JP2002032917A - 光学的情報記録媒体の記録方法および装置 - Google Patents
光学的情報記録媒体の記録方法および装置Info
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- JP2002032917A JP2002032917A JP2001204920A JP2001204920A JP2002032917A JP 2002032917 A JP2002032917 A JP 2002032917A JP 2001204920 A JP2001204920 A JP 2001204920A JP 2001204920 A JP2001204920 A JP 2001204920A JP 2002032917 A JP2002032917 A JP 2002032917A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 書き換え可能な相変化型光ディスクにおい
て、類似した記録情報を繰り返し記録する場合の記録薄
膜の劣化を抑制し、もって書き換え可能回数を向上させ
る。 【構成】 光学情報記録媒体の各セクタに記録する記録
データが、同期信号42と、同期信号の後に付加された
データ先頭識別マーク43と、データ先頭識別マークの
後に付加された本来の記録データ44とを含み、記録の
毎に同期信号領域の長さを変化させて記録する。
て、類似した記録情報を繰り返し記録する場合の記録薄
膜の劣化を抑制し、もって書き換え可能回数を向上させ
る。 【構成】 光学情報記録媒体の各セクタに記録する記録
データが、同期信号42と、同期信号の後に付加された
データ先頭識別マーク43と、データ先頭識別マークの
後に付加された本来の記録データ44とを含み、記録の
毎に同期信号領域の長さを変化させて記録する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、書き換え可能な光
ディスク(光学情報記録媒体)に対してセクタ単位でデ
ータを記録する光ディスク装置に関するものである。
ディスク(光学情報記録媒体)に対してセクタ単位でデ
ータを記録する光ディスク装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】信号を記録・再生し、かつ消去すること
ができる光学情報記録媒体として、記録薄膜材料にカル
コゲン化物を用いた相変化型の光ディスクが知られてい
る。相変化型光ディスクの場合、記録薄膜はレーザ光線
等の光ビームの照射によって結晶或いは非晶質間で相転
移を生じる光感応性薄膜である。書き換え可能な相変化
型光ディスクの場合、一般には、記録薄膜が結晶状態の
場合を未記録状態とし、レーザ光を照射し、記録薄膜を
溶融・急冷して非晶質状態とすることにより、信号を記
録する。一方、信号を消去する場合には、記録時よりも
低パワーのレーザ光を照射することにより、記録薄膜を
昇温して結晶状態とする。
ができる光学情報記録媒体として、記録薄膜材料にカル
コゲン化物を用いた相変化型の光ディスクが知られてい
る。相変化型光ディスクの場合、記録薄膜はレーザ光線
等の光ビームの照射によって結晶或いは非晶質間で相転
移を生じる光感応性薄膜である。書き換え可能な相変化
型光ディスクの場合、一般には、記録薄膜が結晶状態の
場合を未記録状態とし、レーザ光を照射し、記録薄膜を
溶融・急冷して非晶質状態とすることにより、信号を記
録する。一方、信号を消去する場合には、記録時よりも
低パワーのレーザ光を照射することにより、記録薄膜を
昇温して結晶状態とする。
【0003】相変化記録のメリットの1つは、記録手段
として単一のレーザビームのみを用い、情報信号をオー
バライトできる点にある。すなわち、レーザー出力を記
録レベルと消去レベルの2つのレベル間で情報信号に応
じて変調し記録済みの情報トラック上に照射すると、既
存の情報信号を消去しつつ新しい信号を記録することが
可能である(特開昭56−145530号公報)。この
特徴を生かして、相変化型光ディスクは、文書ファイ
ル、画像ファイル、データファイルとして利用されてい
る。
として単一のレーザビームのみを用い、情報信号をオー
バライトできる点にある。すなわち、レーザー出力を記
録レベルと消去レベルの2つのレベル間で情報信号に応
じて変調し記録済みの情報トラック上に照射すると、既
存の情報信号を消去しつつ新しい信号を記録することが
可能である(特開昭56−145530号公報)。この
特徴を生かして、相変化型光ディスクは、文書ファイ
ル、画像ファイル、データファイルとして利用されてい
る。
【0004】書き換え可能な光ディスクでは、記録トラ
ックの高密度化、離散的な部分書き込み・消去等の必要
性から、基板上に光学的に検知可能な案内トラックを同
心円状、或はスパイラル状に設けることが一般的であ
る。光ディスク装置は、光ディスクの案内トラック上に
形成した記録薄膜に直径1μm以下に絞ったレーザ光を
照射して情報の記録或いは再生を行なう。
ックの高密度化、離散的な部分書き込み・消去等の必要
性から、基板上に光学的に検知可能な案内トラックを同
心円状、或はスパイラル状に設けることが一般的であ
る。光ディスク装置は、光ディスクの案内トラック上に
形成した記録薄膜に直径1μm以下に絞ったレーザ光を
照射して情報の記録或いは再生を行なう。
【0005】また、データの長さが可変のデジタル情報
は、記録効率を上げるためにトラックを複数のセクタに
分割し、一定の情報単位、例えば512バイト或は1K
バイト、で扱うことが多い。各セクタはトラックアドレ
ス及びセクタアドレス情報を含むセクタID部とデータ
を記録再生する記録領域とから構成されている。アドレ
ス部はセクタの物理的な番地を表わすもので、ディスク
製造時にプリフォーマットされている。
は、記録効率を上げるためにトラックを複数のセクタに
分割し、一定の情報単位、例えば512バイト或は1K
バイト、で扱うことが多い。各セクタはトラックアドレ
ス及びセクタアドレス情報を含むセクタID部とデータ
を記録再生する記録領域とから構成されている。アドレ
ス部はセクタの物理的な番地を表わすもので、ディスク
製造時にプリフォーマットされている。
【0006】通常、記録領域に記録するデータの記録フ
ォーマットは、PLL(Phase Locked Loop)の同期引
き込みのための同期信号部VFO、記録データの前に付
加されデータの先頭を識別するための同期信号であるデ
ータ先頭識別マークDM(データマーク)、変調された
変調データ部、データのワード同期をとる再同期信号部
などにより構成されている。データを記録する時は、目
標セクタID部のアドレス情報を読み取り、アドレス検
出のタイミングでセクタに記録するデータ群を、目標セ
クタの記録領域に記録する。
ォーマットは、PLL(Phase Locked Loop)の同期引
き込みのための同期信号部VFO、記録データの前に付
加されデータの先頭を識別するための同期信号であるデ
ータ先頭識別マークDM(データマーク)、変調された
変調データ部、データのワード同期をとる再同期信号部
などにより構成されている。データを記録する時は、目
標セクタID部のアドレス情報を読み取り、アドレス検
出のタイミングでセクタに記録するデータ群を、目標セ
クタの記録領域に記録する。
【0007】また、記録方式はパルス間変調方式とパル
ス幅変調方式に大別できる。パルス間変調では、再生時
にマークの位置を検出して信号検出するのに対し、パル
ス幅変調では、マークの両端を検出して信号検出する。
パルス幅変調はパルス間変調と比べて記録密度を上げる
ことができる。
ス幅変調方式に大別できる。パルス間変調では、再生時
にマークの位置を検出して信号検出するのに対し、パル
ス幅変調では、マークの両端を検出して信号検出する。
パルス幅変調はパルス間変調と比べて記録密度を上げる
ことができる。
【0008】相変化型光ディスクに対する、従来の記録
再生方法を図14及び図15に基づいて以下に説明す
る。図14は従来の記録再生装置の構成の一例である。
図15は光ディスク(光学情報記録媒体)に対する記録
再生動作の説明図であり、記録データ、レーザ光の強度
変調、及び光ディスクへの記録状態を示している。
再生方法を図14及び図15に基づいて以下に説明す
る。図14は従来の記録再生装置の構成の一例である。
図15は光ディスク(光学情報記録媒体)に対する記録
再生動作の説明図であり、記録データ、レーザ光の強度
変調、及び光ディスクへの記録状態を示している。
【0009】図14に示すように、上位計算機と接続さ
れたシステム制御回路4から、記録すべき記録情報5が
2値化した信号として出力される。この記録情報5は、
エラー訂正情報を付加された後に、変復調回路7aにて
例えば(1,7)RLL変調方式の変調が施される。そ
して合成回路8において、各セクタに記録するデータ長
ごとに同期信号発生回路2からの同期信号(VFO)等
が付加されて記録データ11aとなる。この記録データ
11aに対応して、レーザパワー制御回路12が光ヘッ
ド3内のレーザを駆動制御し、レーザ光の強度を変調す
る。また、システム制御回路4はスピンドルモーター1
5を駆動して光ディスク1を回転させる。
れたシステム制御回路4から、記録すべき記録情報5が
2値化した信号として出力される。この記録情報5は、
エラー訂正情報を付加された後に、変復調回路7aにて
例えば(1,7)RLL変調方式の変調が施される。そ
して合成回路8において、各セクタに記録するデータ長
ごとに同期信号発生回路2からの同期信号(VFO)等
が付加されて記録データ11aとなる。この記録データ
11aに対応して、レーザパワー制御回路12が光ヘッ
ド3内のレーザを駆動制御し、レーザ光の強度を変調す
る。また、システム制御回路4はスピンドルモーター1
5を駆動して光ディスク1を回転させる。
【0010】光ヘッド3からの変調されたレーザ光(レ
ーザ光のパワーPp)が光ディスク1の記録薄膜に照射さ
れ、記録薄膜の温度が融点を越えて上昇すると、レーザ
光が照射された部分は溶融後、急速に冷却されて非晶質
(アモルファス)状態の記録マーク20になる(図15
参照)。また、記録薄膜の温度を結晶化温度以上、融点
以下まで上昇させる程度のレーザ光(レーザ光のパワー
Pb)を集束して照射すると、照射部の記録薄膜は結晶状
態になる。これらの結晶と非晶質の状態の相違を利用し
て、情報を記憶することになる。
ーザ光のパワーPp)が光ディスク1の記録薄膜に照射さ
れ、記録薄膜の温度が融点を越えて上昇すると、レーザ
光が照射された部分は溶融後、急速に冷却されて非晶質
(アモルファス)状態の記録マーク20になる(図15
参照)。また、記録薄膜の温度を結晶化温度以上、融点
以下まで上昇させる程度のレーザ光(レーザ光のパワー
Pb)を集束して照射すると、照射部の記録薄膜は結晶状
態になる。これらの結晶と非晶質の状態の相違を利用し
て、情報を記憶することになる。
【0011】次に、光ディスクからの再生は、記録薄膜
の光学的特性が非晶質状態と結晶状態とで異なることを
利用して行われる。弱いレーザ光(レーザ光のパワーP
r)を集束して光ディスクに照射し、その反射光の変化
を検出して記録データの再生RF信号14を得る。そし
て再生信号処理回路13において2値化等の信号処理を
行ない、復調、エラー訂正を施して所要の再生情報6を
得ることになる。
の光学的特性が非晶質状態と結晶状態とで異なることを
利用して行われる。弱いレーザ光(レーザ光のパワーP
r)を集束して光ディスクに照射し、その反射光の変化
を検出して記録データの再生RF信号14を得る。そし
て再生信号処理回路13において2値化等の信号処理を
行ない、復調、エラー訂正を施して所要の再生情報6を
得ることになる。
【0012】また、記録時においても、光ディスクのセ
クタ18の間にあるアドレス情報部分であるID部16
を走査するときには、レーザ光の強度を再生時と同様の
弱いパワーに落として光ディスクに照射しアドレス情報
を再生する。
クタ18の間にあるアドレス情報部分であるID部16
を走査するときには、レーザ光の強度を再生時と同様の
弱いパワーに落として光ディスクに照射しアドレス情報
を再生する。
【0013】しかし、相変化型光ディスクを用いる光デ
ィスク装置において光ディスクの同一セクタに情報を多
数繰り返し記録すると、相変化型光ディスクに固有の劣
化現象が生じ、記録した情報を正確に再生できなくなる
ことが知られている。この種の劣化現象は繰り返し回数
とともに劣化している範囲が広がっていくことが多い。
主な劣化パターンは次の3通りである。
ィスク装置において光ディスクの同一セクタに情報を多
数繰り返し記録すると、相変化型光ディスクに固有の劣
化現象が生じ、記録した情報を正確に再生できなくなる
ことが知られている。この種の劣化現象は繰り返し回数
とともに劣化している範囲が広がっていくことが多い。
主な劣化パターンは次の3通りである。
【0014】(1)一連の記録領域の始端部(記録開始
部)において、記録の繰り返しとともに、徐々に記録薄
膜に欠陥が発生し、その欠陥が始端部から後方(光ディ
スク上での相対的なレーザ進行方向)へ広がっていく。
部)において、記録の繰り返しとともに、徐々に記録薄
膜に欠陥が発生し、その欠陥が始端部から後方(光ディ
スク上での相対的なレーザ進行方向)へ広がっていく。
【0015】(2)一連の記録領域の終端部(記録終了
部)において、記録の繰り返しとともに、徐々に記録薄
膜に欠陥が発生し、その欠陥が終端部から前方(光ディ
スク上での相対的なレーザ進行方向の逆方向)へ広がっ
ていく。
部)において、記録の繰り返しとともに、徐々に記録薄
膜に欠陥が発生し、その欠陥が終端部から前方(光ディ
スク上での相対的なレーザ進行方向の逆方向)へ広がっ
ていく。
【0016】(3)セクタ内の同じ位置に同じパターン
のマーク列が繰り返し記録されると、記録の繰り返しと
ともに、同じパターンが記録された場所において記録薄
膜に欠陥が発生し、その欠陥が前方及び後方へ広がって
いく。一般に、光ディスクの記録データを書き換える時
は、セクタ単位で書き換えを行なう。従って、セクタの
一部の情報が変更される場合であっても、そのセクタ全
体が書き換えられることになる。ディスクの記録情報の
目次に相当する情報が記録されるTOC(Table of Con
tents)領域やディレクトリ領域では特に類似したデー
タが繰り返し記録されることが多く、しかも書き換え頻
度が高い。このような領域でパターン(3)の劣化が生
じる。
のマーク列が繰り返し記録されると、記録の繰り返しと
ともに、同じパターンが記録された場所において記録薄
膜に欠陥が発生し、その欠陥が前方及び後方へ広がって
いく。一般に、光ディスクの記録データを書き換える時
は、セクタ単位で書き換えを行なう。従って、セクタの
一部の情報が変更される場合であっても、そのセクタ全
体が書き換えられることになる。ディスクの記録情報の
目次に相当する情報が記録されるTOC(Table of Con
tents)領域やディレクトリ領域では特に類似したデー
タが繰り返し記録されることが多く、しかも書き換え頻
度が高い。このような領域でパターン(3)の劣化が生
じる。
【0017】これら3種類の劣化は、いずれも、繰り返
し記録に伴って記録薄膜を構成する材料が、レーザ進行
方向、或はその逆方向へと徐々に移動するためであるこ
とがわかっている。ただし、記録薄膜材料がレーザ照射
時に移動する駆動力が何であるかは、未だよくわかって
いない。この駆動力として考えられるのは、レーザ照射
時の記録層内の温度勾配に伴う表面張力、または、熱負
荷による光ディスク構成薄膜の変形等である。いずれに
しても、記録薄膜が劣化すると、未記録状態及び記録状
態で、所定の光反射率が得られなくなる。すなわち再生
波形の劣化が生じ、この部分の情報を光学的に再生でき
なくなる。これらの課題を解決して、情報の書き換え性
能を向上させる記録方法の提案も種々なされている。例
えば、前記劣化パターン(3)に対しては、光ディスク
上での同期信号の記録開始位置を書き換える毎に変化さ
せて劣化を低減させる光ディスク装置がある(特開昭6
3−229625号公報)。また、劣化パターン(2)
に対しては、データブロックを記録し終わった後に続け
て一定の長さのダミーデータを記録することによって記
録終端部から前方(記録開始点への方向)へ伝播する波
形劣化が情報再生に与える影響をなくす光ディスク装置
が提案されている(特開平2−297724号公報)。
し記録に伴って記録薄膜を構成する材料が、レーザ進行
方向、或はその逆方向へと徐々に移動するためであるこ
とがわかっている。ただし、記録薄膜材料がレーザ照射
時に移動する駆動力が何であるかは、未だよくわかって
いない。この駆動力として考えられるのは、レーザ照射
時の記録層内の温度勾配に伴う表面張力、または、熱負
荷による光ディスク構成薄膜の変形等である。いずれに
