JP2001334780A - Device for judging genuineness or spuriousness of card - Google Patents

Device for judging genuineness or spuriousness of card

Info

Publication number
JP2001334780A
JP2001334780A JP2000154708A JP2000154708A JP2001334780A JP 2001334780 A JP2001334780 A JP 2001334780A JP 2000154708 A JP2000154708 A JP 2000154708A JP 2000154708 A JP2000154708 A JP 2000154708A JP 2001334780 A JP2001334780 A JP 2001334780A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
card
light
diffraction
reflected
line sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000154708A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Nobuo Hori
信男 堀
Shigenori Nagano
繁憲 永野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP2000154708A priority Critical patent/JP2001334780A/en
Priority to KR1020017016282A priority patent/KR20020021131A/en
Priority to EP01921897A priority patent/EP1195712A1/en
Priority to PCT/JP2001/003335 priority patent/WO2001080172A1/en
Priority to US10/018,966 priority patent/US20020131597A1/en
Priority to CA002376890A priority patent/CA2376890A1/en
Priority to CN01800978A priority patent/CN1366649A/en
Publication of JP2001334780A publication Critical patent/JP2001334780A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Credit Cards Or The Like (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device for judging genuineness or spuriousness of a card by objectively and quickly judging genuineness or spuriousness of the card having the hologram on which the plural number of images based on a diffraction pattern has been formed. SOLUTION: The device is provided with a floodlighting system 22 for floodlighting a measuring light against a hologram 2 provided on the card 1 and in which an image is formed based on the plural number of diffraction patterns 6, a detecting system 23 having a line sensor 28a for detecting the plural number of reflecting lights respectively diffracted reflectingly by the diffraction pattern, and judging means 30a to 30c, 31a to 31c for judging whether the card is genuine or spurious by analyzing a photo-electric light based on each reflecting diffraction light of the line sensor 28a.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、回折パターンに基
づく画像が形成されたホログラムを有するカードの真贋
を判定するカードの真贋判定装置に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a device for determining the authenticity of a card having a hologram on which an image based on a diffraction pattern is formed.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、図1に示すように、例えば、
クレジットカード等のカード1にはホログラムシール2
が設けられているものが知られている。そのホログラム
シール2には回折パターン3に基づく画像4’が形成さ
れている。そのホログラムシール2はカード1の真贋の
判別に用いられる。
2. Description of the Related Art Conventionally, as shown in FIG.
Hologram sticker 2 on a card 1 such as a credit card
Is known. On the hologram seal 2, an image 4 'based on the diffraction pattern 3 is formed. The hologram seal 2 is used to determine the authenticity of the card 1.

【0003】そのカード1には、偽造を防止するため
に、回折パターン3を構成する回折格子の配列形成方向
を変えて、複数個の画像を形成したものもある。
Some cards 1 have a plurality of images formed by changing the direction in which the diffraction gratings constituting the diffraction pattern 3 are formed in order to prevent forgery.

【0004】図2は例えば3つの回折パターン4、5、
6に基づき3種類の画像が形成された矩形状のホログラ
ムシール2を示し、図3(a)は矩形状のホログラムシ
ール2の一辺2aと直交する方向に回折格子が配列形成
された回折パターン4に基づく画像8を示し、図3
(b)は回折パターン4の回折格子の配列方向に対して
右斜め45度方向に回折格子が配列形成された回折パタ
ーン5に基づく画像9を示し、図3(c)は回折パター
ン4の回折格子の配列方向に対して左斜め45度方向に
回折格子が配列形成された回折パターン6に基づく画像
10を示し、これらの3つの画像8、9、10が重ね合
わされて、図2に示すホログラムシール2は形成され、
ホログラムシール2に対する入射光線の具合によって画
像8、9、10の見え具合が変化するものとなってい
る。その図3において、矢印は回折格子の配列形成方向
を示し、各回折格子の延びる方向はその配列方向と直交
している。
FIG. 2 shows, for example, three diffraction patterns 4, 5,.
6A and 6B show a rectangular hologram seal 2 on which three types of images are formed, and FIG. 3A shows a diffraction pattern 4 in which diffraction gratings are arranged and formed in a direction orthogonal to one side 2 a of the rectangular hologram seal 2. FIG. 3 shows an image 8 based on
FIG. 3B shows an image 9 based on the diffraction pattern 5 in which the diffraction gratings are arranged in a direction obliquely 45 degrees to the right with respect to the arrangement direction of the diffraction gratings in the diffraction pattern 4, and FIG. FIG. 2 shows an image 10 based on a diffraction pattern 6 in which diffraction gratings are arranged diagonally at 45 degrees to the left with respect to the arrangement direction of the gratings. The seal 2 is formed,
The appearance of the images 8, 9, and 10 changes depending on the state of the incident light beam on the hologram seal 2. In FIG. 3, the arrows indicate the directions in which the diffraction gratings are formed, and the direction in which each diffraction grating extends is orthogonal to the direction in which the diffraction gratings are arranged.

