JP2002063225A - Method for verifying electronic circuit, design method, devices for these methods, and recording medium - Google Patents

Method for verifying electronic circuit, design method, devices for these methods, and recording medium

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JP2002063225A
JP2002063225A JP2000247657A JP2000247657A JP2002063225A JP 2002063225 A JP2002063225 A JP 2002063225A JP 2000247657 A JP2000247657 A JP 2000247657A JP 2000247657 A JP2000247657 A JP 2000247657A JP 2002063225 A JP2002063225 A JP 2002063225A
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Japan
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signal line
component
data
noise suppression
electronic
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Kenji Araki
健次 荒木
Ayao Yokoyama
礼夫 横山
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Sony Corp
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Sony Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To automatically verify whether the dispose position of a noise coping part for reducing reflected noise is suitable or not. SOLUTION: Necessary data are extracted from the design data of an electronic circuit, and whether the data include a noise coping part or not is checked. When the data include the noise coping part (e.g. dumping resistor Rd), a maximum allowable distance Lmax to be a maximum signal line distance between the input position of a pulse signal and its reflecting position is calculated so that reflection delay time Tpd required when the pulse signal inputted to a signal line E1 at the time of operation is reflected by an impedance mismatching position (Rd terminal) and returned to the relevant pulse signal is less than the transition time τr of the voltage level of the pulse signal. Then whether a signal line distance D-Leng between the noise coping part Rd and the electronic part (driver Dv) is suitable or not is judged on the basis of the obtained maximum allowable distance Lmax and the judged result is outputted.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、高速動作するIC
などの電子部品間を結ぶ信号線に接続するダンピング抵
抗等の反射ノイズや不要な電磁波放射ノイズを抑制する
為に使用するノイズ対策部品が適切な位置に接続されて
いるかを検証することで回路最適化に役立つ情報の提供
が可能な電子回路の検証方法と、この情報に基づいて修
正を行う電子回路の設計方法とに関する。また、本発明
は、これらの検証方法または設計方法を実行する、電子
回路の検証装置および設計支援装置と、上記検証方法を
実施するステップを含む電子回路の検証プラグラムが記
録された記録媒体とに関する。
The present invention relates to an IC which operates at high speed.
Optimizing the circuit by verifying that the noise suppression components used to suppress reflected noise such as damping resistance and unnecessary electromagnetic radiation noise connected to signal lines connecting electronic components such as The present invention relates to a method for verifying an electronic circuit capable of providing information useful for conversion, and a method for designing an electronic circuit for performing correction based on this information. The present invention also relates to an electronic circuit verification device and a design support device that execute the verification method or the design method, and a recording medium on which an electronic circuit verification program including a step of performing the verification method is recorded. .

【0002】[0002]

【従来の技術】プリント基板などの回路実装基板(以
下、回路基板)において、その回路に実装される各種電
子部品間の接続を行う信号線、電子部品に電源電圧およ
び基準電位を供給する電源線などが、絶縁基板面に所定
パターンにて形成されている。信号線は、電子部品の取
り付けパターン、パターン曲がり箇所、ビア等のパター
ン不連続箇所とともに信号伝搬経路を構成する。近年の
電子機器の小型化、高性能化、高機能化にともなって、
内蔵される回路基板のパターン密度も上がり、また、多
層基板などの導入により、その設計が以前より複雑化し
ている。回路基板のパターン設計は、設計支援装置(C
AD装置)を用いて半自動化され、設計後のパターンは
動作シュミレータで検証され、検証結果が良好であれば
最終的なパターンが確定し、検証結果で不備が見つかれ
ばパターンを修正することにより、設計の効率化が図ら
れている。
2. Description of the Related Art In a circuit board such as a printed board (hereinafter referred to as a circuit board), a signal line for connecting various electronic components mounted on the circuit, a power line for supplying a power supply voltage and a reference potential to the electronic components. Are formed in a predetermined pattern on the insulating substrate surface. The signal line forms a signal propagation path together with a mounting pattern of an electronic component, a bent portion of a pattern, a discontinuous portion of a via or the like. With the recent miniaturization, higher performance, and higher functionality of electronic devices,
The pattern density of a built-in circuit board is also increasing, and the design of the circuit board is becoming more complicated due to the introduction of a multilayer board and the like. The circuit board pattern design is performed by a design support device (C
AD device), and the pattern after design is verified by an operation simulator. If the verification result is good, the final pattern is determined. If the verification result shows insufficiency, the pattern is corrected. Design efficiency has been improved.

【0003】一方、半導体集積回路の分野においても、
シリコンなどの半導体基板に、電子部品を一括して形成
し、その上の絶縁膜上に信号線などを形成している。こ
の回路設計においても、プロセスおよび動作シュミレー
ションを適宜利用したCADにより設計の効率化が計ら
れている。
On the other hand, in the field of semiconductor integrated circuits,
Electronic components are collectively formed on a semiconductor substrate such as silicon, and signal lines and the like are formed on an insulating film thereon. Also in this circuit design, the design is made more efficient by CAD using process and operation simulation as appropriate.

【0004】ところで、これらの回路設計において、あ
る線路上で特性インピーダンスZ0から特性インピーダ
ンスZ1へ信号が流れ込む場合の反射率ρは、一般に次
式(1)で表される。
In these circuit designs, the reflectance ρ when a signal flows from a characteristic impedance Z0 to a characteristic impedance Z1 on a certain line is generally expressed by the following equation (1).

【数1】 ρ=(Z1−Z0)/(Z1+Z0) …(1)Ρ = (Z1−Z0) / (Z1 + Z0) (1)

【0005】ここで、式(1)により算出された信号の
反射率ρの値は、入力に対してどのくらいの反射が発生
するかを示している。たとえば、Z1=Z0の場合は反
射率ρ=0となり、インピーダンスZ0から入力した信
号は全てインピーダンスZ1に伝わり、反射波が発生し
なかったことを意味している。すなわち、信号を信号路
に送り出すドライバの出力インピーダンス、信号線の特
性インピーダンス、および、この信号線を伝搬してきた
信号を受け取るレシーバの入力インピーダンスが同じ値
である場合、ドライバから出力された信号は、反射によ
る波形劣化がなくレシーバに到達する。
Here, the value of the reflectance ρ of the signal calculated by the equation (1) indicates how much reflection occurs with respect to the input. For example, when Z1 = Z0, the reflectance is ρ = 0, which means that all signals input from the impedance Z0 are transmitted to the impedance Z1 and no reflected wave is generated. That is, if the output impedance of the driver that sends out the signal to the signal path, the characteristic impedance of the signal line, and the input impedance of the receiver that receives the signal transmitted through the signal line have the same value, the signal output from the driver is: Reach the receiver without waveform deterioration due to reflection.

【0006】しかし、現在主流となっているCMOS(C
omplementary MOS) ICの出力インピーダンスは20Ω
前後と小さく、入力インピーダンスは出力インピーダン
スより数桁大きい。信号線については、プリント基板の
構成上の理由から、あるいは、一部の半導体メーカーか
ら信号線の特性インピーダンスを指定されている場合が
ある。このため、信号線の特性インピーダンスは40Ω
〜100Ω程度が一般的である。したがって、実装する
ICとしてCMOSICを使用することが想定されてい
る現在主流のプリント基板、あるいはCMOSIC内部
では、その多くにおいてIC間、または素子間を結ぶ信
号線で反射現象が起きている。
However, CMOS (C
output impedance of IC is 20Ω
The input impedance is several orders of magnitude higher than the output impedance. As for the signal line, the characteristic impedance of the signal line may be specified for the reasons of the configuration of the printed circuit board or by some semiconductor manufacturers. Therefore, the characteristic impedance of the signal line is 40Ω.
Approximately 100Ω is common. Therefore, in a current mainstream printed circuit board or the inside of a CMOS IC in which it is assumed that a CMOS IC is used as an IC to be mounted, a reflection phenomenon occurs in a signal line connecting between ICs or elements in many of them.

【0007】ところで、低速のデジタル信号に関して
は、今でもダンピング抵抗などのノイズ対策部品を使用
せずとも綺麗な信号をドライバからレシーバに伝送して
いる。その一方、高速のデジタル信号は高調波成分を多
く含んでおり、とくに高調波成分がインピーダンス不整
合面で反射を繰り返すと、その影響で原信号の波形が劣
化する。また、放射ノイズ強度を増大させる要因とな
る。そのため、図15に示すように、直列終端用のダン
ピング抵抗Rd、あるいは、AC並列終端用の抵抗Rac
p およびキャパシタCacp などのノイズ対策部品を使用
して反射を抑え、信号線のノイズを低減することが一般
的に行われている。ダンピング抵抗Rdは、一般的にド
ライバDvになるべく近く(図15のD−Leng を短く
して)配置した方が良いとされている。また、AC並列
終端Racp,Cacp はレシーバRvになるべく近くに(図
15のRC−Leng を短くして)配置した方が良いとさ
れている。実際に測定器で波形を観測してみると、距離
D−Leng およびRC−Leng を短くした場合と、長く
した場合とでは、前者の場合が反射ノイズ量が少ないこ
とがわかっている。そして、ダンピング抵抗Rdをドラ
イバDvから離すほどダンピング抵抗の効果が薄れてい
き、また、AC並列終端抵抗Racp をレシーバRvから
離すほどAC並列終端の効果が薄れていくことがわかっ
ている。
By the way, with respect to a low-speed digital signal, a clean signal is still transmitted from the driver to the receiver without using a noise suppression component such as a damping resistor. On the other hand, a high-speed digital signal contains many harmonic components. In particular, when the harmonic components are repeatedly reflected on the impedance mismatching surface, the waveform of the original signal deteriorates due to the influence. Further, this becomes a factor of increasing the radiation noise intensity. Therefore, as shown in FIG. 15, a damping resistor Rd for series termination or a resistor Rac for AC parallel termination is used.
It is common practice to use a noise suppression component such as p and a capacitor Cacp to suppress reflection and reduce signal line noise. It is generally said that it is better to arrange the damping resistor Rd as close to the driver Dv as possible (by shortening D-Leng in FIG. 15). It is said that it is better to arrange the AC parallel terminations Racp and Cacp as close as possible to the receiver Rv (by shortening RC-Leng in FIG. 15). When the waveforms are actually observed with a measuring instrument, it is known that the amount of reflected noise is smaller in the former case when the distances D-Leng and RC-Leng are shortened and when the distances are longer. It is known that the effect of the damping resistance decreases as the damping resistor Rd is separated from the driver Dv, and the effect of the AC parallel termination decreases as the AC parallel termination resistor Racp is separated from the receiver Rv.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】近年の電子機器の軽薄
短小化、高機能化および高速動作化にともなって、基板
面積に対して実装すべき電子部品(あるいはIC内に形
成すべき半導体部品)数の割合が多くなってきた。ま
た、動作周波数が高くなるとともに、ノイズ対策部品を
配置する必要が有る信号線も増加してきた。これによる
部品実装面積の減少によって、ダンピング抵抗などのノ
イズ対策部品を高速ドライバの近くに置く、あるいは、
AC並列終端を高速信号を受信するレシーバの近くに施
すことが次第に難しくなってきた。
With the recent trend toward smaller, thinner, more sophisticated and higher-speed electronic devices, electronic components to be mounted on a substrate area (or semiconductor components to be formed in an IC). The percentage of numbers has increased. In addition, as the operating frequency has increased, the number of signal lines for which noise suppression components need to be arranged has also increased. This reduces the component mounting area and places noise suppression components such as damping resistors near high-speed drivers, or
It has become increasingly difficult to provide AC parallel termination near receivers that receive high-speed signals.

【0009】その結果、高速ドライバ、あるいは高速信
号受信用のレシーバから少し離れた場所にノイズ対策部
品を配置せざるを得ないケースも増えている。その場
合、従来の回路設計では、いったい何処までノイズ対策
部品をドライバあるいはレシーバから離して配置して良
いかを簡単に知ることが出来なかった。また、従来の回
路設計では、ノイズ対策部品を置くスペースが無く、高
速配線であるにもかかわらずノイズ対策部品を接続でき
ない信号線がある場合、信号線の長さを短くしてノイズ
低減を図るときに、いったい何処まで信号線を短くすれ
ば伝送信号波形が歪まなくなるのかを簡単に知ることが
出来なかった。したがって、回路設計者は、動作周波数
が高いIC(または回路ブロック)から順に経験的に問
題とならない位置にノイズ対策部品を配置しているのが
現状であった。しかし、この方法では、場所によっては
本来不必要な箇所にノイズ対策部品が接続される一方
で、必要な箇所にはノイズ対策部品が配置できないとい
た矛盾、非効率化が生じていた。
As a result, in many cases, noise suppression components have to be arranged at a place slightly away from a high-speed driver or a high-speed signal receiving receiver. In that case, in the conventional circuit design, it has not been possible to easily know how far the noise suppression component may be arranged away from the driver or the receiver. Further, in the conventional circuit design, when there is no space for the noise suppression component and there is a signal line to which the noise suppression component cannot be connected despite high-speed wiring, the length of the signal line is reduced to reduce the noise. Sometimes, it was not possible to easily know how far the signal line would be shortened so that the transmission signal waveform would not be distorted. Therefore, the current situation is that the circuit designer arranges the noise countermeasure components in positions that do not cause a problem empirically in order from the IC (or the circuit block) having the highest operating frequency. However, with this method, while noise suppression components are connected to places that are originally unnecessary in some places, inconsistencies and inefficiencies have arisen in that noise suppression components cannot be arranged in necessary places.

【0010】本発明の目的は、従来の回路基板の設計工
程を大幅に変更することなく、対象とする信号線に接続
するノイズ対策部品の位置、すなわちノイズ対策部品と
電子部品との距離および必要性を検証し、これにより設
計効率を上げ、設計コストを低減できる電子回路の検証
方法と、この検証方法を用いた電子回路の設計方法を提
案することにある。また、本発明の他の目的は、これら
の検証方法または設計方法を実行する、電子回路の検証
装置および設計支援装置と、上記検証方法を実施するス
テップを含む電子回路の検証プラグラムが記録された記
録媒体とを提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a position of a noise suppression component connected to a target signal line, that is, a distance between a noise suppression component and an electronic component and a necessary value without largely changing a conventional circuit board design process. An object of the present invention is to propose a method of verifying an electronic circuit that can verify the performance and thereby increase the design efficiency and reduce the design cost, and a method of designing an electronic circuit using the verification method. Further, another object of the present invention is to execute an electronic circuit verification device and a design support device for executing the verification method or the design method, and to record an electronic circuit verification program including a step of performing the verification method. Recording medium.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明の第1の観点に係
る回路基板の検証方法は、複数の電子部品が接続された
信号線を有する電子回路の検証方法であって、電子回路
の設計データから、上記信号線のうち特定の信号線のデ
ータと、上記特定の信号線に接続される電子部品のデー
タとを抽出し、上記電子部品のデータに基づいて、ノイ
ズ対策部品が上記複数の電子部品に含まれるか否かを調
査し、上記調査の結果、上記ノイズ対策部品が上記複数
の電子部品に含まれるときは、動作時に上記特定の信号
線内にパルス信号が入力されてからインピーダンス不整
合箇所で反射し当該パルス信号に戻ってくるときの反射
遅延時間が当該パルス信号の電圧レベルの遷移時間以内
となる、当該パルス信号の入力箇所と反射箇所間の最大
の信号線距離である最大許容距離を、上記特定の信号線
および上記電子部品のデータに基づいて算出し、上記最
大許容距離に基づいて、上記ノイズ対策部品と、上記ノ
イズ対策部品を近接して配置すべき電子部品との間の信
号線距離が適切かどうかを判断し、上記判断の結果を出
力する。
A method for verifying a circuit board according to a first aspect of the present invention is a method for verifying an electronic circuit having a signal line to which a plurality of electronic components are connected. From the data, data of a specific signal line among the signal lines and data of an electronic component connected to the specific signal line are extracted, and based on the data of the electronic component, the noise suppression component Investigate whether or not the component is included in the electronic component.As a result of the investigation, when the noise suppression component is included in the plurality of electronic components, the impedance is determined after a pulse signal is input to the specific signal line during operation. This is the maximum signal line distance between the input point of the pulse signal and the reflection point such that the reflection delay time when returning to the pulse signal after being reflected at the mismatching point is within the transition time of the voltage level of the pulse signal. The maximum permissible distance is calculated based on the data of the specific signal line and the electronic component, and based on the maximum permissible distance, the noise suppression component and the electronic component to which the noise prevention component is to be arranged close to Is determined as to whether the signal line distance is appropriate, and the result of the above determination is output.

【0012】上記最大許容距離の算出に際し、好適に、
上記特定の信号線のデータを基に当該信号線の単位距離
当たりの伝搬遅延時間を算出し、上記特定の信号線に上
記電子部品から出力される上記パルス信号の電圧レベル
遷移時間を上記電子部品データから抽出し、抽出した上
記電圧レベル遷移時間を上記伝搬遅延時間で割ってパラ
メータを算出し、上記パラメータに所定の係数を掛けた
ものを、上記最大許容距離として算出する。この場合、
好適に、上記電子部品データから上記パルス信号を出力
する電子部品の出力インピーダンスを抽出し、上記特定
の信号線のデータを用いて当該信号線の特性インピーダ
ンスを算出し、上記最大許容距離の算出に際し、上記特
性インピーダンスと上記出力インピーダンスとの差に応
じて上記所定の係数の値を変化させる。また、好適に、
上記伝搬遅延時間および上記特性インピーダンスの算出
は、上記特定の信号線の配線構造に応じて行う。
In calculating the maximum allowable distance, preferably,
A propagation delay time per unit distance of the signal line is calculated based on the data of the specific signal line, and a voltage level transition time of the pulse signal output from the electronic component to the specific signal line is calculated as the electronic component. A parameter is extracted from the data, the extracted voltage level transition time is divided by the propagation delay time to calculate a parameter, and a value obtained by multiplying the parameter by a predetermined coefficient is calculated as the maximum allowable distance. in this case,
Preferably, the output impedance of the electronic component that outputs the pulse signal is extracted from the electronic component data, the characteristic impedance of the signal line is calculated using the data of the specific signal line, and the maximum allowable distance is calculated. The value of the predetermined coefficient is changed according to the difference between the characteristic impedance and the output impedance. Also, preferably,
The calculation of the propagation delay time and the characteristic impedance is performed according to the wiring structure of the specific signal line.

【0013】本発明では、好適に、上記電子部品を、上
記特定の信号線に上記パルス信号を送り込むドライバ
と、上記特定の信号線を伝搬してきた上記パルス信号を
受け取るレシーバとに分類し、上記電子部品データを参
照して、上記ドライバの中から所定の速度以上で動作
し、ノイズ対策が必要な高速ドライバを選別する。この
高速ドライバは、好適に、上記電子部品データの中に含
まれる出力パルスの電圧レベル遷移時間が所定値以下の
ドライバである。また、上記ノイズ対策部品の調査で
は、好適に、上記高速ドライバと上記レシーバとの間の
高速信号線に接続した抵抗素子を調査し、上記調査によ
り検出された上記抵抗素子が上記高速信号線に直列に接
続されているときは、当該抵抗素子は上記高速ドライバ
の直列終端を行う第1ノイズ対策部品であると判断し、
上記調査により検出された上記抵抗素子が上記高速信号
線に対し並列に接続されているときは、当該抵抗素子は
上記レシーバのAC並列終端を行う第2ノイズ対策部品
に含まれる抵抗素子であると判断し、上記信号線距離の
適切性判断では、上記第1ノイズ対策部品と上記高速ド
ライバとの間の信号線距離、または、上記第2ノイズ対
策部品と上記レシーバとの間の信号線距離が、上記最大
許容距離以下であることを判断する。さらに、好適に、
上記高速ドライバと、上記レシーバとの間の高速信号線
の長さを測定し、上記高速信号線の長さを上記最大許容
距離と比較し、上記比較の結果、上記高速信号線の長さ
が上記最大許容距離以下で、上記高速信号線に上記ノイ
ズ対策部品が接続されているときは、当該ノイズ対策部
品は不要であると判断し、当該ノイズ対策部品に関する
上記信号線距離の適切性判断の結果と、上記ノイズ対策
部品は不要であるとの判断結果とを出力する。また、上
記高速ドライバと上記レシーバとの組が複数ある場合、
好適に、その全ての組について、上記高速信号線の高速
信号の伝送パスごとに、上記最大許容距離の算出と、上
記信号線距離の適切性判断を繰り返し実行する。上記信
号線距離の適切性判断を行った後、好適に、特定する上
記信号線を他の信号線に変更して、上記信号線データお
よび上記電子部品データの抽出、上記最大許容距離の算
出、上記信号線距離の適切性判断による上記ノイズ対策
部品の接続位置の検証を、設計された上記信号線の全て
についての上記検証が済むまで繰り返し実行する。
In the present invention, preferably, the electronic components are classified into a driver that sends the pulse signal to the specific signal line and a receiver that receives the pulse signal transmitted through the specific signal line. With reference to the electronic component data, a high-speed driver that operates at a predetermined speed or higher and requires noise countermeasures is selected from the drivers. This high-speed driver is preferably a driver in which the voltage level transition time of the output pulse included in the electronic component data is equal to or less than a predetermined value. In the investigation of the noise suppression component, preferably, a resistance element connected to a high-speed signal line between the high-speed driver and the receiver is investigated, and the resistance element detected by the investigation is connected to the high-speed signal line. When connected in series, it is determined that the resistance element is the first noise suppression component that performs series termination of the high-speed driver,
When the resistance element detected by the above investigation is connected in parallel to the high-speed signal line, it is determined that the resistance element is a resistance element included in the second noise suppression component that performs the AC parallel termination of the receiver. In the determination of the appropriateness of the signal line distance, the signal line distance between the first noise suppression component and the high-speed driver or the signal line distance between the second noise suppression component and the receiver is determined. , Is determined to be less than or equal to the maximum allowable distance. Further, preferably,
The length of the high-speed signal line between the high-speed driver and the receiver is measured, and the length of the high-speed signal line is compared with the maximum allowable distance. When the noise suppression component is connected to the high-speed signal line within the maximum allowable distance or less, it is determined that the noise suppression component is unnecessary, and the appropriateness of the signal line distance for the noise suppression component is determined. The result and the result of the determination that the noise suppression component is unnecessary are output. When there are a plurality of pairs of the high-speed driver and the receiver,
Preferably, the calculation of the maximum allowable distance and the determination of the appropriateness of the signal line distance are repeatedly executed for each of the sets for each high-speed signal transmission path of the high-speed signal line. After performing the appropriateness determination of the signal line distance, preferably, change the specified signal line to another signal line, extract the signal line data and the electronic component data, calculate the maximum allowable distance, The verification of the connection position of the noise suppression component based on the determination of the appropriateness of the signal line distance is repeatedly executed until the verification of all the designed signal lines is completed.

【0014】本発明の第2の観点に係る回路基板の設計
方法は、複数の電子部品が接続された信号線を有する電
子回路の設計方法であって、仮設計時の電子回路の設計
データから、上記信号線のうち特定の信号線のデータ
と、上記特定の信号線に接続される電子部品のデータと
を抽出し、上記電子部品のデータに基づいて、ノイズ対
策部品が上記複数の電子部品に含まれるか否かを調査
し、上記調査の結果、上記ノイズ対策部品が上記複数の
電子部品に含まれるときは、動作時に上記特定の信号線
内にパルス信号が入力されてからインピーダンス不整合
箇所で反射し当該パルス信号に戻ってくるときの反射遅
延時間が当該パルス信号の電圧レベルの遷移時間以内と
なる、当該パルス信号の入力箇所と反射箇所間の最大の
信号線距離である最大許容距離を、上記特定の信号線お
よび上記電子部品のデータに基づいて算出し、上記最大
許容距離に基づいて、上記ノイズ対策部品と、上記ノイ
ズ対策部品を近接して配置すべき電子部品との間の信号
線距離が適切かどうかを判断し、上記判断の結果に応じ
て、上記ノイズ対策部品の上記特定の信号線内の接続位
置を、上記信号線距離が適切な範囲内となるように変更
する。好適に、接続位置を変更した上記ノイズ対策部品
のノイズ除去性能が適切であるか否かを判断し、上記ノ
イズ除去性能が適切でないときは、上記ノイズ除去性能
が適切となるように上記ノイズ対策部品の特性値を変更
する。
A method for designing a circuit board according to a second aspect of the present invention is a method for designing an electronic circuit having a signal line to which a plurality of electronic components are connected. The data of the specific signal line among the signal lines and the data of the electronic component connected to the specific signal line are extracted, and based on the data of the electronic component, the noise suppression component is connected to the plurality of electronic components. If the noise suppression component is included in the plurality of electronic components as a result of the investigation, if a pulse signal is input to the specific signal line during operation, the impedance mismatch portion is determined. Is the maximum signal line distance between the input point and the reflection point of the pulse signal, and the reflection delay time when the light is reflected by the pulse signal and returns to the pulse signal is within the transition time of the voltage level of the pulse signal. The distance is calculated based on the data of the specific signal line and the electronic component, and based on the maximum allowable distance, the noise countermeasure component and the electronic component to which the noise countermeasure component should be arranged close to each other. Determine whether the signal line distance between them is appropriate, and according to the result of the above determination, change the connection position of the noise suppression component within the specific signal line so that the signal line distance is within an appropriate range. change. Preferably, it is determined whether or not the noise reduction performance of the noise reduction component whose connection position has been changed is appropriate. If the noise reduction performance is not appropriate, the noise reduction performance is adjusted so that the noise reduction performance becomes appropriate. Change the characteristic value of the part.

【0015】本発明の第3の観点に係る回路基板の検証
装置は、複数の電子部品が接続された信号線を有する電
子回路の検証装置であって、電子回路の設計データが登
録された登録手段と、上記登録手段から電子回路の上記
設計データを読み出し、上記信号線のうち特定の信号線
のデータと、上記特定の信号線に接続される電子部品の
データとを上記設計データから抽出する抽出手段と、上
記電子部品のデータに基づいて、ノイズ対策部品が上記
複数の電子部品に含まれるか否かを調査する調査手段
と、上記調査の結果、上記ノイズ対策部品が上記複数の
電子部品に含まれるときは、動作時に上記特定の信号線
内にパルス信号が入力されてからインピーダンス不整合
箇所で反射し当該パルス信号に戻ってくるときの反射遅
延時間が当該パルス信号の電圧レベルの遷移時間以内と
なる、当該パルス信号の入力箇所と反射箇所間の最大の
信号線距離である最大許容距離を、上記特定の信号線お
よび上記電子部品のデータに基づいて算出する演算手段
と、上記最大許容距離に基づいて、上記ノイズ対策部品
と、上記ノイズ対策部品を近接して配置すべき電子部品
との間の信号線距離が適切かどうかを判断する判断手段
と、上記判断の結果を出力する出力手段とを有する。
A circuit board verification apparatus according to a third aspect of the present invention is an electronic circuit verification apparatus having a signal line to which a plurality of electronic components are connected. Means for reading out the design data of the electronic circuit from the registration means, and extracting data of a specific signal line among the signal lines and data of an electronic component connected to the specific signal line from the design data. Extraction means, investigation means for examining whether or not the noise suppression component is included in the plurality of electronic components based on the data of the electronic component, and as a result of the examination, the noise suppression component is When a pulse signal is input into the specific signal line during operation, a reflection delay time when the pulse signal is reflected at an impedance mismatching point and returns to the pulse signal during the operation is returned to the pulse signal. The maximum allowable distance, which is the maximum signal line distance between the input point and the reflection point of the pulse signal within the transition time of the voltage level of the signal, is calculated based on the data of the specific signal line and the electronic component. Calculating means for determining, based on the maximum allowable distance, whether or not a signal line distance between the noise suppression component and an electronic component to which the noise suppression component is to be arranged in proximity is appropriate; Output means for outputting a result of the determination.

【0016】本発明の第4の観点に係る回路基板の設計
支援装置は、複数の電子部品が接続された信号線を有す
る電子回路の設計を支援する設計支援装置であって、仮
設計時の電子回路の設計データを登録した登録部と、上
記電子回路の設計を支援する設計支援部と、上記設計支
援部が仮設計した上記電子回路内における電子部品の接
続位置を検証する検証部とを有し、上記検証部は、上記
登録部から上記設計データを読み出し、上記信号線のう
ち特定の信号線のデータと、上記特定の信号線に接続さ
れる電子部品のデータとを上記設計データから抽出する
抽出手段と、上記電子部品のデータに基づいて、ノイズ
対策部品が上記複数の電子部品に含まれるか否かを調査
する調査手段と、上記調査の結果、上記ノイズ対策部品
が上記複数の電子部品に含まれるときは、動作時に上記
特定の信号線内にパルス信号が入力されてからインピー
ダンス不整合箇所で反射し当該パルス信号に戻ってくる
ときの反射遅延時間が当該パルス信号の電圧レベルの遷
移時間以内となる、当該パルス信号の入力箇所と反射箇
所間の最大の信号線距離である最大許容距離を、上記特
定の信号線および上記電子部品のデータに基づいて算出
する演算手段と、上記最大許容距離に基づいて、上記ノ
イズ対策部品と、上記ノイズ対策部品を近接して配置す
べき電子部品との間の信号線距離が適切かどうかを判断
する判断手段とを有し、上記設計支援部は、上記判断手
段の判断結果に応じて、上記ノイズ対策部品の上記特定
の信号線内の接続位置を、上記信号線距離が適切な範囲
内となるように変更する。
A circuit board design support apparatus according to a fourth aspect of the present invention is a design support apparatus for supporting the design of an electronic circuit having a signal line to which a plurality of electronic components are connected. A registration unit for registering circuit design data; a design support unit for supporting the design of the electronic circuit; and a verification unit for verifying connection positions of electronic components in the electronic circuit provisionally designed by the design support unit. The verification unit reads the design data from the registration unit, and extracts data of a specific signal line among the signal lines and data of an electronic component connected to the specific signal line from the design data. Extracting means for determining whether or not the noise suppression component is included in the plurality of electronic components based on the data of the electronic component. When included in the product, the reflection delay time when the pulse signal is input into the specific signal line during operation and then reflected at the impedance mismatching point and returns to the pulse signal during operation is determined by the voltage level of the pulse signal. Computing means for calculating a maximum allowable distance, which is a maximum signal line distance between an input point of the pulse signal and a reflection point, which is within the transition time, based on the data of the specific signal line and the electronic component; Determining, based on a maximum permissible distance, whether the signal line distance between the noise suppression component and an electronic component to which the noise suppression component is to be arranged in proximity is appropriate; The unit changes the connection position of the noise suppression component in the specific signal line so that the signal line distance is within an appropriate range according to the determination result of the determination unit.

【0017】このような構成の本発明の第3,第4の観
点に係る回路基板の検証装置,設計支援装置は、前記し
た第1,第2の観点に係る検証方法または設計方法を具
体的な手段で実施するものである。検証装置は、上記設
計支援装置に登録部および検証部として包含されている
ので、ここでは設計支援装置の動作(作用)を説明す
る。
The circuit board verification device and the design support device according to the third and fourth aspects of the present invention having the above-described configuration specifically implement the verification method or the design method according to the first and second aspects. It is implemented by any means. Since the verification device is included in the design support device as a registration unit and a verification unit, the operation (operation) of the design support device will be described here.

【0018】まず、設計支援部が設計者を支援すること
により、所定の回路機能を有する電子回路の仮設計がな
される。仮設計された電子回路の設計データは一旦、登
録部に登録される。また、この登録部には、電子回路内
の電子部品の電気的データ(たとえば、入出力信号、ク
ロック信号、電源電圧、動作周波数の情報、入力出力特
性や遅延特性等の電気的特性などの各種データ)が登録
されている。
First, the design support section assists a designer, thereby temporarily designing an electronic circuit having a predetermined circuit function. The design data of the provisionally designed electronic circuit is temporarily registered in the registration unit. In addition, the registration unit stores various types of electrical data of electronic components in the electronic circuit (for example, input / output signals, clock signals, power supply voltage, operating frequency information, and electrical characteristics such as input / output characteristics and delay characteristics). Data) is registered.

【0019】この仮設計された電子回路の検証に際に、
まず、全ての信号線から、ある信号線を特定する。ま
た、電子部品をドライバとレシーバとに分類し、ドライ
バの中から、高速信号が出力される高速ドライバを選別
する。つぎに、この特定した信号線および電子部品等の
設計データを上記登録部から読み出す。抽出手段が、こ
れらの設計データから、必要な信号線のデータ(配線
長,配線幅W,基板誘電率ε,基板厚さh等)および電
子部品のデータ(出力インピーダンス等)を抽出する。
調査手段が、抽出した電子部品データに基づいて、ノイ
ズ対策部品が電子部品に含まれるか否かを調査する。こ
の調査の結果、ノイズ対策部品が電子部品に含まれると
きは、演算手段が、ノイズ対策部品の信号線への接続位
置の適否の基準となる最大許容距離を算出する。ここ
で、最大許容距離とは、動作時に特定の信号線内にパル
ス信号が入力されてからインピーダンス不整合箇所で反
射し当該パルス信号に戻ってくるときの反射遅延時間が
当該パルス信号の電圧レベルの遷移時間以内となる、当
該パルス信号の入力箇所と反射箇所間の最大の距離をい
う。そして、この最大許容距離に基づいて、判断手段
が、ノイズ対策部品と、これを近くに配置すべき電子部
品との間の信号線距離が適切であるか否かを判断する。
たとえば、ダンピング抵抗などの直列終端用の第1ノイ
ズ対策部品と高速ドライバとの間の信号線距離、また
は、AC並列終端用の第2ノイズ対策部品とレシーバと
の間の信号線距離が、それぞれ最大許容距離以下である
か否かを判断する。第1,第2ノイズ対策部品とも最大
許容距離以内に配置されているときは対策不要であると
判断され、第1または第2ノイズ対策部品が最大許容距
離の範囲外に配置されているときは、最大許容距離の範
囲に入れるように指示が出力される。一方、ドライバと
レシーバ間距離が最大許容距離以内で、かつ第1または
第2ノイズ対策部品が存在するときは、ノイズ対策部品
は不要であると判断され、その判断結果が出力される。
At the time of verification of this provisionally designed electronic circuit,
First, a certain signal line is specified from all the signal lines. Further, the electronic components are classified into a driver and a receiver, and a high-speed driver that outputs a high-speed signal is selected from the drivers. Next, the design data of the specified signal lines and electronic components is read from the registration unit. Extraction means extracts necessary signal line data (wiring length, wiring width W, substrate permittivity ε, substrate thickness h, etc.) and electronic component data (output impedance, etc.) from these design data.
Investigation means investigates whether or not a noise suppression component is included in the electronic component based on the extracted electronic component data. As a result of this investigation, when the noise suppression component is included in the electronic component, the calculating means calculates a maximum allowable distance which is a criterion for determining whether or not the connection position of the noise suppression component to the signal line is appropriate. Here, the maximum allowable distance is a reflection delay time when a pulse signal is input into a specific signal line during operation and then reflected at an impedance mismatching point and returned to the pulse signal. Is the maximum distance between the input point of the pulse signal and the reflection point within the transition time. Then, based on the maximum allowable distance, the determination means determines whether or not the signal line distance between the noise suppression component and the electronic component to which the noise suppression component is to be located is appropriate.
For example, the signal line distance between the first noise suppression component for series termination such as a damping resistor and the high-speed driver, or the signal line distance between the second noise suppression component for AC parallel termination and the receiver is respectively It is determined whether the distance is equal to or less than the maximum allowable distance. When both the first and second noise suppression components are arranged within the maximum allowable distance, it is determined that no countermeasure is required. When the first or second noise suppression component is arranged outside the maximum allowable distance, Is output so as to fall within the range of the maximum allowable distance. On the other hand, when the distance between the driver and the receiver is within the maximum allowable distance and the first or second noise suppression component is present, it is determined that the noise suppression component is unnecessary, and the determination result is output.

【0020】その後、この判断の結果を受けた設計支援
部により、上記指示を満足するように回路修正がされ
る。その回路修正の結果、高速信号線へのパルス信号の
入力箇所(ドライバの出力端)とインピーダンス不整合
による信号の反射面(ダンピング抵抗端部またはレシー
バの入力端)との距離が適正化される。適正化後の信号
線にパルス信号が入力されると、パルス信号の立ち上が
り(または立ち下がり)時に発生する高調波成分がイン
ピーダンス不整合面で反射して当該パルス信号に戻って
きたときに、必ず、このパルス信号は未だ立ち上がり
(または立ち下がり)中である。したがって、高速信号
に対する反射の影響は限定的であり、パルス信号波形の
ハイレベルまたはローレベルの一定電圧箇所に高周波ノ
イズが重畳されなくなる。
Thereafter, the circuit is modified by the design support unit having received the result of this determination so as to satisfy the above instruction. As a result of the circuit modification, the distance between the input point of the pulse signal to the high-speed signal line (output end of the driver) and the reflection surface of the signal due to impedance mismatch (the end of the damping resistor or the input end of the receiver) is optimized. . When a pulse signal is input to the signal line after the optimization, when a harmonic component generated at the time of rising (or falling) of the pulse signal is reflected by the impedance mismatching surface and returned to the pulse signal, This pulse signal is still rising (or falling). Therefore, the influence of the reflection on the high-speed signal is limited, and the high-frequency noise is not superimposed on a high-voltage or low-level constant voltage portion of the pulse signal waveform.

【0021】本発明の第5の観点に係る記録媒体は、複
数の電子部品が接続された信号線を有する電子回路につ
いて、上記電子部品の上記信号線内の接続位置を検証す
る検証プログラムを記録データ内に含む記録媒体であっ
て、上記検証プログラム内の処理ステップに、電子回路
の設計データから、上記信号線のうち特定の信号線のデ
ータと、上記特定の信号線に接続される電子部品のデー
タとを抽出するステップと、上記電子部品のデータに基
づいて、ノイズ対策部品が上記複数の電子部品に含まれ
るか否かを調査するステップと、上記調査の結果、上記
ノイズ対策部品が上記複数の電子部品に含まれるとき
は、動作時に上記特定の信号線内にパルス信号が入力さ
れてからインピーダンス不整合箇所で反射し当該パルス
信号に戻ってくるときの反射遅延時間が当該パルス信号
の電圧レベルの遷移時間以内となる、当該パルス信号の
入力箇所と反射箇所間の最大の信号線距離である最大許
容距離を、上記特定の信号線および上記電子部品のデー
タに基づいて算出するステップと、上記最大許容距離に
基づいて、上記ノイズ対策部品と、上記ノイズ対策部品
を近接して配置すべき電子部品との間の信号線距離が適
切かどうかを判断するステップとを含む。
A recording medium according to a fifth aspect of the present invention records a verification program for verifying a connection position of the electronic component in the signal line for an electronic circuit having a signal line to which a plurality of electronic components are connected. A recording medium included in data, wherein in a processing step in the verification program, data of a specific signal line among the signal lines and an electronic component connected to the specific signal line are obtained from design data of an electronic circuit. Extracting the data of the electronic component, and investigating whether or not the noise suppression component is included in the plurality of electronic components based on the data of the electronic component. When included in a plurality of electronic components, when a pulse signal is input into the specific signal line during operation, the pulse signal is reflected at an impedance mismatching point and returns to the pulse signal. The reflection delay time of the pulse signal is within the transition time of the voltage level of the pulse signal. The maximum allowable distance, which is the maximum signal line distance between the input point of the pulse signal and the reflection point, is determined by the specific signal line and the electronic component. And determining whether the signal line distance between the noise elimination component and the electronic component to which the noise elimination component is to be arranged in proximity is appropriate based on the maximum allowable distance. Performing the steps.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】本発明は、プリント配線基板など
の回路基板のほか、半導体集積回路など、広く電子回路
に適用可能であるる。ここでは、本発明の実施形態に係
る設計支援装置(CAD装置)および設計方法を、プリ
ント配線基板などの回路基板の設計に適用した場合を例
に、図面を参照しながら説明する。なお、本発明に係る
検証装置および検証方法の実施形態は、以下のCAD装
置、および、これを用いた回路基板の設計方法の実施形
態に包摂される。また、本発明に係る記録媒体は、以下
の設計方法の検証に係わる処理ステップをプログラム言
語で記述したものを記録したフロッピー(登録商標)デ
ィスク等の記録媒体であることから、ここでの説明は省
略する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention can be widely applied to electronic circuits such as semiconductor integrated circuits as well as circuit boards such as printed wiring boards. Here, an example in which a design support apparatus (CAD apparatus) and a design method according to an embodiment of the present invention are applied to the design of a circuit board such as a printed wiring board will be described with reference to the drawings. The embodiments of the verification apparatus and the verification method according to the present invention are included in the following embodiments of the CAD apparatus and the method of designing a circuit board using the same. Further, the recording medium according to the present invention is a recording medium such as a floppy (registered trademark) disk in which processing steps related to the verification of the following design method are described in a program language, and the description thereof will be omitted. Omitted.

【0023】図1は、実施形態に係るCAD装置の概略
構成を示すブロック図である。このCAD装置は、大ま
かには、コンピュータを中核とした設計支援部1、設計
支援部1による設計された回路基板のパターンを検証す
る検証部2、外部記憶装置である登録部3、設計者の操
作を受け付けるキーボード,マウス,その他の入力機器
群からなる入力部4、ディスプレイ,プリンタ,プロッ
タ,その他の出力機器群からなる出力部5とを有する。
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a CAD apparatus according to the embodiment. This CAD apparatus is roughly composed of a design support unit 1 having a computer as a core, a verification unit 2 for verifying a pattern of a circuit board designed by the design support unit 1, a registration unit 3 as an external storage device, and a An input unit 4 includes a keyboard, a mouse, and other input devices that accept operations, and an output unit 5 includes a display, a printer, a plotter, and other output devices.

【0024】設計支援部1は、回路基板の設計データ
(信号線および電源線の配線パターン,部品取り付けパ
ターン,ビアパッド、基板などのデータ)を、一旦、登
録部3に出力して仮登録する。設計支援部1は、信号線
データを登録部3を経由して検証部2に入力する。一
方、検証部2からの検証結果は、同様に、登録部3を経
由して設計支援部1に出力する構成でもよいが、この図
示例では、検証結果を直接、設計支援部1に入力する構
成となっている。登録部3は、回路基板の信号線の設計
データおよび基板データを含む基板データベース、汎用
のIC電気特性情報であるIBIS情報のデータベース
を含む。入力部4は、入力したデータおよび指示を出力
する設計支援部1および検証部2に接続されている。出
力部5は、設計支援部1および検証部2に接続され、検
証部2の検証結果、設計支援部1の仮設計パターンおよ
び修正後のパターンの情報を入力し、所定の出力形式で
外部に出力または表示する。
The design support unit 1 temporarily outputs circuit board design data (data of wiring patterns of signal lines and power supply lines, component mounting patterns, via pads, boards, etc.) to the registration unit 3 and temporarily registers them. The design support unit 1 inputs the signal line data to the verification unit 2 via the registration unit 3. On the other hand, the verification result from the verification unit 2 may be similarly output to the design support unit 1 via the registration unit 3, but in the illustrated example, the verification result is directly input to the design support unit 1. It has a configuration. The registration unit 3 includes a board database including design data and board data of signal lines of a circuit board, and a database of IBIS information that is general-purpose IC electrical characteristic information. The input unit 4 is connected to the design support unit 1 and the verification unit 2 that output input data and instructions. The output unit 5 is connected to the design support unit 1 and the verification unit 2, and inputs the verification result of the verification unit 2, the information on the tentative design pattern and the corrected pattern of the design support unit 1, and outputs the information to the outside in a predetermined output format. Output or display.

【0025】検証部2は、変換部21、抽出部22、演
算部23、調査判断部24、記憶部25および制御部2
6を有する。検証部2内の各構成部21〜25は、制御
部26の制御を受けて予め決められた処理内容を、予め
決められた手順に従って実行する。変換部21は、登録
部3からの各種データベースから取得したデータをフォ
ーマット変換して記憶部25または抽出部22に出力す
る。抽出部22は、記憶部25内の基板データベースか
ら信号線データおよび基板データを抽出する。また、記
憶部25に保持されたIBIS情報から、制御部26の
指示により指定された特定の信号線が接続される電子部
品(IC)の電気的データを抽出する。また、これら抽
出後のデータを基に、電子部品をドライバとレシーバに
分類する。また、所定の基準から判断して高速なドライ
バを選別して、高速ドライバと、その出力を受けるレシ
ーバとの組合せリストを作成する。このリストは、記憶
部25内で指定されたアドレス内に格納される。抽出部
22および記憶部25は、制御部26の指示に従って、
検証しようとする全ての信号線ごとに、データ抽出と、
電子部品の選別および高速ドライバとレシーバの組合せ
リスト作成と、必要なデータの格納を繰り返す。本実施
形態における記憶部25は、検証部2内の、他の全ての
構成部21〜24および26が処理した結果および入力
データを適宜保持する。したがって、記憶部25は、検
証部2内の他の構成部と直接接続されている。そのほ
か、記憶部25は、入力データの一つとして前記入力部
4から入力され設定された初期条件を保持可能に、入力
部4に接続されている。この初期条件の取り込み指令
は、たとえば制御部26が行う。
The verification unit 2 includes a conversion unit 21, an extraction unit 22, an operation unit 23, an investigation determination unit 24, a storage unit 25, and a control unit 2.
6. Each of the components 21 to 25 in the verification unit 2 executes predetermined processing contents under the control of the control unit 26 according to a predetermined procedure. The conversion unit 21 converts the format of the data obtained from the various databases from the registration unit 3 and outputs the converted data to the storage unit 25 or the extraction unit 22. The extraction unit 22 extracts signal line data and substrate data from the substrate database in the storage unit 25. Further, from the IBIS information stored in the storage unit 25, the electrical data of an electronic component (IC) to which a specific signal line specified by the instruction of the control unit 26 is connected is extracted. The electronic components are classified into drivers and receivers based on the extracted data. Further, a high-speed driver is selected based on a predetermined criterion, and a combination list of the high-speed driver and a receiver receiving the output is created. This list is stored in the address specified in the storage unit 25. The extraction unit 22 and the storage unit 25, according to an instruction from the control unit 26,
For each signal line to be verified, data extraction and
Selection of electronic components, creation of a combination list of high-speed drivers and receivers, and storage of necessary data are repeated. The storage unit 25 in the present embodiment appropriately holds the results and input data processed by all the other components 21 to 24 and 26 in the verification unit 2. Therefore, the storage unit 25 is directly connected to other components in the verification unit 2. In addition, the storage unit 25 is connected to the input unit 4 so as to be able to hold an initial condition set and input from the input unit 4 as one of the input data. The command for taking in the initial condition is performed by, for example, the control unit 26.

【0026】演算部23は、検証しようとする全ての信
号線ごとに、抽出した設計データおよび電気的データを
記憶部25から読み出し、読み出したデータに基づい
て、ノイズ対策部品の信号線に対する接続位置の適否の
基準となる最大許容距離Lmaxを算出する。ここで、最
大許容距離Lmax とは、動作時に特定の信号線内にパル
ス信号が入力されてからインピーダンス不整合箇所で反
射し当該パルス信号に戻ってくるときの反射遅延時間が
当該パルス信号の電圧レベルの遷移時間以内となる、当
該パルス信号の入力箇所と反射箇所間の最大の距離をい
う。
The arithmetic unit 23 reads out the extracted design data and electrical data from the storage unit 25 for every signal line to be verified, and based on the read data, the connection position of the noise suppression component to the signal line. Calculate the maximum allowable distance Lmax as a criterion of the suitability of. Here, the maximum allowable distance Lmax is a reflection delay time when a pulse signal is input into a specific signal line during operation, reflected at an impedance mismatching point and returned to the pulse signal, and is a voltage of the pulse signal. This is the maximum distance between the input point of the pulse signal and the reflection point within the level transition time.

【0027】以下、この最大許容距離Lmax の算出方法
を、式を用いて説明する。まず、信号線データを基に、
特定した信号線の特性インピーダンスZ0と、単位距離
当たりの伝搬遅延時間Tpdを算出する。この算出は、信
号線の配線構造に応じて行う。
Hereinafter, a method of calculating the maximum allowable distance Lmax will be described using equations. First, based on the signal line data,
The characteristic impedance Z0 of the specified signal line and the propagation delay time Tpd per unit distance are calculated. This calculation is performed according to the wiring structure of the signal line.

【0028】図2(A)にマイクロストリップライン
の、図2(B)にシングルストリップラインの、図2
(C)にダブルストリップラインの各配線構造を示す。
図2(A)に示す線幅W〔μm〕,厚さt〔μm〕のマ
イクロストリップラインE1は、誘電率εr,厚さh
〔μm〕の基板などの誘電体層DiL1上に形成され、
誘電体層DiL1の裏面には、基準電圧などの一定電圧
が印加される電源プレートP1が配置されている。マイ
クロストリップラインE1と電源プレートP1との実効
比誘電率εreff は、マイクロストリップラインE1の
線幅Wと、マイクロストリップラインE1および電源プ
レートP1間の距離hとに依存する。
FIG. 2A shows a microstrip line, and FIG. 2B shows a single strip line.
(C) shows each wiring structure of the double strip line.
A microstrip line E1 having a line width W [μm] and a thickness t [μm] shown in FIG.
[Μm] formed on a dielectric layer DiL1 such as a substrate,
A power supply plate P1 to which a constant voltage such as a reference voltage is applied is arranged on the back surface of the dielectric layer DiL1. The effective relative permittivity εreff between the microstrip line E1 and the power plate P1 depends on the line width W of the microstrip line E1 and the distance h between the microstrip line E1 and the power plate P1.

【0029】一方、ストリップライン構造においては、
配線の階層が単一のもの(シングルストリップライン,
図2(B))と、配線の階層が2層のもの(ダブルスト
リップライン,図2(C))とがある。図2(B)に示
す線幅W,厚さtのシングルストリップラインE2は、
誘電率εrの誘電体層DiL2内に埋め込まれている。
誘電体層DiL2の厚さはd0〔μm〕であり、その表
面と裏面には、それぞれ電源電圧または基準電圧などの
一定電圧が印加される電源プレートP2,P3が配置さ
れている。図2(C)に示す線幅W〔μm〕,厚さt
〔μm〕のダブルストリップラインE3,E4は、誘電
率εrの誘電体層DiL3内に埋め込まれている。誘電
体層DiL2の表面と裏面には、それぞれ電源電圧また
は基準電圧などの一定電圧が印加される電源プレートP
2,P3が配置されている。ストリップラインE3と電
源プレートP2との距離、およびストリップラインE4
と電源プレートP3との距離は共にd1〔μm〕であ
り、ストリップラインE3とE4間の距離はd2〔μ
m〕である。
On the other hand, in the strip line structure,
A single wiring layer (single strip line,
2B) and a wiring having two layers (double strip line, FIG. 2C). A single strip line E2 having a line width W and a thickness t shown in FIG.
It is embedded in a dielectric layer DiL2 having a dielectric constant of εr.
The thickness of the dielectric layer DiL2 is d0 [μm], and power supply plates P2 and P3 to which a constant voltage such as a power supply voltage or a reference voltage is applied are arranged on the front and back surfaces, respectively. The line width W [μm] and the thickness t shown in FIG.
[Μm] double strip lines E3 and E4 are embedded in a dielectric layer DiL3 having a dielectric constant εr. A power supply plate P to which a constant voltage such as a power supply voltage or a reference voltage is applied to the front and back surfaces of the dielectric layer DiL2, respectively.
2, P3 are arranged. Distance between strip line E3 and power supply plate P2, and strip line E4
The distance between the power supply plate P3 and the power supply plate P3 is d1 [μm], and the distance between the strip lines E3 and E4 is d2 [μm].
m].

【0030】特性インピーダンスZ0〔Ω〕の算出で
は、信号線がマイクロストリップラインE1の場合は計
算式(2-1),(2-2) を用い、信号線がシングルストリップ
ラインE2の場合は計算式(2-3) を用い、また信号線が
ダブルストリップラインE3,E4の場合は計算式(2-
4) を用いる。これらの式(2-1) 〜(2-4) は、いずれも
配線構造の形態から求めた実験式である。なお、式中の
“Rt ” は平方根の演算記号を表す。
In the calculation of the characteristic impedance Z0 [Ω], the calculation formulas (2-1) and (2-2) are used when the signal line is the microstrip line E1, and the calculation is performed when the signal line is the single strip line E2. Equation (2-3) is used, and when the signal line is the double strip line E3, E4, the calculation equation (2-
Use 4). These equations (2-1) to (2-4) are all experimental equations obtained from the form of the wiring structure. Note that "Rt" in the equation represents a square root operation symbol.

【数2】 (Equation 2)

【0031】単位信号線長さ当たりの伝搬遅延時間Tpd
〔s/m〕は、信号線がマイクロストリップラインE1
の場合は計算式(3-1) を用い、信号線がシングルストリ
ップラインE2またはダブルストリップラインE3,E
4の場合は計算式(3-2) を用いる。こららの式(3-1) お
よび式(3-2) も、配線構造の形態から求めた実験式であ
る。なお、式中の“Rt ”は平方根の演算記号を表す。
Propagation delay time Tpd per unit signal line length
[S / m] indicates that the signal line is a microstrip line E1
In the case of (1), the calculation formula (3-1) is used, and the signal line is a single strip line E2 or a double strip line E3, E
In the case of 4, the calculation formula (3-2) is used. These equations (3-1) and (3-2) are also experimental equations obtained from the form of the wiring structure. Note that "Rt" in the equation represents a square root operation symbol.

【数3】 (Equation 3)

【0032】このようにして得られた信号線の特性イン
ピーダンスZ0〔Ω〕および伝搬遅延時間Tpd〔s/
m〕と、抽出部22が抽出したドライバの出力インピー
ダンスRs〔Ω〕およびパルス信号の立ち上がり時間τ
r(立ち下がり時間τf)〔s〕とを用いて、最大許可
距離Lmax 〔m〕を算出する。この算出に当たっては、
出力インピーダンスRsが特性インピーダンスZ0以上
の場合に式(4-1) を用いる。出力インピーダンスRsが
特性インピーダンスZ0未満の場合は、更に、その差に
応じて5通りの場合を分け、式(4-2) 〜式(4-6) の何れ
かを用いる。なお式(4-2) 〜式(4-6) のK1〜K5は、
K1>K2>K3>K4>K5の関係を満たす所定の係
数である。この係数値は初期条件として設定される。
The characteristic impedance Z0 [Ω] of the signal line and the propagation delay time Tpd [s /
m], the output impedance Rs [Ω] of the driver extracted by the extraction unit 22, and the rise time τ of the pulse signal.
The maximum allowable distance Lmax [m] is calculated using r (fall time τf) [s]. In this calculation,
Equation (4-1) is used when the output impedance Rs is equal to or greater than the characteristic impedance Z0. When the output impedance Rs is less than the characteristic impedance Z0, five cases are further divided according to the difference, and one of the equations (4-2) to (4-6) is used. Note that K1 to K5 in Expressions (4-2) to (4-6) are:
It is a predetermined coefficient that satisfies the relationship of K1>K2>K3>K4> K5. This coefficient value is set as an initial condition.

【数4】 Rs≧Z0の時:τr/2≧Tpd×Lmax …(4-1) Rs<Z0の時で、かつZ0−Rs≦10Ωの場合: Lmax =(τr/Tpd)×K1 …(4-2) 10Ω<Z0−Rs≦20Ωの場合: Lmax =(τr/Tpd)×K2 …(4-3) 20Ω<Z0−Rs≦30Ωの場合: Lmax =(τr/Tpd)×K3 …(4-4) 30Ω<Z0−Rs≦40Ωの場合: Lmax =(τr/Tpd)×K4 …(4-5) 40Ω<Z0−Rsの場合: Lmax =(τr/Tpd)×K5 …(4-6)When Rs ≧ Z0: τr / 2 ≧ Tpd × Lmax (4-1) When Rs <Z0 and Z0−Rs ≦ 10Ω: Lmax = (τr / Tpd) × K1 ( 4-2) When 10Ω <Z0−Rs ≦ 20Ω: Lmax = (τr / Tpd) × K2 (4-3) When 20Ω <Z0−Rs ≦ 30Ω: Lmax = (τr / Tpd) × K3 ( 4-4) When 30Ω <Z0-Rs ≦ 40Ω: Lmax = (τr / Tpd) × K4 (4-5) When 40Ω <Z0-Rs: Lmax = (τr / Tpd) × K5 (4- 6)

【0033】調査判断手段24は、上記演算に先立っ
て、抽出した電子部品データに基づいて、ノイズ対策部
品が電子部品に含まれるか否かを調査する。また、調査
判断手段24は、上記演算後に、得られた最大許容距離
Lmax に基づいて、ノイズ対策部品と、これを近くに配
置すべき電子部品との間の信号線距離が適切であるか否
かを判断する。具体的には、図14のダンピング抵抗R
dとドライバ間距離D−Leng あるいはAC並列終端用
抵抗Racp とレシーバ間距離RC−Leng を測定し、最
大許容距離Lmax と比較して、これらのノイズ対策部品
の接続位置が適切であるか否かを判断する。また、ノイ
ズ対策部品の必要性も判断する。調査判断手段24は、
この調査と判断の処理を、全ての信号線に対して繰り返
し行う。
Prior to the above-mentioned calculation, the investigation judging means 24 examines whether or not a noise suppression component is included in the electronic component based on the extracted electronic component data. Further, after the above calculation, the investigation determination means 24 determines whether or not the signal line distance between the noise countermeasure component and the electronic component where the noise countermeasure component is to be disposed is appropriate based on the obtained maximum allowable distance Lmax. Judge. Specifically, the damping resistance R shown in FIG.
d and the distance D-Leng between the drivers or the resistor Racp for AC parallel termination and the distance RC-Leng between the receivers are measured and compared with the maximum allowable distance Lmax to determine whether the connection positions of these noise suppression components are appropriate. Judge. Also, the necessity of noise suppression components is determined. The investigation determination means 24
This investigation and determination process is repeated for all signal lines.

【0034】この判断の結果は、たとえばエラーチェッ
クリストとして、出力部5から出力、たとえば画面表示
される。また、判断の結果は、修正が必要な信号線名お
よびノイズ対策部品のリストとして設計支援部1に入力
される。設計作業者は、出力部5から出力されたリスト
を見て、設計支援部1を操作し、反射が問題となりそう
な電子部品間の距離D−Leng あるいはRC−Leng 、
または場合によっては信号線の全長T−Leng を短く
し、最大許容距離Lmax 内に収まるように変更する。修
正が完了した回路基板データは登録部2に本登録され、
回路基板の検証および修正が完了する。
The result of this determination is output from the output unit 5 as, for example, an error check list, for example, displayed on a screen. The result of the determination is input to the design support unit 1 as a list of signal line names and noise suppression components that need to be corrected. The designer looks at the list output from the output unit 5 and operates the design support unit 1 to determine the distance D-Leng or RC-Leng between electronic components where reflection is likely to be a problem.
Alternatively, in some cases, the total length T-Leng of the signal line is shortened and changed so as to be within the maximum allowable distance Lmax. The corrected circuit board data is fully registered in the registration unit 2,
Verification and correction of the circuit board are completed.

【0035】つぎに、このような構成のCAD装置を用
いて、図3および図4に示す構造の回路基板をパターン
設計し、その検証と修正を行う具体的実施例を、図5〜
図10のフローチャートに沿って説明する。
Next, a specific example of designing a circuit board having the structure shown in FIGS. 3 and 4 using the CAD apparatus having such a structure, and verifying and correcting the pattern will be described with reference to FIGS.
This will be described with reference to the flowchart of FIG.

【0036】図3は、回路基板の実装時におけるドライ
バおよびレシーバと信号線との配置パターン例である。
また、図4は、信号線の配線構造を示す図である。本例
の回路基板の実装時には、図3に示すように、1つのド
ライバDv(IC100)の第1出力ピンと、1つのレ
シーバRv(IC200)の第1入力ピンとの間に、マ
イクロストリップ構造の信号線(マイクロストリップラ
イン)E1が接続される。信号線E1は、たとえば、そ
の全長T−Leng が70mm,線幅wが100μm,厚
さtが30μmである。たとえば基準電位VSSで保持さ
れた電源プレートP1上に、比誘電率εrが4.0の誘
電体層DiL1が形成され、その誘電体層DiL1上に
信号線E1が配置されている。また、誘電体層DiL1
の厚さ、すなわち電源プレートP1と信号線E1との距
離hは100μmである。このとき、前記した式(2-2)
による計算から求めた、信号線E1と誘電体層DiL1
との間の実効比誘電率εreff は3.0である。この信
号線E1の途中にドライバDvの直列終端抵抗(タンビ
ング抵抗)Rdが接続されている。タンビング抵抗Rd
の素子名はR101であり、その抵抗値は47〔Ω〕で
ある。また、タンビング抵抗RdとドライバDvとの信
号線距離D−Leng は50〔mm〕である。なお、ドラ
イバDvの出力インピーダンスRsは20〔Ω〕であ
り、ドライバDvからパルス信号の立ち上がり時間τr
は1〔ns〕である。
FIG. 3 shows an example of an arrangement pattern of a driver, a receiver, and a signal line when a circuit board is mounted.
FIG. 4 is a diagram showing a wiring structure of a signal line. When the circuit board of this example is mounted, as shown in FIG. 3, a signal having a microstrip structure is provided between the first output pin of one driver Dv (IC100) and the first input pin of one receiver Rv (IC200). The line (microstrip line) E1 is connected. The signal line E1 has, for example, a total length T-Leng of 70 mm, a line width w of 100 μm, and a thickness t of 30 μm. For example, a dielectric layer DiL1 having a relative dielectric constant εr of 4.0 is formed on a power supply plate P1 held at a reference potential V SS , and a signal line E1 is arranged on the dielectric layer DiL1. Also, the dielectric layer DiL1
, That is, the distance h between the power supply plate P1 and the signal line E1 is 100 μm. At this time, the above equation (2-2)
Signal line E1 and dielectric layer DiL1
Is between 3.0 and 3.0. A series terminating resistor (tamping resistor) Rd of the driver Dv is connected in the middle of the signal line E1. Tumbling resistance Rd
Is R101 and its resistance value is 47 [Ω]. The signal line distance D-Leng between the tumbling resistor Rd and the driver Dv is 50 [mm]. The output impedance Rs of the driver Dv is 20 [Ω], and the rise time τr of the pulse signal from the driver Dv is
Is 1 [ns].

【0037】なお、ドライバおよびレシーバと信号線と
の接続形態は、図3が最も簡単な場合であるが、実際の
回路基板では、ドライバDvとレシーバRv間に信号線
が複数存在することがある。また、信号線の途中から分
岐して他のレシーバに入力されるなど、種々の形態があ
る。ここでは、これらの形態も考慮してながら、図3,
4に示す回路基板の検証および修正を説明をする。
FIG. 3 shows the simplest connection between the driver and the receiver and the signal lines. However, in an actual circuit board, a plurality of signal lines may exist between the driver Dv and the receiver Rv. . Further, there are various modes such as branching from the middle of a signal line and inputting to another receiver. Here, taking these forms into account, FIG.
Verification and correction of the circuit board shown in FIG. 4 will be described.

【0038】まず、図5のステップST1において、初
期条件を設定する。すなわち、前記した式(4-2) 〜式(4
-6) で用いる係数K1〜K5(K1>K2>K3>K4
>K5)が設定される。ここでは、K1、K2、K3、
K4、K5の定数を、順に、0.16,0.11,0.
09,0.085,0.08と設定する。これらの初期
条件は、たとえば図1の入力部4から設計者が手入力
し、記憶部25の所定アドレス内に記憶される。
First, in step ST1 of FIG. 5, initial conditions are set. That is, the above equations (4-2) to (4)
-6) Coefficients K1 to K5 (K1>K2>K3> K4
> K5) is set. Here, K1, K2, K3,
The constants of K4 and K5 are set to 0.16, 0.11, 0.
09, 0.085, and 0.08 are set. These initial conditions are manually input by the designer from the input unit 4 of FIG. 1 and stored in a predetermined address of the storage unit 25.

【0039】ステップST2では、設計支援装置1から
入力され登録部3内に登録されている基板データベース
から、仮設計された回路基板のデータとして全ての配線
名を抽出する。具体的には、登録部3から読み出した基
板データベース情報を、変換部21でフォーマット変換
した後、その中から、抽出部22が配線名を抽出し、抽
出した配線名のリストを記憶部25の所定アドレス内に
書き込む。また、制御部26が、この抽出した配線名リ
ストから一つの配線(信号線E1)を選択する。
In step ST2, all wiring names are extracted as data of the temporarily designed circuit board from the board database input from the design support apparatus 1 and registered in the registration unit 3. Specifically, after converting the board database information read from the registration unit 3 into a format by the conversion unit 21, the extraction unit 22 extracts a wiring name from the format, and a list of the extracted wiring names is stored in the storage unit 25. Write in a predetermined address. Further, the control unit 26 selects one wiring (signal line E1) from the extracted wiring name list.

【0040】ステップST3では、抽出部22が、制御
部26が選択した特定の信号線E1に対し接続される電
子部品を、基板データベースから読み出して抽出する。
また、抽出した電子部品を、さらにドライバDv,レシ
ーバRvおよびその他に分類しリストアップする。
In step ST3, the extraction unit 22 reads out and extracts the electronic components connected to the specific signal line E1 selected by the control unit 26 from the board database.
Further, the extracted electronic components are further classified into a driver Dv, a receiver Rv, and others, and are listed.

【0041】ステップST4では、抽出部22が、ドラ
イバDvのリスト{Dv}から一つのドライバ(IC1
00)を選択し、電子部品データから、そのドライバの
高速性評価データ、たとえばパルス信号の立ち上がり時
間τrを抽出する。ステップST5では、調査判断部2
4が、この高速性評価データを基に、選択したドライバ
(IC100)が高速であるか否か、すなわち立ち上が
り時間τrが所定値以下であるか否かを調査する。その
結果、高速である場合は、当該ドライバ(IC100)
を高速ドライバに指定し(ステップST6)、ドライバ
リスト{Dv}に他の未評価のドライバDvがあるか否
かを判断し(ステップST7)、ある場合は、そのドラ
イバDvに対し、ステップST4〜ステップST7の処
理を繰り返す。ドライバリスト{Dv}内の全てのドラ
イバの高速性評価が終了すると、処理フローがステップ
ST8に進む。
In step ST4, the extraction unit 22 extracts one driver (IC1) from the list of drivers Dv {Dv}.
00) to extract the high-speed evaluation data of the driver, for example, the rise time τr of the pulse signal, from the electronic component data. In step ST5, the investigation determination unit 2
4 checks whether or not the selected driver (IC 100) is high-speed based on the high-speed evaluation data, that is, whether or not the rise time τr is equal to or shorter than a predetermined value. As a result, if the speed is high, the driver (IC100)
Is specified as a high-speed driver (step ST6), and it is determined whether or not there is another unevaluated driver Dv in the driver list {Dv} (step ST7). The process of step ST7 is repeated. When the high-speed evaluation of all the drivers in the driver list {Dv} is completed, the processing flow proceeds to step ST8.

【0042】ステップST8では、抽出部22が、高速
ドライバDvと、その出力に高速信号線によって接続さ
れたレシーバRvとの組合せリスト{Dv,Rv}を作
成する。調査判断部24が、つぎのステップST9にお
いて、この組合せリスト{Dv,Rv}から一つの組
(IC100,IC200)を選択し、ドライバ(IC
100)とレシーバ(IC200)間の信号線に接続さ
れた他の電子部品名を調査する。また、続くステップS
T10において、リストアップされた電子部品の内から
抵抗の使用目的を調査する。具体的には、抵抗の信号線
への接続のされ方を調査する。その結果により、ステッ
プST11において、ドライバ(IC100)とレシー
バ(IC200)間の信号線に接続された抵抗がノイズ
対策部品、またはその一部であるか否かを判断する。こ
の判断の結果、ノイズ対策部品がない場合は、処理フロ
ーがステップST15c進む。
In step ST8, the extraction unit 22 creates a combination list {Dv, Rv} of the high-speed driver Dv and the receiver Rv connected to its output by a high-speed signal line. In the next step ST9, the investigation determination unit 24 selects one pair (IC100, IC200) from the combination list {Dv, Rv}, and sets the driver (IC
100) and the name of another electronic component connected to the signal line between the receiver (IC 200). The following step S
At T10, the purpose of use of the resistor is examined from the electronic components listed. Specifically, a method of connecting the resistor to the signal line is investigated. Based on the result, in step ST11, it is determined whether the resistance connected to the signal line between the driver (IC100) and the receiver (IC200) is a noise suppression component or a part thereof. If the result of this determination is that there is no noise suppression component, the process flow proceeds to step ST15c.

【0043】調査判断部24は、ステップST12にお
いて、ステップST11の判断により識別されたノイズ
対策部品の抵抗について、信号線に対する抵抗の接続態
様から終端の種類を調査する。具体的に、ステップST
12aで信号線に接続された抵抗が直列終端抵抗である
か否かを調査する。本例では、このステップST12a
で“YES”、すなわち“信号線E1に抵抗Rdが直列
接続された直列終端である”と判断される。そのため、
ステップST15aにて、その抵抗Rdとドライバ(I
C100)との信号線距離D−Leng の長さ50〔m
m〕が測定される。なお、本例以外では、たとえば、ス
テップST12aの判断が“NO”の場合、ステップS
T12bに進む。ステップST12bで“YES”、す
なわち“信号線に抵抗が並列に接続され、高周波接地を
とるためのAC並列終端である”と判断すると、ステッ
プST15bにおいて、その抵抗とレシーバ(IC20
0)との信号線距離RC−Leng を測定する。また、そ
れ以外の場合、すなわち先のステップST11でノイズ
対策部品がないと判断した場合、ステップST15cで
ドライバ(IC100)とレシーバ(IC200)との
間の信号線E1の全長70〔mm〕を測定する。なお、
ステップST12a,ST12bが共に“NO”の場合
は、リスト{Dv,Rv}から他の組を探し(ステップ
ST13)、他の組がある場合、ステップST9に戻っ
て同様の処理を繰り返す。また、リスト{Dv,Rv}
内に他の組がない場合は、配線リストから他の配線を探
し(ステップST14)、他の配線がある場合、ステッ
プST3に戻って同様の処理を繰り返す。他の配線もな
い場合は、処理が強制終了する。
In step ST12, the checking and judging section 24 checks the termination type of the resistance of the noise countermeasure component identified by the judgment in step ST11 from the connection state of the resistance to the signal line. Specifically, step ST
At 12a, it is checked whether or not the resistor connected to the signal line is a series termination resistor. In this example, this step ST12a
Is determined as "YES", that is, "the series termination in which the resistor Rd is connected in series to the signal line E1". for that reason,
In step ST15a, the resistance Rd and the driver (I
C100) and a length 50 [m] of the signal line distance D-Leng.
m] is measured. Note that, other than the present example, for example, if the determination in step ST12a is “NO”,
Proceed to T12b. If "YES" is determined in step ST12b, that is, "the resistor is connected in parallel to the signal line and is the AC parallel termination for grounding the high frequency", the resistor and the receiver (IC20) are determined in step ST15b.
0) and the signal line distance RC-Leng is measured. In other cases, that is, when it is determined in step ST11 that there is no noise suppression component, the total length 70 [mm] of the signal line E1 between the driver (IC100) and the receiver (IC200) is measured in step ST15c. I do. In addition,
If both steps ST12a and ST12b are "NO", another set is searched from the list {Dv, Rv} (step ST13), and if there is another set, the process returns to step ST9 and repeats the same processing. Also, the list {Dv, Rv}
If there is no other set in the list, another wiring is searched from the wiring list (step ST14). If there is another wiring, the process returns to step ST3 and repeats the same processing. If there is no other wiring, the process is forcibly terminated.

【0044】ステップST16において、調査判断部2
4は、まず、測定した信号線の長さD−Leng (または
RC−Leng ,T−Leng )を測定値Leng のレジスタ
内に記憶する。このとき、測定値Leng がD−Leng ,
RC−Leng ,またはT−Leng であることを示す識別
情報も同時に記憶する。続いて、調査判断部24は、長
さを測定した信号線の構造を調査する。具体的に、本例
では、ステップST16aにおいて、信号線がマイクロ
ストリップラインか否かを判断する。この判断の結果、
“信号線E1がマイクロストリップラインである”と判
断され、ステップST17aにおいて、演算部が、前記
式(2-1),(2-2) を用いて信号線E1の特性インピーダン
スZ0〔Ω〕を算出し、前記式(3-1) を用いて信号線E
1の単位信号線長さ当たりの伝搬遅延時間Tpd〔s/
m〕を算出する。本例では、この結果、信号線E1につ
いて、特性インピーダンスZ0=70Ωが算出され、ま
た伝搬遅延時間Tpd=1.27×10-8s/mが算出さ
れる。本例以外の場合、ステップST16aで“NO”
となると、ステップST16bで信号線がシングルスト
リップラインか否かが判断される。この判断が“YE
S”の場合、ステップST17bにおいて、演算部24
により、前記式(2-3),(3-2) を用いて信号線の特性イン
ピーダンスZ0〔Ω〕および伝搬遅延時間Tpd〔s/
m〕が算出される。ステップST16bでも“NO”の
場合、信号線はダブルストリップラインであるとして、
ステップST17cにおいて、演算部24により、前記
式(2-4),(3-2) を用いて信号線の特性インピーダンスZ
0〔Ω〕および伝搬遅延時間Tpd〔s/m〕が算出され
る。
In step ST16, the investigation judgment section 2
4 first stores the measured signal line length D-Leng (or RC-Leng, T-Leng) in the register of the measured value Leng. At this time, the measured value Leng is D-Leng,
Identification information indicating RC-Leng or T-Leng is also stored at the same time. Subsequently, the investigation determination unit 24 investigates the structure of the signal line whose length has been measured. Specifically, in this example, in step ST16a, it is determined whether the signal line is a microstrip line. As a result of this decision,
It is determined that “the signal line E1 is a microstrip line”, and in step ST17a, the arithmetic unit calculates the characteristic impedance Z0 [Ω] of the signal line E1 by using the equations (2-1) and (2-2). The signal line E is calculated by using the above equation (3-1).
Propagation delay time per unit signal line length Tpd [s /
m] is calculated. In this example, as a result, for the signal line E1, the characteristic impedance Z0 = 70Ω is calculated, and the propagation delay time Tpd = 1.27 × 10 −8 s / m is calculated. In cases other than this example, “NO” in step ST16a
Then, in step ST16b, it is determined whether the signal line is a single strip line. This judgment is "YE
In the case of "S", in step ST17b,
By using the above equations (2-3) and (3-2), the characteristic impedance Z0 [Ω] of the signal line and the propagation delay time Tpd [s /
m] is calculated. If “NO” also in step ST16b, it is determined that the signal line is a double strip line, and
In step ST17c, the arithmetic unit 24 calculates the characteristic impedance Z of the signal line using the equations (2-4) and (3-2).
0 [Ω] and the propagation delay time Tpd [s / m] are calculated.

【0045】つぎに、抽出部22は、ステップST18
において、選択されたドライバとレシーバの組合(IC
100,IC200)に関する電気的データを、IBI
S情報から抽出する。これにより、ドライバDvから出
力される信号のパラメータ、すなわち出力インピーダン
スRsが抽出される。本例では、信号線E1の出力イン
ピーダンスRs=20〔Ω〕が抽出される。
Next, the extraction unit 22 determines in step ST18
, The combination of the selected driver and receiver (IC
100, IC200) by IBI
Extract from S information. Thereby, the parameter of the signal output from the driver Dv, that is, the output impedance Rs is extracted. In this example, the output impedance Rs = 20 [Ω] of the signal line E1 is extracted.

【0046】ステップST19において、抽出した高速
ドライバの出力インピーダンスRsが、信号線E1の特
性インピーダンスZ0と比較される。この比較の結果、
本例では、出力インピーダンスRsは特性インピーダン
スZ0より小さいので、処理フローがステップST20
aに進み、ここで、演算部23により、前記した式(4-
2) 〜式(4-6) の何れかを用いて最大許容距離Lmax が
算出される。本例では、特性インピーダンスZ0と出力
インピーダンスRsとの差は50Ωと大きいので式(4-
6) が用いられ、最大許容距離Lmax =6.8mmが算
出される。なお、特性インピーダンスZ0が出力インピ
ーダンスRs以下の場合は、処理フローがステップST
20bに進み、ここで、演算部23により、前記した式
(4-1) を用いて最大許容距離Lmax が算出される。
In step ST19, the extracted output impedance Rs of the high-speed driver is compared with the characteristic impedance Z0 of the signal line E1. As a result of this comparison,
In this example, since the output impedance Rs is smaller than the characteristic impedance Z0, the processing flow is changed to step ST20.
a, where the arithmetic unit 23 calculates the above equation (4-
2) The maximum allowable distance Lmax is calculated using any one of the expressions (4-6). In this example, since the difference between the characteristic impedance Z0 and the output impedance Rs is as large as 50Ω, the equation (4-
6) is used to calculate the maximum allowable distance Lmax = 6.8 mm. If the characteristic impedance Z0 is equal to or less than the output impedance Rs, the processing flow proceeds to step ST.
20b, where the arithmetic unit 23 calculates
The maximum allowable distance Lmax is calculated using (4-1).

【0047】ステップST21では、調査判断部24
が、レジスタ内の測定値Leng を、この最大許容距離L
max と比較する。レジスタ内の測定値Leng が最大許容
距離Lmax より大きい場合は、さらに調査判断部24
が、ステップST22aにおいて、レジスタ内の測定値
Leng がD−Leng を測定したものであるか否かを識別
情報から判断する。その判断結果が“YES”の場合、
つぎにステップST22dにおいて、AC並列終端抵抗
Racp の有無を判断する。この判断は、不必要なノイズ
対策部品を検出するためで、判断結果が“YES”の場
合は、図11に示すように、“Racp は不要です。削除
しなさい。”との対策指示DM11が決定される。本例
では、AC並列終端抵抗Racp は無いので、この対策指
示DM11はされずに、対策指示DM21、すなわち
“D−Leng を適正範囲に入るように短縮しなさい”と
の指示が決定される。続くステップST24aでは、D
−Leng を適正範囲内とした状態でダンピング抵抗値R
d(Rd値)の適否が判断され、Rd値が適当ならば、
当該対策指示工程が終了する。Rd値が不適当と判断さ
れると、ステップST25aにおいて、図11に示すよ
うに“Rd値を適正値に変更しないさい”との対策指示
DM41が決定され、当該対策指示工程が終了する。
In step ST21, the investigation determination section 24
Translates the measured value Leng in the register into this maximum allowable distance L
Compare with max. If the measured value Leng in the register is larger than the maximum allowable distance Lmax, the investigation and determination unit 24
However, in step ST22a, it is determined from the identification information whether or not the measured value Leng in the register is obtained by measuring D-Leng. If the result is "YES",
Next, in step ST22d, the presence or absence of the AC parallel terminating resistor Racp is determined. This determination is for detecting unnecessary noise countermeasure components. If the determination result is "YES", as shown in FIG. 11, the countermeasure instruction DM11 saying "Racp is unnecessary. Please delete." It is determined. In this example, since there is no AC parallel termination resistor Racp, this countermeasure instruction DM11 is not performed, and the countermeasure instruction DM21, that is, the instruction of "shorten D-Leng so as to fall within an appropriate range" is determined. In the following step ST24a, D
−Leng within the appropriate range, and the damping resistance R
The suitability of d (Rd value) is determined, and if the Rd value is appropriate,
The countermeasure instruction process ends. If it is determined that the Rd value is inappropriate, in step ST25a, as shown in FIG. 11, a countermeasure instruction DM41 indicating that "the Rd value should not be changed to an appropriate value" is determined, and the countermeasure instruction step ends.

【0048】先のステップST22aで“NO”と判断
された場合は、ステップST22bにおいて、調査判断
部24が、レジスタ内の測定値Leng がRC−Leng を
測定したものであるか否かを識別情報から判断する。そ
の判断結果が“YES”の場合、つぎにステップST2
3cにおいて、図11に示すように、“RC−Lengを
適正範囲に入るように短縮しなさい”との対策指示DM
22が決定される。続くステップST24bでは、RC
−Leng を適正範囲内とした状態でAC並列終端抵抗値
Racp (Racp 値)の適否が判断され、Racp 値が適当
ならば、当該対策指示工程が終了する。Racp 値が不適
当と判断されると、ステップST25bにおいて、図1
1に示すように“Racp 値を適正値に変更しないさい”
との対策指示DM42が決定され、当該対策指示工程が
終了する。ステップST22bで“NO”と判断された
場合、ステップST23dにおいて、図11に示すよう
に、“T−Leng を適正範囲に入るように短縮しなさ
い”との対策指示DM23、あるいは、“直列またはA
C並列終端を適切に行いなさい”との対策指示DM3が
決定され、当該対策指示工程が終了する。
If "NO" is determined in the previous step ST22a, in step ST22b, the investigation determination unit 24 determines whether or not the measured value Leng in the register is a value obtained by measuring RC-Leng. Judge from. If the result of the determination is "YES", then step ST2
In FIG. 3c, as shown in FIG. 11, the countermeasure instruction DM of "shorten RC-Leng so that it falls within an appropriate range"
22 is determined. In a succeeding step ST24b, RC
With −Leng within the proper range, the suitability of the AC parallel termination resistance value Racp (Racp value) is determined, and if the Racp value is appropriate, the countermeasure instruction step ends. If it is determined that the Racp value is inappropriate, in step ST25b,
As shown in 1, "Do not change the Racp value to an appropriate value."
Is determined, and the countermeasure instruction step ends. If "NO" is determined in the step ST22b, in a step ST23d, as shown in FIG. 11, a countermeasure instruction DM23 for "shorten T-Leng so as to fall within an appropriate range", or a "serial or A"
Properly perform C parallel termination "is determined, and the countermeasure instruction step is completed.

【0049】先のステップST21で“YES”が判断
されると、ステップST22cにおいて、調査判断部2
4が、レジスタ内の測定値Leng がT−Leng を測定し
たものであるか否かを識別情報から判断する。その判断
結果が“YES”の場合は対策が指示されず、“NO”
の場合に、つぎにステップST23eにおいて、図11
に示すように“Rd,Racp は不要です。削除しなさ
い。”との対策指示DM12が決定され、その後、当該
対策指示工程が終了する。
If "YES" is determined in the previous step ST21, the check determining unit 2 proceeds to step ST22c.
4 judges from the identification information whether or not the measured value Leng in the register is a value obtained by measuring T-Leng. If the result of the determination is "YES", no countermeasure is instructed and "NO"
Then, in step ST23e, in FIG.
As shown in the figure, the countermeasure instruction DM12 of "Rd, Racp is unnecessary. Delete it." Is determined, and then the countermeasure instruction step is completed.

【0050】以上で、信号線E1とドライバD(IC1
00)との組合せにおける、信号線E1の検証が終了す
る。
The signal line E1 and the driver D (IC1
00), the verification of the signal line E1 ends.

【0051】つぎに、ステップST26において、信号
線E1に信号を授受する他のドライバとレシーバの組
(Dv,Rv)の有無が調べられる。そして、他に(D
v,Rv)がある場合は、先に説明したステップST9
〜ST26を、ステップST26で“他に(Dv,R
v)なし”と判断されるまで繰り返す。ステップST2
6で“他に(Dv,Rv)なし”と判断されると、信号
線E1の検証が完了し、処理フローがステップST27
に進む。
Next, in step ST26, the presence / absence of another driver-receiver pair (Dv, Rv) for transmitting / receiving a signal to / from the signal line E1 is checked. And else (D
v, Rv), if there is the step ST9 described above.
To ST26 in step ST26, "Other (Dv, R
v) Nothing is repeated until it is determined that there is none. Step ST2
If it is determined in step 6 that there is no other (Dv, Rv), the verification of the signal line E1 is completed, and the processing flow proceeds to step ST27.
Proceed to.

【0052】その後、ステップST27において、他の
信号線の有無が判断され、他に未検証の信号線がある場
合、先に説明したステップST3〜ST27を、ステッ
プST27で“未検証の信号線が無い”と判断されるま
で繰り返す。ステップST27で“未検証の信号線が無
い”と判断されると、最後に、ステップST28におい
て、対策を表示、たとえば修正の必要な箇所の信号線名
とノイズ対策部品名および対策指示内容を列挙したエラ
ーチェックリストを出力部5から出力すると、当該検証
の全工程が終了する。その後、前記したように設計作業
者がチェックリストを見ながら回路修正を行う。回路修
正が完了すると、この修正後の回路基板データが登録部
3に本登録され、回路基板設計が完了する。
Thereafter, in step ST27, the presence or absence of another signal line is determined. If there is another unverified signal line, the above-described steps ST3 to ST27 are repeated in step ST27. Repeat until it is judged that there is not. If it is determined in step ST27 that there is no unverified signal line, finally, in step ST28, a countermeasure is displayed, for example, a signal line name of a portion requiring correction, a noise countermeasure component name, and a countermeasure instruction content are listed. When the output error check list is output from the output unit 5, all the verification steps are completed. Then, as described above, the design operator corrects the circuit while viewing the checklist. When the circuit correction is completed, the circuit board data after the correction is permanently registered in the registration unit 3, and the circuit board design is completed.

【0053】この回路修正により、デジタル信号の高調
波成分の反射があって原信号に重畳した場合の、当該ノ
イズ成分の影響が低減される。図12(A)は、電子部
品間の距離D−Leng あるいはRC−Leng が最大許容
距離Lmax より大きい場合の高周波成分の反射を説明す
る図である。また、図12(B)は、回路修正により、
電子部品間の距離D−Leng あるいはRC−Leng が最
大許容距離Lmax より小さくなった場合の高周波成分の
反射を説明する図である。上記回路修正前では、高速信
号線へのパルス信号の入力箇所(ドライバの出力端)と
インピーダンス不整合による信号の反射面F(ダンピン
グ抵抗端部またはレシーバの入力端)との距離が最大許
容距離Lmax より長い。このため、パルス信号の電圧レ
ベルがローレベル(L)からハイレベル(H)に立ち上
がるとき(時刻:t1)に発生した高周波成分sが、上
記反射面Fで反射し、もとのパルス信号に戻ってきたと
き(時刻:t2)では高周波成分sがパルス立ち上がり
箇所から外れ、たとえばローレベル(L)に重畳する。
したがって、この高周波成分sはノイズとなって誤動作
の原因となり易くなる。
This circuit modification reduces the influence of the noise component when the harmonic component of the digital signal is reflected and superimposed on the original signal. FIG. 12A is a diagram illustrating reflection of high-frequency components when the distance D-Leng or RC-Leng between electronic components is larger than the maximum allowable distance Lmax. FIG. 12 (B) shows the result of the circuit modification.
FIG. 7 is a diagram illustrating reflection of high-frequency components when a distance D-Leng or RC-Leng between electronic components is smaller than a maximum allowable distance Lmax. Before the above circuit modification, the distance between the pulse signal input point (driver output end) to the high-speed signal line and the signal reflection surface F (damping resistor end or receiver input end) due to impedance mismatch is the maximum allowable distance. Longer than Lmax. For this reason, the high-frequency component s generated when the voltage level of the pulse signal rises from low level (L) to high level (H) (time: t1) is reflected by the reflection surface F, and returns to the original pulse signal. When returning (time: t2), the high-frequency component s deviates from the pulse rising point and is superimposed on, for example, a low level (L).
Therefore, the high frequency component s becomes noise and easily causes a malfunction.

【0054】これに対し、上記回路修正の結果、高速信
号線へのパルス信号の入力箇所(ドライバの出力端)と
インピーダンス不整合による信号の反射面Fとの距離が
適正化される。適正化後の信号線にパルス信号が入力さ
れると、図12(B)に示すように、パルス信号の立ち
上がり(または立ち下がり)時(時刻:t1)に発生し
た高調波成分sがインピーダンス不整合面Fで反射して
当該パルス信号に戻ってきたとき(時刻:t3)に、必
ず、このパルス信号は未だ立ち上がり(または立ち下が
り)中である。したがって、パルス信号波形のハイレベ
ルまたはローレベルの一定電圧箇所に高周波ノイズが重
畳されず、高速信号に対するノイズの影響は限定的であ
り、誤動作の原因となり難い。
On the other hand, as a result of the above-described circuit modification, the distance between the input portion (output end of the driver) of the pulse signal to the high-speed signal line and the reflection surface F of the signal due to the impedance mismatch is optimized. When the pulse signal is input to the signal line after the optimization, as shown in FIG. 12B, the harmonic component s generated at the time of rising (or falling) of the pulse signal (time: t1) has an impedance that is not equal to the impedance. When the pulse signal is reflected by the matching surface F and returns to the pulse signal (time: t3), the pulse signal is still rising (or falling). Therefore, high-frequency noise is not superimposed on a high-voltage or low-level constant voltage portion of the pulse signal waveform, and the influence of the noise on the high-speed signal is limited, and it is unlikely to cause a malfunction.

【0055】また、この回路修正により、波形の立ち上
がりまたは立ち下がり時のリンギング(オーバーシュー
ト)量が低減される。図13および図14は、伝送線路
シミュレータによる解析結果として、所定のクロック信
号を入力したときのドライバとダンピング抵抗間の信号
波形(“ドライバ側”と表示し破線で示す)と、ダンピ
ング抵抗とレシーバ間の信号波形(“レシーバ側と表示
し実線で示す)とを示す。クロック信号の周波数は10
0MHz、ピーク電圧値は3.3V、信号の立ち上がり
時間τr(立ち下がり時間τf)が1nsである。ま
た、ドライバとレシーバ間の距離T−Leng は70mm
で、ダンピング抵抗Rdの値は47Ωである。図13
は、ダンピング抵抗Rdをドライバから50mmの位置
に挿入した、D−Leng =50mmの場合を示す。図1
4は、回路修正により、D−Leng =Lmax =6.8m
mに修正した場合を示す。
Further, by this circuit modification, the amount of ringing (overshoot) at the time of rising or falling of the waveform is reduced. FIGS. 13 and 14 show, as analysis results by the transmission line simulator, a signal waveform between a driver and a damping resistor (indicated as “driver side” and indicated by a broken line) when a predetermined clock signal is input, a damping resistor and a receiver. (Shown as "receiver side and shown by a solid line"), and the frequency of the clock signal is 10
At 0 MHz, the peak voltage value is 3.3 V, and the signal rise time τr (fall time τf) is 1 ns. The distance T-Leng between the driver and the receiver is 70 mm
The value of the damping resistance Rd is 47Ω. FIG.
Shows a case where D-Leng = 50 mm where the damping resistor Rd is inserted at a position 50 mm from the driver. FIG.
No. 4 is D-Leng = Lmax = 6.8 m due to circuit modification.
This shows the case where the value is modified to m.

【0056】図13に示すように、回路修正前では、
3.3Vのデジタルパルスの最大電圧値がオーバーシュ
ートにより約4Vまで到達しているのに対し、回路修正
後は、約3.6Vに抑えられている。同じように、アン
ダーシュートも回路修正によって低減されている。以上
の結果、ノイズ対策部品の適正配置による反射ノイズの
低減によって、信号波形のリンギングを効果的に抑制で
きることが分かる。また、この信号波形のリンギングが
高速信号線からの放射ノイズを増大させることが実験的
に判っており、今回の結果から、ノイズ対策部品の適正
配置により反射ノイズの低減と同時に、放射ノイズの低
減に効果があることが確かめられた。
As shown in FIG. 13, before circuit correction,
While the maximum voltage value of the 3.3 V digital pulse has reached about 4 V due to overshoot, it is suppressed to about 3.6 V after circuit correction. Similarly, undershoot has been reduced by circuit modifications. As a result, it can be seen that the ringing of the signal waveform can be effectively suppressed by reducing the reflection noise by properly arranging the noise suppression components. In addition, it has been experimentally found that the ringing of the signal waveform increases radiation noise from high-speed signal lines, and from this result, it is possible to reduce reflection noise and reduce radiation noise by properly arranging noise suppression components. Was confirmed to be effective.

