JP2002072986A - Liquid crystal driver - Google Patents

Liquid crystal driver

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JP2002072986A
JP2002072986A JP2000267944A JP2000267944A JP2002072986A JP 2002072986 A JP2002072986 A JP 2002072986A JP 2000267944 A JP2000267944 A JP 2000267944A JP 2000267944 A JP2000267944 A JP 2000267944A JP 2002072986 A JP2002072986 A JP 2002072986A
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liquid crystal
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To conduct leak measurements of display data latches which are incorporated in the driver of a liquid crystal display device in a short time. SOLUTION: A set/reset function is added to a shift register 106 which generates the timing of inputting display data into display data latches 102(1) to 102(n). Then, by simultaneously setting all bits of the register 106 to an on or an off state from the outside, the leak measurements of all of the display data latches 102(1) to 102(n) are performed in only two leak measurements.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、矩形表示領域の各
画素にそれぞれ対応して液晶セルを有するマトリックス
型の液晶表示装置を、液晶表示装置の各列の液晶セルに
それぞれ対応してクロック毎に順次時系列的に入力され
る表示データに基づいて駆動する液晶駆動装置に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a matrix type liquid crystal display device having a liquid crystal cell corresponding to each pixel in a rectangular display area. And a liquid crystal driving device that drives based on display data that is sequentially input in time series.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3は従来の液晶駆動装置の基本的な回
路構成を示すブロック図である。この液晶駆動装置は、
矩形表示領域の各画素にそれぞれ対応して液晶セルを有
するマトリックス型の液晶表示装置を、液晶表示装置の
各列の液晶セルにそれぞれ対応してクロック毎に順次時
系列的に入力される表示データに基づいて駆動するもの
であり、図3に示すように、入力回路101と、例えば
Dフリップフロップからなるn個の表示データラッチ1
02(1)〜102(n)と、n段のシフトレジスタ1
03と、n個のD/A変換部104(1)〜104
(n)と、n個の出力回路105(1)〜105(n)
とで構成されている。
2. Description of the Related Art FIG. 3 is a block diagram showing a basic circuit configuration of a conventional liquid crystal driving device. This liquid crystal driving device
A matrix type liquid crystal display device having a liquid crystal cell corresponding to each pixel of the rectangular display area is displayed, and display data sequentially input in time series for each clock corresponding to each liquid crystal cell of each column of the liquid crystal display device. As shown in FIG. 3, an input circuit 101 and n display data latches 1 each composed of, for example, a D flip-flop are driven as shown in FIG.
02 (1) to 102 (n) and an n-stage shift register 1
03 and n D / A conversion units 104 (1) to 104 (104)
(N) and n output circuits 105 (1) to 105 (n)
It is composed of

【0003】入力回路101は、液晶駆動装置の外部よ
り順次時系列的に入力される例えば8ビットの表示デー
タDxをクロックFYの立ち上がりタイミングで取り込
み、内部データバス108へ表示データLDxとして出
力する機能を有する。
The input circuit 101 has a function of taking in, for example, 8-bit display data Dx sequentially and time-sequentially input from the outside of the liquid crystal driving device at the rising timing of the clock FY and outputting it to the internal data bus 108 as display data LDx. Having.

【0004】n個の表示データラッチ102(1)〜1
02(n)は、液晶表示装置の各列の液晶セルにそれぞ
れ対応して設けられ、液晶表示装置の各列の液晶セルに
それぞれ対応したタイミングで入力される表示データ取
込信号にそれぞれ応答して内部データバス108上に出
力される表示データLDxを取り込み保持する機能を有
する。
[0004] The n display data latches 102 (1) to 102 (1)
02 (n) are provided corresponding to the liquid crystal cells in each column of the liquid crystal display device, respectively, and respond to display data capture signals input at timings corresponding to the liquid crystal cells in each column of the liquid crystal display device. The display data LDx output on the internal data bus 108.

