JP2001304810A - Scanning position measuring apparatus - Google Patents

Scanning position measuring apparatus

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JP2001304810A
JP2001304810A JP2000122889A JP2000122889A JP2001304810A JP 2001304810 A JP2001304810 A JP 2001304810A JP 2000122889 A JP2000122889 A JP 2000122889A JP 2000122889 A JP2000122889 A JP 2000122889A JP 2001304810 A JP2001304810 A JP 2001304810A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a scanning position measuring apparatus capable of measuring the scanning position of scanning light in each scanning of a deflecting means. SOLUTION: This scanning position measuring apparatus is provided with a photo detector 5 disposed in a desired main scanning position near the measuring surface, an operating means for reading out the output of the photo detector 5 to operate a sub-scanning position on the measuring surface of scanning light L, and a synchronous sensor 8 for detecting scanning light L in a designated position within a deflecting angle of scanning light L. The above operating means takes the detection signal from the synchronous sensor 8 as a start signal for reading out the output of the photo detector 5.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明が属する技術分野】本発明は、プリンタ、複写
機、スキャナ等に搭載され光源部からの光ビームを像面
上へ走査することによる画像書込みや読取りを目的とし
た走査光学系を測定対象とし、該走査光学系で走査され
る走査光の像面上における走査位置を測定する走査位置
測定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a scanning optical system which is mounted on a printer, a copying machine, a scanner, or the like, and which scans a light beam from a light source unit on an image plane to write or read an image. The present invention relates to a scanning position measuring device for measuring a scanning position on an image plane of scanning light scanned by the scanning optical system.

【0002】[0002]

【従来の技術】プリンタ、複写機やスキャナには、回転
多面鏡とfθレンズなどの組み合わせによる走査光学系
が使用されている。これらは、光源部からのレーザ光束
を回転多面鏡で反射させfθレンズを介して感光体ドラ
ム等に光スポット状に結像させ、この光スポットを偏向
手段である回転多面鏡の回転によって角度走査する。こ
の走査によって原稿画像を読取ったり、あるいは読取っ
た画像情報に応じて光源部を発光制御し感光体上に原稿
の静電画像を形成する。感光体上における偏向手段によ
る光スポットの移動方向を主走査方向と呼び、これに直
交する方向、つまり回転する感光体面の移動方向を副走
査方向と呼んでいる。
2. Description of the Related Art Scanning optical systems using a combination of a rotary polygon mirror and an fθ lens are used in printers, copiers and scanners. In these, a laser beam from a light source unit is reflected by a rotating polygon mirror to form an image on a photosensitive drum or the like via an fθ lens in a light spot shape, and the light spot is angularly scanned by rotation of a rotating polygon mirror serving as a deflecting unit. I do. The original image is read by this scanning, or the light source unit is controlled to emit light in accordance with the read image information to form an electrostatic image of the original on the photosensitive member. The direction of movement of the light spot by the deflecting means on the photoconductor is called the main scanning direction, and the direction orthogonal to this, that is, the direction of movement of the rotating photoconductor surface, is called the sub-scanning direction.

【0003】このような走査光学系においては、例えば
fθレンズの形状が設計値からずれていると、最終的に
形成される原稿の画像に歪みが生じることとなる。した
がって、走査光学系を正確に評価することが必要であ
る。
In such a scanning optical system, for example, if the shape of the fθ lens deviates from the design value, distortion will occur in the image of the original document finally formed. Therefore, it is necessary to accurately evaluate the scanning optical system.

【0004】また、偏向手段においては、光束の像面上
での走査位置が所定の位置を通っているかの測定、回転
多面鏡により偏向される時の上下角の変動による像面上
での走査位置のずれ、いわゆる面倒れ量等の測定があ
る。隣接面間の面倒れは走査線のピッチムラとなって画
像品質を劣化させる。
The deflecting means measures whether the scanning position of the light beam on the image plane passes through a predetermined position, and scans the image plane on the image plane due to a change in the vertical angle when the light beam is deflected by the rotary polygon mirror. There is a measurement of a positional shift, a so-called surface tilt amount, and the like. The surface inclination between the adjacent surfaces causes unevenness in the pitch of the scanning lines, deteriorating the image quality.

【0005】従来、感光体ドラム面のような像面と等価
な測定面上の副走査方向にCCDセンサ等を設置し、回
転多面鏡を回転させたときのCCDセンサからの出力に
基づいて走査線の走査位置を評価していた。
Conventionally, a CCD sensor or the like is installed in a sub-scanning direction on a measurement surface equivalent to an image surface such as a photosensitive drum surface, and scanning is performed based on an output from the CCD sensor when a rotating polygon mirror is rotated. The scanning position of the line was evaluated.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、回転多
面鏡等の多角柱状の偏向手段において、その一面が一本
の走査線形成に対応し、各面で走査される走査線位置は
要求される画質の許容範囲になければならず、このよう
な走査光学系の評価にあたっては、一走査毎の走査位置
の正確な測定が要求される。従来のように複数の走査を
重ねて測定してしまうと走査位置がぼけてしまい正しい
測定がなされず、高画質化の進んだ走査光学系の評価と
しては不適切なものとなる。特にコンピュータを用いた
自動測定であれば、測定精度の向上に応えるためには、
その点に確実な制御が必要とされる。
However, in a polygonal prism-shaped deflecting means such as a rotary polygon mirror, one surface corresponds to the formation of one scanning line, and the scanning line position scanned on each surface is the required image quality. In the evaluation of such a scanning optical system, accurate measurement of the scanning position for each scan is required. If a plurality of scans are overlapped and measured as in the prior art, the scanning position is blurred and correct measurement cannot be performed, which is inappropriate for evaluation of a scanning optical system with advanced image quality. Especially for automatic measurement using a computer, in order to respond to the improvement of measurement accuracy,
At that point, reliable control is required.