しても、記録薄膜が劣化すると、未記録状態及び記録状
態で、所定の光反射率が得られなくなる。すなわち再生
波形の劣化が生じ、この部分の情報を光学的に再生でき
なくなる。これらの課題を解決して、情報の書き換え性
能を向上させる記録方法の提案も種々なされている。例
えば、前記劣化パターン(3)に対しては、光ディスク
上での同期信号の記録開始位置を書き換える毎に変化さ
せて劣化を低減させる光ディスク装置がある(特開昭6
3−229625号公報)。また、劣化パターン(2)
に対しては、データブロックを記録し終わった後に続け
て一定の長さのダミーデータを記録することによって記
録終端部から前方(記録開始点への方向)へ伝播する波
形劣化が情報再生に与える影響をなくす光ディスク装置
が提案されている(特開平2−297724号公報)。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の記録方法では、相変化型光ディスクの繰り
返し記録に伴う再生波形劣化を抑制して繰り返し記録特
性を向上させるために、同期信号の記録開始位置を書き
換える毎に変化させたり、データブロックを記録し終わ
った後に続けて一定の長さのダミーデータを付加するの
で、データブロックの記録領域以外にダミーデータの領
域等が必要である。従って、これらの記録特性を向上さ
せるための方法を採用しない場合に比べて、記録容量が
実質的に減少する。
ような従来の記録方法では、相変化型光ディスクの繰り
返し記録に伴う再生波形劣化を抑制して繰り返し記録特
性を向上させるために、同期信号の記録開始位置を書き
換える毎に変化させたり、データブロックを記録し終わ
った後に続けて一定の長さのダミーデータを付加するの
で、データブロックの記録領域以外にダミーデータの領
域等が必要である。従って、これらの記録特性を向上さ
せるための方法を採用しない場合に比べて、記録容量が
実質的に減少する。
【0019】本発明は、上記のような実情に鑑みて為さ
れたものであって、その目的は、書き換え可能な相変化
型光ディスクにおいて、繰り返し記録に起因する劣化を
効率よく抑制し、書き換え可能回数を向上させることが
できる記録方法及び光ディスク装置を提供することにあ
る。
れたものであって、その目的は、書き換え可能な相変化
型光ディスクにおいて、繰り返し記録に起因する劣化を
効率よく抑制し、書き換え可能回数を向上させることが
できる記録方法及び光ディスク装置を提供することにあ
る。
【0020】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る光学情報記録媒体の記録方法は、光学
情報記録媒体の各セクタに記録する記録データが、同期
信号と、前記同期信号の後に付加されたデータ先頭識別
マークと、前記データ先頭識別マークの後に付加された
本来の記録データとを含み、記録の毎に前記同期信号領
域の長さを変化させて記録することを特徴とする。
に、本発明に係る光学情報記録媒体の記録方法は、光学
情報記録媒体の各セクタに記録する記録データが、同期
信号と、前記同期信号の後に付加されたデータ先頭識別
マークと、前記データ先頭識別マークの後に付加された
本来の記録データとを含み、記録の毎に前記同期信号領
域の長さを変化させて記録することを特徴とする。
【0021】これによって、記録容量の減少を最小にと
どめたままで、同期信号の始端で生じる記録薄膜の劣化
領域が記録データ領域にまで及ぶことを回避できる。
どめたままで、同期信号の始端で生じる記録薄膜の劣化
領域が記録データ領域にまで及ぶことを回避できる。
【0022】本発明の光学情報記録媒体の記録装置は、
光学情報記録媒体の各セクタに、同期信号、データ先頭
識別マーク、および本来の記録データをこの順に記録す
る手段と、前記同期信号領域の長さを記録する毎に変化
させる変化手段とを備える。
光学情報記録媒体の各セクタに、同期信号、データ先頭
識別マーク、および本来の記録データをこの順に記録す
る手段と、前記同期信号領域の長さを記録する毎に変化
させる変化手段とを備える。
【0023】また、前記変化手段は、入力パルスをトリ
ガとして同期信号の記録を開始及び終了させる同期信号
発生回路と、前記同期信号発生回路への入力パルスにラ
ンダムな時間遅れを与えるランダム選択回路とを含む構
成とすることができる。
ガとして同期信号の記録を開始及び終了させる同期信号
発生回路と、前記同期信号発生回路への入力パルスにラ
ンダムな時間遅れを与えるランダム選択回路とを含む構
成とすることができる。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施形態
を図面に基づいて説明する。
を図面に基づいて説明する。
【0025】図1に、本発明の第1の実施形態に係る記
録再生装置の構成をブロック図で示す。又、この記録再
生装置が、あるセクタの記録情報を書き換えるために行
う動作を図2のフローチャートに示す。まず、ステップ
201において、書き換えるセクタのID情報(アドレ
ス情報)を検出した後、上位計算機と接続されたシステ
ム制御回路4が記録情報5を2値化信号として出力する
(ステップ202)。この記録情報5は、変調回路7a
にてエラー訂正情報を付加され(203)、変調される
(204)。そして、合成回路8において、各セクタに
記録するデータ長ごとに、同期信号発生回路2からの同
期信号(VFO)等が付加されて記録データ11aとな
る(205)。以上の動作は従来の構成による動作と同
様であるが、次に説明する動作が従来と異なっている。
録再生装置の構成をブロック図で示す。又、この記録再
生装置が、あるセクタの記録情報を書き換えるために行
う動作を図2のフローチャートに示す。まず、ステップ
201において、書き換えるセクタのID情報(アドレ
ス情報)を検出した後、上位計算機と接続されたシステ
ム制御回路4が記録情報5を2値化信号として出力する
(ステップ202)。この記録情報5は、変調回路7a
にてエラー訂正情報を付加され(203)、変調される
(204)。そして、合成回路8において、各セクタに
記録するデータ長ごとに、同期信号発生回路2からの同
期信号(VFO)等が付加されて記録データ11aとな
る(205)。以上の動作は従来の構成による動作と同
様であるが、次に説明する動作が従来と異なっている。
【0026】上記の記録データ11aは、図1に示すよ
うに、二つに分岐して一方はそのまま選択回路9の一方
の入力となるが、他方は反転回路10を経て反転記録デ
ータ11bとされ(図2のステップ207)、これが選
択回路9の他方の入力となる。選択回路9は、書き換え
る必要のあるセクタのアドレス情報検出をトリガとする
セレクタで構成されており、上記2つの入力のいずれか
をランダムに選択し、該当セクタへの記録が終了するま
でその選択位置を保持する。すなわち、この選択回路9
によって該当セクタに記録する記録データの符号を反転
するか否かが決定される(図2のステップ206)。
うに、二つに分岐して一方はそのまま選択回路9の一方
の入力となるが、他方は反転回路10を経て反転記録デ
ータ11bとされ(図2のステップ207)、これが選
択回路9の他方の入力となる。選択回路9は、書き換え
る必要のあるセクタのアドレス情報検出をトリガとする
セレクタで構成されており、上記2つの入力のいずれか
をランダムに選択し、該当セクタへの記録が終了するま
でその選択位置を保持する。すなわち、この選択回路9
によって該当セクタに記録する記録データの符号を反転
するか否かが決定される(図2のステップ206)。
【0027】光ディスクの各セクタをランダムにアクセ
スするような用途で使用する記録再生装置では、選択回
路9が上記2つの入力のいずれかを書き換え動作ごとに
交互に選択するようにしておけば、実質的にランダムに
選択したのと同じことになる。したがって、必ずしもラ
ンダム選択のための乱数発生回路等を選択回路9が備え
る必要はない。選択回路9からの出力、すなわち、記録
データ11aまたは反転記録データ11bは、レーザパ
ワー制御回路12に入力され、このデータに従ってレー
ザパワー制御回路12が光ヘッド3内のレーザを駆動し
レーザ光の強度変調を行なう(ステップ208)。これ
によって光ディスク1の該当セクタにデータが記録され
る(209)。
スするような用途で使用する記録再生装置では、選択回
路9が上記2つの入力のいずれかを書き換え動作ごとに
交互に選択するようにしておけば、実質的にランダムに
選択したのと同じことになる。したがって、必ずしもラ
ンダム選択のための乱数発生回路等を選択回路9が備え
る必要はない。選択回路9からの出力、すなわち、記録
データ11aまたは反転記録データ11bは、レーザパ
ワー制御回路12に入力され、このデータに従ってレー
ザパワー制御回路12が光ヘッド3内のレーザを駆動し
レーザ光の強度変調を行なう(ステップ208)。これ
によって光ディスク1の該当セクタにデータが記録され
る(209)。
【0028】図3に、本記録再生装置による記録デー
タ、レーザ光の強度変調、光ディスクへの記録状態の一
例を示す。同一の情報を記録する場合、反転の有無にか
かわらず合成回路8の出力までは同じ波形である。しか
し、選択回路9によって反転記録データ11bが選択さ
れたときのレーザ光の強度(レーザパワー)は、記録デ
ータ11aが選択されたときのレーザパワーに対して、
PpとPbとの関係が逆になっている。その結果、同一の情
報を記録したにもかかわらず、光ディスクのセクタ18
上では、ちょうど逆の位置関係で非晶質状態の記録マー
ク20が形成される。
タ、レーザ光の強度変調、光ディスクへの記録状態の一
例を示す。同一の情報を記録する場合、反転の有無にか
かわらず合成回路8の出力までは同じ波形である。しか
し、選択回路9によって反転記録データ11bが選択さ
れたときのレーザ光の強度(レーザパワー)は、記録デ
ータ11aが選択されたときのレーザパワーに対して、
PpとPbとの関係が逆になっている。その結果、同一の情
報を記録したにもかかわらず、光ディスクのセクタ18
上では、ちょうど逆の位置関係で非晶質状態の記録マー
ク20が形成される。
【0029】したがって、同一のセクタに同一情報を多
数回繰り返し記録しても、記録マークが形成される確率
はセクタ内の記録領域のいずれの位置においてもほぼ均
一になる。このようにして、多数回の書き換えによって
記録領域内で生じ得る局部的なダメージは解消されるこ
とになる。
数回繰り返し記録しても、記録マークが形成される確率
はセクタ内の記録領域のいずれの位置においてもほぼ均
一になる。このようにして、多数回の書き換えによって
記録領域内で生じ得る局部的なダメージは解消されるこ
とになる。
【0030】以下に、具体的な実施例について説明す
る。
る。
【0031】光ディスク1のディスク基板として、直径
130mmのポリカーボネート樹脂を用いた。この樹脂
基板に、アドレス情報として凸凹形状の位相ピットをプ
リフォーマットし、セクタ領域には記録用ガイド溝を形
成した。基板上に保護膜、光感応性記録薄膜、及び反射
膜をスパッリング法により成膜し、その上に保護基板を
接着した。
130mmのポリカーボネート樹脂を用いた。この樹脂
基板に、アドレス情報として凸凹形状の位相ピットをプ
リフォーマットし、セクタ領域には記録用ガイド溝を形
成した。基板上に保護膜、光感応性記録薄膜、及び反射
膜をスパッリング法により成膜し、その上に保護基板を
接着した。
【0032】本実施例では、保護膜としてZnS-SiO
2、光感応性記録薄膜としてTe-Sb-Ge、反射膜とし
てAlを用いた。そして、スピンドルモーター15(図
1参照)によりこのディスクを線速度5m/sで回転さ
せ、波長680nmのレーザ光を開口数(NA)0.6
の対物レンズで集束させてを記録を行なった。
2、光感応性記録薄膜としてTe-Sb-Ge、反射膜とし
てAlを用いた。そして、スピンドルモーター15(図
1参照)によりこのディスクを線速度5m/sで回転さ
せ、波長680nmのレーザ光を開口数(NA)0.6
の対物レンズで集束させてを記録を行なった。
【0033】記録再生時のレーザ光のパワーは、Pp=1
1mW、Pb=4mW、Pr=1mWとした。記録情報の変調
方式は、1−7RLLのPWM(パルス幅変調)を用い
た。また、最短マーク長および最短マーク間隔はそれぞ
れ0.6μmとした。
1mW、Pb=4mW、Pr=1mWとした。記録情報の変調
方式は、1−7RLLのPWM(パルス幅変調)を用い
た。また、最短マーク長および最短マーク間隔はそれぞ
れ0.6μmとした。
【0034】上記の条件を用いて、類似した記録情報の
最も極端な例として、同一の記録情報を同じセクタに繰
り返して上書き記録し、再生信号のジッタ値を測定し
た。繰り返し回数は1回、10回、100回、1000
回、1万回の5通りで行なった。1セクタに記録した情
報は2970バイトである。
最も極端な例として、同一の記録情報を同じセクタに繰
り返して上書き記録し、再生信号のジッタ値を測定し
た。繰り返し回数は1回、10回、100回、1000
回、1万回の5通りで行なった。1セクタに記録した情
報は2970バイトである。
【0035】表1に、本実施例(第1の実施例)及び後
述する他の実施例のジッタ値σ/Twの測定結果を従来
例の記録方式によるジッタ値σ/Twと比較して示す。
ここで、σは再生信号のゼロクロス点のジッタ値の標準
偏差、Twは検出系のウィンドウ幅である。
述する他の実施例のジッタ値σ/Twの測定結果を従来
例の記録方式によるジッタ値σ/Twと比較して示す。
ここで、σは再生信号のゼロクロス点のジッタ値の標準
偏差、Twは検出系のウィンドウ幅である。
【0036】
【表1】
【0037】表1からわかるように、従来例では書き換
え回数の増加に伴ってジッタ値が著しく増加している
が、本実施例ではジッタ値の増加はわずかである。つま
り、本実施例では繰り返し記録による再生信号品質の劣
化が抑制されていることがわかる。
え回数の増加に伴ってジッタ値が著しく増加している
が、本実施例ではジッタ値の増加はわずかである。つま
り、本実施例では繰り返し記録による再生信号品質の劣
化が抑制されていることがわかる。
【0038】なお、特開平2−94113号公報に開示
されているようなセクタにおける記録開始点をランダム
に変化させる方法と本発明の上記実施形態による方法と
を併用すれば、多数回の溶融/固化を繰り返す部分と全
く溶融しない部分との境界が形成される確率が記録領域
のいずれの位置においてもほぼ均一になるので、記録薄
膜の劣化がさらに抑制される。具体的な回路構成として
は、図1中の合成回路8の出力路に遅延量を段階的に変
更し得る遅延回路を設け、セクタの書き換えごとに遅延
量をランダムに変更すればよい。このようにして繰り返
し記録を行ったときのジッタ値σ/Twの測定結果が表
1に示した「他の実施例」の欄である。遅延量は8段階
に変更し、その間隔はディスク上で最短マーク長に相当
する間隔とした。表1から、ジッタ値の増加が上記第1
の実施例と比べてさらに抑制されていることがわかる。
されているようなセクタにおける記録開始点をランダム
に変化させる方法と本発明の上記実施形態による方法と
を併用すれば、多数回の溶融/固化を繰り返す部分と全
く溶融しない部分との境界が形成される確率が記録領域
のいずれの位置においてもほぼ均一になるので、記録薄
膜の劣化がさらに抑制される。具体的な回路構成として
は、図1中の合成回路8の出力路に遅延量を段階的に変
更し得る遅延回路を設け、セクタの書き換えごとに遅延
量をランダムに変更すればよい。このようにして繰り返
し記録を行ったときのジッタ値σ/Twの測定結果が表
1に示した「他の実施例」の欄である。遅延量は8段階
に変更し、その間隔はディスク上で最短マーク長に相当
する間隔とした。表1から、ジッタ値の増加が上記第1
の実施例と比べてさらに抑制されていることがわかる。
【0039】また、本実施形態では変調方式として、記
録マークのエッジ間隔に信号を対応させるパルス幅変調
を用いており、記録データの符号を反転させても記録マ
ークのエッジ間隔は変化しない。そのため符号の反転し
た記録データの復調も、符号の反転していない記録デー
タと同じ方法で可能であり、復調回路の構成が容易であ
る。記録マークの中心間隔に信号を対応させるパルス間
変調方式等においても、パルス幅変調方式と同様に本発
明を適用することにより、記録薄膜の劣化を抑制するこ
とができる。
録マークのエッジ間隔に信号を対応させるパルス幅変調
を用いており、記録データの符号を反転させても記録マ
ークのエッジ間隔は変化しない。そのため符号の反転し
た記録データの復調も、符号の反転していない記録デー
タと同じ方法で可能であり、復調回路の構成が容易であ
る。記録マークの中心間隔に信号を対応させるパルス間
変調方式等においても、パルス幅変調方式と同様に本発
明を適用することにより、記録薄膜の劣化を抑制するこ
