JP2002006921A - Parts ditribution system - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、電子計算機などに
用いられる電子部品の実装技術に関し、特に、電子部品
を保管し、対応するセラミック基板に搭載する電子部品
の配膳に適用して有効な技術に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technology for mounting electronic components used in an electronic computer and the like, and more particularly to a technology effective for storing electronic components and distributing electronic components to be mounted on a corresponding ceramic substrate. It is about.
【0002】[0002]
【従来の技術】電子計算機などの電子装置に用いられる
高密度の実装モジュールでは、搭載される半導体装置な
どの電子部品が多品種にわたっている。これら実装モジ
ュールの組立工程においては、この様な特徴を考慮し
て、電子部品を搭載すべきセラミック基板毎に対応する
パレットなどに事前に配膳することにより、それぞれの
セラミック基板に合わせた電子部品を供給する組立技術
が提案されている。2. Description of the Related Art In a high-density mounting module used for an electronic device such as an electronic computer, electronic components such as a semiconductor device to be mounted are diversified. In the process of assembling these mounting modules, in consideration of such characteristics, electronic components matched to each ceramic substrate are arranged in advance on a pallet or the like corresponding to each ceramic substrate on which electronic components are to be mounted. Supplying assembly techniques have been proposed.
【0003】この場合、電子部品を配膳する配膳システ
ムでは、搭載すべきセラミック基板に対応するパレット
に電子部品を配膳し、搭載まで各パレットを一時的に保
管している。In this case, in a serving system for serving electronic components, electronic components are placed on a pallet corresponding to a ceramic substrate to be mounted, and each pallet is temporarily stored until mounting.
【0004】また、ベアチップ、あるいは外部接続端子
としてはんだバンプが設けられたBGA(Ball G
rid Array)などの半導体装置を保管する際に
は、絶縁膜層の吸湿などによって絶縁劣化やはんだボー
ルの表面酸化などを防止するために、保管仕様の条件を
確保できる低酸素、低湿雰囲気の常備倉庫に保管し、セ
ラミック基板への実装、リフロー日程に合わせて常備倉
庫からそれら電子部品を取り出し、配膳可能な装置に投
入している。A BGA (Ball G) provided with a bare chip or a solder bump as an external connection terminal is provided.
When storing a semiconductor device such as a lid array, a low-oxygen, low-humidity atmosphere that can ensure the conditions of storage specifications is provided in order to prevent insulation deterioration and surface oxidation of solder balls due to moisture absorption of the insulating film layer. The electronic components are stored in a warehouse, mounted on a ceramic substrate, and taken out of a permanent warehouse in accordance with the reflow schedule, and are placed in a device that can be served.
【0005】なお、この種の支援システムについて詳し
く述べてある例としては、平成5年11月20日、株式
会社オーム社発行、社団法人 情報処理学会(編)、
「情報処理ハンドブック」P1290〜P1291があ
り、この文献には、総合生産システムCIMの概要など
が記載されている。[0005] Examples of this type of support system are described in detail on November 20, 1993, published by Ohm Co., Ltd., Information Processing Society of Japan (ed.)
There are “Information Processing Handbook” P1290 to P1291, and this document describes an outline of the comprehensive production system CIM and the like.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な電子部品の配膳供給技術では、次のような問題点があ
ることが本発明者により見い出された。However, it has been found by the present inventors that the following problems have been encountered in the above-mentioned technology for supplying and distributing electronic components.
【0007】すなわち、電子部品やセラミック基板など
が何らかの理由によって決められた納期に投入されなか
った場合、一部の部品不足のため搭載に必要な電子部品
が確保できず、途中配膳のパレットが増加してしまうと
いう問題がある。[0007] That is, if electronic components, ceramic substrates, and the like are not supplied for a predetermined delivery date for some reason, electronic components required for mounting cannot be secured due to a shortage of some components, and pallets for serving on the way increase. There is a problem of doing it.
【0008】また、高い歩留まりの電子部品などは予め
必要以上に入荷される場合もあり、必要以上に入荷され
た電子部品を保管するためにも余剰パレットが必要とな
るという問題がある。[0008] In addition, electronic parts with a high yield may be unnecessarily received in advance in some cases, and there is a problem that an excess pallet is required to store the unnecessarily received electronic parts.
【0009】さらに、今日では、電子部品の種類が非常
に多い上に、複数機種の大型計算機などの電子装置を同
一ラインで組み立てている場合もあり、種類分けのため
パレット数が増大し、一時保管庫が大規模でないと保管
できなくなる恐れもある。Furthermore, today, there are many types of electronic parts, and electronic devices such as a plurality of types of large-scale computers are assembled on the same line. If the storage is not large, it may not be possible to store it.
【0010】また、配膳システムに設けられた電子部品
を一時的に保管する一時保管庫には低酸素、低湿雰囲気
を維持する機能がないために、長期連休、生産調整など
によって生産日程が変動した際には、長期保管が可能な
低酸素、低湿雰囲気の常備倉庫に半導体装置を人手作業
によって移し替えており、この移し替え時のミスなどに
よって組立工程において混乱を招いてしまう恐れもあ
る。In addition, since the temporary storage provided in the serving system for temporarily storing electronic components does not have a function of maintaining a low oxygen and low humidity atmosphere, the production schedule fluctuates due to long holidays and production adjustment. In some cases, semiconductor devices are manually transferred to a low-oxygen, low-humidity permanent storage that can be stored for a long period of time, and there is a possibility that a mistake in this transfer may cause confusion in the assembly process.