【0007】また同時に、近年におけるプリンタや複写
機のプリントスピードの向上、スキャナの読取りスピー
ドの向上のために、回転多面鏡の回転数の高速化が図ら
れている。この高速化に伴い、回転多面鏡等の偏向手段
から発生する振動も増大し、この振動がレンズや光源部
に伝わると、fθレンズの形状が設計値からずれていな
くとも走査位置は設計値からずれ、レンズ系の評価が正
しく行われないといった問題が生じる。
At the same time, in order to improve the printing speed of printers and copiers and the reading speed of scanners in recent years, the rotational speed of the rotating polygon mirror has been increased. Along with this increase in speed, the vibration generated from the deflecting means such as a rotating polygon mirror also increases, and if this vibration is transmitted to the lens and the light source, the scanning position can be changed from the design value even if the shape of the fθ lens does not deviate from the design value This causes problems such as misalignment and incorrect evaluation of the lens system.

【0008】本発明は、上記のような課題を解決するた
めになされたものであり、走査光の走査位置を偏向手段
による一走査ごとの測定を可能とした走査位置測定装置
の提供を第1の課題とし、偏向手段の振動がレンズ系の
評価に悪影響を与えない走査位置測定装置を提供を第2
の課題とし、さらには、レンズ系の補正機能の能力から
レンズ系の評価を行える測定装置の提供を第3の課題と
している。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and a first object of the present invention is to provide a scanning position measuring apparatus capable of measuring a scanning position of scanning light for each scanning by a deflecting means. In order to provide a scanning position measuring apparatus in which vibration of the deflection means does not adversely affect the evaluation of the lens system,
Further, a third object is to provide a measuring apparatus capable of evaluating a lens system based on the capability of a lens system correcting function.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の走査位置測定装置は、光源部から出射され
た光束を偏向手段により偏向し像面に結像させて主走査
方向に走査する走査光学系を測定対象とする測定装置で
あって、上記像面と等価な面近傍の所望の主走査位置に
配置され上記走査光学系からの走査光を受光する受光手
段と、該受光手段からの出力を読み出して走査光の副走
査位置を演算する演算手段と、上記走査光の偏向角度内
の所定位置で走査光を検知するセンサ手段と、を有し、
上記演算手段が、上記光センサ手段からの検知信号を、
上記受光手段の出力読み出しの開始信号に用いるとした
ことを第1の特徴としている。
In order to achieve the above object, a scanning position measuring apparatus according to the present invention deflects a light beam emitted from a light source section by a deflecting means to form an image on an image plane and to form an image in a main scanning direction. A measuring apparatus for measuring a scanning optical system for scanning, wherein the light receiving unit is arranged at a desired main scanning position near a plane equivalent to the image plane and receives scanning light from the scanning optical system; Calculating means for reading the output from the means and calculating the sub-scanning position of the scanning light, and sensor means for detecting the scanning light at a predetermined position within the deflection angle of the scanning light,
The arithmetic means outputs a detection signal from the optical sensor means,
A first feature is that the signal is used as a start signal of output reading of the light receiving means.

【0010】上記受光手段が、上記測定面の主走査方向
に沿って移動可能な構成にするとよい。また、上記演算
手段は、上記開始信号の発生後、上記光センサ手段から
の信号を無視する抑制時間を設定する構成が望ましく、
この場合に、上記演算手段は、上記抑制時間が可変な構
成にするとよい。
It is preferable that the light receiving means is configured to be movable along the main scanning direction of the measurement surface. Further, it is preferable that the arithmetic unit sets a suppression time for ignoring a signal from the optical sensor unit after the start signal is generated,
In this case, it is preferable that the arithmetic means has a configuration in which the suppression time is variable.

【0011】また、本発明の測定装置は、光源部から出
射された光束を偏向手段により偏向し像面に結像させて
主走査方向に走査する走査光学系を測定対象とする測定
装置であって、上記像面と等価な面近傍の所望の主走査
位置に配置され上記走査光学系からの走査光を受光する
受光手段と、該受光手段からの出力を読み出して走査光
の副走査位置を演算する演算手段と、上記走査光の偏向
角度内の所定位置で走査光を検知するセンサ手段と、を
有し、また、上記偏向手段が、その走査光を結像するた
めの光学系とは別体の支持構造に支持可能であることを
第2の特徴としている。
Further, the measuring apparatus of the present invention is a measuring apparatus having a scanning optical system for scanning in a main scanning direction by deflecting a light beam emitted from a light source section by a deflecting means, forming an image on an image plane, and scanning. A light receiving unit disposed at a desired main scanning position near a plane equivalent to the image plane and receiving scanning light from the scanning optical system; and reading an output from the light receiving unit to set a sub-scanning position of the scanning light. A calculating means for calculating, and a sensor means for detecting the scanning light at a predetermined position within the deflection angle of the scanning light, and the optical system for forming an image of the scanning light by the deflecting means. A second feature is that it can be supported by a separate support structure.

