JP2001325728A - Device for manufacturing master disk of optical disk, method for manufacturing master disk of optical disk and optical disk - Google Patents
Device for manufacturing master disk of optical disk, method for manufacturing master disk of optical disk and optical diskInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク原盤製
造装置および光ディスク原盤製造方法、光ディスクにか
かり、特にレーザ光を光源とする露光プロセスを用いて
ピットを形成する光ディスク原盤製造装置および光ディ
スク原盤製造方法、光ディスクに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disk master manufacturing apparatus and an optical disk master manufacturing method, and more particularly to an optical disk master and an optical disk master manufacturing method for forming pits using an exposure process using a laser beam as a light source. And optical disks.
【0002】[0002]
【従来の技術】再生専用ディスク(ROMディスク)の
基板表面には、ROM情報が記録された穴(ピット)が
設けられている。光ディスクに使用される基板は、スタ
ンパを複製して生産されており、スタンパは、高精度の
光学露光装置(レーザカッタ)を用いてピットやトラッ
キング用案内溝が形成された原盤から作製される。光デ
ィスクの原盤は、ガラス基板上にピットを形成するため
のレジストパターンやトラッキング用案内溝を形成する
ためのレジストパターンが形成されたものである。レジ
ストパターンの作製は、ガラス基板上に塗布されたフォ
トレジストをレーザ光などの光ビームで露光して作製さ
れる。スタンパは、原盤上に作製されたレジストパター
ンに金属膜を蒸着して得られる金型に、さらに裏板を設
けて作製される。2. Description of the Related Art Holes (pits) in which ROM information is recorded are provided on the surface of a read-only disk (ROM disk). A substrate used for an optical disk is produced by duplicating a stamper. The stamper is manufactured from a master on which pits and tracking guide grooves are formed by using a high-precision optical exposure apparatus (laser cutter). The master disc of the optical disc has a resist pattern for forming pits and a resist pattern for forming a guide groove for tracking formed on a glass substrate. The resist pattern is formed by exposing a photoresist applied on a glass substrate to a light beam such as a laser beam. The stamper is manufactured by further providing a back plate on a die obtained by depositing a metal film on a resist pattern formed on a master.
【0003】原盤作製時の露光工程において、光ビーム
は、記録するべきROM情報に応じて変調され、高出力
と低出力とが交互に繰り返されるパルス光となる。ま
た、パルス光は、クロック信号の発生器が発生したクロ
ック信号(基本クロック)の周期Tを基準にして高出力
と低出力とを繰り返す。そして、高出力の時間に応じた
長さのピット形成用レジストパターンと、低出力の時間
に相当する長さのスペースを交互に形成する。[0003] In the exposure process at the time of producing a master, a light beam is modulated according to ROM information to be recorded, and becomes a pulse light in which a high output and a low output are alternately repeated. The pulse light repeats high output and low output with reference to the cycle T of the clock signal (base clock) generated by the clock signal generator. Then, a pit forming resist pattern having a length corresponding to the high output time and a space having a length corresponding to the low output time are alternately formed.
【0004】光ビームの変調方式には、例えば、EFM
(Eight to Fourteen Modulation)方式と呼ばれるもの
がある。EFM方式では、パルス光の高出力と低出力と
が、3T〜11Tの周期で繰り返される。このため、E
FM方式による露光では、時間3Tから時間11Tに相
当する長さのピット形成用のレジストパターンあるいは
スペースを光ディスク原盤上に形成することができる。[0004] The light beam modulation method includes, for example, EFM.
(Eight to Fourteen Modulation). In the EFM method, a high output and a low output of the pulse light are repeated at a period of 3T to 11T. Therefore, E
In the exposure by the FM method, a resist pattern or space for forming a pit having a length corresponding to time 3T to time 11T can be formed on the optical disk master.
【0005】ところで、ROMディスクのジッタ特性
は、ディスクに使用された基板のピット長が不均一であ
る場合に劣化する。このため、例えば、特開平10−3
3467号公報、特開平10−33468号公報に記載
された発明のように、論理ピット長と実際に形成される
ピット長との相違を小さくするための技術がある。特開
平10−33467号公報に記載された発明は、露光工
程においてパルス光の立上り直後と立下り直前との光強
度を低減するものであり、また、特開平10−3346
8号公報に記載された発明は、基本クロックよりも短い
周期で高出力と低出力とが繰り返されるパルス列でピッ
トを形成するためのレジストパターンを露光するという
ものである。[0005] The jitter characteristics of a ROM disk deteriorate when the pit length of the substrate used for the disk is non-uniform. For this reason, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-3
There is a technique for reducing the difference between the logical pit length and the actually formed pit length as in the inventions described in JP-A-3467 and JP-A-10-33468. The invention described in JP-A-10-33467 reduces the light intensity immediately after the rising and falling of the pulse light in the exposure step.
The invention described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8 (1995) No. 8 discloses exposing a resist pattern for forming pits with a pulse train in which a high output and a low output are repeated at a cycle shorter than the basic clock.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】ところで、光ディスク
の基板には、記録すべきROM情報に応じて様々な長さ
のピットが存在する。しかしながら、上記した従来技術
では、いずれも形成すべきピット長とは無関係にパルス
光を制御している。このため、従来技術は、ピット長が
一定の範囲内にあるピットを形成する場合には効果が得
られるものの、一定の範囲以上の長さを持つピットを形
成する場合には充分な効果を得ることができない。By the way, pits of various lengths are present on a substrate of an optical disk according to ROM information to be recorded. However, in the above-described prior art, the pulse light is controlled regardless of the pit length to be formed. For this reason, the prior art has an effect when forming a pit having a pit length within a certain range, but obtains a sufficient effect when forming a pit having a length longer than a certain range. Can not do.
【0007】また、光ディスクのジッタ特性は、ピット
長の均一性ばかりでなくピット幅(光ディスク径方向に
沿うピットの長さ)にも影響される。ピットは、ピット
長の変化によらず一定のピット幅を持ち、形状(縦横
比)がピット長の変化に伴って変化することになる。こ
のため、ピット形成用のレジストパターンを作製する際
の最適な露光条件が、ピット長によって変化することが
考えられる。しかし、露光工程における光ビームの制御
は、ピット幅を考慮しておらず、光ディスク基板に形成
されたピット列に含まれるピットのうち、最も長いピッ
ト(最長ピット)と最も短いピット(最短ピット)とで
ピット幅に差異が生じることがある。The jitter characteristics of an optical disk are affected not only by the uniformity of the pit length but also by the pit width (the length of the pit along the radial direction of the optical disk). The pits have a constant pit width regardless of the change in the pit length, and the shape (aspect ratio) changes with the change in the pit length. For this reason, it is conceivable that the optimum exposure conditions for producing a resist pattern for forming pits vary depending on the pit length. However, the control of the light beam in the exposure step does not consider the pit width, and the longest pit (longest pit) and the shortest pit (shortest pit) among the pits included in the pit row formed on the optical disk substrate. And the pit width may differ.
【0008】ピット幅の差異は、比較的短いピットのピ
ット幅が比較的長いピットのピット幅よりも狭くなる現
象として現れる。所定の値よりも狭い幅を持つピット
は、充分な振幅を持つRF信号が再生できずに光ディス
クのジッタ特性を劣化させることになる。また、ピット
列においてピット幅がバラツキを持つ場合、ピットを再
生して得られた信号振幅の中心がピット長によってずれ
て光ディスクのジッタ特性が劣化するという現象が生じ
る。The difference in pit width appears as a phenomenon in which the pit width of a relatively short pit becomes narrower than the pit width of a relatively long pit. A pit having a width smaller than a predetermined value cannot reproduce an RF signal having a sufficient amplitude, thereby deteriorating jitter characteristics of the optical disc. In addition, when the pit width varies in the pit row, a phenomenon occurs in which the center of the signal amplitude obtained by reproducing the pit is shifted by the pit length and the jitter characteristic of the optical disc is deteriorated.
【0009】本発明は、上記の点に鑑みてなされたもの
であって、形成するピット長に応じてレーザパルス光の
強度、あるいはオン時間(露光時間)、オフ時間を補正
することにより、ピット長の長さによらずデータ通りの
寸法形状にピットを形成できる光ディスク原盤製造装置
および光ディスク原盤製造方法を提供することを目的と
する。The present invention has been made in view of the above points, and has been made by correcting the intensity of the laser pulse light, or the on-time (exposure time) and the off-time according to the length of the pit to be formed. It is an object of the present invention to provide an optical disk master manufacturing apparatus and an optical disk master manufacturing method capable of forming pits having dimensions and shapes according to data regardless of the length.
