JP2002076008A - Method of forming ohmic electrode on diamond and electronic device - Google Patents

Method of forming ohmic electrode on diamond and electronic device

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JP2002076008A
JP2002076008A JP2000265658A JP2000265658A JP2002076008A JP 2002076008 A JP2002076008 A JP 2002076008A JP 2000265658 A JP2000265658 A JP 2000265658A JP 2000265658 A JP2000265658 A JP 2000265658A JP 2002076008 A JP2002076008 A JP 2002076008A
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diamond
electrode
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ohmic electrode
film
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Toshisuke Kashiwagi
利介 柏木
Yoshiyuki Konishi
善之 小西
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Shimadzu Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for forming an ohmic electrode that makes a good ohmic contact on diamond. SOLUTION: After a diamond like carbon film 2 is formed on a diamond substrate 1, the diamond like carbon film 2 is heat-treated in a hydrogen atmosphere, and a metal film is formed on the heat-treated diamond like carbon film 2 to be an electrode 3. By forming the electrode after forming the diamond like carbon film 2 by the heat-treatment in the hydrogen atmosphere, the ohmic contact characteristic of the electrode 3 is remarkably improved.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、放射線検出器等の
ダイヤモンドを素材とする電子デバイスのオーミック電
極形成方法、およびオーミック電極を有する電子デバイ
スに関する。
The present invention relates to a method for forming an ohmic electrode of an electronic device using diamond as a raw material, such as a radiation detector, and an electronic device having an ohmic electrode.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子デバイスは様々な分野に利用されて
いるが、放射線検出器等においては宇宙空間などの過酷
な環境に耐えられるデバイスが求められている。このよ
うな要求に対して、一般に利用されているSi(シリコ
ン)などの半導体材料に代えて、耐熱性に優れ、高熱伝
導率を有するダイヤモンドを用いたデバイスの研究が進
められている。ダイヤモンドは例えばB(ボロン)等の
不純物をドープするとp型半導体特性を示すなど、次世
代の半導体としてさまざまな分野への応用が研究されて
いる。
2. Description of the Related Art Electronic devices are used in various fields, but there is a demand for radiation detectors and the like that can withstand severe environments such as outer space. In response to such demands, research is being conducted on devices using diamond having excellent heat resistance and high thermal conductivity instead of generally used semiconductor materials such as Si (silicon). Application of diamond to various fields as a next-generation semiconductor has been studied, for example, when diamond is doped with impurities such as B (boron), it exhibits p-type semiconductor characteristics.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、ダイヤモン
ド半導体を実用とするには種々の課題があるが、その中
でも、良好なオーミックコンタクトを有する電極をどの
ように形成するかが極めて重要な課題としてあげられ
る。ダイヤモンド半導体に金属電極を形成したものは、
図5のようなI−V特性(ダイオード特性)を示す。し
かしながら、従来のようにダイヤモンド上に各種の金属
をそのまま蒸着してオーミック電極とした場合には、図
5の立ち上がり電圧V1が大きく、良好なオーミック電
極が得られなかった。
There are various problems in putting a diamond semiconductor into practical use. Among them, how to form an electrode having a good ohmic contact is one of the most important problems. Can be The one that formed a metal electrode on a diamond semiconductor,
It shows an IV characteristic (diode characteristic) as shown in FIG. However, when various kinds of metals are directly deposited on diamond to form an ohmic electrode as in the prior art, the rising voltage V1 shown in FIG. 5 is large, and a good ohmic electrode cannot be obtained.

