530B1上に集光する。
The fourth region 55 of the polarization hologram surface 550
Strip area 550B4 positioned every other on 0d
The first-order diffracted light diffracted through 1, 550B42, 550B43 becomes a spot 582B4 converged on the sub-diffraction light detector 520B, and the -1st-order diffracted light becomes a spot 583B4 straddling the sub-diffraction light detector 530B2. The light is focused on the detector 530B1.

【0112】偏光ホログラム面550の第4の領域55
0dの残りの短冊領域550F41、550F42を通
って回折する1次回折光は、サブ回折光検出器520B
上にスポット582F4として集光し、−1次回折光は
サブ回折光検出器530B1にまたがったスポット58
3F4としてブ回折光検出器530B2上に集光する。
The fourth region 55 of the polarization hologram surface 550
The first-order diffracted light diffracted through the remaining strip regions 550F41 and 550F42 of the sub-diffraction light detector 520B
The light is condensed on the spot as a spot 582F4, and the −1st-order diffracted light is spot 58 that straddles the sub-diffraction light detector 530B1.
The light is condensed on the diffraction light detector 530B2 as 3F4.

【0113】さらに偏光ホログラム面550を透過する
光(0次光)は、中心領域のほぼ分割線511及び51
2の交点位置にスポット581として集光する。ただ
し、光スポット581の焦点位置は透過光検出器510
の検出面の奥側にある。
Further, the light (0th-order light) transmitted through the polarization hologram surface 550 is substantially divided by the dividing lines 511 and 51 in the central region.
The light is converged as a spot 581 at the intersection of the two. However, the focal position of the light spot 581 is determined by the transmitted light detector 510.
On the far side of the detection surface.

【0114】第1の回折光検出器520のサブ回折光検
出器520A,520Bによって検出される光量は、減
算器543により差分され第2のトラッキングエラー信
号543s(TE2信号)が得られ、加算器544によ
り加算され再生信号544sを得ることができる。TE
2信号は、図11Cで示した光検出器1190で説明し
たTE2信号に相当する。
The light amounts detected by the sub-diffraction light detectors 520A and 520B of the first diffraction light detector 520 are subtracted by a subtractor 543 to obtain a second tracking error signal 543s (TE2 signal). 544 to obtain a reproduced signal 544s. TE
The two signals correspond to the TE2 signal described for the photodetector 1190 shown in FIG. 11C.

【0115】ここで、TE2信号は、偏光ホログラム面
550の第1の領域550aと第4の領域550dを通
った1次回折光の量と、偏光ホログラム面550の第2
の領域550bと第3の領域550cを通った1次回折
光の量との差に相当する。また、再生信号は、偏光ホロ
グラム面550の第1〜第4の領域550a〜dの1次
回折光の和に相当する。
Here, the TE2 signal is calculated based on the amount of the first-order diffracted light passing through the first region 550a and the fourth region 550d of the polarization hologram surface 550 and the amount of the second-order diffraction light on the polarization hologram surface 550.
And the amount of the first-order diffracted light passing through the third region 550c. Further, the reproduction signal corresponds to the sum of the first-order diffracted lights in the first to fourth regions 550a to 550d of the polarization hologram surface 550.

【0116】演算器541は、サブ透過光検出器510
A1,510A2,510B1,510B2によって検
出された光量から、510A1+510A2−510B
1−510B2を出力する。演算器541の出力は、第
1のトラッキングエラー信号541s(TE1信号)で
ある。演算器542は、サブ透過光検出器510A1,
510A2,510B1,510B2によって検出され
た光量から、510A1+510B2−510A2−5
10B1を出力する。演算器542の出力は、第3のト
ラッキングエラー信号542s(TE3信号)である。
TE1信号は、図10Bで示した光検出器1050で説
明したTE1信号に相当する。
The arithmetic unit 541 is provided with a sub-transmitted light detector 510
510A1 + 510A2-510B from the light amounts detected by A1, 510A2, 510B1, and 510B2.
1-510B2 is output. The output of the calculator 541 is a first tracking error signal 541s (TE1 signal). The arithmetic unit 542 includes a sub-transmission light detector 510A1,
From the light amounts detected by 510A2, 510B1 and 510B2, 510A1 + 510B2-510A2-5
10B1 is output. The output of the calculator 542 is a third tracking error signal 542s (TE3 signal).
The TE1 signal corresponds to the TE1 signal described for the photodetector 1050 shown in FIG. 10B.

【0117】実施形態1で説明したのと同様に、実質的
に矩形状な透過光検出器510を実質的に矩形状なサブ
透過光検出器510A1,510A2,510B1,5
10B2に分離して配置した場合、光ディスク170の
回転方向に平行な方向に沿って隣接する2つのサブ透過
光検出器(510A1、510A2)によって検出され
る光の量と、他の2つのサブ透過光検出器(510B
1、510B2)によって検出される光の量との差がT
E1信号である。また、対角して配置される2つのサブ
透過光検出器(510A1、510B2)によって検出
される光の量と、他の2つのサブ透過光検出器(510
A2、510B1)によって検出される光の量との差が
TE3信号である。
As described in the first embodiment, the substantially rectangular transmission light detector 510 is replaced by the substantially rectangular sub transmission light detector 510A1, 510A2, 510B1,5.
10B2, the amount of light detected by two sub-transmission light detectors (510A1, 510A2) adjacent to each other along a direction parallel to the rotation direction of the optical disc 170 and the other two sub-transmissions Photodetector (510B
1, 510B2) is equal to T
This is the E1 signal. Also, the amount of light detected by the two sub-transmission light detectors (510A1, 510B2) arranged diagonally and the other two sub-transmission light detectors (510
A2, the difference from the amount of light detected by 510B1) is the TE3 signal.

【0118】さらに、サブ回折光検出器530A1、5
30A2、530A3、530B1、530B2、53
0B3による検出光量は530B1+530B3+53
0A2−530A1−530A3−530B2の関係式
を有する演算器545によりフォーカスエラー信号54
5s(FE信号)を得ることができる。
Further, the sub-diffraction light detectors 530A1,5
30A2, 530A3, 530B1, 530B2, 53
The amount of light detected by 0B3 is 530B1 + 530B3 + 53
0A2-530A1-530A3-530B2.
5 s (FE signal) can be obtained.

【0119】この実施の形態3においても3種類のトラ
ッキングエラー信号(TE1,TE2,TE3信号)を
得ることができるが、実施の形態1と同様にこれらの信
号はディスクの種類に応じて使い分けられてもよい。例
えば、光ディスクがDVD−ROMディスク等の1/4
波長深さのピットを有する場合、制御装置185は、ピ
ット信号(エンボス信号)に対するトラッキングエラー
信号としてTE3信号を使用してもよい。一方、光ディ
スクがDVD−RAMやDVD−Rディスク等の案内溝
のあるディスクの場合、制御装置185は、適切な定数
kを用いた演算値TE2−k×TE1をトラッキングエ
ラー信号として使用してもよい。この場合、制御装置1
85は光ディスクに応じて定数kの値を更新してもよ
い。
In the third embodiment, three types of tracking error signals (TE1, TE2, TE3 signals) can be obtained. However, these signals are selectively used according to the type of the disk as in the first embodiment. You may. For example, an optical disk is a quarter of a DVD-ROM disk or the like.
When a pit having a wavelength depth is provided, the control device 185 may use the TE3 signal as a tracking error signal for the pit signal (emboss signal). On the other hand, when the optical disk is a disk having a guide groove such as a DVD-RAM or a DVD-R disk, the control device 185 may use the calculated value TE2-k × TE1 using an appropriate constant k as the tracking error signal. Good. In this case, the control device 1
Reference numeral 85 may update the value of the constant k according to the optical disk.

【0120】従って実施の形態1と同様に、光ディスク
装置の光軸と対物レンズの中心との変位に伴うトラッキ
ングエラー信号の非対称性が抑えられ、トラック制御時
のオフトラックも生じない。また、本実施形態では、ホ
ログラム面を短冊状に細分化させている。この短冊状に
細分化された領域において、検出器500の手前で集光
する光と検出器500の奥で集光する光を生成して、そ
の結果生じた回折光をFE信号として検出しているの
で、ディスク基材172上のゴミや汚れの影響がキャン
セルされ、フォーカスエラー制御の安定性は高い。
Therefore, as in the first embodiment, the asymmetry of the tracking error signal due to the displacement between the optical axis of the optical disk device and the center of the objective lens is suppressed, and no off-track occurs during track control. In the present embodiment, the hologram surface is subdivided into strips. In this region subdivided into strips, light converging before the detector 500 and light converging behind the detector 500 are generated, and the resulting diffracted light is detected as an FE signal. Therefore, the influence of dust and dirt on the disk base material 172 is canceled, and the stability of the focus error control is high.

【0121】なお、上記の説明では、サブ回折光検出器
530B1はサブ回折光検出器530B3、530A2
と導通し、サブ回折光検出器530B2はサブ回折光検
出器A1、530A3と導通しており、それらの差をF
E信号として生成する例を説明したが、サブ回折光検出
器530B1、530B3がサブ回折光検出器530A
1、530A3と導通し、また、サブ回折光検出器53
0B2が530A2と導通し、それらの差信号(530
B1+530B3+530A1+530A3−530B
2−530A2)によりFE信号を生成することもでき
る。この場合、第2の回折光検出器530上の光スポッ
ト583B1、583F1が光スポット583B4、5
83F4(または第2の回折光検出器530上の光スポ
ット583B3、583F3が光スポット583B2、
583F2)とそれぞれ入れかわった集光をなす。当
然、1次回折光側もそれに対応した入れかえがなされ
る。
In the above description, the sub-diffraction light detector 530B1 is used as the sub-diffraction light detector 530B3, 530A2.
And the sub-diffraction light detector 530B2 is in conduction with the sub-diffraction light detectors A1 and 530A3, and the difference between them is represented by F
Although the example in which the signal is generated as the E signal has been described, the sub-diffraction light detectors 530B1 and 530B3 are different from the sub-diffraction light detector 530A.
1, 530A3 and the sub-diffraction light detector 53
0B2 conducts with 530A2 and their difference signal (530
B1 + 530B3 + 530A1 + 530A3-530B
The FE signal can also be generated according to 2-530A2). In this case, the light spots 583B1 and 583F1 on the second diffracted light detector 530 are changed to the light spots 583B4 and 583B4.
83F4 (or the light spots 583B3 and 583F3 on the second diffracted light detector 530 become light spots 583B2,
583F2). Naturally, the first-order diffracted light side is also replaced accordingly.

【0122】なお、当然のことながら、ホログラム面5
50を短冊状に細分化しない形態もあり得る。図5Aに
示されるホログラム面550において短冊化をしない場
合、ホログラム面550の第1の領域550a、第3の
領域550cは全面が「B」で示した領域になり、ホロ
グラム面550の第2の領域550b、第4の領域55
0dは全面が「F」で示した領域となり、第2の回折光
検出器530上の光スポット583F1、583B2、
583F3、583B4および第1の回折光検出器52
0上の光スポット582F1、582B2、582F
3、582B4はなくなり、それぞれ第2の回折光検出
器530上の光スポット583B1、583F2、58
3B3、583F4および第1の回折光検出器520上
の光スポット582B1、582F2、582B3、5
82F4のみが残る。
Note that, of course, the hologram surface 5
There may be a form in which 50 is not subdivided into strips. When stripping is not performed on the hologram surface 550 shown in FIG. 5A, the first region 550a and the third region 550c of the hologram surface 550 are entirely indicated by “B”, and the second region of the hologram surface 550 is indicated by “B”. Region 550b, fourth region 55
0d is the area indicated by “F” on the entire surface, and the light spots 583F1, 583B2,
583F3, 583B4 and first diffracted light detector 52
Light spot 582F1, 582B2, 582F on 0
3 and 582B4 are eliminated, and light spots 583B1, 583F2 and 583 on the second diffracted light detector 530, respectively.
3B3, 583F4 and light spots 582B1, 582F2, 582B3, 5 on the first diffracted light detector 520.
Only 82F4 remains.

【0123】(実施の形態4)図6Aは本発明の実施の
形態4における偏光ホログラム面650の構成を示す。
図6Bは本発明の実施の形態4における光検出器600
の構成を示す。本発明の実施の形態4の光ディスク装置
は、偏光ホログラム面650の構成と光検出器600の
構成が異なる以外は実施の形態1の光ディスク装置10
0と同一であり、他の部分の構成要素に関する記述には
図1Aの参照符号を引用する。
(Embodiment 4) FIG. 6A shows a configuration of a polarization hologram surface 650 according to Embodiment 4 of the present invention.
FIG. 6B shows a photodetector 600 according to Embodiment 4 of the present invention.
Is shown. The optical disc device according to the fourth embodiment of the present invention is different from the optical disc device 10 according to the first embodiment except that the configuration of the polarization hologram surface 650 and the configuration of the photodetector 600 are different.
0, and reference numerals in FIG. 1A are referred to for the description of the other components.

【0124】図6Aにおいて偏光ホログラム面650
は、光ディスク170の回転方向に平行な分割線652
及びこれに直交する分割線653を境にホログラムパタ
ーンの異なる4つの領域(650a、650b、650
c、650d)に分けられ、光ディスク170によって
反射された反射光束651は分割線652、653によ
りほぼ4等分割される。第1の領域650aはさらに分
割線653に沿った短冊領域に分けられる(具体的に
は、領域650F11、650B11、650F12、
650B12、650F13)。第2の領域650bは
分割線653に沿った短冊領域に分けられる(具体的に
は、領域650B21、650F21、650B22、
650F22、650B23)。第3の領域650cは
分割線653に沿った短冊領域に分けられる(具体的に
は、領域650F31、650B31、650F32、
650B32、650F33)。第4の領域650dは
分割線653に沿った短冊領域に分けられる(具体的に
は、領域650B41、650F41、650B42、
650F42、650B43)。
In FIG. 6A, the polarization hologram surface 650
Is a dividing line 652 parallel to the rotation direction of the optical disc 170.
And four regions (650a, 650b, 650) having different hologram patterns bordering on a dividing line 653 orthogonal to this.
c, 650d), and the reflected light beam 651 reflected by the optical disc 170 is divided into approximately four equal parts by the dividing lines 652, 653. The first region 650a is further divided into strip regions along the division line 653 (specifically, the regions 650F11, 650B11, 650F12,
650B12, 650F13). The second region 650b is divided into strip regions along the division line 653 (specifically, the regions 650B21, 650F21, 650B22,
650F22, 650B23). The third region 650c is divided into strip regions along the division line 653 (specifically, the regions 650F31, 650B31, 650F32,
650B32, 650F33). The fourth region 650d is divided into strip regions along the division line 653 (specifically, the regions 650B41, 650F41, 650B42,
650F42, 650B43).

【0125】第1〜第4の領域650a〜dにおいて、
「F」で示した領域(例えば、650F11、650F
22)を通る−1次回折光は光検出器600の手前で集
光する。一方、「B」で示した領域(例えば、650B
11、650B22)を通る−1次回折光は光検出器6
00の奥で集光する。
In the first to fourth regions 650a to 650d,
The area indicated by “F” (for example, 650F11, 650F
The -1st-order diffracted light passing through 22) is collected before the photodetector 600. On the other hand, the region indicated by “B” (for example, 650B
11, 650B22) is the -1st-order diffracted light.
Light is collected at the depth of 00.

【0126】光検出器600は、透過光検出器610
と、第1および第2の回折光検出器620、630を含
む。透過光検出器610は光検出器600の中心領域に
設けられる。第1および第2の回折光検出器620、6
30は、透過光検出器610を挟む2つの外縁領域に設
けられる。
The light detector 600 includes a transmitted light detector 610
And first and second diffracted light detectors 620 and 630. The transmitted light detector 610 is provided in a central region of the light detector 600. First and second diffracted light detectors 620, 6
30 are provided in two outer edge regions sandwiching the transmitted light detector 610.

