JP2002071578A - Visual inspection apparatus and method of visually inspecting printed wiring board using the same - Google Patents
Visual inspection apparatus and method of visually inspecting printed wiring board using the sameInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、撮像手段により得
られた被検査体の画像を処理して被検査部位の良否を検
査する外観検査装置、及びそれを用いたプリント配線板
の外観検査方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an appearance inspection apparatus for inspecting the quality of a part to be inspected by processing an image of the object to be inspected obtained by an imaging means, and a method for inspecting the appearance of a printed wiring board using the same. It is about.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、半導体搭載用のプリント配線板の
表面に形成されたパッドに多数の導電性ボールを接合し
てなるパッケージ、いわゆるBGA(Ball Grid Arra
y)と呼ばれるパッケージがよく知られている。この種
のパッケージには高密度化、高機能化、ファイン化、多
端子化の要求があり、従ってその外部接続端子である導
電性ボールの数も年々増加する傾向にある。ゆえに、パ
ッケージ製造時において導電性ボールの良否を効率良く
検査することは、生産性の向上を図るうえで極めて重要
な課題であるといえる。そして最近では、従来までの肉
眼検査に代わって、画像処理の技術を利用した外観検査
が実施されるようになってきている。2. Description of the Related Art Conventionally, a package formed by bonding a large number of conductive balls to pads formed on the surface of a printed wiring board for mounting a semiconductor, a so-called BGA (Ball Grid Arra)
A package called y) is well known. This type of package is required to have higher density, higher function, finer and more terminals, and accordingly the number of conductive balls as external connection terminals tends to increase year by year. Therefore, it can be said that efficiently inspecting the quality of the conductive balls at the time of manufacturing the package is an extremely important task in improving productivity. In recent years, visual inspection using image processing technology has been performed instead of the conventional visual inspection.
【0003】このような外観検査を行う外観検査装置
は、被検査部位であるはんだボールを撮像するCCDカ
メラと、プリント配線板に光を照射する低角度リング照
明とを備えている。そして、かかる装置では、CCDカ
メラにより得られた画像を処理して、はんだボールの形
状等の良否を検査することが行われる。より具体的にい
うと、例えば、位置ずれ発生の有無、傷や打痕の有無、
大きさバラツキの有無等が検査される。An appearance inspection apparatus for performing such an appearance inspection is provided with a CCD camera for imaging a solder ball as a part to be inspected, and a low-angle ring illumination for irradiating light to a printed wiring board. In such an apparatus, an image obtained by the CCD camera is processed to inspect the quality of the shape of the solder ball and the like. More specifically, for example, the presence or absence of displacement, the presence or absence of scratches and dents,
The presence or absence of size variation is inspected.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の外観
検査装置は、立体的な形状である導電性ボールの検査に
対して有効である反面、これとは異なる形状の被検査部
位の検査に対しては不向きであった。例えば、平面的な
形状であるボールパッドの検査に前記装置をそのまま流
用した場合、検査精度が低くなるという欠点があり、装
置として汎用性に乏しかった。従って、ボールパッド検
査専用の外観検査装置を別途購入しなければならないと
いう問題があった。However, while the conventional visual inspection apparatus is effective for inspecting a conductive ball having a three-dimensional shape, it is not suitable for inspecting a part to be inspected having a different shape. Was unsuitable. For example, when the above-described apparatus is directly used for inspecting a ball pad having a planar shape, there is a disadvantage that the inspection accuracy is low, and the apparatus has been poor in versatility. Therefore, there is a problem that a visual inspection device dedicated to ball pad inspection must be purchased separately.
【0005】本発明は上記の課題に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、汎用性が高くてしかも検査精度に
優れた外観検査装置を提供することにある。The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a visual inspection apparatus having high versatility and excellent inspection accuracy.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく本
願発明者が鋭意研究を行ったところ、まず当該装置に使
用されている照明の形態に着目するとともに、被検査部
位の形状的性質が変わるとそれに適した照明も異なると
いう新たな知見を得た。また、1種類の照明のみでは、
被検査部位の形状が大きく異なる場合には十分に対応で
きないことも併せて知見した。そこで、本願発明者は上
記知見に基づいてさらにこれを発展させ、最終的に下記
の発明を想到するに到ったのである。Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the inventors of the present invention have conducted intensive research. First, while paying attention to the form of illumination used in the apparatus, the shape characteristics of the inspected portion are not changed. We have gained new knowledge that when it changes, the lighting suitable for it also changes. Also, with only one type of lighting,
It was also found that it was not possible to sufficiently cope with the case where the shape of the inspected part was significantly different. Then, the inventor of the present application has further developed this based on the above findings, and has finally arrived at the following invention.
【0007】即ち、上記の課題を解決するために、請求
項1に記載の発明では、被検査体の表面における被検査
部位を撮像する撮像手段と、前記被検査部位に光を照射
する照明とを備え、前記撮像手段により得られた画像を
処理して前記被検査部位の良否を検査する外観検査装置
において、第1照明と、前記第1照明よりも照射角度の
高い第2照明と、前記両照明を前記被検査部位の形状的
性質に応じて選択的に切り換える切換手段とを備えたこ
とを特徴とする外観検査装置をその要旨とする。That is, in order to solve the above-mentioned problems, according to the first aspect of the present invention, there is provided an image pickup means for picking up an image of a portion to be inspected on a surface of an object to be inspected; A visual inspection apparatus that processes an image obtained by the imaging unit and inspects the quality of the inspected portion, wherein the first illumination, a second illumination having an irradiation angle higher than the first illumination, A gist of the invention is an appearance inspection apparatus characterized by comprising switching means for selectively switching between the two illuminations according to the shape properties of the inspected part.
