JP2001305420A - Automatic focusing device for microscope - Google Patents

Automatic focusing device for microscope

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JP2001305420A
JP2001305420A JP2000122584A JP2000122584A JP2001305420A JP 2001305420 A JP2001305420 A JP 2001305420A JP 2000122584 A JP2000122584 A JP 2000122584A JP 2000122584 A JP2000122584 A JP 2000122584A JP 2001305420 A JP2001305420 A JP 2001305420A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an automatic focusing device for a microscope capable of surely performing an appropriate focusing control, irrespective of the surface shape of an object to be inspected. SOLUTION: As for automatic focusing device, an object to be inspected 2 is irradiated with a laser beam L1 through an objective lens 1 by taking a position deviated from optical axis K of the objective lens 1 as an incident position, and then, the laser light L2 guided through the objective lens 1 and a beam splitter 5 after being reflected by the object to be inspected 2 is received by a sensor array 10, and the focus displacement is detected based on the position of the received light spot formed on the light receiving surface, then, the focusing operation is performed based on the detection output, the object to be inspected 2 is irradiated with the laser light L1 in order at four incident points on the circumference around the optical axis K of the object lens by rotating the laser beam L1 by a wedge prism 12, and then, whenever the object 2 is irradiated with the laser beam L1 at each incident position, the focus displacement is detected so as to perform the focusing control.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、顕微鏡のオートフ
ォーカス装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an autofocus device for a microscope.

【0002】[0002]

【従来の技術】光学顕微鏡で被検物体を観察する際に
は、顕微鏡の観察光学系と被検物体の間の距離を調節す
る、いわゆる合焦操作が必要であり、最近では自動的に
合焦を行うオートフォーカス装置が広く用いられるよう
になってきた。オートフォーカスとは、一般に、焦点が
合った位置からの差異量(焦点ずれ)を自動的に検出
し、この差異量に応じて例えば対物レンズまたは被検物
体を搭載したステージを移動することにより、鮮明な像
が得られるように自動調整するものである。
2. Description of the Related Art When observing a test object with an optical microscope, a so-called focusing operation for adjusting the distance between the observation optical system of the microscope and the test object is required. Autofocusing devices that perform focusing have become widely used. Auto focus generally means automatically detecting a difference amount (defocus) from a focused position, and moving, for example, a stage on which an objective lens or a test object is mounted according to the difference amount, The automatic adjustment is performed so that a clear image can be obtained.

【0003】図14を用いて、従来の細ビーム式と呼ば
れるオートフォーカス(AF)制御の例を説明する。
Referring to FIG. 14, an example of a conventional fine beam type auto focus (AF) control will be described.

【0004】このオートフォーカス制御は、図14
(a)のように、対物レンズ1の光軸Kから外れた位置
を固定的な入光点Aとして、対物レンズ1を通して被検
物体2に測定ビームL1を照射し、被検物体2から対物
レンズ1を通して導かれる測定ビームの反射光L2を、
図14(b)のように、2つの受光部E、Fよりなる光
学的センサ90で受光して、同センサ90の受光面上に
形成される受光スポットSP、SPf、SPbの位置に
より、対物レンズ1の焦点位置からの被検物体2の焦点
ずれを検出する。そして、その焦点ずれ検出信号に基づ
いて、対物レンズ1と被検物体2の距離を調節し、被検
物体2上の対象点に対物レンズ2の焦点を合わせるとい
うものである。
This auto focus control is performed by
As shown in (a), a position deviated from the optical axis K of the objective lens 1 is set as a fixed incident point A, and the test object 2 is irradiated with the measurement beam L1 through the objective lens 1 so that the test object 2 The reflected light L2 of the measurement beam guided through the lens 1 is
As shown in FIG. 14B, light is received by an optical sensor 90 composed of two light receiving sections E and F, and the position of the light receiving spots SP, SPf, and SPb formed on the light receiving surface of the sensor 90 is used to determine the objective. A defocus of the test object 2 from the focal position of the lens 1 is detected. Then, based on the defocus detection signal, the distance between the objective lens 1 and the test object 2 is adjusted, and the focus of the objective lens 2 is adjusted to a target point on the test object 2.

【0005】ここで、適正ピント位置Fにあるときに
は、受光スポットSPは2つの受光部E、Fの中間位置
にて点像となる。また、前ピン位置F+ΔFにあるとき
には、受光スポットSPfは、中間位置から前ピン側の
受光部E上にずれてボケ像となり、後ピン位置F−ΔF
にあるときには、受光スポットSPbは、中間位置から
後ピン側の受光部F上にずれてボケ像となる。なお、
「前ピン」とは像面の手前で焦点を結ぶ状態、「後ピ
ン」とは像面の手前で焦点を結ぶ状態を指す。
Here, when the light receiving spot SP is at the proper focus position F, the light receiving spot SP becomes a point image at an intermediate position between the two light receiving portions E and F. When the front focus position is at the position F + ΔF, the light receiving spot SPf shifts from the intermediate position onto the light receiving portion E on the front focus side to form a blurred image, and the rear focus position F−ΔF
, The light receiving spot SPb is shifted from the intermediate position onto the light receiving section F on the rear focus side to form a blurred image. In addition,
“Front focus” refers to a state in which focus is achieved before the image plane, and “back focus” refers to a state in which focus is achieved before the image plane.

【0006】従って、オートフォーカスを指令する制御
装置は、図15のフローチャートに示すように、2つの
受光部E、Fの信号に基づいて処理を進めることで、ピ
ント合わせを行う。
Accordingly, the control device for instructing the autofocusing performs the focusing based on the signals of the two light receiving units E and F as shown in the flowchart of FIG.

【0007】即ち、制御装置の主たる要素であるマイク
ロプロセッサは、まず最初のステップ901で、2つの
受光部E、Fの出力信号のA/D変換値e、fを読み取
る。次のステップ902で、その出力信号のA/D変換
値e、fに基づいて合焦かどうかを判断する。合焦の判
断は「e=f」かどうかを判定することで行う。合焦な
らば、ステップ903でモータを停止して最初のステッ
プに戻る。
That is, the microprocessor, which is a main element of the control device, first reads A / D conversion values e and f of the output signals of the two light receiving units E and F in the first step 901. In the next step 902, it is determined whether or not focusing is performed based on the A / D conversion values e and f of the output signal. The focus is determined by determining whether “e = f”. If in focus, the motor is stopped in step 903 and the process returns to the first step.

【0008】合焦でない場合は、ステップ904で前ピ
ンか後ピンかを判断する。前ピンか後ピンかの判断は
「e>f」かどうかを判定することで行う。前ピンであ
れば、ステップ905で後ピン側へモータを回し、対物
レンズ1と被検物体2の距離を近づける。後ピンであれ
ば、ステップ906で前ピン側へモータを回し、対物レ
ンズ1と被検物体2の距離を離す。それにより合焦点を
探す。その結果、ピント位置がずれた場合でも、自動的
に合焦点Fに戻る。
If it is not in focus, it is determined in step 904 whether the focus is on the front or the back. The determination of the front focus or the rear focus is performed by determining whether “e> f”. If it is the front focus, the motor is turned to the rear focus side in step 905, and the distance between the objective lens 1 and the test object 2 is reduced. If it is the back focus, the motor is turned to the front focus side in step 906, and the distance between the objective lens 1 and the test object 2 is increased. It looks for a focal point. As a result, even if the focus position shifts, the focus automatically returns to the focal point F.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の細ビーム式のオートフォーカス制御では、測定ビー
ムL1の入光点を1点Aに固定しているため、図16の
(a)のように平面状の被検物体2を観察する場合には
特に問題は生じないが、図16(b)のように被検物体
2の表面に凹凸がある(図示例では凸部2aが存在す
る)場合等には、図16(c)のように測定ビームL1
の届かない死角Nができるため、適正なオートフォーカ
ス制御ができないことがあった。
In the above-described conventional fine beam type autofocus control, the point of incidence of the measurement beam L1 is fixed at one point A, and therefore, as shown in FIG. There is no particular problem when observing the planar test object 2 in FIG. 1, but there is unevenness on the surface of the test object 2 as shown in FIG. 16B (the convex portion 2a exists in the illustrated example). In such a case, as shown in FIG.
In some cases, blind spots N that cannot be reached can prevent proper autofocus control.

【0010】本発明は、上記事情を考慮し、被検物体の
表面形状によらず、適正なオートフォーカス制御が確実
にできる顕微鏡のオートフォーカス装置を提供すること
を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an autofocus device for a microscope capable of reliably performing appropriate autofocus control regardless of the surface shape of a test object in consideration of the above circumstances.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、対物
レンズを含む観察光学系と、対物レンズの光軸から外れ
た位置を入光点として、対物レンズを通して被検物体に
測定ビームを照射する測定ビーム照射機構と、被検物体
から対物レンズを通して導かれる測定ビームの反射光を
受光し、受光面上に形成される受光スポットの位置によ
り、対物レンズの焦点位置からの被検物体の焦点ずれを
検出する焦点ずれ検出手段と、該焦点ずれ検出手段の出
力に基づいて対物レンズと被検物体の距離を調節する駆
動機構を制御し、それにより被検物体上の対象点に対物
レンズの焦点を合わせる制御手段と、を備えた顕微鏡の
オートフォーカス装置において、前記入光点として、対
物レンズの光軸を中心とする円周上に、円周方向に90
度間隔に4つの入光点を設定し、測定ビーム照射機構に
より、前記4つの入光点にて順番に測定ビームを被検物
体に照射し、各入光点における測定ビームの照射毎に、
前記焦点ずれ検出手段により対物レンズの焦点位置から
の被検物体の焦点ずれを検出して、その検出出力に基づ
いて前記制御手段が前記駆動機構を制御することを特徴
とする。
According to a first aspect of the present invention, an observation optical system including an objective lens and a position deviating from the optical axis of the objective lens are set as a point of incidence, and a measurement beam is applied to a test object through the objective lens. A measuring beam irradiating mechanism for irradiating, and a reflected light of the measuring beam guided from the object through the objective lens is received, and a position of a light receiving spot formed on the light receiving surface is used to move the object from the focal position of the objective lens. A focus shift detecting means for detecting a focus shift, and a drive mechanism for adjusting a distance between the objective lens and the test object based on an output of the focus shift detecting means, thereby controlling the objective lens at a target point on the test object. And a control means for adjusting the focal point of the objective lens, wherein the light incident point is set at 90% on the circumference around the optical axis of the objective lens.
Four light incident points are set at a degree interval, and a measurement beam irradiation mechanism irradiates the test object with a measurement beam at the four light incident points in order. For each irradiation of the measurement beam at each light incident point,
The defocus detecting means detects the defocus of the object from the focal position of the objective lens, and the control means controls the driving mechanism based on the detected output.

【0012】この発明では、4つの入光点から測定ビー
ムを照射可能であるから、つまり、4つ方向から測定ビ
ームを被検物体の表面に照射可能であるから、被検物体
の表面に凹凸がある場合であっても、いずれかの入光点
からの測定ビームを、必ず被検物体上の対象点に届かせ
ることができ、その測定ビームに基づいて適正なオート
フォーカス制御を行うことができる。
According to the present invention, since the measurement beam can be irradiated from four incident points, that is, the measurement beam can be irradiated on the surface of the object from four directions, the surface of the object can be uneven. Even if there is, the measurement beam from any of the light entry points can always reach the target point on the test object, and appropriate autofocus control can be performed based on the measurement beam. it can.

