JP2002027501A - 3次元画像撮像装置および3次元画像撮像方法 - Google Patents

3次元画像撮像装置および3次元画像撮像方法

Info

Publication number
JP2002027501A
JP2002027501A JP2000207875A JP2000207875A JP2002027501A JP 2002027501 A JP2002027501 A JP 2002027501A JP 2000207875 A JP2000207875 A JP 2000207875A JP 2000207875 A JP2000207875 A JP 2000207875A JP 2002027501 A JP2002027501 A JP 2002027501A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
pattern
image pickup
dimensional image
imaging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000207875A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3818028B2 (ja
Inventor
Tsutomu Abe
勉 安部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Xerox Co Ltd filed Critical Fuji Xerox Co Ltd
Priority to JP2000207875A priority Critical patent/JP3818028B2/ja
Publication of JP2002027501A publication Critical patent/JP2002027501A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3818028B2 publication Critical patent/JP3818028B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Image Processing (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Input (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 パターン照射画像に基づく距離データ算出に
用いるパターン投光手段の簡易な構成を実現する3次元
画像撮像装置を提供する。 【解決手段】フォトマスクなどの透過マスクによる光学
フィルターと、パターンを投影する為の光源を構成要素
とするパターン投光手段を構成する。パターン光を不可
視領域光、例えば近赤外光とする場合は、フィルターは
赤外カット用のマスクを用い、形成パターンに対応させ
て透過率を変化させて強度分布を持たせる。本構成によ
り、レーザを用いた構成と異なり駆動系が不要なため振
動に強く、特殊な装置や制御装置がいらないために単純
な構造が実現できる。また、ハーフミラーを用いて撮像
手段と組み合わせることにより、コンパクトな撮像およ
び投光手段構成が実現される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は測定対象に対してパ
ターン光を照射することによって得られるパターン投影
像を、複数の撮像手段で異なる方向から撮像し、パター
ンの変化に基づいて距離情報を得る3次元画像撮像装置
および3次元画像撮像方法に関し、測定対象に投影する
パターンに対応させて光透過態様を変化させたパターン
を形成した光学フィルター、および光源とを備えた投光
手段を用いた3次元画像撮像装置および3次元画像撮像
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】3次元形状を取得する手法には、アクテ
ィブ手法(Active vision)とパッシブ手法(Passive v
ision)がある。アクティブ手法は、(1)レーザ光や超
音波等を発して、対象物からの反射光量や到達時間を計
測し、奥行き情報を抽出するレーザー手法や、(2)ス
リット光などの特殊なパターン光源を用いて、対象表面
パターンの幾何学的変形等の画像情報より対象形状を推
定するパターン投影方法や、(3)光学的処理によってモ
アレ縞により等高線を形成させて、3次元情報を得る方
法などがある。一方、パッシブ手法は、対象物の見え
方、光源、照明、影情報等に関する知識を利用して、一
枚の画像から3次元情報を推定する単眼立体視、三角測
量原理で各画素の奥行き情報を推定する二眼立体視等が
ある。
【0003】一般的にアクティブ手法のほうが計測精度
は高いが、投光手段の限界などにより、測定できるレン
ジが小さい場合が多い。一方、パッシブ手法は汎用的で
あり、対象に対する制約が少ない。本発明は、このアク
ティブ手法の3次元計測装置であるパターン投影法に関
するものである。
【0004】パターン投影法では、対象とする物体に基
準となるパターン光を投影し、基準となるパターン光が
投影された方向とは異なる方向から撮影を行う。撮影さ
れたパターンは、物体の形状によって変形を受けたもの
となる。観測された変形パターンと投影したパターンと
の対応づけを行うことで、物体の3次元計測を行える。
パターン投影法では、変形パターンと投影したパターン
の対応づけにおいていかに誤対応を少なくし、かつ簡便
に行うかが課題となる。そこで、様々なパターン投影の
手法(空間パターンコード化、モアレ、色符号化)が提案
されている。
【0005】代表的な空間コード化の一例として特開平
5−3327375号公報に開示されている実施例につ
いて説明する。この例では、レーザ光源とレーザ光をス
リット形に整形するレンズ系と、整形されたレーザ光を
対象物に走査して照射するスキャンニング装置と対象物
からの反射光を検出するカメラとこれらを制御する装置
からなる。
【0006】スキャンニング装置から走査されるレーザ
光によって対象物上に、レーザ光が照射された部分と照
射されていない部分とで縞模様が形成される。レーザ光
の照射を異なる複数のパターンによって行うことで対象
物上はN個の識別可能な部分に分割される。対象物を異
なる位置からカメラで撮影した画像上の各画素が分割さ
れたどの部分に含まれるかを判別することで対象物の形
状を算出できる。
【0007】解像度を高くする為には複数回のレーザに
よるスキャンを行い、複数回のカメラによる撮影が必要
となる。例えば、画面を256の領域に分割する為には
8回の撮影が必要となる。そのため動きの早い物体の撮
影は困難となり、更にスキャンを行う間は撮影系を確実
に固定しておく必要があるので装置自体は簡便となって
も手軽に撮影を行う事は難しい。
【0008】パターンの投光回数を減らす手段として特
開平3−192474号公報に開示されている色符号化
がある。色符号化においては、q、kを2以上の所定の自
然数とした時、q色以上の色を用いて、隣接する2本のス
リット光が同色にならず、隣接するk本のスリット光に
よる色の並びが1度しか現れないように符号化されたパ
ターンを投影し、観測された画像からスリットの色を検
出し、該当スリットの色並びからスリット番号を取得す
る。スリット番号から、スリットの照射方向を算出し空
間コード化の例と同様に距離を算出することができる。
【0009】しかしながら、色符号化ではコード列の並
びからコードを復元する為に、コードの復元の計算量が
大きいという問題点がある。更に、R,G,Bの3色を
用いて256の領域に分割したい場合には、コードを知
りたいスリットの周囲8本のスリット光の並びを知る必
要があり、連続してスリットが長く観測できるような形
状の物体の計測にしか適さない。
【0010】スリットの復元を容易に行い、更に1回で
コード化されたパターンを投影する手段として特許第2
565885号で公開されている空間パターンコード化
