JP2002025213A - Method for manufacturing wireless suspension blank - Google Patents

Method for manufacturing wireless suspension blank

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JP2002025213A
JP2002025213A JP2000206193A JP2000206193A JP2002025213A JP 2002025213 A JP2002025213 A JP 2002025213A JP 2000206193 A JP2000206193 A JP 2000206193A JP 2000206193 A JP2000206193 A JP 2000206193A JP 2002025213 A JP2002025213 A JP 2002025213A
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JP
Japan
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layer
insulating layer
laminate
manufacturing
wireless suspension
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Application number
JP2000206193A
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Japanese (ja)
Inventor
Katsuya Sakayori
勝哉 坂寄
Shigeki Kono
茂樹 河野
Hiroko Amazaki
裕子 甘崎
Kazuo Umeda
和夫 梅田
Masaru Sasaki
賢 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a wireless suspension blank which can be worked with high accuracy at a low cost. SOLUTION: In the method for manufacturing the wire suspension blank by using a laminate of three-layered composition laminated with a conductive layer 3 through an electrically insulating layer 2 on a metallic layer 1 for developing a spring characteristic, the laminate of which the insulating layer 2 is formed of a core insulating layer and adhesive layers laminated on both surfaces thereof and in which the ratio of the respective layers of the insulating layers 2 having a high etching rate and a low etching rate ranges from 6:1 to 1:1 is used. The method described above includes a process step of working the metallic layer 1 and the conductive layer 3 respectively by a photoetching method and a process step of working the insulating layer 2 by forming resist images in order to work the insulating layers and wet etching according to the resist images. The process step of working the metallic layer and the conductive layer by the photoetching method is included and the insulating layer 2 is worked by the wet etching.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、データストレージ
機器であるハードディスクドライブ(以下、HDDと記
す)等で用いるワイヤレスサスペンションブランクを製
造する技術の分野に属する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention belongs to the field of technology for manufacturing a wireless suspension blank used in a data storage device such as a hard disk drive (hereinafter referred to as an HDD).

【0002】[0002]

【従来の技術】この種の電子部品用部材の製造方法に関
する従来の技術として、特開2000−49195に記
載のものがある。この文献には、HDD用のワイヤレス
サスペンションブランクの製造方法について具体的な記
載はないが、以下に示す如き電子部品用部材の製造方法
が開示されている。
2. Description of the Related Art Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-49195 discloses a conventional technique relating to a method of manufacturing this kind of electronic component member. This document does not specifically describe a method for manufacturing a wireless suspension blank for an HDD, but discloses a method for manufacturing a member for an electronic component as described below.

【0003】この製造方法では、積層体として、ポリイ
ミドフィルムの両面に積層した金属箔から構成される3
層のものを用いている。そして、この製造方法は、ポリ
イミドフィルムの両面に積層した金属箔上にそれぞれレ
ジストパターンを形成し、両方の金属箔をエッチング液
にて同時にエッチング処理した後、レジストパターンを
剥離してから、片方の金属箔をマスクに利用してプラズ
マエッチングすることでポリイミドフィルムをパターニ
ングし、しかる後に、マスクに使用した金属箔を除去す
ることで、パターニングされたポリイミドフィルムとパ
ターニングされた金属箔との積層体である電子部品用部
材を得るものである。そして、この効果は、製版が一回
でよいので低コストで製造でき、しかもポリイミドフィ
ルムのパターンと金属箔のパターンとが良好な位置精度
を持って積層された高品質のものを得ることができるも
のである。
In this manufacturing method, the laminate is made of a metal foil laminated on both sides of a polyimide film.
Layers are used. And this manufacturing method forms a resist pattern on each of the metal foils laminated on both sides of the polyimide film, and after etching both metal foils simultaneously with an etchant, peeling off the resist pattern, and then removing one of the resist patterns. The polyimide film is patterned by plasma etching using the metal foil as a mask, and thereafter, by removing the metal foil used for the mask, a laminate of the patterned polyimide film and the patterned metal foil is formed. An electronic component member is obtained. And this effect can be manufactured at low cost because the plate making only needs to be performed once, and it is possible to obtain a high quality product in which the pattern of the polyimide film and the pattern of the metal foil are laminated with good positional accuracy. Things.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た方法では、3層の積層体におけるポリイミドフィルム
の両面にある金属箔に対して、エッチング液によりエッ
チングするというウェットエッチングを行っているが、
絶縁層であるポリイミドフィルムの加工は、プラズマエ
ッチング等のドライエッチングを行っているため、この
ドライエッチングによる加工コストが高価であるという
問題点がある。しかも、ポリイミドフィルムは、次に述
べるように、ドライエッチングに代わる低コストなウェ
ットエッチングが難しい。
However, in the above-described method, wet etching is performed on the metal foils on both sides of the polyimide film in the three-layer laminate by using an etchant.
The processing of the polyimide film, which is an insulating layer, is performed by dry etching such as plasma etching, so that there is a problem that the processing cost by the dry etching is high. Moreover, as described below, it is difficult to perform low-cost wet etching instead of dry etching on a polyimide film.