【0013】請求項2の発明は、請求項1において、前
記4つの入光点にて順番に測定ビームを被検物体に照射
する測定ビーム照射機構が、1本の測定ビームを出射す
る測定ビーム照射源と、該照射源より出射された測定ビ
ームの通過するウェッジプリズムと、該ウェッジプリズ
ムを回転させることで、測定ビームを前記4つの入光点
を通過する円形軌跡に沿って回転させる回転機構と、か
ら構成されていることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the measurement beam irradiation mechanism for sequentially irradiating the test object with the measurement beam at the four light incident points emits one measurement beam. An irradiation source, a wedge prism through which a measurement beam emitted from the irradiation source passes, and a rotation mechanism for rotating the wedge prism to rotate the measurement beam along a circular locus passing through the four light incident points. And characterized in that:

【0014】この発明では、ウェッジプリズムによって
1本の測定ビームを回転させることにより、4つの入光
点から測定ビームを対物レンズを通して被検物体に照射
することができる。従って、測定ビームの照射源の数を
増やさずに、簡単な構造で請求項1の発明の効果を得る
ことができる。
According to the present invention, by rotating one measurement beam by the wedge prism, the measurement object can be irradiated to the object to be measured from the four light incident points through the objective lens. Therefore, the effect of the first aspect can be obtained with a simple structure without increasing the number of irradiation sources of the measurement beam.

【0015】請求項3の発明は、請求項1または2にお
いて、前記焦点ずれ検出手段が、十字に配置された4つ
の受光部を備えており、直線上に並んだ2つの受光部の
組み合わせにより、1つの入光点にて被検物体に測定ビ
ームを照射した際の反射光を受ける1つの検出手段が構
成され、前記直線上に並んだ2つの受光部は、合焦時に
2つの受光部の中間に受光スポットが形成され、前ピン
時に一方の受光部上に受光スポットが形成され、後ピン
時に他方の受光部上に受光スポットが形成されるような
位置関係で配置され、直線上に並ぶ2つの受光部の組み
合わせが、180度対向した位置にある2つの入光点に
てそれぞれ測定ビームを照射した際の焦点ずれを検出す
る各検出手段を兼ねていることを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect, the defocus detecting means includes four light receiving portions arranged in a cross shape, and a combination of the two light receiving portions arranged in a straight line. One detecting means configured to receive reflected light when the measurement object is irradiated with the measurement beam at one light incident point, and the two light receiving units arranged on the straight line are two light receiving units at the time of focusing A light receiving spot is formed in the middle of the light receiving spot, a light receiving spot is formed on one light receiving part at the time of front focus, and a light receiving spot is formed on the other light receiving part at the time of rear focus, and the light receiving spot is formed on a straight line. The combination of the two light receiving units arranged in a row also serves as each detecting means for detecting a defocus when the measurement beam is irradiated at each of the two light incident points located at positions opposed by 180 degrees.

【0016】この発明では、ある1つの入光点Aで測定
ビームを対物レンズに入射させた場合、直線上に並ぶ2
つの受光部E、Fの上に受光スポットが形成される。そ
の受光スポットは、前ピン状態のときは一方の受光部E
上に形成され、後ピン状態のときは他方の受光部F上に
形成される。
According to the present invention, when a measurement beam is made incident on an objective lens at a certain light incident point A, the light beams are aligned on a straight line.
Light receiving spots are formed on the two light receiving portions E and F. When the light receiving spot is in the front focus state, one of the light receiving portions E
It is formed on the other light receiving portion F in the rear focus state.

【0017】そこで、前ピン状態であるときには、後ピ
ン側になるように焦点合わせが行われる(対物レンズと
被検物体の距離を近づける)ことにより、一方の受光部
E上に形成されていた受光スポットの位置が、2つの受
光部E、Fの中間点Oに向けて移動する。そして、その
中間点Oに受光スポットが到達したら、焦点合わせ動作
が停止し、その状態で被検物体に対物レンズの焦点が合
う。
Therefore, when the camera is in the front focus state, the focusing is performed so as to be on the rear focus side (the distance between the objective lens and the test object is reduced), so that the light is formed on one of the light receiving portions E. The position of the light receiving spot moves toward the intermediate point O between the two light receiving units E and F. Then, when the light receiving spot reaches the intermediate point O, the focusing operation is stopped, and in this state, the object is focused on the test object.

【0018】また、後ピン状態であるときには、前ピン
側になるように焦点合わせが行われる(対物レンズと被
検物体の距離を離す)ことにより、一方の受光部F上に
形成されていた受光スポットの位置が、2つの受光部
E、Fの中間点Oに向けて移動する。そして、その中間
点Oに受光スポットが到達したら、焦点合わせ動作が停
止し、その状態で被検物体に対物レンズの焦点が合う。
このように、ピント位置の変化により、受光スポットは
2つの受光部E、Fが配置されている直線上を移動する
ことになる。
Further, in the rear focus state, the focusing is performed so as to be on the front focus side (the distance between the objective lens and the object to be measured is increased), so that it is formed on one of the light receiving portions F. The position of the light receiving spot moves toward the intermediate point O between the two light receiving units E and F. Then, when the light receiving spot reaches the intermediate point O, the focusing operation is stopped, and in this state, the object is focused on the test object.
As described above, the light receiving spot moves on the straight line where the two light receiving units E and F are arranged due to the change of the focus position.

【0019】次に180度対向した位置にある入光点C
で測定ビームを入射させた場合を考えてみると、前記と
同じ直線上に並ぶ2つの受光部E、Fの上に受光スポッ
トが形成される。但し、この場合は、2つの受光部E、
Fの役割が逆転する。即ち、入光点が180度反転した
位置に切り替わることで、入光点Aで測定ビームを入射
したときは前ピン用として機能していた受光部Eが、今
度は後ピン用として機能し、後ピン用として機能してい
た受光部Fが、今度は前ピン用として機能するようにな
る。それにより、前記と同じ合焦動作が行われる。
Next, a light incident point C at a position 180 degrees opposite
Considering the case where the measurement beam is made incident on the light receiving spot, light receiving spots are formed on the two light receiving portions E and F arranged on the same straight line as described above. However, in this case, two light receiving units E,
The role of F is reversed. That is, by switching to a position where the light incident point is inverted by 180 degrees, the light receiving unit E functioning for the front focus when the measurement beam is incident at the light incident point A now functions for the rear focus, The light receiving portion F functioning for the back focus now functions for the front focus. Thereby, the same focusing operation as described above is performed.

【0020】また、入光点A、Cから90度ずれた位置
にある入光点B、Dで測定ビームを照射する場合も同様
である。
The same applies to the case where the measuring beams are irradiated at the light incident points B and D located at positions shifted by 90 degrees from the light incident points A and C.

【0021】いずれにしろ、十字に配置した受光部の組
み合わせにより、4つの入光点にて順番に測定ビームを
照射した各場合の焦点ずれを全て検知するようにしてい
るので、受光部の数を増やさずに、4方向からの測定ビ
ームの照射による、死角のないオートフォーカス制御を
実現することができる。
In any case, by combining the light receiving portions arranged in a cross shape, all the defocuses in each case where the measurement beam is irradiated at the four light incident points in order are detected, so that the number of light receiving portions is reduced. Autofocus control without blind spots by irradiating measurement beams from four directions can be realized without increasing the power consumption.

【0022】請求項4の発明は、請求項3において、前
記4つの受光部が、それぞれに内側の受光センサと外側
の受光センサとに分割されており、それにより前記焦点
ずれ検出手段が8分割のセンサアレイよりなることを特
徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in the third aspect, the four light receiving portions are respectively divided into an inner light receiving sensor and an outer light receiving sensor, whereby the defocus detecting means is divided into eight. Characterized by comprising a sensor array of

【0023】この発明では、十字に配置した各受光部
を、内側の受光センサと外側の受光センサとに分割して
いるので、ピントが大きく外れている場合(つまり受光
スポットが外側の受光センサ上にある場合)と、ピント
の外れ方が小さくなった場合(つまり受光スポットが内
側の受光センサ上にある場合)とで、区別した制御を行
うことができる。
According to the present invention, each light receiving portion arranged in a cross is divided into an inner light receiving sensor and an outer light receiving sensor. ) And when the degree of defocusing is small (that is, when the light receiving spot is on the inner light receiving sensor), it is possible to perform control separately.

【0024】例えば、片方の受光部上に受光スポットが
形成されていることに基づいてピント合わせを行ってい
る段階で合焦点に近づいてくると、正規の受光スポット
以外のゴースト像が、反対側に位置する受光部の外側受
光センサ上に形成されることがある。そのような場合、
ゴースト像の影響を取り除いてやらないと、適正なオー
トフォーカス制御ができなくなる。そこで、合焦点に近
づいた段階で、敢えて外側の受光センサの信号を無視し
(切り離して)、内側の受光センサの信号だけで、合焦
点まで焦点合わせ制御を行うのである。このようにする
ことで、精度の良いオートフォーカス制御を高い応答性
で行うことができるようになる。
For example, when the camera approaches the focal point while focusing is being performed based on the formation of a light receiving spot on one of the light receiving portions, a ghost image other than the regular light receiving spot is shifted to the opposite side. May be formed on the light receiving sensor outside the light receiving unit located at the position indicated by the arrow mark. In such a case,
Unless the effects of the ghost image are removed, proper autofocus control cannot be performed. Therefore, at the stage of approaching the focal point, the signal of the outer light receiving sensor is deliberately ignored (separated), and the focusing control is performed up to the focal point only by the signal of the inner light receiving sensor. By doing so, accurate autofocus control can be performed with high responsiveness.

【0025】請求項5の発明は、請求項1〜4のいずれ
かにおいて、前記制御手段が、1つの入光点にて測定ビ
ームを照射して得た焦点ずれ検出手段の信号の有効性を
評価し、該信号が無効であると評価した場合は、その信
号を不採用として、測定ビーム照射機構に制御信号を送
り、測定ビームの入光点を次の順番の入光点に移動する
ことを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in any one of the first to fourth aspects, the control means determines the validity of the signal of the defocus detection means obtained by irradiating the measurement beam at one light incident point. If the signal is evaluated to be invalid, the signal is rejected and a control signal is sent to the measurement beam irradiation mechanism to move the light incident point of the measurement beam to the next light incident point in the next order. It is characterized by.

【0026】この発明では、4方向から測定ビームを順
番に被検物体に照射してオートフォーカス制御を行う際
に、各入光点にて測定ビームを照射した段階において検
出信号の有効性を評価し、無効な信号の場合はその信号
を不採用として、次の入光点に移動するようにしている
ので、死角となる方向からの測定ビームの照射によって
得た信号を無効データとして排除することができ、それ
により被検物体の表面形状によらず、適正なオートフォ
ーカス制御を行うことができる。
According to the present invention, the effectiveness of the detection signal is evaluated at the stage of irradiating the measurement beam at each light incident point when performing the autofocus control by irradiating the measurement object sequentially from four directions to the test object. However, in the case of an invalid signal, the signal is rejected and moved to the next light incident point.Therefore, the signal obtained by irradiating the measurement beam from the direction of the blind spot should be excluded as invalid data. Accordingly, appropriate autofocus control can be performed regardless of the surface shape of the test object.

【0027】[0027]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図1は実施形態のオートフォーカス
装置を含む顕微鏡の概略構成図、図2は対物レンズの入
射面における測定ビームの入光点の位置を示す図、図3
は焦点ずれ検出手段としてのセンサアレイの平面図であ
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a microscope including an autofocus device according to an embodiment, FIG. 2 is a diagram illustrating a position of a light incident point of a measurement beam on an incident surface of an objective lens, and FIG.
FIG. 3 is a plan view of a sensor array as a defocus detecting unit.