【0010】また、本発明は、ピット列に含まれるピッ
トのうちの最長ピットのピット幅と最短ピットのピット
幅との比を限定し、ピット長の変化によらずジッタ特性
の良好な再生信号が得られる光ディスクを提供すること
を目的とする。また、本発明は、ピット幅の変化によら
ずピットから得られる再生信号の振幅中心が一致する光
ディスクを提供することを目的する。さらに本発明は、
デューティ比の変化によらずジッタ特性の良好な再生信
号が得られる光ディスクを提供することを目的とする。Further, the present invention limits the ratio of the pit width of the longest pit to the pit width of the shortest pit among the pits included in the pit row, and reproduces a reproduced signal having good jitter characteristics regardless of a change in the pit length. It is an object of the present invention to provide an optical disk capable of obtaining the above. It is another object of the present invention to provide an optical disk in which the amplitude centers of reproduced signals obtained from pits match regardless of the change in pit width. Furthermore, the present invention
It is an object of the present invention to provide an optical disk capable of obtaining a reproduced signal having good jitter characteristics regardless of a change in duty ratio.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】以上の課題は、以下の手
段によって解決できる。すなわち、請求項1に記載の発
明は、レーザ光を光源とする露光プロセスを用いてピッ
ト形成用のパターンを形成する光ディスク原盤製造装置
であって、一定の周期Tでクロック信号を発生するクロ
ック信号発生手段と、前記周期Tの整数(n)倍の時間
nTを露光時間とするレーザパルス光を生成するパルス
光生成手段と、時間nTを露光時間とする前記レーザパ
ルス光の強度P(nT)を、以下の式によって補正する
光強度補正手段と、を備えることを特徴とするものであ
る。 P(nT)=a・n-b×P(min) 1.1≦a≦1.4 0.15≦b≦0.30 P(min):最短ピットパターン形成時のレーザ強度The above objects can be attained by the following means. That is, the invention according to claim 1 is an optical disc master manufacturing apparatus for forming a pattern for forming pits using an exposure process using a laser beam as a light source, wherein the clock signal generates a clock signal at a constant cycle T. Generating means, pulse light generating means for generating a laser pulse light having an exposure time nT times an integer (n) times the period T, and intensity P (nT) of the laser pulse light having a time nT as the exposure time And a light intensity correcting means for correcting the light intensity by the following equation. P (nT) = a · n −b × P (min) 1.1 ≦ a ≦ 1.4 0.15 ≦ b ≦ 0.30 P (min): laser intensity at the time of forming the shortest pit pattern
【0012】このように構成することにより、光ディス
ク原盤製造装置は、露光時間、すなわち形成すべきピッ
トパターンの長さに応じてレーザパルス光の強度を制御
することができる。このため、ピットパターンの長さに
応じて適切な露光条件でピットパターンを形成すること
ができる。With this configuration, the optical disk master manufacturing apparatus can control the intensity of the laser pulse light according to the exposure time, that is, the length of the pit pattern to be formed. Therefore, a pit pattern can be formed under appropriate exposure conditions according to the length of the pit pattern.
【0013】また、請求項2に記載の発明は、前記レー
ザ光が直径dの円形状断面を有するスポット光であっ
て、かつ、前記パルス光がdの10倍以上の長さのピッ
トパターンを形成する場合、前記レーザパルス光の露光
時間nTを、以下の式によって露光時間nTcに補正す
る露光時間補正手段をさらに備えることを特徴とするも
のである。 nTc=(n+a)T 1.0≦a≦2.0According to a second aspect of the present invention, the laser light is a spot light having a circular cross section with a diameter d, and the pulse light has a pit pattern having a length of 10 times or more of d. when forming, the exposure time nT of the laser pulse light, and is characterized in further comprising an exposure time correction means for correcting the exposure time by the equation nT c below. nT c = (n + a) T 1.0 ≦ a ≦ 2.0
【0014】このように構成することにより、光ディス
ク原盤製造装置は、形成すべきピットパターンの長さに
応じてレーザパルス光の露光時間を制御することができ
る。このため、比較的長いピットパターン(レーザ光断
面dの10倍以上)に対しても、適切な露光条件でピッ
トパターンを形成することができる。With this configuration, the optical disk master manufacturing apparatus can control the exposure time of the laser pulse light according to the length of the pit pattern to be formed. Therefore, a pit pattern can be formed under appropriate exposure conditions even for a relatively long pit pattern (10 times or more the laser beam cross section d).
【0015】また、請求項3に記載の発明は、レーザ光
を光源とする露光プロセスを用いてピット形成用のピッ
トパターンを形成する光ディスク原盤製造方法であっ
て、クロック信号の周期Tの整数(n)倍の時間nTを
露光時間とするレーザパルス光を生成するパルス光生成
工程と、時間nTを露光時間として生成された前記レー
ザパルス光の強度P(nT)を、以下の式によって補正
する光強度補正工程と、を含むことを特徴とするもので
ある。 P(nT)=a・n-b×P(min) 1.1≦a≦1.4 0.15≦b≦0.30 P(min):最短ピットパターン形成時のレーザ強度According to a third aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a master optical disk for forming a pit pattern for forming a pit by using an exposure process using a laser beam as a light source, wherein an integer of a period T of a clock signal is used. A pulse light generation step of generating a laser pulse light having an exposure time of n) times the time nT, and the intensity P (nT) of the laser pulse light generated using the time nT as the exposure time are corrected by the following equation. And a light intensity correction step. P (nT) = a · n −b × P (min) 1.1 ≦ a ≦ 1.4 0.15 ≦ b ≦ 0.30 P (min): laser intensity at the time of forming the shortest pit pattern
【0016】このように構成することにより、露光時
間、すなわち形成すべきピットパターンの長さに応じて
レーザパルス光の強度を制御することができる。このた
め、ピットパターンの長さに応じて適切な露光条件でピ
ットパターンを形成することができる。With this configuration, the intensity of the laser pulse light can be controlled according to the exposure time, that is, the length of the pit pattern to be formed. Therefore, a pit pattern can be formed under appropriate exposure conditions according to the length of the pit pattern.
【0017】また、請求項4に記載の発明は、前記レー
ザ光が直径dの円形状断面を有するスポット光であっ
て、かつ、前記パルス光生成工程において生成されたパ
ルス光がdの10倍以上の長さのピットパターンを形成
する場合、前記レーザパルス光の露光時間nTを、以下
の式によって露光時間nTcに補正する露光時間補正工
程をさらに含むことを特徴とするものである。 nTc=(n+a)T 1.0≦a≦2.0According to a fourth aspect of the present invention, the laser light is a spot light having a circular cross section with a diameter d, and the pulse light generated in the pulse light generating step is ten times as large as d. when forming the above length of the pit pattern, the exposure time nT of the laser pulse light, and is characterized in further comprising an exposure time correction step of correcting the exposure time nT c by the following equation. nT c = (n + a) T 1.0 ≦ a ≦ 2.0
【0018】このように構成することにより、形成すべ
きピットパターンの長さに応じてレーザパルス光の露光
時間を制御することができる。このため、比較的長いピ
ットパターン(レーザ光断面dの10倍以上)に対して
も、適切な露光条件でピットパターンを形成することが
できる。With this configuration, the exposure time of the laser pulse light can be controlled according to the length of the pit pattern to be formed. Therefore, a pit pattern can be formed under appropriate exposure conditions even for a relatively long pit pattern (10 times or more the laser beam cross section d).
【0019】また、請求項5に記載の発明は、ピット列
が形成された基板を用いて構成された光ディスクであっ
て、前記ピット列に含まれるピットのうちの長さが最も
短い最短ピットの幅W1と、長さが最も長い最長ピット
の幅W2とが、 W1/W2=0.8〜1.2 の関係にあることを特徴とするものである。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an optical disk constituted by using a substrate on which a pit row is formed, wherein the shortest pit having the shortest length among the pits included in the pit row is provided. The width W1 and the width W2 of the longest pit having the longest length are in a relationship of W1 / W2 = 0.8 to 1.2.
【0020】このように構成することにより、最短ピッ
トで得られる再生信号と最長ピットで得られる再生信号
との振幅中心のずれを許容可能な範囲に抑えることがで
きる。With this configuration, the deviation of the amplitude center between the reproduced signal obtained from the shortest pit and the reproduced signal obtained from the longest pit can be suppressed to an allowable range.
【0021】また、請求項6に記載の発明は、前記ピッ
ト列に含まれるピットの幅Wと、前記ピット列における
トラックピッチTpとが、 0.3Tp≦W≦0.7Tp の関係にあることを特徴とするものである。According to a sixth aspect of the present invention, the width W of the pits included in the pit row and the track pitch Tp in the pit row have a relationship of 0.3 Tp ≦ W ≦ 0.7 Tp. It is characterized by the following.