【0005】上記の製造方法で使用する積層体は、積層
体の反りを低減するため、金属層と絶縁層の熱膨張率を
同じにする必要がある。そのためには、絶縁層として低
膨張性のポリイミド樹脂などを用いるのが望ましい。
[0005] In the laminate used in the above-described manufacturing method, the metal layer and the insulating layer need to have the same coefficient of thermal expansion in order to reduce the warpage of the laminate. For this purpose, it is desirable to use a low-expansion polyimide resin or the like as the insulating layer.

【0006】しかしながら、低膨張性のポリイミドは一
般に熱可塑性ではないため、金属層との接着性に乏し
く、実用に耐えうるような密着力を得るのは困難であ
る。そこで、金属層に対して密着性が良好な熱可塑性の
ポリイミド系樹脂やエポキシ樹脂を、金属層と低膨張性
ポリイミドの間に接着剤層として用いることが知られて
おり、例えば、ワイヤレスサスペンションブランク用の
積層体における絶縁層の一部として用いる接着剤は、高
度の絶縁信頼性を確保する必要性から、ポリイミド系樹
脂が用いられる。ポリイミド系樹脂に接着性を持たせる
ためには、熱可塑性を与えるのが一般的ではあるが、熱
可塑性を与えるような柔軟な構造をポリイミド系樹脂の
骨格内に導入すると、耐薬品性が強くなる傾向となり、
従って、このような樹脂はウェットプロセスによるエッ
チング適性が劣る傾向となり、コア絶縁層のエッチング
レートに比べて離れたものとなる。ここでいうエッチン
グレートとはエッチングにより生じた単位時間当たりの
膜厚の減少量のことである。
However, since low expansion polyimide is generally not thermoplastic, it has poor adhesion to a metal layer, and it is difficult to obtain an adhesion that can withstand practical use. Therefore, it is known to use a thermoplastic polyimide resin or epoxy resin having good adhesion to the metal layer as an adhesive layer between the metal layer and the low-expansion polyimide. As the adhesive used as a part of the insulating layer in the laminated body for use, a polyimide resin is used because it is necessary to ensure high insulation reliability. In order to impart adhesiveness to the polyimide resin, it is common to give thermoplasticity, but if a flexible structure that gives thermoplasticity is introduced into the skeleton of the polyimide resin, the chemical resistance will be strong Tend to become
Therefore, such a resin tends to be inferior in etching suitability by a wet process, and is apart from the etching rate of the core insulating layer. The term "etching rate" as used herein refers to a decrease in film thickness per unit time caused by etching.

【0007】ところで、低膨張性ポリイミドをコア絶縁
層とし、接着性を有するポリイミドを接着剤層として、
これらの各層を組合せ積層して複数層からなる絶縁層
(例えば、接着剤層/コア絶縁層/接着剤層、接着剤層
/コア絶縁層)を構成した場合、このような絶縁層に対
してウェットプロセスによるエッチングを施すと、接着
剤層は耐薬品性が高い傾向にあるためエッチング性が劣
る傾向になるが、コア絶縁層はエッチングされやすいた
め、絶縁全体のエッチングが均一に進行せず、エッチン
グ形状が均一にならないという問題点がある。このよう
にワイヤレスサスペンションブランク用の積層体におけ
る絶縁層のコア絶縁層と接着剤層のエッチングレートを
適性なものとし、且つ接着剤層の接着性を良好なものと
することは、相反する性質であり、両立させることは困
難である。
By the way, low expansion polyimide is used as a core insulating layer, and polyimide having adhesiveness is used as an adhesive layer.
When these insulating layers are combined and laminated to form an insulating layer composed of a plurality of layers (for example, an adhesive layer / core insulating layer / adhesive layer, an adhesive layer / core insulating layer), When an etching process is performed by a wet process, the adhesive layer tends to have a low chemical resistance because of its high chemical resistance.However, since the core insulating layer is easily etched, the etching of the entire insulation does not proceed uniformly. There is a problem that the etching shape is not uniform. As described above, making the etching rates of the core insulating layer and the adhesive layer of the insulating layer in the laminated body for the wireless suspension blank appropriate and improving the adhesiveness of the adhesive layer are contradictory properties. Yes, it is difficult to achieve both.