とができる。
【0040】次に、本発明の別の実施形態について説明
する。
する。
【0041】図4に、第2の実施形態に係る記録再生装
置の構成をブロック図で示す。また、この装置が、ある
セクタの記録情報を書き換えるために行う動作を図5の
フローチャートに示す。まず、ステップ501におい
て、書き換えるセクタのID情報(アドレス情報)16
を検出した後、上位計算機と接続されたシステム制御回
路4が記録すべき記録情報5を2値化信号として出力す
る(ステップ502)。この記録情報5は、変調回路7
aによりエラー訂正情報を付加され(503)、変調さ
れる(504)。そして合成回路8において、各セクタ
に記録するデータ長ごとに同期信号発生回路2からの同
期信号(VFO)等が付加されて記録データ11aとな
る(ステップ505)。
置の構成をブロック図で示す。また、この装置が、ある
セクタの記録情報を書き換えるために行う動作を図5の
フローチャートに示す。まず、ステップ501におい
て、書き換えるセクタのID情報(アドレス情報)16
を検出した後、上位計算機と接続されたシステム制御回
路4が記録すべき記録情報5を2値化信号として出力す
る(ステップ502)。この記録情報5は、変調回路7
aによりエラー訂正情報を付加され(503)、変調さ
れる(504)。そして合成回路8において、各セクタ
に記録するデータ長ごとに同期信号発生回路2からの同
期信号(VFO)等が付加されて記録データ11aとな
る(ステップ505)。
【0042】次に、ダミーデータ発生回路21にて、記
録データ11aの前に付加するダミーデータ26が生成
され、第2の合成回路22にて記録データ11aとダミ
ーデータ26とが合成される(506)。これがレーザ
パワー制御回路12に入力されてレーザ光の強度が変調
され(507)、光ディスク1に照射されることにより
データが記録される(508)。なお、ここでいうダミ
ーデータ26は、同期信号等を含む本来の記録データに
付加されるデータである。図6にダミーデータ発生回路
21の構成の一例を示す。また、この回路の各部の信号
波形を図7に示す。
録データ11aの前に付加するダミーデータ26が生成
され、第2の合成回路22にて記録データ11aとダミ
ーデータ26とが合成される(506)。これがレーザ
パワー制御回路12に入力されてレーザ光の強度が変調
され(507)、光ディスク1に照射されることにより
データが記録される(508)。なお、ここでいうダミ
ーデータ26は、同期信号等を含む本来の記録データに
付加されるデータである。図6にダミーデータ発生回路
21の構成の一例を示す。また、この回路の各部の信号
波形を図7に示す。
【0043】システム制御回路4からダミーデータ発生
用の信号27がダミーデータ発生回路21に与えられ
る。ダミーデータ発生用信号27は、記録時の最短パル
ス幅に対応したクロック24とアドレス情報検出信号3
0とからなる。クロック24は分周回路28、分周比設
定回路33、および信号反転検出回路29に入力され、
アドレス情報検出信号30は遅延回路32に入力され
る。この遅延回路32の遅延時間として、記録データの
前にダミーデータを付加するために必要な所定の時間が
設定される。遅延回路32から分周回路28と分周比設
定回路33とに信号31が入力されるとクロック24の
分周がスタートする。
用の信号27がダミーデータ発生回路21に与えられ
る。ダミーデータ発生用信号27は、記録時の最短パル
ス幅に対応したクロック24とアドレス情報検出信号3
0とからなる。クロック24は分周回路28、分周比設
定回路33、および信号反転検出回路29に入力され、
アドレス情報検出信号30は遅延回路32に入力され
る。この遅延回路32の遅延時間として、記録データの
前にダミーデータを付加するために必要な所定の時間が
設定される。遅延回路32から分周回路28と分周比設
定回路33とに信号31が入力されるとクロック24の
分周がスタートする。
【0044】分周比設定回路33は、分周回路28の分
周比を漸減させるような分周比設定信号を分周回路28
に与える。これにより、分周回路28は、図7に示すよ
うに周期が漸減するパルス信号25を出力する。この信
号25が入力される信号反転検出回路29は、信号25
の反転時に所定クロック数分のパルス幅を有するパルス
信号を発生させる。このパルス信号がダミーデータ26
となる。
周比を漸減させるような分周比設定信号を分周回路28
に与える。これにより、分周回路28は、図7に示すよ
うに周期が漸減するパルス信号25を出力する。この信
号25が入力される信号反転検出回路29は、信号25
の反転時に所定クロック数分のパルス幅を有するパルス
信号を発生させる。このパルス信号がダミーデータ26
となる。
【0045】図8に、本記録再生装置による記録デー
タ、レーザ光の強度変調、光ディスクへの記録状態の一
例を示す。図8からわかるように、このダミーデータの
記録マークを形成するパルス間隔とパルス幅(レーザ光
のパワーがPpの期間)との比、したがって、光ディスク
に形成される記録マーク間隔Swと記録マーク長Mwとの
比はダミーデータの始端に近いほど大きくなっている。
タ、レーザ光の強度変調、光ディスクへの記録状態の一
例を示す。図8からわかるように、このダミーデータの
記録マークを形成するパルス間隔とパルス幅(レーザ光
のパワーがPpの期間)との比、したがって、光ディスク
に形成される記録マーク間隔Swと記録マーク長Mwとの
比はダミーデータの始端に近いほど大きくなっている。
【0046】上記のような記録方法によれば、記録薄膜
への熱的負担はダミーデータの始端に近づくに従って漸
減し、記録薄膜の物質移動量もダミーデータの始端に近
づくに従って漸減する。その結果、記録薄膜における記
録開始点へのダメージの集中を防止でき、多数回の書き
換えによる記録データの始端における記録薄膜の劣化を
防ぐことができる。
への熱的負担はダミーデータの始端に近づくに従って漸
減し、記録薄膜の物質移動量もダミーデータの始端に近
づくに従って漸減する。その結果、記録薄膜における記
録開始点へのダメージの集中を防止でき、多数回の書き
換えによる記録データの始端における記録薄膜の劣化を
防ぐことができる。
【0047】以下に、具体的な実施例について説明す
る。
る。
【0048】使用した光ディスク、変調方式、記録再生
パワーは第1の実施例と同様のものである。記録情報に
はランダム信号を使用し、記録データの前に図8に示し
たようなダミーデータを付加して、3万回、5万回、7
万回、10万回の4通りで繰り返し記録を行なった。そ
してダミーデータを含む記録データの始端部分で再生信
号波形が歪んだ領域を再生信号劣化領域とし、始端から
の劣化領域の長さを測定した。なお、ダミーデータの長
さはディスク上で50μmである。図8に示したよう
に、ダミーデータの記録マーク間隔Swと記録マーク長
Mwとの比をダミーデータの始端に近いほど大きくし
た。
パワーは第1の実施例と同様のものである。記録情報に
はランダム信号を使用し、記録データの前に図8に示し
たようなダミーデータを付加して、3万回、5万回、7
万回、10万回の4通りで繰り返し記録を行なった。そ
してダミーデータを含む記録データの始端部分で再生信
号波形が歪んだ領域を再生信号劣化領域とし、始端から
の劣化領域の長さを測定した。なお、ダミーデータの長
さはディスク上で50μmである。図8に示したよう
に、ダミーデータの記録マーク間隔Swと記録マーク長
Mwとの比をダミーデータの始端に近いほど大きくし
た。
【0049】表2に、本実施例(第2の実施例)及び後
述する他の実施例における再生信号劣化領域の長さの測
定結果を従来例の記録方式による再生信号劣化領域の長
さと比較して示す。
述する他の実施例における再生信号劣化領域の長さの測
定結果を従来例の記録方式による再生信号劣化領域の長
さと比較して示す。
【0050】
【表2】
【0051】表2からわかるように、本実施例における
始端部分の再生信号劣化領域の長さは、従来例と比較し
て短くなっている。つまり、本実施例では繰り返し記録
による記録薄膜の劣化が抑制されていることがわかる。
始端部分の再生信号劣化領域の長さは、従来例と比較し
て短くなっている。つまり、本実施例では繰り返し記録
による記録薄膜の劣化が抑制されていることがわかる。
【0052】なお、本実施例では記録薄膜の繰り返し劣
化がセクタの前方で顕著に生じる場合を想定してダミー
データを記録データの前に付加したが、光学情報記録媒
体の膜構造によっては、記録薄膜の繰り返し劣化がセク
タの後方で顕著に生じる場合もある。この場合は図9に
示すように、記録データの後にダミーデータを付加し、
ダミーデータの終端に近いほど記録マーク間隔と記録マ
ーク長との比を大きくすれば、記録データの終端におけ
る記録薄膜の劣化を防ぐ効果が得られる。
化がセクタの前方で顕著に生じる場合を想定してダミー
データを記録データの前に付加したが、光学情報記録媒
体の膜構造によっては、記録薄膜の繰り返し劣化がセク
タの後方で顕著に生じる場合もある。この場合は図9に
示すように、記録データの後にダミーデータを付加し、
ダミーデータの終端に近いほど記録マーク間隔と記録マ
ーク長との比を大きくすれば、記録データの終端におけ
る記録薄膜の劣化を防ぐ効果が得られる。
【0053】また本実施例のダミーデータは、記録マー
ク長Mwを一定にして記録マーク間隔Swを変化させてい
るが、記録マーク間隔を一定にして記録マーク長を変化
させてもよい。記録開始・終了点における記録薄膜への
熱的負担の急変を緩和するものであれば、ランダム信号
パターンやDC信号パターンのような他のパターンを用
いてもよい。
ク長Mwを一定にして記録マーク間隔Swを変化させてい
るが、記録マーク間隔を一定にして記録マーク長を変化
させてもよい。記録開始・終了点における記録薄膜への
熱的負担の急変を緩和するものであれば、ランダム信号
パターンやDC信号パターンのような他のパターンを用
いてもよい。
【0054】図4に示した第2の実施形態に係る記録再
生装置の構成において、ダミーデータ発生回路21およ
び第2の合成回路22の代わりに、図10に示すよう
に、レーザ光の強度を段階的に増加または減少させるパ
ターン発生回路34と第2のレーザパワー制御回路3
5、そしてレーザパワー制御回路を第1と第2とで切り
換えるためのセレクタ36を設けてもよい。そして、図
11又は図12に示すように、記録データの前又は後の
ダミー領域において、レーザ光の強度を漸増または漸減
させ、セレクタ36を切り換えることによって、ダミー
領域と記録データ領域とが連結したレーザ光強度変調波
形36aを得る。これを記録用の光ビームとして光ディ
スクに照射すれば上記実施例と同様の効果が得られる。
生装置の構成において、ダミーデータ発生回路21およ
び第2の合成回路22の代わりに、図10に示すよう
に、レーザ光の強度を段階的に増加または減少させるパ
ターン発生回路34と第2のレーザパワー制御回路3
5、そしてレーザパワー制御回路を第1と第2とで切り
換えるためのセレクタ36を設けてもよい。そして、図
11又は図12に示すように、記録データの前又は後の
ダミー領域において、レーザ光の強度を漸増または漸減
させ、セレクタ36を切り換えることによって、ダミー
領域と記録データ領域とが連結したレーザ光強度変調波
形36aを得る。これを記録用の光ビームとして光ディ
スクに照射すれば上記実施例と同様の効果が得られる。
【0055】また、前述のセクタにおける記録開始点を
ランダムに変化させる方法と、本実施形態で示した方法
とを併用すれば、ダミーデータ始端での熱的負担の減少
がより滑らかになり、表2の「他の実施例」の欄に示す
ように、記録データ始端での記録薄膜の劣化防止が一層
効果的になる。
ランダムに変化させる方法と、本実施形態で示した方法
とを併用すれば、ダミーデータ始端での熱的負担の減少
がより滑らかになり、表2の「他の実施例」の欄に示す
ように、記録データ始端での記録薄膜の劣化防止が一層
効果的になる。
【0056】また、必要に応じてダミーデータの長さを
書き換えごとにランダムに変更してもよく、これにより
記録開始点をランダムに変化させる方法と同様の効果を
得ることができる。
書き換えごとにランダムに変更してもよく、これにより
記録開始点をランダムに変化させる方法と同様の効果を
得ることができる。
【0057】また、本実施例では、記録データの前に付
加したダミーデータの終端の記録マーク長及び記録マー
ク間隔を同期信号部の記録マーク長及び記録マーク間隔
に等しくした。これはダミーデータと同期信号部との境
界で熱的負担が急変するのを防止し、同期信号部の始端
から記録薄膜の劣化が生ずることを抑制するためであ
る。
加したダミーデータの終端の記録マーク長及び記録マー
ク間隔を同期信号部の記録マーク長及び記録マーク間隔
に等しくした。これはダミーデータと同期信号部との境
界で熱的負担が急変するのを防止し、同期信号部の始端
から記録薄膜の劣化が生ずることを抑制するためであ
る。
【0058】さらに、本実施形態のように記録データの
前にダミーデータを付加する方法と、第1の実施形態の
ように記録データの符号をランダムに反転する方法とを
併用して、図13に示す構成の装置を用いれば、記録デ
ータの始端・終端での記録薄膜の劣化と記録データ中の
局所的な記録薄膜の劣化の両方が抑制されるので、繰り
返し寿命を高めるのに一層効果的である。
前にダミーデータを付加する方法と、第1の実施形態の
ように記録データの符号をランダムに反転する方法とを
併用して、図13に示す構成の装置を用いれば、記録デ
ータの始端・終端での記録薄膜の劣化と記録データ中の
局所的な記録薄膜の劣化の両方が抑制されるので、繰り
返し寿命を高めるのに一層効果的である。
【0059】次に本発明の第3の実施形態について説明
する。
する。
【0060】図16に、第3の実施形態に係る光学情報
記録再生装置の構成をブロック図で示す。また、図17
に、本発明に係る光ディスクのセクタ記録フォーマット
の構造を示す。図17において、41はセクタのアドレ
ス情報が記録されているID、42はPLLの同期引き
込みのための同期信号(VFO)、43は記録したデー
タの先頭を識別するためのデータ先頭識別マークDM、
44は本来のデータを誤り検出符号化したデータブロッ
ク、45はデータブロック44に引き続いて記録される
ダミーブロックDMYである。データの記録・再生・消
去が行なわれるデータの記録領域46とID41の間に
は光ディスクの回転変動等に対処するためのGAP4
7、48が設けられている。繰り返し記録に対する要求
が低い場合については、DMY45を省略することがで
きる。なお、第1および第2の実施形態では、データ先
頭識別マークDMを、本来の記録データに含めている。
記録再生装置の構成をブロック図で示す。また、図17
に、本発明に係る光ディスクのセクタ記録フォーマット
の構造を示す。図17において、41はセクタのアドレ
ス情報が記録されているID、42はPLLの同期引き
込みのための同期信号(VFO)、43は記録したデー
タの先頭を識別するためのデータ先頭識別マークDM、
44は本来のデータを誤り検出符号化したデータブロッ
ク、45はデータブロック44に引き続いて記録される
ダミーブロックDMYである。データの記録・再生・消
去が行なわれるデータの記録領域46とID41の間に
は光ディスクの回転変動等に対処するためのGAP4
7、48が設けられている。繰り返し記録に対する要求
が低い場合については、DMY45を省略することがで
きる。なお、第1および第2の実施形態では、データ先
頭識別マークDMを、本来の記録データに含めている。
【0061】図16において、2001は光ディスク、
2002は光ディスク2001の案内トラックに追従し
て記録面に半導体レーザの出力光を照射し、データの記
録・再生・消去を行なう光ピックアップ、2003は光
ディスク上の所望の位置にレーザ光が集光するように光
ピックアップの位置を制御するサーボ制御回路、200
4は符号化データを記録に適した形にデジタル変調する
データ変調回路、2005はPLLの同期引き込みのた
めの同期信号(VFO)を発生する同期信号発生回路、
2006はデータ先頭識別信号DMを発生させるDM発
生回路、2007はダミーデータを発生させるダミーデ
ータ発生回路、2008はデータを誤り検出訂正符号化
する符号化回路、2009は記録のタイミングを制御す
る記録タイミング制御回路、2010はセクタのID2
1から目的アドレスを検出するアドレス検出回路、20
11はマイクロプロセッサー等で構成され全体を制御す
るシステム制御回路である。
2002は光ディスク2001の案内トラックに追従し
て記録面に半導体レーザの出力光を照射し、データの記
録・再生・消去を行なう光ピックアップ、2003は光
ディスク上の所望の位置にレーザ光が集光するように光
ピックアップの位置を制御するサーボ制御回路、200
