JP2002064370A - Edge detecting circuit - Google Patents

Edge detecting circuit

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JP2002064370A JP2000252597A JP2000252597A JP2002064370A JP 2002064370 A JP2002064370 A JP 2002064370A JP 2000252597 A JP2000252597 A JP 2000252597A JP 2000252597 A JP2000252597 A JP 2000252597A JP 2002064370 A JP2002064370 A JP 2002064370A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an edge detecting circuit capable of preventing malfunction caused by chattering. SOLUTION: The state of an edge detection target signal IN is detected by a chattering detecting part 100. On the basis of the output signal of the chattering detecting part 100, a timer 200 is reset when the edge detection target signal IN is at low level, resetting is canceled when the edge detection target signal IN is at high level, and time measuring is performed. Therefore, time, when the edge detection target signal IN becomes at high level, is measured and after time, when the edge detection target signal IN is continuously at high level, exceeds prescribed time, an output signal is made active. When the time, in which the output signal of the timer part 200 becomes in an active state, is continued for a prescribed time further, an edge detecting signal preparing part 300 prepares an edge detection signal.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、チャタリングを含
んだ入力信号、すなわちエッジ検出対象信号をデジタル
システムに取り込む際に、チャタリングによる誤動作を
発生させないエッジ検出回路に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an edge detection circuit which does not cause a malfunction due to chattering when an input signal including chattering, that is, an edge detection target signal is taken into a digital system.

【0002】[0002]

【従来の技術】デジタルシステムに非同期な入力信号の
到来をデジタルシステムに取り込む場合、入力信号のエ
ッジ検出を行い、その出力信号をよく利用する。ところ
が、入力信号のエッジにチャタリングがあるとエッジ検
出が誤動作し、その結果デジタルシステムも誤動作に到
ってしまう。
2. Description of the Related Art When an incoming input signal asynchronous to a digital system is taken into the digital system, the edge of the input signal is detected and the output signal is often used. However, if there is chattering at the edge of the input signal, the edge detection malfunctions, and as a result, the digital system also malfunctions.

【0003】非同期な入力信号というのは、例えば図6
でクロック信号CLKの周期に対して、入力信号INの
到来エッジが任意の時刻であるということである。外部
入力信号と内部クロック(CLK)とが非同期である場
合が多いので、非同期な入力信号と記述している。
[0003] An asynchronous input signal is, for example, as shown in FIG.
This means that the incoming edge of the input signal IN is at an arbitrary time with respect to the cycle of the clock signal CLK. Since an external input signal and an internal clock (CLK) are often asynchronous, they are described as asynchronous input signals.

【0004】図5は従来のエッジ検出回路の構成を示す
回路図である。このエッジ検出回路は、2個のDフリッ
プフロップ1,2で構成されている。Dフリップフロッ
プ1は、電源電圧VCCをデータ入力Dとし、入力端子5
0より入力されるエッジ検出対象信号INをクロック入
力CKとしている。また、Dフリップフロップ2は、D
フリップフロップ1の非反転出力Qをデータ入力Dと
し、クロック端子60より入力されるクロック信号CL
Kをクロック入力CKとし、非反転出力Qを出力端子7
0よりエッジ検出信号OUTとして外部へ出力するよう
にしている。Dフリップフロップ2の非反転出力QはD
フリップフロップ1のリセット入力Rとして与えられ
る。
FIG. 5 is a circuit diagram showing a configuration of a conventional edge detection circuit. This edge detection circuit is composed of two D flip-flops 1 and 2. The D flip-flop 1 receives the power supply voltage V CC as a data input D,
The edge detection target signal IN input from 0 is the clock input CK. Also, the D flip-flop 2
The non-inverted output Q of the flip-flop 1 is used as the data input D, and the clock signal CL input from the clock terminal 60 is used.
K is the clock input CK, and the non-inverted output Q is the output terminal 7
0 is output to the outside as an edge detection signal OUT. The non-inverted output Q of the D flip-flop 2 is D
It is provided as a reset input R of the flip-flop 1.

【0005】このように構成された従来のエッジ検出回
路の動作を図6に示す波形図を用いて説明する。図6に
は、クロック端子60より入力されるクロック信号CL
Kと、入力端子50より入力されるエッジ検出対象信号
INと、Dフリップフロップ1の非反転出力Q(信号S
1と表記している)と、Dフリップフロップ2の非反転
出力Qすなわちエッジ検出信号OUTとを示している。
図6において、クロック信号CLKの波形の各立ち上が
りエッジに近接して示している数字n(n=1〜20)
はクロック信号CLKのn番目のパルスの時刻を意味
し、以下の説明で用いている時刻tn(n=1〜20)
に対応している。
[0005] The operation of the conventional edge detection circuit thus configured will be described with reference to a waveform diagram shown in FIG. FIG. 6 shows a clock signal CL input from a clock terminal 60.
K, the edge detection target signal IN input from the input terminal 50, and the non-inverted output Q of the D flip-flop 1 (signal S
1) and the non-inverted output Q of the D flip-flop 2, that is, the edge detection signal OUT.
In FIG. 6, a number n (n = 1 to 20) shown near each rising edge of the waveform of the clock signal CLK.
Means the time of the n-th pulse of the clock signal CLK, and the time tn (n = 1 to 20) used in the following description
It corresponds to.

【0006】時刻t2から時刻t3までの間に到来した
エッジ検出対象信号INの立ち上がりエッジがDフリッ
プフロップ1のクロック入力CKとなるので、Dフリッ
プフロップ1の非反転出力Q、すなわち信号S1はロー
レベルからハイレベルへ移行する。
Since the rising edge of the edge detection target signal IN arriving from the time t2 to the time t3 is the clock input CK of the D flip-flop 1, the non-inverted output Q of the D flip-flop 1, that is, the signal S1 is low. Transition from level to high level.

【0007】時刻t3の直前ではDフリップフロップ2
のデータ入力D(信号S1)がハイレベルとなっている
ので、時刻t3のクロック信号CLKの立ち上がりエッ
ジでDフリップフロップ2の非反転出力Q、すなわちエ
ッジ検出信号OUTがローレベルからハイレベルへ移行
する。このとき、Dフリップフロップ2の非反転出力Q
がDフリップフロップ1にリセット入力Rとして加えら
れるので、Dフリップフロップ1の非反転出力Q、すな
わち信号S1がハイレベルからローレベルへ復帰する。
Immediately before time t3, D flip-flop 2
Is high, the non-inverted output Q of the D flip-flop 2, that is, the edge detection signal OUT shifts from low to high at the rising edge of the clock signal CLK at time t3. I do. At this time, the non-inverted output Q of the D flip-flop 2
Is applied as a reset input R to the D flip-flop 1, so that the non-inverted output Q of the D flip-flop 1, that is, the signal S1, returns from the high level to the low level.