【0011】本発明の目的は、多品種の電子部品などを
効率よく保管し、生産上の変動要因に関わらず、適切に
配膳することのできる部品配膳システムを提供すること
にある。[0011] It is an object of the present invention to provide a parts distributing system which can efficiently store electronic components of various types and the like and can appropriately distribute them regardless of production fluctuation factors.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】本発明の部品配膳システ
ムは、電子部品を保管するパレットが備えられた部品倉
庫部と、入庫される電子部品の入庫データ、出庫指示の
あった電子部品の出庫データ、およびパレットの収納状
況を管理する部品倉庫管理ファイルが格納されたデータ
格納部と、電子部品が入出庫される際に、該電子部品に
印字された品名を読み取る印字読み取り部と、データ格
納部から、入庫される電子部品の入庫データを抽出し
て、印字読み取り部が読み取った電子部品の品名と入庫
データの品名とを照合し、データ格納手段に格納された
部品倉庫管理ファイルから収納可能な前記パレットを選
択し、そのパレットのコーナ部から順次収納する入庫処
理部と、出庫指示のあった電子部品の出庫データをデー
タ格納部から抽出し、該出庫データと部品倉庫管理ファ
イルとに基づいて出庫指示のあった電子部品をパレット
から取り出し、出庫データの品名と前記印字読み取り部
が読み取った電子部品の品名とを照合し、出庫データに
基づいて出庫パレットに配膳する出庫処理部とを備えた
ものである。According to the present invention, there is provided a parts serving system including a pallet for storing electronic parts, storage data of electronic parts to be stored, and delivery of electronic parts instructed to be discharged. A data storage unit for storing data and a parts warehouse management file for managing the storage status of pallets; a print reading unit for reading a product name printed on the electronic component when the electronic component is loaded / unloaded; and a data storage unit From the storage unit, the storage data of the electronic components to be stored is extracted, and the product name of the electronic components read by the print reading unit is compared with the product name of the storage data, and can be stored from the parts warehouse management file stored in the data storage unit. The pallet is selected and the warehousing processing unit that sequentially stores the pallets from the corners of the pallet, and the warehousing data of the electronic components for which the warehousing instruction has been issued are extracted from the data storage unit. The electronic component that has been instructed to be ejected is taken out of the pallet based on the outgoing data and the parts warehouse management file, the product name of the outgoing data is compared with the product name of the electronic component read by the print reading unit, and based on the outgoing data, And an outgoing processing section for distributing food to the outgoing pallet.
【0013】また、本発明の部品配膳システムは、前記
入庫処理部は、選択したパレットに、すでに出庫したあ
との未収納部分がある場合には、その未収納部分から優
先的に電子部品を収納するものである。In the component serving system according to the present invention, when the selected pallet has an unstored portion that has already been unloaded from the selected pallet, the storage portion preferentially stores electronic components from the unstored portion. Is what you do.
【0014】さらに、本発明の部品配膳システムは、前
記部品倉庫部内の雰囲気を、ある湿度以下まで除湿する
除湿乾燥部を備えたものである。Further, the parts serving system of the present invention is provided with a dehumidifying and drying unit for dehumidifying the atmosphere in the parts warehouse to a certain humidity or less.
【0015】[0015]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
【0016】図1は、本発明の一実施の形態による部品
配膳システムの説明図、図2は、本発明の一実施の形態
による部品配膳システムに設けられた品名読み取り配膳
装置の説明図、図3(a)、(b)は、本発明の一実施
の形態による部品配膳システムが半導体装置を入出庫す
る際に用いられる部品倉庫管理ファイルの構成を示す説
明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram of a component serving system according to one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an explanatory diagram of a product name reading serving device provided in the component serving system according to one embodiment of the present invention. FIGS. 3A and 3B are explanatory diagrams showing the configuration of a parts warehouse management file used when the parts serving system according to one embodiment of the present invention moves in and out of a semiconductor device.
【0017】本実施の形態において、部品配膳システム
1は、電子計算機などの電子装置に用いられる電子部
品、および該電子部品を実装するセラミック基板などの
セラミック基板を保管し、かつ指定された電子部品を配
膳供給する。In the present embodiment, a component serving system 1 stores an electronic component used for an electronic device such as an electronic computer, and a ceramic substrate such as a ceramic substrate on which the electronic component is mounted, and specifies a designated electronic component. To serve.
【0018】部品配膳システム1は、図1に示すよう
に、ホストコンピュータ2、組立サーバ(データ格納
部)3、バンプ検査装置4、品名読み取り配膳装置5、
および搭載装置6から構成されている。As shown in FIG. 1, the component serving system 1 includes a host computer 2, an assembly server (data storage unit) 3, a bump inspection device 4, an item name reading / serving device 5,
And a mounting device 6.
【0019】ホストコンピュータ1は、組立サーバ3と
専用回線などのネットワークNTを介して接続されてお
り、ホストコンピュータ1と組立サーバ3とによって他
のセクションとの部品手配、組立手配などのデータベー
スを交換する。The host computer 1 is connected to the assembling server 3 via a network NT such as a dedicated line. The host computer 1 and the assembling server 3 exchange a database for arranging parts and assembling arrangement with other sections. I do.
【0020】組立サーバ3には、品名読み取り配膳装置
5がネットワークNTを介して接続されており、該品名
読み取り配膳装置5からの要求に基づいて、他セクショ
ンのデータベースの転送や交換などを行う。The assembly server 3 is connected to a product name reading and serving device 5 via a network NT, and transfers and exchanges a database of another section based on a request from the product name reading and serving device 5.
