JP2001351094A - Method and device for inspecting electronic display - Google Patents
Method and device for inspecting electronic displayInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明はプラズマディスプレ
イ等の電子ディスプレイの表示欠陥を、自動的に検査す
る電子ディスプレイ画質検査装置の改良に関するもので
ある。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement in an electronic display image quality inspection apparatus for automatically inspecting display defects of an electronic display such as a plasma display.
【０００２】[0002]
【従来の技術】まず、従来技術の一例として、ＣＣＤカ
メラを使用したプラズマディスプレイの画質検査装置に
ついて、図４のブロック構成図、図５，図６の検査領域
検出の動作を説明するためのモニタ画面の模式図を用い
て説明する。１はプラズマディスプレイ等の電子ディス
プレイ装置、２はＣＣＤカメラ等の撮像部、３’は電子
ディスプレイ１に所定の画像を表示させる為の信号発生
器、４’は検査領域検出及び画素欠陥を検出する画像処
理部、５’は各種機器の制御及び検出した欠陥データを
管理記憶するパーソナルコンピュータ、６’は検査結果
を表示又は印字するカラーモニタ、プリンタ等の表示
部、７’は本検査装置の操作部である。従来方式では、
まず、プラズマディスプレイ１の全表示面が白色で表示
されるような表示パターン画像信号を信号発生器３’に
より出力し、その時のプラズマディスプレイ１の表示面
を、ＣＣＤカメラ２により撮像し、得られた画像信号を
画像処理部４’に送出する。画像処理部４’では、図５
に示すように、得られた白色の表示面画像の中央部(図
の座標(x0,y0))から、上下左右の４方向に輝度レベルの
低くなる座標位置を検出していく(ここでは、座標(xi,y
0),(x0,yj),(-xi,y0),(x0,-yj))。これにより、プラズ
マディスプレイ１の表示面の境界ライン(黒の太枠で表
示)を検出し、その座標から検査領域を検出・決定し、
当該検査領域内でのプラズマディスプレイ１の欠陥を、
得られる画像信号レベルに基づいて検査していた。2. Description of the Related Art First, as an example of the prior art, an image quality inspection apparatus for a plasma display using a CCD camera is shown in a block diagram of FIG. 4 and a monitor for explaining the operation of detecting an inspection area in FIGS. This will be described with reference to a schematic diagram of the screen. 1 is an electronic display device such as a plasma display, 2 is an imaging unit such as a CCD camera, 3 'is a signal generator for displaying a predetermined image on the electronic display 1, 4' is an inspection area detection and a pixel defect detection An image processing unit, 5 'is a personal computer for controlling and controlling various devices and managing detected defect data, 6' is a display unit such as a color monitor or printer for displaying or printing inspection results, and 7 'is an operation of the inspection apparatus. Department. In the conventional method,
First, a display pattern image signal such that the entire display surface of the plasma display 1 is displayed in white is output by the signal generator 3 ′, and the display surface of the plasma display 1 at that time is imaged by the CCD camera 2. The image signal is sent to the image processing unit 4 '. In the image processing unit 4 ', FIG.
As shown in ( 3 ), from the center of the obtained white display surface image (coordinates (x 0 , y 0 ) in the figure), coordinate positions where the luminance level decreases in four directions, up, down, left, and right are detected (here, Then, the coordinates (x i , y
0), (x 0, y j), (- x i, y 0), (x 0, -y j)). As a result, a boundary line (displayed with a thick black frame) on the display surface of the plasma display 1 is detected, and an inspection area is detected and determined from its coordinates.