【0004】本発明の目的は、ダイヤモンド上に良好な
オーミックコンタクトを有する電極を形成することがで
きるオーミック電極形成方法、および実用的なオーミッ
ク電極を有する電子デバイスを提供することにある。
An object of the present invention is to provide a method for forming an ohmic electrode capable of forming an electrode having a good ohmic contact on diamond, and an electronic device having a practical ohmic electrode.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】発明の実施の形態を示す
図1に対応付けて説明する。 (1)請求項1の発明は、ダイヤモンド基板1を素材と
する電子デバイスにおけるオーミック電極形成方法であ
って、ダイヤモンド基板1上にダイヤモンドライクカー
ボン膜2を形成した後に、ダイヤモンドライクカーボン
膜2を水素ガス雰囲気中で加熱処理し、加熱処理後のダ
イヤモンドライクカーボン膜2上に金属膜を形成して電
極3としたことにより上述の目的を達成する。 (2)請求項2の発明は、ダイヤモンド基板1を素材と
する電子デバイスに適用され、ダイヤモンド基板1上に
成膜され、水素ガス雰囲気中で加熱処理されたダイヤモ
ンドライクカーボン膜2と、ダイヤモンドライクカーボ
ン膜2上に形成された金属膜からなる電極3とを備えて
上述の目的を達成する。
An embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. (1) The first aspect of the present invention is a method for forming an ohmic electrode in an electronic device using a diamond substrate 1 as a material. After the diamond-like carbon film 2 is formed on the diamond substrate 1, The above object is achieved by performing heat treatment in a gas atmosphere and forming a metal film on the diamond-like carbon film 2 after the heat treatment to form the electrode 3. (2) The invention according to claim 2 is applied to an electronic device using the diamond substrate 1 as a material, and a diamond-like carbon film 2 formed on the diamond substrate 1 and heat-treated in a hydrogen gas atmosphere; The above object is achieved by providing an electrode 3 made of a metal film formed on the carbon film 2.

【0006】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段の項では、本発明を分かり易くする
ために発明の実施の形態の図を用いたが、これにより本
発明が発明の実施の形態に限定されるものではない。
In the section of the means for solving the above-mentioned problems, which explains the configuration of the present invention, the drawings of the embodiments of the present invention are used to make the present invention easier to understand. However, the present invention is not limited to the embodiment.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】以下、図1〜図4を参照して本発
明の実施の形態を説明する。前述したように、従来はダ
イヤモンド基板上に直接電極を形成していたが、本発明
による電極形成方法では、ダイヤモンド基板上にDLC
膜を形成し、そのDLC膜を水素雰囲気中で加熱処理
し、加熱処理されたDLC膜上に電極を形成する。な
お、以下の説明では、水素雰囲気中での加熱処理のこと
を水素終端処理と呼ぶことにする。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. As described above, conventionally, an electrode is directly formed on a diamond substrate. However, in the electrode forming method according to the present invention, DLC is formed on the diamond substrate.
A film is formed, the DLC film is heat-treated in a hydrogen atmosphere, and an electrode is formed on the heat-treated DLC film. In the following description, the heat treatment in a hydrogen atmosphere will be referred to as a hydrogen termination treatment.

【0008】図1および図2は本発明によるオーミック
電極形成方法の一実施の形態を説明する図であり、図
1,2を参照してダイヤモンド基板へのオーミック電極
の形成手順を説明する。まず、超高圧合成法によりB
(ボロン)を含むp型の半導体特性を有するダイヤモン
ド基板1を形成する(図1(a)参照)。本実施の形態
では、ダイヤモンド基板1の厚さは約0.3mmとし
た。次いで、図1(b)に示すように、ダイヤモンド基
板1上に厚さ約400nmのダイヤモンドライクカーボ
ン(以下ではDLCと記す)膜2を成膜する。DLC膜
2の形成方法としてはプラズマCVD法などがあり、特
に、電子サイクロトロン共鳴を利用したECR−CVD
法を用いると良好なDLC膜2が得られる。
FIGS. 1 and 2 are views for explaining an embodiment of the method for forming an ohmic electrode according to the present invention. The procedure for forming an ohmic electrode on a diamond substrate will be described with reference to FIGS. First, B
A diamond substrate 1 having p-type semiconductor characteristics including (boron) is formed (see FIG. 1A). In the present embodiment, the thickness of the diamond substrate 1 is about 0.3 mm. Next, as shown in FIG. 1B, a diamond-like carbon (hereinafter, referred to as DLC) film 2 having a thickness of about 400 nm is formed on the diamond substrate 1. As a method for forming the DLC film 2, there is a plasma CVD method or the like, and in particular, ECR-CVD using electron cyclotron resonance.
When the method is used, a good DLC film 2 can be obtained.

