JP2001287141A - Grinding device - Google Patents

Grinding device

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JP2001287141A
JP2001287141A JP2000106519A JP2000106519A JP2001287141A JP 2001287141 A JP2001287141 A JP 2001287141A JP 2000106519 A JP2000106519 A JP 2000106519A JP 2000106519 A JP2000106519 A JP 2000106519A JP 2001287141 A JP2001287141 A JP 2001287141A
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holding
workpiece
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豊 狛
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  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To perform high accurate grinding by stably supporting a holding table for holding a work piece by a method capable of keeping high throughput without causing heaviness or largeness, in the grinding device for grinding surfaces of the work piece such as a semiconductive wafer. SOLUTION: The grinding device 10 comprises the holding table 17 for holding the work piece, a holding table positioning means 18 that includes at least a carry-in region used for carrying the work piece to the holding table 17, a grinding region used for grinding the work piece held by the holding table 17, and a delivery region used for delivering the work piece from the holding table, and positioning the holding table 17 to the carry-in region, the grinding region, or the delivery region, and a support base 41 for supporting the holding table 17 positioned to the grinding region by the holding table positioning means 18. The holding table 17 is supported by the support base 41 with high rigidity during grinding.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウェーハ等
の被加工物の面を研削する研削装置に関する。
The present invention relates to a grinding apparatus for grinding a surface of a workpiece such as a semiconductor wafer.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、図7に示す研削装置80には、
被加工物を保持する保持テーブル81と、保持テーブル
81に対峙して配設された研削手段82と、保持テーブ
ル81を保持して回転するターンテーブル83とを備え
ている。
2. Description of the Related Art For example, a grinding apparatus 80 shown in FIG.
The apparatus includes a holding table 81 for holding a workpiece, grinding means 82 disposed opposite to the holding table 81, and a turntable 83 for holding and rotating the holding table 81.

【0003】被加工物の研削を行う際は、まず、搬入領
域(図示せず)において被加工物を保持テーブル81に
搬入して保持させる。次に、ターンテーブル83を適宜
回転させることにより保持テーブル81を研削手段82
の直下(研削領域)に位置付け、下部に研削砥石84が
固着された研削ホイール85が回転しながら下降して被
加工物に押圧力を加えることによって研削が行われる。
そして、研削終了後は、ターンテーブル83の回転によ
り保持テーブル81が搬出領域(図示せず)に位置付け
られ、ここで研削済みの被加工物が搬出される。
When grinding a workpiece, first, the workpiece is loaded into a holding table 81 and held in a loading area (not shown). Next, by appropriately rotating the turntable 83, the holding table 81 is
, A grinding wheel 85 having a grinding wheel 84 fixed thereto is lowered while rotating to apply a pressing force to the workpiece to perform grinding.
After the grinding is completed, the holding table 81 is positioned in a carry-out area (not shown) by the rotation of the turntable 83, and the ground work is carried out here.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このように、被加工物
を保持する保持テーブル81は、ターンテーブル83に
支持された状態となっており、その状態で研削手段82
により上方から押圧力が加えられて研削が行われるた
め、研削時にはターンテーブル83に相当の負荷がかか
って撓みが生じる。従って、このターンテーブル83の
撓みに伴い保持テーブル81の高さ、角度に誤差が生
じ、これが原因となって高精度な研削ができないという
問題がある。
As described above, the holding table 81 for holding the workpiece is supported by the turntable 83, and in this state, the grinding means 82
As a result, the pressing force is applied from above to perform the grinding, so that a considerable load is applied to the turntable 83 during the grinding, causing bending. Therefore, there is a problem in that an error occurs in the height and angle of the holding table 81 due to the bending of the turntable 83, and as a result, high-precision grinding cannot be performed.

【0005】一方、高精度な研削を確保するためにター
ンテーブル83自体の剛性を高めようとすると、重量が
増すと共に装置が大型化し、コスト高になるという問題
がある。
On the other hand, if it is attempted to increase the rigidity of the turntable 83 itself in order to ensure high-precision grinding, there is a problem that the weight increases, the apparatus becomes large, and the cost increases.

【0006】また、ターンテーブルを用いずに、保持テ
ーブルを固定式にして、被加工物のみが搬送されるよう
構成した研削装置も提供されているが、この場合は、被
加工物の保持テーブルへの搬入及び保持テーブルからの
搬出において被加工物を破損させないよう慎重に扱わな
ければならないため、搬送に時間がかかり、スループッ
トが低下するという問題がある。
[0006] There is also provided a grinding apparatus in which a holding table is fixed and a workpiece is conveyed only without using a turntable. In this case, a holding table for the workpiece is provided. Since the workpiece must be handled carefully so as not to damage the workpiece when it is loaded into and unloaded from the holding table, there is a problem in that it takes a long time to transport and the throughput is reduced.

【0007】更に、この場合は保持テーブルが研削ホイ
ールの直下に固定されているため、保持テーブルの洗浄
が困難であるという問題もある。
Further, in this case, since the holding table is fixed directly below the grinding wheel, there is a problem that cleaning of the holding table is difficult.

【0008】このように、研削装置においては、重量の
増大及び装置の大型化を招くことなく、かつ、高いスル
ープット及び保持テーブルの洗浄の容易性を維持しつ
つ、高精度な研削を可能とすることに解決すべき課題を
有している。
As described above, in the grinding apparatus, high-precision grinding can be performed without increasing the weight and the size of the apparatus, while maintaining high throughput and easy cleaning of the holding table. In particular, there is a problem to be solved.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の具体的手段として本発明は、被加工物を保持する保持
テーブルと、保持テーブルに被加工物を搬入する搬入領
域と、保持テーブルに保持された被加工物を研削する研
削領域と、保持テーブルから被加工物を搬出する搬出領
域とを少なくとも含む研削装置であって、保持テーブル
を、搬入領域と研削領域と搬出領域とに位置付ける保持
テーブル位置付け手段と、保持テーブル位置付け手段に
よって研削領域に位置付けられた保持テーブルを支持す
る支持基台とが配設される研削装置を提供する。
SUMMARY OF THE INVENTION As specific means for solving the above-mentioned problems, the present invention provides a holding table for holding a workpiece, a loading area for loading the workpiece into the holding table, and a holding table. A grinding apparatus including at least a grinding area for grinding a held workpiece and an unloading area for unloading the workpiece from a holding table, wherein the holding table positions the holding table in a loading area, a grinding area, and an unloading area. Provided is a grinding device provided with a table positioning means and a support base for supporting a holding table positioned in a grinding area by the holding table positioning means.

【0010】そしてこの研削装置は、研削領域に、研削
ホイールを回転可能に支持した研削手段が配設されてお
り、研削手段は、研削領域に位置付けられ支持基台に支
持された保持テーブルに対峙する位置に配設されるこ
と、保持テーブル位置付け手段には、保持テーブルを回
転及び昇降可能に支持するテーブル支持部と、テーブル
支持部が配設されたターンテーブルと、ターンテーブル
を駆動する駆動部とを少なくとも備えたこと、駆動部に
は、ターンテーブルを昇降させて上部位置と下部位置と
に位置付ける昇降手段が配設されており、ターンテーブ
ルが上部位置に位置付けられた際は、ターンテーブルが
割り出し回転されてテーブル支持部に支持されている保
持テーブルを搬入領域、研削領域、搬出領域のいずれか
に位置付け、ターンテーブルが下部位置に位置付けられ
た際は、保持テーブルは支持基台に支持されること、保
持テーブルは、被加工物保持部と、被加工物保持部を囲
繞する枠体とから構成され、枠体は、テーブル支持部に
回転及び昇降可能に支持され、支持基台は、保持テーブ
ルを支持する保持テーブル支持部と、被加工物保持部に
吸引力を伝達する吸引路と、保持テーブルを回転させる
回転部とから構成されること、保持テーブルは、被加工
物保持部と、被加工物保持部を囲繞する枠体と、被加工
物保持部に吸引力を伝達する吸引孔とから構成され、枠
体は、テーブル支持部に回転及び昇降可能に支持され、
支持基台は、保持テーブルを支持する保持テーブル支持
部と、保持テーブルを回転させる回転部とから構成され
ることを付加的要件とする。
In this grinding apparatus, grinding means rotatably supporting a grinding wheel is disposed in a grinding area, and the grinding means faces a holding table positioned in the grinding area and supported by a support base. The holding table positioning means includes a table support for rotatably and vertically moving the holding table, a turntable provided with the table support, and a driving unit for driving the turntable. The drive unit is provided with lifting means for raising and lowering the turntable and positioning the turntable at the upper position and the lower position.When the turntable is positioned at the upper position, the turntable is Position the holding table that is indexed and rotated and supported by the table support in one of the loading area, grinding area, and unloading area, and turn it. When the cable is positioned at the lower position, the holding table is supported by the support base, and the holding table includes a workpiece holding portion and a frame surrounding the workpiece holding portion. The body is supported by the table support so as to rotate and move up and down. The support base rotates the holding table support that supports the holding table, a suction path that transmits suction force to the workpiece holding unit, and the holding table. The holding table comprises a workpiece holding portion, a frame surrounding the workpiece holding portion, and a suction hole for transmitting a suction force to the workpiece holding portion. , The frame is rotatably supported by the table support unit and can be moved up and down,
An additional requirement is that the support base includes a holding table supporting portion for supporting the holding table and a rotating portion for rotating the holding table.

【0011】このように構成される研削装置では、保持
テーブルに保持された被加工物が研削領域に位置付けら
れた際に保持テーブルが支持基台によって支持されるた
め、保持テーブル位置付け手段は研削の際に加わる押圧
力の影響を受けることがなく、この押圧力は支持基台の
みによって受け止めることになる。従って、保持テーブ
ル位置付け手段には剛性が要求されない。また、保持テ
ーブル位置付け手段を構成するターンテーブルに撓みが
生じることもないため、研削精度が低下することもな
い。
In the grinding apparatus configured as described above, when the workpiece held by the holding table is positioned in the grinding area, the holding table is supported by the support base. The pressing force is not affected by the pressing force applied at this time, and this pressing force is received only by the support base. Therefore, rigidity is not required for the holding table positioning means. Further, since the turntable constituting the holding table positioning means does not bend, the grinding accuracy does not decrease.

【0012】更に、保持テーブルに保持された状態で被
加工物が搬入領域、研削領域、搬出領域に搬送されるこ
とにより、被加工物のみを搬送する場合に比べて被加工
物の取扱いを慎重に行う必要がない上に、搬送に要する
時間も短い。また、保持テーブルも搬入領域、搬出領域
に位置付けられるため、保持テーブルの洗浄を容易に行
うことができる。
Further, the workpiece is transported to the carry-in area, the grinding area, and the carry-out area while being held on the holding table, so that the workpiece is handled more carefully than when only the workpiece is transported. And the time required for transport is short. Further, since the holding table is also positioned in the carry-in area and the carry-out area, the holding table can be easily cleaned.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態として、図1
に示す研削装置10を例に挙げて説明する。まず最初に
研削装置10の概要について説明すると、研削装置10
は、半導体ウェーハWを収容するカセット11、12
と、カセット11からの半導体ウェーハWの搬出または
カセット12への半導体ウェーハWの搬入を行う搬出入
手段13と、被加工物の位置合わせを行う中心合わせテ
ーブル14a、14bと、被加工物を搬送する第一の搬
送手段15及び第二の搬送手段16と、上部に半導体ウ
ェーハWを吸引保持するチャック面を有する4つの保持
テーブル17と、4つの保持テーブル17を回転可能に
支持すると共に自身も回転して各保持テーブルを所定の
位置に位置付ける保持テーブル位置付け手段18と、各
保持テーブルに保持された半導体ウェーハWを研削する
研削手段19a、19bと、各保持テーブルの洗浄を行
う保持テーブル洗浄手段20と、研削後の被加工物を洗
浄する被加工物洗浄手段21とを備えている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS As an embodiment of the present invention, FIG.
The following describes the grinding device 10 shown in FIG. First, the outline of the grinding device 10 will be described.
Are cassettes 11 and 12 containing semiconductor wafers W
Loading / unloading means 13 for loading / unloading semiconductor wafers W from cassette 11 or loading / unloading semiconductor wafers W into cassette 12, centering tables 14a and 14b for aligning workpieces, and transporting workpieces. The first transfer means 15 and the second transfer means 16 to be performed, four holding tables 17 having a chuck surface for sucking and holding the semiconductor wafer W thereon, and the four holding tables 17 are rotatably supported and themselves. Holding table positioning means 18 for rotating and positioning each holding table at a predetermined position, grinding means 19a and 19b for grinding a semiconductor wafer W held on each holding table, and holding table cleaning means for cleaning each holding table 20 and a workpiece cleaning means 21 for cleaning the workpiece after grinding.