【0008】つぎに、時刻t4のクロック信号CLKの
立ち上がりエッジでDフリップフロップ2の非反転出力
Qもハイレベルからローレベルへ復帰する。
Next, at the rising edge of the clock signal CLK at time t4, the non-inverted output Q of the D flip-flop 2 also returns from the high level to the low level.

【0009】したがって、エッジ検出対象信号INの立
ち上がりエッジを検出しクロック信号CLKの1周期を
パルス幅とするエッジ検出信号OUTを得ることができ
ている。
Therefore, it is possible to detect the rising edge of the edge detection target signal IN and obtain an edge detection signal OUT having a pulse width of one cycle of the clock signal CLK.

【0010】このエッジ検出信号OUTがエッジ検出対
象信号INのエッジに対応した信号としてデジタルシス
テムに用いられることになる。
This edge detection signal OUT is used in a digital system as a signal corresponding to the edge of the edge detection target signal IN.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】ところが、従来のエッ
ジ検出回路は、エッジ検出対象信号INのエッジにチャ
タリングがあると、エッジ検出に誤動作が発生し、その
結果デジタルシステムも誤動作に到ってしまうという問
題があった。
However, in the conventional edge detection circuit, if there is chattering at the edge of the edge detection target signal IN, a malfunction occurs in the edge detection, and as a result, the digital system also malfunctions. There was a problem.

【0012】図6に示すように、時刻t11から時刻t
12までの間にエッジ検出対象信号INの立ち上がりエ
ッジが到来し、時刻t13以後エッジ検出対象信号IN
がローレベルに戻り、再度時刻t14から時刻t15ま
での間に立ち上がりエッジが到来するというチャタリン
グが含まれた場合、エッジ検出対象信号INの各々の立
ち上がりエッジで、時刻t2から時刻t3までの間に到
来したエッジ検出対象信号INの立ち上がりエッジと同
様にしてエッジ検出が行われ、エッジ検出信号OUTが
出力されることになる。
As shown in FIG. 6, from time t11 to time t11
12, the rising edge of the edge detection target signal IN arrives, and after time t13, the edge detection target signal IN
Returns to the low level, and the chattering that the rising edge arrives again from the time t14 to the time t15 is included, and at each rising edge of the edge detection target signal IN, between the time t2 and the time t3. Edge detection is performed in the same manner as the rising edge of the incoming edge detection target signal IN, and the edge detection signal OUT is output.

【0013】このエッジ検出信号OUTをデジタルシス
テムに用いると、システムとして誤動作をまねく場合が
ある。たとえば、エッジ検出対象信号INの周波数をエ
ッジ検出信号OUTをカウントすることにより計測する
ようなシステムでは、本来より多くのカウントがなさ
れ、エッジ検出対象信号INの正確な周波数を取り込め
なくなってしまっていた。
If the edge detection signal OUT is used in a digital system, the system may malfunction. For example, in a system in which the frequency of the edge detection target signal IN is measured by counting the edge detection signal OUT, the count is increased more than originally, and the accurate frequency of the edge detection target signal IN cannot be captured. .

【0014】したがって、本発明の目的は、チャタリン
グによる誤動作を防止できるエッジ検出回路を提供する
ことである。
Accordingly, an object of the present invention is to provide an edge detection circuit which can prevent a malfunction due to chattering.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本発明の請求項1記載の
エッジ検出回路は、チャタリング検出部と、タイマ部
と、エッジ検出信号作成部とを備えている。
An edge detection circuit according to a first aspect of the present invention includes a chattering detection section, a timer section, and an edge detection signal generation section.

【0016】チャタリング検出部は、エッジ検出対象信
号の状態を検出する機能を有する。
The chattering detection section has a function of detecting the state of the edge detection target signal.

【0017】タイマ部は、チャタリング検出部の出力信
号に基づきエッジ検出対象信号が非アクティブ状態のと
きにリセットされるとともに、エッジ検出対象信号がア
クティブ状態のときにリセットが解除されて計時を行う
ことにより、エッジ検出対象信号がアクティブ状態とな
っている時間を計測し、エッジ検出対象信号が継続して
アクティブ状態となっている時間が所定時間を超えた後
出力信号をアクティブ状態とする機能を有する。
The timer section is reset based on the output signal of the chattering detection section when the edge detection target signal is in an inactive state, and is reset when the edge detection target signal is in an active state and performs time measurement. Has a function of measuring the time during which the edge detection target signal is in the active state, and setting the output signal to the active state after the time during which the edge detection target signal is continuously in the active state exceeds a predetermined time. .

【0018】エッジ検出信号作成部は、タイマ部の出力
信号がアクティブ状態となっている時間が所定時間を超
えたときにエッジ検出信号を作成する機能を有する。
The edge detection signal generation section has a function of generating an edge detection signal when the time during which the output signal of the timer section is in the active state exceeds a predetermined time.

【0019】以上の構成によれば、エッジ検出対象信号
がアクティブ状態となっている時間を計測し、その時間
が所定時間を超えたときに、タイマ部の出力信号をアク
ティブ状態とし、タイマ部の出力信号がアクティブ状態
となっている時間が所定時間を超えたときにエッジ検出
信号を作成するので、チャタリングが収まった後でエッ
ジ検出信号が作成されることになる。その結果、エッジ
検出対象信号にチャタリングが含まれている場合でもエ
ッジ検出が正確に行われるという作用があり、デジタル
システムに用いてもシステムが誤動作しないという利点
を有する。
According to the above arrangement, the time when the edge detection target signal is in the active state is measured, and when the time exceeds a predetermined time, the output signal of the timer section is set to the active state, and the timer section is activated. Since the edge detection signal is generated when the time during which the output signal is in the active state exceeds a predetermined time, the edge detection signal is generated after chattering stops. As a result, even when chattering is included in the edge detection target signal, there is an effect that edge detection is performed accurately, and there is an advantage that the system does not malfunction even when used in a digital system.

【0020】本発明の請求項2記載のエッジ検出回路
は、請求項1記載のエッジ検出回路において、チャタリ
ング検出部とエッジ検出信号作成部とが以下のように構
成されている。
According to a second aspect of the present invention, in the edge detecting circuit of the first aspect, the chattering detecting section and the edge detecting signal creating section are configured as follows.

【0021】上記のチャタリング検出部は、電源電圧を
データ入力としエッジ検出対象信号をクロック入力とす
る第1のDフリップフロップと、エッジ検出対象信号と
第1のDフリップフロップの非反転出力を入力とする2
入力否定論理積回路とからなり、2入力否定論理積回路
の出力をチャタリング検出部の出力とする。
The above-mentioned chattering detection section inputs a first D flip-flop using a power supply voltage as a data input and an edge detection target signal as a clock input, and inputs an edge detection target signal and a non-inverted output of the first D flip-flop. 2
The output of the two-input NAND circuit is an output of the chattering detection unit.