【0009】ダイヤモンド基板1上にDLC膜2を形成
したならば、水素ガス雰囲気中でDLC膜2を加熱して
DLC膜2の水素終端処理を行う。図2は水素終端処理
を説明する図であり、(a)は加熱処理装置の概略図、
(b)は加熱処理中の加熱パターンを示す図である。5
はダイヤモンド基板1が装填される石英管炉であり、石
英管炉5には加熱用ヒータ6が設けられている。また、
石英管炉5には、排気装置7と、Ar(アルゴン)ガス
およびH2(水素)ガスの混合ガス(ほぼ常圧)を供給
するガス供給装置8とが接続されている。
After the DLC film 2 is formed on the diamond substrate 1, the DLC film 2 is heated in a hydrogen gas atmosphere to perform a hydrogen termination treatment on the DLC film 2. FIG. 2 is a view for explaining a hydrogen termination treatment, (a) is a schematic diagram of a heat treatment apparatus,
(B) is a figure which shows the heating pattern during heat processing. 5
Is a quartz tube furnace in which the diamond substrate 1 is loaded, and the quartz tube furnace 5 is provided with a heater 6 for heating. Also,
An exhaust device 7 and a gas supply device 8 for supplying a mixed gas of Ar (argon) gas and H 2 (hydrogen) gas (at substantially normal pressure) are connected to the quartz tube furnace 5.

【0010】図2(a)に示すように、DLC膜2が形
成されたダイヤモンド基板1を石英管炉5内に装填した
ならば、石英管炉5内にガス供給装置8から混合ガスを
供給してエアとガス置換を行う。石英管炉5内に混合ガ
スが充填されたならば、ヒータ6により図2(b)に示
すような加熱パターンで石英管炉5を加熱する。図2
(b)の加熱パターンでは、常温から800℃まで4時
間かけて昇温させ、800℃に2時間保持した後に8〜
10時間かけて常温まで温度を下げる。
As shown in FIG. 2A, when the diamond substrate 1 on which the DLC film 2 is formed is loaded into the quartz tube furnace 5, a mixed gas is supplied from the gas supply device 8 into the quartz tube furnace 5. To replace the air and gas. When the mixed gas is filled in the quartz tube furnace 5, the quartz tube furnace 5 is heated by the heater 6 in a heating pattern as shown in FIG. FIG.
In the heating pattern (b), the temperature was raised from room temperature to 800 ° C. over 4 hours, and after maintaining at 800 ° C. for 2 hours, 8 to
Reduce the temperature to room temperature over 10 hours.

【0011】なお、図2(b)は加熱パターンの一例を
示したものであり、デバイスの寸法や各膜1,2の厚さ
や混合ガスの混合比等の条件に応じて適宜設定される。
ところで、水素終端処理の際には石英管炉5内に水素ガ
スのみを供給しても良いが、水素ガスのみを供給して加
熱するのは危険なので、水素ガスを不活性なアルゴンガ
スで希釈した混合ガスを用いた。混合ガスの混合比(体
積比)については、本実施の形態に示す例では水素ガス
5%に対してアルゴンガス95%のように設定した。
FIG. 2B shows an example of a heating pattern, which is set as appropriate according to conditions such as the dimensions of the device, the thickness of each of the films 1 and 2 and the mixing ratio of the mixed gas.
By the way, during hydrogen termination, only hydrogen gas may be supplied into the quartz tube furnace 5, but it is dangerous to supply only hydrogen gas and heat it, so dilute hydrogen gas with inert argon gas. The mixed gas used was used. The mixing ratio (volume ratio) of the mixed gas is set in the example shown in the present embodiment such that hydrogen gas is 5% and argon gas is 95%.

【0012】本実施の形態では希釈用ガスとしてアルゴ
ンガスを用いたが、ヘリウムガス等を使用しても良い。
また、石英管炉5への混合ガスの供給形態としては、上
述したように混合ガスを充填した状態で加熱処理を行っ
ても良いし、加熱中にガス供給装置8から混合ガスを流
入させつつ排気装置7で排気するようにしても良い。
In the present embodiment, argon gas is used as a diluting gas, but helium gas or the like may be used.
As a mode of supplying the mixed gas to the quartz tube furnace 5, the heating process may be performed in a state where the mixed gas is filled as described above, or the mixed gas may be supplied from the gas supply device 8 during heating. The gas may be exhausted by the exhaust device 7.

