JP2001289674A - Displacement measuring device - Google Patents

Displacement measuring device

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JP2001289674A
JP2001289674A JP2001027685A JP2001027685A JP2001289674A JP 2001289674 A JP2001289674 A JP 2001289674A JP 2001027685 A JP2001027685 A JP 2001027685A JP 2001027685 A JP2001027685 A JP 2001027685A JP 2001289674 A JP2001289674 A JP 2001289674A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a displacement-measuring device capable of improving reliability and yield in the case of a fine scale pitch. SOLUTION: In accordance with the pitch λ of an optical grating 12 of a scale 1, the light receiving elements PD1 and PD2 of a light receiving element array 22 are constituted of a plurality of stripe patterns 32 arranged with the pitch λ and connection parts 33 connecting between them.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、相対移動可能に
配置されて変位信号を出力するスケールと受信素子アレ
イによって構成される変位測定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a displacement measuring device comprising a scale which is arranged so as to be relatively movable and outputs a displacement signal, and a receiving element array.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、受光側のインデックス格子を
兼ねて受光素子アレイを用いる光電式エンコーダが知ら
れている。スケールの光学格子ピッチをλとしたとき、
受光素子アレイは例えば、4相の変位信号を得る場合で
あれば、3λ/4ピッチで受光素子を配列して構成され
る。この場合、受光素子アレイの同相の受光素子は並列
接続されて、A,BB,B,ABの4相出力が得られ
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, a photoelectric encoder using a light receiving element array also serving as an index grating on a light receiving side has been known. When the optical grating pitch of the scale is λ,
For example, in the case of obtaining displacement signals of four phases, the light receiving element array is configured by arranging light receiving elements at a pitch of 3λ / 4. In this case, the light receiving elements of the same phase in the light receiving element array are connected in parallel, and four-phase outputs of A, BB, B, and AB are obtained.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】微細ピッチの光電式エ
ンコーダを作る場合、受光素子アレイの配列ピッチも微
細になる。この微細化の結果、例えば隣接する受光素子
のスペースにゴミの付着やエッチング残り等があると、
隣接する受光素子間が短絡し又はリークが増大するとい
う事故が発生する。隣接する受光素子は異なる相の変位
信号出力用であるから、この様な短絡やリークは、光電
式エンコーダの信頼性や歩留まり低下の原因となる。ま
た、受光素子の幅が小さいものとなると、これに対する
配線コンタクトが不十分になり、これも信頼性の低下の
原因となる。
When a photoelectric encoder having a fine pitch is manufactured, the arrangement pitch of the light receiving element array becomes fine. As a result of this miniaturization, for example, if there is dust adhesion or etching residue in the space of the adjacent light receiving element,
An accident occurs in which adjacent light receiving elements are short-circuited or leak increases. Since adjacent light receiving elements are used to output displacement signals of different phases, such a short circuit or leak causes reliability and yield reduction of the photoelectric encoder. In addition, when the width of the light receiving element is small, the wiring contact with the light receiving element becomes insufficient, which also causes a reduction in reliability.

【0004】この発明は、上記事情を考慮してなされた
もので、微細スケールピッチの場合の信頼性及び歩留ま
り向上を可能とした変位測定装置を提供することを目的
としている。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a displacement measuring device capable of improving reliability and yield in the case of fine scale pitch.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】この発明は、測定軸に沿
ってピッチλのスケール格子が形成されたスケールと、
このスケールに対して前記測定軸に沿って相対移動可能
に配置されて、前記スケール格子を検出して位相の異な
る複数の変位信号を出力する受信素子アレイとを有する
変位測定装置において、前記受信素子アレイは、基板
と、この基板に形成されて、それぞれピッチnλ(但
し、nは正の整数)で前記測定軸に沿って配列された複
数本のストライプパターン部とこれらのストライプパタ
ーン部を相互に連結する連結部とを備えて異なる位相の
変位信号を出力する複数の受信素子とを有することを特
徴とする。
According to the present invention, there is provided a scale in which a scale grating having a pitch λ is formed along a measurement axis;
A receiving element array that is disposed so as to be relatively movable along the measurement axis with respect to the scale and that detects the scale grating and outputs a plurality of displacement signals having different phases. The array includes a substrate, a plurality of stripe pattern portions formed on the substrate and arranged along the measurement axis at a pitch nλ (where n is a positive integer), and the stripe pattern portions. And a plurality of receiving elements that output a displacement signal having a different phase with a coupling unit that couples the signals.

【0006】この発明において、一つの受信素子は、ス
ケールのピッチと同じか又はその整数倍のピッチを持つ
複数本のストライプパターン部とこれらを連結する連結
部とから構成される。言い換えれば、この発明におい
て、一つの受信素子は、通常の受信素子アレイにおける
同相の複数本の受信素子を一つにまとめた状態として構
成している。この様な構成とすれば、一つの受信素子内
の隣接するストライプパターン部の間にゴミやエッチン
グ残りがあって短絡やリークが発生しても、この隣接す
るストライプパターン部は同相出力用であるから、変位
出力信号には何ら影響を与えない。従って、微細ピッチ
のエンコーダの信頼性及び歩留まり向上が図られる。ま
たこの発明において、各受信素子は、ストライプパター
ン部から連結部まで連続する受信面が形成されるものと
し、その連結部を配線コンタクト部とすれば、ストライ
プパターン部が細いものであっても確実なコンタクトを
とることができる。
In the present invention, one receiving element is composed of a plurality of stripe pattern portions having the same pitch as the pitch of the scale or an integer multiple thereof, and a connecting portion connecting these. In other words, in the present invention, one receiving element is configured such that a plurality of in-phase receiving elements in a normal receiving element array are integrated into one. With such a configuration, even if dust or etching residue exists between adjacent stripe pattern portions in one receiving element and a short circuit or leak occurs, the adjacent stripe pattern portions are used for in-phase output. Therefore, the displacement output signal is not affected at all. Therefore, the reliability and yield of the fine pitch encoder can be improved. Further, in the present invention, it is assumed that each receiving element has a receiving surface that is continuous from the stripe pattern portion to the connecting portion, and if the connecting portion is a wiring contact portion, even if the stripe pattern portion is thin, it can be surely formed. Contact can be made.