【0005】n段のシフトレジスタ103は、液晶表示
装置の液晶セルの列数に対応したシフト段数に設定さ
れ、クロックFYに応じた表示データ取込信号Sのシフ
ト動作によってクロックFYの入力毎に順次異なるシフ
ト段の出力端子G1〜Gnから表示データ取込信号を選
択的に出力する機能を有する。すなわち、このシフトレ
ジスタ103は、入力回路101より出力される表示デ
ータLDxをn個の表示データラッチ102(1)〜1
02(n)にそれぞれ取り込ませるべきタイミングを生
成する機能を有する。
The n-stage shift register 103 is set to the number of shift stages corresponding to the number of columns of the liquid crystal cells of the liquid crystal display device. The shift operation of the display data fetch signal S in accordance with the clock FY causes the shift register 103 to input every clock FY. It has a function of selectively outputting display data capture signals from output terminals G1 to Gn of sequentially different shift stages. That is, the shift register 103 converts the display data LDx output from the input circuit 101 into n display data latches 102 (1) to 102 (1).
02 (n) has a function of generating a timing to be captured.

【0006】n個のD/A変換部104(1)〜104
(n)は、n個の表示データラッチ102(1)〜10
2(n)にそれぞれ格納された表示データLDxに基づ
いて階調電圧を発生する機能を有する。
[0006] The n D / A conversion units 104 (1) to 104 (104)
(N) indicates n display data latches 102 (1) to 102 (1) to (10).
2 (n) to generate a gray scale voltage based on the display data LDx stored respectively.

【0007】n個の出力回路105(1)〜105
(n)は、n個のD/A変換部104(1)〜104
(n)でそれぞれ発生させた階調電圧を増幅し、それぞ
れ出力端子よりアナログ出力電圧Y1〜Ynとして出力
する機能を有する。
[0007] The n output circuits 105 (1) to 105
(N) denotes n D / A converters 104 (1) to 104 (1) to 104
It has the function of amplifying the grayscale voltages generated in (n) and outputting them as analog output voltages Y1 to Yn from the output terminals.

【0008】つぎに、この液晶駆動装置の内部信号タイ
ミングについて図4を参照しながら説明する。入力回路
101に加えられる表示データDxは、クロックFYの
タイミングで入力回路101に取り込まれ、内部データ
バス108より表示データLDxとして出力される。シ
フトレジスタ103はクロックFYに応じたシフト動作
によって表示データ取込信号Sをシフトさせることによ
り、クロックFYの入力毎に順次異なるシフト段の出力
端子G1〜Gnより表示データ取込信号S1〜Snを選
択的に出力することになる。
Next, the internal signal timing of the liquid crystal driving device will be described with reference to FIG. The display data Dx applied to the input circuit 101 is taken into the input circuit 101 at the timing of the clock FY, and is output from the internal data bus 108 as the display data LDx. The shift register 103 shifts the display data fetch signal S by a shift operation according to the clock FY, so that the display data fetch signals S1 to Sn are sequentially output from the output terminals G1 to Gn of different shift stages every time the clock FY is input. It will output selectively.

【0009】そして、この表示データ取込信号S1〜S
nが表示データラッチ102(1)〜102(n)にそ
れぞれ入力されることで、表示データ取込信号S1〜S
nのタイミングでそれぞれ、表示データラッチ102
(1)〜102(n)のゲートが開き、このときに表示
データLDxを取り込まれることになる。
The display data capture signals S1 to S
n are input to the display data latches 102 (1) to 102 (n), respectively, so that the display data fetch signals S1 to S
At the timing of n, the display data latch 102
The gates (1) to 102 (n) are opened, and at this time, the display data LDx is fetched.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】以上のような構成の液
晶駆動装置において、表示データラッチ102(1)〜
102(n)のリーク電流を検査する場合、表示データ
ラッチ102(1)〜102(n)についてゲートを開
いた状態と閉じた状態との両方でリーク電流を測定する
必要がある。図3の液晶駆動装置の構成では、表示デー
タ取込信号SをクロックFYに応じてシフトさせること
で、表示データラッチ102(1)〜102(n)のそ
れぞれについて、ゲートを開いた状態のリーク電流を測
定する。図4には、リーク電流測定位置(タイミング)
を矢符で示している。リーク電流は、例えば表示データ
ラッチ102(1)〜102(n)への電源供給経路中
に電流測定器を設け、電源から表示データラッチ102
(1)〜102(n)へ流れる電流を計測することで、
求めることができる。
In the liquid crystal driving device having the above configuration, the display data latches 102 (1) to 102 (1) to
When inspecting the leak current 102 (n), it is necessary to measure the leak current of the display data latches 102 (1) to 102 (n) in both the open state and the closed state of the gate. In the configuration of the liquid crystal driving device in FIG. 3, the display data capture signal S is shifted in accordance with the clock FY, so that the leakage of the display data latches 102 (1) to 102 (n) with the gate open is provided. Measure the current. FIG. 4 shows the leakage current measurement position (timing)
Are indicated by arrows. To measure the leakage current, for example, a current measuring device is provided in a power supply path to the display data latches 102 (1) to 102 (n), and the display data latch 102
(1) By measuring the current flowing to 102 (n),
You can ask.