法がある。この特許では、3値以上の濃淡、又は3色以
上の色、又は濃淡と色の組み合わせによって3種類以上
の階調領域を有し、該階調領域の境界線の交点において
少なくとも3種類の階調領域が互いに接しているように
配置した多値格子板パターンを具備し、該パターンを被
測定対象物に投影して生じる投影像の交点に該交点で接
する階調の種類と順序に応じた主コードを付与し、該主
コードを、または交点の主コードとその周囲交点の主コ
ードとを組み合わせた組み合わせコードを、交点の識別
用の特徴コードとして付与したことを特徴とする。
【0011】しかし、上述の方式では撮影対象によって
はコード化が崩れてしまい正しくコードの対応づけがで
きなくなる場合がある。例えば、図21に示すように光
源によって投光されたパターン列が"12345678"であると
き、撮影対象の構造によってはカメラで撮影されるパタ
ーン列が"1267"と欠落して認識されたり、パターン列"7
58"のように反転したパターン列が得られる場合があ
る。また、対象物の形状や反射率などによっても投光し
たパターンと撮影されたパターン列の変化により対応づ
けは困難となる。
【0012】色符号化においては、復号化時にスリット
のグループ化を行う際、スリットの欠落、反転の可能性
があるパターンについては復号を行わない手法を用いて
この問題を回避している。空間パターンコード化法では
2次元パターンを用いることで、前述の誤りの可能性を
低減してはいるが、原理的には対象物によっては同じ誤
りが生じる。従って、前述の方式では、実験室内の特殊
な状況や対象物体を限定した状況での撮影では優れた精
度が得られるものの、対象を限定しない一般的な撮影状
況では精度の劣化は否めない。また、光源を用いた投光
を行う手法では、広いレンジを有するものを対象とした
時に、投光が届かない部位については3次元形状が得ら
れない。また、投光されたパターンを対象物が遮ること
で生じる影の領域も、距離の計測ができないため、実際
に見えているのに距離が得られない領域が存在してしま
う。
【0013】そこで、本出願と同一出願人に係る特願平
10−191063号、(特開2000−9442)、特
願平10−247796(特開2000−65542)で
は投光されたパターンをフィードバックし新たなコード
を生成することで対象物に依存しない3次元画像撮影装
置を提案した。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】上記の特願平10−1
91063号、(特開2000−9442)、特願平10
−247796(特開2000−65542)における3
次元画像撮影装置は、投光パターンを複数の強度や複数
の波長によって符号化されたものを投影して実現する。
その際に、投光パターンが被写体の輝度情報、素材など
の影響によって変化し、3次元形状を算出する際に、エ
ラーとなって適切な3次元形状が計測できない。そのた
めに、上記3次元撮像装置は、投光素子と同光軸に配置
をし、被写体情報による投光パターンの変化分をモニタ
し、再符号化を実施し、3次元形状を計測している。
【0015】上記構成において、符号化されたパターン
を投影する際の投影には、液晶などをつかったPCなど
のコントローラで照射パターンを制御して投影するプロ
ジェクタあるいはレーザによる投影構成を使用してい
る。レーザ光を使ったものは、ポリゴンミラーなどの駆
動系を有してしまうので、手持ちなどの振動に弱いとい
う欠点や、ビデオレート以上の高速カメラなど高速シャ
ッターが必要な物体に対してはプロジェクトパターンが
追いつかないという欠点がある。また、ポリゴンミラー
の駆動及びスリットレーザ光のコントロールをするため
の制御が必要となるといった問題があった。
【0016】本発明は、このようなパターン照射を実行
する投影手段の問題点に鑑みてなされたものであり、本
発明は、投影するパターンを、フォトマスクなどの透過
マスクと、そのパターンを投影する為の光源を使うこと
によって、軽量かつ低コストの構成を持つ3次元画像撮
像装置および3次元画像撮像方法を提供することを目的
とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の目的を
解決するものであり、その第1の側面は、測定対象に投
影するパターンに対応させて光透過態様を変化させたパ
ターンを形成した光学フィルター、および光源とを備え
た投光手段と、前記投光手段の光軸方向から投影パター
ンを撮影する第1の撮像手段と、前記投光手段の光軸方
向と異なる方向から前記投影パターンを撮影する第2の
撮像手段とを備え、前記第2の撮像手段の撮影した撮影
パターンに基づいて第1の距離情報を生成する構成を有
することを特徴とする3次元画像撮像装置にある。
【0018】さらに、本発明の3次元画像撮像装置の一
実施態様において、前記投影パターンに対する第1の撮
像手段による撮影パターンの変化量が所定値以上の領域
について、該第1の撮像手段による撮影パターンに対応
する新規コードを割り付け、前記新規コードに基づいて
第2の撮像手段による撮影パターンから前記第1の距離
情報を生成する構成を有することを特徴とする。
【0019】さらに、本発明の3次元画像撮像装置の一
実施態様において、前記投光手段は、パターン光を不可
視領域光によって形成する構成であり、前記光源は、赤
外光または紫外光を用いた不可視領域の光源であること
を特徴とする。
【0020】さらに、本発明の3次元画像撮像装置の一
実施態様において、前記投光手段を構成する光学フィル
ターは、可視領域光を透過する構成であるとともに、投
影パターンに対応させて不可視領域光の強度変化パター
ンを形成した構成であり、前記光源は、可視領域および
不可視領域の波長の双方の領域のスペクトルを有する構
成であることを特徴とする。
【0021】さらに、本発明の3次元画像撮像装置の一
実施態様において、前記投光手段を構成する光学フィル
ターは、赤外カット用のマスクの透過率を変化させて照
射パターンに対応した強度分布を持たせた構成であり、
前記光源は、可視領域および不可視領域の波長の双方の
領域のスペクトルを有する構成であることを特徴とす
る。
【0022】さらに、本発明の3次元画像撮像装置の一
実施態様において、前記投光手段の出射光と、前記第1
の撮像手段の入射光とは、共通のレンズを介して入出力
されるとともにビームスプリッタによって分離される構
成であり、前記投光手段と前記第1の撮像手段とは、そ
れぞれ光学的に同軸に配置された構成であることを特徴
とする。
【0023】さらに、本発明の3次元画像撮像装置の一
実施態様において、前記投光手段は不可視領域の光を発
生する光源を有し、前記第1の撮像手段および前記第2
の撮像手段は不可視領域の光を透過するフィルターおよ
び不可視領域の光を遮断するフィルターを有し、パター
ン投影画像と、輝度画像とを並列に撮り込む構成を有す
ることを特徴とする。
【0024】さらに、本発明の3次元画像撮像装置の一
実施態様において、前記投光手段による投影パターンに
対する第1の撮像手段による撮影パターンの変化量が所
定値未満の領域について、第1の撮像手段および第2の
撮像手段より得られた各輝度情報の対応づけにより第2
の距離情報を生成し、前記第1の距離情報、第2の距離
情報および第1または第2の撮像手段より得られた輝度
情報を用いて3次元画像を得るよう構成したことを特徴
とする。
【0025】さらに、本発明の3次元画像撮像装置の一
実施態様において、前記第2の撮像手段は、前記測定対
象を異なる角度で撮像する複数の撮像手段によって構成
され、該複数の第2の撮像手段の各々の撮影した投影パ
ターンに基づいて求められる距離情報を合成して3次元
画像を得るよう構成したことを特徴とする。
【0026】さらに、本発明の3次元画像撮像装置の一
実施態様において、前記投光手段の出射光と、前記第1
の撮像手段の入射光とは、共通のレンズを介して入出力
されるとともにビームスプリッタとして構成されるハー
フミラーによって分離される構成であり、前記投光手段