【0028】この顕微鏡の観察光学系は、対物レンズ1
と、接眼レンズ9と、対物レンズ1を通した光学像を接
眼レンズ9に導く第1、第2ビームスプリッタ5、7
と、接眼レンズ9にセットされたカメラ20とからな
る。第1ビームスプリッタ5は、対物レンズ1の光軸K
に対して45度の傾きでセットされている。
The observation optical system of this microscope includes an objective lens 1
, An eyepiece 9, and first and second beam splitters 5 and 7 for guiding an optical image passing through the objective lens 1 to the eyepiece 9.
And a camera 20 set on the eyepiece 9. The first beam splitter 5 has an optical axis K of the objective lens 1.
Is set at an inclination of 45 degrees.

【0029】また、観察照明系は、図示しない照明光源
からの光を導く光ファイバ30と、該光ファイバ30か
ら出射される照明光を反射する第3ビームスプリッタ8
とを備えている。第3ビームスプリッタ8で反射された
照明光は、第2ビームスプリッタ7を透過して、第1ビ
ームスプリッタ5で反射された後、対物レンズ1を通し
て被検物体2に照射される。
The observation illumination system comprises an optical fiber 30 for guiding light from an illumination light source (not shown), and a third beam splitter 8 for reflecting illumination light emitted from the optical fiber 30.
And The illumination light reflected by the third beam splitter 8 is transmitted through the second beam splitter 7, reflected by the first beam splitter 5, and radiated to the object 2 through the objective lens 1.

【0030】第1ビームスプリッタ5の上には、第4ビ
ームスプリッタ6が配置され、その上にはウェッジプリ
ズム12が配置され、ウェッジプリズム12の上には、
オートフォーカス制御を行うための測定ビームとして1
本のレーザ光を出射するレーザ光源(測定ビーム照射
源)15が配置されている。レーザ光源15としては、
赤色半導体レーザやHeNeレーザを用いることができ
る。
On the first beam splitter 5, a fourth beam splitter 6 is disposed, on which a wedge prism 12 is disposed, and on the wedge prism 12,
1 as a measurement beam for performing autofocus control
A laser light source (measurement beam irradiation source) 15 for emitting the laser light is arranged. As the laser light source 15,
A red semiconductor laser or a HeNe laser can be used.

【0031】このオートフォーカス装置では、対物レン
ズ1の光軸Kから外れた位置を入光点として、対物レン
ズ1を通して被検物体2に、焦点合わせのためのレーザ
光L1を照射するようにしている。この場合、レーザ光
源15から出射されたレーザ光L1は、ウェッジプリズ
ム12及び第4ビームスプリッタ6を通過し、対物レン
ズ1の入射面1Aに到達する。そして、対物レンズ1上
の入光点から対物レンズ1を通して被検物体2に照射さ
れたレーザ光L1は、被検物体2上で反射し、その反射
光L2が、対物レンズ1及び第1ビームスプリッタ5を
逆進し、第4ビームスプリッタ6で対物レンズ1の光軸
Kに対して直交する方向に反射されてセンサアレイ10
に導かれ、センサアレイ10の受光面上にレーザスポッ
トを形成する。
In this auto-focusing device, a laser beam L1 for focusing is applied to the test object 2 through the objective lens 1 with a position deviating from the optical axis K of the objective lens 1 as a light incident point. I have. In this case, the laser light L1 emitted from the laser light source 15 passes through the wedge prism 12 and the fourth beam splitter 6, and reaches the incident surface 1A of the objective lens 1. Then, the laser beam L1 applied to the test object 2 from the light incident point on the objective lens 1 through the objective lens 1 is reflected on the test object 2, and the reflected light L2 is reflected by the objective lens 1 and the first beam. The light beam travels backward through the splitter 5 and is reflected by the fourth beam splitter 6 in a direction orthogonal to the optical axis K of the objective lens 1 so that the sensor array 10
To form a laser spot on the light receiving surface of the sensor array 10.

【0032】特に、このオートフォーカス装置では、図
2に示すように、対物レンズ1の入射面1Aの光軸Kを
中心とする同一円周M上に、円周方向に90度間隔に4
つの入光点A、B、C、Dを設定しており、これら4つ
の入光点A、B、C、Dにおいて順番にレーザ光L1を
被検物体2に照射することで、オートフォーカス制御を
行うようになっている。
In particular, in this autofocusing device, as shown in FIG. 2, four points are formed on the same circumference M around the optical axis K of the entrance surface 1A of the objective lens 1 at intervals of 90 degrees in the circumferential direction.
Auto-focus control is performed by sequentially irradiating the object 2 with the laser beam L1 at the four light-entering points A, B, C, and D at these four light-entering points A, B, C, and D. It is supposed to do.

【0033】この場合の4つの入光点A、B、C、D
は、対物レンズ1の入射面1A上に仮想的に設定した、
光軸Kを直交点とするX−Y軸と、前記円周Mとの交点
として定義されている。従って、一対の入光点A、Cは
X軸上に位置し、もう一対の入光点B、DはY軸上に位
置する。
In this case, the four incident points A, B, C, and D
Is virtually set on the incident surface 1A of the objective lens 1,
It is defined as the intersection of the XY axis with the optical axis K as the orthogonal point and the circumference M. Accordingly, a pair of light incident points A and C are located on the X axis, and another pair of light incident points B and D are located on the Y axis.

【0034】4つの入光点A、B、C、Dに順番にレー
ザ光L1を入射させる方式として、このオートフォーカ
ス装置では、ウェッジプリズム12を用いている。ウェ
ッジプリズム12を回転機構31で回転させると、レー
ザ光L1は光軸Kを中心として回転する。そこで、ウェ
ッジプリズム12によってレーザ光L1を回転させるこ
とにより、前記4つの入光点A、B、C、Dをレーザ光
L1がこの順番にトレースするようにしている。また、
4つの入光点A、B、C、Dをレーザ光L1が通過する
タイミングを検出するために、ウェッジプリズム12に
はその回転位置を検出する回転位置センサ(=回転角セ
ンサ)32が付設されている。
The wedge prism 12 is used in this autofocus device as a method for sequentially irradiating the laser light L1 to the four light incident points A, B, C and D. When the wedge prism 12 is rotated by the rotation mechanism 31, the laser light L1 rotates around the optical axis K. Therefore, by rotating the laser beam L1 by the wedge prism 12, the laser beam L1 traces the four incident points A, B, C, and D in this order. Also,
In order to detect the timing at which the laser light L1 passes through the four light incident points A, B, C and D, the wedge prism 12 is provided with a rotation position sensor (= rotation angle sensor) 32 for detecting the rotation position thereof. ing.

【0035】ここでは、ウェッジプリズム12と、ウェ
ッジプリズム12を回転させる回転機構31と、測定ビ
ームであるレーザ光L1を出射するレーザ光源15と
が、4つの入光点A、B、C、Dにて順番にレーザ光L
1を被検物体2に向けて照射する測定ビーム照射機構を
構成している。
Here, the wedge prism 12, a rotation mechanism 31 for rotating the wedge prism 12, and a laser light source 15 for emitting a laser beam L1 as a measurement beam are provided at four light incident points A, B, C, and D. In order laser light L
1 constitutes a measurement beam irradiation mechanism for irradiating the object 1 to the test object 2.

【0036】一方、センサアレイ10は、被検物体2か
ら対物レンズ1を通して導かれるレーザ反射光L2を受
光し、受光面上に形成される受光スポットの位置によ
り、対物レンズ1の焦点位置からの被検物体2の焦点ず
れを検出する焦点ずれ検出手段を構成している。
On the other hand, the sensor array 10 receives the laser reflected light L2 guided from the test object 2 through the objective lens 1 and determines the position of the light receiving spot formed on the light receiving surface from the focal position of the objective lens 1 based on the position of the light receiving spot. It constitutes a defocus detecting means for detecting a defocus of the test object 2.

【0037】このセンサアレイ10は、図3に示すよう
に、十字に配置された4つの受光部E、F、G、Hを備
えており、直線上に並んだ2つの受光部E、Fまたは
G、Hの組み合わせにより、1つの入光点にて被検物体
2にレーザ光L1を照射した際の反射光L2を受ける1
つの検出手段の機能を果たす。つまり、第1の入光点A
で測定する場合は受光部E、Fの組み合わせが検出機能
を果たし、第2の入光点Bで測定する場合は受光部G、
Hの組み合わせが検出機能を果たし、第3の入光点Cで
測定する場合は受光部E、Fの組み合わせが検出機能を
果たし、第4の入光点Dで測定する場合は受光部G、H
の組み合わせが検出機能を果たす。従って、直線上に並
ぶ2つの受光部E、FまたはG、Hの組み合わせが、1
80度対向した位置にある2つの入光点A、Cまたは
B、Dにてそれぞれレーザ光L1を照射した際の焦点ず
れを検出する各検出手段を兼ねている。
As shown in FIG. 3, the sensor array 10 includes four light receiving portions E, F, G, and H arranged in a cross shape, and two light receiving portions E, F, or The combination of G and H receives the reflected light L2 when the test object 2 is irradiated with the laser light L1 at one incident point.
It performs the function of two detection means. That is, the first light incident point A
When measuring at the second light receiving point B, the combination of the light receiving sections E and F performs the detection function.
When the combination of H performs the detection function, and the measurement is performed at the third light incident point C, the combination of the light receiving units E and F performs the detection function. When the measurement is performed at the fourth light incident point D, the light receiving unit G, H
Perform the detection function. Therefore, the combination of the two light receiving units E and F or G and H arranged on a straight line is 1
It also serves as each detecting means for detecting the defocus when the laser light L1 is irradiated at the two light incident points A and C or B and D located at positions facing each other by 80 degrees.

【0038】センサアレイ10上には、対物レンズ1の
入射面1A上に設定したX−Y軸に対応したX−Y軸が
仮想的に設定されており、このX−Y軸上に十字状に4
つの受光部E、F、G、Hが配置されている。これらペ
アをなすために直線上(X軸上またはY軸上)に並んだ
2つの受光部E、F(またはG、H)は、合焦時には2
つの受光部E、F(またはG、H)の中間点(X−Y軸
の原点O)に受光スポットが形成され、前ピン時には一
方の受光部上に受光スポットが形成され、後ピン時には
他方の受光部上に受光スポットが形成されるような位置
関係で配置されている。
An XY axis corresponding to the XY axis set on the incident surface 1A of the objective lens 1 is virtually set on the sensor array 10, and a cruciform is set on the XY axis. To 4
The two light receiving units E, F, G, and H are arranged. To form these pairs, two light receiving units E and F (or G and H) arranged on a straight line (on the X axis or the Y axis) are 2
A light receiving spot is formed at an intermediate point (origin O of the XY axis) between the two light receiving portions E and F (or G and H), a light receiving spot is formed on one light receiving portion at the time of front focus, and the other at the time of rear focus. Are arranged in a positional relationship such that a light-receiving spot is formed on the light-receiving portion.

【0039】各受光部E、F、G、Hは、それぞれに外
側の受光センサE1、F1、G1、H1と内側の受光セ
ンサE2、F2、G2、H2とに2分割されており、そ
れにより、センサアレイ10は8分割タイプとして構成
されている。この場合、内側の受光センサE2、F2、
G2、H2は、相互にできるだけ接近するように、先端
が三角形になっている。
Each of the light receiving sections E, F, G, H is divided into two parts: an outer light receiving sensor E1, F1, G1, H1 and an inner light receiving sensor E2, F2, G2, H2. , The sensor array 10 is configured as an eight-segment type. In this case, the inner light receiving sensors E2, F2,
G2 and H2 have triangular tips so that they are as close to each other as possible.