Defects of the plasma display 1 in the inspection area are
The inspection was performed based on the obtained image signal level.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】この為に、図５に示す
ように、プラズマディスプレイ１に断線等のライン欠陥
ｌDが生じ、表示面上に非点灯ラインが存在した場合
は、このラインが低輝度となるため、このライン欠陥ｌ
D部分を、上記検査領域の境界ラインと誤認識し、検査
領域を狭めてしまう。 そのため、このライン欠陥ｌD
部分より下側の表示面部分(図の斜線部分)の欠陥検出を
行わないという問題が有った。さらに、図６に示すよう
に、プラズマディスプレイ１に対しＣＣＤカメラ２が傾
いていた場合に、上記の様にして検出・決定した検査領
域から、実際の表示面部分がはみ出してしまい、欠陥検
出を行わない非検査領域が出来てしまう問題が有り、こ
れを補正する為には、複雑な補正処理が必要であった。
本発明はこれらの欠点を除去し、プラズマディスプレイ
の表示ラインの断線、短絡等によりライン状の表示欠陥
があった場合でも、正確に検査領域を検出し、ライン状
の表示欠陥を容易に検出し、プラズマディスプレイとＣ
ＣＤカメラ間の傾きを容易に補正することのできる電子
ディスプレイ画質検査装置の実現を目的とする。For this reason, as shown in FIG. 5, when a line defect ID such as a disconnection occurs in the plasma display 1 and a non-lighting line exists on the display surface, the line is turned off. This line defect l
The D portion is erroneously recognized as a boundary line of the inspection area, and the inspection area is narrowed. Therefore, this line defect l D
There is a problem that the defect detection is not performed on the display surface portion (the hatched portion in the figure) below the portion. Further, as shown in FIG. 6, when the CCD camera 2 is tilted with respect to the plasma display 1, the actual display surface portion protrudes from the inspection area detected and determined as described above, and the defect detection is performed. There is a problem that a non-inspection area that is not performed is generated, and a complicated correction process is required to correct this.
The present invention eliminates these drawbacks and accurately detects the inspection area even when there is a line-shaped display defect due to disconnection or short circuit of the display line of the plasma display, and easily detects the line-shaped display defect. , Plasma display and C
It is an object of the present invention to provide an electronic display image quality inspection apparatus capable of easily correcting a tilt between CD cameras.
【０００４】[0004]
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために、電子ディスプレイの表示面を撮像し、得
られた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に
生ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査方法にお
いて、上記電子ディスプレイに所定の高輝度レベルの画
枠を表示させて撮像し、得られた画像信号の縦方向及び
横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた
各積算信号から当該画像信号の上下左右それぞれで最大
輝度レベルとなる座標位置を検出し、当該各座標位置に
基づき、上記電子ディスプレイの検査領域を決定し、検
査するようにしたものである。また、上記検出した各最
大輝度レベル値が所定の輝度レベル以下の場合、当該各
最大輝度レベル値が最も高くなるように、上記電子ディ
スプレイ表示面の撮像角度を調整するようにしたもので
ある。さらに、上記電子ディスプレイに全表示面が所定
の高輝度レベルとなる表示パターンを表示させて撮像
し、得られた画像信号の縦方向及び横方向における画素
レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号に基づき
ライン状の欠陥を検出するようにしたものである。According to the present invention, there is provided an electronic display for imaging a display surface of an electronic display and inspecting a display pixel of the electronic display for a defect based on an obtained image signal. In the inspection method, an image frame of a predetermined high luminance level is displayed on the electronic display to take an image, the pixel levels in the vertical direction and the horizontal direction of the obtained image signal are integrated, and from the obtained integrated signals, A coordinate position having a maximum luminance level is detected at each of the upper, lower, left, and right sides of the image signal, and an inspection area of the electronic display is determined and inspected based on the respective coordinate positions. When each of the detected maximum luminance level values is equal to or less than a predetermined luminance level, the imaging angle of the display surface of the electronic display is adjusted so that each of the maximum luminance level values becomes the highest. Further, the electronic display displays a display pattern in which the entire display surface has a predetermined high luminance level, takes an image, and integrates the pixel levels in the vertical and horizontal directions of the obtained image signal, and obtains each of the obtained integrations. A line-like defect is detected based on a signal.