【0005】また、図4は例えばピッチの異なる回折格
子からなる回折パターン4”、5”、6”に基づき3種
類の画像が形成された矩形状のホログラムシール2を示
し、図5(a)は矩形状のホログラムシール2の一辺2
aと直交する方向に回折格子が配列形成されかつピッチ
P1の回折格子からなる回折パターン4”に基づく画像
8”を示し、図5(b)は回折格子の配列形成方向が回
折パターン4”の回折格子の配列形成方向と同方向でか
つピッチP2の回折格子からなる回折パターン5”に基
づく画像9”を示し、図5(c)は回折格子の配列形成
方向が回折パターン4”、5”の配列形成方向と同方向
でかつピッチP3の回折格子からなる回折パターン6”
に基づく画像10”を示し、これらの3つの画像8”、
9”、10”が重ね合わされて、図4に示すホログラム
シール2が形成され、ホログラムシール2に対する入射
光線の具合によって画像8”、9”、10”の見え具合
が変化するものとなっている。その図4、図5におい
て、矢印は回折格子の配列形成方向を示し、各回折格子
の延びる方向はその配列方向と直交している。
FIG. 4 shows a rectangular hologram seal 2 on which three types of images are formed based on, for example, diffraction patterns 4 ", 5" and 6 "composed of diffraction gratings having different pitches. Is one side 2 of the rectangular hologram seal 2
FIG. 5B shows an image 8 ″ based on a diffraction pattern 4 ″ formed of diffraction gratings having a pitch P1 in which diffraction gratings are arrayed in a direction orthogonal to a. FIG. 5C shows an image 9 ″ based on a diffraction pattern 5 ″ composed of diffraction gratings having the same pitch as the diffraction grating array and having a pitch P2. FIG. Diffraction pattern 6 "comprising a diffraction grating in the same direction as the arrangement forming direction and having a pitch P3.
10 ″ based on these three images 8 ″,
9 "and 10" are superposed to form the hologram seal 2 shown in FIG. 4 and 5, the arrows indicate the direction in which the diffraction gratings are formed, and the direction in which each diffraction grating extends is orthogonal to the direction in which the diffraction gratings are formed.

【0006】従来、このホログラムシール2に形成され
た画像を肉眼視して、カード1の真贋を判断していた。
Conventionally, the authenticity of the card 1 has been judged by visually checking the image formed on the hologram seal 2.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このホ
ログラムシール2に形成された複数個の画像を肉眼視し
て、カードの真贋を判断するのは、入射光線の方向によ
って画像が変化したり、カードに傷があったりして困難
であり、客観的にカードの真贋を判定できるカードの真
贋判定装置が望まれている。
However, a plurality of images formed on the hologram seal 2 are visually inspected to judge the authenticity of the card because the image changes depending on the direction of the incident light beam, There is a demand for a card authenticity determination device that can objectively determine the authenticity of a card.

【0008】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、その目的とするところは、回折パターンに基づく
画像が複数個形成されたホログラムを有するカードの真
贋を客観的にかつ迅速に判定することのできるカードの
真贋判定装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to objectively and quickly verify the authenticity of a card having a hologram in which a plurality of images based on a diffraction pattern are formed. An object of the present invention is to provide a card authenticity determination device capable of performing determination.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載のカード
の真贋判定装置は、カードに設けられかつ複数個の回折
パターンに基づき複数個の画像が形成されたホログラム
に対して測定光を投光する投光系と、前記回折パターン
により反射回折された複数個の反射回折光をそれぞれ検
出するラインセンサを有する検出系と、前記ラインセン
サの前記各反射回折光に基づく光電出力を解析して前記
カードが本物であるか偽物であるかを判定する判定手段
とが設けられていることを特徴とするカードの真贋判定
装置。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a card authenticating apparatus for projecting measurement light to a hologram provided on a card and having a plurality of images formed based on a plurality of diffraction patterns. A light projecting system that emits light, a detection system that has a line sensor that detects each of a plurality of reflected diffraction lights reflected and diffracted by the diffraction pattern, and a photoelectric output based on each of the reflected diffraction lights of the line sensor is analyzed. Determining means for determining whether the card is genuine or fake;

【0010】請求項2に記載のカードの真贋判定装置
は、前記複数個の反射回折光の配列形成方向が前記ライ
ンセンサの延びる方向と同一方向であることを特徴とす
る。
According to a second aspect of the present invention, in the card authenticity determining apparatus, the direction in which the plurality of reflected and diffracted light beams are formed is the same as the direction in which the line sensor extends.

【0011】請求項3に記載のカードの真贋判定装置
は、前記複数個の反射回折光の配列形成方向が前記ライ
ンセンサの延びる方向と直交する方向であることを特徴
とする。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a card authenticity determining apparatus, wherein the direction in which the plurality of reflected and diffracted light beams are formed is a direction orthogonal to the direction in which the line sensor extends.

【0012】請求項4に記載のカードの真贋判定装置
は、前記投光系が1個のレーザー光源からなることを特
徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a card authenticity determining apparatus, wherein the light projecting system comprises one laser light source.

【0013】請求項5に記載のカードの真贋判定装置
は、前記検出系が前記ラインセンサと前記カードとの間
に介在されるフーリエ変換レンズを有することを特徴と
する。
According to a fifth aspect of the present invention, in the card authenticity determining apparatus, the detection system includes a Fourier transform lens interposed between the line sensor and the card.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

【0015】[0015]

【発明の実施の形態1】図6は発明の実施の形態1に係
わるカードの真贋判定装置の概略構成を示す斜視図であ
る。
First Embodiment FIG. 6 is a perspective view showing a schematic configuration of a card authenticity judging device according to a first embodiment of the present invention.

【0016】その図6において、20はカードの真贋判
定装置のボックスである。ボックス20にはカード1の
出入口21が設けられている。そのボックス20の内部
には図7(a)、(b)に示すように、カード1に設け
られかつ回折パターンに基づく画像を形成するホログラ
ム2に対して測定光を投光する投光系22と、ホログラ
ム2から反射された反射回折光を検出する検出系23と
後述する回路ブロック部とが設けられている。
In FIG. 6, reference numeral 20 denotes a box of a card authenticity judging device. The box 20 is provided with an entrance 21 for the card 1. As shown in FIGS. 7A and 7B, a light projecting system 22 for projecting measurement light to the hologram 2 provided on the card 1 and forming an image based on a diffraction pattern is provided inside the box 20. And a detection system 23 for detecting the reflected and diffracted light reflected from the hologram 2 and a circuit block section described later.

【0017】投光系22はレーザー光源部24から構成
されている。レーザー光源部24は1個の半導体レーザ
ー24aと1個のコリメートレンズ24bとからなって
いる。コリメートレンズ24bは半導体レーザー24a
から出射されたレーザー光を平行測定光に変換する役割
を果たす。
The light projecting system 22 includes a laser light source 24. The laser light source unit 24 includes one semiconductor laser 24a and one collimating lens 24b. The collimating lens 24b is a semiconductor laser 24a
Plays a role of converting the laser light emitted from the laser beam into parallel measurement light.

【0018】検出系23は1個のフーリエ変換レンズ2
7と1個のラインセンサ28aとからなっている。カー
ド1はボックス20内に引き込まれてフーリエ変換レン
ズ27の前側焦点位置fにセットされる。ラインセンサ
28aはフーリエ変換レンズ27の後側焦点位置f’
(f=f’)にセットされる。
The detection system 23 includes one Fourier transform lens 2
7 and one line sensor 28a. The card 1 is drawn into the box 20 and set at the front focal position f of the Fourier transform lens 27. The line sensor 28a is located at the rear focal position f ′ of the Fourier transform lens 27.
(F = f ') is set.

【0019】回路ブロック部は図8に示すように制御ブ
ロック部29と解析ブロック部30a〜30cと判定ブ
ロック部31a〜31cとからなっている。制御ブロッ
ク部29はレーザー光源部24の点灯・消灯制御を行
う。
As shown in FIG. 8, the circuit block comprises a control block 29, analysis blocks 30a to 30c, and determination blocks 31a to 31c. The control block unit 29 controls turning on / off of the laser light source unit 24.

【0020】その制御ブロック部29には点灯・消灯ス
イッチS1が接続されている。点灯・消灯スイッチS1
を操作すると、半導体レーザー24aが点灯される。
An on / off switch S1 is connected to the control block 29. ON / OFF switch S1
Is operated, the semiconductor laser 24a is turned on.

【0021】半導体レーザー24aが点灯されると、平
行測定光Q1が図7(a)に示すようにそのホログラム
シール2に対するその入射角度θを一定として、図7
(b)に示すようにラインセンサ28aの延びる方向に
対して角度φ=0の入射方向からホログラムシール2に
入射される。
When the semiconductor laser 24a is turned on, the incident angle θ of the parallel measurement light Q1 with respect to the hologram seal 2 is fixed as shown in FIG.
As shown in (b), the light enters the hologram seal 2 from an incident direction at an angle φ = 0 with respect to the direction in which the line sensor 28a extends.

【0022】ホログラムシール2には図5に示す3つの
回折パターン4”、5”、6”に基づく画像8”、
9”、10”が形成されているものとする。平行測定光
Q1は回折パターン4の各回折格子の延びる方向に対し
て直交する方向から入射する。
The hologram seal 2 has an image 8 ″ based on three diffraction patterns 4 ″, 5 ″ and 6 ″ shown in FIG.
9 "and 10" are formed. The parallel measurement light Q1 enters from a direction orthogonal to the direction in which each diffraction grating of the diffraction pattern 4 extends.

【0023】回折現象は回折格子に入射する平行測定光
のうち回折格子の延びる方向に対して直交する方向から
入射する入射光ベクトル成分が寄与するので、平行測定
光Q1を入射方向φ=0度の方向からホログラムシール
2に入射させると、図7(b)に示すように、回折パタ
ーン4”、5”、6”に基づく複数個の反射回折光(一
次回折光)32、32’、32”がラインセンサ28a
上に位置するように形成される。
In the diffraction phenomenon, the incident light vector component incident from the direction perpendicular to the direction in which the diffraction grating extends contributes to the parallel measurement light incident on the diffraction grating. 7B, a plurality of reflected diffracted lights (first-order diffracted lights) 32, 32 ', 32 based on the diffraction patterns 4 ", 5", 6 ", as shown in FIG. "Is the line sensor 28a
It is formed so as to be located above.

【0024】ここで、各回折反射光の位置がラインセン
サ上でその延びる方向にずれている理由を以下に説明す
る。
Here, the reason why the position of each diffracted reflected light is shifted on the line sensor in the extending direction will be described below.

【0025】いま、回折パターン6”のみに着目し、平
行測定光Q1をホログラムシール2に入射させるものと
し、その回折パターン6”の回折格子のピッチP3が理
想的に一定間隔で揃っているものとすると、図9に実線
で示すように、ラインセンサ28a上で鋭いピークを有
しかつ広がり幅Wの狭い反射回折光32“の光量分布R
1が検出される。回折格子のピッチP3が一定間隔では
なくてばらついている場合には、図9に破線で示すよう
に、ラインセンサ28a上で光量分布R1の広がり幅W
よりも大きな広がり幅Wを有する反射回折光32”の光
量分布R2が検出される。その反射回折光32”のピー
ク強度Zは図10に示すようにホログラムシール2に形
成されている回折格子の溝41の深さ(位相深さ)によ
って決まる。
Now, paying attention only to the diffraction pattern 6 ", the parallel measurement light Q1 is made to enter the hologram seal 2, and the pitch P3 of the diffraction grating of the diffraction pattern 6" is ideally uniform at a constant interval. As shown by the solid line in FIG. 9, the light amount distribution R of the reflected diffracted light 32 "having a sharp peak on the line sensor 28a and having a narrow spread width W is obtained.
1 is detected. When the pitch P3 of the diffraction grating is not constant but varies, as shown by a broken line in FIG. 9, the spread width W1 of the light amount distribution R1 on the line sensor 28a is increased.
A light intensity distribution R2 of the reflected diffracted light 32 ″ having a larger spread width W is detected. The peak intensity Z of the reflected diffracted light 32 ″ is the peak intensity Z It is determined by the depth (phase depth) of the groove 41.

