JP2002040102A - Ic tester, its additional function setting method, and storage medium - Google Patents
Ic tester, its additional function setting method, and storage mediumInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、要求仕様に応じ
て、付加機能の設定が変更可能なＩＣテスタ、その付加
機能設定方法及び付加機能設定プログラムを記憶する記
憶媒体に関する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to an IC tester capable of changing the setting of an additional function according to required specifications, an additional function setting method thereof, and a storage medium for storing an additional function setting program.
【０００２】[0002]
【従来の技術】近時、ＩＣは多種多様化し、ＩＣテスタ
に対する要求仕様もＩＣテスト機能以外の付加機能を要
求されるケースが増大している。付加機能としては、例
えば、テスト結果を解析するデータログ機能やビットマ
ップ機能、ＩＣのロット特性などを調査する生産管理機
能などがある。また、ＩＣテスタへの付加機能の追加作
業は、ＩＣテスタを製造する工場内や、納入先などで行
われる。2. Description of the Related Art In recent years, ICs have been diversified, and the requirements for IC testers have increasingly increased to require additional functions other than the IC test function. The additional functions include, for example, a data log function for analyzing test results, a bit map function, and a production management function for investigating IC lot characteristics. The addition of the additional function to the IC tester is performed in a factory that manufactures the IC tester or at a delivery destination.
【０００３】そして、例えば、図４に示すように、ＩＣ
テスタに、付加機能としてデータログ機能Ａ及びビット
マップ機能Ａを追加することにより、Ａ品種のＩＣのテ
スト結果から解析結果を求めることができる。[0003] For example, as shown in FIG.
By adding the data log function A and the bitmap function A as additional functions to the tester, the analysis result can be obtained from the test results of the ICs of the A type.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、データ
ログ機能、ビットマップ機能などの解析機能や生産管理
機能など、ＩＣテスタに追加される付加機能は、ＩＣの
品種によって異なる機能であり、そのため、ＩＣの品種
毎に対応する付加機能に変更する作業が必要となる。However, additional functions added to the IC tester, such as an analysis function such as a data log function and a bit map function, and a production management function, are different functions depending on the type of IC. It is necessary to change the additional function corresponding to each product type.
【０００５】例えば、図４におけるＡ品種のＩＣを、Ｂ
品種のＩＣに変更し、そのテスト結果の解析を行う場
合、既存のデータログ機能Ａ及びビットマップ機能Ａを
削除し、新たに、品種ＢのＩＣに対応するデータログ機
能Ｂ及びビットマップ機能Ｂを追加する必要がある。[0005] For example, in FIG.
When changing to the type IC and analyzing the test results, the existing datalog function A and bitmap function A are deleted, and the datalog function B and bitmap function B corresponding to the type B IC are newly added. Need to be added.
【０００６】即ち、ＩＣの品種の変更に伴い、対応する
付加機能の追加、不要となった付加機能の削除等を行う
必要があり、作業性が悪かった。また、付加機能の変更
に伴う作業は人手によって行われるため、作業ミスによ
りＩＣテスト工程を遅延させる等の問題が発生する可能
性もあった。That is, with the change in the type of IC, it is necessary to add a corresponding additional function or delete an unnecessary function that has become unnecessary, resulting in poor workability. Further, since the work associated with the change of the additional function is performed manually, there is a possibility that a problem such as a delay in the IC test process due to a work mistake may occur.
【０００７】本発明の課題は、ＩＣの品種変更による解
析機能などの付加機能の追加・削除などの作業の煩わし
さを軽減し、ＩＣテスタにおける、付加機能の変更を容
易にすることである。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to reduce the complexity of operations such as addition and deletion of an additional function such as an analysis function due to a change in the type of IC, and to facilitate the change of the additional function in an IC tester.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、請求項１記載の発明は、ＩＣに対するＩＣテスト
機能を有し、このＩＣテスト機能によるテスト結果を解
析するための付加機能（例えば、図１のデータログ機能
Ａ，Ｂ、ビットマップ機能Ａ，Ｂ、生産管理機能α，β
など）を追加可能なＩＣテスタ（例えば、図１のＩＣテ
スタ１）において、前記付加機能を実行するための付加
機能プログラムを記憶する記憶手段（例えば、図１のＩ
Ｃテスタ本体２）と、前記付加機能を有効とするための
設定情報（例えば、図１のライセンス情報）を記憶する
記憶媒体（例えば、図１のライセンスメモリ３）と、前
記記憶媒体に記憶された設定情報を読み出す読出手段
（例えば、図１のＩＣテスタ本体２に設けられたメモリ
Ｉ／Ｆ）と、前記読出手段により読み出された設定情報
に基づいて、前記記憶手段に記憶された付加機能プログ
ラムを実行可能とする制御手段（例えば、図１のＩＣテ
スタ本体２）とを備えることを特徴とする。In order to solve the above problems, the invention according to claim 1 has an IC test function for an IC, and has an additional function for analyzing a test result by the IC test function. For example, the data log functions A and B, the bitmap functions A and B, the production management functions α and β in FIG.