【0040】また、このオートフォーカス装置は、対物
レンズ1をフォーカス駆動する(対物レンズ1を被検物
体2に対して近づけたり離したりする)ための駆動機構
33を備えている。この駆動機構は、DCサーボモータ
またはステッピングモータと精密ネジや精密ギアなどで
構成されている(図示略)。
The auto-focusing device also has a drive mechanism 33 for driving the objective lens 1 in focus (to move the objective lens 1 closer to or away from the test object 2). This drive mechanism is composed of a DC servo motor or a stepping motor, a precision screw, a precision gear, and the like (not shown).

【0041】また、このオートフォーカス装置は、セン
サアレイ10の信号に基づいて駆動機構33を制御し、
それにより、被検物体2上の対象点に対物レンズ1の焦
点を合わせる制御装置(制御手段)35を備えている。
This autofocus device controls the driving mechanism 33 based on the signal of the sensor array 10,
Accordingly, a control device (control means) 35 for focusing the objective lens 1 on a target point on the test object 2 is provided.

【0042】この制御装置35は、各入光点A、B、
C、Dにおけるレーザ光L1の照射毎に、センサアレイ
10の信号を取り込むように、ウェッジプリズム回転位
置センサ32の信号を監視している。また、この制御装
置35は、1つの入光点にてレーザ光L1を照射して得
たセンサアレイ10の信号の有効性を評価し、該信号が
無効であると評価した場合は、その信号を不採用とし
て、ウェッジプリズム回転機構31に駆動制御信号を送
り、レーザ光L1の入光点を次の順番の入光点に移動す
る機能を果たす。入光点を移動する順番は、A→B→C
→Dの順になっている。
The control unit 35 controls the light incident points A, B,
The signal of the wedge prism rotational position sensor 32 is monitored so as to capture the signal of the sensor array 10 every time the laser beam L1 is irradiated in C and D. The control device 35 evaluates the validity of the signal of the sensor array 10 obtained by irradiating the laser beam L1 at one incident point, and when the signal is evaluated to be invalid, the signal is evaluated. Is not adopted, a drive control signal is sent to the wedge prism rotating mechanism 31 to perform the function of moving the light incident point of the laser beam L1 to the next light incident point. The order of moving the light incident point is A → B → C
→ The order is D.

【0043】次に、この制御装置35によって実行され
るオートフォーカス制御の原理を図4を用いて説明す
る。最初に、第1の入光点Aにてレーザ光L1を被検物
体2に照射する場合の制御の仕方を説明する。この場合
は、ビームスプリッタ6の反射光L2をセンサアレイ1
0が受光する関係で、X軸上に並ぶ4つの受光センサE
1、E2、F1、F2が有効となる。
Next, the principle of the auto focus control executed by the control device 35 will be described with reference to FIG. First, a control method when the test object 2 is irradiated with the laser beam L1 at the first light incident point A will be described. In this case, the reflected light L2 of the beam splitter 6 is transmitted to the sensor array 1
Four light receiving sensors E arranged on the X-axis because 0 is received
1, E2, F1, and F2 are valid.

【0044】入光点Aでレーザ光L1を対物レンズ1に
入射させた場合、X軸上に並ぶ4つの受光センサE1、
E2、F1、F2の上に受光スポットSP(SPf、S
Pb)が形成される。その受光スポットは、前ピン状態
のときは一方側の受光センサE1、E2上に形成され、
後ピン状態のときは他方側の受光センサF1、F2上に
形成される。
When the laser beam L1 is incident on the objective lens 1 at the light incident point A, four light receiving sensors E1 arranged on the X axis,
The light receiving spot SP (SPf, S) is placed on E2, F1, F2.
Pb) is formed. The light receiving spot is formed on one of the light receiving sensors E1 and E2 when the front focus state is set,
In the rear focus state, it is formed on the light receiving sensors F1 and F2 on the other side.

【0045】即ち、図4に示すように、対物レンズ1が
適正なピント位置F〔図14(a)参照〕にあるときに
は、受光スポットSPは2つの受光部E(受光センサE
1、E2)、F(受光センサF1、F2)の中間点Oに
て点像となるが、前ピン位置F+ΔF〔図14(a)参
照〕にあるときには、受光スポットSPfは、中間点O
から前ピン側の受光部E(受光センサE1、E2)上に
ずれてボケ像となり、後ピン位置F−ΔF〔図14
(a)参照〕にあるときには、受光スポットSPbは、
中間点Oから後ピン側の受光部F(受光センサF1、F
2)上にずれてボケ像となる。
That is, as shown in FIG. 4, when the objective lens 1 is at an appropriate focus position F (see FIG. 14A), the light receiving spot SP is divided into two light receiving portions E (light receiving sensors E
1, E2) and F (light receiving sensors F1 and F2) form a point image at an intermediate point O. When the front focus position is F + ΔF (see FIG. 14A), the light receiving spot SPf is at the intermediate point O.
14 is shifted to the light receiving section E (light receiving sensors E1 and E2) on the front pin side to form a blurred image, and the rear focus position F-ΔF [FIG.
(Refer to (a))], the light receiving spot SPb is
The light receiving section F (light receiving sensors F1, F
2) The image is shifted upward and becomes a blurred image.

【0046】そこで、前ピン状態であるときには、後ピ
ン側になるように焦点合わせが行われることにより、一
方側の受光部E(受光センサE1、E2)上に形成され
ていた受光スポットSPfの位置が、2つの受光部E、
Fの中間点Oに向けて移動する。そして、その中間点O
に受光スポットSPが到達したら、焦点合わせ動作が停
止し、その状態で被検物体2に対物レンズ1の焦点が合
う。また、後ピン状態であるときには、前ピン側になる
ように焦点合わせが行われることにより、他方側の受光
部F(受光センサF1、F2)上に形成されていた受光
スポットSPbの位置が、2つの受光部E、Fの中間点
Oに向けて移動する。そして、その中間点Oに受光スポ
ットSPが到達したら、焦点合わせ動作が停止し、その
状態で被検物体2に対物レンズ1の焦点が合う。このよ
うに、ピント位置の変化により、受光スポットSPは2
つの受光部E、Fが配置されている直線上を移動するこ
とになる。
Therefore, in the front focus state, focusing is performed so as to be on the rear focus side, so that the light receiving spot SPf formed on the light receiving portion E (light receiving sensors E1, E2) on one side is focused. The position is two light receiving sections E,
It moves toward the middle point O of F. And the midpoint O
Is reached, the focusing operation is stopped, and in this state, the object 2 is focused on the test object 2. Also, in the rear focus state, focusing is performed so as to be on the front focus side, so that the position of the light receiving spot SPb formed on the light receiving unit F (light receiving sensors F1 and F2) on the other side is changed. It moves toward the intermediate point O between the two light receiving units E and F. When the light receiving spot SP reaches the intermediate point O, the focusing operation is stopped, and the object 2 is focused on the object 2 in that state. As described above, the light receiving spot SP becomes 2 due to the change of the focus position.
It moves on a straight line where the two light receiving units E and F are arranged.

【0047】次に180度対向した位置にある第3の入
光点Cでレーザ光L1を入射させた場合を考えてみる。
この場合も、ビームスプリッタ6の反射光L2をセンサ
アレイ10が受光する関係で、X軸上に並ぶ4つの受光
センサE1、E2、F1、F2が有効となり、これらの
受光センサE1、E2、F1、F2上に受光スポットが
形成される。つまり、前記の第1の入光点Aで測定する
場合と同じセンサを使うことになる。但し、この場合
は、2つの受光部E(受光センサE1、E2)、F(受
光センサF1、F2)の役割が逆転する。即ち、入光点
が180度反転した位置に切り替わることで、入光点A
でレーザ光L1を入射したときは前ピン用として機能し
ていた受光部E(受光センサE1、E2)が、今度は後
ピン用として機能し、後ピン用として機能していた受光
部F(受光センサF1、F2)が、今度は前ピン用とし
て機能するようになる。それにより、前記と同じ合焦動
作が行われる。
Next, let us consider a case where the laser beam L1 is incident at the third light incident point C located at a position facing 180 degrees.
Also in this case, the four light receiving sensors E1, E2, F1, and F2 arranged on the X axis become effective because the reflected light L2 of the beam splitter 6 is received by the sensor array 10, and these light receiving sensors E1, E2, and F1 are effective. , F2, light receiving spots are formed. That is, the same sensor as that used for measurement at the first light incident point A is used. However, in this case, the roles of the two light receiving units E (light receiving sensors E1, E2) and F (light receiving sensors F1, F2) are reversed. That is, the light incident point is switched to a position that is inverted by 180 degrees, so that the light incident point A
When the laser beam L1 is incident on the light receiving unit E (light receiving sensors E1 and E2) functioning for the front focus, the light receiving unit F (functioning for the rear focus this time and functioning for the rear focus) is used. The light receiving sensors F1 and F2) now function for the front focus. Thereby, the same focusing operation as described above is performed.

【0048】また、第1、第3の入光点A、Cに対して
90度ずれた位置にある第2、第4の入光点B、Dでレ
ーザ光L1を照射する場合もほぼ同様である。
The same applies to the case where the laser light L1 is irradiated at the second and fourth light incident points B and D, which are at positions shifted by 90 degrees from the first and third light incident points A and C. It is.

【0049】この場合は、Y軸上に並ぶ4つの受光セン
サG1、G2、H1、H2が有効となり、第2の入光点
Bでレーザ光L1を対物レンズ1に入射させた場合は、
これら4つの受光センサG1、G2、H1、H2上に受
光スポットが形成される。その受光スポットは、前ピン
状態のときは一方側の受光センサG1、G2上に形成さ
れ、後ピン状態のときは他方側の受光センサH1、H2
上に形成される。
In this case, the four light receiving sensors G1, G2, H1, H2 arranged on the Y axis become effective, and when the laser beam L1 is incident on the objective lens 1 at the second light incident point B,
Light receiving spots are formed on these four light receiving sensors G1, G2, H1, and H2. The light receiving spot is formed on one of the light receiving sensors G1 and G2 when in the front focus state, and is formed on the other light receiving sensor H1 and H2 when in the rear focus state.
Formed on top.

【0050】そして、対物レンズ1が適正なピント位置
にあるときには、受光スポットは2つの受光部G(受光
センサG1、G2)、H(受光センサH1、H2)の中
間点Oにて点像となり、前ピン位置にあるときには、受
光スポットは、中間点Oから前ピン側の受光部G(受光
センサG1、G2)上にずれてボケ像となり、後ピン位
置にあるときには、受光スポットは、中間点Oから後ピ
ン側の受光部H(受光センサH1、H2)上にずれてボ
ケ像となる。
When the objective lens 1 is at an appropriate focus position, the light receiving spot becomes a point image at an intermediate point O between the two light receiving portions G (light receiving sensors G1 and G2) and H (light receiving sensors H1 and H2). When at the front focus position, the light receiving spot is shifted from the intermediate point O onto the front light receiving portion G (light receiving sensors G1 and G2) on the front focus side and becomes a blurred image. The image is shifted from the point O onto the light receiving portion H (light receiving sensors H1 and H2) on the rear focus side to form a blurred image.