【0022】エッジ検出信号作成部は、タイマ部の出力
信号をデータ入力としクロック信号をクロック入力とす
る第2のDフリップフロップからなり、第2のDフリッ
プフロップの非反転出力を第1のDフリップフロップへ
リセット入力として供給し、第2のDフリップフロップ
の非反転出力をエッジ検出信号作成部の出力とする。
The edge detection signal generating section comprises a second D flip-flop using the output signal of the timer section as a data input and a clock signal as a clock input, and outputs the non-inverted output of the second D flip-flop to the first D flip-flop. The signal is supplied to the flip-flop as a reset input, and the non-inverted output of the second D flip-flop is used as the output of the edge detection signal generation unit.

【0023】この構成によれば、タイマ部の出力信号が
アクティブ状態となっている時間が所定時間(クロック
信号が発生するまで)継続すると、そのときに発生する
クロック信号に応答してエッジ検出信号が発生すること
になる。その他の作用は請求項1と同様である。
According to this configuration, if the time during which the output signal of the timer section is in the active state continues for a predetermined time (until a clock signal is generated), the edge detection signal is generated in response to the clock signal generated at that time. Will occur. Other operations are the same as those of the first aspect.

【0024】本発明の請求項3記載のエッジ検出回路
は、請求項2記載のエッジ検出回路において、タイマ部
が以下のように構成されている。
According to a third aspect of the present invention, in the edge detecting circuit of the second aspect, the timer unit is configured as follows.

【0025】タイマ部は、反転出力とデータ入力とを各
々接続するとともに2入力否定論理積回路の出力をそれ
ぞれリセット入力とする複数段のDフリップフロップか
らなり、クロック信号を初段のDフリップフロップのク
ロック入力とし、初段以降の各段のDフリップフロップ
の反転出力を各々次段のDフリップフロップのクロック
入力とし、最終段のDフリップフロップの非反転出力を
タイマ部の出力信号としている。
The timer section is composed of a plurality of stages of D flip-flops each having an inverted output and a data input connected to each other and each having the output of the two-input NAND circuit as a reset input, and a clock signal of the first stage D flip-flop. A clock input, inverted outputs of the D flip-flops of the first and subsequent stages are used as clock inputs of the next D flip-flop, and a non-inverted output of the last D flip-flop is used as an output signal of the timer unit.

【0026】この構成によれば、請求項2と同様の作用
を有する。
According to this configuration, the same operation as the second aspect is provided.

【0027】本発明の請求項4記載のエッジ検出回路
は、チャタリング検出部と、タイマ部と、エッジ検出信
号作成部とを備えている。
An edge detection circuit according to a fourth aspect of the present invention includes a chattering detection section, a timer section, and an edge detection signal generation section.

【0028】チャタリング検出部は、エッジ検出対象信
号の状態を検出する機能を有する。
The chattering detector has a function of detecting the state of the edge detection target signal.

【0029】タイマ部は、チャタリング検出部の出力信
号に基づきエッジ検出対象信号が非アクティブ状態のと
きにリセットされるとともに、エッジ検出対象信号がア
クティブ状態のときにリセットが解除されて計時を行う
ことにより、エッジ検出対象信号がアクティブ状態とな
っている時間を計測し、エッジ検出対象信号が継続して
アクティブ状態となっている時間が所定時間を超えた後
出力信号をアクティブ状態とする機能を有する。
The timer section is reset based on the output signal of the chattering detection section when the edge detection target signal is in an inactive state, and is reset when the edge detection target signal is in an active state and performs time measurement. Has a function of measuring the time during which the edge detection target signal is in the active state, and setting the output signal to the active state after the time during which the edge detection target signal is continuously in the active state exceeds a predetermined time. .

【0030】エッジ検出信号作成部は、タイマ部の出力
信号がアクティブ状態となったときにエッジ検出信号を
作成する機能を有する。
The edge detection signal generation section has a function of generating an edge detection signal when the output signal of the timer section becomes active.

【0031】以上の構成によれば、エッジ検出対象信号
がアクティブ状態となっている時間を計測し、その時間
が所定時間を超えたときに、タイマ部の出力信号をアク
ティブ状態とし、タイマ部の出力信号がアクティブ状態
となったときにエッジ検出信号を作成するので、チャタ
リングが収まった後でエッジ検出信号が作成されること
になる。その結果、エッジ検出対象信号にチャタリング
が含まれている場合でもエッジ検出が正確に行われると
いう作用があり、デジタルシステムに用いてもシステム
が誤動作しないという利点を有する。
According to the above arrangement, the time during which the edge detection target signal is in the active state is measured, and when the time exceeds a predetermined time, the output signal of the timer section is set to the active state, and the timer section is activated. Since the edge detection signal is generated when the output signal becomes active, the edge detection signal is generated after the chattering stops. As a result, even when chattering is included in the edge detection target signal, there is an effect that edge detection is performed accurately, and there is an advantage that the system does not malfunction even when used in a digital system.

【0032】本発明の請求項5記載のエッジ検出回路
は、請求項4記載のエッジ検出回路において、チャタリ
ング検出部とエッジ検出信号作成部とが以下のように構
成されている。
According to a fifth aspect of the present invention, in the edge detecting circuit of the fourth aspect, the chattering detecting section and the edge detecting signal creating section are configured as follows.

【0033】上記のチャタリング検出部は、電源電圧を
データ入力としエッジ検出対象信号をクロック入力とす
る第1のDフリップフロップと、エッジ検出対象信号と
第1のDフリップフロップの非反転出力を入力とする2
入力否定論理積回路とからなり、2入力否定論理積回路
の出力をチャタリング検出部の出力とする。
The above-mentioned chattering detection section inputs a first D flip-flop using a power supply voltage as a data input and an edge detection target signal as a clock input, and inputs an edge detection target signal and a non-inverted output of the first D flip-flop. 2
The output of the two-input NAND circuit is an output of the chattering detection unit.

【0034】エッジ検出信号作成部は、電源電圧をデー
タ入力としタイマ部の出力信号をクロック入力とする第
2のDフリップフロップと、第2のDフリップフロップ
の非反転出力をデータ入力としクロック信号をクロック
入力とする第3のDフリップフロップとからなり、第3
のDフリップフロップの非反転出力を第1および第2の
Dフリップフロップへリセット入力として供給し、第2
のDフリップフロップの非反転出力をエッジ検出信号作
成部の出力とする。
The edge detection signal generating section includes a second D flip-flop having a power supply voltage as a data input and an output signal of a timer section as a clock input, and a non-inverted output of the second D flip-flop as a data input and a clock signal. And a third D flip-flop having a clock input of
Is supplied as a reset input to the first and second D flip-flops,
Is the output of the edge detection signal generation unit.