【0008】したがって、従来のワイヤレスサスペンシ
ョンブランク用の積層体は、ウェットプロセスでのエッ
チング条件が知られておらず、ウェットエッチングして
も均一にエッチングする条件設定が困難であり、したが
ってプラズマやレーザーを用いたドライプロセスで絶縁
層のエッチングを行っているのが現状であった。
[0008] Therefore, in the conventional laminated body for a wireless suspension blank, the etching conditions in the wet process are not known, and it is difficult to set the conditions for uniform etching even in the wet etching. At present, the insulating layer is etched by the used dry process.

【0009】本発明は、上記のような背景に鑑みてなさ
れたものであり、その目的とするところは、低コスト
で、高精度な加工ができるワイヤレスサスペンションブ
ランクの製造方法を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above background, and an object of the present invention is to provide a method of manufacturing a wireless suspension blank that can be processed at a low cost and with high precision. .

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明の対象であるワイ
ヤレスサスペンションブランクを製造するような積層体
に関し、絶縁層のウェットエッチングを精度よく行うこ
とについて、本出願人は特願2000−186564号
として既に出願を行っており、その内容は次のようであ
る。すなわち、絶縁層が2層以上の樹脂層から形成され
ており、該絶縁層の各層のエッチングレートの大きいも
のと小さいものとの比が、6:1乃至1:1の範囲、好
ましくは4:1乃至1:1の範囲であれば、良好なエッ
チング形状が得られるというものである。そこで、本発
明においては、積層体における絶縁層にこのような構成
のものを用いることにより、絶縁層のウェットエッチン
グ加工に際し、良好なエッチング形状を得るようにし
た。
SUMMARY OF THE INVENTION The present applicant discloses in Japanese Patent Application No. 2000-186564 that a wet etching of an insulating layer should be performed accurately with respect to a laminate for manufacturing a wireless suspension blank which is an object of the present invention. The application has already been filed and the contents are as follows. That is, the insulating layer is formed of two or more resin layers, and the ratio of the high etching rate to the low etching rate of each layer of the insulating layer is in the range of 6: 1 to 1: 1, preferably 4: 4. In the range of 1 to 1: 1, a good etching shape can be obtained. Therefore, in the present invention, by using an insulating layer having such a configuration for the insulating layer in the laminate, a favorable etching shape is obtained when the insulating layer is wet-etched.

【0011】即ち、本発明のワイヤレスサスペンション
ブランクの製造方法は、バネ特性を発現させる金属層の
上に電気的な絶縁層を介して導電性層が積層された3層
構成の積層体を用いてワイヤレスサスペンションブラン
クを製造する方法であって、前記絶縁層がコア絶縁層と
その両面に積層された接着剤層から形成され、その絶縁
層の各層のエッチングレートの大きいものと小さいもの
との比が6:1乃至1:1の範囲、好ましくは4:1乃
至1:1の範囲にある積層体を用いており、前記金属層
と導電性層をそれぞフォトエッチング法により加工する
工程と、前記絶縁層を加工するためのレジスト画像を形
成し、当該レジスト画像に従ってウェットエッチングに
より絶縁層を加工する工程を含むことを特徴としてい
る。
That is, the method for manufacturing a wireless suspension blank of the present invention uses a three-layer laminate in which a conductive layer is laminated via an electrical insulating layer on a metal layer exhibiting spring characteristics. A method for manufacturing a wireless suspension blank, wherein the insulating layer is formed from a core insulating layer and an adhesive layer laminated on both surfaces thereof, and a ratio of a high etching rate to a low etching rate of each layer of the insulating layer is reduced. Using a laminate in the range of 6: 1 to 1: 1 and preferably in the range of 4: 1 to 1: 1; processing the metal layer and the conductive layer by photoetching, respectively; Forming a resist image for processing the insulating layer, and processing the insulating layer by wet etching according to the resist image.

【0012】そして、金属層、導電性層及びコア絶縁層
に対する接着剤層の接着強度が少なくとも300g/c
mである積層体を用いることが好ましい。
The adhesive strength of the adhesive layer to the metal layer, the conductive layer and the core insulating layer is at least 300 g / c.
It is preferable to use a laminate having m.

【0013】また、コア絶縁層と接着剤層各1層の厚み
の比が最大最大4:1である積層体を用いることが好ま
しい。
It is preferable to use a laminate in which the ratio of the thickness of the core insulating layer to the thickness of the adhesive layer is 4: 1 at the maximum.

【0014】また、絶縁層を構成する少なくとも1層が
ポリイミド樹脂である積層体を用いるか、絶縁層を構成
する全ての層がポリイミド樹脂である積層体を用いるの
が好ましい。
It is preferable to use a laminate in which at least one layer constituting the insulating layer is made of a polyimide resin, or to use a laminate in which all the layers constituting the insulating layer are made of a polyimide resin.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】図1はHDD用のワイヤレスサス
ペンションブランクの製造手順の一例を示す工程図であ
り、以下その各工程を順を折って説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a process chart showing an example of a procedure for manufacturing a wireless suspension blank for an HDD. Each of the steps will be described below in turn.