【0127】透過光検出器610は、4つのサブ透過光
検出器610A1、610A2、610B1、610B
2を含む。透過光検出器610は、領域610C1、6
10C2、610C3、610C4を含む。領域610
C1にはサブ透過光検出器610A1が設けられる。領
域610C2にはサブ透過光検出器610A2が設けら
れる。領域610C3にはサブ透過光検出器610B1
が設けられる。領域610C4にはサブ透過光検出器6
10B2が設けられる。領域610C1、610C2、
610C3、610C4は、お互いに直交する分割線6
11及び612で分離されている。分割線611の方向
は光ディスク170の回転方向に平行である。
The transmitted light detector 610 includes four sub-transmitted light detectors 610A1, 610A2, 610B1, and 610B.
2 inclusive. The transmitted light detector 610 includes the regions 610C1, 6
10C2, 610C3, and 610C4. Region 610
C1 is provided with a sub-transmission light detector 610A1. The sub-transmission light detector 610A2 is provided in the area 610C2. The sub-transmission light detector 610B1 is located in the area 610C3.
Is provided. The sub-transmission light detector 6 is located in the area 610C4.
10B2 is provided. Regions 610C1, 610C2,
610C3 and 610C4 are dividing lines 6 orthogonal to each other.
11 and 612. The direction of the dividing line 611 is parallel to the rotation direction of the optical disk 170.

【0128】第1の外縁領域に設けられる第1の回折光
領域620は、2つのサブ回折光検出器620Aと62
0Bを含む。第1の回折光領域620は、領域620C
1、620C2を含む。領域620C1にはサブ回折光
検出器620Aが設けられる。領域620C2にはサブ
回折光検出器620Bが設けられる。
The first diffracted light area 620 provided in the first outer edge area includes two sub-diffraction light detectors 620A and 620A.
0B. The first diffracted light region 620 is a region 620C
1, 620C2. The sub-diffraction light detector 620A is provided in the area 620C1. The sub-diffraction light detector 620B is provided in the area 620C2.

【0129】第2の外縁領域に設けられる第2の回折光
領域630は、6つのサブ回折光検出器630A1、6
30A2、630A3、630B1、630B2、63
0B3を含む。サブ回折光検出器630A1、630B
2、630A3は導通しており、また、サブ回折光検出
器630B1、630A2、630B3も導通してい
る。第2の回折光領域630は領域630C1、630
C2、630C3、630C4、630C5、630C
6を含む。領域630C1にはサブ回折光検出器630
A1が設けられる。領域630C2にはサブ回折光検出
器630A2が設けられる。領域630C3にはサブ回
折光検出器630A3が設けられる。領域630C4に
はサブ回折光検出器630B1が設けられる。領域63
0C5にはサブ回折光検出器630B2が設けられる。
領域630C6にはサブ回折光検出器630B3が設け
られる。
The second diffracted light area 630 provided in the second outer edge area has six sub-diffraction light detectors 630A1 and 630A.
30A2, 630A3, 630B1, 630B2, 63
0B3. Sub-diffraction light detectors 630A1, 630B
2, 630A3 are conducting, and the sub-diffraction light detectors 630B1, 630A2, 630B3 are also conducting. The second diffracted light region 630 includes the regions 630C1, 630
C2, 630C3, 630C4, 630C5, 630C
6 inclusive. The sub-diffraction light detector 630 is located in the region 630C1.
A1 is provided. The sub-diffraction light detector 630A2 is provided in the area 630C2. The sub-diffraction light detector 630A3 is provided in the area 630C3. The sub-diffraction light detector 630B1 is provided in the region 630C4. Area 63
0C5 is provided with a sub-diffraction light detector 630B2.
The sub-diffraction light detector 630B3 is provided in the area 630C6.

【0130】偏光ホログラム面650の第1の領域65
0a上において一つ置きに位置する短冊領域650B1
1、650B12を通って回折する1次回折光はサブ回
折光検出器620B上にスポット682B1として集光
し、−1次回折光はサブ回折光検出器630A1にまた
がったスポット683B1としてサブ回折光検出器63
0A2上に集光する。
First region 65 of polarization hologram surface 650
Strip region 650B1 located at every other position on line 0a
The first-order diffracted light diffracted through 1,650B12 is condensed as a spot 682B1 on the sub-diffraction light detector 620B, and the -1st-order diffraction light is detected as a spot 683B1 straddling the sub-diffraction light detector 630A1.
Focus on 0A2.

【0131】偏光ホログラム面650の第1の領域65
0a上の残りの短冊領域650F11、650F12、
650F13を通って回折する1次回折光は、サブ回折
光検出器620B上にスポット682F1として集光
し、−1次回折光はサブ回折光検出器630A2にまた
がったスポット683F1としてサブ回折光検出器63
0A1上に集光する。
First region 65 of polarization hologram surface 650
0a, the remaining strip areas 650F11, 650F12,
The first-order diffracted light diffracted through 650F13 is collected as a spot 682F1 on the sub-diffraction light detector 620B, and the -1st-order diffracted light is detected as a spot 683F1 straddling the sub-diffraction light detector 630A2.
Focus on 0A1.

【0132】偏光ホログラム面650の第2の領域65
0b上において一つ置きに位置する短冊領域650B2
1、650B22、650B23を通って回折する1次
回折光はサブ回折光検出器620A上にスポット682
B2として集光し、−1次回折光はサブ回折光検出器6
30A2にまたがったスポット683B2としてサブ回
折光検出器630A3上に集光する。
The second region 65 of the polarization hologram surface 650
0b, every other strip region 650B2
The first order diffracted light diffracted through 1,650B22,650B23 is spotted 682 on the sub-diffraction light detector 620A.
The -1st-order diffracted light is condensed as B2, and the
The light is focused on the sub-diffraction light detector 630A3 as a spot 683B2 extending over 30A2.

【0133】偏光ホログラム面650の第2の領域65
0b上の残りの短冊領域650F21、650F22を
通って回折する1次回折光はサブ回折光検出器620A
上にスポット682F2として集光し、−1次回折光は
サブ回折光検出器630A3にまたがったスポット68
3F2としてサブ回折光検出器630A2上に集光す
る。
The second region 65 of the polarization hologram surface 650
The first-order diffracted light diffracted through the remaining strip regions 650F21 and 650F22 on the sub-diffraction light detector 620A
The light is condensed on the spot as a spot 682F2, and the -1st-order diffracted light is spot 68 that straddles the sub-diffraction light detector 630A3.
The light is focused on the sub-diffraction light detector 630A2 as 3F2.

【0134】偏光ホログラム面650の第3の領域65
0c上において一つ置きに位置する短冊領域650B3
1、650B32を通って回折する1次回折光は、サブ
回折光検出器620A上スポット682B3として集光
し、−1次回折光は回折光検出器630B3にまたがっ
たスポット683B3としてサブ回折光検出器630B
2上に集光する。
The third region 65 of the polarization hologram surface 650
0c, every other strip area 650B3
The first-order diffracted light diffracted through 1,650B32 is collected as the spot 682B3 on the sub-diffraction light detector 620A, and the -1st-order diffracted light is detected as the spot 683B3 straddling the diffraction light detector 630B3.
Focus on 2

【0135】偏光ホログラム面650の第3の領域65
0cの残りの短冊領域650F31、650F32、6
50F33を回折する1次回折光はサブ回折光検出器6
20A上にスポット682F3として集光し、−1次回
折光はサブ回折光検出器630B2にまたがったスポッ
ト683F3としてサブ回折光検出器630B3上に集
光する。
The third region 65 of the polarization hologram surface 650
0c remaining strip areas 650F31, 650F32, 6
The first-order diffracted light diffracting 50F33 is a sub-diffraction light detector 6
The first order diffracted light is condensed on the sub-diffraction light detector 630B3 as a spot 683F3 straddling the sub-diffraction light detector 630B2.

【0136】偏光ホログラム面650の第4の領域65
0d上において一つ置きに位置する短冊領域650B4
1、650B42、650B43を通って回折する1次
回折光は、サブ回折光検出器620B上にスポット68
2B4として集光し、−1次回折光はサブ回折光検出器
630B2にまたがったスポット683B4としてサブ
回折光検出器630B1上に集光する。
The fourth region 65 of the polarization hologram surface 650
Strip area 650B4 located every other on 0d
The first order diffracted light diffracted through 1, 650B42, 650B43 is spot 68 on the sub-diffraction light detector 620B.
The first-order diffracted light is condensed on the sub-diffraction light detector 630B1 as a spot 683B4 straddling the sub-diffraction light detector 630B2.

【0137】偏光ホログラム面650の第4の領域65
0dの残りの短冊領域650F41、650F42を通
って回折する1次回折光は、サブ回折光検出器620B
上に集光するスポット682F4となり、−1次回折光
はサブ回折光検出器630B1にまたがったスポット6
83F4としてサブ回折光検出器630B2上に集光す
る。
The fourth region 65 of the polarization hologram surface 650
The first-order diffracted light diffracted through the remaining strip regions 650F41 and 650F42 of the sub-diffraction light detector 620B
The spot 682F4 converges on the top, and the -1st-order diffracted light is spot 6 that straddles the subdiffraction light detector 630B1
The light is condensed on the sub-diffraction light detector 630B2 as 83F4.

【0138】さらに偏光ホログラム面650を透過する
光(0次光)は、中心領域のほぼ分割線611及び61
2の交点位置にスポット681として集光する。ただ
し、その焦点位置は、透過光検出器610の検出面の奥
側にある。
Further, the light (0th-order light) transmitted through the polarization hologram surface 650 is substantially divided by the dividing lines 611 and 61 in the central region.
The light is converged as a spot 681 at the intersection of the two. However, the focal position is on the far side of the detection surface of the transmitted light detector 610.

【0139】サブ回折光検出器620A、620Bによ
る検出光量からは減算器643により差分され第2のト
ラッキングエラー信号643s(TE2信号)が得ら
れ、加算器644により加算され再生信号644sを得
ることができる。TE2信号は図11Cで示される光検
出器1190で説明したTE2信号に相当する。
The second tracking error signal 643s (TE2 signal) is obtained by subtraction from the light quantity detected by the sub-diffraction light detectors 620A and 620B by a subtractor 643, and is added by an adder 644 to obtain a reproduced signal 644s. it can. The TE2 signal corresponds to the TE2 signal described for the photodetector 1190 shown in FIG. 11C.

【0140】ここで、TE2信号は、偏光ホログラム面
650の第1の領域650aと第4の領域650dの1
次回折光と、偏光ホログラム面650の第2の領域65
0bと第3の領域650cの1次回折光との差に相当す
る。また、再生信号は、偏光ホログラム面650の第1
〜第4の領域650a〜dの1次回折光の和に相当す
る。
Here, the TE2 signal is equal to one of the first region 650a and the fourth region 650d of the polarization hologram surface 650.
Order diffracted light and second region 65 of polarization hologram surface 650
0b and the first order diffracted light of the third region 650c. In addition, the reproduction signal is the first signal on the polarization hologram surface 650.
To the fourth-order regions 650a to 650d.

【0141】サブ透過光検出器610A1、610A
2、610B1、610B2による検出光量は610A
1+610A2−610B1−610B2の関係式の演
算器641により第1のトラッキングエラー信号641
s(TE1信号)が得られ、610A1+610B2−
610A2−610B1の関係式を有する演算器642
により第3のトラッキングエラー信号642s(TE3
信号)を得ることができる。TE1信号は図10Bで示
される光検出器1050で説明したTE1信号に相当す
る。
The sub-transmission light detectors 610A1, 610A
The amount of light detected by 2, 610B1, 610B2 is 610A
1 + 610A2-610B1-610B2, the first tracking error signal 641
s (TE1 signal) is obtained, and 610A1 + 610B2-
Calculator 642 having relational expression of 610A2-610B1
The third tracking error signal 642s (TE3
Signal). The TE1 signal corresponds to the TE1 signal described for the photodetector 1050 shown in FIG. 10B.

【0142】さらに、演算器645は、第2の回折光検
出器のサブ回折光検出器630A1、630A2、63
0A3、630B1、630B2、630B3によって
検出された光量から、630B1+630B3+630
A2−630A1−630A3−630B2を出力す
る。演算器645の出力は、フォーカスエラー信号64
5s(FE信号)である。
Further, the arithmetic unit 645 includes sub-diffraction light detectors 630A1, 630A2, and 63 of the second diffraction light detector.
0A3, 630B1, 630B2, and 630B3, the amount of light detected is 630B1 + 630B3 + 630.
A2-630A1-630A3-630B2 are output. The output of the calculator 645 is the focus error signal 64
5 s (FE signal).

【0143】この実施の形態4においても3種類のトラ
ッキングエラー信号(TE1,TE2,TE3信号)を
得ることができるが、実施の形態1と同様にこれらの信
号はディスクの種類に応じて使い分けられ得る。例え
ば、光ディスクがDVD−ROMディスク等の1/4波
長深さのピットを有する場合、制御装置185はピット
信号(エンボス信号)に対するトラッキングエラー信号
としてTE3信号を使用してもよい。一方、光ディスク
がDVD−RAMやDVD−Rディスク等の案内溝のあ
るディスクの場合、制御装置185は適切な定数kを用
いた演算値TE2−k×TE1をトラッキングエラー信
号として使用してもよい。この場合、制御装置185は
光ディスクに応じて定数kの値を更新してもよい。
In the fourth embodiment, three types of tracking error signals (TE1, TE2, TE3 signals) can be obtained. However, these signals are used properly according to the type of the disk as in the first embodiment. obtain. For example, when the optical disc has pits having a quarter wavelength depth such as a DVD-ROM disc, the control device 185 may use the TE3 signal as a tracking error signal for the pit signal (emboss signal). On the other hand, when the optical disk is a disk having a guide groove such as a DVD-RAM or a DVD-R disk, the control device 185 may use the calculated value TE2-k × TE1 using an appropriate constant k as the tracking error signal. . In this case, the control device 185 may update the value of the constant k according to the optical disc.

【0144】従って実施の形態1と同様に、光ディスク
装置の光軸と対物レンズの中心軸との変位に伴うトラッ
キングエラー信号の非対称性が抑えられ、トラック制御
時のオフトラックも生じない。また、本実施形態では、
ホログラム面650が短冊状に細分化されている。短冊
状に細分化された各領域において、光検出器600の手
前で集光する光と光検出器600の奥で集光する光を生
成して、その回折光からFE信号を検出しているので、
ディスク基材172上のゴミや汚れの影響がキャンセル
され、フォーカスエラー制御の安定性は高い。さらに、
本実施形態では、実施の形態3と比較すると、フォーカ
スエラー信号を検出する第2の回折光検出器630の各
検出器間の分割線(すなわち、サブ回折光検出器630
A1とサブ回折光検出器630A2との間、サブ回折光
検出器630A2とサブ回折光検出器630A3との
間、サブ回折光検出器630B1とサブ回折光検出器6
30B2との間、サブ回折光検出器630B2とサブ回
折光検出器630B3との間)方向が光の回折方向に沿
っているので、波長誤差や波長シフトがあっても第2の
回折光検出器630上のスポットが分割線上に沿って動
くのでフォーカスの検出誤差が発生しにくい。
Therefore, as in the first embodiment, the asymmetry of the tracking error signal due to the displacement between the optical axis of the optical disk device and the center axis of the objective lens is suppressed, and no off-track occurs during track control. In the present embodiment,
The hologram surface 650 is subdivided into strips. In each of the regions subdivided into strips, light condensed before the photodetector 600 and light condensed behind the photodetector 600 are generated, and the FE signal is detected from the diffracted light. So
The influence of dust and dirt on the disk substrate 172 is canceled, and the stability of focus error control is high. further,
In the present embodiment, as compared with the third embodiment, the dividing line between the detectors of the second diffracted light detector 630 that detects the focus error signal (that is, the sub-diffraction light detector 630).
A1 and the sub-diffraction light detector 630A2, between the sub-diffraction light detector 630A2 and the sub-diffraction light detector 630A3, and between the sub-diffraction light detector 630B1 and the sub-diffraction light detector 6
30B2, and between the sub-diffraction light detector 630B2 and the sub-diffraction light detector 630B3) are along the light diffraction direction, so that even if there is a wavelength error or a wavelength shift, the second diffraction light detector Since the spot on 630 moves along the dividing line, a focus detection error hardly occurs.