【0035】この構成によれば、タイマ部の出力信号が
アクティブ状態となった直後にエッジ検出信号が発生す
ることになる。その他の作用は請求項4と同様である。
According to this configuration, the edge detection signal is generated immediately after the output signal of the timer section becomes active. Other operations are the same as those of the fourth aspect.

【0036】本発明の請求項6記載のエッジ検出回路
は、請求項5記載のエッジ検出回路において、タイマ部
が以下のように構成されている。
According to a sixth aspect of the present invention, in the edge detection circuit of the fifth aspect, the timer section is configured as follows.

【0037】タイマ部は、反転出力とデータ入力とを各
々接続するとともに2入力否定論理積回路の出力をそれ
ぞれリセット入力とする複数段のDフリップフロップか
らなり、クロック信号を初段のDフリップフロップのク
ロック入力とし、初段以降の各段のDフリップフロップ
の反転出力を各々次段のDフリップフロップのクロック
入力とし、最終段のDフリップフロップの非反転出力を
タイマ部の出力信号としている。
The timer section is composed of a plurality of stages of D flip-flops each of which has an inverted output and a data input connected to each other and has the reset input of the output of the two-input NAND circuit. A clock input, inverted outputs of the D flip-flops of the first and subsequent stages are used as clock inputs of the next D flip-flop, and a non-inverted output of the last D flip-flop is used as an output signal of the timer unit.

【0038】この構成によれば、請求項5と同様の作用
を有する。
According to this configuration, the same operation as that of the fifth aspect is obtained.

【0039】[0039]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0040】〔第1の実施の形態〕図1は、本発明の第
1の実施の形態に係るエッジ検出回路の構成を示す回路
図である。このエッジ検出回路は、チャタリング検出部
100と、タイマ部200とエッジ検出信号作成部30
0とで構成されている。
[First Embodiment] FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an edge detection circuit according to a first embodiment of the present invention. The edge detection circuit includes a chattering detection unit 100, a timer unit 200, and an edge detection signal generation unit 30.
0.

【0041】チャタリング検出部100は、エッジ検出
対象信号INの状態を検出する機能を有する。
The chattering detection section 100 has a function of detecting the state of the edge detection target signal IN.

【0042】タイマ部200は、チャタリング検出部1
00の出力信号に基づきエッジ検出対象信号INが非ア
クティブ状態(例えば、ローレベル)のときにリセット
されるとともに、エッジ検出対象信号INがアクティブ
状態(例えば、ハイレベル)のときにリセットが解除さ
れて計時を行うことにより、エッジ検出対象信号INが
アクティブ状態となっている時間を計測し、エッジ検出
対象信号INが継続してアクティブ状態となっている時
間が所定時間を超えた後出力信号をアクティブ状態とす
る機能を有する。
The timer unit 200 includes the chattering detection unit 1
The reset is released when the edge detection target signal IN is in an inactive state (for example, low level) based on the output signal of 00 and the reset is released when the edge detection target signal IN is in an active state (for example, high level). By measuring the time, the time during which the edge detection target signal IN is in the active state is measured, and after the time during which the edge detection target signal IN is continuously in the active state exceeds a predetermined time, the output signal is output. It has a function to activate.

【0043】エッジ検出信号作成部300は、タイマ部
200の出力信号がアクティブ状態となっている時間が
所定時間を超えたときにエッジ検出信号OUTを作成す
る。
The edge detection signal generating section 300 generates the edge detection signal OUT when the time during which the output signal of the timer section 200 is in the active state exceeds a predetermined time.

【0044】ここで、チャタリング検出部100と、タ
イマ部200とエッジ検出信号作成部300の各構成を
具体的に説明する。
Here, each configuration of the chattering detecting section 100, the timer section 200, and the edge detection signal creating section 300 will be specifically described.

【0045】上記のチャタリング検出部100は、電源
電圧VCCをデータ入力Dとし入力端子50より入力され
るエッジ検出対象信号INをクロック入力CKとする第
1のDフリップフロップ1と、エッジ検出対象信号IN
と第1のDフリップフロップ1の非反転出力Qを入力と
する2入力否定論理積回路40とからなり、2入力否定
論理積回路40の出力をチャタリング検出部100の出
力とする。
The above-mentioned chattering detection unit 100 comprises a first D flip-flop 1 having a power supply voltage V CC as a data input D and an edge detection target signal IN inputted from an input terminal 50 as a clock input CK, Signal IN
And a two-input NAND circuit 40 that receives the non-inverted output Q of the first D flip-flop 1 as an input. The output of the two-input NAND circuit 40 is the output of the chattering detection unit 100.

【0046】エッジ検出信号作成部300は、タイマ部
200の出力信号をデータ入力Dとし、クロック端子6
0より入力されるクロック信号CLKをクロック入力C
Kとする第2のDフリップフロップ2からなり、第2の
Dフリップフロップ2の非反転出力Qを第1のDフリッ
プフロップ1へリセット入力Rとして供給し、第2のD
フリップフロップ2の非反転出力Qをエッジ検出信号作
成部300の出力とし、出力端子70へ供給する。
The edge detection signal generator 300 receives the output signal of the timer 200 as a data input D,
0 from a clock signal C
And a non-inverted output Q of the second D flip-flop 2 is supplied to the first D flip-flop 1 as a reset input R.
The non-inverted output Q of the flip-flop 2 is used as an output of the edge detection signal generation unit 300 and supplied to the output terminal 70.

【0047】タイマ部200は、反転出力/Q(/は反
転を意味する)とデータ入力Dとを各々接続するととも
に2入力否定論理積回路40の出力をそれぞれリセット
入力Rとする複数段(2以上)のDフリップフロップ1
0,20,30からなり、クロック信号CLKを初段の
Dフリップフロップ10のクロック入力CKとし、初段
以降の各段のDフリップフロップ10,20の反転出力
/Qを各々次段のDフリップフロップ20,30のクロ
ック入力CKとし、最終段のDフリップフロップ30の
非反転出力Qをタイマ部200の出力信号としている。
上記のタイマ部200はクロック信号CLKの個数を計
数するカウンタとして機能している。
The timer unit 200 connects the inverted output / Q (/ means inverted) to the data input D, and sets the output of the two-input NAND circuit 40 to the reset input R at a plurality of stages (2 D flip-flop 1)
0, 20, and 30, the clock signal CLK is used as the clock input CK of the D flip-flop 10 of the first stage, and the inverted output / Q of each of the D flip-flops 10 and 20 of the subsequent stages is used as the D flip-flop 20 of the next stage. , 30 and the non-inverted output Q of the final stage D flip-flop 30 is used as the output signal of the timer unit 200.
The timer unit 200 functions as a counter for counting the number of clock signals CLK.