【0057】なお、本実施形態に係るCAD装置および
回路設計方法では、種々の変更が可能である。たとえ
ば、検証部2の各構成部21〜26は、データ等の抽出
や調査判断を行う手段であり、したがって設計支援部1
内の構成部を用いるとすることもできる。また、各構成
部間のデータのやりとりの多くを記憶部25を経由して
行ったが、それぞれが記憶手段を持つなり、制御部26
内の記憶手段を利用することでも実質的には同じことと
なる。また、検証方法は、図5〜図10に限定されな
い。たとえば、ステップST20a,ST20bで用い
る計算式は式(4-1) 〜(4-6) に限定されず、もっと粗
く、あるいはもっと細かく場合分けすることが可能であ
る。また、ステップST14やステップST27で他の
配線を探す場合、これを配線リストから探すことから始
めたが、たとえば、高速信号線は先に検証が済み対策が
必要な信号線として検出されていることから、まずは、
この信号線と同じドライバに接続されている他の信号線
を調べ、その後、つぎに高速であるドライバに接続され
ている信号線について調べるようにすることもできる。
このように、ドライバの速度(動作周波数)は抽出した
電気データから判別できるので、速度が速いドライバに
接続された信号線を検証の優先度を高くして、検証の順
序に優先度を設けることもできる。あるいは、ドライバ
の速度に、ある閾値を設けて、それ以上高速なドライバ
に接続された配線を逐次調べるようにしてもよい。これ
らの方法では、ある程度速度が低いドライバに接続され
た信号線は検証をしないですむことができ、処理の効率
化が図れる。さらに、回路修正では、電子部品の配置の
制約上などの理由から、問題となる信号線の全てについ
て対策ができない場合は、高速な回路部品から順に修正
するようにしてもよい。
The CAD apparatus and the circuit design method according to the present embodiment can be variously modified. For example, each of the components 21 to 26 of the verification unit 2 is a unit for extracting data and the like and performing a survey judgment.
It is also possible to use the components inside. In addition, most of the data exchange between the constituent units is performed via the storage unit 25.
The use of the storage means in the above is substantially the same. The verification method is not limited to FIGS. For example, the calculation formulas used in steps ST20a and ST20b are not limited to the equations (4-1) to (4-6), and the cases can be coarser or finer. Further, when searching for another wiring in step ST14 or step ST27, the search is started by searching for the wiring from the wiring list. For example, a high-speed signal line has already been verified and detected as a signal line requiring a countermeasure. First of all,
Another signal line connected to the same driver as this signal line may be checked, and then, a signal line connected to a high-speed driver may be checked.
As described above, since the speed (operating frequency) of the driver can be determined from the extracted electrical data, the priority of the signal line connected to the driver having the higher speed is set higher for the verification, and the priority is set in the verification order. Can also. Alternatively, a certain threshold value may be provided for the speed of the driver, and the wiring connected to the faster driver may be sequentially checked. In these methods, signal lines connected to a driver having a relatively low speed can be omitted from verification, and processing efficiency can be improved. Further, in the circuit correction, if it is not possible to take measures against all of the problematic signal lines due to restrictions on the arrangement of the electronic components, the correction may be performed in order from high-speed circuit components.

【0058】本実施形態に係る回路基板の設計では、仮
設計後に簡単な計算と調査判断などによりノイズ対策の
必要性、有効性を検証するので、従来の設計工程を大幅
に変更する必要がない。また、ノイズ対策の有効性が数
値化して検証されるので、より効果的な反射ノイズ低減
および放射ノイズ低減の対策ができ、ノイズ対策部品の
検証に優先度を持たせたり、高速な信号が伝搬する信号
線のみノイズ対策の検証ができるので、処理の効率も高
くでき、その結果として、設計コストが低減される。
In the design of the circuit board according to the present embodiment, the necessity and effectiveness of the noise countermeasure are verified by a simple calculation and a survey judgment after the tentative design, so that it is not necessary to largely change the conventional design process. . In addition, the effectiveness of noise countermeasures is quantified and verified, so that more effective countermeasures against reflection noise and radiation noise can be taken, and priorities can be given to noise countermeasure components, and high-speed signals can be transmitted. Since the noise countermeasures can be verified only for the signal lines to be processed, the processing efficiency can be increased, and as a result, the design cost can be reduced.

【0059】[0059]

【発明の効果】本発明に係る回路基板の検証方法、設計
方法、それらの装置および記録媒体によれば、従来の設
計工程を大幅に変えることなく、簡単な計算式を用いて
対象とする信号線におる最大許容距離を求め、これを基
にノイズ対策部品の位置を検証して、ノイズ対策部品が
有効か否か、あるいは必要か否かを判断できる。そし
て、そのノイズ対策部品の位置をどの範囲に修正したら
よいかが容易に判断できる。したがって、数千ネットも
あるような大規模な回路において、どの箇所からノイズ
対策を進める必要があるか、今なされているノイズ対策
で無駄なものはないかを自動的に知ることができ、この
ため、反射ノイズおよび放射ノイズを抑える回路修正を
的確に、効率良く行うことができる。その結果、回路面
積を増大させることなく、あるいは逆に縮小しながらも
回路の誤動作を有効に防止でき、また、放射ノイズを効
果的に抑制することができる。このような回路基板の検
証の容易化は、設計コストを低減することにつながる。
According to the method for verifying a circuit board, the method for designing the same, the apparatus and the recording medium according to the present invention, a signal to be processed can be obtained by using a simple calculation formula without greatly changing the conventional design process. The maximum allowable distance in the line is obtained, and based on this, the position of the noise suppression component is verified to determine whether the noise suppression component is effective or necessary. Then, it is easy to determine in which range the position of the noise suppression component should be corrected. Therefore, in a large-scale circuit with thousands of nets, it is possible to automatically know where to start the noise countermeasures and whether there is any useless noise countermeasures. Therefore, the circuit modification for suppressing the reflection noise and the radiation noise can be performed accurately and efficiently. As a result, a malfunction of the circuit can be effectively prevented without increasing or conversely reducing the circuit area, and radiation noise can be effectively suppressed. Such easy verification of the circuit board leads to a reduction in design cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施形態に係るCAD装置の概略構成を示すブ
ロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a CAD apparatus according to an embodiment.

【図2】(A)は、実施形態に係る信号線で想定した第
1の配線構造としてマイクロストリップラインを示す断
面図である。(B)は、第2の配線構造としてシングル
ストリップラインを示す断面図である。(C)は、第3
の配線構造としてダブルストリップラインを示す断面図
である。
FIG. 2A is a cross-sectional view illustrating a microstrip line as a first wiring structure assumed for a signal line according to an embodiment. (B) is a sectional view showing a single strip line as a second wiring structure. (C) is the third
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a double strip line as the wiring structure of FIG.

【図3】(A)は、実施形態に係る回路基板の実装時に
おけるドライバおよびレシーバと信号線との配置パター
ンを示す図である。(B)は、(A)の信号線に関する
寸法データおよび電気的データ等を記述した図である。
FIG. 3A is a diagram illustrating an arrangement pattern of a driver, a receiver, and a signal line when the circuit board according to the embodiment is mounted. FIG. 2B is a diagram describing dimension data, electrical data, and the like relating to the signal line in FIG.

【図4】(A)は、実施形態に係る回路基板内のマイク
ロストリップラインの構造図である。(B)は、(A)
の配線構造に関する寸法データおよび電気的データ等を
記述した図である。
FIG. 4A is a structural diagram of a microstrip line in a circuit board according to the embodiment. (B) is (A)
FIG. 3 is a diagram describing dimension data, electrical data, and the like relating to the wiring structure of FIG.

【図5】実施形態に係る回路基板の設計でパターン検証
の手順のうち、最初のステップから高速ドライバの選別
ステップまでを示すフローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart showing a procedure from a first step to a high-speed driver selection step in a procedure of pattern verification in designing a circuit board according to the embodiment.

【図6】実施形態に係る回路基板の設計でパターン検証
の手順のうち、ドライバとレシーバの組合せリストの作
成ステップから終端調査のステップまでを示すフローチ
ャートである。
FIG. 6 is a flowchart showing steps from a step of creating a combination list of a driver and a receiver to a step of a termination check in a procedure of pattern verification in designing a circuit board according to the embodiment.

【図7】実施形態に係る回路基板の設計でノイズ対策部
品検証の手順のうち、終端調査の具体的ステップから配
線構造調査のステップまでを示すフローチャートであ
る。
FIG. 7 is a flowchart showing a specific procedure of termination inspection to a wiring structure investigation step in a procedure of verifying noise suppression components in designing a circuit board according to the embodiment.

【図8】実施形態に係る回路基板の設計でノイズ対策部
品検証の手順のうち、配線構造調査の具体的ステップか
ら最大許容距離の算出ステップまでを示すフローチャー
トである。
FIG. 8 is a flowchart showing a procedure from a specific step of wiring structure investigation to a step of calculating a maximum allowable distance in a procedure of verifying a noise suppression component in designing a circuit board according to the embodiment.

【図9】実施形態に係る回路基板の設計でノイズ対策部
品検証の手順のうち、信号線距離の比較ステップから対
策指示のステップまでを示すフローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart showing a procedure from a signal line distance comparison step to a countermeasure instruction step in a procedure of verifying a noise countermeasure component in designing a circuit board according to the embodiment.

【図10】実施形態に係る回路基板の設計でノイズ対策
部品検証の手順のうち、他の組の検索ステップからから
最終ステップまでを示すフローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart showing a procedure from a search step of another set to a final step in a procedure of verifying noise suppression components in designing a circuit board according to the embodiment.

【図11】実施形態に係る回路基板の設計でノイズ対策
部品検証後の対策指示内容の一覧表である。
FIG. 11 is a list of countermeasure instruction contents after noise countermeasure component verification in circuit board design according to the embodiment.

【図12】(A)は、実施形態に係る回路基板の修正前
において反射波の影響を説明するための図である。
(B)は、実施形態に係る回路基板の修正後において反
射波の影響が低減されることを説明するための図であ
る。
FIG. 12A is a diagram for explaining an influence of a reflected wave before the circuit board according to the embodiment is modified.
(B) is a figure for explaining that the influence of a reflected wave is reduced after the circuit board concerning an embodiment is corrected.

【図13】実施形態に係る回路基板の修正前において、
伝送線路シミュレータによる解析で得られた信号波形図
である。
FIG. 13 shows a state before the circuit board according to the embodiment is modified.
FIG. 4 is a signal waveform diagram obtained by analysis by a transmission line simulator.

【図14】実施形態に係る回路基板の修正後において、
伝送線路シミュレータによる解析で得られた信号波形図
である。
FIG. 14 shows a state after the circuit board according to the embodiment is modified.
FIG. 4 is a signal waveform diagram obtained by analysis by a transmission line simulator.

【図15】従来技術の問題点を指摘する際に用いた、ノ
イズ対策部品の説明図である。
FIG. 15 is an explanatory diagram of a noise countermeasure component used when pointing out a problem of the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…設計支援部、2…検証部、3…登録部(登録手
段)、4…入力部、5…出力部(出力手段)、21…変
換部、22…抽出部(抽出手段)、23…演算部(演算
手段)、24…調査判断部(調査手段、判断手段)、2
5…記憶部、26…制御部、Dv…ドライバ(電子部
品)、Rv…レジーバ(電子部品)、E1,E2,E3
…信号線、DiL1,DiL2,DiL3…誘電体層、
P1,P2,P3…電源プレート、Rd…ダンピング抵
抗(直列終端抵抗)、Racp …AC並列終端抵抗、Cac
p …AC並列終端キャパシタ。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Design support part, 2 ... Verification part, 3 ... Registration part (registration means), 4 ... Input part, 5 ... Output part (output means), 21 ... Conversion part, 22 ... Extraction part (extraction means), 23 ... Arithmetic unit (arithmetic means), 24 ... Investigation and determination unit (investigation means, determination means), 2
Reference numeral 5: storage unit, 26: control unit, Dv: driver (electronic component), Rv: receiver (electronic component), E1, E2, E3
... signal lines, DiL1, DiL2, DiL3 ... dielectric layers,
P1, P2, P3: power supply plate, Rd: damping resistance (series termination resistance), Racp: AC parallel termination resistance, Cac
p ... AC parallel termination capacitor.

