JP2002072099A - Focusing device for microscope - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、顕微鏡における観
察標本のピント合わせに用いられる焦準装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a focusing device used for focusing an observation sample on a microscope.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、顕微鏡における観察標本のピント
合わせに用いられる焦準装置として、標本を載置するス
テージまたは対物レンズの上下動を、ラックとピニオン
を組み合わせた構成を用いて、手動操作によりピント合
わせを行うものや、これらのラックとピニオンの駆動を
ステッピングモータなどのアクチュエータと連動させる
電動操作によりピント合わせを行うものが用いられてい
る。2. Description of the Related Art Conventionally, as a focusing device used for focusing an observation sample in a microscope, a stage on which a sample is mounted or an objective lens is moved up and down by manual operation using a combination of a rack and a pinion. A device that performs focusing and a device that performs focusing by an electric operation that causes the drive of the rack and the pinion to interlock with an actuator such as a stepping motor are used.
【0003】また、特公昭63−56961号公報およ
び特公平5−87804号公報に記載されている自動合
焦装置は、自動合焦動作(オートフォーカス、以下AF
という)によるピント合わせを速やかに行うもので、前
者は、AF動作時の制御において、撮影レンズが合焦点
近傍の所定の範囲内であるか否かで駆動速度を変化させ
たものであり、後者は、合焦開始時に合焦検出のための
画像情報が得られない場合には、予め合焦位置近傍の基
準位置までステージを移動させ、その後、合焦動作を再
開させるようにしたものである。これらの焦準装置によ
れば、ピント合わせを速やかに、かつ手際良く行うこと
ができる。The automatic focusing device described in Japanese Patent Publication No. 63-56961 and Japanese Patent Publication No. 5-87804 has an automatic focusing operation (autofocus, hereinafter referred to as AF).
In the former, the driving speed is changed depending on whether the taking lens is within a predetermined range near the focal point in the control during the AF operation, and the latter is the latter. When the image information for focus detection cannot be obtained at the start of focusing, the stage is moved in advance to a reference position near the focus position, and then the focusing operation is restarted. . According to these focusing devices, focusing can be performed quickly and skillfully.
【0004】しかしながら、上記の焦準装置は、いずれ
もAF機能に付加されることを前提としており、つま
り、AF動作時に限定して用いられるものであるため、
例えば、観察標本の反射率や画像情報などが原因で、ピ
ント合わせが不可能に陥ったような場合で、AF機能を
外した状態でのピント合わせについては、依然として、
粗/微動スイッチを切り換えて合焦位置付近までのアプ
ローチ、および合焦位置近傍でのピントの微調整を行わ
なければならず、このため粗動状態のままでピント位置
を通り過ぎてしまうことがあり、ピント合わせに時間が
かかってしまうことになる。[0004] However, since the above focusing devices are all assumed to be added to the AF function, that is, they are used only during the AF operation.
For example, in the case where focusing becomes impossible due to the reflectance or image information of the observation sample, etc., focusing with the AF function removed is still performed.
It is necessary to switch the coarse / fine movement switch to approach to the vicinity of the in-focus position and fine-adjust the focus in the vicinity of the in-focus position. Therefore, the camera may pass through the focus position in the coarse movement state. However, it takes time to focus.
【0005】さらに、一般的な顕微鏡では、標本の交換
時、対物レンズの交換時などでは、標本と対物レンズの
衝突による標本破壊を防ぐため、一旦ステージと対物レ
ンズの距離を十分に離し、標本交換、対物レンズ交換を
行った後に、再び元の位置まで復帰させるようにしてい
る。しかしながら、上記の公報に記載されている焦準装
置においては、このような場合の駆動動作に費やす効率
の最適化は考慮されておらず、例えば、ステージ退避ス
イッチなどを別途用意して、ステージの高速退避/復帰
を行っている。このために、粗/微動スイッチやステー
ジ退避スイッチを取り扱わなければならず、効率の良い
作業が望めないのが現状であった。Further, in a general microscope, when exchanging a specimen or exchanging an objective lens, in order to prevent destruction of the specimen due to collision between the specimen and the objective lens, once the distance between the stage and the objective lens is sufficiently increased, the specimen is temporarily separated. After the replacement and the replacement of the objective lens, the lens is returned to the original position again. However, in the focusing device described in the above publication, optimization of the efficiency spent on the driving operation in such a case is not considered. For example, a stage retreat switch or the like is separately prepared, and High-speed evacuation / recovery is being performed. For this reason, the coarse / fine switch and the stage retreat switch must be handled, and at present, efficient work cannot be expected.
【0006】これに対して、特開平9−211335号
公報に記載されている顕微鏡の焦準機構は、合焦位置付
近に位置検出センサを設け、このセンサによって検出さ
れる範囲、つまり合焦位置付近と、このセンサによって
検出されない範囲、つまり合焦位置付近範囲外とで駆動
手段の移動速度を変化させ、単一操作だけで、粗/微動
の切換を実現させ、標本交換、対物レンズ交換に費やす
時間の短縮化を可能にしたものである。On the other hand, the focusing mechanism of the microscope described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-213335 is provided with a position detection sensor near the in-focus position, and the range detected by this sensor, that is, the in-focus position By changing the moving speed of the driving means between the vicinity and the range not detected by this sensor, that is, outside the range near the focusing position, switching of coarse / fine movement can be realized by only a single operation, and for sample exchange and objective lens exchange. This makes it possible to reduce the time spent.
【0007】ところが、通常の顕微鏡では倍率の異なる
種々の対物レンズを装着するが、これら対物レンズは、
その種類によってピント位置から対物レンズまでの距離
(WD)や、画像のぼけ方が大きく異なる。例えば、1
00倍の高倍率対物レンズは、5倍程度の低倍の対物レ
ンズに対して極端にWDが小さく、標本のぼけ方も急峻
である。すなわち、対物レンズの倍率が高くなる程、駆
動手段における合焦位置付近の微動範囲が狭くなること
から、正確なピント合わせを行うには、微動範囲での移
動速度を対物レンズの倍率にあわせて調整する等の工夫
が必要である。However, in a normal microscope, various objective lenses having different magnifications are mounted.
