JP2002056042A - Method for automatically arranging semiconductor integrated circuit - Google Patents

Method for automatically arranging semiconductor integrated circuit

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JP2002056042A
JP2002056042A JP2000244335A JP2000244335A JP2002056042A JP 2002056042 A JP2002056042 A JP 2002056042A JP 2000244335 A JP2000244335 A JP 2000244335A JP 2000244335 A JP2000244335 A JP 2000244335A JP 2002056042 A JP2002056042 A JP 2002056042A
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JP
Japan
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cell
delay
cells
semiconductor integrated
driving force
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JP2000244335A
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Japanese (ja)
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Tomoaki Sato
智明 佐藤
Masato Shigegaki
眞人 茂垣
Tetsuo Sasaki
哲雄 佐々木
Koichi Mimura
幸市 三村
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Hitachi Software Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Software Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To arrange cells and to set the driving force of each cell so as to optimize the delay of an input-output network in the automatic arrangement processing of a semiconductor integrated circuit. SOLUTION: A cell arrangement area is divided, cells are allocated to and arranged in respective divided areas (steps 201 and 202), the calculation of micro path delay in the input-output network of each cell and the temporary shift and exchange of each cell position are attempted as much as possible while the calculation of micro path delay is performed in each arrangement, cell arrangement that brings about minimum delay is decided (steps 203 to 207), the micro path delay is further performed (step 210) while the temporary switching of driving force is attempted within an arrangeable range (steps 208 and 209), and the cell is automatically arranged so as to find the driving force setting of the cell which brings about the minimum delay.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路の
自動配置技術に関する。
The present invention relates to a technology for automatically arranging semiconductor integrated circuits.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体集積回路の自動配置技術に関する
従来技術として、例えば、特開平8−274177号公
報に記載された技術が知られている。この従来技術では
論理ブロックと呼ばれる単位に論理分割し、階層的に論
理設計されているセル群を半導体集積回路の基板上に、
同一ブロックに属するセル同士を固めて配置しながら、
ブロック間ネットの配線長のばらつきをブロック内ネッ
トの配線長相当分だけに抑えようとするというものであ
る。
2. Description of the Related Art As a conventional technique relating to an automatic placement technique of a semiconductor integrated circuit, for example, a technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-274177 is known. In this conventional technique, a logical group is logically divided into units called logical blocks, and cells that are hierarchically logically designed are placed on a substrate of a semiconductor integrated circuit.
While arranging cells belonging to the same block together,
It is intended to suppress the variation in the wiring length of the inter-block net to only the equivalent of the wiring length of the intra-block net.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】前記従来技術では、ブ
ロック内、ブロック間配線長の短縮、ばらつきを抑える
ことを目的としている。しかし、ディレイに関しては考
慮していない為、ディレイ短縮、ディレイのばらつきを
考慮する事が困難であるという技術的課題を有してい
る。また、セルの駆動力を切り替える際には、セルの大
きさが変化する為、配置後に駆動力を切り替える事は困
難である。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the prior art to reduce the wiring length in a block or between blocks and to reduce variations. However, since the delay is not considered, there is a technical problem that it is difficult to consider the delay shortening and the variation of the delay. In addition, when the driving force of the cell is switched, it is difficult to switch the driving force after the arrangement because the size of the cell changes.

【0004】本発明の目的は、ディレイを考慮したセル
の自動配置が可能な半導体集積回路の自動配置技術を提
供する事にある。
An object of the present invention is to provide a technique for automatically arranging semiconductor integrated circuits, which can automatically arrange cells in consideration of delay.

【0005】本発明の他の目的は、ディレイを減少させ
るセルの配置を実現することが可能な半導体集積回路の
自動配置技術を提供する事にある。
Another object of the present invention is to provide a technique for automatically arranging semiconductor integrated circuits, which can realize cell arrangement for reducing delay.