【0145】なお、実施の形態1や実施の形態3では、
波長誤差または波長シフトに起因するFE検出誤差が生
じやすいが、光検出器の回転調整に対する余裕度がある
というメリットを有する。FE信号検出の際の検出器の
分割線方向を光の回折方向に揃えるか否かは設計思想に
よる。実施の形態1から3、及び以下に述べる実施の形
態では分割線方向を回折方向に直交させる形態を説明す
るが、実施の形態4のように分割線方向を回折方向に揃
える構成も当然考えられる。
In Embodiments 1 and 3,
Although an FE detection error due to a wavelength error or a wavelength shift is likely to occur, there is an advantage that there is a margin for rotation adjustment of the photodetector. Whether or not the direction of the dividing line of the detector at the time of detecting the FE signal is aligned with the direction of diffraction of light depends on the design concept. In Embodiments 1 to 3 and the following embodiments, a configuration in which the direction of the dividing line is orthogonal to the diffraction direction will be described. However, a configuration in which the direction of the dividing line is aligned with the direction of diffraction as in the fourth embodiment is naturally conceivable. .

【0146】(実施の形態5)図7Aは本発明の実施の
形態5における偏光ホログラム面750の構成を示す。
図7Bは本発明の実施の形態5における光検出器700
の構成を示す。本発明の実施の形態5の光ディスク装置
は、光検出器700の構成が異なる以外は実施の形態3
の光ディ駆装置同一であり、他の部分の構成要素に関す
る記述には図1Aの参照符号を引用する。
(Embodiment 5) FIG. 7A shows a configuration of a polarization hologram surface 750 according to Embodiment 5 of the present invention.
FIG. 7B shows a photodetector 700 according to Embodiment 5 of the present invention.
Is shown. The optical disk device according to the fifth embodiment of the present invention is different from the optical disk device according to the third embodiment except that the configuration of the photodetector 700 is different.
The same reference numerals in FIG. 1A are used for the description of the components of the other parts.

【0147】図7Aにおいて偏光ホログラム面750
は、光ディスク170の回転方向に平行な分割線752
及びこれに直交する分割線753を境にホログラムパタ
ーンの異なる4つの領域(750a、750b、750
c、750d)に分けられる。光ディスク170によっ
て反射された反射光束751は、分割線752、753
によりほぼ4等分割される。第1の領域750aはさら
に分割線753に沿った短冊領域に分けられる(具体的
には、領域750F11、750B11、750F1
2、750B12、750F13)。第2の領域750
bは分割線753に沿った短冊領域に分けられる(具体
的には、領域750B21、750F21、750B2
2、750F22、750B23)。第3の領域750
cは分割線753に沿った短冊領域に分けられる(具体
的には、領域750F31、750B31、750F3
2、750B32、750F33)。第4の領域750
dは分割線753に沿った短冊領域に分けられる(具体
的には、領域750B41、750F41、750B4
2、750F42、750B43)。
In FIG. 7A, the polarization hologram surface 750
Is a dividing line 752 parallel to the rotation direction of the optical disc 170.
And four regions (750a, 750b, and 750) having different hologram patterns with a dividing line 753 orthogonal to the boundary.
c, 750d). The reflected light beam 751 reflected by the optical disk 170 is divided into split lines 752 and 753
Divides into approximately four equal parts. The first region 750a is further divided into strip regions along the division line 753 (specifically, the regions 750F11, 750B11, and 750F1).
2,750B12,750F13). Second area 750
b is divided into strip regions along the division line 753 (specifically, the regions 750B21, 750F21, and 750B2
2,750F22,750B23). Third region 750
c is divided into strip regions along the dividing line 753 (specifically, the regions 750F31, 750B31, 750F3
2,750B32,750F33). Fourth region 750
d is divided into strip regions along the dividing line 753 (specifically, the regions 750B41, 750F41, and 750B4
2,750F42,750B43).

【0148】第1〜第4の領域750a〜dにおいて、
「F」で示した領域(例えば、750F11、750F
22)を通る−1次回折光は光検出器700の手前で集
光する。一方、「B」で示した領域(例えば、750B
11、750B22)を通る−1次回折光は光検出器7
00の奥で集光する。
In the first to fourth regions 750a to 750d,
The area indicated by “F” (for example, 750F11, 750F
The -1st-order diffracted light passing through 22) is collected before the photodetector 700. On the other hand, the region indicated by “B” (for example, 750B
11, 750B22) passes through the photodetector 7
Light is collected at the depth of 00.

【0149】光検出器700は、透過光検出器710
と、第1および第2の回折光検出器720、730を含
む。透過光検出器710は光検出器700の中心領域に
設けられる。第1および第2の回折光検出器720、7
30は、透過光検出器710を挟む2つの外縁領域に設
けられる。
The light detector 700 includes a transmitted light detector 710
And first and second diffracted light detectors 720, 730. The transmitted light detector 710 is provided in a central region of the light detector 700. First and second diffracted light detectors 720, 7
Reference numerals 30 are provided in two outer edge regions sandwiching the transmitted light detector 710.

【0150】透過光検出器710は、2つのサブ透過光
検出器710Aおよび710Bを含む。透過光検出器7
10は、領域710C1、710C2を含む。領域71
0C1にはサブ透過光検出器710Aが設けられる。領
域710C2にはサブ透過光検出器710Bが設けられ
る。領域710C1と領域710C2は分割線711に
よって分離されている。分割線711の方向は光ディス
ク170の回転方向に平行である。
Transmitted light detector 710 includes two sub-transmitted light detectors 710A and 710B. Transmitted light detector 7
10 includes regions 710C1 and 710C2. Area 71
A sub-transmission light detector 710A is provided at 0C1. The sub-transmission light detector 710B is provided in the area 710C2. The region 710C1 and the region 710C2 are separated by a dividing line 711. The direction of the dividing line 711 is parallel to the rotation direction of the optical disk 170.

【0151】第1の外縁領域には第1の回折光検出器7
20が設けられている。第1の回折光検出器720は、
4つのサブ回折光検出器720A1、720A2、72
0B1、720B2を含む。第1の回折光検出器720
は領域720C1、720C2、720C3、720C
4を含む。領域720C1には、サブ回折光検出器72
0A1が設けられる。領域720C2には、サブ回折光
検出器720A2が設けられる。領域720C3には、
サブ回折光検出器720B1が設けられる。領域720
C4には、サブ回折光検出器720B2が設けられる。
The first outer edge region has a first diffracted light detector 7
20 are provided. The first diffracted light detector 720 includes:
Four sub-diffraction light detectors 720A1, 720A2, 72
0B1 and 720B2. First diffracted light detector 720
Are the areas 720C1, 720C2, 720C3, and 720C
4 inclusive. The sub-diffraction light detector 72 is provided in the area 720C1.
0A1 is provided. The sub-diffraction light detector 720A2 is provided in the area 720C2. In the area 720C3,
A sub-diffraction light detector 720B1 is provided. Region 720
C4 is provided with a sub-diffraction light detector 720B2.

【0152】第2の外縁領域には第2の回折光検出器7
30が設けられている。第2の回折光検出器730は、
実施の形態3で示した検出器600の第2の回折光検出
器630と同様に6つのサブ回折光検出器730A1、
730A2、730A3、730B1、730B2、7
30B3を含む。サブ回折光検出器730A1、730
B2、730A3は導通しており、また、サブ回折光検
出器730B1、730A2、730B3も導通してい
る。第2の回折光検出器730は、領域730C1、7
30C2、730C3、730C4、730C5、73
0C6を含む。領域730C1にはサブ回折光検出器7
30A1が設けられる。領域730C2にはサブ回折光
検出器730A2が設けられる。領域730C3にはサ
ブ回折光検出器730A3が設けられる。領域730C
4にはサブ回折光検出器730B1が設けられる。領域
730C5にはサブ回折光検出器730B2が設けられ
る。領域730C6にはサブ回折光検出器730B3が
設けられる。
The second outer edge region has a second diffracted light detector 7
30 are provided. The second diffracted light detector 730 is
Six sub-diffraction light detectors 730A1, similarly to the second diffraction light detector 630 of the detector 600 shown in the third embodiment,
730A2, 730A3, 730B1, 730B2, 7
30B3. Sub-diffraction light detectors 730A1, 730
B2 and 730A3 are conducting, and the sub-diffraction light detectors 730B1, 730A2 and 730B3 are also conducting. The second diffracted light detector 730 includes the regions 730C1, 7
30C2, 730C3, 730C4, 730C5, 73
0C6. The sub-diffraction light detector 7 is located in the region 730C1.
30A1 is provided. The sub-diffraction light detector 730A2 is provided in the area 730C2. The sub-diffraction light detector 730A3 is provided in the area 730C3. Area 730C
4 is provided with a sub-diffraction light detector 730B1. The sub-diffraction light detector 730B2 is provided in the area 730C5. The sub-diffraction light detector 730B3 is provided in the area 730C6.

【0153】偏光ホログラム面750の第1の領域75
0a上において一つ置きに位置する短冊領域750B1
1、750B12を通って回折する1次回折光はサブ回
折光検出器720B1上にスポット782B1として集
光し、−1次回折光はサブ回折光検出器730B2にま
たがったスポット783B1としてサブ回折光検出器7
30B3上に集光する。
First region 75 of polarization hologram surface 750
Strip region 750B1 located at every other position on line 0a
The first-order diffracted light diffracted through 1,750B12 is condensed on the sub-diffraction light detector 720B1 as a spot 782B1, and the -1st-order diffracted light is detected as a spot 783B1 over the sub-diffraction light detector 730B2.
The light is focused on 30B3.

【0154】偏光ホログラム面750の第1の領域75
0aの残りの短冊領域750F11、750F12、7
50F13を通って回折する1次回折光はサブ回折光検
出器720B1上に集光するスポット782F1とな
り、−1次回折光はサブ回折光検出器730B3にまた
がったスポット783F1としてサブ回折光検出器73
0B2上に集光する。
First region 75 of polarization hologram surface 750
The remaining strip areas 750F11, 750F12, and 7 of 0a
The first-order diffracted light diffracted through the 50F13 becomes a spot 782F1 condensed on the sub-diffraction light detector 720B1, and the -1st-order diffraction light becomes a spot 783F1 straddling the sub-diffraction light detector 730B3.
Focus on 0B2.

【0155】偏光ホログラム面750の第2の領域75
0b上において一つ置きに位置する短冊領域750B2
1、750B22、750B23を通って回折する1次
回折光は、サブ回折光検出器720A2上にスポット7
82B2として集光し、−1次回折光は光検出器730
A1にまたがったスポット783B2としてサブ回折光
検出器730A2上に集光する。
The second area 75 of the polarization hologram surface 750
Strip region 750B2 located at every other position on 0b
The first order diffracted light diffracted through 1, 750B22, 750B23 is spot 7 on the sub-diffraction light detector 720A2.
The first-order diffracted light is collected as a light detector 730.
The light is condensed on the sub-diffraction light detector 730A2 as a spot 783B2 extending over A1.

【0156】偏光ホログラム面750の第2の領域75
0bの残りの短冊領域750F21、750F22を通
って回折する1次回折光は、サブ回折光検出器720A
2上にスポット782F2として集光し、−1次回折光
はサブ回折光検出器730A2にまたがったスポット7
83F2としてサブ回折光検出器730A1上に集光す
る。
The second area 75 of the polarization hologram surface 750
The first-order diffracted light diffracted through the remaining strip regions 750F21 and 750F22 of the sub-diffraction light detector 720A
2 is condensed as a spot 782F2, and the -1st-order diffracted light is a spot 7 that straddles the sub-diffraction light detector 730A2.
The light is condensed on the sub-diffraction light detector 730A1 as 83F2.

【0157】偏光ホログラム面750の第3の領域75
0c上において一つ置きに位置する短冊領域750B3
1、750B32を通って回折する1次回折光は、サブ
回折光検出器720A1上にスポット782B3として
集光し、−1次回折光はサブ回折光検出器730A3に
またがったスポット783B3としてサブ回折光検出器
730A2上に集光する。
The third region 75 of the polarization hologram surface 750
Strip area 750B3 located every other on 0c
The first-order diffracted light diffracted through 1,750B32 is condensed on the sub-diffraction light detector 720A1 as a spot 782B3, and the -1st-order diffracted light is detected as a spot 783B3 straddling the sub-diffraction light detector 730A3. Focus on 730A2.

【0158】偏光ホログラム面750の残りの短冊領域
750F31、750F32、750F33を通って回
折する1次回折光はサブ回折光検出器720A1上にス
ポット782F3として集光し、−1次回折光はサブ回
折光検出器730A2にまたがったスポット783F3
としてサブ回折光検出器730A3上に集光する。
The first-order diffracted light diffracted through the remaining strip regions 750F31, 750F32, and 750F33 of the polarization hologram surface 750 is collected as a spot 782F3 on the sub-diffraction light detector 720A1, and the -1st-order diffracted light is detected as the sub-diffraction light detection. 783F3 over the vessel 730A2
And condensed on the sub-diffraction light detector 730A3.

【0159】偏光ホログラム面750の第4の領域75
0d上において一つ置きに位置する短冊領域750B4
1、750B42、750B43を通って回折する1次
回折光は、サブ回折光検出器720B2上にスポット7
82B4として集光し、−1次回折光は、サブ回折光検
出器730B2にまたがったスポット783B4として
サブ回折光検出器730B1上に集光する。
The fourth region 75 of the polarization hologram surface 750
Strip area 750B4 positioned every other on 0d
The first order diffracted light diffracted through 1, 750B42, 750B43 is spot 7 on the sub-diffraction light detector 720B2.
The first-order diffracted light is condensed on the sub-diffraction light detector 730B1 as a spot 783B4 straddling the sub-diffraction light detector 730B2.

【0160】偏光ホログラム面750の第4の領域75
0dの残りの短冊領域750F41、750F42を通
って回折する1次回折光は、サブ回折光検出器720B
2上にスポット782F4として集光し、−1次回折光
はサブ回折光検出器730B1にまたがったスポット7
83F4としてサブ回折光検出器730B2上に集光す
る。
The fourth region 75 of the polarization hologram surface 750
The first-order diffracted light diffracted through the remaining strip regions 750F41 and 750F42 of the sub-diffraction light detector 720B
2, and the -1st-order diffracted light is focused on the sub-diffraction light detector 730B1 as the spot 782F4.
The light is condensed on the sub-diffraction light detector 730B2 as 83F4.

【0161】さらに偏光ホログラム面750を透過する
光(0次光)は中心領域のほぼ分割線711上に集光す
るスポット781となる。その焦点は、透過光検出器7
10の検出面の奥側に位置している。光検出器710
A,710Bによる検出光量からは減算器741により
差分され第1のトラッキングエラー信号741s(TE
1信号)が得られ、加算器742により加算され再生信
号742sを得ることができる。TE1信号は図10B
で示した検出器1050で説明したTE1信号に相当す
る。
Further, the light (zero-order light) transmitted through the polarization hologram surface 750 becomes a spot 781 condensed almost on the dividing line 711 in the central area. The focal point is the transmitted light detector 7
10 are located on the far side of the detection surface. Photodetector 710
A, and a first tracking error signal 741 s (TE
1 signal), and are added by the adder 742 to obtain a reproduced signal 742s. TE1 signal is shown in FIG. 10B
Corresponds to the TE1 signal described in the detector 1050.

【0162】実施形態1で説明したのと同様に、実質的
に矩形状な透過光検出器710を実質的に矩形状なサブ
透過光検出器710A、710Bに分離して配置した場
合、光ディスク170の回転方向に平行に分離される7
10A、710Bによって検出される光の量の差がTE
1信号である。また、サブ透過光検出器710A、71
0Bによって検出される光の量の和が再生信号である。
As described in the first embodiment, when the substantially rectangular transmitted light detector 710 is disposed separately from the substantially rectangular sub-transmitted light detectors 710A and 710B, the optical disk 170 Separated parallel to the direction of rotation
The difference in the amount of light detected by 10A and 710B is TE
One signal. Also, the sub transmitted light detectors 710A, 71
The sum of the amounts of light detected by 0B is the reproduced signal.

【0163】光検出器720A1,720A2,720
B1,720B2による検出光量は720A1+720
A2−720B1−720B2の関係式を有する演算器
743により第2のトラッキングエラー信号743s
(TE2信号)が得られ、720A1+720B2−7
20A2−720B1の関係式の演算器744により第
3のトラッキングエラー信号744s(TE3信号)を
得ることができる。TE2信号は図11Cで示された光
検出器1190で説明されたTE2信号に相当する。
Photodetectors 720A1, 720A2, 720
The amount of light detected by B1 and 720B2 is 720A1 + 720
The second tracking error signal 743s is calculated by the computing unit 743 having the relational expression of A2-720B1-720B2.
(TE2 signal) is obtained, and 720A1 + 720B2-7
The third tracking error signal 744s (TE3 signal) can be obtained by the calculator 744 of the relational expression of 20A2-720B1. The TE2 signal corresponds to the TE2 signal described in the photodetector 1190 shown in FIG. 11C.

【0164】さらに、演算器745は、第2の回折光検
出器730のサブ回折光検出器730A1、730A
2、730A3、730B1、730B2、730B3
によって検出される光の量から、730B1+730B
3+730A2−730A1−730A3−730B2
を出力する。演算器745の出力は、フォーカスエラー
信号745s(FE信号)である。
Further, the arithmetic unit 745 includes the sub-diffraction light detectors 730A1 and 730A of the second diffraction light detector 730.
2,730A3,730B1,730B2,730B3
730B1 + 730B from the amount of light detected by
3 + 730A2-730A1-730A3-730B2
Is output. The output of the calculator 745 is a focus error signal 745s (FE signal).

【0165】本実施の形態においても、偏光ホログラム
面750を透過した直後の波面の位相分布が実施の形態
1の場合と同様に鋸波形に内接する階段形状をなすよう
に設定している。この場合、1段目と2段目、2段目と
3段目の間の位相差はかなり小さくすることで、回折光
量比を0次光に70%、1次回折光に15%、−1次回
折光に5%と割り当てることができる。その結果、±1
次の回折効率が小さい分回折損が小さいため、全体の回
折光量和(=70+15+5=90%)が実施の形態1
に比べ大きくなる。このように、光量の大きさは、−1
次光、1次光、透過光の順番にすることができる。
Also in the present embodiment, the phase distribution of the wavefront immediately after passing through the polarization hologram surface 750 is set so as to form a staircase shape inscribed in a sawtooth waveform as in the first embodiment. In this case, the phase difference between the first and second stages and the second and third stages is considerably reduced, so that the diffraction light amount ratio is 70% for the 0th-order light, 15% for the first-order diffraction light, and -1. 5% can be assigned to the second order diffracted light. As a result, ± 1
Since the next diffraction efficiency is small and the diffraction loss is small, the total diffraction light amount (= 70 + 15 + 5 = 90%) is obtained in the first embodiment.
It is larger than. Thus, the magnitude of the light amount is −1
The order of the next light, the first light, and the transmitted light can be set.

【0166】この実施の形態5においても3種類のトラ
ッキングエラー信号(TE1,TE2,TE3信号)を
得ることができる。実施の形態1と同様にこれらの信号
はディスクの種類に応じて使い分けてもよい。例えば、
DVD−ROMディスク等の1/4波長深さのピットを
有する光ディスクの場合、制御装置185は、ピット信
号(エンボス信号)に対するトラッキングエラー信号と
してTE3信号を使用してもよい。一方、光ディスクが
DVD−RAMやDVD−Rディスク等の案内溝のある
ディスクである場合、制御装置185は、適切な定数k
を用いた演算値TE2−k×TE1をトラッキングエラ
ー信号として使用してもよい。この場合、制御装置18
5は光ディスクに応じて定数kの値を更新してもよい。
Also in the fifth embodiment, three types of tracking error signals (TE1, TE2, TE3 signals) can be obtained. As in the first embodiment, these signals may be properly used depending on the type of the disk. For example,
In the case of an optical disk having pits with a quarter wavelength depth such as a DVD-ROM disk, the control device 185 may use the TE3 signal as a tracking error signal for a pit signal (emboss signal). On the other hand, when the optical disk is a disk having a guide groove, such as a DVD-RAM or a DVD-R disk, the control device 185 determines an appropriate constant k
May be used as the tracking error signal. In this case, the control device 18
5 may update the value of the constant k according to the optical disk.

【0167】従って、実施の形態1と同様に、光ディス
ク装置の光軸と対物レンズの中心軸との変位に伴うトラ
ッキングエラー信号の非対称性が抑えられ、トラック制
御時のオフトラックも生じない。また、本実施形態は、
ホログラム面750が短冊状に細分化されている。短冊
状に細分化された各領域において、光検出器700の手
前で集光する光と、光検出器700の奥で集光する回折
光を生成して、その回折光からFE信号を検出している
ので、ディスク基材172上のゴミや汚れの影響がキャ
ンセルされ、フォーカスエラー制御の安定性は高い。さ
らに、実施の形態5では再生信号検出に0次光(透過
光)の検出光量を用いており、その検出指数=70/√
2=50程度得られ、実施の形態1に比べると大きなS
/Nを確保できる。
Therefore, as in the first embodiment, the asymmetry of the tracking error signal due to the displacement between the optical axis of the optical disk device and the center axis of the objective lens is suppressed, and no off-track occurs during track control. In addition, the present embodiment
The hologram surface 750 is subdivided into strips. In each of the regions subdivided into strips, light converging before the photodetector 700 and diffracted light condensing behind the photodetector 700 are generated, and the FE signal is detected from the diffracted light. Therefore, the influence of dust and dirt on the disk substrate 172 is canceled, and the stability of the focus error control is high. Further, in the fifth embodiment, the detected light amount of the zero-order light (transmitted light) is used for detecting the reproduction signal, and the detection index thereof is 70 / √.
2 = approximately 50, which is larger than that of the first embodiment.
/ N can be secured.

【0168】(実施の形態6)図8Aは本発明の実施の
形態6における偏光ホログラム面850の構成を示す。
図8Bは本発明の実施の形態6における光検出器800
の構成を示す。本発明の実施の形態6の光ディスク装置
は、光検出器800構成が異なる以外は実施の形態3の
光ディスク装置と同一であり、他の部分の構成要素に関
する記述には図1Aの参照符号を引用する。
(Embodiment 6) FIG. 8A shows a configuration of a polarization hologram surface 850 according to Embodiment 6 of the present invention.
FIG. 8B shows a photodetector 800 according to Embodiment 6 of the present invention.
Is shown. The optical disk device according to the sixth embodiment of the present invention is the same as the optical disk device according to the third embodiment except that the configuration of the photodetector 800 is different, and the reference numerals in FIG. I do.

【0169】図8Aにおいて偏光ホログラム面850
は、光ディスク170の回転方向に平行な分割線852
及びこれに直交する分割線853を境にホログラムパタ
ーンの異なる4つの領域(850a、850b、850
c、850d)に分けられる。光ディスク170によっ
て反射された反射光束851は、分割線852、853
によりほぼ4等分割される。第1の領域850aはさら
に分割線853に沿った短冊領域に分けられる(具体的
には、領域850F11、850B11、850F1
2、850B12、850F13)。第2の領域850
bは分割線853に沿った短冊領域に分けられる(具体
的には、領域850B21、850F21、850B2
2、850F22、850B23)。第3の領域850
cは分割線853に沿った短冊領域に分けられる(具体
的には、領域850F31、850B31、850F3
2、850B32、850F33)。第4の領域850
dは分割線853に沿った短冊領域に分けられる(具体
的には、領域850B41、850F41、850B4
2、850F42、850B43)。
In FIG. 8A, the polarization hologram surface 850 is shown.
Is a dividing line 852 parallel to the rotation direction of the optical disc 170.
And four regions (850a, 850b, and 850) having different hologram patterns with a dividing line 853 orthogonal to the boundary.
c, 850d). The reflected light beam 851 reflected by the optical disc 170 is divided into split lines 852 and 853.
Divides into approximately four equal parts. The first region 850a is further divided into strip regions along the division line 853 (specifically, the regions 850F11, 850B11, and 850F1).
2,850B12, 850F13). Second area 850
b is divided into strip regions along the division line 853 (specifically, the regions 850B21, 850F21, and 850B2
2,850F22, 850B23). Third region 850
c is divided into strip regions along the division line 853 (specifically, the regions 850F31, 850B31, 850F3
2,850B32, 850F33). Fourth region 850
d is divided into strip regions along the division line 853 (specifically, the regions 850B41, 850F41, and 850B4
2,850F42, 850B43).

【0170】第1〜第4の領域850a〜dにおいて、
「F」で示した領域(例えば、850F11、850F
22)を通る−1次回折光は光検出器800の手前で集
光する。一方、「B」で示した領域(例えば、850B
11、850B22)を通る−1次回折光は光検出器8
00の奥で集光する。
In the first to fourth regions 850a to 850d,
The area indicated by “F” (for example, 850F11, 850F
The -1st-order diffracted light passing through 22) is collected before the photodetector 800. On the other hand, the region indicated by “B” (for example, 850B
11, 850B22) passes through the first-order diffracted light.
Light is collected at the depth of 00.

【0171】光検出器800は、透過光検出器810
と、第1および第2の回折光検出器820、830を含
む。透過光検出器810は光検出器800の中心領域に
設けられる。第1および第2の回折光検出器820、8
30は透過光検出器810を挟む2つの外縁領域に設け
られる。
The light detector 800 includes a transmitted light detector 810
And first and second diffracted light detectors 820, 830. The transmitted light detector 810 is provided in a central region of the light detector 800. First and second diffracted light detectors 820, 8
Reference numeral 30 is provided in two outer edge regions sandwiching the transmitted light detector 810.

【0172】透過光検出器810は、2つのサブ透過光
検出器810A、810Bを含む。透過光検出器810
は、領域810C1、810C2を含む。領域810C
1ではサブ透過光検出器810Aが設けられる。領域8
10C2ではサブ透過光検出器810Bが設けられる。
領域810C1と領域810C2は、分割線811で2
つに分離される。分割線811の方向は光ディスク17
0の回転方向に平行である。
The transmitted light detector 810 includes two sub transmitted light detectors 810A and 810B. Transmitted light detector 810
Includes regions 810C1 and 810C2. Area 810C
In 1, a sub-transmission light detector 810A is provided. Area 8
In 10C2, a sub-transmission light detector 810B is provided.
The area 810C1 and the area 810C2 are separated by a dividing line 811.
Separated into two. The direction of the dividing line 811 is
0 is parallel to the rotation direction.

【0173】第1の外縁領域に設けられる第1の回折光
検出器820は、サブ回折光検出器820A、820B
を含む。第1の回折光検出器820は領域820C1、
820C2を含む。領域820C1にはサブ回折光検出
器820Aが設けられる。領域820C2にはサブ回折
光検出器820Bが設けられる。
The first diffracted light detector 820 provided in the first outer edge region includes sub-diffraction light detectors 820A and 820B.
including. The first diffracted light detector 820 has a region 820C1,
820C2. The sub-diffraction light detector 820A is provided in the area 820C1. The sub-diffraction light detector 820B is provided in the area 820C2.

【0174】第2の外縁領域に設けられる第2の回折光
検出器830は、実施の形態3と同様に、サブ回折光検
出器830A1、830A2、830A3、830B
1、830B2、830B3を含む。第2の回折光検出
器830は、領域830C1、830C2、830C
3、830C4、830C5、830C6を含む。領域
830C1にはサブ回折光検出器830A1が設けられ
る。領域830C2にはサブ回折光検出器830A2が
設けられる。領域830C3にはサブ回折光検出器83
0A3が設けられる。領域830C4にはサブ回折光検
出器830B1が設けられる。領域830C5にはサブ
回折光検出器830B2が設けられる。領域830C6
にはサブ回折光検出器830B3が設けられる。
The second diffracted light detector 830 provided in the second outer edge region has sub-diffraction light detectors 830A1, 830A2, 830A3, and 830B as in the third embodiment.
1, 830B2 and 830B3. The second diffracted light detector 830 includes the regions 830C1, 830C2, and 830C.
3, 830C4, 830C5, 830C6. The sub-diffraction light detector 830A1 is provided in the area 830C1. The sub-diffraction light detector 830A2 is provided in the area 830C2. The sub-diffraction light detector 83 is provided in the area 830C3.
0A3 is provided. The sub-diffraction light detector 830B1 is provided in the area 830C4. The sub-diffraction light detector 830B2 is provided in the area 830C5. Area830C6
Is provided with a sub-diffraction light detector 830B3.

【0175】偏光ホログラム面850の第1の領域85
0a上において一つ置きに位置する短冊領域850B1
1、850B12を通って回折する1次回折光は、サブ
回折光検出器820B上にスポット882B1として集
光し、−1次回折光はサブ回折光検出器830B2にま
たがったスポット883B1としてサブ回折光検出器8
30B3上に集光する。
First region 85 of polarization hologram surface 850
Strip region 850B1 located at every other position on line 0a
The first-order diffracted light diffracted through 1,850B12 converges on the sub-diffraction light detector 820B as a spot 882B1, and the -1st-order diffracted light as a spot 883B1 straddling the sub-diffraction light detector 830B2. 8
The light is focused on 30B3.

【0176】偏光ホログラム面850の第1の領域85
0aの残りの短冊領域850F11、850F12、8
50F13を通って回折する1次回折光は、サブ回折光
検出器820B上にスポット882F1として集光し、
−1次回折光はサブ回折光検出器830B3にまたがっ
たスポット883F1としてサブ回折光検出器830B
2上に集光する。
First Region 85 of Polarization Hologram Surface 850
The remaining strip areas 850F11, 850F12, 8 of 0a
The first-order diffracted light diffracted through the 50F13 is collected as a spot 882F1 on the sub-diffraction light detector 820B,
The -1st-order diffracted light is converted into a spot 883F1 extending over the sub-diffraction light detector 830B3.
Focus on 2

【0177】偏光ホログラム面850の第2の領域85
0b上において一つ置きに位置する短冊領域850B2
1、850B22、850B23を通って回折する1次
回折光は、サブ回折光検出器820A上にスポット88
2B2として集光し、−1次回折光は光検出器830A
1にまたがったスポット883B2としてサブ回折光検
出器830A2上に集光する。
Second region 85 of polarization hologram surface 850
0b, a strip region 850B2 located at every other position
The first order diffracted light diffracted through 1,850B22 and 850B23 is spot 88 on the sub-diffraction light detector 820A.
The light is collected as 2B2, and the -1st-order diffracted light is detected by the
The light is condensed on the sub-diffraction light detector 830A2 as a spot 883B2 straddling 1.

【0178】偏光ホログラム面850の第2の領域85
0bの残りの短冊領域850F21、850F22を通
って回折する1次回折光はサブ回折光検出器820A上
に集光するスポット882F2となり、−1次回折光は
サブ回折光検出器830A2にまたがったスポット88
3F2としてサブ回折光検出器830A1上に集光す
る。
The second area 85 of the polarization hologram plane 850
The first-order diffracted light diffracted through the remaining strip regions 850F21 and 850F22 of Ob becomes a spot 882F2 converged on the sub-diffraction light detector 820A, and the −1st-order diffracted light spreads over the sub-diffraction light detector 830A2.
The light is condensed on the sub-diffraction light detector 830A1 as 3F2.

【0179】偏光ホログラム面850の第3の領域85
0c上において一つ置きに位置する短冊領域850B3
1、850B32を通って回折する1次回折光は、サブ
回折光検出器820A上にスポット882B3として集
光し、−1次回折光はサブ回折光検出器830A3にま
たがったスポット883B3としてサブ回折光検出器8
30A2上に集光する。
Third Region 85 of Polarization Hologram Surface 850
Strip region 850B3 located at every other position on 0c
The first-order diffracted light diffracted through 1,850B32 is condensed as a spot 882B3 on the sub-diffraction light detector 820A, and the -1st-order diffracted light is detected as a spot 883B3 straddling the sub-diffraction light detector 830A3. 8
The light is focused on 30A2.

【0180】偏光ホログラム面850の第3の領域85
0cの残りの短冊領域850F31、850F32、8
50F33を通って回折する1次回折光は、サブ回折光
検出器820A上にスポット882F3として集光し、
−1次回折光はサブ回折光検出器830A2にまたがっ
たスポット883F3としてサブ回折光検出器830A
3上に集光する。
Third Region 85 of Polarization Hologram Surface 850
The remaining strip areas 850F31, 850F32, 8 of 0c
The first-order diffracted light diffracted through the 50F33 is collected as a spot 882F3 on the sub-diffraction light detector 820A,
The -1st-order diffracted light is detected as a spot 883F3 over the sub-diffraction light detector 830A2.
Focus on 3

【0181】偏光ホログラム面850の第4の領域85
0d上において一つ置きに位置する短冊領域850B4
1、850B42、850B43を通って回折する1次
回折光は、サブ回折光検出器820B上にスポット88
2B4として集光し、−1次回折光は光検出器830B
2にまたがったスポット883B4としてサブ回折光検
出器830B1上に集光する。
The fourth region 85 of the polarization hologram surface 850
Strip area 850B4 located every other on 0d
The first order diffracted light diffracted through 1,850B42,850B43 is spot 88 on sub-diffraction light detector 820B.
2B4, and the -1st-order diffracted light is detected by the
The light is condensed on the sub-diffraction light detector 830B1 as a spot 883B4 extending over two.

【0182】偏光ホログラム面850の第4の領域85
0dの残りの短冊領域850F41、850F42を通
って回折する1次回折光は、サブ回折光検出器820B
上にスポット882F4として集光し、−1次回折光は
サブ回折光検出器830B1にまたがったスポット88
3F4としてサブ回折光検出器830B2上に集光す
る。
The fourth region 85 of the polarization hologram surface 850
The first-order diffracted light diffracted through the remaining strip regions 850F41 and 850F42 of the sub-diffraction light detector 820B
The light is condensed on the spot as a spot 882F4, and the -1st-order diffracted light is spot 88 that straddles the sub-diffraction light detector 830B1.
The light is condensed on the sub-diffraction light detector 830B2 as 3F4.

【0183】さらに偏光ホログラム面850を透過する
光(0次光)は中心領域のほぼ分割線811上にスポッ
ト881として集光する。サブ透過光検出器810A,
810Bによって検出される光量から、減算器841に
より差分され第1のトラッキングエラー信号841s
(TE1信号)が得られ、加算器842により加算され
再生信号842sを得ることができる。TE1信号は図
10Bで示される光検出器1050で説明されたTE1
信号に相当する。
Further, the light (zero-order light) transmitted through the polarization hologram surface 850 is condensed as a spot 881 on almost the dividing line 811 in the central area. Sub transmitted light detector 810A,
The first tracking error signal 841 s is subtracted by a subtractor 841 from the light amount detected by 810B.
(TE1 signal) is obtained and added by the adder 842 to obtain a reproduced signal 842s. The TE1 signal is the TE1 signal described in the photodetector 1050 shown in FIG. 10B.
Signal.

【0184】第1の回折光検出器820のサブ回折光検
出器820A,820Bによって検出された光量から、
減算器843は第2のトラッキングエラー信号842s
(TE2信号)を得ることができる。TE2信号は図1
1Cで示される光検出器1190で説明されたTE2信
号に相当する。
Based on the light amounts detected by the sub-diffraction light detectors 820A and 820B of the first diffraction light detector 820,
The subtractor 843 outputs the second tracking error signal 842s
(TE2 signal) can be obtained. The TE2 signal is shown in FIG.
1C corresponds to the TE2 signal described in the photodetector 1190.

【0185】さらに、第2の回折光検出器830のサブ
回折光検出器830A1、830A2、830A3、8
30B1、830B2、830B3による検出される光
量から、演算器845は830B1+830B3+83
0A2−830A1−830A3−830B2を出力す
る。演算器845の出力は、フォーカスエラー信号84
5s(FE信号)である。
Further, the sub-diffraction light detectors 830A1, 830A2, 830A3, 8 of the second diffraction light detector 830
Based on the amounts of light detected by 30B1, 830B2, and 830B3, arithmetic unit 845 calculates 830B1 + 830B3 + 83
0A2-830A1-830A3-830B2 are output. The output of the arithmetic unit 845 is the focus error signal 84
5 s (FE signal).

【0186】本実施の形態では偏光ホログラム面850
を透過した直後の波面の位相分布が実施の形態1の場合
と違って周期的な矩形形状(いわゆる、2レベルのグレ
ーティング形状)をなすように設定している。この場
合、その下段と上段の位相差はかなり小さく、回折光量
を0次光に70%、1次回折光に10%、−1次回折光
に10%というように割り当てられる。したがって、回
折効率が小さい分回折損も小さく、全体の回折光量和
(=70+10+10=90%)が実施の形態1に比べ
大きくなる。このように、光量の大きさを、1次回折光
および−1次回折光、透過光の順番にすることができ
る。また、さらに、光量の大きさは、1次回折光、−1
次回折光、透過光の順番にしてもよい。
In the present embodiment, the polarization hologram surface 850 is used.
Unlike the first embodiment, the phase distribution of the wavefront immediately after transmitting the light is set to form a periodic rectangular shape (a so-called two-level grating shape). In this case, the phase difference between the lower stage and the upper stage is considerably small, and the amount of diffracted light is allocated to 70% for the 0th-order light, 10% for the 1st-order diffracted light, and 10% for the -1st-order diffracted light. Therefore, the diffraction loss is small due to the small diffraction efficiency, and the total diffraction light amount (= 70 + 10 + 10 = 90%) is larger than that in the first embodiment. In this way, the magnitude of the light amount can be set to the order of the first-order diffracted light, the -1st-order diffracted light, and the transmitted light. Further, the magnitude of the light amount is the first-order diffracted light, -1.
The order of next diffracted light and transmitted light may be used.

【0187】この実施の形態6においても2種類のトラ
ッキングエラー信号(TE1,TE2信号)を得ること
ができる。したがって、実施の形態1と同様に、制御装
置185は、適切な定数kを用いた演算値TE2−k×
TE1をトラッキングエラー信号として使用し、さらに
光ディスクに応じて定数kの値を更新することができ
る。
Also in the sixth embodiment, two types of tracking error signals (TE1 and TE2 signals) can be obtained. Therefore, similarly to Embodiment 1, control device 185 calculates operation value TE2-k × using an appropriate constant k.
Using TE1 as a tracking error signal, the value of the constant k can be updated according to the optical disk.

【0188】実施の形態1と同様に、光ディスク装置の
光軸と対物レンズの中心軸との変位に伴うトラッキング
エラー信号の非対称性が抑えられ、トラック制御時のオ
フトラックも生じない。また、本実施形態では、ホログ
ラム面850が短冊状に細分化されている。短冊状に細
分化された各領域において、検出器800の面の手前で
集光する光と、検出器800の奥で集光する回折光を生
成して、その回折光からFE信号を検出しているので、
ディスク基材172上のゴミや汚れの影響がキャンセル
され、フォーカスエラー制御の安定性は高い。
As in the first embodiment, the asymmetry of the tracking error signal due to the displacement between the optical axis of the optical disk device and the center axis of the objective lens is suppressed, and no off-track occurs during track control. In the present embodiment, the hologram surface 850 is subdivided into strips. In each of the regions subdivided into strips, light condensed before the surface of the detector 800 and diffracted light condensed behind the detector 800 are generated, and the FE signal is detected from the diffracted light. So
The influence of dust and dirt on the disk substrate 172 is canceled, and the stability of focus error control is high.

【0189】さらに、実施の形態6では再生信号を検出
する際に0次光(透過光)の検出光量を用いており、そ
の検出指数=70/√2=50程度得られ、実施の形態
1に比べ大きなS/Nを確保できる。ただし、本実施形
態では、第3のトラッキングエラー信号(TE3信号)
が得られないので、制御装置185は、DVD−ROM
ディスク等の1/4波長程度の深さのピットを有する光
ディスクのピット信号(エンボス信号)に対するトラッ
キングは出来ない。
Further, in the sixth embodiment, the detected light quantity of the 0th-order light (transmitted light) is used when detecting the reproduced signal, and the detection index thereof is about 70 / √2 = 50. Larger S / N can be secured as compared with. However, in the present embodiment, the third tracking error signal (TE3 signal)
Cannot be obtained, the control device 185 controls the DVD-ROM
Tracking cannot be performed on a pit signal (emboss signal) of an optical disk such as a disk having pits having a depth of about 1/4 wavelength.

【0190】なお、実施の形態6では再生信号の検出に
0次光の検出光量を用いたが、1次回折光の検出光量を
用いてもよい。サブ回折光検出器820A、820Bに
よる検出光量を加算器844により加算して再生信号8
44sを得ることができる。この場合、偏光ホログラム
面850を透過した直後の波面の位相分布は実施の形態
1の場合と同じで、0次光の光量に20%、1次回折光
の光量に47.6%、−1次回折光の光量に12.4%
であり、再生信号の検出指数=47.6/√2=34で
ある。
In the sixth embodiment, the detected light quantity of the zero-order light is used for detecting the reproduced signal, but the detected light quantity of the first-order diffracted light may be used. The amount of light detected by the sub-diffraction light detectors 820A and 820B is added by an adder 844 to obtain a reproduced signal 8
44s can be obtained. In this case, the phase distribution of the wavefront immediately after passing through the polarization hologram surface 850 is the same as that of the first embodiment, that is, 20% for the light amount of the 0th-order light, 47.6% for the light amount of the 1st-order diffracted light, and −1st time. 12.4% for the amount of folded light
And the detection index of the reproduced signal = 47.6 / √2 = 34.

【0191】(実施の形態7)図9Aは本発明の実施の
形態7における偏光ホログラム面950の構成を示す。
図9Bは本発明の実施の形態7における光検出器900
の構成を示す。本発明の実施の形態7の光ディスク装置
は、光検出器900の構成が異なる以外は実施の形態3
の光ディスク装置と同一であり、他の部分の構成要素に
関する記述には図1Aの参照符号を引用する。
(Embodiment 7) FIG. 9A shows a configuration of a polarization hologram surface 950 according to Embodiment 7 of the present invention.
FIG. 9B shows a photodetector 900 according to Embodiment 7 of the present invention.
Is shown. The optical disk device according to the seventh embodiment of the present invention is different from the optical disk device according to the third embodiment except that the configuration of the photodetector 900 is different.
1A is referred to for the description of the components of the other parts.

【0192】図9Aにおいて偏光ホログラム面950
は、光ディスク170の回転方向に平行な分割線952
及びこれに直交する分割線953を境にホログラムパタ
ーンの異なる4つの領域(950a、950b、950
c、950d)に分けられる。光ディスク170によっ
て反射された反射光束951は、分割線952、953
によりほぼ4等分割される。第1の領域950aはさら
に分割線953に沿った短冊領域に分けられる(具体的
には、領域950F11、950B11、950F1
2、950B12、950F13)。第2の領域950
bは分割線953に沿った短冊領域に分けられる(具体
的には、領域950B21、950F21、950B2
2、950F22、950B23)。第3の領域950
cは分割線953に沿った短冊領域に分けられる(具体
的には、領域950F31、950B31、950F3
2、950B32、950F33)。第4の領域950
dは分割線953に沿った短冊領域に分けられる(具体
的には、領域950B41、950F41、950B4
2、950F42、950B43)。
In FIG. 9A, the polarization hologram surface 950
Is a dividing line 952 parallel to the rotation direction of the optical disc 170.
And four regions (950a, 950b, and 950) having different hologram patterns with a dividing line 953 orthogonal to the boundary.
c, 950d). The reflected light beam 951 reflected by the optical disk 170 is divided into split lines 952 and 953.
Divides into approximately four equal parts. The first region 950a is further divided into strip regions along the division line 953 (specifically, the regions 950F11, 950B11, and 950F1).
2, 950B12, 950F13). Second area 950
b is divided into strip regions along the division line 953 (specifically, the regions 950B21, 950F21, 950B2
2,950F22, 950B23). Third area 950
c is divided into strip regions along the dividing line 953 (specifically, the regions 950F31, 950B31, 950F3
2, 950B32, 950F33). Fourth region 950
d is divided into strip regions along the division line 953 (specifically, the regions 950B41, 950F41, and 950B4
2, 950F42, 950B43).

【0193】第1〜第4の領域950a〜dにおいて、
「F」で示した領域(例えば、950F11、950F
22)を通る−1次回折光は光検出器900の手前で集
光する。一方、「B」で示した領域(例えば、950B
11、950B22)を通る−1次回折光は光検出器9
00の奥で集光する。
In the first to fourth regions 950a to 950d,
The area indicated by “F” (for example, 950F11, 950F
The -1st-order diffracted light passing through 22) is collected before the photodetector 900. On the other hand, the region indicated by “B” (for example, 950B
11, 950B22) passes through the photodetector 9
Light is collected at the depth of 00.

【0194】光検出器900は、透過光検出器910
と、第1および第2の回折光検出器920、930を含
む。透過光検出器910は光検出器900の中心領域に
設けられる。第1および第2の回折光検出器920、9
30は、過光検出器910を挟む2つの外縁領域に設け
られる。
The light detector 900 includes a transmitted light detector 910.
And first and second diffracted light detectors 920 and 930. The transmitted light detector 910 is provided in a central region of the light detector 900. First and second diffracted light detectors 920, 9
Reference numerals 30 are provided in two outer edge regions sandwiching the overlight detector 910.

【0195】透過光検出器910は4つのサブ透過光検
出器910A1、910A2、910B1、910B2
を含む。透過光検出器910は、領域910C1、91
0C2、910C3、910C4を含む。領域910C
1にはサブ透過光検出器910A1が設けられる。領域
910C2にはサブ透過光検出器910A2が設けられ
る。領域910C3にはサブ透過光検出器910B1が
設けられる。領域910C4にはサブ透過光検出器91
0B2が設けられる。領域910C1、910C2、9
10C3、910C4は、お互いに直交する分割線91
1及び912で分離されている。分割線911の方向は
光ディスク170の回転方向に平行である。
The transmitted light detector 910 has four sub-transmitted light detectors 910A1, 910A2, 910B1, and 910B2.
including. The transmitted light detector 910 includes the regions 910C1, 91
0C2, 910C3, and 910C4. Area 910C
1 is provided with a sub-transmission light detector 910A1. The sub-transmission light detector 910A2 is provided in the area 910C2. The sub-transmission light detector 910B1 is provided in the area 910C3. The sub-transmission light detector 91 is provided in the area 910C4.
0B2 is provided. Areas 910C1, 910C2, 9
10C3 and 910C4 are dividing lines 91 orthogonal to each other.
1 and 912. The direction of the dividing line 911 is parallel to the rotation direction of the optical disc 170.

【0196】第1の回折光検出器920は領域920C
に設けられる。
The first diffracted light detector 920 has a region 920C
Is provided.

【0197】第2の外縁領域に設けられる第2の回折光
検出器930は、実施の形態3と同様に、サブ回折光検
出器930A1、930A2、930A3、930B
1、930B2、930B3を含む。サブ回折光検出器
930A1、930A3は導通しており、また、サブ回
折光検出器930B1、930B3も導通している。第
2の回折光検出器930は、領域930C1、930C
2、930C3、930C4、930C5、930C6
を含む。領域930C1にはサブ回折光検出器930A
1が設けられる。領域930C2にはサブ回折光検出器
930A2が設けられる。領域930C3にはサブ回折
光検出器930A3が設けられる。領域930C4には
サブ回折光検出器930B1が設けられる。領域930
C5にはサブ回折光検出器930B2が設けられる。領
域930C6にはサブ回折光検出器930B3が設けら
れる。
The second diffracted light detector 930 provided in the second outer edge region has sub-diffraction light detectors 930A1, 930A2, 930A3, and 930B as in the third embodiment.
1, 930B2 and 930B3. The sub-diffraction light detectors 930A1 and 930A3 are conducting, and the sub-diffraction light detectors 930B1 and 930B3 are also conducting. The second diffracted light detector 930 includes the regions 930C1, 930C
2,930C3, 930C4, 930C5, 930C6
including. The sub-diffraction light detector 930A is provided in the region 930C1.
1 is provided. The sub-diffraction light detector 930A2 is provided in the area 930C2. The sub-diffraction light detector 930A3 is provided in the area 930C3. The sub-diffraction light detector 930B1 is provided in the area 930C4. Region 930
C5 is provided with a sub-diffraction light detector 930B2. The sub-diffraction light detector 930B3 is provided in the area 930C6.