【0026】また、回折格子のピッチP3とは異なる大
きなピッチP1の回折格子がホログラムシール2に形成
されているときには、回折反射光32の光量分布R1のピ
ーク強度Zの位置が、図11に示すように、回折格子の
ピッチP3に基づく回折反射光32”の光量分布R1のピ
ーク強度Zの位置が仮に原点(検出系の光軸中心)Oに
あるものとして、その原点0から右に例えば△1だけず
れることになる。また、回折格子のピッチP3とは異な
る小さなピッチP2の回折格子がホログラムシールに形成
されているときには、光量分布のピーク強度は前述と反
対に左にずれることとなる。
When a diffraction grating having a large pitch P1 different from the pitch P3 of the diffraction grating is formed on the hologram seal 2, the position of the peak intensity Z of the light amount distribution R1 of the diffracted reflected light 32 is shown in FIG. As described above, assuming that the position of the peak intensity Z of the light quantity distribution R1 of the diffracted reflected light 32 ″ based on the pitch P3 of the diffraction grating is at the origin O (the center of the optical axis of the detection system) O, for example, △ When a diffraction grating having a small pitch P2 different from the pitch P3 of the diffraction grating is formed on the hologram seal, the peak intensity of the light amount distribution shifts to the left contrary to the above.

【0027】本物のカードは、ホログラムシール2に形
成される回折格子のピッチ、回折格子の溝の深さが厳密
に管理されているので、反射回折光の光量分布のピーク
強度Z、その光量分布の重心位置XG、その光量分布の広
がり幅Wは所定範囲内に収まっていると考えられる。
In the real card, the pitch of the diffraction grating formed on the hologram seal 2 and the depth of the groove of the diffraction grating are strictly controlled. Is considered to be within a predetermined range.

【0028】これに対して、偽造カードでは、回折格子
のピッチが本物のカードの回折格子のピッチと大きく異
なっていたり、ピッチはほとんど同じであるがそのピッ
チのばらつきが大きかったり、その回折格子の溝41の
深さが本物のカードの回折格子の溝の深さに対して大き
く異なっていたりしている。これらは、反射回折光の光
量分布のピーク強度、その光量分布の重心位置、その光
量分布の広がりという光学的特性として現れるから、こ
れらの光学的特性を解析することによって、本物のカー
ドか偽造カードであるかを判断できることになる。
On the other hand, in the counterfeit card, the pitch of the diffraction grating is significantly different from the pitch of the diffraction grating of the real card, or the pitch is almost the same but the pitch varies widely, or the pitch of the diffraction grating is large. The depth of the groove 41 is greatly different from the depth of the groove of the diffraction grating of the real card. These appear as optical characteristics such as the peak intensity of the light intensity distribution of the reflected diffracted light, the position of the center of gravity of the light intensity distribution, and the spread of the light intensity distribution. By analyzing these optical characteristics, a genuine card or a forged card is analyzed. Can be determined.

【0029】なお、各反射光束の重心位置の代わりに、
或いは、それに加えて、各反射光束の重心位置の相互の
間隔により判断しても良い。
Note that instead of the position of the center of gravity of each reflected light beam,
Alternatively, in addition to this, the determination may be made based on the mutual distance between the positions of the centers of gravity of the respective reflected light beams.

【0030】従って、回折格子のピッチが異なる3つの
回折パターンに基づく3つの画像がホログラムシール2
に形成されていなければならないところ、唯1個の画像
しか形成されていないような偽造カードの場合には、3
つの回折反射光32、32’、32”が得られず、すな
わち、唯1個の回折反射光しか得られないので、回折反
射光のピーク強度Zの個数によって、偽造カードか否か
を判断できることになる。
Therefore, three images based on three diffraction patterns having different diffraction grating pitches are formed on the hologram seal 2.
However, in the case of a forged card in which only one image is formed, 3
Since two diffracted reflected lights 32, 32 ', 32 "are not obtained, that is, only one diffracted reflected light is obtained, it can be determined whether or not the card is a counterfeit card based on the number of peak intensities Z of the diffracted reflected light. become.

【0031】従って、図8に示すように、ラインセンサ
28aによって検出された回折反射光32、32‘、3
2“に基づく光電出力を解析ブロック部30a〜30c
に入力して、この解析ブロック部30a〜30cによっ
て、回折反射光32、32’、32”の光量分布のピー
ク強度Z、その各重心位置XG、その各広がり幅W(標準
偏差)を統計的手法を用いて演算すれば、本物のカード
か偽造カードであるかを判定できることになる。
Therefore, as shown in FIG. 8, the diffracted and reflected lights 32, 32 ', and 3' detected by the line sensor 28a.
The photoelectric output based on 2 "is analyzed by the analysis block units 30a to 30c.
And the analysis block units 30a to 30c statistically calculate the peak intensity Z of the light quantity distribution of the diffracted reflected light 32, 32 ', 32 ", its center of gravity XG, and its spread width W (standard deviation). If the calculation is performed using the technique, it can be determined whether the card is a genuine card or a counterfeit card.

【0032】いま、図9において、ラインセンサ28a
の画素ナンバーを左から順に1、2、…i、…、nとし
て、各画素の光電出力をXiとすると、下記の式(1)に
よって、光量分布の重心位置XGが得られる。また、光量
分布の広がり幅Wは、下記の式(2)によって、標準偏
差σとして得られる。
Now, in FIG. 9, the line sensor 28a
, I,..., N from the left, and the photoelectric output of each pixel is Xi, the center of gravity XG of the light quantity distribution is obtained by the following equation (1). Further, the spread width W of the light quantity distribution is obtained as the standard deviation σ by the following equation (2).

【0033】その図9には、回折反射光32”のみが図
示されているが、本物のカードの場合には、この回折反
射光32”の両側に回折反射光32,32’が得られる
こととなる。
FIG. 9 shows only the diffracted reflected light 32 ". In the case of a real card, the diffracted reflected light 32 and 32 'are obtained on both sides of the diffracted reflected light 32". Becomes

【0034】[0034]

【数1】 (Equation 1)

【0035】すなわち、各解析ブロック部30a〜30
cは上記(1)、(2)式に基づいて演算を行ってその
演算結果を一時的にメモリする機能と、ピーク強度Zを
一時的にメモリする機能とを有する。
That is, each of the analysis block units 30a to 30
c has a function of performing a calculation based on the above equations (1) and (2) and temporarily storing the calculation result, and a function of temporarily storing the peak intensity Z.