を構成する光学フィルターは、前記ハーフミラーの光源
側の面に沿って近接して配置した構成を有することを特
徴とする。
【0027】さらに、本発明の3次元画像撮像装置の一
実施態様において、前記投光手段の出射光と、前記第1
の撮像手段の入射光とは、共通のレンズを介して入出力
されるとともにビームスプリッタとして構成されるハー
フミラーによって分離される構成であり、前記投光手段
を構成する光学フィルターは、前記ハーフミラーの光源
側の面に沿って近接して配置した構成を有するととも
に、前記光源は、平板型の発光素子または蛍光体であ
り、前記光学フィルターに近接して配置された構成を有
することを特徴とする。
【0028】さらに、本発明の第2の側面は、測定対象
に投影するパターンに対応させて光透過態様を変化させ
たパターンを形成した光学フィルター、および光源とを
備えた投光手段により、パターンを測定対象に投影する
投光ステップと、前記投光手段の光軸方向から投影パタ
ーンを撮影する第1の撮像手段と、前記投光手段光軸方
向と異なる方向から前記投影パターンを撮影する第2の
撮像手段とにより、パターンの投影された測定対象を撮
影する撮像ステップと、前記第2の撮像手段の撮影した
撮影パターンに基づいて第1の距離情報を生成するステ
ップと、を有することを特徴とする3次元画像撮像方法
にある。
【0029】さらに、本発明の3次元画像撮像方法の一
実施態様において、前記投影パターンに対する第1の撮
像手段による撮影パターンの変化量が所定値以上の領域
について、該第1の撮像手段による撮影パターンに対応
する新規コードを割り付けるステップと、前記新規コー
ドに基づいて第2の撮像手段による撮影パターンから前
記第1の距離情報を生成するステップとを有することを
特徴とする。
【0030】さらに、本発明の3次元画像撮像方法の一
実施態様において、前記投光ステップは、前記光源を赤
外光または紫外光を用いた不可視領域の光源として、パ
ターン光を不可視領域光によって形成するステップであ
ることを特徴とする。
【0031】さらに、本発明の3次元画像撮像方法の一
実施態様において、前記投光ステップは、前記光源を赤
外光または紫外光を用いた不可視領域の光源として、パ
ターン光を不可視領域光によって形成するステップであ
り、前記撮像ステップは、パターン投影画像と、輝度画
像とを並列に撮り込むステップであることを特徴とす
る。
【0032】さらに、本発明の3次元画像撮像方法の一
実施態様において、前記3次元画像撮像方法は、さら
に、前記投光手段による投影パターンに対する第1の撮
像手段による撮影パターンの変化量が所定値未満の領域
について、第1の撮像手段および第2の撮像手段より得
られた各輝度情報の対応づけにより第2の距離情報を生
成し、前記第1の距離情報、第2の距離情報および第1
または第2の撮像手段より得られた輝度情報を用いて3
次元画像を得るステップを有することを特徴とする。
【0033】さらに、本発明の3次元画像撮像方法の一
実施態様において、前記3次元画像撮像方法において、
前記第2の撮像手段は、前記測定対象を異なる角度で撮
像する複数の撮像手段によって構成され、該複数の第2
の撮像手段の各々の撮影した投影パターンに基づいて求
められる距離情報を合成して3次元画像を得ることを特
徴とする。
【0034】
【発明の実施の形態】以下、図を用いて本発明の3次元
画像撮像装置および3次元画像撮像方法の実施の形態を
詳しく説明する。
【0035】まず、再コード化処理を用いた距離データ
の取得原理について説明する。再コード化処理を用いた
距離データの取得を実行する3次元画像撮像装置の構成
を表すブロック図を図1に示す。図2に光源と撮像素子
の位置関係を示す。
【0036】図2に示すように、3次元形状測定装置
は、3台のカメラ101〜103および投光器104を
備える。各カメラの距離関係が揃うように、図示の距離
I1、I2、I3は等しくされている。カメラ3,103
と投光器104は、ビームスプリッタとしてのハーフミ
ラー105を用いて光軸が一致するように配置される。
カメラ1,101、カメラ2,102は、カメラ3,1
03と投光器104の両側に、それらと光軸が異なるよ
うに配置される。中央の光軸と両側の光軸との距離が基
線長Lである。
【0037】投光器104は、光源106と、マスクパ
ターン107と、強度パターン108と、プリズム10
9とを有する。ここで光源106は、赤外もしくは紫外
光を用いた不可視領域の光源を用いることができる。こ
の場合、各カメラは図3に示すように構成される。すな
わち、入射してきた光310は、プリズム301で2方
向に分割され、一方は不可視領域(赤外あるいは紫外)
透過フィルター302を通って撮像装置(例えばCCD
カメラ)303に入射し、他方は不可視領域(赤外と紫
外)遮断フィルター304を通って撮像装置305に入
射する。
【0038】また図2に示す光源106は、可視領域あ
るいは不可視領域に限定せず、撮像可能な波長帯の光源
を用いてもよい。この場合、カメラ3,103において
は、プログレッシブスキャンタイプのCCDカメラを用
い、カメラ1,101、カメラ2,102に関しては、
特に構成はこだわらない。ただし、カメラ3,103と
の対応を考慮すれば、同じ構成のCCDカメラが望まし
い。光源106からパターンが投影され、3台のカメラ
1〜3(101〜103)が同時に撮影を行う。そして
各カメラは、フィルター304,305(図3参照)を
通過した光を撮像装置303,305で得ることによ
り、画像の一括取得を行う。
【0039】図1を用いて3次元形状測定装置の構成を
説明する。図示のように、カメラ1,101は、撮影し
て得た輝度情報を輝度値メモリ121に記憶し、撮影パ
ターンをパターン画像メモリ122に記憶する。カメラ
2,102は、同様に、輝度情報を輝度値メモリ123
に記憶し、撮影パターンをパターン画像メモリ124に
記憶する。カメラ3,103は、輝度情報を輝度値メモ
リ125に記憶し、撮影パターンをパターン画像メモリ
126に記憶する。投光器104は、事前に作成したコ
ード化されたパターンを後に参照する為に、各スリット
を正方格子上のセルに分割してフレームメモリ127に
格納している。
【0040】この記憶保持された撮影パターンおよび輝
度情報を用いて、次のようにして3次元画像を得る。以
下の操作は、カメラ1,101とカメラ3,103の組
み合わせ、カメラ2,102とカメラ3,103の組み
合わせの双方に共通なので、ここではカメラ1,101
とカメラ3,103の組み合わせを例にとって説明す
る。
【0041】図1において、領域分割部128は、カメ
ラ3,103で撮影された撮影パターンの領域分割を行
う。そして、隣り合うスリットパターン間の強度差が閾
値以下である領域については投光器からの光が届いてな
い領域1として抽出し、スリットパターン間の強度差が
閾値以上である領域については領域2として抽出する。
再コード化部129は、抽出された領域2について、パ
ターン画像メモリ126に記憶された撮影パターンとフ
レームメモリ127に格納された投影パターンを用いて
再コード化を行う。
【0042】図4は、再コード化を行う際のフローチャ
ートである。まず、各スリットパターンをスリット幅毎
に縦方向に分割し(ステップ1001)、正方形のセル
を生成する。生成された各セルについて強度の平均値を
とり、平均値を各セルの強度とする(ステップ100
2)。画像の中心から順に、投影パターン及び撮影パタ
ーンの対応する各セル間の強度を比較し、対象物の反射
率、対象物までの距離などの要因によってパターンが変
化したためにセル間の強度が閾値以上異なるかどうかを
判断する(ステップ1003)。閾値以上異ならない場
合は、撮影されたすべてのセルについて再コード化を終
了する(ステップ1007)。
【0043】閾値以上異なる場合は、新たな強度のセル
かどうか判断する(ステップ1004)。そして、新た
な強度のセルのときは、新たなコードの生成、割り付け
を行う(ステップ1005)。また、新たな強度のセル
でないときは、他に出現している部位と識別可能とする