4は符号化データを記録に適した形にデジタル変調する
データ変調回路、2005はPLLの同期引き込みのた
めの同期信号(VFO)を発生する同期信号発生回路、
2006はデータ先頭識別信号DMを発生させるDM発
生回路、2007はダミーデータを発生させるダミーデ
ータ発生回路、2008はデータを誤り検出訂正符号化
する符号化回路、2009は記録のタイミングを制御す
る記録タイミング制御回路、2010はセクタのID2
1から目的アドレスを検出するアドレス検出回路、20
11はマイクロプロセッサー等で構成され全体を制御す
るシステム制御回路である。
【0062】以上のように構成された光ディスク装置の
動作を説明する。データの記録時、システム制御回路2
011は記録すべき目的セクタのアドレスをサーボ制御
回路2003に与える。サーボ制御回路2003はアド
レス検出回路からのアドレスと目的アドレスとを比較し
て光ピックアップ2002のサーボ制御を行なう。シス
テム制御回路2011は符号化回路2008に符号化命
令2013を出し、記録タイミング制御回路2009に
記録命令を出す。
動作を説明する。データの記録時、システム制御回路2
011は記録すべき目的セクタのアドレスをサーボ制御
回路2003に与える。サーボ制御回路2003はアド
レス検出回路からのアドレスと目的アドレスとを比較し
て光ピックアップ2002のサーボ制御を行なう。シス
テム制御回路2011は符号化回路2008に符号化命
令2013を出し、記録タイミング制御回路2009に
記録命令を出す。
【0063】符号化回路2008は符号化命令2013
に従ってデータ2012を誤り検出訂正符号化し、符号
化したデータ2014をデータ変調回路2004に渡
す。データ変調回路2004は符号化データ2014を
デジタル変調する。
に従ってデータ2012を誤り検出訂正符号化し、符号
化したデータ2014をデータ変調回路2004に渡
す。データ変調回路2004は符号化データ2014を
デジタル変調する。
【0064】記録タイミング制御回路2009はシステ
ム制御回路2011からの記録命令によって起動され、
アドレス検出回路2010が目的セクタを検出するのを
まって同期信号発生回路2005、DM発生回路200
6、データ変調回路2004、ダミーデータ発生回路2
007に順次起動命令を与え、これによってセクタの記
録領域46にデータが記録される。この際、同期信号発
生回路2005は同期信号を発生し、DM発生回路20
06はデータ先頭識別信号DMを発生する。ダミーデー
タ発生回路2007は所定のダミーデータを発生する。
繰り返し記録に対する要求が低い場合については、ダミ
ーデータ発生回路2007を省略することができる。
ム制御回路2011からの記録命令によって起動され、
アドレス検出回路2010が目的セクタを検出するのを
まって同期信号発生回路2005、DM発生回路200
6、データ変調回路2004、ダミーデータ発生回路2
007に順次起動命令を与え、これによってセクタの記
録領域46にデータが記録される。この際、同期信号発
生回路2005は同期信号を発生し、DM発生回路20
06はデータ先頭識別信号DMを発生する。ダミーデー
タ発生回路2007は所定のダミーデータを発生する。
繰り返し記録に対する要求が低い場合については、ダミ
ーデータ発生回路2007を省略することができる。
【0065】次に、記録タイミング制御回路2009の
うち、同期信号発生回路2005に起動命令を与える部
分の構成例を図18に示し、タイミングチャートを示す
図19を参照しながら本装置の動作を説明する。
うち、同期信号発生回路2005に起動命令を与える部
分の構成例を図18に示し、タイミングチャートを示す
図19を参照しながら本装置の動作を説明する。
【0066】アドレス検出回路2010が再生したアド
レス信号からセクタ区間を示すセクタパルス2201が
取り出され、これは遅延回路2202に送られ所定の遅
延時間d1を与えられてスタートパルス2203にな
る。スタートパルス2203は同期信号発生回路200
5に送られ、ここで同期信号が発生する。この際、同一
セクタに情報を記録する場合は、同じ遅延時間が与えら
れる。すなわち、光ディスク上の同じ場所から同期信号
の記録が始まる。一方、セクタパルス2201はもう1
つの遅延回路2204にも送られ、所定の遅延時間d2
を与えられてスタートパルス2205になる。d2はd
1より大きな値である。
レス信号からセクタ区間を示すセクタパルス2201が
取り出され、これは遅延回路2202に送られ所定の遅
延時間d1を与えられてスタートパルス2203にな
る。スタートパルス2203は同期信号発生回路200
5に送られ、ここで同期信号が発生する。この際、同一
セクタに情報を記録する場合は、同じ遅延時間が与えら
れる。すなわち、光ディスク上の同じ場所から同期信号
の記録が始まる。一方、セクタパルス2201はもう1
つの遅延回路2204にも送られ、所定の遅延時間d2
を与えられてスタートパルス2205になる。d2はd
1より大きな値である。
【0067】カウンタ2209は、ある周期のクロック
入力2210を分周して、データ入力パルス2205と
非同期の適当な周期のクロック2208を作り、このク
ロック2208をDタイプ−フリップフロップ(以下D
−FFと呼ぶ)2206に与える。D−FF2206は
データ入力としての遅延回路2204からのパルス22
05をラッチし、出力2207をストップパルスとして
同期信号発生回路2005に与える。この際、データ入
力パルス2205と非同期のクロック入力2208の周
期によって、ランダムな遅延時間がストップパルス22
07に生じる。従って同期信号発生回路2005は、同
期信号の停止点をランダムに変化させる。記録タイミン
グ制御回路2009は同期信号発生回路2006に起動
命令を与えた後、ストップパルス2207に同期してD
M発生回路2006に起動命令を送りデータ先頭識別マ
ークを記録させる。
入力2210を分周して、データ入力パルス2205と
非同期の適当な周期のクロック2208を作り、このク
ロック2208をDタイプ−フリップフロップ(以下D
−FFと呼ぶ)2206に与える。D−FF2206は
データ入力としての遅延回路2204からのパルス22
05をラッチし、出力2207をストップパルスとして
同期信号発生回路2005に与える。この際、データ入
力パルス2205と非同期のクロック入力2208の周
期によって、ランダムな遅延時間がストップパルス22
07に生じる。従って同期信号発生回路2005は、同
期信号の停止点をランダムに変化させる。記録タイミン
グ制御回路2009は同期信号発生回路2006に起動
命令を与えた後、ストップパルス2207に同期してD
M発生回路2006に起動命令を送りデータ先頭識別マ
ークを記録させる。
【0068】以上のように本実施形態によれば、同期信
号発生回路2005の前にD−FF2206を設けるこ
とにより、同一セクタに繰り返し記録する場合、光ディ
スク上での同期信号の記録開始位置は変えずに、同期信
号の長さをランダムに変えることができる。
号発生回路2005の前にD−FF2206を設けるこ
とにより、同一セクタに繰り返し記録する場合、光ディ
スク上での同期信号の記録開始位置は変えずに、同期信
号の長さをランダムに変えることができる。
【0069】ここで、従来の記録方法と本実施形態に係
る記録方法とについて、同一セクタに繰り返し記録を行
なう場合の再生波形の劣化抑制効果を比較する。図20
に、同一セクタに記録する際の同期信号の記録場所を示
す模式図を示す。図20の方法(1)は従来の記録方法
で同期信号の記録開始位置をランダムに変化させる場合
を示し、図20の方法(2)は本発明の記録方法で同期
信号記録開始位置は変えずに同期信号の長さをランダム
に変化させる場合を示している。それぞれの場合におい
て、同期信号42の終了点の位置が記録開始点に近いも
のから遠くのものへ順に並べているが、実際にはランダ
ムにこれらのパターンが記録される。同期信号42の終
了点の最大位置ずれ量2401は、従来の記録方法と本
記録方法とで同じ値をとることになる。
る記録方法とについて、同一セクタに繰り返し記録を行
なう場合の再生波形の劣化抑制効果を比較する。図20
に、同一セクタに記録する際の同期信号の記録場所を示
す模式図を示す。図20の方法(1)は従来の記録方法
で同期信号の記録開始位置をランダムに変化させる場合
を示し、図20の方法(2)は本発明の記録方法で同期
信号記録開始位置は変えずに同期信号の長さをランダム
に変化させる場合を示している。それぞれの場合におい
て、同期信号42の終了点の位置が記録開始点に近いも
のから遠くのものへ順に並べているが、実際にはランダ
ムにこれらのパターンが記録される。同期信号42の終
了点の最大位置ずれ量2401は、従来の記録方法と本
記録方法とで同じ値をとることになる。
【0070】図20の方法(2)に示した本記録方法の
模式図において、同期信号の最短長さ2402は次のよ
うに設定する。繰り返し記録を行なった場合に、同期信
号の記録開始点から再生波形劣化が生じ、繰り返し回数
の増加に伴ってレーザビームの進行方向へ波形劣化が伝
播・進行する。従って、同期信号の最短長さ2402は
使用にあたって想定した最大繰り返し記録後にも同期信
号の少なくとも後端が再生可能で、PLLの同期引き込
みに支障が生じないように設定される。
模式図において、同期信号の最短長さ2402は次のよ
うに設定する。繰り返し記録を行なった場合に、同期信
号の記録開始点から再生波形劣化が生じ、繰り返し回数
の増加に伴ってレーザビームの進行方向へ波形劣化が伝
播・進行する。従って、同期信号の最短長さ2402は
使用にあたって想定した最大繰り返し記録後にも同期信
号の少なくとも後端が再生可能で、PLLの同期引き込
みに支障が生じないように設定される。
【0071】ここで、図20の方法(1)に示す従来の
記録方法において同期信号の最短長さ2403を図20
の方法(2)に示す本記録方法のVFO最短長さ240
2と同じにすれば、同期信号42の終了点がランダムに
変化する範囲については、図20をみるかぎり、従来の
記録方法と本記録方法とで差異はない。しかしながら、
同期信号の長さ2403が固定の従来の記録方法に比べ
て、同期信号の長さが上記2403の長さに等しい最短
長さ2402からこれに最大位置ずれ量2401を加え
た最長長さとの間でランダムに変化する本記録方法は、
以下の理由により有利である。つまり、本記録方法にお
ける同期信号の平均長さは、従来の記録方法における同
期信号の固定長さ2403より最大位置ずれ量の半分に
相当する長さだけ長くなる。一方、繰り返し記録に伴う
劣化は記録開始点、即ち同期信号の開始点を起点にして
進行する。従って、本記録方法によれば、同期信号の平
均長さが従来の記録方法の固定長さより長い分だけ、繰
り返し記録による劣化が記録データの先頭のDMに達す
るまでの時間が長くなる。つまり、繰り返し記録可能な
回数が多くなる(繰り返し記録の寿命が長くなる)。
記録方法において同期信号の最短長さ2403を図20
の方法(2)に示す本記録方法のVFO最短長さ240
2と同じにすれば、同期信号42の終了点がランダムに
変化する範囲については、図20をみるかぎり、従来の
記録方法と本記録方法とで差異はない。しかしながら、
同期信号の長さ2403が固定の従来の記録方法に比べ
て、同期信号の長さが上記2403の長さに等しい最短
長さ2402からこれに最大位置ずれ量2401を加え
た最長長さとの間でランダムに変化する本記録方法は、
以下の理由により有利である。つまり、本記録方法にお
ける同期信号の平均長さは、従来の記録方法における同
期信号の固定長さ2403より最大位置ずれ量の半分に
相当する長さだけ長くなる。一方、繰り返し記録に伴う
劣化は記録開始点、即ち同期信号の開始点を起点にして
進行する。従って、本記録方法によれば、同期信号の平
均長さが従来の記録方法の固定長さより長い分だけ、繰
り返し記録による劣化が記録データの先頭のDMに達す
るまでの時間が長くなる。つまり、繰り返し記録可能な
回数が多くなる(繰り返し記録の寿命が長くなる)。
【0072】逆に、同程度の繰り返し寿命を得るために
は、本実施形態の光ディスク装置は従来の装置に比べ
て、同期信号に割り当てる長さを短くすることができる
ので、同一光ディスクにおける実質上の記録容量を従来
の装置より増加することができる。なお、記録領域の開
始点に、同期信号に先行する何らかの記録すべきデータ
がある場合であっても本発明を適用することができる。
例えば、同期信号の記録に先だってダミーデ−タを記録
する場合等があてはまる。この場合には、ダミーデータ
の記録開始位置を揃え、かつ、同期信号の終了位置をラ
ンダムに変えて記録することで、本発明による効果が得
られる。
は、本実施形態の光ディスク装置は従来の装置に比べ
て、同期信号に割り当てる長さを短くすることができる
ので、同一光ディスクにおける実質上の記録容量を従来
の装置より増加することができる。なお、記録領域の開
始点に、同期信号に先行する何らかの記録すべきデータ
がある場合であっても本発明を適用することができる。
例えば、同期信号の記録に先だってダミーデ−タを記録
する場合等があてはまる。この場合には、ダミーデータ
の記録開始位置を揃え、かつ、同期信号の終了位置をラ
ンダムに変えて記録することで、本発明による効果が得
られる。
【0073】次に、本発明の第4の実施形態について説
明する。同一セクタに繰り返し記録する場合には、前述
のように、同期信号の記録終了点がランダムに変化する
ように記録することにより、データブロックに同じパタ
ーンを記録しても確実にデータが再生できる。この場
合、同じ容量のデータを記録してもデータの記録終了位
置は光ディスク上でランダムに変化する。光ディスクの
回転数の変動が充分に小さい場合には、記録毎のデータ
記録終了位置は、同期信号の記録終了位置、即ちデータ
先頭識別マークDMの記録位置から等距離離れた位置と
なるので、光ディスク上のデータの記録終了位置はデー
タ先頭識別マークDMの位置に連動してランダムに変化
する。データの後に従来のように一定長のダミーデータ
を書き加えると、ダミーデータの記録終了位置もデータ
先頭識別マークDMの位置に連動してランダムに変化す
る。そこで、同一セクタに繰り返し記録する場合、デー
タ先頭識別マークの位置が後ろにずれているほどダミー
データの長さを短く、逆にデータ先頭識別マークの位置
が前にずれているほどダミーデータの長さを長く記録す
るというように、ダミーデータの長さをデータ先頭識別
マークの位置に連動させる手段を光ディスク装置に設け
る。理想的には、同一セクタに繰り返し記録する場合
に、光ディスク上でダミーデータの記録終了位置が常に
同じ位置になるようにする。以下、第4の実施形態を具
体的に説明する。
明する。同一セクタに繰り返し記録する場合には、前述
のように、同期信号の記録終了点がランダムに変化する
ように記録することにより、データブロックに同じパタ
ーンを記録しても確実にデータが再生できる。この場
合、同じ容量のデータを記録してもデータの記録終了位
置は光ディスク上でランダムに変化する。光ディスクの
回転数の変動が充分に小さい場合には、記録毎のデータ
記録終了位置は、同期信号の記録終了位置、即ちデータ
先頭識別マークDMの記録位置から等距離離れた位置と
なるので、光ディスク上のデータの記録終了位置はデー
タ先頭識別マークDMの位置に連動してランダムに変化
する。データの後に従来のように一定長のダミーデータ
を書き加えると、ダミーデータの記録終了位置もデータ
先頭識別マークDMの位置に連動してランダムに変化す
る。そこで、同一セクタに繰り返し記録する場合、デー
タ先頭識別マークの位置が後ろにずれているほどダミー
データの長さを短く、逆にデータ先頭識別マークの位置
が前にずれているほどダミーデータの長さを長く記録す
るというように、ダミーデータの長さをデータ先頭識別
マークの位置に連動させる手段を光ディスク装置に設け
る。理想的には、同一セクタに繰り返し記録する場合
に、光ディスク上でダミーデータの記録終了位置が常に
同じ位置になるようにする。以下、第4の実施形態を具
体的に説明する。
【0074】図16に示した光ディスク装置の記録タイ
ミング制御回路2009のうち、ダミーデータの記録制
御部の構成例を図21に示すとともに、その動作のタイ
ミングチャートを図22に示す。
ミング制御回路2009のうち、ダミーデータの記録制
御部の構成例を図21に示すとともに、その動作のタイ
ミングチャートを図22に示す。
【0075】図16に示すように、記録タイミング制御
回路2009はアドレス検出回路2010によって目的
セクタが検出されると、同期信号発生回路2005、D
M発生回路2006、データ変調回路2004、ダミー
データ発生回路2007に順次起動命令を与える。この