【0014】カセット11には研削前の被加工物、例え
ば半導体ウェーハが複数段に重ねて収納されており、搬
出入手段13によって1枚ずつピックアップされて中心
合わせテーブル14aに載置される。そしてここで半導
体ウェーハの位置合わせが行われた後、第一の搬送手段
15に吸着されると共に第一の搬送手段15が旋回動す
ることによって、近傍に位置する保持テーブル17に半
導体ウェーハWが載置される。このときに保持テーブル
17が位置付けられる領域を搬入領域という。
A workpiece before grinding, for example, a semiconductor wafer, is stored in a plurality of stages in the cassette 11, and is picked up one by one by the loading / unloading means 13 and placed on the centering table 14a. After the alignment of the semiconductor wafer is performed here, the semiconductor wafer W is attracted to the first transfer means 15 and the first transfer means 15 pivots, so that the semiconductor wafer W is placed on the holding table 17 located in the vicinity. Is placed. The area where the holding table 17 is located at this time is called a carry-in area.

【0015】次に、保持テーブル位置付け手段18を構
成するターンテーブル35が所要角度(本実施の形態の
ように保持テーブルが4つの場合は90度)回転して半
導体ウェーハが載置された保持テーブル17が研削手段
19aの直下に位置付けられる。このとき、ターンテー
ブル35の回転前に保持テーブル17が位置していた位
置には、別の保持テーブル17が自動的に位置付けられ
る。そして、カセット11から次に研削する半導体ウェ
ーハが搬出されて中心合わせテーブル14aに載置さ
れ、位置合わせがなされた後、第一の搬送手段15によ
って保持テーブル17に搬送されて載置される。一方、
研削手段19aの直下に位置付けられた半導体ウェーハ
は、研削手段19aの作用を受けて上面が研削される。
ここでは例えば粗仕上げが行われる。
Next, the turntable 35 constituting the holding table positioning means 18 is rotated by a required angle (90 degrees in the case of four holding tables as in the present embodiment), and the holding table on which the semiconductor wafer is placed is placed. 17 is located immediately below the grinding means 19a. At this time, another holding table 17 is automatically positioned at a position where the holding table 17 was positioned before the rotation of the turntable 35. Then, the semiconductor wafer to be ground next is unloaded from the cassette 11 and placed on the centering table 14a. After the alignment, the semiconductor wafer is transferred to the holding table 17 by the first transfer means 15 and placed thereon. on the other hand,
The upper surface of the semiconductor wafer positioned immediately below the grinding means 19a is ground by the action of the grinding means 19a.
Here, for example, rough finishing is performed.

【0016】そして、保持テーブル17に保持された半
導体ウェーハの粗仕上げが終了すると、ターンテーブル
35が所要角度回転し、粗仕上げがされた半導体ウェー
ハは研削手段19bの直下に位置付けられ、研削手段1
9bの作用を受けて上面を研削される。ここでは例えば
最終仕上げが行われる。またこのとき研削前の半導体ウ
ェーハは研削手段19aの直下に位置付けられ、ここで
研削手段19aの作用を受けて粗仕上げが行われる。研
削手段19a、19bによって研削が行われる際に保持
テーブル17が位置付けられる領域を研削領域という。
When the rough finishing of the semiconductor wafer held by the holding table 17 is completed, the turntable 35 is rotated by a required angle, and the rough finished semiconductor wafer is positioned immediately below the grinding means 19b.
The upper surface is ground by the action of 9b. Here, for example, final finishing is performed. Further, at this time, the semiconductor wafer before grinding is positioned immediately below the grinding means 19a, where rough finishing is performed by the action of the grinding means 19a. A region where the holding table 17 is positioned when the grinding is performed by the grinding means 19a and 19b is referred to as a grinding region.

【0017】研削手段19a、19bは、起立した壁部
22に対して上下動可能となっている。ここで、研削手
段19aと研削手段19bとは研削砥石の種類以外につ
いては同様に構成されるため、共通の符号を付して説明
すると、壁部22の内側の面には一対のレール23が垂
直方向に併設され、駆動源24に駆動されてレール23
に沿ってスライド部25が上下動するのに伴い、スライ
ド部25に固定された研削手段19a、19bが上下動
する構成となっている。
The grinding means 19a and 19b can move up and down with respect to the upright wall portion 22. Here, since the grinding means 19a and the grinding means 19b have the same configuration except for the type of the grinding wheel, a description will be given with common reference numerals. The rails 23 are installed in the vertical direction,
As the sliding portion 25 moves up and down along, the grinding means 19a and 19b fixed to the sliding portion 25 move up and down.

【0018】研削手段19a、19bにおいては、回転
可能に支持されたスピンドル26の先端にマウンタ27
を介して研削ホイール28が装着されており、研削ホイ
ール28の下部には研削砥石29が固着されている。研
削砥石29としては、例えば研削手段19aには粗仕上
げ用の砥石、研削手段19bには最終仕上げ用の砥石が
用いられる。
In the grinding means 19a and 19b, a mounter 27 is attached to the tip of a spindle 26 rotatably supported.
, A grinding wheel 28 is mounted, and a grinding wheel 29 is fixed to a lower portion of the grinding wheel 28. As the grinding wheel 29, for example, a grinding wheel for rough finishing is used for the grinding means 19a, and a grinding wheel for final finishing is used for the grinding means 19b.

【0019】最終仕上げにより研削された半導体ウェー
ハは、ターンテーブル35の回転によって第二の搬送手
段16の近傍に位置付けられる。そして、第二の搬送手
段16によって被加工物洗浄手段21に搬送されて洗浄
された後、更に第二の搬送手段16によって中心合わせ
テーブル14bに搬送される。このときに保持テーブル
17が位置付けられる領域を搬出領域という。
The semiconductor wafer ground by the final finishing is positioned near the second transfer means 16 by the rotation of the turntable 35. Then, after being transported by the second transporting means 16 to the workpiece cleaning means 21 and washed, the workpiece is further transported by the second transporting means 16 to the centering table 14b. At this time, the area where the holding table 17 is positioned is referred to as a carry-out area.

【0020】中心合わせテーブル14bにおいて一定の
位置への位置合わせが行われると、搬出入手段13によ
って研削された半導体ウェーハがピックアップされてカ
セット12の内部に収納される。以上のようにして順次
研削を行い、最終的には研削された半導体ウェーハWが
すべてカセット12に収納される。
When the centering table 14b is positioned at a predetermined position, the semiconductor wafer ground by the carrying-in / out means 13 is picked up and stored in the cassette 12. Grinding is performed sequentially as described above, and finally, all the ground semiconductor wafers W are stored in the cassette 12.

【0021】なお、保持テーブル洗浄手段20は、ター
ンテーブル35の上方に架設されたガイドレール30
と、ガイドレール30にガイドされて所定範囲移動可能
な可動部31と、可動部31に対して垂直方向に上下動
する上下動部32とから構成され、上下動部32の下端
には、回転可能な洗浄ブラシ33を備えており、研削に
より保持テーブル17が汚染された場合は、可動部31
がガイドレール30を所要範囲移動して適宜の位置に位
置付けられ、更に洗浄ブラシ33が回転しながら上下動
部32が下降することにより、回転する洗浄ブラシ33
によって保持テーブル17が洗浄される。
The holding table cleaning means 20 includes a guide rail 30 provided above the turntable 35.
And a movable part 31 that is movable by a predetermined range guided by the guide rail 30, and a vertical moving part 32 that moves vertically in the vertical direction with respect to the movable part 31. Provided with a cleaning brush 33 capable of moving the movable part 31 when the holding table 17 is contaminated by grinding.
Is moved to the required position by moving the guide rail 30 in a required range, and furthermore, the cleaning brush 33 is rotated by lowering the vertical moving part 32 while rotating the cleaning brush 33.
Thereby, the holding table 17 is washed.

【0022】図2に示すように、保持テーブル位置付け
手段18は、保持テーブル17を回転及び昇降可能に支
持するテーブル支持部34と、テーブル支持部34が形
成されたターンテーブル35と、ターンテーブル35を
駆動する駆動部36とから構成され、駆動部36には、
ターンテーブル35に連結されてターンテーブル35を
回転駆動するモーター37を備えている。モーター37
には、例えばロータリーエンコーダが配設され、所定角
度(例えば90度)の割り出し回転によって保持テーブ
ル18を所定位置に位置付けることができる。更に、モ
ーター37は昇降手段38に連結されており、ターンテ
ーブル35を上下動させることができる。
As shown in FIG. 2, the holding table positioning means 18 includes a table support 34 for rotatably and vertically moving the holding table 17, a turntable 35 on which the table support 34 is formed, and a turntable 35. And a driving unit 36 for driving the driving unit.
A motor 37 is connected to the turntable 35 and drives the turntable 35 to rotate. Motor 37
For example, a rotary encoder is provided, and the holding table 18 can be positioned at a predetermined position by index rotation of a predetermined angle (for example, 90 degrees). Further, the motor 37 is connected to the lifting / lowering means 38 so that the turntable 35 can be moved up and down.

【0023】ターンテーブル35に形成されたテーブル
支持部34には、載置された被加工物を保持する被加工
物保持部39と被加工物保持部39を囲繞する枠体40
とから構成される複数の保持テーブル17が回転及び昇
降可能に自由支持されている。
A table support portion 34 formed on the turntable 35 has a work holding portion 39 for holding a work to be mounted thereon and a frame 40 surrounding the work holding portion 39.
Are freely supported rotatably and vertically movable.

【0024】また、各保持テーブルは、研削領域におけ
る研削手段19aまたは研削手段19bの直下に位置付
けられたときには、支持基台41によって下方から支持
される。即ち、研削手段19a(19b)は、研削領域
に位置付けられ支持基台41に支持された保持テーブル
17に対峙している。
Each holding table is supported from below by a support base 41 when positioned just below the grinding means 19a or 19b in the grinding area. That is, the grinding means 19a (19b) faces the holding table 17 which is positioned in the grinding area and supported by the support base 41.

【0025】この支持基台41は、各保持テーブルを支
持する保持テーブル支持部42と、保持テーブル17の
被加工物保持部39に吸引力を伝達する吸引路43と、
ベッド45に支持されて自身が回転することによって保
持テーブル17を回転させる回転部44とから概ね構成
される。
The support base 41 includes a holding table supporting portion 42 for supporting each holding table, a suction passage 43 for transmitting a suction force to the workpiece holding portion 39 of the holding table 17,
A rotary unit 44 supported by the bed 45 and rotating the holding table 17 by rotating itself is generally configured.