スリットパターンの並びを用いてコード化する(ステッ
プ1006)。これで、再コード化を終了する(ステッ
プ1007)。
【0044】図5はスリットパターンのコード化の例を
示すもので、同図(a)はスリットの並びによってコー
ド化された投影パターンであり、強度としてそれぞれ3
(強)、2(中)、1(弱)が割り当てられている。同
図(b)においては、左から3つめのセルで強度が変化
して新たなコードが出現したので、新たに0というコー
ドを割り当てている。同図(c)においては、左から3
つめ上から2つめのセルに既存のコードが出現している
ので、セルの並びから新たなコードとして、縦の並びを
[232]、横の並びを[131]という具合に再コー
ド化する。この再コード化は、対象の形状が変化に富む
部位には2次元パターンなどの複雑なパターンを投光
し、変化の少ない部位には簡単なパターンを投光してい
るのに等しい。この過程を繰り返し、全てのセルに対し
て一意なコードを割り付けることで再コード化を行う。
【0045】図6は、カメラ601〜603および投光
器604を用いて、壁605の前に配置された板606
にコード化されたパターンを投光する例を示す。ここで
コード化されたパターンは、図7に示すスリットパター
ンである。このとき、カメラ601、カメラ602で得
られる画像は、図8及び図9に示すように、それぞれ板
606の影となる領域801、901が生ずる。本例で
は、板606の表面には新たにコード化されたパターン
として、図10に示すようなスリットパターンが得られ
る。
【0046】次に図1に戻って説明する。カメラ1,1
01側のコード復号部130は、パターン画像メモリ1
22から投影パターンを抽出し、上述と同様にしてセル
に分割する。そして、先に再コード化部129で再コー
ド化されたコードを用いて各セルのコードを検出し、こ
の検出したコードに基づいて光源からのスリット角θを
算出する。図11は空間コード化における距離の算出方
法を示す図であり、各画素の属するセルのスリット角θ
とカメラ1で撮影された画像上のx座標とカメラパラメ
ータである焦点距離Fと基線長Lとから、次の(数1)
によって距離Zを算出する。
【0047】
【数1】 Z=(F×L)/(x+F×tanθ) (数1)
【0048】この距離Zの算出は、カメラ2,102側
のコード復号部131においても、同様に行われる。ま
た、上述の領域1については次のようにして距離を算出
する。領域1では、投光されたパターンによるパターン
検出は行うことができないので、対応点探索部132に
おいて、カメラ1〜3の輝度値メモリ121、123、
125から読み出された輝度情報を用いて視差を検出
し、これに基づいて距離を算出する。領域1を除く領域
に対しては、前述の操作により距離が算出されているの
で、領域1の距離の最小値が得られ、また対応づけ可能
な画素も限定される。これらの制限を用いて、画素間の
対応づけを行い視差dを検出し、カメラパラメータであ
る画素サイズλを用いて、次の(数2)によって距離Z
を算出する。
【0049】
【数2】Z=(L×F)/(λ×d) (数2)
【0050】前述の手法でカメラ3,103とカメラ
1,101の組み合わせによって得られた距離情報で
は、図8に示す板の影となる領域801の距離情報が検
出できない。一方、カメラ3,103とカメラ2,10
2の組み合わせによって得られた距離情報では、図9に
示す板の影となる領域901の距離情報が検出できな
い。しかし、図8に示す板の影となる領域801の距離
情報が算出可能である。従って、図1の距離情報統合部
133において、カメラ3,103とカメラ1,101
の組で算出された距離情報およびカメラ3,103とカ
メラ2,102で算出された距離情報から、カメラ3の
画像(図12)のすべての画素に対する距離情報を取得
する。以上の操作によって得られた距離情報を、例えば
カメラ3の輝度画像に対応づけて3次元画像メモリに記
憶することで3次元画像撮像を行う。
【0051】上述したような構成により、距離データを
取得して3次元画像の生成を実行する。上述の構成の3
次元画像撮影装置は、投光パターンを複数の強度や複数
の波長によって符号化されたものを投影して実現する。
このためのパターン投影手段の具体的構成を図13に示
す。
【0052】図13に示すパターン投影手段は、光源1
301と、光源1301の光の光透過態様、すなわち、
光透過量あるいは透過率をコントロールするようなフォ
トマスクなどの透過マスクで構成される濃度分布を持っ
た光学フィルター1302によって構成される。光学フ
ィルター1302は、予め所定の濃度分布のパターン光
を透過するように構成された光学フィルターである。光
源1301からの出射光は、光学フィルター1302を
介して測定対象物に照射されて投影パターン1303が
測定対象に投影される。
【0053】このような投光手段構成において、例えば
測定対象である被写体が動く物体の場合は、光源130
1を撮影時に常時点灯することによって、任意のタイミ
ングで3次元画像生成のためのパターン画像を撮影する
ことができる。また、被写体の対象が静物の場合は、撮
影時、前後の時間も含めて光源1301を点灯させてお
くか、撮影時に同期させて光源1301を瞬間的に光ら
せることで、3次元画像生成のためのパターン画像を撮
像することができる。
【0054】なお、図13に示す投光手段構成におい
て、投光手段を構成する光学フィルター1302は、可
視領域光を透過する構成とするとともに、投影パターン
に対応させて不可視領域光の強度変化パターンを形成
し、光源1301は、可視領域および不可視領域の波長
の双方の領域のスペクトルを有する構成とすることで、
撮像手段によって撮影される輝度画像の照明手段として
も兼用できる構成とすることが可能である。
【0055】具体的には、パターン光を不可視領域光、
例えば近赤外光によって形成しようとする場合は、光学
フィルター1302は、赤外カット用のマスクの透過率
を変化させて照射パターンに対応した強度分布を持たせ
る構成とする。この場合、可視光は光学フィルター13
02を透過する。光源1301は、可視領域及び近赤外
の波長に強度を持つものを使用する。このような構成で
あれば、投光装置は、輝度画像の照明装置としても兼用
でき、暗所などにおいての測定も可能になる。
【0056】測定対象である被写体と、スリットパター
ンを形成した光学フィルターと、光学フィルターを用い
た投光手段による被写体への投光パターン照射例を図1
4に示す。図14(a)は、測定対象である被写体であ
り、図14(b)はスリットパターンを形成した光学フ
ィルター、図14(c)は光学フィルターを用いた投光
手段による被写体への投光パターン照射例である。図1
4(c)に示す照射パターンを投影した被写体を、前述
したよう、撮像手段を用いて異なる角度から撮影して、
撮影されたパターンに基づいて距離情報を取得する。
【0057】図15に光学系を中心とした本発明の3次
元画像撮像装置の構成を示す。図15の3次元画像撮像
装置において、測定対象物体1501にパターン光を照
射し、測定対象物体1501に対して異なる角度に設置
した複数のカメラ、例えばCCD等の撮像素子で、パタ
ーンの照射された画像を撮影し、画像撮り込み部で複数
画像を撮り込み、画像処理部において対応付け処理を実
行し、計算処理部で距離を算出する。これらの処理は、
図1以下を用いてすでに説明した通りである。パターン
光を投光する投光素子は、光源1511、光源1511
の光の透過量をコントロールするような濃度分布を持っ
た光学フィルター1512、レンズ光学系1513によ
って構成される。また、投光素子と同軸配置される撮像
素子は、CCD等の撮像素子1521と、レンズ光学系
1522によって構成される。投光素子から出力された
パターン光は、ビームスプリッタとしてのハーフミラー
を介して測定対象物体1501に照射され、測定対象物
のパターン照射像は、ハーフミラーを介して反射して、
撮像素子1521によって撮影される。
【0058】図15の構成例において、画像撮込部は、