【0008】請求項2に記載の発明は、請求項1におい
て、前記第1照明は低角度リング照明であり、前記第2
照明は前記第1照明よりも前記被検査体から遠い位置に
ある高角度同軸照明であるとした。According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the first illumination is a low-angle ring illumination and the second illumination is a low-angle ring illumination.
The illumination is a high-angle coaxial illumination located at a position farther from the object to be inspected than the first illumination.
【0009】請求項3に記載の発明は、請求項2におい
て、前記第2照明は、光源からの入射光を前記被検査体
の方向に反射するとともに、前記被検査体からの反射光
を前記撮像手段側に透過させるハーフミラーを備えると
ともに、そのハーフミラーは前記反射光の経路上から退
避可能に設けられているとした。According to a third aspect of the present invention, in the second aspect, the second illumination reflects incident light from a light source in the direction of the inspection object and reflects reflected light from the inspection object to the inspection object. A half mirror for transmitting light is provided on the imaging means side, and the half mirror is provided so as to be retractable from the path of the reflected light.
【0010】請求項4に記載の発明では、請求項1乃至
3のいずれか1項に記載する外観検査装置を用いるとと
もに、前記第2照明のみを作動させてプリント配線板上
にある第2の被検査部位を検査し、前記第1照明のみを
作動させて前記プリント配線板上にある前記第1の被検
査部位よりも形状が立体的な第1の被検査部位を検査す
ることを特徴とするプリント配線板の外観検査方法をそ
の要旨とする。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the visual inspection apparatus according to any one of the first to third aspects, wherein the second illumination is operated only to activate the second illumination on the printed wiring board. Inspecting the inspected portion, operating only the first illumination, and inspecting the first inspected portion on the printed wiring board, the shape being more three-dimensional than the first inspected portion. The gist is a method for inspecting the appearance of printed wiring boards to be performed.
【0011】請求項5に記載の発明は、請求項4におい
て、前記第1の被検査部位は外部接続用のボールであ
り、前記第2の被検査部位は前記ボールが接合されるボ
ールパッドであるとした。According to a fifth aspect of the present invention, in the fourth aspect, the first inspected portion is a ball for external connection, and the second inspected portion is a ball pad to which the ball is bonded. There was.
【0012】以下、本発明の「作用」について説明す
る。請求項1〜5に記載の発明によると、2種類の照明
を切換手段によって選択的に切り換えて検査を行うこと
ができる。また、形状が平面的な被検査部位の場合、照
明角度の高い照明から光を照射したほうが、撮像手段側
に反射される光の量が多くなる。従って、第1照明のみ
を作動させることにより、形状が立体的な被検査部位
(例えば外部接続用のボール等)の良否を精度よく検査
することができる。また、第2照明のみを作動させるこ
とにより、形状が平面的な別の被検査部位(例えばボー
ルパッド等)の良否を精度よく検査することができる。
また、本発明によると、1つの装置で形状的性質の異な
る2種の被検査部位を検査することが可能なため、汎用
性の高い外観検査装置とすることができる。The "action" of the present invention will be described below. According to the first to fifth aspects of the present invention, the inspection can be performed by selectively switching the two types of illumination by the switching unit. In the case of an inspected part having a planar shape, the amount of light reflected on the imaging means side increases when light is irradiated from illumination having a high illumination angle. Therefore, by operating only the first illumination, it is possible to accurately inspect the quality of a part to be inspected having a three-dimensional shape (for example, a ball for external connection). Further, by operating only the second illumination, it is possible to accurately inspect the quality of another inspected portion (for example, a ball pad or the like) having a planar shape.
Further, according to the present invention, it is possible to inspect two types of inspected parts having different shapes and properties with one apparatus, so that a highly versatile appearance inspection apparatus can be obtained.
【0013】また、請求項3に記載の発明によると、ハ
ーフミラーを反射光の経路上から退避させることが可能
なため、ハーフミラーの介在による反射光のロスが解消
され、明るくて解像度に優れた鮮明な画像を得ることが
できる。よって、被検査部位が多数かつ微細なものであ
っても、その良否を容易にかつ極めて高い精度で検査す
ることができる。According to the third aspect of the present invention, since the half mirror can be retracted from the path of the reflected light, the loss of the reflected light due to the interposition of the half mirror is eliminated, and the light is bright and excellent in resolution. A clear image can be obtained. Therefore, even if the number of inspected parts is large and minute, it can be inspected easily and with extremely high accuracy.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】以下、本発明を具体化した一実施
形態の外観検査装置1及びそれを用いたプリント配線板
2の外観検査方法を、図1〜図4に基づき詳細に説明す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An appearance inspection apparatus 1 embodying the present invention and an appearance inspection method of a printed wiring board 2 using the same will be described in detail with reference to FIGS.
【0015】図1に示されるように、本実施形態の外観
検査装置1は、被検査体であるプリント配線板2の表面
にある2種の被検査部位(はんだボール3及びそのはん
だボールが接合されるボールパッド4)の良否を自動的
に検査するためのものである。即ち、このプリント配線
板2は、E−BGAタイプのパッケージを構成するもの
である。この外観検査装置1は、撮像手段としてのCC
Dカメラ5、第1の照明としての低角度リング照明6、
第2の照明としての高角度同軸照明7、制御コンピュー
タ8、X−Y−Zテーブル9、図示しない支持用フレー
ム等を備えている。As shown in FIG. 1, an appearance inspection apparatus 1 according to the present embodiment includes two types of inspected portions (a solder ball 3 and a solder ball joined to each other) on the surface of a printed wiring board 2 which is an object to be inspected. This is for automatically inspecting the quality of the ball pad 4). That is, the printed wiring board 2 forms an E-BGA type package. This visual inspection device 1 is provided with a CC
D camera 5, low-angle ring illumination 6 as first illumination,
A high-angle coaxial illumination 7 as a second illumination, a control computer 8, an XYZ table 9, a supporting frame (not shown), and the like are provided.