【0006】本発明の他の目的は、セルの自動配置にお
いて駆動力の切替えによりディレイを減少させることが
可能な半導体集積回路の自動配置技術を提供する事にあ
る。
Another object of the present invention is to provide a technique for automatically arranging semiconductor integrated circuits which can reduce a delay by switching a driving force in an automatic cell arrangement.

【0007】本発明の他の目的は、セルの配置および駆
動力の双方の最適化によるディレイの短縮が可能な半導
体集積回路の自動配置技術を提供する事にある。
Another object of the present invention is to provide a technique for automatically arranging a semiconductor integrated circuit capable of shortening a delay by optimizing both cell arrangement and driving force.

【0008】本発明の他の目的は、セルの自動配置にて
得られた半導体集積回路の性能を向上させることにあ
る。
Another object of the present invention is to improve the performance of a semiconductor integrated circuit obtained by automatic cell arrangement.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、相互に接続さ
れる複数のセルを含む半導体集積回路の自動配置方法に
おいて、複数のセルの配置位置を決める時に、セルの入
力側および出力側の各々のネットについてディレイを計
算し、入力側および出力側のディレイの合計結果が減少
するようにセルを配置するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to a method for automatically arranging a semiconductor integrated circuit including a plurality of cells connected to each other. The delay is calculated for each net, and the cells are arranged so that the total result of the delays on the input side and the output side is reduced.

【0010】より具体的には、一例として、設計ファイ
ルより、セル間の接続情報、セルの負荷駆動力を入力す
ると共に、セル別ディレイ定数、ディレイ計算用定数を
入力し、入力されたデータを基にセルの配置位置を決め
る時、セルの仮置きを行い、その都度仮置きしたセルの
接続関係を基に仮想配線長を計算し、仮置きしたセルの
入出力ネットのディレイ計算を行いディレイが最小とな
るようにセルの配置位置を決定するものである。
More specifically, as an example, connection information between cells and load driving force of cells are input from a design file, delay constants for individual cells and delay calculation constants are input, and the input data is input. When determining the cell placement position based on the cell, the cell is temporarily placed, and the virtual wiring length is calculated based on the connection relationship of the temporarily placed cell each time, and the delay of the input / output net of the temporarily placed cell is calculated. Is determined so that is minimized.

【0011】また、同時にセル駆動力を仮に切替えつ
つ、入出力ネットのディレイを再計算し、ディレイが更
に短縮される場合、セルの駆動力を切り替えるものであ
る。
In addition, the delay of the input / output net is recalculated while simultaneously switching the cell driving force, and the driving force of the cell is switched when the delay is further reduced.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しながら詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0013】図1は、本発明の一実施例である半導体集
積回路の自動配置方法におけるディレイの計算方法の一
例を示す概念図、図2は、本実施の形態の自動配置方法
の作用の一例を示すフローチャート、図3、図4、図5
および図6は、本実施の形態の自動配置方法の作用の一
例を示す概念図である。
FIG. 1 is a conceptual diagram showing an example of a method of calculating a delay in an automatic placement method of a semiconductor integrated circuit according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an example of an operation of the automatic placement method of the embodiment. , FIG. 3, FIG. 4, FIG.
FIG. 6 and FIG. 6 are conceptual diagrams showing an example of the operation of the automatic arrangement method according to the present embodiment.

【0014】まず、図1にて本実施の形態におけるディ
レイの計算式の一例について説明する。ディレイ(tp
d)は基本ディレイ(tpd0)と負荷ディレイの合計
とし、負荷ディレイは配線容量(Cw)、入力ピン容量
(Cin)の合計とon抵抗(tpdc)をかけた値で
求められる。すなわち、ディレイはtpd=tpd0+
tpdc(ΣCw+ΣCin)の式で求められる。ここ
での条件は基本ディレイは一定とし、配線容量(Cw)
の増加は比例とする。
First, an example of a formula for calculating a delay in the present embodiment will be described with reference to FIG. Delay (tp
d) is the sum of the basic delay (tpd0) and the load delay, and the load delay is obtained by multiplying the sum of the wiring capacitance (Cw) and the input pin capacitance (Cin) by the on resistance (tpdc). That is, the delay is tpd = tpd0 +
tpdc (ΣCw + ΣCin). The condition here is that the basic delay is constant, and the wiring capacitance (Cw)
Increase is proportional.

【0015】図2は、本実施の形態の自動配置方法を、
SA(Simulated Annealing)に適
用した場合の自動配置処理フローの一例を示している。
SA法ではまず、配置領域を分割し(ステップ20
1)、分割した配置領域に任意にセルの振り分けを行い
(ステップ202)、初期状態での入出力ネットのミク
ロパスディレイ計算を行ない(ステップ203)、セル
を他の配置領域に移動し(ステップ204)、セルが移
動先に配置可能か判定し(ステップ205)、配置可能
な場合はセル移動後の入出力ネットのミクロパスディレ
イを再計算し(ステップ206)、ミクロパスディレイ
の短縮効果の有無を判定し(ステップ207)、効果の
ある場合は、ステップ204のセルの移動結果を確定す
る。
FIG. 2 shows an automatic placement method according to this embodiment.
9 shows an example of an automatic arrangement processing flow when applied to SA (Simulated Annealing).
In the SA method, first, the arrangement area is divided (step 20).
1) The cells are arbitrarily allocated to the divided placement areas (step 202), the micropath delay of the input / output net in the initial state is calculated (step 203), and the cells are moved to another placement area (step 202). 204), it is determined whether the cell can be placed at the destination (step 205). If the cell can be placed, the micropath delay of the input / output net after the cell is moved is recalculated (step 206), and the effect of shortening the micropath delay is determined. It is determined whether or not there is an effect (step 207). If there is an effect, the result of the cell movement in step 204 is determined.

【0016】さらに、個々のセルの駆動力の観点からデ
ィレイの最適化を行うべく、移動先の配置領域内にセル
の駆動力を切替え後に配置可能か判定し(ステップ20
8〜209)、配置可能な場合は切替え後の入出力ネッ
トのミクロパスディレイを再計算し(ステップ21
0)、切替え後のミクロパスディレイの合計値がさらに
短縮される場合(ステップ211)、セルの駆動力を切
り替え(ステップ212)、配置位置および駆動力を決
定する。
Further, in order to optimize the delay from the viewpoint of the driving force of the individual cells, it is determined whether or not the cells can be arranged in the destination arrangement area after switching the driving force (step 20).
8 to 209), and if possible, recalculate the micropath delay of the input / output net after switching (step 21).
0) If the total value of the micropath delay after the switching is further reduced (step 211), the driving force of the cell is switched (step 212), and the arrangement position and the driving force are determined.

【0017】図3は、本実施の形態の半導体集積回路に
おける配置領域301と、その中に配置するセル302
〜304の一例を示している。ここで、条件としてセル
の駆動力はセルサイズとし、セル302が1倍力、セル
303が2倍力、セル304が4倍力、である。また、
入力ピン容量(Cin)については1倍力のセル302
を1とし2倍力、4倍力のセル303、セル304はそ
れぞれ2、4とする。また、on抵抗(tpdc)は1
倍力のセル302を1とし、2倍力、4倍力のセル30
3、セル304のon抵抗は1/2、1/4とする。
FIG. 3 shows an arrangement area 301 in a semiconductor integrated circuit according to the present embodiment and a cell 302 arranged therein.
1 to 304 are shown. Here, the driving force of the cell is a cell size as a condition, and the cell 302 is 1 ×, the cell 303 is 2 ×, and the cell 304 is 4 ×. Also,
As for the input pin capacitance (Cin), the cell 302 is a single booster.
Is set to 1, and the cells 303 and 304 of the double power and the four power are set to 2 and 4, respectively. The on resistance (tpdc) is 1
The booster cell 302 is set to 1 and the booster cell 302 is set to 1.
3. The on resistance of the cell 304 is 1 /, 1 /.

【0018】各セルは、たとえば一つまたは複数の論理
素子等で構成され、各セルが相互に接続されることによ
って、所望の機能を有する半導体集積回路が実現され
る。
Each cell is composed of, for example, one or a plurality of logic elements and the like, and the cells are connected to each other to realize a semiconductor integrated circuit having a desired function.

【0019】図4は配置領域301に分割線401を決
め、この分割線401にて画定される複数の配置領域4
01aの各々にセルを任意に振り分けた状態を例示して
いる。また、分割した配置領域401aの1つの配置可
能容量は1倍力のセル302が4個、2倍力のセル30
3が2個、4倍力のセル304が1個配置できる容量と
し、配線長は分割した配置領域401aの1区画分を1
とする。
FIG. 4 shows a case where a dividing line 401 is determined in the arrangement area 301 and a plurality of arrangement areas 4 defined by the dividing line 401 are defined.
A state where cells are arbitrarily allocated to each of the cells 01a is illustrated. In addition, one allocable capacity of one of the divided arrangement areas 401a is four cells 302 each having a single boost and two cells 30 each having a double power.
3 is a capacity capable of arranging two cells and one quadruple cell 304, and the wiring length is one division of the divided arrangement area 401a.
And

【0020】次にセルの移動処理ではセル402に着目
した場合、入力側は1つ、出力側は3つのセルに接続し
ている。ここで、初期状態のミクロパスディレイは図1
の計算式で算出すると、入力ネット403のミクロパス
ディレイは(1/4)×(3Cw+1)、出力ネット4
04のミクロパスディレイは1×(5Cw+12)とな
る。
Next, when attention is paid to the cell 402 in the cell moving process, one cell is connected to the input side and three cells are connected to the output side. Here, the micropath delay in the initial state is shown in FIG.
, The micropath delay of the input net 403 is (1/4) × (3Cw + 1), and the output net 4
The micropath delay of 04 is 1 × (5Cw + 12).

【0021】図5はセル501(図4のセル402)を
移動した状態である。ここで移動先の配置領域401b
にはセル501は配置可能なので、移動前と移動後のセ
ル501(402)の入出力ネットの配線長の合計を比
べると移動前の入力側の配線長は3、出力側は5で合計
は8、移動後は入力側が5、出力側が4となり配線長は
9となり配線長を比べると移動後の配線長は移動前と比
べと+1配線長が伸びている。しかし、ミクロパスディ
レイで比べると移動後の入力ネット502のミクロパス
ディレイは(1/4)×(5Cw+1)、出力ネット5
03のミクロパスディレイは1×(4Cw+12)とな
り、変化のある配線容量を比べると入力側の移動前と移
動後の配線容量は3Cw/4が5Cw/4となり+Cw
/2、出力側の移動前と移動後の配線容量は5Cwが4
Cwとなり−1Cwとなり移動後の効果はCw/2の配
線容量が減ったことになる。配線容量が減ったことによ
り入力ネット502と出力ネット503のミクロパスデ
ィレイの合計は短縮され、セル501を移動先の配置領
域401bに割り当てる。
FIG. 5 shows a state in which the cell 501 (cell 402 in FIG. 4) has been moved. Here, the destination placement area 401b
Since the cell 501 can be placed in the cell, comparing the total wiring length of the input / output nets of the cell 501 (402) before and after the movement, the wiring length on the input side before the movement is 3 and that on the output side before the movement is 5 and the total is 8, after the movement, the input side becomes 5, the output side becomes 4, and the wiring length becomes 9, and the wiring length after the movement is +1 wiring length longer than that before the movement. However, when compared with the micropath delay, the micropath delay of the input net 502 after the movement is (1/4) × (5Cw + 1) and the output net 5
The micropath delay of 03 is 1 × (4Cw + 12), and the wiring capacitance before and after moving on the input side becomes 3Cw / 4 to 5Cw / 4 when comparing the changing wiring capacitance, and + Cw.
/ 2, the wiring capacitance before and after movement on the output side is 5 Cw = 4
Cw becomes -1Cw, and the effect after the movement is that the wiring capacity of Cw / 2 is reduced. Since the wiring capacitance is reduced, the total micropath delay of the input net 502 and the output net 503 is reduced, and the cell 501 is allocated to the destination placement area 401b.