【0198】偏光ホログラム面950の第1の領域95
0a上において一つ置きに位置する短冊領域950B1
1、950B12を通って回折する1次回折光は、第1
の回折光検出器920上にスポット982B1として集
光し、−1次回折光はサブ回折光検出器930B2にま
たがったスポット983B1としてサブ回折光検出器9
30B3上に集光する。
First region 95 of polarization hologram surface 950
Strip region 950B1 located at every other position on 0a
The first order diffracted light diffracted through 1,950B12 is
Is collected as a spot 982B1 on the diffracted light detector 920, and the -1st-order diffracted light is formed as a spot 983B1 straddling the sub-diffracted light detector 930B2.
The light is focused on 30B3.

【0199】偏光ホログラム面950の第1の領域95
0aの残りの短冊領域950F11、950F12、9
50F13を通って回折する1次回折光は、第1の回折
光検出器920上にスポット982F1として集光し、
−1次回折光はサブ回折光検出器930B3にまたがっ
たスポット983F1としてサブ回折光検出器930B
2上に集光する。
First region 95 of polarization hologram surface 950
The remaining strip areas 950F11, 950F12, 9 of 0a
The first-order diffracted light diffracted through the 50F13 is collected as a spot 982F1 on the first diffracted light detector 920,
The -1st-order diffracted light is formed as a spot 983F1 over the sub-diffraction light detector 930B3.
Focus on 2

【0200】偏光ホログラム面950の第2の領域95
0b上において一つ置きに位置する短冊領域950B2
1、950B22、950B23を通って回折する1次
回折光は、第1の回折光検出器920上にスポット98
2B2として集光し、−1次回折光はサブ回折光検出器
930A1にまたがったスポット983B2としてサブ
回折光検出器930A2上に集光する。
Second region 95 of polarization hologram surface 950
0b, every other strip area 950B2
The first order diffracted light diffracted through 1, 950B22, 950B23 is spot 98 on the first diffracted light detector 920.
The first-order diffracted light is condensed on the sub-diffraction light detector 930A2 as a spot 983B2 straddling the sub-diffraction light detector 930A1.

【0201】光ホログラム面950の第2の領域950
bの残りの短冊領域950F21、950F22を通っ
て回折する1次回折光は、第1の回折光検出器920上
にスポット982F2として集光し、−1次回折光はサ
ブ回折光検出器930A2にまたがったスポット983
F2としてサブ回折光検出器930A1上に集光する。
The second region 950 of the optical hologram surface 950
The first-order diffracted light diffracted through the remaining strip regions 950F21 and 950F22 of b is collected as a spot 982F2 on the first diffracted light detector 920, and the -1st-order diffracted light straddles the sub-diffraction light detector 930A2. Spot 983
The light is focused on the sub-diffraction light detector 930A1 as F2.

【0202】偏光ホログラム面950の第3の領域95
0c上において一つ置きに位置する短冊領域950B3
1、950B32を通って回折する1次回折光は、スポ
ット982B3として第1の回折光検出器920上に集
光し、−1次回折光はサブ回折光検出器930A3にま
たがったスポット983B3としてサブ回折光検出器9
30A2上に集光する。
Third region 95 of polarization hologram surface 950
0c, every other strip area 950B3
The first-order diffracted light diffracted through 1,950B32 converges on the first diffracted light detector 920 as a spot 982B3, and the -1st-order diffracted light is a sub-diffracted light as a spot 983B3 straddling the sub-diffraction light detector 930A3. Detector 9
The light is focused on 30A2.

【0203】偏光ホログラム面950の第3の領域95
0cの残りの短冊領域950F31、950F32、9
50F33を通って回折する1次回折光は、スポット9
82F3として第1の回折光検出器920上に集光し、
−1次回折光はサブ回折光検出器930A2にまたがっ
たスポット983F3としてサブ回折光検出器930A
3上に集光する。
Third region 95 of polarization hologram surface 950
0c remaining strip areas 950F31, 950F32, 9
The first-order diffracted light diffracted through 50F33 is spot 9
Focused on the first diffracted light detector 920 as 82F3,
The -1st-order diffracted light is formed as a spot 983F3 over the sub-diffraction light detector 930A2.
Focus on 3

【0204】偏光ホログラム面950の第4の領域95
0d上において一つ置きに位置する短冊領域950B4
1、950B42、950B43を通って回折する1次
回折光は、第1の回折光検出器920上にスポット98
2B4として集光し、−1次回折光はサブ回折光検出器
930B2にまたがったスポット983B4としてサブ
回折光検出器930B1上に集光する。
Fourth region 95 of polarization hologram surface 950
Strip area 950B4 located every other on 0d
The first-order diffracted light diffracted through the first 950B42 and the 950B43 forms a spot 98 on the first diffracted light detector 920.
The first-order diffracted light is condensed on the sub-diffraction light detector 930B1 as a spot 983B4 straddling the sub-diffraction light detector 930B2.

【0205】偏光ホログラム面950の第4の領域95
0dの残りの短冊領域950F41、950F42を通
って回折する1次回折光は、スポット982F4として
第1の回折光検出器920上に集光し、−1次回折光は
サブ回折光検出器930B1にまたがったスポット98
3F4としてサブ回折光検出器930B2上に集光す
る。
The fourth region 95 of the polarization hologram surface 950
The first-order diffracted light diffracted through the remaining strip regions 950F41 and 950F42 of 0d is condensed on the first diffracted light detector 920 as a spot 982F4, and the -1st-order diffracted light straddles the sub-diffraction light detector 930B1. Spot 98
The light is focused on the sub-diffraction light detector 930B2 as 3F4.

【0206】さらに偏光ホログラム面950を透過する
光(0次光)は中心領域のほぼ分割線911及び912
の交点位置にスポット981として集光する。
Further, the light (0th-order light) transmitted through the polarization hologram surface 950 is substantially divided by the dividing lines 911 and 912 in the central region.
Are condensed as a spot 981 at the intersection point of.

【0207】第1の回折光検出器920による検出光量
からは再生信号11dを得ることができる。
The reproduction signal 11d can be obtained from the amount of light detected by the first diffracted light detector 920.

【0208】透過光検出器910のサブ回折光検出器9
10A1,910A2,910B1,910B2によっ
て検出された光量から、演算器941は910A1+9
10A2−910B1−910B2を出力する。演算器
941の出力は、第1のトラッキングエラー信号941
s(TE1信号)である。また、第2の回折光検出器9
30のサブ回折光検出器910A1,910A2,91
0B1,910B2によって検出された光量から、演算
器942は910A1+910B2−910A2−91
0B1を出力する。演算器942の出力は、第3のトラ
ッキングエラー信号942s(TE3信号)である。T
E1信号は図10Bで示した光検出器1050で説明し
たTE1信号に相当する。
Sub-diffraction light detector 9 of transmitted light detector 910
Based on the light amounts detected by 10A1, 910A2, 910B1, and 910B2, the arithmetic unit 941 calculates 910A1 + 9
Output 10A2-910B1-910B2. The output of the computing unit 941 is the first tracking error signal 941
s (TE1 signal). Also, the second diffracted light detector 9
30 sub-diffraction light detectors 910A1, 910A2, 91
From the light amounts detected by 0B1 and 910B2, the arithmetic unit 942 calculates 910A1 + 910B2-910A2-91.
0B1 is output. The output of the calculator 942 is a third tracking error signal 942s (TE3 signal). T
The E1 signal corresponds to the TE1 signal described in the photodetector 1050 shown in FIG. 10B.

【0209】さらに、第2の回折光検出器930のサブ
回折光検出器930A1、930A2、930A3、9
30B1、930B2、930B3によって検出される
光量から、930B1+930B3に対する検出信号1
1e、930B2に対する検出信号11f、930A1
+930A3に対する検出信号11g、930A2に対
する検出信号11hが得られる。検出信号11g+11
h−11e−11fの関係式の演算により第2のトラッ
キングエラー信号(TE2信号)が得られ、11e−1
1f−11g+11hの関係式の演算によりフォーカス
エラー信号(FE信号)を得ることができる。TE2信
号は図11Cで示した光検出器1190で説明したTE
2信号に相当する。
Further, the sub-diffraction light detectors 930A1, 930A2, 930A3, 9 of the second diffraction light detector 930
From the light amounts detected by 30B1, 930B2, and 930B3, a detection signal 1 for 930B1 + 930B3 is obtained.
Detection signals 11f, 930A1 for 1e, 930B2
A detection signal 11g for + 930A3 and a detection signal 11h for 930A2 are obtained. Detection signal 11g + 11
The second tracking error signal (TE2 signal) is obtained by calculating the relational expression of h-11e-11f, and 11e-1
A focus error signal (FE signal) can be obtained by calculating the relational expression of 1f-11g + 11h. The TE2 signal is the TE2 signal described in the photodetector 1190 shown in FIG. 11C.
This corresponds to two signals.

【0210】本実施の形態では、偏光ホログラム面95
0を透過した直後の波面の位相分布は、実施の形態1の
場合と同様であり、回折光量は0次光に20%、1次回
折光に47.6%、−1次回折光に12.4%というよ
うに割り当てられる。
In this embodiment, the polarization hologram surface 95
The phase distribution of the wavefront immediately after passing through 0 is the same as that in the first embodiment, and the diffracted light amount is 20% for the 0th-order light, 47.6% for the 1st-order diffracted light, and 12.4 for the -1st-order diffracted light. % And so on.

【0211】この実施の形態7においても3種類のトラ
ッキングエラー信号(TE1,TE2,TE3信号)を
得ることができるが、実施の形態1と同様にこれらの信
号はディスクの種類に応じて使い分けられ得る。例え
ば、DVD−ROMディスク等の1/4波長深さのピッ
トを有する光ディスクの場合、制御装置185は、ピッ
ト信号(エンボス信号)に対するトラッキングエラー信
号としてTE3信号を使用してもよい。一方、光ディス
クがDVD−RAMやDVD−Rディスク等の案内溝の
あるディスクである場合、制御装置185は、適切な定
数kを用いた演算値TE2−k×TE1をトラッキング
エラー信号として使用してもよい。この場合、制御装置
185は光ディスクに応じて定数kの値を更新してもよ
い。
In the seventh embodiment, three types of tracking error signals (TE1, TE2, TE3 signals) can be obtained. However, these signals are selectively used according to the type of the disk as in the first embodiment. obtain. For example, in the case of an optical disc having pits with a quarter wavelength depth such as a DVD-ROM disc, the control device 185 may use the TE3 signal as a tracking error signal for a pit signal (emboss signal). On the other hand, when the optical disk is a disk having a guide groove, such as a DVD-RAM or DVD-R disk, the control device 185 uses the calculated value TE2-k × TE1 using an appropriate constant k as a tracking error signal. Is also good. In this case, the control device 185 may update the value of the constant k according to the optical disc.

【0212】従って実施の形態1と同様に、光ディスク
装置の光軸と対物レンズの中心軸との変位に伴うトラッ
キングエラー信号の非対称性が抑えられ、トラック制御
時のオフトラックもない。また、本実施形態では、ホロ
グラム面950が短冊状に細分化されている。短冊状に
細分化された各領域において、光検出器900の手前で
集光する光と、光検出器900の奥で集光する光を生成
してFE信号を検出しているので、ディスク基材172
上のゴミや汚れの影響がキャンセルされ、フォーカスエ
ラー制御の安定性は高い。さらに、実施の形態7では再
生信号を検出するために1個の検出器(すなわち、第1
の回折光検出器920)を用いており、その検出指数=
47.6程度得られ、実施の形態1に比べ大きなS/N
を確保できる。
Therefore, as in Embodiment 1, the asymmetry of the tracking error signal due to the displacement between the optical axis of the optical disk device and the center axis of the objective lens is suppressed, and there is no off-track during track control. In the present embodiment, the hologram surface 950 is subdivided into strips. In each of the regions subdivided into strips, since the light condensed before the photodetector 900 and the light condensed behind the photodetector 900 are generated to detect the FE signal, Lumber 172
The influence of dust and dirt on the top is canceled, and the stability of focus error control is high. Further, in the seventh embodiment, one detector (that is, the first
Using a diffracted light detector 920), and its detection index =
About 47.6 S / N compared to Embodiment 1
Can be secured.

【0213】以上、実施の形態1から7まで説明した
が、本発明の意図は従来では個別に使用していた2種類
のトラッキングエラー信号(TE1、TE2)を同時に
検出することが可能であり、制御装置185が、2種類
のトラッキングエラー信号(TE1、TE2)から、よ
り正確なトラッキングエラー信号を生成することであ
る。さらに、制御装置185は、適切な定数kを用いた
演算値TE2−k×TE1をトラッキングエラー信号と
して使用してもよい。また、ホログラムの分割方法や検
出器の形が他の形態であってもよく、回折効率の配分も
異なっていてもよい。また、偏光ホログラムは無偏光性
のホログラムやその他の光分配素子であってもよい。
Although the first to seventh embodiments have been described above, the intent of the present invention is to simultaneously detect two types of tracking error signals (TE1 and TE2) conventionally used individually, The control unit 185 generates a more accurate tracking error signal from the two types of tracking error signals (TE1, TE2). Further, the control device 185 may use the calculated value TE2−k × TE1 using an appropriate constant k as the tracking error signal. Further, the hologram dividing method and the shape of the detector may be other forms, and the distribution of diffraction efficiency may be different. Further, the polarization hologram may be a non-polarization hologram or another light distribution element.

【0214】[0214]

【発明の効果】以上の本発明により、演算値TE2−k
×TE1をトラッキングエラー信号とすることで対物レ
ンズの変位に伴うトラッキングエラー信号の溝横断時の
非対称性が抑えられ、トラック制御時のオフトラックも
なくすことができ、良好な再生または記録を安定して行
える。さらに、偏光ホログラム素子等の光分配手段に鋸
波形状の断面または鋸波形状に内接する3段以上の階段
断面の構造を有するホログラムを採用することで、再生
信号に於けるS/Nも高く維持でき、高い信号再生能力
を得ることができる。
According to the present invention described above, the calculated value TE2-k
By using × TE1 as the tracking error signal, the asymmetry of the tracking error signal at the time of traversing the groove due to the displacement of the objective lens can be suppressed, and off-track during track control can be eliminated. Can be done. Further, by employing a hologram having a sawtooth-shaped cross section or a structure of three or more steps inscribed in the sawtooth shape for the light distribution means such as a polarization hologram element, the S / N in the reproduced signal is also increased. It is possible to maintain and obtain a high signal reproduction capability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1A】本発明の実施の形態1における光ディスク装
置を示す模式図。
FIG. 1A is a schematic diagram showing an optical disc device according to Embodiment 1 of the present invention.

【図1B】本発明の実施の形態1におけるホログラム面
の構成を示す図。
FIG. 1B is a diagram showing a configuration of a hologram surface according to the first embodiment of the present invention.

【図1C】本発明の実施の形態1における光検出器の構
成を示す図。
FIG. 1C is a diagram showing a configuration of a photodetector according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】実施の形態1における光ディスク装置での溝横
断時のTE2信号波形非対称性の等高線図(溝ピッチp
=1.23μmの場合)。
FIG. 2 is a contour diagram of a TE2 signal waveform asymmetry (groove pitch p) when crossing a groove in the optical disc device in the first embodiment.
= 1.23 μm).

【図3】本発明の実施の形態1における偏光ホログラム
素子の回折光量比図。
FIG. 3 is a diffraction light amount ratio diagram of the polarization hologram element according to the first embodiment of the present invention.

【図4A】本発明の実施の形態2における光ディスク装
置を示す模式図
FIG. 4A is a schematic diagram showing an optical disk device according to Embodiment 2 of the present invention.

【図4B】本発明の実施の形態2における光検出器の構
成を示す図。
FIG. 4B is a diagram showing a configuration of a photodetector according to Embodiment 2 of the present invention.

【図5A】本発明の実施の形態3における偏光ホログラ
ム面の構成を示す図。
FIG. 5A is a diagram showing a configuration of a polarization hologram surface according to a third embodiment of the present invention.

【図5B】本発明の実施の形態3における光検出器の構
成を示す図。
FIG. 5B is a diagram showing a configuration of a photodetector according to Embodiment 3 of the present invention.