際、同期信号発生回路2005に与えるスタートパルス
2203かストップパルス2207のどちらかにランダ
ムな遅延時間を与える。図22は、ストップパルス22
07にランダムな遅延時間を与えた場合を示している。
一方、図21の記録タイミング制御回路2009に設け
た遅延回路2501は、セクタ区間を示すセクタパルス
2201をアドレス検出回路2010から受け取ってか
ら、所定の遅延時間d3後にストップパルス2502を
ダミーデータ発生回路2007に出力する。ストップパ
ルス2502を受け取ったダミーデータ発生回路200
7はダミーデータの発生を停止する。遅延回路2501
によって与えられる遅延時間d3は、ある想定した繰り
返し回数を記録した後に生じる記録終端部での再生波形
劣化をダミーデータで吸収して、データブロック44の
再生に影響を与えないような長さのダミーデータが記録
できる時間に設定すればよい。以上のように本実施形態
によれば、遅延回路2501を設けることにより、光デ
ィスク上でのダミーデータの記録終了位置を同じにする
ことができる。ただし、実際には光ディスクを回転させ
るモータにある程度の回転むらが生じるので、記録終了
位置を完全に同じ位置にできるとは限らない。
回路2009はアドレス検出回路2010によって目的
セクタが検出されると、同期信号発生回路2005、D
M発生回路2006、データ変調回路2004、ダミー
データ発生回路2007に順次起動命令を与える。この
際、同期信号発生回路2005に与えるスタートパルス
2203かストップパルス2207のどちらかにランダ
ムな遅延時間を与える。図22は、ストップパルス22
07にランダムな遅延時間を与えた場合を示している。
一方、図21の記録タイミング制御回路2009に設け
た遅延回路2501は、セクタ区間を示すセクタパルス
2201をアドレス検出回路2010から受け取ってか
ら、所定の遅延時間d3後にストップパルス2502を
ダミーデータ発生回路2007に出力する。ストップパ
ルス2502を受け取ったダミーデータ発生回路200
7はダミーデータの発生を停止する。遅延回路2501
によって与えられる遅延時間d3は、ある想定した繰り
返し回数を記録した後に生じる記録終端部での再生波形
劣化をダミーデータで吸収して、データブロック44の
再生に影響を与えないような長さのダミーデータが記録
できる時間に設定すればよい。以上のように本実施形態
によれば、遅延回路2501を設けることにより、光デ
ィスク上でのダミーデータの記録終了位置を同じにする
ことができる。ただし、実際には光ディスクを回転させ
るモータにある程度の回転むらが生じるので、記録終了
位置を完全に同じ位置にできるとは限らない。
【0076】ここで、従来の記録方法と本実施形態によ
る記録方法とについて、同一セクタに繰り返し記録を行
なう場合の記録領域終端部での再生波形の劣化抑制効果
を比較する。図23に、同一セクタに記録する際のダミ
ーデータの記録場所を示す模式図を示す。図23の方法
(1)は従来の記録方法であって、ダミーデータ45の
長さが一定である場合を示し、図23の方法(2)は本
実施形態による記録方法であって、ダミーデータ45の
記録終了位置をディスク上の同じ場所とする場合を示し
ている。それぞれの場合において、データ先頭識別マー
クの位置が記録開始点から遠いものから近くなる順に並
べているが、実際にはランダムにこれらのパターンが記
録される。
る記録方法とについて、同一セクタに繰り返し記録を行
なう場合の記録領域終端部での再生波形の劣化抑制効果
を比較する。図23に、同一セクタに記録する際のダミ
ーデータの記録場所を示す模式図を示す。図23の方法
(1)は従来の記録方法であって、ダミーデータ45の
長さが一定である場合を示し、図23の方法(2)は本
実施形態による記録方法であって、ダミーデータ45の
記録終了位置をディスク上の同じ場所とする場合を示し
ている。それぞれの場合において、データ先頭識別マー
クの位置が記録開始点から遠いものから近くなる順に並
べているが、実際にはランダムにこれらのパターンが記
録される。
【0077】図23の方法(2)に示す本実施形態によ
る記録方法でのダミーデータ45の最短長さを図23の
方法(1)に示す従来方法でのダミーデータ45の一定
の長さと等しく設定した場合、本記録方法のダミーデー
タ45の平均長さは従来方法でのダミーデータ45の一
定長さより長くなるので、その分だけ本記録方法は有利
になる。つまり、この場合の繰り返し記録に伴う劣化は
記録終了点を起点にして進行するので、その劣化がデー
タブロック44の終端に達するまでの時間、つまり繰り
返し記録寿命は、本記録方法の方が長くなる。
る記録方法でのダミーデータ45の最短長さを図23の
方法(1)に示す従来方法でのダミーデータ45の一定
の長さと等しく設定した場合、本記録方法のダミーデー
タ45の平均長さは従来方法でのダミーデータ45の一
定長さより長くなるので、その分だけ本記録方法は有利
になる。つまり、この場合の繰り返し記録に伴う劣化は
記録終了点を起点にして進行するので、その劣化がデー
タブロック44の終端に達するまでの時間、つまり繰り
返し記録寿命は、本記録方法の方が長くなる。
【0078】逆に、同程度の繰り返し寿命を得るために
は、本実施形態の光ディスク装置は従来の装置に比べ
て、ダミーデータに割り当てる長さを短くすることがで
きるので、同一光ディスクにおける実質上の記録容量を
従来の装置より増加することができる。
は、本実施形態の光ディスク装置は従来の装置に比べ
て、ダミーデータに割り当てる長さを短くすることがで
きるので、同一光ディスクにおける実質上の記録容量を
従来の装置より増加することができる。
【0079】次に、本発明の第5の実施形態について説
明する。本実施形態は、光ディスク上で異なる半径のセ
クタに記録する場合に、レーザ光の照射位置における光
ディスクの移動速度(以下線速度と呼ぶ)を記録半径に
連動して変化させる光ディスク装置に適用される。例え
ば、記録するセクタの半径によらず光ディスクを一定回
転数で回転させて記録する場合はこれに該当する。
明する。本実施形態は、光ディスク上で異なる半径のセ
クタに記録する場合に、レーザ光の照射位置における光
ディスクの移動速度(以下線速度と呼ぶ)を記録半径に
連動して変化させる光ディスク装置に適用される。例え
ば、記録するセクタの半径によらず光ディスクを一定回
転数で回転させて記録する場合はこれに該当する。
【0080】まず、記録時の線速度によって繰り返し記
録に伴う劣化がどのように生じるかを実験で調べた。そ
の結果、ディスク構造、すなわち各層の膜厚、材料組
成、或は記録時の線速度、レーザ光照射パワー、記録密
度等をわずかに変化させると、繰り返し記録に伴う種々
の劣化現象が大きく変化することがわかった。このこと
は、以下の点を考慮すれば定性的に理解できる。
録に伴う劣化がどのように生じるかを実験で調べた。そ
の結果、ディスク構造、すなわち各層の膜厚、材料組
成、或は記録時の線速度、レーザ光照射パワー、記録密
度等をわずかに変化させると、繰り返し記録に伴う種々
の劣化現象が大きく変化することがわかった。このこと
は、以下の点を考慮すれば定性的に理解できる。
【0081】(1)記録のためのレーザ光照射部分にお
ける温度プロファイル(例えば到達温度、昇温後の冷却
速度等)は記録線速度の影響を強く受ける。
ける温度プロファイル(例えば到達温度、昇温後の冷却
速度等)は記録線速度の影響を強く受ける。
【0082】(2)記録の繰り返しに伴う再生波形劣化
は、レーザ光照射部分の温度プロファイルの非対称性を
1つの駆動力として生じる。
は、レーザ光照射部分の温度プロファイルの非対称性を
1つの駆動力として生じる。
【0083】記録時の線速度に応じて記録パワーやレー
ザ光照射時間を変えたり、ディスク構造をディスク半径
に応じて変化させる等の手段を用いても、繰り返し記録
に伴う種々の劣化現象の記録線速度依存性を解消するこ
とはできなかった。
ザ光照射時間を変えたり、ディスク構造をディスク半径
に応じて変化させる等の手段を用いても、繰り返し記録
に伴う種々の劣化現象の記録線速度依存性を解消するこ
とはできなかった。
【0084】光ディスクシステムでは、記録容量の確保
の観点から、同一セクタに情報を繰り返し多数回記録し
た場合の一連の記録領域の始端部(記録開始部)と終端
部(記録終了部)における再生信号の劣化長の和が、記
録時の使用想定線速度いずれに対してもできるだけ短く
なるように、レーザ光照射プロファイル、またはディス
ク構造が調整されていることが望ましい。このような観
点で実験を行なった結果、ある程度の成果が得られ、か
つ記録領域の始端部における繰り返し記録に伴う再生波
形劣化長と終端部における再生波形劣化長の比が、通
常、記録線速度に応じて変化することがわかった。ま
た、両劣化長の比と記録線速度との関係は1次関数で表
わすことができなかった。繰り返し記録に伴って生じる
再生波形劣化がデータブロックの再生に影響を与えない
ような同期信号の長さ、及びダミーデータの長さは、各
光ディスクシステムに固有の、記録線速度に応じた最適
値を有することがわかった。
の観点から、同一セクタに情報を繰り返し多数回記録し
た場合の一連の記録領域の始端部(記録開始部)と終端
部(記録終了部)における再生信号の劣化長の和が、記
録時の使用想定線速度いずれに対してもできるだけ短く
なるように、レーザ光照射プロファイル、またはディス
ク構造が調整されていることが望ましい。このような観
点で実験を行なった結果、ある程度の成果が得られ、か
つ記録領域の始端部における繰り返し記録に伴う再生波
形劣化長と終端部における再生波形劣化長の比が、通
常、記録線速度に応じて変化することがわかった。ま
た、両劣化長の比と記録線速度との関係は1次関数で表
わすことができなかった。繰り返し記録に伴って生じる
再生波形劣化がデータブロックの再生に影響を与えない
ような同期信号の長さ、及びダミーデータの長さは、各
光ディスクシステムに固有の、記録線速度に応じた最適
値を有することがわかった。
【0085】また、同一セクタ内に同じパターンの信号
が多数回記録されても再生波形劣化が生じないようにデ
ータ先頭識別マークの記録位置をランダムに変化させる
記録方法を実施する場合、記録開始位置の最大位置ずれ
量(IDに最も近く記録されたデータ先頭識別マーク
と、最も遠く記録されたデータ先頭識別マークとの距
離)にも、記録線速度に応じた最適の長さがあることが
わかった。データ先頭識別マークの最適の最大位置ずれ
量と記録線速度との関係も1次関数で表わすことができ
なかった。データ先頭識別マークの位置をランダムに変
化させるには、前述のように、同期信号の記録開始点を
一定にしてその長さをランダムに変化させたり、或は同
期信号の長さを一定にして同期信号の記録開始点をラン
ダムに変化させる方法等が考えられる。
が多数回記録されても再生波形劣化が生じないようにデ
ータ先頭識別マークの記録位置をランダムに変化させる
記録方法を実施する場合、記録開始位置の最大位置ずれ
量(IDに最も近く記録されたデータ先頭識別マーク
と、最も遠く記録されたデータ先頭識別マークとの距
離)にも、記録線速度に応じた最適の長さがあることが
わかった。データ先頭識別マークの最適の最大位置ずれ
量と記録線速度との関係も1次関数で表わすことができ
なかった。データ先頭識別マークの位置をランダムに変
化させるには、前述のように、同期信号の記録開始点を
一定にしてその長さをランダムに変化させたり、或は同
期信号の長さを一定にして同期信号の記録開始点をラン
ダムに変化させる方法等が考えられる。
【0086】以上の実験結果から、繰り返し記録可能な
相変化型光ディスク装置において、繰り返し記録に伴う
再生波形劣化を抑制するには以下の3つの記録方法が有
効であることがわかる。
相変化型光ディスク装置において、繰り返し記録に伴う
再生波形劣化を抑制するには以下の3つの記録方法が有
効であることがわかる。
【0087】(1)記録領域に同期信号(VFO)、デ
ータ先頭識別マーク(DM)、変調データ、必要ならば
ダミーデータの順に続けて記録し、かつデータ先頭識別
マークの位置をランダムに変化させる。
ータ先頭識別マーク(DM)、変調データ、必要ならば
ダミーデータの順に続けて記録し、かつデータ先頭識別
マークの位置をランダムに変化させる。
【0088】(2)同一セクタにおけるデータ先頭識別
マークの最大位置ずれ量、及び/または同期信号の平均
長さを記録時の線速度に応じた最適な値に選んで記録す
る。
マークの最大位置ずれ量、及び/または同期信号の平均
長さを記録時の線速度に応じた最適な値に選んで記録す
る。
【0089】(3)同一セクタにおけるダミーデータの
平均長さを記録時の線速度に応じた最適な値に選んで記
録する。
平均長さを記録時の線速度に応じた最適な値に選んで記
録する。
【0090】実際の光ディスク装置では通常、記録時の
線速度と記録半径が1:1に対応するので、上述の
(2)または(3)の方法を実施するには、光ディスク
装置が、記録半径毎に最適のデータ先頭識別マークの最
大位置ずれ量、及び/または同期信号の平均長さ、ダミ
ーデータの平均長さの換算表を備え、その換算表に従っ
て所望の記録領域に記録するように構成すればよい。以
下、具体的に実施形態を説明する。
線速度と記録半径が1:1に対応するので、上述の
(2)または(3)の方法を実施するには、光ディスク
装置が、記録半径毎に最適のデータ先頭識別マークの最
大位置ずれ量、及び/または同期信号の平均長さ、ダミ
ーデータの平均長さの換算表を備え、その換算表に従っ
て所望の記録領域に記録するように構成すればよい。以
下、具体的に実施形態を説明する。
【0091】図24に、第5の実施形態に係る光ディス
ク装置の構成を示すブロック図を示す。この光ディスク
装置も図17に示した記録フォーマットでデータを記録
することができる。図24に示す光ディスク装置は図1
6に示した光ディスク装置に対して、アドレス−(同期
信号,ダミーデータ記録方法)変換メモリ(以下、単に
変換メモリという)2801が付加されている。変換メ
モリ2801には、記録アドレス毎に最適のデータ先頭
識別マークの最大位置ずれ量、同期信号の長さ、ダミー
データの長さ、またはダミーデータ記録終了位置等のデ
ータが記憶されている。
ク装置の構成を示すブロック図を示す。この光ディスク
装置も図17に示した記録フォーマットでデータを記録
することができる。図24に示す光ディスク装置は図1
6に示した光ディスク装置に対して、アドレス−(同期
信号,ダミーデータ記録方法)変換メモリ(以下、単に
変換メモリという)2801が付加されている。変換メ
モリ2801には、記録アドレス毎に最適のデータ先頭
識別マークの最大位置ずれ量、同期信号の長さ、ダミー
データの長さ、またはダミーデータ記録終了位置等のデ
ータが記憶されている。
【0092】以上のように構成された光ディスク装置に
ついて、以下その動作を説明する。データの記録時、シ
ステム制御回路2011は記録すべき目的セクタのアド
レスをサーボ制御回路2003と変換メモリ2801に
与える。サーボ制御回路2003はアドレス検出回路か
らのアドレスと目的アドレスとを比較して光ピックアッ
プ2002のサーボ制御を行なう。変換メモリ2801
は、記録すべき目的セクタのアドレスに対応する記録フ
ォーマットデータを記録タイミング制御回路2009に
与える。システム制御回路2011は符号化回路200
8に符号化命令2013を出すと共に、記録タイミング
制御回路2009に記録命令を出す。符号化回路200
8はデータ2012を誤り検出訂正符号化し、データ変
調回路2004に出力する。データ変調回路2004は
符号化されたデータ2014をデジタル変調する。繰り
返し記録に対する要求が低い場合については、ダミーデ
ータ発生回路2007を省略することができる。
ついて、以下その動作を説明する。データの記録時、シ
ステム制御回路2011は記録すべき目的セクタのアド
レスをサーボ制御回路2003と変換メモリ2801に
与える。サーボ制御回路2003はアドレス検出回路か
らのアドレスと目的アドレスとを比較して光ピックアッ
プ2002のサーボ制御を行なう。変換メモリ2801
は、記録すべき目的セクタのアドレスに対応する記録フ
ォーマットデータを記録タイミング制御回路2009に
与える。システム制御回路2011は符号化回路200
8に符号化命令2013を出すと共に、記録タイミング
制御回路2009に記録命令を出す。符号化回路200
8はデータ2012を誤り検出訂正符号化し、データ変
調回路2004に出力する。データ変調回路2004は
符号化されたデータ2014をデジタル変調する。繰り
返し記録に対する要求が低い場合については、ダミーデ
ータ発生回路2007を省略することができる。
【0093】記録タイミング制御回路2009はアドレ
ス検出回路2010によって目的セクタが検出される