3次元画像の画像処理を実行するPCに接続されている
が、制御装置、画像記憶装置、画像処理/演算装置など
を、画像撮込部と一体化した構造にしたり、また、画像
データ、光学系パラメータなどをコンパクトフラッシュ
(登録商標)などの記憶媒体に記憶し、後程、データを
PCなどの画像処理装置に転送し、距離情報の算出演算
を行う構成とすることも可能である。
【0059】図16は、光学系のみを抽出して示す構成
図である。被写体1601に対して投影装置1602に
よりパターン光を、光の透過量をコントロールするよう
な濃度分布を持った光学フィルター1612を用いて照
射し、撮像素子1603,1604により、パターン照
射のなされた像を撮影する。なお、図16においては、
カメラを2つのみ示しているが、先に説明した図1,2
の構成のように3つのカメラを配置した構成としてもよ
い。
【0060】撮像素子1603及び撮像素子1604
は,同じ構成の撮像素子で,撮像素子1603は、投影
装置1602と光学的に同軸に配置し、投影パターンを
モニタし、輝度画像を同時に取る。撮像素子1604
は、投影パターンをある基線長を隔てた地点で観測し、
撮影されるパターン投影画像に基づいて三角測量の原理
で距離画像を算出する。同時に,輝度も撮影する。
【0061】図17は、図16に示す構成における撮像
素子の詳細構成例を示すものである。撮像素子は、図1
7に示すように、レンズ1701、不可視光トリミング
フィルター1702、不可視反射ダイクロイック膜17
03、可視光トリミングフィルター1704、および2
つの撮像素子光電面1705,1706を有する。レン
ズ1701を介する入射光は、不可視光トリミングフィ
ルター1702、不可視反射ダイクロイック膜1703
によって、不可視光像が撮像素子光電面1705によっ
て撮像され、可視光像が撮像素子光電面1706によっ
て撮像される。パターン光は、赤外もしくは紫外光の不
可視光によって照射され、他の角度から撮影されたパタ
ーン照射光との対応付け用の距離情報分析データとして
用いられる。
【0062】図18は、投光素子と、投光素子と光学的
に同軸に配置される撮像素子とを組み合わせた構成を示
すものである。撮像素子は、図17と同様の構成であ
り、レンズ1801、不可視光トリミングフィルター1
802、不可視反射ダイクロイック膜1803、可視光
トリミングフィルター1804、および2つの撮像素子
光電面1805,1806を有する。レンズ1801を
介する入射光は、不可視光トリミングフィルター180
2、不可視反射ダイクロイック膜1803によって、不
可視光像が撮像素子光電面1805によって撮像され、
可視光像が撮像素子光電面1806によって撮像され
る。パターン光は、赤外光源1811、光学的フィルタ
ー1812を介して照射される。なお、パターン光は、
紫外光の不可視光によって照射する構成としてもよい。
【0063】赤外光源1811、光学的フィルター18
12によって構成される投光手段の出射光と、前記撮像
手段の入射光とは、ビームスプリッタとしてのハーフミ
ラー1813によって分離され、投光手段と撮像手段と
は、それぞれが光学的に同軸となるように配置される。
【0064】さらに、図19にビームスプリッタとして
のハーフミラーと、投光パターン形成用の光学フィルタ
ーを一体化あるいは近接させて構成した光学系の構成を
示す。
【0065】被写体1901に対して光源1902から
発せられた光は、ビームスプリッタとしてのハーフミラ
ー1921の手前に一体化して貼りつけられた、あるい
は近接して配置された光の透過量をコントロールするよ
うな濃度分布を持った光学フィルター1922を通過
し、さらにハーフミラー1921を通過することによっ
て、被写体1901に投影パターンを形成する。
【0066】投影パターンの投影された被写体1901
の像は、光源1902と光学的に同軸の被写体像を撮影
する撮像素子1,1903と、撮像素子1,1903と
は異なる方向から被写体像を撮影する撮像素子1,19
04により撮影される。なお、図19においては、カメ
ラを2つのみ示しているが、先に説明した図1,2の構
成のように3つのカメラを配置した構成としてもよい。
【0067】撮像素子1903は、光源1902および
光学フィルター1922により構成される投影装置と光
学的に同軸に配置し、投影パターンをモニタし、輝度画
像を同時に取る。撮像素子1904は、投影パターンを
ある基線長を隔てた地点で観測し、撮影されるパターン
投影画像に基づいて三角測量の原理で距離画像を算出す
る。同時に,輝度も撮影する。
【0068】図19の構成は、ビームスプリッタとして
のハーフミラー1921と、光学フィルター1922と
を近接してまとめた構成であり、このようにハーフミラ
ー背面にパターンを形成した光学フィルターを形成する
ことによりコンパクトな構成が可能となり、投光手段お
よび撮影手段を含めた光学系全体の大きさの小型化を図
ることができる。
【0069】ビームスプリッタと光学フィルターの小型
化構成の例を図20に示す。図20(a)は、図19を
用いて説明したと同様の構成であり、ビームスプリッタ
としてのハーフミラー2001背面にパターンを形成し
た光学フィルター2002を形成し、光源2003から
の光を光学フィルター2002およびハーフミラー20
01を介して被写体に投影する構成である。すなわち、
光学フィルターをハーフミラーの光源側の面に沿って近
接して配置した構成である。
【0070】図20(b)は、ビームスプリッタとして
のハーフミラー2001背面にパターンを形成した光学
フィルター2002を形成し、さらにEL(electric L
uminescence)素子、あるいは薄形の蛍光灯のような平
板型の光源を使用した構成であり、平板型の光源200
4を光学フィルター2002の側面に沿って設置した構
成を持つ、光源2004からの光は光学フィルター20
02およびハーフミラー2001を介して被写体に投影
される。図20(b)の構成ではビームスプリッタ、光
学フィルター、光源を一体化して構成することが可能と
なり、さらなる小型化が実現される。
【0071】以上、特定の実施例を参照しながら、本発
明について詳解してきた。しかしながら、本発明の要旨
を逸脱しない範囲で当業者が該実施例の修正や代用を成
し得ることは自明である。すなわち、例示という形態で
本発明を開示してきたのであり、限定的に解釈されるべ
きではない。本発明の要旨を判断するためには、冒頭に
記載した特許請求の範囲の欄を参酌すべきである。
【0072】
【発明の効果】以上、述べたように、本発明の3次元画
像撮像装置および3次元画像撮像方法は、投影するパタ
ーンを、フォトマスクなどの透過マスクと、そのパター
ンを投影する為の光源を使うことによって、軽量かつ低
コストの構成を持つ3次元画像撮像装置および3次元画
像撮像方法が実現される。駆動装置や制御装置がいらな
いために小型化および簡易構造とした投光手段構成とす
ることができる。レーザー等によるパターン形成を行な
う投光手段構成と異なり、駆動系が必要とならないため
に振動などに強く、例えば携帯型の撮像装置として使用
する場合に適した構成である。
【0073】さらに、本発明の3次元画像撮像装置およ
び3次元画像撮像方法によれば、ハーフミラーを用い
て、投光手段の投光パターン照射光と、パターン照射さ
れた被写体の撮影像に対応する入射光を分離する構成と
することにより、投光手段と撮像手段とを組み合わせる
構成が実現され、コンパクトな撮像および投光手段構成
が実現される。
【0074】さらに、本発明の3次元画像撮像装置およ
び3次元画像撮像方法によれば、ハーフミラー、光学フ
ィルターを一体化する構成としたことにより投光手段と
撮像手段とを組み合わせた小型の撮像および投光手段構
成が実現される。さらに、平板型の光源を組み合わせる
ことにより、一層の小型化が実現される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の3次元画像撮像装置において使用され
る3次元形状計測装置の構成例を示すブロック図であ