【0021】品名読み取り配膳装置5は、入荷した半導
体装置の品名を読み取り、品名読み取り配膳装置5に保
管し、組立日程に合わせて配膳出庫する。The product name reading and serving device 5 reads the product name of the semiconductor device that has arrived, stores it in the product name reading and serving device 5, and delivers the product in accordance with the assembly schedule.
【0022】また、ネットワークNTを介して品名読み
取り配膳装置5を組立サーバ3に接続することによって
半導体装置の入庫データ、出庫データ、セラミック基板
の進度データ、個別日程データなどをリアルタイムに収
集し、かつ工程にフィードバックするように機能する。Also, by connecting the product name reading and serving device 5 to the assembly server 3 via the network NT, the incoming data, outgoing data, progress data of the ceramic substrate, individual schedule data, etc. of the semiconductor device are collected in real time, and Functions to feed back to the process.
【0023】ここでは、品名読み取り配膳装置5によっ
て管理される電子部品は、BGAなどの外部接続端子と
してはんだバンプが設けられた半導体装置H1、ベアチ
ップの半導体装置H2、ならびにCSP(Chip S
ize Package)形の半導体装置H3とし、こ
れら半導体装置(電子部品)H1〜H3は、3つの異な
る大型電子計算機にそれぞれ用いられるものとする。い
ずれの電子計算機も一台当り、セラミック基板などのセ
ラミック基板が十数枚、半導体装置などが約数百個で構
成されているものとする。Here, the electronic components managed by the product name reading and serving device 5 include a semiconductor device H1 provided with solder bumps as external connection terminals such as BGA, a bare chip semiconductor device H2, and a CSP (Chip S).
The semiconductor devices (electronic components) H1 to H3 are used in three different large-sized computers. Each computer is assumed to be composed of ten or more ceramic substrates such as ceramic substrates and about several hundreds of semiconductor devices per one computer.
【0024】また、品名読み取り配膳装置5には、入庫
処理部5a、出庫処理部5b、および入出庫データ格納
部5cが設けられている。入庫処理部5aは、半導体装
置H1〜H3における入庫処理の制御を司り、出庫処理
部5bは、半導体装置H1〜H3における出庫処理の制
御を司る。入出庫データ格納部5cには、部品倉庫管理
ファイルBFが格納されており、その他に組立サーバ3
から抽出した入庫データND、ならびに出庫データSD
などを一時的に格納する。The product name reading / serving device 5 is provided with a storage processing unit 5a, a storage processing unit 5b, and a storage and retrieval data storage unit 5c. The storage processing part 5a controls the storage processing in the semiconductor devices H1 to H3, and the discharge processing part 5b controls the storage processing in the semiconductor devices H1 to H3. A parts warehouse management file BF is stored in the entry / exit data storage unit 5c.
Data ND and warehouse data SD extracted from
Etc. are temporarily stored.
【0025】半導体装置H1〜H3が入庫される際に
は、入庫される半導体装置の種類、手配数、入庫数、入
庫日付、入庫指示日、および現品票バーコードなどの入
庫データNDが組立サーバ3から抽出される。When the semiconductor devices H1 to H3 are stored, the assembling server stores the type of the semiconductor devices to be stored, the number of arrangements, the number of storages, the storage date, the storage instruction date, and the storage data ND such as the actual tag bar code. 3
【0026】この入庫データNDは、現品票Gなどに設
けられたバーコード情報を、ハンディバーコードスキャ
ナなどを用いて読みとることによって、任意の半導体装
置のデータを抽出する。The incoming data ND is used to extract data of an arbitrary semiconductor device by reading bar code information provided on the tag G or the like using a handy bar code scanner or the like.
【0027】また、品名読み取り配膳装置5から半導体
装置H1〜H3を出庫する際には、組立サーバ3から抽
出した出庫データSDに基づいて出庫処理を行う。任意
の半導体装置は、出庫パレットSPに配膳されて出庫さ
れる。When the semiconductor devices H1 to H3 are delivered from the product name reading and serving device 5, a delivery process is performed based on the delivery data SD extracted from the assembly server 3. Arbitrary semiconductor devices are arranged and delivered to the delivery pallet SP.
【0028】出庫データSDは、出庫する半導体装置の
品名、出庫指示日、出庫日、出庫予定数(手配数−出庫
数)、半導体装置が実装されるセラミック基板の品名、
ならびにセラミック基板に搭載するためのX座標、Y座
標の位置データなどである。The delivery data SD includes the product name of the semiconductor device to be delivered, the delivery instruction date, the delivery date, the scheduled delivery number (arranged number-the delivery number), the product name of the ceramic substrate on which the semiconductor device is mounted,
And X coordinate and Y coordinate position data for mounting on a ceramic substrate.
【0029】この場合、半導体装置を搭載するセラミッ
ク基板にそれぞれ備えられたコントロールカードCCに
記載されたバーコード情報をハンディバーコードスキャ
ナなどを用いて読み取り、該当する半導体装置の出庫デ
ータSDを組立サーバ3から抽出する。In this case, the bar code information written on the control card CC provided on the ceramic substrate on which the semiconductor device is mounted is read using a handy bar code scanner or the like, and the delivery data SD of the semiconductor device is assembled. Extract from 3.
【0030】バンプ検査装置4は、半導体装置H1〜H
3のはんだバンプが、正常に形成されているか否かを検
査する。搭載装置6は、品名読み取り配膳装置5によっ
て配膳供給された半導体装置をセラミック基板に搭載す
る。The bump inspection apparatus 4 includes semiconductor devices H1 to H
It is inspected whether the solder bump No. 3 is formed normally. The mounting device 6 mounts the semiconductor device provided and supplied by the product name reading and serving device 5 on a ceramic substrate.