【0022】また、移動処理中に駆動力を切り替えるこ
とで、ディレイが短縮される場合は同時に駆動力の切替
えも行う。
When the delay is reduced by switching the driving force during the moving process, the driving force is switched at the same time.

【0023】図6はセル601(図4のセル402)
(図5のセル501)が移動した配置領域401b内に
は2倍力のセルが配置可能な容量が残っており、移動後
1倍力のセル501から2倍力のセル601に切り替え
た場合、入力ネット602のミクロパスディレイは(1
/4)×(5Cw+2)、出力ネット603は(1/
2)×(4Cw+12)となり、切替え前の入出力ネッ
トのミクロパスディレイの合計と切替え後の入出力ネッ
トのミクロパスディレイを比べると配線容量では切替え
前の配線容量の合計は21Cw/4、切替え後の配線容
量は13Cw/4となり、切替え後の効果は−2Cw、
入力ピン容量では切替え前の入力ピン容量は49/4、
切替え後の入力ピン容量は13/2となり、切替え後の
効果は−23/4となり負荷容量が減る事でディレイは
短縮される。
FIG. 6 shows a cell 601 (cell 402 in FIG. 4).
In the case where the capacity capable of arranging a double booster cell remains in the arrangement area 401b to which the (cell 501 in FIG. 5) has moved, and the cell 501 is switched from the single booster cell 501 to the double booster cell 601 after the movement. , The micropath delay of the input net 602 is (1
/ 4) × (5Cw + 2), the output net 603 is (1 /
2) × (4Cw + 12), and comparing the total micropath delay of the input / output net before switching with the micropath delay of the input / output net after switching, the total wiring capacitance before switching is 21 Cw / 4, and the switching is 21 Cw / 4. The subsequent wiring capacitance is 13 Cw / 4, the effect after switching is -2 Cw,
In the input pin capacitance, the input pin capacitance before switching is 49/4,
The input pin capacitance after switching becomes 13/2, the effect after switching becomes -23/4, and the delay is shortened by reducing the load capacitance.

【0024】以上の処理を各セルに繰り返し行う事によ
り配置処理でのディレイの考慮が可能となる。
By repeating the above processing for each cell, it is possible to consider the delay in the placement processing.

【0025】以上説明したように本実施の形態の半導体
集積回路の自動配置方法によれば、セルの自動配置の
際、入力側および出力側のネットについてディレイ計算
を行う事でディレイを考慮したセル配置の最適化が可能
となり、また、セルの配置位置を決める途中でセルの駆
動力を切り替える為、セルサイズが変っても容易に配置
することができる。
As described above, according to the method for automatically arranging semiconductor integrated circuits according to the present embodiment, when automatically arranging cells, delay calculation is performed for nets on the input side and the output side, thereby taking into account the delay. The arrangement can be optimized, and the driving force of the cell is switched in the middle of determining the arrangement position of the cell, so that the cell can be easily arranged even if the cell size changes.

【0026】この結果、セルの自動配置によって得られ
た半導体集積回路におけるディレイの短縮等による高速
化が達成され、半導体集積回路の性能が向上する。
As a result, the speed of the semiconductor integrated circuit obtained by the automatic cell arrangement can be increased by shortening the delay and the like, and the performance of the semiconductor integrated circuit is improved.

【0027】以上本発明者によってなされた発明を実施
の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施
の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しな
い範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments and can be variously modified without departing from the gist thereof. Needless to say, there is.

【0028】[0028]

【発明の効果】本発明の半導体集積回路の自動配置方法
によれば、ディレイを考慮したセルの自動配置ができ
る、という効果が得られる。
According to the method for automatically arranging semiconductor integrated circuits of the present invention, an effect is obtained that cells can be automatically arranged in consideration of delay.