【0051】そこで、前ピン状態であるときには、後ピ
ン側になるように焦点合わせが行われることにより、一
方側の受光部G(受光センサG1、G2)上に形成され
ていた受光スポットの位置が、2つの受光部G、Hの中
間点Oに向けて移動する。そして、その中間点Oに受光
スポットが到達したら、焦点合わせ動作が停止し、その
状態で被検物体2に対物レンズ1の焦点が合う。また、
後ピン状態であるときには、前ピン側になるように焦点
合わせが行われることにより、他方側の受光部H(受光
センサH1、H2)上に形成されていた受光スポットの
位置が、2つの受光部G、Hの中間点Oに向けて移動す
る。そして、その中間点Oに受光スポットが到達した
ら、焦点合わせ動作が停止し、その状態で被検物体2に
対物レンズ1の焦点が合う。このように、ピント位置の
変化により、受光スポットは2つの受光部G、Hが配置
されている直線上を移動することになる。
Therefore, in the front focus state, the focusing is performed so as to be on the rear focus side, so that the position of the light receiving spot formed on the light receiving portion G (light receiving sensor G1, G2) on one side. Moves toward the intermediate point O between the two light receiving units G and H. When the light receiving spot reaches the intermediate point O, the focusing operation is stopped, and in this state, the object 2 is focused on the test object 2. Also,
In the rear focus state, focusing is performed so as to be on the front focus side, so that the positions of the light receiving spots formed on the light receiving portions H (light receiving sensors H1 and H2) on the other side are two light receiving spots. It moves toward the intermediate point O between the parts G and H. When the light receiving spot reaches the intermediate point O, the focusing operation is stopped, and in this state, the object 2 is focused on the test object 2. As described above, the light receiving spot moves on the straight line on which the two light receiving sections G and H are arranged due to the change of the focus position.

【0052】同様に第4の入光点Dでレーザ光L1を入
射させた場合は、2つの受光部G(受光センサG1、G
2)、H(受光センサH1、H2)の役割が逆転し、受
光部G(受光センサG1、G2)が今度は後ピン用とし
て機能し、受光部H(受光センサH1、H2)が今度は
前ピン用として機能し、それにより、前記と同じ合焦動
作が行われる。
Similarly, when the laser beam L1 is incident on the fourth light incident point D, the two light receiving portions G (light receiving sensors G1, G
2), the roles of H (light-receiving sensors H1 and H2) are reversed, light-receiving portion G (light-receiving sensors G1 and G2) now functions for rear focus, and light-receiving portion H (light-receiving sensors H1 and H2) is now It functions for the front focus, thereby performing the same focusing operation as described above.

【0053】いずれにしろ、十字に配置した受光部E、
F、G、Hの組み合わせにより、4つの入光点A、B、
C、Dにて順番にレーザ光L1を照射した各場合の焦点
ずれを全て検知することができる。
In any case, the light receiving portions E arranged in a cross shape,
By the combination of F, G, and H, four light incident points A, B,
It is possible to detect all the defocuses in each case where the laser light L1 is irradiated in order at C and D.

【0054】また、このセンサアレイ10では、十字に
配置した各受光部E、F、G、Hがそれぞれ外側の受光
センサE1、F1、G1、H1と内側の受光センサE
2、F2、G2、H2とに分割されているから、ピント
が大きく外れている場合(つまり受光スポットが外側の
受光センサE1、F1、G1、H1上にある場合)と、
ピントの外れ方が小さくなった場合(つまり受光スポッ
トが内側の受光センサE2、F2、G2、H2上にある
場合)とで、区別した制御ができる。
In this sensor array 10, the light receiving units E, F, G, and H arranged in a cross form the outer light receiving sensors E1, F1, G1, and H1, and the inner light receiving sensor E, respectively.
2, F2, G2, and H2, the image is largely out of focus (that is, the light receiving spot is on the outer light receiving sensors E1, F1, G1, and H1);
Different control can be performed when the degree of defocusing is reduced (that is, when the light receiving spot is on the inner light receiving sensors E2, F2, G2, and H2).

【0055】例えば、図5に示すように、片方の受光部
F上に受光スポットSPが形成されていることに基づい
てピント合わせを行っている段階で合焦点Oに近づいて
くると、正規の受光スポットSP以外のゴースト像SP
gが、同じ側や反対側に位置する受光部E、Fの外側受
光センサE1上に形成されることがある。
For example, as shown in FIG. 5, when the camera approaches the focal point O during focusing while the light receiving spot SP is formed on one of the light receiving portions F, a regular Ghost image SP other than light receiving spot SP
g may be formed on the outer light receiving sensor E1 of the light receiving units E and F located on the same side or the opposite side.

【0056】そのような場合、ゴースト像SPgもセン
サの受光信号の中に当然含まれてくるから、その影響を
取り除いてやらないと、適正なオートフォーカス制御が
できなくなる。
In such a case, since the ghost image SPg is naturally included in the light receiving signal of the sensor, proper autofocus control cannot be performed unless the influence is removed.

【0057】図示例では、受光部F側から中間位置(合
焦位置)Oへ受光スポットSPを追い込もうとしている
が、場合によって受光部E側にゴースト像SPgが現れ
る。このゴースト像SPgは、受光部E側から中間位置
Oに向かって動き、ゴースト像SPgもセンサ値に含ま
れてくるため、適正な制御ができなくなる。
In the illustrated example, the light receiving spot SP is about to be driven from the light receiving portion F side to the intermediate position (focus position) O, but a ghost image SPg appears on the light receiving portion E side in some cases. The ghost image SPg moves from the light receiving unit E side toward the intermediate position O, and the ghost image SPg is also included in the sensor value, so that appropriate control cannot be performed.

【0058】そこで、合焦点に近づいた段階で、つま
り、受光スポットSPが内側の受光センサ上に移動して
来た段階で、敢えて外側の受光センサの信号を無視し
て、内側の受光センサの信号だけで、合焦まで制御する
ようにする。このようにすることで、精度の良いオート
フォーカス制御を高い応答性で行うことができるように
なる。なお、ゴーストの影響は、特にコーティングが施
されている被検物体を観察する場合に無視できなくな
る。
Therefore, at the stage of approaching the focal point, that is, at the stage when the light receiving spot SP moves on the inner light receiving sensor, the signal of the outer light receiving sensor is deliberately ignored, and the signal of the inner light receiving sensor is ignored. Only signals are used to control until focusing. By doing so, accurate autofocus control can be performed with high responsiveness. In addition, the influence of the ghost cannot be ignored especially when observing the test object to which the coating is applied.

【0059】次に、このオートフォーカス装置の電気的
構成とその制御内容について説明する。
Next, the electrical configuration of the autofocus device and the control contents thereof will be described.

【0060】図8は電気的構成を示すブロック図であ
る。このオートフォーカス装置の制御装置35には、マ
イクロプロセッサ51と、各種センサの検出値をA/D
変換するA/D変換器52と、出力インターフェース5
3とが含まれている。マイクロプロセッサ51には、セ
ンサアレイ10の信号と、ウェッジプリズムの回転位置
センサ32の信号とが、A/D変換器52を介してリア
ルタイムで入力される。
FIG. 8 is a block diagram showing an electrical configuration. The control device 35 of the autofocus device includes a microprocessor 51 and A / D
A / D converter 52 for conversion and output interface 5
3 are included. The signal of the sensor array 10 and the signal of the rotational position sensor 32 of the wedge prism are input to the microprocessor 51 via the A / D converter 52 in real time.

【0061】マイクロプロセッサ51は、それらの信号
に基づいて、オートフォーカス駆動機構33のモータ5
6を制御すると共に、ウェッジプリズム回転機構31の
モータ57を制御することで、必要なオートフォーカス
制御を実行する。
The microprocessor 51 operates the motor 5 of the auto focus driving mechanism 33 based on these signals.
6 as well as the motor 57 of the wedge prism rotation mechanism 31 to execute necessary autofocus control.

【0062】次にマイクロプロセッサ51の制御動作に
ついて、フローチャートを用いて説明する。マイクロプ
ロセッサ51は、図9に示すAF(オートフォーカス)
制御のメインルーチン処理を実行する。このメインルー
チンでは、4つのサブルーチン100、200、30
0、400を順番に繰り返し実行する。これらのサブル
ーチン100、200、300、400では、4つの入
光点A、B、C、Dのそれぞれについてオートフォーカ
ス制御を行う。
Next, the control operation of the microprocessor 51 will be described with reference to a flowchart. The microprocessor 51 includes an AF (auto focus) shown in FIG.
The main routine of control is executed. In this main routine, four subroutines 100, 200, 30
Steps 0 and 400 are repeatedly executed in order. In these subroutines 100, 200, 300, and 400, auto focus control is performed for each of the four light incident points A, B, C, and D.

【0063】A点でのオートフォーカス制御は、図10
に示すフローチャートに従って実行する。まず、最初の
ステップ101で、ウェッジプリズム12を回転し、ウ
ェッジプリズム回転位置センサ32の信号を見ながら、
入光点をA点に設定する。次に、ステップ102でA点
でレーザ光L1を入射させた場合のセンサアレイ10の
信号を読み取る。この場合は、有効な受光センサがE
1、E2、F1、F2であるから、それらの信号e1、
e2、f1、f2を読み取る。そして、ステップ103
で「e1+e2」、「f1+f2」の値を演算する。
The auto focus control at the point A is shown in FIG.
Is executed according to the flowchart shown in FIG. First, in the first step 101, the wedge prism 12 is rotated, and while watching the signal of the wedge prism rotation position sensor 32,
The light incident point is set to point A. Next, in step 102, the signal of the sensor array 10 when the laser beam L1 is incident at the point A is read. In this case, the effective light receiving sensor is E
1, E2, F1, F2, their signals e1,
Read e2, f1, f2. And step 103
Calculate the values of "e1 + e2" and "f1 + f2".

【0064】次に読み取った信号e1、e2、f1、f
2が有効か無効かを判断する(ステップ104)。例え
ば、測定対象点が、照射したレーザ光L1から死角にな
っている場合は、これらの信号e1、e2、f1、f2
が正常な範囲(他のデータとの比較等により正常な範囲
が定められる)から外れるので、その場合は、それらの
データが無効であると判断して、データe1、e2、f
1、f2を捨てて(ステップ105)、メインルーチン
に戻る。そうすると、メインルーチンでは、入光点を次
の点に移動する(つまり「B点でのAF」のサブルーチ
ンに進む)。
Next, the read signals e1, e2, f1, f
It is determined whether 2 is valid or invalid (step 104). For example, when the measurement target point is in a blind spot from the irradiated laser beam L1, these signals e1, e2, f1, f2
Deviates from the normal range (a normal range is determined by comparison with other data, etc.). In that case, it is determined that those data are invalid and the data e1, e2, f
1, f2 is discarded (step 105), and the process returns to the main routine. Then, in the main routine, the light incident point is moved to the next point (that is, the process proceeds to the “AF at point B” subroutine).

【0065】前記のデータe1、e2、f1、f2が有
効であると判断した場合は、それらのデータに基づい
て、合焦であるかどうかを判断する(ステップ10
6)。合焦の判断は、「e1+e2=f1+f2」かど
うかで行う。合焦の場合は、ピント合わせ用のモータを
停止して(ステップ107)、メインルーチンに戻る。
If it is determined that the data e1, e2, f1, and f2 are valid, it is determined whether or not the image is in focus based on the data (step 10).
6). The focus is determined based on whether “e1 + e2 = f1 + f2”. In the case of focusing, the motor for focusing is stopped (step 107), and the process returns to the main routine.

【0066】合焦でない場合は、ステップ108で前ピ
ンか後ピンかを判断する。前ピンか後ピンかの判断は、
「e1+e2>f1+f2」かどうかで行う。A点での
AFの場合、「e1+e2>f1+f2」であれば前ピ
ン、「e1+e2<f1+f2」であれば後ピンと判定
する。
If it is not in focus, it is determined in step 108 whether the focus is on the front or the back. Judgment of front focus or rear focus is
The determination is made based on whether “e1 + e2> f1 + f2”. In the case of AF at point A, if “e1 + e2> f1 + f2”, it is determined to be the front focus, and if “e1 + e2 <f1 + f2”, it is determined to be the back focus.

【0067】そして、前ピンの場合は、ステップ109
でピント外れが大きい状態か小さい状態かを判断する。
その判断は、「e1>e2」かどうかで行う。ピント外
れが大きいときには、ステップ110に進んで、全速力
で後ピン側へモータを回して合焦点に近づける(この動
作を粗動AFという)。一方、ピント外れが小さいとき
には、あるいは、ピント外れが小さくなったら、ステッ
プ111に進んで、ゆっくりと後ピン側へモータを回し
て合焦点を探す(この動作を微動AFという)。
In the case of the previous pin, step 109
Is used to determine whether the state is large or small.
The determination is made based on whether or not “e1> e2”. If the out-of-focus is large, the process proceeds to step 110, in which the motor is rotated to the rear focus side at full speed to approach the focal point (this operation is referred to as coarse AF). On the other hand, when the defocus is small or when the defocus becomes small, the process proceeds to step 111, and the motor is slowly rotated to the rear focus side to search for a focal point (this operation is called fine movement AF).

【0068】ステップ110、111の次はステップ1
02に戻り、合焦点に徐々に近づくよう繰り返しセンサ
の信号e1、e2、f1、f2を見ながらモータを制御
して合焦点まで持っていく。
Following steps 110 and 111, step 1
Returning to 02, the motor is controlled and brought to the focal point while repeatedly watching the sensor signals e1, e2, f1, and f2 so as to gradually approach the focal point.

【0069】なお、ステップ111の処理に進んだ段階
において、外側の受光センサE1、F1のデータe1、
f1を「0」として無視するように設定すれば、ゴース
ト像の影響を排除したオートフォーカス制御を行うこと
ができる。
At the stage where the process has proceeded to step 111, the data e1, F1 of the outer light receiving sensors E1, F1
If f1 is set to "0" and ignored, autofocus control excluding the effect of the ghost image can be performed.

【0070】また、後ピンの場合は、ステップ108か
らステップ112に進んで、ピント外れが大きい状態か
小さい状態かを判断する。その判断は、「f1>f2」
かどうかで行う。ピント外れが大きいときには、ステッ
プ113に進んで、全速力で前ピン側へモータを回して
合焦点に近づける(粗動AF)。一方、ピント外れが小
さいときには、あるいは、ピント外れが小さくなった
ら、ステップ114に進んで、ゆっくりと前ピン側へモ
ータを回して合焦点を探す(微動AF)。
In the case of rear focus, the process proceeds from step 108 to step 112 to determine whether the state of defocus is large or small. The judgment is “f1> f2”
Whether to do. If the defocus is large, the process proceeds to step 113, in which the motor is turned to the front focus side at full speed to approach the focal point (coarse movement AF). On the other hand, when the out-of-focus is small or when the out-of-focus is small, the process proceeds to step 114, and the motor is slowly rotated to the front focus side to search for a focal point (fine movement AF).

【0071】ステップ113、114の次はステップ1
02に戻り、合焦点に徐々に近づくよう、繰り返しセン
サの信号e1、e2、f1、f2を見ながらモータを制
御して合焦点まで持っていく。
Following steps 113 and 114, step 1
Returning to 02, the motor is controlled and brought to the focal point while repeatedly watching the signals e1, e2, f1, and f2 of the sensor so as to gradually approach the focal point.

【0072】なお、前記と同様に、ステップ114の処
理に進んだ段階において、外側の受光センサE1、F1
のデータe1、f1を「0」として無視するように設定
すれば、ゴースト像の影響を排除したオートフォーカス
制御を行うことができる。
As described above, when the process proceeds to step 114, the outer light receiving sensors E1, F1
If the data e1 and f1 are set to "0" and ignored, it is possible to perform autofocus control excluding the influence of the ghost image.

【0073】次に、B点でのオートフォーカス制御は、
図11に示すフローチャートに従って実行する。B点で
の制御はA点での制御とほぼ同じであるが、使用するセ
ンサの信号が異なる。
Next, the auto focus control at the point B is as follows.
It is executed according to the flowchart shown in FIG. The control at the point B is almost the same as the control at the point A, but uses a different sensor signal.

【0074】まず、最初のステップ201で、ウェッジ
プリズム12を回転し、ウェッジプリズム回転位置セン
サ32の信号を見ながら、入光点をB点に設定する。次
に、ステップ202で、B点でレーザ光L1を入射させ
た場合のセンサアレイ10の信号を読み取る。この場合
は、有効な受光センサがG1、G2、H1、H2である
から、それらの信号g1、g2、h1、h2を読み取
る。そして、ステップ203で「g1+g2」、「h1
+h2」の値を演算する。
First, in a first step 201, the wedge prism 12 is rotated, and the light incident point is set to the point B while watching the signal of the wedge prism rotation position sensor 32. Next, in step 202, the signal of the sensor array 10 when the laser beam L1 is incident at the point B is read. In this case, since the effective light receiving sensors are G1, G2, H1, and H2, the signals g1, g2, h1, and h2 are read. Then, in step 203, “g1 + g2”, “h1
+ H2 "is calculated.

【0075】次に読み取った信号g1、g2、h1、h
2が有効か無効かを判断する(ステップ204)。例え
ば、測定対象点が、照射したレーザ光L1から死角にな
っている場合は、これらの信号g1、g2、h1、h2
が正常な範囲(他のデータとの比較等により正常な範囲
が定められる)から外れるので、その場合は、それらの
データが無効であると判断して、データg1、g2、h
1、h2を捨てて(ステップ205)、メインルーチン
に戻る。そうすると、メインルーチンでは、入光点を次
の点に移動する(つまり「C点でのAF」のサブルーチ
ンに進む)。
Next, the read signals g1, g2, h1, h
It is determined whether 2 is valid or invalid (step 204). For example, when the measurement target point is in a blind spot from the irradiated laser beam L1, these signals g1, g2, h1, h2
Deviates from the normal range (a normal range is determined by comparison with other data, etc.). In that case, it is determined that those data are invalid and the data g1, g2, h
1, h2 is discarded (step 205), and the process returns to the main routine. Then, in the main routine, the light incident point is moved to the next point (that is, the process proceeds to the “AF at point C” subroutine).

【0076】前記のデータg1、g2、h1、h2が有
効であると判断した場合は、それらのデータに基づい
て、合焦であるかどうかを判断する(ステップ20
6)。合焦の判断は、「g1+g2=h1+h2」かど
うかで行う。合焦の場合は、ピント合わせ用のモータを
停止して(ステップ207)、メインルーチンに戻る。
If it is determined that the data g1, g2, h1, and h2 are valid, it is determined whether or not the image is in focus based on the data (step 20).
6). The focus is determined based on whether “g1 + g2 = h1 + h2”. In the case of focusing, the motor for focusing is stopped (step 207), and the process returns to the main routine.

【0077】合焦でない場合は、ステップ208で前ピ
ンか後ピンかを判断する。前ピンか後ピンかの判断は、
「g1+g2>h1+h2」かどうかで行う。B点での
AFの場合、「g1+g2>h1+h2」であれば前ピ
ン、「g1+g2<h1+h2」であれば後ピンと判定
する。
If not in focus, it is determined in step 208 whether the focus is on the front or the back. Judgment of front focus or rear focus is
The determination is performed based on whether “g1 + g2> h1 + h2”. In the case of AF at the point B, if “g1 + g2> h1 + h2”, it is determined to be the front focus, and if “g1 + g2 <h1 + h2”, it is determined to be the back focus.

【0078】そして、前ピンの場合は、ステップ209
でピント外れが大きい状態か小さい状態かを判断する。
その判断は、「g1>g2」かどうかで行う。ピント外
れが大きいときには、ステップ210に進んで、全速力
で後ピン側へモータを回して合焦点に近づける(粗動A
F)。一方、ピント外れが小さいときには、あるいは、
ピント外れが小さくなったら、ステップ211に進ん
で、ゆっくりと後ピン側へモータを回して合焦点を探す
(微動AF)。
In the case of the previous pin, step 209
Is used to determine whether the state is large or small.
The determination is made based on whether “g1> g2”. If the defocus is large, the process proceeds to step 210, in which the motor is rotated to the rear focus side at full speed to approach the focal point (coarse movement A
F). On the other hand, when the defocus is small, or
When the defocus becomes small, the process proceeds to step 211, and the motor is slowly rotated to the rear focus side to search for a focal point (fine movement AF).

【0079】ステップ210、211の次はステップ2
02に戻り、合焦点に徐々に近づくよう繰り返しセンサ
の信号g1、g2、h1、h2を見ながらモータを制御
して合焦点まで持っていく。
Following steps 210 and 211, step 2
Returning to 02, the motor is controlled and brought to the focal point while repeatedly watching the signals g1, g2, h1, and h2 of the sensor so as to gradually approach the focal point.

【0080】なお、ステップ211の処理に進んだ段階
において、外側の受光センサG1、H1のデータg1、
g1を「0」として無視するように設定すれば、ゴース
ト像の影響を排除したオートフォーカス制御を行うこと
ができる。
At the stage where the process proceeds to step 211, the data g1 of the outer light receiving sensors G1 and H1,
If g1 is set to “0” and set to be ignored, it is possible to perform autofocus control excluding the influence of the ghost image.

【0081】また、後ピンの場合は、ステップ208か
らステップ212に進んで、ピント外れが大きい状態か
小さい状態かを判断する。その判断は、「g1>g2」
かどうかで行う。ピント外れが大きいときには、ステッ
プ213に進んで、全速力で前ピン側へモータを回して
合焦点に近づける(粗動AF)。一方、ピント外れが小
さいときには、あるいは、ピント外れが小さくなった
ら、ステップ214に進んで、ゆっくりと前ピン側へモ
ータを回して合焦点を探す(微動AF)。
In the case of back focus, the process proceeds from step 208 to step 212 to determine whether the out-of-focus state is large or small. The judgment is “g1> g2”
Whether to do. If the defocus is large, the process proceeds to step 213, in which the motor is turned to the front focus side at full speed to approach the focal point (coarse AF). On the other hand, when the out-of-focus is small or when the out-of-focus is small, the process proceeds to step 214, and the motor is slowly rotated to the front focus side to search for a focal point (fine movement AF).

【0082】ステップ213、214の次はステップ2
02に戻り、合焦点に徐々に近づくよう、繰り返しセン
サの信号g1、g2、h1、h2を見ながらモータを制
御して合焦点まで持っていく。
Steps 213 and 214 are followed by step 2
Returning to 02, the motor is controlled and brought to the focal point while repeatedly watching the signals g1, g2, h1, and h2 of the sensor so as to gradually approach the focal point.