【０００５】また、電子ディスプレイ表示面を撮像し、
得られた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素
に生ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査装置に
おいて、上記電子ディスプレイ表示面に所定の高輝度レ
ベルの画枠を表示させる信号発生手段と、当該電子ディ
スプレイ表示面を撮像する撮像手段と、該撮像手段によ
り得られた画像信号の縦方向および横方向における画素
レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号から当該
画像信号の上下左右それぞれで最大輝度レベルとなる座
標位置を検出し、当該各座標位置に基づき、上記電子デ
ィスプレイの検査領域を決定し、上記電子ディスプレイ
表示面を検査する画像処理手段を有するものである。ま
た、上記検出した各最大輝度レベル値が所定の輝度レベ
ル以下の場合、当該各最大輝度レベル値が最も高くなる
ように、上記電子ディスプレイ表示面に対する上記撮像
手段の撮像角度を調整する手段を有するものである。更
に、上記信号発生手段は、上記電子ディスプレイの検査
領域の決定後、上記電子ディスプレイに全表示面が所定
の高輝度レベルとなる表示パターン画像信号を出力する
ものであり、上記画像処理手段は、この時得られた画像
信号の縦方向及び横方向における画素レベルをそれぞれ
積算し、得られた各積算信号に基づきライン状の欠陥を
検出するものである。その結果、電子ディスプレイ表示
面の検査領域を正確に検出することができ、電子ディス
プレイに対する撮像手段の傾き補正も容易に行うことが
できる。さらに、表示ラインの断線、短絡等によるライ
ン状欠陥も容易に検出が可能となる。Further, an image of the display surface of the electronic display is taken,
In an electronic display inspection apparatus for inspecting a defect occurring in a display pixel of an electronic display based on an obtained image signal, a signal generating means for displaying an image frame of a predetermined high luminance level on the display surface of the electronic display; An image pickup means for picking up an image on the display surface, and a pixel level in a vertical direction and a horizontal direction of an image signal obtained by the image pickup means are respectively integrated, and the maximum luminance level in each of the upper, lower, left and right of the image signal is obtained from the obtained integrated signal And an image processing means for determining an inspection area of the electronic display based on each coordinate position and inspecting the display surface of the electronic display. Further, when each of the detected maximum luminance level values is equal to or less than a predetermined luminance level, the image processing apparatus has a unit that adjusts an imaging angle of the imaging unit with respect to the display surface of the electronic display so that each of the maximum luminance level values becomes the highest. Things. Further, the signal generating means, after determining the inspection area of the electronic display, to output a display pattern image signal of the entire display surface at a predetermined high brightness level to the electronic display, the image processing means, The pixel levels in the vertical and horizontal directions of the image signal obtained at this time are integrated, and a line-like defect is detected based on the obtained integrated signals. As a result, the inspection area on the display surface of the electronic display can be accurately detected, and the inclination of the imaging unit with respect to the electronic display can be easily corrected. Further, line-like defects due to disconnection or short circuit of the display line can be easily detected.
【０００６】[0006]
【発明の実施の形態】以下、本発明の電子ディスプレイ
検査装置の一実施例を、プラズマディスプレイの検査装
置を例にして、図１により説明する。１はプラズマディ
スプレイ等の電子ディスプレイ装置、２はＣＣＤカメラ
等の撮像部、３はプラズマディスプレイに所定画像を表
示させるための信号発生器、４は検査領域検出及び画素
欠陥を検出する画像処理部、５は各種機器の制御及び検
出した欠陥データを管理記憶するパーソナルコンピュー
タ、６は検査結果を表示又は印字するカラーモニタ、プ
リンタ等の表示部、７は本検査装置の操作部、８はプラ
ズマディスプレイ１に対するＣＣＤカメラ２の傾きを補
正する回転機構である。以下、この動作について、図１
〜図３を用いて詳細に説明する。本方式では、まず、図
２のモニタ画面の模式図に示す様に、例えば、プラズマ
ディスプレイ表示面の一番外側の１画素ラインで囲まれ
た画枠部分のみが高輝度レベルとなる、例えば白色で表
示されるような表示パターンの画像信号を、信号発生器
３で発生し、プラズマディスプレイ１に出力する。な
お、図２では、図面表示を簡略化するため、白と黒を反
転し、白色で表示される表示面の一番外側の１画素ライ
ンで囲まれた画枠部分を黒の太枠で表示し、他の低輝度
レベル部分を白色で表示しているが、実際は図の右側及
び下側に表示の波形のように、画枠部分が高輝度レベル
で、他の部分が低輝度レベルとなる。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of an electronic display inspection apparatus according to the present invention will be described below with reference to FIG. 1 using a plasma display inspection apparatus as an example. 1 is an electronic display device such as a plasma display, 2 is an imaging unit such as a CCD camera, 3 is a signal generator for displaying a predetermined image on the plasma display, 4 is an image processing unit for detecting an inspection area and detecting a pixel defect, Reference numeral 5 denotes a personal computer for controlling and storing various defect data detected and detected by a personal computer; 6, a display unit such as a color monitor and a printer for displaying or printing inspection results; 7, an operation unit of the inspection apparatus; This is a rotation mechanism for correcting the inclination of the CCD camera 2 with respect to. Hereinafter, this operation will be described with reference to FIG.