と、変換メモリ2801から送られるデータに従って同
期信号発生回路2005、DM発生回路2006、デー
タ変調回路2004、ダミーデータ発生回路2007に
順次起動命令を与え、セクタの記録領域46に最適のデ
ータ先頭識別マークの最大位置ずれ量を与える同期信
号,データ先頭識別マーク,変調データ,適当の長さの
ダミーデータを順次記録する。また、変換メモリ280
1に記録すべきアドレスを与えるのがはシステム制御回
路2011である必要はなく、記録直前にアドレス検出
回路2010が、検出したアドレス信号を変換メモリ2
801に送ってもよい。また、変換メモリ2801を光
ディスク装置内に持つ変わりに、光ディスク2001に
予めアドレス−(同期信号,ダミーデータ記録方法)を
記録しておき、その情報に従って記録を行なうようにし
てもよい。
ス検出回路2010によって目的セクタが検出される
と、変換メモリ2801から送られるデータに従って同
期信号発生回路2005、DM発生回路2006、デー
タ変調回路2004、ダミーデータ発生回路2007に
順次起動命令を与え、セクタの記録領域46に最適のデ
ータ先頭識別マークの最大位置ずれ量を与える同期信
号,データ先頭識別マーク,変調データ,適当の長さの
ダミーデータを順次記録する。また、変換メモリ280
1に記録すべきアドレスを与えるのがはシステム制御回
路2011である必要はなく、記録直前にアドレス検出
回路2010が、検出したアドレス信号を変換メモリ2
801に送ってもよい。また、変換メモリ2801を光
ディスク装置内に持つ変わりに、光ディスク2001に
予めアドレス−(同期信号,ダミーデータ記録方法)を
記録しておき、その情報に従って記録を行なうようにし
てもよい。
【0094】以上のように本実施形態によれば、アドレ
ス−(同期信号,ダミーデータ記録方法)変換メモリを
設けることによって、記録半径に応じて最適のデータ先
頭識別マークの最大位置ずれ量、及び/または同期信号
の平均長さ、ダミーデータの平均長さを選択して記録す
ることができる。この結果、記録線速度によらずに、繰
り返し記録に伴って生じる記録再生波形劣化の影響を受
けないようにしながら、従来に比べて光ディスクの実質
上の記録容量を向上させることができる。
ス−(同期信号,ダミーデータ記録方法)変換メモリを
設けることによって、記録半径に応じて最適のデータ先
頭識別マークの最大位置ずれ量、及び/または同期信号
の平均長さ、ダミーデータの平均長さを選択して記録す
ることができる。この結果、記録線速度によらずに、繰
り返し記録に伴って生じる記録再生波形劣化の影響を受
けないようにしながら、従来に比べて光ディスクの実質
上の記録容量を向上させることができる。
【0095】次に本発明の第6の実施形態について説明
する。
する。
【0096】図25に、第6の実施形態に係る記録再生
装置の構成をブロック図で示す。この記録再生装置が、
あるセクタの記録情報を書き換えるために行なう動作を
図26のフローチャートに示す。また、記録動作のタイ
ミングチャートを図27に示す。図26のステップ30
01において、書き換えるセクタのID情報41(アド
レス情報)を検出した後、上記計算機と接続されたシス
テム制御回路4が記録情報5を2値化した信号として出
力する(3002)。この記録情報は変調回路7aにて
エラー訂正情報を付加され(3003)、変調される
(3004)。そして、合成回路8において、各セクタ
に記録するデータ長ごとに、同期信号発生回路2からの
同期信号42やダミーデータ発生回路21からのダミー
データ45等が付加されて記録データ11cとなり(3
005)、このデータに従ってレーザ制御回路12が光
ヘッド3内のレーザを駆動してレーザ光の強度変調を行
なう(3006)。これによって光ディスク1の該当セ
クタにデータが記録される(3007)。以上の動作は
従来の構成と同様であるが、次に説明する動作が従来と
異なっている。
装置の構成をブロック図で示す。この記録再生装置が、
あるセクタの記録情報を書き換えるために行なう動作を
図26のフローチャートに示す。また、記録動作のタイ
ミングチャートを図27に示す。図26のステップ30
01において、書き換えるセクタのID情報41(アド
レス情報)を検出した後、上記計算機と接続されたシス
テム制御回路4が記録情報5を2値化した信号として出
力する(3002)。この記録情報は変調回路7aにて
エラー訂正情報を付加され(3003)、変調される
(3004)。そして、合成回路8において、各セクタ
に記録するデータ長ごとに、同期信号発生回路2からの
同期信号42やダミーデータ発生回路21からのダミー
データ45等が付加されて記録データ11cとなり(3
005)、このデータに従ってレーザ制御回路12が光
ヘッド3内のレーザを駆動してレーザ光の強度変調を行
なう(3006)。これによって光ディスク1の該当セ
クタにデータが記録される(3007)。以上の動作は
従来の構成と同様であるが、次に説明する動作が従来と
異なっている。
【0097】上記の記録を行いながら、記録のために照
射した光ビームが光ディスク1から反射してくる再生信
号をストップパルス検出回路49で検出する(300
8)。ストップパルス検出回路49が、ダミーゲート発
生回路50で発生したダミーゲートで定めた検出時間内
に光ディスク1の局部的な反射率変化として検知される
ストップパルス53を検出すれば、遅延回路51で定め
た所定の遅延時間d4後に(3009)ダミーデータの
記録を停止する(3011)。一方、ストップパルス検
出回路49がダミーゲート発生回路50で発生したダミ
ーゲート54で定めた検出時間内にストップパルスを検
出しなければ、別の遅延回路52で定めた所定遅延時間
d5後に(3010)ダミーデータの記録を停止する
(3011)。上記ストップパルスは、光ディスク1上
の各セクタの記録領域の終端近くで、ガイド溝の溝幅変
化や溝深さを変化させたり、或はプリピットを設けて発
生させる。
射した光ビームが光ディスク1から反射してくる再生信
号をストップパルス検出回路49で検出する(300
8)。ストップパルス検出回路49が、ダミーゲート発
生回路50で発生したダミーゲートで定めた検出時間内
に光ディスク1の局部的な反射率変化として検知される
ストップパルス53を検出すれば、遅延回路51で定め
た所定の遅延時間d4後に(3009)ダミーデータの
記録を停止する(3011)。一方、ストップパルス検
出回路49がダミーゲート発生回路50で発生したダミ
ーゲート54で定めた検出時間内にストップパルスを検
出しなければ、別の遅延回路52で定めた所定遅延時間
d5後に(3010)ダミーデータの記録を停止する
(3011)。上記ストップパルスは、光ディスク1上
の各セクタの記録領域の終端近くで、ガイド溝の溝幅変
化や溝深さを変化させたり、或はプリピットを設けて発
生させる。
【0098】本発明によると、光ディスクを回転させる
モータに回転ジッタが生じても、各セクタにおける記録
終了位置を正確に揃えることができる。これは、ストッ
プパルスが記録セクタの終了位置近くにあるため、スト
ップパルスを検出してから目的の記録終了位置に達する
までの時間が、セクタの記録開始点から記録終了点に達
するまでの時間に比べて短くなることによる。すなわ
ち、従来の記録方法だと、記録開始から所定の時間後に
記録動作を停止するが、実際にはモータの回転むら等の
影響があって、記録毎に記録終了位置は変化し得る。一
方、本発明のようにストップパルスを検出してから、所
定時間後に記録を終了する方法だと、従来例よりも、は
るかに記録終了位置が揃う。別の言い方をすると、本記
録方法を採用すると、モータの回転ジッタ等の影響を考
慮せずに、使用できる記録領域の最後まで使いきること
ができる。すなわち、例えば、ダミーデータの領域を従
来の記録方法よりも長くとることができる。
モータに回転ジッタが生じても、各セクタにおける記録
終了位置を正確に揃えることができる。これは、ストッ
プパルスが記録セクタの終了位置近くにあるため、スト
ップパルスを検出してから目的の記録終了位置に達する
までの時間が、セクタの記録開始点から記録終了点に達
するまでの時間に比べて短くなることによる。すなわ
ち、従来の記録方法だと、記録開始から所定の時間後に
記録動作を停止するが、実際にはモータの回転むら等の
影響があって、記録毎に記録終了位置は変化し得る。一
方、本発明のようにストップパルスを検出してから、所
定時間後に記録を終了する方法だと、従来例よりも、は
るかに記録終了位置が揃う。別の言い方をすると、本記
録方法を採用すると、モータの回転ジッタ等の影響を考
慮せずに、使用できる記録領域の最後まで使いきること
ができる。すなわち、例えば、ダミーデータの領域を従
来の記録方法よりも長くとることができる。
【0099】何等かの理由でストップパルスの検出に失
敗した場合には、後続のID領域に入る前に記録を停止
しなければならない。そこで、ストップパルスが検出さ
れるべき時間を過ぎてもストップパルスが検出されなけ
れば、モータの回転ジッタを考慮して、記録を停止する
必要がある。また、ストップパルスの検出動作をはやい
段階から開始すると、ストップパルスでない信号変化を
ストップパルスと誤って検出した場合に、本来の記録の
途中で記録動作を停止することになる。このような理由
で、ストップパルスの検出動作は、ストップパルス検出
予定時間にモータの回転ジッタ等、考えられる時間ずれ
をつけ加えた時間範囲で内で行なえばよい。ダミーゲー
ト発生回路50が生成するダミーゲートは、ストップパ
ルスを検出すべき時間内でストップパルスの検出を行な
うようにするものである。
敗した場合には、後続のID領域に入る前に記録を停止
しなければならない。そこで、ストップパルスが検出さ
れるべき時間を過ぎてもストップパルスが検出されなけ
れば、モータの回転ジッタを考慮して、記録を停止する
必要がある。また、ストップパルスの検出動作をはやい
段階から開始すると、ストップパルスでない信号変化を
ストップパルスと誤って検出した場合に、本来の記録の
途中で記録動作を停止することになる。このような理由
で、ストップパルスの検出動作は、ストップパルス検出
予定時間にモータの回転ジッタ等、考えられる時間ずれ
をつけ加えた時間範囲で内で行なえばよい。ダミーゲー
ト発生回路50が生成するダミーゲートは、ストップパ
ルスを検出すべき時間内でストップパルスの検出を行な
うようにするものである。
【0100】図27のタイミングチャートに示されるよ
うに、光ディスク上の案内溝17が途切れた部分でスト
ップパルスを検出する場合、ストップパルスを検出して
から遅延時間d4後にダミーデータの記録が停止され
る。所定の検出時間内にストップパルスが検出されなか
った場合は、その後、遅延時間d5が経過するに伴って
ダミーデータの記録が停止される。ストップパルスの検
出に失敗した場合に遅延回路52によって与えられる遅
延時間d5は、モータの回転ジッタ等を考慮に入れた記
録終了位置が記録ストップパルスの検出に成功した場合
の記録終了位置よりも後にならにように設定される。
うに、光ディスク上の案内溝17が途切れた部分でスト
ップパルスを検出する場合、ストップパルスを検出して
から遅延時間d4後にダミーデータの記録が停止され
る。所定の検出時間内にストップパルスが検出されなか
った場合は、その後、遅延時間d5が経過するに伴って
ダミーデータの記録が停止される。ストップパルスの検
出に失敗した場合に遅延回路52によって与えられる遅
延時間d5は、モータの回転ジッタ等を考慮に入れた記
録終了位置が記録ストップパルスの検出に成功した場合
の記録終了位置よりも後にならにように設定される。
【0101】次に具体的な実施例を示す。実施例1に示
した構成の光ディスク及び、記録条件で信号を繰り返し
記録し、1回記録する毎に、記録終了位置(次のIDま
での距離)を測定した。ストップパルスの発生位置は、
各セクタを20:1に内分する位置(セクタの後部)と
した。図28,33に、本実施例による、光ディスクの
一例を示す。図28は、案内溝がある場合で、ストップ
パルスは、案内溝がとぎれた部分で反射率が高くなって
検出される。図28のような光ディスクを用いた場合、
記録動作中にストップパルスを検出することができ、従
来の記録方法と比べて、同一セクタにおける記録終端位
置のばらつきが20分の1となることを確認した。
した構成の光ディスク及び、記録条件で信号を繰り返し
記録し、1回記録する毎に、記録終了位置(次のIDま
での距離)を測定した。ストップパルスの発生位置は、
各セクタを20:1に内分する位置(セクタの後部)と
した。図28,33に、本実施例による、光ディスクの
一例を示す。図28は、案内溝がある場合で、ストップ
パルスは、案内溝がとぎれた部分で反射率が高くなって
検出される。図28のような光ディスクを用いた場合、
記録動作中にストップパルスを検出することができ、従
来の記録方法と比べて、同一セクタにおける記録終端位
置のばらつきが20分の1となることを確認した。
【0102】案内溝を有する光ディスクでは、溝幅を局
所的に細くしたり、或は溝深さを浅くしたりすることに
よっても、ストップパルスの検出が可能である。
所的に細くしたり、或は溝深さを浅くしたりすることに
よっても、ストップパルスの検出が可能である。
【0103】また、図29に示したように、いわゆるサ
ンプルサーボ方式の光ディスクでは、プリピットの大き
さが他のプリピットよりも大きなプリピットを記録領域
の終端近くに設け、この大きなプリピットからの信号を
ストップパルスとして検出することも可能である。
ンプルサーボ方式の光ディスクでは、プリピットの大き
さが他のプリピットよりも大きなプリピットを記録領域
の終端近くに設け、この大きなプリピットからの信号を
ストップパルスとして検出することも可能である。
【0104】次に、本発明の第7の実施形態について説
明する。先に述べた第3の実施形態では、セクター内に
情報を記録する際に、同期信号であるVFO信号の記録
を一定の位置から開始し、かつ、記録の度にVFO信号
の長さをランダムに変化させることにより、記録始端の
劣化を補償しながらデータ部の波形歪みを解消すること
を実現する。しかし、この場合、VFO信号が光ディス
クに対して常に一定のタイミングで記録されるので、回
転精度および信号の時間精度が高い記録装置で記録した
場合に、VFO領域で固定パターン特有の波形歪みが生
じる場合がある。
明する。先に述べた第3の実施形態では、セクター内に
情報を記録する際に、同期信号であるVFO信号の記録
を一定の位置から開始し、かつ、記録の度にVFO信号
の長さをランダムに変化させることにより、記録始端の
劣化を補償しながらデータ部の波形歪みを解消すること
を実現する。しかし、この場合、VFO信号が光ディス
クに対して常に一定のタイミングで記録されるので、回
転精度および信号の時間精度が高い記録装置で記録した
場合に、VFO領域で固定パターン特有の波形歪みが生
じる場合がある。
【0105】そこで本実施形態では、この波形歪みを抑
制するために、上記の方法に加えて、繰り返し記録の度
に信号極性を反転し、または記録始端をシフトする方法
を組み合わせることにより、繰り返し記録の性能をさら
に向上させる。この記録方法について、図30のブロッ
ク図と図31のタイミングチャートを用いて説明する。
制するために、上記の方法に加えて、繰り返し記録の度
に信号極性を反転し、または記録始端をシフトする方法
を組み合わせることにより、繰り返し記録の性能をさら
に向上させる。この記録方法について、図30のブロッ
ク図と図31のタイミングチャートを用いて説明する。
【0106】光ディスク1からの再生信号14が、再生
信号処理回路13、アドレス検出回路2010を経て復
調され、ID信号60がシステム制御回路4に入力され
る。上位計算機からの指示に従ってシステム制御回路4
は、記録すべきセクターの範囲を示すセクター信号61
を記録タイミング制御回路2009に出力する。記録タ
イミング制御回路2009は、はじめに、再生信号から
データ信号を復調する際の同期信号であるVF0信号を
出力するためのゲート信号62を、セクター信号61か
ら一定の時間Lgだけ遅れたタイミングで同期信号発生
回路2005に出力する。なおゲート信号62の区間
は、必要とするVFO信号の区間Lvよりも十分長い値
に設定される。同期信号発生回路2005は、ゲート信
号区間に対応したVFO信号65を合成回路8に出力す
る。
信号処理回路13、アドレス検出回路2010を経て復
調され、ID信号60がシステム制御回路4に入力され
る。上位計算機からの指示に従ってシステム制御回路4
は、記録すべきセクターの範囲を示すセクター信号61
を記録タイミング制御回路2009に出力する。記録タ
イミング制御回路2009は、はじめに、再生信号から
データ信号を復調する際の同期信号であるVF0信号を
出力するためのゲート信号62を、セクター信号61か