【0012】また、本発明の測定装置は、光源部から出
射された光束を偏向手段により偏向し像面に結像させて
主走査方向に走査する走査光学系を測定対象とする測定
装置であって、上記像面と等価な面近傍の所望の主走査
位置に配置され上記走査光学系からの走査光を受光する
受光手段と、該受光手段からの出力を読み出して走査光
の副走査位置を演算する演算手段と、上記走査光の偏向
角度内の所定位置で走査光を検知するセンサ手段と、を
有し、また、上記偏向手段が回転多面鏡であり、上記受
光手段が測定面上に設けられたラインセンサであって、
該ラインセンサの画素ピッチをPとし、該ラインセンサ
の受光素子の並び方向と副走査方向とのなす角度をθに
し、上記回転多面鏡の光反射位置と像面との距離hLと
したとき、上記回転多面鏡が、 1/2・tan−1((20Pcosθ/h) 以上の面倒れ量で設置されていることを第3の特徴とし
ている。なお、上記の特徴的な各構成は、測定対象(被
験光学系)の特性や要求精度に合わせて任意に組み合わ
せることもできる。
Further, the measuring apparatus of the present invention is a measuring apparatus which targets a scanning optical system which scans in the main scanning direction by deflecting a light beam emitted from a light source section by a deflecting means, forming an image on an image plane, and scanning. A light receiving unit disposed at a desired main scanning position near a plane equivalent to the image plane and receiving scanning light from the scanning optical system; and reading an output from the light receiving unit to set a sub-scanning position of the scanning light. Calculating means for calculating, and a sensor means for detecting the scanning light at a predetermined position within the deflection angle of the scanning light, and the deflecting means is a rotating polygon mirror, and the light receiving means is on the measurement surface A line sensor provided,
When the pixel pitch of the line sensor is P, the angle between the arrangement direction of the light receiving elements of the line sensor and the sub-scanning direction is θ, and the distance hL between the light reflection position of the rotating polygon mirror and the image plane, The third feature is that the rotary polygon mirror is installed with a surface inclination amount of 1 / 2tan- 1 ((20 P cos [theta] / h) or more). Any combination can be made according to the characteristics of the object (optical system to be tested) and the required accuracy.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明を適
用した測定装置の実施例を説明する。図1は、本実施例
の走査位置測定装置の概略構成を示す平面図である。図
2は、図1の測定装置の側面図である。まず、走査光学
系の構成の概略を説明する。光源部1は、半導体レーザ
と、該半導体レーザからのレーザ光束を以後の光学系に
カップリングするカップリングレンズとにより構成され
る。カップリングレンズは、該半導体レーザからの発散
性のレーザ光束を「平行光束」とすることも「弱い発散性
もしくは弱い集束性光束」とすることもできる。ここで
は説明の具体性のため、カップリングレンズからは平行
光束化されたレーザ光束が射出するものとする。カップ
リングレンズから射出した平行なレーザ光束は、シリン
ドリカルレンズ2により副走査対応方向(光源部から測
定面に至る光路上で副走査方向に対応する方向;図1で
図面に直交する方向である)にのみ集束され、偏向手段
である回転多面鏡3の反射面3aに主走査対応方向(光
源部から測定面に至る光路上で主走査方向Xに対応する
方向)に長い線像として結像する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a measuring apparatus to which the present invention is applied will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of the scanning position measuring device of the present embodiment. FIG. 2 is a side view of the measuring device of FIG. First, the outline of the configuration of the scanning optical system will be described. The light source unit 1 includes a semiconductor laser and a coupling lens that couples a laser beam from the semiconductor laser to an optical system thereafter. The coupling lens can convert the divergent laser beam from the semiconductor laser into a “parallel beam” or a “weakly divergent or weakly converging beam”. Here, for the sake of specificity of the description, it is assumed that a laser beam converted into a parallel beam is emitted from the coupling lens. The parallel laser beam emitted from the coupling lens is directed by the cylindrical lens 2 in the sub-scanning direction (the direction corresponding to the sub-scanning direction on the optical path from the light source unit to the measurement surface; the direction orthogonal to the drawing in FIG. 1). And is formed on the reflecting surface 3a of the rotary polygon mirror 3, which is a deflecting means, as a long line image in the main scanning corresponding direction (the direction corresponding to the main scanning direction X on the optical path from the light source unit to the measurement surface). .

【0014】また、回転多面鏡3は支持台13に固定
し、fθレンズ4等の結像レンズ系を含む被験光学系は
光学系台14に固定している。図2でも明らかなよう
に、支持台13は、光学系台14とは別体の支持構造と
し、これにより被験光学系との縁を切って回転多面鏡3
の振動が被験光学系に伝わらないようになっている。こ
の構成によれば、回転多面鏡3の回転数が高速化されて
大きな振動が発生する場合でも、被験光学系の不具合に
起因した走査位置のずれを精度良く測定することができ
る。
The rotating polygon mirror 3 is fixed to a support 13, and a test optical system including an imaging lens system such as the fθ lens 4 is fixed to an optical system base 14. As is clear from FIG. 2, the support base 13 is a support structure separate from the optical system base 14, thereby cutting off the edge of the support optical system 14 and the rotating polygon mirror 3.
Is not transmitted to the test optical system. According to this configuration, even when the rotational speed of the rotary polygon mirror 3 is increased and a large vibration is generated, it is possible to accurately measure the deviation of the scanning position due to the failure of the test optical system.

【0015】回転多面鏡3の一の反射面3aにより反射
された走査光Lは、回転多面鏡3の回転により偏向され
てfθレンズ4等の結像レンズ系に入射し、測定面上に
光スポットとして集光される。一つの反射面3aによる
レーザ光束の偏向により、測定面上の光スポットが主走
査領域の一端から他端まで移動し、この光スポットの移
動速度はfθレンズ4によって等角速度的に調整され
る。
The scanning light L reflected by the one reflecting surface 3a of the rotating polygon mirror 3 is deflected by the rotation of the rotating polygon mirror 3 and is incident on an imaging lens system such as an fθ lens 4 to be reflected on the measuring surface. It is collected as a spot. The deflection of the laser beam by one reflection surface 3a causes the light spot on the measurement surface to move from one end to the other end of the main scanning area, and the moving speed of this light spot is adjusted by the fθ lens 4 at a constant angular velocity.

