JP2001317927A - Device and method for inspecting slit-shaped groove - Google Patents

Device and method for inspecting slit-shaped groove

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JP2001317927A
JP2001317927A JP2000138393A JP2000138393A JP2001317927A JP 2001317927 A JP2001317927 A JP 2001317927A JP 2000138393 A JP2000138393 A JP 2000138393A JP 2000138393 A JP2000138393 A JP 2000138393A JP 2001317927 A JP2001317927 A JP 2001317927A
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Japan
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slit
shaped groove
groove
inspection
edge points
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JP2000138393A
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Japanese (ja)
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Hideaki Murakami
秀明 村上
Masahiko Uno
真彦 宇野
Hiroyuki Sasai
浩之 笹井
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a slit-shaped groove inspection device which can stably and accurately inspect the slit-shaped groove of an object to be inspected in a short time, in a state where the device is hardly affected by the illuminance variation of illumination and has a highly robust and relatively simple constitution. SOLUTION: The slit-shaped groove of the object 1 to be inspected is inspected, in such a way that the object 1 is set up at a prescribed position and irradiated with the light from a slit-shape groove-lighting means 2. The image of the groove of the object 1 is picked up by means of an mage pickup means 3 and the variable density image data about the groove inputted form the means 3 are stored in an image data storing means 5. Then, an inspecting means 6 for side face of slit-shaped groove inspects the side faces of the groove for surface roughness and another inspecting means 6 for foreign matters in groove inspects the groove for foreign matters mixed in the groove based on the image data. Finally, a slit-shaped groove inspecting and judging means 8 judges the normal/defective state of the groove.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、CCDカメラ等
の画像撮像装置より入力されたスリット形状溝の画像デ
ータに基づき、スリット形状溝側面の粗さ、およびその
溝内の異物の有無を検査するスリット形状溝検査装置に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention inspects the roughness of a slit-shaped groove side surface and the presence or absence of foreign matter in the groove based on image data of the slit-shaped groove input from an image pickup device such as a CCD camera. The present invention relates to a slit-shaped groove inspection device.

【0002】[0002]

【従来の技術】モータの一部品であるロータの検査工程
では、切削加工後にロータ上のスリット溝をすべて検査
して、スリット溝側面がうまく切削できず変形している
ものやスリット溝内に切削クズ等の異物があるもの(す
なわち不良品)を取り除く必要がある。従来、このよう
なスリット溝の検査作業は、熟練作業者が顕微鏡や拡大
鏡等を用いて1個ずつ目視と手作業で行っていた。
2. Description of the Related Art In the inspection process of a rotor, which is a component of a motor, all the slit grooves on the rotor are inspected after cutting, and if the side surfaces of the slit grooves cannot be cut well and are deformed or cut in the slit grooves. It is necessary to remove foreign matters such as dust (ie, defective products). Conventionally, such a slit groove inspection operation has been performed visually and manually by a skilled operator one by one using a microscope, a magnifying glass, or the like.

【0003】具体的に、溝付きケーブルのような異形ケ
ーブルの形状計測にスリット状の光を投射し、その反射
光により形成される反射光像の形状や寸法に基づいて、
表面に形成された溝や傷を検査する、いわゆる光切断法
を用いた検査が、特開平09−042931号公報で提
案されている。同様の検査は、金属加工の分野でも行わ
れており、金属板の表面にスリット光を投射し、このス
リット光の金属板表面における散乱方向から上記金属板
の圧延方向や傷の有無を非接触で連続的に検出してい
る。
More specifically, a slit-like light is projected to measure the shape of a deformed cable such as a grooved cable, and based on the shape and size of a reflected light image formed by the reflected light.
An inspection using a so-called light-section method for inspecting grooves and scratches formed on the surface has been proposed in JP-A-09-042931. Similar inspections are also performed in the field of metalworking, in which slit light is projected on the surface of a metal plate, and from the scattering direction of the slit light on the surface of the metal plate, the rolling direction of the metal plate and the presence or absence of scratches are contacted. Is detected continuously.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術では、
検査対象物のスリット形状をした溝を画像処理とレーザ
スリット光を併用した測定法によって良品/不良品に仕
分ける場合、スリット形状の溝の多数箇所の計測が必要
となるため、検査対象物またはレーザスリット光を移動
させながら順次画像を撮像して測定するので、多くの検
査時間がかかり、そのために高速に検査処理を行うこと
ができない問題点があった。また、レーザの照射角度に
よっては、その反射光をカメラでうまく撮像できず、検
査できない問題点もあった。
In the above prior art,
When sorting the slit-shaped grooves of the inspection target into good / defective products by using a combination of image processing and laser slit light, it is necessary to measure a large number of slit-shaped grooves. Since images are sequentially captured and measured while moving the slit light, a lot of inspection time is required, and there is a problem that inspection processing cannot be performed at high speed. Also, depending on the irradiation angle of the laser, there is a problem that the reflected light cannot be properly imaged by the camera and cannot be inspected.

【0005】この本発明は上記の従来技術における問題
点を解消するためになされたものであり、検査対象物の
スリット形状をした溝を、照明の照度変化に対する影響
を受けにくく、短時間で安定して正確な検査を行い、な
おかつ比較的簡単な構成であるロバスト(rubust:頑
強)性に優れたスリット形状溝検査装置を得ることを目
的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems in the prior art, and it has been proposed that a slit-shaped groove of an object to be inspected is hardly affected by a change in illuminance of illumination, and is stable in a short time. It is an object of the present invention to obtain a slit-shaped groove inspection apparatus which performs an accurate inspection and has a relatively simple structure and excellent robustness.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、請求項1に記載の発明に係るスリット形状溝
検査装置は、スリット形状溝照明手段によって検査対象
のスリット形状溝に照明を当て、また、画像撮像手段に
よって検査対象のスリット形状溝の画像を撮像し、ま
た、スリット形状溝側面検査手段によってスリット形状
溝側面の粗さ具合を検査し、スリット形状溝内異物検査
手段によってスリット形状溝内の異物の有無を検査し、
スリット形状溝検査判定手段によってスリット形状溝の
良品/不良品を判定するようにしたものである。
In order to achieve such an object, a slit-shaped groove inspection apparatus according to the first aspect of the present invention provides illumination of a slit-shaped groove to be inspected by slit-shaped groove illumination means. The image of the slit-shaped groove to be inspected is captured by the image capturing unit, the roughness of the slit-shaped groove side surface is inspected by the slit-shaped groove side inspection unit, and the slit is inspected by the foreign matter inspection unit in the slit-shaped groove. Inspect for foreign matter in the shape groove,
The slit-shaped groove inspection / judgment means judges the good / defective product of the slit-shaped groove.

【0007】また、請求項2に記載の発明に係るスリッ
ト形状溝検査装置は、半球型の拡散照明と同軸落射型の
照明を組み合わせた照明を用いて、スリット形状溝内に
任意方向から照明を当てる機能をスリット形状溝照明手
段に持たせたものである。
The slit-shaped groove inspection apparatus according to the second aspect of the present invention uses a combination of a hemispherical diffused illumination and a coaxial incident illumination to illuminate the slit-shaped groove from an arbitrary direction. The function to apply is provided to the slit-shaped groove illumination means.

【0008】また、請求項3に記載の発明に係るスリッ
ト形状溝検査装置は、スリット形状溝側面の全エッジ点
の座標位置を微分フィルタを用いて作成したエッジ画像
から求める機能をスリット形状溝側面検査手段に持たせ
たものである。
According to a third aspect of the present invention, the slit-shaped groove inspection apparatus has a function of obtaining coordinate positions of all edge points of the slit-shaped groove side from an edge image created by using a differential filter. This is what the inspection means has.

【0009】また、請求項4に記載の発明に係るスリッ
ト形状溝検査装置は、スリット形状溝側面の全エッジ点
の座標位置を微分フィルタを用いて作成したエッジ画像
のエッジ部分の重心位置とする機能をスリット形状溝側
面検査手段に持たせたものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the slit-shaped groove inspection apparatus, the coordinate positions of all edge points on the side surface of the slit-shaped groove are set as the center of gravity of the edge portion of the edge image created by using the differential filter. The function is provided to the slit-shaped groove side surface inspection means.

【0010】また、請求項5に記載の発明に係るスリッ
ト形状溝検査装置は、スリット形状溝側面の全エッジ点
の座標位置から基準溝直線を計算する際に、LMedSロバ
スト直線回帰アルゴリズムを用いる機能をスリット形状
溝側面検査手段に持たせたものである。
Further, the slit-shaped groove inspection apparatus according to the invention described in claim 5 has a function of using the LMedS robust linear regression algorithm when calculating a reference groove straight line from the coordinate positions of all edge points on the side of the slit-shaped groove. Is provided to the slit-shaped groove side surface inspection means.

【0011】また、請求項6に記載の発明に係るスリッ
ト形状溝検査装置は、スリット形状溝側面の全エッジ点
を自動検出し、そのエッジ点から基準溝直線を計算した
後に、その基準溝直線と全エッジ点との垂線長の標準偏
差値を計算して、スリット形状溝側面の粗さ具合を検査
する機能をスリット形状溝側面検査手段に持たせたもの
である。
Further, the slit-shaped groove inspection apparatus according to the present invention automatically detects all edge points on the side surface of the slit-shaped groove, calculates a reference groove straight line from the edge points, and then calculates the reference groove straight line. The slit-shaped groove side surface inspection means has a function of calculating the standard deviation value of the perpendicular line length from all the edge points and inspecting the roughness of the slit-shaped groove side surface.

【0012】また、請求項7に記載の発明に係るスリッ
ト形状溝検査装置は、スリット形状溝側面の全エッジ点
と、その全エッジ点から計算された基準溝直線との最大
垂線長からスリット形状溝側面の粗さ具合を検査する機
能をスリット形状溝側面検査手段に持たせたものであ
る。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided the slit-shaped groove inspection apparatus, wherein the slit shape is determined from the maximum perpendicular length of all the edge points on the side surface of the slit-shaped groove and the reference groove straight line calculated from all the edge points. The slit-shaped groove side surface inspection means has a function of inspecting the degree of roughness of the groove side surface.

【0013】また、請求項8に記載の発明に係るスリッ
ト形状溝検査装置は、スリット形状溝側面の隣接するエ
ッジ点同士を結んだエッジ点全長とその全エッジ点から
計算された基準溝直線の全長との差を用いて、スリット
形状溝側面の粗さ具合を検査する機能をスリット形状溝
側面検査手段に持たせたものである。
In the slit-shaped groove inspection apparatus according to the present invention, the total length of the edge points connecting the adjacent edge points on the side faces of the slit-shaped grooves and the reference groove straight line calculated from all the edge points are obtained. The slit-shaped groove side surface inspection means has a function of inspecting the degree of roughness of the slit-shaped groove side surface using the difference from the total length.

【0014】また、請求項9に記載の発明に係るスリッ
ト形状溝検査装置は、スリット形状溝側面の隣接するエ
ッジ点同士を結んだエッジ点全長とその全エッジ点から
計算された基準溝直線の全長との差の基準溝直線の全長
に対する割合を用いて、スリット形状溝側面の粗さ具合
を検査する機能をスリット形状溝側面検査手段に持たせ
たものである。
According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a slit-shaped groove inspection apparatus, wherein a total length of an edge point connecting adjacent edge points on a side surface of the slit-shaped groove and a reference groove straight line calculated from all the edge points are determined. The slit-shaped groove side surface inspection means has a function of inspecting the degree of roughness of the slit-shaped groove side surface using the ratio of the difference from the total length to the total length of the reference groove straight line.

【0015】また、請求項10に記載の発明に係るスリ
ット形状溝検査装置は、スリット形状溝側面の座標位置
から計算された基準溝直線間内を判別分析法を用いて自
動二値化した後、スリット形状溝内の異物をラベリング
処理によって検出して、その異物の幅、高さ、対角長が
規定値以上の場合に異物有りとして出力する機能をスリ
ット形状溝内異物検査手段に持たせたものである。
The slit-shaped groove inspection apparatus according to the tenth aspect automatically binarizes a reference groove straight line calculated from a coordinate position on a side surface of the slit-shaped groove using a discriminant analysis method. The foreign substance in the slit-shaped groove has a function of detecting the foreign substance in the slit-shaped groove by the labeling process and outputting the presence of the foreign substance when the width, height, and diagonal length of the foreign substance are equal to or more than specified values. It is a thing.

【0016】また、請求項11に記載の発明に係るスリ
ット形状溝検査装置は、スリット形状溝側面検査手段で
のスリット形状溝側面の基準溝直線とその溝側面全エッ
ジ点との垂線長の標準偏差値を用いた測定値、または基
準溝直線とその溝側面全エッジ点中の最大垂線長を用い
た測定値、または基準溝直線の全長とその溝側面の隣接
するエッジ点同士を結んだエッジ点全長との差の基準溝
直線の全長に対する割合を用いた測定値のいずれかの1
つでも規定値以上になった場合、または、スリット形状
溝内異物検査手段において異物を検出した場合、そのス
リット形状溝を不良とする判定機能をスリット形状溝検
査判定手段に持たせたものである。
According to the eleventh aspect of the present invention, there is provided a slit-shaped groove inspection apparatus, wherein a standard length of a perpendicular line between a reference groove straight line of the slit-shaped groove side face and all edge points of the groove side face by the slit-shaped groove side face inspection means. The measured value using the deviation value, or the measured value using the maximum perpendicular length of the reference groove straight line and all the edge points of the groove side surface, or the edge connecting the entire edge of the reference groove straight line and the adjacent edge point of the groove side surface Any one of the measured values using the ratio of the difference from the total length to the total length of the reference groove straight line
In any case, the slit shape groove inspection determining means is provided with a function of determining that the slit shape groove is defective when any one of the predetermined values is equal to or more than the specified value, or when foreign matter is detected by the foreign matter inspection means in the slit shape groove. .