る。
【図2】本発明の3次元画像撮像装置において使用され
る3次元形状計測装置のカメラ構成例を示すブロック図
である。
【図3】本発明の3次元画像撮像装置において使用され
る3次元形状計測装置の撮像構成を説明する図である。
【図4】本発明の3次元画像撮像装置において使用され
る3次元形状計測装置の処理フローを示す図である。
【図5】本発明の3次元画像撮像装置において使用され
る3次元形状計測装置の投影パターンのコード化の例を
示す図である。
【図6】本発明の3次元画像撮像装置において使用され
る3次元形状計測装置の撮影構成例を示す図である。
【図7】本発明の3次元画像撮像装置において使用され
る3次元形状計測装置の投影パターン例を示す図であ
る。
【図8】本発明の3次元画像撮像装置において使用され
る3次元形状計測装置のカメラ1で撮影されるスリット
パターンの例を示す図である。
【図9】本発明の3次元画像撮像装置において使用され
る3次元形状計測装置のカメラ2で撮影されるスリット
パターンの例を示す図である。
【図10】本発明の3次元画像撮像装置において使用さ
れる3次元形状計測装置において新たにコード化された
スリットパターンの例を示す図である。
【図11】本発明の3次元画像撮像装置において使用さ
れる3次元形状計測装置の空間コード化法による距離算
出法を示す図である。
【図12】本発明の3次元画像撮像装置において使用さ
れる3次元形状計測装置のカメラ3で撮影されるスリッ
トパターンの例を示す図である。
【図13】本発明の3次元画像撮像装置における光学フ
ィルターを適用した投光手段構成を示す図である。
【図14】本発明の3次元画像撮像装置における光学フ
ィルターおよび測定対象物の具体例を説明する図であ
る。
【図15】本発明の3次元画像撮像装置における撮像素
子、投光素子の画角の一致構成例を示す図である。
【図16】本発明の3次元画像撮像装置における撮像素
子、投光素子の画角の一致構成を光学系を中心として示
す図である。
【図17】本発明の3次元画像撮像装置における撮像素
子の構成例を示す図である。
【図18】本発明の3次元画像撮像装置における投光素
子と撮像素子の組み合わせ構成例を示す図である。
【図19】本発明の3次元画像撮像装置における投光素
子と撮像素子の小型化を実現する構成例を示す図であ
る。
【図20】本発明の3次元画像撮像装置における投光素
子と撮像素子の小型化を実現する構成例をす図である。
【図21】空間コード化法によるコードの転写、途切れ
の例を説明する図である。
【符号の説明】 101 カメラ1 102 カメラ2 103 カメラ3 104 投光器 105 ハーフミラー 106 光源 107 マスクパターン 108 強度パターン 109 プリズム 121,123,125 輝度値メモリ 122,124,126 パターン画像メモリ 127 フレームメモリ 128 領域分割部 129 再コード化部 130,131 コード復号部 133 距離情報の統合部 134 3次元メモリ 301 プリズム 302,304 透過フィルタ 303,305 撮像装置 601,602,603 カメラ 604 投光器 605 壁 606 板 801,901 影領域 1511 光源 1512 光学フィルター 1513 レンズ 1521 撮像素子 1522 レンズ 1602 投影装置 1603,1604 撮像素子 1612 光学フィルター 1701 レンズ 1702 不可視光トリミングフィルター 1703 不可視反射ダイクロイック膜 1704 可視光トリミングフィルター 1705,1706 撮像素子光電面 1801 レンズ 1802 不可視光トリミングフィルター 1803 不可視反射ダイクロイック膜 1804 可視光トリミングフィルター 1805,1806 撮像素子光電面 1811 赤外光源 1812 光学フィルター 1813 ハーフミラー 1901 被写体 1902 光源 1903,1904 撮像素子 1921 ハーフミラー 1922 光学フィルター 2001 ハーフミラー 2002 光学フィルター 2003,2004 光源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G06T 1/00 420 G01B 11/24 E N Fターム(参考) 2F065 AA53 BB05 DD02 FF01 FF07 GG23 HH07 HH13 JJ03 JJ05 JJ08 JJ26 LL00 LL20 LL22 LL25 LL26 LL46 NN03 PP22 QQ03 QQ23 QQ24 QQ25 QQ38 QQ42 SS13 UU05 UU07 5B047 AA07 AB02 BB06 BC05 BC09 BC11 CB08 CB22 DC09 5B057 AA20 BA02 CA13 CB12 CC01 DB03 DB09 DC03 5C061 AA20 AA23 AB06 AB08

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】測定対象に投影するパターンに対応させて
    光透過態様を変化させたパターンを形成した光学フィル
    ター、および光源とを備えた投光手段と、 前記投光手段の光軸方向から投影パターンを撮影する第
    1の撮像手段と、 前記投光手段の光軸方向と異なる方向から前記投影パタ
    ーンを撮影する第2の撮像手段とを備え、 前記第2の撮像手段の撮影した撮影パターンに基づいて
    第1の距離情報を生成する構成を有することを特徴とす
    る3次元画像撮像装置。
  2. 【請求項2】前記投影パターンに対する第1の撮像手段
    による撮影パターンの変化量が所定値以上の領域につい
    て、該第1の撮像手段による撮影パターンに対応する新
    規コードを割り付け、前記新規コードに基づいて第2の
    撮像手段による撮影パターンから前記第1の距離情報を
    生成する構成を有することを特徴とする請求項1に記載
    の3次元画像撮像装置。
  3. 【請求項3】前記投光手段は、 パターン光を不可視領域光によって形成する構成であ
    り、前記光源は、赤外光または紫外光を用いた不可視領
    域の光源であることを特徴とする請求項1または2に記
    載の3次元画像撮像装置。
  4. 【請求項4】前記投光手段を構成する光学フィルター
    は、 可視領域光を透過する構成であるとともに、投影パター
    ンに対応させて不可視領域光の強度変化パターンを形成
    した構成であり、 前記光源は、可視領域および不可視領域の波長の双方の
    領域のスペクトルを有する構成であることを特徴とする
    請求項1または2に記載の3次元画像撮像装置。
  5. 【請求項5】前記投光手段を構成する光学フィルター
    は、 赤外カット用のマスクの透過率を変化させて照射パター
    ンに対応した強度分布を持たせた構成であり、 前記光源は、可視領域および不可視領域の波長の双方の
    領域のスペクトルを有する構成であることを特徴とする
    請求項1または2に記載の3次元画像撮像装置。
  6. 【請求項6】前記投光手段の出射光と、前記第1の撮像
    手段の入射光とは、共通のレンズを介して入出力される
    とともにビームスプリッタによって分離される構成であ
    り、前記投光手段と前記第1の撮像手段とは、それぞれ
    光学的に同軸に配置された構成であることを特徴とする
    請求項1または2に記載の3次元画像撮像装置。
  7. 【請求項7】前記投光手段は不可視領域の光を発生する
    光源を有し、 前記第1の撮像手段および前記第2の撮像手段は不可視
    領域の光を透過するフィルターおよび不可視領域の光を
    遮断するフィルターを有し、パターン投影画像と、輝度
    画像とを並列に撮り込む構成を有することを特徴とする
    請求項1または2に記載の3次元画像撮像装置。
  8. 【請求項8】前記投光手段による投影パターンに対する
    第1の撮像手段による撮影パターンの変化量が所定値未