【0016】受光手段としての受光装置5は、ライン状
のCCDセンサ6を副走査方向(画素配列方向を紙面に
対して略垂直方向)にして有している。ここで、受光装
置5は1個でも複数でもよく、また、固定でも主走査方
向Xに移動可能でも構わない。図1の実施の形態では、
受光装置5は一個であり、これがガイド7に沿って主走
査方向Xへ変位可能に設けられている。受光装置5が、
図1における左端(実線部分)から右端(二点鎖線部
分)に変位するとき、CCDセンサ6の受光面により掃
引される平面が感光体面と等価な像面(測定面)に相当
する。この像面へ光スポットの走査が行われるとCCD
センサ6の各画素には受光した光量に比例した電荷が蓄
積され、この蓄積電荷が画像入力ボードを介してコンピ
ュータ12へ受光情報信号として取り込まれるようにな
っている。
The light receiving device 5 as a light receiving means has a linear CCD sensor 6 in the sub-scanning direction (the pixel arrangement direction is substantially perpendicular to the paper surface). Here, the number of the light receiving device 5 may be one or plural, and it may be fixed or movable in the main scanning direction X. In the embodiment of FIG.
One light receiving device 5 is provided so as to be displaceable in the main scanning direction X along the guide 7. The light receiving device 5
When displaced from the left end (solid line part) to the right end (two-dot chain line part) in FIG. When the light spot is scanned on this image plane, the CCD
Electric charge proportional to the amount of light received is accumulated in each pixel of the sensor 6, and the accumulated electric charge is taken into the computer 12 via the image input board as a light reception information signal.

【0017】本実施例において、ガイド7は、螺子棒で
あって受光装置5と螺合されており、正逆回転可能なス
テッピングモータSMでガイド7を回転させることによ
り、受光装置5のCCDセンサ6を「所望の主走査位
置」に位置させることができる。
In this embodiment, the guide 7 is a screw rod, which is screwed to the light receiving device 5, and the guide 7 is rotated by a stepping motor SM which can be rotated forward and backward, so that the CCD sensor of the light receiving device 5 is provided. 6 can be located at the “desired main scanning position”.

【0018】なお、ラインセンサであるCCDセンサ6
の各画素は略副走査方向に並び、その間隔は有限の値を
持つ。各画素の並び方向を副走査方向からθ[deg] 傾
けて、その画素の間隔をP[mm]とすれば、副走査方向
に投影した各画素間隔は、P・cosθ[mm]である。このよ
うにCCDセンサ6を傾けると、各画素の副走査方向の
間隔が狭まって走査位置測定の分解能を上げることがで
きる。
The CCD sensor 6 which is a line sensor
Are arranged substantially in the sub-scanning direction, and the interval therebetween has a finite value. Assuming that the arrangement direction of each pixel is inclined by θ [deg] from the sub-scanning direction and the interval between the pixels is P [mm], the pixel interval projected in the sub-scanning direction is P · cos θ [mm]. When the CCD sensor 6 is tilted in this manner, the interval between the pixels in the sub-scanning direction is reduced, and the resolution of the scanning position measurement can be increased.

【0019】一般に走査光学系は回転多面鏡に面倒れが
あっても、これが走査位置のずれとして現れないことが
望ましいため、被験光学系の結像レンズ系、特にシリド
リカルレンズには面倒れが起こっても走査位置のずれを
抑える補正機能が付加されており、走査位置のずれ量は
小さな値となる。レンズが設計値通りに出来ていれば、
上記補正機能が十分に働くが、レンズの形状や配置が設
計値からずれていると補正機能が十分に働かない。よっ
て、上記補正機能の能力からレンズ系の評価を行うこと
ができる。この補正機能の能力からレンズ系の評価を行
うためには、一般に、上記走査位置のずれ量の1/10
まで精度が欲しいところである。しかし、CCDセンサ
の画素ピッチが有限の値をとるため、前記走査位置のず
れ量の測定精度には限界がある。
In general, it is desirable that the scanning optical system does not appear as a shift in the scanning position even if the rotary polygon mirror has a tilt, so that the imaging lens system of the test optical system, especially the cylindrical lens, has a tilt. Is added, a correction function for suppressing the deviation of the scanning position is provided, and the deviation amount of the scanning position becomes a small value. If the lens is made as designed,
Although the above-mentioned correction function works sufficiently, the correction function does not work sufficiently when the shape and arrangement of the lens deviate from the design values. Therefore, the lens system can be evaluated from the capability of the correction function. In order to evaluate the lens system based on the capability of the correction function, generally, 1/10 of the shift amount of the scanning position is used.
It is where you want precision up to. However, since the pixel pitch of the CCD sensor has a finite value, there is a limit to the accuracy of measuring the amount of deviation of the scanning position.

【0020】そこで、上記補正機能の能力を評価するの
に十分な走査位置のずれ量を得るために、面倒れを大き
くすることが望ましい。このような面倒れ量を与える方
法としてはモータ軸に回転多面鏡3を傾けて取り付けた
り、予め回転多面鏡3の各面を垂直方向から傾けて製作
する等の方法がある。
Therefore, in order to obtain a shift amount of the scanning position sufficient to evaluate the capability of the correction function, it is desirable to increase the inclination. As a method of giving such a surface tilting amount, there are a method of attaching the rotary polygon mirror 3 to the motor shaft by tilting, and a method of manufacturing the rotary polygon mirror 3 by tilting each surface of the rotary polygon mirror 3 from the vertical direction in advance.