【0031】さらに、品名読み取り配膳装置5の構成に
ついて説明する。Further, the configuration of the product name reading and serving apparatus 5 will be described.
【0032】品名読み取り配膳装置5の最前部には、図
2に示すように、操作部7が設けられている。操作部7
は、キーボード、マウス、ハンディーバーコードスキャ
ナ、液晶モニタ、タッチパネルなどを備える。An operation section 7 is provided at the forefront of the item name reading and serving apparatus 5, as shown in FIG. Operation unit 7
Has a keyboard, a mouse, a handy barcode scanner, a liquid crystal monitor, a touch panel, and the like.
【0033】操作部7後部の左側には、搬送コンベア部
8が設けられている。搬送コンベア部8は、前工程の設
備と接続されており、作業者によって半導体装置1を搬
送する入庫トレイセットが行われる。A transport conveyor section 8 is provided on the left side of the rear of the operation section 7. The transport conveyor unit 8 is connected to the equipment in the previous process, and a worker sets a receiving tray for transporting the semiconductor device 1.
【0034】搬送コンベア部8の右側には、マガジン部
9が設けられている。マガジン部9は、半導体装置H
1,H3を搭載した入庫パレットNPを収納するマガジ
ンを備えており、マガジンは上下動作機構を有してい
る。A magazine 9 is provided on the right side of the conveyor 8. The magazine unit 9 includes the semiconductor device H
1, a magazine for storing a pallet NP loaded with H3 is provided, and the magazine has a vertical movement mechanism.
【0035】マガジン部9の後方には、入庫パレット部
10が設けられている。この入庫パレット部10は、マ
ガジンから入庫パレットNPを出し入れし、マガジンか
ら出された入庫パレットNPを位置決する。A storage pallet 10 is provided behind the magazine 9. The storage pallet unit 10 takes in and out the storage pallet NP from the magazine and positions the storage pallet NP discharged from the magazine.
【0036】マガジン部9の右側には、側面マーク検査
部(印字読み取り部)11が設けられている。この側面
マーク検査部11の後方には、下面マーク検査部(印字
読み取り部)12が設けられおり、該下面マーク検査部
12の後方には位置検出部13が設けられている。On the right side of the magazine 9, a side mark inspection unit (print reading unit) 11 is provided. A lower surface mark inspection unit (print reading unit) 12 is provided behind the side surface mark inspection unit 11, and a position detection unit 13 is provided behind the lower surface mark inspection unit 12.
【0037】側面マーク検査部11は、認識用カメラと
照明とによって半導体装置などの側面の印字を検出す
る。下面マーク検査部12は、認識用カメラとハーフミ
ラーユニットとによってベアチップなどのバンプ面と反
対方向の印字を検出する。The side surface mark inspection unit 11 detects the printing on the side surface of the semiconductor device or the like by using the recognition camera and the illumination. The lower surface mark inspection unit 12 detects the printing in the direction opposite to the bump surface such as a bare chip by the recognition camera and the half mirror unit.
【0038】位置検出部13には、認識用カメラ、ハー
フミラーユニット、ならびに不良チップ排出用トレイ設
置台が設けられており、チップ高さ測定用透過センサユ
ニットで位置を測定して補正する。The position detecting section 13 is provided with a recognition camera, a half mirror unit, and a tray mounting table for discharging defective chips. The position is measured and corrected by a transmission sensor unit for measuring chip height.
【0039】側面マーク検査部11の右側には、キュー
ブ供給部14が位置している。キューブ供給部14に
は、不良チップ排出用パレット設置台が備えられてお
り、キューブに入ったベアチップなどの半導体装置H2
を積み重ねて供給する。The cube supply unit 14 is located on the right side of the side mark inspection unit 11. The cube supply section 14 is provided with a pallet mounting table for discharging defective chips, and the semiconductor device H2 such as a bare chip contained in the cube is provided.
Are supplied in a stack.
【0040】キューブ供給部14の右側には、出庫パレ
ット部15が設けられており、出庫パレットSPのバー
コードを読み取り、定位置へ搬送、位置決め、排出す
る。出庫パレット部15の後方には、右側方から左側方
にかけて搬送ロボット部16が設けられている。A retrieval pallet unit 15 is provided on the right side of the cube supply unit 14. The retrieval pallet unit 15 reads a barcode of the retrieval pallet SP, and transports, positions, and discharges it to a fixed position. A transfer robot unit 16 is provided behind the unloading pallet unit 15 from the right side to the left side.
【0041】搬送ロボット部16は、搬送用ハンドと空
キューブトレイ搬送アームが設けられており、入出庫さ
れる半導体装置H1〜H3を所定の位置まで搬送する。
搬送ロボット部16の後方には、トレイ引き出し部1
7,18がそれぞれ設けられており、これらトレイ引き
出し部17,18の後方には部品倉庫部19,20がそ
れぞれ設けられている。The transfer robot unit 16 is provided with a transfer hand and an empty cube tray transfer arm, and transfers the semiconductor devices H1 to H3 to be loaded and unloaded to a predetermined position.
Behind the transfer robot unit 16, the tray drawer unit 1
7 and 18 are provided, and component storage units 19 and 20 are provided behind the tray drawers 17 and 18, respectively.
【0042】トレイ引き出し部17,18は、部品倉庫
部19,20の中のパレット一枚をそれぞれ引き出し、
位置決めする。部品倉庫部19,20は、出し入れのた
めのエレベーション機能を備え、半導体装置H1〜H3
を各々のパレットに収納する。ドライヤ部(除湿乾燥
部)21は乾燥機能を有しており、予め設定された湿度
以下になるまで部品倉庫部19,20内の雰囲気を乾燥
させる。The tray drawers 17 and 18 pull out one pallet from the parts warehouses 19 and 20, respectively.