    満の領域について、第1の撮像手段および第2の撮像手
    段より得られた各輝度情報の対応づけにより第2の距離
    情報を生成し、前記第1の距離情報、第2の距離情報お
    よび第1または第2の撮像手段より得られた輝度情報を
    用いて3次元画像を得るよう構成したことを特徴とする
    請求項1または2に記載の3次元画像撮像装置。
  9. 【請求項9】前記第2の撮像手段は、前記測定対象を異
    なる角度で撮像する複数の撮像手段によって構成され、
    該複数の第2の撮像手段の各々の撮影した投影パターン
    に基づいて求められる距離情報を合成して3次元画像を
    得るよう構成したことを特徴とする請求項1または2に
    記載の3次元画像撮像装置。
  10. 【請求項10】前記投光手段の出射光と、前記第1の撮
    像手段の入射光とは、共通のレンズを介して入出力され
    るとともにビームスプリッタとして構成されるハーフミ
    ラーによって分離される構成であり、前記投光手段を構
    成する光学フィルターは、前記ハーフミラーの光源側の
    面に沿って近接して配置した構成を有することを特徴と
    する請求項1または2に記載の3次元画像撮像装置。
  11. 【請求項11】前記投光手段の出射光と、前記第1の撮
    像手段の入射光とは、共通のレンズを介して入出力され
    るとともにビームスプリッタとして構成されるハーフミ
    ラーによって分離される構成であり、前記投光手段を構
    成する光学フィルターは、前記ハーフミラーの光源側の
    面に沿って近接して配置した構成を有するとともに、前
    記光源は、平板型の発光素子または蛍光体であり、前記
    光学フィルターに近接して配置された構成を有すること
    を特徴とする請求項1または2に記載の3次元画像撮像
    装置。
  12. 【請求項12】測定対象に投影するパターンに対応させ
    て光透過態様を変化させたパターンを形成した光学フィ
    ルター、および光源とを備えた投光手段により、パター
    ンを測定対象に投影する投光ステップと、 前記投光手段の光軸方向から投影パターンを撮影する第
    1の撮像手段と、前記投光手段光軸方向と異なる方向か
    ら前記投影パターンを撮影する第2の撮像手段とによ
    り、パターンの投影された測定対象を撮影する撮像ステ
    ップと、 前記第2の撮像手段の撮影した撮影パターンに基づいて
    第1の距離情報を生成するステップと、を有することを
    特徴とする3次元画像撮像方法。
  13. 【請求項13】前記3次元画像撮像方法は、さらに、 前記投影パターンに対する第1の撮像手段による撮影パ
    ターンの変化量が所定値以上の領域について、該第1の
    撮像手段による撮影パターンに対応する新規コードを割
    り付けるステップと、 前記新規コードに基づいて第2の撮像手段による撮影パ
    ターンから前記第1の距離情報を生成するステップと、 を有することを特徴とする請求項12に記載の3次元画
    像撮像方法。
  14. 【請求項14】前記投光ステップは、 前記光源を赤外光または紫外光を用いた不可視領域の光
    源として、パターン光を不可視領域光によって形成する
    ステップであることを特徴とする請求項12または13
    に記載の3次元画像撮像方法。
  15. 【請求項15】前記投光ステップは、 前記光源を赤外光または紫外光を用いた不可視領域の光
    源として、パターン光を不可視領域光によって形成する
    ステップであり、 前記撮像ステップは、 パターン投影画像と、輝度画像とを並列に撮り込むステ
    ップであることを特徴とする請求項12または13に記
    載の3次元画像撮像方法。
  16. 【請求項16】前記3次元画像撮像方法は、さらに、 前記投光手段による投影パターンに対する第1の撮像手
    段による撮影パターンの変化量が所定値未満の領域につ
    いて、第1の撮像手段および第2の撮像手段より得られ
    た各輝度情報の対応づけにより第2の距離情報を生成
    し、前記第1の距離情報、第2の距離情報および第1ま
    たは第2の撮像手段より得られた輝度情報を用いて3次
    元画像を得るステップを有することを特徴とする請求項
    12または13に記載の3次元画像撮像方法。
  17. 【請求項17】前記3次元画像撮像方法において、 前記第2の撮像手段は、前記測定対象を異なる角度で撮
    像する複数の撮像手段によって構成され、該複数の第2
    の撮像手段の各々の撮影した投影パターンに基づいて求
    められる距離情報を合成して3次元画像を得ることを特
    徴とする請求項12または13に記載の3次元画像撮像
    方法。
JP2000207875A 2000-07-10 2000-07-10 3次元画像撮像装置および3次元画像撮像方法 Expired - Fee Related JP3818028B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000207875A JP3818028B2 (ja) 2000-07-10 2000-07-10 3次元画像撮像装置および3次元画像撮像方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000207875A JP3818028B2 (ja) 2000-07-10 2000-07-10 3次元画像撮像装置および3次元画像撮像方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002027501A true JP2002027501A (ja) 2002-01-25
JP3818028B2 JP3818028B2 (ja) 2006-09-06

Family

ID=18704564

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000207875A Expired - Fee Related JP3818028B2 (ja) 2000-07-10 2000-07-10 3次元画像撮像装置および3次元画像撮像方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3818028B2 (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003307678A (ja) * 2002-04-12 2003-10-31 Jai Corporation 複合プリズム光学系を有する撮像装置
JP2006308323A (ja) * 2005-04-26 2006-11-09 Teruaki Yogo 3次元形状測定方法
JP2007051893A (ja) * 2005-08-16 2007-03-01 Ricoh Co Ltd 三次元形状計測方法及び三次元形状計測装置
JP2012122975A (ja) * 2010-12-10 2012-06-28 Maxell Finetech Ltd 光学式距離計測装置、光学式距離計測装置の距離計測方法および距離計測用プログラム
CN102575930A (zh) * 2010-07-23 2012-07-11 丰田自动车株式会社 距离测定装置以及距离测定方法
DE112010005757T5 (de) 2010-07-23 2013-07-04 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Abstandsmessvorrichtung und Abstandsmessverfahren
JP2015165249A (ja) * 2015-06-25 2015-09-17 株式会社Screenホールディングス 試料保持プレート、撮像装置および撮像方法
JP2017067758A (ja) * 2015-09-28 2017-04-06 株式会社リコー システム