【0021】まず、回転多面鏡3上の光反射位置と像面
との距離をh[mm]としたとき、回転多面鏡3から測定
面までにレンズが無ければ、回転多面鏡3の正味の面倒
れ量T[deg]と走査位置のずれδ[mm]の関係は、δ=
h・tan(2T)である。さらに、一般に上記補正機能
には走査位置のずれ量を1/20程度に抑える効果があ
り、これを加味すると、回転多面鏡3の面倒れ量T[de
g]と、走査位置のずれδ[mm]の関係は、δ=h/20
・Tan(2T)となる。
First, assuming that the distance between the light reflection position on the rotating polygon mirror 3 and the image plane is h [mm], if there is no lens from the rotating polygon mirror 3 to the measurement surface, the net of the rotating polygon mirror 3 The relationship between the surface tilt amount T [deg] and the deviation δ [mm] of the scanning position is expressed as δ =
h · tan (2T). Further, in general, the correction function has an effect of suppressing the shift amount of the scanning position to about 1/20, and taking this into consideration, the tilt amount T [de
g] and the deviation of the scanning position δ [mm] are δ = h / 20
・ Tan (2T).

【0022】また、受光装置5においてCCDセンサ6
の有する各画素からの出力された受光量を用いて、光ス
ポットの重心計算を行ってもその走査位置の精度は上記
P・cosθの1/10程度であるため、δをδ/10[mm]
以上の精度で測定するためには、 δ≧P・cosθ でなければならない。したがって、上記δを1/10以
上の精度で測定するために必要な面倒れ量T[deg]
は、 1/2・tan−1((20Pcosθ/h) の値以上である。この条件を満たせば、上記補正機能の
能力からレンズ系の評価を精度良く行うことができる。
In the light receiving device 5, a CCD sensor 6
Even if the center of gravity of the light spot is calculated using the amount of received light output from each pixel of
Since δ is about 1/10 of P · cos θ, δ is δ / 10 [mm]
In order to measure with the above accuracy, δ ≧ P · cosθ must be satisfied. Therefore, the surface tilt amount T [deg] required for measuring the above δ with an accuracy of 1/10 or more.
Is greater than or equal to 1 / 2tan- 1 ((20Pcos [theta] / h). If this condition is satisfied, the lens system can be accurately evaluated from the capability of the correction function.

【0023】同期センサ8は、走査光L(レーザ光束)
を走査毎に検知するセンサ手段であり、fθレンズ4と
像面との間にあって主走査方向Xの一端側(図中左端)
に固定され、回転多面鏡3による最大偏向角内に一個設
けられる。この同期センサ8からの信号は、アンプ9で
増幅され、同期検知回路10を介して画像入力ボード1
1に送られる。
The synchronous sensor 8 is provided with a scanning light L (laser beam)
Is a sensor means for detecting at each scanning, one end of the main scanning direction X between the fθ lens 4 and the image plane (left end in the figure)
And one is provided within the maximum deflection angle of the rotating polygon mirror 3. The signal from the synchronous sensor 8 is amplified by the amplifier 9 and is transmitted to the image input board 1 via the synchronous detecting circuit 10.
Sent to 1.

【0024】演算手段としてのコンピュータ12には、
走査位置測定に必要な各種動作(受光装置5の変位等)
や演算処理内容がプログラムされ、画像入力ボード11
やステッピングモータSMの動作を制御するほか、測定
に必要な他の制御を実行し、画像入力ボード11を介し
て入力される受光情報信号に基づき走査位置を決定す
る。ここでコンピュータ12は、受光情報信号を取り込
む処理の開始信号として、上記同期センサ8の信号を用
いるようにプログラムされている。
The computer 12 as a calculation means includes:
Various operations required for scanning position measurement (displacement of light receiving device 5, etc.)
And the contents of arithmetic processing are programmed, and the image input board 11
In addition to controlling the operation of the stepping motor SM and other controls necessary for the measurement, the scanning position is determined based on the light receiving information signal input via the image input board 11. Here, the computer 12 is programmed to use the signal of the synchronous sensor 8 as a start signal of the process of taking in the light receiving information signal.

【0025】上記測定装置による測定のフローを説明す
る。コンピュータ12からの命令により、ステッピング
モータSMを駆動し、ガイド7を回転させ受光装置5を
所望の像高位置へ移動する。一つの反射面1aにより光
スポットが像面の主走査方向の端から端へ走査される
が、このとき走査光Lがその偏向される角度内の所定の
位置(本例では主走査方向の一端)で同期センサ8に入
射する。
The flow of measurement by the above measuring device will be described. In accordance with a command from the computer 12, the stepping motor SM is driven, the guide 7 is rotated, and the light receiving device 5 is moved to a desired image height position. The light spot is scanned from one end of the image surface in the main scanning direction to the other end by one reflection surface 1a. At this time, the scanning light L is deflected at a predetermined position (in this example, one end in the main scanning direction). ), The light enters the synchronous sensor 8.