【0026】昇降手段38によってターンテーブル35
が上部位置に位置付けられた際は、ターンテーブル35
のテーブル支持部34によって枠体40が支持され、タ
ーンテーブル35の割り出し回転によって保持テーブル
17を搬入領域、研削領域、搬出領域のいずれかに位置
付けることができる。なお、昇降手段38を支持基台4
1に設け、支持基台41を下降させることによって枠体
40がターンテーブル35に支持されるよう構成しても
よい。即ち、支持基台40とターンテーブル35とが相
対的に上下動するように構成されていればよい。
The turntable 35 is moved by the lifting / lowering means 38.
Is positioned in the upper position, the turntable 35
The frame body 40 is supported by the table support portion 34 of the above, and the holding table 17 can be positioned in any of the carry-in area, the grinding area, and the carry-out area by indexing and rotating the turntable 35. The elevating means 38 is connected to the support base 4.
1, the frame 40 may be supported by the turntable 35 by lowering the support base 41. That is, it is sufficient that the support base 40 and the turntable 35 are configured to move up and down relatively.

【0027】ターンテーブル35の割り出し回転によっ
て、保持テーブル17が研削領域に位置付けられると、
研削手段19aまたは研削手段19bの直下に位置する
ことになる。そして、昇降手段38によって駆動されて
ターンテーブル35が下降して下部位置に位置付けられ
ると、図3に示すように、保持テーブル17が支持基台
41によって支持された状態となる。
When the holding table 17 is positioned in the grinding area by the indexing rotation of the turntable 35,
It will be located immediately below the grinding means 19a or the grinding means 19b. Then, when the turntable 35 is lowered by being driven by the elevating means 38 and positioned at the lower position, the holding table 17 is supported by the support base 41, as shown in FIG.

【0028】ここで、支持基台41、保持テーブル17
及び保持テーブル位置付け手段18の内部構造について
説明すると、支持基台41の保持テーブル支持部42に
は電磁石46が埋設されていると共に、枠体40の下部
には磁着部材47を備えており、昇降手段38によって
ターンテーブル35が下降すると、電磁石46と磁着部
材47が磁着され、支持基台41によって保持テーブル
17が強固に固定される。このときのターンテーブル3
5の位置は下部位置である。そして、ターンテーブル3
5が更に若干下降することによって、保持テーブル17
は、テーブル支持部34に自由支持された状態で回転可
能となる。なお、電磁石46の代わりにバキューム源を
設け、吸引力によって保持テーブル17を固定する構成
としてもよい。
Here, the support base 41, the holding table 17
The internal structure of the holding table positioning means 18 will be described. An electromagnet 46 is embedded in the holding table support portion 42 of the support base 41, and a magnetic attachment member 47 is provided below the frame 40. When the turntable 35 is lowered by the lifting / lowering means 38, the electromagnet 46 and the magnetic member 47 are magnetically attached, and the holding table 17 is firmly fixed by the support base 41. Turntable 3 at this time
The position 5 is the lower position. And turntable 3
5 further lowers slightly, so that the holding table 17
Is rotatable while being freely supported by the table support portion 34. Note that a vacuum source may be provided instead of the electromagnet 46, and the holding table 17 may be fixed by an attractive force.

【0029】支持基台41の中心部には、垂直方向に吸
引路48が形成されており、上記のように支持基台41
と保持テーブル17が固定されると、吸引路48は、保
持テーブル17に形成された吸引孔49と連通し、更に
被加工物保持部39と連通する。そして、吸引路48と
連通する吸引源(図示せず)から供給される吸引力によ
って被加工物保持部39において被加工物を保持するこ
とができる。被加工物保持部39は、例えばポーラスセ
ラミックスで形成されていることが好ましい。
At the center of the support base 41, a suction passage 48 is formed in the vertical direction.
When the holding table 17 is fixed, the suction path 48 communicates with a suction hole 49 formed in the holding table 17, and further communicates with the workpiece holding section 39. The workpiece can be held in the workpiece holding unit 39 by a suction force supplied from a suction source (not shown) communicating with the suction path 48. The workpiece holding section 39 is preferably formed of, for example, porous ceramics.

【0030】更に、支持基台41の回転部44にはモー
ター50を備え、モーター50によって回転部44が回
転すると、支持基台41に固定され、被加工物を保持し
た保持テーブル17も回転する構成となっている。
Further, the rotating portion 44 of the support base 41 is provided with a motor 50, and when the rotating portion 44 is rotated by the motor 50, the holding table 17 fixed to the support base 41 and holding the workpiece also rotates. It has a configuration.

【0031】このように、ターンテーブル35が下部位
置に位置付けられて支持基台41に保持テーブル17が
固定された状態で保持テーブル17に保持された被加工
物を研削すると、研削手段19a(19b)によって上
方から押圧力が加えられるが、この押圧力は、保持テー
ブル位置付け手段18には加わらず、支持基台41のみ
で受けとめることになる。従って、支持基台41の剛性
により、保持テーブル17が安定的に支持された状態で
研削が行われるため、研削の精度が向上し、被加工物の
品質を向上させることができる。
As described above, when the work held on the holding table 17 is ground in a state where the turntable 35 is positioned at the lower position and the holding table 17 is fixed to the support base 41, the grinding means 19a (19b) ) Applies a pressing force from above, but this pressing force is received only by the support base 41 without being applied to the holding table positioning means 18. Therefore, the grinding is performed with the holding table 17 being stably supported by the rigidity of the support base 41, so that the accuracy of the grinding is improved and the quality of the workpiece can be improved.

【0032】また、支持テーブル41の剛性により、タ
ーンテーブル35には剛性が要求されないため、保持テ
ーブル位置付け手段18が重量化したり、装置が大型化
したりすることがないため、コスト高にならない。更
に、支持基台41を保持テーブル洗浄手段20の下方に
設ければ、研削時だけでなく、保持テーブル洗浄手段2
0による保持テーブル17の洗浄時も上記と同様に支持
されるため、洗浄も十分に行うことができる。
Further, the rigidity of the support table 41 does not require the turntable 35 to be rigid, so that the weight of the holding table positioning means 18 and the size of the apparatus are not increased, so that the cost is not increased. Further, if the support base 41 is provided below the holding table cleaning means 20, not only during grinding, but also when the holding table cleaning means 2 is used.
Since the holding table 17 is also supported in the same manner as described above when the holding table 17 is cleaned by 0, the cleaning can be sufficiently performed.

【0033】更に、被加工物は、保持テーブル17に保
持された状態で搬入領域、研削領域、搬出領域にそれぞ
れ搬送され、被加工物のみを搬送する場合に比べて被加
工物の取扱いを慎重に行う必要がなく、搬送に要する時
間も短いため、スループットの低下を招くことがない。
Further, the workpiece is transported to the carry-in area, the grinding area, and the carry-out area while being held on the holding table 17, and the handling of the workpiece is more careful than when only the workpiece is transported. And the time required for transportation is short, so that the throughput does not decrease.

【0034】図3に示すように、枠体40の側面におけ
るターンテーブル35より下方の位置には、被加工物の
研削時に使用された研削水の流れをガイドする廃液ガイ
ド51が突出しており、図4にも示すように、その下方
には回転廃液受け52が設けられ、この回転廃液受け5
2は、廃液となった研削水を、回転廃液受け52より更
に下方に設けられた固定廃液受け53に向けてガイドす
る。そして、固定廃液受け53に溜まった廃液はドレー
ン54を通じて排水される。なお、図3においては図示
していないが、ターンテーブル35の周囲には、図4及
び図5に示す本体廃液受け55が配設され、ここに溜ま
った廃液も固定廃液受け53に向けてガイドされる。
As shown in FIG. 3, a waste liquid guide 51 for guiding the flow of grinding water used for grinding the workpiece projects from a position below the turntable 35 on the side surface of the frame body 40. As shown in FIG. 4, a rotary waste liquid receiver 52 is provided below the rotary waste liquid receiver 52.
The guide 2 guides the waste water to the fixed waste liquid receiver 53 provided further below the rotary waste liquid receiver 52. Then, the waste liquid collected in the fixed waste liquid receiver 53 is drained through the drain 54. Although not shown in FIG. 3, a main body waste liquid receiver 55 shown in FIGS. 4 and 5 is provided around the turntable 35, and the waste liquid collected there is also guided toward the fixed waste liquid receiver 53. Is done.

【0035】研削領域において被加工物が研削される際
は、図5に示すように、研削手段19a(19b)に設
けられた研削水供給路56を通じて研削ホイール28か
ら被加工物57に研削水が供給される。そして、使用後
の廃液は、保持テーブル17とターンテーブル35との
間に形成される僅かな隙間及びターンテーブル35と本
体廃液受け55との間に形成される僅かな隙間を通り、
回転廃液受け52を介して固定廃液受け53に流れこ
み、ここに溜まった廃液はドレーン54から排出され
る。
When the workpiece is ground in the grinding area, as shown in FIG. 5, the grinding water is supplied from the grinding wheel 28 to the workpiece 57 through the grinding water supply path 56 provided in the grinding means 19a (19b). Is supplied. Then, the used waste liquid passes through a small gap formed between the holding table 17 and the turntable 35 and a small gap formed between the turntable 35 and the main body waste liquid receiver 55,
The waste liquid flows into the fixed waste liquid receiver 53 via the rotary waste liquid receiver 52, and the waste liquid collected here is discharged from the drain 54.

【0036】なお、図3における支持基台41、保持テ
ーブル17及び保持テーブル位置付け手段18は、図6
に示すように構成されていてもよい。図6の構成におい
ては、被加工物保持部39における吸引力が保持テーブ
ル位置付け手段60から供給されている点で、図3の構
成とは異なっている。
The support base 41, the holding table 17, and the holding table positioning means 18 in FIG.
May be configured as shown in FIG. The configuration in FIG. 6 differs from the configuration in FIG. 3 in that the suction force in the workpiece holding unit 39 is supplied from the holding table positioning unit 60.

【0037】ここで、図3の例と同様に構成される部位
については同一の符号を付して説明すると、図6の構成
の場合は、回転軸61を貫通する吸引路62がターンテ
ーブル63を通り、更にフレキシブルホース64及び枠
体65を囲繞するロータリージョイント66を介して枠
体65に形成された吸引孔67に連通しており、吸引路
62に連通する吸引源(図示せず)から供給される吸引
力によって、被加工物保持部68において被加工物を保
持する。従って、被加工物保持部68には、常に吸引力
が供給されているので、ターンテーブル35の回転時に
おいても保持テーブル17から被加工物がずれることが
ない。。
3 will be described with the same reference numerals. In the case of the configuration of FIG. 6, the suction path 62 passing through the rotary shaft 61 is Through a flexible hose 64 and a rotary joint 66 surrounding the frame 65 to a suction hole 67 formed in the frame 65, and from a suction source (not shown) communicating with the suction path 62. The workpiece is held in the workpiece holding section 68 by the supplied suction force. Accordingly, since the suction force is always supplied to the workpiece holding section 68, the workpiece does not shift from the holding table 17 even when the turntable 35 rotates. .