In an IC tester (for example, IC tester 1 in FIG. 1) to which an additional function can be added, storage means (for example, I in FIG. 1) for storing an additional function program for executing the additional function.
C tester main body 2), a storage medium (for example, license memory 3 in FIG. 1) for storing setting information (for example, license information in FIG. 1) for enabling the additional function, and a storage medium stored in the storage medium. Reading means (for example, a memory I / F provided in the IC tester main body 2 in FIG. 1) for reading the setting information, and the additional information stored in the storage means based on the setting information read by the reading means. And a control means (for example, the IC tester main body 2 in FIG. 1) capable of executing the function program.
【０００９】請求項３記載の発明は、ＩＣに対するＩＣ
テスト機能を有し、このＩＣテスト機能によるテスト結
果を解析するための付加機能（例えば、図１のデータロ
グ機能Ａ，Ｂ、ビットマップ機能Ａ，Ｂ、生産管理機能
α，βなど）を追加可能なＩＣテスタ（例えば、図１の
ＩＣテスタ１）に対して前記付加機能を設定する付加機
能設定方法であって、前記付加機能を実行するための付
加機能プログラムを記憶する第１の記憶工程と、前記付
加機能を有効とするための設定情報（例えば、図１のラ
イセンス情報）を記憶する第２の記憶工程と、前記第２
の記憶工程により記憶された設定情報を読み出す読出工
程と、前記読出工程により読み出された設定情報に基づ
いて、前記第１の記憶工程により記憶された付加機能プ
ログラムを実行可能とする制御工程とを含むことを特徴
とする。According to a third aspect of the present invention, there is provided an IC for an IC.
It has a test function, and additional functions (for example, data log functions A and B, bitmap functions A and B, and production management functions α and β in FIG. 1) for analyzing the test results by the IC test function are added. An additional function setting method for setting the additional function for a possible IC tester (for example, the IC tester 1 of FIG. 1), wherein a first storage step of storing an additional function program for executing the additional function A second storage step of storing setting information (for example, the license information in FIG. 1) for enabling the additional function;
A reading step of reading the setting information stored in the storing step, and a control step of executing the additional function program stored in the first storing step based on the setting information read in the reading step. It is characterized by including.
【００１０】請求項５記載の発明は、ＩＣに対するＩＣ
テスト機能を有し、このＩＣテスト機能によるテスト結
果を解析するための付加機能（例えば、図１のデータロ
グ機能Ａ，Ｂ、ビットマップ機能Ａ，Ｂ、生産管理機能
α，βなど）を追加可能なＩＣテスタ（例えば、図１の
ＩＣテスタ１）を制御するためのコンピュータが実行可
能なプログラムを格納した記憶媒体であって、前記付加
機能を実行するための付加機能プログラムを記憶するた
めのコンピュータが実行可能なプログラムコードと、前
記付加機能を有効とするための設定情報（例えば、図１
のライセンス情報）を記憶するためのコンピュータが実
行可能なプログラムコードと、前記記憶された設定情報
を読み出すためのコンピュータが実行可能なプログラム
コードと、前記読み出された設定情報に基づいて、前記
記憶された付加機能プログラムを実行可能とするための
コンピュータが実行可能なプログラムコードとを含むこ
とを特徴とする。[0010] The invention according to claim 5 provides an IC for an IC.
It has a test function, and additional functions (for example, data log functions A and B, bitmap functions A and B, and production management functions α and β in FIG. 1) for analyzing the test results by the IC test function are added. A storage medium storing a computer-executable program for controlling a possible IC tester (for example, the IC tester 1 in FIG. 1), and for storing an additional function program for executing the additional function. A computer-executable program code and setting information for enabling the additional function (for example, FIG.
The computer-executable program code for storing the license information), the computer-executable program code for reading the stored setting information, and the storage And a computer-executable program code for executing the specified additional function program.