【0007】この発明は例えば、光学式エンコーダに適
用される。この場合、スケール格子は光学格子であり、
受信素子アレイは受光素子アレイにより構成される。こ
の場合、複数の受光素子は例えば、{n+(2M−1)
/2}λ(但し、Mは正の整数)の配列ピッチで測定軸
方向に配列されて互いに逆相の2相の変位信号を出力す
る2個で1セットの受光素子を有するものとすることが
できる。或いはまた、複数の受光素子は、{n+(2M
−1)/4)λ(但し、Mは正の整数)の配列ピッチで
前記測定軸方向に配列されて90°ずつ位相の異なる4
相の変位信号を出力する4個で1セットの受光素子を有
するものとすることができる。さらに、複数の受光素子
は、(n+N/3)λ(但し、Nは3の倍数を除く正の
整数)の配列ピッチで前記測定軸方向に配列されて12
0°ずつ位相の異なる3相の変位信号を出力する3個で
1セットの受光素子を有するものとすることができる。
The present invention is applied to, for example, an optical encoder. In this case, the scale grating is an optical grating,
The receiving element array is constituted by a light receiving element array. In this case, the plurality of light receiving elements are, for example, Δn + (2M−1)
/ 2} λ (where M is a positive integer) having two light receiving elements which are arranged in the measurement axis direction at an arrangement pitch and output two-phase displacement signals of mutually opposite phases. Can be. Alternatively, the plurality of light receiving elements are Δn + (2M
-1) / 4) 4 arranged at an arrangement pitch of λ (where M is a positive integer) in the measurement axis direction and having a phase difference of 90 °.
One set of four light receiving elements that output a phase displacement signal can be provided. Further, the plurality of light receiving elements are arranged in the measurement axis direction at an arrangement pitch of (n + N / 3) λ (where N is a positive integer excluding a multiple of 3).
A set of three light receiving elements that output displacement signals of three phases different in phase by 0 ° can be provided.

【0008】更にこの発明において、一つの受光素子の
連結部は、(a)ストライプパターン部の中央部間を連
結するものとすることもできるし、(b)ストライプパ
ターン部の端部間を連結するものとすることもできる
し、或いは(c)ストライプパターン部の複数箇所で連
結するものとすることもできる。
Further, in the present invention, the connecting portion of one light receiving element may be connected between (a) the central portion of the stripe pattern portion and (b) connected between the end portions of the stripe pattern portion. Or (c) connecting at a plurality of locations in the stripe pattern portion.

【0009】この発明はまた、磁気エンコーダや静電容
量式エンコーダにも適用できる。前者の場合、スケール
格子は、ピッチλの周期的磁界を発生する磁気スケール
であり、受信素子アレイは磁気検出素子アレイにより構
成される。また、後者の場合、スケール格子は、転送電
極アレイにより構成され、センサヘッドは、転送電極と
容量結合する送信電極と、受信素子アレイとしての受信
電極アレイにより構成される。
The present invention is also applicable to a magnetic encoder and a capacitive encoder. In the former case, the scale grating is a magnetic scale that generates a periodic magnetic field having a pitch λ, and the receiving element array is configured by a magnetic detecting element array. In the latter case, the scale grating is constituted by a transfer electrode array, and the sensor head is constituted by a transmission electrode capacitively coupled to the transfer electrode and a reception electrode array as a reception element array.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】図1及び図2は、この発明が適用
される光電式エンコーダの基本構成を示している。いず
れも、スケール1と、このスケール1に対してその測定
軸x方向に相対移動して変位信号を出力するセンサヘッ
ド2とから構成される。図1は透過型エンコーダであ
り、図2は反射型エンコーダである。即ち図1では、ス
ケール1は、基板11が透明基板であり、これに透過部
と非透過部を配列した透過型の光学格子12が形成され
ている。図2では、スケールは、基板11に反射部と非
反射部を配列した反射型の光学格子12が形成されてい
る。
1 and 2 show the basic structure of a photoelectric encoder to which the present invention is applied. Each of them includes a scale 1 and a sensor head 2 which moves relative to the scale 1 in the measurement axis x direction and outputs a displacement signal. FIG. 1 shows a transmission encoder, and FIG. 2 shows a reflection encoder. That is, in FIG. 1, the scale 1 has a transparent substrate 11 on which a transmission type optical grating 12 in which transmission parts and non-transmission parts are arranged is formed. In FIG. 2, the scale has a reflective optical grating 12 in which a reflective portion and a non-reflective portion are arranged on a substrate 11.

【0011】センサヘッド2は、LED等の光源21と
インデックス格子23、及びスケール1からの光を受光
する受光素子アレイ22により構成されている。受光素
子アレイ22は、複数の受光素子をスケール1の光学格
子ピッチとの関係で所定ピッチで配列することにより、
複数位相の変位信号が得られるように構成される。
The sensor head 2 includes a light source 21 such as an LED, an index grating 23, and a light receiving element array 22 that receives light from the scale 1. The light receiving element array 22 arranges a plurality of light receiving elements at a predetermined pitch in relation to the optical grating pitch of the scale 1,
It is configured to obtain displacement signals of a plurality of phases.

【0012】[実施の形態1]図3は、図1及び図2の
いずれの形式にも適用可能なスケール1と受光素子アレ
イ22の関係を示している。スケール1の光学格子12
は、測定軸xに沿って透過部(又は反射部)12aと不
透過部(又は非反射部)12bを交互に配列して構成さ
れ、そのピッチはλとする。受光素子アレイ22は、基
板31と、この上に形成された二つの受光素子PD1,
PD2とから構成されている。受光素子PD1,PD2
はそれぞれ、スケール1の光学格子12と同じピッチS
1=λで測定軸x方向に配列された3本のストライプパ
ターン部32と、これらを連結する連結部33とから構
成される。
[First Embodiment] FIG. 3 shows the relationship between the scale 1 and the light receiving element array 22 which can be applied to either of the formats shown in FIGS. Optical grating 12 of scale 1
Is configured by alternately arranging transmission parts (or reflection parts) 12a and non-transmission parts (or non-reflection parts) 12b along the measurement axis x, and the pitch is λ. The light receiving element array 22 includes a substrate 31 and two light receiving elements PD1 and PD1 formed thereon.
PD2. Light receiving elements PD1, PD2
Respectively have the same pitch S as the optical grating 12 of the scale 1
It is composed of three stripe pattern portions 32 arranged in the measurement axis x direction at 1 = λ, and a connecting portion 33 connecting these.

【0013】受光素子PD1,PD2の相対位置関係
は、一方の受光素子PD1のストライプパターン部32
がスケール1の光学格子12の透過部(又は反射部)1
2aと重なるときに、他方の受光素子PD2のストライ
プパターン部32はスケール1の光学格子12の不透過
部(又は非反射部)12bと重なるように設定されてい
る。即ち、受光素子PD1,PD2の配列ピッチは、P
1=3λ+λ/2に設定されて、これらの受光素子PD
1,PD2には逆相のA,B相変位出力信号が得られる
ようになっている。
The relative positional relationship between the light receiving elements PD1 and PD2 is determined by the stripe pattern portion 32 of one of the light receiving elements PD1.
Is the transmission part (or reflection part) 1 of the optical grating 12 of the scale 1
When overlapping with 2a, the stripe pattern portion 32 of the other light receiving element PD2 is set to overlap with the non-transmissive portion (or non-reflective portion) 12b of the optical grating 12 of the scale 1. That is, the arrangement pitch of the light receiving elements PD1 and PD2 is P
1 = 3λ + λ / 2, and these light receiving elements PD
1 and PD2 are adapted to obtain A and B phase displacement output signals of opposite phases.

【0014】図3では、二つの受光素子PD1,PD2
のみ示しているが、一般的にはこの二つの受光素子を1
セットとして、複数セットの受光素子が配置される。ま
た、図3の実施の形態の場合、受光素子PD1,PD2
が3本のストライプパターン部32を持つ例を示してい
るが、一般的には2本以上のストライプパターン部があ
ればよい。即ち各受光素子PD1,PD2のストライプ
パターン部32のピッチは、一般的には、S1=nλ
(n:正の整数)であればよい。また受光素子PD1,
PD2の間の隣接するストライプパターン部32のピッ
チS2は図の場合、S2=3λ/2であるが、必要なス
ペースを確保して且つ逆相出力を得る条件としては一般
的には、S2={(2M−1)/2}λ(M:正の整
数)であればよい。
In FIG. 3, two light receiving elements PD1, PD2
Although only the two light receiving elements are shown,
As a set, a plurality of sets of light receiving elements are arranged. Further, in the case of the embodiment of FIG. 3, the light receiving elements PD1, PD2
Shows an example in which three stripe pattern portions 32 are provided, but in general, it is sufficient if there are two or more stripe pattern portions. That is, the pitch of the stripe pattern portions 32 of the light receiving elements PD1 and PD2 is generally S1 = nλ.
(N: positive integer). Also, the light receiving elements PD1,
The pitch S2 of the adjacent stripe pattern portions 32 between the PD2s is S2 = 3λ / 2 in the case of the drawing. However, as a condition for securing a necessary space and obtaining a reverse-phase output, generally, S2 = 3λ / 2. It is sufficient that {(2M-1) / 2} λ (M: a positive integer).

【0015】以上から、受光素子PD1,PD2の配列
ピッチP1は一般的には、{n+(2M−1)/2}λ
とすればよい。図3では、受光素子PD1,PD2の端
子配線を省略している。この端子配線を含めて受光素子
PD1,PD2の具体的な構造例を示すと、図4のよう
になる。図4Aは平面図であり、図4B,4Cはそれぞ
れ図4AのI−I’,II−II’断面図である。
From the above, the arrangement pitch P1 of the light receiving elements PD1, PD2 is generally {n + (2M-1) / 2} λ
And it is sufficient. In FIG. 3, the terminal wiring of the light receiving elements PD1 and PD2 is omitted. FIG. 4 shows a specific example of the structure of the light receiving elements PD1 and PD2 including this terminal wiring. FIG. 4A is a plan view, and FIGS. 4B and 4C are sectional views taken along lines II ′ and II-II ′ of FIG. 4A, respectively.

【0016】受光素子PD1,PD2は、ガラス等の基
板31に堆積形成されたp型、i型、n型のアモルファ
スシリコン層321,322,323をパターニングし
て作らたフォトダイオードである。このフォトダイオー
ドは、ストライプパターン部32とこれらの中央部で連
結する連結部33に連続する一つの受光面を持つ。基板
表面には予め共通電極311が形成されている。受光素
子PD1,PD2はCVD酸化膜等の絶縁膜312で覆
われ、これにコンタクト孔314を開けて配線313が
形成される。この実施の形態において、配線313のコ
ンタクト孔314は、受光素子PD1,PD2の複数の
ストライプパターン部32をそれらの中央部で連結する
連結部33に形成している。
The light receiving elements PD1 and PD2 are photodiodes formed by patterning p-type, i-type, and n-type amorphous silicon layers 321, 322, and 323 deposited on a substrate 31 such as glass. This photodiode has one light receiving surface which is continuous with the stripe pattern portion 32 and a connecting portion 33 connected at the center thereof. A common electrode 311 is previously formed on the substrate surface. The light receiving elements PD1 and PD2 are covered with an insulating film 312 such as a CVD oxide film, and a contact hole 314 is formed in the insulating film 312 to form a wiring 313. In this embodiment, the contact hole 314 of the wiring 313 is formed in the connecting portion 33 that connects the plurality of stripe pattern portions 32 of the light receiving elements PD1 and PD2 at the center thereof.

【0017】以上のようにこの実施の形態では、一つの
受光素子が、通常の光電式エンコーダでの受光素子アレ
イにおける同相の複数本の受光素子を一体にまとめたも
のとして構成される。この場合、受光素子内でストライ
プパターン部32の間にゴミ等が入り、或いはエッチン
グ残りがあったとしても、変位出力信号には影響がな
い。この実施の形態の場合、ゴミ等が問題になるのは、
受光素子PD1,PD2の間のスペースであるが、この
スペースは受光素子が1セットの場合には1箇所のみで
ある。また図3の場合、受光素子PD1,PD2の間の
スペースはλに設定されており、各受光素子内でのスト
ライプパターン部32のスペースλ/2より大きい。
As described above, in this embodiment, one light receiving element is constituted by integrally integrating a plurality of in-phase light receiving elements in a light receiving element array in a normal photoelectric encoder. In this case, even if dust or the like enters between the stripe pattern portions 32 in the light receiving element or there is an etching residue, the displacement output signal is not affected. In the case of this embodiment, the problem of dust etc. is
This is a space between the light receiving elements PD1 and PD2, but this space is only one place when one set of light receiving elements is provided. In the case of FIG. 3, the space between the light receiving elements PD1 and PD2 is set to λ, which is larger than the space λ / 2 of the stripe pattern portion 32 in each light receiving element.

【0018】従ってこの実施の形態によると、スケール
ピッチλが微細になっても、ゴミ等による歩留まり低下
や信頼性低下が抑制され、また異なる位相の変位出力信
号間のクロストーク雑音も抑制される。また、連結部に
配線コンタクトを形成することにより、やはりスケール
ピッチλが微細になった場合にも、低抵抗の配線コンタ
クトがとれる。
Therefore, according to this embodiment, even if the scale pitch λ becomes fine, a decrease in yield and a decrease in reliability due to dust and the like are suppressed, and crosstalk noise between displacement output signals having different phases is also suppressed. . Further, by forming a wiring contact at the connection portion, a wiring contact having a low resistance can be obtained even when the scale pitch λ becomes finer.

【0019】[実施の形態2]図5Aは、別の実施の形
態について、受光素子PD1,PD2のレイアウトを示
している。先の実施の形態と対応する部分には先の実施
の形態と同一符号を付して詳細な説明は省く。受光素子
PD1,PD2の各部の寸法も先の実施の形態と同様と
する。この実施の形態では、受光素子PD1,PD2の
ストライプパターン部32を連結する連結部33を、ス
トライプパターン部32の端部に配置して、ここを配線
コンタクト部とする。このようにすると、先の実施の形
態に比べて受光素子PD1,PD2内での信号遅延が大
きくなるが、配線を端部のみから引き出させるため、配
線の幅に対する制限が緩くなる等、デバイス製造は容易
になる。図5Bは、図5Aの受光素子PD1,PD2の
両端部に連結部33を配置したレイアウトである。
[Second Embodiment] FIG. 5A shows a layout of light receiving elements PD1 and PD2 according to another embodiment. Parts corresponding to those in the above embodiment are denoted by the same reference numerals as in the above embodiment, and detailed description is omitted. The dimensions of each part of the light receiving elements PD1 and PD2 are the same as in the previous embodiment. In this embodiment, a connecting portion 33 connecting the stripe pattern portions 32 of the light receiving elements PD1 and PD2 is arranged at an end of the stripe pattern portion 32, and this is used as a wiring contact portion. By doing so, the signal delay in the light receiving elements PD1 and PD2 is larger than in the previous embodiment. However, since the wiring is drawn out only from the end, the restriction on the width of the wiring is relaxed. Becomes easier. FIG. 5B is a layout in which connecting portions 33 are arranged at both ends of the light receiving elements PD1 and PD2 in FIG. 5A.

【0020】[実施の形態3]図6Aは、更に別の実施
の形態について、受光素子PD1,PD2のレイアウト
を示している。先の実施の形態と対応する部分には先の
実施の形態と同一符号を付して詳細な説明は省く。受光
素子PD1,PD2の各部の寸法も先の実施の形態と同
様とする。この実施の形態では、受光素子PD1,PD
2のストライプパターン部32を連結する連結部33
を、ストライプパターン部32の複数箇所に設けて、こ
こを配線コンタクト部とする。この実施の形態による
と、受光素子PD1,PD2内での信号遅延の影響を低
減することができる。図6Bは、図6Aの受光素子PD
1,PD1の両端部に連結部33を配置したレイアウト
である。
[Embodiment 3] FIG. 6A shows a layout of light receiving elements PD1 and PD2 according to still another embodiment. Parts corresponding to those in the above embodiment are denoted by the same reference numerals as in the above embodiment, and detailed description is omitted. The dimensions of each part of the light receiving elements PD1 and PD2 are the same as in the previous embodiment. In this embodiment, the light receiving elements PD1, PD
Connecting portion 33 connecting the two stripe pattern portions 32
Are provided at a plurality of locations in the stripe pattern portion 32, and this is used as a wiring contact portion. According to this embodiment, it is possible to reduce the influence of signal delay in the light receiving elements PD1 and PD2. FIG. 6B shows the light receiving element PD of FIG. 6A.
1, a layout in which connecting portions 33 are arranged at both ends of PD1.

【0021】[実施の形態4]ここまでの実施の形態
は、2相の変位出力を得る場合を説明したが、この発明
は4相の変位出力を得るエンコーダにも同様に適用でき
る。図7はそのような実施の形態の4相の受光素子PD
1〜PD4のレイアウトを示している。各受光素子の構
成は、図3の実施の形態と同じものとしている。この実
施の形態の場合、4つの受光素子PD1〜PD4を、測
定軸方向に配列ピッチP2=3λ+λ/4で配列してい
る。これにより、各受光素子PD1〜PD4から、90
°ずつ位相がずれたA,AB,B,BB相の変位出力を
得ることができる。
[Embodiment 4] In the embodiments described above, the case where two-phase displacement output is obtained has been described. However, the present invention can be similarly applied to an encoder which obtains four-phase displacement output. FIG. 7 shows a four-phase light receiving element PD according to such an embodiment.
1 shows a layout of 1 to PD4. The configuration of each light receiving element is the same as the embodiment of FIG. In the case of this embodiment, four light receiving elements PD1 to PD4 are arranged at an arrangement pitch P2 = 3λ + λ / 4 in the measurement axis direction. As a result, from each of the light receiving elements PD1 to PD4, 90
It is possible to obtain displacement outputs of the A, AB, B, and BB phases whose phases are shifted by °.

【0022】図3の実施の形態において説明したよう
に、一つの受光素子のストライプパターン部32は少な
くとも2本あればよい。また、隣接する受光素子のスト
ライプパターン部32の間隔を(2M−1)λ/4(但
し、Mは正の整数)だけ確保するとした場合、この実施
の形態での受光素子配列ピッチP2は一般的には、P2
={n+(2M−1)/4}λと表される。
As described in the embodiment of FIG. 3, at least two stripe pattern portions 32 of one light receiving element are required. Further, when the interval between the stripe pattern portions 32 of adjacent light receiving elements is secured by (2M−1) λ / 4 (where M is a positive integer), the light receiving element array pitch P2 in this embodiment is generally Specifically, P2
= {N + (2M-1) / 4} λ.

【0023】この実施の形態によっても先の実施の形態
と同様の効果が得られる。受光素子PD1〜PD4のレ
イアウトとして、図5A,図5B,図6A或いは図6B
の方式を適用することもできる。また図7では、4個で
1セットの受光素子PD1〜PD4を示しているが、複
数セットの受光素子を用いることもできる。
According to this embodiment, the same effect as in the previous embodiment can be obtained. 5A, 5B, 6A, or 6B as the layout of the light receiving elements PD1 to PD4.
The above method can also be applied. In FIG. 7, one set of four light receiving elements PD1 to PD4 is shown, but a plurality of sets of light receiving elements may be used.

【0024】[実施の形態5]図8は、3相の変位出力
信号を得るエンコーダに適用した実施の形態について、
3相の受光素子PD1〜PD3のレイアウトを示してい
る。各受光素子の構成は、図3の実施の形態と同じもの
としている。この実施の形態の場合、3つの受光素子P
D1〜PD3を、測定軸方向に配列ピッチP3=3λ+
λ/3で配列している。これにより、各受光素子PD1
〜PD3から、120°ずつ位相がずれたA,B,C相
の変位出力を得ることができる。
[Embodiment 5] FIG. 8 shows an embodiment applied to an encoder for obtaining a three-phase displacement output signal.
The layout of the three-phase light receiving elements PD1 to PD3 is shown. The configuration of each light receiving element is the same as the embodiment of FIG. In the case of this embodiment, three light receiving elements P
D1 to PD3 are arranged in the measurement axis direction at an arrangement pitch P3 = 3λ +
They are arranged at λ / 3. Thereby, each light receiving element PD1
変 位 PD3, it is possible to obtain displacement outputs of the A, B, and C phases whose phases are shifted by 120 °.

【0025】図3の実施の形態において説明したよう
に、一つの受光素子のストライプパターン部32は少な
くとも2本あればよい。また、隣接する受光素子のスト
ライプパターン部32の間隔をNλ/3(但し、Nは3
の倍数を除く正の整数)だけ確保するとした場合、この
実施の形態での受光素子配列ピッチP3は一般的には、
P3=(n+N/3)λと表される。この実施の形態に
よっても先の実施の形態と同様の効果が得られる。受光
素子PD1〜PD3のレイアウトとして、図5A,図5
B,図6A或いは図6Bの方式を適用することもでき
る。また図8では、3個で1セットの受光素子PD1〜
PD3を示しているが、複数セットの受光素子を用いる
こともできる。
As described in the embodiment of FIG. 3, at least two stripe pattern portions 32 of one light receiving element are required. The interval between the stripe pattern portions 32 of the adjacent light receiving elements is set to Nλ / 3 (where N is 3
(Positive integer excluding a multiple of the following), the light receiving element array pitch P3 in this embodiment is generally
P3 = (n + N / 3) λ. According to this embodiment, the same effect as that of the previous embodiment can be obtained. FIGS. 5A and 5B show the layout of the light receiving elements PD1 to PD3.
B, FIG. 6A or the method of FIG. 6B can also be applied. In FIG. 8, one set of three light receiving elements PD1 to PD1 is provided.
Although the PD 3 is shown, a plurality of sets of light receiving elements can be used.

【0026】ここまでの実施の形態では、受光素子をア
モルファスシリコン膜によるフォトダイオードにより説
明したが、単結晶シリコン基板に形成するフォトダイオ
ードとする場合も同様にこの発明を適用することができ
る。
In the above embodiments, the light receiving element is described as a photodiode using an amorphous silicon film. However, the present invention can be similarly applied to a photodiode formed on a single crystal silicon substrate.