Depending on the type, the distance (WD) from the focus position to the objective lens and the manner of blurring the image greatly differ. For example, 1
The high magnification objective lens of 00 times has an extremely small WD compared to the low magnification objective lens of about 5 times, and the blur of the sample is sharp. In other words, the higher the magnification of the objective lens, the narrower the fine movement range near the focusing position in the driving means. A device such as adjustment is required.
【0008】ところが、上記の顕微鏡の焦準機構におい
ては、位置検出センサの物理的長さ(範囲)によって、
駆動手段における微動範囲が対物レンズの種類によって
変更できなかった。このため、微動範囲を低倍対物レン
ズに対応させてピント位置から十分に距離を取った場
合、高倍対物レンズの分解能に合わせて、駆動手段のZ
(光軸方向)移動量を小さく設定すると、ピント合わせ
に時間がかかるという問題が生じる。そこで、スピード
アップを図るため、駆動手段のZ(光軸方向)移動量を
大きく設定すると、今度は高倍率での分解能が損なわ
れ、正確なピント合わせが困難になるという問題があ
る。さらに、位置検出センサが固定されていると、標本
の厚みや対物レンズに応じた最適な微動範囲に設定する
ことができなかった。However, in the focusing mechanism of the above-mentioned microscope, the physical length (range) of the position detection sensor depends on
The fine movement range of the driving means could not be changed depending on the type of the objective lens. For this reason, when the fine movement range is set at a sufficient distance from the focus position in correspondence with the low-magnification objective lens, the Z of the driving means is adjusted in accordance with the resolution of the high-magnification objective lens.
If the amount of movement (in the direction of the optical axis) is set small, there is a problem that it takes time to focus. Therefore, if the Z (optical axis direction) movement amount of the driving means is set to be large in order to increase the speed, there is a problem in that the resolution at high magnification is impaired, and accurate focusing becomes difficult. Furthermore, if the position detection sensor is fixed, it is not possible to set an optimal fine movement range according to the thickness of the specimen and the objective lens.
【0009】この問題を解決する顕微鏡の焦準装置が特
開2000−98256号公報に記載されている。上記
の顕微鏡の焦準装置では、標本のピント位置において設
定スイッチを押すことにより、ピント位置から所定の範
囲を微動、該範囲外を粗動として、ステージまたはレボ
ルバを駆動させるような構成をとることで、粗/微動切
換を行うことなく、単一の操作で、短時間のピント合わ
せを実現している。また、AF機能を組み合わせ、一旦
AFでピント合わせを行った後、その位置において粗/
微動範囲を自動設定する構成も記載されているため、設
定スイッチによる初期設定の手間を省くことが可能にな
っている。A microscope focusing device which solves this problem is described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-98256. In the focusing device of the microscope described above, by pressing the setting switch at the focus position of the sample, a configuration is adopted in which the stage or the revolver is driven by finely moving a predetermined range from the focus position and coarsely moving outside the range. Thus, short-time focusing is realized with a single operation without performing coarse / fine movement switching. In addition, after the AF function is combined and AF is once focused, coarse /
Since the configuration for automatically setting the fine movement range is also described, it is possible to save the trouble of initial setting by the setting switch.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開2
000−98256号公報に記載されている顕微鏡の焦
準装置において、初期設定が省略可能なのは、AF機能
が付加されている場合であり、AF機能ののない顕微
鏡、もしくは、ピント合わせが不可能等の理由で、AF
機能を外した状態におけるピント合わせについては、設
定スイッチによる粗/微動範囲の設定が不可欠となる。SUMMARY OF THE INVENTION However, Japanese Patent Application Laid-Open
In the focusing apparatus for a microscope described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 000-98256, initial setting can be omitted when an AF function is added, and a microscope without an AF function, or focusing cannot be performed. AF
For focusing in a state where the function is removed, setting of the coarse / fine movement range by the setting switch is indispensable.
【0011】また、AF装置は、複雑かつ調整が微細で
あり、AF装置搭載の顕微鏡は高価なものとなるため、
効率の良い手動でのピント合わせ機能を、安価に提供す
ることは困難であるのが現状である。Further, since the AF device is complicated and finely adjusted, and the microscope mounted with the AF device becomes expensive,
At present, it is difficult to provide an efficient manual focusing function at low cost.
【0012】本発明は上記の問題に鑑みてなされたもの
で、焦準のための作業を効率良く、短時間で行うことの
できる顕微鏡の焦準装置を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a microscope focusing apparatus which can efficiently perform a focusing operation in a short time.
【0013】[0013]
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
標本を載置するステージと対物レンズとの間の距離を調
整してピント合わせを行う顕微鏡の焦準装置において、
上記ステージと上記対物レンズ間の距離を調整するため
に、上記ステージまたは上記対物レンズを駆動する駆動
手段と、上記標本のピント位置に対する光軸方向の位置
を検出する標本位置検出手段と、上記標本位置検出手段
からの信号強度に基づいて、上記ステージまたは上記対
物レンズの駆動速度を設定する駆動速度設定手段と、上
記駆動手段による駆動を制御するとともに、上記駆動速
度設定手段により設定された駆動速度に対応させて、上
記ステージまたは上記対物レンズの駆動を実行させる制
御手段とを具備したことを特徴とする。According to the first aspect of the present invention,
In a focusing device of a microscope that performs focusing by adjusting the distance between the stage on which the sample is mounted and the objective lens,
Driving means for driving the stage or the objective lens to adjust the distance between the stage and the objective lens; sample position detecting means for detecting a position of the sample in the optical axis direction with respect to a focus position; A drive speed setting means for setting a drive speed of the stage or the objective lens based on a signal strength from the position detection means; and a drive speed set by the drive speed setting means, while controlling drive by the drive means. And control means for driving the stage or the objective lens.
【0014】請求項2記載の発明は、上記駆動速度設定
手段は、上記標本位置検出手段からの信号強度と上記駆
動手段の駆動方向に基づいて、上記ステージまたは上記
対物レンズの駆動速度を設定することを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, the driving speed setting means sets a driving speed of the stage or the objective lens based on a signal intensity from the sample position detecting means and a driving direction of the driving means. It is characterized by the following.
【0015】請求項3記載の発明は、上記駆動速度設定
手段は、上記標本位置検出手段からの信号強度と信号の
変化量及び上記駆動手段の駆動方向に基づいて、上記ス
テージまたは上記対物レンズの駆動速度を設定すること
を特徴とする。According to a third aspect of the present invention, the driving speed setting means is configured to control the stage or the objective lens based on a signal intensity and a change amount of the signal from the sample position detecting means and a driving direction of the driving means. The driving speed is set.
【0016】[0016]
【発明の実施の形態】本発明の第1の実施の形態を、図
1〜図3を参照して説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
【0017】図1は、本発明に係る第1の実施の形態が
適用される顕微鏡の焦準装置の概略構成を示すものであ
る。図において、1はステージで、このステージ1上に
は標本Sが載置されている。ステージ1の下方には、照
明光学系201が設けられている。この照明光学系20
1は、標本Sを照明するための光源2を備え、この光源
2からの照明光をコレクタレンズ3、調光のためのND
フィルタ4、視野絞り5を介してミラー6に入射し、こ
のミラー6で反射した照明光を、コンデンサレンズ7を
介して標本Sに照射するようにしている。FIG. 1 shows a schematic configuration of a microscope focusing apparatus to which the first embodiment according to the present invention is applied. In the figure, reference numeral 1 denotes a stage on which a sample S is mounted. An illumination optical system 201 is provided below the stage 1. This illumination optical system 20
1 is provided with a light source 2 for illuminating the sample S, and illuminating light from the light source 2 is collected by a collector lens 3 and an ND for light control
The light enters the mirror 6 via the filter 4 and the field stop 5, and the illumination light reflected by the mirror 6 is applied to the sample S via the condenser lens 7.
【0018】一方、ステージ1の上方には観察光学系8
01が配置されている。この観察光学系801は、標本
Sを透過した光束をレボルバ9に取付けられた対物レン
ズ8を通過させ、接眼レンズ10での標本観察を可能に
している。11は標本位置検出ユニットであり、図2に
示す構成を有する。すなわち、図において、光源20か
ら出射されたレーザ光束を、偏向ビームスプリッタ(P
BS)21により分割し、1/4λ板22を介して標本
S側に導き、標本Sからの反射光を1/4λ板22、偏
向ビームスプリッタ(PBS)21及びピンホール23
を透過させてフォトダイオード(PD)24上に投影さ
せる。標本Sがピント位置にある時、ピンホール23か
らフォトダイオード24に投影される光量は最大になる
ため、標本Sの光軸方向における位置と、フォトダイオ
ード24で光電変換された信号の強度との関係は、図3
に示すようになる。図3において、縦軸は、標本位置信
号強度を表し、横軸は、ステージZ軸方向位置を表して
いる。On the other hand, an observation optical system 8 is provided above the stage 1.
01 is arranged. The observation optical system 801 allows the light beam transmitted through the sample S to pass through the objective lens 8 attached to the revolver 9, and allows the eyepiece 10 to observe the sample. Reference numeral 11 denotes a sample position detection unit having the configuration shown in FIG. That is, in the figure, the laser beam emitted from the light source 20 is converted into a deflecting beam splitter (P
BS) 21, the light is guided to the sample S side via the 1 / 4λ plate 22, and the reflected light from the sample S is reflected by the 1 / 4λ plate 22, the polarizing beam splitter (PBS) 21 and the pinhole 23.
Is transmitted and projected onto a photodiode (PD) 24. When the sample S is at the focus position, the amount of light projected from the pinhole 23 to the photodiode 24 is maximized. Therefore, the position of the sample S in the optical axis direction and the intensity of the signal photoelectrically converted by the photodiode 24 are determined. Figure 3
It becomes as shown in. In FIG. 3, the vertical axis represents the sample position signal intensity, and the horizontal axis represents the position in the stage Z-axis direction.
【0019】上記標本位置検出ユニット11には、CP
U12が接続されている。このCPU12には、レボル
バ9、ステージ駆動部13および外部コントローラ14
が接続されている。上記ステージ駆動部13は、ステー
ジ1を光軸方向、つまりZ軸方向に駆動するものであ
る。また、外部コントローラ14は、観察者により操作
されるものであり、対物レンズ8の交換や対物レンズの
種類の設定等を行う複数のスイッチ15と、回転操作に
より所定のパルス信号を出力するジョグ(JOG)16
を有している。The sample position detecting unit 11 has a CP
U12 is connected. The CPU 12 includes a revolver 9, a stage driving unit 13, and an external controller 14.
Is connected. The stage driving section 13 drives the stage 1 in the optical axis direction, that is, the Z axis direction. The external controller 14 is operated by an observer, and includes a plurality of switches 15 for exchanging the objective lens 8 and setting the type of the objective lens and a jog for outputting a predetermined pulse signal by a rotation operation. JOG) 16
have.
【0020】上記CPU12は、外部コントローラ14
のジョグ(JOG)16からのパルス信号に基づいて、
ステージ1をZ軸方向に駆動するための信号をステージ
駆動部13に出力する。また、標本位置検出ユニット1
1からの信号レベルを検出し、これに応じてステージ駆
動部13に出力する信号を変化させることができる。The CPU 12 includes an external controller 14
Based on the pulse signal from JOG 16 of
A signal for driving the stage 1 in the Z-axis direction is output to the stage driving unit 13. Also, the sample position detection unit 1
The signal level output from the stage 1 is detected, and the signal output to the stage drive unit 13 can be changed accordingly.
【0021】さらに、CPU12は、外部コントローラ
14により設定される各対物レンズ8に対応するステー
ジ1の最適な粗/微動速度を、予め格納された装着対物
レンズ情報と、レボルバ9から受け取る対物レンズ装着
穴情報から決定するようにしている。Further, the CPU 12 receives the optimum coarse / fine movement speed of the stage 1 corresponding to each objective lens 8 set by the external controller 14 from the mounting objective lens information stored in advance and the revolver 9 from the objective lens mounting. It is determined from the hole information.
【0022】上記の構成を有する第1の実施の形態の動
作を説明する。The operation of the first embodiment having the above configuration will be described.
【0023】観察者が図示しない電源スイッチを投入す
ると、標本位置検出ユニット11内の光源20が点灯
し、標本Sにレーザ光が投射される。標本Sで反射され
たレーザ光は、標本位置検出ユニット11内のフォトダ
イオード24で受光され、光電変換されて標本位置信号
としてCPU12で常時検出される。When the observer turns on a power switch (not shown), the light source 20 in the sample position detecting unit 11 is turned on, and a laser beam is projected on the sample S. The laser light reflected by the sample S is received by the photodiode 24 in the sample position detection unit 11, is photoelectrically converted, and is always detected by the CPU 12 as a sample position signal.
【0024】CPU12では、図3に示したように、予
め設定された所定値(TH1)と、検出した標本位置信
号とを比較し、標本位置信号のレベルが所定値(TH
1)より小さければ「粗動モード」、逆に、標本位置信
号のレベルが所定値(TH1)より大きければ「微動モ
ード」とする。上記両モードの切換は、常に検出されて
いる標本位置信号によって自動的に切り換えられる。As shown in FIG. 3, the CPU 12 compares a predetermined value (TH1) set in advance with the detected sample position signal, and adjusts the level of the sample position signal to the predetermined value (TH1).
If it is smaller than 1), it is set to "coarse movement mode", and conversely, if the level of the sample position signal is larger than a predetermined value (TH1), it is set to "fine movement mode". Switching between the above two modes is automatically performed by a sample position signal which is always detected.
【0025】この状態から、観察者が外部コントローラ
14内に配置されたジョグ(JOG)16を回転操作
し、ジョグ(JOG)16からのパルス信号をCPU1
2に入力すると、CPU12は、所定時間内に入力され
たパルス信号をカウントする。なお、ジョグ(JOG)
16は回転方向により、カウントは増減するような構成
になっている。From this state, the observer rotates the jog (JOG) 16 arranged in the external controller 14 and sends a pulse signal from the jog (JOG) 16 to the CPU 1.
When input to 2, the CPU 12 counts pulse signals input within a predetermined time. In addition, jog (JOG)
Reference numeral 16 denotes a configuration in which the count increases or decreases depending on the rotation direction.
【0026】そして、CPU12は、所定時間後のカウ
ント数に相当する分の、ステージ駆動部13への出力信
号パルス数を、Pout:ステージ駆動部13への出力
パルス数、Pin:所定時間内にカウントしたジョグ
(JOG)16からの入力パルス数、α:移動速度係数
として、 Pout=Pin×α として計算し、ステージ駆動部13へ出力する。Then, the CPU 12 sets the number of output signal pulses to the stage drive section 13 corresponding to the count number after a predetermined time to Pout: the number of output pulses to the stage drive section 13, and Pin: within a predetermined time. The number of counted input pulses from the jog (JOG) 16 is calculated as α: a moving speed coefficient as Pout = Pin × α, and output to the stage driving unit 13.
【0027】この時、上述した粗動モードであれば、α
は大きく、微動モードであった場合は、αは小さい。α
の値は予め格納された装着対物レンズ情報と、レボルバ
9から受け取る対物レンズ装着穴情報から、光路中に挿
入されている対物レンズ毎に決定される。At this time, in the coarse movement mode described above, α
Is large, and if the mode is the fine movement mode, α is small. α
Is determined for each objective lens inserted in the optical path from the mounting objective lens information stored in advance and the objective lens mounting hole information received from the revolver 9.
【0028】粗動モード時のαは、図3中の微動モード
範囲(aの範囲)の標本位置信号を取りこぼさない範囲
で最速なステージ駆動ができるように決定される。これ
に対し、微動モード時のαは、各々の対物レンズの倍率
や焦点深度を考慮し、観察者が、充分な精度でピント合
わせができるようなステージ速度に設定される。In the coarse movement mode, α is determined so that the fastest stage drive can be performed within a range in which the sample position signal in the fine movement mode range (range a) in FIG. 3 is not missed. On the other hand, in the fine movement mode, α is set to a stage speed that allows the observer to perform focusing with sufficient accuracy in consideration of the magnification and the depth of focus of each objective lens.
【0029】かくして、ピント位置周辺では微動で、ピ
ント位置周辺から外れた範囲では粗動で、自動的にステ
ージ移動速度が変化するため、観察者は、同じ速度での
ジョグの回転操作で、高速なピント位置周辺までのアプ
ローチと、高精度なピント合わせの両方を、特別な設定
及び切換操作なしで行うことができる。As described above, the stage movement speed automatically changes due to slight movement around the focus position and coarse movement outside the focus position, so that the observer can rotate the jog at the same speed to perform high-speed movement. Both the approach to the vicinity of a proper focus position and the highly accurate focusing can be performed without special setting and switching operation.
【0030】また、標本交換作業時等に、観察者がピン
ト位置からステージを下降させる場合、ピント位置から
離れ、標本位置信号がTH1を下回れば、自動的に粗動
となるため、ステージ退避に特別な操作を行うことな
く、ジョグによる単一操作のみで効率良く行うことがで
きる。When the observer lowers the stage from the focus position at the time of exchanging the sample, the observer moves away from the focus position, and when the sample position signal falls below TH1, the coarse movement is automatically performed. Without performing any special operation, it can be efficiently performed with only a single operation using a jog.
【0031】さらに、ピント位置付近では、対物レンズ
毎に最適なステージ移動速度でピント合わせが行えるた
め、ピント位置を通り過ごしてしまうといった煩わしい
誤動作の発生も軽減される。Further, in the vicinity of the focus position, focusing can be performed at an optimum stage moving speed for each objective lens, so that troublesome malfunctions such as passing through the focus position are reduced.
【0032】本実施の形態の変形例について説明する。A modification of the embodiment will be described.
【0033】本実施の形態において、標本位置検出ユニ
ット内の光源をレーザ光としたが、これをLED光等に
しても、同様な効果が得られる。また、PBSの代わり
に、ハーフミラー等の光路分割素子にしても、同様な効
果は実現可能である。In this embodiment, the light source in the sample position detecting unit is a laser beam. However, the same effect can be obtained by using a laser beam as the light source. The same effect can be realized by using an optical path splitting element such as a half mirror instead of the PBS.