【００１１】この請求項１、３または５記載の発明によ
り、記憶媒体に記憶された設定情報により、ＩＣテスタ
に記憶された付加機能プログラムを実行可能とすること
ができる。即ち、解析機能や生産管理機能などの付加機
能の有効／無効を、ライセンス情報によって制御するこ
とにより、従来、ＩＣの品種毎に行っていた、必要な付
加機能の追加、不要な機能の削除などの作業が、ライセ
ンス情報を保持するライセンスメモリを変更するだけで
実現でき、ＩＣの品種変更に伴う付加機能の変更の煩わ
しさを軽減できる。According to the present invention, the additional function program stored in the IC tester can be executed by the setting information stored in the storage medium. That is, by controlling the validity / invalidity of the additional functions such as the analysis function and the production management function by the license information, it is possible to add necessary additional functions and delete unnecessary functions which are conventionally performed for each IC type. Can be realized only by changing the license memory that holds the license information, and it is possible to reduce the trouble of changing the additional functions due to the change in the type of IC.
【００１２】また、請求項２記載の発明は、請求項１記
載のＩＣテスタにおいて、前記記憶媒体は、前記付加機
能プログラムの実行手順を制御するための実行手順制御
情報（例えば、図１のライセンス情報）を更に記憶し、
前記制御手段は、前記読出手段により前記記憶媒体から
読み出された実行手順制御情報に従い、前記実行可能と
された付加機能プログラムの実行手順を制御することを
特徴とする。According to a second aspect of the present invention, in the IC tester according to the first aspect, the storage medium stores execution procedure control information for controlling an execution procedure of the additional function program. Information)
The control means controls an execution procedure of the executable additional function program according to the execution procedure control information read from the storage medium by the reading means.
【００１３】請求項４記載の発明は、請求項３記載の付
加機能設定方法において、前記第２の記憶工程におい
て、前記付加機能プログラムの実行手順を制御するため
の実行手順制御情報（例えば、図１のライセンス情報）
を更に記憶し、前記読出工程において、前記第２の工程
により記憶された実行手順制御情報を読み出し、前記制
御工程において、前記読出工程により読み出された実行
手順制御情報に従い、前記実行可能とされた付加機能プ
ログラムの実行手順を制御することを特徴とする。According to a fourth aspect of the present invention, in the additional function setting method of the third aspect, in the second storage step, execution procedure control information for controlling an execution procedure of the additional function program (for example, FIG. 1 license information)
In the reading step, the execution procedure control information stored in the second step is read, and in the control step, the execution is enabled according to the execution procedure control information read in the reading step. The execution procedure of the additional function program is controlled.
【００１４】請求項６記載の発明は、請求項５記載の記
憶媒体において、前記付加機能プログラムの実行手順を
制御するための実行手順制御情報（例えば、図１のライ
センス情報）を記憶するためのコンピュータが実行可能
なプログラムコードと、前記記憶された実行手順制御情
報を読み出すためのコンピュータが実行可能なプログラ
ムコードと、前記読み出された実行手順制御情報に従
い、前記実行可能とされた付加機能プログラムの実行手
順を制御するためのコンピュータが実行可能なプログラ
ムコードとを更に含むことを特徴とする。According to a sixth aspect of the present invention, in the storage medium of the fifth aspect, there is stored execution procedure control information (for example, license information in FIG. 1) for controlling an execution procedure of the additional function program. A computer-executable program code; a computer-executable program code for reading the stored execution procedure control information; and the additional function program executable according to the read execution procedure control information. And a computer-executable program code for controlling the execution procedure.
【００１５】この請求項２、４または６記載の発明によ
れば、記憶媒体に記憶された実行手順制御情報により、
実行可能とした付加機能プログラムを、予め定められた
実行手順に従って制御できる。即ち、ＩＣテスタにライ
センス機能を付加することで、ライセンスメモリに記憶
されたライセンス情報に従って、テスト結果に対する各
解析機能を有効にして、自動的に解析処理を実行させる
ことが可能となる。このため、オペレータの手作業によ
る、付加機能実行の手順ミス等を防ぐことができる。According to the second, fourth or sixth aspect of the present invention, the execution procedure control information stored in the storage medium allows
The executable additional function program can be controlled according to a predetermined execution procedure. That is, by adding a license function to the IC tester, each analysis function for the test result can be enabled according to the license information stored in the license memory, and the analysis processing can be automatically executed. For this reason, it is possible to prevent a mistake in the procedure for executing the additional function due to the manual operation of the operator.