【0022】このように構成することにより、トラック
ピッチおよびピット幅によらず、トラックピッチとピッ
ト幅とを、充分な振幅の再生信号を得るのに適切な関係
に設定することができる。With this configuration, the track pitch and the pit width can be set to an appropriate relationship to obtain a reproduced signal having a sufficient amplitude, regardless of the track pitch and the pit width.
【0023】また、請求項7に記載の発明は、前記ピッ
ト列に含まれるピットの長さPlと、前記ピット列にお
けるピット間のスペース長Psとが、 Pl/(Pl+Ps)=0.4〜0.6 の関係にあることを特徴とするものである。According to a seventh aspect of the present invention, the length Pl of the pits included in the pit row and the space length Ps between the pits in the pit row are Pl / (Pl + Ps) = 0.4 to 0.4. 0.6.
【0024】このように構成することにより、最短ピッ
トのピット幅と最長ピットのピット幅との相違を抑え、
最短ピットで得られる再生信号と最長ピットで得られる
再生信号との振幅中心のずれを許容可能な範囲に抑える
ことができる。With this configuration, the difference between the pit width of the shortest pit and the pit width of the longest pit is suppressed,
The deviation of the amplitude center between the reproduction signal obtained by the shortest pit and the reproduction signal obtained by the longest pit can be suppressed to an allowable range.
【0025】[0025]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、実施の形態1、実施の形態2の順番で説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below in the order of Embodiment 1 and Embodiment 2.
【0026】(実施の形態1)図1は、実施の形態1の
光ディスク原盤製造装置を説明するためのブロック図で
ある。実施の形態1の光ディスク原盤製造装置は、レー
ザ光を光源とする露光プロセスを用いてピット形成用の
レジストパターン(ピットパターン)を形成する光ディ
スク原盤製造装置であり、レーザ光を発生するレーザ1
01、発生したレーザ光を安定させるEO(Electric O
ptics)スタビライザ102、レーザ光のオン、オフを
制御するEO変調器103、レーザ光をガラス基板10
5に照射する光へッド104を有している。(Embodiment 1) FIG. 1 is a block diagram for explaining an optical disk master manufacturing apparatus according to Embodiment 1. The optical disk master manufacturing apparatus according to the first embodiment is an optical disk master manufacturing apparatus that forms a resist pattern (pit pattern) for forming pits using an exposure process using a laser beam as a light source.
01, EO (Electric O) that stabilizes the generated laser light
ptics) Stabilizer 102, EO modulator 103 for controlling on / off of laser light, and laser light to glass substrate 10
5 has a light head 104 for irradiation.
【0027】EO変調器103は、一定の周期Tでクロ
ック信号を発生するフォーマット信号源106と接続
し、クロック信号の周期Tを基準にしてレーザ光の強度
を変化させる、つまり周期Tの整数倍の時間nTごとに
レーザ光をオン、またはオフしてレーザ光をレーザパル
ス光にする。また、EO変調器103は、光ディスク基
板に形成すべきピットのデータ(ピットデータ)を図示
しない制御部から入力し、入力したデータに従ってレー
ザパルス光の強度を制御し、さらに、レーザパルス光の
オン、オフ時間を制御する。なお、レーザパルス光の強
度、オン、オフ時間の制御については、後に詳述するも
のとする。The EO modulator 103 is connected to a format signal source 106 that generates a clock signal at a constant cycle T, and changes the intensity of the laser beam with reference to the cycle T of the clock signal, that is, an integer multiple of the cycle T. The laser light is turned on or off at every time nT to turn the laser light into laser pulse light. The EO modulator 103 inputs pit data (pit data) to be formed on the optical disk substrate from a control unit (not shown), controls the intensity of the laser pulse light according to the input data, and further turns on the laser pulse light. Control off time. The control of the intensity of the laser pulse light and the on / off time will be described later in detail.
【0028】ガラス基板105は、表面研磨、洗浄され
た後にフォトレジストがスピンコーティングされ、さら
に90℃のクリーンオープン内で30分ベーキングされ
ている。ベーキング後のフォトレジストの厚さは、約8
0nmである。ガラス基板105は、図示しない治具に
取り付けられ、一定の回転速度で回転される。After the surface of the glass substrate 105 is polished and cleaned, a photoresist is spin-coated, and further baked in a clean open at 90 ° C. for 30 minutes. The photoresist thickness after baking is about 8
0 nm. The glass substrate 105 is attached to a jig (not shown) and is rotated at a constant rotation speed.
【0029】一方、レーザ101は、Kr+レーザチュー
ブから波長413nmのレーザ光を照射する。レーザ光
は、EOスタビライザ102、EO変調器103を通過
した後に図示しないビームエキスパンダでビーム径を広
げられる。光ヘッド104は、NA=0.9の対物レン
ズを備えている。光ヘッド104に導かれたレーザ光
は、この対物レンズによって集光され、円形状の断面の
直径d(スポット径)が0.5μmのレーザパルス光1
として回転するガラス基板105上のフォトレジストに
照射される。レーザ光は、オンしている時にフォトレジ
ストを露光してピット形成用のレジストパターン(ピッ
トパターン)を形成する。一方、オフしている時にはフ
ォトレジストが露光されず、ピットパターン間にスペー
スが形成される。On the other hand, the laser 101 emits laser light having a wavelength of 413 nm from a Kr + laser tube. After passing through the EO stabilizer 102 and the EO modulator 103, the laser beam can be expanded in beam diameter by a beam expander (not shown). The optical head 104 has an objective lens with NA = 0.9. The laser light guided to the optical head 104 is condensed by this objective lens, and the laser pulse light 1 having a circular cross section diameter d (spot diameter) of 0.5 μm.
Is irradiated on the photoresist on the rotating glass substrate 105. The laser light exposes the photoresist when turned on to form a resist pattern (pit pattern) for pit formation. On the other hand, when turned off, the photoresist is not exposed, and a space is formed between the pit patterns.
【0030】また、光ヘッド104は、ガラス基板10
5が1回転するごとに一定の距離(トラックピッチ)だ
け移動し、1トラック分のピットパターンの潜像を形成
する。なお、実施の形態1の光ディスク原盤製造装置
は、露光線速度3.5m/s、トラックピッチ0.74
μmの条件でEFMランダムパターンを作成した。以上
述べた処理の後、現像液によってレジストの未露光部分
を除去すると、ガラス基板105上にピットパターン、
あるいはトラッキング用溝形成のためのレジストパター
ンが残って光ディスクの原盤が完成する。The optical head 104 is mounted on the glass substrate 10.
Each time 5 rotates once, it moves a fixed distance (track pitch) to form a latent image of a pit pattern for one track. The optical disk master manufacturing apparatus according to the first embodiment has an exposure linear velocity of 3.5 m / s and a track pitch of 0.74.
An EFM random pattern was created under the condition of μm. After the processing described above, when the unexposed portion of the resist is removed with a developing solution, a pit pattern on the glass substrate 105,
Alternatively, the resist pattern for forming the tracking groove remains, and the master disk of the optical disk is completed.
【0031】図2は、図1に示した光ディスク原盤製造
装置で製造された光ディスク原盤を説明するための図で
ある。図2(a)は、光ディスク原盤の表面図であり、
図2(b)は、(a)に示した光ディスク原盤の図中に
示した破線A−Bに沿う断面図である。図示したよう
に、光ディスク原盤の表面には、ピットデータに応じた
複数のピットパターン2が形成される。なお、本明細書
中では、複数のピットパターンの集合を、ピットパター
ン列といい、ピットパターン列によって形成されるピッ
トの集合をピット列というものとする。FIG. 2 is a diagram for explaining an optical disk master manufactured by the optical disk master manufacturing apparatus shown in FIG. FIG. 2A is a surface view of the master optical disc,
FIG. 2B is a cross-sectional view of the master optical disc shown in FIG. 2A along the broken line AB shown in the drawing. As shown, a plurality of pit patterns 2 corresponding to the pit data are formed on the surface of the master optical disc. In this specification, a set of a plurality of pit patterns is called a pit pattern row, and a set of pits formed by the pit pattern row is called a pit row.
【0032】また、本明細書では、光ディスク原盤のト
ラック方向に沿うピットパターンの長さをピットパター
ンのピットパターン長(図中Lで示す)といい、光ディ
スク原盤の径方向に沿うピットパターンの長さをピット
パターンのピットパターン幅(図中Wで示す)という。
また、トラック方向に隣り合って位置するピットパター
ン同士の間隔をパターンスペースSといい、径方向に隣
り合って位置するピットパターンのピッチをパターント
ラックピッチ(図中PTpで示す)というものとする。In this specification, the length of a pit pattern along the track direction of the master optical disc is referred to as the pit pattern length of the pit pattern (indicated by L in the figure), and the length of the pit pattern along the radial direction of the master optical disc. The length is called the pit pattern width of the pit pattern (indicated by W in the figure).
The interval between the pit patterns adjacent to each other in the track direction is called a pattern space S, and the pitch of the pit patterns adjacent to each other in the radial direction is called a pattern track pitch (indicated by PTp in the figure).
【0033】なお、本明細書中では、以降、ピットパタ
ーン1個を形成する際のレーザパルス光1のオン時間を
露光時間というものとする。露光時間は、フォーマット
信号源106が生成するクロック信号の周期Tの整数倍
となっていることからnTと表される。また、本発明の
実施の形態では、ガラス基板105の回転速度および光
ヘッド104の移動速度を一定とし、ピットパターン長
Lは、露光時間に略比例するものとする。また、露光時
間nTの露光の際のレーザ光の強度を、P(nT)と表
すものとする。Hereinafter, in this specification, the on-time of the laser pulse light 1 when forming one pit pattern is referred to as an exposure time. The exposure time is represented as nT because it is an integral multiple of the cycle T of the clock signal generated by the format signal source 106. In the embodiment of the present invention, the rotation speed of the glass substrate 105 and the moving speed of the optical head 104 are fixed, and the pit pattern length L is substantially proportional to the exposure time. Further, the intensity of the laser beam at the time of exposure for the exposure time nT is represented by P (nT).
【0034】つぎに、実施の形態1の光ディスク原盤製
造装置で行われる、レーザパルス光の強度の制御、
レーザパルス光による露光時間の制御について述べる。 レーザパルス光の強度の制御 実施の形態1の光ディスク原盤製造装置は、EO変調器
103により、周期Tの整数(n)倍の時間nTを露光
時間とするレーザパルス光1の強度Pを、以下の式
(1)によって強度P(nT)に補正する。 P(nT)=a・n-b×P(min) …(1) ただし、式(1)において、aの値は1.1〜1.4
(1.1≦a≦1.4)であり、bの値は0.15〜
0.30(0.15≦b≦0.30)である。そして、
EFM方式でランダムパターンを作成した実施の形態1
におけるP(min)は、最短露光時間である3Tでレ
ジストパターンを形成する際のレーザパルス光1の強
度、P(3T)となる。Next, the control of the intensity of the laser pulse light, which is performed by the optical disk master manufacturing apparatus of the first embodiment,
Control of exposure time by laser pulse light will be described. Control of Laser Pulse Light Intensity In the optical disk master manufacturing apparatus of the first embodiment, the EO modulator 103 determines the intensity P of the laser pulse light 1 whose exposure time is a time nT, which is an integer (n) times the period T, as follows: Is corrected to the intensity P (nT) by the equation (1). P (nT) = a · n −b × P (min) (1) where, in the expression (1), the value of a is 1.1 to 1.4.
(1.1 ≦ a ≦ 1.4), and the value of b is 0.15 to
0.30 (0.15 ≦ b ≦ 0.30). And
Embodiment 1 in which a random pattern is created by the EFM method
Is the intensity P (3T) of the laser pulse light 1 when the resist pattern is formed in 3T which is the shortest exposure time.
【0035】図3は、ピットパターンを形成するレーザ
パルス光1の露光時間とレーザパルス光1の強度Pとの
関係を示す図であって、レーザパルス光1の露光時間
は、ピットパターンのピット長に比例する。図3の横軸
は、レーザパルス光1の露光時間を、フォーマット信号
源106が発生する信号の周期T(秒)を1とした場合
の比で示している。また、縦軸は、レーザパルス光1の
露光時間がnTである場合の強度P(nT)を、強度P
(3T)を1とした場合の比で示している。図3中に示
したプロット黒四角は、ピット幅0.15μmのピット
パターンを形成した際のデータ、プロット□は、ピット
幅0.20μmのピットパターンを形成した際のデー
タ、プロット△は、ピット幅0.35μmのピットパタ
ーンを形成した際のデータをそれぞれ示している。FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the exposure time of the laser pulse light 1 for forming the pit pattern and the intensity P of the laser pulse light 1. The exposure time of the laser pulse light 1 depends on the pit of the pit pattern. It is proportional to the length. The horizontal axis in FIG. 3 shows the exposure time of the laser pulse light 1 as a ratio when the period T (second) of the signal generated by the format signal source 106 is 1. The vertical axis represents the intensity P (nT) when the exposure time of the laser pulse light 1 is nT, and the intensity P
It is shown as a ratio when (3T) is set to 1. In FIG. 3, black squares indicate data when a pit pattern having a pit width of 0.15 μm is formed, plots □ indicate data when a pit pattern having a pit width of 0.20 μm is formed, and plots △ indicate pits. The data when a pit pattern having a width of 0.35 μm is formed are shown.
【0036】図3に示したレーザパルス光1の露光時間
nTと強度P(nT)との関係は、式(1)'で表され
る。 P(nT)=a・n-b×P(3T) …(1)' 実施の形態1では、式(1)'で表される曲線をレーザ
強度補正曲線とし、EO変調器103が、露光時間nT
に応じて強度P(nT)をレーザ強度補正曲線を用いて
補正するものとした。なお、式(1)'中のaの値およ
びbの値は、フォトレジストの特性や露光線速度によっ
て変化する。ただし、ピット幅が0.15〜0.35μ
mの範囲であれば、aの値を1.1〜1.4、bの値を
0.15〜0.30とすることにより、露光時間nTに
よらず均一なピットパターン幅を持つピットパターンを
形成することができる。The relationship between the exposure time nT and the intensity P (nT) of the laser pulse light 1 shown in FIG. 3 is expressed by equation (1) '. P (nT) = a · n− b × P (3T) (1) ′ In the first embodiment, the curve represented by the equation (1) ′ is used as a laser intensity correction curve, and the EO modulator 103 Time nT
The intensity P (nT) is corrected using the laser intensity correction curve in accordance with Note that the value of a and the value of b in the equation (1) ′ vary depending on the characteristics of the photoresist and the exposure linear velocity. However, the pit width is 0.15 to 0.35μ
In the range of m, by setting the value of a to 1.1 to 1.4 and the value of b to 0.15 to 0.30, a pit pattern having a uniform pit pattern width regardless of the exposure time nT Can be formed.
【0037】なお、図3中に示した曲線Cは、幅が0.
2μmのピットパターンを形成する際のレーザ強度補正
曲線であって、aが1.2、bが0.21の値をそれぞ
れ持つものである。It should be noted that the curve C shown in FIG.
This is a laser intensity correction curve for forming a 2 μm pit pattern, where a has a value of 1.2 and b has a value of 0.21.
【0038】図4は、レーザ強度補正曲線に基づくレー
ザパルス光1の強度補正を説明する図である。図4の横
軸は、レーザパルス光1の露光時間(秒)を、縦軸は、
レーザパルス光1の強度を規格化して示している。実施
の形態1では、各露光時間におけるレーザパルス光1の
最大強度が、レーザ強度補正曲線上にあるレーザ光強度
と一致するようにレーザ光強度を設定している。FIG. 4 is a diagram for explaining the intensity correction of the laser pulse light 1 based on the laser intensity correction curve. The horizontal axis of FIG. 4 indicates the exposure time (second) of the laser pulse light 1, and the vertical axis indicates
The intensity of the laser pulse light 1 is normalized and shown. In the first embodiment, the laser light intensity is set such that the maximum intensity of the laser pulse light 1 at each exposure time matches the laser light intensity on the laser intensity correction curve.
【0039】図5は、図4に示した方法で強度を設定し
たレーザパルス光1によってピットパターンが形成され
た光ディスク原盤を用いて作成した光ディスク基板のピ
ット幅を実測した結果を説明する図である。図5の横軸
は、ピットパターン形成時の露光時間(秒)を、縦軸
は、AFM(Atomic Force Microscopy)によって実測
されたピットのピット幅(μm)を示している。FIG. 5 is a view for explaining the results of actually measuring the pit width of an optical disk substrate prepared using an optical disk master having a pit pattern formed by the laser pulse light 1 whose intensity is set by the method shown in FIG. is there. The horizontal axis in FIG. 5 shows the exposure time (second) at the time of forming the pit pattern, and the vertical axis shows the pit width (μm) of the pit actually measured by AFM (Atomic Force Microscopy).
【0040】図5は、露光時間3T〜14T秒の範囲に
おいて、ピットの幅が露光時間によらずほぼ一定の値に
形成されていることを示している。露光時間はピット長
に比例することから、実施の形態1は、ピット長によら
ずに幅が均一なピットを持つ光ディスク基板を提供する
ことができるものといえる。FIG. 5 shows that the pit width is formed at a substantially constant value regardless of the exposure time in the range of the exposure time of 3T to 14T seconds. Since the exposure time is proportional to the pit length, it can be said that the first embodiment can provide an optical disk substrate having pits having a uniform width regardless of the pit length.