【0048】以上のように構成された本発明の第1の実
施の形態のエッジ検出回路の動作を図2の波形図を用い
て説明する。
The operation of the edge detection circuit according to the first embodiment of the present invention configured as described above will be described with reference to the waveform diagram of FIG.

【0049】なお、図2では図1の回路構成図における
タイマ部200を構成するカウンタとして説明を簡単に
するためDフリップフロップ10とDフリップフロップ
20のみとしている。
In FIG. 2, only the D flip-flop 10 and the D flip-flop 20 are used as counters constituting the timer unit 200 in the circuit diagram of FIG.

【0050】図2には、クロック端子60より入力され
るクロック信号CLKと、入力端子50より入力される
エッジ検出対象信号INと、Dフリップフロップ1の非
反転出力Q(信号S1と表記している)と、2入力否定
論理積回路40の出力信号(信号S40と表記してい
る)と、Dフリップフロップ10,20の非反転出力Q
(それぞれ信号S10,S20と表記している)と、D
フリップフロップ2の非反転出力Qすなわちエッジ検出
信号OUTとを示している。図2において、クロック信
号CLKの波形の各立ち上がりエッジに近接して示して
いる数字n(n=1〜20)はクロック信号CLKのn
番目のパルスの時刻を意味し、以下の説明で用いている
時刻tn(n=1〜20)に対応している。
FIG. 2 shows a clock signal CLK input from the clock terminal 60, an edge detection target signal IN input from the input terminal 50, and a non-inverted output Q of the D flip-flop 1 (signal S1). ), The output signal of the two-input NAND circuit 40 (denoted as a signal S40), and the non-inverted output Q of the D flip-flops 10 and 20.
(Denoted as signals S10 and S20, respectively) and D
3 shows a non-inverted output Q of the flip-flop 2, that is, an edge detection signal OUT. In FIG. 2, numerals n (n = 1 to 20) shown near each rising edge of the waveform of the clock signal CLK indicate n of the clock signal CLK.
It means the time of the th pulse and corresponds to the time tn (n = 1 to 20) used in the following description.

【0051】まず、チャタリングがない場合の動作を説
明する。
First, the operation when there is no chattering will be described.

【0052】時刻t2,t3間にエッジ検出対象信号I
Nの立ち上がりが到来すると、Dフリップフロップ1の
非反転出力Q(信号S1)はローレベルからハイレベル
へ移行するとともに2入力否定論理積回路40の出力は
ハイレベルからローレベルに移行する。するとタイマ部
200のDフリップフロップ10、Dフリップフロップ
20はリセットが解除される。
Between the time t2 and the time t3, the edge detection target signal I
When the rising edge of N arrives, the non-inverted output Q (signal S1) of the D flip-flop 1 shifts from a low level to a high level, and the output of the two-input NAND circuit 40 shifts from a high level to a low level. Then, the reset of the D flip-flops 10 and 20 of the timer unit 200 is released.

【0053】その後時刻t3でDフリップフロップ10
の非反転出力Qが、時刻t4でDフリップフロップ20
の非反転出力Qがローレベルからハイレベルに移行す
る。
Thereafter, at time t3, the D flip-flop 10
Is output from the D flip-flop 20 at time t4.
Changes from the low level to the high level.

【0054】つぎに、時刻t4でタイマ部200の出力
すなわちDフリップフロップ20の非反転出力Qがハイ
レベルとなっているので、時刻t5ではエッジ検出信号
作成部300のDフリップフロップ2の非反転出力Qが
ローレベルからハイレベルへ移行するとともに、チャタ
リング検出部100のDフリップフロップ1がリセット
され、2入力否定論理積回路40を介してタイマ部20
0もリセットされる。
Next, at time t4, the output of the timer unit 200, that is, the non-inverted output Q of the D flip-flop 20 is at a high level. When the output Q changes from low level to high level, the D flip-flop 1 of the chattering detection unit 100 is reset, and the timer unit 20 is output via the two-input NAND circuit 40.
0 is also reset.

【0055】時刻t5でタイマ部200の出力すなわち
Dフリップフロップ20の非反転出力Qはローレベルと
なっているので、時刻t6ではエッジ検出信号作成部3
00のDフリップフロップ2の非反転出力Qがハイレベ
ルからローレベルへ戻ることになる。
At time t5, the output of the timer unit 200, that is, the non-inverted output Q of the D flip-flop 20 is at a low level.
The non-inverted output Q of the D flip-flop 2 of 00 returns from the high level to the low level.

【0056】このように、時刻t5から時刻t6の期
間、エッジ検出信号OUTがハイレベルとなって出力端
子70より出力されることになる。すなわち、エッジ検
出信号OUTは、タイマ部200が出力信号を発生した
後に発生するクロック信号CLKに応答して発生するこ
とになる。
As described above, during the period from time t5 to time t6, the edge detection signal OUT is at the high level and is output from the output terminal 70. That is, the edge detection signal OUT is generated in response to the clock signal CLK generated after the timer unit 200 generates the output signal.

【0057】つぎに、チャタリングがある場合の動作を
説明する。
Next, the operation when chattering is present will be described.

【0058】時刻t11,t12間にエッジ検出対象信
号INのチャタリングエッジである立ち上がりが到来す
ると、Dフリップフロップ1の非反転出力Q(信号S
1)はローレベルからハイレベルへ移行するとともに2
入力否定論理積回路40の出力はハイレベルからローレ
ベルに移行する。するとタイマ部200のDフリップフ
ロップ10、Dフリップフロップ20はリセットが解除
される。
When the rising edge, which is the chattering edge of the edge detection target signal IN, arrives between times t11 and t12, the non-inverted output Q of the D flip-flop 1 (signal S)
1) changes from low level to high level and 2
The output of the input NAND circuit 40 shifts from a high level to a low level. Then, the reset of the D flip-flops 10 and 20 of the timer unit 200 is released.

【0059】その後時刻t12でDフリップフロップ1
0の非反転出力Qが、時刻t13でDフリップフロップ
20の非反転出力Qがローレベルからハイレベルに移行
する。
Thereafter, at time t12, D flip-flop 1
The non-inverted output Q of 0 shifts from the low level to the high level at time t13.

【0060】しかし、時刻t13の後にエッジ検出対象
信号INにローレベルレベルが到来するので、2入力否
定論理積回路40の出力はローレベルからハイレベルに
戻り、Dフリップフロップ20の非反転出力Qはハイレ
ベルからローレベルに復帰する。
However, since the low-level signal arrives at the edge detection target signal IN after the time t13, the output of the two-input NAND circuit 40 returns from the low level to the high level, and the non-inverted output Q of the D flip-flop 20 is output. Returns from the high level to the low level.