【００１６】[0016]
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態とし
て、Ａ品種のＩＣに対してテストを行い、そのテスト結
果に対して、データログ機能Ａ及びビットマップ機能Ａ
の解析処理を実行する場合について、図を参照して詳細
に説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, as one embodiment of the present invention, a test is performed on ICs of type A, and a data log function A and a bit map function A
The case of executing the analysis processing of will be described in detail with reference to the drawings.
【００１７】まず構成を説明する。図１は、本発明を適
用したＩＣテスタ１の概略構成を示す図であり、ＩＣテ
スタ１は、付加機能の追加を容易にするライセンス機能
を有する。同図において、ＩＣテスタ１は、ＩＣテスト
機能と、ライセンス機能に基づく付加機能とを内蔵する
ＩＣテスタ本体２、及びＩＣテスタ本体２に内蔵される
付加機能を有効にするライセンス情報を記憶するライセ
ンスメモリ３により構成される。First, the configuration will be described. FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of an IC tester 1 to which the present invention is applied. The IC tester 1 has a license function for facilitating the addition of additional functions. In FIG. 1, an IC tester 1 includes an IC tester main body 2 having an IC test function and an additional function based on a license function, and a license storing license information for enabling the additional function built in the IC tester main body 2. It is constituted by the memory 3.
【００１８】ＩＣテスタ本体２は、ＩＣテスト機能以外
の付加機能として、Ａ品種のＩＣに対するデータログ機
能Ａとビットマップ機能Ａ、Ｂ品種のＩＣに対するデー
タログ機能Ｂとビットマップ機能Ｂの解析機能、更に、
生産管理機能α，βを内蔵する。これらの付加機能は、
製造工程において既にＩＣテスタ本体２に組み込まれて
いる機能であり、通常は無効である。そして、ライセン
スメモリ３に記憶されるライセンス情報に基づいて有効
とされ、各解析処理または生産管理処理が実行される。The IC tester main body 2 has, as additional functions other than the IC test function, an analysis function of a data log function A and a bit map function A for the type A IC, and a data log function B and a bit map function B for the type B IC. And
Built-in production control functions α and β. These additional features
This function is already incorporated in the IC tester main body 2 in the manufacturing process, and is usually invalid. Then, it is validated based on the license information stored in the license memory 3, and each analysis process or production management process is executed.
【００１９】ライセンスメモリ３に記憶されるライセン
ス情報には、ＩＣテスタ本体２に内蔵される付加機能を
有効とするためのライセンスと、これらの有効とされた
付加機能の実行手順などを制御する情報とが含まれる。The license information stored in the license memory 3 includes a license for validating additional functions built in the IC tester main body 2 and information for controlling an execution procedure of these validated additional functions. And are included.
【００２０】例えば、同図に示すライセンスメモリ３
は、ＩＣテスタ本体２に内蔵されたデータログ機能Ａ及
びビットマップ機能Ａの各解析を有効とするとともに、
まずデータログ機能Ａを実行し、次いでビットマップ機
能Ａを実行するという、解析機能の実行手順を制御する
ためのライセンス情報を記憶する。For example, the license memory 3 shown in FIG.
Enables each analysis of the data log function A and the bit map function A built in the IC tester main body 2, and
The license information for controlling the execution procedure of the analysis function, in which the data log function A is executed first and then the bitmap function A is executed, is stored.
【００２１】ＩＣテスタ本体２は、ライセンスメモリ３
をセットするためのメモリＩ／Ｆ（図示せず）を有し、
セットされたライセンスメモリ３からライセンス情報を
読み出すことにより、内蔵されたデータログ機能Ａ、ビ
ットマップ機能Ａを有効とし、セットされたＡ品種のＩ
Ｃのテスト結果に対するそれぞれの解析処理を実行す
る。そして、テスト結果とともに、それぞれの解析結果
を出力する。The IC tester main body 2 includes a license memory 3
Has a memory I / F (not shown) for setting
By reading the license information from the set license memory 3, the built-in data log function A and bit map function A are enabled, and the I type of the set A type is enabled.
Each analysis process is performed on the test result of C. Then, each analysis result is output together with the test result.
【００２２】また、図２（ａ）に示すように、ライセン
スメモリ３が記憶するライセンス情報が、生産管理機能
αにライセンスを与えるものあれば、ＩＣテスタ本体２
は、この生産管理機能αを有効にし、ＩＣ−１〜ｎのテ
スト時に生産管理情報を収集する生産管理処理を実行
し、テスト結果とともに生産管理結果を出力する。As shown in FIG. 2 (a), if the license information stored in the license memory 3 is to give a license to the production management function α, the IC tester main unit 2
Enables the production management function α, executes a production management process for collecting production management information at the time of testing IC-1 to IC-n, and outputs the production management result together with the test result.