【0016】CCDカメラ5は、レンズ5aの側を下方
に向けた状態でフレームに支持されている。CCDカメ
ラ5の光軸はプリント配線板2の垂直方向に対して平行
になっている。CCDカメラ5は制御コンピュータ8に
電気的に接続されている。従って、CCDカメラ5によ
り得られた画像データ信号は、制御コンピュータ8内の
CPU8a内に取り込まれ、そこで所定のプログラムに
基づいて処理されるようになっている。The CCD camera 5 is supported by a frame with the lens 5a facing downward. The optical axis of the CCD camera 5 is parallel to the vertical direction of the printed wiring board 2. The CCD camera 5 is electrically connected to the control computer 8. Therefore, the image data signal obtained by the CCD camera 5 is taken into the CPU 8a in the control computer 8, where it is processed based on a predetermined program.
【0017】X−Y−Zテーブル9はCCDカメラ5の
下方に設置されている。このテーブル9上には、被検査
体であるプリント配線板2が載置される。そして、この
テーブル9を所定方向に適宜動かすことにより、撮像位
置の調整や焦点の調整等が行われる。なお、プリント配
線板2は、例えばこのとき真空引き等によって前記テー
ブル9側に固定されていてもよい。もっとも、CCDカ
メラ5側を適宜移動させて撮像位置等の調整を行っても
構わない。The XYZ table 9 is provided below the CCD camera 5. On this table 9, the printed wiring board 2 which is an object to be inspected is placed. Then, by appropriately moving the table 9 in a predetermined direction, adjustment of the imaging position, adjustment of the focus, and the like are performed. The printed wiring board 2 may be fixed to the table 9 by, for example, vacuuming at this time. Of course, the CCD camera 5 side may be appropriately moved to adjust the imaging position and the like.
【0018】低角度リング照明6は、リング状の発光体
をその内部に持つ照明であって、プリント配線板2の上
方かつプリント配線板2に近接した位置となるようにフ
レームに支持されている。また、低角度リング照明6の
中心部は、光が通過可能になっている。この低角度リン
グ照明6は、低角度リング照明6用の駆動手段10を介
して制御コンピュータ8に電気的に接続されている。制
御コンピュータ8内には、切換手段の一部を構成する第
1スイッチ11が内蔵されている。具体的には、その第
1スイッチ11を介して駆動手段10側とCPU8a側
とが接続されている。そして、この第1スイッチ11
は、切換手段の一部でもあるCPU8aからの信号によ
りオンオフする。その結果、低角度リング照明6が点灯
または消灯するようになっている。The low-angle ring illumination 6 is an illumination having a ring-shaped light-emitting body therein, and is supported by a frame at a position above the printed wiring board 2 and at a position close to the printed wiring board 2. . Further, light can pass through the center of the low-angle ring illumination 6. The low-angle ring light 6 is electrically connected to a control computer 8 via a driving means 10 for the low-angle ring light 6. The control computer 8 has a built-in first switch 11 which constitutes a part of the switching means. Specifically, the drive means 10 and the CPU 8a are connected via the first switch 11. Then, the first switch 11
Is turned on / off by a signal from the CPU 8a which is also a part of the switching means. As a result, the low-angle ring illumination 6 is turned on or off.
【0019】高角度同軸照明7は、低角度リング照明6
よりも照射角度の高い照明のことをいう。高角度同軸照
明7を構成する光源としてのランプ12は、同じく高角
度同軸照明7を構成する光反射ユニット13の側方にお
いて離間した位置に配設されている。このランプ12
は、高角度同軸照明7用の駆動手段14を介して制御コ
ンピュータ8に電気的に接続されている。制御コンピュ
ータ8内には、切換手段の一部を構成する第2スイッチ
15が内蔵されている。具体的には、その第2スイッチ
15を介して駆動手段14側とCPU8a側とが接続さ
れている。そして、この第2スイッチ15は、CPU8
aからの信号によりオンオフする。その結果、ランプ1
2が点灯または消灯し、高角度同軸照明7が実質的に作
動状態または被作動状態に切り換わるようになってい
る。The high-angle coaxial illumination 7 comprises a low-angle ring illumination 6
Illumination with a higher irradiation angle. The lamp 12 as a light source constituting the high-angle coaxial illumination 7 is disposed at a position apart from the side of the light reflection unit 13 also constituting the high-angle coaxial illumination 7. This lamp 12
Is electrically connected to the control computer 8 via the driving means 14 for the high-angle coaxial illumination 7. The control computer 8 has a built-in second switch 15 which constitutes a part of the switching means. Specifically, the drive unit 14 and the CPU 8a are connected via the second switch 15. The second switch 15 is connected to the CPU 8
It is turned on / off by a signal from a. As a result, lamp 1
2 is turned on or off, and the high-angle coaxial illumination 7 is substantially switched to an activated state or an activated state.
【0020】高角度同軸照明7を構成する光反射ユニッ
ト13は、低角度リング照明6よりもプリント配線板2
から遠い位置(高い位置)となるようにフレームに支持
されている。なお、光反射ユニット13は、CCDカメ
ラ5の光軸の軸線上に配置されている。The light reflecting unit 13 constituting the high-angle coaxial lighting 7 is more printed circuit board 2 than the low-angle ring lighting 6.
It is supported by the frame at a position (high position) far from the camera. The light reflecting unit 13 is arranged on the optical axis of the CCD camera 5.