【0034】さらに、標本位置検出ユニットの位置検出
方式に関しても、上述した標本位置信号が検出できれば
良いので、例えば、投射光の半分を遮光し、受光素子に
入射する反射光状態を検出するアクティブ方式のナイフ
エッジ法や、受光素子にCCDラインセンサを用い、標
本画像のコントラスト総和を得るようなパッシブ方式の
コントラスト法等の、周知の標本位置検出方式に置き換
えても、図3に示したような標本位置信号を検出できる
ので、本実施の形態と同様な効果を達成することができ
る。Further, as for the position detection method of the sample position detection unit, it is sufficient that the above-described sample position signal can be detected. For example, an active method of blocking half of the projected light and detecting the state of the reflected light incident on the light receiving element. Even if it is replaced with a well-known sample position detection method such as the knife edge method or a passive contrast method that uses a CCD line sensor as a light receiving element and obtains the total contrast of the sample image, as shown in FIG. Since the sample position signal can be detected, the same effect as in the present embodiment can be achieved.
【0035】本発明の第2の実施の形態を、図1〜図4
を参照して説明する。A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
This will be described with reference to FIG.
【0036】第1の実施の形態と同一の構成について
は、同一の符号を付して説明は省略する。The same components as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.
【0037】顕微鏡観察を行う場合、対物レンズとの衝
突による標本破壊は、検査効率の大幅な低下となる。対
物レンズと標本との衝突原因の一つとして、ステージを
標本のピント位置よりも大幅に上昇させることが考えら
れ、特にWDの小さい高倍率の対物レンズに多く見られ
る。In the case of microscopic observation, destruction of a specimen due to collision with an objective lens greatly reduces inspection efficiency. One of the causes of collision between the objective lens and the specimen is considered to be that the stage is raised significantly from the focus position of the specimen, and this is often seen particularly in high magnification objective lenses with a small WD.
【0038】上記原因による標本破壊は、標本ピント位
置から対物レンズに衝突するまでのステージ移動時間が
長ければ、目視等により、事前に回避できる場合が多
い。Destruction of the specimen due to the above-mentioned causes can often be avoided in advance by visual observation or the like if the stage movement time from the specimen focus position to collision with the objective lens is long.
【0039】本実施の形態は、上記回避案に着目してな
されたものであり、通常、ステージ退避等で、標本ピン
ト位置より下方へステージを高速で移動させることはあ
っても、標本ピント位置よりも上側へステージを高速移
動させる必要はない。したがって、標本のピント位置よ
りも上側の範囲でステージ駆動を遅くし、顕微鏡観察、
検査の向上を図るものである。The present embodiment has been made with a focus on the above-mentioned avoidance plan. Usually, the stage is moved at a high speed below the sample focus position when the stage is retracted, but the sample focus position is not changed. There is no need to move the stage at a higher speed than above. Therefore, the stage drive is slowed down in the range above the focus position of the specimen, microscopic observation,
It is intended to improve the inspection.
【0040】第1の実施の形態と異なる点は、CPU1
2における、粗/微動モード切換方法である。The difference from the first embodiment is that the CPU 1
2 is a coarse / fine mode switching method.
【0041】図4のフローチャートを参照して説明す
る。観察者が標本Sにピント合わせを行うために、ジョ
グ(JOG)16を回転してステージ1を駆動させて
(ステップS1)、標本位置検出ユニット11により標
本からの標本位置信号を検出する(ステップS2)。こ
の標本位置信号のレベルがTH1以上か否かを判別し
て、TH1以上の場合は、微動モードにより、ステージ
駆動部13を介して、ステージ1を低速駆動させる(ス
テップS3)。TH1を下回った場合は、ステージ1の
駆動方向が上方か否かを判別して、ステージ1の駆動方
向が上方の場合は、粗動モードへの切換をしないで、微
動モードのまま、ステージ駆動部13を介して、ステー
ジ1の上方への低速駆動を継続する。ステージ1の駆動
方向が上方でない場合は、粗動モードに切換えて、ステ
ージ駆動部13を介して、ステージ1を下方へ高速移動
させる(ステップ4)。This will be described with reference to the flowchart of FIG. In order for the observer to focus on the sample S, the jog (JOG) 16 is rotated to drive the stage 1 (step S1), and the sample position detection unit 11 detects a sample position signal from the sample (step S1). S2). It is determined whether or not the level of the sample position signal is equal to or higher than TH1. If the level is equal to or higher than TH1, the stage 1 is driven at a low speed via the stage driving unit 13 in the fine movement mode (step S3). When the driving direction of the stage 1 is lower than TH1, it is determined whether or not the driving direction of the stage 1 is upward. When the driving direction of the stage 1 is upper, the stage driving is not performed in the fine motion mode without switching to the coarse motion mode. Through the section 13, the low-speed driving of the stage 1 upward is continued. If the driving direction of the stage 1 is not upward, the mode is switched to the coarse movement mode, and the stage 1 is moved downward at a high speed via the stage driving unit 13 (step 4).
【0042】上記の構成を有する第2の実施の形態の動
作を、図3を参照して説明する。The operation of the second embodiment having the above configuration will be described with reference to FIG.
【0043】ステージ1が、標本Sのピント位置付近の
Paの位置にあるとする。この状態から、観察者がステ
ージ1を上方に移動させるために、外部コントローラ1
4内に配置されたジョグ(JOG)16を回転操作し、
ジョグ(JOG)16からのパルス信号をCPU12に
入力する(ステップS1)。CPU12は、第1の実施
の形態と同様に、ステージ駆動部13へ出力パルスを算
出し(ステップS2)、ステージ1を上方へと微動で駆
動する(ステップS3)。It is assumed that the stage 1 is located at a position Pa near the focus position of the sample S. From this state, in order for the observer to move the stage 1 upward, the external controller 1
The jog (JOG) 16 arranged in 4 is operated to rotate,
A pulse signal from the jog (JOG) 16 is input to the CPU 12 (step S1). As in the first embodiment, the CPU 12 calculates an output pulse to the stage driving unit 13 (Step S2), and drives the stage 1 upward with a slight movement (Step S3).