【００２３】また、同図（ｂ）に示すように、ライセン
スメモリ３が記憶するライセンス情報が、ＩＣテスタ１
に内蔵された付加機能に特にライセンスを与えない場
合、ＩＣテスタ１は、セットされたＩＣ−１〜ｎに対す
るテスト結果のみを出力する。As shown in FIG. 2B, the license information stored in the license memory 3 is stored in the IC tester 1.
In the case where a license is not given to the additional function built in the IC tester 1, the IC tester 1 outputs only the test result for the set IC-1 to IC-n.
【００２４】尚、ライセンスメモリ３は、フロッピー
（登録商標）ディスクやメモリカードなどの、ＩＣテス
タ本体２に着脱自在な記憶媒体として構成される。そし
て、テスト対象となるＩＣの品種によって、オペレータ
により選択され、ＩＣテスタ本体２にセットされる。The license memory 3 is configured as a storage medium that can be attached to and detached from the IC tester main body 2, such as a floppy (registered trademark) disk or a memory card. Then, the IC is selected by the operator according to the type of the IC to be tested and set in the IC tester main body 2.
【００２５】ＩＣテスタ本体２は、上記ライセンスメモ
リ３をセットし、また、このライセンスメモリ３に記憶
されたライセンス情報を読み出すためのメモリＩ／Ｆ機
能を備える。そして、ＩＣテスタ本体２は、セットされ
たライセンスメモリ３から読み出したライセンス情報に
基づき、内蔵された付加機能を有効にするとともに、実
行手順に従って有効とした付加機能を実行し、その実行
結果を出力する。The IC tester main body 2 has a memory I / F function for setting the license memory 3 and reading out the license information stored in the license memory 3. Then, the IC tester main body 2 validates the built-in additional function based on the license information read from the set license memory 3, executes the validated additional function according to the execution procedure, and outputs the execution result. I do.
【００２６】次に動作を説明する。ＩＣテスタ１が、デ
ータログ機能Ａ及びビットマップ機能Ａを有効にし、Ａ
品種のＩＣのテスト結果に対する各解析処理を実行する
際の動作を、図３に示すフローチャートに基づいて説明
する。Next, the operation will be described. The IC tester 1 enables the data log function A and the bitmap function A, and
The operation when each analysis process is performed on the test result of the IC of the type will be described with reference to the flowchart shown in FIG.
【００２７】まず、オペレータは、テスト対象となるＩ
ＣをＩＣテスタ１にセットするとともに、実行すべき付
加機能を有効とし、その付加機能の実行手順を制御する
ためのライセンス情報を記憶するライセンスメモリ３
を、ＩＣテスタ本体２のメモリＩ／Ｆにセットする（ス
テップＳ１）。First, the operator selects the I to be tested.
C is set in the IC tester 1, the additional function to be executed is made valid, and a license memory 3 for storing license information for controlling the execution procedure of the additional function is stored.
Is set in the memory I / F of the IC tester main body 2 (step S1).
【００２８】例えば、図１に示すように、Ａ品種のＩ
Ｃ：Ａ−１〜ｎをＩＣテスタ本体２にセットするととも
に、データログ機能Ａ、続いてビットマップ機能Ａの各
付加機能を有効とし、その付加機能の実行手順を制御す
るためのライセンス情報を記憶するライセンスメモリ３
を、ＩＣテスタ本体２のメモリＩ／Ｆにセットする。For example, as shown in FIG.
C: While setting A-1 to A-n in the IC tester main body 2, the data log function A, then the additional functions of the bitmap function A are enabled, and license information for controlling the execution procedure of the additional functions is provided. License memory 3 to store
Is set in the memory I / F of the IC tester main body 2.
【００２９】そして、オペレータによるテスト開始指示
により（ステップＳ２）、ＩＣテスタ本体２は、セット
されたＩＣに対して、その品種に対応したＩＣテストを
実行する。更に、ＩＣテスタ本体２は、メモリＩ／Ｆに
セットされたライセンスメモリ３に記憶されたライセン
ス情報を読み出し、ライセンスを与えられた付加機能を
有効にし、その実行手順に従って各付加機能を実行す
る。Then, in response to a test start instruction from the operator (step S2), the IC tester main body 2 executes an IC test corresponding to the type on the set IC. Further, the IC tester main body 2 reads out the license information stored in the license memory 3 set in the memory I / F, enables the licensed additional functions, and executes each additional function according to the execution procedure.