【0013】図1に戻って、DLC膜2の加熱処理が完
了したならば、DLC膜2上にAu(金)を、反対側の
ダイヤモンド膜1上にAl(アルミニウム)等をそれぞ
れ蒸着により成膜して電極3,4を形成する。蒸着法と
しては、抵抗加熱法、イオンプレーティグ法、スパッタ
蒸着法、電子ビーム蒸着法などがある。なお、電極3お
よび4の膜厚はそれぞれ約20nm程度である。Al電
極4とダイヤモンド基板1との接合部では、従来の電極
と同様に図5に示すようなダイオード特性を示す。従来
は、電極3および4ともダイヤモンド基板1上に直接形
成していた。
Returning to FIG. 1, when the heat treatment of the DLC film 2 is completed, Au (gold) is formed on the DLC film 2 and Al (aluminum) is formed on the opposite diamond film 1 by vapor deposition. The electrodes 3 and 4 are formed by film formation. Examples of the evaporation method include a resistance heating method, an ion plating method, a sputter evaporation method, and an electron beam evaporation method. The thickness of each of the electrodes 3 and 4 is about 20 nm. The junction between the Al electrode 4 and the diamond substrate 1 exhibits diode characteristics as shown in FIG. Conventionally, both the electrodes 3 and 4 were formed directly on the diamond substrate 1.

【0014】電極3を評価実験する際には、図3に示す
ように電極3と電極4との間に電圧を印加してI−V特
性を計測する。図4は、本実施の形態の形成方法による
オーミック電極を含んだダイオード特性(順方向特性)
を、従来のオーミック電極を含んだダイオード特性と比
較して示した図であり、横軸にバイアス電圧V、縦軸に
順方向漏れ電流を示したものである。図4において、
は本発明によるものの特性を示し、〜は従来の形成
方法によるものの特性を示している。はダイヤモンド
基板上にAu電極を形成したもの、はダイヤモンド基
板上にTi,Pt,Auの三層の金属膜からなる電極を
形成したもの、はダイヤモンド基板を水素終端処理し
た後にAu電極を形成したものである。
When performing an evaluation experiment on the electrode 3, as shown in FIG. 3, a voltage is applied between the electrode 3 and the electrode 4, and the IV characteristic is measured. FIG. 4 shows characteristics of a diode including an ohmic electrode according to the formation method of the present embodiment (forward characteristics).
Is a diagram showing a comparison with a conventional diode characteristic including an ohmic electrode, in which a horizontal axis indicates a bias voltage V and a vertical axis indicates a forward leakage current. In FIG.
Indicates the characteristics of the device according to the present invention, and indicates the characteristics of the device according to the conventional forming method. Is an Au electrode formed on a diamond substrate, is an electrode formed of a three-layer metal film of Ti, Pt, and Au on a diamond substrate, and is an Au electrode formed after hydrogen termination of the diamond substrate. Things.

【0015】図4に示したように、従来の形成方法によ
るオーミック電極を含んだ場合は(〜)は漏れ電流
の立ち上がり電圧は100V以上であるが、本発明の形
成方法によるオーミック電極を含んだ場合()は1V
以下と2桁以上も立ち上がり電圧が小さくなる。すなわ
ち、本発明の形成方法によるオーミック電極を用いた場
合()は順方向の漏れ電流が流れやすく、顕著に良い
ダイオードのI−V特性が得られている。これは、従来
より良好なオーミック電極、すなわち、ダイヤモンドデ
バイスに使用可能な実用的なオーミック電極が形成でき
たことを示している。
As shown in FIG. 4, when an ohmic electrode formed by the conventional method is included, the rise voltage of the leakage current is 100 V or more in (-), but the ohmic electrode formed by the method of the present invention is included. Case () is 1V
The rising voltage becomes smaller by two digits or more. That is, when the ohmic electrode according to the formation method of the present invention is used (), a forward leakage current easily flows, and a remarkably good IV characteristic of the diode is obtained. This indicates that a better ohmic electrode than before, that is, a practical ohmic electrode usable for a diamond device could be formed.

【0016】なお、、は、いずれもダイヤモンド基
板上にAu電極を直接形成したものであるが、ダイヤモ
ンド基板を水素終端処理したの方が順方向の立ち上が
り電流が大きくなっていて、より良好なオーミックコン
タクトとなっている。このことから、ダイヤモンドを水
素終端処理することによってオーミックコンタクト性が
向上すると推測され、特に、DLC膜2の場合には、オ
ーミックコンタクト性の向上が顕著になると考えられ
る。
In each of the above examples, an Au electrode was directly formed on a diamond substrate. However, when the diamond substrate was subjected to hydrogen termination, the rising current in the forward direction was larger and a better ohmic current was obtained. It is a contact. From this fact, it is presumed that the ohmic contact property is improved by subjecting diamond to hydrogen termination treatment. In particular, in the case of the DLC film 2, it is considered that the ohmic contact property is significantly improved.