【0036】この解析ブロック部30a〜30cの解析
出力は判定ブロック部31a〜31cに入力される。そ
の判定ブロック部31a〜31cは、比較器43a〜4
3c、44a〜44c,45a〜45c、許容値設定器
46a〜46c、47a〜47c、48a〜48c、総
合判定部49から大略構成されている。
The analysis outputs of the analysis blocks 30a to 30c are input to the determination blocks 31a to 31c. The decision block units 31a to 31c include comparators 43a to 43c.
3c, 44a to 44c, 45a to 45c, allowable value setting units 46a to 46c, 47a to 47c, 48a to 48c, and a comprehensive judgment unit 49.

【0037】許容値設定器46a〜46cは光量分布の
ピーク強度Zの許容範囲を設定し、許容値設定器47a
〜47cは光量分布の重心位置の許容範囲を設定し、許
容値設定器48a〜48cは光量分布の広がり幅の許容
範囲を設定する。
The allowable value setting units 46a to 46c set the allowable range of the peak intensity Z of the light quantity distribution, and
47c sets the allowable range of the center of gravity of the light amount distribution, and the allowable value setting units 48a to 48c set the allowable range of the spread width of the light amount distribution.

【0038】なお、画像8”、9”、10”を形成する
回折パターン4”、5”、6”毎にその光量分布のピー
ク強度Z、重心位置XG、広がり幅Wが異なるので、各許容
範囲は各ラインセンサ毎に設定する。
The peak intensity Z, the center of gravity XG, and the spread width W of the light amount distribution are different for each of the diffraction patterns 4 ", 5", 6 "forming the images 8", 9 ", 10". The range is set for each line sensor.

【0039】比較器43a〜43cには解析ブロック部
30a〜30cから各ピーク強度解析出力が入力され、
比較器44a〜44cには解析ブロック部30a〜30
cから各重心位置解析出力が入力され、比較器45a〜
45cには解析ブロック部30cから各広がり幅解析出
力が入力される。
The comparators 43a to 43c receive respective peak intensity analysis outputs from the analysis block units 30a to 30c.
The comparators 44a to 44c include the analysis block units 30a to 30
c, the output of each center-of-gravity position analysis is input to the comparators 45a to 45a.
An output of each spread width analysis is input to 45c from the analysis block unit 30c.

【0040】その比較器43a〜43cは許容値設定器
46a〜46cにより設定されたカード真贋判定用のピ
ーク強度許容範囲にピーク強度解析出力があるか否かを
比較し、その比較器44a〜44cは許容値設定器47
a〜47cにより設定された重心位置許容範囲に重心位
置解析出力があるか否かを比較し、その比較器45a〜
45cは許容値設定器48a〜48cにより設定された
カード真贋判定用の広がり幅許容範囲に広がり幅解析出
力があるか否かを比較する。
The comparators 43a to 43c compare whether or not there is a peak intensity analysis output within the allowable range of the peak intensity for card authenticity set by the allowable value setting units 46a to 46c. Is the tolerance setting unit 47
a to 47c to determine whether or not there is a center-of-gravity position analysis output in the center-of-gravity position allowable range.
Reference numeral 45c compares whether or not there is a spread width analysis output in the spread width allowable range for card authenticity set by the allowable value setting units 48a to 48c.

【0041】これらの比較結果は、総合判定部49に入
力され、総合判定部49は、これらの比較結果に基づい
て、本物のカードであるか、偽造カードであるか否かを
判定し、その判定結果は図6に示す表示部50に表示さ
れる。
The results of these comparisons are input to the overall judgment section 49, and the overall judgment section 49 judges whether the card is a genuine card or a counterfeit card based on these comparison results. The determination result is displayed on the display unit 50 shown in FIG.

【0042】この発明の実施の形態によれば、本物のカ
ードか偽造カードかを以下に説明する方法によって判定
できる。
According to the embodiment of the present invention, whether a card is a genuine card or a counterfeit card can be determined by the method described below.

【0043】例えば、本物のカード1には回折格子の配
列形成方向が同方向でかつピッチが異なる3種類の回折
パターンに基づく画像が形成されたホログラムシール2
が設けられかつホログラムシール2に対して測定光を投
光して得られる回折光のピークが3個検出されなければ
ならないところ、ホログラムシール2に測定光を投光し
て得られた反射回折光のピーク強度が1個しか得られな
いときには、そのカードを偽物と確実に判定できる。
For example, on a real card 1, a hologram seal 2 on which images based on three types of diffraction patterns in which the arrangement directions of the diffraction gratings are the same and the pitches are different is formed.
Is provided, and three peaks of the diffracted light obtained by projecting the measurement light to the hologram seal 2 must be detected. However, the reflected diffracted light obtained by projecting the measurement light to the hologram seal 2 When only one peak intensity is obtained, the card can be reliably determined to be a fake.

【0044】また、偽造カードが多少精巧に作られてい
たとしても、ホログラムシール2に対して測定光を投光
して得られた各回折反射光32、32’、32”の光量
分布のピーク強度、その重心位置、その広がり幅が真贋
判定用の許容範囲にあるか否かを判断することにより、
カードの真贋の判定を精密に行うことができる。
Even if the counterfeit card is made somewhat elaborate, the peak of the light amount distribution of each of the diffracted and reflected lights 32, 32 'and 32 "obtained by projecting the measuring light onto the hologram seal 2 is shown. By judging whether the strength, the position of the center of gravity, and the spread width are within an allowable range for authenticity judgment,
The authenticity of the card can be accurately determined.

【0045】[0045]

【発明の実施の形態2】既に述べたように、カードの種
類によっては、図3に示すように、回折格子の配列形成
方向が異なる3つの回折パターン4、5、6に基づいて
3つの画像8、9、10が形成されたホログラムシール
2を有するものもある。
[Embodiment 2] As described above, depending on the type of card, as shown in FIG. 3, three images are formed based on three diffraction patterns 4, 5, and 6 in which the directions of forming the diffraction gratings are different. Some have a hologram seal 2 on which 8, 9, and 10 are formed.