【0011】以上のような構成では、画像表示装置の列
数が多くシフトレジスタ103が多ビットになるにつれ
て、表示データラッチ102(1)〜102(n)のリ
ーク電流を検査する場合のリーク電流の測定回数が増加
し測定時間が増大するといった問題がある。
In the above-described configuration, as the number of columns of the image display device increases and the shift register 103 has more bits, the leakage current when inspecting the leakage current of the display data latches 102 (1) to 102 (n) is increased. There is a problem that the number of times of measurement increases and the measurement time increases.

【0012】なお、表示データラッチ102(1)〜1
02(n)のうちの1個のゲートが開いているときに残
りのn−1個のゲートは閉じているので、表示データラ
ッチ102(1)〜102(n)のうちの1個の表示デ
ータラッチについてゲートが開いているときのリーク電
流を計測すれば、自動的に残りのn−1個の表示データ
ラッチについてゲートが閉じているときのリーク電流を
計測したことになる。
The display data latches 102 (1) to 102 (1) to 1
02 (n) is open and the remaining n-1 gates are closed, so that one of the display data latches 102 (1) -102 (n) is displayed. If the leak current of the data latch when the gate is open is measured, the leak current of the remaining n-1 display data latches when the gate is closed is automatically measured.

【0013】したがって、表示データラッチ102
(1)〜102(n)のうちの2個の表示データラッチ
についてゲートが開いているときのリーク電流を計測す
れば、全ての表示データラッチ102(1)〜102
(n)についてゲートが閉じているときのリーク電流を
計測したことになる。
Therefore, the display data latch 102
If the leak current when the gate is open is measured for two display data latches of (1) to 102 (n), all display data latches 102 (1) to 102 (n) are measured.
For (n), the leakage current when the gate is closed is measured.

【0014】また、表示データラッチ信号Sのシフト動
作を始める前は、表示データラッチ102(1)〜10
2(n)のゲートがすべて閉じているので、このときに
リーク電流を計測すれば、全ての表示データラッチ10
2(1)〜102(n)についてゲートが閉じていると
きのリーク電流を計測したことになる。
Before the shift operation of the display data latch signal S is started, the display data latches 102 (1) to 102 (1) to 102 (1) to
Since all the gates of 2 (n) are closed, if the leakage current is measured at this time, all the display data latches 10
This means that the leakage current when the gate is closed is measured for 2 (1) to 102 (n).

【0015】本発明の目的は、短時間で表示データラッ
チのリーク電流の検査を行うことができる液晶駆動装置
を提供することである。
An object of the present invention is to provide a liquid crystal driving device capable of inspecting a leak current of a display data latch in a short time.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】本発明の請求項1記載の
液晶駆動装置は、表示領域の各画素にそれぞれ対応して
液晶セルを有するマトリックス型の液晶表示装置を、液
晶表示装置の各列の液晶セルにそれぞれ対応してクロッ
ク毎に順次時系列的に入力される表示データに基づいて
駆動するものであり、複数の表示データラッチとシフト
レジスタとを備えている。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a liquid crystal driving apparatus comprising: a matrix type liquid crystal display having liquid crystal cells corresponding to respective pixels in a display area; The liquid crystal cell is driven based on display data sequentially input in time series for each clock corresponding to each of the liquid crystal cells, and includes a plurality of display data latches and a shift register.

【0017】複数の表示データラッチは、液晶表示装置
の各列の液晶セルにそれぞれ対応して設けられ、液晶表
示装置の各列の液晶セルにそれぞれ対応したタイミング
で入力される表示データ取込信号にそれぞれ応答して表
示データを取り込み保持する機能を有する。
A plurality of display data latches are provided corresponding to the liquid crystal cells of each column of the liquid crystal display device, respectively, and the display data latch signals input at timings corresponding to the liquid crystal cells of each column of the liquid crystal display device, respectively. Has a function to capture and hold display data in response to

【0018】シフトレジスタは、液晶表示装置の液晶セ
ルの列数に対応したシフト段数を有し、通常はクロック
に応じたシフト動作によってクロックの入力毎に順次異
なるシフト段から表示データ取込信号を選択的に出力
し、セット信号の入力に応答して全てのシフト段から表
示データ取込信号を同時に出力する機能を有する。
The shift register has a number of shift stages corresponding to the number of columns of the liquid crystal cells of the liquid crystal display device. Normally, a shift operation corresponding to a clock causes a display data capture signal to be sequentially output from a shift stage that is sequentially different for each clock input. It has a function of selectively outputting and simultaneously outputting display data capture signals from all shift stages in response to the input of the set signal.

【0019】この構成によれば、シフトレジスタに対し
てセット信号を与えることにより、シフトレジスタの全
てのシフト段から表示データ取込信号が同時に出力され
ることになる。その結果、全ての表示データラッチを同
時にゲートを開いた状態にすることができる。したがっ
て、複数の表示データラッチについてゲートを開いた状
態のリーク電流測定を1回の測定で実行することが可能
となる。その結果、短時間で表示データラッチのリーク
電流の検査を行うことができる。
According to this configuration, by supplying the set signal to the shift register, the display data fetch signal is simultaneously output from all the shift stages of the shift register. As a result, the gates of all the display data latches can be simultaneously opened. Therefore, it is possible to perform a leak current measurement with a gate opened for a plurality of display data latches in one measurement. As a result, the leak current of the display data latch can be inspected in a short time.

【0020】本発明の請求項2記載の液晶駆動装置は、
請求項1記載の液晶駆動装置において、シフトレジスタ
はリセット信号の入力に応答して全てのシフト段からの
表示データ取込信号の出力を停止するようにしている。
A liquid crystal driving device according to a second aspect of the present invention is:
2. The liquid crystal driving device according to claim 1, wherein the shift register stops outputting the display data fetch signal from all shift stages in response to the input of the reset signal.

【0021】この構成によれば、シフトレジスタに対し
てリセット信号を与えることにより、シフトレジスタの
全てのシフト段からの表示データ取込信号の出力が停止
することになる。その結果、全ての表示データラッチを
同時にゲートを閉じた状態にすることができる。したが
って、複数の表示データラッチについてゲートを閉じた
状態のリーク電流測定を1回の測定で実行することが可
能となる。その結果、複数の表示データラッチについ
て、ゲートを開いた状態と閉じた状態とのリーク電流測
定を合わせて2回の測定で実行することが可能となり、
短時間で表示データラッチのリーク電流の検査を行うこ
とができる。
According to this configuration, by supplying the reset signal to the shift register, the output of the display data fetch signal from all shift stages of the shift register is stopped. As a result, the gates of all the display data latches can be simultaneously closed. Therefore, it is possible to execute the leak current measurement in a state where the gates are closed for a plurality of display data latches in one measurement. As a result, for a plurality of display data latches, it is possible to execute the leak current measurement in a state where the gate is opened and in a state where the gate is closed in two measurements,
The leak current of the display data latch can be inspected in a short time.

【0022】本発明の請求項3記載の液晶駆動装置は、
請求項2記載の液晶駆動装置において、テスト信号とテ
ストモード切替信号とを入力とするテスト制御部を設
け、テスト信号がアクティブでかつテストモード切替信
号がアクティブのときにシフトレジスタへセット信号を
与え、テスト信号がアクティブでかつテストモード切替
信号が非アクティブのときにシフトレジスタへリセット
信号を与えるようにしている。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a liquid crystal driving device.
3. The liquid crystal driving device according to claim 2, further comprising: a test control unit that receives a test signal and a test mode switching signal, and supplies a set signal to the shift register when the test signal is active and the test mode switching signal is active. The reset signal is supplied to the shift register when the test signal is active and the test mode switching signal is inactive.

【0023】この構成によれば、テスト制御部に与える
テスト信号およびテストモード切替信号の状態の組み合
わせを変えることにより、液晶駆動装置の動作状態を容
易に切り換えることができる。
According to this configuration, the operation state of the liquid crystal driving device can be easily switched by changing the combination of the state of the test signal and the state of the test mode switching signal supplied to the test control unit.