【0026】同期センサ8からの出力信号は、アンプ9
で増幅される。増幅されたアンプ出力は、同期検知回路
10によって、図3(a)に示すように或る閾値以上の
部分で同期検知信号をONすることにより矩形波に変換
される。コンピュータ12は、この同期検知信号が確認
されることを条件に、CCDセンサ6の各画素に蓄積さ
れた電荷の情報を画像入力ボード11から受光情報信号
として取り込む。取り込んだ各画素の受光量値から所定
のバックグラウンド値を差し引いて、この値から光束の
重心位置を計算し、これを走査位置とする。その後、未
測定像高が残っていれば上記受光装置5の変位行程に戻
り、未測定像高が残っていなければ測定を終了する。
An output signal from the synchronous sensor 8 is supplied to an amplifier 9
Amplified by The amplified amplifier output is converted into a rectangular wave by the synchronization detection circuit 10 by turning on the synchronization detection signal at a portion above a certain threshold as shown in FIG. The computer 12 fetches information on the electric charge accumulated in each pixel of the CCD sensor 6 from the image input board 11 as a light receiving information signal on condition that the synchronization detection signal is confirmed. A predetermined background value is subtracted from the received light-receiving amount value of each pixel, and the center of gravity of the light beam is calculated from this value, and this is set as a scanning position. Thereafter, if the unmeasured image height remains, the process returns to the displacement step of the light receiving device 5, and if the unmeasured image height does not remain, the measurement ends.

【0027】上記構成の測定装置によれば、一の反射面
3aによる一走査で同期検知信号が必ず一回発生し、こ
の同期検知信号をCCDセンサ6による計測の開始信号
とするので、確実に一走査毎の走査位置情報を得ること
ができる。
According to the measuring device having the above configuration, a synchronization detection signal is always generated once in one scan by one reflection surface 3a, and this synchronization detection signal is used as a start signal of measurement by the CCD sensor 6, so that it is ensured. Scan position information for each scan can be obtained.

【0028】上記同期センサ8を介した開始信号の取り
出し処理において、同期センサ8にセンサの許容光量以
上の入射があるとアンプ9を介して過渡的な発振現象、
いわゆるリンギングを起こすことがある。図3(b)に
示すように、リンギング現象が起こると、一回の走査に
も拘わらず同期検知信号が複数発生してしまい、測定の
誤動作の原因となる。
In the process of extracting the start signal via the synchronous sensor 8, if the synchronous sensor 8 is incident on the synchronous sensor 8 with an amount of light exceeding the allowable amount of the sensor, a transient oscillation phenomenon occurs via the amplifier 9,
So-called ringing may occur. As shown in FIG. 3B, when the ringing phenomenon occurs, a plurality of synchronization detection signals are generated in spite of one scan, which causes a measurement malfunction.

【0029】このリンギング対策として、上記開始信号
の取り出し処理において、アンプ出力を同期検知信号に
変換するための読取り時間を制限するとよい。すなわ
ち、図4に示されるように、アンプ出力が最初に閾値を
超える検知時点から微小時間tのタイムラグを設け、
この微小時間tで同期検知信号を発生させるととも
に、この同期検知信号の検出後(開始信号の発生後)、
微小時間t の間は、アンプ出力の有無に拘わらず同期
検知信号が常にOFFされるようにプログラムする。以
下、このように同期検知信号のOFFを強制する時間を
「抑制時間t」と称する。
As a measure against the ringing, the start signal
Amplifier output to the synchronization detection signal
The reading time for the conversion may be limited. Sand
That is, as shown in FIG.
Minute time t from detection point exceeding1A time lag of
This minute time t1Generates a synchronization detection signal
After detecting the synchronization detection signal (after generating the start signal),
Minute time t 2Is synchronized regardless of the presence or absence of the amplifier output
Program so that the detection signal is always turned off. Less than
The time for forcing the synchronization detection signal to be OFF is
"Suppression time t2".

【0030】この構成によれば、制御信号として一定幅
の適切な同期検知信号がつくられ、特に同期センサ8に
許容光量以上の入射で発振現象が起こるような場合にも
対応でき、誤動作を未然に防ぐことができる。この結
果、制御の安定性が高まり測定精度の低下を防止でき
る。
According to this configuration, an appropriate synchronization detection signal having a fixed width is generated as a control signal. In particular, it is possible to cope with a case where an oscillation phenomenon occurs when the amount of light incident on the synchronization sensor 8 exceeds a permissible light amount. Can be prevented. As a result, the stability of the control is enhanced, and a decrease in measurement accuracy can be prevented.

【0031】さらに、アンプ9の発振現象等以外の外乱
を除去する観点では、上記コンピュータ12において抑
制時間tを調整可能な構成が望ましい。例えば、外光
や光束が部材で反射して発生するフレア光などが同期セ
ンサ8に入射し、同期検知信号が不意に発生してしまう
ことがある。これを防ぐためには、図5に示すように、
上記抑制時間tを次の同期検知までの時間ぎりぎりに
設定するとよい。もちろん、抑制時間tが次の同期検
知にかぶっては具合が悪いため、回転多面鏡3の回転速
度等に応じて次回の検知直前の最適時間に調整する。
Furthermore, in view of removing the disturbance other than the oscillation phenomenon or the like of the amplifier 9, adjustable constituting the suppression time t 2 in the computer 12 is desirable. For example, flare light or the like generated when external light or a light beam is reflected by a member is incident on the synchronization sensor 8, and a synchronization detection signal may be generated unexpectedly. To prevent this, as shown in FIG.
The suppression time t 2 may be set times in the last minute to the next synchronization detection. Of course, suppression time t 2 because sick is wearing the next synchronization detection is adjusted to the optimum time for the next detection immediately before in accordance with the rotational speed of the rotary polygon mirror 3.

【0032】[0032]

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
走査位置測定装置は、像面と等価な面近傍の所望の主走
査位置に配置され走査光学系からの走査光を受光する受
光手段と、該受光手段からの出力を読み出して走査光の
副走査位置を演算する演算手段と、上記走査光の偏向角
度内の所定位置で走査光を検知するセンサ手段と、を有
し、上記演算手段が、上記光センサ手段からの検知信号
を、上記受光手段の出力読み出しの開始信号に用いると
した構成なので、上記偏向手段による主走査領域の一走
査ごとの走査位置測定を行うことができる。
As is apparent from the above description, the scanning position measuring apparatus of the present invention is arranged at a desired main scanning position near a plane equivalent to an image plane and receives scanning light from a scanning optical system. Means, a calculating means for reading an output from the light receiving means and calculating a sub-scanning position of the scanning light, and a sensor means for detecting the scanning light at a predetermined position within the deflection angle of the scanning light, Since the arithmetic means uses the detection signal from the optical sensor means as a start signal for reading out the output of the light receiving means, it is possible to measure the scanning position for each scan of the main scanning area by the deflecting means. .

【0033】また、上記受光手段が、上記測定面の主走
査方向Xに沿って移動可能な構成によれば、上記走査位
置測定装置において、主走査方向Xにおける任意の像高
で一走査ごとの走査位置測定を行うことができる。
Further, according to the configuration in which the light receiving means is movable along the main scanning direction X of the measurement surface, the scanning position measuring device can be used for every scanning at an arbitrary image height in the main scanning direction X. Scan position measurement can be performed.

【0034】また、上記演算手段は、上記開始信号の発
生後、上記光センサ手段からの信号を無視する抑制時間
を設定するとした構成によれば、例えば、センサ手段が
許容範囲の光量を受光して出力が発振するなどの不具合
があっても誤動作がなく、確実に一走査ごとの走査位置
測定を行うことができる。
Further, according to the configuration in which the calculating means sets a suppression time for ignoring the signal from the optical sensor means after the start signal is generated, for example, the sensor means receives an allowable amount of light. Even if there is a problem such as output oscillation, there is no malfunction and the scanning position can be reliably measured for each scanning.

【0035】また、上記演算手段は、上記演算手段は、
上記抑制時間が可変な構成によれば、例えば、上記所定
時間を次の同期検知直前までの時間に調整することもで
き、走査中の外乱に起因するような誤動作が防止され、
さらに確実な一走査ごとの走査位置測定を行うことがで
きる。
In addition, the calculating means includes:
According to the configuration in which the suppression time is variable, for example, the predetermined time can be adjusted to a time immediately before the next synchronization detection, and a malfunction caused by disturbance during scanning is prevented,
Further, the scanning position can be reliably measured for each scanning.

【0036】上記偏向手段が、その走査光を結像するた
めの光学系とは別体の支持構造に支持可能である構成に
よれば、上記偏向手段の振動が被験光学系の測定に影響
を与えず、走査位置を精度良く測定することができる。
According to the configuration in which the deflecting means can be supported by a support structure separate from the optical system for imaging the scanning light, the vibration of the deflecting means affects the measurement of the test optical system. Without giving it, the scanning position can be measured with high accuracy.

【0037】また、上記偏向手段が回転多面鏡であり、
上記受光手段が測定面上に設けられたラインセンサであ
って、該ラインセンサの画素ピッチをPとし、該ライン
センサの受光素子の並び方向と副走査方向とのなす角度
をθにし、上記回転多面鏡の光反射位置と像面との距離
hとしたとき、上記回転多面鏡が、 1/2・tan−1((20Pcosθ/h) 以上の面倒れ量で設置されている構成によれば、補正機
能の能力からレンズ系の評価を精度良く行うことが出来
る。
The deflecting means is a rotary polygon mirror,
The light receiving means is a line sensor provided on a measurement surface, wherein the pixel pitch of the line sensor is P, the angle between the arrangement direction of the light receiving elements of the line sensor and the sub-scanning direction is θ, and the rotation is When the distance h between the light reflection position of the polygonal mirror and the image plane is h, according to the configuration in which the rotary polygonal mirror is installed with a surface tilt amount of ・ · tan −1 ((20 P cos θ / h) or more) In addition, the lens system can be accurately evaluated based on the ability of the correction function.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に関わる測定装置の第1実施例の概略構
成を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of a first embodiment of a measuring apparatus according to the present invention.

【図2】図1の測定装置の側面図である。FIG. 2 is a side view of the measuring device of FIG.

【図3】同期センサからのアンプ出力と同期検知信号を
示す波形図で、同図(a)は正常時、同図(b)はリン
ギング時を示す図である。
FIGS. 3A and 3B are waveform diagrams showing an amplifier output from a synchronization sensor and a synchronization detection signal. FIG. 3A shows a normal state, and FIG. 3B shows a ringing state.

【図4】抑制時間を設定した場合の波形図である。FIG. 4 is a waveform chart when a suppression time is set.

【図5】効果的な抑制時間を設定した場合の波形図であ
る。
FIG. 5 is a waveform chart when an effective suppression time is set.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源部 3 回転多面鏡(偏向手段) 5 受光装置(受光手段) 8 同期センサ(センサ手段) 12 コンピュータ(演算手段) 13 支持台(別体の支持構造) L 走査光 X 主走査方向 t 抑制時間DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Light source part 3 Rotating polygon mirror (deflection means) 5 Light receiving device (light receiving means) 8 Synchronous sensor (sensor means) 12 Computer (arithmetic means) 13 Support base (separate support structure) L Scanning light X Main scanning direction t 2 Suppression time

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2C362 BB10 2F065 AA03 AA07 AA17 DD03 DD12 DD14 FF01 FF17 GG06 HH03 JJ02 JJ05 JJ25 LL08 LL10 LL15 MM07 MM16 MM23 MM28 PP02 2H045 AA01 CA82 CA88 CB02 CB32 DA00 5C072 AA03 CA06 EA05 HA02 HA13 HB08 HB11 JA07 MB01 MB04 MB08 XA01  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page F term (reference) 2C362 BB10 2F065 AA03 AA07 AA17 DD03 DD12 DD14 FF01 FF17 GG06 HH03 JJ02 JJ05 JJ25 LL08 LL10 LL15 MM07 MM16 MM23 MM28 PP02 2H045 AA01 CA82 CA88 A02CA02 CB02 HB11 JA07 MB01 MB04 MB08 XA01