Position. The parts storage units 19 and 20 have an elevation function for taking in and out, and the semiconductor devices H1 to H3
Is stored in each pallet. The dryer unit (dehumidifying and drying unit) 21 has a drying function, and dries the atmosphere in the parts storage units 19 and 20 until the humidity becomes equal to or lower than a preset humidity.
【0043】このドライヤ部21により、生産日程の変
動などによって半導体装置を長期保管しなければならな
い場合に、半導体装置の吸湿などを防止するための保管
庫への移し替えを不要とすることができる。The drier section 21 makes it unnecessary to transfer the semiconductor device to a storage for preventing moisture absorption of the semiconductor device when the semiconductor device has to be stored for a long period of time due to fluctuations in the production schedule or the like. .
【0044】次に、本実施の形態における部品配膳シス
テム1全体の動作について説明する。Next, the operation of the whole component serving system 1 in the present embodiment will be described.
【0045】ここでは、半導体装置H1が入荷される場
合について記載する。Here, a case where the semiconductor device H1 is received will be described.
【0046】まず、半導体装置H1が入荷すると、ホス
トコンピュータ1の指示に従って半導体装置H1が組立
工程に投入され、品名、数量などの確認が行われる。First, when the semiconductor device H1 is received, the semiconductor device H1 is put into an assembling process in accordance with an instruction from the host computer 1, and the name, quantity, and the like are checked.
【0047】その後、半導体装置H1には、はんだボー
ルが供給されてバンプが形成され、バンプ検査装置4に
よってバンプ検査される。その後、半導体装置H1は、
入庫パレットNPに整列された状態で、品名読み取り配
膳装置5に投入される。Thereafter, a solder ball is supplied to the semiconductor device H 1 to form a bump, and the bump is inspected by the bump inspecting device 4. After that, the semiconductor device H1
In a state where the articles are arranged on the receiving pallet NP, the articles are loaded into the article name reading and serving apparatus 5.
【0048】入庫する半導体装置H1の現品票Gのバー
コード情報を操作部7のハンディーバーコードスキャナ
などによって読み込み、入庫処理部5aが組立サーバ3
のデータベースから入庫データを抽出し、入出庫データ
格納部5cに格納する。The bar code information of the tag G of the semiconductor device H1 to be stored is read by the handy bar code scanner of the operation unit 7 or the like, and the storage processing unit 5a is
And retrieves the incoming data from the database and stores it in the incoming / outgoing data storage unit 5c.
【0049】半導体装置H1の品名を読み取り、品名読
み取り配膳装置5の倉庫に収納可能なパレットを選択
し、品名に関係なく、半導体装置H1をパレットのコー
ナ部から順番に収納し、保管した半導体装置H1の品
名、入庫日、収納位置、品名数などの入庫データを更新
して組立サーバ3に書き込む。The name of the semiconductor device H1 is read, a pallet that can be stored in the warehouse of the reading device 5 is selected, and the semiconductor devices H1 are stored in order from the corner of the pallet regardless of the product name, and stored. The storage data such as the product name of H1, the storage date, the storage position, and the number of product names are updated and written to the assembly server 3.
【0050】セラミック基板に備えられたコントロール
カードCCのバーコードを操作部7のハンディーバーコ
ードスキャナなどによって読み込むと、出庫処理部5a
が、セラミック基板品名に対応する半導体装置H1を出
庫パレットSPに配膳出庫し、搭載装置6へ部品供給す
る。これにより、セラミック基板と半導体装置H1の配
膳を同期化することができる。When the bar code of the control card CC provided on the ceramic substrate is read by the handy bar code scanner of the operation unit 7, the retrieval processing unit 5a
Distributes the semiconductor device H1 corresponding to the ceramic substrate product name to the delivery pallet SP, and supplies the components to the mounting device 6. Thereby, the serving of the ceramic substrate and the semiconductor device H1 can be synchronized.
【0051】また、品名読み取り配膳装置5の動作につ
いて説明する。The operation of the item name reading and serving apparatus 5 will be described.
【0052】入庫指示された半導体装置の現品票Gに記
載されたバーコード情報を操作部7のハンディバーコー
ドスキャナなどによって読み取り、その情報に基づき組
立サーバ3から入庫データNDを抽出し、入出庫データ
格納部5cに格納する。The bar code information written on the tag G of the semiconductor device instructed to enter the warehouse is read by a handy bar code scanner or the like of the operation unit 7, and based on the information, the entrance data ND is extracted from the assembly server 3, and the entrance / exit is performed. The data is stored in the data storage unit 5c.
【0053】搬送コンベア部8からは半導体装置H1,
H3がセットされた入庫パレットNPが収納され、半導
体装置H1,H3がセットされた入庫パレットNPは、
マガジン部9のマガジンに収納される。これら入庫パレ
ットNPは入庫パレット部10まで搬送され、キューブ
供給部14からは半導体装置H2がセットされたキュー
ブが投入される。The semiconductor devices H1,
The receiving pallet NP in which H3 is set is stored, and the receiving pallet NP in which the semiconductor devices H1 and H3 are set is
It is stored in the magazine of the magazine section 9. These storage pallets NP are transported to the storage pallet unit 10, and a cube on which the semiconductor device H <b> 2 is set is input from the cube supply unit 14.