【0016】図1(a)は、HDD用のワイヤレスサス
ペンションブランクを形成するための積層体を示すもの
である。この積層体は、バネ特性を発現させる金属層1
としてのSUS(ステンレス)の上に、絶縁層2を介し
て導電性層3であるCu(銅)をラミネート法にて積層
したものである。ここで用いる絶縁層2はコア絶縁層と
その両面に積層された接着剤層とからなる。
FIG. 1A shows a laminate for forming a wireless suspension blank for an HDD. This laminate has a metal layer 1 exhibiting spring characteristics.
Is formed by laminating Cu (copper), which is a conductive layer 3, on an SUS (stainless steel) via an insulating layer 2 by a lamination method. The insulating layer 2 used here comprises a core insulating layer and an adhesive layer laminated on both surfaces thereof.

【0017】図1(b)は、金属層1上と導電性層3上
の両面に感光性材料であるドライフィルムレジスト4を
ラミネートし、その後のマスクを介しての露光と現像工
程によりドライフィルムレジスト4をパターニングした
ものである。レジストはドライフィルムレジストが好ま
しいが、カゼイン等の液状のレジストを用いてもよい。
FIG. 1B shows a state where a dry film resist 4 as a photosensitive material is laminated on both surfaces of the metal layer 1 and the conductive layer 3, and the dry film resist 4 is exposed and developed through a mask. The resist 4 is patterned. The resist is preferably a dry film resist, but a liquid resist such as casein may be used.

【0018】図1(c)は、パターニングしたドライフ
ィルムレジスト4を介して、金属層1と導電性層3をエ
ッチングした状態を示す。この場合、一般的な塩化鉄か
らなるエッチング液を使用し、片面ラッピング法によっ
て片面ごとに順番に金属層1と導電性層3とをエッチン
グする。
FIG. 1C shows a state where the metal layer 1 and the conductive layer 3 are etched through the patterned dry film resist 4. In this case, the metal layer 1 and the conductive layer 3 are etched one by one in order by a single-sided lapping method using a general etching solution composed of iron chloride.

【0019】図1(d)は、金属層1と導電性層3をエ
ッチングした後で、水酸化ナトリウムからなる剥離液で
ドライフィルムレジスト4を剥離した状態を示す。図示
のように、絶縁層2の両面に金属層1と導電性層3がパ
ターニングされた3層の積層体が得られる。
FIG. 1D shows a state in which the dry film resist 4 has been peeled off with a stripping solution composed of sodium hydroxide after the metal layer 1 and the conductive layer 3 have been etched. As shown in the figure, a three-layer laminate in which the metal layer 1 and the conductive layer 3 are patterned on both surfaces of the insulating layer 2 is obtained.

【0020】図1(e)は、絶縁層2をウェットエッチ
ングにより加工するため、パターニングされた金属層の
1の下面と導電性層3の上面との両方の面で、絶縁層2
を残す領域に絶縁層加工レジスト5を形成した状態を示
す。このためには、ディップコート法、ロールコート
法、ダイコート法またはラミネート法等により、両面に
絶縁層加工レジスト5を成膜し、所定のマスクパターン
に従って露光してから現像する。なお、絶縁層加工レジ
スト5は、レジストの露光・現像法によらず、印刷法に
より形成してもよい。
FIG. 1E shows that the insulating layer 2 is processed by wet etching, so that the insulating layer 2 is formed on both the lower surface of the patterned metal layer 1 and the upper surface of the conductive layer 3.
Shows a state in which an insulating layer processing resist 5 is formed in a region where a mark is left. For this purpose, a resist 5 for processing an insulating layer is formed on both sides by dip coating, roll coating, die coating, laminating, or the like, and is exposed and developed according to a predetermined mask pattern. The insulating layer processing resist 5 may be formed by a printing method instead of the resist exposure / development method.

【0021】図1(f)は、ウェットエッチングを行っ
て絶縁層2を加工した状態を示す。パターニングされた
積層体に対して片面毎にウェットエッチングによる加工
を行ってもよいし、両面同時にウェットエッチングによ
る加工を行ってもよい。ここで、片面毎にウェットエッ
チングする場合は、エッチングされた絶縁層の断面形状
が綺麗に仕上がる効果があり、両面同時にウェットエッ
チングする場合は、加工時間を短縮できる効果がある。
FIG. 1F shows a state in which the insulating layer 2 has been processed by wet etching. The patterned laminate may be processed by wet etching on each side, or may be processed by wet etching on both sides simultaneously. Here, when wet etching is performed on each side, there is an effect that the cross-sectional shape of the etched insulating layer is finished finely, and when wet etching is performed on both sides simultaneously, there is an effect that the processing time can be shortened.