【0021】本実施形態の光反射ユニット13は、プリ
ズム16、ハーフミラー17、反射鏡18、ハーフミラ
ー退避用のアクチュエータ19、アクチュエータ駆動手
段20を備えている。プリズム16はガラス等の光透過
性材料からなり、その垂直面には反射鏡18が設けられ
ている。反射鏡18は、ハーフミラー17を透過して水
平方向から入射してくるランプ12の光を反射して、再
びハーフミラー17側に戻す役割を果たしている。ハー
フミラー17は、透過率が約50%程度の光透過性材料
からなる板状部材であって、プリズム16の上斜面に配
置されている。従って、このハーフミラー17は、水平
方向に対して45°の角度をなしている。ハーフミラー
17は、反射鏡18からの反射光を90°反射してプリ
ント配線板2側に向かわせるとともに、プリント配線板
2側からの反射光を上方に透過させてCCDカメラ5側
に到らせる役割を果たしている。The light reflecting unit 13 of this embodiment includes a prism 16, a half mirror 17, a reflecting mirror 18, an actuator 19 for retracting the half mirror, and an actuator driving means 20. The prism 16 is made of a light-transmitting material such as glass, and a reflecting mirror 18 is provided on a vertical surface thereof. The reflecting mirror 18 plays a role of reflecting the light of the lamp 12 that is transmitted through the half mirror 17 and enters from the horizontal direction and returns the light to the half mirror 17 side again. The half mirror 17 is a plate-like member made of a light-transmitting material having a transmittance of about 50%, and is disposed on the upper slope of the prism 16. Therefore, the half mirror 17 forms an angle of 45 ° with the horizontal direction. The half mirror 17 reflects the reflected light from the reflecting mirror 18 at 90 ° to the printed wiring board 2 side, and transmits the reflected light from the printed wiring board 2 upward to reach the CCD camera 5 side. Playing a role.
【0022】ハーフミラー17を支持するハーフミラー
退避用のアクチュエータ19は、アクチュエータ駆動手
段20を介して制御コンピュータ8に電気的に接続され
ている。従って、CPU8aから制御信号が出力される
と、アクチュエータ駆動手段20を介してアクチュエー
タ19が動作する。その結果、ハーフミラー17が使用
位置(即ちプリズム16の上斜面位置)から退避位置
(即ちプリズム16の斜め上方の位置、反射光の経路上
から外れた位置)へと駆動されるようになっている。前
記アクチュエータ19としては、例えば流体圧シリンダ
等が使用可能である。この場合において前記アクチュエ
ータ駆動手段20としては、例えば流体圧シリンダへの
駆動流体の給排を行う電磁弁等が使用される。勿論、流
体圧を利用した機器に代えて、例えばモータ等のように
電気を利用した機器を前記アクチュエータ19として使
用してもよい。An actuator 19 for retracting the half mirror 17 supporting the half mirror 17 is electrically connected to the control computer 8 via an actuator driving means 20. Therefore, when a control signal is output from the CPU 8a, the actuator 19 operates via the actuator driving means 20. As a result, the half mirror 17 is driven from the use position (ie, the upper slope position of the prism 16) to the retracted position (ie, a position obliquely above the prism 16, a position deviating from the path of the reflected light). I have. As the actuator 19, for example, a fluid pressure cylinder or the like can be used. In this case, as the actuator driving means 20, for example, an electromagnetic valve for supplying / discharging a driving fluid to / from a hydraulic cylinder is used. Of course, instead of a device using fluid pressure, a device using electricity such as a motor may be used as the actuator 19.
【0023】さて、以上のように構成された外観検査装
置1を用いてプリント配線板2を検査する方法について
説明する。まず、はんだボール3の良否を検査したい場
合について述べる。図1(b)に示されるように、この
場合には第1スイッチ11がオン状態に切り換えられ、
第2スイッチ15がオフ状態に切り換えられる。従っ
て、低角度リング照明6のみが作動状態となり、高角度
同軸照明7は非作動状態となる。なお、アクチュエータ
19の駆動によって、ハーフミラー17は退避位置に移
動される。Now, a method of inspecting the printed wiring board 2 using the appearance inspection apparatus 1 configured as described above will be described. First, a case where it is desired to inspect the quality of the solder ball 3 will be described. As shown in FIG. 1B, in this case, the first switch 11 is turned on,
The second switch 15 is turned off. Therefore, only the low-angle ring illumination 6 is activated and the high-angle coaxial illumination 7 is deactivated. The driving of the actuator 19 moves the half mirror 17 to the retracted position.
【0024】低角度リング照明6の発した光は、プリン
ト配線板2の表面にて反射された後、プリズム16を透
過してCCDカメラ5のレンズ5aに到る。その結果、
図2(a)に示されるような画像が撮影される。The light emitted from the low-angle ring illumination 6 is reflected by the surface of the printed wiring board 2 and then passes through the prism 16 to reach the lens 5a of the CCD camera 5. as a result,
An image as shown in FIG. 2A is taken.
【0025】ここで、はんだボール3は光沢のある金属
材料(即ちはんだ)からなる反面、その周囲にある基材
の部分は光沢のない樹脂材料からなる。このように金属
材料のある場所とない場所とでは反射率が相違する。ゆ
えに、CCDカメラ5の画像には、プリント配線板2上
のはんだボール3の輪郭が環状の明パターンとして現
れ、それ以外の箇所が暗パターンとして現れる。従っ
て、この明暗画像の形状に基づいて所定の画像処理を実
施することにより、はんだボール3の良否の検査が行わ
れる。図2(b)のグラフは、A線上における反射強度
のチャートである。同チャートによると、はんだボール
3の輪郭線のある部分において反射強度が特に強くなる
ことがわかる。Here, the solder balls 3 are made of a glossy metal material (ie, solder), while the surrounding base material is made of a non-gloss resin material. As described above, the reflectance differs between a place where the metal material is present and a place where the metallic material is not present. Therefore, in the image of the CCD camera 5, the outline of the solder ball 3 on the printed wiring board 2 appears as an annular bright pattern, and the other portions appear as dark patterns. Therefore, by performing predetermined image processing based on the shape of the light and dark image, the quality of the solder ball 3 is inspected. The graph of FIG. 2B is a chart of the reflection intensity on the A line. According to the chart, it can be seen that the reflection intensity is particularly high in a portion having the contour of the solder ball 3.