【0054】そして、入庫パレット部10の所定の位置
に搬送された半導体装置H1〜H3は、搬送ロボット部
16により位置検出部13に搬送され位置が検出され
る。その後、半導体装置H1〜H3は、印字位置によっ
て側面マーク検査部11、または下面マーク検査部12
のいずれかにそれぞれ搬送され、品名が読み取られる。Then, the semiconductor devices H1 to H3 conveyed to a predetermined position on the storage pallet unit 10 are conveyed to the position detecting unit 13 by the transfer robot unit 16, and the positions are detected. Thereafter, the semiconductor devices H1 to H3 are moved to the side mark inspection unit 11 or the bottom surface mark inspection unit 12 depending on the printing position.
, And the product name is read.
【0055】この時、入庫処理部5aは、読み取った品
名を入庫データNDの品名と照合し、合致していれば組
立サーバ3に格納されている部品倉庫管理ファイルBF
を抽出し、その部品倉庫管理ファイルBFに基づいて部
品倉庫部19,20から収納可能なパレットを選択し、
品名に関係なくコーナ部から順番に収納する。At this time, the storage processing unit 5a compares the read product name with the product name of the storage data ND, and if they match, the parts warehouse management file BF stored in the assembly server 3
And selects a pallet that can be stored from the parts warehouse units 19 and 20 based on the parts warehouse management file BF,
Store in order from the corner regardless of the product name.
【0056】また、選択したパレットに、すでに出庫し
た未収納部分がある場合には、未収納部分から優先的に
収納し、ホストコンピュータ2の出庫指示があるまで半
導体装置を部品倉庫部18,19に保管する。If the selected pallet has an unaccommodated portion that has already been delivered, it is preferentially stored from the unaccommodated portion, and the semiconductor devices are stored in the parts warehouses 18 and 19 until the host computer 2 issues a delivery instruction. Keep in.
【0057】部品倉庫部19には、たとえば、40段の
パレットP11 〜P140が備えられ、部品倉庫部20に
も、40段のパレットP21 〜P240が備えられてい
る。[0057] the parts warehouse section 19, for example, provided with the pallet P1 1 to P1 40 40 stages, even parts warehouse section 20, the pallet P2 1 to P2 40 of 40 stages are provided.
【0058】パレットP11 〜P140,P21 〜P240
には、4つのサブパレットSB1〜SB4がそれぞれ設
けられており、これらサブパレットSB1〜SB4に
は、9×6個の部品パレットB1〜B54が備えられて
いる。Pallets P1 1 to P1 40 , P2 1 to P2 40
Is provided with four sub-pallets SB1 to SB4, respectively, and these sub-pallets SB1 to SB4 are provided with 9 × 6 component pallets B1 to B54.
【0059】ここで、部品倉庫管理ファイルBFについ
て説明する。Here, the parts warehouse management file BF will be described.
【0060】部品倉庫管理ファイルBFは、図3
(a)、(b)に示すように、全体ファイルZFと、サ
ブパレットファイルSPFとから構成されている。収納
位置を検索する際には、全体ファイルZFにおけるパレ
ットP11 〜P140,P21 〜P2 40、ならびにサブパ
レットSB1〜SB4を順に検索する。The parts warehouse management file BF is shown in FIG.
As shown in (a) and (b), the entire file ZF and the
And a sub-palette file SPF. Storage
When searching for a position, the
P11~ P140, P21~ P2 40, And subpa
Lets SB1 to SB4 are sequentially searched.
【0061】たとえば、パレットP12 、サブパレット
SB2に収納可能な位置があると、図3(b)のサブパ
レットファイルSPFに示す、部品番号パレットB1〜
B54を順に検索し、格納可能な位置を検出する。For example, if there is a position where the pallet P1 2 and the sub pallet SB2 can be stored, the part number pallets B1 to B1 shown in the sub pallet file SPF of FIG.
B54 is searched in order to detect a storable position.
【0062】そして、収納する部品パレットが検索され
ると、サブパレットファイルSPFの該当する部品パレ
ットの位置に入庫する半導体装置の格納座標X、格納座
標Y、ロット番号、部品名、ならびに入庫日時を書き込
み、入出庫データ格納部5cに格納されている入庫デー
タNDを更新する。これにより、品名に関係なくパレッ
トのコーナ部から順番にかつ、選択したパレットの未収
納部分からの収納が可能となる。When the component pallet to be stored is retrieved, the storage coordinates X, storage coordinates Y, lot number, component name, and storage date and time of the semiconductor device to be stored at the position of the corresponding component pallet in the subpalette file SPF are entered. Write and update the incoming data ND stored in the incoming / outgoing data storage unit 5c. As a result, it is possible to store the selected pallets from the unstored portions in order from the corners of the pallets regardless of the product name.
【0063】入庫パレット部10、またはキューブ供給
部14の全部品の入庫が完了すると、空になった入庫パ
レットNPなどを排出し、入庫データNDを組立サーバ
3に出力し、入庫データNDを更新する。When the storage of all the parts in the storage pallet unit 10 or the cube supply unit 14 is completed, the empty storage pallet NP is discharged, the storage data ND is output to the assembly server 3, and the storage data ND is updated. I do.
【0064】さらに、出庫指示されたセラミック基板に
備えられたコントロールカードCCのバーコードを操作
部7のハンディーバーコードスキャナなどによって読み
込むと、出庫処理部5aが、そのセラミック基板の品名
に対応する出庫データSDを抽出し、入出庫データ格納
部5cに格納する。Further, when the bar code of the control card CC provided on the ceramic substrate instructed to be discharged is read by the handy barcode scanner of the operation unit 7, the retrieval processing unit 5a retrieves the retrieval corresponding to the product name of the ceramic substrate. The data SD is extracted and stored in the entry / exit data storage unit 5c.