ら一定の時間Lgだけ遅れたタイミングで同期信号発生
回路2005に出力する。なおゲート信号62の区間
は、必要とするVFO信号の区間Lvよりも十分長い値
に設定される。同期信号発生回路2005は、ゲート信
号区間に対応したVFO信号65を合成回路8に出力す
る。
【0107】また、記録タイミング制御回路2009
は、データの終端部の劣化を補償するためのダミー信号
を得るためのダミーゲート信号63をダミーデータ発生
回路に出力する。ダミーゲート信号63は、最終的に必
要とするダミーデータ長よりも長い区間出力される。ま
た、その終端位置がセクター信号61の後端よりも前に
なるように、セクター開始点から一定時間Lds経過後
に停止される。ダミーデータ発生回路2007は、ダミ
ーゲート信号63に従って、ダミーデータ信号67を合
成回路17に出力する。
は、データの終端部の劣化を補償するためのダミー信号
を得るためのダミーゲート信号63をダミーデータ発生
回路に出力する。ダミーゲート信号63は、最終的に必
要とするダミーデータ長よりも長い区間出力される。ま
た、その終端位置がセクター信号61の後端よりも前に
なるように、セクター開始点から一定時間Lds経過後
に停止される。ダミーデータ発生回路2007は、ダミ
ーゲート信号63に従って、ダミーデータ信号67を合
成回路17に出力する。
【0108】一方、システム制御回路4は、記録する情
報信号に基づいて2値化された情報信号5を変調回路7
aに出力する。変調回路7aは、記録信号5にエラー訂
正符号を付加し、さらに光ディスクの記録に適した変調
コード、例えばEFMコード、(1,7)コード、また
は(8,16)コードに従って変調を行う。変調された
信号はデータ信号19bとなり、この信号にはデータマ
ーク、データ中の同期信号、パリティ等が含まれる。
報信号に基づいて2値化された情報信号5を変調回路7
aに出力する。変調回路7aは、記録信号5にエラー訂
正符号を付加し、さらに光ディスクの記録に適した変調
コード、例えばEFMコード、(1,7)コード、また
は(8,16)コードに従って変調を行う。変調された
信号はデータ信号19bとなり、この信号にはデータマ
ーク、データ中の同期信号、パリティ等が含まれる。
【0109】データ信号19bの出力開始タイミング
は、記録タイミング制御回路2009からのVFOゲー
ト信号62の立ち上がりからLvだけ遅れた記録開始パ
ルス64によって決まる。データ信号19bは、第1の
ランダム遅延回路70によって時間幅Mだけ遅延されて
遅延データ信号71となり、これが合成回路8に入力さ
れる。第1のランダム遅延回路70は、入力された信号
をM=0〜Mmaxの範囲内のいずれかの遅延時間で遅
延させる。
は、記録タイミング制御回路2009からのVFOゲー
ト信号62の立ち上がりからLvだけ遅れた記録開始パ
ルス64によって決まる。データ信号19bは、第1の
ランダム遅延回路70によって時間幅Mだけ遅延されて
遅延データ信号71となり、これが合成回路8に入力さ
れる。第1のランダム遅延回路70は、入力された信号
をM=0〜Mmaxの範囲内のいずれかの遅延時間で遅
延させる。
【0110】第1の合成回路8は、遅延データ信号71
とVFO信号65とを合成し、続く第2の合成回路17
がさらにダミーデータ信号67を合成し、合成データ信
号72が生成される。このとき、データ信号71とダミ
ーデータ信号67との重なり部分ではデータ信号71が
優先され、その後にダミーデータ信号67が続くように
合成される。VFO、データ信号、およびダミー信号か
らなる合成データ信号72は、第2のランダム遅延回路
73によって全体が遅延時間Nだけ遅れた遅延合成信号
74となる。なお、第2のランダム遅延回路73は、入
力された信号を、N=0〜Nmaxの範囲内のいずれか
の遅延時間で遅延させる。
とVFO信号65とを合成し、続く第2の合成回路17
がさらにダミーデータ信号67を合成し、合成データ信
号72が生成される。このとき、データ信号71とダミ
ーデータ信号67との重なり部分ではデータ信号71が
優先され、その後にダミーデータ信号67が続くように
合成される。VFO、データ信号、およびダミー信号か
らなる合成データ信号72は、第2のランダム遅延回路
73によって全体が遅延時間Nだけ遅れた遅延合成信号
74となる。なお、第2のランダム遅延回路73は、入
力された信号を、N=0〜Nmaxの範囲内のいずれか
の遅延時間で遅延させる。
【0111】ランダム反転回路75は、遅延合成信号7
4の極性をランダムに反転して記録データ信号76を生
成する。この記録データ信号76に従って、レーザパワ
ー制御回路12が光ヘッド3内のレーザを駆動し、レー
ザ光の強度を変調することにより光ディスク1上に信号
の記録が行われる。なお、ランダム反転回路75は、図
1で示したように反転回路10と選択回路9とを用い、
記録データ信号または極性反転した記録データ信号をラ
ンダムに選択するように構成することができる。
4の極性をランダムに反転して記録データ信号76を生
成する。この記録データ信号76に従って、レーザパワ
ー制御回路12が光ヘッド3内のレーザを駆動し、レー
ザ光の強度を変調することにより光ディスク1上に信号
の記録が行われる。なお、ランダム反転回路75は、図
1で示したように反転回路10と選択回路9とを用い、
記録データ信号または極性反転した記録データ信号をラ
ンダムに選択するように構成することができる。
【0112】図32に、記録するセクター内で信号の記
録位置をランダムに変化させるために用いるランダム遅
延回路70の一例を示す。このランダム遅延回路70
は、シフトレジスタ80、選択器81、およびカウンタ
82から構成される。記録データ19bとデータの基準
クロック信号83がシフトレジスタ80に入力される
と、シフトレジスタ80はクロックの周期に対応する時
間遅れをもつ8種類の信号(c)〜(j)を選択回路8
1に出力する。カウンタ82は、一連のデータ信号列、
例えば1つのセクター内に記録するデータ列が入力され
る度にカウントアップし、その結果を選択回路81に出
力する。選択回路81は、カウンタ82の2進カウント
信号(k)〜(m)の出力を、シフトレジスタ80から
の出力信号を選択するための信号として用い、選択した
遅延データ信号71を得る。
録位置をランダムに変化させるために用いるランダム遅
延回路70の一例を示す。このランダム遅延回路70
は、シフトレジスタ80、選択器81、およびカウンタ
82から構成される。記録データ19bとデータの基準
クロック信号83がシフトレジスタ80に入力される
と、シフトレジスタ80はクロックの周期に対応する時
間遅れをもつ8種類の信号(c)〜(j)を選択回路8
1に出力する。カウンタ82は、一連のデータ信号列、
例えば1つのセクター内に記録するデータ列が入力され
る度にカウントアップし、その結果を選択回路81に出
力する。選択回路81は、カウンタ82の2進カウント
信号(k)〜(m)の出力を、シフトレジスタ80から
の出力信号を選択するための信号として用い、選択した
遅延データ信号71を得る。
【0113】以上の構成により、データ信号にランダム
な遅延時間を与えることができる。また、遅延時間をさ
らに大きくとる場合は、シフトレジスタ80のビット数
を増やし、またはクロック83を分周したものをシフト
レジスタ80に入力すればよい。また、第2の遅延回路
73についても同様の構成とすることができる。
な遅延時間を与えることができる。また、遅延時間をさ
らに大きくとる場合は、シフトレジスタ80のビット数
を増やし、またはクロック83を分周したものをシフト
レジスタ80に入力すればよい。また、第2の遅延回路
73についても同様の構成とすることができる。
【0114】図33は上記の方法により得られる光記録
媒体の記録フォーマットを示す。記録媒体のセクター上
には、ID信号41に続いて、第1のギャップ領域4
7、VFO領域42、データブロック44、ダミーデー
タ42、および第2のギャップ領域48が配置される。
媒体の記録フォーマットを示す。記録媒体のセクター上
には、ID信号41に続いて、第1のギャップ領域4
7、VFO領域42、データブロック44、ダミーデー
タ42、および第2のギャップ領域48が配置される。
【0115】第1および第2のギャップ領域47、48
は、光ディスクの回転変動、記録ゲートのタイミングの
変動等による誤記録が生じないようにするために設けら
れる。また、第1のギャップ領域47の長さは、記録に
先立って半導体レーザ等の光源のパワー設定を行うのに
必要な時間を含むように設定することが望ましい。第2
のギャップ領域48は、主に回転変動によるID信号上
への誤記録を防止するためのものであり、スピンドルモ
ータおよびサーボ回路の性能に応じてその長さが決定さ
れる。
は、光ディスクの回転変動、記録ゲートのタイミングの
変動等による誤記録が生じないようにするために設けら
れる。また、第1のギャップ領域47の長さは、記録に
先立って半導体レーザ等の光源のパワー設定を行うのに
必要な時間を含むように設定することが望ましい。第2
のギャップ領域48は、主に回転変動によるID信号上
への誤記録を防止するためのものであり、スピンドルモ
ータおよびサーボ回路の性能に応じてその長さが決定さ
れる。
【0116】VFO信号42については、繰り返し記録
を行った後の記録始端での信号の劣化を考慮に入れた長
さLvを設定する。記録媒体の補償する繰り返し記録回
数、あるいは記録媒体を構成する材料に応じて、信号劣
化を吸収できるような長さとする。即ち、VFO信号4
2は復調回路7bがデータ信号を復調する際に同期クロ
ックのタイミングを得るための信号であるので、記録始
端劣化が生じた後においても復調回路のPLL引き込み
に必要な長さを越えるVFO信号の長さが確保されるよ
うにする必要がある。
を行った後の記録始端での信号の劣化を考慮に入れた長
さLvを設定する。記録媒体の補償する繰り返し記録回
数、あるいは記録媒体を構成する材料に応じて、信号劣
化を吸収できるような長さとする。即ち、VFO信号4
2は復調回路7bがデータ信号を復調する際に同期クロ
ックのタイミングを得るための信号であるので、記録始
端劣化が生じた後においても復調回路のPLL引き込み
に必要な長さを越えるVFO信号の長さが確保されるよ
うにする必要がある。
【0117】データブロック44に続くダミーデータ4
5は、繰り返し記録を行った場合の記録終端部の劣化が
データブロックに及ばないように、この最大劣化長さを
越える長さに設定する必要がある。
5は、繰り返し記録を行った場合の記録終端部の劣化が
データブロックに及ばないように、この最大劣化長さを
越える長さに設定する必要がある。
【0118】次に、二つのランダム遅延回路70、73
により、繰り返し記録の度に設定されるセクターフォー
マットのパターンについて説明する。図33の(a−
1)は第1のランダム遅延回路70による遅延量M、お
よび、第2のランダム遅延回路73による遅延量Nが共
に0である場合であり、データブロックが最も前方、即
ちID信号41aに最も近い位置にある。(a−2)は
N=N1の場合であり、遅延量N1分だけセクターの後
方へVFO、データブロック、およびダミーデータの全
体が移動する。(a−3)は、遅延量Nが最大値Nma
xの場合であり、VFOの先頭部が最も遅れた状態とな
る。このとき、ダミーデータ45の後端部も(a−1)
に比べて遅延量Nmaxだけ遅れ、その分、第2のギャ
ップ領域が短くなる。
により、繰り返し記録の度に設定されるセクターフォー
マットのパターンについて説明する。図33の(a−
1)は第1のランダム遅延回路70による遅延量M、お
よび、第2のランダム遅延回路73による遅延量Nが共
に0である場合であり、データブロックが最も前方、即
ちID信号41aに最も近い位置にある。(a−2)は
N=N1の場合であり、遅延量N1分だけセクターの後
方へVFO、データブロック、およびダミーデータの全
体が移動する。(a−3)は、遅延量Nが最大値Nma
xの場合であり、VFOの先頭部が最も遅れた状態とな
る。このとき、ダミーデータ45の後端部も(a−1)
に比べて遅延量Nmaxだけ遅れ、その分、第2のギャ
ップ領域が短くなる。
【0119】図33の(b−1)は第1のランダム遅延
回路70による遅延量がM=M1の場合であり、遅延量
M1だけVFO領域の長さが伸びてLv+M1となる。
従って、データブロックは(a−1)に比べてM1だけ
遅れた位置から開始する。データブロックの後端部、即
ちダミーデータ45の始端部もM1だけ遅れるが、ダミ
ーデータ45の後端部は(a−1)と同位置である。つ
まり、ダミーデータの長さがLd−M1に短縮される。
以下、同様にして、VFOの長さと始端位置とが変化す
る。
回路70による遅延量がM=M1の場合であり、遅延量
M1だけVFO領域の長さが伸びてLv+M1となる。
従って、データブロックは(a−1)に比べてM1だけ
遅れた位置から開始する。データブロックの後端部、即
ちダミーデータ45の始端部もM1だけ遅れるが、ダミ
ーデータ45の後端部は(a−1)と同位置である。つ
まり、ダミーデータの長さがLd−M1に短縮される。
以下、同様にして、VFOの長さと始端位置とが変化す
る。
【0120】図33の(c−3)は、M=Mmax、N
=Nmaxの場合であり、データブロックの遅延量が最
も大きくなる(Mmax+Nmax)。実際の記録動作
においては、これらの遅延状態がランダムに選択され
る。したがってデータブロック44の位置は、遅延量が
ゼロからMmax+Nmaxの範囲内でランダムに変化
する。また、記録の始端は遅延量がゼロからNmaxの
範囲内でランダムに変化する。
=Nmaxの場合であり、データブロックの遅延量が最
も大きくなる(Mmax+Nmax)。実際の記録動作
においては、これらの遅延状態がランダムに選択され
る。したがってデータブロック44の位置は、遅延量が
ゼロからMmax+Nmaxの範囲内でランダムに変化
する。また、記録の始端は遅延量がゼロからNmaxの
範囲内でランダムに変化する。
【0121】次に、本実施形態の効果を確かめるために
行なった比較実験(実施例)について説明する。第1の
実施例と同様に、光ディスク1のディスク基板には、直
径130mm、厚さ0.6 mmのポリカーボネート樹脂
を用いた。この樹脂基板には、凸凹形状の位相ピットを
あらかじめアドレス情報としてプリフォーマットし、セ
クタ領域には記録用ガイド溝を形成した。ガイド溝のピ
ッチは1.6μmである。基板上に保護膜、光感応性記
録膜、保護膜、反射膜をスパッタリング法により4層成
膜し、その上に保護基板を接着した。
行なった比較実験(実施例)について説明する。第1の
実施例と同様に、光ディスク1のディスク基板には、直
径130mm、厚さ0.6 mmのポリカーボネート樹脂
を用いた。この樹脂基板には、凸凹形状の位相ピットを
あらかじめアドレス情報としてプリフォーマットし、セ
クタ領域には記録用ガイド溝を形成した。ガイド溝のピ
ッチは1.6μmである。基板上に保護膜、光感応性記
録膜、保護膜、反射膜をスパッタリング法により4層成
膜し、その上に保護基板を接着した。
【0122】保護膜としてZnS-SiO2、光感応性記
録薄膜としてTe-Sb-Ge、反射膜としてAlを用いた。
そして、スピンドルモーター15によりこのディスクを
線速度6m/sで回転させ、波長680nmのレーザ光
を開口数(NA)0.6の対物レンズで集束させて記録
を行なった。
録薄膜としてTe-Sb-Ge、反射膜としてAlを用いた。
そして、スピンドルモーター15によりこのディスクを
線速度6m/sで回転させ、波長680nmのレーザ光
を開口数(NA)0.6の対物レンズで集束させて記録
を行なった。
【0123】記録再生時のレーザ光のパワーは、Pp=1
1mW、Pb=4mW、Pr=1mWとした。記録情報の変調
方式は(8,16)コードを用い、パルス幅変調で記録
を行った。クロックの周期Tは34ns、ビット長0.
4μm、最短マーク長は0.6μmとした。変調方式
は、1個のマークに対して複数のパルス列からなる光照
射を行うマルチパルス変調を適用した。セクター上に記
録するデータのフォーマットとして、最短のギャップ長
Lgが32バイト、VFO長Lvが65バイト、データ
ブロック長が2418バイト、ダミーデータ長Ldが8
2バイトのフォーマットを用い、VFOの変化量(遅延
量)Mとギャップ長の変化量(遅延量)Nを変えながら
記録実験を行った。なお、VFO信号とダミー信号のパ
ターンは、共に連続した4T信号を用いた。また、それ
ぞれの変化量に対して、ランダム反転回路75を用いた
信号反転の有無による再生信号の劣化比較をも行った。
1mW、Pb=4mW、Pr=1mWとした。記録情報の変調
方式は(8,16)コードを用い、パルス幅変調で記録
を行った。クロックの周期Tは34ns、ビット長0.