【0061】時刻t14,時刻t15間で再度エッジ検
出対象信号INの立ち上がりが到来すると、2入力否定
論理積回路ゲート40の出力が再度ハイレベルからロー
レベルに移行し、Dフリップフロップ10、Dフリップ
フロップ20のリセットが再び解除される。
When the edge detection target signal IN rises again between the time t14 and the time t15, the output of the two-input NAND circuit gate 40 shifts from the high level to the low level again, and the D flip-flop 10 and the D flip-flop The reset of the loop 20 is released again.

【0062】その後時刻t15、時刻t16でDフリッ
プフロップ10、Dフリップフロップ20の非反転出力
Qが各々ローレベルからハイレベルへ移行する。
Thereafter, at time t15 and time t16, the non-inverted output Q of each of the D flip-flops 10 and 20 shifts from a low level to a high level.

【0063】つぎに、時刻t16でタイマ部200の出
力すなわちDフリップフロップ20の非反転出力Qがハ
イレベルとなっているので、時刻t17ではエッジ検出
信号作成部300のDフリップフロップ2の非反転出力
Qがローレベルからハイレベルへ移行するとともに、チ
ャタリング検出部100のDフリップフロップ1がリセ
ットされ、2入力否定論理積回路40を介してタイマ部
200もリセットされる。
Next, at time t16, the output of the timer unit 200, that is, the non-inverted output Q of the D flip-flop 20 is at a high level. The output Q changes from low level to high level, the D flip-flop 1 of the chattering detection unit 100 is reset, and the timer unit 200 is also reset via the two-input NAND circuit 40.

【0064】時刻t17でタイマ部200の出力すなわ
ちDフリップフロップ20の非反転出力Qはローレベル
となっているので、時刻t18ではエッジ検出信号作成
部300のDフリップフロップ2の非反転出力Qがハイ
レベルからローレベルへ戻ることになる。
At time t17, the output of the timer unit 200, that is, the non-inverted output Q of the D flip-flop 20 is at a low level, so that at time t18, the non-inverted output Q of the D flip-flop 2 of the edge detection signal generating unit 300 becomes It will return from high level to low level.

【0065】このように、時刻t17から時刻t18の
期間、エッジ検出信号OUTがハイレベルとなって出力
端子70より出力されることになる。すなわち、エッジ
検出信号OUTは、タイマ部200が出力信号を発生し
た後に発生するクロック信号CLKに応答して発生する
ことになる。
As described above, during the period from time t17 to time t18, the edge detection signal OUT is at the high level and is output from the output terminal 70. That is, the edge detection signal OUT is generated in response to the clock signal CLK generated after the timer unit 200 generates the output signal.

【0066】以上の説明のように、本発明の第1の実施
の形態のエッジ検出回路におけるエッジ検出信号OUT
はタイマ部200での時間設定の分だけ出力されるタイ
ミングが遅れることになるが、デジタルシステムにとっ
てこの遅延が問題になることはない。非同期で入力され
る信号INをクロック信号CLKでデジタルシステムに
取り込む場合、いったん取り込んだ後はすべて同期化さ
れるからである。
As described above, the edge detection signal OUT in the edge detection circuit according to the first embodiment of the present invention.
Is delayed by the time set by the timer unit 200, but this delay does not pose a problem for the digital system. This is because, when the signal IN inputted asynchronously is taken into the digital system by the clock signal CLK, once it is taken in, all are synchronized.

【0067】なお、この実施の形態の場合、タイマ部2
00の出力信号がアクティブ状態となっている時間が所
定時間(クロック信号CLKが発生するまで)継続する
と、そのときに発生するクロック信号CLKに応答して
エッジ検出信号が発生することになる。
In this embodiment, the timer unit 2
When the time when the output signal 00 is in the active state continues for a predetermined time (until the clock signal CLK is generated), an edge detection signal is generated in response to the clock signal CLK generated at that time.

【0068】この実施の形態のエッジ検出回路によれ
ば、エッジ検出対象信号INがアクティブ状態となって
いる時間を計測し、その時間が所定時間を超えたとき
に、タイマ部200の出力信号をアクティブ状態とし、
タイマ部200の出力信号がアクティブ状態となってい
る時間がさらに所定時間を超えたときにエッジ検出信号
OUTを作成するので、チャタリングが収まった後でエ
ッジ検出信号が作成されることになる。その結果、エッ
ジ検出対象信号INにチャタリングが含まれている場合
でもエッジ検出が正確に行われることになり、デジタル
システムに用いてもシステムが誤動作しないという利点
を有する。
According to the edge detection circuit of this embodiment, the time during which the edge detection target signal IN is in the active state is measured, and when the time exceeds a predetermined time, the output signal of the timer unit 200 is output. Active state,
Since the edge detection signal OUT is generated when the time during which the output signal of the timer unit 200 is in the active state further exceeds a predetermined time, the edge detection signal is generated after the chattering stops. As a result, even when chattering is included in the edge detection target signal IN, edge detection is accurately performed, and there is an advantage that the system does not malfunction even when used in a digital system.

【0069】〔第2の実施の形態〕図3は、本発明の第
2の実施の形態に係るエッジ検出回路の構成を示す回路
図である。このエッジ検出回路では、チャタリング検出
部100と、タイマ部200とは図1の実施の形態と同
一であり、エッジ検出信号作成部310だけが異なって
いる。
[Second Embodiment] FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of an edge detection circuit according to a second embodiment of the present invention. In this edge detection circuit, the chattering detection section 100 and the timer section 200 are the same as those in the embodiment of FIG. 1, and only the edge detection signal creation section 310 is different.

【0070】すなわち、このエッジ検出信号作成部31
0は、タイマ部200の出力信号がアクティブ状態とな
ったときにエッジ検出信号OUTを作成する。
That is, the edge detection signal creating section 31
0 generates the edge detection signal OUT when the output signal of the timer unit 200 is activated.

【0071】具体的に説明すると、電源電圧VCCをデー
タ入力Dとしタイマ部200の出力信号をクロック入力
CKとする第2のDフリップフロップ2Aと、第2のD
フリップフロップ2Aの非反転出力Qをデータ入力Dと
しクロック信号CLKをクロック入力CKとする第3の
Dフリップフロップ3Aとからなり、第3のDフリップ
フロップ3Aの非反転出力Qを第1および第2のDフリ
ップフロップ1,2Aへリセット入力Rとして供給し、
第2のDフリップフロップ2Aの非反転出力Qをエッジ
検出信号作成部310の出力とする。
More specifically, a second D flip-flop 2A having the power supply voltage V CC as the data input D and the output signal of the timer section 200 as the clock input CK,
A third D flip-flop 3A having a non-inverting output Q of the flip-flop 2A as a data input D and a clock signal CLK as a clock input CK, and a non-inverting output Q of the third D flip-flop 3A 2 to the D flip-flops 1 and 2A as a reset input R,
The non-inverted output Q of the second D flip-flop 2A is used as the output of the edge detection signal creation unit 310.