【図6A】本発明の実施の形態4における偏光ホログラ
ム面の構成を示す図。
FIG. 6A is a diagram showing a configuration of a polarization hologram surface according to a fourth embodiment of the present invention.

【図6B】本発明の実施の形態4における光検出器の構
成を示す図。
FIG. 6B is a diagram showing a configuration of a photodetector according to Embodiment 4 of the present invention.

【図7A】本発明の実施の形態5における偏光ホログラ
ム面の構成を示す図。
FIG. 7A is a diagram showing a configuration of a polarization hologram surface according to a fifth embodiment of the present invention.

【図7B】本発明の実施の形態5における光検出器の構
成を示す図。
FIG. 7B is a diagram showing a configuration of a photodetector according to Embodiment 5 of the present invention.

【図8A】本発明の実施の形態6における偏光ホログラ
ム面の構成を示す図。
FIG. 8A is a diagram showing a configuration of a polarization hologram surface according to a sixth embodiment of the present invention.

【図8B】本発明の実施の形態6における光検出器の構
成を示す図。
FIG. 8B is a diagram showing a configuration of a photodetector according to Embodiment 6 of the present invention.

【図9A】本発明の実施の形態7における偏光ホログラ
ム面の構成を示す図。
FIG. 9A is a diagram showing a configuration of a polarization hologram surface according to a seventh embodiment of the present invention.

【図9B】本発明の実施の形態7における光検出器の構
成を示す図。
FIG. 9B is a diagram showing a configuration of a photodetector according to Embodiment 7 of the present invention.

【図10A】第1の従来例における光ディスク装置を示
す模式図。
FIG. 10A is a schematic diagram showing an optical disc device in a first conventional example.

【図10B】第1の従来例における光検出器の構成を示
す図。
FIG. 10B is a diagram showing a configuration of a photodetector in a first conventional example.

【図11A】第2の従来例における光ディスク装置を示
す模式図。
FIG. 11A is a schematic diagram showing an optical disk device in a second conventional example.

【図11B】第2の従来例における偏光ホログラム面の
構成を示す図。
FIG. 11B is a diagram showing a configuration of a polarization hologram surface in a second conventional example.

【図11C】第2の従来例における光検出器の構成を示
す図。
FIG. 11C is a diagram showing a configuration of a photodetector in a second conventional example.

【図12】(a)〜(d)は、光ディスクシステムの光
軸と対物レンズの中心との変位がある場合、光ディスク
の径方向断面での光強度分布図、(e)は、光ディスク
装置の光軸と対物レンズの中心軸との位置関係を模式的
に示す図。
12A to 12D are light intensity distribution diagrams in a radial cross section of an optical disc when there is a displacement between the optical axis of the optical disc system and the center of the objective lens, and FIG. FIG. 3 is a diagram schematically illustrating a positional relationship between an optical axis and a central axis of an objective lens.

【図13A】第1の従来例における光ディスク装置のT
E1信号波形非対称性の等高線図(溝ピッチp=0.7
4μmの場合)。
FIG. 13A shows the T of the optical disk device in the first conventional example.
Contour map of E1 signal waveform asymmetry (groove pitch p = 0.7
4 μm).

【図13B】信号の非対称性を説明するための信号波
形。
FIG. 13B is a signal waveform for explaining signal asymmetry.

【図14】第2の従来例における光ディスク装置のTE
2信号波形非対称性の等高線図(溝ピッチp=0.74
μmの場合)。
FIG. 14 shows a TE of the optical disk device in the second conventional example.
Contour diagram of two-signal waveform asymmetry (groove pitch p = 0.74)
μm).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

110 光源 120 偏光ビームスプリッター 125 スプリット面 130 コリメートレンズ 145 偏光ホログラム素子 150 偏光ホログラム面 142 1/4波長板 140 反射ミラー 160 対物レンズ 172 光ディスク基材 174 光ディスク基材 180 収束光 181,182a,182b,183a,183b 光
スポット 200 光検出器 210 透過光検出器 220、230 回折光検出器 210A1,210A2,210B1,210B2 サ
ブ透過光検出器 220A,220B,230A,230B サブ回折光
検出器 241,242,243,245 減算器 244 加算器
Reference Signs List 110 light source 120 polarization beam splitter 125 split surface 130 collimator lens 145 polarization hologram element 150 polarization hologram surface 142 quarter-wave plate 140 reflection mirror 160 objective lens 172 optical disk base material 174 optical disk base material 180 convergent light 181, 182a, 182b, 183a , 183b Light spot 200 Photodetector 210 Transmitted light detector 220, 230 Diffracted light detector 210A1, 210A2, 210B1, 210B2 Sub transmitted light detector 220A, 220B, 230A, 230B Sub diffracted light detector 241, 242, 243 245 Subtractor 244 Adder

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 百尾 和雄 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 長島 賢治 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5D118 AA18 BA01 CA24 CD02 CD03 CD11 CF03 CF05 CF17 DA06 DA08 DA20 DA33 DA35 DA43 DB09 DB13 5D119 AA29 BA01 EA02 EA03 EC07 JA12 JA14 JA15 JA23 JA25 KA17 KA19 LB05  ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Kazuo Momio 1006 Kazuma Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. F term (reference) 5D118 AA18 BA01 CA24 CD02 CD03 CD11 CF03 CF05 CF17 DA06 DA08 DA20 DA33 DA35 DA43 DB09 DB13 5D119 AA29 BA01 EA02 EA03 EC07 JA12 JA14 JA15 JA23 JA25 KA17 KA19 LB05