【００３０】即ち、図１に示すライセンスメモリ３に記
憶されたライセンス情報によれば、ＩＣテスタ本体２
は、まず、内蔵されたデータログ機能Ａを有効とし（ス
テップＳ３：ＹＥＳ）、ＩＣのテスト結果に対するデー
タログ解析を実行する（ステップＳ４）。次いで、ＩＣ
テスタ１は、内蔵されたビットマップ機能Ａを有効とし
（ステップＳ５：ＹＥＳ）、ＩＣのテスト結果に対する
ビットマップ解析を実行する（ステップＳ６）。That is, according to the license information stored in the license memory 3 shown in FIG.
First, the built-in data log function A is enabled (step S3: YES), and data log analysis is performed on the IC test result (step S4). Next, IC
The tester 1 enables the built-in bitmap function A (step S5: YES), and executes a bitmap analysis on the IC test result (step S6).
【００３１】このように、ＩＣテスタ本体２は、読み出
したライセンス情報により定められた実行手順に従っ
て、実行対象となる機能を有効とし、各解析処理や生産
管理処理を実行する。As described above, the IC tester main unit 2 enables the functions to be executed according to the execution procedure determined by the read license information, and executes each analysis process and production management process.
【００３２】ＩＣテスタ本体２は、ライセンス情報に基
づいて、ライセンスを与えられた機能の実行が終了する
と（ステップＳ１５：ＹＥＳ）、ＩＣのテスト結果とと
もに、これらの各付加機能の実行により得られた解析結
果または生産管理結果を出力する（ステップＳ１６）。
即ち、図１に示すＩＣテスタ１においては、Ａ品種のＩ
Ｃのテスト結果とともに、このテスト結果に対するデー
タログ解析及びビットマップ解析の解析結果が出力され
る。When the execution of the licensed function is completed based on the license information (step S15: YES), the IC tester main body 2 obtains the IC test results and the execution of each of these additional functions. An analysis result or a production management result is output (step S16).
That is, in the IC tester 1 shown in FIG.
Along with the test result of C, the analysis result of the data log analysis and the bitmap analysis for this test result is output.
【００３３】このようにＩＣテスタ１にライセンス機能
を付加することで、ライセンスメモリ３に記憶されたラ
イセンス情報に従って、テスト結果に対する各解析機能
を有効にして、自動的に解析処理を実行させることが可
能となる。このため、オペレータの手作業による、付加
機能実行の手順ミス等を防ぐことができる。By adding the license function to the IC tester 1 in this manner, each analysis function for the test result is enabled according to the license information stored in the license memory 3 and the analysis processing is automatically executed. It becomes possible. For this reason, it is possible to prevent a mistake in the procedure for executing the additional function due to the manual operation of the operator.
【００３４】また、解析機能や生産管理機能などの付加
機能の有効／無効を、ライセンス情報によって制御する
ことにより、従来、ＩＣの品種毎に行っていた、必要な
付加機能の追加、不要な機能の削除などの作業が、ライ
センス情報を保持するライセンスメモリ３を変更するだ
けで実現でき、ＩＣの品種変更に伴う付加機能の変更の
煩わしさを軽減できる。Further, by controlling the validity / invalidity of additional functions such as an analysis function and a production management function by license information, addition of necessary additional functions and unnecessary functions which have conventionally been performed for each type of IC. Can be realized only by changing the license memory 3 holding the license information, and the trouble of changing the additional functions due to the change in the type of IC can be reduced.
【００３５】尚、上記実施形態においては、ＩＣテスタ
本体２に内蔵される付加機能を、データログ機能Ａ，
Ｂ、ビットマップ機能Ａ，Ｂ、及び生産管理機能α，β
の６種類として説明したが、もちろんこれは、いくつで
もかまわないし、他の機能を内蔵するようにしてもかま
わない。In the above embodiment, the additional function built in the IC tester main body 2 is the data log function A,
B, bitmap functions A and B, and production management functions α and β
However, as a matter of course, any number may be used, and other functions may be incorporated.
【００３６】また、ライセンスを与えられた付加機能に
ついて、その旨を表示させるようにし、この表示を確認
したオペレータの指示により、ライセンスを与えられた
付加機能を実行するようにしてもよい。更に、オペレー
タが、必要に応じて、ライセンスを与えられた付加機能
の実行の要／不要を選択可能としてもよい。The licensed additional function may be displayed so as to indicate that the additional function has been licensed, and the licensed additional function may be executed in response to an instruction from an operator who has confirmed the display. Further, the operator may be able to select whether or not to execute the licensed additional function as necessary.
【００３７】[0037]
【発明の効果】請求項１、３または５記載の発明によれ
ば、記憶媒体に記憶された設定情報により、ＩＣテスタ
に記憶された付加機能プログラムを実行可能とすること
ができる。即ち、解析機能や生産管理機能などの付加機
能の有効／無効を、ライセンス情報によって制御するこ
とにより、従来、ＩＣの品種毎に行っていた、必要な付
加機能の追加、不要な機能の削除などの作業が、ライセ
ンス情報を保持するライセンスメモリを変更するだけで
実現でき、ＩＣの品種変更に伴う付加機能の変更の煩わ
しさを軽減できる。According to the present invention, the additional function program stored in the IC tester can be executed by the setting information stored in the storage medium. That is, by controlling the validity / invalidity of the additional functions such as the analysis function and the production management function by the license information, it is possible to add necessary additional functions and delete unnecessary functions which are conventionally performed for each IC type. Can be realized only by changing the license memory that holds the license information, and it is possible to reduce the trouble of changing the additional functions due to the change in the type of IC.
【００３８】また、請求項２、４または６記載の発明に
よれば、請求項１、３または５記載の発明の効果に加
え、記憶媒体に記憶された実行手順制御情報により、実
行可能とした付加機能プログラムを、予め定められた実
行手順に従って制御できる。即ち、ＩＣテスタにライセ
ンス機能を付加することで、ライセンスメモリに記憶さ
れたライセンス情報に従って、テスト結果に対する各解
析機能を有効にして、自動的に解析処理を実行させるこ
とが可能となる。このため、オペレータの手作業によ
る、付加機能実行の手順ミス等を防ぐことができる。According to the second, fourth, or sixth aspect of the present invention, in addition to the effects of the first, third, or fifth aspect of the present invention, execution is enabled by execution procedure control information stored in a storage medium. The additional function program can be controlled according to a predetermined execution procedure. That is, by adding a license function to the IC tester, each analysis function for the test result can be enabled according to the license information stored in the license memory, and the analysis processing can be automatically executed. For this reason, it is possible to prevent a mistake in the procedure for executing the additional function due to the manual operation of the operator.
【図１】本発明を適用した、ライセンス機能を有するＩ
Ｃテスタ。FIG. 1 is a block diagram showing an I-type device having a license function according to the present invention.
C tester.
【図２】本発明を適用した、ライセンス機能を有するＩ
Ｃテスタ。FIG. 2 is a block diagram showing an I-type application having a license function according to the present invention.
C tester.
【図３】本発明を適用したＩＣテスタの動作を説明する
フローチャート。FIG. 3 is a flowchart illustrating an operation of an IC tester to which the present invention is applied.
【図４】従来のＩＣテスタにおける付加機能の実行を説
明する図。FIG. 4 is a diagram illustrating execution of an additional function in a conventional IC tester.
１ ＩＣテスタ ２ ＩＣテスタ本体 ３ ライセンスメモリ 1 IC tester 2 IC tester main body 3 License memory
Claims (6)
ＩＣテスト機能によるテスト結果を解析するための付加
機能を追加可能なＩＣテスタにおいて、 前記付加機能を実行するための付加機能プログラムを記
憶する記憶手段と、 前記付加機能を有効とするための設定情報を記憶する記
憶媒体と、 前記記憶媒体に記憶された設定情報を読み出す読出手段
と、 前記読出手段により読み出された設定情報に基づいて、
前記記憶手段に記憶された付加機能プログラムを実行可
能とする制御手段と、 を備えることを特徴とするＩＣテスタ。1. An IC tester having an IC test function for an IC and capable of adding an additional function for analyzing a test result by the IC test function, wherein an additional function program for executing the additional function is stored. A storage unit, a storage medium that stores setting information for enabling the additional function, a reading unit that reads the setting information stored in the storage medium, and a storage unit that stores the setting information read by the reading unit. ,
Control means for enabling execution of the additional function program stored in the storage means.