【0041】さらに、本発明の発明者らは、実施の形態
1の光ディスク原盤製造装置によって作製された光ディ
スク原盤から光ディスク基板を作製した。そして、この
光ディスク基板上にAlの反射膜を形成して光ディスク
を作成し、波長650nmのレーザ光をNA=0.60
の対物レンズで集光しながら再生線速度3.5m/sで
再生した。再生の結果、ピット幅が0.32μmのピッ
トから、7.4%のジッタを持つ再生信号が得られた。
今日、DVD(Digital Versatile Disc)の規格で許容
されるジッタが8%であることから、7.4%のジッタ
は、充分に低いものということができる。Further, the inventors of the present invention manufactured an optical disk substrate from the optical disk master manufactured by the optical disk master manufacturing apparatus of the first embodiment. Then, an Al reflective film is formed on the optical disk substrate to produce an optical disk, and a laser beam having a wavelength of 650 nm is irradiated with NA = 0.60.
Reproduction was performed at a reproduction linear velocity of 3.5 m / s while condensing with the objective lens of No. 1. As a result of reproduction, a reproduced signal having a jitter of 7.4% was obtained from pits having a pit width of 0.32 μm.
Today, since the jitter allowed in the DVD (Digital Versatile Disc) standard is 8%, the 7.4% jitter can be said to be sufficiently low.
【0042】レーザパルス光の露光時間の制御 図6は、ピットパターンを形成する際の露光時間と、形
成されたピットパターンのデューティ比(ピットパター
ン長/(ピットパターン長+パターンスペースの長さ
(パターンスペース長)))との関係を示す図である。
図6の横軸は、レーザパルス光1による露光時間を、フ
ォーマット信号源106が発生する信号の周期T(秒)
を1とした場合の比で示している。また、縦軸は、ピッ
トパターンのデューティ比を示している。Control of Exposure Time of Laser Pulse Light FIG. 6 shows an exposure time for forming a pit pattern and a duty ratio of the formed pit pattern (pit pattern length / (pit pattern length + pattern space length ( It is a figure which shows the relationship with pattern space length))).
The horizontal axis in FIG. 6 indicates the exposure time by the laser pulse light 1 and the period T (second) of the signal generated by the format signal source 106.
Is set to 1 and the ratio is shown. The vertical axis indicates the duty ratio of the pit pattern.
【0043】なお、図6中に示したプロット◆は、スポ
ット径がd1であるレーザパルス光1を用いてピットパ
ターンを形成した際のデータ、プロット○は、スポット
径がd2であるレーザパルス光1を用いてピットパター
ンを形成した際のデータ、プロット●は、スポット径が
d3であるレーザパルス光1を用いてピットパターンを
形成した際のデータをそれぞれ示している。スポット径
d1、スポット径d2、スポット径d3には、d1>d
2>d3の関係がある。また、図6に示したデューティ
比は、ピットパターン長によらず常に一定の値になる
(ピットパターン長とパターンスペース長とが常に等し
い値を持つ)ように設定されたものとする。The plot ◆ shown in FIG. 6 is the data when a pit pattern was formed using the laser pulse light 1 having the spot diameter d1. The plot ○ is the laser pulse light having the spot diameter d2. The data when a pit pattern is formed using No. 1 and the plots ● indicate the data when a pit pattern is formed using a laser pulse light 1 having a spot diameter of d3. For spot diameter d1, spot diameter d2, and spot diameter d3, d1> d
2> d3. It is also assumed that the duty ratio shown in FIG. 6 is set to a constant value regardless of the pit pattern length (the pit pattern length and the pattern space length always have the same value).
【0044】図6によれば、露光時間が長い、つまり、
比較的長いピットパターンを形成する場合、形成された
ピットパターンのデューティ比が、より短いピットパタ
ーンよりも小さくなることが分かる。こうしたピットパ
ターン長によるピットパターンのデューティ比の変化
は、比較的長いピットパターン長を持つピットパターン
が、ピットデータよりも短く形成される傾向にあるため
に生じるものである。According to FIG. 6, the exposure time is long, that is,
It can be seen that when a relatively long pit pattern is formed, the duty ratio of the formed pit pattern is smaller than a shorter pit pattern. Such a change in the duty ratio of the pit pattern due to the pit pattern length occurs because a pit pattern having a relatively long pit pattern length tends to be formed shorter than the pit data.
【0045】実施の形態1の光ディスク原盤製造装置
は、ピットパターン長によるデューティ比の変化を抑え
るため、レーザパルス光1がレーザパルス光1のスポッ
ト径dの10倍以上の長さのピットパターンを形成する
場合、レーザパルス光による露光時間nTを、以下の式
によって露光時間nTcに補正するものとした。 nTc=(n+a)T …(2)In the optical disk master manufacturing apparatus of the first embodiment, in order to suppress a change in the duty ratio due to the pit pattern length, the laser pulse light 1 forms a pit pattern having a length of 10 times or more the spot diameter d of the laser pulse light 1. when forming, the exposure time nT according to the laser pulse light, and shall be corrected to the exposure time nT c by the following equation. nT c = (n + a) T (2)
【0046】図7は、式(2)による露光時間nTの補
正を模式的に示す図であって、露光時間nTが上記した
式(2)によって(n+a)に補正されていることを示
している。なお、式(2)のaの値は、フォトレジスト
の特性や露光条件によっても変化するものの、本発明の
実施の形態では1.0以上、2.0以下(1.0≦a≦
2.0)が望ましい。FIG. 7 is a diagram schematically showing the correction of the exposure time nT by the equation (2), and shows that the exposure time nT is corrected to (n + a) by the above equation (2). I have. Although the value of a in the formula (2) varies depending on the characteristics of the photoresist and the exposure conditions, in the embodiment of the present invention, the value of a is 1.0 or more and 2.0 or less (1.0 ≦ a ≦
2.0) is desirable.
【0047】図8は、図7に示した方法で露光時間を補
正したレーザパルス光1によってピットパターンが形成
された光ディスク原盤を用いて作成した光ディスク基板
のピット幅を実測した結果を説明する図である。図8の
横軸は、ピットパターン形成時の露光時間(秒)を、縦
軸は、AFMによって実測されたピットのデューティ比
(ピット長/(ピット長+スペースの長さ(スペース
長)))を示している。FIG. 8 is a view for explaining the results of actual measurement of the pit width of an optical disk substrate produced using an optical disk master having a pit pattern formed by the laser pulse light 1 whose exposure time has been corrected by the method shown in FIG. It is. The horizontal axis in FIG. 8 indicates the exposure time (second) at the time of forming the pit pattern, and the vertical axis indicates the duty ratio of the pit actually measured by the AFM (pit length / (pit length + space length (space length))). Is shown.
【0048】図8は、レーザパルス光1の露光時間3T
〜11T秒の範囲において、ピットのデューティ比が、
露光時間によらずほぼ一定の値を持つことを示してい
る。レーザパルス光による露光時間はピット長に比例
し、また、デューティ比の変化はピットデータ上のピッ
ト長と実際に形成されたピット長との相違に比例する。
したがって、レーザパルス光1による露光時間を補正す
る実施の形態1は、ピットデータ上のピット長によら
ず、ピットデータ通りのピット長を持つピットを光ディ
スク基板に形成できるものといえる。FIG. 8 shows the exposure time 3T of the laser pulse light 1.
In the range of ~ 11T seconds, the duty ratio of the pit is
It shows that it has a substantially constant value regardless of the exposure time. The exposure time by the laser pulse light is proportional to the pit length, and the change in the duty ratio is proportional to the difference between the pit length on the pit data and the actually formed pit length.
Therefore, in the first embodiment in which the exposure time by the laser pulse light 1 is corrected, it can be said that pits having the pit length according to the pit data can be formed on the optical disk substrate regardless of the pit length on the pit data.
【0049】さらに、本発明の発明者らは、レーザパル
ス光による露光時間を図7に示した方法で補正し、実施
の形態1の光ディスク原盤製造装置によって光ディスク
原盤を作製した。また、この光ディスク原盤から光ディ
スク基板を作製、光ディスク基板上にAlの反射膜を形
成して光ディスクを作製した。そして、作製された光デ
ィスクを再生した結果、ピット幅が0.32μm、デュ
ーティ比0.45のピットから、7.1%のジッタを持
つ再生信号が得られた。今日、DVDの規格で許容され
るジッタが8%であることから、7.1%のジッタは、
充分に低いものということができる。Further, the inventors of the present invention corrected the exposure time by the laser pulse light by the method shown in FIG. 7 and manufactured an optical disk master by the optical disk master manufacturing apparatus of the first embodiment. Further, an optical disk substrate was manufactured from the master optical disk, and an Al reflective film was formed on the optical disk substrate to manufacture an optical disk. Then, as a result of reproducing the manufactured optical disk, a reproduced signal having a jitter of 7.1% was obtained from pits having a pit width of 0.32 μm and a duty ratio of 0.45. Today, since the jitter allowed by the DVD standard is 8%, the 7.1% jitter is:
It can be said that it is sufficiently low.