Claims (22)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光ディスクを収容可能な光ディスク装置
であって、 光を出射する光源と、 前記光源から出射された前記光を前記光ディスクに集光
する対物レンズと、 前記対物レンズと一体に移動する第1の光分配手段であ
って、前記第1の光分配手段は第1の領域と第2の領域
とを含み、前記光ディスクによって反射された反射光の
うち前記第1の領域または前記第2の領域を透過した光
を透過光として出力し、前記光ディスクによって反射さ
れた反射光のうち前記第1の領域によって回折された光
を第1の回折光として出力し、前記光ディスクによって
反射された反射光のうち前記第2の領域によって回折さ
れた光を第2の回折光として出力する、第1の光分配手
段と、 前記透過光を検出し、前記検出された透過光の変位を示
すTE1信号を出力する透過光検出手段と、 前記第1の回折光と前記第2の回折光とを検出し、前記
検出された第1の回折光の量と第2の回折光の量との差
を示すTE2信号を出力する第1の回折光検出手段と、 前記TE1信号と前記TE2信号とに基づいて、前記光
ディスクのトラッキングエラー信号を生成する制御装置
と、を備える光ディスク装置。
1. An optical disk device capable of housing an optical disk, comprising: a light source for emitting light; an objective lens for condensing the light emitted from the light source on the optical disk; A first light distribution unit, wherein the first light distribution unit includes a first area and a second area, and the first area or the second area of the reflected light reflected by the optical disc. The light transmitted through the area is output as transmitted light, the light diffracted by the first area among the reflected light reflected by the optical disk is output as the first diffracted light, and the reflected light reflected by the optical disk is output. A first light distribution unit that outputs light diffracted by the second region as light as second diffracted light, a TE1 signal that detects the transmitted light and indicates a displacement of the detected transmitted light. Transmitted light detecting means for outputting the first and second diffracted lights, and detecting a difference between the detected amount of the first diffracted light and the amount of the second diffracted light. An optical disc apparatus comprising: first diffracted light detection means for outputting a TE2 signal shown; and a control device for generating a tracking error signal for the optical disc based on the TE1 signal and the TE2 signal.
【請求項2】 前記透過光を前記透過光検出手段に方向
付け、前記第1の回折光と前記第2の回折光とを前記第
1の回折光検出手段に方向付ける第2の光分配手段をさ
らに備える、請求項1に記載の光ディスク装置。
2. A second light distribution means for directing the transmitted light to the transmitted light detection means and for directing the first diffracted light and the second diffracted light to the first diffracted light detection means. The optical disk device according to claim 1, further comprising:
【請求項3】 前記透過光検出手段は、第1のサブ透過
光検出手段と、第2のサブ透過光検出手段とを含み、 第1の透過光は、前記透過光のうち前記第1のサブ透過
光検出手段によって検出された光として定義され、第2
の透過光は、前記透過光のうち前記第2のサブ透過光検
出手段によって検出された光として定義され、 前記透過光の変位は、前記第1の透過光の量と前記第2
の透過光の量との差として定義される、請求項1に記載
の光ディスク装置。
3. The transmitted light detecting means includes a first sub transmitted light detecting means and a second sub transmitted light detecting means, wherein the first transmitted light is the first of the transmitted lights. Defined as light detected by the sub-transmitted light detection means,
Is defined as light of the transmitted light detected by the second sub-transmitted light detecting means, and the displacement of the transmitted light is determined by the amount of the first transmitted light and the second transmitted light.
2. The optical disc device according to claim 1, wherein the optical disc device is defined as a difference from the amount of transmitted light.
【請求項4】 前記第1の回折光検出手段は、前記第1
の回折光を検出する第1のサブ回折光検出手段と、前記
第2の回折光を検出する第2のサブ回折光検出手段とを
含む、請求項1に記載の光ディスク装置。
4. The apparatus according to claim 1, wherein the first diffracted light detecting means includes
2. The optical disk device according to claim 1, further comprising: first sub-diffraction light detecting means for detecting the second diffracted light; and second sub-diffraction light detecting means for detecting the second diffracted light.
【請求項5】 前記制御装置は、前記トラッキングエラ
ー信号をTE2−k×TE1によって求める、請求項1
記載の光ディスク装置。
5. The control device according to claim 1, wherein the control device obtains the tracking error signal by TE2-k × TE1.
An optical disk device as described in the above.
【請求項6】 前記透過光検出手段は、第3の領域と第
4の領域とを含み、前記第3の領域には前記第1のサブ
透過光検出手段が設けられており、前記第4の領域には
前記第2のサブ透過光検出手段が設けられており、前記
第3の領域と前記第4の領域との境界線は、前記光ディ
スクの回転方向に平行である、請求項3に記載の光ディ
スク装置。
6. The transmitted light detecting means includes a third area and a fourth area, wherein the third area is provided with the first sub transmitted light detecting means, 4. The area according to claim 3, wherein the second sub-transmitted light detecting means is provided, and a boundary between the third area and the fourth area is parallel to a rotation direction of the optical disc. An optical disk device as described in the above.
【請求項7】 前記第1の回折光検出手段は、第5の領
域と第6の領域とを含み、前記第5の領域には前記第1
のサブ回折光検出手段が設けられており、前記第6の領
域には前記第2のサブ回折光検出手段が設けられてお
り、前記第5の領域と前記第6の領域との境界線は、前
記光ディスクの回転方向に平行である、請求項4に記載
の光ディスク装置。
7. The first diffracted light detecting means includes a fifth area and a sixth area, and the fifth area includes the first area.
The second sub-diffraction light detecting means is provided in the sixth area, and the boundary between the fifth area and the sixth area is 5. The optical disk device according to claim 4, wherein said optical disk device is parallel to a rotation direction of said optical disk.
【請求項8】 前記制御装置は、前記対物レンズの開口
数(NA)と前記光ディスクの径方向の溝ピッチ(P)
との積(NA×P)に応じて前記kの値を更新する、請
求項5に記載の光ディスク装置。
8. The control device according to claim 1, wherein a numerical aperture (NA) of the objective lens and a radial groove pitch (P) of the optical disc are provided.
The optical disk device according to claim 5, wherein the value of k is updated in accordance with a product of (NA x P).
【請求項9】 前記kの値は0.5×S2/S1以下で
あり、S1は前記透過光検出手段によって検出される透
過光の量を示し、S2は前記第1の回折光検出手段によ
って検出される回折光の量を示す、請求項5に記載の光
ディスク装置。
9. The value of k is 0.5 × S2 / S1 or less, S1 indicates the amount of transmitted light detected by the transmitted light detecting means, and S2 indicates the amount of transmitted light detected by the first diffracted light detecting means. 6. The optical disk device according to claim 5, wherein the optical disk device indicates an amount of the diffracted light to be detected.
【請求項10】 前記制御装置は、前記対物レンズの開
口数(NA)と前記光ディスクの径方向の溝ピッチ
(P)の積(NA×P)が前記光ディスクに入射する光
の波長の0.9倍以上の場合、前記kの値を0に設定す
る、請求項8に記載の光ディスク装置。
10. The control device according to claim 1, wherein a product (NA × P) of a numerical aperture (NA) of the objective lens and a groove pitch (P) in a radial direction of the optical disk is a value of 0.1.times. Of a wavelength of light incident on the optical disk. 9. The optical disk device according to claim 8, wherein the value of k is set to 0 when the value is 9 times or more.
【請求項11】 前記制御装置は、前記制御装置がトラ
ッキング制御をかけない状態で前記対物レンズを前記光
ディスクの径方向に移動させた場合、TE2−k×TE
1の出力平均レベルがほぼゼロレベルとなるように前記
kの値を設定する、請求項5に記載の光ディスク装置。
11. The control device, when the control device moves the objective lens in a radial direction of the optical disc without performing tracking control, the control device performs a TE2-k × TE
6. The optical disk device according to claim 5, wherein the value of k is set such that an output average level of the output signal is substantially zero.
【請求項12】 前記透過光に収差を与える収差手段を
さらに備え、 前記透過光検出手段は、第3の領域と、第4の領域と、
第7の領域と、第8の領域とを含み、前記第3の領域に
は第1のサブ透過光検出手段が設けられ、前記第4の領
域には第2のサブ透過光検出手段が設けられ、前記第7
の領域には第3のサブ透過光検出手段が設けられ、前記
第8の領域には第4のサブ透過光検出手段が設けられ、
前記第3の領域と前記第4の領域との境界線は前記光デ
ィスクの回転方向に平行であり、前記第3の領域と前記
第8の領域との境界線は前記光ディスクの径方向に平行
であり、前記第4の領域と前記第7の領域との境界線は
前記光ディスクの径方向に平行であり、前記第7の領域
と前記第8の領域との境界線は前記光ディスクの回転方
向に平行であり、前記第3の領域は前記第7の領域と対
角するように位置し、前記第4の領域は前記第8の領域
と対角するように位置し、 前記制御装置は、前記収差を与えられた透過光のうち前
記第1のサブ透過光検出手段によって検出された透過光
の量と前記第3のサブ透過光検出手段とによって検出さ
れた透過光の量との和と、前記収差を与えられた透過光
のうち前記第2のサブ透過光検出手段によって検出され
た透過光の量と前記第4のサブ透過光検出手段によって
検出された透過光の量との和との差に基づいて前記光デ
ィスクのフォーカスエラー信号を求める、請求項1に記
載の光ディスク装置。
12. An optical system further comprising an aberration unit for giving an aberration to the transmitted light, wherein the transmitted light detection unit includes a third region, a fourth region,
A third sub-transmitted light detecting means is provided in the third area, and a second sub-transmitted light detecting means is provided in the fourth area. The seventh
Area is provided with a third sub-transmitted light detecting means, and in the eighth area, a fourth sub-transmitted light detecting means is provided,
The boundary between the third area and the fourth area is parallel to the rotation direction of the optical disk, and the boundary between the third area and the eighth area is parallel to the radial direction of the optical disk. The boundary between the fourth area and the seventh area is parallel to the radial direction of the optical disk, and the boundary between the seventh area and the eighth area is in the rotational direction of the optical disk. Parallel, the third region is located diagonally to the seventh region, the fourth region is located diagonally to the eighth region, and the control device is The sum of the amount of transmitted light detected by the first sub-transmitted light detecting means and the amount of transmitted light detected by the third sub-transmitted light detecting means in the transmitted light having an aberration; By the second sub-transmitted light detecting means of the transmitted light having the aberration, 2. The optical disk according to claim 1, wherein a focus error signal of the optical disk is obtained based on a difference between a detected amount of transmitted light and a sum of the amount of transmitted light detected by the fourth sub-transmitted light detection unit. apparatus.
【請求項13】 前記第1の光分配手段は、第9の領域
と第10の領域とを含み、 前記第1の光分配手段は、前記光ディスクによって反射
された反射光のうち前記第1の光分配手段の前記第9の
領域によって回折された光を第3の回折光として出力
し、前記光ディスクによって反射された反射光のうち前
記第1の光分配手段の前記第10の領域によって回折さ
れた光を第4の回折光として出力し、 前記第1の回折光検出手段は、第1のサブ回折光検出手
段と、第2のサブ回折光検出手段と、3サブ回折光検出
手段と、第4のサブ回折光検出手段と、第5のサブ回折
光検出手段と、第6のサブ回折光検出手段とを含み、 前記第1の回折光は前記第1のサブ回折光検出手段と前
記第2のサブ回折光検出手段とによって検出され、前記
第2の回折光は前記第5のサブ回折光検出手段と前記第
6のサブ回折光検出手段とによって検出され、前記第3
の回折光は前記第4のサブ回折光検出手段と前記第5の
サブ回折光検出手段とによって検出され、前記第4の回
折光は前記第2のサブ回折光検出手段と前記第3のサブ
回折光検出手段とによって検出され、 前記制御装置は、前記第1のサブ回折光検出手段と前記
第3のサブ回折光検出手段と前記第5のサブ回折光検出
手段とによって検出される回折光の量の和と、前記第2
のサブ回折光検出手段と前記第4のサブ回折光検出手段
と前記第6のサブ回折光検出手段とによって検出される
回折光の量の和との差に基づいて前記光ディスクのフォ
ーカスエラー信号を求める、請求項1に記載の光ディス
ク装置。
13. The first light distribution means includes a ninth area and a tenth area, and the first light distribution means is configured to output the first light distribution light out of the light reflected by the optical disk. The light diffracted by the ninth region of the light distribution means is output as third diffracted light, and of the light reflected by the optical disk, the light is diffracted by the tenth region of the first light distribution means. The first diffracted light detecting means, the first sub-diffracted light detecting means, the second sub-diffracted light detecting means, the three sub-diffracted light detecting means, A fourth sub-diffraction light detecting means, a fifth sub-diffraction light detecting means, and a sixth sub-diffraction light detecting means, wherein the first diffracted light has a The second diffracted light detected by the second sub-diffraction light detecting means; Is detected by the fifth sub-diffraction light detection means and the sixth sub-diffraction light detection means, and the third
Is detected by the fourth sub-diffracted light detecting means and the fifth sub-diffracted light detecting means, and the fourth diffracted light is detected by the second sub-diffracted light detecting means and the third sub-diffracted light detecting means. The controller detects the diffracted light detected by the first sub-diffraction light detection means, the third sub-diffraction light detection means, and the fifth sub-diffraction light detection means. And the second
A focus error signal of the optical disk based on a difference between the sum of the amounts of diffracted light detected by the sub-diffraction light detecting means, the fourth sub-diffraction light detecting means, and the sixth sub-diffraction light detecting means. The optical disk device according to claim 1, wherein the value is determined.
【請求項14】 第2の回折光検出手段をさらに備え、 前記第1の光分配手段は、前記光ディスクによって反射
された反射光のうち前記第1の光分配手段の前記第1の
領域によって前記第1の回折光とは別に回折された光を
第5の回折光として出力し、前記光ディスクによって反
射された反射光のうち前記第1の光分配手段の前記第2
の領域によって前記第2の回折光とは別に回折された光
を第6の回折光として出力し、 前記第2の回折光検出手段は、第7のサブ回折検出手段
および第8のサブ検出手段を含み、 前記制御装置は、前記第7のサブ回折検出手段によって
検出される前記第5の回折光の量と、前記第8のサブ検
出手段によって検出される前記第6の回折光の量との差
に基づいて前記光ディスクのフォーカスエラー信号を求
める、請求項1に記載の光ディスク装置。
14. The image forming apparatus according to claim 1, further comprising a second diffracted light detecting unit, wherein the first light distribution unit is configured to control the first light distribution unit based on the first area of the first light distribution unit out of the light reflected by the optical disk. The light diffracted separately from the first diffracted light is output as a fifth diffracted light, and the second light of the first light distribution means is included in the reflected light reflected by the optical disk.
And outputting the light diffracted separately from the second diffracted light by the area as the sixth diffracted light, wherein the second diffracted light detecting means comprises a seventh sub-diffraction detecting means and an eighth sub-detecting means The control device, the amount of the fifth diffracted light detected by the seventh sub-diffraction detecting means, the amount of the sixth diffracted light detected by the eighth sub-detecting means, The optical disk device according to claim 1, wherein a focus error signal of the optical disk is obtained based on a difference between the optical disk and the optical disk.
【請求項15】 前記第1の光分配手段は、鋸波形状の
断面または鋸波形状に内接する3段以上の階段断面の構
造を有するホログラムを含み、 前記第1の光分配手段は、前記光ディスクによって反射
された反射光のうち前記第1の光分配手段の前記第1の
領域によって前記第1の回折光とは別に回折された光を
第5の回折光として出力し、前記光ディスクによって反
射された反射光のうち前記第1の光分配手段の前記第2
の領域によって前記第2の回折光とは別に回折された光
を第6の回折光として出力し、 前記第1の光分配手段から出力される前記第1の回折光
の量と前記第5の回折光の量とが異なり、かつ、前記第
1の光分配手段から出力される前記第2の回折光の量と
前記第6の回折光の量とが異なる、請求項1に記載の光
ディスク装置。
15. The first light distribution means includes a hologram having a sawtooth-shaped cross section or a structure having three or more steps cross-section inscribed in the sawtooth shape. Among the reflected light reflected by the optical disc, light diffracted separately from the first diffracted light by the first region of the first light distribution means is output as fifth diffracted light, and reflected by the optical disc. Of the first reflected light,
The light diffracted separately from the second diffracted light by the region is output as a sixth diffracted light, and the amount of the first diffracted light output from the first light distribution means and the fifth diffracted light are output. The optical disk device according to claim 1, wherein the amount of the diffracted light is different, and the amount of the second diffracted light and the amount of the sixth diffracted light output from the first light distribution means are different. .
【請求項16】 前記第1の光分配手段によって出力さ
れる前記第1の回折光および前記第2の回折光は1次回
折光であり、前記第1の光分配手段によって出力される
前記第5の回折光および前記第6の回折光は−1次回折
光である、請求項15に記載の光ディスク装置。
16. The first diffracted light and the second diffracted light output by the first light distribution means are first-order diffracted lights, and the fifth diffracted light is output by the first light distribution means. 16. The optical disk device according to claim 15, wherein the diffracted light of (d) and the sixth diffracted light are -1st-order diffracted light.
【請求項17】 前記−1次回折光の光量がほぼゼロで
ある、請求項16に記載の光ディスク装置。
17. The optical disk device according to claim 16, wherein the light amount of the -1st-order diffracted light is substantially zero.
【請求項18】 前記第1の光分配手段により出力され
る光量が、前記−1次回折光、前記透過光、前記1次回
折光の順に大きい、請求項16に記載の光ディスク装
置。
18. The optical disk device according to claim 16, wherein the amount of light output by the first light distribution means is larger in the order of the -1st-order diffracted light, the transmitted light, and the first-order diffracted light.
【請求項19】 前記第1の光分配手段により出力され
る光量は、前記−1次回折光、前記1次回折光、前記透
過光の順に大きい、請求項16に記載の光ディスク装
置。
19. The optical disk device according to claim 16, wherein the light amount output by said first light distribution means is larger in the order of said -1st-order diffracted light, said first-order diffracted light, and said transmitted light.
【請求項20】 前記第1の光分配手段により出力され
る光量は、前記1次回折光、前記−1次回折光、前記透
過光の順に大きい、請求項16に記載の光ディスク装
置。
20. The optical disk device according to claim 16, wherein the amount of light output by the first light distribution means is larger in the order of the first-order diffracted light, the -1st-order diffracted light, and the transmitted light.
【請求項21】 第2の回折光検出手段をさらに備え、 前記第1の光分配手段は、第9の領域と、第10の領域
とを含み、前記光ディスクによって反射された反射光の
うち前記第1の光分配手段の前記第9の領域によって回
折された光を第3の回折光として出力し、前記光ディス
クによって反射された反射光のうち前記第1の光分配手
段の前記第10の領域によって回折された光を第4の回
折光として出力し、前記光ディスクによって反射された
反射光のうち前記第1の光分配手段の前記第1の領域に
よって前記第1の回折光とは別に回折された光を第5の
回折光として出力し、前記光ディスクによって反射され
た反射光のうち前記第1の光分配手段の前記第2の領域
によって前記第2の回折光とは別に回折された光を第6
の回折光として出力し、 前記第2の回折光検出手段は、第11の領域と、第12
の領域と、第13の領域と、第14の領域と、第15の
領域と、第16の領域と含み、第11の領域には第7の
サブ回折光検出手段が設けられ、第12の領域には第8
のサブ回折光検出手段が設けられ、第13の領域には第
9のサブ回折光検出手段が設けられ、第14の領域には
第10のサブ回折光検出手段が設けられ、第15の領域
には第11のサブ回折光検出手段が設けられ、第16の
領域には第12のサブ回折光検出手段が設けられ、 前記第3の回折光は前記第7のサブ回折光検出手段と前
記第8のサブ回折光検出手段とによって検出され、前記
第4の回折光は前記第11のサブ回折光検出手段と前記
第12のサブ回折光検出手段とによって検出され、前記
第5の回折光は前記第10のサブ回折光検出手段と前記
第11のサブ回折光検出手段とによって検出され、前記
第6の回折光は前記第8のサブ回折光検出手段と前記第
9のサブ回折光検出手段とによって検出され、 前記制御装置は、前記第7のサブ回折光検出手段と前記
第9のサブ回折光検出手段と前記第11のサブ回折光検
出手段とによって検出される回折光の量と、前記第8の
サブ回折光検出手段と前記第10のサブ回折光検出手段
と前記第12のサブ回折光検出手段とによって検出され
る回折光の量との差に基づいて前記光ディスクのフォー
カスエラー信号を求める、請求項1に記載の光ディスク
装置。
21. The apparatus according to claim 21, further comprising a second diffracted light detecting unit, wherein the first light distribution unit includes a ninth region and a tenth region, wherein The light diffracted by the ninth area of the first light distribution means is output as third diffracted light, and the tenth area of the first light distribution means is included in the reflected light reflected by the optical disk. The light diffracted by the optical disc is output as a fourth diffracted light, and among the reflected light reflected by the optical disc, the light is diffracted separately from the first diffracted light by the first region of the first light distribution means. The fifth light is output as a fifth diffracted light, and the light diffracted separately from the second diffracted light by the second region of the first light distribution means out of the reflected light reflected by the optical disc is Sixth
The second diffracted light detection means outputs the eleventh region and the twelfth region.
, A thirteenth area, a fourteenth area, a fifteenth area, and a sixteenth area, and the eleventh area is provided with a seventh sub-diffraction light detecting means, Eighth in the area
, A ninth sub-diffraction light detection means is provided in the thirteenth area, a tenth sub-diffraction light detection means is provided in the fourteenth area, and a fifteenth area is provided. Is provided with an eleventh sub-diffraction light detection means, a twelfth sub-diffraction light detection means is provided in a sixteenth area, and the third diffraction light is provided with the seventh sub-diffraction light detection means and The eighth sub-diffracted light detecting means detects the fourth diffracted light, and the fourth diffracted light is detected by the eleventh sub-diffracted light detecting means and the twelfth sub-diffracted light detecting means. Is detected by the tenth sub-diffracted light detecting means and the eleventh sub-diffracted light detecting means, and the sixth diffracted light is detected by the eighth sub-diffracted light detecting means and the ninth sub-diffracted light detecting means. Means, the control device, the seventh And the amount of diffracted light detected by the ninth sub-diffracted light detecting means, the ninth sub-diffracted light detecting means, and the eleventh sub-diffracted light detecting means. 2. The optical disc apparatus according to claim 1, wherein a focus error signal of the optical disc is obtained based on a difference between an amount of diffracted light detected by the sub-diffracted light detection means and the twelfth sub-diffraction light detection means.
【請求項22】 第2の回折光検出手段をさらに備え、 前記第1の光分配手段は、第9の領域と、第10の領域
とを含み、前記光ディスクによって反射された反射光の
うち前記第1の光分配手段の前記第9の領域によって回
折された光を第3の回折光として出力し、前記光ディス
クによって反射された反射光のうち前記第1の光分配手
段の前記第10の領域によって回折された光を第4の回
折光として出力し、前記光ディスクによって反射された
反射光のうち前記第1の光分配手段の前記第1の領域に
よって前記第1の回折光とは別に回折された光を第5の
回折光として出力し、前記光ディスクによって反射され
た反射光のうち前記第1の光分配手段の前記第2の領域
によって前記第2の回折光とは別に回折された光を第6
の回折光として出力し、 前記第2の回折光検出手段は、第11の領域と、第12
の領域と、第13の領域と、第14の領域と、第15の
領域と、第16の領域と含み、第11の領域には第7の
サブ回折光検出手段が設けられ、第12の領域には第8
のサブ回折光検出手段が設けられ、第13の領域には第
9のサブ回折光検出手段が設けられ、第14の領域には
第10のサブ回折光検出手段が設けられ、第15の領域
には第11のサブ回折光検出手段が設けられ、第16の
領域には第12のサブ回折光検出手段が設けられ、 前記第3の回折光は前記第7のサブ回折光検出手段と前
記第8のサブ回折光検出手段とによって検出され、前記
第4の回折光は前記第8のサブ回折光検出手段と前記第
9のサブ回折光検出手段とによって検出され、前記第5
の回折光は前記第10のサブ回折光検出手段と前記第1
1のサブ回折光検出手段とによって検出され、前記第6
の回折光は前記第11のサブ回折光検出手段と前記第1
2のサブ回折光検出手段とによって検出され、 前記制御装置は、前記第7のサブ回折光検出手段と前記
第9のサブ回折光検出手段と前記第11のサブ回折光検
出手段とによって検出される回折光の量と、前記第8の
サブ回折光検出手段と前記第10のサブ回折光検出手段
と前記第12のサブ回折光検出手段とによって検出され
る回折光の量との差に基づいて前記光ディスクのフォー
カスエラー信号を求める、請求項1に記載の光ディスク
装置。
22. The apparatus according to claim 22, further comprising a second diffracted light detecting means, wherein the first light distribution means includes a ninth area and a tenth area, wherein The light diffracted by the ninth area of the first light distribution means is output as third diffracted light, and the tenth area of the first light distribution means is included in the reflected light reflected by the optical disk. The light diffracted by the optical disc is output as a fourth diffracted light, and among the reflected light reflected by the optical disc, the light is diffracted separately from the first diffracted light by the first region of the first light distribution means. The fifth light is output as a fifth diffracted light, and the light diffracted separately from the second diffracted light by the second region of the first light distribution means out of the reflected light reflected by the optical disc is Sixth
The second diffracted light detection means outputs the eleventh region and the twelfth region.
, A thirteenth area, a fourteenth area, a fifteenth area, and a sixteenth area, and the eleventh area is provided with a seventh sub-diffraction light detecting means, Eighth in the area
, A ninth sub-diffraction light detection means is provided in the thirteenth area, a tenth sub-diffraction light detection means is provided in the fourteenth area, and a fifteenth area is provided. Is provided with an eleventh sub-diffraction light detection means, a twelfth sub-diffraction light detection means is provided in a sixteenth area, and the third diffraction light is provided with the seventh sub-diffraction light detection means and The eighth sub-diffraction light detecting means detects the fourth diffracted light, and the fourth diffracted light is detected by the eighth sub-diffraction light detecting means and the ninth sub-diffraction light detecting means.
The tenth sub-diffraction light detecting means and the first
And the sixth sub-diffraction light detecting means,
The diffracted light of the eleventh sub-diffraction light detecting means and the first
And the control device is detected by the seventh sub-diffraction light detection means, the ninth sub-diffraction light detection means, and the eleventh sub-diffraction light detection means. And the amount of diffracted light detected by the eighth sub-diffracted light detecting means, the tenth sub-diffracted light detecting means, and the twelfth sub-diffracted light detecting means. 2. The optical disk apparatus according to claim 1, wherein a focus error signal of the optical disk is obtained by using the optical disk apparatus.
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