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数の電子部品が接続された信号線を有す
る電子回路の検証方法であって、 電子回路の設計データから、上記信号線のうち特定の信
号線のデータと、上記特定の信号線に接続される電子部
品のデータとを抽出し、 上記電子部品のデータに基づいて、ノイズ対策部品が上
記複数の電子部品に含まれるか否かを調査し、 上記調査の結果、上記ノイズ対策部品が上記複数の電子
部品に含まれるときは、動作時に上記特定の信号線内に
パルス信号が入力されてからインピーダンス不整合箇所
で反射し当該パルス信号に戻ってくるときの反射遅延時
間が当該パルス信号の電圧レベルの遷移時間以内とな
る、当該パルス信号の入力箇所と反射箇所間の最大の信
号線距離である最大許容距離を、上記特定の信号線およ
び上記電子部品のデータに基づいて算出し、 上記最大許容距離に基づいて、上記ノイズ対策部品と、
上記ノイズ対策部品を近接して配置すべき電子部品との
間の信号線距離が適切かどうかを判断し、 上記判断の結果を出力する電子回路の検証方法。
1. A method for verifying an electronic circuit having a signal line to which a plurality of electronic components are connected, comprising: data of a specific signal line among the signal lines; The data of the electronic component connected to the line is extracted, and based on the data of the electronic component, it is checked whether the noise suppression component is included in the plurality of electronic components. When a component is included in the plurality of electronic components, a reflection delay time when a pulse signal is input to the specific signal line during operation and then reflected at an impedance mismatching location and returned to the pulse signal during the operation is set to The maximum allowable distance, which is the maximum signal line distance between the input point and the reflection point of the pulse signal within the transition time of the voltage level of the pulse signal, is determined by the data of the specific signal line and the electronic component. Based calculated, based on the maximum allowable distance, and the anti-noise component,
A method for verifying an electronic circuit, comprising: judging whether a signal line distance between an electronic component to be disposed close to the noise suppression component is appropriate and outputting a result of the judgment.
【請求項2】上記最大許容距離の算出に際し、上記特定
の信号線のデータを基に当該信号線の単位距離当たりの
伝搬遅延時間を算出し、 上記特定の信号線に上記電子部品から出力される上記パ
ルス信号の電圧レベル遷移時間を上記電子部品データか
ら抽出し、抽出した上記電圧レベル遷移時間を上記伝搬
遅延時間で割ってパラメータを算出し、 上記パラメータに所定の係数を掛けたものを、上記最大
許容距離として算出する請求項1記載の電子回路の検証
方法。
2. A method for calculating a maximum allowable distance, comprising calculating a propagation delay time per unit distance of the signal line based on data of the specific signal line, and outputting the propagation delay time per unit distance to the specific signal line from the electronic component. Extracting the voltage level transition time of the pulse signal from the electronic component data, calculating the parameter by dividing the extracted voltage level transition time by the propagation delay time, and multiplying the parameter by a predetermined coefficient. The electronic circuit verification method according to claim 1, wherein the maximum allowable distance is calculated.
【請求項3】上記電子部品データから上記パルス信号を
出力する電子部品の出力インピーダンスを抽出し、 上記特定の信号線のデータを用いて当該信号線の特性イ
ンピーダンスを算出し、 上記最大許容距離の算出に際し、上記特性インピーダン
スと上記出力インピーダンスとの差に応じて上記所定の
係数の値を変化させる請求項2記載の電子回路の検証方
法。
3. Extracting an output impedance of an electronic component outputting the pulse signal from the electronic component data, calculating a characteristic impedance of the signal line using data of the specific signal line, and calculating a characteristic impedance of the maximum allowable distance. 3. The electronic circuit verification method according to claim 2, wherein the value of the predetermined coefficient is changed according to a difference between the characteristic impedance and the output impedance.
【請求項4】上記伝搬遅延時間および上記特性インピー
ダンスの算出は、上記特定の信号線の配線構造に応じて
行う請求項3記載の電子回路の検証方法。
4. The method according to claim 3, wherein the calculation of the propagation delay time and the characteristic impedance is performed in accordance with a wiring structure of the specific signal line.
【請求項5】上記電子部品を、上記特定の信号線に上記
パルス信号を送り込むドライバと、上記特定の信号線を
伝搬してきた上記パルス信号を受け取るレシーバとに分
類し、 上記電子部品データを参照して、上記ドライバの中から
所定の速度以上で動作し、ノイズ対策が必要な高速ドラ
イバを選別する請求項1記載の電子回路の検証方法。
5. The electronic component is classified into a driver that sends the pulse signal to the specific signal line and a receiver that receives the pulse signal transmitted through the specific signal line, and refers to the electronic component data. 2. The electronic circuit verification method according to claim 1, wherein a high-speed driver that operates at a predetermined speed or higher and requires noise suppression is selected from the drivers.
【請求項6】上記高速ドライバは、上記電子部品データ
の中に含まれる出力パルスの電圧レベル遷移時間が所定
値以下のドライバである請求項5記載の電子回路の検証
方法。
6. The method according to claim 5, wherein the high-speed driver is a driver in which a voltage level transition time of an output pulse included in the electronic component data is equal to or less than a predetermined value.
【請求項7】上記ノイズ対策部品の調査では、上記高速
ドライバと上記レシーバとの間の高速信号線に接続した
抵抗素子を調査し、 上記調査により検出された上記抵抗素子が上記高速信号
線に直列に接続されているときは、当該抵抗素子は上記
高速ドライバの直列終端を行う第1ノイズ対策部品であ
ると判断し、 上記調査により検出された上記抵抗素子が上記高速信号
線に対し並列に接続されているときは、当該抵抗素子は
上記レシーバのAC並列終端を行う第2ノイズ対策部品
に含まれる抵抗素子であると判断し、 上記信号線距離の適切性判断では、上記第1ノイズ対策
部品と上記高速ドライバとの間の信号線距離、または、
上記第2ノイズ対策部品と上記レシーバとの間の信号線
距離が、上記最大許容距離以下であることを判断する請
求項5記載の電子回路の検証方法。
7. Investigating the noise countermeasure component, investigate a resistance element connected to a high-speed signal line between the high-speed driver and the receiver, and connect the resistance element detected by the investigation to the high-speed signal line. When connected in series, it is determined that the resistance element is a first noise suppression component for performing a series termination of the high-speed driver, and the resistance element detected in the investigation is connected in parallel to the high-speed signal line. When connected, it is determined that the resistance element is a resistance element included in the second noise suppression component that performs the AC parallel termination of the receiver. In the appropriateness determination of the signal line distance, the first noise suppression is determined. Signal line distance between the component and the high-speed driver, or
The electronic circuit verification method according to claim 5, wherein it is determined that a signal line distance between the second noise suppression component and the receiver is equal to or less than the maximum allowable distance.
【請求項8】上記高速ドライバと、上記レシーバとの間
の高速信号線の長さを測定し、 上記高速信号線の長さを上記最大許容距離と比較し、 上記比較の結果、上記高速信号線の長さが上記最大許容
距離以下で、上記高速信号線に上記ノイズ対策部品が接
続されているときは、当該ノイズ対策部品は不要である
と判断し、 当該ノイズ対策部品に関する上記信号線距離の適切性判
断の結果と、上記ノイズ対策部品は不要であるとの判断
結果とを出力する請求項5記載の電子回路の検証方法。
8. The high-speed signal line length between the high-speed driver and the receiver is measured, and the length of the high-speed signal line is compared with the maximum allowable distance. When the length of the line is equal to or less than the maximum allowable distance and the noise suppression component is connected to the high-speed signal line, it is determined that the noise suppression component is unnecessary, and the signal line distance for the noise suppression component is determined. 6. The electronic circuit verification method according to claim 5, wherein a result of the appropriateness determination and a result of the determination that the noise suppression component is unnecessary are output.
【請求項9】上記高速ドライバと上記レシーバとの組が
複数ある場合、その全ての組について、上記高速信号線
の高速信号の伝送パスごとに、上記最大許容距離の算出
と、上記信号線距離の適切性判断を繰り返し実行する請
求項5記載の電子回路の検証方法。
9. When there are a plurality of pairs of the high-speed driver and the receiver, calculation of the maximum allowable distance for each of the high-speed signal line high-speed signal transmission paths, 6. The method for verifying an electronic circuit according to claim 5, wherein the appropriateness determination is repeatedly performed.
【請求項10】上記信号線距離の適切性判断を行った
後、特定する上記信号線を他の信号線に変更して、上記
信号線データおよび上記電子部品データの抽出、上記最
大許容距離の算出、上記信号線距離の適切性判断による
上記ノイズ対策部品の接続位置の検証を、設計された上
記信号線の全てについての上記検証が済むまで繰り返し
実行する請求項5記載の電子回路の検証方法。
10. After the appropriateness of the signal line distance is determined, the specified signal line is changed to another signal line, the signal line data and the electronic component data are extracted, and the maximum allowable distance is determined. 6. The electronic circuit verification method according to claim 5, wherein the calculation and the verification of the connection position of the noise suppression component based on the determination of the appropriateness of the signal line distance are repeatedly performed until the verification of all the designed signal lines is completed. .
【請求項11】複数の電子部品が接続された信号線を有
する電子回路の設計方法であって、仮設計時の電子回路
の設計データから、上記信号線のうち特定の信号線のデ
ータと、上記特定の信号線に接続される電子部品のデー
タとを抽出し、 上記電子部品のデータに基づいて、ノイズ対策部品が上
記複数の電子部品に含まれるか否かを調査し、 上記調査の結果、上記ノイズ対策部品が上記複数の電子
部品に含まれるときは、動作時に上記特定の信号線内に
パルス信号が入力されてからインピーダンス不整合箇所
で反射し当該パルス信号に戻ってくるときの反射遅延時
間が当該パルス信号の電圧レベルの遷移時間以内とな
る、当該パルス信号の入力箇所と反射箇所間の最大の信
号線距離である最大許容距離を、上記特定の信号線およ
び上記電子部品のデータに基づいて算出し、 上記最大許容距離に基づいて、上記ノイズ対策部品と、
上記ノイズ対策部品を近接して配置すべき電子部品との
間の信号線距離が適切かどうかを判断し、 上記判断の結果に応じて、上記ノイズ対策部品の上記特
定の信号線内の接続位置を、上記信号線距離が適切な範
囲内となるように変更する電子回路の設計方法。
11. A method for designing an electronic circuit having a signal line to which a plurality of electronic components are connected, wherein data of a specific signal line among the signal lines is obtained from design data of the electronic circuit at the time of tentative design. The electronic component data connected to the specific signal line is extracted, and based on the data of the electronic component, it is determined whether the noise suppression component is included in the plurality of electronic components. When the noise suppression component is included in the plurality of electronic components, a reflection delay when a pulse signal is input into the specific signal line during operation and then reflected at an impedance mismatching point and returned to the pulse signal during operation. The maximum allowable distance, which is the maximum signal line distance between the input point and the reflection point of the pulse signal, whose time is within the transition time of the voltage level of the pulse signal, is determined by the specific signal line and the electron. Calculated on the basis of goods data, based on the maximum allowable distance, and the anti-noise component,
Determine whether the signal line distance between the noise suppression component and the electronic component to be arranged close to each other is appropriate, and in accordance with the result of the determination, the connection position of the noise suppression component within the specific signal line Is changed so that the signal line distance is within an appropriate range.
【請求項12】接続位置を変更した上記ノイズ対策部品
のノイズ除去性能が適切であるか否かを判断し、 上記ノイズ除去性能が適切でないときは、上記ノイズ除
去性能が適切となるように上記ノイズ対策部品の特性値
を変更する請求項11に記載の電子回路の設計方法。
12. A determination is made as to whether the noise reduction performance of the noise suppression component whose connection position has been changed is appropriate. If the noise reduction performance is not appropriate, the noise reduction component is adjusted so that the noise reduction performance is appropriate. The method of designing an electronic circuit according to claim 11, wherein the characteristic value of the noise suppression component is changed.
【請求項13】複数の電子部品が接続された信号線を有
する電子回路の検証装置であって、 電子回路の設計データが登録された登録手段と、 上記登録手段から電子回路の上記設計データを読み出
し、上記信号線のうち特定の信号線のデータと、上記特
定の信号線に接続される電子部品のデータとを上記設計
データから抽出する抽出手段と、 上記電子部品のデータに基づいて、ノイズ対策部品が上
記複数の電子部品に含まれるか否かを調査する調査手段
と、 上記調査の結果、上記ノイズ対策部品が上記複数の電子
部品に含まれるときは、動作時に上記特定の信号線内に
パルス信号が入力されてからインピーダンス不整合箇所
で反射し当該パルス信号に戻ってくるときの反射遅延時
間が当該パルス信号の電圧レベルの遷移時間以内とな
る、当該パルス信号の入力箇所と反射箇所間の最大の信
号線距離である最大許容距離を、上記特定の信号線およ
び上記電子部品のデータに基づいて算出する演算手段
と、 上記最大許容距離に基づいて、上記ノイズ対策部品と、
上記ノイズ対策部品を近接して配置すべき電子部品との
間の信号線距離が適切かどうかを判断する判断手段と、 上記判断の結果を出力する出力手段とを有した電子回路
の検証装置。
13. A verification apparatus for an electronic circuit having a signal line to which a plurality of electronic components are connected, a registration unit in which design data of the electronic circuit is registered, and a registration unit for registering the design data of the electronic circuit from the registration unit. Reading means for extracting data of a specific signal line among the signal lines and data of an electronic component connected to the specific signal line from the design data, and noise based on the data of the electronic component. Investigation means for investigating whether the countermeasure component is included in the plurality of electronic components, and, as a result of the inspection, when the noise countermeasure component is included in the plurality of electronic components, when the noise suppression component is included in the plurality of electronic components, The reflection delay time when the pulse signal is input and reflected at the impedance mismatch point and returns to the pulse signal is within the transition time of the voltage level of the pulse signal. A calculating unit that calculates the maximum allowable distance that is the maximum signal line distance between the input point of the pulse signal and the reflection point based on the data of the specific signal line and the electronic component, based on the maximum allowable distance, The above noise suppression parts,
A verification apparatus for an electronic circuit, comprising: a determination unit that determines whether a signal line distance between an electronic component to be disposed close to the noise suppression component is appropriate; and an output unit that outputs a result of the determination.
【請求項14】複数の電子部品が接続された信号線を有
する電子回路の設計を支援する設計支援装置であって、 仮設計時の電子回路の設計データを登録した登録部と、 上記電子回路の設計を支援する設計支援部と、 上記設計支援部が仮設計した上記電子回路内における電
子部品の接続位置を検証する検証部とを有し、 上記検証部は、上記登録部から上記設計データを読み出
し、上記信号線のうち特定の信号線のデータと、上記特
定の信号線に接続される電子部品のデータとを上記設計
データから抽出する抽出手段と、 上記電子部品のデータに基づいて、ノイズ対策部品が上
記複数の電子部品に含まれるか否かを調査する調査手段
と、 上記調査の結果、上記ノイズ対策部品が上記複数の電子
部品に含まれるときは、動作時に上記特定の信号線内に
パルス信号が入力されてからインピーダンス不整合箇所
で反射し当該パルス信号に戻ってくるときの反射遅延時
間が当該パルス信号の電圧レベルの遷移時間以内とな
る、当該パルス信号の入力箇所と反射箇所間の最大の信
号線距離である最大許容距離を、上記特定の信号線およ
び上記電子部品のデータに基づいて算出する演算手段
と、 上記最大許容距離に基づいて、上記ノイズ対策部品と、
上記ノイズ対策部品を近接して配置すべき電子部品との
間の信号線距離が適切かどうかを判断する判断手段とを
有し、 上記設計支援部は、上記判断手段の判断結果に応じて、
上記ノイズ対策部品の上記特定の信号線内の接続位置
を、上記信号線距離が適切な範囲内となるように変更す
る電子回路の設計支援装置。
14. A design support apparatus for supporting the design of an electronic circuit having a signal line to which a plurality of electronic components are connected, comprising: a registration unit for registering design data of an electronic circuit at the time of provisional design; A design support unit for supporting design; and a verification unit for verifying connection positions of electronic components in the electronic circuit provisionally designed by the design support unit. The verification unit transmits the design data from the registration unit. Reading means for extracting data of a specific signal line among the signal lines and data of an electronic component connected to the specific signal line from the design data, and noise based on the data of the electronic component. Investigation means for investigating whether the countermeasure component is included in the plurality of electronic components, and, as a result of the inspection, when the noise countermeasure component is included in the plurality of electronic components, the specific signal during operation The input delay point of the pulse signal is reflected within the transition time of the voltage level of the pulse signal when the reflection delay time when returning to the pulse signal after being reflected at the impedance mismatching point after the pulse signal is input into the A calculating means for calculating a maximum allowable distance, which is a maximum signal line distance between points, based on the data of the specific signal line and the electronic component; and, based on the maximum allowable distance, the noise suppression component,
Determining means for determining whether a signal line distance between the noise suppression component and an electronic component to be disposed in close proximity is appropriate, and the design support unit, in accordance with a determination result of the determination means,
An electronic circuit design support device for changing a connection position of the noise suppression component in the specific signal line so that the signal line distance is within an appropriate range.
【請求項15】複数の電子部品が接続された信号線を有
する電子回路について、上記電子部品の上記信号線内の
接続位置を検証する検証プログラムを記録データ内に含
む記録媒体であって、 上記検証プログラム内の処理ステップに、電子回路の設
計データから、上記信号線のうち特定の信号線のデータ
と、上記特定の信号線に接続される電子部品のデータと
を抽出するステップと、 上記電子部品のデータに基づいて、ノイズ対策部品が上
記複数の電子部品に含まれるか否かを調査するステップ
と、 上記調査の結果、上記ノイズ対策部品が上記複数の電子
部品に含まれるときは、動作時に上記特定の信号線内に
パルス信号が入力されてからインピーダンス不整合箇所
で反射し当該パルス信号に戻ってくるときの反射遅延時
間が当該パルス信号の電圧レベルの遷移時間以内とな
る、当該パルス信号の入力箇所と反射箇所間の最大の信
号線距離である最大許容距離を、上記特定の信号線およ
び上記電子部品のデータに基づいて算出するステップ
と、 上記最大許容距離に基づいて、上記ノイズ対策部品と、
上記ノイズ対策部品を近接して配置すべき電子部品との
間の信号線距離が適切かどうかを判断するステップとを
含む記録媒体。
15. A recording medium comprising, in recording data, a verification program for verifying a connection position of the electronic component in the signal line for an electronic circuit having a signal line to which a plurality of electronic components are connected, Extracting, from the design data of the electronic circuit, data of a specific signal line among the signal lines and data of an electronic component connected to the specific signal line, in the processing step in the verification program; Investigating whether or not the noise suppression component is included in the plurality of electronic components based on the component data; and, as a result of the investigation, when the noise suppression component is included in the plurality of electronic components, an operation is performed. Sometimes, a pulse delay time when a pulse signal is input into the specific signal line and then reflected at an impedance mismatching point and returns to the pulse signal is returned to the pulse signal. Calculating the maximum allowable distance, which is the maximum signal line distance between the input point and the reflection point of the pulse signal, which is within the transition time of the voltage level, based on the data of the specific signal line and the electronic component; The noise suppression component based on the maximum allowable distance,
Determining whether the signal line distance between the noise suppression component and the electronic component to be arranged close to each other is appropriate.
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