WO2021187316A1 (ja) * 2020-03-17 2021-09-23 ミネベアミツミ株式会社 対象物3次元データ測定方法、対象物3次元データ測定装置、学習データ生成方法および学習データ生成装置
CN114166149A (zh) * 2020-09-10 2022-03-11 精工爱普生株式会社 三维形状测量方法以及三维形状测量装置
JP7474083B2 (ja) 2020-03-17 2024-04-24 ミネベアミツミ株式会社 対象物3次元データ測定方法、学習データ生成方法および学習データ生成装置

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4502104B2 (ja) * 2002-04-12 2010-07-14 株式会社ジェイエイアイコーポレーション 複合プリズム光学系を有する撮像装置
JP2003307678A (ja) * 2002-04-12 2003-10-31 Jai Corporation 複合プリズム光学系を有する撮像装置
JP2006308323A (ja) * 2005-04-26 2006-11-09 Teruaki Yogo 3次元形状測定方法
JP2007051893A (ja) * 2005-08-16 2007-03-01 Ricoh Co Ltd 三次元形状計測方法及び三次元形状計測装置
US9451213B2 (en) 2010-07-23 2016-09-20 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Distance measuring apparatus and distance measuring method
CN102575930A (zh) * 2010-07-23 2012-07-11 丰田自动车株式会社 距离测定装置以及距离测定方法
DE112010005765T5 (de) 2010-07-23 2013-05-08 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Abstandsmessvorrichtung und Abstandsmessverfahren
DE112010005757T5 (de) 2010-07-23 2013-07-04 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Abstandsmessvorrichtung und Abstandsmessverfahren
CN102575930B (zh) * 2010-07-23 2014-10-01 丰田自动车株式会社 距离测定装置以及距离测定方法
JP2012122975A (ja) * 2010-12-10 2012-06-28 Maxell Finetech Ltd 光学式距離計測装置、光学式距離計測装置の距離計測方法および距離計測用プログラム
JP2015165249A (ja) * 2015-06-25 2015-09-17 株式会社Screenホールディングス 試料保持プレート、撮像装置および撮像方法
JP2017067758A (ja) * 2015-09-28 2017-04-06 株式会社リコー システム
US10737391B2 (en) 2015-09-28 2020-08-11 Ricoh Company, Ltd. System for capturing an image
WO2021187316A1 (ja) * 2020-03-17 2021-09-23 ミネベアミツミ株式会社 対象物3次元データ測定方法、対象物3次元データ測定装置、学習データ生成方法および学習データ生成装置
JP7474083B2 (ja) 2020-03-17 2024-04-24 ミネベアミツミ株式会社 対象物3次元データ測定方法、学習データ生成方法および学習データ生成装置
CN114166149A (zh) * 2020-09-10 2022-03-11 精工爱普生株式会社 三维形状测量方法以及三维形状测量装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3818028B2 (ja) 2006-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10902668B2 (en) 3D geometric modeling and 3D video content creation
JP3714063B2 (ja) 3次元形状計測装置
US10088296B2 (en) Method for optically measuring three-dimensional coordinates and calibration of a three-dimensional measuring device
JP3482990B2 (ja) 3次元画像撮影装置
US7075625B2 (en) Range finder and method
US10782126B2 (en) Three-dimensional scanning method containing multiple lasers with different wavelengths and scanner
US20040125205A1 (en) System and a method for high speed three-dimensional imaging
GB2547094A (en) Calibration plate and method for calibrating a 3D measurement device
JP2002213931A (ja) 3次元形状計測装置および3次元形状計測方法
JP2009300268A (ja) 3次元情報検出装置
EP3524929B1 (en) Projection system
CN108592886B (zh) 图像采集设备和图像采集方法
JP2004239886A (ja) 三次元画像撮像装置および方法
KR20130027671A (ko) 깊이 정보 획득장치 및 이를 포함하는 3차원 정보 획득 시스템
JP3818028B2 (ja) 3次元画像撮像装置および3次元画像撮像方法
JP3384329B2 (ja) 3次元画像撮影装置
JPH05332737A (ja) 形状計測装置
CN112710253A (zh) 三维扫描仪和三维扫描方法
JP2004110804A (ja) 3次元画像撮影装置及び方法
CN208536839U (zh) 图像采集设备
AU2013308155B2 (en) Method for description of object points of the object space and connection for its implementation
JP3852285B2 (ja) 3次元形状計測装置および3次元形状計測方法
JP2002013918A (ja) 3次元画像生成装置および3次元画像生成方法
JP3932776B2 (ja) 3次元画像生成装置および3次元画像生成方法
JP2002107129A (ja) 3次元画像撮像装置および3次元画像撮像方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040212

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060221

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060417

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060523

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060605

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees