JP2001292066A - Error correction device and error correction method - Google Patents

Error correction device and error correction method

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JP2001292066A
JP2001292066A JP2000207160A JP2000207160A JP2001292066A JP 2001292066 A JP2001292066 A JP 2001292066A JP 2000207160 A JP2000207160 A JP 2000207160A JP 2000207160 A JP2000207160 A JP 2000207160A JP 2001292066 A JP2001292066 A JP 2001292066A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an error correction device that can reduce a time for error check processing without increasing the circuit scale. SOLUTION: A data buffer 14 receives data including a product code whose error is corrected in 1st and 2nd directions and temporarily stores the data. An exclusive OR arithmetic circuit 9 uses an error quantity detected by the error correction in the 1st direction and data stored in a storage element 11 to calculate a 1st error check result. A PI direction error check circuit 3 checks an error after the error correction in the 1st direction in response to the 1st error check result, and a PO direction part error check circuit 8 and a PO direction summing error check circuit 6 use the error quantity detected at the error correction in the 2nd direction to calculate the 2nd error check result. An exclusive OR arithmetic circuit 5 generates a final error check result on the basis of the 1st and 2nd error check results.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、データ転送システ
ムのための誤り訂正装置および誤り訂正方法に関し、特
に積符号などの多次元符号の誤り訂正と検査を高速に処
理するための装置および方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an error correction apparatus and an error correction method for a data transfer system, and more particularly to an apparatus and a method for processing error correction and checking of a multidimensional code such as a product code at a high speed. .

【0002】[0002]

【従来の技術】大量の情報量を有する映像情報等の記録
再生や伝送がデジタル信号として行なわれるようになる
に伴い、記録された情報あるいは伝送される情報に対す
る信頼性を高めるために誤り訂正および誤り検査の重要
度が増大する。とくに、リアルタイムでの記録や再生が
必要となる場合、このような大量の情報に対する誤り訂
正や検査を行なうためには、高速な処理が必要になる。
2. Description of the Related Art As recording, reproduction and transmission of video information and the like having a large amount of information have been performed as digital signals, error correction and correction have been required to improve the reliability of recorded or transmitted information. The importance of error checking increases. In particular, when real-time recording or reproduction is required, high-speed processing is required to perform error correction and inspection on such a large amount of information.

【0003】従来のデータ転送システム、たとえば記録
再生可能な光磁気ディスク装置は、受信したデータに積
符号からなる誤り訂正符号を付加して、記憶媒体にデー
タの格納を行なう。
A conventional data transfer system, for example, a recordable / reproducible magneto-optical disk device, adds an error correction code composed of a product code to received data and stores the data in a storage medium.

【0004】その後、格納されたデータは必要に応じて
誤り訂正装置へ呼出され、誤りの訂正がなされた後、誤
り検査符号(以下、EDCとよぶ)で誤り検査がなさ
れ、誤りがないことが確認された後、外部に出力され
る。
[0004] Thereafter, the stored data is called to an error correction device as necessary, and after error correction, error checking is performed with an error check code (hereinafter, referred to as EDC). After being confirmed, it is output to the outside.

【0005】また、再生専用光ディスク装置においても
同様に、格納されたデータは必要に応じて誤り訂正装置
へ呼出され、誤り訂正がなされた後、誤り検査符号で誤
り検査がなされ、誤りがないことが確認された後、外部
に出力される。
Similarly, in a read-only optical disk device, the stored data is called to an error correction device as necessary, and after error correction, error checking is performed with an error check code to confirm that there is no error. Is confirmed and then output to the outside.

【0006】従来の誤り訂正方法において、たとえば、
DVD(Digital Video Disc)においては、ディスクか
ら読出されたデータは、一旦、たとえばSDRAM(Sy
nchronous Dynamic Random Access Memory)等の外部半
導体記憶素子のバッファに格納される。その後、誤り訂
正装置によりデータが呼出され、誤りが訂正される。
In a conventional error correction method, for example,
In a DVD (Digital Video Disc), data read from the disc is temporarily stored in, for example, an SDRAM (Sy
It is stored in a buffer of an external semiconductor storage element such as an nchronous dynamic random access memory (NCH). Thereafter, the data is called by the error correction device, and the error is corrected.

【0007】たとえば、DVDでは、データを長方形に
並べ、縦方向(PO)と横方向(PI)の2方向の誤り
訂正符号を付加した積符号が用いられる。
For example, in a DVD, a product code is used in which data is arranged in a rectangle and error correction codes in two directions, a vertical direction (PO) and a horizontal direction (PI) are added.

【0008】図17は、従来のDVDの誤り訂正積記号
のフォーマットである。2次元に配列された172バイ
ト(Byte)×192行(row)の情報データに、
横方向の10バイト(Byte)のパリティPI(誤り
訂正内符号)と、縦方向の16バイト(Byte)のパ
リティPO(誤り訂正外符号)が付加されたデータを1
ブロックとしている。また、図17において、横方向を
PI方向とも呼び、縦方向をPO方向とも呼ぶことにす
る。
FIG. 17 shows the format of a conventional DVD error correction product symbol. In the information data of 172 bytes (Byte) × 192 rows (row) arranged in two dimensions,
Data to which a parity PI (error correction inner code) of 10 bytes (Byte) in the horizontal direction and a parity PO (outer code of error correction) of 16 bytes (Byte) in the vertical direction are added to 1
It is a block. In FIG. 17, the horizontal direction is also called the PI direction, and the vertical direction is also called the PO direction.

【0009】図18は、図17に示したDVDの誤り訂
正積符号(誤り訂正内符号および誤り訂正外符号)と誤
り検査符号(EDC)との関連を示す図である。
FIG. 18 is a diagram showing the relationship between the error correction product code (error correction inner code and error correction outer code) and the error check code (EDC) of the DVD shown in FIG.

【0010】上記1ブロックは、16個のセクタに分か
れ、1つのセクタは、172Byte×12行のデータ
配列で構成され、これらのデータ配列は、その末尾に4
ByteのEDCを含んでいる。
The above-mentioned one block is divided into 16 sectors, and one sector is composed of a data array of 172 bytes × 12 rows, and these data arrays have 4 data at the end thereof.
Includes Byte EDC.

【0011】図19は、誤り検査符号を含む1セクタの
データ配列を示す図であり、先頭ビットから降順に番号
を割り振ったものである。
FIG. 19 is a diagram showing a data array of one sector including an error check code, in which numbers are assigned in descending order from the first bit.

【0012】1セクタ分のデータは、ビットデータb1
6511からビットデータb0に至るデータとして配列
されており、ビットデータb31−b0がEDCに対応
している。
The data for one sector is bit data b1
The data are arranged as data from 6511 to bit data b0, and bit data b31-b0 correspond to EDC.

【0013】図20は、以上のような構成を有するDV
Dデータに対する誤り訂正および誤り検査を行なう第1
の従来例の構成を説明するための概略ブロック図であ
る。
FIG. 20 shows a DV having the above configuration.
First to perform error correction and error check on D data
FIG. 7 is a schematic block diagram for explaining a configuration of a conventional example.

【0014】図20を参照して、復号を行なう基本的な
パターンは、たとえば以下のような手順による。
Referring to FIG. 20, a basic pattern for decoding is based on, for example, the following procedure.

【0015】1)データバス21を介して入力信号がデ
ータバッファ(SDRAM)24に格納され、データバ
ッファ24からPI方向誤り訂正回路20がPI方向の
データを読込みシンドロームを計算する。
1) An input signal is stored in a data buffer (SDRAM) 24 via a data bus 21, and a PI direction error correction circuit 20 reads data in the PI direction from the data buffer 24 and calculates a syndrome.

【0016】2)上記PI方向のシンドロームの値より
PI方向誤り訂正回路20が、誤り量および誤り位置を
検出し、データバッファ24に格納されているデータに
対して誤り訂正を行なう。
2) The PI direction error correction circuit 20 detects an error amount and an error position from the value of the syndrome in the PI direction, and performs error correction on the data stored in the data buffer 24.

【0017】3)次に、データバッファ24からPO方
向誤り訂正回路22がPO方向のデータを読込みシンド
ロームを計算する。
3) Next, the PO direction error correction circuit 22 reads data in the PO direction from the data buffer 24 and calculates a syndrome.

【0018】4)上記PO方向のシンドロームの値によ
りPO方向誤り訂正回路22が誤り量および誤り位置を
算出し、データバッファ24に格納されているデータに
対して誤り訂正を行なう。
4) The PO direction error correction circuit 22 calculates an error amount and an error position based on the value of the syndrome in the PO direction, and performs error correction on the data stored in the data buffer 24.

【0019】以上の処理を繰返すことにより、誤りを訂
正する。 5)これらの誤り訂正が終了後、誤り検査回路23が、
データバッファ24よりデータを読取り、誤り検査符号
を用いて誤りがないことを確認する。
An error is corrected by repeating the above processing. 5) After these error corrections are completed, the error checking circuit 23
The data is read from the data buffer 24, and it is confirmed that there is no error using the error check code.

【0020】[0020]

【発明が解決しようとする課題】以上のような処理を行
なった場合に問題となるのは、誤り訂正後、再度データ
バッファ(SDRAM)24にアクセスを行ない、誤り
検査を行なうため、誤り訂正、誤り検査の作業に多くの
時間が必要となることである。
A problem that arises when the above processing is performed is that after error correction, the data buffer (SDRAM) 24 is accessed again and an error check is performed. The error checking operation requires a lot of time.

【0021】たとえば、図20に示す構造において、デ
ータバッファ24から読出したデータを用いて誤り訂正
を行なった後に初めて、データバッファ24からデータ
を誤り検査回路23に読込むため、比較的時間を要する
データバッファ24からのデータの読み書きの回数が多
くなり、それだけ処理に時間が必要となる。
For example, in the structure shown in FIG. 20, since data is read from data buffer 24 to error checking circuit 23 only after error correction is performed using data read from data buffer 24, a relatively long time is required. The number of times data is read from or written to the data buffer 24 increases, and the processing time becomes longer.

【0022】この問題を解決するため、たとえば、特開
平11−55129号公報に開示された方法がある。
To solve this problem, for example, there is a method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. H11-55129.

【0023】図21は、特開平11−55129号公報
に開示された誤り訂正および誤り検査を行なう第2の従
来例の構成を説明するための概略ブロック図である。
FIG. 21 is a schematic block diagram for explaining a configuration of a second conventional example for performing error correction and error checking disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. H11-55129.

【0024】図21に示した誤り訂正および誤り検査装
置の構造では、誤り訂正回路のためのデータバスと誤り
検査回路のためのデータバスが併用される構造を取る。
The structure of the error correction and error checking apparatus shown in FIG. 21 employs a structure in which a data bus for the error correction circuit and a data bus for the error check circuit are used in combination.

【0025】また、図22、図23、図24、図25
は、それぞれ、図21に示した誤り訂正および誤り検査
装置の処理の略図を示す第1〜第4の概念図である。
FIG. 22, FIG. 23, FIG. 24, FIG.
22 are first to fourth conceptual diagrams each showing a schematic diagram of the processing of the error correction and error checking device shown in FIG. 21.

【0026】図22、図23では、説明の簡単のために
誤り検査を行なうためのデータを10列×4行=40個
と省略してある。
In FIGS. 22 and 23, data for error checking is omitted as 10 columns × 4 rows = 40 for simplicity of explanation.

【0027】図21に示した誤り訂正および誤り検査装
置を用いた誤り検査は、2段階に分かれて実行される。
The error check using the error correction and error check apparatus shown in FIG. 21 is executed in two stages.

【0028】第1段階では、たとえばPI方向の誤り訂
正処理のために、バッファ34からデータが読込まれ、
図22に示すようなデータ配列の順序にしたがって、D
ATAシンドローム生成回路36へ転送し、DATAシ
ンドロームを算出する。
In the first stage, data is read from the buffer 34 for error correction in the PI direction, for example.
According to the order of the data array as shown in FIG.
The data is transferred to the ATA syndrome generation circuit 36, and the DATA syndrome is calculated.

【0029】算出されたDATAシンドロームは、記憶
素子32に格納される。一方、第1段階では、DATA
シンドロームの算出とは別に、PI方向の誤り訂正回路
30によって検知された誤り量を用いて、図22に示す
ようなデータ配列の順序に従って、ERRORシンドロ
ームを算出する。
The calculated DATA syndrome is stored in the storage element 32. On the other hand, in the first stage, DATA
Apart from the calculation of the syndrome, the ERROR syndrome is calculated in accordance with the order of the data array as shown in FIG. 22 using the error amount detected by the error correction circuit 30 in the PI direction.

【0030】第2段階では、さらに、PO方向の誤り訂
正回路32によって検査された誤り量を用いて、図23
に示すデータ配列の順序に従って、ERRORシンドロ
ームの続きを算出する。
In the second stage, the error amount detected by the error correction circuit 32 in the PO direction is further used to determine
The continuation of the ERROR syndrome is calculated according to the order of the data array shown in FIG.

【0031】最後に、図24に示すように、この2つの
シンドローム、つまり、DATAシンドロームとERR
ORシンドロームとの排他的論理和を排他的論理和演算
器35が演算して、最終的な検査シンドロームを算出す
る。この検査シンドロームに基づいて、判定回路31が
誤り検出の結果を判定する。
Finally, as shown in FIG. 24, the two syndromes, namely, the DATA syndrome and the ERR
The exclusive OR calculator 35 calculates the exclusive OR with the OR syndrome to calculate the final inspection syndrome. The determination circuit 31 determines the result of the error detection based on the inspection syndrome.

【0032】したがって、検査シンドロームを生成する
ために、再度データバッファ34からデータを読込むこ
とを必要としないために、高速に、かつ誤り訂正と誤り
検査の処理を並行に行なうことができる。
Therefore, since it is not necessary to read data from the data buffer 34 again to generate the inspection syndrome, it is possible to perform the error correction and the error inspection at high speed in parallel.

【0033】さらに、たとえば、PO方向の誤り訂正回
路32において、誤り訂正シンドロームを計算した際
に、たとえば、第3列(COL3)の符号語に誤りがな
いとき、次に行なう誤り量と誤り位置の検出作業を省略
する処理に対応して、図25に示すように、ERROR
シンドローム計算時においても、誤りがない符号語につ
いてはオフセット値を用いて演算の高速化が行なわれ
る。
Further, for example, when the error correction syndrome is calculated by the error correction circuit 32 in the PO direction, for example, when there is no error in the code word of the third column (COL3), the amount of error to be performed next and the error position In response to the process of omitting the detection operation of ERROR, as shown in FIG.
Even at the time of syndrome calculation, for code words having no error, the calculation speed is increased using the offset value.

【0034】しかし、このオフセット計算のために、E
RRORシンドローム生成回路38においては、縦方向
へ1行ずつ演算を行なう場合と、ある列から隣の列に処
理を移行する場合と、ある列から1列とばした列に処理
を移行する場合にそれぞれ対応して、3種以上のシンド
ロームに関する演算パスを有する演算処理回路が必要で
あり、回路規模が増大するという問題があった。
However, for this offset calculation, E
In the RROR syndrome generation circuit 38, there are a case where the operation is performed row by row in the vertical direction, a case where the processing is shifted from a certain column to an adjacent column, and a case where the processing is shifted to a column skipped from one column. Correspondingly, an arithmetic processing circuit having arithmetic paths for three or more syndromes is required, and there is a problem that the circuit scale increases.

【0035】この発明は、上記のような問題点を解決す
るためになされたものであって、その目的は、回路規模
を増大させることなく、記憶素子へのアクセス時間を短
縮し、誤り停止処理と並行して誤り検査処理を行なうこ
とにより、誤り検査処理に対する時間を短縮することが
可能な誤り訂正装置を提供することである。
The present invention has been made to solve the above problems, and has as its object to reduce the access time to a storage element without increasing the circuit scale, and to provide an error stop processing. And an error correction device capable of shortening the time required for the error check process by performing the error check process in parallel.

【0036】[0036]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の誤り訂正
装置は、データブロックの第1の方向および第2の方向
の誤り訂正が可能な積符号を有する誤り訂正符号を含む
被訂正データに対する誤り訂正処理を行なう誤り訂正演
算手段を備え、誤り訂正演算手段は、積符号の第1の方
向を訂正する第1の誤り訂正手段と、第2の方向を訂正
する第2の誤り訂正手段とを含み、被訂正データを格納
することが可能な第1の記憶素子と、誤り訂正演算手段
による訂正が誤訂正でないことを確認するために、誤り
検査符号による誤り検査を行なう誤り検査手段とを備
え、誤り検査符号は、データブロックの第1の方向のデ
ータに誤り検査符号を連続的に設けたものであって、誤
り検査手段は、第1の方向の誤り訂正によって検出され
た誤り量と、第1の記憶素子に格納されたデータとを用
いて第1の誤り検査結果を算出する第1の論理演算手段
と、第1の誤り検出結果に応じて、第1の方向の誤り訂
正後の誤り検査を行なう第1方向誤り検査手段と、第2
の方向の誤り訂正時に検出された誤り量を用いて、第2
の誤り検査結果を算出し、第1および第2の誤り検査結
果の論理演算を行なうことで、第2の方向の誤り訂正後
の誤り検査を行なう第2方向誤り検査手段とを含む。
According to the present invention, there is provided an error correcting apparatus for correcting data to be corrected including an error correcting code having a product code capable of correcting errors in a first direction and a second direction of a data block. Error correction means for performing error correction processing, the error correction means comprising: first error correction means for correcting a first direction of a product code; and second error correction means for correcting a second direction. And a first storage element capable of storing the data to be corrected, and an error checking means for performing an error check with an error check code to confirm that the correction by the error correction calculation means is not an erroneous correction. The error check code is provided by continuously providing an error check code to data in a first direction of a data block, and the error check means determines the amount of error detected by error correction in the first direction. The first A first logical operation means for calculating a first error check result using the data stored in the storage element, and an error check after the error correction in the first direction according to the first error detection result. First direction error checking means for performing
Using the error amount detected at the time of error correction in the direction of
And a second direction error checking means for performing an error check after error correction in the second direction by calculating the error check result of the first and second error check results.

【0037】請求項2記載の誤り訂正装置は、請求項1
記載の誤り訂正装置の構成に加えて、被訂正データを受
けて一時的に格納するための第2の記憶素子をさらに備
え、第1の記憶素子は、第2の記憶素子から読込んだ符
号語を格納する。
The error correction device according to the second aspect is the first aspect of the invention.
In addition to the configuration of the error correction device described above, the apparatus further includes a second storage element for receiving and temporarily storing the data to be corrected, wherein the first storage element includes a code read from the second storage element. Stores words.

【0038】請求項3記載の誤り訂正装置は、請求項1
または2記載の誤り訂正装置の構成に加えて、第2方向
誤り検査手段は、第2の方向の誤り訂正時に検出された
誤り量を用いて、データブロックの第2の方向に並ぶデ
ータごとに部分検査結果を算出する部分誤り検査手段
と、算出された複数の部分検査結果を第1の方向に集計
することにより、第2の検査結果を算出する集計誤り検
査手段を有する。
The error correction device according to the third aspect is the first aspect of the invention.
Or in addition to the configuration of the error correction device described in 2 above, the second direction error checking means uses the amount of error detected at the time of error correction in the second direction for each data lined in the second direction of the data block. It has a partial error checking means for calculating a partial inspection result, and a counting error checking means for calculating a second inspection result by counting the plurality of calculated partial inspection results in the first direction.

【0039】請求項4記載の誤り訂正装置は、請求項3
記載の誤り訂正装置の構成に加えて、少なくとも第2の
誤り訂正手段と第1方向誤り検査手段とが並列的に動作
する。
The error correction device according to the fourth aspect is the third aspect of the invention.
In addition to the configuration of the error correction device described above, at least the second error correction unit and the first direction error check unit operate in parallel.

【0040】請求項5記載の誤り訂正装置は、請求項3
記載の誤り訂正装置の構成に加えて、第2方向誤り検査
手段は、第1方向誤り検査手段の検査結果を受けて格納
する第3の記憶素子と、第3の記憶素子に格納された第
1方向誤り検査手段の検査結果と集計誤り検査手段の検
査結果とを受けて、第2の方向の誤り訂正後の誤り検査
を行なうための第2の論理演算手段とをさらに含む。
The error correction device according to the fifth aspect is the third aspect of the invention.
In addition to the configuration of the error correction device described above, the second direction error checker includes a third storage element that receives and stores the check result of the first direction error checker, and a third storage element that is stored in the third storage element. Second logic operation means for receiving the check result of the one-way error check means and the check result of the total error check means and performing an error check after error correction in the second direction is further included.

【0041】請求項6記載の誤り訂正装置は、請求項1
〜5のいずれか1項に記載の誤り訂正装置の構成に加え
て、第2方向誤り検査手段は、第1および第2の誤り検
査結果の排他的論理和演算を行なうことで、第2の方向
の誤り訂正後の誤り検査を行なう。
The error correction device according to the sixth aspect is the first aspect of the invention.
In addition to the configuration of the error correction device according to any one of the above-described items, the second direction error checker performs an exclusive OR operation on the first and second error check results, thereby obtaining a second error check result. An error check after error correction in the direction is performed.

【0042】請求項7記載の誤り訂正方法は、データブ
ロックの第1の方向および第2の方向の誤り訂正が可能
な積符号を有する誤り訂正符号を含む被訂正データを受
けて、第1の方向について誤り訂正処理を行なうステッ
プと、被訂正データを受けて、第2の方向について誤り
訂正処理を行なうステップと、誤り訂正前の被訂正デー
タと、第1の方向の誤り訂正によって検出された誤り量
とを順次用いて第1の誤り検査結果を算出するステップ
と、第1の誤り検出結果に応じて、第1の方向の誤り訂
正後の誤り検査を行なうステップと、第2の方向の誤り
訂正時に検出された誤り量を用いて、第2の誤り検査結
果を算出し、第1および第2の誤り検査結果の論理演算
を行なうことで、第2の方向の誤り訂正後の誤り検査を
行なうステップとを備える。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided an error correction method, comprising the steps of: receiving data to be corrected including an error correction code having a product code capable of correcting errors in a first direction and a second direction of a data block; Performing an error correction process in the direction, receiving the data to be corrected, performing an error correction process in the second direction, receiving the data before the error correction, and detecting the error in the first direction. Calculating a first error check result by sequentially using the error amount; performing an error check after error correction in a first direction according to the first error detection result; A second error check result is calculated using the amount of error detected at the time of error correction, and a logical operation of the first and second error check results is performed, whereby the error check after the error correction in the second direction is performed. The steps of Provided.

【0043】請求項8記載の誤り訂正方法は、請求項7
記載の誤り訂正方法の構成に加えて、第2の方向の誤り
訂正後の誤り検査を行なうステップは、第2の方向の誤
り訂正時に検出された誤り量を用いて、データブロック
の第2の方向に並ぶデータごとに部分検査結果を算出す
るステップと、算出された複数の部分検査結果を第1の
方向に集計することにより、第2の検査結果を算出する
ステップとを含む。
The error correction method according to claim 8 is the same as the error correction method according to claim 7.
In addition to the configuration of the error correction method described above, the step of performing the error check after the error correction in the second direction is performed by using an error amount detected at the time of error correction in the second direction. A step of calculating a partial inspection result for each data lined up in the direction; and a step of calculating a second inspection result by totalizing the plurality of calculated partial inspection results in the first direction.

【0044】請求項9記載の誤り訂正方法は、請求項7
または8記載の誤り訂正方法の構成に加えて、第2の方
向の誤り訂正後の誤り検査を行なうステップにおいて
は、第1および第2の誤り検査結果の排他的論理和演算
を行なうことで、第2の方向の誤り訂正後の誤り検査を
行なう。
The error correction method according to the ninth aspect provides the error correction method according to the seventh aspect.
Or in the step of performing error checking after error correction in the second direction, in addition to the configuration of the error correcting method described in 8, by performing an exclusive OR operation on the first and second error checking results, An error check after error correction in the second direction is performed.

【0045】請求項10記載の誤り訂正装置は、請求項
1または2記載の誤り訂正装置の構成に加えて、第2方
向誤り検査手段は、第2の方向の誤り訂正時に検出され
た誤り量を用いて、予め設定された誤り量と部分検査結
果との対応を示す演算テーブルに基づいて、データブロ
ックの第2の方向に並ぶデータごとに部分検査結果を出
力する部分誤り検査手段と、算出された複数の部分検査
結果を第1の方向に集計することにより、第2の検査結
果を算出する集計誤り検査手段を有する。
According to a tenth aspect of the present invention, in addition to the configuration of the error correcting apparatus of the first or second aspect, the second direction error checking means further comprises: A partial error check means for outputting a partial check result for each data lined up in the second direction of the data block based on an operation table indicating a correspondence between a predetermined error amount and a partial check result, A total error checking unit that calculates a second inspection result by totalizing the plurality of partial inspection results obtained in the first direction.

【0046】請求項11記載の誤り訂正装置は、請求項
10記載の誤り訂正装置の構成に加えて、部分誤り検査
手段は、第2の方向の誤り訂正時に検出された誤り量に
対応する誤りデータを複数のステップにわたって順次受
け、部分誤り検査手段は、前ステップにおいて与えられ
た誤りデータに基づく部分検査データと現在ステップに
おいて与えられた誤りデータとの排他的論理和演算結果
を出力する排他的論理和演算手段と、排他的論理和演算
手段の出力を受けて、予め設定された誤りデータと部分
検査データとの対応を示す演算テーブルに基づいて、部
分検査データを出力する表演算手段と、表演算手段から
出力され部分検査データを受けて保持し、現在ステップ
において、前ステップにおける部分検査データを排他的
論理和演算手段に与えるデータ保持手段とを含み、表演
算手段は、最後のステップにおいて与えられた誤りデー
タに基づいて、データブロックの第2の方向に並ぶデー
タごとに部分検査結果を出力する。
According to an eleventh aspect of the present invention, in addition to the configuration of the error correcting apparatus of the tenth aspect, the partial error checking means further comprises an error correcting unit corresponding to an error amount detected at the time of error correction in the second direction. Receiving the data sequentially over a plurality of steps, and the partial error checking means outputs an exclusive OR operation result of the partial check data based on the error data given in the previous step and the error data given in the current step. OR operation means, table operation means for receiving the output of the exclusive OR operation means, and outputting partial inspection data based on an operation table indicating correspondence between preset error data and partial inspection data, The partial inspection data output from the table operation means is received and held, and in the current step, the partial inspection data in the previous step is sent to the exclusive OR operation means. And a obtain data holding means, the table calculating means, based on the error data given in the last step, outputting the partial inspection results for each data arranged in the second direction of data blocks.

【0047】請求項12記載の誤り訂正装置は、請求項
11記載の誤り訂正装置の構成に加えて、表演算手段
は、排他的論理和演算手段の出力を受けて、所定数のグ
ループに分割するデータ分割手段と、データ分割手段の
出力をそれぞれ受けて、予め設定された誤りデータと部
分検査データとの対応を示す演算テーブルに基づいて、
部分検査データを出力する複数のサブ表演算手段と、複
数のサブ表演算手段からの出力を受けて、部分検査デー
タを出力する部分検査演算手段とを含む。
According to a twelfth aspect of the present invention, in addition to the configuration of the error correcting apparatus of the eleventh aspect, the table operation means receives the output of the exclusive OR operation means and divides the table into a predetermined number of groups. Data dividing means, and receiving the output of the data dividing means, respectively, based on an operation table indicating a correspondence between predetermined error data and partial inspection data,
It includes a plurality of sub-table operation means for outputting the partial inspection data, and a partial inspection operation means for receiving the output from the plurality of sub-table operation means and outputting the partial inspection data.