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態の液晶
駆動装置の基本的な構成を示すブロック図である。この
液晶駆動装置は、矩形表示領域の各画素にそれぞれ対応
して液晶セルを有するマトリックス型の液晶表示装置
を、液晶表示装置の各列の液晶セルにそれぞれ対応して
クロック毎に順次時系列的に入力される表示データに基
づいて駆動するものであり、図1に示すように、入力回
路101と、例えばDフリップフロップからなるn個の
表示データラッチ102(1)〜102(n)と、n段
のシフトレジスタ106と、n個のD/A変換部104
(1)〜104(n)と、n個の出力回路105(1)
〜105(n)と、テスト制御部107とで構成されて
いる。
FIG. 1 is a block diagram showing a basic configuration of a liquid crystal driving device according to an embodiment of the present invention. This liquid crystal driving device sequentially converts a matrix type liquid crystal display device having a liquid crystal cell corresponding to each pixel of a rectangular display area into a liquid crystal cell of each column of the liquid crystal display device in a time-series manner for each clock. , And as shown in FIG. 1, an input circuit 101, and n display data latches 102 (1) to 102 (n) each composed of, for example, a D flip-flop, n-stage shift register 106 and n D / A conversion units 104
(1) to 104 (n) and n output circuits 105 (1)
105 (n) and the test control unit 107.

【0025】入力回路101と、n個の表示データラッ
チ102(1)〜102(n)と、n個のD/A変換部
104(1)〜104(n)と、n個の出力回路105
(1)〜105(n)とについては、従来例の図3と同
じ構成であるので、詳しい説明は省略する。
An input circuit 101, n display data latches 102 (1) to 102 (n), n D / A converters 104 (1) to 104 (n), and n output circuits 105
Since (1) to 105 (n) have the same configuration as that of FIG. 3 of the conventional example, detailed description will be omitted.

【0026】従来例と異なるのは、n段のシフトレジス
タ103に代えて、n段のシフトレジスタ106を用い
たことと、リーク電流のテストを行うためのテスト制御
部107を追加した点である。
The difference from the conventional example is that an n-stage shift register 106 is used instead of the n-stage shift register 103, and a test control unit 107 for testing a leak current is added. .

【0027】n段のシフトレジスタ106は、液晶表示
装置の液晶セルの列数に対応したシフト段数に設定さ
れ、通常はクロックFYに応じた表示データ取込信号S
のシフト動作によってクロックFYの入力毎に順次異な
るシフト段の出力端子G1〜Gnから表示データ取込信
号を選択的に出力し、セット信号の入力に応答して全て
のシフト段から表示データ取込信号を同時に出力し、リ
セット信号の入力に応答して全てのシフト段からの表示
データ取込信号の出力を停止する機能を有する。
The n-stage shift register 106 is set to the number of shift stages corresponding to the number of columns of the liquid crystal cells of the liquid crystal display device, and usually, the display data fetch signal S corresponding to the clock FY.
Selectively outputs display data capture signals from output terminals G1 to Gn of shift stages that are sequentially different for each input of clock FY, and captures display data from all shift stages in response to the input of the set signal. A signal is output at the same time, and the output of the display data capture signal from all shift stages is stopped in response to the input of the reset signal.

【0028】すなわち、このシフトレジスタ103は、
入力回路101より出力される表示データLDxをn個
の表示データラッチ102(1)〜102(n)にそれ
ぞれ取り込ませるべきタイミングを生成する機能を有す
る。このシフトレジスタ106は、セットリセット入力
付のDフリップフロップをn段縦続接続したものであ
り、例えば図5に示すような構成となっている。
That is, the shift register 103
It has a function of generating a timing at which the display data LDx output from the input circuit 101 is to be taken into each of the n display data latches 102 (1) to 102 (n). This shift register 106 is a cascade-connected N-stage D flip-flop with a set / reset input, and has, for example, a configuration as shown in FIG.

【0029】テスト制御部107は、ロジック回路で構
成され、テスト信号TESTとテストモード切替信号S
ETとを入力とし、テスト信号TESTがアクティブで
かつテストモード切替信号SETがアクティブのときに
シフトレジスタ106へセット信号SSを与え、テスト
信号TESTがアクティブでかつテストモード切替信号
SETが非アクティブのときにシフトレジスタ106へ
リセット信号RSを与えるようにしている。
The test control unit 107 is composed of a logic circuit, and includes a test signal TEST and a test mode switching signal S.
When the test signal TEST is active and the test mode switching signal SET is active, the set signal SS is supplied to the shift register 106. When the test signal TEST is active and the test mode switching signal SET is inactive, , A reset signal RS is supplied to the shift register 106.