【0022】図1(g)は、ウェットエッチングのマス
ク材として使用した絶縁層加工レジスト5を剥離して絶
縁層2の加工を終了した状態を示す。この剥離工程で
は、50〜70℃の水酸化ナトリウム1〜20wt%の
高温アルカリ溶液での剥離が一般的であるが、使用する
ポリイミド等がアルカリ耐性に乏しい場合は、エタノー
ルアミン等の有機アルカリを使用するとよい。
FIG. 1G shows a state in which the processing of the insulating layer 2 is completed by removing the insulating layer processing resist 5 used as a mask material for wet etching. In this stripping step, stripping with a high-temperature alkali solution of 1 to 20% by weight of sodium hydroxide at 50 to 70 ° C. is generally performed. However, when the polyimide or the like used has poor alkali resistance, an organic alkali such as ethanolamine is removed. Good to use.

【0023】最後に図示していないが、上記の方法によ
り形成されたフレキシブル基板からなるジンバルサスペ
ンションの配線部上にはメッキレジストが形成され、そ
のメッキレジストから露出した導電性配線部上にAuメ
ッキが施され、さらにこの配線部の必要な箇所に保護層
としてカバーレイヤが形成される。Auメッキは、図示
しない磁気ヘッドスライダとサスペンションの電気的接
続とサスペンションから制御側への電気的接続のための
表面処理であり、Auメッキが好ましいがそれに限った
ものではない。Ni/Auメッキでもよいし、半田メッ
キもしくは印刷等で代用されることもある。例えば、N
iメッキを行う場合は、光沢浴、無光沢浴、半光沢浴を
選択できる。
Finally, although not shown, a plating resist is formed on the wiring portion of the gimbal suspension made of the flexible substrate formed by the above method, and the Au plating is formed on the conductive wiring portion exposed from the plating resist. Is formed, and a cover layer is formed as a protective layer at a necessary portion of the wiring portion. Au plating is a surface treatment for electrical connection between the magnetic head slider and the suspension (not shown) and electrical connection from the suspension to the control side, and Au plating is preferable, but not limited thereto. Ni / Au plating may be used, or solder plating or printing may be used instead. For example, N
When performing i-plating, a gloss bath, a matte bath, and a semi-gloss bath can be selected.

【0024】以上説明したように、図1に示す手順によ
り、HDD用のワイヤレスサスペンションブランクの製
造が完了する。その後、図示はしていないが、最終的に
機械加工等のアッセンブリ加工を行い、HDD用のワイ
ヤレスサスペンションが完成する。
As described above, the manufacture of the HDD wireless suspension blank is completed by the procedure shown in FIG. Thereafter, although not shown, assembly processing such as mechanical processing is finally performed to complete the wireless suspension for the HDD.

【0025】[0025]

【実施例】(実施例1)コア絶縁層として厚さ12.5
μmのポリイミドフィルム(鐘淵化学株式会社製「AP
IKAL NPI」)を使用し、接着剤層としてポリイ
ミドワニス(新日本理化株式会社製「EN−20」)を
乾燥後の膜厚が2.5±0.3μmになるように両面に
成膜して接着剤層付きフィルム(絶縁層)とした。そし
て、この接着剤層付きフィルムを、厚み20mmのSU
S(新日本製鉄製「304HTA箔」)と、厚み18μ
mの銅合金箔(オーリン社製「C7025」)に挟み
(銅箔の粗面をフィルム側に向ける)、1MPaの圧力
をかけ、300℃で10分間、真空圧着して、金属層:
絶縁層:導電性層の積層体を形成した。
EXAMPLES (Example 1) A core insulating layer having a thickness of 12.5
μm polyimide film (Kanebuchi Chemical Co., Ltd. “AP
IKAL NPI ”), and a polyimide varnish (“ EN-20 ”manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd.) was formed as an adhesive layer on both sides such that the film thickness after drying was 2.5 ± 0.3 μm. To form a film with an adhesive layer (insulating layer). Then, the film with the adhesive layer is made of SU having a thickness of 20 mm.
S (Nippon Steel “304HTA foil”) and thickness 18μ
m copper alloy foil ("C7025" manufactured by Ohlin Co., Ltd.) (the rough surface of the copper foil is turned to the film side), a pressure of 1 MPa is applied, and vacuum pressing is performed at 300 ° C. for 10 minutes to form a metal layer:
Insulating layer: A laminate of conductive layers was formed.