の実行手順を制御するための実行手順制御情報を更に記
憶し、 前記制御手段は、前記読出手段により前記記憶媒体から
読み出された実行手順制御情報に従い、前記実行可能と
された付加機能プログラムの実行手順を制御することを
特徴とする請求項１記載のＩＣテスタ。2. The storage medium further stores execution procedure control information for controlling an execution procedure of the additional function program, wherein the control unit reads the execution procedure read from the storage medium by the reading unit. 2. The IC tester according to claim 1, wherein an execution procedure of the executable additional function program is controlled according to the control information.
ＩＣテスト機能によるテスト結果を解析するための付加
機能を追加可能なＩＣテスタに対して前記付加機能を設
定する付加機能設定方法であって、 前記付加機能を実行するための付加機能プログラムを記
憶する第１の記憶工程と、 前記付加機能を有効とするための設定情報を記憶する第
２の記憶工程と、 前記第２の記憶工程により記憶された設定情報を読み出
す読出工程と、 前記読出工程により読み出された設定情報に基づいて、
前記第１の記憶工程により記憶された付加機能プログラ
ムを実行可能とする制御工程と、 を含むことを特徴とする付加機能設定方法。3. An additional function setting method for setting an additional function for an IC tester having an IC test function for an IC and capable of adding an additional function for analyzing a test result by the IC test function. A first storage step of storing an additional function program for executing the additional function; a second storage step of storing setting information for enabling the additional function; and a second storage step. A reading step of reading the stored setting information, and based on the setting information read in the reading step,
A control step of enabling the additional function program stored in the first storage step to be executed.
能プログラムの実行手順を制御するための実行手順制御
情報を更に記憶し、 前記読出工程において、前記第２の工程により記憶され
た実行手順制御情報を読み出し、 前記制御工程において、前記読出工程により読み出され
た実行手順制御情報に従い、前記実行可能とされた付加
機能プログラムの実行手順を制御することを特徴とする
請求項３記載の付加機能設定方法。4. The execution procedure stored in the second step, wherein the execution procedure control information for controlling the execution procedure of the additional function program is further stored in the second storage step. 4. The method according to claim 3, wherein control information is read, and in the control step, an execution procedure of the executable additional function program is controlled in accordance with the execution procedure control information read in the reading step. Function setting method.
ＩＣテスト機能によるテスト結果を解析するための付加
機能を追加可能なＩＣテスタを制御するためのコンピュ
ータが実行可能なプログラムを格納した記憶媒体であっ
て、 前記付加機能を実行するための付加機能プログラムを記
憶するためのコンピュータが実行可能なプログラムコー
ドと、 前記付加機能を有効とするための設定情報を記憶するた
めのコンピュータが実行可能なプログラムコードと、 前記記憶された設定情報を読み出すためのコンピュータ
が実行可能なプログラムコードと、 前記読み出された設定情報に基づいて、前記記憶された
付加機能プログラムを実行可能とするためのコンピュー
タが実行可能なプログラムコードと、 を含むことを特徴とする記憶媒体。5. A storage medium storing a computer-executable program for controlling an IC tester having an IC test function for an IC and capable of adding an additional function for analyzing a test result by the IC test function. A computer-executable program code for storing an additional function program for executing the additional function, and a computer code for storing setting information for enabling the additional function. A program code, a computer-executable program code for reading the stored setting information, and a computer for enabling the stored additional function program to be executed based on the read setting information. A storage medium comprising: an executable program code;
するための実行手順制御情報を記憶するためのコンピュ
ータが実行可能なプログラムコードと、 前記記憶された実行手順制御情報を読み出すためのコン
ピュータが実行可能なプログラムコードと、 前記読み出された実行手順制御情報に従い、前記実行可
能とされた付加機能プログラムの実行手順を制御するた
めのコンピュータが実行可能なプログラムコードと、 を更に含むことを特徴とする請求項５記載の記憶媒体。6. A computer-executable program code for storing execution procedure control information for controlling an execution procedure of the additional function program, and a computer program for reading out the stored execution procedure control information. Further comprising: an executable program code; and a computer-executable program code for controlling an execution procedure of the executable additional function program according to the read execution procedure control information. The storage medium according to claim 5, wherein
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000229474A JP2002040102A (en) | 2000-07-28 | 2000-07-28 | Ic tester, its additional function setting method, and storage medium |
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| JP2000229474A Pending JP2002040102A (en) | 2000-07-28 | 2000-07-28 | Ic tester, its additional function setting method, and storage medium |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP2002040102A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005300535A (en) * | 2004-04-06 | 2005-10-27 | Agilent Technol Inc | Provision and use of security token making automated test equipment effective |
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- 2000-07-28 JP JP2000229474A patent/JP2002040102A/en active Pending
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