【0048】[0048]

【発明の実施の形態】[実施の形態1] [ディスク再生装置1000の構成]図1は、この発明
に係る誤り訂正および並行検査装置を備えたディスク再
生装置1000の構成を示す概略ブロック図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS [First Embodiment] [Configuration of Disk Reproducing Apparatus 1000] FIG. 1 is a schematic block diagram showing the configuration of a disc reproducing apparatus 1000 provided with an error correction and parallel inspection apparatus according to the present invention. is there.

【0049】図1を参照して、ドライブ駆動回路149
により駆動されるドライブ141でディスクから読取ら
れたデータは、制御回路144中の信号読取回路142
で復調される。サーボ回路143は、信号読取回路14
2に読み取られる信号に基づいて、ドライブ駆動回路1
49を制御する。
Referring to FIG. 1, drive drive circuit 149
The data read from the disk by the drive 141 driven by the
Is demodulated. The servo circuit 143 includes the signal reading circuit 14
Drive drive circuit 1 based on the signal read by
49 is controlled.

【0050】ディスクからのデータは、信号読取回路1
42で復調された後、復号回路147中のデータバッフ
ァ14に転送される。転送されたデータは、誤り訂正回
路145で誤りが訂正された後、誤り検査回路146で
誤りがないことを確認した後、デスクランブル処理が施
され、インターフェース148を介して情報データがホ
ストPCへ転送される。
Data from the disk is read by a signal reading circuit 1
After being demodulated at 42, it is transferred to the data buffer 14 in the decoding circuit 147. The transferred data is subjected to a descrambling process after the error correction circuit 145 corrects the error and confirms that there is no error in the error check circuit 146, and the information data is transmitted to the host PC via the interface 148. Will be transferred.

【0051】なお、以下の説明では、DVDを例にとっ
て、これに記録されたデータに対応する積符号の誤り訂
正および並行検査装置ならびに方法について説明する
が、本発明はこのような場合に限定されることなく、図
18に示したように、1ブロックのデータに対して誤り
訂正積符号が配置され、かつこの1ブロック中のセクタ
ごとに所定の誤り検査符号が配置されるデータに対する
積符号の誤り訂正および並行検査装置ならびに方法に適
用可能なものである。
In the following description, an apparatus and method for error correction and parallel checking of a product code corresponding to data recorded on a DVD will be described by taking a DVD as an example, but the present invention is limited to such a case. Without error, as shown in FIG. 18, an error correction product code is arranged for one block of data, and a product code of data for which a predetermined error check code is arranged for each sector in this one block. The present invention is applicable to an error correction and parallel inspection apparatus and method.

【0052】[積符号の誤り訂正および並行検査装置の
構成]図2は、図1に示した復号回路147の構成を説
明するための概略ブロック図である。また、図3は、復
号回路中の排他的論理和回路9の動作を説明するための
概念図である。
[Configuration of Product Code Error Correction and Parallel Checking Apparatus] FIG. 2 is a schematic block diagram for describing the configuration of decoding circuit 147 shown in FIG. FIG. 3 is a conceptual diagram for explaining the operation of the exclusive OR circuit 9 in the decoding circuit.

【0053】以下、この図2を用いて、復号回路147
の構成および動作の説明を行なう。復号回路147の処
理の第1ステップでは、信号読取回路142からの入力
データがデータバス13を介して、データバッファ14
に転送される。ここでは、たとえばSDRAMをデータ
バッファ14として使用するものとする。
Hereinafter, the decoding circuit 147 will be described with reference to FIG.
Will be described. In the first step of the processing of the decoding circuit 147, the input data from the signal reading circuit 142 is transferred to the data buffer 14 via the data bus 13.
Is forwarded to Here, it is assumed that, for example, an SDRAM is used as data buffer 14.

【0054】処理の第2ステップでは、データバッファ
14より読取られたデータは、第1の方向(PI方向)
の誤り訂正回路10に転送される。さらに、並行して、
たとえばデータブロックに対して少なくとも1行分のデ
ータが記憶素子11に保存される。
In the second step of the processing, the data read from the data buffer 14 is stored in the first direction (PI direction).
Is transferred to the error correction circuit 10. In parallel,
For example, at least one row of data is stored in the storage element 11 for the data block.

【0055】第3のステップでは、記憶素子11からP
I方向の誤り検査回路3へ排他的論理和回路9を介して
データ配列が転送される。このデータのうち、PI方向
誤り訂正回路10で誤りが検出されたものに関しては、
PI方向誤り訂正回路10より誤り量を出力し、これら
の排他的論理和が図3に示すように、排他的論理和回路
9で計算され、誤りが訂正されたデータ配列がPI方向
の誤り検査回路3に転送される。
In the third step, P
The data array is transferred to the I-direction error check circuit 3 via the exclusive OR circuit 9. Of the data, the data in which an error is detected by the PI error correction circuit 10 are as follows:
An error amount is output from the PI direction error correction circuit 10, and the exclusive OR of these is calculated by the exclusive OR circuit 9, as shown in FIG. Transferred to the circuit 3.

【0056】第4のステップでは、PI方向誤り検査回
路3から算出された検査結果データが、PI方向判定回
路1に転送される。
In the fourth step, the inspection result data calculated from the PI direction error check circuit 3 is transferred to the PI direction determination circuit 1.

【0057】ここでいう検査結果とは、後に詳しく説明
するように、たとえば{I(x)mod g(x)}E
xor EDC等の計算結果である。
The inspection result here is, for example, {I (x) mod g (x)} E
It is a calculation result of xor EDC or the like.

【0058】PI方向誤り検査回路3で算出された検査
結果データは、記憶素子2によって保持され、後に述べ
るPO方向の誤り検査結果の判定に用いられる。
The test result data calculated by the PI direction error check circuit 3 is stored in the storage element 2 and is used for determining the PO direction error check result described later.

【0059】第5のステップでは、データバッファ14
からPOの誤り訂正回路12にデータ配列が送り込ま
れ、PO方向の誤り訂正が行なわれる。
In the fifth step, the data buffer 14
, The data array is sent to the PO error correction circuit 12, and error correction in the PO direction is performed.

【0060】この実施の形態では、誤り訂正の処理速度
を高めるために、PI方向の誤り訂正回路10とPO方
向の誤り訂正回路12を個別に配備した構成となってい
る。
In this embodiment, the PI error correction circuit 10 and the PO error correction circuit 12 are separately provided in order to increase the error correction processing speed.

【0061】このとき、誤りが検出されたものに関して
は、PO方向誤り訂正回路12より誤り量を出力し、誤
りのないデータに関しては誤り量を0としたデータ配列
が、PO方向の誤り訂正回路12から、PO方向の部分
誤り検査回路8に転送される。
At this time, the error amount is output from the PO-direction error correction circuit 12 for an error detected, and the data array with the error amount set to 0 for error-free data is stored in the PO-direction error correction circuit. 12 is transferred to the partial error check circuit 8 in the PO direction.

【0062】部分誤り検査回路8では、後に詳しく説明
するように、列ごとの検査結果を計算し、レジスタ7に
その結果を保持する。
The partial error check circuit 8 calculates the check result for each column and holds the result in the register 7, as will be described later in detail.

【0063】なお、第3のステップのPI方向の誤り訂
正が終了した時点で、データバス13を介してデータバ
ッファ14へPO方向誤り訂正回路12からアクセスが
可能となるので、以上説明した第5のステップは、第3
のステップのPI方向の誤り訂正が終了した時点で開始
してもよい。
When the error correction in the PI direction in the third step is completed, the data buffer 14 can be accessed from the PO error correction circuit 12 via the data bus 13. Step 3
May be started at the time when the error correction in the PI direction in the step is completed.

【0064】第6のステップでは、PO方向の部分誤り
検査回路8により計算された結果をレジスタ7より呼出
し、PO方向の誤り検査の行方向についての集計をPO
方向集計誤り検査回路6にて行なう。
In the sixth step, the result calculated by the partial error check circuit 8 in the PO direction is called from the register 7, and the total in the row direction of the error check in the PO direction is collected by the PO.
This is performed by the direction totaling error check circuit 6.

【0065】これらの回路により高速に計算された結果
と記憶素子2に保持されたPI方向の誤り検査結果の排
他的論理和を排他的論理和回路5で演算して、その結果
をPO方向誤り判定回路4に転送することで判定を行な
う。
The exclusive OR circuit 5 calculates the exclusive OR of the result calculated at a high speed by these circuits and the error check result in the PI direction held in the storage element 2, and outputs the result to the PO direction error. The determination is made by transferring the data to the determination circuit 4.

【0066】第7ステップでは、以上説明したように積
符号により誤り訂正され、検査の結果誤りのないことが
示されたデータバッファ14上の情報データをホストの
要求に従って、ホストPCに転送する。
In the seventh step, as described above, the information data in the data buffer 14 which has been corrected by the product code and which has been shown to have no error as a result of the check is transferred to the host PC in accordance with the request from the host.

【0067】これらのPI方向およびPO方向の誤り検
査は、それぞれPI方向およびPO方向の誤り訂正と、
ほぼ並行して実行されるため、処理速度は非常に高速
で、かつPI方向およびPO方向のどちらの誤り訂正実
行後でも検査が並行して終了しているため、PI方向お
よびPO方向のいずれかの誤り訂正実行後において、検
査結果に異常がないことが判明すれば、直ちに情報デー
タのホストへの転送が可能となる。
The error check in the PI direction and the PO direction includes error correction in the PI direction and the PO direction, respectively.
Since the processing is executed almost in parallel, the processing speed is very high, and the inspection is completed in parallel even after the error correction in both the PI direction and the PO direction. If it is found that there is no abnormality in the inspection result after the error correction is performed, the information data can be immediately transferred to the host.

【0068】ただし、以上の説明では、PI系列の誤り
訂正とPO系列の誤り訂正を1回ずつ行なう構成につい
て説明したが、本発明はこのような構成には限定され
ず、これらPI系列の誤り訂正とPO系列の誤り訂正を
2回以上繰返して行なう訂正装置に関しても、適用する
ことは可能である。
In the above description, however, a configuration has been described in which error correction of the PI sequence and error correction of the PO sequence are performed once, but the present invention is not limited to such a configuration. The present invention can also be applied to a correction device that performs correction and error correction of a PO sequence twice or more times.

【0069】[誤り計算方法の詳細]次に、本発明の誤
り計算の計算方法の詳細を説明する。
[Details of Error Calculation Method] Next, the details of the error calculation method according to the present invention will be described.

【0070】図13に示した単位セクタは、16512
個の1ビットのデータから形成され、これらのデータを
用いてi番目のセクタのEDCであるEDCiは以下の
式で表わされる。
The unit sector shown in FIG.
EDCi, which is formed from the 1-bit data, and is the EDC of the i-th sector using these data, is represented by the following equation.

【0071】以下で、bjは図13に示した1ビットの
データである。
Hereinafter, bj is 1-bit data shown in FIG.

【0072】[0072]

【数1】 (Equation 1)

【0073】すなわち、データによって計算される多項
式I(x)を多項式g(x)で割り算を行なったときの
余り(検査シンドローム)がEDCi(x)に等しけれ
ば誤りがないことを示すものである。
That is, there is no error if the remainder (check syndrome) when the polynomial I (x) calculated by the data is divided by the polynomial g (x) is equal to EDCi (x). .

【0074】図4は、図18に示したデータ構成のうち
パリティーチェックデータを除いた16個のセクタにつ
いて、誤り検査の処理におけるデータ処理単位の配列を
示す概念図である。
FIG. 4 is a conceptual diagram showing an array of data processing units in error check processing for 16 sectors in the data configuration shown in FIG. 18 excluding parity check data.

【0075】図4においては、各セクタにおいて、デー
タを処理する単位が4バイト(Byte)であることに応じ
て、このような4バイトごとのデータを、iをセクタ番
号、jを列番号、kを行番号として、データdata_
ijkで表す。ここで、i,j,kはそれぞれ正の整数
であり、0≦i≦15、0≦j≦42、0≦k≦11で
ある。
In FIG. 4, according to the fact that the data processing unit is 4 bytes (Byte) in each sector, such data of every 4 bytes is represented by i as a sector number, j as a column number, k is a line number, and data_data_
Expressed as ijk. Here, i, j, and k are positive integers, respectively, where 0 ≦ i ≦ 15, 0 ≦ j ≦ 42, and 0 ≦ k ≦ 11.

【0076】図5および図6は、以下に説明する誤り訂
正および誤り検査の処理において処理されるデータ配列
の順序を示す第1および第2の概念図である。
FIGS. 5 and 6 are first and second conceptual diagrams showing the order of data arrays processed in the error correction and error checking processes described below.

【0077】上述したように図5および6に示すとお
り、誤り検査を行なうための1つのセクタ内のデータ処
理単位の個数は43×12=516個であり、各データ
処理単位data_ijkは32ビット(8ビット×
4)の値である。
As described above, as shown in FIGS. 5 and 6, the number of data processing units in one sector for performing error checking is 43 × 12 = 516, and each data processing unit data_ijk is 32 bits ( 8 bits x
4).

【0078】このような符号により、基本的にたとえば
DVDのフォーマットでの検証が可能である。以下、図
5および6に示すようなデータ構造についての誤り訂正
を説明する。
With such a code, it is basically possible to perform verification in a DVD format, for example. Hereinafter, error correction for a data structure as shown in FIGS. 5 and 6 will be described.

【0079】各データ処理単位data_ijkに対応
する多項式を、I(i,j,k)で表わしたとき、i番
目のセクタに対するEDCiは、以下の式で定義するこ
とにより計算される。
When a polynomial corresponding to each data processing unit data_ijk is represented by I (i, j, k), EDCi for the i-th sector is calculated by defining the following equation.

【0080】[0080]

【数2】 (Equation 2)

【0081】ここで、bijkmは、図13に示したデ
ータ配列において、データ処理単位data_ijkに
対応するビットデータのうち、下位から第mビット目の
1ビットのデータを示す。
Here, bijkm indicates 1-bit data of the m-th bit from the lower order among the bit data corresponding to the data processing unit data_ijk in the data array shown in FIG.

【0082】したがって、{I(x)mod g
(x)}Exor I(i,42,11)が0であれ
ば、この第i番目のセクタに誤りがないことを示してい
る。ここで、記号Exorは、2つの多項式の同じ次数
同士の係数の排他的論理和演算を実行し、その結果を係
数とする多項式を作る演算であるものとする。
Therefore, {I (x) mod g
(X) If} Exor I (i, 42, 11) is 0, it indicates that there is no error in the i-th sector. Here, it is assumed that the symbol Exor is an operation of performing an exclusive OR operation on coefficients of the same degree of two polynomials and forming a polynomial using the result as a coefficient.

【0083】ここで、上記計算を以下の多項式Yに対す
る関数fpiを用いて変形することを行なう。
Here, the above calculation is modified using a function fpi for the following polynomial Y.

【0084】[0084]

【数3】 (Equation 3)

【0085】このような関数fpiを用いると、上記計
算は以下の繰返し計算として実行することが可能であ
る。
Using such a function fpi, the above calculation can be executed as the following iterative calculation.

【0086】[0086]

【数4】 (Equation 4)

【0087】したがって、F(i,42,11)が0で
あれば、この第i番目のセクタに誤りがないことを示し
ている。
Therefore, if F (i, 42, 11) is 0, it indicates that there is no error in the i-th sector.

【0088】ここで、この演算fpiは、図5の矢印1
個分の演算に相当する。これらの演算は、たとえば、テ
ーブル化することにより高速に実行することができる。
Here, the operation fpi is represented by the arrow 1 in FIG.
This is equivalent to the calculation for the number. These operations can be executed at high speed by tabulating, for example.

【0089】さらに、第i番目のセクタについての上記
式(8)による計算は下記の多項式Yに対する関数fp
oを用いることにより変形することができる。
Further, the calculation by the above equation (8) for the i-th sector is performed by the function fp for the following polynomial Y:
It can be deformed by using o.

【0090】[0090]

【数5】 (Equation 5)

【0091】たとえば、以下のような2種類の繰返し計
算に変形することが可能となる。 i) 1種類目の計算:
For example, it can be modified to the following two types of iterative calculations. i) First type of calculation:

【0092】[0092]

【数6】 (Equation 6)

【0093】ii) 2種類目の計算:Ii) Second type of calculation:

【0094】[0094]

【数7】 (Equation 7)

【0095】ここで、1種類目の計算は、図2に示した
PO方向部分誤り検査回路8の行なう処理に対応し、2
種類目の計算は、PO方向集計誤り検査回路6の行なう
処理に対応している。
Here, the first type of calculation corresponds to the processing performed by the PO direction partial error check circuit 8 shown in FIG.
The calculation of the type corresponds to the processing performed by the PO direction totaling error check circuit 6.

【0096】これは、図6に示すところの列データのみ
を使って、PO方向部分誤り検査回路8が部分シンドロ
ームを計算し、その後、PO方向部分誤り検査回路8か
らの結果に基づいて、PO方向集計誤り検査回路6が集
計演算することにより、誤り検査をすることが可能であ
ることを示す。
This is because the PO direction partial error checking circuit 8 calculates a partial syndrome using only the column data shown in FIG. 6, and then, based on the result from the PO direction partial error checking circuit 8, This indicates that error checking can be performed by the direction totaling error checking circuit 6 performing the totaling operation.

【0097】また、この演算には、2種類の計算fpi
とfpoだけを用いることで回路が構成できる。
In this operation, two types of calculation fpi are used.
The circuit can be configured by using only the fpo and fpo.

【0098】したがって、図6において、この演算fp
iは、PI方向の矢印演算を示し、fpoはPO方向の
矢印の演算を示す。
Therefore, in FIG.
i indicates an arrow operation in the PI direction, and fpo indicates an arrow operation in the PO direction.

【0099】また、ある列jの誤りがない場合、G
(i,j,11)は計算をする必要がなく、値は0とな
るので、図19のように3種類のシンドローム演算に対
応した余分な回路を必要とせず、非常に簡単で高速な計
算をすることが可能となる。
If there is no error in a certain column j, G
Since (i, j, 11) does not need to be calculated and its value is 0, it does not require an extra circuit corresponding to three types of syndrome operations as shown in FIG. It becomes possible to do.

【0100】[誤り訂正および誤り検査の処理フロー]
図7は、以上説明した誤り訂正および誤り検査の処理フ
ローを説明するためのフローチャートである。
[Process Flow of Error Correction and Error Check]
FIG. 7 is a flowchart for explaining the processing flow of the error correction and the error check described above.

【0101】図7を参照して、まず、誤り訂正および誤
り検査の処理が開始されると(ステップS100)、制
御変数CNTの値が0に初期化される(ステップS10
2)。
Referring to FIG. 7, when the error correction and error checking processes are started (step S100), the value of control variable CNT is initialized to 0 (step S10).
2).

【0102】つづいて、変数CNTの値が1だけインク
リメントされ(ステップS104)、データバッファ1
4からデータがPI方向誤り訂正回路10に与えられ
(ステップS106)、算出されたシンドロームに基づ
いて、PI方向の誤り訂正処理が行なわれる(ステップ
S108)。
Subsequently, the value of the variable CNT is incremented by 1 (step S104), and the data buffer 1
4 to the PI direction error correction circuit 10 (step S106), and error correction processing in the PI direction is performed based on the calculated syndrome (step S108).

【0103】PI方向の誤り訂正が終了すると、引き続
いて、PI方向誤り検査回路3において、PI方向の誤
り検査が実行される(ステップS110)。
When the error correction in the PI direction is completed, the PI direction error check circuit 3 subsequently performs a PI direction error check (step S110).

【0104】PI方向の誤り検査の結果、全セクタにつ
いて、PI方向についての誤り検査の結果EDCPIi
(i=0〜15)が0であるかが判断される(ステップ
S112)。全セクタについて、PI方向についての誤
り検査の結果EDCPIiが0であれば、誤りはすべて
訂正されているものとして、処理が終了する(ステップ
S122)。
As a result of the error check in the PI direction, the result of the error check in the PI direction for all sectors EDCPIi
It is determined whether (i = 0 to 15) is 0 (step S112). If EDCPIi is 0 as a result of the error check in the PI direction for all the sectors, it is determined that all errors have been corrected, and the process ends (step S122).

【0105】一方、1つのセクタについてでもPI方向
についての誤り検査の結果EDCPIiが0でない場合
は、PO方向誤り訂正回路12にデータバッファ14か
らデータが与えられる(ステップS114)。
On the other hand, if EDCPIi is not 0 as a result of error check in the PI direction even for one sector, data is supplied from the data buffer 14 to the PO direction error correction circuit 12 (step S114).

【0106】PO方向の誤り訂正処理が行なわれ(ステ
ップS116)、PO方向の誤り訂正が終了すると、引
き続いて、PO方向部分誤り検査回路8およびPO方向
集計誤り検査回路6において、PO方向の誤り検査が実
行される(ステップS118)。
When the error correction in the PO direction is performed (step S116) and the error correction in the PO direction is completed, the PO-direction partial error checking circuit 8 and the PO-direction totaling error checking circuit 6 subsequently output the PO-direction error. An inspection is performed (Step S118).

【0107】PO方向の誤り検査の結果、全セクタにつ
いて、PO方向についての誤り検査の結果EDCPOi
(i=0〜15)が0であるか、および制御変数CNT
の値が2であるかが判断される(ステップS120)。
全セクタについて、PO方向についての誤り検査の結果
EDCPIiが0であれば、誤りはすべて訂正されてい
るものとして、また変数CNT=2の場合は必要回数分
の処理が終了したものとして処理が終了する(ステップ
S122)。
As a result of the error check in the PO direction, as a result of the error check in the PO direction for all the sectors EDCPOi
(I = 0 to 15) is 0 and the control variable CNT
Is determined to be 2 (step S120).
If EDCPIi is 0 as a result of the error check in the PO direction for all sectors, it is determined that all errors have been corrected, and when the variable CNT is 2, the processing is completed as if the required number of processings have been completed. (Step S122).

【0108】一方、全セクタについて、PO方向につい
ての誤り検査の結果EDCPIiが0でなく、かつ、変
数CNT=2でない場合は、処理はステップS104に
復帰する(ステップS120)。
On the other hand, if EDCPIi is not 0 and the variable CNT is not 2 as a result of the error check in the PO direction for all sectors, the process returns to step S104 (step S120).

【0109】なお、以上の説明では、PI方向の誤り検
査が終了した後に、PO方向の誤り訂正処理を行なうこ
ととしたが、PI方向の誤り訂正が終了した後に、並行
してPO方向の誤り訂正処理を行なうこととしてもよ
い。
In the above description, the error correction process in the PO direction is performed after the error check in the PI direction is completed. However, after the error correction in the PI direction is completed, the error correction in the PO direction is performed in parallel. Correction processing may be performed.

【0110】また、誤り訂正と誤り検査は、2回通り行
なうこととしたが、システムの動作条件等により、この
回数は1回でも、あるいは、3回以上でも構わない。
Although the error correction and the error check are performed twice, the number of times may be one or three or more depending on the operating conditions of the system.

【0111】図8は、図7に示したステップS110の
PI方向誤り検査処理を説明するためのフローチャート
である。
FIG. 8 is a flow chart for explaining the PI direction error check processing in step S110 shown in FIG.

【0112】まず、PI方向誤り検査処理が開始すると
(ステップS200)、つづいて、セクタ番号を示すセ
クタ番号変数i(i:正の整数)の値が0に初期化され
る(ステップS202)。
First, when the PI direction error checking process starts (step S200), the value of a sector number variable i (i: a positive integer) indicating a sector number is initialized to 0 (step S202).

【0113】つづいて、16セクタ分のEDC検査を行
なう処理ループLB201〜LE201に処理が移行す
る。つまり、処理ループLB201からLE201まで
の処理が、16セクタ分について行なわれるまで繰り返
される(ループLB201〜LE201)。
Subsequently, the processing shifts to processing loops LB201 to LE201 for performing EDC inspection for 16 sectors. That is, the processing from the processing loops LB201 to LE201 is repeated until the processing for 16 sectors is performed (loops LB201 to LE201).

【0114】まず、i番目のセクタに対応するセクタE
DC値変数EDCPIiの値を0に初期化し、行番号変
数kの値も0に初期化する(ステップS204)。ここ
で、セクタEDC値変数EDCPIiは、式(8)に示
した計算を行なうための変数である。
First, the sector E corresponding to the i-th sector
The value of the DC value variable EDCPIi is initialized to 0, and the value of the row number variable k is also initialized to 0 (step S204). Here, the sector EDC value variable EDCPIi is a variable for performing the calculation shown in Expression (8).

【0115】つづいて、各セクタ内のEDC検査を行な
う処理ループLB202〜LE202に処理が移行す
る。つまり、処理ループLB202からLE202まで
の処理が、セクタ内のすべてのデータについて行なわれ
るまで繰り返される(ループLB202〜LE20
2)。
Subsequently, the processing shifts to a processing loop LB202 to LE202 for performing an EDC check in each sector. That is, the processing from the processing loops LB202 to LE202 is repeated until the processing is performed on all data in the sector (loops LB202 to LE20).
2).

【0116】まず、列番号変数jの値が0に初期化され
る(ステップS206)。つぎに、各セクタ内の行ごと
の処理を行なう処理ループLB203〜LE203に処
理が移行する。つまり、処理ループLB203からLE
203までの処理が、1つのデータ処理単位の行に含ま
れるすべてのデータ処理単位の列について行なわれるま
で繰り返される(ループLB203〜LE203)。
First, the value of the column number variable j is initialized to 0 (step S206). Next, the processing shifts to processing loops LB203 to LE203 for performing processing for each row in each sector. That is, the processing loop LB203 to LE
The processing up to 203 is repeated until all the columns of the data processing unit included in the row of one data processing unit are performed (loops LB203 to LE203).

【0117】処理ループLB203〜LE203におい
ては、PI方向誤り検査回路3は、PI方向に4バイト
ごとのデータを読取り、変数data_ijkに代入す
る(ステップS208)。
In the processing loops LB203 to LE203, the PI direction error check circuit 3 reads data every 4 bytes in the PI direction and substitutes it for a variable data_ijk (step S208).

【0118】次に、上記式(8)に基づいて、 EDCPIi =fpi{EDCPi}Exor data_ijk …(12) の演算を行なう。Next, based on the above equation (8), the following calculation is performed: EDCPIi = fpi {EDCPi} Exor data — ijk (12)

【0119】つぎに、変数jの値が1だけインクリメン
トされて、処理がデータ処理単位の次の列に移行する
(ステップS212)。
Next, the value of the variable j is incremented by 1, and the processing shifts to the next column of the data processing unit (step S212).

【0120】1つのデータ処理単位の行に含まれるすべ
てのデータ処理単位の列について、ステップS208〜
S212の処理を繰り返す(ループLB203〜LE2
03)。
Steps S208 to S208 are executed for all the columns of the data processing unit included in the row of one data processing unit.
The process of S212 is repeated (loops LB203 to LE2)
03).

【0121】つぎに、変数kの値が1だけインクリメン
トされて、処理がデータ処理単位の次の行に移行する
(ステップS214)。
Next, the value of the variable k is incremented by 1, and the processing shifts to the next line of the data processing unit (step S214).

【0122】セクタ内のデータに対する処理が終了する
まで、ステップS206〜S214の処理を繰り返す
(ループLB202〜LE202)。
Until the processing on the data in the sector is completed, the processing of steps S206 to S214 is repeated (loops LB202 to LE202).