【0050】以上述べたように、実施の形態1の発明に
よれば、ピットパターンの長さによらず均一なピットパ
ターン幅を持つピットパターンが形成できる光ディスク
原盤製造装置および光ディスク原盤製造方法を提供する
ことができる。また、レーザ光断面の直径dの10倍以
上の長さを持ったピットパターンを、設計長の通りに形
成することができる光ディスク原盤製造装置および光デ
ィスク原盤製造方法を提供することができる。As described above, according to the invention of the first embodiment, an optical disk master manufacturing apparatus and an optical disk master manufacturing method capable of forming a pit pattern having a uniform pit pattern width regardless of the length of the pit pattern are provided. can do. Further, it is possible to provide an optical disk master manufacturing apparatus and an optical disk master manufacturing method capable of forming a pit pattern having a length of 10 times or more the diameter d of the laser beam cross section according to the design length.
【0051】そして、実施の形態1の光ディスク原盤製
造装置および光ディスク原盤製造方法は、ピット長によ
らずピット幅が均一なピットを有する光ディスク基板を
製造することができ、このためにジッタ特性が良好な光
ディスクを提供することができる。さらに、実施の形態
1の光ディスク原盤製造装置および光ディスク原盤製造
方法は、比較的長いピットも設計通りのピット長を有す
る光ディスク基板を製造することができ、このためにジ
ッタ特性が良好な光ディスクを提供することができる。The optical disk master manufacturing apparatus and the optical disk master manufacturing method according to the first embodiment can manufacture an optical disk substrate having pits having a uniform pit width irrespective of the pit length. It is possible to provide a simple optical disk. Furthermore, the optical disk master manufacturing apparatus and the optical disk master manufacturing method according to the first embodiment can manufacture an optical disk substrate having relatively designed pit lengths even for relatively long pits, thereby providing an optical disk having good jitter characteristics. can do.
【0052】(実施の形態2)つぎに、本発明の実施の
形態2の光ディスクについて説明する。実施の形態2の
光ディスクは、ピット列が形成された基板を用いて構成
された光ディスクである。そして、ピット列に含まれる
ピットのピット幅が均一であって、また、ピットからジ
ッタの少ない良好な再生信号が得られる光ディスクを提
供するため、ピットのピット幅やデューティ比を規定し
たものである。(Embodiment 2) Next, an optical disc according to Embodiment 2 of the present invention will be described. The optical disk according to the second embodiment is an optical disk configured using a substrate on which a pit row is formed. The pit width and the duty ratio of the pits are defined in order to provide an optical disk in which the pit width of the pits included in the pit row is uniform and a good reproduction signal with little jitter is obtained from the pits. .
【0053】以下、実施の形態2の光ディスクにおけ
る、ピット列に含まれるピットのピット幅の規定、
ピット幅とトラックピッチとの関係の規定、デューテ
ィ比の規定について述べる。なお、実施の形態2の光デ
ィスクは、実施の形態1の光ディスク原盤から作製され
た光ディスク基板上にAlの反射膜を形成して作製され
たものである。光ディスク基板の表面には、0.45μ
mのトラックピッチでEFMランダムパターンが形成さ
れている。また、光ディスクの再生は、波長400nm
のレーザ光をNA=0.60の対物レンズで集光し、再
生線速度3.5m/sで行った。Hereinafter, the pit width of the pits included in the pit row in the optical disc according to the second embodiment will be defined.
The definition of the relationship between the pit width and the track pitch and the definition of the duty ratio will be described. The optical disk of the second embodiment is manufactured by forming a reflective film of Al on an optical disk substrate manufactured from the optical disk master of the first embodiment. 0.45μ on the surface of the optical disk substrate
An EFM random pattern is formed at a track pitch of m. The reproduction of the optical disk is performed at a wavelength of 400 nm.
Was condensed by an objective lens with NA = 0.60 and performed at a reproduction linear velocity of 3.5 m / s.
【0054】 ピット列に含まれるピットのピット幅
の規定 最短ピット幅と最長ピット幅との相違は、最短ピットで
得られる最短ピット信号と最長ピットで得られる最長ピ
ット信号との間で振幅中心にずれを生じる原因となる。
振幅中心のずれ量が大きくなると、最短ピットと最長ピ
ットとの間で再生信号を2値化する閾値がずれ、光ディ
スクに対する情報の読み誤りが発生すると共にジッタが
増加することが知られている。Definition of pit width of pit included in pit row The difference between the shortest pit width and the longest pit width is determined by the center of amplitude between the shortest pit signal obtained by the shortest pit and the longest pit signal obtained by the longest pit. It may cause deviation.
It is known that when the deviation amount of the amplitude center becomes large, the threshold value for binarizing the reproduction signal is shifted between the shortest pit and the longest pit, causing an error in reading information from the optical disk and increasing jitter.
【0055】このため、実施の形態2の光ディスクは、
ピット列に含まれるピットのうちのピット長が最も短い
ピット(最短ピット)の幅W1(最短ピット幅)と、ピ
ット長が最も長いピット(最長ピット)の幅W2(最長
ピット幅)との関係を、 W1/W2=0.8〜1.2 …(3) とするものである。For this reason, the optical disk of the second embodiment
Relationship between the width W1 (shortest pit width) of the pit having the shortest pit length (shortest pit) and the width W2 (longest pit width) of the pit having the longest pit length (longest pit) of the pits included in the pit row W1 / W2 = 0.8 to 1.2 (3)
【0056】図9は、最長ピット幅W2に対する最短ピ
ット幅W1の割合と、光ディスクから得られた再生信号
のジッタとの関係を示す図である。図9の横軸は、最短
ピット幅/最長ピット幅を、また、縦軸は、光ディスク
の再生信号に含まれるジッタを、フォーマット信号源1
06が発生する信号に対する割合として%で表示してい
る。FIG. 9 is a diagram showing the relationship between the ratio of the shortest pit width W1 to the longest pit width W2 and the jitter of the reproduction signal obtained from the optical disk. The horizontal axis in FIG. 9 indicates the shortest pit width / the longest pit width, and the vertical axis indicates the jitter contained in the reproduction signal of the optical disk, and the format signal source 1
06 is expressed as a percentage of the signal generated.
【0057】図9によれば、ジッタは、最短ピット幅/
最長ピット幅が1、すなわち最短ピット幅と最長ピット
幅とが同じピット幅を持つときに最も小さく、ピット幅
の相違が大きくなるにしたがって大きくなることが分か
る。そして、最短ピット幅/最長ピット幅が0.8〜
1.2である場合、ジッタは、許容可能な値になること
が分かる。なお、実施の形態2では、DVDの規格で許
容されるジッタが8%であることから、ジッタの許容可
能な値を8%以下としている。According to FIG. 9, the jitter is expressed by the shortest pit width /
It can be seen that the longest pit width is 1 when the shortest pit width and the longest pit width have the same pit width, and becomes larger as the difference in pit width becomes larger. And the shortest pit width / longest pit width is 0.8 ~
If it is 1.2, the jitter is found to be an acceptable value. In the second embodiment, the allowable jitter of the DVD standard is 8%, so the allowable value of the jitter is set to 8% or less.
【0058】ピット幅とトラックピッチとの関係の規
定 実施の形態2の光ディスクは、ピット列に含まれるピッ
トの幅Wと、ピット列におけるトラックピッチTpとの
関係を、 0.3Tp≦W≦0.7Tp …(4) とする。Definition of Relationship between Pit Width and Track Pitch In the optical disc of the second embodiment, the relationship between the width W of the pits included in the pit row and the track pitch Tp in the pit row is 0.3 Tp ≦ W ≦ 0. 0.7 Tp (4)
【0059】図10は、トラックピッチに対するピット
幅と3T変調度との関係を示す図である。3T変調度
は、EFM変調方式で形成された最短ピットの振幅と最
長ピットのオン信号のレベルの比で表される値であり、
再生信号の振幅の指標となる値である。EFM変調方式
における最短ピットは、レーザパルス光の露光時間を3
Tにして形成したピットパターンから形成されたピット
である。また、最長ピットは、レーザパルス光の露光時
間を14Tにして形成したピットパターンから形成され
たピットである。図10の横軸は、ピット幅をトラック
ピッチの倍数として示し、また、縦軸は、3T変調度を
示している。FIG. 10 is a diagram showing the relationship between the pit width and the 3T modulation degree with respect to the track pitch. The 3T modulation degree is a value represented by a ratio between the amplitude of the shortest pit formed by the EFM modulation method and the level of the ON signal of the longest pit,
This value is an index of the amplitude of the reproduction signal. The shortest pit in the EFM modulation method has an exposure time of laser pulse light of 3
This is a pit formed from a pit pattern formed as T. The longest pit is a pit formed from a pit pattern formed by setting the exposure time of the laser pulse light to 14T. The horizontal axis in FIG. 10 shows the pit width as a multiple of the track pitch, and the vertical axis shows the 3T modulation.