【0017】次に、請求項12に記載の発明に係るスリ
ット形状溝検査方法は、スリット形状溝照明手段により
検査対象のスリット形状溝に照明を当てる工程と、画像
撮像手段により検査対象のスリット形状溝を撮像する工
程と、前記画像撮像手段によって撮像されたスリット形
状溝側面の粗さ具合をスリット形状溝側面検査手段によ
り検査する工程と、スリット形状溝内異物検査手段によ
りスリット形状溝内の異物の有無を検査する工程と、前
記スリット形状溝側面検査手段とスリット形状溝内異物
検査手段の検査結果からスリット形状溝検査判定手段に
よりスリット形状溝の良品/不良品を判定する工程とを
備えたことを特徴とする。
Next, according to a twelfth aspect of the present invention, there is provided a slit-shaped groove inspection method, wherein the slit-shaped groove illuminating means illuminates the slit-shaped groove to be inspected, and the slit-shaped groove to be inspected by the image pickup means. Imaging the groove, inspecting the roughness of the slit-shaped groove side surface imaged by the image imaging unit with the slit-shaped groove side inspection unit, and inspecting the foreign matter in the slit-shaped groove with the slit-shaped groove foreign object inspection unit. Inspecting the presence / absence of the slit-shaped groove, and determining the non-defective / defective product of the slit-shaped groove from the inspection result of the slit-shaped groove side inspection means and the inspection result of the foreign matter in the slit-shaped groove by the slit-shaped groove inspection determining means. It is characterized by the following.

【0018】また、請求項13に記載の発明に係るスリ
ット形状溝検査方法は、半球型の拡散照明と同軸落射型
の照明を組み合わせた照明を用いて、スリット形状溝内
に任意方向から照明を当てるようにしたものである。
Further, the slit-shaped groove inspection method according to the invention described in claim 13 is characterized in that illumination is performed from any direction in the slit-shaped groove by using illumination combining hemispherical diffuse illumination and coaxial incident illumination. It is intended to be applied.

【0019】また、請求項14に記載の発明に係るスリ
ット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の全エッジ
点の座標位置を微分フィルタを用いて作成したエッジ画
像から求めるようにしたものである。
In the slit-shaped groove inspection method according to the invention, the coordinate positions of all edge points on the side surface of the slit-shaped groove are obtained from an edge image created by using a differential filter. .

【0020】また、請求項15に記載の発明に係るスリ
ット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の全エッジ
点の座標位置を微分フィルタを用いて作成したエッジ画
像のエッジ部分の重心位置とするようにしたものであ
る。
According to a fifteenth aspect of the present invention, in the slit-shaped groove inspection method, the coordinate positions of all the edge points on the side surfaces of the slit-shaped groove are set as the barycentric positions of the edge portions of the edge image created using the differential filter. It is like that.

【0021】また、請求項16に記載の発明に係るスリ
ット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の全エッジ
点の座標位置から基準溝直線を計算する際に、LMedS(L
eastMedian of Squares:最小自乗メディアン)ロバス
ト直線回帰アルゴリズムを用いるようにしたものであ
る。
In the slit-shaped groove inspection method according to the present invention, when calculating the reference groove straight line from the coordinate positions of all edge points on the side surface of the slit-shaped groove, the LMedS ( L
east Med ian of S quares: is the least squares median) that to use a robust linear regression algorithm.

【0022】また、請求項17に記載の発明に係るスリ
ット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の全エッジ
点を自動検出し、そのエッジ点から基準溝直線を計算し
た後に、その基準溝直線と全エッジ点との垂線長の標準
偏差値を計算して、スリット形状溝側面の粗さ具合を検
査するようにしたものである。
According to a seventeenth aspect of the present invention, in the slit-shaped groove inspection method, all edge points on the side surface of the slit-shaped groove are automatically detected, and a reference groove straight line is calculated from the edge points. The standard deviation value of the perpendicular line length between the edge and all the edge points is calculated, and the roughness of the side face of the slit-shaped groove is inspected.

【0023】また、請求項18に記載の発明に係るスリ
ット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の全エッジ
点と、その全エッジ点から計算された基準溝直線との最
大垂線長からスリット形状溝側面の粗さ具合を検査する
ようにしたものである。
In the slit-shaped groove inspection method according to the present invention, the slit shape may be determined from the maximum perpendicular length of all edge points on the side surface of the slit-shaped groove and the reference groove straight line calculated from all the edge points. The roughness of the side surface of the groove is inspected.

【0024】また、請求項19に記載の発明に係るスリ
ット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の隣接する
エッジ点同士を結んだエッジ点全長とその全エッジ点か
ら計算された基準溝直線の全長との差を用いて、スリッ
ト形状溝側面の粗さ具合を検査するようにしたものであ
る。
According to a nineteenth aspect of the present invention, there is provided the slit-shaped groove inspection method, wherein the total length of the edge points connecting the adjacent edge points of the slit-shaped groove side surfaces and the reference groove straight line calculated from all the edge points are determined. Using the difference from the total length, the degree of roughness of the side surface of the slit-shaped groove is inspected.

【0025】また、請求項20に記載の発明に係るスリ
ット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の隣接する
エッジ点同士を結んだエッジ点全長とその全エッジ点か
ら計算された基準溝直線の全長との差の基準溝直線の全
長に対する割合を用いて、スリット形状溝側面の粗さ具
合を検査するようにしたものである。
According to a twentieth aspect of the present invention, there is provided the slit-shaped groove inspection method, wherein the total length of the edge points connecting the adjacent edge points of the slit-shaped groove side surfaces and the reference groove straight line calculated from all the edge points are determined. Using the ratio of the difference from the total length to the total length of the reference groove straight line, the roughness of the slit-shaped groove side surface is inspected.

【0026】また、請求項21に記載の発明に係るスリ
ット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の座標位置
から計算された基準溝直線間内を判別分析法を用いて自
動二値化した後、スリット形状溝内の異物をラベリング
処理によって検出して、その異物の幅、高さ、対角長が
規定値以上の場合に異物有りとして出力するようにした
ものである。
According to a twenty-first aspect of the present invention, there is provided a slit-shaped groove inspection method according to the present invention, wherein the inside of the reference groove straight line calculated from the coordinate position of the slit-shaped groove side face is automatically binarized using a discriminant analysis method. In addition, a foreign substance in the slit-shaped groove is detected by a labeling process, and when the width, height, and diagonal length of the foreign substance are equal to or larger than specified values, the foreign substance is output.

【0027】また、請求項22に記載の発明に係るスリ
ット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面検査手段で
のスリット形状溝側面の基準溝直線とその溝側面全エッ
ジ点との垂線長の標準偏差値を用いた測定値、または基
準溝直線とその溝側面全エッジ点中の最大垂線長を用い
た測定値、または基準溝直線の全長とその溝側面の隣接
するエッジ点同士を結んだエッジ点全長との差の基準溝
直線の全長に対する割合を用いた測定値のいずれかの1
つでも規定値以上になった場合、または、スリット形状
溝内異物検査手段において異物を検出した場合、そのス
リット形状溝を不良と判定するようにしたものである。
The slit-shaped groove inspection method according to the invention of claim 22 is characterized in that the slit-shaped groove side inspection means uses the standard length of the perpendicular line between the reference groove straight line of the slit-shaped groove side surface and all the edge points of the groove side surface. The measured value using the deviation value, or the measured value using the maximum perpendicular length of the reference groove straight line and all the edge points of the groove side surface, or the edge connecting the entire edge of the reference groove straight line and the adjacent edge point of the groove side surface Any one of the measured values using the ratio of the difference from the total length to the total length of the reference groove straight line
In any case, when the value exceeds a specified value, or when foreign matter is detected by the foreign matter inspection means in the slit-shaped groove, the slit-shaped groove is determined to be defective.

【0028】[0028]

【作用】請求項1に記載の発明におけるスリット形状溝
照明手段は、半球型の拡散照明と同軸落射型の照明を組
み合わせた照明を用いて検査対象のスリット形状溝に照
明を当て、スリット形状溝側面検査手段は、画像撮像装
置から入力されたスリット形状溝の撮像画像より抽出さ
れた溝側面の全エッジ点とその全エッジ点から計算され
た基準溝直線との比較によって溝側面の粗さ具合を検査
し、スリット形状溝内異物検査手段は基準溝直線間内の
異物有無状態を検査し、スリット形状溝検査判定手段は
スリット形状溝側面検査手段とスリット形状溝内異物検
査手段のの検査結果からスリット形状溝の良品/不良品
を判定することにより、検査対象物のスリット形状をし
た溝を、照明の照度変化に対する影響を受けにくく、短
時間に安定して正確な検査を行って良品/不良品の仕分
けができるロバスト性に優れたスリット形状溝検査装置
を、比較的簡単な装置構成にて実現する。
According to the first aspect of the present invention, the slit-shaped groove illuminating means illuminates the slit-shaped groove to be inspected by using a combination of a hemispherical diffuse illumination and a coaxial epi-illumination. The side surface inspection means compares the roughness of the groove side surface by comparing all the edge points of the groove side surface extracted from the captured image of the slit-shaped groove input from the image capturing device with the reference groove straight line calculated from all the edge points. Inspection means for foreign matter in the slit-shaped groove inspects the presence / absence state of foreign matter between the reference groove straight lines, and the slit-shaped groove inspection determination means is the inspection result of the slit-shaped groove side surface inspection means and the foreign matter in the slit-shaped groove inspection means By judging the non-defective / defective product of the slit-shaped groove from the above, the slit-shaped groove of the inspection object is hardly affected by the change in the illuminance of the illumination and can be stably corrected in a short time. Excellent slit grooves inspection apparatus robustness can sort non-defective / defective performed Do inspection, realized in a relatively simple device configuration.

【0029】また、請求項2に記載の発明におけるスリ
ット形状溝照明手段は、半球型の拡散照明と同軸落射型
の照明を組み合わせた照明を用いて、スリット形状溝内
に照明を当てる機構を備えたことにより、スリット形状
溝内の異物表面が鏡面で任意に傾いていても、その異物
からの反射光を任意方向へ返すことができるために、常
に安定してスリット形状溝上方から撮像して異物検出す
ることができる。
Further, the slit-shaped groove illuminating means according to the second aspect of the present invention includes a mechanism for illuminating the inside of the slit-shaped groove by using illumination combining hemispherical diffuse illumination and coaxial epi-illumination. Thus, even if the surface of the foreign matter in the slit-shaped groove is arbitrarily inclined with a mirror surface, the reflected light from the foreign matter can be returned in an arbitrary direction. Foreign matter can be detected.

【0030】また、請求項3に記載の発明におけるスリ
ット形状溝側面検査手段は、スリット形状溝側面の全エ
ッジ点の座標位置を微分フィルタを用いて作成したエッ
ジ画像から求めることにより、照明の照度が多少変化し
た場合でも、その影響を受けにくく、常に安定してスリ
ット形状溝側面の全エッジ点の座標位置を求めることが
できる。
Further, the slit-shaped groove side surface inspection means according to the third aspect of the present invention obtains the coordinate positions of all edge points on the slit-shaped groove side surface from an edge image created by using a differential filter, thereby obtaining illumination illuminance. Is slightly affected even if the value slightly changes, the coordinate positions of all the edge points on the side surface of the slit-shaped groove can always be obtained stably.

【0031】また、請求項4に記載の発明におけるスリ
ット形状溝側面検査手段は、スリット形状溝側面の全エ
ッジ点の座標位置を微分フィルタを用いて作成したエッ
ジ画像のエッジ部分の重心位置とすることにより、照明
の照度が多少変化した場合でも、その影響を受けにく
く、常に安定してスリット形状溝側面のエッジ点位置を
検出することができる上、より細かくエッジ点の位置を
求めることができる。
According to a fourth aspect of the present invention, in the slit-shaped groove side surface inspection means, the coordinate position of all edge points on the slit-shaped groove side surface is set as the center of gravity of the edge portion of the edge image created using the differential filter. Accordingly, even when the illuminance of the illumination slightly changes, the edge point position on the side surface of the slit-shaped groove can be always stably detected, and the position of the edge point can be more finely determined. .

【0032】また、請求項5に記載の発明におけるスリ
ット形状溝側面検査手段は、スリット形状溝側面の全エ
ッジ点の座標位置から基準溝直線を計算する際に、LMed
Sロバスト直線回帰アルゴリズムを用いることにより、
スリット形状溝側面のエッジ点の中で多少直線上からず
れたエッジ点があったとしても、常に正確にスリット形
状溝側面の基準溝直線を求めることができる。
Further, the slit-shaped groove side surface inspection means in the invention according to claim 5 is configured such that when calculating the reference groove straight line from the coordinate positions of all the edge points of the slit-shaped groove side surface,
By using the S-robust linear regression algorithm,
Even if there is an edge point on the side of the slit-shaped groove slightly deviated from the straight line, the reference groove straight line on the side of the slit-shaped groove can always be obtained accurately.

【0033】また、請求項6に記載の発明におけるスリ
ット形状溝側面検査手段は、自動的にスリット形状溝側
面の全エッジ点を検出し、その全エッジ点から基準溝直
線を計算した後に、その基準溝直線と全エッジ点との垂
線長の標準偏差値を計算して、スリット形状溝側面の粗
さ具合を検査することにより、スリット形状溝側面の粗
さ箇所が多く、かつその粗さ幅が大きいものを不良品と
して検出できる。
Further, the slit-shaped groove side surface inspection means in the invention according to claim 6 automatically detects all edge points of the slit-shaped groove side surface, calculates a reference groove straight line from all the edge points, and then calculates the reference groove straight line. By calculating the standard deviation of the perpendicular length between the reference groove straight line and all the edge points, and inspecting the degree of roughness of the slit-shaped groove side surface, there are many roughness locations on the slit-shaped groove side surface, and the roughness width Can be detected as defective.

【0034】また、請求項7に記載の発明におけるスリ
ット形状溝側面検査手段は、スリット形状溝側面の全エ
ッジ点と、その全エッジ点から計算された基準溝直線と
の最大垂線長からスリット形状溝側面の粗さ具合を検査
することにより、スリット形状溝側面の粗さ箇所は少な
いが、粗さ幅が大きいものを不良品として検出できる。
Further, the slit-shaped groove side surface inspection means in the invention according to claim 7 is characterized in that the slit shape is determined from the maximum perpendicular length of all the edge points of the slit-shaped groove side surface and the reference groove straight line calculated from all the edge points. By inspecting the degree of roughness of the groove side surface, it is possible to detect a slit-shaped groove side surface having a small roughness portion but a large roughness width as a defective product.