【0038】この場合も、昇降手段38によってモータ
ー69及びターンテーブル63が下降して下部位置に位
置付けられると、電磁石46と磁着部材47が磁着さ
れ、支持基台41によって保持テーブル70が強固に固
定される。そして、支持基台41に保持テーブル70が
固定された状態で、保持テーブル17に保持された被加
工物を研削すると、研削手段19によって上方から押圧
力が加えられても支持基台の剛性により被加工物に撓み
が生じることがないため、研削の精度が向上する。ま
た、研削時だけでなく、保持テーブル洗浄手段20の下
方にも支持基台41を設ければ、保持テーブル17の洗
浄時も被加工物に撓みが生じることがないため、洗浄も
十分に行うことができ、この点でも被加工物の品質を向
上させることができる。
Also in this case, when the motor 69 and the turntable 63 are lowered to the lower position by the lifting / lowering means 38, the electromagnet 46 and the magnetically attaching member 47 are magnetically attached, and the holding table 70 is firmly fixed by the support base 41. Fixed to Then, when the workpiece held by the holding table 17 is ground in a state where the holding table 70 is fixed to the support base 41, even if a pressing force is applied from above by the grinding means 19, due to the rigidity of the support base. Since the workpiece does not bend, the precision of the grinding is improved. In addition, if the support base 41 is provided below the holding table cleaning means 20 in addition to the grinding, the workpiece does not bend even when the holding table 17 is cleaned, so that the cleaning is sufficiently performed. In this respect, the quality of the workpiece can also be improved.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る研削
装置においては、保持テーブルに保持された被加工物が
研削領域に位置付けられた際に保持テーブルが支持基台
によって支持されるため、研削時に研削手段によって上
方から押圧力が加えられても、この押圧力は保持テーブ
ル位置付け手段には加わらず、支持基台全体で受けとめ
ることになる。従って、ターンテーブルに撓みが生じる
ことがなく、支持基台の剛性により、保持テーブルが安
定的に支持された状態で研削が行われるため、研削の精
度が向上し、被加工物の品質を向上させることができ
る。
As described above, in the grinding apparatus according to the present invention, the holding table is supported by the support base when the workpiece held by the holding table is positioned in the grinding area. Even if a pressing force is applied from above by the grinding means during grinding, the pressing force is not applied to the holding table positioning means, but is received by the entire support base. Therefore, the turntable does not bend, and the rigidity of the support base allows the grinding to be performed while the holding table is stably supported, so that the accuracy of the grinding is improved and the quality of the workpiece is improved. Can be done.

【0040】また、支持テーブルの剛性により、ターン
テーブルには剛性が要求されないため、保持テーブル位
置付け手段が重量化したり、装置が大型化したりするこ
とがなく、コスト高にならない。
Further, the rigidity of the turntable is not required due to the rigidity of the support table. Therefore, the weight of the holding table positioning means and the size of the apparatus are not increased, and the cost is not increased.

【0041】更に、被加工物は、保持テーブルに保持さ
れた状態で搬入領域、研削領域、搬出領域にそれぞれ搬
送され、被加工物のみを搬送する場合に比べて被加工物
の取扱いを慎重に行う必要がなく、搬送に要する時間も
短いため、スループットの低下を招くことがない。
Further, the workpiece is transported to the carry-in area, the grinding area, and the carry-out area while being held on the holding table, and the handling of the workpiece is handled more carefully than when only the workpiece is transported. Since there is no need to perform this process and the time required for transport is short, there is no reduction in throughput.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る研削装置の実施の形態の一例を示
す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an example of an embodiment of a grinding device according to the present invention.

【図2】同研削装置を構成する保持テーブル、保持テー
ブル位置付け手段及び支持基台を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a holding table, a holding table positioning means, and a support base which constitute the grinding apparatus.

【図3】同保持テーブル、保持テーブル位置付け手段及
び支持基台を示す断面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing the holding table, the holding table positioning means, and a support base.

【図4】本発明に係る研削装置において廃液を排出する
廃液受け部材及び廃液ガイドを示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing a waste liquid receiving member for discharging waste liquid and a waste liquid guide in the grinding device according to the present invention.

【図5】同研削装置において研削水を供給しながら被加
工物の研削を行う様子を示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory view showing a state in which a workpiece is ground while supplying grinding water in the grinding apparatus.

【図6】保持テーブル、保持テーブル位置付け手段及び
支持基台の第二の例を示す断面図である。
FIG. 6 is a sectional view showing a second example of the holding table, the holding table positioning means, and the support base.

【図7】従来の研削装置を示す斜視図である。FIG. 7 is a perspective view showing a conventional grinding device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…研削装置 11、12…カセット 13…搬出入手段 14a、14b…中心合わせテーブル 15…第一の搬送手段 16…第二の搬送手段 17…保持テーブル 18…保持テーブル位置付け手段 19a、19b…研削手段 20…保持テーブル洗浄手段 21…被加工物洗浄手段 22…壁部 23…レール 24…駆動源 25…スライド部 26…スピンドル 27…マウンタ 28…研削ホイール 29…研削砥石 30…ガイドレール 31…可動部 32…上下動部 33…洗浄ブラシ 34…テーブル支持部 35…ターンテーブル 36…駆動部 37…モーター 38…昇降手段 39…被加工物保持部 40…枠体 41…支持基台 42…保持テーブル支持部 43…吸引路 44…回転部 45…ベッド 46…電磁石 47…磁着部材 48…吸引路 49…吸引孔 50…モーター 51…廃液ガイド 52…回転廃液受け 53…固定廃液受け 54…ドレーン 55…本体廃液受け 56…研削水供給路 57…被加工物 60…保持テーブル位置付け手段 61…回転軸 62…吸引路 63…ターンテーブル 64…フレキシブルホース 65…枠体 66…ロータリージョイント 67…吸引孔 68…被加工物保持部 69…モーター 70…保持テーブル 80…研削装置 81…保持テーブル 82…研削手段 83…ターンテーブル 84…研削砥石 85…研削ホイール DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Grinding apparatus 11, 12 ... Cassette 13 ... Carry-in / out means 14a, 14b ... Centering table 15 ... First carrying means 16 ... Second carrying means 17 ... Holding table 18 ... Holding table positioning means 19a, 19b ... Grinding Means 20: Holding table cleaning means 21: Workpiece cleaning means 22: Wall part 23 ... Rail 24 ... Drive source 25 ... Slide part 26 ... Spindle 27 ... Mounter 28 ... Grinding wheel 29 ... Grinding wheel 30 ... Guide rail 31 ... Movable Part 32 ... Vertical moving part 33 ... Cleaning brush 34 ... Table support part 35 ... Turntable 36 ... Drive part 37 ... Motor 38 ... Elevating means 39 ... Workpiece holding part 40 ... Frame 41 ... Support base 42 ... Holding table Supporting part 43 ... Suction path 44 ... Rotating part 45 ... Bed 46 ... Electromagnet 47 ... Magnetic member 48 ... Suction path 4 ... Suction hole 50 ... Motor 51 ... Waste liquid guide 52 ... Rotary waste liquid receiver 53 ... Fixed waste liquid receiver 54 ... Drain 55 ... Main body waste liquid receiver 56 ... Grinding water supply path 57 ... Workpiece 60 ... Holding table positioning means 61 ... Rotating shaft 62 ... Suction path 63 ... Turn table 64 ... Flexible hose 65 ... Frame body 66 ... Rotary joint 67 ... Suction hole 68 ... Workpiece holding part 69 ... Motor 70 ... Holding table 80 ... Grinding device 81 ... Holding table 82 ... Grinding means 83 ... turntable 84 ... grinding wheel 85 ... grinding wheel