【0083】なお、前記と同様に、ステップ214の処
理に進んだ段階において、外側の受光センサG1、H1
のデータg1、h1を「0」として無視するように設定
すれば、ゴースト像の影響を排除したオートフォーカス
制御を行うことができる。
As described above, when the process proceeds to step 214, the outer light receiving sensors G1, H1
If the data g1 and h1 are set to "0" and ignored, autofocus control excluding the influence of the ghost image can be performed.

【0084】次に、C点でのオートフォーカス制御は、
図12に示すフローチャートに従って実行する。C点で
の制御は、A点での制御とほぼ同じであり、使用するセ
ンサの信号も同じであるが、センサの役割が逆転する。
Next, the auto focus control at the point C is as follows.
This is executed according to the flowchart shown in FIG. The control at the point C is almost the same as the control at the point A, and the signal of the sensor to be used is the same, but the role of the sensor is reversed.

【0085】まず、最初のステップ301で、ウェッジ
プリズム12を回転し、ウェッジプリズム回転位置セン
サ32の信号を見ながら、入光点をC点に設定する。次
のステップ302からステップ307までの処理は、A
点での処理と同じであるから説明を省略する。
First, in the first step 301, the wedge prism 12 is rotated, and the light incident point is set to the point C while watching the signal of the wedge prism rotation position sensor 32. The processing from the next step 302 to step 307 is A
The description is omitted because it is the same as the processing in the point.

【0086】異なるのは、ステップ308での前ピンか
後ピンかの判断である。A点での処理の場合は、「e1
+e2>f1+f2」のとき前ピン、「e1+e2<f
1+f2」のとき後ピンと判断していたが、C点での処
理の場合はそれと逆転し、「e1+e2<f1+f2」
のとき前ピン、「e1+e2>f1+f2」のとき後ピ
ンと判断する。
The difference is in the determination of the front focus or the rear focus in step 308. In the case of the processing at the point A, "e1
+ E2> f1 + f2 ”, the previous pin,“ e1 + e2 <f
1 + f2 ”, it is determined that the back focus has occurred. However, in the case of the processing at the point C, the process is reversed, and“ e1 + e2 <f1 + f2 ”.
Is determined as a front focus, and when "e1 + e2> f1 + f2", it is determined as a rear focus.

【0087】そして、前ピンの場合は、ステップ309
にて「f1>f2」かどうかで、ピント外れが大きい状
態か小さい状態かを判断する。ピント外れが大きいとき
は、ステップ310に進んで、全速力で後ピン側へモー
タを回して合焦点に近づけ、ピント外れが小さい状態で
は、ステップ311に進んで、ゆっくりと後ピン側へモ
ータを回して合焦点を探す。
Then, in the case of the previous pin, step 309
It is determined whether or not "f1>f2" indicates that the defocus is large or small. If the defocus is large, proceed to step 310, rotate the motor to the rear focus side at full speed to approach the focal point. If the defocus is small, proceed to step 311 and slowly rotate the motor to the rear focus side. Search for the focal point.

【0088】また、後ピンの場合は、ステップ308に
て「e1>e2」かどうかで、ピント外れが大きい状態
か小さい状態かを判断する。ピント外れが大きいとき
は、ステップ313に進んで、全速力で後ピン側へモー
タを回して合焦点に近づけ、ピント外れが小さい状態で
は、ステップ314に進んで、ゆっくりと後ピン側へモ
ータを回して合焦点を探す。それ以外の点は、A点の処
理と同じである。
In the case of rear focus, it is determined in step 308 whether "e1>e2" indicates whether the defocus state is large or small. If the defocus is large, proceed to step 313, rotate the motor to the rear focus side at full speed to approach the focal point, and if the defocus is small, proceed to step 314 and slowly rotate the motor to the rear focus side. Search for the focal point. Other points are the same as the processing of the point A.

【0089】次に、D点でのオートフォーカス制御は、
図13に示すフローチャートに従って実行する。D点で
の制御は、B点での制御とほぼ同じであり、使用するセ
ンサの信号も同じであるが、センサの役割が逆転する。
Next, the auto focus control at the point D is as follows.
This is executed according to the flowchart shown in FIG. The control at the point D is almost the same as the control at the point B, and the signal of the sensor to be used is the same, but the role of the sensor is reversed.

【0090】まず、最初のステップ401で、ウェッジ
プリズム12を回転し、ウェッジプリズム回転位置セン
サ32の信号を見ながら、入光点をD点に設定する。次
のステップ402からステップ407までの処理は、B
点での処理と同じであるから説明を省略する。
First, in the first step 401, the wedge prism 12 is rotated, and the light incident point is set to the point D while observing the signal of the wedge prism rotation position sensor 32. The processing from the next step 402 to step 407 is B
The description is omitted because it is the same as the processing in the point.

【0091】異なるのは、ステップ408での前ピンか
後ピンかの判断である。B点での処理の場合は、「g1
+g2>h1+h2」のとき前ピン、「g1+g2<h
1+h2」のとき後ピンと判断していたが、D点での処
理の場合はそれと逆転し、「g1+g2<h1+h2」
のとき前ピン、「g1+g2>h1+h2」のとき後ピ
ンと判断する。
The difference is in the determination of the front focus or the rear focus in step 408. In the case of processing at the point B, “g1
+ G2> h1 + h2 ”, the front focus,“ g1 + g2 <h ”
1 + h2 ”, the rear focus is determined. However, in the case of the processing at the point D, the process is reversed and“ g1 + g2 <h1 + h2 ”.
Is determined as a front focus, and when "g1 + g2> h1 + h2", it is determined as a rear focus.

【0092】そして、前ピンの場合は、ステップ409
にて「h1>h2」かどうかで、ピント外れが大きい状
態か小さい状態かを判断する。ピント外れが大きいとき
は、ステップ410に進んで、全速力で後ピン側へモー
タを回して合焦点に近づけ、ピント外れが小さい状態で
は、ステップ411に進んで、ゆっくりと後ピン側へモ
ータを回して合焦点を探す。
In the case of the previous pin, step 409
It is determined whether or not "h1>h2" indicates that the defocus state is large or small. If the defocus is large, proceed to step 410, rotate the motor to the rear focus side at full speed to bring it closer to the focal point. If the defocus is small, proceed to step 411 and slowly rotate the motor to the rear focus side Search for the focal point.

【0093】また、後ピンの場合は、ステップ408に
て「g1>g2」かどうかで、ピント外れが大きい状態
か小さい状態かを判断する。ピント外れが大きいとき
は、ステップ413に進んで、全速力で後ピン側へモー
タを回して合焦点に近づけ、ピント外れが小さい状態で
は、ステップ414に進んで、ゆっくりと後ピン側へモ
ータを回して合焦点を探す。それ以外の点は、B点の処
理と同じである。
In the case of back focus, it is determined in step 408 whether "g1>g2" indicates whether the defocus state is large or small. If the defocus is large, proceed to step 413, rotate the motor to the rear focus side at full speed to approach the focal point, and if the defocus is small, proceed to step 414 and slowly rotate the motor to the rear focus side. Search for the focal point. Other points are the same as the processing of the point B.

【0094】以上のように、A点でのデータが無効の場
合はB点に切り替え、B点でのデータが無効の場合はC
点に切り替え、C点でのデータが無効の場合はD点に切
り替え、D点でのデータが無効の場合はA点に戻るよう
にして、4方向から順次レーザ光L1を照射するように
しているので、被検物体2の形状によらず、任意の測定
対象位置に、いずれかの方向から照射したレーザ光L1
を必ず届かせることができるので、死角を作らずにピン
トが合わせられる。
As described above, if the data at point A is invalid, switch to point B, and if the data at point B is invalid, C is used.
Switch to point, switch to point D if data at point C is invalid, return to point A if data at point D is invalid, and irradiate laser light L1 sequentially from four directions. Irrespective of the shape of the test object 2, the laser light L1 irradiating an arbitrary measurement target position from any direction
, So you can focus without making a blind spot.

【0095】例えば、図6(a)、(b)に示すよう
に、被検物体2に凸部2aが存在するような場合であっ
ても、A点、B点、C点、D点の4つの方向から被検物
体2に向けて順番にレーザ光L1A、L1B、L1C、
L1Dを照射することにより、図7(a)、(b)に示
すように、1つの方向からのレーザ光L1Aが凸部2a
の肩部に邪魔されて対象点MQまで届かないことがあっ
ても、他の方向からのレーザ光L1B、L1C、L1D
が対象点MQまで届くことにより、対象点MQに対物レ
ンズ1の焦点を確実に合わせることができる。
For example, as shown in FIGS. 6A and 6B, even when the object 2 has the convex portion 2a, the points A, B, C, and D Laser light L1A, L1B, L1C,
By irradiating L1D, as shown in FIGS. 7A and 7B, the laser light L1A from one direction is projected to the convex portion 2a.
Of the laser beam L1B, L1C, L1D from other directions even if it does not reach the target point MQ
Reaches the target point MQ, the objective lens 1 can be surely focused on the target point MQ.

【0096】なお、上述したように、通常は外側と内側
の受光センサE1、E2、F1、F2、G1、G2、H
1、H2の信号を全部使って、図9〜図13に示すフロ
ーチャートに従ってオートフォーカス制御(ワイド制
御)を行っているが、ピントずれの範囲が狭い範囲に限
定されている場合は、使用するセンサを内側の受光セン
サE2、F2、G2、H2に限定してオートフォーカス
制御(ナロー制御)を行うことも可能である。その場合
は、例えば外側の受光センサE1、F1、G1、H1の
信号e1、f1、g1、h1を「0」に固定してておけ
ばよい。
As described above, the outer and inner light receiving sensors E1, E2, F1, F2, G1, G2, H
The autofocus control (wide control) is performed in accordance with the flowcharts shown in FIGS. 9 to 13 using all the signals of H1 and H2. If the range of the focus shift is limited to a narrow range, the sensor to be used is used. Is limited to the light receiving sensors E2, F2, G2, and H2 on the inner side, and autofocus control (narrow control) can be performed. In that case, for example, the signals e1, f1, g1, and h1 of the outer light receiving sensors E1, F1, G1, and H1 may be fixed to “0”.

【0097】また、連続でオートフォーカス制御を実行
しながら、被検物体を搭載したステージなどを駆動させ
ると、散乱や穴などの影響で受光スポットがセンサアレ
イ10の受光部から外れてしまう可能性があるが、その
ような場合は、予めセンサの信号に閾値を設定してお
き、閾値を超えたときはオートフォーカス制御を中断す
るようにすればよい。
If the stage or the like on which the test object is mounted is driven while the auto-focus control is continuously performed, the light receiving spot may deviate from the light receiving portion of the sensor array 10 due to the influence of scattering, holes, and the like. However, in such a case, a threshold may be set in advance for the signal of the sensor, and when the signal exceeds the threshold, the autofocus control may be interrupted.

【0098】また、上記実施形態では、センサアレイ1
0の受光部E、F、G、Hの分割数を内側と外側の2分
割にした場合を示したが、分割数はこれに限らず任意に
設定してよい。
In the above embodiment, the sensor array 1
Although the case where the number of divisions of the light receiving units E, F, G and H of 0 is divided into two inside and outside is shown, the number of divisions is not limited to this and may be set arbitrarily.