【0026】次に、ボールパッド4の良否を検査したい
場合について述べる。図1(a)に示されるように、こ
の場合には第1スイッチ11がオフ状態に切り換えら
れ、第2スイッチ15がオン状態に切り換えられる。従
って、高角度同軸照明7のみが作動状態となり、低角度
リング照明6は非作動状態となる。なお、ハーフミラー
17は使用位置に戻される。Next, a case where it is desired to inspect the quality of the ball pad 4 will be described. As shown in FIG. 1A, in this case, the first switch 11 is turned off and the second switch 15 is turned on. Therefore, only the high-angle coaxial illumination 7 is activated and the low-angle ring illumination 6 is deactivated. The half mirror 17 is returned to the use position.
【0027】ランプ12の発した光は、いったんハーフ
ミラー17を透過した後、反射鏡18によって反射され
る。反射鏡18からの光は、ハーフミラー17によって
反射され、プリント配線板2側に到る。そして、この光
はプリント配線板2の表面にて反射された後、プリズム
16及びハーフミラー17を透過してCCDカメラ5の
レンズ5aに到る。その結果、図3(a)に示されるよ
うな画像が撮影される。The light emitted from the lamp 12 once passes through the half mirror 17 and is reflected by the reflecting mirror 18. Light from the reflecting mirror 18 is reflected by the half mirror 17 and reaches the printed wiring board 2 side. Then, this light is reflected by the surface of the printed wiring board 2, then passes through the prism 16 and the half mirror 17 and reaches the lens 5 a of the CCD camera 5. As a result, an image as shown in FIG.
【0028】ここで、ボールパッド4は光沢のある金属
材料(例えば銅、アルミニウム、金等)からなる反面、
その周囲にある基材の部分は光沢のない樹脂材料からな
る。このように金属材料のある場所とない場所とでは反
射率が相違する。ゆえに、CCDカメラ5の画像には、
プリント配線板2上のボールパッド4が円形状の明パタ
ーンとして現れ、それ以外の箇所が暗パターンとして現
れる。従って、この明暗画像の形状に基づい所定の画像
処理を実施することにより、ボールパッド4の良否の検
査が行われる。図3(b)のグラフは、B線上における
反射強度のチャートである。同チャートによると、ボー
ルパッド4のある部分において反射強度が特に強くなる
ことがわかる。The ball pad 4 is made of a glossy metal material (eg, copper, aluminum, gold, etc.).
The portion of the base material surrounding the base material is made of a dull resin material. As described above, the reflectance differs between a place where the metal material is present and a place where the metallic material is not present. Therefore, the image of the CCD camera 5 includes
The ball pad 4 on the printed wiring board 2 appears as a circular bright pattern, and other portions appear as dark patterns. Accordingly, the quality of the ball pad 4 is inspected by performing predetermined image processing based on the shape of the light and dark image. The graph of FIG. 3B is a chart of the reflection intensity on the B line. According to the chart, it can be seen that the reflection intensity is particularly strong at a certain portion of the ball pad 4.
【0029】ここで本実施形態に対する比較例として、
図4に示されるように照明形態の異なる3種の外観検査
装置をそれぞれ用意した。比較例1の外観検査装置は、
低角度リング照明6のみを備えている(図4(a)参
照)。比較例2の外観検査装置は、低角度リング照明6
及び高角度同軸照明7を備えているものの、両照明6,
7を選択的に切り換える切換手段を備えていない(図4
(b)参照)。従って、比較例2では両照明6,7をブ
レンドした光が照射されるようになっている。なお、比
較例2は、ハーフミラー退避用のアクチュエータ19及
びアクチュエータ駆動手段20も備えていない。比較例
3の外観検査装置は、低角度リング照明6に加え、高角
度リング照明21及び光拡散板22を備えている(図4
(c)参照)。Here, as a comparative example with respect to the present embodiment,
As shown in FIG. 4, three types of appearance inspection devices having different illumination modes were prepared. The visual inspection device of Comparative Example 1
Only the low-angle ring illumination 6 is provided (see FIG. 4A). The visual inspection device of Comparative Example 2 has a low-angle ring illumination 6
And high-angle coaxial illumination 7,
4 is not provided with a switching means for selectively switching the number 7 (see FIG. 4).
(B)). Therefore, in Comparative Example 2, light obtained by blending the two illuminations 6 and 7 is applied. Comparative Example 2 does not include the half mirror retracting actuator 19 and the actuator driving unit 20. The visual inspection device of Comparative Example 3 includes a high-angle ring illumination 21 and a light diffusion plate 22 in addition to the low-angle ring illumination 6 (FIG. 4).
(C)).
【0030】そして、これら4種の外観検査装置1を用
いて下記のごとく外観検査を行うとともに、得られた結
果について比較を行った(図5の表参照)。ここでは、
特に不良の起こっていない良品のサンプルを22個、は
んだボール3に位置ずれの起こっているサンプルを7
個、はんだボール3に傷が付いているサンプルを7個用
意した。そして、画像処理による判定結果(「OK」ま
たは「NG」)に基づいて、欠陥検出率及び過検査率を
算出した。Using the four kinds of appearance inspection apparatuses 1, an appearance inspection was performed as follows, and the obtained results were compared (see the table in FIG. 5). here,
In particular, 22 non-defective samples having no defects and 7 samples having misalignment in the solder balls 3
And seven samples having scratches on the solder balls 3 were prepared. Then, the defect detection rate and the over-inspection rate were calculated based on the determination result (“OK” or “NG”) by the image processing.