【0044】そして、ステージ1の位置がPbよりも上
方となった場合、標本位置検出ユニット11からの標本
位置検出信号がTH1よりを下回ることになる(ステッ
プS3)。このときCPU12は,ステージの駆動方向
が上方であることを判別することにより(ステップS
4)、粗動モードとはならず、低速のまま、ステージ1
の上方への移動を継続する。When the position of the stage 1 is higher than Pb, the sample position detection signal from the sample position detection unit 11 is lower than TH1 (step S3). At this time, the CPU 12 determines that the driving direction of the stage is upward (step S
4) The stage 1 is not set to the coarse movement mode,
Continue moving upwards.
【0045】上記の第2の実施の形態によれば、ステー
ジの粗/微動切換を行う必要がなく、単一の操作によっ
て効率良くピント合わせやステージ退避を行うことがで
きる。また、標本と対物レンズの衝突による標本破壊の
問題を軽減させることができるので、標本破壊による検
査効率の低下を防ぐことが可能となる。According to the second embodiment, it is not necessary to switch between coarse and fine movement of the stage, and it is possible to efficiently perform focusing and retreating the stage by a single operation. In addition, since the problem of specimen destruction due to collision between the specimen and the objective lens can be reduced, it is possible to prevent a decrease in inspection efficiency due to specimen destruction.
【0046】本発明の第3の実施の形態について、図1
〜図5を参照して説明する。FIG. 1 shows a third embodiment of the present invention.
This will be described with reference to FIGS.
【0047】第1の実施の形態と同様な構成について
は、同一の符号を付して、説明を省略する。図2に示し
た標本位置検出ユニット11のような、位置検出用の光
束を標本に投影させる、いわゆるアクティブ型の標本検
出方法では、標本からの反射光強度、つまり標本の反射
率によって上述の粗/微動範囲が変化する。The same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted. In a so-called active-type sample detection method of projecting a light beam for position detection onto the sample, such as the sample position detection unit 11 shown in FIG. 2, the above-described coarse detection is performed based on the intensity of light reflected from the sample, that is, the reflectance of the sample. / The range of fine movement changes.
【0048】一方、標本位置検出ユニット11が、例え
ばCCDラインセンサ等で標本画像のコントラスト総和
を検出する、いわゆるパッシブ方式の標本位置方法であ
る場合でも、標本のコントラストの強弱によって、粗/
微動範囲は同様に変化する。On the other hand, even when the sample position detection unit 11 is a so-called passive sample position method in which the total contrast of the sample image is detected by, for example, a CCD line sensor or the like, the coarse / high contrast of the sample causes
The fine movement range similarly changes.
【0049】図5は、図3と同様に、光軸方向における
標本位置に対する標本位置信号の強度変化を示してい
る。図中Aは、例えばガラス等の、反射率の低い標本に
対する標本位置信号であり、Bは、例えばミラー等の、
反射率が高い標本で検出される標本位置信号である。FIG. 5 shows a change in the intensity of the sample position signal with respect to the sample position in the optical axis direction, similarly to FIG. In the figure, A is a sample position signal for a sample having low reflectance such as glass, and B is a sample position signal such as a mirror.
This is a sample position signal detected from a sample having a high reflectance.
【0050】アクティブ型の標本位置検出方法を用い
て、第1、第2の実施の形態で説明した、焦準装置の機
能を標本の反射率によらず実現させるためには、粗/微
動の切換ポイントとなるTH1を、低反射率標本におけ
る標本位置信号Aのピーク値よりも低く設定する必要が
ある。何故なら、Aのピーク値よりもTH1の値を高く
設定すると、低反射率標本時には、微動モードとならな
いからである。In order to realize the function of the focusing device described in the first and second embodiments using the active-type sample position detecting method irrespective of the reflectance of the sample, coarse / fine movement The switching point TH1 needs to be set lower than the peak value of the sample position signal A in the low reflectance sample. This is because if the value of TH1 is set to be higher than the peak value of A, the fine movement mode is not set at the time of low reflectance sample.
【0051】TH1の値は、同一の対物レンズにおいて
は、固定値であるため、高反射率標本時、標本位置信号
Bの微動範囲bは、低反射率標本時の範囲aよりも非常
に広くなる。したがって、高反射率標本時、CPU12
は、ステージ1をbの範囲で微動とするため、広範囲に
渡って低速駆動となり、ピント合わせの効率は低下する
ことになる。Since the value of TH1 is a fixed value for the same objective lens, the fine movement range b of the sample position signal B at the time of high reflectance sampling is much wider than the range a at the time of low reflectance sampling. Become. Therefore, at the time of the high reflectance sample, the CPU 12
In this case, since the stage 1 is finely moved in the range b, low-speed driving is performed over a wide range, and the focusing efficiency is reduced.
【0052】本実施の形態は、上記の問題を回避するも
のであり、標本の反射率、あるいはコントラスト等によ
らず効率の良いピント合わせを実現するものである。The present embodiment avoids the above-mentioned problem, and realizes efficient focusing regardless of the reflectance or contrast of the sample.
【0053】第1、第2の実施の形態と異なる点は、C
PU12における粗/微動モード切換方法である。すな
わち、本実施の形態におけるCPU12は、第1の実施
の形態に記載した、TH1と標本位置検出信号レベルと
の比較による粗/微動判定(以下、第1の判定手段とい
う)と、第2の実施の形態に記載した、標本Sのピント
位置より上方に対するステージの微動モード固定駆動
と、以下に示す第2の判定手段を併せて有している。The difference from the first and second embodiments is that C
This is a coarse / fine movement mode switching method in the PU 12. That is, the CPU 12 according to the present embodiment performs the coarse / fine movement determination (hereinafter, referred to as first determination means) by comparing TH1 with the sample position detection signal level described in the first embodiment, and the second determination. It has the fine movement mode fixed drive of the stage above the focus position of the sample S described in the embodiment, and the second determination means described below.