【0099】[0099]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
4つの方向から対物レンズを介して測定ビームを被検物
体の表面に照射可能であるから、被検物体の表面に凹凸
がある場合であっても、いずれかの入光点からの測定ビ
ームを必ず被検物体上の対象点に届かせることができ、
その測定ビームに基づいて、適正なオートフォーカス制
御を行うことができる。従って、被検物体の形状によら
ず、従来方式と比べて格段に正確なピント合わせができ
る。
As described above, according to the present invention,
Since the measurement beam can be irradiated to the surface of the test object from four directions through the objective lens, even if the surface of the test object has irregularities, the measurement beam from any of the light incident points can be irradiated. Can always reach the target point on the test object,
Appropriate autofocus control can be performed based on the measurement beam. Therefore, irrespective of the shape of the object to be inspected, much more accurate focusing can be performed as compared with the conventional method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態のオートフォーカス装置を含
む顕微鏡の概略構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a microscope including an autofocus device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1のII−II矢視図で、対物レンズの入射
面におけるレーザ光(測定ビーム)の入光点の位置を示
すものである。
FIG. 2 is a view taken in the direction of arrows II-II in FIG. 1 and shows a position of a light incident point of a laser beam (measurement beam) on an incident surface of the objective lens.

【図3】図1のIII−III矢視図で、センサアレイ
の構成を示すものである。
3 is a view taken in the direction of arrows III-III in FIG. 1 and shows a configuration of a sensor array.

【図4】前記センサアレイ上に形成される受光スポット
の例を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a light receiving spot formed on the sensor array.

【図5】前記センサアレイ上に形成される受光スポット
のゴースト像の現れ方を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing how a ghost image of a light receiving spot formed on the sensor array appears.

【図6】本発明のオートフォーカス装置によりレーザ光
を被検物体に照射している状態を示す原理図で、(a)
は側面図、(b)は斜視図である。
6A and 6B are principle diagrams showing a state in which a laser beam is irradiated on a test object by the autofocus device of the present invention, and FIG.
Is a side view, and (b) is a perspective view.

【図7】本発明のオートフォーカス装置の有効性を説明
するための図であり、(a)は側面図、(b)は平面図
である。
7A and 7B are diagrams for explaining the effectiveness of the autofocus device of the present invention, wherein FIG. 7A is a side view, and FIG. 7B is a plan view.

【図8】本発明の実施形態のオートフォーカス装置の電
気的構成を示すブロック図である。
FIG. 8 is a block diagram illustrating an electrical configuration of the autofocus device according to the embodiment of the present invention.

【図9】図8のマイクロプロセッサの処理内容を示すフ
ローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart showing processing contents of the microprocessor of FIG. 8;

【図10】図9のフローチャートにおける第1のサブル
ーチンの内容を示すフローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart showing the contents of a first subroutine in the flowchart of FIG. 9;

【図11】図9のフローチャートにおける第2のサブル
ーチンの内容を示すフローチャートである。
FIG. 11 is a flowchart showing the contents of a second subroutine in the flowchart of FIG. 9;

【図12】図9のフローチャートにおける第3のサブル
ーチンの内容を示すフローチャートである。
FIG. 12 is a flowchart showing the contents of a third subroutine in the flowchart of FIG. 9;

【図13】図9のフローチャートにおける第4のサブル
ーチンの内容を示すフローチャートである。
FIG. 13 is a flowchart showing the contents of a fourth subroutine in the flowchart of FIG. 9;

【図14】従来の細ビーム式オートフォーカス制御の内
容を説明するための図で、(a)は対物レンズと測定ビ
ームの関係を示す側面図、(b)は光学センサ上にどの
ように受光スポットが形成されるかを示す光学センサの
平面図である。
14A and 14B are diagrams for explaining the content of conventional fine beam type autofocus control, where FIG. 14A is a side view showing a relationship between an objective lens and a measurement beam, and FIG. 14B is a diagram showing how light is received on an optical sensor. It is a top view of the optical sensor which shows whether a spot is formed.

【図15】従来のオートフォーカス制御の処理内容を示
すフローチャートである。
FIG. 15 is a flowchart showing processing content of conventional auto focus control.

【図16】従来のオートフォーカス制御の問題点を説明
するための図で、(a)は平面的な被検物体に測定ビー
ムを照射している状態を示す側面図、(b)は凸部のあ
る被検物体に測定ビームを照射している状態を示す側面
図、(c)はその凸部によって測定ビームの届かない死
角ができることを表す拡大側面図である。
16A and 16B are diagrams for explaining a problem of the conventional autofocus control, in which FIG. 16A is a side view showing a state where a measurement beam is irradiated on a planar test object, and FIG. FIG. 7C is a side view showing a state in which the measurement object is irradiated with the measurement beam, and FIG. 9C is an enlarged side view showing that a blind spot where the measurement beam does not reach is formed by the convex portion.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 対物レンズ 2 被検物体 5,6 ビームスプリッタ 10 センサアレイ(焦点ずれ検出手段) 12 ウェッジプリズム 15 レーザ光源(測定ビーム照射源) K 光軸 L1,L1A,L1B,L1C,L1D レーザ光(測
定ビーム) L2 レーザ反射光(測定ビームの反射光) E,F,G,H 受光部 E1,E2,F1,F2,G1,G2,H1,H2 受
光センサ SP,SPf,SPb 受光スポット
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Objective lens 2 Object to be measured 5, 6 Beam splitter 10 Sensor array (Defocus detection means) 12 Wedge prism 15 Laser light source (Measurement beam irradiation source) K Optical axis L1, L1A, L1B, L1C, L1D Laser light (Measurement beam ) L2 laser reflected light (reflected light of measurement beam) E, F, G, H light receiving section E1, E2, F1, F2, G1, G2, H1, H2 light receiving sensor SP, SPf, SPb light receiving spot

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 対物レンズを含む観察光学系と、該対物
レンズの光軸から外れた位置を入光点として、対物レン
ズを通して被検物体に測定ビームを照射する測定ビーム
照射機構と、被検物体から対物レンズを通して導かれる
測定ビームの反射光を受光し、受光面上に形成される受
光スポットの位置により、対物レンズの焦点位置からの
被検物体の焦点ずれを検出する焦点ずれ検出手段と、該
焦点ずれ検出手段の出力に基づいて前記対物レンズと被
検物体の距離を調節する駆動機構を制御し、それにより
被検物体上の対象点に対物レンズの焦点を合わせる制御
手段と、を備えた顕微鏡のオートフォーカス装置におい
て、 前記入光点として、対物レンズの光軸を中心とする円周
上に、円周方向に90度間隔に4つの入光点を設定し、
前記測定ビーム照射機構により、前記4つの入光点にて
順番に測定ビームを被検物体に照射し、各入光点におけ
る測定ビームの照射毎に、前記焦点ずれ検出手段により
対物レンズの焦点位置からの被検物体の焦点ずれを検出
して、その検出出力に基づいて前記制御手段が前記駆動
機構を制御することを特徴とする顕微鏡のオートフォー
カス装置。
1. An observation optical system including an objective lens, a measurement beam irradiation mechanism configured to irradiate a measurement beam to an object to be measured through the objective lens with a position deviating from an optical axis of the objective lens as a light incident point, and A focus shift detecting means for receiving reflected light of the measurement beam guided from the object through the objective lens, and detecting a focus shift of the test object from a focus position of the objective lens by a position of a light receiving spot formed on the light receiving surface; Control means for controlling a drive mechanism for adjusting the distance between the objective lens and the test object based on the output of the defocus detection means, thereby controlling the focus of the objective lens on a target point on the test object. In the autofocus device for a microscope provided with, as the light incident points, four light incident points are set on the circumference around the optical axis of the objective lens at intervals of 90 degrees in the circumferential direction,
The measurement beam irradiating mechanism irradiates the object to be measured with the measurement beam at the four light-entering points in order, and for each irradiation of the measurement beam at each light-irradiation point, the focal position of the objective lens is detected by the defocus detecting means. An autofocus device for a microscope, wherein the control means controls the drive mechanism based on the detection output of the defocus of the object to be detected.
【請求項2】 前記4つの入光点にて順番に測定ビーム
を被検物体に照射する測定ビーム照射機構が、1本の測
定ビームを出射する測定ビーム照射源と、該照射源より
出射された測定ビームの通過するウェッジプリズムと、
該ウェッジプリズムを回転させることで、測定ビームを
前記4つの入光点を通過する円形軌跡に沿って回転させ
る回転機構と、から構成されていることを特徴とする請
求項1記載の顕微鏡のオートフォーカス装置。
2. A measurement beam irradiation mechanism for sequentially irradiating a test object with a measurement beam at the four light incident points, a measurement beam irradiation source for emitting one measurement beam, and a measurement beam irradiation source emitted from the irradiation source. A wedge prism through which the measured beam passes,
2. The microscope according to claim 1, further comprising: a rotation mechanism configured to rotate the wedge prism to rotate the measurement beam along a circular locus passing through the four light incident points. Focus device.
【請求項3】 前記焦点ずれ検出手段が、十字に配置さ
れた4つの受光部を備えており、直線上に並んだ2つの
受光部の組み合わせにより、1つの入光点にて被検物体
に測定ビームを照射した際の反射光を受ける1つの検出
手段が構成され、前記直線上に並んだ2つの受光部は、
合焦時に2つの受光部の中間に受光スポットが形成さ
れ、前ピン時に一方の受光部上に受光スポットが形成さ
れ、後ピン時に他方の受光部上に受光スポットが形成さ
れるような位置関係で配置され、直線上に並ぶ2つの受
光部の組み合わせが、180度対向した位置にある2つ
の入光点にてそれぞれ測定ビームを照射した際の焦点ず
れを検出する各検出手段を兼ねていることを特徴とする
請求項1または2記載の顕微鏡のオートフォーカス装
置。
3. The defocus detecting means includes four light receiving units arranged in a cross, and a combination of two light receiving units arranged on a straight line allows a light incident point to be applied to a test object at one light incident point. One detecting unit configured to receive the reflected light when the measurement beam is irradiated is configured, and the two light receiving units arranged on the straight line include:
Positional relationship such that a light-receiving spot is formed between two light-receiving parts during focusing, a light-receiving spot is formed on one light-receiving part at the time of front focus, and a light-receiving spot is formed on the other light-receiving part at the time of rear focus. And a combination of two light receiving sections arranged on a straight line also serves as each detecting means for detecting a defocus when the measurement beam is irradiated at each of the two light incident points located at positions opposed by 180 degrees. 3. The autofocus device for a microscope according to claim 1, wherein:
【請求項4】 前記十字に配置された4つの受光部が、
それぞれに内側の受光センサと外側の受光センサとに分
割されており、それにより前記焦点ずれ検出手段が8分
割のセンサアレイよりなることを特徴とする請求項3記
載の顕微鏡のオートフォーカス装置。
4. The four light receiving sections arranged in a cross,
4. An autofocus apparatus for a microscope according to claim 3, wherein each of said plurality of light receiving sensors is divided into an inner light receiving sensor and an outer light receiving sensor, and said defocus detecting means comprises an eight-divided sensor array.
【請求項5】 前記制御手段が、1つの入光点にて測定
ビームを照射して得た焦点ずれ検出手段の信号の有効性
を評価し、該信号が無効であると評価した場合は、その
信号を不採用として、測定ビーム照射機構に制御信号を
送り、測定ビームの入光点を次の順番の入光点に移動す
ることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の顕
微鏡のオートフォーカス装置。
5. The control means evaluates the validity of the signal of the defocus detection means obtained by irradiating the measurement beam at one light incident point, and when the control means evaluates that the signal is invalid, The signal according to any one of claims 1 to 4, wherein the signal is not adopted, a control signal is sent to the measurement beam irradiation mechanism, and a light incident point of the measurement beam is moved to a light incident point in the next order. Autofocus device for microscope.
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