【0031】実施形態では、良品、ボールずれ及びボー
ル傷の欠陥検出率及び過検査率がそれぞれ0%、100
%、100%であり、検出精度に極めて優れていること
がわかった。なお、ボールパッド4の大きさや位置ずれ
等の良否検査を同様に行ったところ、これについても特
に問題はなく、検出精度に極めて優れていることがわか
った。In the embodiment, the defect detection rate and the over-inspection rate of the non-defective product, the ball displacement and the ball scratch are 0% and 100%, respectively.
% And 100%, indicating that the detection accuracy was extremely excellent. In addition, when the quality inspection for the size and displacement of the ball pad 4 was performed in the same manner, no particular problem was found, and it was found that the detection accuracy was extremely excellent.
【0032】比較例1においても、良品、ボールずれ及
びボール傷の欠陥検出率及び過検査率がそれぞれ0%、
100%、100%であり、検出精度に極めて優れてい
ることがわかった。しかしながら、ボールパッド4の大
きさや位置ずれ等の良否検査を同様に行ったところ、こ
の場合には誤検出率が高くなり、検出精度が低下する傾
向が認められた。それゆえ、形状が平面的なボールパッ
ド4の検査には低角度リング照明6は適していないもの
と結論付けられた。Also in Comparative Example 1, the defect detection rate and the over-inspection rate of the non-defective product, the ball displacement and the ball flaw were 0%, respectively.
100% and 100%, indicating that the detection accuracy was extremely excellent. However, when a pass / fail inspection of the size and displacement of the ball pad 4 was performed in the same manner, in this case, the erroneous detection rate was increased, and the detection accuracy tended to decrease. Therefore, it was concluded that the low-angle ring illumination 6 was not suitable for inspecting the ball pad 4 having a flat shape.
【0033】比較例2では、良品、ボールずれ及びボー
ル傷の欠陥検出率及び過検査率がそれぞれ9%、100
%、71%であり、実施形態に比べて明らかに検出精度
に劣っていた。In Comparative Example 2, the defect detection rate and the over-inspection rate of the non-defective product, the ball displacement and the ball flaw were 9% and 100%, respectively.
% And 71%, which are clearly inferior in detection accuracy as compared with the embodiment.
【0034】比較例3では、良品、ボールずれ及びボー
ル傷の欠陥検出率及び過検査率がそれぞれ36%、10
0%、100%であり、実施形態に比べて明らかに検出
精度に劣っていた。In Comparative Example 3, the defect detection rate and the over-inspection rate of the non-defective product, the ball displacement and the ball flaw were 36% and 10%, respectively.
It was 0% and 100%, and the detection accuracy was clearly inferior to the embodiment.
【0035】従って、本実施形態によれば以下のような
効果を得ることができる。 (1)本実施形態の外観検査装置1は、第1照明である
低角度リング照明6と、それよりも照射角度の高い高角
度同軸照明7と、両照明6,7を被検査部位の形状的性
質に応じて選択的に切り換える切換手段とを備えてい
る。よって、これら2種類の照明6,7を、前記切換手
段によって適宜選択的に切り換えて外観検査を行うこと
ができる。また、形状が平面的なボールパッド4を検査
する場合、高角度同軸照明7から光を照射したほうが、
CCDカメラ5側に反射される光の量が多くなる。従っ
て、低角度リング照明6のみを作動させることにより、
はんだボール3の良否を精度よく検査することができ
る。一方、高角度同軸照明7のみを作動させることによ
り、ボールパッド4の良否を精度よく検査することがで
きる。Therefore, according to the present embodiment, the following effects can be obtained. (1) The visual inspection apparatus 1 of the present embodiment uses the low-angle ring illumination 6 as the first illumination, the high-angle coaxial illumination 7 with a higher illumination angle, and the two illuminations 6 and 7 as the shape of the inspected part. Switching means for selectively switching according to the characteristic. Therefore, these two types of illuminations 6 and 7 can be selectively switched appropriately by the switching means to perform an appearance inspection. Further, when inspecting a ball pad 4 having a flat shape, it is better to irradiate light from the high-angle coaxial illumination 7.
The amount of light reflected on the CCD camera 5 side increases. Therefore, by operating only the low angle ring illumination 6,
The quality of the solder ball 3 can be accurately inspected. On the other hand, by operating only the high-angle coaxial illumination 7, the quality of the ball pad 4 can be accurately inspected.
【0036】また、本実施形態によると、1つの外観検
査装置1で形状的性質の異なる2種の被検査部位を検査
することが可能となる。このため、汎用性の高い外観検
査装置1とすることができる。つまり、外観検査装置1
の流用が可能になることにより、パッケージ生産設備に
対する投資が少なくて済み、結果的にパッケージの低価
格化を図ることができる。Further, according to the present embodiment, it is possible to inspect two kinds of inspected parts having different geometric properties with one appearance inspection apparatus 1. For this reason, the versatility appearance inspection apparatus 1 can be obtained. That is, the appearance inspection device 1
By making use of the above, investment in package production equipment can be reduced, and as a result, the cost of the package can be reduced.