【0060】なお、今日、DVDの規格は、3T変調度
が15%以上あった場合に再生に充分な振幅の再生信号
が得られるものとしている。このことから実施の形態2
では、15%以上の3T変調信号が得られるピット幅を
光ディスクのピット幅とする。図10によれば、0.1
5以上の3T変調度は、ピット幅がトラックピッチの
0.4〜0.6倍であるときに得られることが分かる。[0060] Today, the DVD standard states that a reproduced signal having an amplitude sufficient for reproduction can be obtained when the 3T modulation degree is 15% or more. Therefore, Embodiment 2
In this case, the pit width at which a 15% or more 3T modulated signal is obtained is defined as the pit width of the optical disk. According to FIG.
It can be seen that a 3T modulation degree of 5 or more is obtained when the pit width is 0.4 to 0.6 times the track pitch.
【0061】デューティ比の規定 前述したように、最短ピット幅と最長ピット幅とのずれ
は、最短ピット信号と最長ピット信号との間で振幅中心
にずれを生じ、光ディスクに対する情報の読み誤りやジ
ッタの増加の一因となる。そして、最短ピット幅と最長
ピット幅とのずれにはピットのデューティ比が影響し、
ピット長によらずピット幅を一定に形成できるデューテ
ィ比には一定の範囲がある。Definition of Duty Ratio As described above, the shift between the shortest pit width and the longest pit width causes a shift in the center of the amplitude between the shortest pit signal and the longest pit signal, resulting in information reading error and jitter on the optical disk. Contribute to the increase in The difference between the shortest pit width and the longest pit width is affected by the pit duty ratio,
There is a certain range in the duty ratio in which the pit width can be formed to be constant regardless of the pit length.
【0062】このため、実施の形態2の光ディスクは、
ピット列に含まれるピットの長さPlと、ピット列にお
けるピット間のスペース長Psとを、 Pl/(Pl+Ps)=0.4〜0.6 …(4) とする。For this reason, the optical disk of the second embodiment
The length P1 of the pits included in the pit row and the space length Ps between the pits in the pit row are set as Pl / (Pl + Ps) = 0.4 to 0.6 (4).
【0063】図11は、光ディスクに設けられたピット
のデューティ比(ピット長/(ピット長+スペース
長))と、光ディスクから得られた再生信号のジッタと
の関係を示す図である。図11の横軸は、デューティ比
を、また、縦軸は、光ディスクの再生信号に含まれるジ
ッタを、フォーマット信号源106が発生する信号に対
する割合として%で表示している。図11によれば、ジ
ッタは、ピットのデューティ比が0.4〜0.6である
ときに許容可能な値になることが分かる。なお、図11
においても、ジッタの許容可能な値を8%以下としてい
る。FIG. 11 is a diagram showing the relationship between the duty ratio of the pits provided on the optical disc (pit length / (pit length + space length)) and the jitter of the reproduction signal obtained from the optical disc. In FIG. 11, the horizontal axis represents the duty ratio, and the vertical axis represents the jitter contained in the reproduced signal of the optical disk as a percentage of the signal generated by the format signal source 106 in%. According to FIG. 11, it can be seen that the jitter becomes an allowable value when the pit duty ratio is 0.4 to 0.6. Note that FIG.
Also, the allowable value of the jitter is set to 8% or less.
【0064】以上述べたように、実施の形態2によれ
ば、光ディスク内のピット長の変化によらず充分な振幅
を持つ再生信号が得られる光ディスクを提供することが
できる。また、実施の形態2によれば、ピット幅の変化
によらず振幅中心が一致した再生信号が得られる光ディ
スクを提供することができる。さらに、実施の形態2に
よれば、光ディスク内のデューティ比の変化によらず振
幅中心が一致した再生信号が得られる光ディスクを提供
することができる。As described above, according to the second embodiment, it is possible to provide an optical disc capable of obtaining a reproduced signal having a sufficient amplitude regardless of a change in the pit length in the optical disc. Further, according to the second embodiment, it is possible to provide an optical disc capable of obtaining a reproduced signal having the same amplitude center regardless of a change in the pit width. Further, according to the second embodiment, it is possible to provide an optical disc capable of obtaining a reproduction signal having the same amplitude center regardless of a change in the duty ratio in the optical disc.
【0065】[0065]
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、以下の
効果を奏する。すなわち、請求項1に記載の発明は、形
成するピット長に応じてレーザパルス光の強度を補正す
ることにより、ピットパターンの長さによらず均一なピ
ットパターン幅を持つピットパターンが形成できる光デ
ィスク原盤製造装置を提供することができる。As described above, the present invention has the following effects. That is, the invention according to claim 1 is an optical disk capable of forming a pit pattern having a uniform pit pattern width regardless of the pit pattern length by correcting the intensity of the laser pulse light according to the pit length to be formed. A master production apparatus can be provided.
【0066】請求項2に記載の発明は、形成するピット
長に応じてレーザパルス光の露光時間を補正することに
より、比較的長い(レーザ光断面の直径dの10倍以
上)ピットパターンが設計された通りに形成されないと
いう不具合を解消することができる。そして、ピットパ
ターンの長さによらず、ピットパターンを設計通りに形
成することができる光ディスク原盤製造装置を提供する
ことができる。According to the second aspect of the present invention, a relatively long pit pattern (10 times or more the diameter d of the laser beam cross section) is designed by correcting the exposure time of the laser pulse light according to the pit length to be formed. It is possible to solve the problem of not being formed as described. Further, it is possible to provide an optical disk master manufacturing apparatus capable of forming a pit pattern as designed irrespective of the length of the pit pattern.
【0067】請求項3に記載の発明は、形成するピット
長に応じてレーザパルス光の強度を補正することによ
り、ピットパターンの長さによらず均一なピットパター
ン幅を持つピットパターンが形成できる光ディスク原盤
製造方法を提供することができる。According to the third aspect of the present invention, a pit pattern having a uniform pit pattern width can be formed irrespective of the pit pattern length by correcting the intensity of the laser pulse light according to the pit length to be formed. An optical disk master manufacturing method can be provided.
【0068】請求項4に記載の発明は、形成するピット
長に応じてレーザパルス光による露光時間を補正するこ
とにより、比較的長い(レーザ光断面の直径dの10倍
以上)ピットパターンが設計された通りに形成されない
という不具合を解消することができる。そして、ピット
パターンの長さによらず、ピットパターンを設計通りに
形成することができる光ディスク原盤製造方法を提供す
ることができる。According to a fourth aspect of the present invention, a relatively long pit pattern (10 times or more the diameter d of the laser beam cross section) is designed by correcting the exposure time by the laser pulse light according to the pit length to be formed. It is possible to solve the problem of not being formed as described. Further, it is possible to provide a method for manufacturing an optical disc master capable of forming a pit pattern as designed irrespective of the length of the pit pattern.
【0069】請求項5に記載の発明は、ピット列に含ま
れるピットのうちの最長ピットのピット幅と最短ピット
のピット幅との比を限定し、光ディスク内のピット長の
変化によらず充分な振幅を持つ再生信号が得られる光デ
ィスクを提供することができる。According to the fifth aspect of the present invention, the ratio between the pit width of the longest pit and the pit width of the shortest pit among the pits included in the pit row is limited, and the ratio is sufficient regardless of the change in the pit length in the optical disk. It is possible to provide an optical disc capable of obtaining a reproduced signal having an appropriate amplitude.
【0070】請求項6に記載の発明は、ピット列に含ま
れるピットの幅とトラックピッチとを限定し、光ディス
ク内のピット幅の変化によらず振幅中心が一致した再生
信号が得られる光ディスクを提供することができる。According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an optical disk capable of limiting a width of a pit included in a pit row and a track pitch and obtaining a reproduced signal whose amplitude center coincides regardless of a change in a pit width in the optical disk. Can be provided.