【0123】1つのセクタの処理が終了すると、変数i
の値が1だけインクリメントされて、次のセクタに処理
が移行して(ステップS216)、再び、処理はステッ
プS202に復帰する。全セクタの処理が終了するま
で、ステップS202からステップS216までの処理
が繰り返される(ループLB201〜LE201)。
When the processing of one sector is completed, the variable i
Is incremented by 1 and the process proceeds to the next sector (step S216), and the process returns to step S202 again. Until the processing for all the sectors is completed, the processing from step S202 to step S216 is repeated (loops LB201 to LE201).

【0124】全セクタに対する処理が終了すると、PI
方向誤り検査処理が終了する(ステップS218)。
When processing for all sectors is completed, PI
The direction error check processing ends (step S218).

【0125】図9および図10は、図7に示したPO方
向誤り検査処理のステップS118を説明するための第
1および第2のフローチャートである。
FIGS. 9 and 10 are first and second flowcharts for explaining step S118 of the PO direction error checking process shown in FIG.

【0126】まず、PO方向誤り検査処理が開始すると
(ステップS300)、列番号変数jの値が0に初期化
される(ステップS302)。
First, when the PO direction error checking process starts (step S300), the value of the column number variable j is initialized to 0 (step S302).

【0127】つづいて、すべての列に対応する部分誤り
検査を行なう処理ループLB301〜LE301に処理
が移行する。つまり、処理ループLB301からLE3
01までの処理が、すべての列について行なわれるまで
繰り返される(ループLB301〜LE301)。
Subsequently, the processing shifts to processing loops LB301 to LE301 for performing a partial error check corresponding to all columns. That is, the processing loops LB301 to LE3
The processing up to 01 is repeated until the processing is performed for all columns (loops LB301 to LE301).

【0128】まず、セクタ番号変数iの値が0に初期化
される(ステップS304)。つぎに、各列に対応する
部分誤り検査を行なう処理ループLB302〜LE30
2に処理が移行する。
First, the value of the sector number variable i is initialized to 0 (step S304). Next, processing loops LB302 to LE30 for performing a partial error check corresponding to each column
The process shifts to 2.

【0129】まず、列毎のセクタEDC値を表すセクタ
EDC値変数EDCPOijの値と、行番号変数kの値
を0に初期化する(ステップS306)。ここで、セク
タEDC値変数EDCPOijは、式(10)で示した
1種類目の計算を行なうための変数である。ただし、以
下に説明するように、図9に示した処理では、式(1
0)に示したデータを用いて処理をそのまま行なうので
はなく、誤り量だけを用いて処理を単純化している。
First, the value of the sector EDC value variable EDCPOij representing the sector EDC value for each column and the value of the row number variable k are initialized to 0 (step S306). Here, the sector EDC value variable EDCPOij is a variable for performing the first type of calculation shown in Expression (10). However, as described below, in the processing shown in FIG.
The processing is not performed directly using the data shown in (0), but is simplified using only the error amount.

【0130】すなわち、つづいて、セクタ毎の部分誤り
検査を行なう処理ループLB303〜LE303に処理
が移行する。(ループLB303〜LE303)。
That is, the processing shifts to a processing loop LB303 to LE303 for performing a partial error check for each sector. (Loops LB303 to LE303).

【0131】処理ループLB303〜LE303におい
ては、PO方向部分誤り検査回路8は、誤りが検出され
ている位置にはその誤り量を、それ以外の位置には0を
配したデータを、PO方向に4バイトごと読取り、変数
data_ijkに代入する(ステップS308)。な
お、検査する列に誤りが検出されない場合は処理ループ
LB302〜LE302を省略することが可能である。
In the processing loops LB303 to LE303, the PO direction partial error check circuit 8 stores the error amount in the position where an error is detected, the data in which 0 is arranged in other positions, and the PO direction data in the PO direction. The data is read every four bytes and assigned to a variable data_ijk (step S308). If no error is detected in the column to be checked, the processing loops LB302 to LE302 can be omitted.

【0132】次に、上記式(10)に基づいて、 EDCPOij =fpo{EDCPOij}Exor data_ijk …(13) の演算を行なう。Next, based on the above equation (10), the following equation is calculated: EDCPOij = fpo {EDCPOij} Exor data_ijk (13)

【0133】行番号変数kの値を1だけインクリメント
し、処理が次の行に移行する(ステップS312)。
The value of the row number variable k is incremented by one, and the processing shifts to the next row (step S312).

【0134】i番目のセクタのj番目の列内のデータに
対する処理が終了するまで、ステップS308〜S31
2を繰り返す(ループLB303〜LE303)。
Steps S308 to S31 until the processing on the data in the j-th column of the i-th sector is completed.
2 is repeated (loops LB303 to LE303).

【0135】i番目のセクタのj番目の列の処理が終了
すると、変数iの値が1だけインクリメントされ、次の
セクタに処理が移行して(ステップS314)、再び、
処理はステップS306に復帰する。15番目のセクタ
のj番目の列に対する処理が終了するまで、ステップS
306からステップS314までの処理が繰り返される
(ループLB302〜LE302)。
When the processing of the j-th column of the i-th sector is completed, the value of the variable i is incremented by 1, and the processing shifts to the next sector (step S314).
The process returns to step S306. Until the processing on the j-th column of the fifteenth sector is completed, step S
The processing from step 306 to step S314 is repeated (loops LB302 to LE302).

【0136】すべてのセクタのj番目の列に対する処理
が終了すると、変数jの値が1だけインクリメントさ
れ、次の列に処理が移行して(ステップS316)、再
び、処理はステップS304に復帰する。42番目の列
に対する処理が終了するまで、ステップS304からス
テップS316までの処理が繰り返される(ループLB
301〜LE301)。
When the processing on the j-th column of all the sectors is completed, the value of the variable j is incremented by 1, the processing shifts to the next column (step S316), and the process returns to step S304 again. . Until the processing for the 42nd column is completed, the processing from step S304 to step S316 is repeated (loop LB
301-LE301).

【0137】図10を参照して、ループLB301〜L
E301の処理が終了すると続いて、変数i値が0にリ
セットされる(ステップS320)。
Referring to FIG. 10, loops LB301-LB
After the process in E301 ends, the variable i is reset to 0 (step S320).

【0138】つづいて、集計誤り検査を行なう処理ルー
プLB304〜LE304に処理が移行する。つまり、
処理ループLB304からLE304までの処理が、す
べてのセクタについて行なわれるまで繰り返される(ル
ープLB304〜LE304)。
Subsequently, the processing shifts to a processing loop LB304 to LE304 for performing a counting error check. That is,
The processing from the processing loops LB304 to LE304 is repeated until the processing is performed for all the sectors (loops LB304 to LE304).

【0139】つぎに、i番目のセクタに対応するEDC
値変数EDCPOiの値と変数jの値が0に初期化され
る(ステップS322)。
Next, the EDC corresponding to the i-th sector
The value of the value variable EDCPOi and the value of the variable j are initialized to 0 (Step S322).

【0140】つづいて、各セクタに対応する集計誤り検
査を行なう処理ループLB305〜LE305に処理が
移行する。
Subsequently, the processing shifts to a processing loop LB305 to LE305 for performing a counting error check corresponding to each sector.

【0141】処理ループLB305〜LE305におい
ては、PO方向集計誤り検査回路6は、PI方向に、上
記式(11)に基づいて、 EDCPOi =fpi{EDCPOi}Exor EDCPOij …(14) の演算および代入処理を行なう(ステップS324)。
In the processing loops LB305 to LE305, the PO direction totaling error check circuit 6 calculates and substitutes EDCPOi = fpi {EDCPOi} Exor EDCPOij (14) in the PI direction based on the above equation (11). Is performed (step S324).

【0142】次に、変数jの値を1だけインクリメント
し、処理は次の列に移行する(ステップS326)。
Next, the value of the variable j is incremented by one, and the processing shifts to the next column (step S326).

【0143】処理中のセクタのすべての列に対する処理
が終了するまで、ステップS324〜S326を繰り返
す(ループLB305〜LE305)。
Steps S324 to S326 are repeated (loops LB305 to LE305) until the processing for all columns of the sector being processed is completed.

【0144】i番目のセクタのすべての列についての処
理が終了すると、つづいて、排他的論理和演算器5によ
り EDCPOi=EDCPIi Exor EDCPOi という演算処理が行なわれる(ステップS328)。こ
れにより、i番目のセクタについて誤りが存在するか否
かの判定が、PO方向判定回路4により行なわれる。
When the processing for all the columns in the i-th sector is completed, the exclusive-OR operation unit 5 then performs the operation of EDCPOi = EDCPIi Exor EDCPOi (step S328). Thus, the PO direction determination circuit 4 determines whether or not an error exists in the i-th sector.

【0145】制御変数iの値が1だけインクリメントさ
れ(ステップS330)、次のセクタに処理が移動し
て、再び、処理はステップS322に復帰する。最後セ
クタの処理が終了するまで、ステップS322からステ
ップS330までの処理が繰り返される(ループLB3
04〜LE304)。
The value of the control variable i is incremented by 1 (step S330), the process moves to the next sector, and the process returns to step S322. Until the processing of the last sector ends, the processing from step S322 to step S330 is repeated (loop LB3).
04-LE304).

【0146】ループLB304〜LE304の処理が終
了すると、誤り訂正、検査の処理は終了し、次の処理
(図7の処理ステップS120)に移行する(ステップ
S320)。
When the processing of the loops LB304 to LE304 is completed, the processing of error correction and inspection is completed, and the flow proceeds to the next processing (processing step S120 in FIG. 7) (step S320).

【0147】[実施の形態2]実施の形態1で説明した
とおり、誤り検査の対象となる単位セクタは、図19に
示した16512個のデータ(bi)から形成され、こ
れらのデータを用いてi番目のセクタに対するEDCi
は、式(1)〜(3)により表される。
[Second Embodiment] As described in the first embodiment, a unit sector to be subjected to an error check is formed from 16512 data (bi) shown in FIG. 19, and these data are used. EDCi for i-th sector
Is represented by equations (1) to (3).

【0148】実施の形態1においては、式(1)で表さ
れるこのEDCi(x)を計算するにあたり、式(9)
で定義される関数fpoより演算を単純化することによ
り、図2に示すPO方向部分誤り検査回路8が、図9の
ステップS310において説明したように、式(13)
により表される演算を行なう構成となっていた。
In the first embodiment, when calculating the EDCi (x) represented by the equation (1), the equation (9)
By simplifying the operation from the function fpo defined by the formula (13), the PO-directional partial error checking circuit 8 shown in FIG.
Has been configured to perform the calculation represented by

【0149】以下では、説明の簡単のために、関数fp
oより行なわれる処理を以下の式(15)により表す。
In the following, for the sake of simplicity, the function fp
The processing performed from o is represented by the following equation (15).

【0150】[0150]

【数8】 (Equation 8)

【0151】ここで、g(x)は32次の多項式であ
る。したがって、式(15)を実行するためには33ビ
ットの演算器を用いることで実行することが可能であ
る。しかしながら、実施の形態2においては、より演算
速度を向上させるために、232通りの数値に対する演算
結果の表を予め準備しておき、この表に基づいて式(1
5)に対応する演算処理を行なう構成とする。
Here, g (x) is a polynomial of degree 32. Therefore, it is possible to execute equation (15) by using a 33-bit arithmetic unit. However, in the second embodiment, in order to further improve the calculation speed, a table of calculation results for 2 32 values is prepared in advance, and based on this table, the expression (1) is calculated.
The arithmetic processing corresponding to 5) is performed.

【0152】なお式(10)に示されているとおり、J
k(x)としては、たとえば、式(6)で表される式が
代入される。
As shown in equation (10), J
For example, the expression represented by Expression (6) is substituted for k (x).

【0153】図11は、このような構成での演算を実現
するPO方向部分誤り検査回路8の構成を説明するため
の概略ブロック図である。
FIG. 11 is a schematic block diagram for explaining a configuration of the PO direction partial error check circuit 8 for realizing the operation with such a configuration.

【0154】図11を参照して、PO方向部分誤り検査
回路8は、PO方向誤り訂正回路12の出力を受ける排
他的論理和演算回路82と、排他的論理和演算回路82
の出力を受けて、上述したような32ビットデータに対
する232通りの演算結果に対応する表に基づいて、式
(15)で表される演算結果を出力する表変換回路84
と、表変換回路84の出力を受けて一時保持するための
レジスタ回路86とを含む。
Referring to FIG. 11, the PO direction partial error check circuit 8 includes an exclusive OR operation circuit 82 receiving the output of the PO direction error correction circuit 12, and an exclusive OR operation circuit 82.
And outputs a calculation result represented by the equation (15) based on a table corresponding to 2 32 kinds of calculation results for 32-bit data as described above.
And a register circuit 86 for receiving and temporarily storing the output of the table conversion circuit 84.

【0155】排他的論理和演算回路82は、PO方向誤
り訂正回路12から与えられるI(i,j,k)(k=
1〜11)を順次受け、レジスタ86に保持された1ス
テップ前の表変換回路84の出力との排他的論理和演算
結果を再び表変換回路84に与える。
The exclusive OR operation circuit 82 receives I (i, j, k) (k =
1 to 11) are sequentially received, and the result of the exclusive OR operation with the output of the table conversion circuit 84 one step before, which is held in the register 86, is given to the table conversion circuit 84 again.

【0156】すなわち、排他的論理和演算回路82、表
変換回路84およびレジスタ86からなる処理ループに
より式(10)に相当する演算を行なうことが可能であ
る。
That is, it is possible to perform an operation corresponding to the equation (10) by a processing loop including the exclusive OR operation circuit 82, the table conversion circuit 84, and the register 86.

【0157】図12および図13は、図11に示したP
O方向部分誤り検査回路8と、レジスタ7およびPO方
向集計誤り検査回路6の行なう動作を説明するためのフ
ローチャートであり、実施の形態1の図9および図10
と対比される図である。
FIG. 12 and FIG. 13 show the P values shown in FIG.
10 is a flowchart for explaining the operations performed by the O-direction partial error checking circuit 8, the register 7, and the PO-direction totaling error checking circuit 6, which are shown in FIGS. 9 and 10 of the first embodiment.
It is a figure contrasted with.

【0158】図12および図13に示した処理が、図9
に示した処理と異なる点は、ステップS310′におい
て、PO方向誤り訂正回路12から与えられるデータd
ata_ijkと、レジスタ回路86に保持されたデー
タ等を排他的論理和演算回路82が排他的論理和演算し
た結果に対して、表変換回路84が変換処理を行なうこ
とで、変数EDCPOijの値を更新して、レジスタ8
6に再び与える処理を行なう構成となっている点であ
る。
The processing shown in FIG. 12 and FIG.
The difference from the processing shown in FIG. 13 is that the data d supplied from the PO
The value of the variable EDCPOij is updated by the table conversion circuit 84 performing a conversion process on the result of the exclusive OR operation of the data_ijk and the data held in the register circuit 86 by the exclusive OR operation circuit 82. And register 8
6 is performed.

【0159】その他の点は、図9および図10に示した
処理と同様であるので、同一部分には同一符号を付して
その説明は繰返さない。
The other points are the same as those of the processing shown in FIGS. 9 and 10, and therefore, the same portions are denoted by the same reference characters and description thereof will not be repeated.

【0160】以上のような構成により、PO方向部分誤
り検査回路8は、予め設けられている表(テーブル)に
基づいて変数EDCPOijの値を更新する処理を行な
うので、演算処理が高速化され、誤り訂正時間が短縮さ
れるという効果がある。
With the above configuration, the PO direction partial error check circuit 8 updates the value of the variable EDCPOij based on a table provided in advance, so that the arithmetic processing is speeded up. There is an effect that the error correction time is shortened.

【0161】[実施の形態3]実施の形態2において
は、PO方向部分誤り検査回路8の行なう処理、すなわ
ち式(15)で表される処理を、予め計算した結果に基
づいて生成された表により演算処理する表変換回路84
により演算処理する構成について説明した。
[Third Embodiment] In the second embodiment, the processing performed by the PO-directional partial error checking circuit 8, that is, the processing represented by the equation (15) is generated based on a result calculated in advance. Conversion circuit 84 for performing arithmetic processing by
Has been described.

【0162】実施の形態3においては、式(15)で表
される演算処理を、さらにより高速に行なうための構成
について説明する。
In the third embodiment, a description will be given of a configuration for performing the arithmetic processing represented by equation (15) at a higher speed.

【0163】なお、実施の形態3の復号回路の構成も、
図2に示した復号回路147の構成と基本的に同様であ
る。以下に説明するように、PO方向部分誤り検査回路
8の構成が異なる。
The configuration of the decoding circuit according to the third embodiment is
The configuration is basically the same as the configuration of the decoding circuit 147 shown in FIG. As will be described below, the configuration of the PO direction partial error check circuit 8 is different.

【0164】すなわち、式(15)において、式Jk
(x)は、以下の式(16)のように分解することがで
きる。
That is, in the equation (15), the equation Jk
(X) can be decomposed as in the following equation (16).

【0165】[0165]

【数9】 (Equation 9)

【0166】すなわち、Jk(x)は7次の式Jk−i
(x)を用いて4分割することが可能である。
That is, Jk (x) is a 7th-order equation Jk-i
It is possible to divide into four using (x).

【0167】この式(16)を用いると、式(15)
は、以下の式(17)のように変形することができる。
Using equation (16), equation (15)
Can be modified as in the following equation (17).

【0168】[0168]

【数10】 (Equation 10)

【0169】したがって、式(17)の各項に対応し
て、後に説明するように28通りの表を予め備えこの表
に基づいてPO方向部分誤り検査の演算処理を行なう表
変換回路が4個と、これら4個の表変換回路からの出力
に対して排他的論理和演算を行なうための排他的論理和
演算器を3個設けることで、演算処理を行なうことが可
能となる。
[0169] Thus, in response to each term of equation (17), the table conversion circuit for performing arithmetic processing of PO direction partial error checking on the basis of previously provided this table the table are two 8 as described later is 4 And three exclusive OR operators for performing an exclusive OR operation on the outputs from these four table conversion circuits, it is possible to perform the arithmetic processing.

【0170】図14は、このような構成を有するPO方
向部分誤り検査回路8の構成を説明するための概略ブロ
ック図である。
FIG. 14 is a schematic block diagram for explaining the configuration of PO-direction partial error check circuit 8 having such a configuration.

【0171】図14を参照して、実施の形態3のPO方
向部分誤り検査回路8は、PO方向誤り訂正回路12か
らのデータdata_ijkを受ける排他的論理和演算
回路802と、排他的論理和演算回路802の出力を受
けて8ビットごとのデータに分割するためのデータ分割
回路804と、データ分割回路804から出力される8
ビットごとのデータをそれぞれ受けて、式(17)の各
項に対応する演算を予め計算された28通りの表に基づ
いて、それぞれ計算するための表変換回路810、81
2、814および816と、表変換回路810および8
12の出力を受けて、排他的論理和演算結果を出力する
ための排他的論理和演算回路820と、表変換回路81
4および816の出力を受けて、排他的論理和演算結果
を出力する排他的論理和演算回路822と、排他的論理
和演算回路820および822の出力を受けて、排他的
論理和演算結果を、図2に示すレジスタ7に対して出力
するための排他的論理和演算回路824と、排他的論理
和演算回路824の出力を受けて、一時格納するための
レジスタ826とを含む。
Referring to FIG. 14, the PO direction partial error check circuit 8 of the third embodiment includes an exclusive OR operation circuit 802 receiving data data_ijk from the PO direction error correction circuit 12, and an exclusive OR operation. A data dividing circuit 804 for receiving the output of the circuit 802 and dividing the data into data of every 8 bits;
Receiving data for each bit respectively, based on Table 2 eight which are calculated in advance operation corresponding to each term of equation (17), the table conversion circuit for calculating respective 810,81
2, 814 and 816 and table conversion circuits 810 and 8
12, an exclusive OR operation circuit 820 for outputting an exclusive OR operation result, and a table conversion circuit 81
4 and 816, and outputs an exclusive OR operation result. An exclusive OR operation circuit 822 receives the outputs of the exclusive OR operation circuits 820 and 822, and outputs the exclusive OR operation result. An exclusive OR operation circuit 824 for outputting to the register 7 shown in FIG. 2 and a register 826 for receiving and temporarily storing the output of the exclusive OR operation circuit 824 are included.

【0172】排他的論理和演算回路802は、PO方向
誤り訂正回路12からのデータdata_ijkとレジ
スタ826からの出力とを受けて、排他的論理和演算処
理を行ない、その結果をデータ分割回路804に与え
る。
Exclusive OR operation circuit 802 receives data data_ijk from PO direction error correction circuit 12 and an output from register 826, performs exclusive OR operation, and outputs the result to data division circuit 804. give.

【0173】図15および図16は、図14に示した実
施の形態3のPO方向部分誤り検査回路8と、図2に示
したレジスタ7およびPO方向集計誤り検査回路6が行
なう処理を説明するためのフローチャートである。
FIGS. 15 and 16 illustrate the processing performed by PO partial error checking circuit 8 of the third embodiment shown in FIG. 14 and register 7 and PO direction totaling error checking circuit 6 shown in FIG. It is a flowchart for the.

【0174】図15および図16を参照して、まず、P
O方向誤り検査処理が開始されると(ステップS40
0)、列番号変数jの値が0に初期化される(ステップ
S402)。
Referring to FIGS. 15 and 16, first, P
When the O-direction error checking process is started (step S40)
0), the value of the column number variable j is initialized to 0 (step S402).

【0175】続いて、すべての列に対する部分誤り検査
を行なう処理ループLB401〜LE401に処理が移
行する。つまり、処理ループLB401〜LE401ま
での処理が、すべての列について行なわれるまで繰返さ
れる(ループLB401〜LE401)。
Subsequently, the processing shifts to a processing loop LB401 to LE401 for performing a partial error check on all columns. That is, the processing of the processing loops LB401 to LE401 is repeated until the processing is performed for all the columns (loops LB401 to LE401).

【0176】まず、セクタ番号変数iの値が0に初期化
される(ステップS404)。次に、各列に対応する部
分誤り検査を行なうための処理ループLB402〜LE
402に処理が移行する。
First, the value of the sector number variable i is initialized to 0 (step S404). Next, processing loops LB402 to LE for performing a partial error check corresponding to each column
The processing shifts to 402.

【0177】まず、列ごとのセクタEDC値を表すセク
タEGC値変数EDCPOijの値と、行番号変数kの
値を0に初期化する(ステップS406)。ここで、セ
クタEDC値変数EDCPOijは、式(17)で表し
た計算を行なうための変数である。ただし、図9に示し
た処理と同様に、式(17)で処理されるのは、誤り行
に対応するデータだけである。
First, the value of the sector EGC value variable EDCPOij representing the sector EDC value for each column and the value of the row number variable k are initialized to 0 (step S406). Here, the sector EDC value variable EDCPOij is a variable for performing the calculation represented by Expression (17). However, similarly to the processing shown in FIG. 9, only the data corresponding to the erroneous row is processed by Expression (17).

【0178】続いて、セクタごとの部分誤り検査を行な
う処理ループLB403〜LE403に処理が移行する
(ループLB403〜LE403)。
Subsequently, the processing shifts to processing loops LB403 to LE403 for performing a partial error check for each sector (loops LB403 to LE403).

【0179】処理ループLB403〜LE403におい
ては、PO方向部分誤り検査回路8は、誤りが検出され
ている位置にはその誤り量を、それ以外の位置には0を
配したデータを、PO方向ごとに4バイトごと読取り、
データ分割回路804は、このデータを先頭から1バイ
トずつに分割する。以下、この分割された1バイトずつ
のデータを変数H1〜H4と表す(ステップS40
8)。この処理に対応して、表変換回路810〜816
に、それぞれ変数H1〜H4に対応する値が与えられ
る。
In the processing loops LB403 to LE403, the PO direction partial error check circuit 8 stores the error amount in the position where the error is detected, the data in which 0 is arranged in other positions, and the data in each PO direction. Read every 4 bytes,
The data division circuit 804 divides this data into 1-byte units from the beginning. Hereinafter, the divided 1-byte data is represented as variables H1 to H4 (step S40).
8). In correspondence with this processing, the table conversion circuits 810 to 816
Are given values corresponding to the variables H1 to H4, respectively.

【0180】表変換回路810は、変数H1に対応する
データをデータ分割回路804から受取り、先頭から1
バイトがこの変数H1の値に等しく、残り3バイトのビ
ットデータがすべて0に対応する4バイトの値に変換し
て、これを対応するテーブル(演算表)に従って変換し
出力する。この表変換回路810の出力するデータを変
数HAと表す(ステップS410)。この処理に対応し
て、表変換回路810からの出力が排他的論理和演算回
路820に与えられる。
The table conversion circuit 810 receives the data corresponding to the variable H1 from the data division circuit 804,
The byte is equal to the value of the variable H1, and the remaining three bytes of bit data are converted into 4-byte values corresponding to all 0s, and are converted and output according to the corresponding table (operation table). The data output from the table conversion circuit 810 is represented as a variable HA (step S410). In response to this processing, the output from the table conversion circuit 810 is provided to the exclusive OR operation circuit 820.

【0181】表変換回路812は、変数H2に対応する
データをデータ分割回路804から受取り、先頭から2
バイト目の1バイト分のデータがこの変数H2の値に等
しく、残り3バイトのビットデータがすべて0に対応す
る4バイトの値に変換して、これを対応するテーブル
(演算表)に従って変換し出力する。この表変換回路8
12の出力するデータを変数HBと表す(ステップS4
12)。この処理に対応して、表変換回路812からの
出力が排他的論理和演算回路820に与えられる。
The table conversion circuit 812 receives data corresponding to the variable H2 from the data division circuit 804,
The 1-byte data of the byte is equal to the value of the variable H2, and the remaining 3 bytes of bit data are all converted to 4-byte values corresponding to 0, and converted according to the corresponding table (operation table). Output. This table conversion circuit 8
12 is represented by a variable HB (step S4).
12). In response to this processing, the output from the table conversion circuit 812 is provided to the exclusive OR operation circuit 820.

【0182】表変換回路814は、変数H3に対応する
データをデータ分割回路804から受取り、先頭から3
バイト目の1バイト分のデータがこの変数H3の値に等
しく、残り3バイトのビットデータがすべて0に対応す
る4バイトの値に変換して、これを対応するテーブル
(演算表)に従って変換し出力する。この表変換回路8
14の出力するデータを変数HCと表す(ステップS4
14)。この処理に対応して、表変換回路814からの
出力が排他的論理和演算回路822に与えられる。
The table conversion circuit 814 receives data corresponding to the variable H3 from the data division circuit 804,
The 1-byte data of the byte is equal to the value of the variable H3, and the remaining 3 bytes of bit data are all converted to 4-byte values corresponding to 0, and converted according to the corresponding table (operation table). Output. This table conversion circuit 8
14 is represented as a variable HC (step S4).
14). In response to this processing, the output from the table conversion circuit 814 is provided to the exclusive OR operation circuit 822.

【0183】表変換回路816は、変数H4に対応する
データをデータ分割回路804から受取り、先頭から4
バイト目の1バイト分のデータがこの変数H4の値に等
しく、残り3バイトのビットデータがすべて0に対応す
る4バイトの値に変換して、これを対応するテーブル
(演算表)に従って変換し出力する。この表変換回路8
16の出力するデータを変数HDと表す(ステップS4
16)。この処理に対応して、表変換回路816からの
出力が排他的論理和演算回路822に与えられる。
The table conversion circuit 816 receives the data corresponding to the variable H4 from the data division circuit 804,
The 1-byte data of the byte is equal to the value of this variable H4, and the remaining 3 bytes of bit data are all converted to 4-byte values corresponding to 0, and are converted according to the corresponding table (operation table). Output. This table conversion circuit 8
16 is represented by a variable HD (step S4).
16). In response to this processing, the output from the table conversion circuit 816 is provided to the exclusive OR operation circuit 822.