【0046】この場合には、回折パターン4に基づく回
折反射光32は図12、図13に示すようにラインセン
サ28a上に形成される。これに対して、回折パターン
5に基づく回折反射光33は、平行測定光Q1の入射光
ベクトル成分Q1'が回折に寄与しかつその平行測定光Q1
の反射ベクトル成分が存在するので、ラインセンサ28
aから一方側にずれ、また、回折パターン6に基づく回
折反射光34は、平行測定光Q1の入射光ベクトル成分Q
1''が回折に寄与しかつその平行測定光Q1の反射ベクト
ル成分が存在ししかもこの反射ベクトル成分は回折パタ
ーン5に基づく反射ベクトル成分とは逆向きとなるの
で、ラインセンサ28aを境に回折反射光33とは他方
側の位置にずれることとなる。
In this case, the diffracted reflected light 32 based on the diffraction pattern 4 is formed on the line sensor 28a as shown in FIGS. On the other hand, the diffracted reflected light 33 based on the diffraction pattern 5 is such that the incident light vector component Q1 ′ of the parallel measurement light Q1 contributes to the diffraction and the parallel measurement light Q1
Is present, the line sensor 28
a to the one side, and the diffracted reflected light 34 based on the diffraction pattern 6 is the incident light vector component Q of the parallel measurement light Q1.
1 "contributes to the diffraction and the reflection vector component of the parallel measurement light Q1 exists, and since this reflection vector component is in the opposite direction to the reflection vector component based on the diffraction pattern 5, it is diffracted at the line sensor 28a. It will be shifted to the position on the other side from the reflected light 33.

【0047】そこで、その回折反射光33、34が形成
される位置に、ラインセンサ28b、28cをラインセ
ンサ28aと平行に設ける。
Therefore, line sensors 28b and 28c are provided at positions where the diffracted reflected lights 33 and 34 are formed in parallel with the line sensor 28a.

【0048】そして、図14に示すように、各ラインセ
ンサ28aないしラインセンサ28cを各解析ブロック
部30aないし30cに接続する。更に、各解析ブロッ
ク部30b、30cとラインセンサ28aとを接続スイ
ッチS3、S4を介して接続可能に形成する。制御ブロッ
ク部29には、点灯・消灯スイッチS1と並列に接続切
り換えスイッチS2を設け、接続切り換えスイッチS2を
オンすると、接続スイッチS3、S4がオンするように回路
を形成して、ラインセンサ28aの光電出力を各解析ブ
ロック部30aないし30cに同時に入力させる構成と
する。
Then, as shown in FIG. 14, each line sensor 28a to 28c is connected to each analysis block unit 30a to 30c. Further, each of the analysis block units 30b and 30c and the line sensor 28a are formed so as to be connectable via connection switches S3 and S4. The control block unit 29 is provided with a connection changeover switch S2 in parallel with the on / off switch S1, and a circuit is formed so that when the connection changeover switch S2 is turned on, the connection switches S3 and S4 are turned on. The photoelectric output is simultaneously input to each of the analysis block units 30a to 30c.

【0049】このように構成すれば、接続切り換えスイ
ッチS2がオフのときには、回折格子の配列形成方向が異
なる3つの回折パターン4、5、6に基づいて3つの画
像8、9、10が形成されたホログラムシール2を有す
るカードの真贋の判定を行うことができる。すなわち、
複数個の反射回折光の配列形成方向がラインセンサの延
びる方向と直交する方向のカードの真贋を判定できる。
With this configuration, when the connection changeover switch S2 is off, three images 8, 9, and 10 are formed based on three diffraction patterns 4, 5, and 6 in which the directions of forming the diffraction gratings are different. The authenticity of the card having the hologram seal 2 can be determined. That is,
The authenticity of the card can be determined in the direction in which the array forming direction of the plurality of reflected diffracted lights is orthogonal to the direction in which the line sensor extends.

【0050】また、接続切り換えスイッチS2がオンの
ときには、各回折パターンを形成する各回折格子の配列
形成方向(複数個の反射回折光の配列形成方向)がライ
ンセンサ28aの延びる方向と同方向でかつ回折格子の
ピッチが異なるカードの真贋の判定を行うこともでき
る。
When the connection changeover switch S2 is on, the direction in which the diffraction gratings forming each diffraction pattern are formed (the direction in which the plurality of reflected diffracted lights are formed) is the same as the direction in which the line sensor 28a extends. In addition, authenticity of cards having different diffraction grating pitches can be determined.

【0051】[0051]

【発明の効果】本発明に係わるカードの真贋判定装置
は、以上説明したように構成したので、回折パターンに
基づく画像が複数個形成されたホログラムを有するカー
ドの真贋を客観的にかつ迅速に判定することができると
いう効果を奏する。
The card authentication device according to the present invention is constructed as described above, so that the authenticity of a card having a hologram in which a plurality of images based on a diffraction pattern are formed can be objectively and quickly determined. It has the effect that it can be done.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 ホログラムシールを有するカードの一例を示
す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing an example of a card having a hologram seal.

【図2】 ホログラムシールに形成されている回折パタ
ーンの一例を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating an example of a diffraction pattern formed on a hologram seal.