【0017】ところで、プラズマCVD法で形成された
DLC膜2を加熱処理すると、グラファイト化すること
が知られている。しかしながら、本実施の形態では、打
ち込みエネルギーの大きなプラズマCVD法を用いるた
め、ダイヤモンドとグラファイトの混合領域が形成さ
れ、スパッタ蒸着でグラファイトを成膜した場合より、
良好なオーミック電極が形成されると考えられる。
By the way, it is known that when the DLC film 2 formed by the plasma CVD method is subjected to a heat treatment, it becomes graphite. However, in this embodiment, a mixed region of diamond and graphite is formed in order to use a plasma CVD method with a large implantation energy, so that a graphite film is formed by sputter deposition.
It is considered that a good ohmic electrode is formed.

【0018】[0018]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ダイヤモンドを基板材料として用いる電子デバイスに、
従来より良好なオーミックコンタクトを有する電極を形
成することができ、ダイヤモンドを放射線検出器等の電
子デバイスに実用化することが可能となる。
As described above, according to the present invention,
For electronic devices using diamond as a substrate material,
An electrode having a better ohmic contact than before can be formed, and diamond can be put to practical use in electronic devices such as radiation detectors.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】オーミック電極の形成手順を説明する図であ
り、(a)〜(c)の順に工程が進む。
FIG. 1 is a diagram for explaining a procedure for forming an ohmic electrode, and the process proceeds in the order of (a) to (c).

【図2】加熱処理を説明する図であり、(a)は加熱処
理装置を示す図で、(b)は加熱処理中の加熱パターン
を示す図である。
FIGS. 2A and 2B are diagrams illustrating a heat treatment, wherein FIG. 2A is a diagram illustrating a heat treatment device, and FIG. 2B is a diagram illustrating a heating pattern during the heat treatment;

【図3】電極の評価方法を説明する図である。FIG. 3 is a diagram illustrating an electrode evaluation method.

【図4】本実施の形態の形成方法による電極の特性(順
方向特性)を、従来の電極の特性と比較して示した図で
ある。
FIG. 4 is a diagram showing characteristics (forward characteristics) of an electrode according to a forming method of the present embodiment in comparison with characteristics of a conventional electrode.

【図5】ダイヤモンド半導体に金属電極を形成したとき
のI−V特性を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing IV characteristics when a metal electrode is formed on a diamond semiconductor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ダイヤモンド基板 2 ダイヤモンドライクカーボン膜 3,4 電極 5 石英管炉 6 ヒータ 7 排気装置 8 ガス供給装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Diamond substrate 2 Diamond-like carbon film 3, 4 Electrode 5 Quartz tube furnace 6 Heater 7 Exhaust device 8 Gas supply device

フロントページの続き Fターム(参考) 4M104 AA10 BB09 BB36 CC01 DD78 FF13 HH15 Continuation of the front page F term (reference) 4M104 AA10 BB09 BB36 CC01 DD78 FF13 HH15

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ダイヤモンド基板を素材とする電子デバ
イスにおけるオーミック電極形成方法であって、 前記ダイヤモンド基板上にダイヤモンドライクカーボン
膜を形成した後に、前記ダイヤモンドライクカーボン膜
を水素ガス雰囲気中で加熱処理し、加熱処理後の前記ダ
イヤモンドライクカーボン膜上に金属膜を形成して電極
としたことを特徴とするオーミック電極形成方法。
1. A method for forming an ohmic electrode in an electronic device using a diamond substrate as a material, comprising: forming a diamond-like carbon film on the diamond substrate; and heating the diamond-like carbon film in a hydrogen gas atmosphere. Forming an electrode by forming a metal film on the diamond-like carbon film after the heat treatment.
【請求項2】 ダイヤモンド基板を素材とする電子デバ
イスにおいて、 前記ダイヤモンド基板上に成膜され、水素ガス雰囲気中
で加熱処理されたダイヤモンドライクカーボン膜と、 前記ダイヤモンドライクカーボン膜上に形成された金属
膜からなる電極とを備えることを特徴とする電子デバイ
ス。
2. An electronic device using a diamond substrate as a raw material, comprising: a diamond-like carbon film formed on the diamond substrate and heat-treated in a hydrogen gas atmosphere; and a metal formed on the diamond-like carbon film. An electronic device comprising: a film-forming electrode.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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