This will be described in detail with reference to FIG. In this method, first, as shown in the schematic diagram of the monitor screen in FIG. 2, for example, only the image frame portion surrounded by the outermost one pixel line on the plasma display surface has a high brightness level, for example, white color. An image signal of a display pattern such as that shown by (1) is generated by the signal generator 3 and output to the plasma display 1. In FIG. 2, in order to simplify the drawing display, white and black are inverted, and an image frame portion surrounded by the outermost one pixel line of the display surface displayed in white is displayed as a thick black frame. Although the other low-luminance level portions are displayed in white, the image frame portion is at a high-luminance level and the other portions are at a low-luminance level, as in the waveforms displayed on the right and lower sides of the figure. .
【０００７】次に、その時のプラズマディスプレイ１の
表示面を、ＣＣＤカメラ２によって撮像し、得られた画
像信号を画像処理部４に送出する。画像処理部４では、
図２のモニタ画面の右側及び下側に表示の波形の模式図
に示すように、この画像信号を縦方向および横方向に積
算し、該積算したそれぞれの信号波形から、上下左右の
各最大レベル位置(Ｕmax,Ｄmax,Ｌmax,Ｒmax)を算出
し、対応する４つの座標位置((xL,yU),(xL,yD),(xR,
yU),(xR,yD))で囲まれた部分を検査領域として決定す
る。次に、例えば、プラズマディスプレイ１の全表示面
が白色で表示されるような表示パターン画像信号を信号
発生器３により出力し、その時のプラズマディスプレイ
１の表示面をＣＣＤカメラ２により撮像し、得られた画
像信号を画像処理部４に送出する。そして、画像処理部
４では、検出した検査領域内における画像信号のレベル
を検出して、表示面の欠陥検査(点灯画素、消灯画素等
の検出)を行う。 例えば、画像信号の縦方向と横方向
の縦方向および横方向における画素レベルをそれぞれ積
算後、闘値と判定することにより、表示ラインの断線、
短絡等によるライン状欠陥の検出を行う。 そして、該
検査結果をパーソナルコンピュータ５へ送出する。パー
ソナルコンピュータ５では、これらの欠陥データを記憶
・管理し、表示部６へ送出する。 表示部６では、上記
の検査結果を表示し、必要に応じてプリンタ等に印字を
行う。 なお、操作部７は、上記した測定開始、停止等
の制御及び検査手順の設定を行うものである。以上の様
にして、プラズマディスプレイ１の検査領域を的確に検
出後、表示面の欠陥を、得られる画像信号レベルに基づ
いて検査することができる。Next, the display surface of the plasma display 1 at that time is imaged by the CCD camera 2, and the obtained image signal is sent to the image processing section 4. In the image processing unit 4,
As shown in the schematic diagrams of the waveforms displayed on the right and lower sides of the monitor screen in FIG. 2, this image signal is integrated in the vertical and horizontal directions, and the upper, lower, left and right maximum levels are obtained from the integrated signal waveforms. position (Umax, Dmax, Lmax, Rmax ) is calculated, and the corresponding four coordinate positions ((x L, y U) , (x L, y D), (x R,
y U), determined as (x R, y D)) examination region portion surrounded by. Next, for example, a display pattern image signal such that the entire display surface of the plasma display 1 is displayed in white is output by the signal generator 3, and the display surface of the plasma display 1 at that time is imaged by the CCD camera 2. The obtained image signal is sent to the image processing unit 4. Then, the image processing unit 4 detects the level of the image signal in the detected inspection area and performs a defect inspection of the display surface (detection of a lit pixel, an unlit pixel, and the like). For example, after integrating the pixel levels in the vertical direction and the horizontal direction of the image signal in the vertical direction and the horizontal direction, respectively, and determining the threshold value, disconnection of the display line,
A line-like defect due to a short circuit or the like is detected. Then, the inspection result is sent to the personal computer 5. The personal computer 5 stores and manages these defect data and sends it to the display unit 6. The display unit 6 displays the above inspection result and prints it on a printer or the like as necessary. The operation unit 7 controls the start and stop of the measurement and sets the inspection procedure. As described above, after accurately detecting the inspection area of the plasma display 1, a defect on the display surface can be inspected based on the obtained image signal level.