【0027】[実施の形態6]図9は、この発明を磁気
エンコーダに適用した実施の形態である。スケール1と
これに対向するセンサヘッド2を有することは、ここま
での実施の形態と同じである。スケール1は、S極とN
極が測定軸xに沿ってピッチλで配列されて磁気的格子
を構成し、周期的磁界を発生する。センサヘッド2は、
基板41にスケール1の磁界を検出する磁気検出素子と
して磁気抵抗素子42を配列して構成されている。
[Embodiment 6] FIG. 9 shows an embodiment in which the present invention is applied to a magnetic encoder. The provision of the scale 1 and the sensor head 2 opposed to the scale 1 is the same as in the above embodiments. Scale 1 has S pole and N
The poles are arranged at a pitch λ along the measurement axis x to form a magnetic grating and generate a periodic magnetic field. The sensor head 2 is
A magnetic resistance element 42 is arranged on a substrate 41 as a magnetic detection element for detecting a magnetic field of the scale 1.

【0028】一つの磁気抵抗素子42は、λの間隔で配
置された複数本(図の場合、2本)のストライプパター
ン部43とこれらを連結する連結部44を有する。この
様な磁気抵抗素子42が、図の場合、P=2λ+λ/4
のピッチで4個を1セットとして配列されて、それぞれ
A,B,AB,BBの4相の変位信号を出力する。一つ
の磁気抵抗素子のストライプパターン部の間隔は、一般
的にはnλ(nは正の整数)とすることができる。
One magnetoresistive element 42 has a plurality of (two in the figure) stripe pattern portions 43 arranged at an interval of λ and a connecting portion 44 connecting these. In the case of the drawing, such a magnetoresistive element 42 has P = 2λ + λ / 4.
Are arranged as one set at a pitch of .times., And output four-phase displacement signals of A, B, AB, and BB, respectively. In general, the interval between the stripe pattern portions of one magnetoresistive element can be nλ (n is a positive integer).

【0029】この実施の形態の場合も、スケールピッチ
の微細化に伴い、異なる位相で配列される磁気抵抗素子
を先の実施の形態と同様に組み替えることにより、先の
実施の形態と同様の効果が得られる。なお磁気エンコー
ダにはスケールからの誘導磁界を検出する誘導式もあ
り、この場合には磁気検出素子としてコイル等が用いら
れるが、この誘導式磁気エンコーダにも同様にこの発明
の適用が可能である。
Also in this embodiment, as the scale pitch becomes finer, the magnetoresistive elements arranged in different phases are rearranged in the same manner as in the previous embodiment, so that the same effect as in the previous embodiment is obtained. Is obtained. Note that the magnetic encoder also has an induction type that detects an induction magnetic field from a scale. In this case, a coil or the like is used as a magnetic detection element, but the present invention can be applied to this induction type magnetic encoder as well. .

【0030】[実施の形態7]図10は、この発明を静
電容量式エンコーダに適用した実施の形態である。スケ
ール1とこれに対向するセンサヘッド2を有すること
は、先の実施の形態と同じである。スケール1には所定
ピッチで転送電極51が配列され、センサヘッド2には
転送電極51と容量結合する受信電極群52と送信電極
53を有する。受信電極群52がその物理的配置により
位相情報を持つ。
[Embodiment 7] FIG. 10 shows an embodiment in which the present invention is applied to a capacitance type encoder. The provision of the scale 1 and the sensor head 2 opposed thereto is the same as in the previous embodiment. Transfer electrodes 51 are arranged at a predetermined pitch on the scale 1, and the sensor head 2 has a reception electrode group 52 and a transmission electrode 53 that are capacitively coupled to the transfer electrodes 51. The receiving electrode group 52 has phase information by its physical arrangement.

【0031】通常の場合であれば、受信電極群52は、
例えば図11Aに示すように、ピッチλ/3でA,B,
Cの3相の受信電極が配列され、同相の受信電極が同じ
位相の信号を受信する。これに対してこの実施の形態で
は、受信電極群52は、図11Bに示すように、図11
Aの同相の2本ずつの受信電極をまとめて一つにした受
信電極55を、λ+2λ/3の配列ピッチで配置して、
A,B,C相の受信素子とする。各受信電極55が間隔
λのストライプパターン部53とこれらを連結する連結
部54とから構成されることは、例えば実施の形態1の
受光素子と同様である。或いは、図11Cに示すよう
に、受信電極55をλ+4λ/3の配列ピッチで配置し
て、A,B,C相の受信素子とする。更には、図11C
に破線で示すように、受信電極55をλ+λ/3の配列
ピッチで配置して、A,B,C相の受信素子とすること
もできる。
In a normal case, the receiving electrode group 52
For example, as shown in FIG. 11A, A, B,
The three-phase receiving electrodes C are arranged, and the same-phase receiving electrodes receive signals of the same phase. On the other hand, in this embodiment, as shown in FIG.
The receiving electrodes 55 in which two receiving electrodes of the same phase of A are combined into one are arranged at an arrangement pitch of λ + 2λ / 3,
A, B, and C phase receiving elements. Each receiving electrode 55 is composed of a stripe pattern portion 53 with an interval λ and a connecting portion 54 connecting the stripe pattern portions 53, as in the light receiving element of the first embodiment, for example. Alternatively, as shown in FIG. 11C, the receiving electrodes 55 are arranged at an arrangement pitch of λ + 4λ / 3 to form A, B, and C phase receiving elements. Further, FIG.
As shown by the broken line in FIG. 7, the receiving electrodes 55 can be arranged at an arrangement pitch of λ + λ / 3 to form A, B, and C phase receiving elements.