【0030】ここで、テスト制御部107の動作につい
て具体的に説明する。テスト制御部107はテスト信号
TESTとテストモード切替信号SETとで制御され、
例えば図3と同じ通常動作を行なう場合は、テスト信号
TESTをローレベル(非アクティブ)に設定する。こ
のときの動作は従来例と同様である。このとき、テスト
モード切替信号SETは任意である。
Here, the operation of the test control unit 107 will be specifically described. The test control unit 107 is controlled by a test signal TEST and a test mode switching signal SET,
For example, when performing the same normal operation as in FIG. 3, the test signal TEST is set to a low level (inactive). The operation at this time is the same as in the conventional example. At this time, the test mode switching signal SET is optional.

【0031】また、リーク電流を測定する場合、テスト
信号TESTをハイレベル(アクティブ)に設定する。
図2はテスト信号TESTをハイレベルに設定したとき
(リーク電流を測定する場合)のタイミング波形であ
る。テスト制御部107に入力されるテスト信号TES
Tがハイレベルとなったときに、テストモード切替信号
SETがハイレベルの場合、シフトレジスタ106がセ
ットされ、シフトレジスタ106の全てのシフト段の出
力信号G1〜Gnの状態を全ビットハイレベルの状態に
設定することができる。このときにリーク電流を測定す
ると、表示データラッチ102(1)〜102(n)の
ゲートが全て開いた状態のリーク電流を測定したことに
なる。
When measuring the leak current, the test signal TEST is set to a high level (active).
FIG. 2 is a timing waveform when the test signal TEST is set to a high level (when a leak current is measured). Test signal TES input to test control section 107
When the test mode switching signal SET is at the high level when T becomes the high level, the shift register 106 is set, and the state of the output signals G1 to Gn of all the shift stages of the shift register 106 is changed to the high level of all the bits. State can be set. If the leak current is measured at this time, it means that the leak current is measured when all the gates of the display data latches 102 (1) to 102 (n) are open.

【0032】また、テスト信号TESTがハイレベルか
つテストモード切替信号SETがローレベルの場合、シ
フトレジスタ106がリセットされ、シフトレジスタ1
06の全てのシフト段の出力信号G1〜Gnの状態を全
ビットローレベルの状態に設定することができる。この
ときにリーク電流を測定すると、表示データラッチ10
2(1)〜102(n)のゲートが全て閉じた状態のリ
ーク電流を測定したことになる。
When the test signal TEST is at a high level and the test mode switching signal SET is at a low level, the shift register 106 is reset and the shift register 1 is reset.
06, the state of the output signals G1 to Gn of all shift stages can be set to the state of all bit low levels. When the leak current is measured at this time, the display data latch 10
This means that the leak current was measured when all the gates 2 (1) to 102 (n) were closed.

【0033】図2には、実施の形態におけるリーク電流
測定位置(タイミング)の一例を矢符で示している。前
の矢符は、全ての表示データラッチ102(1)〜10
2(n)のゲートが全て閉じた状態のリーク電流の測定
のタイミングであり、後の矢符は、全ての表示データラ
ッチ102(1)〜102(n)のゲートが全て開いた
状態のリーク電流の測定のタイミングである。
FIG. 2 shows an example of a leak current measurement position (timing) in the embodiment by arrows. The previous arrow indicates that all display data latches 102 (1) to 102 (1) to
The timing of the measurement of the leak current in a state where the gates of 2 (n) are all closed is indicated by a later arrow. This is the timing for measuring the current.

【0034】この実施の形態の液晶駆動装置によれば、
シフトレジスタ106に対してセット信号を与えること
により、シフトレジスタ106の全てのシフト段から表
示データ取込信号S1〜Snが同時に出力されることに
なり(全ビットハイレベル状態)、シフトレジスタ10
6に対してリセット信号を与えることにより、シフトレ
ジスタ106の全てのシフト段からの表示データ取込信
号S1〜Snの出力が停止することになる(全ビットロ
ーレベル状態)。その結果、全ての表示データラッチ1
02(1)〜102(n)を同時にゲートを開いた状態
にすることができるとともに、全ての表示データラッチ
102(1)〜102(n)を同時にゲートを閉じた状
態にすることができる。
According to the liquid crystal driving device of this embodiment,
By applying the set signal to the shift register 106, the display data capture signals S1 to Sn are simultaneously output from all the shift stages of the shift register 106 (all bits are at the high level), and the shift register 10
By giving the reset signal to 6, the output of the display data fetch signals S1 to Sn from all the shift stages of the shift register 106 is stopped (all the bits are in the low level state). As a result, all display data latches 1
02 (1) to 102 (n) can have their gates open at the same time, and all display data latches 102 (1) to 102 (n) can have their gates closed at the same time.