【0054】上記第2の判定手段について説明する。ス
テージ1をLだけ移動させた際、CPU12内に記憶さ
れた移動前の標本位置検出信号レベルSn−1と、移動
後に検出した標本位置検出信号レベルSnから、次式に
より信号レベルの変化量の絶対値βを算出する。Next, the second judging means will be described. When the stage 1 is moved by L, the signal level change amount is calculated from the sample position detection signal level Sn-1 before movement stored in the CPU 12 and the sample position detection signal level Sn detected after movement by the following equation. Calculate the absolute value β.
【0055】β=|Sn−Sn−1|/L そして、CPU12は、βの値が、予め設定してあるし
きい値TH2よりも大きければ「粗動モード」、βの値
がTH2よりも小さければ「微動モード」とする。Β = | Sn−Sn−1 | / L Then, if the value of β is larger than the threshold value TH2 set in advance, the CPU 12 determines that “coarse movement mode”, and the value of β is larger than TH2. If it is smaller, the mode is set to “fine movement mode”.
【0056】そして、CPU12は、上記の第2の判定
手段により得られた結果と、第1の判定手段により得ら
れた結果との論理積により、最終的な粗/微動モード判
定を行い、ジョグ(JOG)16からの入力パルス数に
相当するステージ1の駆動を行う。Then, the CPU 12 performs a final coarse / fine movement mode determination by a logical product of the result obtained by the above-described second determination means and the result obtained by the first determination means, and (JOG) The stage 1 corresponding to the number of input pulses from 16 is driven.
【0057】上記の第3の実施の形態の焦準装置の動作
について、図5を参照して説明する標本Sは低反射率の
標本であり、標本位置検出信号は、図中Aに示す特性で
あるとする。ステージ1がP1の位置から、観察者がス
テージ1を上方に移動させるために外部コントローラ1
4内に配置されたジョグ(JOG)16を回転すると、
CPU12は、第1の判定手段と第2の判定手段に基づ
いて粗/微動モードを決定する。The operation of the focusing apparatus according to the third embodiment will be described with reference to FIG. 5. The sample S is a sample having a low reflectance, and the sample position detection signal has the characteristic shown in FIG. And In order for the observer to move the stage 1 upward from the position P1 of the stage 1, the external controller 1
When the jog (JOG) 16 arranged in 4 is rotated,
The CPU 12 determines the coarse / fine movement mode based on the first determining means and the second determining means.
【0058】この場合、第1の判定手段によって、TH
1以上となる、P2よりも上方でかつP3よりも下方の
範囲aまで、微動モードによりジョグ(JOG)16の
回転に応じた、ステージ1の移動を行う。また、範囲a
では、第2判定手段によって算出したβ、つまり標本位
置検出信号の変化量がTH2以下であるため、「微動モ
ード」となる。したがって、第1、第2の判定手段の結
果の論理積は、「微動モード」となり、CPU12は、
ステージ駆動部13を介して、ステージ1を微動にて駆
動する。In this case, the first judging means determines that TH
The stage 1 is moved in accordance with the rotation of the jog (JOG) 16 in the fine movement mode to a range a above P2 and below P3, which is 1 or more. Also, range a
In this case, the “fine movement mode” is set because β calculated by the second determination means, that is, the change amount of the sample position detection signal is equal to or less than TH2. Therefore, the logical product of the results of the first and second determination means is in the “fine movement mode”, and the CPU 12
The stage 1 is driven by the fine movement via the stage driving unit 13.
【0059】次に、標本Sが高反射率の標本であり、標
本位置検出信号が、図中Bに示す特性である場合を考え
る。Next, it is assumed that the sample S is a sample having a high reflectance, and the sample position detection signal has the characteristic shown in B in the figure.
【0060】ステージ1がP4の位置から、観察者がス
テージ1を上方に移動させるために、外部コントローラ
14内に配置されたジョグ(JOG)16を回転する
と、CPU12は、第1の判別手段と第2の判別手段に
基づいて、粗/微動モードを決定する。When the observer rotates the jog (JOG) 16 disposed in the external controller 14 to move the stage 1 upward from the position of the stage 1 at the position P4, the CPU 12 determines the first discriminating means. The coarse / fine movement mode is determined based on the second determination means.
【0061】すなわち、図中bの範囲では、標本位置検
出信号レベルがTH1より大きいので、第1の判定手段
では「微動モード」となるが、第2の判定手段において
算出したβ、つまり標本位置検出信号の変化量がTH2
以上であるため、「粗動モード」の判定になり、第1、
第2の判定手段の結果の論理積は、「粗動モード」とな
り、CPU12は、ステージ駆動部13を介して、ステ
ージ1を粗動にて駆動する。That is, in the range b in the figure, the sample position detection signal level is higher than TH1, so that the first determination means is in the "fine movement mode", but the β calculated by the second determination means, ie, the sample position The change amount of the detection signal is TH2
Because of the above, the “coarse movement mode” is determined, and the first,
The logical product of the result of the second determination means becomes the “coarse movement mode”, and the CPU 12 drives the stage 1 through the coarse movement via the stage drive unit 13.
【0062】さらに、標本位置検出信号レベルがTH1
以上で、かつ第2の判定手段のβの値が、TH2以下と
なるP5の位置まで、ステージ1は粗動にて駆動され
る。Further, when the sample position detection signal level is TH1
The stage 1 is driven by the coarse movement until the position of P5 at which the value of β of the second determination means becomes equal to or less than TH2.
【0063】そして、図中P5を超えてピント位置まで
は、第2の判定手段において算出したβの値が、TH2
よりも小さくなるので(図中cの範囲)、「微動モー
ド」になり、第1の判定手段と第2の判定手段の結果の
論理積は、「微動モード」となる。In the figure, the value of β calculated by the second judging means exceeds TH2 up to the focus position beyond P5.
(The range of c in the figure), the mode becomes the "fine movement mode", and the logical product of the results of the first determination means and the second determination means becomes the "fine movement mode".
【0064】なお、ピント位置から遠ざかる方向につい
ても、同様な手順で粗/微動モードの判定を行うことに
なる。The coarse / fine movement mode is determined in the same procedure for the direction away from the focus position.
【0065】しかしながら、ピント位置から上方向への
ステージ1の駆動に対しては、第2の実施の形態と同様
に、第1、第2の判定手段の結果に関わらず、ステージ
1を微動にて駆動させる。However, for driving the stage 1 upward from the focus position, the stage 1 is slightly moved irrespective of the results of the first and second determination means, as in the second embodiment. Drive.