【図3】 図2に示す回折パターンの詳細を説明するた
めの説明図であって、(a)はホログラムシールの一辺
と直交する方向に回折格子の配列方向が形成された回折
パターンを示し、(b)は(a)に示す回折パターンの
配列方向に対して右斜め45度方向に回折格子の配列方
向が形成された回折パターンを示し、(c)は(a)に
示す回折パターンの配列方向に対して左斜め45度方向
に回折格子の配列方向が形成された回折パターンを示し
ている。
3A and 3B are explanatory diagrams for explaining the details of the diffraction pattern shown in FIG. 2; FIG. 3A shows a diffraction pattern in which an arrangement direction of a diffraction grating is formed in a direction orthogonal to one side of a hologram seal; (B) shows a diffraction pattern in which the arrangement direction of the diffraction grating is formed at an angle of 45 degrees to the right with respect to the arrangement direction of the diffraction pattern shown in (a), and (c) shows the arrangement of the diffraction pattern shown in (a). A diffraction pattern in which the arrangement direction of the diffraction grating is formed at an angle of 45 degrees to the left with respect to the direction is shown.

【図4】 ピッチの異なる回折格子からなる回折パター
ンに基づき3種類の画像が形成され矩形状のホログラム
シールを示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a rectangular hologram seal on which three types of images are formed based on diffraction patterns formed by diffraction gratings having different pitches.

【図5】 図4に示すホログラムシールの説明図であ
り、(a)は矩形状のホログラムシール2の一辺2aと
直交する方向に回折格子が配列形成されかつ所定ピッチ
の回折格子からなる回折パターンに基づく画像を示し、
(b)は(a)に示す回折格子の配列形成方向と同方向
でかつ所定ピッチとは異なるピッチの回折格子からなる
回折パターンに基づく画像を示し、(c)は(a)、
(b)に示す回折格子の配列形成方向と同方向でかつ
(a)、(b)に示すピッチとは異なるピッチの回折格
子からなる回折パターンに基づく画像を示している。
5A and 5B are explanatory diagrams of the hologram seal shown in FIG. 4. FIG. 5A shows a diffraction pattern in which diffraction gratings are arranged and formed in a direction orthogonal to one side 2a of a rectangular hologram seal 2 and have a predetermined pitch. Shows an image based on
(B) shows an image based on a diffraction pattern composed of diffraction gratings in the same direction as the diffraction grating arrangement forming direction shown in (a) and at a pitch different from the predetermined pitch, and (c) shows images based on (a),
The image based on the diffraction pattern which consists of the diffraction grating of the same direction as the arrangement | sequence formation direction of the diffraction grating shown to (b), and the pitch different from the pitch shown to (a), (b) is shown.

【図6】 本発明に係わるカードの真贋判定装置の概略
構成を示す斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing a schematic configuration of a card authenticity determination device according to the present invention.

【図7】 本発明の実施の形態1に係わるカードの真贋
判定装置の光学系の概略構成を示す説明図であって、
(a)はその正面図、(b)はその平面図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of an optical system of the card authentication device according to the first embodiment of the present invention;
(A) is the front view, (b) is the top view.

【図8】 本発明の実施の形態1に係わるカードの真贋
判定装置の回路ブロック図である。
FIG. 8 is a circuit block diagram of the card authenticity determination device according to the first embodiment of the present invention.

【図9】 平行測定光が回折パターンを構成する各回折
格子の延びる方向と直交する方向から入射したときの反
射回折光に基づく光量分布の説明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram of a light amount distribution based on reflected diffraction light when parallel measurement light is incident from a direction orthogonal to a direction in which each diffraction grating forming a diffraction pattern extends.

【図10】 図4に示す回折パターンの回折格子の溝の
深さを示す説明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing the depth of grooves of the diffraction grating of the diffraction pattern shown in FIG.

【図11】 平行測定光が回折パターンを構成する各回
折格子の延びる方向と直交する方向から入射したときの
反射回折光に基づく光量分布の説明図であって、図9に
示す回折パターンの回折格子のピッチよりも大きなピッ
チを有する回折格子の反射回折光に基づく光量分布を示
している。
11 is an explanatory diagram of a light amount distribution based on reflected diffracted light when parallel measurement light is incident from a direction orthogonal to a direction in which each diffraction grating forming a diffraction pattern extends, and FIG. 4 shows a light amount distribution based on reflected diffraction light of a diffraction grating having a pitch larger than the pitch of the grating.

【図12】 本発明の実施の形態2に係わるカードの真
贋判定装置の光学系の概略構成を示す説明図であって、
(a)はその正面図、(b)はその平面図である。
FIG. 12 is an explanatory diagram illustrating a schematic configuration of an optical system of a card authenticity determination device according to a second embodiment of the present invention;
(A) is the front view, (b) is the top view.

【図13】 図2に示すホログラムシールに入射した平
行測定光によって形成される反射回折光を説明するため
の拡大説明図であって、平行測定光が回折パターンを構
成する各回折格子の延びる方向と直交する方向から入射
した場合の反射回折光を示している。
FIG. 13 is an enlarged explanatory view for explaining reflected and diffracted light formed by the parallel measurement light incident on the hologram seal shown in FIG. 2, in which parallel measurement light extends in each diffraction grating forming a diffraction pattern; 3 shows reflected diffracted light when the light enters from a direction orthogonal to FIG.

【図14】 本発明の実施の形態2に係わるカードの真
贋判定装置の回路ブロック図である。
FIG. 14 is a circuit block diagram of a device for determining the authenticity of a card according to Embodiment 2 of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 カード 2 ホログラムシール(ホログラム) 22 投光系 23 検出系 28a ラインセンサ 30a〜30c 解析ブロック部(判定手段) 31a〜31c 判定ブロック部(判定手段) Q1 平行測定光(測定光) Reference Signs List 1 Card 2 Hologram seal (hologram) 22 Projection system 23 Detection system 28a Line sensor 30a-30c Analysis block unit (judgment unit) 31a-31c Judgment block unit (judgment unit) Q1 Parallel measurement light (measurement light)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G06K 19/06 G11B 7/0065 5D090 G11B 7/0065 G06K 19/00 D Fターム(参考) 2C005 HA02 HA26 HB09 JB08 LB17 LB60 2K008 AA13 CC01 FF07 HH06 HH28 5B035 AA13 BB03 BB05 5B058 CA33 KA31 KA32 5B072 AA01 AA02 CC02 CC35 DD01 LL12 LL18 MM09 5D090 AA03 BB16 CC04 CC18 DD03 DD05 EE11 FF47 KK09 KK11 LL02 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G06K 19/06 G11B 7/0065 5D090 G11B 7/0065 G06K 19/00 DF Term (Reference) 2C005 HA02 HA26 HB09 JB08 LB17 LB60 2K008 AA13 CC01 FF07 HH06 HH28 5B035 AA13 BB03 BB05 5B058 CA33 KA31 KA32 5B072 AA01 AA02 CC02 CC35 DD01 LL12 LL18 MM09 5D090 AA03 BB16 CC04 CC18 DD03 DD05 KK09 FF09