【0184】続いて、セクタEDC値変数EDCPOi
jの値は、排他的論理和演算回路820、822および
824により、以下の式(18)による処理により演算
される(ステップS418)。
Subsequently, the sector EDC value variable EDCPOi
The value of j is calculated by the exclusive OR operation circuits 820, 822, and 824 by the processing of the following equation (18) (step S418).

【0185】[0185]

【数11】 [Equation 11]

【0186】行番号変数kの値を1だけインクリメント
し、処理が次の行に移行する(ステップS420)。
The value of the row number variable k is incremented by one, and the processing shifts to the next row (step S420).

【0187】i番目のセクタのj番目の列内のデータに
対する処理が終了するまで、ステップS408〜S41
2を繰返す(ループLB403〜LE403)。
Steps S408 to S41 until the processing on the data in the j-th column of the i-th sector is completed.
2 is repeated (loops LB403 to LE403).

【0188】図16を参照して、i番目のセクタのj番
目の列の処理が終了すると、変数iの値が1だけインク
リメントされ、次のセクタに処理が移行して(ステップ
S422)、再び、処理はステップS406に復帰す
る。15番目のセクタのj番目の列に対する処理が終了
するまで、ステップS406からステップS422まで
の処理が繰り返される(ループLB402〜LE40
2)。
Referring to FIG. 16, when the processing of the j-th column of the i-th sector is completed, the value of variable i is incremented by 1, the processing shifts to the next sector (step S422), and again. , The process returns to step S406. Until the processing on the j-th column of the 15th sector is completed, the processing from step S406 to step S422 is repeated (loops LB402 to LE40).
2).

【0189】すべてのセクタのj番目の列に対する処理
が終了すると、変数jの値が1だけインクリメントさ
れ、次の列に処理が移行して(ステップS424)、再
び、処理はステップS404に復帰する。42番目の列
に対する処理が終了するまで、ステップS404からス
テップS424までの処理が繰り返される(ループLB
401〜LE401)。
When the processing for the j-th column of all the sectors is completed, the value of the variable j is incremented by 1, the processing shifts to the next column (step S424), and the processing returns to step S404 again. . Until the processing for the 42nd column is completed, the processing from step S404 to step S424 is repeated (loop LB
401 to LE401).

【0190】ループLB401〜LE401の処理が終
了すると続いて、変数i値が0にリセットされる(ステ
ップS430)。
After the processing of the loops LB401 to LE401 is completed, subsequently, the variable i is reset to 0 (step S430).

【0191】つづいて、集計誤り検査を行なう処理ルー
プLB404〜LE404に処理が移行する。つまり、
処理ループLB404からLE404までの処理が、す
べてのセクタについて行なわれるまで繰り返される(ル
ープLB404〜LE404)。
Subsequently, the processing shifts to a processing loop LB404 to LE404 for performing a counting error check. That is,
The processing from the processing loops LB404 to LE404 is repeated until the processing is performed for all the sectors (loops LB404 to LE404).

【0192】つぎに、i番目のセクタに対応するEDC
値変数EDCPOiの値と変数jの値が0に初期化され
る(ステップS432)。
Next, the EDC corresponding to the i-th sector
The value of the value variable EDCPOi and the value of the variable j are initialized to 0 (Step S432).

【0193】つづいて、各セクタに対応する集計誤り検
査を行なう処理ループLB405〜LE405に処理が
移行する。
Subsequently, the processing shifts to a processing loop LB405 to LE405 for performing a counting error check corresponding to each sector.

【0194】処理ループLB405〜LE405におい
ては、PO方向集計誤り検査回路6は、PI方向に、上
記式(11)に基づいて、 EDCPOi =fpi{EDCPOi}Exor EDCPOij …(14) の演算および代入処理を行なう(ステップS434)。
In the processing loops LB405 to LE405, the PO-direction totaling error check circuit 6 calculates and substitutes EDCPOi = fpi {EDCPOi} Exor EDCPOij (14) in the PI direction based on the above equation (11). Is performed (step S434).

【0195】次に、変数jの値を1だけインクリメント
し、処理は次の列に移行する(ステップS436)。
Next, the value of the variable j is incremented by one, and the processing shifts to the next column (step S436).

【0196】処理中のセクタのすべての列に対する処理
が終了するまで、ステップS434〜S436を繰り返
す(ループLB405〜LE405)。
Steps S434 to S436 are repeated (loops LB405 to LE405) until the processing for all columns of the sector being processed is completed.

【0197】i番目のセクタのすべての列についての処
理が終了すると、つづいて、排他的論理和演算器5によ
り EDCPOi=EDCPIi Exor EDCPOi という演算処理が行なわれる(ステップS438)。こ
れにより、i番目のセクタについて誤りが存在するか否
かの判定が、PO方向判定回路4により行なわれる。
When the processing for all the columns of the i-th sector is completed, the exclusive-OR operation unit 5 then performs the operation of EDCPOi = EDCPIi Exor EDCPOi (step S438). Thus, the PO direction determination circuit 4 determines whether or not an error exists in the i-th sector.

【0198】制御変数iの値が1だけインクリメントさ
れ(ステップS440)、次のセクタに処理が移動し
て、再び、処理はステップS432に復帰する。最後セ
クタの処理が終了するまで、ステップS432からステ
ップS440までの処理が繰り返される(ループLB4
04〜LE404)。
The value of control variable i is incremented by 1 (step S440), the process moves to the next sector, and the process returns to step S432 again. Until the processing of the last sector ends, the processing from step S432 to step S440 is repeated (loop LB4).
04-LE404).

【0199】ループLB404〜LE404の処理が終
了すると、誤り訂正、検査の処理は終了し、次の処理
(図7の処理ステップS120)に移行する(ステップ
S442)。
When the processing of the loops LB404 to LE404 is completed, the processing of error correction and inspection is completed, and the flow proceeds to the next processing (processing step S120 in FIG. 7) (step S442).

【0200】以上のような処理によっても、PO方向部
分誤り検査回路8の処理を行なうことができ、かつ、P
O方向部分誤り検査処理を8ビットごとに分割してテー
ブルを用い、かつ並列処理を行なうので、より高速に処
理を行なうことが可能となる。
With the above processing, the processing of the PO-directional partial error check circuit 8 can be performed.
Since the O-direction partial error check processing is divided into 8-bit units and a table is used and parallel processing is performed, processing can be performed at higher speed.

【0201】なお、ここで、一般に、関数fpoは、元
のデータをnビット、データの分割数をmとすると(m
はnの約数)、表の大きさとして必要なのは2(n/m)
のデータに対応する大きさであり、表の数はm個だけ必
要となる。また、排他的論理和演算器の数は(m−1)
個となる。ただし、1個の演算機でnビットの演算がで
きるものとする。
Here, in general, the function fpo is defined assuming that the original data is n bits and the number of data divisions is m (m
Is a divisor of n), the size of the table is a size corresponding to 2 (n / m) data, and the number of tables is m. In addition, the number of exclusive OR operators is (m-1)
Individual. However, it is assumed that one arithmetic unit can perform n-bit arithmetic.

【0202】したがって、このように分割した表に基づ
いて計算する表変換回路を用いることで、大幅に回路規
模を削減することができる。
Therefore, by using a table conversion circuit that performs calculations based on the divided tables, the circuit scale can be significantly reduced.

【0203】さらに、この発明によれば、記憶素子およ
び回路規模を増加させることなく、記憶素子へのアクセ
ス時間を短縮し、誤り訂正処理と並行して誤り検査処理
を行なうことにより、誤り検査処理に要する時間を短縮
することが可能となる。
Further, according to the present invention, the access time to the storage element is reduced without increasing the storage element and the circuit scale, and the error check processing is performed in parallel with the error correction processing. Can be shortened.

【0204】今回開示された実施の形態はすべての点で
例示であって制限的なものではないと考えられるべきで
ある。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求
の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味お
よび範囲内でのすべての変更が含まれることが意図され
る。
The embodiments disclosed this time are to be considered in all respects as illustrative and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

【0205】[0205]

【発明の効果】この発明によれば、記憶素子および回路
規模を増加させることなく、記憶素子へのアクセス時間
を短縮し、誤り訂正処理と並行して誤り検査処理を行な
うことにより、誤り検査処理に要する時間を短縮するこ
とが可能となる。
According to the present invention, the access time to the storage element can be reduced without increasing the storage element and circuit scale, and the error check processing can be performed in parallel with the error correction processing. Can be shortened.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明に係る誤り訂正および並行検査装置
を備えたディスク再生装置1000の構成を示す概略ブ
ロック図である。
FIG. 1 is a schematic block diagram illustrating a configuration of a disk reproducing apparatus 1000 including an error correction and parallel inspection apparatus according to the present invention.

【図2】 図1に示した復号回路147の構成を説明す
るための概略ブロック図である。
FIG. 2 is a schematic block diagram for describing a configuration of a decoding circuit 147 shown in FIG.

【図3】 復号回路中の排他的論理和回路9の動作を説
明するための概念図である。
FIG. 3 is a conceptual diagram illustrating an operation of an exclusive OR circuit 9 in a decoding circuit.

【図4】 誤り検査の処理におけるデータ処理単位の配
列を示す概念図である。
FIG. 4 is a conceptual diagram showing an array of data processing units in an error checking process.

【図5】 誤り訂正および誤り検査の処理において処理
されるデータ配列の順序を示す第1の概念図である。
FIG. 5 is a first conceptual diagram showing the order of data arrays processed in error correction and error check processing.

【図6】 誤り訂正および誤り検査の処理において処理
されるデータ配列の順序を示す第2の概念図である。
FIG. 6 is a second conceptual diagram showing the order of data arrays processed in error correction and error check processing.

【図7】 誤り訂正および誤り検査の処理フローを説明
するためのフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart illustrating a processing flow of error correction and error checking.

【図8】 図7に示したステップS110のPI方向誤
り検査処理を説明するためのフローチャートである。
FIG. 8 is a flowchart for explaining a PI direction error check process in step S110 shown in FIG. 7;

【図9】 図7に示したPO方向誤り検査処理を説明す
るための第1のフローチャートである。
FIG. 9 is a first flowchart for explaining a PO direction error checking process shown in FIG. 7;

【図10】 図7に示したPO方向誤り検査処理を説明
するための第2のフローチャートである。
FIG. 10 is a second flowchart for explaining the PO direction error check processing shown in FIG. 7;

【図11】 PO方向部分誤り検査回路8の構成を説明
するための概略ブロック図である。
FIG. 11 is a schematic block diagram for explaining a configuration of a PO direction partial error check circuit 8;

【図12】 PO方向部分誤り検査回路8と、レジスタ
7およびPO方向集計誤り検査回路6の行なう動作を説
明するための第1のフローチャートである。
FIG. 12 is a first flowchart for explaining operations performed by the PO direction partial error checking circuit 8, the register 7, and the PO direction totaling error checking circuit 6;

【図13】 PO方向部分誤り検査回路8と、レジスタ
7およびPO方向集計誤り検査回路6の行なう動作を説
明するための第2のフローチャートである。
FIG. 13 is a second flowchart for describing the operation performed by the PO direction partial error checking circuit 8, the register 7, and the PO direction totaling error checking circuit 6;

【図14】 PO方向部分誤り検査回路8の構成を説明
するための概略ブロック図である。
FIG. 14 is a schematic block diagram for explaining a configuration of a PO direction partial error check circuit 8;

【図15】 PO方向部分誤り検査回路8とレジスタ7
およびPO方向集計誤り検査回路6が行なう処理を説明
するための第1のフローチャートである。
FIG. 15 shows a PO direction partial error check circuit 8 and a register 7;
7 is a first flowchart for explaining a process performed by a PO direction totaling error check circuit 6;

【図16】 PO方向部分誤り検査回路8とレジスタ7
およびPO方向集計誤り検査回路6が行なう処理を説明
するための第2のフローチャートである。
FIG. 16 shows a PO direction partial error checking circuit 8 and a register 7;
7 is a second flowchart for explaining the processing performed by the PO direction totaling error checking circuit 6.

【図17】 従来のDVDの誤り訂正積記号のフォーマ
ットである。
FIG. 17 shows a format of a conventional DVD error correction product symbol.

【図18】 図17に示したDVDの誤り訂正積符号と
誤り検査符号(EDC)との関連を示す図である。
18 is a diagram showing a relationship between an error correction product code and an error check code (EDC) of the DVD shown in FIG.

【図19】 誤り検査符号を含む1セクタのデータ配列
を示す図であり、先頭ビットから降順に番号を割り振っ
たものである。
FIG. 19 is a diagram showing a data array of one sector including an error check code, in which numbers are assigned in descending order from the first bit.

【図20】 DVDデータに対する誤り訂正および誤り
検査を行なう第1の従来例の構成を説明するための概略
ブロック図である。
FIG. 20 is a schematic block diagram illustrating a configuration of a first conventional example for performing error correction and error checking on DVD data.

【図21】 第2の従来例の構成を説明するための概略
ブロック図である。
FIG. 21 is a schematic block diagram illustrating a configuration of a second conventional example.