【0026】ここで、絶縁層におけるコア絶縁層と接着
剤層のエッチングレートは、アルカリ−アミン系ポリイ
ミドエッチング液(東レエンジニアリング社製「TPE
−3000」)に浸漬(70℃)した時に、それぞれ約
20μm/minと11μm/minであり、その比は
20:11であった。膜厚の変化は、初期膜厚を測定し
た場所とほぼ同じ場所の膜厚を触針式膜厚計(Sloa
n Technology社製「Dektak 160
00」)にて測定し、初期の膜厚から浸漬後の膜厚を引
いたものを膜減り量として計算した。
Here, the etching rate of the core insulating layer and the adhesive layer in the insulating layer is determined by an alkali-amine based polyimide etchant ("TPE" manufactured by Toray Engineering Co., Ltd.).
-3000 "), the values were about 20 μm / min and 11 μm / min, respectively, and the ratio was 20:11. The change in the film thickness is obtained by measuring the film thickness at a location substantially the same as the location where the initial film thickness was measured by using a stylus-type thickness gauge (Sloa
n “Dektak 160” manufactured by Technology
00 ”), and the value obtained by subtracting the film thickness after immersion from the initial film thickness was calculated as a film reduction amount.

【0027】上記の積層体に対し、銅合金箔の上面とS
USの下面の両方の面にアクリル系のドライフィルムレ
ジスト(旭化成株式会社製「AQ−5038」)をラミ
ネートした後、両方のドライフィルムレジストをそれぞ
れ所定のフォトマスクパターンに従って露光・現像して
パターニングした。露光はg線により露光量30〜60
mJ/cm2 で行い、現像は30℃、1wt%Na2
3 でスプレー現像した。
With respect to the above laminate, the upper surface of the copper alloy foil and S
After laminating an acrylic dry film resist ("AQ-5038" manufactured by Asahi Kasei Corporation) on both surfaces of the lower surface of the US, both dry film resists were exposed and developed according to a predetermined photomask pattern, and then patterned. . Exposure is 30 to 60 g-rays.
mJ / cm 2 at 30 ° C., 1 wt% Na 2 C
It was spray-developed with O 3.

【0028】次いで、SUS側をマスクし、塩化第二鉄
溶液を使用して銅箔をエッチングした後、水酸化ナトリ
ウムからなる剥離液でドライフィルムレジストを剥離し
た。続いて、銅箔側をマスクし、塩化第二鉄溶液を使用
してSUSの片面をエッチングした後、水酸化ナトリウ
ムからなる剥離液でドライフィルムレジストを剥離し
た。これにより、ポリイミドフィルムの一方の面に銅箔
がパターニングされるとともに、他方の面にSUSがパ
ターニングされた3層の積層体が得られた。
Next, the copper foil was etched using a ferric chloride solution while masking the SUS side, and then the dry film resist was stripped with a stripping solution containing sodium hydroxide. Subsequently, after masking the copper foil side and etching one surface of SUS using a ferric chloride solution, the dry film resist was stripped with a stripping solution made of sodium hydroxide. Thereby, a copper foil was patterned on one surface of the polyimide film, and a three-layer laminate in which SUS was patterned on the other surface was obtained.

【0029】続いて、導電性層により配線部が形成され
たポリイミドフィルムの上面と、パターニングされたS
USのポリイミド下面との両方の面で、ポリイミドを残
す領域にポリイミド加工レジストを形成した。具体的に
は、アクリル系ドライフィルムレジスト(旭化成製「A
Q−5038」)を100℃でラミネートし、露光はg
線により露光量30〜60mJ/cm2 で行い、現像は
30℃、1wt%Na 2 CO3 でスプレー現像した。
Subsequently, a wiring portion is formed by the conductive layer.
Of polyimide film and patterned S
Leave polyimide on both sides with the US polyimide bottom
A polyimide processing resist was formed in the region. Specifically
Is an acrylic dry film resist (“A
Q-5038 ”) was laminated at 100 ° C.
Exposure 30-60 mJ / cm depending on lineTwoAnd development
30 ° C, 1wt% Na TwoCOThreeAnd spray developed.

【0030】そして、パターニングされた積層体に対
し、両面からエッチング液(東レエンジニアリング社製
「TPE−3000」)をスプレーしてポリイミドフィ
ルムと接着剤層を除去した。その後、50℃の水酸化ナ
トリウム3wt%の高温アルカリ溶液で、スプレー圧1
kgでドライフィルムレジストを剥離した。このように
ウェットエッチングを終えた積層体を観察したところ、
コア絶縁層と接着剤層の両方ともにエッチングが良好に
行われていた。また、同じエッチング液でディップ(浸
漬)してポリイミドフィルムと接着剤層を除去すると、
より良好な断面形状が得られた。
Then, the polyimide film and the adhesive layer were removed by spraying an etching solution ("TPE-3000" manufactured by Toray Engineering Co., Ltd.) on both sides of the patterned laminate. Thereafter, a spray pressure of 1 wt.
The dry film resist was peeled off in kg. Observation of the laminate after wet etching in this way,
Both the core insulating layer and the adhesive layer were etched well. When the polyimide film and the adhesive layer are removed by dipping (immersion) with the same etching solution,
A better cross-sectional shape was obtained.