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 3C034 AA08 BB01 BB71 CB11 DD08 3C043 BA03 BA09 BA16 CC04 CC11 DD05 EE04 3C058 AA04 AB04 AB06 BC02 CB01 CB05 DA17  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 3C034 AA08 BB01 BB71 CB11 DD08 3C043 BA03 BA09 BA16 CC04 CC11 DD05 EE04 3C058 AA04 AB04 AB06 BC02 CB01 CB05 DA17

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被加工物を保持する保持テーブルと、該
保持テーブルに被加工物を搬入する搬入領域と、該保持
テーブルに保持された被加工物を研削する研削領域と、
該保持テーブルから被加工物を搬出する搬出領域とを少
なくとも含む研削装置であって、 該保持テーブルを、該搬入領域と該研削領域と該搬出領
域とに位置付ける保持テーブル位置付け手段と、 該保持テーブル位置付け手段によって該研削領域に位置
付けられた該保持テーブルを支持する支持基台とが配設
される研削装置。
A holding table for holding the workpiece, a loading area for loading the workpiece into the holding table, a grinding area for grinding the workpiece held on the holding table;
A grinding apparatus including at least an unloading area for unloading a workpiece from the holding table, a holding table positioning means for positioning the holding table in the loading area, the grinding area, and the unloading area; A grinding device, comprising: a support base that supports the holding table positioned in the grinding area by positioning means.
【請求項2】 研削領域には、研削ホイールを回転可能
に支持した研削手段が配設されており、該研削手段は、
該研削領域に位置付けられ支持基台に支持された保持テ
ーブルに対峙する位置に配設される請求項1に記載の研
削装置。
2. A grinding area in which a grinding wheel rotatably supported by a grinding area is provided, wherein the grinding means comprises:
The grinding device according to claim 1, wherein the grinding device is disposed at a position facing the holding table that is positioned in the grinding area and supported by the support base.
【請求項3】 保持テーブル位置付け手段には、保持テ
ーブルを回転及び昇降可能に支持するテーブル支持部
と、該テーブル支持部が配設されたターンテーブルと、
該ターンテーブルを駆動する駆動部とを少なくとも備え
た請求項1または2に記載の研削装置。
3. The holding table positioning means includes: a table support for rotatably and vertically moving the holding table; a turntable on which the table support is disposed;
The grinding device according to claim 1, further comprising at least a driving unit that drives the turntable.
【請求項4】 駆動部には、ターンテーブルを昇降させ
て上部位置と下部位置とに位置付ける昇降手段が配設さ
れており、 該ターンテーブルが上部位置に位置付けられた際は、該
ターンテーブルが割り出し回転されてテーブル支持部に
支持されている保持テーブルを搬入領域、研削領域、搬
出領域のいずれかに位置付け、 該ターンテーブルが下部位置に位置付けられた際は、該
保持テーブルは支持基台に支持される請求項3に記載の
研削装置。
4. The drive unit is provided with elevating means for elevating and lowering the turntable so as to be positioned at an upper position and a lower position. When the turntable is positioned at the upper position, the turntable is moved up and down. Position the holding table, which is indexed and rotated and supported by the table support, in one of the carry-in area, the grinding area, and the carry-out area, and when the turntable is positioned at the lower position, the holding table is placed on the support base. The grinding device according to claim 3, which is supported.
【請求項5】 保持テーブルは、被加工物保持部と、該
被加工物保持部を囲繞する枠体とから構成され、 該枠体は、テーブル支持部に回転及び昇降可能に支持さ
れ、 支持基台は、該保持テーブルを支持する保持テーブル支
持部と、該被加工物保持部に吸引力を伝達する吸引路
と、保持テーブルを回転させる回転部とから構成される
請求項4に記載の研削装置。
5. The holding table includes a workpiece holding portion and a frame surrounding the workpiece holding portion. The frame is rotatably and vertically movable supported by a table supporting portion. 5. The base according to claim 4, wherein the base includes a holding table supporting portion that supports the holding table, a suction path that transmits a suction force to the workpiece holding portion, and a rotating portion that rotates the holding table. Grinding equipment.
【請求項6】 保持テーブルは、被加工物保持部と、該
被加工物保持部を囲繞する枠体と、該被加工物保持部に
吸引力を伝達する吸引孔とから構成され、 該枠体は、テーブル支持部に回転及び昇降可能に支持さ
れ、 支持基台は、保持テーブルを支持する保持テーブル支持
部と、該保持テーブルを回転させる回転部とから構成さ
れる請求項4に記載の研削装置。
6. The holding table includes a workpiece holding portion, a frame surrounding the workpiece holding portion, and a suction hole for transmitting a suction force to the workpiece holding portion. 5. The body according to claim 4, wherein the body is rotatably and vertically supported by the table support, and the support base includes a holding table support for supporting the holding table, and a rotating unit for rotating the holding table. Grinding equipment.
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