【0065】出庫パレット部15にセットされた出庫パ
レットSPは、出庫データSDに基づいて所定の部品出
庫位置に搬送され、出庫データSDと部品倉庫管理ファ
イルBFとを参照して、指示された品名の半導体装置を
部品倉庫部19,20のパレットから取り出す。The delivery pallet SP set in the delivery pallet unit 15 is transported to a predetermined part delivery position based on the delivery data SD, and refers to the delivery data SD and the parts warehouse management file BF to specify the specified product name. Are taken out of the pallets of the parts warehouses 19 and 20.
【0066】そして、任意の半導体装置は、搬送ロボッ
ト部16により位置検出部13に搬送されて半導体装置
の印字位置が検出される。半導体装置は、印字位置によ
って側面マーク検査部11、または下面マーク検査部1
2のいずれかにそれぞれ搬送され、品名が読みとられ
る。Then, an arbitrary semiconductor device is transported by the transport robot unit 16 to the position detecting unit 13 and the print position of the semiconductor device is detected. The semiconductor device may have a side mark inspection unit 11 or a bottom surface mark inspection unit 1 depending on a printing position.
2, and the product name is read.
【0067】読みとった品名は、部品倉庫管理ファイル
BFの品名と照合され、合致していれば出庫データSD
に従って半導体装置を出庫パレット部15の出庫パレッ
ト上に配膳する。The read product name is checked against the product name in the parts warehouse management file BF.
Are arranged on the outgoing pallet of the outgoing pallet section 15 in accordance with the above.
【0068】同時に、入出庫データ格納部5cに格納さ
れている出庫された半導体装置の入庫データNDを消去
する。半導体装置の配膳が終了すると、出庫パレット部
15から出庫パレットSPを排出し、同時に、出庫デー
タSDと部品倉庫管理ファイルBFとをホストに出力
し、配膳完了となる。At the same time, the entry data ND of the released semiconductor device stored in the entry / exit data storage section 5c is deleted. When the serving of the semiconductor device is completed, the delivery pallet SP is discharged from the delivery pallet unit 15, and at the same time, the delivery data SD and the parts warehouse management file BF are output to the host, and the serving is completed.
【0069】それにより、本実施の形態においては、部
品倉庫管理ファイルBFによって入出庫される半導体装
置を管理するので、入庫される半導体装置の品名などに
関係なく、複数の半導体装置を少ないスペースで効率よ
く保管し、指定された半導体装置を正確に配膳供給する
ことができる。また、生産日程の変動などが生じてもリ
アルタイムに電子部品を供給することができる。Thus, in the present embodiment, the semiconductor devices to be stored and retrieved are managed by the parts warehouse management file BF, so that a plurality of semiconductor devices can be stored in a small space irrespective of the names of the received semiconductor devices. It is possible to efficiently store and accurately supply a designated semiconductor device. In addition, even if the production schedule fluctuates, the electronic components can be supplied in real time.
【0070】さらに、ドライヤ部21を設けたことによ
り、該部品倉庫部19,20内に半導体装置を長期保管
できるので保管庫への移し替えが不要となり、移し替え
作業によるミスを防止し、かつ作業工数やコストを減少
させることができる。Further, by providing the dryer section 21, semiconductor devices can be stored in the parts storage sections 19, 20 for a long period of time, so that transfer to a storage box becomes unnecessary, and mistakes due to transfer work are prevented, and Work man-hours and costs can be reduced.
【0071】本発明は前記実施の形態に限定されるもの
ではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能で
あることはいうまでもない。The present invention is not limited to the above-described embodiment, and it goes without saying that various changes can be made without departing from the scope of the invention.
【0072】[0072]
【発明の効果】(1)本発明によれば、多品種にわたる
電子部品を小スペースで効率よく保管し、指定された半
導体装置を正確に配膳供給することができ、かつ生産日
程などの変動が生じてもリアルタイムに電子部品を供給
することができる。(1) According to the present invention, a wide variety of electronic components can be efficiently stored in a small space, a specified semiconductor device can be accurately served, and fluctuations in production schedules and the like can be prevented. Even if it occurs, electronic components can be supplied in real time.
【0073】(2)また、本発明では、除湿乾燥部を備
えたことにより、部品倉庫部内に電子部品を長期保管す
ることができるので、該電子部品の移し替え作業による
ミスを防止し、かつ作業工数やコストを減少させること
ができる。(2) Further, according to the present invention, the provision of the dehumidifying / drying section enables the electronic parts to be stored in the parts storage section for a long period of time. Work man-hours and costs can be reduced.
【図1】本発明の一実施の形態による部品配膳システム
の説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram of a component serving system according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の一実施の形態による部品配膳システム
に設けられた品名読み取り配膳装置の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a product name reading and serving device provided in the component serving system according to the embodiment of the present invention;
【図3】(a)は、本発明の一実施の形態による部品配
膳システムが半導体装置を入出庫する際に用いられる部
品倉庫管理ファイルにおける全体ファイルの説明図、
(b)は、部品倉庫管理ファイルにおけるサブパレット
ファイルの構成を示す説明図である。FIG. 3A is an explanatory diagram of an entire file in a parts warehouse management file used when the parts serving system according to one embodiment of the present invention moves in and out of a semiconductor device;
(B) is an explanatory view showing a configuration of a sub-palette file in the parts warehouse management file.