【図22】 図21に示した誤り訂正および誤り検査装
置の処理の略図を示す第1の概念図である。
FIG. 22 is a first conceptual diagram showing a schematic diagram of the processing of the error correction and error checking device shown in FIG. 21;

【図23】 図21に示した誤り訂正および誤り検査装
置の処理の略図を示す第2の概念図である。
FIG. 23 is a second conceptual diagram showing a schematic diagram of the processing of the error correction and error checking device shown in FIG. 21;

【図24】 図21に示した誤り訂正および誤り検査装
置の処理の略図を示す第3の概念図である。
FIG. 24 is a third conceptual diagram showing a schematic diagram of the processing of the error correction and error checking device shown in FIG. 21;

【図25】 図21に示した誤り訂正および誤り検査装
置の処理の略図を示す第4の概念図である。
FIG. 25 is a fourth conceptual diagram showing a schematic diagram of the processing of the error correction and error checking device shown in FIG. 21;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 PI方向判定回路、2 記憶素子、3 PI方向誤
り検査回路、4 PO方向判定回路、5,9 排他的論
理和回路、6 PO方向集計誤り検査回路、7レジス
タ、8 PO方向部分誤り検査回路、10 PI方向誤
り訂正回路、11 記憶素子、12 PO方向誤り訂正
回路、13 データバス、14 データバッファ、82
排他的論理和演算回路、84 表変換回路、86 レ
ジスタ、141 ドライブ、142 信号読取回路、1
43 サーボ回路、144 制御回路、145 誤り訂
正回路、146 誤り検査回路、147 復号回路、1
48 インターフェース回路、149 ドライブ駆動回
路、802,820,822,824 排他的論理和演
算回路、804 データ分割回路、810,812,8
14,816 表変換回路、826 レジスタ。
Reference Signs List 1 PI direction determination circuit, 2 storage element, 3 PI direction error check circuit, 4 PO direction determination circuit, 5, 9 exclusive OR circuit, 6 PO direction total error check circuit, 7 register, 8 PO direction partial error check circuit , 10 PI direction error correction circuit, 11 storage element, 12 PO direction error correction circuit, 13 data bus, 14 data buffer, 82
Exclusive OR operation circuit, 84 table conversion circuit, 86 register, 141 drive, 142 signal reading circuit, 1
43 servo circuit, 144 control circuit, 145 error correction circuit, 146 error check circuit, 147 decoding circuit,
48 interface circuit, 149 drive drive circuit, 802, 820, 822, 824 exclusive OR operation circuit, 804 data division circuit, 810, 812, 8
14,816 Table conversion circuit, 826 registers.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G11B 20/18 572 G11B 20/18 572C 572F (72)発明者 山内 英樹 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 Fターム(参考) 5B001 AA13 AB02 AC02 AD06 AE02 5J065 AA01 AB01 AC03 AD02 AD13 AE06 AF01 AF03 AG02 AH04 AH05 AH06 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G11B 20/18 572 G11B 20/18 572C 572F (72) Inventor Hideki Yamauchi 2-chome Keihanhondori, Moriguchi-shi, Osaka No. 5-5 Sanyo Electric Co., Ltd. F-term (reference) 5B001 AA13 AB02 AC02 AD06 AE02 5J065 AA01 AB01 AC03 AD02 AD13 AE06 AF01 AF03 AG02 AH04 AH05 AH06

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 データブロックの第1の方向および第2
の方向の誤り訂正が可能な積符号を有する誤り訂正符号
を含む被訂正データに対する誤り訂正処理を行なう誤り
訂正演算手段を備え、 前記誤り訂正演算手段は、 前記積符号の第1の方向を訂正する第1の誤り訂正手段
と、 前記第2の方向を訂正する第2の誤り訂正手段とを含
み、 前記被訂正データを格納することが可能な第1の記憶素
子と、 前記誤り訂正演算手段による訂正が誤訂正でないことを
確認するために、誤り検査符号による誤り検査を行なう
誤り検査手段とを備え、 前記誤り検査符号は、前記データブロックの第1の方向
のデータに誤り検査符号を連続的に設けたものであっ
て、 前記誤り検査手段は、 前記第1の方向の誤り訂正によって検出された誤り量
と、前記第1の記憶素子に格納されたデータとを用いて
第1の誤り検査結果を算出する第1の論理演算手段と、 前記第1の誤り検出結果に応じて、第1の方向の誤り訂
正後の誤り検査を行なう第1方向誤り検査手段と、 前記第2の方向の誤り訂正時に検出された誤り量を用い
て、第2の誤り検査結果を算出し、前記第1および前記
第2の誤り検査結果の論理演算を行なうことで、前記第
2の方向の誤り訂正後の誤り検査を行なう第2方向誤り
検査手段とを含む、誤り訂正装置。
1. A first direction and a second direction of a data block.
Error correction processing means for performing error correction processing on data to be corrected including an error correction code having a product code capable of correcting an error in the direction of the product code, wherein the error correction calculation means corrects a first direction of the product code A first error correction unit that corrects the second direction, a first storage element capable of storing the data to be corrected, and a first error correction unit that corrects the second direction. Error checking means for performing error checking using an error check code to confirm that the correction by the error check is not an erroneous correction, wherein the error check code includes an error check code that is continuous with data in a first direction of the data block. Wherein the error checking means uses the error amount detected by the error correction in the first direction and the data stored in the first storage element to generate a first error. Inspection First logical operation means for calculating a result, first direction error checking means for performing error checking after error correction in a first direction according to the first error detection result, A second error check result is calculated using the amount of error detected at the time of error correction, and a logical operation is performed on the first and second error check results, so that after the error correction in the second direction, And a second-direction error checking means for performing an error check on the error.
【請求項2】 前記被訂正データを受けて一時的に格納
するための第2の記憶素子をさらに備え、 前記第1の記憶素子は、前記第2の記憶素子から読込ん
だ符号語を格納する、請求項1記載の誤り訂正装置。
A second storage element for receiving and temporarily storing the data to be corrected, wherein the first storage element stores a codeword read from the second storage element. The error correction device according to claim 1, wherein
【請求項3】 前記第2方向誤り検査手段は、 前記第2の方向の誤り訂正時に検出された誤り量を用い
て、前記データブロックの第2の方向に並ぶデータごと
に部分検査結果を算出する部分誤り検査手段と、 算出された複数の前記部分検査結果を第1の方向に集計
することにより、第2の検査結果を算出する集計誤り検
査手段を有する、請求項1または2記載の誤り訂正装
置。
3. The second direction error checking means calculates a partial check result for each data of the data block arranged in a second direction using an error amount detected at the time of error correction in the second direction. 3. The error according to claim 1, further comprising: a partial error checker that performs a second check result by calculating a plurality of the calculated partial check results in a first direction. 4. Correction device.
【請求項4】 少なくとも前記第2の誤り訂正手段と第
1方向誤り検査手段とが並列的に動作する、請求項3記
載の誤り訂正装置。
4. The error correction device according to claim 3, wherein at least said second error correction means and said first direction error check means operate in parallel.
【請求項5】 前記第2方向誤り検査手段は、 前記第1方向誤り検査手段の検査結果を受けて格納する
第3の記憶素子と、 前記第3の記憶素子に格納された前記第1方向誤り検査
手段の検査結果と前記集計誤り検査手段の検査結果とを
受けて、前記第2の方向の誤り訂正後の誤り検査を行な
うための第2の論理演算手段とをさらに含む、請求項3
記載の誤り訂正装置。
5. The second direction error checker includes: a third storage element that receives and stores a check result of the first direction error checker; and a first direction that is stored in the third storage element. 4. The apparatus according to claim 3, further comprising: a second logical operation unit configured to perform an error check after the error correction in the second direction in response to the check result of the error check unit and the check result of the total error check unit.
Error correction device as described.
【請求項6】 前記第2方向誤り検査手段は、前記第1
および前記第2の誤り検査結果の排他的論理和演算を行
なうことで、前記第2の方向の誤り訂正後の誤り検査を
行なう、請求項1〜5のいずれか1項に記載の誤り訂正
装置。
6. The second direction error checking means comprises:
6. The error correction device according to claim 1, wherein an error check after the error correction in the second direction is performed by performing an exclusive OR operation on the result of the second error check. .
【請求項7】 データブロックの第1の方向および第2
の方向の誤り訂正が可能な積符号を有する誤り訂正符号
を含む被訂正データを受けて、前記第1の方向について
誤り訂正処理を行なうステップと、 前記被訂正データを受けて、前記第2の方向について誤
り訂正処理を行なうステップと、 誤り訂正前の前記被訂正データと、前記第1の方向の誤
り訂正によって検出された誤り量とを順次用いて第1の
誤り検査結果を算出するステップと、 前記第1の誤り検出結果に応じて、第1の方向の誤り訂
正後の誤り検査を行なうステップと、 前記第2の方向の誤り訂正時に検出された誤り量を用い
て、第2の誤り検査結果を算出し、前記第1および前記
第2の誤り検査結果の論理演算を行なうことで、前記第
2の方向の誤り訂正後の誤り検査を行なうステップとを
備える、誤り訂正方法。
7. A first direction and a second direction of a data block.
Receiving error-corrected data including an error-correcting code having a product code capable of error-correcting in the first direction and performing error correction processing in the first direction; Performing an error correction process for a direction; calculating a first error check result by sequentially using the data to be corrected before the error correction and an error amount detected by the error correction in the first direction; Performing an error check after error correction in a first direction in accordance with the first error detection result; and performing a second error check using an error amount detected during error correction in the second direction. Calculating a check result and performing a logical operation on the first and second error check results to perform an error check after error correction in the second direction.
【請求項8】 前記第2の方向の誤り訂正後の誤り検査
を行なうステップは、 前記第2の方向の誤り訂正時に検出された誤り量を用い
て、前記データブロックの第2の方向に並ぶデータごと
に部分検査結果を算出するステップと、 算出された複数の前記部分検査結果を第1の方向に集計
することにより、第2の検査結果を算出するステップと
を含む、請求項7記載の誤り訂正方法。
8. The step of performing the error check after the error correction in the second direction includes: arranging the data blocks in the second direction of the data block using an error amount detected at the time of the error correction in the second direction. The method according to claim 7, further comprising: calculating a partial inspection result for each data; and calculating a second inspection result by totalizing the plurality of calculated partial inspection results in a first direction. Error correction method.
【請求項9】 前記第2の方向の誤り訂正後の誤り検査
を行なうステップにおいては、 前記第1および前記第2の誤り検査結果の排他的論理和
演算を行なうことで、前記第2の方向の誤り訂正後の誤
り検査を行なう、請求項7または8記載の誤り訂正方
法。
9. The step of performing an error check after the error correction in the second direction includes performing an exclusive OR operation of the first and second error check results, thereby obtaining the second direction. 9. The error correction method according to claim 7, wherein an error check after error correction is performed.
【請求項10】 前記第2方向誤り検査手段は、 前記第2の方向の誤り訂正時に検出された誤り量を用い
て、予め設定された前記誤り量と部分検査結果との対応
を示す演算テーブルに基づいて、前記データブロックの
第2の方向に並ぶデータごとに前記部分検査結果を出力
する部分誤り検査手段と、 算出された複数の前記部分検査結果を第1の方向に集計
することにより、第2の検査結果を算出する集計誤り検
査手段を有する、請求項1または2記載の誤り訂正装
置。
10. An operation table showing a correspondence between a predetermined error amount and a partial inspection result using an error amount detected at the time of error correction in the second direction. A partial error checker that outputs the partial check result for each data lined up in the second direction of the data block; and aggregating the plurality of calculated partial check results in the first direction, 3. The error correction device according to claim 1, further comprising a counting error check unit that calculates a second check result.
【請求項11】 前記部分誤り検査手段は、前記第2の
方向の誤り訂正時に検出された誤り量に対応する誤りデ
ータを複数のステップにわたって順次受け、 前記部分誤り検査手段は、 前ステップにおいて与えられた誤りデータに基づく部分
検査データと現在ステップにおいて与えられた誤りデー
タとの排他的論理和演算結果を出力する排他的論理和演
算手段と、 前記排他的論理和演算手段の出力を受けて、予め設定さ
れた前記誤りデータと部分検査データとの対応を示す演
算テーブルに基づいて、前記部分検査データを出力する
表演算手段と、 前記表演算手段から出力され前記部分検査データを受け
て保持し、現在ステップにおいて、前ステップにおける
前記部分検査データを前記排他的論理和演算手段に与え
るデータ保持手段とを含み、 前記表演算手段は、最後のステップにおいて与えられた
前記誤りデータに基づいて、前記データブロックの第2
の方向に並ぶデータごとに前記部分検査結果を出力す
る、請求項10記載の誤り訂正装置。
11. The partial error checking means sequentially receives error data corresponding to the amount of error detected at the time of error correction in the second direction over a plurality of steps, wherein the partial error checking means Exclusive OR operation means for outputting an exclusive OR operation result of the partial test data based on the given error data and the error data given in the current step; receiving the output of the exclusive OR operation means, A table operation means for outputting the partial inspection data based on a preset operation table indicating a correspondence between the error data and the partial inspection data; and receiving and holding the partial inspection data output from the table operation means , In the current step, a data holding means for providing the partial test data in the previous step to the exclusive OR operation means, Serial table calculating means, on the basis of the error data given in the last step, the second said data blocks
The error correction device according to claim 10, wherein the partial inspection result is output for each data lined up in the direction.
【請求項12】 前記表演算手段は、 前記排他的論理和演算手段の出力を受けて、所定数のグ
ループに分割するデータ分割手段と、 前記データ分割手段の出力をそれぞれ受けて、予め設定
された前記誤りデータと部分検査データとの対応を示す
演算テーブルに基づいて、前記部分検査データを出力す
る複数のサブ表演算手段と、 前記複数のサブ表演算手段からの出力を受けて、前記部
分検査データを出力する部分検査演算手段とを含む、請
求項11記載の誤り訂正装置。
12. The table operation means receives the output of the exclusive-OR operation means and divides the data into a predetermined number of groups. The table operation means receives the output of the data division means. A plurality of sub-table operation means for outputting the partial inspection data, based on an operation table indicating a correspondence between the error data and the partial inspection data, and receiving the output from the plurality of sub-table operation means, The error correction device according to claim 11, further comprising a partial check operation unit that outputs check data.
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