【0035】したがって、複数の表示データラッチ10
2(1)〜102(n)についてゲートを開いた状態の
リーク電流測定を1回の測定で実行することが可能とな
り、また、複数の表示データラッチ102(1)〜10
2(n)についてゲートを閉じたい態のリーク電流測定
を1回の測定で実行することが可能となる。その結果、
多出力でシフトレジスタ106が多ビットの液晶駆動装
置において、短時間でリーク電流の検査を行うことがで
きる。
Therefore, the plurality of display data latches 10
2 (1) to 102 (n), the leak current measurement with the gate open can be performed by one measurement, and a plurality of display data latches 102 (1) to 102 (1) to 102 (n) can be executed.
For 2 (n), it is possible to perform the leak current measurement in a state where the gate is desired to be closed by one measurement. as a result,
In a liquid crystal driving device in which the shift register 106 has multiple bits with multiple outputs, the leakage current can be inspected in a short time.

【0036】また、テスト制御部107に与えるテスト
信号TESTおよびテストモード切替信号SETの状態
の組み合わせを変えることにより、液晶駆動装置の動作
状態を容易に切り換えることができる。
The operation state of the liquid crystal driving device can be easily switched by changing the combination of the state of the test signal TEST and the state of the test mode switching signal SET given to the test control section 107.

【0037】[0037]

【発明の効果】請求項1記載の液晶駆動装置によれば、
シフトレジスタに対してセット信号を与えることによ
り、シフトレジスタの全てのシフト段から表示データ取
込信号が同時に出力されることになる。その結果、全て
の表示データラッチを同時にゲートを開いた状態にする
ことができる。したがって、複数の表示データラッチに
ついてゲートを開いた状態のリーク電流測定を1回の測
定で実行することが可能となる。その結果、短時間で表
示データラッチのリーク電流の検査を行うことができ
る。
According to the liquid crystal driving device of the first aspect,
By applying the set signal to the shift register, the display data fetch signal is simultaneously output from all the shift stages of the shift register. As a result, the gates of all the display data latches can be simultaneously opened. Therefore, it is possible to perform a leak current measurement with a gate opened for a plurality of display data latches in one measurement. As a result, the leak current of the display data latch can be inspected in a short time.

【0038】請求項2記載の液晶駆動装置によれば、シ
フトレジスタに対してリセット信号を与えることによ
り、シフトレジスタの全てのシフト段からの表示データ
取込信号の出力が停止することになる。その結果、全て
の表示データラッチを同時にゲートを閉じた状態にする
ことができる。したがって、複数の表示データラッチに
ついてゲートを閉じた状態のリーク電流測定を1回の測
定で実行することが可能となる。その結果、複数の表示
データラッチについて、ゲートとを開いた状態と閉じた
状態のリーク電流測定を合わせて2回の測定で実行する
ことが可能となり、短時間で表示データラッチのリーク
電流の検査を行うことができる。
According to the liquid crystal driving device of the present invention, by outputting the reset signal to the shift register, the output of the display data fetch signal from all the shift stages of the shift register is stopped. As a result, the gates of all the display data latches can be simultaneously closed. Therefore, it is possible to execute the leak current measurement in a state where the gates are closed for a plurality of display data latches in one measurement. As a result, for a plurality of display data latches, the leak current measurement with the gate open and the gate closed can be performed in two measurements, and the leak current inspection of the display data latch can be performed in a short time. It can be performed.

【0039】請求項3記載の液晶駆動装置によれば、テ
スト制御部に与えるテスト信号およびテストモード切替
信号の状態の組み合わせを変えることにより、液晶駆動
装置の動作状態を容易に切り換えることができる。
According to the liquid crystal driving device of the third aspect, the operation state of the liquid crystal driving device can be easily switched by changing the combination of the states of the test signal and the test mode switching signal supplied to the test control unit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態の液晶駆動装置の構成を示
すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a liquid crystal driving device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の液晶駆動装置の検査時の動作を示すタイ
ムチャートである。
FIG. 2 is a time chart showing an operation at the time of inspection of the liquid crystal driving device of FIG. 1;

【図3】従来の液晶駆動装置の構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a conventional liquid crystal driving device.