1…部品配膳システム、2…ホストコンピュータ、3…
組立サーバ(データ格納部)、4…バンプ検査装置、5
…品名読み取り配膳装置、5a…入庫処理部、5b…出
庫処理部、5c…入出庫データ格納部、6…搭載装置7
…操作部、8…搬送コンベア部、9…マガジン部、10
…入庫パレット部、11…側面マーク検査部(印字読み
取り部)11、12…下面マーク検査部(印字読み取り
部)12、13…位置検出部、14…キューブ供給部、
15…出庫パレット部15、16…搬送ロボット部1
6、17,18…トレイ引き出し部、19,20…部品
倉庫部、21…ドライヤ部(除湿乾燥部)21、半導体
装置(電子部品)H1〜H3、ND…入庫データ、SD
…出庫データ、BF…部品倉庫管理ファイル。1 ... parts serving system, 2 ... host computer, 3 ...
Assembly server (data storage unit), 4 ... Bump inspection device, 5
... An item name reading and serving device, 5a... A warehouse processing unit, 5b... A warehouse processing unit, 5c.
... Operation unit, 8 ... Conveyor unit, 9 ... Magazine unit, 10
... incoming pallet section, 11 ... side mark inspection section (print reading section) 11, 12 ... bottom mark inspection section (print reading section) 12, 13 ... position detection section, 14 ... cube supply section,
15: Outgoing pallet section 15, 16 ... Transfer robot section 1
6, 17, 18: tray drawer section, 19, 20: parts warehouse section, 21: dryer section (dehumidifying / drying section) 21, semiconductor devices (electronic parts) H1 to H3, ND: warehousing data, SD
... outgoing data, BF ... parts warehouse management file.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 甲斐 直文 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町216番地 株 式会社日立製作所IPシステム事業部内 (72)発明者 甲斐 浩司 神奈川県足柄上郡中井町境456番地 株式 会社日立インフォメーションテクノロジー 内 (72)発明者 峰 敏広 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社日 立製作所エンタープライズサーバ事業部内 Fターム(参考) 3F022 AA08 BB06 EE01 EE02 JJ19 KK20 LL31 MM01 MM08 MM19 MM22 MM26 MM28 MM32 MM35 PP01 PP04 QQ17 5H215 AA06 BB01 BB18 BB20 CC07 CC09 CX01 CX05 GG09 HH03 JJ10 KK04 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Naofumi Kai 216 Totsuka-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Inside the IP Systems Division of Hitachi, Ltd. Hitachi Information Technology (72) Inventor Toshihiro Mine 1 Horiyamashita, Hadano-shi, Kanagawa F-term (reference) 3F022 AA08 BB06 EE01 EE02 JJ19 KK20 LL31 MM01 MM08 MM19 MM22 MM26 MM35 MM35 PP01 PP04 QQ17 5H215 AA06 BB01 BB18 BB20 CC07 CC09 CX01 CX05 GG09 HH03 JJ10 KK04
Claims (3)
た部品倉庫部と、 入庫される電子部品の入庫データ、出庫指示のあった電
子部品の出庫データ、および前記パレットの収納状況を
管理する部品倉庫管理ファイルが格納されたデータ格納
部と、 前記電子部品が入出庫される際に、前記電子部品に印字
された品名を読み取る印字読み取り部と、 前記データ格納部から、入庫される電子部品の入庫デー
タを抽出して、前記印字読み取り部が読み取った前記電
子部品の品名と前記入庫データの品名とを照合し、前記
データ格納手段に格納された部品倉庫管理ファイルから
収納可能な前記パレットを選択し、前記パレットのコー
ナ部から順次収納する入庫処理部と、 出庫指示のあった電子部品の出庫データを前記データ格
納部から抽出し、前記出庫データと前記部品倉庫管理フ
ァイルとに基づいて前記出庫指示のあった電子部品を前
記パレットから取り出し、前記出庫データの品名と前記
印字読み取り部が読み取った前記電子部品の品名とを照
合し、前記出庫データに基づいて出庫パレットに配膳す
る出庫処理部とを備えたことを特徴とする部品配膳シス
テム。1. A parts storage unit provided with a pallet for storing electronic parts, storage data of electronic parts to be stored, storage data of electronic parts instructed to be discharged, and parts for managing the storage status of the pallets. A data storage unit in which a warehouse management file is stored, a print reading unit that reads a product name printed on the electronic component when the electronic component is moved in and out, and a data reading unit that stores the electronic component. The storage data is extracted, the product name of the electronic component read by the print reading unit is compared with the product name of the storage data, and the pallet that can be stored is selected from the component warehouse management file stored in the data storage unit. A storage processing unit that sequentially stores the pallets from the corners of the pallet; and a retrieval data of the electronic component instructed to be retrieved from the data storage unit. The electronic component having the delivery instruction is taken out from the pallet based on the warehouse data and the parts warehouse management file, and the product name of the warehouse data is compared with the product name of the electronic component read by the print reading unit. A delivery processing unit for serving on a delivery pallet based on the delivery data.
て、前記入庫処理部は、選択した前記パレットに、すで
に出庫したあとの未収納部分がある場合には、その未収
納部分から優先的に前記電子部品を収納することを特徴
とする部品配膳システム。2. The parts distribution system according to claim 1, wherein, when the selected pallet has an unstored portion that has already been delivered to the selected pallet, the storage processing section preferentially starts with the unstored portion. A component serving system for storing electronic components.
ムにおいて、前記部品倉庫部内の雰囲気を、ある湿度以
下まで除湿する除湿乾燥部を備えたことを特徴とする部
品配膳システム。3. The component serving system according to claim 1, further comprising a dehumidifying / drying unit configured to dehumidify an atmosphere in the component warehouse to a certain humidity or less.
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