【0031】上記のようにして形成された積層体におけ
る配線部に加工の仕上げとして金メッキを施した。金メ
ッキは、日本高純度化学製のシアン金メッキ浴で行っ
た。具体的には、テンペレジストExを用いて、65℃
にて電流密度Dk=0.4A/dm2 で約4分間通電し
て1μm厚の成膜を行った。そして、この配線部の必要
な箇所に保護層としてエポキシ系のカバーレイヤを形成
し、HDD用のワイヤレスサスペンションブランクを製
造した。もちろん、カバーレイヤはエポキシ系には限ら
ない。
The wiring portion of the laminate formed as described above was plated with gold as a finishing finish. Gold plating was performed in a cyan gold plating bath manufactured by Japan High Purity Chemical. Specifically, using Temper resist Ex, 65 ° C.
And a current density Dk of 0.4 A / dm 2 was applied for about 4 minutes to form a 1 μm thick film. Then, an epoxy-based cover layer was formed as a protective layer at a necessary portion of the wiring portion to manufacture a wireless suspension blank for HDD. Of course, the cover layer is not limited to the epoxy type.

【0032】(実施例2)コア絶縁層として厚さ12.
5μmのポリイミドフィルム(東レ−デュポン株式会社
製「KAPTON EN」)を使用した以外は実施例1
と同様の構成の積層体を形成した。この積層体における
コア絶縁層と接着剤層のエッチングレートは、それぞれ
約7μm/minと11μm/minであり、その比は
7:11であった。
(Example 2) As a core insulating layer, a thickness of 12.
Example 1 except that a 5 μm polyimide film (“KAPTON EN” manufactured by Toray DuPont) was used.
A laminate having the same configuration as that described above was formed. The etching rates of the core insulating layer and the adhesive layer in this laminate were about 7 μm / min and 11 μm / min, respectively, and the ratio was 7:11.

【0033】この積層体を使用して実施例1と同様の工
程で、ワイヤレスサスペンションブランクを製造したと
ころ、コア絶縁層と接着剤層の両方ともにエッチングが
良好に行われていた。
Using this laminate, a wireless suspension blank was manufactured in the same process as in Example 1. As a result, both the core insulating layer and the adhesive layer were etched well.

【0034】(比較例)コア絶縁層として厚さ12.5
μmのポリイミドフィルム(鐘淵化学株式会社製「AP
IKAL NPI」)を使用し、接着剤層としてポリア
ミック酸ワニス(三井化学株式会社製「PAA−A」)
を乾燥後の膜厚が2.5±0.3μmになるように塗工
して接着剤層付きフィルム(絶縁層)とした。そして、
実施例1と同様のSUSにラミネートして構成の積層体
を形成した。この積層体におけるコア絶縁層と接着剤層
のエッチングレートは、それぞれ約20μm/minと
1μm/minであり、その比は20:1であった。
Comparative Example 12.5 Thickness of Core Insulating Layer
μm polyimide film (Kanebuchi Chemical Co., Ltd. “AP
IKAL NPI ") and a polyamic acid varnish (" PAA-A "manufactured by Mitsui Chemicals, Inc.) as an adhesive layer.
Was applied so that the film thickness after drying was 2.5 ± 0.3 μm to obtain a film with an adhesive layer (insulating layer). And
The laminated body having the configuration was formed by laminating the same SUS as in Example 1. The etching rates of the core insulating layer and the adhesive layer in this laminate were about 20 μm / min and 1 μm / min, respectively, and the ratio was 20: 1.

【0035】この積層体を使用して実施例1と同様の工
程で、ワイヤレスサスペンションブランクを製造したと
ころ、接着剤層のエッチングが良好に行われず、コア絶
縁層の上に突き出た状態となった。
Using this laminate, a wireless suspension blank was manufactured in the same process as in Example 1. As a result, the adhesive layer was not etched well, and was projected above the core insulating layer. .

【0036】[0036]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
絶縁層であるポリイミド樹脂の加工をウェットエッチン
グで行うため、低コスト化を図ることができ、その結
果、低コストで、高精度な加工ができるワイヤレスサス
ペンションブランクの製造方法が可能となった。
As described above, according to the present invention,
Since the processing of the polyimide resin, which is an insulating layer, is performed by wet etching, cost reduction can be achieved. As a result, a method of manufacturing a wireless suspension blank that can be processed at low cost and with high precision can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】HDD用のワイヤレスサスペンションブランク
の製造手順の一例を示す工程図である。
FIG. 1 is a process chart showing an example of a manufacturing procedure of a wireless suspension blank for an HDD.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 金属層 2 絶縁層 3 導電性層 4 レジスト 5 絶縁層加工レジスト DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Metal layer 2 Insulating layer 3 Conductive layer 4 Resist 5 Insulating layer processing resist