【0037】(2)この外観検査装置1における高角度
同軸照明7は、ランプ12からの入射光をプリント配線
板2の方向に反射するとともに、プリント配線板2から
の反射光をCCDカメラ5側に透過させるハーフミラー
17を備えている。また、そのハーフミラー17は、ハ
ーフミラー退避用のアクチュエータ19及びアクチュエ
ータ駆動手段20によって2位置間を移動することがで
きる。よって、必要に応じて、ハーフミラー17を反射
光の経路上から退避させることができる。このため、ハ
ーフミラー17の介在による反射光のロスが解消され、
明るくて解像度に優れた鮮明な画像を得ることができ
る。よって、はんだボール3やボールパッド4が多数か
つ微細なものであっても、その良否を容易にかつ極めて
高い精度で検査することができる。(2) The high-angle coaxial illumination 7 in the visual inspection apparatus 1 reflects the incident light from the lamp 12 in the direction of the printed wiring board 2 and reflects the reflected light from the printed wiring board 2 to the CCD camera 5 side. A half mirror 17 for transmitting light through the mirror is provided. Further, the half mirror 17 can be moved between two positions by an actuator 19 for retracting the half mirror and an actuator driving means 20. Therefore, the half mirror 17 can be retracted from the path of the reflected light as needed. Therefore, the loss of reflected light due to the interposition of the half mirror 17 is eliminated,
A clear image that is bright and excellent in resolution can be obtained. Therefore, even if the solder balls 3 and the ball pads 4 are many and fine, the quality of the solder balls 3 and the ball pads 4 can be inspected easily and with extremely high accuracy.
【0038】(3)この外観検査装置1は、低角度リン
グ照明6をオンオフする第1スイッチ11と、高角度同
軸照明7をオンオフする第2スイッチ15と、それらの
スイッチ11,15を制御するCPU8aとからなる切
換手段を備えている。このため、被検査部位の形状的性
質に応じた両照明6,7の切り換えを容易にかつ確実に
行うことができる。(3) The visual inspection apparatus 1 controls the first switch 11 for turning on and off the low-angle ring illumination 6, the second switch 15 for turning on and off the high-angle coaxial illumination 7, and the switches 11, 15. Switching means comprising a CPU 8a is provided. Therefore, it is possible to easily and surely switch between the two illuminations 6 and 7 according to the shape properties of the inspected portion.
【0039】なお、本発明の実施形態は以下のように変
更してもよい。 ・ 形状が立体的な被検査部位としては、必ずしもはん
だボール3に限られず、はんだ以外の導電性金属からな
るボール、例えば金ボール等であってもよい。また、ボ
ール状(完全な球状)の端子部ばかりでなく、例えば不
完全球状(半球状)の端子部を被検査部位としてもよ
い。さらには、端子部以外の立体的構造物、例えばマッ
シュルーム形状のバンプ等や端子ピン等を、被検査部位
とすることも可能である。The embodiment of the present invention may be modified as follows. The part to be inspected having a three-dimensional shape is not necessarily limited to the solder ball 3 and may be a ball made of a conductive metal other than solder, for example, a gold ball. In addition, not only a ball-shaped (perfect spherical) terminal portion but also, for example, an imperfect spherical (hemispherical) terminal portion may be used as the inspection target portion. Furthermore, a three-dimensional structure other than the terminal portion, for example, a mushroom-shaped bump or the like, a terminal pin, or the like can be used as the inspection target site.
【0040】・ 切換手段は、第1スイッチ11と第2
スイッチ15とCPU8aとからなるものに限定され
ず、例えば両スイッチ11,15を一体化した1つのス
イッチを用いてもよい。また、制御コンピュータ8内の
CPU8aによって電気的に切り換えられるスイッチ1
1,15に代え、手動切換用のスイッチを用いて装置1
を構成しても構わない。The switching means includes a first switch 11 and a second switch 11.
The invention is not limited to the one including the switch 15 and the CPU 8a. For example, a single switch integrating the two switches 11 and 15 may be used. A switch 1 electrically switched by a CPU 8a in the control computer 8
1 and 15 using a switch for manual switching
May be configured.
【0041】・ 形状が平面的な被検査部位としては、
必ずしもボールパッド4に限られず、例えばプリント配
線板2の表面に形成された配線パターン等であってもよ
い。 ・ 被検査部位は必ずしも光沢を有するもののみに限定
されることはなく、交代の少ないものまたは無いもので
あってもよい。As a part to be inspected having a planar shape,
The wiring pattern is not necessarily limited to the ball pad 4, and may be, for example, a wiring pattern formed on the surface of the printed wiring board 2. The inspected part is not necessarily limited to a glossy part, and may be a part with little or no alternation.
【0042】・ 被検査体は実施形態にて示したような
プリント配線板2に限定されることはなく、端子部等を
備えるそれ以外の電子部品であってもよい。さらには、
電子部品以外のものを被検査体とすることも勿論可能で
ある。The test object is not limited to the printed wiring board 2 as shown in the embodiment, but may be another electronic component having a terminal portion and the like. Moreover,
Of course, it is also possible to use an object other than the electronic component as the inspection object.
【0043】次に、特許請求の範囲に記載された技術的
思想のほかに、前述した実施形態によって把握される技
術的思想を以下に列挙する。 (1) 請求項1乃至3のいずれか1つにおいて、前記
両被検査部位は、ともに光沢のある金属材料からなるこ
と。Next, in addition to the technical ideas described in the claims, the technical ideas grasped by the above-described embodiment will be enumerated below. (1) In any one of claims 1 to 3, both the inspected parts are made of a glossy metal material.
【0044】(2) 請求項1乃至3のいずれか1つに
おいて、前記両被検査部位は、ともに光沢のある金属材
料からなる端子部であること。 (3) 請求項1乃至3のいずれか1つにおいて、前記
切換手段は、前記第1照明をオンオフするための第1ス
イッチと、前記第2照明をオンオフするための第2スイ
ッチと、それらのスイッチを制御する制御手段と備える
こと。(2) The device according to any one of claims 1 to 3, wherein both of the inspected portions are terminal portions made of a glossy metal material. (3) In any one of claims 1 to 3, the switching means includes a first switch for turning on and off the first lighting, a second switch for turning on and off the second lighting, And control means for controlling the switch.