4μm、最短マーク長は0.6μmとした。変調方式
は、1個のマークに対して複数のパルス列からなる光照
射を行うマルチパルス変調を適用した。セクター上に記
録するデータのフォーマットとして、最短のギャップ長
Lgが32バイト、VFO長Lvが65バイト、データ
ブロック長が2418バイト、ダミーデータ長Ldが8
2バイトのフォーマットを用い、VFOの変化量(遅延
量)Mとギャップ長の変化量(遅延量)Nを変えながら
記録実験を行った。なお、VFO信号とダミー信号のパ
ターンは、共に連続した4T信号を用いた。また、それ
ぞれの変化量に対して、ランダム反転回路75を用いた
信号反転の有無による再生信号の劣化比較をも行った。
【0124】図34(a)および(b)に実験結果を示
す。これらのグラフにおいて、縦軸のジッターσ/Tw
(%)は、再生信号のジッター値をウィンドウ幅に対す
る標準偏差の総和で表したものである。上記の光ディス
クのセクター上に、同一のデータ信号を10万回繰り返
し記録した後のジッター値である。なお、復調の際のエ
ラー発生確率が1万分の1程度以下である条件を目安と
して、ジッター値が13%以下である条件をデータ再生
の基準とした。
す。これらのグラフにおいて、縦軸のジッターσ/Tw
(%)は、再生信号のジッター値をウィンドウ幅に対す
る標準偏差の総和で表したものである。上記の光ディス
クのセクター上に、同一のデータ信号を10万回繰り返
し記録した後のジッター値である。なお、復調の際のエ
ラー発生確率が1万分の1程度以下である条件を目安と
して、ジッター値が13%以下である条件をデータ再生
の基準とした。
【0125】図34(a)はギャップ長を固定し、VF
O長の最大変化量Mmaxを段階的に変化させながら、
その範囲内でVFO長をクロック周期T単位でランダム
に変化させて記録動作を行った場合のジッターを測定し
たものである。曲線84は信号極性のランダム反転をし
なかった場合であり、曲線85はランダム反転をした場
合である。VFO長の最大変化量Mmaxの増大に伴っ
てジッターの改善がみられる。曲線84では80T(5
バイト)程度以上でジッターが13%以下になり、曲線
85では40T(2.5バイト)程度以上でジッターが
13%以下になっている。ランダム反転記録を加えるこ
とにより、ジッターが大きく改善されデータのシフト量
を小さく設定できることがわかる。
O長の最大変化量Mmaxを段階的に変化させながら、
その範囲内でVFO長をクロック周期T単位でランダム
に変化させて記録動作を行った場合のジッターを測定し
たものである。曲線84は信号極性のランダム反転をし
なかった場合であり、曲線85はランダム反転をした場
合である。VFO長の最大変化量Mmaxの増大に伴っ
てジッターの改善がみられる。曲線84では80T(5
バイト)程度以上でジッターが13%以下になり、曲線
85では40T(2.5バイト)程度以上でジッターが
13%以下になっている。ランダム反転記録を加えるこ
とにより、ジッターが大きく改善されデータのシフト量
を小さく設定できることがわかる。
【0126】図34(b)はVFO長を固定し、ギャッ
プ長の最大変化量Nmaxを段階的に変化させながら、
記録動作を行った場合のジッターを測定したものであ
る。ジッターの測定は、VFO信号のPLLに必要な長
さが確保されるか否かチェックする観点からデータブロ
ック側の35バイトの領域で測定した。曲線86は信号
極性のランダム反転をしなかった場合であり、曲線87
はランダム反転をした場合である。図34(a)と同様
に、ギャップ長の最大変化量Nmaxの増大に伴ってジ
ッターの改善がみられる。曲線86では6T程度以上で
ジッターが13%以下になり、曲線87では2T程度以
上でジッターが13%以下になっている。この場合も、
ランダム反転記録を加えることにより、ジッターが大き
く改善されることがわかる。
プ長の最大変化量Nmaxを段階的に変化させながら、
記録動作を行った場合のジッターを測定したものであ
る。ジッターの測定は、VFO信号のPLLに必要な長
さが確保されるか否かチェックする観点からデータブロ
ック側の35バイトの領域で測定した。曲線86は信号
極性のランダム反転をしなかった場合であり、曲線87
はランダム反転をした場合である。図34(a)と同様
に、ギャップ長の最大変化量Nmaxの増大に伴ってジ
ッターの改善がみられる。曲線86では6T程度以上で
ジッターが13%以下になり、曲線87では2T程度以
上でジッターが13%以下になっている。この場合も、
ランダム反転記録を加えることにより、ジッターが大き
く改善されることがわかる。
【0127】また、図34の(a)と(b)とを比較し
てわかるように、ジッター値が13%以下である条件を
満足するために必要なギャップ長の最大変化量Nmax
は、同じく必要なVFO長の最大変化量Mmaxに比べ
て小さい値でよい。セクター上に記録するフォーマット
信号のパターンとして、VFO長の最大変化量Mmax
に対して、ギャップ長の最大変化量Nmaxを小さく設
定することにより、セクター中のデータブロックの容量
をほとんど低下することなく波形劣化を効果的に抑制す
ることができる。
てわかるように、ジッター値が13%以下である条件を
満足するために必要なギャップ長の最大変化量Nmax
は、同じく必要なVFO長の最大変化量Mmaxに比べ
て小さい値でよい。セクター上に記録するフォーマット
信号のパターンとして、VFO長の最大変化量Mmax
に対して、ギャップ長の最大変化量Nmaxを小さく設
定することにより、セクター中のデータブロックの容量
をほとんど低下することなく波形劣化を効果的に抑制す
ることができる。
【0128】記録フォーマットの一例として、図34
(a),(b)の結果に基づいて、2つの変化量の実用
的な値を見積もる。これらの値は、上記の実験結果に加
えて記録装置の特性変動、装置間の誤差、記録媒体の特
性ばらつき等によるジッターの悪化要素を補償できるよ
うに設定しなければならない。ここでは、これらの要素
を考慮して、ジッターが13%以下となる量の3倍を実
用上必要な変化量と見積もってみる。
(a),(b)の結果に基づいて、2つの変化量の実用
的な値を見積もる。これらの値は、上記の実験結果に加
えて記録装置の特性変動、装置間の誤差、記録媒体の特
性ばらつき等によるジッターの悪化要素を補償できるよ
うに設定しなければならない。ここでは、これらの要素
を考慮して、ジッターが13%以下となる量の3倍を実
用上必要な変化量と見積もってみる。
【0129】この結果、ランダム反転を行う場合はギャ
ップ長の最大変化量Nmaxは6Tとなる。バイト数で
表すと0.38バイト、端数を切り上げて1バイトとな
る。同じく、VFO長の最大変化量Mmaxは7.5バ
イト、端数を切り上げて8バイトとなる。
ップ長の最大変化量Nmaxは6Tとなる。バイト数で
表すと0.38バイト、端数を切り上げて1バイトとな
る。同じく、VFO長の最大変化量Mmaxは7.5バ
イト、端数を切り上げて8バイトとなる。
【0130】これに対してランダム反転しない場合は、
ギャップ長の最大変化量Nmaxは18Tとなる。バイ
ト数で表すと1.13バイト、端数を切り上げて2バイ
トとなる。同じく、VFO長の最大変化量Mmaxは1
5バイトとなる。これらの値を用いた記録フォーマット
を適用することにより、10万回の繰り返し後におい
て、VFO部、データブロック部を含めて再生信号に波
形歪みが無く、始端劣化および終端劣化が補償された記
録を行うことができる。
ギャップ長の最大変化量Nmaxは18Tとなる。バイ
ト数で表すと1.13バイト、端数を切り上げて2バイ
トとなる。同じく、VFO長の最大変化量Mmaxは1
5バイトとなる。これらの値を用いた記録フォーマット
を適用することにより、10万回の繰り返し後におい
て、VFO部、データブロック部を含めて再生信号に波
形歪みが無く、始端劣化および終端劣化が補償された記
録を行うことができる。
【0131】記録再生装置の構成を簡素化する観点から
は、ランダム反転回路75を省略することも可能であ
る。この場合は、ランダム反転記録を併用する場合に比
べて繰り返し記録時のジッターが大きくなるが、これを
補償するためにVFO長の最大変化量Mmaxを増大さ
せ、その分、データ容量を削減することで対応すること
ができる。
は、ランダム反転回路75を省略することも可能であ
る。この場合は、ランダム反転記録を併用する場合に比
べて繰り返し記録時のジッターが大きくなるが、これを
補償するためにVFO長の最大変化量Mmaxを増大さ
せ、その分、データ容量を削減することで対応すること
ができる。
【0132】なお、本実施形態ではダミーデータ長がL
d−Mであり、Mのランダム変化に応じてダミーデータ
長が変化するが、終端劣化の小さい媒体を用いる場合に
は、データブロック44の終端に固定長のダミーデータ
を付加するようにしてもよい。
d−Mであり、Mのランダム変化に応じてダミーデータ
長が変化するが、終端劣化の小さい媒体を用いる場合に
は、データブロック44の終端に固定長のダミーデータ
を付加するようにしてもよい。
【0133】以上のように、フォーマット記録の際のギ
ャップ長とVFO長をランダムに変化させることによ
り、同じデータを繰り返し記録した場合において、セク
ター上のトラックの同じ位置への記録を回避し、かつ、
始端終端の劣化量を補償した記録を行うことができる。
ャップ長とVFO長をランダムに変化させることによ
り、同じデータを繰り返し記録した場合において、セク
ター上のトラックの同じ位置への記録を回避し、かつ、
始端終端の劣化量を補償した記録を行うことができる。
【0134】
【発明の効果】本発明のよれば、記録容量の減少を最小
にとどめたままで、同期信号の始端で生じる記録薄膜の
劣化領域が記録データ領域にまで及ぶことを回避でき
る。それにより、類似した記録情報を繰り返し記録する
場合の記録薄膜の劣化を抑制して、書き換え可能回数を
向上させることが可能となる。
にとどめたままで、同期信号の始端で生じる記録薄膜の
劣化領域が記録データ領域にまで及ぶことを回避でき
る。それにより、類似した記録情報を繰り返し記録する
場合の記録薄膜の劣化を抑制して、書き換え可能回数を
向上させることが可能となる。
【図1】本発明の第1の実施形態に係る記録再生装置の
構成を示すブロック図
構成を示すブロック図
【図2】図1の記録再生装置が、あるセクタの記録情報
を書き換えるために行う動作を示すフローチャート
を書き換えるために行う動作を示すフローチャート
【図3】図1の記録再生装置における記録データ、反転
記録データ、レーザ光の強度変調、及び光ディスクへの
記録状態を示すタイミングチャート
記録データ、レーザ光の強度変調、及び光ディスクへの
記録状態を示すタイミングチャート
【図4】本発明の第2の実施形態に係る記録再生装置の
構成を示すブロック図
構成を示すブロック図
【図5】図4の記録再生装置においてセクタの記録情報
を書き換えるためにシステム制御回路が行う処理を示す
フローチャート
を書き換えるためにシステム制御回路が行う処理を示す
フローチャート
【図6】図4の記録再生装置におけるダミーデータ発生
回路の構成を示すブロック図
回路の構成を示すブロック図
【図7】図4の記録再生装置におけるダミーデータ発生
回路の各部の信号を示すタイミングチャート
回路の各部の信号を示すタイミングチャート
【図8】図4の記録再生装置における記録データ、レー
ザ光の強度変調、及び光ディスクへの記録状態を示すタ
イミングチャート
ザ光の強度変調、及び光ディスクへの記録状態を示すタ
イミングチャート
【図9】図4の記録再生装置の変形例における記録デー
タ、レーザ光の強度変調、及び光ディスクへの記録状態
を示すタイミングチャート
タ、レーザ光の強度変調、及び光ディスクへの記録状態
を示すタイミングチャート
【図10】図4の記録再生装置の変形例の構成を示すブ
ロック図
ロック図
【図11】図10の記録再生装置における記録データ及
びレーザ光の強度変調を示すタイミングチャート
びレーザ光の強度変調を示すタイミングチャート
【図12】図10の記録再生装置における記録データ及
びレーザ光の強度変調の変形例を示すタイミングチャー
ト
びレーザ光の強度変調の変形例を示すタイミングチャー
ト
【図13】図4の記録再生装置の他の変形例の構成を示
すブロック図
すブロック図
【図14】従来の記録再生装置の構成を示すブロック図
【図15】図14の記録再生装置による記録データ、レ
ーザ光の強度変調、及び光ディスクへの記録状態を示す
タイミングチャート
ーザ光の強度変調、及び光ディスクへの記録状態を示す
タイミングチャート
【図16】本発明の第3の実施形態に係る記録再生装置
の構成を示すブロック図
の構成を示すブロック図
【図17】光ディスクにおけるセクタの記録フォーマッ
トの構成を示す図
トの構成を示す図
【図18】図16の記録再生装置における記録タイミン
ング制御回路の構成を示すブロック図
ング制御回路の構成を示すブロック図
【図19】図18の回路部分の動作を示すタイミングチ
ャート
ャート
【図20】図16の記録再生装置によって記録される同
期信号のパターン例を示す図
期信号のパターン例を示す図
【図21】本発明の第4の実施形態に係る記録再生装置
の記録タイミング制御回路の構成を示すブロック図
の記録タイミング制御回路の構成を示すブロック図
【図22】図21の記録再生装置の構成部分の動作を示
すタイミングチャート
すタイミングチャート
【図23】図21の構成部分を備える記録再生装置によ
って記録されるダミーデータのパターン例を示す図
って記録されるダミーデータのパターン例を示す図
【図24】本発明の第5の実施形態に係る記録再生装置
の構成を示すブロック図
の構成を示すブロック図
【図25】本発明の第6の実施形態に係る記録再生装置
の構成を示すブロック図
の構成を示すブロック図
【図26】図25の記録再生装置が、あるセクタの記録
情報を書き換えるために行う動作を示すフローチャート
情報を書き換えるために行う動作を示すフローチャート
【図27】図25の記録再生装置におけるストップパル
ス位置、及び記録状態を示すタイミングチャート
ス位置、及び記録状態を示すタイミングチャート
【図28】本発明の第6の実施形態に係る光学情報記録
媒体のガイド溝の形状の一例を示す平面図
媒体のガイド溝の形状の一例を示す平面図
【図29】本発明の第6の実施形態に係る光学情報記録
媒体のプリピットの形状の一例を示す平面図
媒体のプリピットの形状の一例を示す平面図
【図30】本発明の第7の実施形態に係る記録再生装置
の構成を示すブロック図
の構成を示すブロック図
【図31】図30の記録再生装置における各部信号のタ
イミングチャート
イミングチャート
【図32】図30の記録再生装置におけるランダム遅延
回路を例示する回路図
回路を例示する回路図
【図33】図30の記録再生装置による光記録媒体の記
録フォーマットを示す図
録フォーマットを示す図
【図34】図30の記録再生装置による繰り返し記録後
の再生信号のジッター値を比較して示すグラフ
の再生信号のジッター値を比較して示すグラフ
41 ID 42 同期信号(VFO) 43 先頭識別マークDM 44 データブロック 45 ダミーブロックDMY 46 データの記録領域 47、48 GAP 2001 光ディスク 2002 光ピックアップ 2003 サーボ制御回路 2004 データ変調回路 2005 同期信号発生回路 2006 DM発生回路 2007 ダミーデータ発生回路 2008 符号化回路 2009 記録タイミング制御回路 2010 アドレス検出回路 2011 システム制御回路 2012 データ 2013 符号化命令 2014 符号化データ 2201 セクタパルス 2202 遅延回路 2203 スタートパルス 2204 遅延回路 2205 スタートパルス 2206 Dタイプ−フリップフロップ 2207 ストップパルス 2208 クロック 2209 カウンタ 2210 クロック入力 2401 最大位置ずれ量 2402 同期信号の最短長さ 2403 同期信号の最短長さ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西内 健一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 大野 鋭二 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 赤平 信夫 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5D090 AA01 BB04 CC01 DD03 DD05 EE01 EE11 FF09 FF36 GG26
Claims (3)
- 【請求項1】 光ビームの照射により光感応性記録薄膜
の状態を変化させて情報を記録する光学情報記録媒体の
記録方法であって、前記光学情報記録媒体の各セクタに
記録する記録データが、同期信号と、前記同期信号の後
に付加されたデータ先頭識別マークと、前記データ先頭
識別マークの後に付加された本来の記録データとを含
み、記録の毎に前記同期信号領域の長さを変化させて記
録することを特徴とする光学情報記録媒体の記録方法。 - 【請求項2】 光ビームの照射により光感応性記録薄膜
の状態を変化させて情報を記録する光学情報記録媒体の
記録装置であって、 前記光学情報記録媒体の各セクタに、同期信号、データ
先頭識別マーク、および本来の記録データをこの順に記
録する手段と、 前記同期信号領域の長さを記録する毎に変化させる変化
手段とを備えたことを特徴とする光学情報記録媒体の記
録装置。 - 【請求項3】 前記変化手段が、入力パルスをトリガと
して同期信号の記録を開始及び終了させる同期信号発生
回路と、前記同期信号発生回路への入力パルスにランダ
ムな時間遅れを与えるランダム選択回路とを含む請求項
2に記載の光学情報記録媒体の記録装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001204920A JP2002032917A (ja) | 1995-07-24 | 2001-07-05 | 光学的情報記録媒体の記録方法および装置 |
Applications Claiming Priority (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18753395 | 1995-07-24 | ||
JP18753495 | 1995-07-24 | ||
JP7-319248 | 1995-12-07 | ||
JP7-187534 | 1995-12-07 | ||
JP31924895 | 1995-12-07 | ||
JP7-187533 | 1995-12-07 | ||
JP2001204920A JP2002032917A (ja) | 1995-07-24 | 2001-07-05 | 光学的情報記録媒体の記録方法および装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18325096A Division JP3816583B2 (ja) | 1995-07-24 | 1996-07-12 | 光学的情報記録媒体の記録方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002032917A true JP2002032917A (ja) | 2002-01-31 |
Family
ID=27475330
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001204920A Pending JP2002032917A (ja) | 1995-07-24 | 2001-07-05 | 光学的情報記録媒体の記録方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002032917A (ja) |
-
2001
- 2001-07-05 JP JP2001204920A patent/JP2002032917A/ja active Pending
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040706 |