【0071】請求項7に記載の発明は、ピット列に含ま
れるピットのデューティ比を限定し、光ディスク内のデ
ューティ比の変化によらず振幅中心が一致した再生信号
が得られる光ディスクを提供することができる。According to a seventh aspect of the present invention, there is provided an optical disc in which a duty ratio of pits included in a pit row is limited, and a reproduced signal having the same amplitude center is obtained irrespective of a change in the duty ratio in the optical disc. Can be.
【図1】本発明の実施の形態1の光ディスク原盤製造装
置を説明するためのブロック図である。FIG. 1 is a block diagram for explaining an optical disk master manufacturing apparatus according to a first embodiment of the present invention.
【図2】図1に示した光ディスク原盤製造装置で製造さ
れた光ディスク原盤を説明するための図である。FIG. 2 is a diagram for explaining an optical disc master manufactured by the optical disc master manufacturing apparatus shown in FIG. 1;
【図3】ピットパターンを形成するレーザパルス光によ
る露光時間とレーザパルス光の強度との関係を示す図で
ある。FIG. 3 is a diagram showing a relationship between an exposure time by a laser pulse light for forming a pit pattern and an intensity of the laser pulse light.
【図4】レーザ強度補正曲線に基づくレーザパルス光の
強度補正を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining intensity correction of laser pulse light based on a laser intensity correction curve.
【図5】図4に示した方法で強度を設定したレーザパル
ス光によってピットパターンが形成された光ディスク原
盤を用いて作成した光ディスク基板のピット幅を実測し
た結果を示した図である。FIG. 5 is a view showing the results of actually measuring the pit width of an optical disk substrate formed using an optical disk master on which a pit pattern is formed by laser pulse light whose intensity is set by the method shown in FIG.
【図6】ピットパターンを形成するレーザパルス光の露
光時間と、レーザパルス光によって形成されたピットパ
ターンのデューティ比との関係を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a relationship between an exposure time of a laser pulse light for forming a pit pattern and a duty ratio of a pit pattern formed by the laser pulse light.
【図7】レーザパルス光による露光時間の補正を模式的
に示す図である。FIG. 7 is a diagram schematically showing correction of exposure time by laser pulse light.
【図8】図7に示した方法で周期を補正したレーザパル
ス光によってピットパターンが形成された光ディスク原
盤を用いて作成した光ディスク基板のピット幅を実測し
た結果を示す図である。8 is a diagram showing the results of actually measuring the pit width of an optical disk substrate produced using an optical disk master having a pit pattern formed by laser pulse light whose period has been corrected by the method shown in FIG. 7;
【図9】最長ピット幅に対する最短ピット幅の割合と、
光ディスクから得られた再生信号のジッタとの関係を示
す図である。FIG. 9 shows the ratio of the shortest pit width to the longest pit width,
FIG. 3 is a diagram showing a relationship between a reproduction signal obtained from an optical disc and jitter.
【図10】トラックピッチに対するピット幅と3T変調
度との関係を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a relationship between a pit width and a 3T modulation degree with respect to a track pitch.
【図11】光ディスクに設けられたピットのデューティ
比と、光ディスクから得られた再生信号のジッタとの関
係を示す図である。FIG. 11 is a diagram illustrating a relationship between a duty ratio of a pit provided on an optical disc and a jitter of a reproduction signal obtained from the optical disc.
1 レーザ光 101 レーザ 102 スタビライザ 103 変調器 104 光ヘッド 105 ガラス基板 106 フォーマット信号源 Reference Signs List 1 laser light 101 laser 102 stabilizer 103 modulator 104 optical head 105 glass substrate 106 format signal source
Claims (7)
いてピット形成用のパターンを形成する光ディスク原盤
製造装置であって、 一定の周期Tでクロック信号を発生するクロック信号発
生手段と、 前記周期Tの整数(n)倍の時間nTを露光時間とする
レーザパルス光を生成するパルス光生成手段と、 時間nTを露光時間とする前記レーザパルス光の強度P
(nT)を、以下の式によって補正する光強度補正手段
と、 を備えることを特徴とする光ディスク原盤製造装置。 P(nT)=a・n-b×P(min) 1.1≦a≦1.4 0.15≦b≦0.30 P(min):最短ピットパターン形成時のレーザ強度1. An optical disc master manufacturing apparatus for forming a pattern for forming pits using an exposure process using a laser beam as a light source, comprising: a clock signal generating means for generating a clock signal at a constant cycle T; Pulse light generating means for generating a laser pulse light whose exposure time is nT times an integer (n) times T, and an intensity P of the laser pulse light whose time is nT as the exposure time
An optical disc master manufacturing apparatus, comprising: a light intensity correcting means for correcting (nT) by the following equation. P (nT) = a · n −b × P (min) 1.1 ≦ a ≦ 1.4 0.15 ≦ b ≦ 0.30 P (min): laser intensity at the time of forming the shortest pit pattern
するスポット光であって、かつ、前記パルス光がdの1
0倍以上の長さのピットパターンを形成する場合、 前記レーザパルス光の露光時間nTを、以下の式によっ
て露光時間nTcに補正する露光時間補正手段をさらに
備えることを特徴とする請求項1に記載の光ディスク原
盤製造装置。 nTc=(n+a)T 1.0≦a≦2.02. The method according to claim 1, wherein the laser light is spot light having a circular cross section with a diameter d, and the pulse light is one of d.
When forming the 0-fold or more the length of the pit pattern, claim 1, further comprising an exposure time correction means for correcting the exposure time nT of the laser pulse light, the exposure time nT c by the following equation 3. An optical disc master production apparatus according to claim 1. nT c = (n + a) T 1.0 ≦ a ≦ 2.0
いてピット形成用のピットパターンを形成する光ディス
ク原盤製造方法であって、 クロック信号の周期Tの整数(n)倍の時間nTを露光
時間とするレーザパルス光を生成するパルス光生成工程
と、 時間nTを露光時間として生成された前記レーザパルス
光の強度P(nT)を、以下の式によって補正する光強
度補正工程と、 を含むことを特徴とする光ディスク原盤製造方法。 P(nT)=a・n-b×P(min) 1.1≦a≦1.4 0.15≦b≦0.30 P(min):最短ピットパターン形成時のレーザ強度3. A method for manufacturing a master optical disc for forming a pit pattern for pit formation using an exposure process using a laser beam as a light source, wherein a time nT that is an integer (n) times the period T of a clock signal is set to an exposure time A pulse light generating step of generating a laser pulse light, and a light intensity correcting step of correcting the intensity P (nT) of the laser pulse light generated using the time nT as an exposure time by the following equation. A method for manufacturing a master optical disc, comprising: P (nT) = a · n −b × P (min) 1.1 ≦ a ≦ 1.4 0.15 ≦ b ≦ 0.30 P (min): laser intensity at the time of forming the shortest pit pattern
するスポット光であって、かつ、前記パルス光生成工程
において生成されたパルス光がdの10倍以上の長さの
ピットパターンを形成する場合、 前記レーザパルス光の露光時間nTを、以下の式によっ
て露光時間nTcに補正する露光時間補正工程をさらに
含むことを特徴とする請求項3に記載の光ディスク原盤
製造方法。 nTc=(n+a)T 1.0≦a≦2.04. The laser light is a spot light having a circular cross section with a diameter d, and the pulse light generated in the pulse light generating step forms a pit pattern having a length of 10 times or more of d. If you, optical disk master manufacturing method according to claim 3, further comprising an exposure time correction step of correcting the exposure time nT of the laser pulse light, the exposure time nT c by the following equation. nT c = (n + a) T 1.0 ≦ a ≦ 2.0
された光ディスクであって、 前記ピット列に含まれるピットのうちの長さが最も短い
最短ピットの幅W1と、長さが最も長い最長ピットの幅
W2とが、 W1/W2=0.8〜1.2 の関係にあることを特徴とする光ディスク。5. An optical disk constituted by using a substrate on which a pit row is formed, wherein a width W1 of a shortest pit having the shortest length among pits included in the pit row, and a longest pit having a longest length An optical disc, wherein the width W2 of the longest pit is in a relationship of W1 / W2 = 0.8 to 1.2.
と、前記ピット列におけるトラックピッチTpとが、 0.3Tp≦W≦0.7Tp の関係にあることを特徴とする請求項5に記載の光ディ
スク。6. A width W of a pit included in the pit row
6. The optical disk according to claim 5, wherein a relationship between the track pitch and the track pitch Tp in the pit row is 0.3 Tp.ltoreq.W.ltoreq.0.7 Tp.
lと、前記ピット列におけるピット間のスペース長Psと
が、 Pl/(Pl+Ps)=0.4〜0.6 の関係にあることを特徴とする請求項5または6に記載
の光ディスク。7. The length P of a pit included in the pit row
7. The optical disk according to claim 5, wherein l and a space length Ps between pits in the pit row have a relationship of Pl / (Pl + Ps) = 0.4 to 0.6.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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