フロントページの続き (72)発明者 甘崎 裕子 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 (72)発明者 梅田 和夫 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 (72)発明者 佐々木 賢 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 Fターム(参考) 5D042 NA01 PA10 TA07 5D059 AA01 BA01 DA31 DA36 EA08Continuation of the front page (72) Inventor Yuko Kanzaki 1-1-1, Ichigaya-Kaga-cho, Shinjuku-ku, Tokyo Inside Dai Nippon Printing Co., Ltd. (72) Inventor Kazuo Umeda 1-1-1-1, Ichigaga-cho, Shinjuku-ku, Tokyo Dai Nippon Printing Co., Ltd. (72) Inventor Satoshi Sasaki 1-1-1, Ichigaya-Kagacho, Shinjuku-ku, Tokyo F-term within Dai Nippon Printing Co., Ltd. 5D042 NA01 PA10 TA07 5D059 AA01 BA01 DA31 DA36 EA08

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 バネ特性を発現させる金属層の上に電気
的な絶縁層を介して導電性層が積層された3層構成の積
層体を用いてワイヤレスサスペンションブランクを製造
する方法であって、前記絶縁層がコア絶縁層とその両面
に積層された接着剤層から形成され、その絶縁層の各層
のエッチングレートの大きいものと小さいものとの比が
6:1乃至1:1の範囲にある積層体を用いており、前
記金属層と導電性層をそれぞフォトエッチング法により
加工する工程と、前記絶縁層を加工するためのレジスト
画像を形成し、当該レジスト画像に従ってウェットエッ
チングにより絶縁層を加工する工程を含むことを特徴と
するワイヤレスサスペンションブランクの製造方法。
1. A method for manufacturing a wireless suspension blank using a three-layer laminate in which a conductive layer is laminated via an electrical insulating layer on a metal layer exhibiting spring characteristics, The insulating layer is formed of a core insulating layer and an adhesive layer laminated on both sides of the core insulating layer, and a ratio of a high etching rate to a low etching rate of each of the insulating layers is in a range of 6: 1 to 1: 1. Using a laminate, a step of processing the metal layer and the conductive layer by a photo-etching method, and forming a resist image for processing the insulating layer, and forming the insulating layer by wet etching according to the resist image. A method for manufacturing a wireless suspension blank, comprising a step of processing.
【請求項2】 絶縁層の各層のエッチングレートの大き
いものと小さいものとの比が4:1乃至1:1の範囲に
ある積層体を用いた請求項1に記載のワイヤレスサスペ
ンションブランクの製造方法。
2. The method for manufacturing a wireless suspension blank according to claim 1, wherein a laminated body having a ratio of a high etching rate to a low etching rate of each of the insulating layers is in a range of 4: 1 to 1: 1. .
【請求項3】 金属層、導電性層及びコア絶縁層に対す
る接着剤層の接着強度が少なくとも300g/cmであ
る積層体を用いた請求項1に記載のワイヤレスサスペン
ションブランクの製造方法。
3. The method for manufacturing a wireless suspension blank according to claim 1, wherein a laminate having an adhesive strength of the adhesive layer to the metal layer, the conductive layer and the core insulating layer of at least 300 g / cm is used.
【請求項4】 コア絶縁層と接着剤層各1層の厚みの比
が最大4:1である積層体を用いた請求項1に記載のワ
イヤレスサスペンションブランクの製造方法。
4. The method of manufacturing a wireless suspension blank according to claim 1, wherein a laminate having a thickness ratio of the core insulating layer and the adhesive layer of each one layer of at most 4: 1 is used.
【請求項5】 絶縁層を構成する少なくとも1層がポリ
イミド樹脂である積層体を用いた請求項1に記載のワイ
ヤレスサスペンションブランクの製造方法。
5. The method for manufacturing a wireless suspension blank according to claim 1, wherein a laminate in which at least one layer constituting the insulating layer is a polyimide resin is used.
【請求項6】 絶縁層を構成する全ての層がポリイミド
樹脂である積層体を用いた請求項1に記載のワイヤレス
サスペンションブランクの製造方法。
6. The method of manufacturing a wireless suspension blank according to claim 1, wherein a laminate in which all the layers constituting the insulating layer are made of a polyimide resin is used.
【請求項7】 絶縁層のエッチングレートの比は、アル
カリ溶液でエッチングした場合の値である請求項1に記
載のワイヤレスサスペンションブランクの製造方法。
7. The method for manufacturing a wireless suspension blank according to claim 1, wherein the ratio of the etching rate of the insulating layer is a value obtained when etching is performed with an alkaline solution.
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