【0029】本発明の半導体集積回路の自動配置方法に
よれば、ディレイを減少させるセルの配置を実現するこ
とができる、という効果が得られる。
According to the method for automatically arranging semiconductor integrated circuits of the present invention, an effect is obtained that cell arrangement for reducing delay can be realized.

【0030】本発明の半導体集積回路の自動配置方法に
よれば、セルの自動配置において駆動力の切替えにより
ディレイを減少させることができる、という効果が得ら
れる。
According to the method for automatically arranging semiconductor integrated circuits of the present invention, there is an effect that the delay can be reduced by switching the driving force in the automatic cell arrangement.

【0031】本発明の半導体集積回路の自動配置方法に
よれば、セルの配置および駆動力の双方の最適化による
ディレイの短縮ができる、という効果が得られる。
According to the method for automatically arranging semiconductor integrated circuits of the present invention, there is an effect that the delay can be reduced by optimizing both the cell arrangement and the driving force.

【0032】本発明の半導体集積回路の自動配置方法に
よれば、セルの自動配置にて得られた半導体集積回路の
性能が向上する、という効果が得られる。
According to the method for automatically arranging semiconductor integrated circuits of the present invention, the effect is obtained that the performance of the semiconductor integrated circuit obtained by the automatic cell arrangement is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例である半導体集積回路の自動
配置方法におけるディレイの計算方法の一例を示す概念
図である。
FIG. 1 is a conceptual diagram showing an example of a delay calculation method in an automatic semiconductor integrated circuit placement method according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施の形態である半導体集積回路の
自動配置方法の作用の一例を示すフローチャートであ
る。
FIG. 2 is a flowchart showing an example of the operation of the method for automatically arranging semiconductor integrated circuits according to one embodiment of the present invention;

【図3】本発明の一実施の形態である半導体集積回路の
自動配置方法の作用の一例を示す概念図である。
FIG. 3 is a conceptual diagram showing an example of the operation of the method for automatically arranging semiconductor integrated circuits according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施の形態である半導体集積回路の
自動配置方法の作用の一例を示す概念図である。
FIG. 4 is a conceptual diagram showing an example of the operation of the method for automatically arranging semiconductor integrated circuits according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施の形態である半導体集積回路の
自動配置方法の作用の一例を示す概念図である。
FIG. 5 is a conceptual diagram showing an example of the operation of the method for automatically arranging semiconductor integrated circuits according to one embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施の形態である半導体集積回路の
自動配置方法の作用の一例を示す概念図である。
FIG. 6 is a conceptual diagram showing an example of the operation of the method for automatically arranging semiconductor integrated circuits according to one embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

301…配置領域、302…セル(1倍力)、303…
セル(2倍力)、304…セル(4倍力)、401…分
割線、401a…配置領域、401b…配置領域、40
2…セル、403…入力ネット、404…出力ネット、
501…セル、502…入力ネット、503…出力ネッ
ト、601…セル、602…入力ネット、603…出力
ネット。
301 ... arrangement area, 302 ... cell (1 boost), 303 ...
Cell (double boost), 304 ... cell (4 boost), 401 ... partition line, 401a ... placement area, 401b ... placement area, 40
2 ... cell, 403 ... input net, 404 ... output net,
501 ... cell, 502 ... input net, 503 ... output net, 601 ... cell, 602 ... input net, 603 ... output net.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 茂垣 眞人 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社日 立製作所エンタープライズサーバ事業部内 (72)発明者 佐々木 哲雄 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社日 立製作所エンタープライズサーバ事業部内 (72)発明者 三村 幸市 神奈川県横浜市中区尾上町6丁目81番地 日立ソフトウェアエンジニアリング株式会 社内 Fターム(参考) 5B046 AA08 BA05 JA01 5F038 CA04 CA17 CD09 EZ09 EZ20 5F064 DD02 DD03 DD24 EE08 EE47 FF04 FF52 HH06 HH09 HH12 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing from the front page (72) Inventor Masato Mogaki 1st Horiyamashita, Hadano-shi, Kanagawa Prefecture, Hitachi, Ltd. Enterprise Server Division (72) Inventor Tetsuo Sasaki 1st Horiyamashita, Hadano-shi, Kanagawa, Hitachi, Ltd. (72) Inventor Yuki Mimura 6-81 Onoecho, Naka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Pref. Hitachi Software Engineering Co., Ltd. In-house F-term (reference) 5B046 AA08 BA05 JA01 5F038 CA04 CA17 CD09 EZ09 EZ20 5F064 DD02 DD03 DD24 EE08 EE47 FF04 FF52 HH06 HH09 HH12