【図4】図3の液晶駆動装置の検査時の動作を示すタイ
ムチャートである。
FIG. 4 is a time chart showing an operation at the time of inspection of the liquid crystal driving device of FIG. 3;

【図5】シフトレジスタの具体例を示すブロック図であ
る。
FIG. 5 is a block diagram illustrating a specific example of a shift register.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 入力回路 102 表示データラッチ 103 シフトレジスタ 104 D/A変換器 105 出力回路 106 シフトレジスタ 107 テスト制御部 Reference Signs List 101 input circuit 102 display data latch 103 shift register 104 D / A converter 105 output circuit 106 shift register 107 test control unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H093 NA06 NC15 NC21 NC22 NC26 ND56 ND60 5C006 AA16 AC21 AF42 AF51 AF53 AF59 BB11 BC11 BF03 BF04 EB01 FA00 5C058 AA06 BA01 BA35 BB05 BB10 BB25 5C080 AA10 BB05 DD15 DD28 EE29 FF12 GG12 JJ02 JJ04  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2H093 NA06 NC15 NC21 NC22 NC26 ND56 ND60 5C006 AA16 AC21 AF42 AF51 AF53 AF59 BB11 BC11 BF03 BF04 EB01 FA00 5C058 AA06 BA01 BA35 BB05 BB10 BB25 5C080 AA10 BB05 JJ05 DD12 DD15 DD02

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 表示領域の各画素にそれぞれ対応して液
晶セルを有するマトリックス型の液晶表示装置を、前記
液晶表示装置の各列の液晶セルにそれぞれ対応してクロ
ック毎に順次時系列的に入力される表示データに基づい
て駆動する液晶駆動装置であって、 前記液晶表示装置の各列の液晶セルにそれぞれ対応して
設けられ、前記液晶表示装置の各列の液晶セルにそれぞ
れ対応したタイミングで入力される表示データ取込信号
にそれぞれ応答して前記表示データを取り込み保持する
複数の表示データラッチと、 前記液晶表示装置の液晶セル列数に対応したシフト段数
を有し、通常は前記クロックに応じたシフト動作によっ
て前記クロックの入力毎に順次異なるシフト段から前記
表示データ取込信号を選択的に出力し、セット信号の入
力に応答して全てのシフト段から前記表示データ取込信
号を同時に出力するシフトレジスタとを備えた液晶駆動
装置。
1. A matrix type liquid crystal display device having a liquid crystal cell corresponding to each pixel of a display area, and a liquid crystal cell of each column of the liquid crystal display device is sequentially and time-sequentially recorded for each clock. A liquid crystal driving device that is driven based on input display data, wherein the liquid crystal driving device is provided corresponding to each liquid crystal cell of each column of the liquid crystal display device, and has a timing corresponding to each liquid crystal cell of each column of the liquid crystal display device. A plurality of display data latches that respectively capture and hold the display data in response to the display data capture signal input at the same time, and have a number of shift stages corresponding to the number of liquid crystal cell columns of the liquid crystal display device. The display data capture signal is selectively output from a shift stage which is sequentially different for each input of the clock by a shift operation corresponding to the clock signal, and responds to the input of the set signal. A liquid crystal driving device that includes a shift register for outputting the display data accept signal simultaneously from all the shift stages Te.
【請求項2】 シフトレジスタはリセット信号の入力に
応答して全てのシフト段からの表示データ取込信号の出
力を停止するようにした請求項1記載の液晶駆動装置。
2. The liquid crystal driving device according to claim 1, wherein the shift register stops outputting the display data fetch signal from all shift stages in response to the input of the reset signal.
【請求項3】 テスト信号とテストモード切替信号とを
入力とするテスト制御部を設け、前記テスト信号がアク
ティブでかつ前記テストモード切替信号がアクティブの
ときにシフトレジスタへセット信号を与え、前記テスト
信号がアクティブでかつ前記テストモード切替信号が非
アクティブのときに前記シフトレジスタへリセット信号
を与えるようにした請求項2記載の液晶駆動装置。
3. A test control unit for inputting a test signal and a test mode switching signal is provided, and a set signal is supplied to a shift register when the test signal is active and the test mode switching signal is active. 3. The liquid crystal driving device according to claim 2, wherein a reset signal is supplied to the shift register when a signal is active and the test mode switching signal is inactive.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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