【0035】また、請求項8に記載の発明におけるスリ
ット形状溝側面検査手段は、スリット形状溝側面の隣接
するエッジ点同士を結んだエッジ点全長とその全エッジ
点から計算された基準溝直線の全長との差を用いて、ス
リット形状溝側面の粗さ具合を検査することにより、ス
リット形状溝側面の粗さ幅は小さいが、粗さ箇所が多い
ものを不良品として検出できる。
Further, the slit-shaped groove side surface inspection means in the invention according to claim 8 is characterized in that the total length of the edge points connecting the adjacent edge points of the slit-shaped groove side surfaces and the reference groove straight line calculated from all the edge points are obtained. By inspecting the degree of roughness of the side face of the slit-shaped groove using the difference from the total length, it is possible to detect an article having a small roughness width on the side face of the slit-shaped groove, but having many roughness portions as a defective product.

【0036】また、請求項9に記載の発明におけるスリ
ット形状溝側面検査手段は、スリット形状溝側面の隣接
するエッジ点同士を結んだエッジ点全長とその全エッジ
点から計算された基準溝直線の全長との差の基準溝直線
の全長に対する割合を用いて、スリット形状溝側面の粗
さ具合を検査することにより、スリット形状溝側面の粗
さ幅は小さいが、粗さ箇所が多いものを不良品として検
出できる。
Further, the slit-shaped groove side surface inspection means according to the ninth aspect of the present invention is characterized in that the slit-shaped groove side surface inspection means calculates the total length of the edge points connecting adjacent edge points of the slit-shaped groove side surfaces and the reference groove straight line calculated from all the edge points. By examining the roughness of the slit-shaped groove side surface using the ratio of the difference from the total length to the total length of the reference groove straight line, it is possible to determine that the roughness width of the slit-shaped groove side surface is small, but that there are many roughness points. It can be detected as a good product.

【0037】また、請求項10に記載の発明におけるス
リット形状溝内異物検査手段は、スリット形状溝側面の
全エッジ点から計算された基準溝直線間内を判別分析法
を用いて自動二値化した後、スリット形状溝内の異物を
ラベリング処理によって検出し、その異物の大きさが規
定値以上の場合に異物と判定することにより、照明の照
度が多少変化した場合でも、常に安定してスリット形状
溝内の異物混入を検査することができる。
Further, the foreign matter inspection means in the slit-shaped groove according to the tenth aspect of the present invention automatically binarizes the inside of the reference groove straight line calculated from all the edge points on the side surface of the slit-shaped groove by using a discriminant analysis method. After that, foreign matter in the slit-shaped groove is detected by a labeling process, and when the size of the foreign matter is equal to or larger than a specified value, it is determined to be a foreign matter. It is possible to inspect foreign matter in the shape groove.

【0038】また、請求項11に記載の発明におけるス
リット形状溝検査判定手段は、スリット形状溝側面検査
手段でのスリット形状溝側面の基準溝直線とその溝側面
全エッジ点との垂線長の標準偏差値を用いた測定値、ま
たは基準溝直線とその溝側面全エッジ点中の最大垂線長
を用いた測定値、または基準溝直線の全長とその溝側面
の隣接するエッジ点同士を結んだエッジ点全長との差の
基準溝直線の全長に対する割合を用いた測定値のいずれ
かの1つでも規定値以上になった場合、または、スリッ
ト形状溝内異物検査手段において異物を検出した場合、
そのスリット形状溝を不良判定とすることにより、スリ
ット形状溝側面の粗さに関して、わずかな不良箇所でも
見逃すことなく良品/不良品の判定ができる。
Further, the slit-shaped groove inspection determining means in the invention according to the eleventh aspect is characterized in that the slit-shaped groove side inspection means determines a standard length of a perpendicular line between a reference groove straight line of the slit-shaped groove side surface and all edge points of the groove side surface. The measured value using the deviation value, or the measured value using the maximum perpendicular length of the reference groove straight line and all the edge points of the groove side surface, or the edge connecting the entire edge of the reference groove straight line and the adjacent edge point of the groove side surface If any one of the measured values using the ratio of the difference with the total length of the reference groove to the total length of the reference groove straight line is equal to or greater than the specified value, or if foreign matter is detected by the slit-shaped groove foreign matter inspection means,
By making the slit-shaped groove a defective judgment, it is possible to judge a nondefective / defective product without overlooking even a slight defective portion with respect to the roughness of the side surface of the slit-shaped groove.

【0039】請求項12に記載の発明にかかるスリット
形状溝検査方法は、スリット形状溝照明手段により検査
対象のスリット形状溝に照明を当てる工程と、画像撮像
手段により検査対象のスリット形状溝を撮像する工程
と、前記画像撮像手段によって撮像されたスリット形状
溝側面の粗さ具合をスリット形状溝側面検査手段により
検査する工程と、スリット形状溝内異物検査手段により
スリット形状溝内の異物の有無を検査する工程と、前記
スリット形状溝側面検査手段とスリット形状溝内異物検
査手段の検査結果からスリット形状溝検査判定手段によ
りスリット形状溝の良品/不良品を判定する工程とを備
えたことにより、検査対象物のスリット形状をした溝
を、照明の照度変化に対する影響を受けにくく、短時間
に安定して正確な検査を行って良品/不良品の仕分けが
できるロバスト性に優れたスリット形状溝検査装置を、
比較的簡単な装置構成にて実現する。
According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided a slit-shaped groove inspection method, wherein the slit-shaped groove illuminating means illuminates the slit-shaped groove to be inspected, and the image-capturing means captures the slit-shaped groove to be inspected. Performing the step of inspecting the roughness of the slit-shaped groove side surface imaged by the image imaging unit with the slit-shaped groove side surface inspection unit, and determining whether foreign matter is present in the slit-shaped groove by the slit-shaped groove foreign object inspection unit. An inspection step, and a step of judging a non-defective / defective product of the slit-shaped groove by the slit-shaped groove inspection judging means from an inspection result of the slit-shaped groove side inspection means and an inspection result of the foreign matter in the slit-shaped groove, Stable and accurate inspection of slit-shaped grooves of the inspection object in a short time with little effect on the change in illumination intensity The slit groove inspection apparatus excellent in robustness can sort non-defective / defective products go,
It is realized with a relatively simple device configuration.

【0040】また、請求項13に記載の発明におけるス
リット形状溝検査方法は、半球型の拡散照明と同軸落射
型の照明を組み合わせた照明を用いて、スリット形状溝
内に照明を当てる機構を備えたことにより、スリット形
状溝内の異物表面が鏡面で任意に傾いていても、その異
物からの反射光を任意方向へ返すことができるために、
常に安定してスリット形状溝上方から撮像して異物検出
することができる。
Further, the slit-shaped groove inspection method according to the invention of claim 13 is provided with a mechanism for illuminating the inside of the slit-shaped groove using illumination combining hemispherical diffuse illumination and coaxial epi-illumination. By doing so, even if the surface of the foreign matter in the slit-shaped groove is arbitrarily inclined with a mirror surface, the reflected light from the foreign matter can be returned in any direction,
It is possible to always stably capture an image from above the slit-shaped groove and detect foreign matter.

【0041】また、請求項14に記載の発明におけるス
リット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の全エッ
ジ点の座標位置を微分フィルタを用いて作成したエッジ
画像から求めることにより、照明の照度が多少変化した
場合でも、その影響を受けにくく、常に安定してスリッ
ト形状溝側面の全エッジ点の座標位置を求めることがで
きる。
In the slit-shaped groove inspection method according to the present invention, the illuminance of the illumination can be reduced by obtaining the coordinate positions of all the edge points on the side surface of the slit-shaped groove from an edge image created by using a differential filter. Even if there is a slight change, it is hardly affected by the change, and the coordinate positions of all the edge points on the side surface of the slit-shaped groove can always be obtained stably.

【0042】また、請求項15に記載の発明におけるス
リット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の全エッ
ジ点の座標位置を微分フィルタを用いて作成したエッジ
画像のエッジ部分の重心位置とすることにより、照明の
照度が多少変化した場合でも、その影響を受けにくく、
常に安定してスリット形状溝側面のエッジ点位置を検出
することができる上、より細かくエッジ点の位置を求め
ることができる。
According to a fifteenth aspect of the present invention, in the slit-shaped groove inspection method, the coordinate positions of all edge points on the side surface of the slit-shaped groove are set as the center of gravity of the edge portion of the edge image created by using the differential filter. Therefore, even if the illuminance of the lighting slightly changes,
The position of the edge point on the side surface of the slit-shaped groove can always be stably detected, and the position of the edge point can be more finely determined.

【0043】また、請求項16に記載の発明におけるス
リット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の全エッ
ジ点の座標位置から基準溝直線を計算する際に、LMedS
ロバスト直線回帰アルゴリズムを用いることにより、ス
リット形状溝側面のエッジ点の中で多少直線上からずれ
たエッジ点があったとしても、常に正確にスリット形状
溝側面の基準溝直線を求めることができる。
According to a sixteenth aspect of the present invention, in the slit shape groove inspection method, when calculating the reference groove straight line from the coordinate positions of all edge points on the side surface of the slit shape groove, the LMedS
By using the robust linear regression algorithm, the reference groove straight line on the side of the slit-shaped groove can always be accurately obtained even if there is an edge point slightly off the straight line among the edge points on the side of the slit-shaped groove.

【0044】また、請求項17に記載の発明におけるス
リット形状溝検査方法は、自動的にスリット形状溝側面
の全エッジ点を検出し、その全エッジ点から基準溝直線
を計算した後に、その基準溝直線と全エッジ点との垂線
長の標準偏差値を計算して、スリット形状溝側面の粗さ
具合を検査することにより、スリット形状溝側面の粗さ
箇所が多く、かつその粗さ幅が大きいものを不良品とし
て検出できる。
In the slit-shaped groove inspection method according to the present invention, all the edge points on the side surface of the slit-shaped groove are automatically detected, and a reference groove straight line is calculated from all the edge points. By calculating the standard deviation value of the perpendicular length between the groove straight line and all the edge points, and inspecting the degree of roughness of the slit-shaped groove side surface, there are many roughness locations on the slit-shaped groove side surface, and the roughness width is Large ones can be detected as defective.

【0045】また、請求項18に記載の発明におけるス
リット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の全エッ
ジ点と、その全エッジ点から計算された基準溝直線との
最大垂線長からスリット形状溝側面の粗さ具合を検査す
ることにより、スリット形状溝側面の粗さ箇所は少ない
が、粗さ幅が大きいものを不良品として検出できる。
In the method for inspecting a slit-shaped groove according to the present invention, the slit-shaped groove may be determined from the maximum perpendicular length of all the edge points on the side surface of the slit-shaped groove and the reference groove straight line calculated from all the edge points. By inspecting the degree of roughness of the side surface, it is possible to detect, as a defective product, a portion having a small roughness on the side surface of the slit-shaped groove but having a large roughness width.

【0046】また、請求項19に記載の発明におけるス
リット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の隣接す
るエッジ点同士を結んだエッジ点全長とその全エッジ点
から計算された基準溝直線の全長との差を用いて、スリ
ット形状溝側面の粗さ具合を検査することにより、スリ
ット形状溝側面の粗さ幅は小さいが、粗さ箇所が多いも
のを不良品として検出できる。
According to a nineteenth aspect of the present invention, there is provided the slit-shaped groove inspection method, wherein the total length of the edge points connecting the adjacent edge points on the side surfaces of the slit-shaped grooves and the total length of the reference groove straight line calculated from all the edge points. By examining the degree of roughness of the side face of the slit-shaped groove using the difference from the above, it is possible to detect a part having a small roughness width on the side face of the slit-shaped groove but having many roughness portions as a defective product.

【0047】また、請求項20に記載の発明におけるス
リット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の隣接す
るエッジ点同士を結んだエッジ点全長とその全エッジ点
から計算された基準溝直線の全長との差の基準溝直線の
全長に対する割合を用いて、スリット形状溝側面の粗さ
具合を検査することにより、スリット形状溝側面の粗さ
幅は小さいが、粗さ箇所が多いものを不良品として検出
できる。
According to a twentieth aspect of the present invention, there is provided the slit-shaped groove inspection method, wherein the total length of the edge points connecting the adjacent edge points on the side surfaces of the slit-shaped grooves and the total length of the reference groove straight line calculated from all the edge points thereof. Inspection of the roughness of the slit-shaped groove side using the ratio of the difference to the total length of the reference groove straight line. Can be detected as

【0048】また、請求項21に記載の発明におけるス
リット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面の全エッ
ジ点から計算された基準溝直線間内を判別分析法を用い
て自動二値化した後、スリット形状溝内の異物をラベリ
ング処理によって検出し、その異物の大きさが規定値以
上の場合に異物と判定することにより、照明の照度が多
少変化した場合でも、常に安定してスリット形状溝内の
異物混入を検査することができる。
According to a twenty-first aspect of the present invention, in the slit-shaped groove inspecting method, a discriminant analysis method is used to automatically binarize the area between the reference groove straight lines calculated from all the edge points on the side surface of the slit-shaped groove. By detecting the foreign matter in the slit-shaped groove by a labeling process and determining that the foreign matter is a foreign matter when the size of the foreign matter is equal to or larger than a specified value, the slit-shaped groove is always stable even when the illuminance of the illumination slightly changes. It is possible to inspect the inside for foreign matter contamination.

【0049】また、請求項22に記載の発明におけるス
リット形状溝検査方法は、スリット形状溝側面検査手段
でのスリット形状溝側面の基準溝直線とその溝側面全エ
ッジ点との垂線長の標準偏差値を用いた測定値、または
基準溝直線とその溝側面全エッジ点中の最大垂線長を用
いた測定値、または基準溝直線の全長とその溝側面の隣
接するエッジ点同士を結んだエッジ点全長との差の基準
溝直線の全長に対する割合を用いた測定値のいずれかの
1つでも規定値以上になった場合、または、スリット形
状溝内異物検査手段において異物を検出した場合、その
スリット形状溝を不良判定とすることにより、スリット
形状溝側面の粗さに関して、わずかな不良箇所でも見逃
すことなく良品/不良品の判定ができる。
According to a twenty-second aspect of the present invention, in the slit shape groove inspection method, the standard deviation of the perpendicular length between the reference groove straight line of the slit shape groove side surface and all the edge points of the groove side surface by the slit shape groove side surface inspection means. The measured value using the value, or the measured value using the maximum perpendicular length of the reference groove straight line and all the edge points of the groove side surface, or the edge point connecting the entire edge of the reference groove straight line and the adjacent edge point of the groove side surface If any one of the measured values using the ratio of the difference from the total length to the total length of the reference groove straight line exceeds a specified value, or if a foreign substance is detected by the foreign substance inspection means in the slit-shaped groove, the slit is cut. By determining the shape groove as defective, it is possible to judge non-defective / defective products without overlooking even a slight defective portion regarding the roughness of the slit-shaped groove side surface.

【0050】[0050]

【実施の形態】実施の形態1.以下、この発明の一実施
の形態について、添付の図面を参照しながら詳細に説明
する。図1はこの発明の実施の形態1によるスリット形
状溝検査装置の構成を示すブロック図である。図におい
て、2は検査対象物1に対して、その上方より照明を当
てる照明手段であり、半球型の拡散照明と同軸落射型の
照明を組み合わせた照明が好ましく、例えばハロゲン照
明、LED照明などが用いられる。また、3は検査対象
物1を撮像して、当該検査対象の濃淡画像データを生成
する画像撮像手段であり、例えばCCD(電化結合デバ
イス;Charge Coupled Device)によるテレビカメラ等
が用いられる。4はこの画像撮像手段3から入力された
スリット形状溝の濃淡画像データを処理して、当該する
スリット形状溝検査装置の諸機能を実現する電子計算機
である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a slit-shaped groove inspection apparatus according to Embodiment 1 of the present invention. In the figure, reference numeral 2 denotes an illuminating means for illuminating the inspection object 1 from above, and is preferably illumination combining a hemispherical diffuse illumination and coaxial epi-illumination, such as halogen illumination and LED illumination. Used. Reference numeral 3 denotes an image capturing unit that captures an image of the inspection target 1 and generates grayscale image data of the inspection target. For example, a television camera or the like using a CCD (Charge Coupled Device) is used. Reference numeral 4 denotes an electronic computer which processes grayscale image data of the slit-shaped groove input from the image pickup means 3 to realize various functions of the slit-shaped groove inspection apparatus.

【0051】また、この電子計算機4内において、5は
画像撮像手段3より入力されたスリット形状溝の濃淡画
像による画像データを、画像データ記憶装置に格納する
画像データ記憶手段であり、6は当該画像データに対し
て、スリット形状溝側面の粗さ具合を検査するスリット
形状溝側面検査手段、7はスリット形状溝内の異物の有
無を検査するスリット形状溝内異物検査手段、8はスリ
ット形状溝側面検査手段とスリット形状溝内異物検査手
段の出力からスリット形状溝の良品/不良品の判定を行
うスリット形状溝検査判定手段である。
In the computer 4, reference numeral 5 denotes image data storage means for storing image data based on the gray-scale image of the slit-shaped groove input from the image pickup means 3 in an image data storage device, and 6 denotes the image data storage means. Slit-shaped groove side surface inspection means for inspecting the roughness of the slit-shaped groove side surface with respect to the image data, 7 means for inspecting the presence or absence of foreign matter in the slit-shaped groove, 8 means slit-shaped groove Slit-shaped groove inspection determining means for determining non-defective / defective products of the slit-shaped groove from the outputs of the side surface inspection means and the foreign matter in the slit-shaped groove inspection means.

【0052】次に動作について説明する。ここで、図2
はこの実施の形態1におけるスリット形状溝検査装置の
処理の流れを示すフローチャートである。まず、検査対
象物1を所定の位置にセットしてスリット形状溝照明手
段2で照明し、当該検査対象物1のスリット形状溝を画
像撮像手段3によって上方から撮像する。図3はこの撮
像の様子を示したものであり、図中31が検査対象とな
るスリット形状溝を示し、32が画像撮像手段3によっ
て撮像された濃淡画像による画像データである。実際は
濃淡画像であるが、簡単のため2値画像で記載してい
る。その後、この画像データは電子計算機4に入力され
る。電子計算機4はステップST1において、入力され
る画像データを画像データ記憶手段5により画像データ
記憶装置に格納する。そして、ステップST2におい
て、スリット形状溝側面検査によってスリット形状溝側
面の粗さ具合を検査する。図4は入力された濃淡画像デ
ータからのスリット形状溝側面のエッジ点抽出およびそ
のエッジ点からの基準溝直線算出の原理を説明するため
の動作説明図である。なお、図中の41は横向きのスリ
ット形状溝であり、42はスリット形状溝側面にエッジ
抽出フィルタをかけた後のエッジ画像である。また、4
3はスリット形状溝側面のエッジ画像から抽出したエッ
ジ重心点群であり、44はこのエッジ重心点群より求め
られた基準溝直線である。
Next, the operation will be described. Here, FIG.
5 is a flowchart showing a flow of processing of the slit-shaped groove inspection device according to the first embodiment. First, the inspection object 1 is set at a predetermined position, illuminated by the slit-shaped groove illumination means 2, and the slit-shaped groove of the inspection object 1 is imaged from above by the image imaging means 3. FIG. 3 shows the state of this imaging. In the figure, reference numeral 31 denotes a slit-shaped groove to be inspected, and reference numeral 32 denotes image data of a grayscale image taken by the image pickup means 3. Although it is actually a grayscale image, it is described as a binary image for simplicity. Thereafter, the image data is input to the computer 4. The electronic computer 4 stores the input image data in the image data storage device by the image data storage means 5 in step ST1. Then, in step ST2, the roughness of the slit-shaped groove side surface is inspected by the slit-shaped groove side surface inspection. FIG. 4 is an operation explanatory diagram for explaining the principle of extracting the edge points of the slit-shaped groove side surface from the input grayscale image data and calculating the reference groove straight line from the edge points. In the drawing, reference numeral 41 denotes a laterally-shaped slit-shaped groove, and reference numeral 42 denotes an edge image obtained by applying an edge extraction filter to the side surface of the slit-shaped groove. Also, 4
Reference numeral 3 denotes an edge centroid point group extracted from an edge image of the slit-shaped groove side surface, and reference numeral 44 denotes a reference groove straight line obtained from the edge centroid point group.

【0053】ステップST2のスリット形状溝側面検査
では、まず画像データ記憶装置に格納された濃淡画像デ
ータに対して、スリット形状溝が横向きの場合には、式
(1)に示すような縦方向(y方向)微分フィルタfy
を、また、スリット形状溝が縦向きの場合には、式
(2)に示すような横方向(x方向)微分フィルタfx
を画像データに対して順次スキャンしながらかけていく
ことによって、図4に示すスリット形状溝側面のエッジ
画像42を作成する。ただし、式(1)、(2)中のf
(i,j)は座標(i,j)(i,j:0以上の整数値)の濃度値(0
〜255)を表している。なお、図5は微分フィルタを
用いたスリット形状溝側面のエッジ画像作成の様子を説
明するために示した動作説明図であり、微分フィルタf
xを画像データにかけたときの様子を示したものであ
る。同図中の符号51が微分フィルタをかける前の原画
像データの一部、52が微分フィルタをかけた後のエッ
ジ画像データの一部を表している。
In the side inspection of the slit-shaped groove in step ST2, first, when the slit-shaped groove is horizontal with respect to the grayscale image data stored in the image data storage device, the vertical direction as shown in the equation (1) is used. y direction) Differential filter fy
When the slit-shaped groove is vertical, the horizontal (x-direction) differential filter fx as shown in equation (2)
Are sequentially applied to the image data to create an edge image 42 of the side surface of the slit-shaped groove shown in FIG. Where f in equations (1) and (2)
(i, j) is the density value (0, 0) of the coordinates (i, j) (i, j: an integer value of 0 or more).
To 255). FIG. 5 is an operation explanatory diagram for explaining a state of creating an edge image of a slit-shaped groove side surface using a differential filter.
This shows a state when x is applied to image data. In the figure, reference numeral 51 denotes a part of the original image data before the differential filter is applied, and reference numeral 52 denotes a part of the edge image data after the differential filter is applied.

【0054】 fy(i,j)=|{f(i,j-2)+f(i,j-1)}−{f(i,j+2)+f(i,j+1)}| ・・・・・ (1) fx(i,j)=|{f(i-2,j)+f(i-1,j)}−{f(i+2,j)+f(i+1,j)}| ・・・・・ (2)Fy (i, j) = | {f (i, j-2) + f (i, j-1)} − {f (i, j + 2) + f (i, j + 1)} | ... (1) fx (i, j) = | {f (i-2, j) + f (i-1, j)}-{f (i + 2, j) + f (i + 1, j) )} | ・ ・ ・ ・ ・ (2)

【0055】続いて図6の符号61に示すようなスリッ
ト形状溝側面のエッジ画像に対して、スリット形状溝と
平行方向に順次走査して各画素の濃度値を加算してい
き、濃度加算値を求めていく。そして、この濃度加算値
に含まれた誤差成分による影響を押さえるために、近傍
3濃度加算値の平均値をとった平滑化処理を行って、図
中の濃度加算分布値62を求める。この濃度加算分布値
が大きい箇所ほど、スリット形状溝側面のエッジ画像の
エッジ部分である確率が高いことを示す。そしてこの濃
度加算分布値62に対して、段階的にしきい値を変動さ
せて、スリット形状溝側面のエッジ画像のエッジ部分2
カ所が抽出できるしきい値63を自動計算して、このし
きい値63よりも大きな濃度加算分布値を持つ領域をス
リット形状溝側面のエッジ点検出領域64として抽出す
る。
Subsequently, with respect to the edge image on the side surface of the slit-shaped groove as shown by reference numeral 61 in FIG. 6, the density value of each pixel is added by sequentially scanning in the direction parallel to the slit-shaped groove, and the density added value is obtained. Seeking for Then, in order to suppress the influence of the error component included in the density addition value, a smoothing process is performed by taking the average value of the three neighboring density addition values, and the density addition distribution value 62 in the figure is obtained. The larger the density addition distribution value is, the higher the probability of being the edge portion of the edge image of the slit-shaped groove side surface is. Then, the threshold value is varied stepwise with respect to the density addition distribution value 62, so that the edge portion 2
A threshold value 63 at which points can be extracted is automatically calculated, and a region having a density addition distribution value larger than the threshold value 63 is extracted as an edge point detection region 64 on the side surface of the slit-shaped groove.

【0056】続いて、スリット形状溝側面のエッジ点検
出領域64の溝側面に沿って、このエッジ点検出領域内
で重心位置を1点ずつ計算していき、図4に示すスリッ
ト形状溝側面のエッジ重心点群43を求める。そしてこ
れらスリット形状溝側面のエッジ重心点群43の座標デ
ータを基に、LMedSロバスト直線回帰アルゴリズムを用
いて、スリット形状溝の両側面の基準溝直線式(3)、
(4)を求める。この基準溝直線式(3)、(4)は図
4で示した2本の基準溝直線44のそれぞれの直線式で
ある。
Subsequently, along the groove side surface of the edge point detection area 64 on the side of the slit-shaped groove, the position of the center of gravity is calculated point by point in this edge point detection area, and the position of the center of gravity of the slit-shaped groove side shown in FIG. An edge centroid point group 43 is obtained. Then, based on the coordinate data of the edge centroid point group 43 on the side surface of the slit-shaped groove, using the LMedS robust linear regression algorithm, the reference groove linear expression (3)
Find (4). The reference groove linear formulas (3) and (4) are linear formulas of the two reference groove straight lines 44 shown in FIG.

【0057】 y=a1X+b1 ・・・・・ (3) y=a2X+b2 ・・・・・ (4)Y = a1X + b1 (3) y = a2X + b2 (4)

【0058】ここでは、LMedSロバスト直線回帰アルゴ
リズムについて説明する。LMedS(= Least Median of Sq
uares)基準はロバストな当てはめ基準の1つであり、Ro
usseeuwによって提案された(参考文献はRousseeuw R.
J. 、 Leroy A.M. : Robust Regression and Outlier D
etection、 John Wiley & Sons 1986などがある)。
Here, the LMedS robust linear regression algorithm will be described. LMedS (= Least Median of Sq
The uares) criterion is one of the robust fitting criteria.
proposed by usseeuw (see Rousseeuw R.
J., Leroy AM: Robust Regression and Outlier D
etection, John Wiley & Sons 1986).

【0059】この当てはめ基準は、以下に示す式(5)
で表され、偏差ri の2乗のメディアンを最小にする基
準である。
This fitting criterion is expressed by the following equation (5).
Is a criterion for minimizing the median of the square of the deviation ri.

【0060】 LMedS=min median(ri2) ・・・ (5)LMedS = min median (ri 2 ) (5)

【0061】一方、最も一般的な当てはめ基準である最
小2乗法(LMS= Least Minimum of Squares)は、式
(5)の記法を用いると、以下に示す式(6)で表され
る。
On the other hand, the least square method (LMS = Least Minimum of Squares), which is the most general fitting criterion, is expressed by the following equation (6) using the notation of the equation (5).

【0062】 LMS=min Σri2 ・・・・ (6)LMS = min @ ri 2 (6)

【0063】LMedS基準の大きな特長は、はずれ値(Outl
ier)と呼ばれる、通常の測定値から飛びぬけてはずれて
いる例外値を自動的に計算からはずし、常に安定な結果
が得られるという点である。最小2乗法の当てはめ基準
では、データに1つでもはずれ値があると、推定した回
帰パラメータ(y=ax+bの直線あてはめの場合は、傾き係
数aとy切片bが回帰パラメータとなる)が、本来の値と
全く異なってしまう。一方、LMedS基準を用いた場合
は、理論的にははずれ値が測定値の50%未満ならば、含
まれていても正しい値を推定することができる。
A major feature of the LMedS standard is the outlier (Outl
An exceptional value called ier), which deviates significantly from the normal measurement value, is automatically excluded from the calculation, and a stable result is always obtained. According to the least squares fitting criterion, if there is at least one outlier in the data, the estimated regression parameter (in the case of a straight line fitting of y = ax + b, the slope coefficient a and the y intercept b are the regression parameters). , Completely different from the original value. On the other hand, when the LMedS standard is used, if the outlier is theoretically less than 50% of the measured value, a correct value can be estimated even if it is included.

【0064】次に、スリット形状溝側面のエッジ重心点
群とその重心点群より計算された基準溝直線との垂線の
標準偏差値を計算する。図7はスリット形状溝側面のエ
ッジ点とその基準溝直線との垂線長の標準偏差値の計算
方法を説明するために示した動作説明図であり、同図中
の71、72はスリット形状溝の両側面それぞれのエッ
ジ重心点群((X11,Y11)、(X12,Y12)…、および(X21,Y2
1)、(X22,Y22)…)を示しており、また73、74はス
リット形状溝の両側面それぞれの基準溝直線を表してい
る。この時、スリット形状溝側面の基準溝直線との標準
偏差値σ1、σ2は次に示す式(7)、(8)を用いて計
算する。
Next, a standard deviation value of a perpendicular line between an edge centroid point group on the side face of the slit-shaped groove and a reference groove straight line calculated from the centroid point group is calculated. FIG. 7 is an operation explanatory diagram for explaining a method of calculating a standard deviation value of a perpendicular length between an edge point on a side surface of the slit-shaped groove and a straight line of the reference groove, and reference numerals 71 and 72 in FIG. The edge centroid points ((X11, Y11), (X12, Y12) ..., and (X21, Y2
1), (X22, Y22)...), And reference numerals 73 and 74 denote reference groove straight lines on both side surfaces of the slit-shaped groove. At this time, the standard deviation values σ1 and σ2 of the slit-shaped groove side surface with respect to the reference groove straight line are calculated using the following equations (7) and (8).

【0065】 [0065]

【0066】ただし、Nはエッジ重心点の総数、θ1お
よびθ2は基準溝直線の傾き角度を表しており、この傾
き角θ1およびθ2は式(9)、(10)を用いて計算す
る。
Here, N is the total number of edge centroid points, θ1 and θ2 are the inclination angles of the reference groove straight line, and these inclination angles θ1 and θ2 are calculated using equations (9) and (10).

【0067】 θ1=tan-1a1 ・・・・ (9) θ2=tan-1a2 ・・・・ (10)Θ1 = tan −1 a1 (9) θ2 = tan −1 a2 (10)

【0068】こうして計算されたスリット形状溝側面の
基準溝直線との標準偏差値σ1、σ2が条件式(11)を
満たしている場合には、スリット形状溝の標準偏差値に
よる検査では良品と判定し、同条件式を満たさない場合
には不良品と判定する。ただし、同条件式のThσは予
め設定したしきい値である。
If the calculated standard deviation values σ 1 and σ 2 of the side of the slit-shaped groove with respect to the reference groove straight line satisfy conditional expression (11), it is determined that the slit-shaped groove is non-defective in the inspection using the standard deviation value. If the conditional expression is not satisfied, it is determined that the product is defective. Here, Thσ in the conditional expression is a preset threshold value.

【0069】 σ1≦Thσ かつ σ2≦Thσ ・・・・・ (11)Σ1 ≦ Thσ and σ2 ≦ Thσ (11)

【0070】次にスリット形状溝の両側面のエッジ重心
点群と基準溝直線との最大垂線長をそれぞれML1、M
L2とすると、条件式(12)を満たしている場合に
は、スリット形状溝の最大垂線長による検査では良品と
判定し、同条件式を満たさない場合には不良品と判定す
る。ただし、同条件式のThMLは予め設定したしきい
値である。
Next, the maximum perpendicular lengths of the group of edge centroid points on both sides of the slit-shaped groove and the reference groove straight line are denoted by ML 1 and M L, respectively.
Assuming that L2, when the conditional expression (12) is satisfied, the inspection is performed by the maximum perpendicular length of the slit-shaped groove, and it is determined that the product is good. When the conditional expression (12) is not satisfied, it is determined that the defective product is defective. However, ThML in the conditional expression is a preset threshold value.

【0071】 ML1≦ThML かつ ML2≦ThML ・・・・・ (12)ML1 ≦ ThML and ML2 ≦ ThML (12)

【0072】次に、スリット形状溝両側面の隣接するエ
ッジ重心点同士を結んだエッジ点全長と基準溝直線の全
長との差の基準溝直線の全長に対する割合[%](それぞ
れRL1、RL2と定義)を計算する。図8はスリット形
状溝側面の隣接したエッジ点同士を結んだエッジ点全長
と基準溝直線の全長との差の計算方法を説明するために
示した動作説明図であり、図中の81、82はスリット
形状溝両側面の隣接するエッジ重心点同士を結んだエッ
ジ点全長(それぞれEL1、EL2と定義)を、83、8
4は基準溝直線の全長(それぞれL1、L2と定義)を表
している。そして、割合RL1、RL2は次に示す式
(13)、(14)を用いて計算される。
Next, the ratio [%] of the difference between the total length of the reference point straight line and the total length of the edge point connecting the adjacent edge centroid points on both sides of the slit-shaped groove [%] (RL1 and RL2 respectively) Definition). FIG. 8 is an operation explanatory diagram for explaining a method of calculating a difference between the total length of the edge points connecting the adjacent edge points on the side surface of the slit-shaped groove and the total length of the reference groove straight line. Are the total length of the edge points (defined as EL1 and EL2, respectively) connecting the edge centroid points adjacent to each other on both sides of the slit-shaped groove;
Reference numeral 4 denotes the total length of the reference groove straight line (defined as L1 and L2, respectively). Then, the ratios RL1 and RL2 are calculated using the following equations (13) and (14).

【0073】 RL1=(EL1−L1)×100/L1 ・・・・・ (13) RL2=(EL2−L2)×100/L2 ・・・・・ (14)RL1 = (EL1−L1) × 100 / L1 (13) RL2 = (EL2−L2) × 100 / L2 (14)

【0074】こうして計算されたRL1、RL2が条件式
(15)を満たしている場合には、スリット形状溝のエ
ッジ点全長と基準溝直線の全長との差による検査では良
品と判定し、同条件式を満たさない場合には不良品と判
定する。ただし、同条件式のThRLは予め設定したし
きい値である。
If RL1 and RL2 calculated in this way satisfy the conditional expression (15), it is judged as non-defective in the inspection based on the difference between the entire edge point of the slit-shaped groove and the entire length of the reference groove straight line. If the formula is not satisfied, it is determined to be defective. Here, ThRL in the conditional expression is a preset threshold value.

【0075】 RL1≦ThRL かつ RL2≦ThRL ・・・・・ (15)RL1 ≦ ThRL and RL2 ≦ ThRL (15)

【0076】ステップST2のスリット形状溝側面検査
では、これまでに述べた条件式(11)、(12)、
(15)のいずれか1つでもスリット形状溝側面の計測
値が満さなかった場合には、そのスリット形状溝は不良
品として判定される。図9はスリット形状溝側面検査に
おいて不良品と判定されるスリット形状溝例を示した説
明図である。同図中91はスリット形状溝の標準偏差値
による検査(条件式(11))にて、92はスリット形
状溝の最大垂線長による検査(条件式(12))にて、
93はスリット形状溝のエッジ点全長と基準溝直線の全
長との差による検査(条件式(15))にて不良品判定
されるスリット形状溝例であり、このようにスリット形
状溝側面の粗さに関して、わずかな不良箇所でも見逃す
ことなく、スリット形状溝側面の良品/不良品の判定を
行うことができる。
In the slit shape groove side surface inspection in step ST2, the conditional expressions (11), (12),
If any one of (15) does not satisfy the measured value on the side surface of the slit-shaped groove, the slit-shaped groove is determined to be defective. FIG. 9 is an explanatory view showing an example of a slit-shaped groove determined to be defective in the slit-shaped groove side surface inspection. In the figure, reference numeral 91 denotes an inspection based on the standard deviation value of the slit-shaped groove (conditional expression (11)), and reference numeral 92 denotes an inspection based on the maximum perpendicular length of the slit-shaped groove (conditional expression (12)).
Reference numeral 93 denotes an example of a slit-shaped groove which is determined to be defective by an inspection (conditional expression (15)) based on a difference between the entire edge point length of the slit-shaped groove and the total length of the reference groove straight line. Regarding the defect, it is possible to judge a non-defective / defective product on the side surface of the slit-shaped groove without overlooking even a slight defective portion.

【0077】次に、ステップST3のスリット形状溝内
異物検査によってスリット形状溝内の異物の有無を検査
する。まず図10に示すように、ステップST2のスリ
ット形状溝側面検査内で求められたスリット形状溝両側
面の基準溝直線101間の領域について、判別分析法を
用いて自動二値化を行う。このとき、判別分析法による
しきい値よりも大きい領域は白画素(=濃度値25
5)、小さい領域は黒画素(=濃度値0)とする。スリ
ット形状溝内の異物102は外部照明によって明るく輝
いて見えるため、必ず異物102の領域では判別分析法
によるしきい値よりも大きくなっている。そこで、この
二値化処理によって異物領域は白画素になり、続いてラ
ベリング処理を行うことで異物領域を検出することがで
きる。このとき、異物として検出された領域103のよ
うに、検出した異物領域がスリット形状溝の基準溝直線
に接触しているものは除外する。そして最終的に残った
異物領域102の大きさ(幅W、高さH、対角長D)が
条件式(16)を満たしている場合には、異物として検
出し、同条件式を満たしていない場合には、異物と判定
しないようにする。ただし、同条件式のThW、Th
H、ThDは予め設定したしきい値である。
Next, the presence or absence of foreign matter in the slit-shaped groove is inspected by the foreign matter inspection in the slit-shaped groove in step ST3. First, as shown in FIG. 10, automatic binarization is performed using a discriminant analysis method on a region between the reference groove straight lines 101 on both sides of the slit-shaped groove obtained in the slit-shaped groove side surface inspection in step ST2. At this time, an area larger than the threshold value according to the discriminant analysis method is a white pixel (= density value 25).
5) A small area is a black pixel (= density value 0). Since the foreign matter 102 in the slit-shaped groove looks bright and bright due to external illumination, the foreign matter 102 is always larger than the threshold value by the discriminant analysis method in the area of the foreign matter 102. Therefore, the foreign matter area becomes a white pixel by the binarization processing, and subsequently, the foreign matter area can be detected by performing the labeling processing. At this time, a region in which the detected foreign material region is in contact with the reference groove straight line of the slit-shaped groove, such as the region 103 detected as a foreign material, is excluded. If the size (width W, height H, diagonal length D) of the finally remaining foreign substance region 102 satisfies the conditional expression (16), it is detected as a foreign substance and the conditional expression is satisfied. If not, it is determined not to be foreign. However, ThW, Th of the same conditional expression
H and ThD are threshold values set in advance.

【0078】 W≧ThWかつD≧ThD または H≧ThHかつD≧ThD・・・ (16)W ≧ ThW and D ≧ ThD or H ≧ ThH and D ≧ ThD (16)

【0079】以上述べたスリット形状溝内異物検査によ
って、異物とされる領域が1つ以上検出された場合に
は、そのスリット形状溝は不良品として判定し、全く異
物領域が検出されなかった場合には、そのスリット形状
溝は良品と判定する。
If one or more foreign matter areas are detected by the above-described foreign matter inspection in the slit-shaped groove, the slit-shaped groove is determined to be defective, and no foreign matter area is detected. , The slit-shaped groove is determined to be good.

【0080】次に、ステップST4の良品/不良品判定
処理において、これまで行ってきたステップST2のス
リット形状溝側面検査、ステップST3のスリット形状
溝内異物検査の中で、1つでも検査項目中で不良品判定
されたものがあった場合には、最終結果として不良品と
判定する。それに対して、すべての検査項目で良品と判
定されたものだけが最終結果として良品と判定される。
Next, in the non-defective / defective product determination processing in step ST4, any one of the inspection items in the slit-shaped groove side surface inspection in step ST2 and the foreign matter in the slit-shaped groove in step ST3 which have been performed so far. If there is any item which is determined as defective, the final result is determined to be defective. On the other hand, only those which are determined to be non-defective in all the inspection items are determined to be non-defective as final results.

【0081】最終的な判定結果は、所定の記憶手段に格
納してデータベース化し、さまざまな不良解析などに応
用することもできる。
The final judgment result can be stored in a predetermined storage means and made into a database, and can be applied to various failure analysis.

【0082】実施の形態2.なお、上記実施の形態1で
は、この発明によるスリット形状溝検査装置をスリット
形状溝の良品/不良品判定に適応する場合について説明
したが、それをスリット形状溝幅の計測に適応すること
も可能である。図11はこの発明の実施の形態2による
スリット形状溝幅の計測の様子を示す動作説明図であ
り、図中111はスリット形状溝であり、112はスリ
ット形状溝側面の基準溝直線である。
Embodiment 2 In the first embodiment, a case has been described in which the slit-shaped groove inspection apparatus according to the present invention is applied to the determination of a good / defective product of the slit-shaped groove. However, it can be applied to the measurement of the slit-shaped groove width. It is. FIG. 11 is an operation explanatory view showing a state of measurement of a slit-shaped groove width according to the second embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 111 denotes a slit-shaped groove, and 112 denotes a reference groove straight line on the side surface of the slit-shaped groove.

【0083】次に動作について説明する。まず、図11
に示したスリット形状溝111の両側面のエッジ点から
計算された2本の基準溝直線112間を複数箇所で計測
する。そしてそれら計測結果の平均値を求めて、スリッ
ト形状溝の計測幅とする。
Next, the operation will be described. First, FIG.
Are measured at a plurality of locations between two reference groove straight lines 112 calculated from the edge points on both sides of the slit-shaped groove 111 shown in FIG. Then, an average value of the measurement results is obtained and used as a measurement width of the slit-shaped groove.

【0084】以上のように、この実施の形態2によれ
ば、スリット形状溝幅をスリット形状溝両側面のエッジ
点から計算された基準溝直線間から求めることにより、
非接触でしかも高速にスリット形状溝幅を計測できる効
果がある。
As described above, according to the second embodiment, the slit-shaped groove width is determined from the reference groove straight line calculated from the edge points on both sides of the slit-shaped groove.
There is an effect that the slit-shaped groove width can be measured at high speed without contact.

【0085】実施の形態3.また、上記実施の形態1で
は、この発明によるスリット形状溝検査装置をスリット
形状溝の良品/不良品判定に適応する場合について説明
したが、スリット形状溝両側面のエッジ点から計算され
た基準溝直線の算出式よりスリット形状溝の回転角が求
まるので、スリット形状溝を持つ検査対象物の回転角を
非接触でしかも高速に計測することができる効果があ
る。
Embodiment 3 Also, in the first embodiment, the case where the slit-shaped groove inspection apparatus according to the present invention is applied to the determination of the non-defective / defective product of the slit-shaped groove has been described. However, the reference groove calculated from the edge points on both sides of the slit-shaped groove. Since the rotation angle of the slit-shaped groove is obtained from the straight line calculation formula, the rotation angle of the inspection object having the slit-shaped groove can be measured in a non-contact manner and at a high speed.

【0086】[0086]

【発明の効果】以上のように、請求項1に記載の発明に
よれば、スリット形状溝照明手段において、半球型の拡
散照明と同軸落射型の照明を組み合わせた照明を用いて
検査対象のスリット形状溝に照明を当て、スリット形状
溝側面検査手段において、画像撮像装置から入力された
スリット形状溝の撮像画像より抽出された溝側面の全エ
ッジ点とその全エッジ点から計算された基準溝直線との
比較によって溝側面の粗さ具合を検査し、スリット形状
溝内異物検査手段において、基準溝直線間内の異物有無
状態を検査し、スリット形状溝検査判定手段において、
スリット形状溝側面検査手段とスリット形状溝内異物検
査手段の出力からスリット形状溝の良品/不良品を判定
するように構成したので、検査対象物のスリット形状を
した溝を、照明の照度変化に対する影響を受けにくく、
常に安定して正確に検査して、しかも短時間に良品/不
良品の仕分けを行うことができるロバスト性に優れたス
リット形状溝検査装置が得られる効果がある。
As described above, according to the first aspect of the present invention, in the slit-shaped groove illuminating means, the slit to be inspected is used by using illumination combining hemispherical diffuse illumination and coaxial incident illumination. The shape groove is illuminated, and in the slit shape groove side surface inspection means, all the edge points of the groove side surface extracted from the captured image of the slit shape groove input from the image capturing device and the reference groove straight line calculated from all the edge points. Inspection of the roughness of the groove side surface by comparison with, in the slit-shaped groove foreign matter inspection means, to inspect the presence or absence of foreign matter between the reference groove straight line, in the slit shape groove inspection determination means,
Since the slit-shaped groove is determined to be good / defective from the output of the slit-shaped groove side surface inspection means and the output of the foreign matter in the slit-shaped groove, the slit-shaped groove of the inspection object is subjected to the change in illumination illuminance. Less susceptible,
There is an effect that a slit-shaped groove inspection apparatus excellent in robustness capable of always stably and accurately inspecting and sorting good / defective products in a short time can be obtained.

【0087】請求項2に記載の発明によれば、スリット
形状溝照明手段において、半球型の拡散照明と同軸落射
型の照明を組み合わせた照明を用いて、スリット形状溝
内に照明を当てるように構成したので、スリット形状溝
内の異物表面が鏡面で任意に傾いていても、その異物か
らの反射光を様々な方向へかえすことができるために、
常に安定してスリット形状溝上方から撮像して異物検出
することができる効果がある。
According to the second aspect of the present invention, the slit-shaped groove illuminating means illuminates the inside of the slit-shaped groove by using illumination combining hemispherical diffuse illumination and coaxial epi-illumination. Because it is configured, even if the surface of the foreign matter in the slit-shaped groove is arbitrarily inclined with a mirror surface, it is possible to return the reflected light from the foreign matter in various directions,
There is an effect that a foreign object can be detected by always capturing an image from above the slit-shaped groove stably.

【0088】請求項3に記載の発明によれば、スリット
形状溝側面の全エッジ点の座標位置を微分フィルタを用
いて作成したエッジ画像から求めるように構成したの
で、照明の照度が多少変化した場合でも、常に安定して
スリット形状溝側面のエッジ部分を検出することができ
る効果がある。
According to the third aspect of the invention, since the coordinate positions of all the edge points on the side surface of the slit-shaped groove are determined from the edge image created by using the differential filter, the illuminance of the illumination slightly changes. Even in such a case, there is an effect that the edge portion of the side surface of the slit-shaped groove can always be stably detected.

【0089】請求項4に記載の発明によれば、スリット
形状溝側面の全エッジ点の座標位置を微分フィルタを用
いて作成したエッジ画像のエッジ部分の重心位置とする
ように構成したので、照明の照度が多少変化した場合で
も、常に安定してスリット形状溝側面のエッジ点位置を
検出することができる上、より細かくエッジ点の位置を
求めることができる効果がある。
According to the fourth aspect of the present invention, since the coordinate positions of all the edge points on the side surface of the slit-shaped groove are configured to be the barycentric positions of the edge portions of the edge image created by using the differential filter, the illumination is performed. Thus, even if the illuminance slightly changes, the edge point position on the side surface of the slit-shaped groove can always be stably detected, and the position of the edge point can be obtained more finely.

【0090】請求項5に記載の発明によれば、スリット
形状溝側面のエッジ点位置から基準溝直線を計算する際
にLMedSロバスト直線回帰アルゴリズムを用いるように
構成したので、スリット形状溝側面のエッジ点の中で多
少直線上からずれたエッジ点があったとしても、常に正
確にスリット形状溝側面の基準溝直線を求めることがで
きる効果がある。
According to the fifth aspect of the present invention, since the LMedS robust linear regression algorithm is used when calculating the reference groove straight line from the edge point position of the slit-shaped groove side surface, the edge of the slit-shaped groove side surface is used. Even if there is an edge point slightly deviated from the straight line among the points, there is an effect that the reference groove straight line on the side surface of the slit-shaped groove can always be accurately obtained.

【0091】請求項6に記載の発明によれば、自動的に
スリット形状溝側面の全エッジ点を検出し、その全エッ
ジ点から基準溝直線を計算した後に、その基準溝直線と
全エッジ点との垂線長の標準偏差値を計算して、スリッ
ト形状溝側面の粗さ具合を検査するように構成したの
で、スリット形状溝側面の粗さ箇所が多く、かつその粗
さ幅が大きいものを不良品として検出できる。
According to the sixth aspect of the present invention, after automatically detecting all edge points on the side face of the slit-shaped groove and calculating a reference groove straight line from all the edge points, the reference groove straight line and all the edge points are calculated. Calculate the standard deviation value of the perpendicular line length with, and inspect the roughness of the slit-shaped groove side surface, so that there are many roughness locations on the slit-shaped groove side surface and the roughness width is large. Can be detected as defective.

【0092】請求項7に記載の発明によれば、スリット
形状溝側面の全エッジ点と、その全エッジ点から計算さ
れた基準溝直線との最大垂線長からスリット形状溝側面
の粗さ具合を検査するように構成したので、スリット形
状溝側面の粗さ箇所は少ないが、粗さ幅が大きいものを
不良品として検出できる効果がある。
According to the seventh aspect of the present invention, the degree of roughness of the slit-shaped groove side surface is determined from the maximum perpendicular length of all edge points of the slit-shaped groove side surface and the reference groove straight line calculated from all the edge points. Since the inspection is configured, there is an effect that a portion having a small roughness on the side surface of the slit-shaped groove but having a large roughness width can be detected as a defective product.

【0093】請求項8に記載の発明によれば、スリット
形状溝側面の隣接するエッジ点同士を結んだエッジ点全
長とその全エッジ点から計算された基準溝直線の全長と
の差を用いて、スリット形状溝側面の粗さ具合を検査す
るように構成したので、スリット形状溝側面の粗さ幅は
小さいが、粗さ箇所が多いものを不良品として検出でき
る効果がある。
According to the eighth aspect of the present invention, the difference between the total length of the edge points connecting the adjacent edge points of the slit-shaped groove side surface and the total length of the reference groove straight line calculated from all the edge points is used. Since the configuration is such that the degree of roughness of the side face of the slit-shaped groove is inspected, there is an effect that, although the roughness width of the side face of the slit-shaped groove is small, those having a large number of roughness portions can be detected as defective.

【0094】請求項9に記載の発明によれば、スリット
形状溝側面の隣接するエッジ点同士を結んだエッジ点全
長とその全エッジ点から計算された基準溝直線の全長と
の差の基準溝直線の全長に対する割合を用いて、スリッ
ト形状溝側面の粗さ具合を検査するように構成したの
で、スリット形状溝側面の粗さ幅は小さいが、粗さ箇所
が多いものを不良品として検出できる効果がある。
According to the ninth aspect of the present invention, the reference groove having a difference between the total length of the edge point connecting the adjacent edge points on the side surface of the slit-shaped groove and the total length of the reference groove straight line calculated from all the edge points. Since the roughness of the slit-shaped groove side surface is configured to be inspected using the ratio to the total length of the straight line, the roughness width of the slit-shaped groove side surface is small, but the one with many roughness portions can be detected as a defective product. effective.

【0095】請求項10に記載の発明によれば、スリッ
ト形状溝側面の全エッジ点から計算された基準溝直線間
内を判別分析法を用いて自動二値化した後、スリット形
状溝内の異物をラベリング処理によって検出し、その異
物の幅、高さ、対角長が規定値以上の場合に異物と判定
するように構成したので、照明の照度が多少変化した場
合でも、常に安定してスリット形状溝内の異物混入を検
査することができる効果がある。
According to the tenth aspect of the present invention, the area between the reference groove straight lines calculated from all the edge points on the side face of the slit-shaped groove is automatically binarized by using the discriminant analysis method, and then the area within the slit-shaped groove is converted. Foreign matter is detected by labeling processing, and when the width, height, and diagonal length of the foreign matter are equal to or greater than a specified value, the foreign matter is determined. Therefore, even if the illuminance of the illumination slightly changes, it is always stable. There is an effect that foreign matter in the slit-shaped groove can be inspected.

【0096】請求項11に記載の発明によれば、スリッ
ト形状溝側面検査手段でのスリット形状溝側面の基準溝
直線とその溝側面全エッジ点との垂線長の標準偏差値を
用いた測定値、または基準溝直線とその溝側面全エッジ
点中の最大垂線長を用いた測定値、または基準溝直線の
全長とその溝側面の隣接するエッジ点同士を結んだエッ
ジ点全長との差の基準溝直線の全長に対する割合を用い
た測定値のいずれかの1つでも規定値以上になった場
合、または、スリット形状溝内異物検査手段において異
物を検出した場合、そのスリット形状溝を不良品と判定
するように構成したので、スリット形状溝側面の粗さに
関して、わずかな不良箇所でも見逃すことなく良品/不
良品の判定ができる効果がある。
According to the eleventh aspect, the measured value using the standard deviation value of the perpendicular length of the reference groove straight line of the slit-shaped groove side face and all the edge points of the groove side face by the slit-shaped groove side face inspection means. Or the measured value using the maximum perpendicular length of the reference groove straight line and all the edge points of the groove side surface, or the standard of the difference between the total length of the reference groove straight line and the entire edge point connecting the adjacent edge points of the groove side surface If any one of the measured values using the ratio to the total length of the groove straight line exceeds a specified value, or if foreign matter is detected by the foreign matter inspection means in the slit-shaped groove, the slit-shaped groove is regarded as defective. Since the determination is made, it is possible to determine a good / defective product without overlooking even a slight defective portion with respect to the roughness of the side surface of the slit-shaped groove.

【0097】請求項12に記載の発明によれば、スリッ
ト形状溝検査方法は、スリット形状溝照明手段により検
査対象のスリット形状溝に照明を当てる工程と、画像撮
像手段により検査対象のスリット形状溝を撮像する工程
と、前記画像撮像手段によって撮像されたスリット形状
溝側面の粗さ具合をスリット形状溝側面検査手段により
検査する工程と、スリット形状溝内異物検査手段により
スリット形状溝内の異物の有無を検査する工程と、前記
スリット形状溝側面検査手段とスリット形状溝内異物検
査手段の検査結果からスリット形状溝検査判定手段によ
りスリット形状溝の良品/不良品を判定する工程とを備
えたことにより、検査対象物のスリット形状をした溝
を、照明の照度変化に対する影響を受けにくく、短時間
に安定して正確な検査を行って良品/不良品の仕分けが
できるロバスト性に優れたスリット形状溝検査装置を、
比較的簡単な装置構成にて実現する。
According to the twelfth aspect of the present invention, a slit-shaped groove inspection method comprises the steps of: illuminating a slit-shaped groove to be inspected by a slit-shaped groove illuminating means; Imaging step; inspecting the roughness of the slit-shaped groove side surface imaged by the image imaging means by the slit-shaped groove side surface inspection means; and detecting foreign matter in the slit-shaped groove by the slit-shaped groove foreign substance inspection means. Inspecting the presence / absence of the slit-shaped groove, and determining the non-defective / defective product of the slit-shaped groove from the inspection result of the slit-shaped groove side inspection means and the inspection result of the foreign matter in the slit-shaped groove by the slit-shaped groove inspection determining means. In this way, the slit-shaped groove of the inspection object is not easily affected by changes in the illuminance of illumination, and can be stably and accurately detected in a short time. The slit groove inspection apparatus excellent in robustness can sort non-defective / defective performed,
It is realized with a relatively simple device configuration.

【0098】請求項13に記載の発明によれば、スリッ
ト形状溝照明手段において、半球型の拡散照明と同軸落
射型の照明を組み合わせた照明を用いて、スリット形状
溝内に照明を当てるように構成したので、スリット形状
溝内の異物表面が鏡面で任意に傾いていても、その異物
からの反射光を様々な方向へかえすことができるため
に、常に安定してスリット形状溝上方から撮像して異物
検出することができる効果がある。
According to the thirteenth aspect of the present invention, the slit-shaped groove illuminating means illuminates the inside of the slit-shaped groove by using illumination combining hemispherical diffuse illumination and coaxial epi-illumination. With this configuration, even if the surface of the foreign matter in the slit-shaped groove is arbitrarily inclined with a mirror surface, the reflected light from the foreign matter can be returned in various directions, so that the image is always stably taken from above the slit-shaped groove. Thus, there is an effect that foreign matter can be detected.

【0099】請求項14に記載の発明によれば、スリッ
ト形状溝側面の全エッジ点の座標位置を微分フィルタを
用いて作成したエッジ画像から求めるように構成したの
で、照明の照度が多少変化した場合でも、常に安定して
スリット形状溝側面のエッジ部分を検出することができ
る効果がある。
According to the fourteenth aspect, since the coordinate positions of all the edge points on the side surface of the slit-shaped groove are determined from the edge image created by using the differential filter, the illuminance of the illumination slightly changes. Even in such a case, there is an effect that the edge portion of the side surface of the slit-shaped groove can always be stably detected.

【0100】請求項15に記載の発明によれば、スリッ
ト形状溝側面の全エッジ点の座標位置を微分フィルタを
用いて作成したエッジ画像のエッジ部分の重心位置とす
るように構成したので、照明の照度が多少変化した場合
でも、常に安定してスリット形状溝側面のエッジ点位置
を検出することができる上、より細かくエッジ点の位置
を求めることができる効果がある。
According to the fifteenth aspect of the present invention, since the coordinate positions of all the edge points on the side surface of the slit-shaped groove are configured to be the barycentric positions of the edge portions of the edge image created by using the differential filter, the illumination is performed. Thus, even if the illuminance slightly changes, the edge point position on the side surface of the slit-shaped groove can always be stably detected, and the position of the edge point can be obtained more finely.

【0101】請求項16に記載の発明によれば、スリッ
ト形状溝側面のエッジ点位置から基準溝直線を計算する
際にLMedSロバスト直線回帰アルゴリズムを用いるよう
に構成したので、スリット形状溝側面のエッジ点の中で
多少直線上からずれたエッジ点があったとしても、常に
正確にスリット形状溝側面の基準溝直線を求めることが
できる効果がある。
According to the sixteenth aspect of the present invention, since the LMedS robust linear regression algorithm is used when calculating the reference groove straight line from the edge point position of the slit-shaped groove side surface, the edge of the slit-shaped groove side surface is used. Even if there is an edge point slightly deviated from the straight line among the points, there is an effect that the reference groove straight line on the side surface of the slit-shaped groove can always be accurately obtained.

【0102】請求項17に記載の発明によれば、自動的
にスリット形状溝側面の全エッジ点を検出し、その全エ
ッジ点から基準溝直線を計算した後に、その基準溝直線
と全エッジ点との垂線長の標準偏差値を計算して、スリ
ット形状溝側面の粗さ具合を検査するように構成したの
で、スリット形状溝側面の粗さ箇所が多く、かつその粗
さ幅が大きいものを不良品として検出できる。
According to the seventeenth aspect of the present invention, after automatically detecting all edge points on the side face of the slit-shaped groove and calculating a reference groove straight line from all the edge points, the reference groove straight line and all the edge points are calculated. Calculate the standard deviation value of the perpendicular line length with, and inspect the roughness of the slit-shaped groove side surface, so that there are many roughness locations on the slit-shaped groove side surface and the roughness width is large. Can be detected as defective.

【0103】請求項18に記載の発明によれば、スリッ
ト形状溝側面の全エッジ点と、その全エッジ点から計算
された基準溝直線との最大垂線長からスリット形状溝側
面の粗さ具合を検査するように構成したので、スリット
形状溝側面の粗さ箇所は少ないが、粗さ幅が大きいもの
を不良品として検出できる効果がある。
According to the eighteenth aspect, the degree of roughness of the slit-shaped groove side surface is determined from the maximum perpendicular length of all the edge points of the slit-shaped groove side surface and the reference groove straight line calculated from all the edge points. Since the inspection is configured, there is an effect that a portion having a small roughness on the side surface of the slit-shaped groove but having a large roughness width can be detected as a defective product.

【0104】請求項19に記載の発明によれば、スリッ
ト形状溝側面の隣接するエッジ点同士を結んだエッジ点
全長とその全エッジ点から計算された基準溝直線の全長
との差を用いて、スリット形状溝側面の粗さ具合を検査
するように構成したので、スリット形状溝側面の粗さ幅
は小さいが、粗さ箇所が多いものを不良品として検出で
きる効果がある。
According to the nineteenth aspect of the present invention, the difference between the total length of the edge points connecting the adjacent edge points of the slit-shaped groove side surface and the total length of the reference groove straight line calculated from all the edge points is used. Since the configuration is such that the degree of roughness of the side face of the slit-shaped groove is inspected, there is an effect that, although the roughness width of the side face of the slit-shaped groove is small, those having a large number of roughness portions can be detected as defective.

【0105】請求項20に記載の発明によれば、スリッ
ト形状溝側面の隣接するエッジ点同士を結んだエッジ点
全長とその全エッジ点から計算された基準溝直線の全長
との差の基準溝直線の全長に対する割合を用いて、スリ
ット形状溝側面の粗さ具合を検査するように構成したの
で、スリット形状溝側面の粗さ幅は小さいが、粗さ箇所
が多いものを不良品として検出できる効果がある。
According to the twentieth aspect, the reference groove having a difference between the total length of the edge points connecting the adjacent edge points of the slit-shaped groove side surface and the total length of the reference groove straight line calculated from all the edge points. Since the roughness of the slit-shaped groove side surface is configured to be inspected using the ratio to the total length of the straight line, the roughness width of the slit-shaped groove side surface is small, but the one with many roughness portions can be detected as a defective product. effective.

【0106】請求項21に記載の発明によれば、スリッ
ト形状溝側面の全エッジ点から計算された基準溝直線間
内を判別分析法を用いて自動二値化した後、スリット形
状溝内の異物をラベリング処理によって検出し、その異
物の幅、高さ、対角長が規定値以上の場合に異物と判定
するように構成したので、照明の照度が多少変化した場
合でも、常に安定してスリット形状溝内の異物混入を検
査することができる効果がある。
According to the twenty-first aspect of the present invention, the area between the reference groove straight lines calculated from all the edge points on the side face of the slit-shaped groove is automatically binarized by using the discriminant analysis method, and then the area within the slit-shaped groove is changed. Foreign matter is detected by labeling processing, and when the width, height, and diagonal length of the foreign matter are equal to or greater than a specified value, the foreign matter is determined. Therefore, even if the illuminance of the illumination slightly changes, it is always stable. There is an effect that foreign matter in the slit-shaped groove can be inspected.

【0107】請求項22に記載の発明によれば、スリッ
ト形状溝側面検査手段でのスリット形状溝側面の基準溝
直線とその溝側面全エッジ点との垂線長の標準偏差値を
用いた測定値、または基準溝直線とその溝側面全エッジ
点中の最大垂線長を用いた測定値、または基準溝直線の
全長とその溝側面の隣接するエッジ点同士を結んだエッ
ジ点全長との差の基準溝直線の全長に対する割合を用い
た測定値のいずれかの1つでも規定値以上になった場
合、または、スリット形状溝内異物検査手段において異
物を検出した場合、そのスリット形状溝を不良品と判定
するように構成したので、スリット形状溝側面の粗さに
関して、わずかな不良箇所でも見逃すことなく良品/不
良品の判定ができる効果がある。
According to the twenty-second aspect of the invention, the measured value using the standard deviation value of the perpendicular length of the reference groove straight line of the slit-shaped groove side face and all the edge points of the groove side face by the slit-shaped groove side face inspection means. Or the measured value using the maximum perpendicular length of the reference groove straight line and all the edge points of the groove side surface, or the standard of the difference between the total length of the reference groove straight line and the entire edge point connecting the adjacent edge points of the groove side surface If any one of the measured values using the ratio to the total length of the groove straight line exceeds a specified value, or if foreign matter is detected by the foreign matter inspection means in the slit-shaped groove, the slit-shaped groove is regarded as defective. Since the determination is made, it is possible to determine a good / defective product without overlooking even a slight defective portion with respect to the roughness of the side surface of the slit-shaped groove.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施の形態であるスリット形状溝
検査装置の全体構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an overall configuration of a slit-shaped groove inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】 上記図1のスリット形状溝検査装置の全体処
理を示すフロー図である。
FIG. 2 is a flowchart showing an entire process of the slit-shaped groove inspection apparatus of FIG. 1;

【図3】 上記図1のスリット形状溝検査装置でのスリ
ット形状溝の撮像の様子を説明するために示した動作説
明図である。
FIG. 3 is an operation explanatory diagram for explaining a state of imaging of a slit-shaped groove in the slit-shaped groove inspection apparatus of FIG. 1;

【図4】 本発明のスリット形状溝側面検査における溝
側面のエッジ点抽出およびそのエッジ点からの基準溝直
線算出の原理を説明するために示した動作説明図であ
る。
FIG. 4 is an operation explanatory diagram for explaining the principle of extraction of an edge point on a groove side surface and calculation of a reference groove straight line from the edge point in the slit-shaped groove side surface inspection according to the present invention.

【図5】 本発明のスリット形状溝側面検査における微
分フィルタを用いたスリット形状溝側面のエッジ画像作
成の様子を説明するために示した動作説明図である。
FIG. 5 is an operation explanatory diagram for explaining a state of creating an edge image of a slit-shaped groove side surface using a differential filter in the slit-shaped groove side surface inspection according to the present invention.

【図6】 本発明のスリット形状溝側面検査におけるス
リット形状溝側面のエッジ画像からのエッジ点検出領域
の抽出方法を説明するために示した動作説明図である。
FIG. 6 is an operation explanatory diagram for explaining a method of extracting an edge point detection area from an edge image of a slit-shaped groove side surface in the slit-shaped groove side surface inspection according to the present invention.

【図7】 本発明のスリット形状溝側面検査における溝
側面のエッジ点とその基準溝直線との垂線長の標準偏差
値の計算方法を説明するために示した動作説明図であ
る。
FIG. 7 is an operation explanatory diagram for explaining a method of calculating a standard deviation value of a perpendicular length between an edge point on a groove side surface and a reference groove straight line in the slit-shaped groove side surface inspection according to the present invention.

【図8】 本発明のスリット形状溝側面検査における溝
側面の全エッジ点を結んだエッジ点全長と基準溝直線の
全長との差の計算方法を説明するために示した動作説明
図である。
FIG. 8 is an operation explanatory diagram for explaining a method of calculating a difference between an entire edge point connecting all edge points of a groove side surface and a total length of a reference groove straight line in the slit-shaped groove side surface inspection according to the present invention.

【図9】 本発明のスリット形状溝側面検査において不
良品と判定されるスリット形状溝例を示した説明図であ
る。
FIG. 9 is an explanatory diagram showing an example of a slit-shaped groove determined to be defective in the slit-shaped groove side surface inspection of the present invention.

【図10】 本発明のスリット形状溝内異物検査におけ
る異物検出の過程を説明するために示した動作説明図で
ある。
FIG. 10 is an operation explanatory diagram for explaining a foreign matter detection process in the foreign matter inspection in the slit-shaped groove according to the present invention.

【図11】 本発明の実施の形態2によるスリット形状
溝幅の計測の様子を示す動作説明図である。
FIG. 11 is an operation explanatory view showing a state of measurement of a slit-shaped groove width according to the second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 検査対象物、 2 照明手段、 3 画像撮像手
段、 4 電子計算機、5 画像データ記憶手段、 6
スリット形状溝側面検査手段、 7 スリット形状溝
内異物検査手段、 8 スリット形状溝検査判定手段
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection object, 2 Illumination means, 3 Image imaging means, 4 Electronic computer, 5 Image data storage means, 6
Slit-shaped groove side surface inspection means, 7 Slit-shaped groove foreign substance inspection means, 8 Slit-shaped groove inspection determination means

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 笹井 浩之 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 Fターム(参考) 2F065 AA12 AA17 AA31 AA49 AA50 AA51 BB05 BB16 CC00 FF04 FF42 GG02 GG07 GG15 GG18 HH02 HH12 HH13 HH14 JJ03 JJ09 JJ26 QQ07 QQ08 QQ13 QQ17 QQ18 QQ24 QQ25 QQ27 QQ28 QQ32 QQ33 QQ41 RR05 2G051 AA90 AB01 AB20 BB01 CA03 CB01 EA11 EA14 EB01 EB05 EC10 ED09 ED23 5B047 AA11 BB04 BB06 CA02 CB22 5B057 AA02 BA02 BA19 CE09 CH11 DA02 DA08 DB02 5L096 AA06 BA03 CA04 FA08 FA14 FA69 LA05  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing from the front page (72) Inventor Hiroyuki Sasai 2-3-2 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo F-term (reference) 2F065 AA12 AA17 AA31 AA49 AA50 AA51 BB05 BB16 CC00 FF04 FF42 GG02 GG07 GG15 GG18 HH02 HH12 HH13 HH14 JJ03 JJ09 JJ26 QQ07 QQ08 QQ13 QQ17 QQ18 QQ24 QQ25 QQ27 QQ28 QQ32 QQ33 QQ41 RR05 2G051 AA90 AB01 AB20 BB01 CA03 CB01 EA11 EA14 EB14 EB01 EB01 EB01 EB01 EB01 EB01 EB01 EB01 EB01 DB02 5L096 AA06 BA03 CA04 FA08 FA14 FA69 LA05