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 相互に接続される複数のセルを含む半導
体集積回路の自動配置方法であって、複数の前記セルの
配置位置を決める時に、前記セルの入力側および出力側
の各々のネットについてディレイを計算し、前記入力側
および出力側の前記ディレイの合計結果が減少するよう
に前記セルを配置することを特徴とする半導体集積回路
の自動配置方法。
1. A method for automatically arranging a semiconductor integrated circuit including a plurality of cells connected to each other, the method comprising: determining an arrangement position of a plurality of cells; A method for automatically arranging semiconductor integrated circuits, comprising calculating a delay and arranging the cells such that the total result of the delays on the input side and the output side is reduced.
【請求項2】 請求項1記載の半導体集積回路の自動配
置方法において、前記セルの配置位置を決める際、配置
位置を決めながら前記セルの駆動力を切り替え、切替え
後の前記ディレイの計算結果が切替え前の前記ディレイ
の計算結果より短縮される場合に、前記セルの前記駆動
力を切り替えることを特徴とする半導体集積回路の自動
配置方法。
2. A method for automatically arranging a semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein when arranging the cell, the driving force of the cell is switched while deciding the arrangement position, and the delay calculation result after the switching is determined. A method for automatically arranging semiconductor integrated circuits, wherein the driving force of the cell is switched when the delay is shorter than the result of calculation of the delay before switching.
【請求項3】 相互に接続される複数のセルを含む半導
体集積回路の自動配置方法であって、 複数の前記セルの配置領域を複数の単位領域に分割する
第1ステップ、 個々の前記単位領域の各々へ前記セルを仮に配置する第
2ステップ、 前記セルの入力側および出力側の各々のネットにおける
ディレイの計算、可能な範囲での前記セルの配置位置の
移動および交換、を反復して前記ディレイが減少する前
記セルの配置を見いだす第3ステップ、 前記第3ステップで見いだされた前記ディレイが減少す
る前記セルの配置に関して、可能な範囲での個々の前記
セルの駆動力の仮切替え、切替え後の前記セルの入力側
および出力側の各々のネットにおけるディレイの計算、
を反復して前記ディレイが減少するような、各セルへの
駆動力の設定を見いだす第4ステップ、 を含むことを特徴とする半導体集積回路の自動配置方
法。
3. A method for automatically arranging a semiconductor integrated circuit including a plurality of cells connected to each other, comprising: a first step of dividing an arrangement area of the plurality of cells into a plurality of unit areas; A second step of temporarily arranging the cell in each of the above; calculating delays in nets on each of an input side and an output side of the cell; moving and exchanging the arrangement position of the cell within a possible range; A third step of finding an arrangement of the cells in which the delay is reduced; a provisional switching and switching of the driving force of each of the cells within a possible range with respect to the arrangement of the cells in which the delay is found in the third step; Later calculating the delay in each net on the input and output sides of the cell,
And 4. finding a setting of the driving force for each cell such that the delay is reduced by repeating the above steps.
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WO2010073610A1 (en) * 2008-12-24 2010-07-01 パナソニック株式会社 Standard cell library and semiconductor integrated circuit

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2010073610A1 (en) * 2008-12-24 2010-07-01 パナソニック株式会社 Standard cell library and semiconductor integrated circuit
US8302057B2 (en) 2008-12-24 2012-10-30 Panasonic Corporation Standard cell library and semiconductor integrated circuit

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