【0045】(4) 請求項3において、前記ハーフミ
ラーを前記反射光の経路上から退避させるためのハーフ
ミラー退避用のアクチュエータを設けたこと。(4) In Claim 3, an actuator for retracting the half mirror for retracting the half mirror from the path of the reflected light is provided.
【0046】[0046]
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1〜3に記
載の発明によれば、汎用性が高くてしかも検査精度に優
れた外観検査装置を提供することができる。As described in detail above, according to the first to third aspects of the present invention, it is possible to provide an appearance inspection apparatus which has high versatility and excellent inspection accuracy.
【0047】請求項3に記載の発明によれば、さらなる
検査精度の向上を達成することができる。請求項4,5
に記載の発明によれば、プリント配線板の外観検査を精
度よく行うことができる。According to the third aspect of the invention, the inspection accuracy can be further improved. Claims 4 and 5
According to the invention described in (1), the appearance inspection of the printed wiring board can be accurately performed.
【図1】(a),(b)は本発明を具体化した一実施形
態における外観検査装置の要部を示す概略斜視図。FIGS. 1A and 1B are schematic perspective views showing a main part of a visual inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】(a)は実施形態の外観検査装置によるボール
の撮像例の図、(b)はそのときの反射強度を示すグラ
フ。FIG. 2A is a diagram illustrating an example of imaging of a ball by the appearance inspection device of the embodiment, and FIG. 2B is a graph illustrating the reflection intensity at that time.
【図3】(a)は実施形態の外観検査装置によるボール
パッドの撮像例の図、(b)はそのときの反射強度を示
すグラフ。FIG. 3A is a diagram of an example of imaging of a ball pad by the visual inspection device of the embodiment, and FIG. 3B is a graph showing the reflection intensity at that time.
【図4】(a),(b),(c)は、比較例の外観検査
装置の要部を示す概略斜視図。FIGS. 4A, 4B, and 4C are schematic perspective views showing main parts of a visual inspection device of a comparative example.
【図5】実施形態及び各比較例の比較結果を示したグラ
フ。FIG. 5 is a graph showing comparison results of the embodiment and each comparative example.
1…外観検査装置、2…被検査体としてのプリント配線
板、3…第1の被検査部位としての(はんだ)ボール、
4…第2の被検査部位としてのボールパッド、5…撮像
手段としてのCCDカメラ、6…第1照明としての低角
度リング照明、7…第2照明としての高角度同軸照明、
8a…切換手段を構成するCPU、11…切換手段を構
成する第1スイッチ、15…切換手段を構成する第2ス
イッチ、17…ハーフミラー。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Appearance inspection apparatus, 2 ... Printed wiring board as a test object, 3 ... (Solder) ball as a 1st test part,
4 ... Ball pad as a second part to be inspected, 5 ... CCD camera as imaging means, 6 ... Low angle ring illumination as first illumination, 7 ... High angle coaxial illumination as second illumination,
8a CPU constituting the switching means, 11 first switch constituting the switching means, 15 second switch constituting the switching means, 17 half mirror.
Claims (5)
する撮像手段と、前記被検査部位に光を照射する照明と
を備え、前記撮像手段により得られた画像を処理して前
記被検査部位の良否を検査する外観検査装置において、 第1照明と、前記第1照明よりも照射角度の高い第2照
明と、前記両照明を前記被検査部位の形状的性質に応じ
て選択的に切り換える切換手段とを備えたことを特徴と
する外観検査装置。An imaging unit configured to image a site to be inspected on a surface of the object to be inspected; and an illumination unit configured to irradiate light to the site to be inspected. In a visual inspection device for inspecting the quality of a part, a first illumination, a second illumination having an irradiation angle higher than the first illumination, and the two illuminations are selectively switched according to a shape property of the inspected part. An appearance inspection apparatus comprising a switching unit.
前記第2照明は前記第1照明よりも前記被検査体から遠
い位置にある高角度同軸照明であることを特徴とする請
求項1に記載の外観検査装置。2. The method according to claim 1, wherein the first illumination is a low-angle ring illumination,
The visual inspection apparatus according to claim 1, wherein the second illumination is a high-angle coaxial illumination located at a position farther from the object to be inspected than the first illumination.
被検査体の方向に反射するとともに、前記被検査体から
の反射光を前記撮像手段側に透過させるハーフミラーを
備えるとともに、そのハーフミラーは前記反射光の経路
上から退避可能に設けられていることを特徴とする請求
項2に記載の外観検査装置。3. The second illumination includes a half mirror that reflects incident light from a light source in the direction of the object to be inspected and transmits reflected light from the object to be inspected toward the imaging unit. The appearance inspection apparatus according to claim 2, wherein the half mirror is provided so as to be able to retreat from a path of the reflected light.
外観検査装置を用いるとともに、前記第2照明のみを作
動させてプリント配線板上にある第2の被検査部位を検
査し、前記第1照明のみを作動させて前記プリント配線
板上にある前記第1の被検査部位よりも形状が立体的な
第1の被検査部位を検査することを特徴とするプリント
配線板の外観検査方法。4. A second inspection part on a printed wiring board is inspected by using only the second illumination while using the appearance inspection apparatus according to any one of claims 1 to 3. A visual inspection of a printed wiring board, characterized in that only the first illumination is operated to inspect a first inspected part on the printed wiring board, the first inspected part being three-dimensional in shape than the first inspected part. Method.
ルであり、前記第2の被検査部位は前記ボールが接合さ
れるボールパッドであることを特徴とする請求項4に記
載のプリント配線板の外観検査方法。5. The device according to claim 4, wherein the first inspected portion is a ball for external connection, and the second inspected portion is a ball pad to which the ball is bonded. Visual inspection method for printed wiring boards.
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