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 カードに設けられかつ複数個の回折パタ
ーンに基づき複数個の画像が形成されたホログラムに対
して測定光を投光する投光系と、前記回折パターンによ
り反射回折された複数個の反射回折光をそれぞれ検出す
るラインセンサを有する検出系と、前記ラインセンサの
前記各反射回折光に基づく光電出力を解析して前記カー
ドが本物であるか偽物であるかを判定する判定手段とが
設けられていることを特徴とするカードの真贋判定装
置。
1. A light projection system for projecting measurement light to a hologram provided on a card and having a plurality of images formed based on a plurality of diffraction patterns, and a plurality of light reflected and diffracted by the diffraction patterns. A detection system having a line sensor for detecting each reflected diffracted light, and a judging means for analyzing a photoelectric output based on each reflected diffracted light of the line sensor to determine whether the card is genuine or fake. A card authenticity determination device, characterized in that a card is provided.
【請求項2】 前記複数個の反射回折光の配列形成方向
が前記ラインセンサの延びる方向と同一方向であること
を特徴とする請求項1に記載のカードの真贋判定装置。
2. The card authentication apparatus according to claim 1, wherein the direction in which the plurality of reflected and diffracted light beams are arranged is the same as the direction in which the line sensor extends.
【請求項3】 前記複数個の反射回折光の配列形成方向
が前記ラインセンサの延びる方向と直交する方向である
ことを特徴とする請求項1に記載のカードの真贋判定装
置。
3. The device according to claim 1, wherein the direction in which the plurality of reflected and diffracted light beams are formed is a direction orthogonal to a direction in which the line sensor extends.
【請求項4】 前記投光系は1個のレーザー光源からな
ることを特徴とする請求項1に記載のカードの真贋判定
装置。
4. The card authentication apparatus according to claim 1, wherein said light projecting system comprises one laser light source.
【請求項5】 前記検出系は前記ラインセンサと前記カ
ードとの間に介在されるフーリエ変換レンズを有するこ
とを特徴とする請求項1に記載のカードの真贋判定装
置。
5. The card authentication device according to claim 1, wherein the detection system has a Fourier transform lens interposed between the line sensor and the card.
JP2000154708A 2000-04-19 2000-05-25 Device for judging genuineness or spuriousness of card Pending JP2001334780A (en)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000154708A JP2001334780A (en) 2000-05-25 2000-05-25 Device for judging genuineness or spuriousness of card
KR1020017016282A KR20020021131A (en) 2000-04-19 2001-04-19 Card genuine judging apparatus and card genuine judging system
EP01921897A EP1195712A1 (en) 2000-04-19 2001-04-19 Card genuine judging apparatus and card genuine judging system
PCT/JP2001/003335 WO2001080172A1 (en) 2000-04-19 2001-04-19 Card genuine judging apparatus and card genuine judging system
US10/018,966 US20020131597A1 (en) 2000-04-19 2001-04-19 Card genuine judging apparatus and card genuine judging system
CA002376890A CA2376890A1 (en) 2000-04-19 2001-04-19 Card genuine judging apparatus and card genuine judging system
CN01800978A CN1366649A (en) 2000-04-19 2001-04-19 Card genuine judging apparatus and card genuine judging system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000154708A JP2001334780A (en) 2000-05-25 2000-05-25 Device for judging genuineness or spuriousness of card

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001334780A true JP2001334780A (en) 2001-12-04

Family

ID=18659765

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000154708A Pending JP2001334780A (en) 2000-04-19 2000-05-25 Device for judging genuineness or spuriousness of card

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001334780A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7345747B2 (en) Arrangement and method for checking optical diffraction structures on documents
RU2310234C2 (en) Method and device for checking banknotes
US6424729B1 (en) Optical fingerprint security verification using separate target and reference planes and a uniqueness comparison scheme
US4544266A (en) Apparatus and a method for testing the authenticity of documents
US20180040206A1 (en) Device for reading a magnetic stripe and/or chip card having a camera for the detection of inserted skimming modules
JP2002503368A (en) Apparatus for identifying optical diffraction marks
EP1291199A1 (en) Card true/false decision apparatus
KR20020021131A (en) Card genuine judging apparatus and card genuine judging system
JP2002283775A (en) Authenticity determining device for card
JP2001334780A (en) Device for judging genuineness or spuriousness of card
JP2001307173A (en) Card authenticity discriminating device
JP2001307171A (en) Card authenticity discriminating device
JPH08101914A (en) Pattern inspection device
JP2001301370A (en) Card genuiness judging device
JP4774687B2 (en) Method and apparatus for verifying article including blazed grating and article
JP5953553B2 (en) Disc discrimination method, disc discrimination device, and disc sorting device
CA2143952A1 (en) Diffraction surface data detector
JPH10332536A (en) Method for inspecting truth of hologram and reading device used for executing it
JP2002366891A (en) Card genuineness decision device
US6276800B1 (en) System for modeling a wavefront using sheared phase shifts
US7113690B2 (en) Anti-counterfeit method and system by using a nano metal grating
JPH03292578A (en) Fingerprint reading device
JP2006112991A (en) Lighting method for imaging, hologram image acquisition method, and hologram defect extraction method
JP2002117431A (en) Paper sheet discriminating device
KR20030017977A (en) Card true/false decision apparatus