【0072】このエッジ検出信号作成部310はタイマ
部200の出力でトリガされた出力がエッジ検出出力信
号OUTとなるので、タイマ部200が出力信号を発生
した直後にDフリップフロップ2Aがエッジ検出信号が
発生することになり、図1の実施の形態のエッジ検出信
号OUTよりクロック信号CLKの1周期分だけ早く出
力されることになる。
Since the output triggered by the output of the timer unit 200 becomes the edge detection output signal OUT, the D flip-flop 2A outputs the edge detection signal immediately after the timer unit 200 generates the output signal. Occurs, and is output one cycle of the clock signal CLK earlier than the edge detection signal OUT in the embodiment of FIG.

【0073】つぎのクロック信号CLKでフリップフロ
ップ3Aの出力信号によりフリップフロップ2Aを含め
て、チャタリング検出部100のDフリップフロップ1
がリセットされ、エッジ検出信号作成部310以外は図
1の実施の形態と同じ動作となる。
At the next clock signal CLK, the D flip-flop 1 of the chattering detecting section 100 including the flip-flop 2A is output by the output signal of the flip-flop 3A.
Are reset, and the operation is the same as that of the embodiment of FIG.

【0074】図4に図3のエッジ検出回路の各部の波形
図を示す。図4には、クロック端子60より入力される
クロック信号CLKと、入力端子50より入力されるエ
ッジ検出対象信号INと、Dフリップフロップ1の非反
転出力Q(信号S1と表記している)と、2入力否定論
理積回路40の出力信号(信号S40と表記している)
と、Dフリップフロップ10,20の非反転出力Q(そ
れぞれ信号S10,S20と表記している)と、Dフリ
ップフロップ2Aの非反転出力Qすなわちエッジ検出信
号OUTと、Dフリップフロップ3Aの非反転出力Qと
を示している。図4において、クロック信号CLKの波
形の各立ち上がりエッジに近接して示している数字n
(n=1〜20)はクロック信号CLKのn番目のパル
スの時刻を意味し、以下の説明で用いている時刻tn
(n=1〜20)に対応している。
FIG. 4 shows a waveform diagram of each part of the edge detection circuit of FIG. FIG. 4 shows a clock signal CLK input from the clock terminal 60, an edge detection target signal IN input from the input terminal 50, and a non-inverted output Q (denoted as a signal S1) of the D flip-flop 1. Output signal of the two-input NAND circuit 40 (denoted as signal S40)
, Non-inverted outputs Q of D flip-flops 10 and 20 (denoted as signals S10 and S20, respectively), non-inverted output Q of D flip-flop 2A, that is, edge detection signal OUT, and non-inverted output of D flip-flop 3A. The output Q is shown. In FIG. 4, a number n shown near each rising edge of the waveform of the clock signal CLK.
(N = 1 to 20) means the time of the n-th pulse of the clock signal CLK, and the time tn used in the following description.
(N = 1 to 20).

【0075】この実施の形態によれば、エッジ検出対象
信号がアクティブ状態となっている時間を計測し、その
時間が所定時間を超えたときに、タイマ部の出力信号を
アクティブ状態とし、タイマ部の出力信号がアクティブ
状態となったときにエッジ検出信号を作成するので、チ
ャタリングが収まった後でエッジ検出信号が作成される
ことになる。その結果、エッジ検出対象信号にチャタリ
ングが含まれている場合でもエッジ検出が正確に行われ
ることになり、デジタルシステムに用いてもシステムが
誤動作しないという利点を有する。この実施の形態のエ
ッジ検出回路の場合、エッジ検出信号OUTが第1の実
施の形態よりも1クロック分早く出力されることになる
ので、タイマ回路200の設定時間が1クロック分短く
なる。
According to this embodiment, the time during which the edge detection target signal is in the active state is measured, and when the time exceeds a predetermined time, the output signal of the timer section is set to the active state, and the timer section is activated. Since the edge detection signal is generated when the output signal becomes active, the edge detection signal is generated after the chattering stops. As a result, even when chattering is included in the edge detection target signal, edge detection is accurately performed, and there is an advantage that the system does not malfunction even when used in a digital system. In the case of the edge detection circuit of this embodiment, since the edge detection signal OUT is output one clock earlier than in the first embodiment, the set time of the timer circuit 200 is shortened by one clock.

【0076】[0076]

【発明の効果】上述したように本発明のエッジ検出回路
によれば、チャタリングを含んだエッジ検出対象信号に
おいてもタイマ部での設定時間を適切に設定することに
より安定なエッジ検出を行うことができ、デジタルシス
テムの誤動作を回避できるエッジ検出信号を得ることが
可能となる。
As described above, according to the edge detection circuit of the present invention, stable edge detection can be performed even for an edge detection target signal including chattering by appropriately setting the set time in the timer section. It is possible to obtain an edge detection signal that can avoid a malfunction of the digital system.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態のエッジ検出回路の
構成を示す回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an edge detection circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1のエッジ検出回路の各部の波形図である。FIG. 2 is a waveform chart of each part of the edge detection circuit of FIG. 1;

【図3】本発明の第2の実施の形態のエッジ検出回路の
構成を示す回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of an edge detection circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図4】図3のエッジ検出回路の各部の波形図である。FIG. 4 is a waveform chart of each part of the edge detection circuit of FIG. 3;

【図5】従来のエッジ検出回路の構成を示す回路図であ
る。
FIG. 5 is a circuit diagram showing a configuration of a conventional edge detection circuit.

【図6】図5のエッジ検出回路の各部の波形図である。FIG. 6 is a waveform chart of each part of the edge detection circuit of FIG. 5;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,2,2A,3A Dフリップフロップ 10,20,30 Dフリップフロップ 40 2入力否定論理積回路 50 入力端子 60 クロック端子 70 出力端子 100 チャタリング検出部 200 タイマ部 300,310 エッジ検出信号作成部 1, 2, 2A, 3A D flip-flop 10, 20, 30 D flip-flop 40 2-input NAND circuit 50 input terminal 60 clock terminal 70 output terminal 100 chattering detection unit 200 timer unit 300, 310 edge detection signal generation unit