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光源部から出射された光束を偏向手段に
より偏向し像面に結像させて主走査方向に走査する走査
光学系を測定対象とする測定装置であって、上記像面と
等価な面近傍の所望の主走査位置に配置され上記走査光
学系からの走査光を受光する受光手段と、該受光手段か
らの出力を読み出して走査光の副走査位置を演算する演
算手段と、上記走査光の偏向角度内の所定位置で走査光
を検知するセンサ手段と、を有し、上記演算手段が、上
記光センサ手段からの検知信号を、上記受光手段の出力
読み出しの開始信号に用いるとしたことを特徴とする走
査位置測定装置。
1. A measuring apparatus for measuring a scanning optical system that scans in a main scanning direction by deflecting a light beam emitted from a light source unit by a deflecting unit to form an image on an image plane and scan in a main scanning direction. Light-receiving means arranged at a desired main-scanning position near a suitable surface and receiving scanning light from the scanning optical system; calculating means for reading an output from the light-receiving means to calculate a sub-scanning position of the scanning light; Sensor means for detecting the scanning light at a predetermined position within the deflection angle of the scanning light, wherein the calculating means uses a detection signal from the light sensor means as a start signal for reading out the output of the light receiving means. A scanning position measuring device, characterized in that:
【請求項2】 上記受光手段が、上記測定面の主走査方
向に沿って移動可能であることを特徴とする請求項1記
載の走査位置測定装置。
2. The scanning position measuring apparatus according to claim 1, wherein said light receiving means is movable along a main scanning direction of said measurement surface.
【請求項3】 上記演算手段は、上記開始信号の発生
後、上記光センサ手段からの信号を無視する抑制時間を
設定することを特徴とする請求項1又は2記載の走査位
置測定装置。
3. The scanning position measuring device according to claim 1, wherein said calculating means sets a suppression time for ignoring a signal from said optical sensor means after said start signal is generated.
【請求項4】 上記演算手段は、上記抑制時間が可変で
あることを特徴とする請求項3記載の走査位置測定装
置。
4. The scanning position measuring device according to claim 3, wherein said calculating means is capable of changing said suppression time.
【請求項5】 光源部から出射された光束を偏向手段に
より偏向し像面に結像させて主走査方向に走査する走査
光学系を測定対象とする測定装置であって、上記像面と
等価な面近傍の所望の主走査位置に配置され上記走査光
学系からの走査光を受光する受光手段と、該受光手段か
らの出力を読み出して走査光の副走査位置を演算する演
算手段と、上記走査光の偏向角度内の所定位置で走査光
を検知するセンサ手段と、を有し、上記偏向手段が、そ
の走査光を結像するための光学系とは別体の支持構造に
支持可能であることを特徴とする走査位置測定装置。
5. A measuring apparatus for measuring a scanning optical system that scans in a main scanning direction by deflecting a light beam emitted from a light source unit by a deflecting unit to form an image on an image plane and scan in a main scanning direction. Light-receiving means arranged at a desired main-scanning position near a suitable surface and receiving scanning light from the scanning optical system; calculating means for reading an output from the light-receiving means to calculate a sub-scanning position of the scanning light; Sensor means for detecting the scanning light at a predetermined position within the deflection angle of the scanning light, wherein the deflecting means can be supported by a support structure separate from an optical system for imaging the scanning light. A scanning position measuring device, comprising:
【請求項6】 光源部から出射された光束を偏向手段に
より偏向し像面に結像させて主走査方向に走査する走査
光学系を測定対象とする測定装置であって、上記像面と
等価な面近傍の所望の主走査位置に配置され上記走査光
学系からの走査光を受光する受光手段と、該受光手段か
らの出力を読み出して走査光の副走査位置を演算する演
算手段と、上記走査光の偏向角度内の所定位置で走査光
を検知するセンサ手段と、を有し、上記偏向手段が回転
多面鏡であり、上記受光手段が測定面上に設けられたラ
インセンサであって、該ラインセンサの画素ピッチをP
とし、該ラインセンサの受光素子の並び方向と副走査方
向とのなす角度をθとし、上記回転多面鏡の光反射位置
と像面との距離hとしたとき、上記回転多面鏡が、 1/2・tan−1((20Pcosθ/h) 以上の面倒れ量で設置されていることを特徴とする走査
位置測定装置。
6. A measuring apparatus for measuring a scanning optical system which deflects a light beam emitted from a light source section by a deflecting means, forms an image on an image plane, and scans in a main scanning direction, and is equivalent to the image plane. Light-receiving means arranged at a desired main-scanning position near a suitable surface and receiving scanning light from the scanning optical system; calculating means for reading an output from the light-receiving means to calculate a sub-scanning position of the scanning light; A sensor means for detecting the scanning light at a predetermined position within the deflection angle of the scanning light, the deflection means is a rotary polygon mirror, the light receiving means is a line sensor provided on the measurement surface, The pixel pitch of the line sensor is P
When the angle between the arrangement direction of the light receiving elements of the line sensor and the sub-scanning direction is θ, and the distance h between the light reflection position of the rotary polygon mirror and the image plane is: A scanning position measuring device, wherein the scanning position measuring device is installed with a surface inclination amount of 2 · tan −1 ((20 P cos θ / h) or more).
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