Claims (22)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 検査対象のスリット形状溝に照明を当て
るスリット形状溝照明手段と、検査対象のスリット形状
溝を撮像する画像撮像手段と、前記画像撮像手段によっ
て撮像されたスリット形状溝側面の粗さ具合を検査する
スリット形状溝側面検査手段と、スリット形状溝内の異
物の有無を検査するスリット形状溝内異物検査手段と、
前記スリット形状溝側面検査手段とスリット形状溝内異
物検査手段の検査結果からスリット形状溝の良品/不良
品を判定するスリット形状溝検査判定手段を備えたこと
を特徴とするスリット形状溝検査装置。
1. A slit-shaped groove illuminating means for illuminating a slit-shaped groove to be inspected, an image capturing means for capturing an image of the slit-shaped groove to be inspected, and a rough surface of the slit-shaped groove imaged by the image capturing means. Slit-shaped groove side surface inspection means for inspecting the condition, foreign matter inspection means in the slit-shaped groove for inspecting the presence or absence of foreign matter in the slit-shaped groove,
A slit-shaped groove inspection apparatus, comprising: a slit-shaped groove inspection / judgment means for judging a non-defective / defective product of the slit-shaped groove from inspection results of the slit-shaped groove side surface inspection means and the inspection result of the foreign matter in the slit-shaped groove.
【請求項2】 前記スリット形状溝照明手段が、半球型
の拡散照明と同軸落射型の照明を組み合わせた照明を用
いて、スリット形状溝内に任意方向から照明を当てるこ
とを特徴とする請求項1に記載のスリット形状溝検査装
置。
2. The slit-shaped groove illuminating means illuminates the slit-shaped groove from an arbitrary direction by using illumination combining hemispherical diffuse illumination and coaxial epi-illumination. 2. The slit-shaped groove inspection device according to 1.
【請求項3】 前記スリット形状溝側面検査手段が、ス
リット形状溝側面の全エッジ点の座標位置を微分フィル
タを用いて作成したエッジ画像から求めることを特徴と
する請求項1に記載のスリット形状溝検査装置。
3. The slit shape according to claim 1, wherein said slit shape groove side surface inspection means obtains coordinate positions of all edge points of the slit shape groove side surface from an edge image created using a differential filter. Groove inspection device.
【請求項4】 前記スリット形状溝側面検査手段が、ス
リット形状溝側面の全エッジ点の座標位置を微分フィル
タを用いて作成したエッジ画像のエッジ部分の重心位置
とすることを特徴とする請求項1に記載のスリット形状
溝検査装置。
4. The slit-shaped groove side surface inspection means sets a coordinate position of all edge points of the slit-shaped groove side surface as a barycentric position of an edge portion of an edge image created using a differential filter. 2. The slit-shaped groove inspection device according to 1.
【請求項5】 前記スリット形状溝側面検査手段が、ス
リット形状溝側面の全エッジ点の座標位置から基準溝直
線を計算する際に、LMedS(Least Median ofSquares:
最小自乗メディアン)ロバスト直線回帰アルゴリズムを
用いることを特徴とする請求項1に記載のスリット形状
溝検査装置。
Wherein said slit-shaped groove side inspection means, when calculating the reference groove straight line from the coordinate position of all edge points of the slit-shaped groove side, LMedS (L east Med ian of S quares:
The slit shape groove inspection apparatus according to claim 1, wherein a least squares median (robust linear regression algorithm) is used.
【請求項6】 前記スリット形状溝側面検査手段が、ス
リット形状溝側面の全エッジ点を自動検出し、そのエッ
ジ点から基準溝直線を計算した後に、その基準溝直線と
全エッジ点との垂線長の標準偏差値を計算して、スリッ
ト形状溝側面の粗さ具合を検査することを特徴とする請
求項1に記載のスリット形状溝検査装置。
6. The slit-shaped groove side surface inspection means automatically detects all edge points on the slit-shaped groove side surface, calculates a reference groove straight line from the edge points, and then sets a perpendicular line between the reference groove straight line and all edge points. The slit-shaped groove inspection apparatus according to claim 1, wherein a standard deviation value of the length is calculated to inspect the roughness of the slit-shaped groove side surface.
【請求項7】 前記スリット形状溝側面検査手段が、ス
リット形状溝側面の全エッジ点と、その全エッジ点から
計算された基準溝直線との最大垂線長からスリット形状
溝側面の粗さ具合を検査することを特徴とする請求項1
に記載のスリット形状溝検査装置。
7. The slit-shaped groove side surface inspection means determines the degree of roughness of the slit-shaped groove side surface from the maximum perpendicular length of all the edge points of the slit-shaped groove side surface and the reference groove straight line calculated from all the edge points. 2. An inspection is performed.
2. The slit-shaped groove inspection device according to 1.
【請求項8】 前記スリット形状溝側面検査手段が、ス
リット形状溝側面の隣接するエッジ点同士を結んだエッ
ジ点全長とその全エッジ点から計算された基準溝直線の
全長との差を用いて、スリット形状溝側面の粗さ具合を
検査することを特徴とする請求項1に記載のスリット形
状溝検査装置。
8. The slit-shaped groove side surface inspection means uses a difference between an entire length of an edge point connecting adjacent edge points of the slit-shaped groove side surface and a total length of a reference groove straight line calculated from all the edge points. The slit-shaped groove inspection apparatus according to claim 1, wherein the degree of roughness of the slit-shaped groove side surface is inspected.
【請求項9】 前記スリット形状溝側面検査手段が、ス
リット形状溝側面の隣接するエッジ点同士を結んだエッ
ジ点全長とその全エッジ点から計算された基準溝直線の
全長との差の基準溝直線の全長に対する割合を用いて、
スリット形状溝側面の粗さ具合を検査することを特徴と
する請求項1に記載のスリット形状溝検査装置。
9. The reference groove having a difference between a total length of an edge point connecting adjacent edge points of the slit-shaped groove side surface and a total length of a reference groove straight line calculated from all the edge points. Using the ratio of the straight line to the total length,
The slit-shaped groove inspection device according to claim 1, wherein the degree of roughness of the side surface of the slit-shaped groove is inspected.
【請求項10】 前記請求項1のスリット形状溝内異物
検査手段が、スリット形状溝側面の座標位置から計算さ
れた基準溝直線間内を判別分析法を用いて自動二値化し
た後、スリット形状溝内の異物をラベリング処理によっ
て検出して、その異物の幅、高さ、対角長が規定値以上
の場合に異物有りとして出力することを特徴とする請求
項1に記載のスリット形状溝検査装置。
10. The slit-shaped groove foreign matter inspection means according to claim 1, after automatically binarizing, using a discriminant analysis method, between the reference groove straight lines calculated from the coordinate positions of the slit-shaped groove side surfaces, and then slitting the slits. The slit-shaped groove according to claim 1, wherein the foreign substance in the shape groove is detected by a labeling process, and when the width, height, and diagonal length of the foreign substance are equal to or more than a specified value, the foreign matter is output. Inspection equipment.
【請求項11】 前記請求項1のスリット形状溝検査判
定手段が、前記スリット形状溝側面検査手段でのスリッ
ト形状溝側面の基準溝直線とその溝側面全エッジ点との
垂線長の標準偏差値を用いた測定値、または基準溝直線
とその溝側面全エッジ点中の最大垂線長を用いた測定
値、または基準溝直線の全長とその溝側面の隣接するエ
ッジ点同士を結んだエッジ点全長との差の基準溝直線の
全長に対する割合を用いた測定値のいずれかの1つでも
規定値以上になった場合、または、前記スリット形状溝
内異物検査手段において異物を検出した場合、そのスリ
ット形状溝を不良と判定することを特徴とする請求項1
に記載のスリット形状溝検査装置。
11. A standard deviation value of a perpendicular length between a reference groove straight line on a side surface of a slit-shaped groove and all edge points of the side surface of the slit by the slit-shaped groove side inspection means. Or the measured value using the maximum perpendicular length of the reference groove straight line and all the edge points of the groove side surface, or the total length of the edge point connecting the entire length of the reference groove straight line and the adjacent edge point of the groove side surface If any one of the measured values using the ratio of the difference to the total length of the reference groove straight line exceeds a specified value, or if foreign matter is detected by the foreign matter inspection means in the slit-shaped groove, the slit is 2. The shape groove is determined to be defective.
2. The slit-shaped groove inspection device according to 1.
【請求項12】 スリット形状溝照明手段により検査対
象のスリット形状溝に照明を当てる工程と、画像撮像手
段により検査対象のスリット形状溝を撮像する工程と、
前記画像撮像手段によって撮像されたスリット形状溝側
面の粗さ具合をスリット形状溝側面検査手段により検査
する工程と、スリット形状溝内異物検査手段によりスリ
ット形状溝内の異物の有無を検査する工程と、前記スリ
ット形状溝側面検査手段とスリット形状溝内異物検査手
段の検査結果からスリット形状溝検査判定手段によりス
リット形状溝の良品/不良品を判定する工程とを備えた
ことを特徴とするスリット形状溝検査方法。
12. A step of illuminating the slit-shaped groove to be inspected by the slit-shaped groove illuminating means, and a step of imaging the slit-shaped groove to be inspected by the image capturing means.
A step of inspecting the degree of roughness of the slit-shaped groove side surface imaged by the image imaging unit with a slit-shaped groove side surface inspection unit, and a step of inspecting the presence or absence of foreign matter in the slit-shaped groove by a slit-shaped groove foreign matter inspection unit. Determining a non-defective / defective product of the slit-shaped groove by the slit-shaped groove inspection determining means from inspection results of the slit-shaped groove side surface inspection means and the slit-shaped groove foreign matter inspection means. Groove inspection method.
【請求項13】 前記スリット形状溝照明手段におい
て、半球型の拡散照明と同軸落射型の照明を組み合わせ
た照明を用いて、スリット形状溝内に任意方向から照明
を当てることを特徴とする請求項12に記載のスリット
形状溝検査方法。
13. The slit-shaped groove illuminating means illuminates the slit-shaped groove from an arbitrary direction by using illumination obtained by combining hemispherical diffuse illumination and coaxial epi-illumination. 13. The slit shape groove inspection method according to 12.
【請求項14】 前記スリット形状溝側面検査手段にお
いて、スリット形状溝側面の全エッジ点の座標位置を微
分フィルタを用いて作成したエッジ画像から求めること
を特徴とするスリット形状溝検査方法。
14. A slit shape groove inspection method, wherein the slit shape groove side surface inspection means obtains coordinate positions of all edge points of the slit shape groove side surface from an edge image created by using a differential filter.
【請求項15】 前記スリット形状溝側面検査手段にお
いて、スリット形状溝側面の全エッジ点の座標位置を微
分フィルタを用いて作成したエッジ画像のエッジ部分の
重心位置とすることを特徴とする請求項12に記載のス
リット形状溝検査方法。
15. The slit-shaped groove side surface inspection means, wherein the coordinate positions of all edge points on the slit-shaped groove side surface are set as the center of gravity of an edge portion of an edge image created using a differential filter. 13. The slit shape groove inspection method according to 12.
【請求項16】 前記スリット形状溝側面検査手段にお
いて、スリット形状溝側面の全エッジ点の座標位置から
基準溝直線を計算する際に、LMedS(Least Median of S
quares:最小自乗メディアン)ロバスト直線回帰アルゴ
リズムを用いることを特徴とする請求項12に記載のス
リット形状溝検査方法。
16. The slit groove side inspection means, in calculating the reference groove straight line from the coordinate position of all edge points of the slit-shaped groove side, LMedS (L east Med ian of S
The slit shape groove inspection method according to claim 12, wherein a quares: least squares median) robust linear regression algorithm is used.
【請求項17】 前記スリット形状溝側面検査手段にお
いて、スリット形状溝側面の全エッジ点を自動検出し、
そのエッジ点から基準溝直線を計算した後に、その基準
溝直線と全エッジ点との垂線長の標準偏差値を計算し
て、スリット形状溝側面の粗さ具合を検査することを特
徴とする請求項12に記載のスリット形状溝検査方法。
17. The slit-shaped groove side surface inspection means automatically detects all edge points of the slit-shaped groove side surface,
After calculating the reference groove straight line from the edge point, the standard deviation value of the perpendicular length between the reference groove straight line and all the edge points is calculated, and the roughness of the slit-shaped groove side surface is inspected. Item 13. The slit-shaped groove inspection method according to Item 12.
【請求項18】 前記スリット形状溝側面検査手段にお
いて、スリット形状溝側面の全エッジ点と、その全エッ
ジ点から計算された基準溝直線との最大垂線長からスリ
ット形状溝側面の粗さ具合を検査することを特徴とする
請求項12に記載のスリット形状溝検査方法。
18. The slit-shaped groove side surface inspection means determines the degree of roughness of the slit-shaped groove side surface from the maximum perpendicular length of all the edge points of the slit-shaped groove side surface and the reference groove straight line calculated from all the edge points. The method for inspecting a slit-shaped groove according to claim 12, wherein the inspection is performed.
【請求項19】 前記スリット形状溝側面検査手段にお
いて、スリット形状溝側面の隣接するエッジ点同士を結
んだエッジ点全長とその全エッジ点から計算された基準
溝直線の全長との差を用いて、スリット形状溝側面の粗
さ具合を検査することを特徴とする請求項12に記載の
スリット形状溝検査方法。
19. The slit-shaped groove side surface inspection means uses a difference between a total length of an edge point connecting adjacent edge points of the slit-shaped groove side surface and a total length of a reference groove straight line calculated from all the edge points. The slit shape groove inspection method according to claim 12, wherein the degree of roughness of the slit shape groove side surface is inspected.
【請求項20】 前記スリット形状溝側面検査手段にお
いて、スリット形状溝側面の隣接するエッジ点同士を結
んだエッジ点全長とその全エッジ点から計算された基準
溝直線の全長との差の基準溝直線の全長に対する割合を
用いて、スリット形状溝側面の粗さ具合を検査すること
を特徴とする請求項12に記載のスリット形状溝検査方
法。
20. A reference groove having a difference between a total length of an edge point connecting adjacent edge points of the slit-shaped groove side surface and a total length of a reference groove straight line calculated from all the edge points in the slit-shaped groove side surface inspection means. 13. The slit-shaped groove inspection method according to claim 12, wherein the degree of roughness of the slit-shaped groove side surface is inspected using the ratio of the straight line to the total length.
【請求項21】 前記スリット形状溝内異物検査手段に
おいて、スリット形状溝側面の座標位置から計算された
基準溝直線間内を判別分析法を用いて自動二値化した
後、スリット形状溝内の異物をラベリング処理によって
検出して、その異物の幅、高さ、対角長が規定値以上の
場合に異物有りとして出力することを特徴とする請求項
12に記載のスリット形状溝検査方法。
21. In the slit-shaped groove foreign matter inspection means, after automatically binarizing the area between the reference groove straight lines calculated from the coordinate positions of the side faces of the slit-shaped groove by using a discriminant analysis method, 13. The slit-shaped groove inspection method according to claim 12, wherein a foreign substance is detected by a labeling process, and when the width, height, and diagonal length of the foreign substance are equal to or more than specified values, the foreign substance is output.
【請求項22】 前記スリット形状溝検査判定手段にお
いて、前記スリット形状溝側面検査手段でのスリット形
状溝側面の基準溝直線とその溝側面全エッジ点との垂線
長の標準偏差値を用いた測定値、または基準溝直線とそ
の溝側面全エッジ点中の最大垂線長を用いた測定値、ま
たは基準溝直線の全長とその溝側面の隣接するエッジ点
同士を結んだエッジ点全長との差の基準溝直線の全長に
対する割合を用いた測定値のいずれかの1つでも規定値
以上になった場合、または、前記スリット形状溝内異物
検査手段において異物を検出した場合、そのスリット形
状溝を不良と判定することを特徴とする請求項12に記
載のスリット形状溝検査方法。
22. A measurement using a standard deviation value of a perpendicular line length between a reference groove straight line on a side surface of a slit-shaped groove and all edge points of the groove side surface in the slit-shaped groove side inspection means in the slit-shaped groove side inspection means. Or the measured value using the maximum perpendicular length of the reference groove straight line and all the edge points of the groove side surface, or the difference between the total length of the reference groove straight line and the total length of the edge points connecting adjacent edge points of the groove side surface. If any one of the measured values using the ratio to the total length of the reference groove straight line exceeds a specified value, or if foreign matter is detected by the foreign matter inspection means in the slit-shaped groove, the slit-shaped groove is defective. 13. The slit shape groove inspection method according to claim 12, wherein:
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