【0066】上記第3の実施の形態によれば、反射率の
高い標本や高コントラストの標本に対しても、不必要な
微動範囲が広がることがないため、標本の状態に関わら
ず、効率良くピント合わせやステージの退避を行うこと
ができる。According to the third embodiment, an unnecessary fine movement range is not widened even for a sample having a high reflectance or a sample having a high contrast. Focusing and retraction of the stage can be performed.
【0067】第1から第3の実施の形態において、標本
と対物レンズ間の距離の調節は、ステージ駆動によって
説明されているが、例えば、対物レンズを装着するレボ
ルバを上下駆動する方式等に変更しても、全く同様の効
果が得られる。In the first to third embodiments, the adjustment of the distance between the specimen and the objective lens has been described by the stage drive. However, for example, a method in which the revolver on which the objective lens is mounted is driven up and down is changed. However, exactly the same effect can be obtained.
【0068】また、標本位置の検出手段として専用の光
学系を使用したが、AF機能が搭載されている顕微鏡に
おいては、AF装置からの信号により粗/微動モードを
判定可能であるため、特別な光学系を付加する必要はな
い。Although a dedicated optical system is used as a means for detecting the sample position, a microscope equipped with an AF function can determine the coarse / fine movement mode based on a signal from the AF device. There is no need to add an optical system.
【0069】さらに、ステージの粗/微動速度は、外部
コントローラにより設定される各対物レンズ毎に、予め
設定された所定値としたが、例えば、粗/微動速度を変
化させたい場合には、外部コントローラからの指示によ
り、予め設定されている所定値をn倍、もしくは1/n
倍できるような構成を付加すれば、容易に実現可能であ
る。The coarse / fine movement speed of the stage is set to a predetermined value for each objective lens set by the external controller. For example, when it is desired to change the coarse / fine movement speed, A predetermined value set in advance is multiplied by n or 1 / n according to an instruction from the controller.
It can be easily realized by adding a configuration that can be multiplied.
【0070】さらに、本実施の形態の光学系により検出
した標本位置検出信号を用いて、例えば、ピント位置付
近であることを観察者に知らせるような、いわゆるフォ
ーカスエイド機能を達成することも可能である。Further, by using the sample position detection signal detected by the optical system according to the present embodiment, it is possible to achieve a so-called focus aid function, for example, informing an observer that the subject is near the focus position. is there.
【0071】[0071]
【発明の効果】本発明によれば、顕微鏡の焦準装置にお
いて、焦準のための作業を効率良く短時間で行うことが
できる。According to the present invention, a focusing operation can be efficiently performed in a short time in a focusing device for a microscope.
【図1】本発明の第1の実施の形態の顕微鏡の焦準装置
の概略構成図。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a focusing device of a microscope according to a first embodiment of the present invention.
【図2】本発明の第1の実施の形態の標本位置検出ユニ
ットの構成図。FIG. 2 is a configuration diagram of a sample position detection unit according to the first embodiment of the present invention.
【図3】本発明の第1の実施の形態の標本位置信号強度
を示す図。FIG. 3 is a diagram showing a sample position signal intensity according to the first embodiment of the present invention.
【図4】本発明の第2の実施の形態のフローチャート
図。FIG. 4 is a flowchart of a second embodiment of the present invention.
【図5】本発明の第3の実施の形態の標本位置検出信号
強度を示す図。FIG. 5 is a diagram showing a sample position detection signal intensity according to a third embodiment of the present invention.
1…ステージ 8…対物レンズ 11…標本位置検出ユニット 12…CPU 13…ステージ駆動部 14…外部コントローラ 16…ジョグ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Stage 8 ... Objective lens 11 ... Sample position detection unit 12 ... CPU 13 ... Stage drive part 14 ... External controller 16 ... Jog
Claims (3)
の間の距離を調整してピント合わせを行う顕微鏡の焦準
装置において、上記ステージと上記対物レンズ間の距離
を調整するために、上記ステージまたは上記対物レンズ
を駆動する駆動手段と、上記標本のピント位置に対する
光軸方向の位置を検出する標本位置検出手段と、上記標
本位置検出手段からの信号強度に基づいて、上記ステー
ジまたは上記対物レンズの駆動速度を設定する駆動速度
設定手段と、上記駆動手段による駆動を制御するととも
に、上記駆動速度設定手段により設定された駆動速度に
対応させて、上記ステージまたは上記対物レンズの駆動
を実行させる制御手段とを具備したことを特徴とする顕
微鏡の焦準装置。In a focusing device of a microscope for adjusting a distance between a stage on which a specimen is mounted and an objective lens to perform focusing, the distance between the stage and the objective lens is adjusted. Driving means for driving the stage or the objective lens, sample position detecting means for detecting a position of the sample in the optical axis direction with respect to the focus position, and the stage or the objective based on a signal intensity from the sample position detecting means. Driving speed setting means for setting the driving speed of the lens; controlling the driving by the driving means; and driving the stage or the objective lens in accordance with the driving speed set by the driving speed setting means. A focusing device for a microscope, comprising: a control unit.
検出手段からの信号強度と上記駆動手段の駆動方向に基
づいて、上記ステージまたは上記対物レンズの駆動速度
を設定することを特徴とする請求項1記載の顕微鏡の焦
準装置。2. The apparatus according to claim 1, wherein said driving speed setting means sets a driving speed of said stage or said objective lens based on a signal intensity from said sample position detecting means and a driving direction of said driving means. Item 7. A focusing device for a microscope according to Item 1.
検出手段からの信号強度と信号の変化量及び上記駆動手
段の駆動方向に基づいて、上記ステージまたは上記対物
レンズの駆動速度を設定することを特徴とする請求項1
記載の顕微鏡の焦準装置。3. The drive speed setting means sets a drive speed of the stage or the objective lens based on a signal intensity and a change amount of the signal from the sample position detection means and a drive direction of the drive means. Claim 1 characterized by the following:
A focusing device for the microscope as described.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000259486A JP2002072099A (en) | 2000-08-29 | 2000-08-29 | Focusing device for microscope |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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