【０００８】更に本発明では、回転機構８を有してお
り、プラズマディスプレイ１に対するＣＣＤカメラ２の
傾きを、以下のようにして補正することができる。即
ち、前述の検査領域の検出、決定処理において、図３に
示す様に、プラズマディスプレイ１に対してＣＣＤカメ
ラ２が傾いていた場合は、このとき得られた画像信号を
縦方向及び横方向に積算すると、当該積算したそれぞれ
の信号波形における上下左右の各最大レベル値(Ｕmax,
Ｄmax,Ｌmax,Ｒmax)が、図２の場合に比べて低く、旦つ
信号波形の山の幅が広がる。そこで、このことを利用
し、上記それぞれの最大レベルが最も大きくなるよう
に、回転機構８を制御することにより、プラズマディス
プレイ１に対するＣＣＤカメラ２の傾き補正を行うこと
ができる。そして、この傾き補正後、前述のようにし
て、プラズマディスプレイ１の検査領域を的確に検出
し、プラズマディスプレイ１の表示面の欠陥を、得られ
る画像信号レベルに基づいて検査することができる。こ
れにより、プラズマディスプレイの表示面の検査領域を
正確に検出することができ、プラズマディスプレイに対
するＣＣＤカメラの傾き補正も、容易に行うことができ
る。 更に、表示ラインの断線、短絡等によるライン状
欠陥も容易に検出が可能となる。Further, according to the present invention, the rotation mechanism 8 is provided, and the inclination of the CCD camera 2 with respect to the plasma display 1 can be corrected as follows. That is, when the CCD camera 2 is tilted with respect to the plasma display 1 in the detection and determination processing of the inspection area described above, as shown in FIG. When integrated, each of the upper, lower, left, and right maximum level values (Umax,
Dmax, Lmax, Rmax) are lower than in the case of FIG. 2, and the width of the peak of the signal waveform increases each time. Therefore, by utilizing this fact, the inclination of the CCD camera 2 with respect to the plasma display 1 can be corrected by controlling the rotation mechanism 8 so that each of the maximum levels is maximized. After the inclination correction, as described above, the inspection area of the plasma display 1 can be accurately detected, and the defect of the display surface of the plasma display 1 can be inspected based on the obtained image signal level. Thus, the inspection area on the display surface of the plasma display can be accurately detected, and the inclination of the CCD camera with respect to the plasma display can be easily corrected. Further, a line-like defect due to disconnection or short circuit of the display line can be easily detected.
【０００９】[0009]
【発明の効果】本発明によれば、電子ディスプレイの表
示ラインの断線、短絡等によりライン状の表示欠陥があ
った場合でも、正確に検査領域を検出することが可能と
なり、また、ライン状の表示欠陥も容易に検出できる。
また、電子ディスプレイに対するＣＣＤカメラ等の撮
像部の傾きも容易に補正することが可能となる。According to the present invention, the inspection area can be accurately detected even if there is a linear display defect due to disconnection or short circuit of the display line of the electronic display. Display defects can be easily detected.
In addition, it is possible to easily correct the inclination of the imaging unit such as a CCD camera with respect to the electronic display.
【図１】本発明による電子ディスプレイ検査装置の構成
の一実施例を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of a configuration of an electronic display inspection apparatus according to the present invention.
【図２】本発明による検査領域検出方式の処理動作を説
明する模式図FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a processing operation of an inspection area detection method according to the present invention.
【図３】本発明による検査領域検出方式の処理動作を説
明する模式図FIG. 3 is a schematic diagram illustrating a processing operation of an inspection area detection method according to the present invention.
【図４】従来の電子ディスプレイ検査装置の構成を示す
ブロック図FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a conventional electronic display inspection device.
【図５】従来の検査領域検出方式の処理動作を説明する
模式図FIG. 5 is a schematic diagram illustrating a processing operation of a conventional inspection area detection method.
【図６】従来の検査領域検出方式の処理動作を説明する
模式図FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a processing operation of a conventional inspection area detection method.
１：プラズマディスプレイ、２：撮像部（ＣＣＤカメ
ラ）、３：信号発生器、４：画像処理部、５：パーソナ
ルコンピュータ、６：表示部、７：操作部、８：回転機
構。1: plasma display, 2: imaging unit (CCD camera), 3: signal generator, 4: image processing unit, 5: personal computer, 6: display unit, 7: operation unit, 8: rotating mechanism.
Claims (6)
れた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に生
ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査方法におい
て、上記電子ディスプレイに所定の高輝度レベルの画枠
を表示させて撮像し、得られた画像信号の縦方向および
横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた
各積算信号から当該画像信号の上下左右それぞれで最大
輝度レベルとなる座標位置を検出し、当該各座標位置に
基づき、上記電子ディスプレイの検査領域を決定し、検
査することを特徴とする電子ディスプレイの検査方法。1. An electronic display inspection method for imaging a display surface of an electronic display and inspecting a defect generated in a display pixel of the electronic display based on an obtained image signal, wherein the electronic display has a predetermined high brightness level image frame. Is displayed and imaged, and the pixel levels in the vertical and horizontal directions of the obtained image signal are respectively integrated, and a coordinate position at which a maximum luminance level is obtained in each of the upper, lower, left, and right of the image signal is detected from the obtained integrated signals. And determining an inspection area of the electronic display based on each of the coordinate positions, and inspecting the electronic display.
輝度レベル値が所定の輝度レベル以下の場合、当該各最
大輝度レベル値が最も高くなるように、上記電子ディス
プレイ表示面の撮像角度を調整することを特徴とする電
子ディスプレイの検査方法。2. The electronic angle display device according to claim 1, wherein when the detected maximum luminance level value is equal to or less than a predetermined luminance level, the imaging angle of the electronic display surface is adjusted so that the maximum luminance level value becomes the highest. A method for inspecting an electronic display.
ィスプレイに全表示面が所定の高輝度レベルとなる表示
パターンを表示させて撮像し、得られた画像信号の縦方
向及び横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得
られた各積算信号に基づきライン状の欠陥を検出するこ
とを特徴とする電子ディスプレイ検査方法。3. A pixel level in a vertical direction and a horizontal direction of an obtained image signal according to claim 1 or 2, wherein the electronic display displays a display pattern in which the entire display surface has a predetermined high luminance level and takes an image. , And detecting a linear defect based on each of the obtained integrated signals.
れた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に生
ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査装置におい
て、上記電子ディスプレイ表示面に所定の高輝度レベル
の画枠を表示させる信号発生手段と、当該電子ディスプ
レイ表示面を撮像する撮像手段と、該撮像手段により得
られた画像信号の縦方向および横方向における画素レベ
ルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号から当該画像
信号の上下左右それぞれで最大輝度レベルとなる座標位
置を検出し、当該各座標位置に基づき、上記電子ディス
プレイの検査領域を決定し、上記電子ディスプレイ表示
面を検査する画像処理手段を有することを特徴とする電
子ディスプレイの検査装置。4. An electronic display inspection apparatus for imaging a display surface of an electronic display and inspecting a defect generated in a display pixel of the electronic display based on an obtained image signal. A signal generating means for displaying an image frame, an imaging means for imaging the display surface of the electronic display, and a pixel level in a vertical direction and a horizontal direction of an image signal obtained by the imaging means, respectively, and each obtained integration is obtained. Image processing means for detecting a coordinate position at which a maximum luminance level is obtained at each of the upper, lower, left and right sides of the image signal from the signal, determining an inspection area of the electronic display based on the respective coordinate positions, and inspecting the electronic display surface. An inspection device for an electronic display, comprising:
輝度レベル値が所定の輝度レベル以下の場合、当該各最
大輝度レベル値が最も高くなるように、上記電子ディス
プレイ表示面に対する上記撮像手段の撮像角度を調整す
る手段を有することを特徴とする電子ディスプレイの検
査装置。5. The electronic image display device according to claim 4, wherein when the detected maximum luminance level values are equal to or less than a predetermined luminance level, the image pickup means with respect to the display surface of the electronic display so that the respective maximum luminance level values become the highest. An inspection apparatus for an electronic display, comprising: means for adjusting an imaging angle.
生手段を、上記電子ディスプレイの検査領域の決定後、
上記電子ディスプレイに全表示面が所定の高輝度レベル
となる表示パターン画像信号を出力するものとし、上記
画像処理手段を、この時得られた画像信号の縦方向及び
横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた
各積算信号に基づきライン状の欠陥を検出するものとし
たことを特徴とする電子ディスプレイ検査装置。6. The electronic device according to claim 4, wherein the signal generating unit is configured to determine an inspection area of the electronic display.
A display pattern image signal in which the entire display surface has a predetermined high luminance level is output to the electronic display, and the image processing means integrates the pixel levels in the vertical and horizontal directions of the image signal obtained at this time. An electronic display inspection apparatus for detecting a linear defect based on each of the obtained integrated signals.
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|---|---|---|---|
| JP2000173085A JP3846840B2 (en) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | Inspection method and apparatus for electronic display |
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