【0032】また、図11Aの受信電極配列を、図12
Aに示すように、同相の2本ずつのの受信電極が隣接す
るように並べ変えることもできる。この場合、同相の2
本ずつの受信電極をまとめて、ストライプパターン部5
3と連結部54からなる一つの受信電極55にすると、
図12Bのようになる。これは、図11Bと同じにな
る。この実施の形態の場合も、スケールピッチが微細化
したときに受信電極配列に余裕を持たせ、またゴミ等に
よる異なる相の受信電極の短絡を防止して、信頼性向上
を図ることができる。
Further, the receiving electrode arrangement of FIG.
As shown in A, two receiving electrodes of the same phase can be rearranged so as to be adjacent to each other. In this case, 2
The receiving electrodes of each book are put together to form a stripe pattern section 5.
When one receiving electrode 55 composed of 3 and the connecting portion 54 is obtained,
As shown in FIG. 12B. This is the same as FIG. 11B. Also in this embodiment, when the scale pitch is miniaturized, a margin is provided in the receiving electrode arrangement, and short-circuiting of the receiving electrodes of different phases due to dust or the like can be prevented, so that the reliability can be improved.

【0033】図11B或いは図12Bに示すように、受
信電極55を2λ/3の間隔で配列する場合と、図11
Cに実線で示すように、受信電極55を4λ/3の間隔
で配列する場合を比較すると、図11Cの構成は平均化
効果が大きいが、1セットの受信素子面積が大きくな
る。これに対して、図11Bでは、受信素子面積を小さ
くできる。この実施の形態では、120°位相差の3相
の変位信号を出力する場合を説明したが、90°位相差
の4相、或いは180°位相差の2相の変位出力を得る
静電容量式エンコーダにも同様に適用できる。
As shown in FIG. 11B or FIG. 12B, the case where the receiving electrodes 55 are arranged at an interval of 2λ / 3, and FIG.
As shown by the solid line in C, when comparing the case where the receiving electrodes 55 are arranged at intervals of 4λ / 3, the configuration of FIG. 11C has a large averaging effect, but the area of one set of receiving elements is large. On the other hand, in FIG. 11B, the receiving element area can be reduced. In this embodiment, the case where a three-phase displacement signal having a phase difference of 120 ° is output has been described. However, a capacitance type which obtains a displacement output of four phases having a 90 ° phase difference or two phases having a 180 ° phase difference has been described. The same applies to encoders.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、微
細スケールピッチの場合の信頼性及び歩留まり向上を可
能とした変位測定装置を提供することができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a displacement measuring apparatus capable of improving reliability and yield in the case of fine scale pitch.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明が適用される光電式エンコーダの構
成例を示す図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of a photoelectric encoder to which the present invention is applied.

【図2】 この発明が適用される光電式エンコーダの他
の構成例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing another configuration example of a photoelectric encoder to which the present invention is applied.

【図3】 この発明の実施の形態1によるスケールと受
光素子の関係を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a relationship between a scale and a light receiving element according to the first embodiment of the present invention.

【図4A】 同実施の形態1の受光素子の構造を示す図
である。
FIG. 4A is a diagram showing a structure of a light receiving element according to the first embodiment.

【図4B】 図4AのI−I’断面図である。FIG. 4B is a sectional view taken along the line I-I 'of FIG. 4A.

【図4C】 図4AのII−II’断面図である。FIG. 4C is a sectional view taken along the line II-II ′ of FIG. 4A.

【図5A】 実施の形態2による受光素子のレイアウト
を示す図である。
FIG. 5A is a diagram showing a layout of a light receiving element according to a second embodiment.

【図5B】 図5Aのレイアウトを変形したレイアウト
を示す図である。
FIG. 5B is a diagram showing a layout obtained by modifying the layout of FIG. 5A.

【図6A】 実施の形態3による受光素子のレイアウト
を示す図である。
FIG. 6A is a diagram showing a layout of a light receiving element according to a third embodiment.

【図6B】 図6Aのレイアウトを変形したレイアウト
を示す図である。
FIG. 6B is a diagram showing a layout obtained by modifying the layout of FIG. 6A.

【図7】 実施の形態4による受光素子のレイアウトを
示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a layout of a light receiving element according to a fourth embodiment.

【図8】 実施の形態5による受光素子のレイアウトを
示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a layout of a light receiving element according to a fifth embodiment.

【図9】 実施の形態6による磁気エンコーダの構成を
示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a magnetic encoder according to a sixth embodiment.

【図10】 実施の形態7による静電容量式エンコーダ
の構成を示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing a configuration of a capacitive encoder according to a seventh embodiment.

【図11A】 従来の送信電極群の構成を示す図であ
る。
FIG. 11A is a diagram showing a configuration of a conventional transmission electrode group.

【図11B】 図11Aと比較して示す実施の形態の送
信電極群の構成を示す図である。
11B is a diagram showing a configuration of a transmission electrode group according to the embodiment shown in comparison with FIG. 11A.

【図11C】 送信電極群の他の構成を示す図である。FIG. 11C is a diagram showing another configuration of the transmission electrode group.

【図12A】 従来の送信電極群の他の構成を示す図で
ある。
FIG. 12A is a diagram showing another configuration of a conventional transmission electrode group.

【図12B】 図12Aと比較して示す実施の形態の送
信電極群の構成を示す図である。
FIG. 12B is a diagram showing a configuration of a transmission electrode group according to the embodiment shown in comparison with FIG. 12A.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…スケール、2…センサヘッド、22…受光素子アレ
イ、PD1,PD2,PD3,PD4…受光素子、31
…基板、32…ストライプパターン部、33…連結部、
313…配線、314…コンタクト孔。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Scale, 2 ... Sensor head, 22 ... Light receiving element array, PD1, PD2, PD3, PD4 ... Light receiving element, 31
... board, 32 ... stripe pattern part, 33 ... connecting part,
313: wiring, 314: contact hole.