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 エッジ検出対象信号の状態を検出するチ
ャタリング検出部と、 前記チャタリング検出部の出力信号に基づき前記エッジ
検出対象信号が非アクティブ状態のときにリセットされ
るとともに、前記エッジ検出対象信号がアクティブ状態
のときにリセットが解除されて計時を行うことにより、
前記エッジ検出対象信号がアクティブ状態となっている
時間を計測し、前記エッジ検出対象信号が継続してアク
ティブ状態となっている時間が所定時間を超えた後出力
信号をアクティブ状態とするタイマ部と、 前記タイマ部の出力信号がアクティブ状態となっている
時間が所定時間を超えたときにエッジ検出信号を作成す
るエッジ検出信号作成部とを備えたエッジ検出回路。
1. A chattering detection unit for detecting a state of an edge detection target signal, wherein the edge detection target signal is reset when the edge detection target signal is in an inactive state based on an output signal of the chattering detection unit, and the edge detection target signal is reset. The reset is released when is
A timer unit that measures the time during which the edge detection target signal is in the active state, and sets the output signal to the active state after the time during which the edge detection target signal is continuously in the active state exceeds a predetermined time. An edge detection signal generation unit that generates an edge detection signal when a time during which the output signal of the timer unit is in an active state exceeds a predetermined time.
【請求項2】 チャタリング検出部は、電源電圧をデー
タ入力としエッジ検出対象信号をクロック入力とする第
1のDフリップフロップと、前記エッジ検出対象信号と
前記第1のDフリップフロップの非反転出力を入力とす
る2入力否定論理積回路とからなり、前記2入力否定論
理積回路の出力を前記チャタリング検出部の出力とし、 前記エッジ検出信号作成部は、タイマ部の出力信号をデ
ータ入力としクロック信号をクロック入力とする第2の
Dフリップフロップからなり、前記第2のDフリップフ
ロップの非反転出力を前記第1のDフリップフロップへ
リセット入力として供給し、前記第2のDフリップフロ
ップの非反転出力を前記エッジ検出信号作成部の出力と
した請求項1記載のエッジ検出回路。
2. A first D flip-flop which receives a power supply voltage as a data input and an edge detection target signal as a clock input, and a non-inverted output of the edge detection target signal and the first D flip-flop. , And an output of the chattering detection unit, an output of the timer detection unit is used as a data input, and a clock is output. A second D flip-flop which receives a signal as a clock input, and supplies a non-inverted output of the second D flip-flop as a reset input to the first D flip-flop; 2. The edge detection circuit according to claim 1, wherein the inverted output is an output of the edge detection signal generation unit.
【請求項3】 タイマ部は、反転出力とデータ入力とを
各々接続するとともに2入力否定論理積回路の出力をそ
れぞれリセット入力とする複数段のDフリップフロップ
からなり、クロック信号を初段のDフリップフロップの
クロック入力とし、初段以降の各段のDフリップフロッ
プの反転出力を各々次段のDフリップフロップのクロッ
ク入力とし、最終段のDフリップフロップの非反転出力
を前記タイマ部の出力信号とした請求項2記載のエッジ
検出回路。
3. The timer section comprises a plurality of stages of D flip-flops each connecting an inverted output and a data input and using the output of a two-input NAND circuit as a reset input. Clock input, the inverted output of the D flip-flop of each stage after the first stage as the clock input of the D flip-flop of the next stage, and the non-inverted output of the D flip-flop of the last stage as the output signal of the timer unit. The edge detection circuit according to claim 2.
【請求項4】 エッジ検出対象信号の状態を検出するチ
ャタリング検出部と、 前記チャタリング検出部の出力信号に基づき前記エッジ
検出対象信号が非アクティブ状態のときにリセットされ
るとともに、前記エッジ検出対象信号がアクティブ状態
のときにリセットが解除されて計時を行うことにより、
前記エッジ検出対象信号がアクティブ状態となっている
時間を計測し、前記エッジ検出対象信号が継続してアク
ティブ状態となっている時間が所定時間を超えた後出力
信号をアクティブ状態とするタイマ部と、 前記タイマ部の出力信号がアクティブ状態となったとき
にエッジ検出信号を作成するエッジ検出信号作成部とを
備えたエッジ検出回路。
4. A chattering detection unit for detecting a state of an edge detection target signal, wherein the edge detection target signal is reset when the edge detection target signal is in an inactive state based on an output signal of the chattering detection unit, and the edge detection target signal is reset. The reset is released when is
A timer unit that measures the time during which the edge detection target signal is in the active state, and sets the output signal to the active state after the time during which the edge detection target signal is continuously in the active state exceeds a predetermined time. An edge detection signal generation unit that generates an edge detection signal when an output signal of the timer unit is activated.
【請求項5】 チャタリング検出部は、電源電圧をデー
タ入力としエッジ検出対象信号をクロック入力とする第
1のDフリップフロップと、前記エッジ検出対象信号と
前記第1のDフリップフロップの非反転出力を入力とす
る2入力否定論理積回路とからなり、前記2入力否定論
理積回路の出力を前記チャタリング検出部の出力とし、 前記エッジ検出信号作成部は、電源電圧をデータ入力と
しタイマ部の出力信号をクロック入力とする第2のDフ
リップフロップと、前記第2のDフリップフロップの非
反転出力をデータ入力としクロック信号をクロック入力
とする第3のDフリップフロップとからなり、前記第3
のDフリップフロップの非反転出力を前記第1および第
2のDフリップフロップへリセット入力として供給し、
前記第2のDフリップフロップの非反転出力を前記エッ
ジ検出信号作成部の出力とした請求項4記載のエッジ検
出回路。
5. A chattering detecting section, comprising: a first D flip-flop having a power supply voltage as a data input and an edge detection target signal as a clock input; and a non-inverting output of the edge detection target signal and the first D flip-flop. , And an output of the chattering detection section, an output of the timer detection section, a power supply voltage as a data input, and an output of the timer section. A second D flip-flop having a signal as a clock input, and a third D flip-flop having a non-inverted output of the second D flip-flop as a data input and a clock signal as a clock input;
Supplying the non-inverted output of the D flip-flop as a reset input to the first and second D flip-flops,
5. The edge detection circuit according to claim 4, wherein a non-inverted output of said second D flip-flop is used as an output of said edge detection signal generation section.
【請求項6】 タイマ部は、反転出力とデータ入力とを
各々接続するとともに2入力否定論理積回路の出力をそ
れぞれリセット入力とする複数段のDフリップフロップ
からなり、クロック信号を初段のDフリップフロップの
クロック入力とし、初段以降の各段のDフリップフロッ
プの反転出力を各々次段のDフリップフロップのクロッ
ク入力とし、最終段のDフリップフロップの非反転出力
を前記タイマ部の出力信号とした請求項5記載のエッジ
検出回路。
6. The timer section includes a plurality of stages of D flip-flops each connecting an inverted output and a data input, and using the output of a two-input NAND circuit as a reset input. Clock input, the inverted output of the D flip-flop of each stage after the first stage as the clock input of the D flip-flop of the next stage, and the non-inverted output of the D flip-flop of the last stage as the output signal of the timer unit. The edge detection circuit according to claim 5.
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