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 測定軸に沿ってピッチλのスケール格子
が形成されたスケールと、このスケールに対して前記測
定軸に沿って相対移動可能に配置されて、前記スケール
格子を検出して位相の異なる複数の変位信号を出力する
受信素子アレイとを有する変位測定装置において、 前記受信素子アレイは、 基板と、 この基板に形成されて、それぞれピッチnλ(但し、n
は正の整数)で前記測定軸に沿って配列された複数本の
ストライプパターン部とこれらのストライプパターン部
を相互に連結する連結部とを備えて異なる位相の変位信
号を出力する複数の受信素子とを有することを特徴とす
る変位測定装置。
1. A scale on which a scale grating having a pitch λ is formed along a measurement axis, and a scale arranged so as to be relatively movable with respect to the scale along the measurement axis. In a displacement measuring apparatus having a receiving element array that outputs a plurality of different displacement signals, the receiving element array is formed on a substrate and has a pitch nλ (where n
Are positive integers), and a plurality of receiving elements that output displacement signals of different phases, including a plurality of stripe pattern portions arranged along the measurement axis and a connecting portion connecting these stripe pattern portions to each other. And a displacement measuring device.
【請求項2】 前記スケール格子は光学格子であり、前
記受信素子アレイは複数の受光素子が配列された受光素
子アレイであることを特徴とする請求項1記載の変位測
定装置。
2. The displacement measuring device according to claim 1, wherein the scale grating is an optical grating, and the receiving element array is a light receiving element array in which a plurality of light receiving elements are arranged.
【請求項3】 前記複数の受光素子は、{n+(2M−
1)/2}λ(但し、n,Mは正の整数)の配列ピッチ
で前記測定軸方向に配列されて互いに逆相の変位信号を
出力する2個で1セットの受光素子を有することを特徴
とする請求項2記載の変位測定装置。
3. The method according to claim 2, wherein the plurality of light receiving elements are Δn + (2M−
1) A set of two light receiving elements which are arranged in the direction of the measuring axis at an arrangement pitch of / 2} λ (where n and M are positive integers) and output displacement signals having phases opposite to each other is provided. The displacement measuring device according to claim 2, wherein
【請求項4】 前記複数の受光素子は、{n+(2M−
1)/4}λ(但し、n,Mは正の整数)の配列ピッチ
で前記測定軸方向に配列されて90°ずつ位相の異なる
4相の変位信号を出力する4個で1セットの受光素子を
有することを特徴とする請求項2記載の変位測定装置。
4. The method according to claim 1, wherein the plurality of light receiving elements are Δn + (2M−
1) One set of four light-receiving elements that are arranged in the measurement axis direction at an arrangement pitch of / 4 / λ (where n and M are positive integers) and output four-phase displacement signals that differ in phase by 90 °. 3. The displacement measuring device according to claim 2, further comprising an element.
【請求項5】 前記複数の受光素子は、(n+N/3)
λ(但し、nは正の整数,Nは3の倍数を除く正の整
数)の配列ピッチで前記測定軸方向に配列されて120
°ずつ位相の異なる3相の変位信号を出力する3個で1
セットの受光素子を有することを特徴とする請求項2記
載の変位測定装置。
5. The method according to claim 1, wherein the plurality of light receiving elements are (n + N / 3)
λ (where n is a positive integer, N is a positive integer excluding a multiple of 3) is arranged in the measurement axis direction at an arrangement pitch of 120.
Output three phase displacement signals with different phases by 1 °
3. The displacement measuring device according to claim 2, further comprising a set of light receiving elements.
【請求項6】 前記各受光素子は、前記ストライプパタ
ーン部から連結部まで連続する受光面が形成され、前記
連結部が配線コンタクト部とされることを特徴とする請
求項2記載の変位測定装置。
6. The displacement measuring apparatus according to claim 2, wherein each of the light receiving elements has a light receiving surface continuous from the stripe pattern portion to a connecting portion, and the connecting portion is a wiring contact portion. .
【請求項7】 前記各受光素子は、複数本のストライプ
パターン部とこれらのストライプパターン部の中央部間
を連結する連結部を有することを特徴とする請求項2記
載の変位測定装置。
7. The displacement measuring apparatus according to claim 2, wherein each of said light receiving elements has a plurality of stripe pattern portions and a connecting portion connecting between central portions of these stripe pattern portions.
【請求項8】 前記各受光素子は、複数本のストライプ
パターン部とこれらのストライプパターン部の少なくと
も一方の端部間を連結する連結部を有することを特徴と
する請求項2記載の変位測定装置。
8. The displacement measuring apparatus according to claim 2, wherein each of the light receiving elements has a plurality of stripe pattern portions and a connecting portion connecting at least one end of the stripe pattern portions. .
【請求項9】 前記各受光素子は、複数本のストライプ
パターン部とこれらのストライプパターン部を複数箇所
で連結する連結部を有することを特徴とする請求項2記
載の変位測定装置。
9. The displacement measuring device according to claim 2, wherein each of the light receiving elements has a plurality of stripe pattern portions and a connecting portion connecting the stripe pattern portions at a plurality of positions.
【請求項10】 前記スケール格子は、測定軸に沿って
ピッチλの周期的磁界を発生する磁気スケール格子であ
り、前記受信素子は、スケールの磁界を検出してスケー
ル移動に伴って位相の異なる複数の変位信号を出力する
磁気検出素子アレイであることを特徴とする請求項1記
載の変位測定装置。
10. The scale grating is a magnetic scale grating that generates a periodic magnetic field having a pitch λ along a measurement axis, and the receiving element detects a magnetic field of the scale and has a different phase as the scale moves. The displacement measuring device according to claim 1, wherein the displacement measuring device is a magnetic detection element array that outputs a plurality of displacement signals.
【請求項11】 前記スケール格子は、転送電極アレイ
であり、前記センサヘッドは、前記転送電極アレイと容
量結合する送信電極及び前記受信素子アレイとなる受信
電極アレイを有することを特徴とする請求項1記載の変
位測定装置。
11. The sensor according to claim 11, wherein the scale grating is a transfer electrode array, and the sensor head has a transmission electrode capacitively coupled to the transfer electrode array and a reception electrode array serving as the reception element array. 2. The displacement measuring device according to 1.
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